JP3798461B2

JP3798461B2 - Electronic hour meter

Info

Publication number: JP3798461B2
Application number: JP4873696A
Authority: JP
Inventors: 紀夫宮原
Original assignee: Jeco Corp
Current assignee: Jeco Corp
Priority date: 1996-03-06
Filing date: 1996-03-06
Publication date: 2006-07-19
Anticipated expiration: 2016-03-06
Also published as: JPH09243761A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、車両や装置などの使用時間を累計し、この累計した使用時間を表示する電子式アワーメータに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、この種の電子式アワーメータは、取り付けられた車両や装置などのメンテナンスのサイクルや、リースなどの料金計算に利用されている。この電子式アワーメータは、一定時間間隔毎に信号を発生するタイマ手段と、このタイマ手段が発生する信号をカウントして使用時間を累計する累計手段と、この累計手段によって累計された使用時間（累計使用時間）を表示する表示手段とを有している。
【０００３】
この電子式アワーメータでは、車両や装置が運転停止している間、すなわち車両や装置が次に使用されるまでの間、その累計使用時間を保存しておく必要がある。この累計使用時間の保存方法として、揮発性メモリまたはカウンタを常時通電状態とし、そのデータをバックアップする方法がある。また、不揮発性メモリを搭載し、この不揮発性メモリに累計使用時間を記録する方法がある。近年においては、運転停止中の消費電力低減という要求が強く、不揮発性メモリ方式による電子式アワーメータが好まれている。
【０００４】
ところで、不揮発性メモリ方式の電子式アワーメータと類似の構造のものとして、特開昭５９−１９６４１４号公報に「電子式オドメータ」が開示されている。この電子式オドメータは、走行距離を計測し、積算走行距離を表示するものであるが、積算走行距離を累計使用時間に置き換えれば、電子式アワーメータへの転用が可能である。
【０００５】
この電子式オドメータでは、データ記憶個所（アドレス）として＃０〜＃ｎを有する不揮発性メモリを備え、例えば１００ｍ走行する毎に不揮発性メモリのアドレス＃０〜＃ｎに積算走行距離を順次に書き込むようにしている。この場合、アドレス＃ｎに積算走行距離を書き込んだ後は、アドレス＃０に戻る。電源の再投入時およびオートリセット時には、アドレス＃０〜＃ｎに書き込まれている積算走行距離をすべて読み出し、この読み出した積算走行距離の中から最大値を抽出する。そして、この抽出した最大値とその最大値のデータの１回前に書き込まれたデータ、すなわち一つ前のアドレスに書き込まれているデータとの差をとり、これが１００ｍならば、その抽出した最大値を積算走行距離のイニシャル値（最新値）として走行距離の積算を再開する。
【０００６】
もし、上記差が１００ｍでないときは、アドレスを１ずらしてチェックを繰り返し、それより１回前に書き込まれたデータとの差が１００ｍとなるデータを積算走行距離の最新値とする。すなわち、上記差が１００ｍでないときは、１つ前のアドレスに書き込まれているデータと２つ前のアドレスに書き込まれているデータとの差が１００ｍであるか否かを検定し、１００ｍであれば１つ前のアドレスに書き込まれているデータを最新値とし、１００ｍでないときは同様の検定を順次繰り返す。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この特開昭５９−１９６４１４号公報に示された「電子式オドメータ」の技術を電子式アワーメータへ転用した場合、不揮発性メモリのアドレスへの累計使用時間の書き込み中に電源電圧が低下すると、その時の書き込みデータは不定となってしまう。この場合、その不定データがアドレス＃１〜＃ｎのデータの中で最大値となると、その不定データと１つ前のアドレスに書き込まれているデータとの差が所定値であるか否かが検定される。この場合、その差は所定値とならないので、１つ前のアドレスに書き込まれているデータと２つ前のアドレスに書き込まれているデータとの差が所定値であるか否かが検定される。ここで、その差が所定値となれば、１つ前のアドレスに書き込まれているデータが最新値とされる。この１つ前のアドレスに書き込まれているデータは、不定データが書き込まれたアドレスの１つ前のアドレスに書き込まれたデータであって、最新値として適切な値とは言えない。すなわち、この場合、適切な値から使用時間の累計を再開することができず、信頼性が低下する。
【０００８】
なお、信頼性を高めるために、大容量のコンデンサ等によるバックアップ回路を設け、不揮発性メモリへのデータ書き込み中における電源電圧の低下対策を図ることが考えられる。しかし、この場合、コストアップとなるばかりでなく、バックアップ回路の収容スペースを確保しなければならずコンパクト化が阻害される。
【０００９】
本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、不揮発性メモリへのデータ書き込み中における電源電圧の低下に対し、バックアップ回路を設けることなく、信頼性を高めることのできる電子式アワーメータを提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、本発明は、一定時間間隔毎に信号を発生するタイマ手段と、このタイマ手段が発生する信号をカウントして使用時間を累計する累計手段と、この累計手段によって累計された使用時間を表示する表示手段とを備えた電子式アワーメータにおいて、第０〜第ｎのアドレスを有する不揮発性メモリと、累計手段による使用時間の累計中、所定時間ｔ ₀ が経過する毎に、累計使用時間をデータとして不揮発性メモリのアドレスに、そのアドレスを１つずつずらしながら順次に書き込む書込手段と、再起動時、不揮発性メモリの第０〜第ｎのアドレスに書き込まれているデータＤ（０）〜Ｄ（ｎ）を読み取り、Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２）・・・・Ｄ（２），Ｄ（１），Ｄ（０）を第０の数列、Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３）・・・・Ｄ（１），Ｄ（０），Ｄ（ｎ）を第１の数列、Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３），Ｄ（ｎ−４）・・・・Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）を第２の数列というようにして、Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）・・・・Ｄ（３），Ｄ（２），Ｄ（１）までのｎ種類の数列を作り、このｎ種類の数列毎に、その数列の最初のデータを始点、最後のデータを終点とし、始点のデータとｍ（ｎ≧ｍ≧１）番目のデータとの差分がｔ ₀ ・ｍであるか否かの検定を終点のデータまで繰り返して、その検定の成立数を求め、検定の成立数が最大の数列の始点のデータを累計使用時間の最新値として使用時間の累計を再開する累計再開手段とを設けたものである。
