JP3759360B2 - Waveform measuring device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は波形測定装置に関するものであり、詳しくはトリガ機能の改善に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
波形測定装置は、機械・化学・生物・地学など各種の現象をそれぞれに適したセンサーにより電気信号に変換して測定データとしてメモリに取り込むとともに、それらの測定データの時間の経過に伴う変化の状態を波形として表示画面や記録紙に可視化表示するものであり、各種の分野で広く用いられている。
【0003】
ところで、このような波形測定装置の測定データを格納するメモリの容量は有限であり、すべての測定データをもれなく取り込むことは不可能である。そこで、それぞれの測定目的に合わせて複数の測定データ取り込み条件をトリガ条件として設定しておき、それらのトリガ条件が成立したらその時点を基準にして所定数の測定データをメモリに取り込むように構成されている。
【0004】
しかし、従来の波形測定装置における複数トリガ条件の優先順位については格別の配慮はなされておらずいわば早い者勝ち状態であり、複数のトリガ条件のいずれかが成立すると直ちにその事象の測定データの取り込みを実行する。それらの測定データの取り込みが完了するまでは、他のトリガ条件の成立は全く無視している。
【0005】
図3はこのような従来の測定データの取り込み処理の概略を示すフローチャートである。測定動作をスタートすることにより、データを取得する(ST1)。取得したデータがトリガ条件を満たすか否か判断する(ST2)。トリガ条件を満たしていればそのデータをメモリに取り込むデータ格納処理を行い(ST3)、満たさなければST1に戻って次のデータを取得する。データ格納処理後は予め設定されている所定数のデータを格納したか否かを判断し(ST4)、所定数のデータを取り込むまでST3以降の処理を繰り返して所定数のデータを取り込んだら処理を終了する。
【0006】
図4は従来の波形測定装置における測定データの取り込み説明図である。図4において、Ch1の測定データについてはレベル1よりもハイレベルになったらトリガが成立し、Ch2の測定データについてはレベル2よりもローレベルになったらトリガが成立するものと設定されていて、トリガが成立した時点から10個の測定データを取り込むようになっている。
【0007】
すなわち、Ch1の測定データがレベル1よりもハイレベルになった時点でトリガが成立し、10点のCh1の測定データの取り込みを開始する。ここでCh2の測定データに注目すると、Ch1の測定データの9個目の直前にレベル2よりもローレベルになっているが、Ch1の測定データの所定数の取り込みが完了していないのでCh2のトリガ条件の成立は無視されてしまう。
【0008】
この結果、例えばCh2のトリガ条件はCh1のトリガ条件よりも重要度が高いとしても、Ch2の測定データを取り込むことができないことになる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、このような従来の波形測定装置の問題点に着目したものであって、その目的は、重要度の高いトリガ条件を満たす事象の測定データを確実にメモリに取り込むことができる波形測定装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、本発明の請求項1記載の発明は、トリガ条件に優先順位を設定し、この優先順位に基づいて波形データをメモリに取り込むように構成された波形測定装置において、
前記メモリに優先順位の高いトリガ条件が成立した事象の測定データを取り込む空き容量がない場合には上書きして取り込むことを特徴とする。
【0015】
メモリには、常にその時点で優先順位の最も高いトリガ条件が成立している事象の測定データが取り込まれる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図により説明する。
図1は本発明に基づく波形測定装置の測定データ取り込みの説明図であり、図4と同様な2チャンネルの測定例を示している。図1と図4の異なる点は、Ch2のトリガ条件の優先順位をCh1よりも高く設定していて、その優先順位に基づいてメモリへの測定データの取り込みを制御していることである。
【0019】
図1において、Ch1の測定データがレベル1よりもハイレベルになった時点でトリガが成立することにより、10点のCh1の測定データの取り込みを開始する。
一方、Ch2の測定データに注目すると、Ch1の測定データの9個目の直前にレベル2よりもローレベルになってCh2のトリガ条件も成立する。
ここで、Ch2のトリガ条件の優先順位はCh1よりも高く設定されているので実行中の優先順位の低いCh1の測定データの取り込み処理は直ちに中断し、既にメモリに格納されているCh1の測定データを破棄して初期化する。そして、Ch2のトリガ条件の成立に基づきCh2の測定データの取り込み処理を行い、10個のデータを取り込む。
【0020】
これにより、Ch1とCh2の測定データを共通のメモリに取り込むように構成された波形測定装置において、トリガ条件の優先順位の高いCh2の測定データが確実に取り込まれる。
【0021】
図2は図1の処理の手順を示すフローチャートである。図3と同様に、測定動作をスタートすることにより、データを取得する(ST1)。取得したデータがトリガ条件を満たすか否か判断する(ST2)。トリガ条件を満たしていればそのデータをメモリに取り込むデータ格納処理を行い(ST3)、満たさなければST1に戻って次のデータを取得する。データ格納処理後は予め設定されている所定数のデータを格納したか否かを判断し(ST4)、所定数のデータを取り込んだら処理を終了する。所定数のデータを取り込むまでST3以降の処理を繰り返すことになるが、この繰り返し過程で、取得した各データについてトリガ条件の優先順位が現在格納中のものよりも高いか否か判断し(ST5)、高くなければST3以降の処理を繰り返す。取得したデータのトリガ条件の優先順位が高ければ、既に格納されているデータを破棄してデータ格納処理を初期化し(ST6)、ST3以降の処理を実行する。
【0022】
なお、メモリに優先順位の高いトリガ条件が成立した事象の測定データを取り込むのにあたり、メモリに空き容量がない場合には既に格納されている測定データに上書きして取り込むようにしてもよい。
【0023】
これにより、メモリには、常にその時点で優先順位の最も高いトリガ条件が成立している事象の測定データが取り込まれる。
【0024】
また、本発明は、複数チャンネルの測定データを共通のメモリに取り込む場合に限るものではなく、単一チャンネルの測定データに対して複数のトリガ条件を優先順位を付けて設定し、容量が制限されたメモリに常にその時点で優先順位の最も高いトリガ条件が成立している事象の測定データを取り込む場合にも有効である。
【0025】
また、本発明におけるトリガ条件は、信号レベルとして設定されたものでもよいし、波形パターンとして設定されたものでもよいし、さらにはこれらを組み合わせたものでもよく、測定用途に応じて適宜使い分ければよい。
【0026】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、重要度の高いトリガ条件を満たす事象の測定データを確実にメモリに取り込むことができる波形測定装置が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に基づく波形測定装置の測定データ取り込み状態説明図である。
【図2】図1の処理手順を示すフローチャートである。
【図3】従来の波形測定装置の測定データ取り込み状態説明図である。
【図4】図3の処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
Data 測定データ
Level トリガレベル[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a waveform measuring apparatus, and more particularly to improvement of a trigger function.
[0002]
[Prior art]
The waveform measuring device converts various phenomena such as machinery, chemistry, biology, and geology into electrical signals by sensors suitable for each, and loads them into the memory as measurement data, and the state of change of those measurement data over time Is visualized as a waveform on a display screen or recording paper, and is widely used in various fields.
[0003]
By the way, the capacity of the memory for storing the measurement data of such a waveform measuring apparatus is finite, and it is impossible to capture all the measurement data. Therefore, a plurality of measurement data capture conditions are set as trigger conditions according to each measurement purpose, and when those trigger conditions are satisfied, a predetermined number of measurement data is captured in the memory on the basis of the time point. ing.
[0004]
However, the priorities of multiple trigger conditions in the conventional waveform measuring device are not given special considerations. Execute. Until the acquisition of the measurement data is completed, the establishment of other trigger conditions is completely ignored.
[0005]
FIG. 3 is a flowchart showing an outline of such conventional measurement data fetching processing. Data is acquired by starting the measurement operation (ST1). It is determined whether or not the acquired data satisfies the trigger condition (ST2). If the trigger condition is satisfied, a data storage process for fetching the data into the memory is performed (ST3). If not satisfied, the process returns to ST1 to acquire the next data. After the data storage processing, it is determined whether or not a predetermined number of preset data has been stored (ST4), and the processing after ST3 is repeated until the predetermined number of data is fetched. finish.
[0006]
FIG. 4 is an explanatory view of taking in measurement data in a conventional waveform measuring apparatus. In FIG. 4, the trigger is established when the measurement data of Ch1 is higher than level 1 and the trigger is established when the measurement data of Ch2 is lower than level 2, and the trigger is established. Ten measurement data are acquired from the time when the trigger is established.
[0007]
That is, the trigger is established when the Ch1 measurement data becomes higher than the level 1, and the acquisition of the ten Ch1 measurement data is started. Here, when attention is paid to the measurement data of Ch2, it is lower than level 2 immediately before the ninth measurement data of Ch1, but since a predetermined number of acquisition of measurement data of Ch1 has not been completed, Ch2 The establishment of the trigger condition is ignored.
[0008]
As a result, for example, even if the Ch2 trigger condition is more important than the Ch1 trigger condition, the Ch2 measurement data cannot be captured.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention focuses on the problems of such a conventional waveform measuring apparatus, and its purpose is to perform waveform measurement that can reliably capture measurement data of an event that satisfies a trigger condition having a high degree of importance into a memory. To provide an apparatus.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve such an object, according to a first aspect of the present invention, a waveform measuring apparatus configured to set a priority to a trigger condition and take waveform data into a memory based on the priority. In
When there is no free space for capturing measurement data of an event for which a trigger condition having a high priority is satisfied, the memory is overwritten and captured.
[0015]
The measurement data of the event for which the trigger condition with the highest priority at that time is satisfied is always taken into the memory.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is an explanatory view of measurement data fetching by the waveform measuring apparatus according to the present invention, and shows a measurement example of two channels similar to FIG. The difference between FIG. 1 and FIG. 4 is that the priority order of the trigger condition of Ch2 is set higher than that of Ch1, and the acquisition of measurement data into the memory is controlled based on the priority order.
[0019]
In FIG. 1, when the measurement data of Ch1 becomes higher than level 1, the trigger is established, and the acquisition of 10 measurement data of Ch1 is started.
On the other hand, when attention is paid to the measurement data of Ch2, the trigger condition of Ch2 is satisfied because the level becomes lower than level 2 immediately before the ninth measurement data of Ch1.
Here, since the priority order of the trigger condition of Ch2 is set higher than that of Ch1, the acquisition process of the measurement data of Ch1 having the lower priority being executed is immediately interrupted, and the measurement data of Ch1 already stored in the memory. Is discarded and initialized. Then, based on the establishment of the Ch2 trigger condition, the Ch2 measurement data is fetched, and ten pieces of data are fetched.
[0020]
Thereby, in the waveform measuring apparatus configured to capture the measurement data of Ch1 and Ch2 into the common memory, the measurement data of Ch2 having a high trigger condition priority is reliably captured.
[0021]
FIG. 2 is a flowchart showing the procedure of the process of FIG. Similarly to FIG. 3, data is acquired by starting the measurement operation (ST1). It is determined whether or not the acquired data satisfies the trigger condition (ST2). If the trigger condition is satisfied, a data storage process for fetching the data into the memory is performed (ST3). If not satisfied, the process returns to ST1 to acquire the next data. After the data storage processing, it is determined whether or not a predetermined number of data set in advance has been stored (ST4), and the processing ends when the predetermined number of data is captured. The processing from ST3 is repeated until a predetermined number of data is fetched. In this repetition process, it is determined whether or not the priority order of the trigger condition is higher than that currently stored for each acquired data (ST5). If it is not higher, the process after ST3 is repeated. If the priority order of the trigger condition of the acquired data is high, the already stored data is discarded to initialize the data storage process (ST6), and the processes after ST3 are executed.
[0022]
It should be noted that, when capturing measurement data of an event for which a trigger condition having a high priority is satisfied, it may be possible to overwrite the already stored measurement data when there is no free space in the memory.
[0023]
Thereby, the measurement data of the event for which the trigger condition with the highest priority at that time is always satisfied is taken into the memory.
[0024]
In addition, the present invention is not limited to the case where the measurement data of a plurality of channels is taken into a common memory, but a plurality of trigger conditions are set with priority for the measurement data of a single channel, and the capacity is limited. This is also effective when the measurement data of the event for which the trigger condition with the highest priority is established at that time is always taken into the memory.
[0025]
In addition, the trigger condition in the present invention may be set as a signal level, set as a waveform pattern, or may be a combination of these, and may be appropriately used depending on the measurement application. Good.
[0026]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to realize a waveform measuring apparatus that can reliably capture measurement data of an event satisfying a trigger condition having a high importance level into a memory.
[Brief description of the drawings]
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is an explanatory diagram of a measurement data capturing state of a waveform measuring apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure of FIG. 1;
FIG. 3 is an explanatory diagram of a measurement data capturing state of a conventional waveform measuring apparatus.
4 is a flowchart showing a processing procedure of FIG. 3;
[Explanation of symbols]
Data Measurement data Level Trigger level
Claims (1)
前記メモリに優先順位の高いトリガ条件が成立した事象の測定データを取り込む空き容量がない場合には上書きして取り込むことを特徴とする波形測定装置。A waveform measuring apparatus, wherein when there is no free space for capturing measurement data of an event for which a trigger condition having a high priority is satisfied in the memory, the waveform measurement apparatus is overwritten and captured.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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