JP3703880B2 - Delay time control circuit - Google Patents

Delay time control circuit Download PDF

Info

Publication number
JP3703880B2
JP3703880B2 JP17553195A JP17553195A JP3703880B2 JP 3703880 B2 JP3703880 B2 JP 3703880B2 JP 17553195 A JP17553195 A JP 17553195A JP 17553195 A JP17553195 A JP 17553195A JP 3703880 B2 JP3703880 B2 JP 3703880B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
delay
delay time
voltage
control circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP17553195A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0918302A (en
Inventor
俊幸 岡安
隆 関野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP17553195A priority Critical patent/JP3703880B2/en
Priority to TW85112991A priority patent/TW382856B/en
Priority to PCT/US1996/017197 priority patent/WO1998019395A1/en
Priority claimed from PCT/US1996/017197 external-priority patent/WO1998019395A1/en
Publication of JPH0918302A publication Critical patent/JPH0918302A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3703880B2 publication Critical patent/JP3703880B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Pulse Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、CMOSゲートの遅延時間を一定に保つ回路において、簡単な付加回路で、なおかつ消費電力が小さく、正確な遅延時間信号を得ることができる遅延時間制御回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
CMOSゲートの遅延時間は、電源電圧の変化や、消費電力の変化により発生する素子の温度変化により変化する。一方、VLSIテストシステムにおいては、タイミング信号を発生する回路で正確なタイミング信号を発生するために、遅延時間を一定に保つ必要がある。
このため、遅延時間を安定にするために、従来の技術として次のような回路がある。
(1)CMOSゲートの遅延時間と、温度の関係を利用して、CMOSゲートの遅延時間を検出し、LSI内の発熱回路を制御する。
(2)発熱量が周波数に比例する関係を利用して、回路の動作周波数を全体として常に一定の値に保つことにより、発熱量を一定に保ち、CMOSゲートの遅延時間を一定に保つ。
(3)CMOSゲートの遅延時間と、電源電圧との関係を利用して、CMOSゲートの遅延時間を検出し、LSIの電源電圧を制御する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記(1)及び(2)の回路においては、CMOSの消費電力が一定値になるため、低消費電力にできない。また、付加回路も大規模になる。例えば、(1)においては、遅延時間検出回路及び加熱セルが追加になる。また、(2)においては、動作回路に対して相補的に動作するダミー回路が追加になる。
(3)の回路においては、電源電圧発生回路の電位降下を補うため、回路全体の電源電圧が大きくなり、消費電力が増加する。
また、(1)〜(3)いずれの方法も、一定の遅延時間を保つことは可能であるが、100ps/ゲートとか200ps/ゲートなどのゲート当たりの遅延時間をコントロールするには、別の手段が必要である。
例えば、(3)の電源電圧による遅延時間の変化は、あまり大きくないため、素子のばらつきによる遅延時間の差と、動作周波数の変化にともなう温度変化による遅延時間の差を含めて、遅延時間を一定に保つために、CMOSゲートの出力端の容量を変化させて遅延時間を変更する方法など、複数の遅延時間制御手段を併用する必要があり、回路規模が大きくなる。
本発明は、CMOSゲートの遅延時間を一定に保つ回路において、簡単な付加回路で、なおかつ消費電力が小さく、正確な遅延時間信号を得ることができる遅延時間制御回路を実現することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明の遅延時間制御回路は次のように構成している。
つまり、一定の周期のパルスを入力し遅延セルを直列に接続した遅延回路のうち前端遅延回路A11及び後端遅延回路B12を設け、遅延回路A11によって発生するパルスAによってリセットされ、遅延回路B12によって発生するパルスBによってセットされるフリップフロップで成る遅延時間/デューティー変換回路14を設け、デューティーを電圧レベル信号に変換する積分器15を設け、デューティーが一定になるよう遅延回路の遅延時間を制御する遅延時間制御部16を設け、遅延時間の設定値を調整する遅延時間設定電圧DAC17を設け、遅延時間制御部16の遅延制御電圧から、もう一方の遅延制御電圧を発生する論理しきい値電圧制御回路18を設け、遅延制御電圧で遅延時間を制御されるIC内の一般回路である論理回路13を設けている。
【0005】
また、遅延時間制御部16は、積分器15の出力V1と遅延時間設定電圧DAC17の出力V2とを比較し、遅延時間を制御する電圧を発生する回路を設けている。
論理しきい値電圧制御回路18は、電源VDD及び電源VSSの中間値を発生する基準電圧発生回路181を設け、NVcontとPVcontが対称的に電圧変動するように構成したしきい値発生回路183を設け、両電源の中間値を発生する基準電圧発生回路181の中間電圧と、NVcontとPVcontで制御されるしきい値発生回路183の中間電圧と、を入力とし、PVcontを発生するしきい値電圧制御回路182を設けている。
【0006】
遅延時間/デューティー変換回路24は、クロック信号をパルス発生器20を介して入力し、遅延セルを直列に接続した可変遅延回路A21を設け、上記可変遅延回路A21の入力信号をリセット端子に入力し、出力信号をセット端子に入力したフリップフロップで構成する。
あるいは、遅延時間/デューティー変換回路として、遅延セルを直列に接続して、出力を反転して入力に接続したリングオシレータを構成する可変遅延回路B31を設け、上記可変遅延回路B31の出力をトリガとして一定幅のパルスを発生し、出力を積分器15に入力する固定パルス発生器32を設けている。
【0007】
【作用】
上記のように構成された遅延時間制御回路においては、CMOSゲートの遅延時間を一定に保つ回路を、簡単な付加回路で、なおかつ消費電力が小さく実現できる。また、正確な遅延時間信号を指定して得ることができる遅延時間制御回路を実現する作用がある。
【0008】
【実施例】
図1に本発明の実施例のブロック図を示す。この回路は、一定の周期のパルスを入力し遅延する直列に接続された遅延回路のうち前端遅延回路A11及び後端遅延回路B12と、遅延回路A11によって発生するパルスAによってリセットされ、遅延回路B12によって発生するパルスBによってセットされるフリップフロップで成る遅延時間/デューティー変換回路14と、デューティーを電圧レベル信号に変換する積分器15と、デューティーが一定になるよう遅延回路の遅延時間を制御する遅延時間制御部16と、遅延時間の設定値を調整する遅延時間設定電圧DAC17と、遅延時間制御部16の遅延制御電圧NVcontから、もう一方の遅延制御電圧PVcontを発生する論理しきい値電圧制御回路18と、遅延制御電圧で遅延時間を制御されるIC内の一般回路である論理回路13とで構成される。
【0009】
図2(a)は、遅延回路A11、遅延回路B12及び一般回路である論理回路13に使用される回路のインバータ回路であり、その遅延時間はQ3及びQ4のゲート電圧PVcont及びNVcontによって制御される。
図2(b)は、図2(a)のインバータ回路の動作波形を示す。Q3及びQ4は、ゲート電圧によって、抵抗値が可変となり、出力端OUTの浮遊容量との関係で遅延量も可変となり、ゲート電圧による遅延制御が可能となる。
【0010】
図3は、図1に示した回路の動作を示す。遅延回路A11及び遅延回路B12は、一定の周期をもったパルス入力を伝搬する縦続接続されたゲートの列であり、図2で示したようにゲート電圧PVcont及びNVcontにより遅延時間が制御される。