【００１１】
したがって、この発明によれば、使用時間の累計中、所定時間ｔ ₀ が経過する毎に、不揮発性メモリの第０〜第ｎのアドレスに、そのアドレスを１つずつずらしながら、累計使用時間がデータとして順次に書き込まれる。
再起動時、不揮発性メモリの第０〜第ｎのアドレスに書き込まれているデータＤ（０）〜Ｄ（ｎ）が読み取られ、Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２）・・・・Ｄ（２），Ｄ（１），Ｄ（０）を第０の数列、Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３）・・・・Ｄ（１），Ｄ（０），Ｄ（ｎ）を第１の数列、Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３），Ｄ（ｎ−４）・・・・Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）を第２の数列というようにして、Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）・・・・Ｄ（３），Ｄ（２），Ｄ（１）までのｎ種類の数列が作られ、このｎ種類の数列毎に、始点のデータとｍ番目のデータとの差分がｔ ₀ ・ｍであるか否かの検定が終点のデータまで繰り返され、その検定の成立数が求められる。
そして、検定の成立数が最大の数列の始点のデータが累計使用時間の最新値として、使用時間の累計が再開される。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を実施の形態に基づき詳細に説明する。図２はこの発明の一実施の形態を示す電子式アワーメータのブロック図である。同図において、１はＣＰＵ、２は不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、３は液晶表示部、４は水晶発振器である。
【００１５】
ＣＰＵ１は、搭載されているプログラムに従い、次のような処理を行う。
▲１▼水晶発振器４からのシステムクロックを分周し一定時間間隔毎に信号を発生するタイマ処理。
▲２▼タイマ処理により発生する信号をカウントして使用時間を累計する累計処理。
▲３▼累計処理によって累計された使用時間（累計使用時間）を液晶表示部３へ出力して表示する表示処理。
▲４▼所定時間毎に累計使用時間をこの累計使用時間の下位桁に基づいて決定される不揮発性メモリ２のアドレス＃０〜＃ｎに順次に書き込む書込処理。
▲５▼再起動時、不揮発性メモリ２に書き込まれているデータ群が等差数列であることを利用して最新値を検出し、この最新値より使用時間の累計を再開する累計再開処理。
【００１６】
〔累計再開処理〕
ＣＰＵ１が行う累計再開処理について具体的に説明する。ＣＰＵ１は、その動作中、所定時間ｔ₀毎に、累計使用時間Ｔをこの累計使用時間Ｔの下位桁に基づいて決定される不揮発性メモリ２のアドレス＃０〜＃ｎに順次に書き込む。ここで、この実施の形態では、不揮発性メモリ２のアドレス＃０〜＃ｎを＃０〜１９（合計２０番地）、所定時間ｔ₀を０．１時間とする。また、アドレスを決定する累計使用時間Ｔの下位桁を小数点第一位と１の位の数値が偶数（但し、０は偶数とする）であるか奇数であるかで区別し、１の位の数値が偶数である小数点第一位が０〜９の累計使用時間Ｔはアドレス＃０〜＃９へ書き込み、１の位の数値が奇数である小数点第一位が０〜９の累計使用時間Ｔはアドレス＃１０〜＃１９へ書き込むものとする。
【００１７】
この書込方法により、不揮発性メモリ２内のデータ（累計使用時間Ｔ）は最新値の書き込まれているアドレスから逆方向（＃１９→＃０方向）にアドレスを辿り、データを並べてみると、その数列は等差数列となる。この場合、その等差数列の等差は、所定時間ｔ₀を示している。同様に、最古値の書き込まれているアドレスから順方向（＃０→＃１９方向）にアドレスを辿り、データを並べても同様の等差数列となる。このことから、以下のことが言える。
【００１８】
すなわち、任意のアドレスを始点として、データの書き込まれているアドレスを横軸とし、データを縦軸とし、アドレスを逆方向に辿った時のグラフを描くと、図３（ａ）に示すようなノコギリ波状の関数となる場合と、図３（ｂ）に示すようなデータが等差数列で減少して行く一次関数となる場合がある。図３（ｂ）に示すような関数となる場合、すなわちデータが等差数列で減少して行く一次関数となる場合、その一次関数の始点（始点アドレスに書き込まれたデータ）が最新値、終点（終点アドレスに書き込まれたデータ）が最古値となる。また、アドレスを順方向に辿った時、データが等差数列で増加して行く一次関数の終点（終点アドレスに書き込まれたデータ）が最新値、始点（始点アドレスに書き込まれたデータ）が最古値となる。すなわち、一次関数を検出する方法と、その一次関数の始点あるいは終点から最新値を検出する方法がこの発明のポイントとなる。
【００１９】
一次関数であるか否かを検出するために先に述べた等差数列の特徴を利用する。ここでは、最新値より最古値方向にデータを並べる方法、すなわちアドレスを逆方向に辿ってデータを並べる方法で説明する。
最新値が始点であるならば、ｍ番目のデータは最新値に対し、所定時間ｔ₀分（ｔ₀＊ｍ）小さな値となるはずである。この検定を最古値（ｎ番目のデータ）に至るまで実行すると、そのデータが等差数列で減少して行く一次関数であるならば（図３（ｂ）参照）、その検定結果の成立数はｎとなるはずである。最新値以外のアドレスを始点とした場合（図３（ａ）参照）、検定結果の成立数はｎ以下となる。
【００２０】
すなわち、不揮発性メモリ２のアドレスを第１の変数，書き込まれている累計使用時間を第２の変数としたとき、第１の変数を逆方向に辿ったとき第２の変数が減少して行く等差数列となる一次関数が存在すれば、上記検定結果の成立数がｎとなる始点アドレスが存在する。第１の変数を逆方向に辿ったとき第２の変数が減少して行く等差数列となる一次関数が存在しない場合には、上記検定結果の成立数がｎとなる始点アドレスが存在しないことになる。この場合、上記検定結果の成立数が最大の始点アドレスを求めれば、このアドレスが第１の変数を逆方向に辿ったとき第２の変数が減少して行く等差数列となる一次関数に最も近い関数の始点アドレスとなる。
【００２１】
すなわち、不揮発性メモリ２のアドレスへの累計使用時間の書き込み中に電源電圧が低下し、その時の書き込みデータが不定となった場合、等差数列に乱れが生じ、第１の変数を逆方向に辿ったとき第２の変数が減少して行く等差数列となる一次関数が存在しなくなる。この場合、その一次関数に最も近い関数を求めれば、その関数の始点アドレスと存在しなくなった一次関数の始点アドレスとが同じである確率が極めて高い。そこで、この実施の形態では、上記検定結果の成立数が最大となる始点アドレスを求め、この始点アドレスに書き込まれている累計使用時間Ｔを最新値として使用時間の累計を再開する。
【００２２】
上記検定に際しては下記（１）式を用いる。なお、（１）式においてＩは始点アドレスであり、ＲＯＭ（Ｉ）は始点アドレスＩに書き込まれているデータを示している。また、ＲＯＭ（Ｊ）はアドレスＪに書き込まれているデータを示しており、Ｉ−ｍ≧０のときにはＪ＝Ｉ−ｍとして代入し（（２）式）、Ｉ−ｍ＜０のときにはＪ＝Ｉ−ｍ＋ｎ＋１として代入する（（３）式）。なお、（２）式は、Ｉ≧ｍの場合には、Ｉからみてｍ番地戻ったアドレスのデータをＲＯＭ（Ｊ）とすることを意図している。また、（３）式は、（２）式においてＩ＜ｍとなり、Ｊがマイナス値となった場合には、ｎ番地に戻ることを意図している。また、（４）式は変数ｍの数値範囲を示し、（５）式は変数Ｉの数値範囲を示している。
【００２３】
ＲＯＭ（Ｉ）−ｔ₀＊ｍ＝ＲＯＭ（Ｊ）・・・・（１）
Ｉ−ｍ≧０Ｊ＝Ｉ−ｍ・・・・（２）
Ｉ−ｍ＜０Ｊ＝Ｉ−ｍ＋ｎ＋１・・・・（３）
１≦ｍ≦ｎ・・・・（４）
０≦Ｉ≦ｎ・・・・（５）
【００２４】
図４に（１）式による検定を実行するプログラムのフローチャートを示す。図５に図４に続いて検定結果の最大値を示す始点アドレスを探し、最新値を検出するプログラムのフローチャートを示す。図１に不揮発性メモリ２のアドレス＃０〜＃１９に書き込まれた累計使用時間および検定結果の成立・不成立の具体例を示す。この場合、所定時間ｔ₀を０．１時間として、不揮発性メモリ２のアドレス＃９〜＃１９には累計使用時間Ｔとして「０．９」〜「１．９」が書き込まれており、アドレス＃０〜＃８には累計使用時間Ｔとして「２．０」〜「２．８」が書き込まれている。また、図中、「１」は「成立」、「０」は不成立を示している。
【００２５】
ＣＰＵ１は、先ず、ループカウンタＩをＩ＝１９としてセットする（図４に示すステップ４０１）。すなわち、始点アドレスを＃１９とし、始点アドレス＃１９に書き込まれている累計使用時間Ｔ（＝１．９）を読み出す（ステップ４０２）。そして、その読み出した累計使用時間Ｔを基準値Ｋにセットする（ステップ４０３）。次に、ループカウンタｍをｍ＝１としてセットし（ステップ４０４）、比較値のポインタＪをＪ＝Ｉ−ｍ＝１９−１＝１８とする（ステップ４０５）。比較値のポインタＪがマイナス値ならば、ステップ４０７にてＪ＝Ｊ＋ｎ＋１とするが、この場合、比較値のポインタＪはプラス値なので直ちにステップ４０８へ進む。
【００２６】
ステップ４０８ではＲＯＭ（Ｊ）すなわちアドレス＃１８に書き込まれている累計使用時間Ｔ（＝１．８）を読み出す。そして、ステップ４０９へ進み、ｍ番目のデータの規格値Ｘを計算する。この場合、Ｘ＝Ｋ−０．１＊ｍ＝１．９−０．１＊１により、Ｘ＝１．８として規格値が求められる。そして、ステップ４１０へ進み、ｍ番目のデータであるＲＯＭ（Ｊ）と規格値Ｘとが一致しているか否かをチェックし、一致していれば結果カウンタＣ（Ｉ）の値を１増加し（ステップ４１１）、一致していなければ直ちにステップ４１２へ進む。この場合、ｍ番目のデータであるＲＯＭ（Ｊ）と規格値Ｘとは、ＲＯＭ（１８）＝Ｘ＝１．８として一致するので、検定結果が「成立」と判定され、結果カウンタＣ（１９）＝１とされる。
【００２７】
ステップ４１２では、次のｍ値、すなわちｍ＝２をセットし、ステップ４０５〜４１１の動作を繰り返す。この場合、ｍ＝１０までは、検定結果が「成立」と判定され、これにより結果カウンタＣ（１９）＝１０とされる。ｍ＝１１となると、ＲＯＭ（８）＝２．８、Ｘ＝Ｋ−０．１＊ｍ＝１．９−０．１＊１１＝０．８により、ＲＯＭ（８）≠Ｘとなるので、検定結果が「不成立」と判定され、結果結果カウンタＣ（１９）の値は増加されない。この場合、以降ｍ＝１９まで、検定結果が「不成立」と判定され、これにより結果カウンタＣ（１９）は最終的にＣ（１９）＝１０とされる。
【００２８】
Ｉ＝１９，ｍ＝１９の処理が終了すれば、ステップ４１３へ進み、Ｉ＝１８としてステップ４０２〜４１２を繰り返す。すなわち、始点アドレスを＃１８として、ステップ４０２〜４１２を繰り返す。そして、最終的にＩ＝０，ｍ＝１９の処理を終了したときに、一連の検定処理動作を終了する。図１の最下行に、始点アドレスを＃１９〜＃０と変化させて行った場合の（１）式の成立個数、すなわち結果カウンタＣ（Ｉ）の最終値を記入している。
【００２９】
ＣＰＵ１は、図４に示した検定処理動作を終了すると、結果カウンタＣ（０）＝１１をＳＴにセットすると共にポインタＰを０にセットする（図５に示すステップ５０１）。そして、ループカウンタＩをＩ＝１とし（ステップ５０２）、ＳＴ＞Ｃ（Ｉ）をチェックする（ステップ５０３）。この場合、ＳＴ＝１１、Ｃ（１）＝１２であるので、ＳＴ＞Ｃ（Ｉ）が成立せず、ステップ５０４を経てステップ５０５へ進む。ステップ５０４では、ＳＴ＝Ｃ（１）＝１２とすると共に、Ｐ＝１とする。ステップ５０５では、次のＩをセットし、ステップ５０３〜５０４の動作を繰り返す。これにより、図１に示した例では、最終的にはＳＴ＝Ｃ（８）＝１９、Ｐ＝８が得られる。すなわち、検定結果の最大値が１９であり、その時の始点アドレスが＃８であることが検出される。ＣＰＵ１は、この検出結果から、アドレス＃８に書き込まれている累計使用時間Ｔ＝２．８を最新値とし、この最新値より使用時間の累計を再開する。
【００３０】
なお、上述においては、アドレス＃０〜＃１９に不定データが含まれない例（理想状態）で説明したが、不揮発性メモリ２のアドレスへの累計使用時間の書き込み中に電源電圧が低下した場合、その時の書き込みデータが不定となってしまう。従来においては、不定データが他のデータに比べて大きかった場合には、誤動作の可能性がある。不定データが存在した場合は、その不定データは破棄し、他のデータから最新データを選択すべきである。データの書き込みを所定時間毎に実行しているので、全てのデータが破壊される可能性は極めて低く、生き残ったデータ群は一次関数の一部がばらついているものの、その特徴までもが破壊されたわけではない。
【００３１】
本実施の形態においては、不揮発性メモリ２に書き込まれているデータ群の始点アドレスを変え、（１）式の成立・不成立を検定している。すなわち、不揮発性メモリ２の第０〜第ｎのアドレスに書き込まれているデータＤ（０）〜Ｄ（ｎ）を読み取り、Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２）・・・・Ｄ（２），Ｄ（１），Ｄ（０）を第０の数列、Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３）・・・・Ｄ（１），Ｄ（０），Ｄ（ｎ）を第１の数列、Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３），Ｄ（ｎ−４）・・・・Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）を第２の数列というようにして、Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）・・・・Ｄ（３），Ｄ（２），Ｄ（１）までのｎ種類の数列を作り、このｎ種類の数列毎に、その数列の最初のデータを始点、最後のデータを終点とし、始点のデータとｍ（ｎ≧ｍ≧１）番目のデータとの差分がｔ ₀ ・ｍであるか否かの検定を終点のデータまで繰り返して、その検定の成立数を求め、検定の成立数が最大の数列の始点のデータを累計使用時間の最新値として使用時間の累計を再開するようにしている。このため、不定データが書き込まれているアドレスを始点アドレスとした場合、検定の成立数は０となる。したがって、不定データを最新値として採用することはあり得ない。この場合、検定の成立数の最も大きい始点アドレス、すなわち第１の変数（不揮発性メモリ２のアドレス）を逆方向に辿ったとき第２の変数（書き込まれている累計使用時間Ｔ）が減少して行く等差数列となる一次関数に最も近い関数の始点アドレスに書き込まれている累計使用時間Ｔ（始点のデータ）を最新値とするから、実質的に不定データが破棄されたのと同じになり、適切な値から使用時間の累計を再開することができ、信頼性が高まる。また、信頼性を高めるために、大容量のコンデンサ等によるバックアップ回路を設けなくてもよく、コストアップが避けられ、コンパクト化も阻害されることがない。
【００３２】
また、上述においては、最新値より最古値方向にデータを並べる方法、すなわちアドレスを逆方向に辿ってデータを並べる方法で説明したが、最古値より最新値方向にデータを並べる方法、すなわちアドレスを順方向に辿ってデータを並べる方法でも同様にして、適切な値から使用時間の累計を再開することができる。この場合、図４および図５に示したフローチャートと同様の処理により、第１の変数（不揮発性メモリ２のアドレス）を順向に辿ったとき第２の変数（書き込まれている累計使用時間Ｔ）が増加して行く等差数列となる一次関数の終点アドレスを求め、この終点アドレスに書き込まれている累計使用時間を最新値として使用時間の累計を再開する。第１の変数を順方向に辿ったとき第２の変数が増加して行く等差数列となる一次関数が存在しない場合には、その一次関数に最も近い関数の終点アドレスを求め、この終点アドレスに書き込まれている累計使用時間を最新値として使用時間の累計を再開する。
【００３３】
【発明の効果】
以上説明したことから明らかなように本発明によれば、再起動時、不揮発性メモリの第０〜第ｎのアドレスに書き込まれているデータＤ（０）〜Ｄ（ｎ）を読み取り、Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２）・・・・Ｄ（２），Ｄ（１），Ｄ（０）を第０の数列、Ｄ（ｎ−１），Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３）・・・・Ｄ（１），Ｄ（０），Ｄ（ｎ）を第１の数列、Ｄ（ｎ−２），Ｄ（ｎ−３），Ｄ（ｎ−４）・・・・Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）を第２の数列というようにして、Ｄ（０），Ｄ（ｎ），Ｄ（ｎ−１）・・・・Ｄ（３），Ｄ（２），Ｄ（１）までのｎ種類の数列を作り、このｎ種類の数列毎に、その数列の最初のデータを始点、最後のデータを終点とし、始点のデータとｍ（ｎ≧ｍ≧１）番目のデータとの差分がｔ０・ｍであるか否かの検定を終点のデータまで繰り返して、その検定の成立数を求め、検定の成立数が最大の数列の始点のデータを累計使用時間の最新値として使用時間の累計を再開するようにしたので、実質的に不定データを破棄して適切な値から使用時間の累計を再開することができるようになり、不揮発性メモリへのデータ書き込み中における電源電圧の低下に対し、バックアップ回路を設けることなく、信頼性を高めることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】不揮発性メモリのアドレスに書き込まれた累計使用時間および検定結果の成立・不成立の具体例を示す図である。
【図２】この発明の一実施の形態を示す電子式アワーメータのブロック図である。
【図３】任意のアドレスを始点としアドレスを横軸，データを縦軸としてアドレスを逆方向に辿った時のグラフを例示する図である。
【図４】（１）式による検定を実行するプログラムのフローチャートを示す図である。
【図５】図４に続いて検定結果の最大値を示す始点アドレスを探し最新値を検出するプログラムのフローチャートを示す図である。
【符号の説明】
１…ＣＰＵ、２…不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、３…液晶表示部、４…水晶発振器。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an electronic hour meter that accumulates usage times of vehicles, devices, and the like and displays the accumulated usage times.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, this type of electronic hour meter has been used for a maintenance cycle of a mounted vehicle or device, or for calculating a fee for a lease or the like. The electronic hour meter includes a timer unit that generates a signal at regular time intervals, a totaling unit that counts a signal generated by the timer unit and accumulates the usage time, and a usage time accumulated by the totaling unit ( Display means for displaying (cumulative usage time).
[0003]
In this electronic hour meter, it is necessary to store the accumulated usage time while the vehicle or device is stopped, that is, until the vehicle or device is used next time. As a method of storing the accumulated usage time, there is a method in which the volatile memory or the counter is always energized and the data is backed up. There is also a method of mounting a non-volatile memory and recording the accumulated usage time in this non-volatile memory. In recent years, there is a strong demand for reducing power consumption during operation stop, and an electronic hour meter using a nonvolatile memory system is preferred.
[0004]
By the way, Japanese Patent Laid-Open No. 59-196414 discloses an “electronic odometer” as a structure similar to a nonvolatile memory type electronic hour meter. This electronic odometer measures the travel distance and displays the accumulated travel distance. However, if the accumulated travel distance is replaced with the accumulated usage time, the electronic odometer can be diverted to an electronic hour meter.
[0005]
This electronic odometer includes a non-volatile memory having # 0 to #n as data storage locations (addresses). For example, every 100 m travels, the accumulated travel distance is sequentially written into addresses # 0 to #n of the non-volatile memory. I am doing so. In this case, after the accumulated travel distance is written to address #n, the process returns to address # 0. When the power is turned on again and at the time of auto reset, all the accumulated travel distances written in the addresses # 0 to #n are read, and the maximum value is extracted from the read accumulated travel distances. Then, the difference between the extracted maximum value and the data written immediately before the maximum value data, that is, the data written at the previous address is taken, and if this is 100 m, the extracted maximum value is taken. The total of the travel distance is restarted with the value as the initial value (latest value) of the cumulative travel distance.
[0006]
If the difference is not 100 m, the check is repeated by shifting the address by one, and the data with a difference of 100 m from the data written once before is set as the latest value of the accumulated travel distance. That is, when the difference is not 100 m, it is tested whether the difference between the data written at the previous address and the data written at the previous address is 100 m. For example, the data written in the previous address is set as the latest value, and if it is not 100 m, the same test is sequentially repeated.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, when the technique of “electronic odometer” disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 59-196414 is diverted to an electronic hour meter, the power supply voltage decreases during the writing of the accumulated usage time to the address of the nonvolatile memory. Then, the write data at that time becomes indefinite. In this case, when the indefinite data becomes the maximum value among the data of the addresses # 1 to #n, it is determined whether or not the difference between the indefinite data and the data written in the previous address is a predetermined value. Tested. In this case, since the difference does not become a predetermined value, it is tested whether or not the difference between the data written at the previous address and the data written at the previous address is a predetermined value. . Here, if the difference becomes a predetermined value, the data written in the previous address is made the latest value. The data written at the previous address is data written at the address immediately before the address where the indefinite data is written, and is not an appropriate value as the latest value. That is, in this case, the accumulated usage time cannot be restarted from an appropriate value, and the reliability decreases.
[0008]
In order to improve reliability, it is conceivable to provide a backup circuit with a large-capacitance capacitor or the like to take measures against a decrease in power supply voltage during data writing to the nonvolatile memory. However, in this case, not only the cost is increased, but a storage space for the backup circuit must be ensured, and the downsizing is hindered.
[0009]
The present invention has been made to solve such a problem, and the object of the present invention is to provide reliability without providing a backup circuit against a decrease in power supply voltage during data writing to a nonvolatile memory. It is to provide an electronic hour meter that can be enhanced.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve such an object, the present invention provides timer means for generating a signal at regular time intervals, accumulating means for counting the signals generated by the timer means and accumulating usage time, and the accumulating means. In the electronic hour meter comprising the display means for displaying the accumulated usage time by the non-volatile memory having the _0th to n-th addresses, the predetermined time t ₀ has elapsed during the accumulation of the usage time by the accumulation means Each time, the writing means sequentially writes the accumulated usage time as data to the address of the nonvolatile memory while shifting the address one by one, and at the time of restart, writes to the 0th to nth addresses of the nonvolatile memory. Read data D (0) to D (n), and D (n), D (n-1), D (n-2)... D (2), D (1), D ( 0) is the 0th sequence, D (n− ), D (n-2), D (n-3)... D (1), D (0), D (n) are the first number sequences, D (n-2), D (n− 3), D (n-4)... D (0), D (n), D (n-1), D (n-1), D (n-1) are referred to as the second number sequence. (N-1)... D (3), D (2), D (1) are made up to n types of numerical sequences, and for each of the n types of numerical sequences, the first data of the numerical sequence is the start point and the end. The test of whether or not the difference between the start point data and the mth (n ≧ m ≧ 1) th data is t ₀ · m is repeated until the end point data, and the number of established tests is calculated. There is provided a total restarting means for restarting the accumulation of the usage time by using the data of the starting point of the sequence having the maximum number of established tests as the latest value of the cumulative usage time .
[0011]
Therefore, according to the present invention, every time the predetermined time t ₀ elapses during the accumulation of the use time, the accumulated use time is shifted to the _0th to nth addresses of the nonvolatile memory one by one. Sequentially written as data.
At the time of restart, data D (0) to D (n) written in the 0th to nth addresses of the nonvolatile memory are read, and D (n), D (n−1), D (n− 2)... D (2), D (1), D (0) are the 0th sequence, D (n-1), D (n-2), D (n-3),. D (1), D (0), D (n) are the first number sequence, D (n-2), D (n-3), D (n-4)... D (0), D D (0), D (n), D (n-1)... D (3), D (2), (n), D (n-1) are referred to as the second number sequence. N types of numerical sequences up to D (1) are created, and for each of the n types of numerical sequences , it is determined whether or not the difference between the starting point data and the mth data is t ₀ · m up to the end point data. Repeatedly, the number of established tests is obtained.
Then, the data on the starting point of the sequence having the largest number of established tests is used as the latest value of the cumulative usage time, and the cumulative usage time is resumed.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments. FIG. 2 is a block diagram of an electronic hour meter showing an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a CPU, 2 is a non-volatile memory (EEPROM), 3 is a liquid crystal display unit, and 4 is a crystal oscillator.
[0015]
The CPU 1 performs the following processing according to the installed program.
(1) Timer processing for dividing the system clock from the crystal oscillator 4 and generating a signal at regular time intervals.
(2) Cumulative processing for accumulating usage time by counting signals generated by timer processing.
(3) Display processing for displaying the usage time (cumulative usage time) accumulated by the cumulative processing by outputting it to the liquid crystal display unit 3.
(4) A writing process for sequentially writing the accumulated usage time to the addresses # 0 to #n of the nonvolatile memory 2 determined based on the lower digits of the accumulated usage time at every predetermined time.
(5) Cumulative restart processing for detecting the latest value using the fact that the data group written in the non-volatile memory 2 is an arithmetic sequence when restarting, and restarting the accumulated usage time from this latest value.
[0016]
[Cumulative restart processing]
The cumulative restart process performed by the CPU 1 will be specifically described. CPU1, that in operation, each ₀ given time t, sequentially writes the cumulative use time T to the address # 0 to # n nonvolatile memory 2 which is determined based on the low-order digit of the cumulative usage time T. In this embodiment, the addresses # 0 to #n of the nonvolatile memory 2 are # 0 to 19 (20 addresses in total), and the predetermined time t ₀ is 0.1 hour. In addition, the lower digits of the accumulated usage time T for determining the address are distinguished depending on whether the first decimal place and the first place are even numbers (however, 0 is an even number) or odd numbers. Cumulative usage time T with an even number in the first decimal place from 0 to 9 is written to addresses # 0 to # 9. Cumulative usage time T from 0 to 9 with the first decimal place being an odd number Are written to addresses # 10 to # 19.
[0017]
By this writing method, the data in the nonvolatile memory 2 (cumulative usage time T) traces the address in the reverse direction (# 19 → # 0 direction) from the address where the latest value is written, and when the data are arranged, The sequence is an arithmetic sequence. In this case, the equal difference in the equality sequence indicates a predetermined time t ₀ . Similarly, even if the addresses are traced in the forward direction (# 0 → # 19 direction) from the address where the oldest value is written and the data are arranged, the same sequence of equality numbers is obtained. From this, the following can be said.
[0018]
That is, when an arbitrary address is set as the starting point, the address at which data is written is set on the horizontal axis, the data is set on the vertical axis, and the address is traced in the reverse direction, a graph as shown in FIG. There is a case where the function is a sawtooth function, or a linear function in which data as shown in FIG. When the function is as shown in FIG. 3B, that is, when the data is a linear function that decreases in an arithmetic progression, the start point (data written at the start point address) of the linear function is the latest value and the end point. (Data written at the end point address) is the oldest value. When the address is traced in the forward direction, the end point of the linear function (data written at the end point address) where the data increases in the arithmetic progression is the latest value, and the start point (data written at the start point address) is the highest. The old value. That is, the point of the present invention is a method for detecting a linear function and a method for detecting the latest value from the start point or end point of the linear function.
[0019]
In order to detect whether or not it is a linear function, the characteristics of the arithmetic sequence described above are used. Here, a method of arranging data in the direction of the oldest value from the latest value, that is, a method of arranging data by tracing the address in the reverse direction will be described.
If the latest value is the start point, the m-th data should be a value smaller than the latest value by a predetermined time t ₀ minutes (t ₀ * m). When this test is executed up to the oldest value (nth data), if the data is a linear function that decreases in an arithmetic progression (see FIG. 3B), the number of established test results. Should be n. When an address other than the latest value is used as the start point (see FIG. 3A), the number of established test results is n or less.
[0020]
That is, when the address of the non-volatile memory 2 is the first variable and the written accumulated usage time is the second variable, the second variable decreases when the first variable is traced in the reverse direction. If there is a linear function that is an equidistant sequence, there is a starting point address where the number of established test results is n. When there is no linear function that becomes an arithmetic sequence in which the second variable decreases when the first variable is traced in the reverse direction, there is no start point address at which the number of established test results is n. become. In this case, if the starting point address having the maximum number of established test results is obtained, the first variable is the most similar linear function in which the second variable decreases when the address follows the first variable in the reverse direction. It is the start address of a nearby function.
[0021]
That is, when the power supply voltage drops during the writing of the accumulated usage time to the address of the nonvolatile memory 2 and the writing data at that time becomes indefinite, the arithmetic sequence is disturbed, and the first variable is set in the reverse direction. When traced, there is no linear function that becomes an arithmetic sequence in which the second variable decreases. In this case, if a function closest to the linear function is obtained, there is an extremely high probability that the start point address of the function is the same as the start point address of the primary function that no longer exists. Therefore, in this embodiment, the starting point address where the number of established test results is maximized is obtained, and the accumulated usage time T written in the starting point address is used as the latest value, and the accumulated usage time is resumed.
[0022]
The following equation (1) is used for the above test. In equation (1), I is a start point address, and ROM (I) indicates data written at the start point address I. ROM (J) indicates data written at address J. When Im-> 0, J = I-m is substituted (Equation (2)), and when Im- <0, J = I−m + n + 1 is substituted (Expression (3)). Note that the expression (2) is intended to use ROM (J) as the data at the address returned from address m when viewed from I when I ≧ m. Further, the expression (3) is intended to return to the n-th address when I <m in the expression (2) and J becomes a negative value. Equation (4) shows the numerical range of the variable m, and Equation (5) shows the numerical range of the variable I.
[0023]
ROM (I) -t ₀ * m = ROM (J) (1)
I−m ≧ 0 J = I−m (2)
I−m <0 J = I−m + n + 1 (3)
1 ≦ m ≦ n (4)
0 ≦ I ≦ n (5)
[0024]
FIG. 4 shows a flowchart of a program for executing the test according to the equation (1). FIG. 5 shows a flowchart of a program for searching for the start point address indicating the maximum value of the test result and detecting the latest value following FIG. FIG. 1 shows a specific example of the accumulated use time written in the addresses # 0 to # 19 of the nonvolatile memory 2 and the establishment / non-establishment of the test result. In this case, the predetermined time t _{0 is set} to 0.1 hour, and “0.9” to “1.9” are written as the accumulated use time T in the addresses # 9 to # 19 of the nonvolatile memory 2. In “# 0” to “# 8”, “2.0” to “2.8” are written as the accumulated usage time T. In the figure, “1” indicates “established” and “0” indicates not established.
[0025]
The CPU 1 first sets the loop counter I as I = 19 (step 401 shown in FIG. 4). That is, the starting point address is set to # 19, and the accumulated use time T (= 1.9) written in the starting point address # 19 is read (step 402). Then, the read accumulated use time T is set to the reference value K (step 403). Next, the loop counter m is set as m = 1 (step 404), and the pointer J of the comparison value is set as J = I−m = 19−1 = 18 (step 405). If the pointer J of the comparison value is a negative value, J = J + n + 1 is set in step 407. In this case, since the pointer J of the comparison value is a positive value, the process immediately proceeds to step 408.
[0026]
In step 408, the accumulated usage time T (= 1.8) written in ROM (J), that is, address # 18, is read. In step 409, the standard value X of the m-th data is calculated. In this case, X = K−0.1 * m = 1.9−0.1 * 1, and the standard value is obtained with X = 1.8. Then, the process proceeds to step 410, where it is checked whether the m-th data ROM (J) and the standard value X match, and if they match, the value of the result counter C (I) is incremented by one. (Step 411) If not coincident, the process immediately proceeds to Step 412. In this case, since the ROM (J), which is the m-th data, and the standard value X match as ROM (18) = X = 1.8, the test result is determined to be “established” and the result counter C (19 ) = 1.
[0027]
In step 412, the next m value, that is, m = 2 is set, and the operations in steps 405 to 411 are repeated. In this case, until m = 10, the test result is determined to be “established”, whereby the result counter C (19) = 10. When m = 11, ROM (8) = 2.8 and X = K−0.1 * m = 1.9−0.1 * 11 = 0.8, so ROM (8) ≠ X. The test result is determined as “not established”, and the value of the result result counter C (19) is not increased. In this case, the test result is determined as “not established” until m = 19, and the result counter C (19) is finally set to C (19) = 10.
[0028]
When the processing of I = 19 and m = 19 is completed, the process proceeds to step 413, and steps 402 to 412 are repeated with I = 18. That is, steps 402 to 412 are repeated with the starting point address as # 18. When a process of I = 0 and m = 19 is finally finished, a series of test processing operations are finished. In the bottom row of FIG. 1, the number of established expressions (1) when the start point address is changed from # 19 to # 0, that is, the final value of the result counter C (I) is entered.
[0029]
When the CPU 1 completes the verification processing operation shown in FIG. 4, the result counter C (0) = 11 is set to ST and the pointer P is set to 0 (step 501 shown in FIG. 5). Then, the loop counter I is set to I = 1 (step 502), and ST> C (I) is checked (step 503). In this case, since ST = 11 and C (1) = 12, ST> C (I) is not satisfied, and the process proceeds to step 505 through step 504. In step 504, ST = C (1) = 12, and P = 1. In step 505, the next I is set, and the operations in steps 503 to 504 are repeated. Thereby, in the example shown in FIG. 1, ST = C (8) = 19 and P = 8 are finally obtained. That is, it is detected that the maximum value of the test result is 19 and the start point address at that time is # 8. From this detection result, the CPU 1 sets the accumulated usage time T = 2.8 written in the address # 8 as the latest value, and restarts the accumulated usage time from this latest value.
[0030]
In the above description, the example in which the indefinite data is not included in the addresses # 0 to # 19 (ideal state) has been described. However, when the power supply voltage decreases during the writing of the accumulated usage time to the address of the nonvolatile memory 2 The write data at that time is undefined. Conventionally, if indefinite data is larger than other data, there is a possibility of malfunction. If indefinite data exists, the indefinite data should be discarded and the latest data should be selected from other data. Since data writing is executed every predetermined time, the possibility that all data will be destroyed is extremely low, and although some of the surviving data groups vary in part of the linear function, even the characteristics are destroyed. Not a reason.
[0031]
In the present embodiment, the starting point address of the data group written in the nonvolatile memory 2 is changed to test whether the equation (1) is established or not . That is, the data D (0) to D (n) written in the 0th to nth addresses of the nonvolatile memory 2 are read, and D (n), D (n-1), D (n-2) ... D (2), D (1), D (0) are the 0th number sequence, D (n-1), D (n-2), D (n-3), ... D ( 1), D (0), D (n) are the first number sequence, D (n-2), D (n-3), D (n-4)... D (0), D (n ), D (n−1) as the second number sequence, D (0), D (n), D (n−1)... D (3), D (2), D ( 1) n types of numerical sequences are created, and for each of the n types of numerical sequences, the first data in the numerical sequence is the start point, the last data is the end point, the start point data and the mth (n ≧ m ≧ 1) data the difference is repeated, whether or not the test is t ₀ · m until the data of the end point of the, Determine the number of establishment of the test, established the number of tests has been to to resume the cumulative use time the data of the start point of the maximum of the sequence as the latest value of total use time. For this reason, when the address where the indefinite data is written is used as the start point address, the number of established tests is zero. Therefore, indefinite data cannot be adopted as the latest value. In this case, the second variable (the accumulated usage time T that has been written) decreases when the start point address having the largest number of established tests , that is, the first variable (the address of the nonvolatile memory 2) is traced in the reverse direction. Since the accumulated use time T (starting point data) written in the starting point address of the function closest to the linear function that is the successive difference number sequence is the latest value, it is substantially the same as when indefinite data was discarded. Thus, the accumulated usage time can be restarted from an appropriate value, and the reliability is increased. Further, in order to improve reliability, it is not necessary to provide a backup circuit with a large-capacitance capacitor or the like, cost increase is avoided, and compactness is not hindered.
[0032]
In the above description, the method of arranging data in the direction of the oldest value from the latest value, that is, the method of arranging the data by tracing the address in the reverse direction, has been described, but the method of arranging the data in the direction of the latest value from the oldest value, that is, Similarly, the method of arranging the data by tracing the address in the forward direction can restart the accumulated usage time from an appropriate value. In this case, when the first variable (address of the nonvolatile memory 2) is traced forward by the same processing as the flowcharts shown in FIGS. 4 and 5, the second variable (the accumulated usage time T written) The end point address of the linear function that becomes an even number sequence increasing in the order of) is obtained, and the accumulated use time is restarted with the accumulated use time written in the end point address as the latest value. When there is no linear function that becomes an arithmetic sequence in which the second variable increases when the first variable is traced in the forward direction, the end point address of the function closest to the linear function is obtained, and this end point address is obtained. The accumulated usage time written in is restarted with the accumulated usage time as the latest value.
[0033]
【The invention's effect】
As apparent from the above description, according to the present invention, at the time of restart, the data D (0) to D (n) written in the 0th to nth addresses of the nonvolatile memory are read and D ( n), D (n-1), D (n-2)... D (2), D (1), D (0) are the 0th sequence, D (n-1), D (n -2), D (n-3)... D (1), D (0), D (n) are the first sequence, D (n-2), D (n-3), D ( n-4)... D (0), D (n), D (n-1), so that D (0), D (n), D (n-1) are referred to as the second number sequence. .... Make n number of sequences up to D (3), D (2), D (1), and for each of these n types of sequences, the first data of the sequence is the start point and the last data is the end point. The difference between the start point data and the mth (n ≧ m ≧ 1) th data is t0 · m Repeat certain whether the test until the data endpoint, so that its formation number look assay, establishment number of test resumes cumulative usage time data of the start point of the maximum of the sequence as the latest value of the cumulative usage time As a result, the indefinite data can be substantially discarded and the accumulated usage time can be restarted from an appropriate value, and the backup circuit can be used to reduce the power supply voltage while writing data to the nonvolatile memory. Reliability can be improved without providing.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a specific example of the cumulative use time written in an address of a nonvolatile memory and the establishment / non-establishment of a test result.
FIG. 2 is a block diagram of an electronic hour meter showing one embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram exemplifying a graph when an address is traced in the reverse direction with an arbitrary address as a starting point and an address as a horizontal axis and data as a vertical axis;
FIG. 4 is a diagram showing a flowchart of a program for executing a test according to equation (1).
FIG. 5 is a diagram showing a flowchart of a program for searching for the start point address indicating the maximum value of the test result and detecting the latest value following FIG. 4;
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... CPU, 2 ... Nonvolatile memory (EEPROM), 3 ... Liquid crystal display part, 4 ... Crystal oscillator.

Claims

Timer means for generating a signal at regular time intervals, totaling means for counting the signals generated by the timer means and accumulating the usage time, and display means for displaying the usage time accumulated by the totalization means In electronic hour meter
A non-volatile memory having 0th to nth addresses;
Writing means for sequentially writing the accumulated use time as data to the address of the nonvolatile memory one by one while shifting the address one by one every time a predetermined time t ₀ elapses during the accumulation of the use time by the accumulation means. When,
At the time of restart, the data D (0) to D (n) written in the 0th to nth addresses of the nonvolatile memory are read,
D (n), D (n−1), D (n−2)... D (2), D (1), D (0) are represented as the 0th sequence,
D (n−1), D (n−2), D (n−3)... D (1), D (0), D (n) are the first number sequence,
D (n-2), D (n-3), D (n-4)... D (0), D (n), D (n-1) are referred to as a second number sequence,
D (0), D (n), D (n-1)... D (3), D (2), D (1), n types of numerical sequences are made,
For each of the n types of number sequences , whether the first data in the number sequence is the start point, the last data is the end point, and the difference between the start point data and the mth (n ≧ m ≧ 1) th data is t ₀ · m Repeat the test for failure to the end point data to find the number of successful tests,
An electronic hour meter, comprising: cumulative restarting means for restarting the cumulative usage time using the data of the starting point of the sequence having the largest number of established tests as the latest value of the cumulative usage time.