JP3753222B2 - Sample feeder - Google Patents

Sample feeder Download PDF

Info

Publication number
JP3753222B2
JP3753222B2 JP35612999A JP35612999A JP3753222B2 JP 3753222 B2 JP3753222 B2 JP 3753222B2 JP 35612999 A JP35612999 A JP 35612999A JP 35612999 A JP35612999 A JP 35612999A JP 3753222 B2 JP3753222 B2 JP 3753222B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
tray
chamber
holder
slider
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP35612999A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2001174370A (en
Inventor
弘幸 富山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP35612999A priority Critical patent/JP3753222B2/en
Publication of JP2001174370A publication Critical patent/JP2001174370A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3753222B2 publication Critical patent/JP3753222B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、例えばマイクロ波誘導プラズマ(以下「MIP」という)を利用した元素分析計のプラズマ発生部にサンプル(パ―ティクル)を供給するためのサンプル供給装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
はじめに本発明のサンプル供給装置が適用される元素分析計について、簡単に説明する。元素分析計はディスパ―サ及びアナライザから構成されている。
ディスパ―サとしては、プラズマ発生部にサンプルを供給する装置(特開平4−5554号公報参照)が、アナライザとしては、発光分光分析計に検出器として装着される発光分光検出器(特開平4−5555号公報参照)が知られている。
【0003】
即ち、ディスパ―サは、アスピレ―タ、表面にサンプルが付着したフィルタを固定するサンプルホルダが装着されたア―ム、第1モ―タの回転を全ア―ムの水平方向回転運動に変換する固定軸、及び第2モ―タの回転をア―ムの上下方向直線運動に変換するボ―ルネジを設け、アスピレ―タの吸引口がフィルタと一定距離に近づいた状態で、キャリアガスがアスピレ―タに供給されたとき、アスピレ―タによってサンプルを吸引して放電管を用いてプラズマ発生部に供給するものとなっている。
【0004】
又、アナライザは、例えば、ディスパ―サ側に位置するディスチャージ管、マイクロ波を空洞共鳴させてディスチャージ管の外管内にMIPを発生させるキャビティ、外管の軸方向に取り出して集光する光学系、及びこの光学系で集光された光を分光して信号処理する信号処理部が設けられて、試料中の被測定元素を検出するようになっている。
【0005】
図5はプラズマ発生部にサンプルを供給する装置の説明に供する図である。
図において、100はサンプル導入装置であるディスパ―サ、101はArやHeで成るキャリアガスを導入するキャリアガス導入口、102は例えばArやHe等の置換ガスを導入する置換ガス導入口、103a〜103eは開閉弁、104,105はガス排出口、106は吸引ポンプ、107は表面に微粒子が付着されたフィルタ、108はアスピレ―タ、109は放電管、110はキャビティ、111はマイクロ波誘導プラズマである。
【0006】
このような構成において、キャビティ110の中心部にはマイクロ波発生器
(図省略)からマイクロ波が照射されたとき、キャビティ110の中心部に挿入されている放電管109内のキャリアガスを励起してマイクロ波誘導プラズマ111が発生する。
【0007】
図6(イ),(ロ)はこのようなサンプル供給装置に用いられるディスパーサの要部を示すもので、1はネジやシ―ル部材等によって外からの空気の漏れ込みを防ぐように構成されているチャンバ、2はフィルタ(図省略)上のサンプルを吸引して放電管(図6参照)に供給するアスピレ―タ、2´はアスピレ―タの吸引口、3はノズル閉塞部材、4は先端部にノズル閉塞部材3が装着された第1ア―ムである。チャンバ1はガス置換部などを構成し吸引口2´を介してアスピレ―タ2と連通している。
【0008】
ノズル閉塞部材3は第1ア―ム4の先端付近に取り付けられており、この第1アーム4は第2ア―ム8と共に支柱6に取り付けられている。ノズル閉塞部材3は支柱6の回転に基づく第1アーム4の昇降により、吸引口2´に蓋をすることによって、この吸引口2´とチャンバ―5の連通を遮断する。
【0009】
サンプルを採取したフィルタ(図示省略)は第2ア―ム8の先端付近に設けられたフィルタホルダ7に装着されている。尚、フィルタホルダ7に装着されたフィルタとアスピレ―タ2の吸引口との間隔は例えば0.1mm以下になるように制御されている。交換窓9はフィルタホルダ7からフィルタを取外したりするときに使用する。
【0010】
このような構成においてその動作は以下のようになる。
はじめに図7に示すように第1,第2アームを交換窓9の位置に配置させ、交換窓9を開いてサンプル(パ―ティクル)を採取したフィルタアセンブリ(図省略)をフィルタホルダ―7に乗せる。次に支柱6を回転させて、第1ア―ム4,第2ア―ム8を介してサンプルホルダ7及びノズル閉塞部材3を下降させる。
【0011】
その後に、第1ア―ム4,第2ア―ム8を図7の太線矢印方向Fに回転させて図6(イ)の状態にする。その状態で、支柱6を回転させてノズル閉塞部材3を上昇させて吸引口2´をシ―ルする。
【0012】
その後、図5における開閉弁103b,103dを閉として開閉弁103cを開とする。この状態で吸引ポンプ106を駆動させてチャンバ5内の空気を吸引してチャンバ内を真空とする。
【0013】
チャンバ1内が一定の真空度に達したら、開閉弁103cを閉じ、開閉弁103bを開にしてチャンバ5内に置換ガスを充填する。
置換ガスが充填されてチャンバ1内が大気圧になったら開閉弁103dを開にしてチャンバ5内を大気解放にする。と同時に、図6(ロ)の支柱6を回転させてノズル閉塞部材3を下降させ、第1ア―ム4,第2ア―ム8を更に回転させて図8の位置とする。
【0014】
この後、支柱6を回転させて、サンプルホルダ7を上昇させる。所定の位置でサンプルホルダ7の上昇を停止させた後にサンプルの吸引を開始させる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、このような従来のサンプル供給装置ではサンプルホルダ交換に際しては、交換窓9をはずして、上部からサンプルホルダをフィルタホルダ7にセットするという作業を要するため、作業性に劣る上に、内部にサンプルホルダを落としてしまう恐れがあるという問題があった。
本発明は上記従来技術の問題点を解決するためになされたもので、作業性の向上と操作性の簡単化を図ったサンプル供給装置を提供することを目的とするものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するための本発明の構成は、
サンプルトレーが載置され、チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、
前記サンプル導入手段の側面に沿って配置され、サンプルトレーの複数個を所定の間隔を隔てて直線上に保管するサンプルトレー保管手段と、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態における前記載置されたサンプルトレーの中心と前記サンプルトレー保管手段に保管されたサンプルトレーの中心を結んだ線の上方を移動するスライダと、
該スライダに設けられたサンプルトレー把持手段を具備し、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、測定が完了したサンプルが載置されたサンプルトレーと未測定のサンプルが載置されたサンプルトレーを交換するように前記サンプルトレー把持手段を制御するように構成したことを特徴とする。
【0017】
サンプルトレーが載置され、チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、
前記サンプル導入手段の側面に沿って配置され、サンプルホルダの複数個を所定の間隔を隔てて直線上に保管するサンプルホルダ保管手段と、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態における前記載置されたサンプルトレーの中心と前記サンプルホルダ保管手段に保管されたサンプルホルダの中心を結んだ線の上方を移動するスライダと、
該スライダに設けられたサンプルホルダ把持手段を具備し、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、測定が完了したサンプルが載置されたサンプルホルダと未測定のサンプルホルダを交換するように前記サンプルホルダ把持手段を制御するように構成したことを特徴とする
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の請求項1の実施形態の一例について図を用いて詳細に説明する。図1は本発明のサンプル供給装置の概要を示す斜視図、図2はサンプルトレーとサンプル導入手段の関係を示す斜視図、図3はスライダとサンプルトレーがサンプル導入手段に位置決めされた状態を示す斜視図である。
【0023】
図1において、1aはチャンバであり、図6に示す従来のチャンバ1とは交換窓9の下部側面にサンプル導入手段10を出し入れするための開口部11が設けられている点が異なっている。
【0024】
20はサンプル導入手段10を含んで構成されたサンプル供給手段である。このサンプル供給手段20はチャンバ1aの側面に密着して固定されており、サンプルトレー21を所定の位置と間隔で保管するサンプルトレー保管手段22を有している。
【0025】