まず、遅延回路の先端にある遅延回路A11のA1信号及びA2信号により、パルス信号Aが発生し、遅延回路の後端にある遅延回路B12のB1信号及びB2信号により、パルス信号Bが発生する。
パルス信号A及びパルス信号Bは、遅延時間/デューティー変換回路14内でフリップフロップ(F/F)をリセット/セット制御し、出力Qを発生する。このとき、セット信号Bは、縦続されたゲート列の遅延時間によって、タイミングが前後する。
【0011】
F/Fの出力Qは、積分器15に入力され、出力Qの“1”及び“0”の時間の比率により変化する電圧V1に変換される。
図4に示すように、積分器15の出力V1は遅延時間設定電圧DAC17の出力V2と比較し、遅延時間を制御する電圧NVcontを発生する。
【0012】
遅延時間制御部16から出力された電圧NVcontは、遅延回路及びその他の論理回路13の立ち下がり時間を制御する他、NVcontに対応する立ち上がり時間を制御する電圧PVcontを発生するため、論理しきい値電圧制御回路18に入力する。
【0013】
図5に示すように、論理しきい値電圧制御回路18内は、電源VDD及び電源VSSの中間値を発生する基準電圧発生回路181、NVcontとPVcontが対称的に電圧変動するように構成したしきい値発生回路183、両電源の中間値を発生する基準電圧発生回路181の中間電圧と、NVcontとPVcontで制御されるしきい値発生回路183の中間電圧とを入力とし、PVcontを発生するしきい値電圧制御回路182とで構成され、電圧PVcontを発生する。
【0014】
なお、以上の説明では、遅延時間制御部16でNVcontを発生し、論理しきい値電圧制御回路18でPVcontを発生しているが、逆に、遅延時間制御部16でPVcontを発生し、論理しきい値電圧制御回路18でNVcontを発生してもよい。
【0015】
図6に本発明の別の実施例を示す。この回路においては、遅延時間/デューティー変換回路24は、クロック信号をパルス発生器20を介して入力し、遅延セルを直列に接続した可変遅延回路A21を設け、上記可変遅延回路A21の入力信号をリセット端子に入力し、出力信号をセット端子に入力したフリップフロップで構成する。
クロック信号は、PVcont及びNVcontによって遅延時間を制御できる遅延セルを縦列に接続した可変遅延回路A21の入力にパルス発生器20を経由して接続される。可変遅延回路A21の入力と出力は、遅延時間/デューティー変換回路24のセットリセットフリップフロップのリセット入力及びセット入力に接続される。このフリップフロップのQ出力信号は、可変遅延回路A21をパルスが通過する時間だけ“L”の論理を保持し、クロック信号と等しい周期をもった繰り返し信号となる。すなわち、可変遅延回路A21の遅延時間に応じてデューティーサイクルが変化する信号となる。
【0016】
図7に本発明の更に別の実施例を示す。この回路においては、遅延時間/デューティー変換回路として、遅延セルを直列に接続して、出力を反転して入力に接続したリングオシレータを構成する可変遅延回路B31を設け、上記可変遅延回路B31の出力をトリガとして一定幅のパルスを発生し、出力を積分器15に入力する固定パルス発生器32を設けている。
このリングオシレータの発振周期は、可変遅延回路B31の遅延時間の2倍に相当する。この発振出力を立ち上がりないし立ち下がりで動作するパルス幅が一定の固定パルス発生器32に入力することで、パルス幅が一定で周期が変化する信号Dが得られる。すなわち、可変遅延回路B31の遅延時間に応じてデューティーサイクルが変化する信号となる。
この場合の可変遅延回路B31の出力Cと固定パルス発生器32の出力Dのタイミング関係を図8に示す。
【0017】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したように構成されているので、以下に記載されるような効果を奏する。
つまり、CMOSゲートの遅延時間を一定に保つ回路を、簡単な付加回路で、なおかつ消費電力が小さく実現できる。また、正確な遅延時間信号を指定して得ることができる遅延時間制御回路を実現する効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の回路ブロック図である。
【図2】本発明のインバータの基本回路図とタイミング図である。
【図3】本発明の回路のタイミング図である。
【図4】本発明の遅延時間制御部の一例を示す回路図である。
【図5】本発明の論理しきい値電圧制御回路の一例を示す回路図である。
【図6】本発明の別の実施例を示す回路ブロック図である。
【図7】本発明の更に別の実施例を示す回路ブロック図である。
【図8】図7で示す回路におけるタイミング図である。
【符号の説明】
11 遅延回路A
12 遅延回路B
13 論理回路
14、24 遅延時間/デューティー変換回路
15 積分器
16 遅延時間制御部
17 遅延時間設定電圧DAC
18 論理しきい値電圧制御回路
20 パルス発生器
21 可変遅延回路A
31 可変遅延回路B
32 固定パルス発生器
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to a delay time control circuit that can obtain an accurate delay time signal with a simple additional circuit and low power consumption in a circuit that keeps the delay time of a CMOS gate constant.
[0002]
[Prior art]
The delay time of the CMOS gate changes due to a change in power supply voltage or a change in element temperature caused by a change in power consumption. On the other hand, in the VLSI test system, it is necessary to keep the delay time constant in order to generate an accurate timing signal by a circuit that generates the timing signal.
For this reason, in order to stabilize the delay time, there are the following circuits as conventional techniques.
(1) Using the relationship between the delay time of the CMOS gate and the temperature, the delay time of the CMOS gate is detected and the heat generation circuit in the LSI is controlled.
(2) Utilizing the relationship in which the heat generation amount is proportional to the frequency, the operation frequency of the circuit is always maintained at a constant value as a whole, so that the heat generation amount is kept constant and the delay time of the CMOS gate is kept constant.
(3) Utilizing the relationship between the delay time of the CMOS gate and the power supply voltage, the delay time of the CMOS gate is detected and the power supply voltage of the LSI is controlled.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
In the circuits (1) and (2), the power consumption of the CMOS becomes a constant value, so that the power consumption cannot be reduced. In addition, the additional circuit becomes large. For example, in (1), a delay time detection circuit and a heating cell are added. In (2), a dummy circuit that operates complementarily to the operation circuit is added.
In the circuit (3), since the potential drop of the power supply voltage generation circuit is compensated, the power supply voltage of the entire circuit is increased and the power consumption is increased.
Any of the methods (1) to (3) can maintain a constant delay time. However, in order to control the delay time per gate such as 100 ps / gate or 200 ps / gate, another method is available. is necessary.
For example, since the change in the delay time due to the power supply voltage in (3) is not so large, the delay time including the difference in the delay time due to the variation in the elements and the difference in the delay time due to the temperature change due to the change in the operating frequency is set. In order to keep the circuit constant, it is necessary to use a plurality of delay time control means such as a method of changing the delay time by changing the capacitance of the output terminal of the CMOS gate, which increases the circuit scale.
It is an object of the present invention to realize a delay time control circuit that can obtain an accurate delay time signal with a simple additional circuit and low power consumption in a circuit that keeps the delay time of a CMOS gate constant. .
[0004]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the delay time control circuit of the present invention is configured as follows.
In other words, a front-end delay circuit A11 and a rear-end delay circuit B12 are provided in a delay circuit in which a pulse having a constant cycle is input and delay cells are connected in series, and reset by the pulse A generated by the delay circuit A11. A delay time / duty conversion circuit 14 composed of a flip-flop set by the generated pulse B is provided, an integrator 15 for converting the duty into a voltage level signal is provided, and the delay time of the delay circuit is controlled so that the duty becomes constant. A delay time control unit 16 is provided, a delay time setting voltage DAC 17 for adjusting a set value of the delay time is provided, and a logical threshold voltage control for generating another delay control voltage from the delay control voltage of the delay time control unit 16 A logic which is a general circuit in an IC provided with a circuit 18 and whose delay time is controlled by a delay control voltage The road 13 is provided.
[0005]
The delay time control unit 16 is provided with a circuit that compares the output V1 of the integrator 15 with the output V2 of the delay time setting voltage DAC 17 and generates a voltage for controlling the delay time.
The logic threshold voltage control circuit 18 includes a reference voltage generation circuit 181 that generates an intermediate value between the power supply VDD and the power supply VSS, and includes a threshold generation circuit 183 that is configured such that NVcont and PVcont vary in voltage symmetrically. A threshold voltage for generating a PVcont by inputting an intermediate voltage of a reference voltage generation circuit 181 that generates an intermediate value of both power supplies and an intermediate voltage of a threshold generation circuit 183 controlled by NVcont and PVcont. A control circuit 182 is provided.
[0006]
The delay time / duty conversion circuit 24 is provided with a variable delay circuit A21 in which a clock signal is input via the pulse generator 20, and delay cells are connected in series, and an input signal of the variable delay circuit A21 is input to a reset terminal. The flip-flop is configured by inputting an output signal to the set terminal.
Alternatively, as a delay time / duty conversion circuit, there is provided a variable delay circuit B31 constituting a ring oscillator in which delay cells are connected in series, the output is inverted and connected to the input, and the output of the variable delay circuit B31 is used as a trigger. A fixed pulse generator 32 for generating a pulse having a constant width and inputting the output to the integrator 15 is provided.
[0007]
[Action]
In the delay time control circuit configured as described above, a circuit that keeps the delay time of the CMOS gate constant can be realized with a simple additional circuit and with low power consumption. Also, there is an effect of realizing a delay time control circuit that can be obtained by specifying an accurate delay time signal.
[0008]
【Example】
FIG. 1 shows a block diagram of an embodiment of the present invention. This circuit is reset by the front-end delay circuit A11 and the rear-end delay circuit B12 among the delay circuits connected in series that receive and delay pulses of a constant period, and the pulse A generated by the delay circuit A11. The delay time / duty conversion circuit 14 composed of a flip-flop set by the pulse B generated by the above, an integrator 15 for converting the duty into a voltage level signal, and a delay for controlling the delay time of the delay circuit so that the duty becomes constant. Logic threshold voltage control circuit for generating another delay control voltage PVcont from the time control unit 16, the delay time setting voltage DAC17 for adjusting the set value of the delay time, and the delay control voltage NVcont of the delay time control unit 16 18 is a general circuit in an IC whose delay time is controlled by a delay control voltage. Constituted by the management circuit 13.
[0009]
FIG. 2A is an inverter circuit of a circuit used for the delay circuit A11, the delay circuit B12, and the logic circuit 13 which is a general circuit, and the delay time is controlled by the gate voltages PVcont and NVcont of Q3 and Q4. .
FIG. 2B shows operation waveforms of the inverter circuit of FIG. The resistance values of Q3 and Q4 are variable depending on the gate voltage, and the delay amount is variable depending on the stray capacitance of the output terminal OUT, so that the delay control by the gate voltage is possible.
[0010]
FIG. 3 shows the operation of the circuit shown in FIG. The delay circuit A11 and the delay circuit B12 are cascaded gates that propagate pulse inputs having a fixed period, and the delay time is controlled by the gate voltages PVcont and NVcont as shown in FIG.
First, a pulse signal A is generated by the A1 signal and A2 signal of the delay circuit A11 at the front end of the delay circuit, and a pulse signal B is generated by the B1 signal and B2 signal of the delay circuit B12 at the rear end of the delay circuit. .
The pulse signal A and the pulse signal B reset / set the flip-flop (F / F) in the delay time / duty conversion circuit 14 to generate an output Q. At this time, the timing of the set signal B varies depending on the delay time of the cascaded gate row.
[0011]
The output Q of the F / F is input to the integrator 15 and converted into a voltage V1 that changes depending on the time ratio of “1” and “0” of the output Q.
As shown in FIG. 4, the output V1 of the integrator 15 is compared with the output V2 of the delay time setting voltage DAC17 to generate a voltage NVcont that controls the delay time.
[0012]
The voltage NVcont output from the delay time control unit 16 controls the fall time of the delay circuit and other logic circuits 13, and generates a voltage PVcont that controls the rise time corresponding to NVcont. Input to the voltage control circuit 18.
[0013]
As shown in FIG. 5, the logic threshold voltage control circuit 18 is configured such that the reference voltage generation circuit 181 that generates an intermediate value between the power supply VDD and the power supply VSS, and the NVcont and PVcont have voltage fluctuations symmetrically. The threshold value generation circuit 183 receives the intermediate voltage of the reference voltage generation circuit 181 that generates an intermediate value of both power supplies and the intermediate voltage of the threshold value generation circuit 183 controlled by NVcont and PVcont, and generates PVcont. The threshold voltage control circuit 182 generates a voltage PVcont.
[0014]
In the above description, the delay time control unit 16 generates NVcont and the logic threshold voltage control circuit 18 generates PVcont. Conversely, the delay time control unit 16 generates PVcont, The threshold voltage control circuit 18 may generate NVcont.
[0015]
FIG. 6 shows another embodiment of the present invention. In this circuit, the delay time / duty conversion circuit 24 is provided with a variable delay circuit A21 in which a clock signal is input via a pulse generator 20, delay cells are connected in series, and an input signal of the variable delay circuit A21 is received. It consists of a flip-flop that is input to the reset terminal and the output signal is input to the set terminal.
The clock signal is connected via a pulse generator 20 to the input of a variable delay circuit A21 in which delay cells whose delay time can be controlled by PVcont and NVcont are connected in cascade. The input and output of the variable delay circuit A21 are connected to the reset input and set input of the set reset flip-flop of the delay time / duty conversion circuit 24. The Q output signal of this flip-flop is a repetitive signal having the logic of “L” for the time during which the pulse passes through the variable delay circuit A21 and having a period equal to that of the clock signal. That is, the signal changes in duty cycle according to the delay time of the variable delay circuit A21.
[0016]
FIG. 7 shows still another embodiment of the present invention. In this circuit, as a delay time / duty conversion circuit, there is provided a variable delay circuit B31 constituting a ring oscillator in which delay cells are connected in series, an output is inverted and connected to an input, and an output of the variable delay circuit B31 is provided. Is used as a trigger to generate a fixed-width pulse, and a fixed pulse generator 32 for inputting the output to the integrator 15 is provided.
The oscillation period of this ring oscillator corresponds to twice the delay time of the variable delay circuit B31. By inputting this oscillation output to the fixed pulse generator 32 having a constant pulse width that operates at the rising edge or the falling edge, a signal D whose pulse width is constant and whose period changes is obtained. That is, the signal changes in duty cycle according to the delay time of the variable delay circuit B31.
FIG. 8 shows the timing relationship between the output C of the variable delay circuit B31 and the output D of the fixed pulse generator 32 in this case.
[0017]
【The invention's effect】
Since the present invention is configured as described above, the following effects can be obtained.
That is, a circuit that keeps the delay time of the CMOS gate constant can be realized with a simple additional circuit and with low power consumption. Further, there is an effect of realizing a delay time control circuit that can be obtained by designating an accurate delay time signal.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit block diagram of the present invention.
FIG. 2 is a basic circuit diagram and timing diagram of an inverter according to the present invention.
FIG. 3 is a timing diagram of the circuit of the present invention.
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a delay time control unit of the present invention.
FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of a logical threshold voltage control circuit of the present invention.
FIG. 6 is a circuit block diagram showing another embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a circuit block diagram showing still another embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a timing chart in the circuit shown in FIG.
[Explanation of symbols]
11 Delay circuit A
12 Delay circuit B
13 logic circuits 14 and 24 delay time / duty conversion circuit 15 integrator 16 delay time control unit 17 delay time setting voltage DAC
18 logic threshold voltage control circuit 20 pulse generator 21 variable delay circuit A
31 Variable delay circuit B
32 Fixed pulse generator

Claims (4)

一定の周期のパルスを入力し遅延セルを直列に接続した遅延回路のうち前端遅延回路A(11)及び後端遅延回路B(12)を設け、
遅延回路A(11)によって発生するパルスAによってリセットされ、遅延回路B(12)によって発生するパルスBによってセットされるフリップフロップで成る遅延時間/デューティー変換回路(14)を設け、
デューティーを電圧レベル信号に変換する積分器(15)を設け、
デューティーが一定になるよう遅延回路の遅延時間を制御する遅延時間制御部(16)を設け、
遅延時間の設定値を調整する遅延時間設定電圧DAC(17)を設け、
遅延時間制御部(16)の遅延制御電圧から、もう一方の遅延制御電圧を発生する論理しきい値電圧制御回路(18)を設け、
遅延制御電圧で遅延時間を制御されるIC内の一般回路である論理回路(13)を設けた、
ことを特徴とする遅延時間制御回路。
A delay circuit A (11) and a rear-end delay circuit B (12) are provided among delay circuits in which pulses having a constant period are inputted and delay cells are connected in series,
A delay time / duty conversion circuit (14) comprising a flip-flop reset by a pulse A generated by a delay circuit A (11) and set by a pulse B generated by a delay circuit B (12);
An integrator (15) for converting the duty into a voltage level signal;
A delay time control unit (16) for controlling the delay time of the delay circuit so that the duty is constant is provided,
A delay time setting voltage DAC (17) for adjusting a set value of the delay time is provided;
A logic threshold voltage control circuit (18) for generating another delay control voltage from the delay control voltage of the delay time control unit (16);
A logic circuit (13), which is a general circuit in an IC whose delay time is controlled by a delay control voltage, is provided.
A delay time control circuit.
遅延時間制御部(16)は、積分器(15)の出力V1と遅延時間設定電圧DAC(17)の出力V2とを比較し、遅延時間を制御する電圧を発生する回路を設けたことを特徴とする請求項1記載の遅延時間制御回路。  The delay time control unit (16) includes a circuit that compares the output V1 of the integrator (15) with the output V2 of the delay time setting voltage DAC (17) and generates a voltage for controlling the delay time. The delay time control circuit according to claim 1. 論理しきい値電圧制御回路(18)は、電源VDD及び電源VSSの中間値を発生する基準電圧発生回路(181)を設け、
NVcontとPVcontが対称的に電圧変動するように構成したしきい値発生回路(183)を設け、
両電源の中間値を発生する基準電圧発生回路(181)の中間電圧と、NVcontとPVcontで制御されるしきい値発生回路(183)の中間電圧と、を入力とし、PVcontを発生するしきい値電圧制御回路(182)を設けたことを特徴とする請求項1または請求項2記載の遅延時間制御回路。
The logic threshold voltage control circuit (18) includes a reference voltage generation circuit (181) that generates an intermediate value between the power supply VDD and the power supply VSS.
Provided is a threshold value generation circuit (183) configured such that NVcont and PVcont have voltage fluctuations symmetrically;
Threshold for generating PVcont by using as input the intermediate voltage of the reference voltage generating circuit (181) that generates an intermediate value of both power supplies and the intermediate voltage of the threshold generating circuit (183) controlled by NVcont and PVcont. 3. The delay time control circuit according to claim 1, further comprising a value voltage control circuit (182).
遅延時間/デューティー変換回路(24)は、クロック信号をパルス発生器(20)を介して入力し、遅延セルを直列に接続した可変遅延回路A(21)を設け、
上記可変遅延回路A(21)の入力信号をリセット端子に入力し、出力信号をセット端子に入力したフリップフロップで構成することを特徴とする請求項1、請求項2及び請求項3の少なくとも1つに記載の遅延時間制御回路。
The delay time / duty conversion circuit (24) is provided with a variable delay circuit A (21) in which a clock signal is input via a pulse generator (20) and delay cells are connected in series.
4. A flip-flop comprising an input signal of the variable delay circuit A (21) input to a reset terminal and an output signal input to a set terminal, and comprising at least one of claim 1, 2, and 3 The delay time control circuit described in 1.
JP17553195A 1995-04-28 1995-06-19 Delay time control circuit Expired - Fee Related JP3703880B2 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17553195A JP3703880B2 (en) 1995-04-28 1995-06-19 Delay time control circuit
TW85112991A TW382856B (en) 1995-06-19 1996-10-23 Delay time controlling circuit
PCT/US1996/017197 WO1998019395A1 (en) 1995-06-19 1996-10-28 Delay time control circuit

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12984295 1995-04-28
JP7-129842 1995-04-28
JP17553195A JP3703880B2 (en) 1995-04-28 1995-06-19 Delay time control circuit
PCT/US1996/017197 WO1998019395A1 (en) 1995-06-19 1996-10-28 Delay time control circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0918302A JPH0918302A (en) 1997-01-17
JP3703880B2 true JP3703880B2 (en) 2005-10-05

Family

ID=27316009

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17553195A Expired - Fee Related JP3703880B2 (en) 1995-04-28 1995-06-19 Delay time control circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3703880B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2373654B (en) * 2001-03-21 2005-02-09 Fujitsu Ltd Reducing jitter in mixed-signal integrated circuit devices
JP4730611B2 (en) * 2006-06-27 2011-07-20 横河電機株式会社 Delay time measuring method and delay time measuring apparatus using the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0918302A (en) 1997-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100218975B1 (en) Accuracy rc oscillator
EP1196993B1 (en) Oscillator circuit
JP3566051B2 (en) Clock signal generation circuit outputting a plurality of clock signals having different phases and clock phase control circuit using the same
US7230499B2 (en) Ring oscillator with constant 50% duty cycle and ground-noise insensitive
WO2002031980A2 (en) Cyclic phase signal generation from a single clock source using current phase interpolation
CN101499787A (en) Oscillator circuit having frequency jitter characteristic
KR100333576B1 (en) Power-on circuit and resetting method
JPH0519914A (en) Inside voltage drop circuit for semiconductor device
US9362922B2 (en) Oscillator circuit and method for generating an oscillator signal
KR100201711B1 (en) Delay time controlcircuit
US6917249B1 (en) RC oscillator
US6654900B1 (en) Method and apparatus for producing multiple clock signals having controlled duty cycles by controlling clock multiplier delay elements
JPH1070442A (en) Biphase non-overlap signal generating circuit
JP3703880B2 (en) Delay time control circuit
JP2004343395A (en) Pulse width modulation circuit
US6462598B1 (en) Delay time control circuit
KR100199215B1 (en) Delay time control circuit
US6008686A (en) Power consumption control circuit for CMOS circuit
JP3107164B2 (en) Pulse width modulation circuit
JPH07249965A (en) Clock oscillation circuit and gate circuit to be used for the oscillation circuit
JPH04227315A (en) Asynchronous delay circuit and delaying method of input signal
KR950014254B1 (en) Oscillation circuit of semiconductor memory device
JP3626244B2 (en) Logic signal selection circuit
JPH0837453A (en) Programmable delay circuit
US6680633B2 (en) Small-sized analog generator producing clock signals

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050208

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050408

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20050408

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050517

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050531

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20050629

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050719

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050721

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080729

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100729

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees