JP3801668B2 - Semiconductor manufacturing apparatus and substrate transfer method - Google Patents

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、半導体製造装置基板搬送方法に関し、特に、半導体製造装置の反応室に繰り返し供給されるダミー基板の矯正に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば縦型拡散・CVD装置等の半導体製造装置では、半導体ウェーハやガラス基板等といった処理対象の基板をカセットに収容して装置近傍のカセット棚に載置しておき、このカセットから基板を取り出して反応室へ供給することが行われている。
図3に示すように、縦型拡散・CVD装置は、多数枚の基板1を石英製のボート2に装填し、このボート2を反応室3内に装填することにより、多数枚の基板1を互いに所定の隙間もって重ねた状態で反応室3内に納めるようにしている。そして、ボート2に装填される基板1は複数枚ずつのロットでカセット4に収容されており、このようなカセット4は装置の近傍に設置されたカセット棚5に複数個載置されている。
【0003】
したがって、反応室3への基板1の供給は、ボート2を反応室3から引き出した状態で、ロボットアームからなる移載機6でカセット棚5上のカセット4から基板1を取り出し、取り出した基板1を所定の枚数だけボート2に装填した後に、ボート2を再び反応室3内に装填することにより行われる。例えば、このようなバッチ式の縦型拡散・CVD装置にあっては、ボート2に100枚程度の基板1を装填して一括して反応室3に装填することが行われる。
【0004】
ここで、反応室3の上端部や下端部と中央部とでは温度や反応ガス流に相違が生じてしまうという事情から、ボート2の中央部には製品となる基板1を装填し、ボートの上端部や下端部にはサイドダミーと称するダミー基板を装填することが行われている。また、製造上の事情等から、常に一定の枚数の基板1がボート2に装填されるとは限らないため、基板1がボート2に装填し得る枚数に満たない場合には、補充ダミー基板と称するダミー基板をボート2に装填することが行われている。
このようにダミー基板をボート2に装填するのは、反応室3には常に一定の枚数の基板が装填されるようにするためであり、これによって、反応室3内の温度や反応ガス流等の条件を一定化して、常に一定の品質で成膜処理がなされるようにしている。
【0005】
上記のようなサイドダミー基板や補充ダミー基板は、それぞれ専用のカセット(ダミーカセット)に収容されてカセット棚5に常時用意されており、上記のような必要性に応じてダミーカセットから取り出されてボート2に装填される。また、これらダミー基板は製品基板でないことから繰り返し使用され、使用後は再びカセット棚5のダミーカセットに戻されて収容される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上記のようにダミーカセットはカセット棚5に常備されて、そこに収容されるダミー基板は繰り返し使用されることとなることから、ダミー基板の出し入れを繰り返し行うと、ダミーカセットに納めた状態でダミー基板が少しずつながら飛び出してしまうという事態が生ずる。
このような飛び出しはダミー基板の出し入れを繰り返す毎に累積されて大きくなり、移載機6に対する大きな位置ずれが生じて、ダミー基板はボート2から落下して基板の移載処理にトラブルを招いてしまうという問題があった。
【0007】
このような事態は、ボート2への基板装填処理(バッチ処理)の幾度か毎に、作業員が監視して飛び出したダミー基板を元に戻す作業を行えば回避することができるが、半導体製造の環境をできるだけ清浄な状態とするために、無人化及び自動化を図る必要からすると、作業労力の増大ばかりではなく、新たに重大な問題を引き起こすことともなる。
【0008】
本発明は上記従来の事情に鑑みなされたもので、ダミー基板の飛び出しに起因したトラブルを未然に防止して、基板移載処理を常に円滑に行うことを実現する半導体製造装置や基板搬送方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、処理対象の基板を収容したカセットと、ダミー基板を収容したダミーカセットと、カセット及びダミーカセットを載置するカセット棚とを備えた半導体製造装置において、ダミーカセットをカセット棚から引き出してダミーカセットの開口を上方へ向かせる機構を備えたことを特徴とする。より具体的には、本発明に係る半導体製造装置は、処理対象となる基板をカセットに収容し、カセットから取り出した基板をボートに挿填して、反応室へ供給する半導体製造装置において、ボートに装填される処理対象の基板を収容したカセットと、ボートに装填されるダミー基板を収容したダミーカセットと、これらカセット及びダミーカセットを載置するカセット棚と、カセット棚に載置されたダミーカセットを回転させて開口を上方へ向かせる回転機構と、回転機構の作動時期をダミーカセットの使用回数のパラメータとして設定するパラメータ設定手段と、ダミーカセットの使用回数を計数するカウンタと、パラメータ設定手段で設定されたパラメータとカウンタによる計数値とに基づいて回転機構を作動させる制御手段と、を備えたことを特徴とする。
【0010】
【作用】
本発明によると、パラメータ設定手段でダミーカセットの使用回数を設定しておくと、カウンタがダミーカセットの使用回数を自動的に計数し、設定値に達したところで、制御手段によって回転機構が作動される。回転機構はダミーカセットを回転させて、その開口(ダミー基板の出し入れ口)を上方に向けさせ、これによって、ダミーカセットの開口から飛び出したダミー基板をダミーカセット内の正規の位置へ収納させる。
【0011】
したがって、パラメータ設定手段で任意の回数にパラメータを設定しておくことで、ダミー基板はダミーカセット内に正しく納まった状態に自動的に矯正され、ダミー基板の飛び出しに起因したトラブルは未然に防止される。
【0012】
【実施例】
本発明の一実施例に係る半導体製造装置の基板搬送装置を図面を参照して説明する。なお、以下の説明では図3に示した縦型拡散・CVD装置も適宜参照することとする。
本実施例は、図1に示す制御装置と図2に示す回転機構とを備えており、制御装置によって回転機構の動作を制御している。
図1に示す制御装置は、ダミーカセットの使用回数のパラメータを設定するパラメータ設定部11と、ダミーカセットの使用回数(ダミーチャージ実行回数)を格納するメモリ12内のカウンタ領域13と、移載機6及び後述する回転機構の制御を司る基板移載制御部14と、カセット4のカセット棚5への搬送機構(図示せず)の制御を司るカセット搬送制御部15と、半導体製造装置の各種電磁弁の制御を司る電磁弁制御部16と、オペレータが操作する操作部とのインタフェースとなる入出力制御部17と、上記各制御部やメモリの制御を統括するプロセッサ18と、を備えている。
【0013】
パラメータ設定部11は入出力制御部17、プロセッサ18を介してオペレータから入力されたダミーチャージ実行回数パラメータ(n)を保持し、カウンタ領域13に計数格納される実際のダミーチャージ実行回数と比較して、実際のダミーチャージ実行回数が設定パラメータ(n)に達したところで基板移載制御部14へ制御信号を送信する。
基板移載制御部14は移載機6の動作を監視しており、カセット棚5に設置されているダミーカセット4aが何回使用されたかを常に検出する。プロセッサ18は基板移載制御部14からの検出信号を受けて、実際にダミーカセット4aが何回使用されたかを計数し、この計数したダミーチャージ実行回数をカウンタ領域13に格納する。
すなわち、ダミーカセット4aの使用回数は常に計数されてカウンタ領域13に格納され、パラメータ設定部11が設定されたパラメータ(n)と比較している。
【0014】
ダミーカセット4aに対する回転機構は、例えば図2に示すようなものであり、ダミーカセット4aを載置するL字型の載置台21と、載置台21にブラケット22、23を介して枢着された一対のリンクアーム24、25と、これらリンクアーム24、25を駆動する駆動部(図示せず)とを有している。
この駆動部は基板移載制御部14の制御によってリンクアーム24、25を駆動し、これらリンクアームを一体として前後動及び上下動させ、更には、これらリンクアーム24、25を互い違いに前後動させることができる。したがって、これらリンクアームを一体として前後動及び上下動させることによってカセット棚5からダミーカセット4aを載置台21状にすくい上げることができるとともに、リンクアーム24、25を互い違いに前後動させることによって載置台21とともにダミーカセット4aを90度回転させることができる。
なお、回転機構はカセット棚5の裏側からダミーカセット4aを取り出すため、カセット棚5の背面は開口されている。
【0015】
上記構成による動作を説明する。
まず、本実施例ではカセット棚5には最大8個のカセット4が収納され、その内の幾つかがサイドダミー基板や補充ダミー基板のダミーカセット4aとしてカセット棚5に常備されている。
この状態において、移載機6によってカセット4からボート2への基板1の移載が各プロセス処理毎に繰り返し行われ、このような移載処理の内でダミーカセット4aからダミー基板1aが取り出されてボート2への装填(チャージ)が行われると、このダミーカセット4aからのチャージ回数はカウンタ領域13に順次格納される。
【0016】
そして、カウンタ領域13に格納された計数値がオペレータが予め設定したパラメータ値(n)に達すると、基板移載制御部14が回転機構を作動させてダミーカセット4aの矯正処理を行わせる。
すなわち、図2の(a)に示すように載置台21をカセット棚5の裏側から前進させて、載置台21上にダミーカセット4aをすくい取った後、同図の(b)に示すように載置台21を後退させてダミーカセット4aをカセット棚5から引き出す。
この後、同図の(c)に示すように載置台21を90度回転させて、ダミーカセット4aの開口を上方に向かせる。この結果、ダミーカセット4aの開口から飛び出していたダミー基板1aは自重によってカセット4a内に引っ込み、ダミーカセット4aからダミー基板1aが飛び出した状態が解消される。
【0017】
この後、同図の(d)に示すように載置台21を元の位置に回転させて戻し、同図の(e)に示すようにダミーカセット4aを載置台21からカセット棚5の元の位置へ戻す。
したがって、パラメータ値(n)を任意の回数に設定しておくことで、ダミーカセット4aから飛び出したダミー基板1aはダミーカセット4a内の正規の位置に収容され、当該ダミーカセット4aから移載機6がダミー基板1aを支障なく取り出してボート2に装填することができる。
【0018】
なお、上記の実施例で示したパラメータ(n)はオペレータが任意に設定することができ、例えば、n=1に設定すればダミーチャージ動作を行う毎に上記の矯正動作が行われ、n=2に設定すれば矯正動作はダミーチャージ動作の2回に1回行われることとなる。
また、カセット棚5にサイドダミーカセットや補充ダミーカセットが複数個常設されている場合には、これらダミーカセットそれぞれからのダミーチャージ動作回数をカウントして、設定したパラメータ値(n)に達したダミーカセットについてのみ矯正動作を行ってもよく、或いは、いずれかのダミーカセットのダミーチャージ動作回数が設定したパラメータ値(n)に達した時には全てのダミーカセットについて矯正動作を行ってもよい。更には、このように個々のダミーカセットについてのダミーチャージ動作回数をカウントせずに、全てのダミーカセットについてのダミーチャージ動作回数を累算し、累算値が設定したパラメータ値(n)に達した時には全てのダミーカセットについて矯正動作を行うようにしてもよい。
【0019】
また、上記の実施例では、回転機構として図2に示すような機構を例示したが、ダミーカセットを回転させて開口を上方へ向かせることができる機構であれば、これ以外にも公知の種々な機構と用いることができる。例えば、カセット棚5からダミーカセット4aを出し入れする機構と、引き出されたダミーカセット4aをカセット棚5の背面位置と回転処理位置との間で搬送する機構と、回転処理位置でダミーカセット4aを開口が上方へ向くように回転させる機構とを組み合わせて、本発明にいう回転機構を構成してもよい。また、回転機構は公知のロボットアームを利用して構成することもでき、また、カセット棚5の棚板背面に滑り止め突片を設け、棚板自体を90度近く回転させてダミー基板1aの飛び出しを矯正するようにしてもよい。
【0020】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る半導体製造装置や基板搬送方法によると、ダミーカセットに対する矯正動作を自動的に行うようにしたため、ダミー基板がダミーカセット内に正しく納まった状態に維持することができ、ダミー基板の飛び出しによる移載処理のトラブルを未然に防止することができる。また、矯正動作は自動的になされるため、作業労力が軽減されるとともに、無人化及び自動化が推進されて半導体製造の環境を清浄な状態に維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る制御部の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の一実施例に係る回転機構及びその動作を説明する構成図である。
【図3】縦型拡散・CVD装置の構成を示す一部断面した斜視図である。
【符号の説明】
1 基板、
1a ダミー基板、
2 ボート、
4 カセット、
4a ダミーカセット、
5 カセット棚、
11 パラメータ設定部、
13 カウンタ領域、
14 基板移載制御部、
21 載置台、
24、25 リンクアーム、
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus and a substrate transfer method , and more particularly to correction of a dummy substrate repeatedly supplied to a reaction chamber of a semiconductor manufacturing apparatus.
[0002]
[Prior art]
For example, in a semiconductor manufacturing apparatus such as a vertical diffusion / CVD apparatus, a substrate to be processed such as a semiconductor wafer or glass substrate is accommodated in a cassette and placed on a cassette shelf near the apparatus, and the substrate is taken out from the cassette. Supplying to the reaction chamber is performed.
As shown in FIG. 3, in the vertical diffusion / CVD apparatus, a large number of substrates 1 are loaded into a quartz boat 2, and the boat 2 is loaded into a reaction chamber 3, whereby a large number of substrates 1 are loaded. They are placed in the reaction chamber 3 in a state where they are overlapped with each other with a predetermined gap. The substrates 1 loaded in the boat 2 are accommodated in cassettes 4 in a plurality of lots, and a plurality of such cassettes 4 are placed on a cassette shelf 5 installed in the vicinity of the apparatus.
[0003]
Accordingly, the substrate 1 is supplied to the reaction chamber 3 by taking out the substrate 1 from the cassette 4 on the cassette shelf 5 by the transfer machine 6 including a robot arm in a state where the boat 2 is pulled out from the reaction chamber 3. 1 is loaded into the boat 2 by a predetermined number, and then the boat 2 is loaded into the reaction chamber 3 again. For example, in such a batch type vertical diffusion / CVD apparatus, about 100 substrates 1 are loaded into the boat 2 and loaded into the reaction chamber 3 at once.
[0004]
Here, due to the fact that there is a difference in temperature and reaction gas flow between the upper end and lower end of the reaction chamber 3 and the central portion, the substrate 1 serving as a product is loaded in the central portion of the boat 2, A dummy substrate called a side dummy is loaded on the upper end and the lower end. Further, because a certain number of substrates 1 are not always loaded into the boat 2 due to manufacturing circumstances, etc., if the number of substrates 1 is less than the number that can be loaded into the boat 2, A dummy substrate to be called is loaded into the boat 2.
The reason why the dummy substrates are loaded into the boat 2 in this way is to always load a certain number of substrates into the reaction chamber 3, thereby allowing the temperature in the reaction chamber 3, the reaction gas flow, etc. The film forming process is always performed with a constant quality.
[0005]
The side dummy substrate and the supplementary dummy substrate as described above are each stored in a dedicated cassette (dummy cassette) and are always prepared in the cassette shelf 5, and are taken out from the dummy cassette according to the necessity as described above. The boat 2 is loaded. Since these dummy substrates are not product substrates, they are repeatedly used, and are returned to the dummy cassettes in the cassette shelf 5 and stored after use.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, the dummy cassette is always provided in the cassette shelf 5, and the dummy substrate accommodated therein is repeatedly used. Therefore, when the dummy substrate is repeatedly inserted and removed, the dummy cassette is stored in the dummy cassette. A situation occurs in which the substrate jumps out little by little.
Such jumps are accumulated and increased every time the dummy substrate is repeatedly put in and out, and a large positional deviation occurs with respect to the transfer machine 6, and the dummy substrate falls from the boat 2 and causes trouble in the substrate transfer process. There was a problem that.
[0007]
Such a situation can be avoided by performing an operation of returning the dummy substrate that has been jumped out by monitoring by the operator every time the substrate 2 is loaded into the boat 2 (batch processing). In order to make the environment as clean as possible, the need for unmanned and automated operations not only increases work labor, but also causes new serious problems.
[0008]
The present invention has been made in view of the above-described conventional circumstances, and provides a semiconductor manufacturing apparatus and a substrate transport method that can prevent troubles caused by jumping out of a dummy substrate and can perform substrate transfer processing smoothly all the time. The purpose is to provide.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a semiconductor manufacturing apparatus including a cassette containing a substrate to be processed, a dummy cassette containing a dummy substrate, and a cassette shelf on which the cassette and the dummy cassette are placed. A mechanism is provided for pulling out the cassette from the cassette shelf so that the opening of the dummy cassette faces upward. More specifically, a semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention, a substrate to be processed accommodated in the cassette, and the charging of the substrate taken out from the cassette to the boat, in a semiconductor manufacturing device for supplying to the reaction chamber, a boat A cassette containing a substrate to be processed loaded on the board, a dummy cassette containing a dummy board loaded on the boat, a cassette shelf on which these cassettes and the dummy cassette are placed, and a dummy cassette placed on the cassette shelf A rotation mechanism for rotating the opening upward, a parameter setting means for setting the operation timing of the rotation mechanism as a parameter for the number of times the dummy cassette is used, a counter for counting the number of times the dummy cassette is used, and a parameter setting means. Control means for operating the rotation mechanism based on the set parameter and the count value by the counter, It is characterized in.
[0010]
[Action]
According to the present invention, when the number of times the dummy cassette is used is set by the parameter setting means, the counter automatically counts the number of times the dummy cassette is used, and when the set value is reached, the rotation mechanism is activated by the control means. The The rotating mechanism rotates the dummy cassette so that its opening (dummy substrate insertion / removal port) faces upward, and thereby the dummy substrate jumping out from the opening of the dummy cassette is stored in a regular position in the dummy cassette.
[0011]
Therefore, by setting the parameters at any number of times with the parameter setting means, the dummy substrate is automatically corrected to the state correctly stored in the dummy cassette, and troubles caused by the jumping out of the dummy substrate are prevented in advance. The
[0012]
【Example】
A substrate transfer apparatus of a semiconductor manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, the vertical diffusion / CVD apparatus shown in FIG.
The present embodiment includes the control device shown in FIG. 1 and the rotation mechanism shown in FIG. 2, and the operation of the rotation mechanism is controlled by the control device.
The control device shown in FIG. 1 includes a parameter setting unit 11 that sets a parameter for the number of times a dummy cassette is used, a counter area 13 in a memory 12 that stores the number of times a dummy cassette is used (number of times of dummy charge execution), and a transfer machine. 6 and a substrate transfer control unit 14 that controls the rotation mechanism to be described later, a cassette transfer control unit 15 that controls a transfer mechanism (not shown) of the cassette 4 to the cassette shelf 5, and various electromagnetics of the semiconductor manufacturing apparatus. An electromagnetic valve control unit 16 that controls the valve, an input / output control unit 17 serving as an interface with an operation unit operated by an operator, and a processor 18 that controls the control units and the memory are provided.
[0013]
The parameter setting unit 11 holds a dummy charge execution number parameter (n) input from the operator via the input / output control unit 17 and the processor 18 and compares it with the actual dummy charge execution number stored in the counter area 13. When the actual dummy charge execution count reaches the set parameter (n), a control signal is transmitted to the substrate transfer control unit 14.
The substrate transfer control unit 14 monitors the operation of the transfer machine 6 and always detects how many times the dummy cassette 4a installed on the cassette shelf 5 has been used. The processor 18 receives the detection signal from the substrate transfer control unit 14, counts how many times the dummy cassette 4 a is actually used, and stores the counted number of times of dummy charge execution in the counter area 13.
That is, the number of times the dummy cassette 4a is used is always counted and stored in the counter area 13, and the parameter setting unit 11 compares it with the set parameter (n).
[0014]
The rotating mechanism for the dummy cassette 4a is, for example, as shown in FIG. 2, and is mounted on the mounting table 21 via brackets 22 and 23 and an L-shaped mounting table 21 on which the dummy cassette 4a is mounted. A pair of link arms 24 and 25 and a drive unit (not shown) for driving the link arms 24 and 25 are provided.
This drive unit drives the link arms 24 and 25 under the control of the substrate transfer control unit 14 to move these link arms back and forth and up and down as a unit, and to move these link arms 24 and 25 back and forth alternately. be able to. Therefore, the dummy cassette 4a can be scooped up from the cassette shelf 5 into the mounting table 21 by moving these link arms back and forth and up and down, and the mounting table can be moved back and forth alternately. 21 and the dummy cassette 4a can be rotated 90 degrees.
Since the rotating mechanism takes out the dummy cassette 4a from the back side of the cassette shelf 5, the back surface of the cassette shelf 5 is opened.
[0015]
Illustrating the operation by the above configuration.
First, in this embodiment, a maximum of eight cassettes 4 are stored in the cassette shelf 5, and some of them are always provided in the cassette shelf 5 as dummy cassettes 4 a for side dummy substrates and supplementary dummy substrates.
In this state, the transfer device 6 repeatedly transfers the substrate 1 from the cassette 4 to the boat 2 for each process process, and the dummy substrate 1a is taken out from the dummy cassette 4a in such a transfer process. When the boat 2 is loaded (charged), the number of charges from the dummy cassette 4a is sequentially stored in the counter area 13.
[0016]
When the count value stored in the counter area 13 reaches the parameter value (n) set in advance by the operator, the substrate transfer control unit 14 operates the rotation mechanism to cause the dummy cassette 4a to be corrected.
That is, as shown in FIG. 2A, after the mounting table 21 is advanced from the back side of the cassette shelf 5 and the dummy cassette 4a is scooped up on the mounting table 21, as shown in FIG. The mounting table 21 is retracted and the dummy cassette 4 a is pulled out from the cassette shelf 5.
Thereafter, as shown in FIG. 5C, the mounting table 21 is rotated 90 degrees so that the opening of the dummy cassette 4a is directed upward. As a result, the dummy substrate 1a protruding from the opening of the dummy cassette 4a is retracted into the cassette 4a by its own weight, and the state where the dummy substrate 1a protrudes from the dummy cassette 4a is eliminated.
[0017]
Thereafter, the mounting table 21 is rotated back to the original position as shown in FIG. 4D, and the dummy cassette 4a is moved from the mounting table 21 to the original position of the cassette shelf 5 as shown in FIG. Return to position.
Therefore, by setting the parameter value (n) to an arbitrary number of times, the dummy substrate 1a jumping out of the dummy cassette 4a is accommodated in a regular position in the dummy cassette 4a, and the transfer machine 6 is transferred from the dummy cassette 4a. However, the dummy substrate 1a can be taken out without any trouble and loaded into the boat 2.
[0018]
The parameter (n) shown in the above embodiment can be arbitrarily set by the operator. For example, if n = 1, the correction operation is performed every time the dummy charge operation is performed. When set to 2, the correction operation is performed once every two dummy charge operations.
Further, when a plurality of side dummy cassettes and supplementary dummy cassettes are permanently installed in the cassette shelf 5, the number of dummy charging operations from each of these dummy cassettes is counted, and the dummy that has reached the set parameter value (n) is counted. The correction operation may be performed only for the cassette, or the correction operation may be performed for all dummy cassettes when the number of dummy charge operations of any dummy cassette reaches the set parameter value (n). Further, without counting the number of dummy charge operations for each dummy cassette in this way, the number of dummy charge operations for all dummy cassettes is accumulated, and the accumulated value reaches the set parameter value (n). In such a case, the correction operation may be performed for all the dummy cassettes.
[0019]
In the above embodiment, the mechanism as shown in FIG. 2 is exemplified as the rotating mechanism. However, any other known mechanism can be used as long as the mechanism can rotate the dummy cassette to make the opening face upward. Can be used with any mechanism. For example, a mechanism for taking in and out the dummy cassette 4a from the cassette shelf 5, a mechanism for transporting the pulled-out dummy cassette 4a between the back position of the cassette shelf 5 and the rotation processing position, and opening the dummy cassette 4a at the rotation processing position A rotation mechanism referred to in the present invention may be configured in combination with a mechanism that rotates the lens so as to face upward. Further, the rotation mechanism can be configured by using a known robot arm, and a non-slip protrusion is provided on the rear surface of the shelf of the cassette shelf 5, and the shelf itself is rotated by nearly 90 degrees to thereby form the dummy substrate 1a. The pop-out may be corrected.
[0020]
【The invention's effect】
As described above, according to the semiconductor manufacturing apparatus and the substrate transport method according to the present invention, since the correction operation for the dummy cassette is automatically performed, the dummy substrate can be maintained in the dummy cassette correctly. In addition, it is possible to prevent troubles in the transfer process due to the jumping out of the dummy substrate. Further, since the correction operation is automatically performed, work labor is reduced, and unmanned and automated processes are promoted to maintain the semiconductor manufacturing environment in a clean state.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a control unit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram illustrating a rotation mechanism and its operation according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a partial cross-sectional perspective view showing a configuration of a vertical diffusion / CVD apparatus.
[Explanation of symbols]
1 substrate,
1a dummy substrate,
2 boats,
4 cassettes,
4a dummy cassette,
5 cassette shelves,
11 Parameter setting section,
13 Counter area,
14 substrate transfer control unit,
21 mounting table,
24, 25 Link arm,

Claims (3)

処理対象となる基板をカセットに収容し、カセットから取り出した基板をボートに装填して、反応室へ供給する半導体製造装置において、In a semiconductor manufacturing apparatus for storing a substrate to be processed in a cassette, loading a substrate taken out from the cassette into a boat, and supplying the substrate to a reaction chamber,
ボートに装填される処理対象の基板を収容したカセットと、  A cassette containing a substrate to be processed loaded into a boat;
ボートに装填されるダミー基板を収容したダミーカセットと、  A dummy cassette containing a dummy substrate to be loaded into the boat;
これらカセット及びダミーカセットを載置するカセット棚と、  A cassette shelf on which these cassettes and dummy cassettes are placed;
カセット棚に載置されたダミーカセットを回転させて開口を上方へ向かせる回転機構と、  A rotation mechanism for rotating the dummy cassette placed on the cassette shelf and directing the opening upward;
回転機構の作動時期をダミーカセットの使用回数のパラメータとして設定するパラメータ設定手段と、  Parameter setting means for setting the operation timing of the rotating mechanism as a parameter of the number of times the dummy cassette is used;
ダミーカセットの使用回数を計数するカウンタと、  A counter for counting the number of times the dummy cassette is used;
パラメータ設定手段で設定されたパラメータとカウンタによる計数値とに基づいて回転機構を作動させる制御手段と、  Control means for operating the rotation mechanism based on the parameter set by the parameter setting means and the count value by the counter;
を備えたことを特徴とする半導体製造装置。  A semiconductor manufacturing apparatus comprising:
カセット棚に載置されたカセットから取り出した処理対象となる基板をボートに装填する工程と、Loading a boat with a substrate to be processed taken out from a cassette placed on a cassette shelf; and
前記カセット棚に載置されたダミーカセット内のダミー基板を前記ボートに装填する工程と、  Loading a dummy substrate in a dummy cassette placed on the cassette shelf into the boat;
前記ボートを反応室へ供給する工程と、  Supplying the boat to the reaction chamber;
前記ダミー基板を使用した後に再び前記ダミーカセットに戻して収容する工程と、を有し、  And after returning to the dummy cassette again after using the dummy substrate,
前記カセット棚に載置された前記ダミーカセットの使用回数が予め設定されたパラメータに達したら、前記ダミーカセットの開口を上方へ向かせることを特徴とする半導体製造装置の基板搬送方法。  A substrate transport method for a semiconductor manufacturing apparatus, wherein when the number of times of use of the dummy cassette placed on the cassette shelf reaches a preset parameter, the opening of the dummy cassette is directed upward.
請求項2に記載の半導体製造装置の基板搬送方法において、In the substrate conveyance method of the semiconductor manufacturing apparatus of Claim 2,
前記パラメータが1であり、  The parameter is 1,
前記ダミー基板を前記ボートに装填する工程毎に、前記ダミーカセットの開口を上方へ向かせることを特徴とする半導体製造装置の基板搬送方法。  A substrate transport method for a semiconductor manufacturing apparatus, wherein the opening of the dummy cassette is directed upward for each step of loading the dummy substrate into the boat.
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