サンプルトレー21上には図2の拡大図に示すように、一部が切り欠かかれた円盤の円周上に等間隔に5個のサンプルホルダ41a〜41eが載置されており、このうち1個のサンプルホルダ41aはチェック用として使用される。
【0026】
21aは位置決め孔、21bはサンプルトレーを回転させるためのテーパ軸10aが挿入される貫通孔であり、図では省略するがサンプル導入手段10がチャンバ1a内に挿入された状態で、図示しない回転機構により回転されてサンプルホルダ21が順次所定の位置(アスピレータの吸引口 …図6,7参照)に送られるようになっている。21cは図3に示すチャック30の爪30aに把持される突起である。
【0027】
図1に戻り、サンプルトレー保管手段22の一端には第1支柱23が固定され、他端にはモータ24が組み込まれた第2支柱25が固定されており、これら支柱23,25の間には2本のシャフト26が平行に掛け渡されている。
【0028】
27は2本のシャフト26に貫通して保持されたスライダで、第2支柱25に組み込まれたモータ24の回転軸(図示省略)に係合されたタイミングベルト28の移動にしたがってシャフト26に沿って移動する。
【0029】
このスライダ27にはスライダの動きに対して直角方向に移動可能なチャック駆動機構29が組み込まれており、このチャック駆動機構29の下方には3本の爪30aを有するチャック30が固定されている。
【0030】
なお、モータ24の回転、チャック駆動機構29の上下動、チャック30の開閉、サンプル導入手段10の出し入れ、サンプルトレー21の回転のタイミングは図示しない制御装置により制御されている。また、3個のサンプルトレー21の中心はサンプル導入手段10が外部に引き出された状態でテーパ軸10aの中心と直線上に一致するように配置されている。
【0031】
上記の構成において、はじめにサンプルホルダ41が装着された3個のサンプルトレー21がサンプルトレー保管手段22上に載置される。次に制御手段に対して測定開始の指令がなされると、サンプル導入手段10がチャンバ1aの外部に引き出された状態となり、モータ24が回転してタイミングベルト28を駆動し、スライダ27に装着されたチャック30の中心をイの位置にあるサンプルトレー21上に移動させる。
【0032】
次にチャック駆動機構29が下方に駆動され、所定の位置まで下降した爪30aがサンプルトレー21の突起21cを掴んで元の位置まで上昇する。次に、モータ24が回転してタイミングベルト28が駆動されることによりスライダ27がサンプル導入手段10上に移動し、その位置からチャック駆動機構29が下降し、図3に示すようにサンプルトレー21の中心に形成された貫通孔21bがサンプル導入手段10のテーパ軸10aに挿入され、位置決め孔21aが位置出しピン10b(図2参照)に挿入されて回転方向の動きが規制される。
【0033】
次に爪30aが開きチャック駆動機構29が上方に移動して元の位置に戻った時点でサンプル導入手段10がチャンバ1aの内部に挿入され、サンプルトレー21に載置されたサンプルホルダ41が図示しない駆動手段により所定の位置まで搬送され、サンプルがアスピレータにより吸引される。
【0034】
サンプルトレー21上のサンプルのすべてが測定されたらサンプル挿入手段10が引き出され、前述とは逆の動作によりサンプルトレー21が元のイの位置に搬送される。次にロ,ハの位置にあるサンプルトレー21に載置されたサンプルが同様の動作により測定されて終了する。
【0035】
図4は請求項2の実施形態の一例を示すものである。図において図1と同一要素には同一符号を付して重複する説明は省略する。この実施例においてはサンプルトレー21はサンプル導入手段10に一つ配置され、モータ24a及びこのモータの回転軸に係合する駆動アーム24bにより回転可能とされている。
【0036】
また、この実施例ではサンプルホルダ41はサンプル保管手段22上に等間隔で直線上に配置されており、直線の延長上にサンプルトレーの中心が位置するようになっている。
【0037】
ここでは、スライダ27はサンプルホルダ41を一つづつ把持してサンプル導入手段10に配置されたサンプルトレー21側に搬送して所定の位置に載置し、チャック駆動手段29が元の位置に戻った時点でサンプルトレー21が所定の角度回転し、次にサンプルホルダ41を載置すべき位置となるように制御される。
【0038】
スライダ27は予めプログラミングされたシーケンスに従ってイ〜ホまでのサンプルホルダ21をサンプル導入手段10に搬送する。搬送が終了したら駆動アーム24bはサンプル導入手段10の挿入に支障のない位置に移動する。
【0039】
その後、サンプル導入手段10がチャンバ1aの内部に挿入され、サンプルホルダ41上のサンプルがアスピレータにより吸引される。
【0040】
サンプルトレー21上のサンプルのすべてが測定されたらサンプル挿入手段10が引き出され前述とは逆の動作によりサンプルホルダ41が元のイ〜ホの位置に順次搬送される。次にヘ〜ヌの位置にあるサンプルホルダ41が同様の動作により測定されて終了する。
【0041】
なお、図では省略するが、サンプル供給手段はモータ,スライダ,サンプル導入手段などの駆動に際して発塵を伴う。したがってサンプル供給手段全体若しくは一部をカバーで囲ったり、囲った部分を真空引きして発生した塵を吸引するようにしてもよい。
【0042】
本発明の以上の説明は、説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの変更、変形をなし得ることは当業者に明らかである。例えば、チャック30やサンプルトレー21は図示の形状以外にも任意に設計可能であり、スライダ27の駆動方法も図示のものに限るものではない。
【0043】
また、制御シーケンスも任意に変更可能であり、要は複数のサンプルが順次自動的に測定可能なものであればよい。特許請求の範囲の欄の記載により定義される本発明の範囲は、その範囲内の変更、変形を包含するものとする。
【0044】
【発明の効果】
以上、実施例を用いて詳しく説明したように本発明の請求項1によれば、サンプルトレーが載置され、チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、
前記サンプル導入手段の側面に沿って配置され、サンプルトレーの複数個を所定の間隔を隔てて直線上に保管するサンプルトレー保管手段と、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態における前記載置されたサンプルトレーの中心と前記サンプルトレー保管手段に保管されたサンプルトレーの中心を結んだ線の上方を移動するスライダと、
該スライダに設けられたサンプルトレー把持手段を具備し、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、測定が完了したサンプルが載置されたサンプルトレーと未測定のサンプルが載置されたサンプルトレーを交換するように前記サンプルトレー把持手段を制御するように構成したので、チャンバ内部にサンプルユニットを落としてしまう恐れもなく、複数のサンプルを制御手段を用いて自動的に交換可能な構成としたので作業性の効率化を図ることができる。
【0045】
また、請求項2においては、サンプルトレーが載置され、チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、
前記サンプル導入手段の側面に沿って配置され、サンプルホルダの複数個を所定の間隔を隔てて直線上に保管するサンプルホルダ保管手段と、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態における前記載置されたサンプルトレーの中心と前記サンプルホルダ保管手段に保管されたサンプルホルダの中心を結んだ線の上方を移動するスライダと、
該スライダに設けられたサンプルホルダ把持手段を具備し、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、測定が完了したサンプルが載置されたサンプルホルダと未測定のサンプルホルダを交換するように前記サンプルホルダ把持手段を制御するように構成したその結果、チャンバ内部にサンプルユニットを落としてしまう恐れもなく、複数のサンプルを制御手段を用いて自動的に交換可能な構成としたので作業性の効率化を図ることができる。
【0046】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のサンプル供給装置の概要を示す斜視図である。
【図2】サンプルトレーとサンプル導入手段の関係を示す斜視図である。
【図3】スライダとサンプルトレーがサンプル導入手段に位置決めされた状態を示す斜視図である。
【図4】本発明の他のサンプル供給装置の概要を示す斜視図である。
【図5】従来の技術の説明に供する図である。
【図6】従来の技術の説明に供する図である。
【図7】従来の技術の説明に供する図である。
【図8】従来の技術の説明に供する図である。
【符号の説明】
1a チャンバ
10 サンプル導入手段
10a テーパ軸
11 開口部
20 サンプル供給手段
21 サンプルトレー
22 サンプルトレー保管手段
23 第1支柱
24,24a モータ
25 第2支柱
26 シャフト
27 スライダ
28 タイミングベルト
29 チャック駆動機構
30 チャック
30a 爪
41 サンプルホルダ
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to a sample supply apparatus for supplying a sample (particle) to a plasma generation unit of an element analyzer using, for example, microwave induction plasma (hereinafter referred to as “MIP”).
[0002]
[Prior art]
First, an elemental analyzer to which the sample supply device of the present invention is applied will be briefly described. The element analyzer is composed of a disperser and an analyzer.
As a disperser, an apparatus for supplying a sample to a plasma generator (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-5554), and as an analyzer, an emission spectroscopic detector (see Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 4). No.-5555 is known).
[0003]
In other words, the disperser converts the rotation of the first motor to the horizontal rotational motion of all arms, the aspirator, the arm on which the sample holder for fixing the filter with the sample attached is mounted. A fixed shaft that rotates, and a ball screw that converts the rotation of the second motor into a linear motion in the vertical direction of the arm, and the carrier gas is in a state where the suction port of the aspirator is close to a certain distance from the filter. When supplied to the aspirator, the sample is sucked by the aspirator and supplied to the plasma generation unit using the discharge tube.
[0004]
The analyzer includes, for example, a discharge tube located on the disperser side, a cavity that causes microwaves to resonate in the cavity to generate MIP in the outer tube of the discharge tube, an optical system that extracts and collects in the axial direction of the outer tube, In addition, a signal processing unit for spectrally processing the light collected by the optical system and performing signal processing is provided to detect the element to be measured in the sample.
[0005]
FIG. 5 is a diagram for explaining an apparatus for supplying a sample to the plasma generation unit.
In the figure, 100 is a disperser which is a sample introduction device, 101 is a carrier gas introduction port for introducing a carrier gas made of Ar or He, 102 is a substitution gas introduction port for introducing a substitution gas such as Ar or He, and 103a 103 to 103e are on-off valves, 104 and 105 are gas discharge ports, 106 is a suction pump, 107 is a filter with fine particles attached to the surface, 108 is an aspirator, 109 is a discharge tube, 110 is a cavity, 111 is microwave induction Plasma.
[0006]
In such a configuration, when the center of the cavity 110 is irradiated with microwaves from a microwave generator (not shown), the carrier gas in the discharge tube 109 inserted in the center of the cavity 110 is excited. Thus, microwave induction plasma 111 is generated.
[0007]
6 (a) and 6 (b) show the main parts of a disperser used in such a sample supply device. 1 is configured to prevent leakage of air from the outside with screws, seal members, etc. 2 is an aspirator for sucking a sample on a filter (not shown) and supplying it to a discharge tube (see FIG. 6), 2 ′ is a suction port of the aspirator, 3 is a nozzle closing member, 4 Is a first arm having a nozzle closing member 3 attached to the tip. The chamber 1 constitutes a gas replacement part and the like and communicates with the aspirator 2 through a suction port 2 '.
[0008]
The nozzle closing member 3 is attached in the vicinity of the tip of the first arm 4, and the first arm 4 is attached to the column 6 together with the second arm 8. The nozzle closing member 3 blocks the communication between the suction port 2 ′ and the chamber 5 by covering the suction port 2 ′ by raising and lowering the first arm 4 based on the rotation of the column 6.
[0009]
A filter (not shown) from which a sample has been collected is mounted on a filter holder 7 provided near the tip of the second arm 8. The distance between the filter mounted on the filter holder 7 and the suction port of the aspirator 2 is controlled to be 0.1 mm or less, for example. The replacement window 9 is used when removing the filter from the filter holder 7.
[0010]
In such a configuration, the operation is as follows.
First, as shown in FIG. 7, the filter assembly (not shown) in which the first and second arms are arranged at the position of the replacement window 9 and the replacement window 9 is opened to collect the sample (particle) is attached to the filter holder 7. Put it on. Next, the column 6 is rotated, and the sample holder 7 and the nozzle closing member 3 are lowered via the first arm 4 and the second arm 8.
[0011]
Thereafter, the first arm 4 and the second arm 8 are rotated in the direction indicated by the thick arrow F in FIG. 7 to obtain the state shown in FIG. In this state, the column 6 is rotated to raise the nozzle closing member 3 and seal the suction port 2 '.
[0012]
Thereafter, the on-off valves 103b and 103d in FIG. 5 are closed and the on-off valve 103c is opened. In this state, the suction pump 106 is driven to suck the air in the chamber 5 to make the chamber vacuum.
[0013]
When the inside of the chamber 1 reaches a certain degree of vacuum, the on-off valve 103c is closed and the on-off valve 103b is opened to fill the chamber 5 with a replacement gas.
When the replacement gas is filled and the inside of the chamber 1 reaches atmospheric pressure, the on-off valve 103d is opened to release the inside of the chamber 5 to the atmosphere. At the same time, the column 6 shown in FIG. 6B is rotated to lower the nozzle closing member 3, and the first arm 4 and the second arm 8 are further rotated to the position shown in FIG.
[0014]
Thereafter, the column 6 is rotated to raise the sample holder 7. After the sample holder 7 has stopped rising at a predetermined position, the suction of the sample is started.
[0015]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in such a conventional sample supply apparatus, when exchanging the sample holder, it is necessary to remove the exchange window 9 and set the sample holder on the filter holder 7 from the upper part. There was a problem that the sample holder might be dropped.
The present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a sample supply device that improves workability and simplifies operability.
[0016]
[Means for Solving the Problems]
The configuration of the present invention for achieving such an object is as follows.
A sample introducing means on which a sample tray is placed and provided so as to be able to be taken in and out of the chamber from a predetermined position in the chamber;
A sample tray storage means arranged along a side surface of the sample introduction means , and storing a plurality of sample trays on a straight line at a predetermined interval;
A slider that moves above a line connecting the center of the sample tray placed in the state where the sample introduction means is located outside the chamber and the center of the sample tray stored in the sample tray storage means;
Comprising sample tray gripping means provided on the slider;
The sample tray holding means is controlled so that the sample tray on which the sample that has been measured is placed and the sample tray on which the unmeasured sample is placed are exchanged with the sample introduction means being located outside the chamber. It is characterized by having constituted so .
[0017]
A sample introducing means on which a sample tray is placed and provided so as to be able to be taken in and out of the chamber from a predetermined position in the chamber;
A sample holder storing means arranged along a side surface of the sample introducing means , and storing a plurality of sample holders on a straight line at a predetermined interval;
A slider that moves above a line connecting the center of the sample tray placed in the state where the sample introduction means is located outside the chamber and the center of the sample holder stored in the sample holder storage means;
A sample holder holding means provided on the slider;
The sample holder gripping means is controlled to exchange the sample holder on which the measured sample is placed and the unmeasured sample holder in a state where the sample introduction means is located outside the chamber . [0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an example of an embodiment of claim 1 of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an outline of a sample supply apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing a relationship between a sample tray and sample introduction means, and FIG. 3 shows a state in which the slider and the sample tray are positioned on the sample introduction means. It is a perspective view.
[0023]
In FIG. 1, reference numeral 1 a denotes a chamber, which is different from the conventional chamber 1 shown in FIG. 6 in that an opening 11 for inserting and removing the sample introduction means 10 is provided on the lower side surface of the exchange window 9.
[0024]
Reference numeral 20 denotes a sample supply means configured to include the sample introduction means 10. The sample supply means 20 is fixed in close contact with the side surface of the chamber 1a, and has a sample tray storage means 22 for storing the sample tray 21 at a predetermined position and interval.
[0025]
On the sample tray 21, as shown in the enlarged view of FIG. 2, five sample holders 41a to 41e are placed at equal intervals on the circumference of a disc partly cut out. The individual sample holders 41a are used for checking.
[0026]
21a is a positioning hole, and 21b is a through-hole into which a taper shaft 10a for rotating the sample tray is inserted. Although not shown in the figure, the rotation mechanism (not shown) is in a state where the sample introduction means 10 is inserted into the chamber 1a. The sample holder 21 is sequentially sent to a predetermined position (aspirator suction port: see FIGS. 6 and 7). 21c is a protrusion held by the claw 30a of the chuck 30 shown in FIG.
[0027]
Returning to FIG. 1, the first support column 23 is fixed to one end of the sample tray storage means 22, and the second support column 25 incorporating the motor 24 is fixed to the other end. The two shafts 26 are stretched in parallel.
[0028]
A slider 27 is held through the two shafts 26 and is moved along the shafts 26 according to the movement of the timing belt 28 engaged with the rotation shaft (not shown) of the motor 24 incorporated in the second support column 25. Move.
[0029]
The slider 27 incorporates a chuck drive mechanism 29 that can move in a direction perpendicular to the movement of the slider, and a chuck 30 having three claws 30 a is fixed below the chuck drive mechanism 29. .
[0030]
The rotation timing of the motor 24, the vertical movement of the chuck drive mechanism 29, the opening and closing of the chuck 30, the loading and unloading of the sample introduction means 10, and the rotation of the sample tray 21 are controlled by a control device (not shown). Further, the centers of the three sample trays 21 are arranged so as to coincide with the center of the taper shaft 10a in a state where the sample introduction means 10 is pulled out.
[0031]
In the above configuration, first, the three sample trays 21 to which the sample holders 41 are mounted are placed on the sample tray storage means 22. Next, when the control means is instructed to start measurement, the sample introduction means 10 is pulled out of the chamber 1 a, and the motor 24 rotates to drive the timing belt 28 and is attached to the slider 27. The center of the chuck 30 is moved onto the sample tray 21 at the position “a”.
[0032]
Next, the chuck drive mechanism 29 is driven downward, and the claw 30a lowered to a predetermined position grasps the protrusion 21c of the sample tray 21 and rises to the original position. Next, when the motor 24 rotates and the timing belt 28 is driven, the slider 27 moves onto the sample introduction means 10, and the chuck drive mechanism 29 descends from that position, and the sample tray 21 is moved as shown in FIG. A through hole 21b formed at the center of the sample is inserted into the tapered shaft 10a of the sample introduction means 10, and the positioning hole 21a is inserted into the positioning pin 10b (see FIG. 2) to restrict the movement in the rotational direction.
[0033]
Next, when the claw 30a is opened and the chuck driving mechanism 29 is moved upward to return to the original position, the sample introduction means 10 is inserted into the chamber 1a and the sample holder 41 placed on the sample tray 21 is shown. The sample is sucked by the aspirator by being transported to a predetermined position by the driving means that does not.
[0034]
When all the samples on the sample tray 21 have been measured, the sample insertion means 10 is pulled out, and the sample tray 21 is conveyed to the original position B by an operation reverse to the above. Next, the sample placed on the sample tray 21 at the positions of (2) and (2) is measured by the same operation, and the process ends.
[0035]
FIG. 4 shows an example of the embodiment of claim 2 . In the figure, the same elements as those in FIG. In this embodiment, one sample tray 21 is disposed in the sample introduction means 10 and is rotatable by a motor 24a and a drive arm 24b that engages with a rotation shaft of the motor.
[0036]
In this embodiment, the sample holder 41 is arranged on the sample storage means 22 on a straight line at equal intervals, and the center of the sample tray is positioned on the extension of the straight line.
[0037]
Here, the slider 27 grips the sample holders 41 one by one, conveys them to the sample tray 21 arranged in the sample introduction means 10 and places them at a predetermined position, and the chuck driving means 29 returns to the original position. At this point, the sample tray 21 is controlled to rotate at a predetermined angle, and then the sample holder 41 is positioned to be placed.
[0038]
The slider 27 conveys the sample holders 21 to i to the sample introduction means 10 in accordance with a sequence programmed in advance. When the conveyance is completed, the drive arm 24b moves to a position where there is no hindrance to the insertion of the sample introduction means 10.
[0039]
Thereafter, the sample introduction means 10 is inserted into the chamber 1a, and the sample on the sample holder 41 is sucked by the aspirator.
[0040]
When all of the samples on the sample tray 21 have been measured, the sample insertion means 10 is pulled out, and the sample holder 41 is sequentially conveyed to the original positions (i) to (e) by an operation reverse to the above. Next, the sample holder 41 in the position of H is measured by the same operation, and the process is completed.
[0041]
Although not shown in the figure, the sample supply means generates dust when driving the motor, slider, sample introduction means, and the like. Therefore, the whole or a part of the sample supply means may be enclosed by a cover, or dust generated by vacuuming the enclosed part may be sucked.
[0042]
The foregoing description of the present invention has only shown certain preferred embodiments for purposes of illustration and illustration. Accordingly, it will be apparent to those skilled in the art that the present invention can be modified and modified in many ways without departing from the essence thereof. For example, the chuck 30 and the sample tray 21 can be arbitrarily designed in addition to the illustrated shapes, and the driving method of the slider 27 is not limited to the illustrated one.
[0043]
Also, the control sequence can be arbitrarily changed. In short, any control sequence may be used as long as a plurality of samples can be automatically measured in sequence. The scope of the present invention defined by the description in the appended claims is intended to include modifications and variations within the scope.
[0044]
【The invention's effect】
As described above in detail with reference to the embodiments , according to claim 1 of the present invention, there is provided a sample introducing means on which a sample tray is placed, and is provided so as to be freely inserted into and removed from a predetermined position in the chamber. ,
A sample tray storage means arranged along a side surface of the sample introduction means , and storing a plurality of sample trays on a straight line at a predetermined interval;
A slider that moves above a line connecting the center of the sample tray placed in the state where the sample introduction means is located outside the chamber and the center of the sample tray stored in the sample tray storage means;
Comprising sample tray gripping means provided on the slider;
The sample tray holding means is controlled so that the sample tray on which the sample that has been measured is placed and the sample tray on which the unmeasured sample is placed are exchanged with the sample introduction means being located outside the chamber. and then, is, it is possible to work with efficiency because no fear of dropping the sample unit within the chamber, and automatically interchangeable configurable using the control unit a plurality of samples .
[0045]
Further, Oite to claim 2, the sample tray is placed, a sample introduction means provided freely out from a predetermined position in the chamber outside the chamber,
A sample holder storing means arranged along a side surface of the sample introducing means , and storing a plurality of sample holders on a straight line at a predetermined interval;
A slider that moves above a line connecting the center of the sample tray placed in the state where the sample introduction means is located outside the chamber and the center of the sample holder stored in the sample holder storage means;
A sample holder holding means provided on the slider;
The sample holder gripping means is controlled to exchange the sample holder on which the measured sample is placed and the unmeasured sample holder in a state where the sample introduction means is located outside the chamber . As a result, there is no fear of dropping the sample unit inside the chamber, and a plurality of samples can be automatically exchanged using the control means, so that work efficiency can be improved.
[0046]
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an outline of a sample supply device of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view showing a relationship between a sample tray and sample introduction means.
FIG. 3 is a perspective view showing a state in which a slider and a sample tray are positioned on a sample introduction unit.
FIG. 4 is a perspective view showing an outline of another sample supply device of the present invention.
FIG. 5 is a diagram for explaining a conventional technique.
FIG. 6 is a diagram for explaining a conventional technique.
FIG. 7 is a diagram for explaining a conventional technique.
FIG. 8 is a diagram for explaining a conventional technique.
[Explanation of symbols]
1a chamber 10 sample introduction means 10a taper shaft 11 opening 20 sample supply means 21 sample tray 22 sample tray storage means 23 first support 24, 24a motor 25 second support 26 shaft 27 slider 28 timing belt 29 chuck drive mechanism 30 chuck 30a Claw 41 Sample holder

Claims (2)

サンプルトレーが載置され、チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、
前記サンプル導入手段の側面に沿って配置され、サンプルトレーの複数個を所定の間隔を隔てて直線上に保管するサンプルトレー保管手段と、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態における前記載置されたサンプルトレーの中心と前記サンプルトレー保管手段に保管されたサンプルトレーの中心を結んだ線の上方を移動するスライダと、
該スライダに設けられたサンプルトレー把持手段を具備し、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、測定が完了したサンプルが載置されたサンプルトレーと未測定のサンプルが載置されたサンプルトレーを交換するように前記サンプルトレー把持手段を制御するように構成したことを特徴とするサンプル導入装置。
A sample introduction means on which a sample tray is placed, and is provided so as to be freely inserted into and removed from a predetermined position in the chamber;
A sample tray storage unit disposed along a side surface of the sample introduction unit and storing a plurality of sample trays in a straight line at a predetermined interval;
A slider that moves above the line connecting the center of the sample tray placed in the state where the sample introduction means is located outside the chamber and the center of the sample tray stored in the sample tray storage means;
A sample tray holding means provided on the slider;
Controlling the sample tray holding means so that the sample tray on which the sample that has been measured is placed and the sample tray on which the unmeasured sample is placed are exchanged in a state where the sample introduction means is located outside the chamber. A sample introduction device characterized by being configured to do so .
サンプルトレーが載置され、チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、
前記サンプル導入手段の側面に沿って配置され、サンプルホルダの複数個を所定の間隔を隔てて直線上に保管するサンプルホルダ保管手段と、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態における前記載置されたサンプルトレーの中心と前記サンプルホルダ保管手段に保管されたサンプルホルダの中心を結んだ線の上方を移動するスライダと、
該スライダに設けられたサンプルホルダ把持手段を具備し、
前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、測定が完了したサンプルが載置されたサンプルホルダと未測定のサンプルホルダを交換するように前記サンプルホルダ把持手段を制御するように構成したことを特徴とするサンプル導入装置。
A sample introduction means on which a sample tray is placed, and is provided so as to be freely inserted into and removed from a predetermined position in the chamber;
A sample holder storage means arranged along a side surface of the sample introduction means , and storing a plurality of sample holders on a straight line at a predetermined interval;
A slider that moves above a line connecting the center of the sample tray placed in the state where the sample introduction means is located outside the chamber and the center of the sample holder stored in the sample holder storage means;
A sample holder holding means provided on the slider;
The sample holder holding means is configured to be controlled so that the sample holder on which the measured sample is placed and the unmeasured sample holder are exchanged with the sample introduction means positioned outside the chamber . A sample introduction device characterized by that.
JP35612999A 1999-12-15 1999-12-15 Sample feeder Expired - Fee Related JP3753222B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35612999A JP3753222B2 (en) 1999-12-15 1999-12-15 Sample feeder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35612999A JP3753222B2 (en) 1999-12-15 1999-12-15 Sample feeder

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001174370A JP2001174370A (en) 2001-06-29
JP3753222B2 true JP3753222B2 (en) 2006-03-08

Family

ID=18447486

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35612999A Expired - Fee Related JP3753222B2 (en) 1999-12-15 1999-12-15 Sample feeder

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3753222B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012211837A (en) * 2011-03-31 2012-11-01 Jx Nippon Mining & Metals Corp Sample analyzer and sample analysis method
KR101459013B1 (en) 2013-06-17 2014-11-07 (주)재인정공 Facility for obtaining sample of object and method for operating the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001174370A (en) 2001-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5323089B2 (en) Automatic loading of sample tubes for clinical analyzers
EP0122772B1 (en) Chemical manipulator
US6203582B1 (en) Modular semiconductor workpiece processing tool
JP5155751B2 (en) Elemental analyzer
TW201643100A (en) Cap-closing apparatus, cap-closing unit and cap- closing method
JP2009253271A (en) Scanning arm for semiconductor wafer pollutant measurement apparatus and scanning unit using the same
JP6374878B2 (en) Station and method for measuring particle contamination of transport carriers that transport and store semiconductor substrates at atmospheric pressure
JP2008032457A (en) Substrate inspecting device and lamp unit used therein
JP2009250972A (en) Scanning stage of semiconductor wafer contaminant measuring device
JP3753222B2 (en) Sample feeder
JPH10114423A (en) Processing device for flat work such as card or document
JP2002011641A (en) Image pickup mechanism of cutting device
JP6321671B2 (en) Measuring station and measuring method for measuring particle contamination in transport carriers that transport and store semiconductor substrates at atmospheric pressure
CN111299085A (en) Online dip-coating curing device
US10724942B2 (en) Inspection apparatus and inspection method
CN115889335A (en) Automatic cleaning equipment
JP2003093040A (en) Device and method for biospecimen observation
JP3711097B2 (en) Specimen supply device and urine inspection device using the same
JP3247665B2 (en) Sample exchange in X-ray analyzer
JP3178201B2 (en) Particle introduction device
JP4181447B2 (en) Sample exchange device in transmission electron microscope
JPH04265861A (en) Cell supply apparatus
JP2010008111A (en) Element analyzer
US20040132399A1 (en) Production system
JP2594839B2 (en) Particle introduction device

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050425

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050602

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051207

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091222

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees