JP3663180B2 - キースキャン装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、電子機器に一般に搭載されているキーをスキャニングするために必要な信号の入出力インタフェースを実現するためのキースキャン装置に関し、特に、ASIC(application specific integrated circuit)など集積回路の入出力信号を最小限にすることが可能になるキースキャン装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
キーが複数個配置されている入力装置は、電子装置にしばしば搭載されている。入力装置に配置されているそれらキーをユーザが押すことによって電子装置に特定の命令を入力する。
【0003】
入力装置に複数のキーが存在する場合は、ユーザによって押されたキーを確定するためにキースキャンを実行するキースキャン装置は必須である。
通常、キーはキーの数量に合わせてマトリクス状に配置されていて、キーはm×nのマトリクスに対応する数だけ必要である。すなわち、ASICなど集積回路において多数の入出力インタフェースの確保が必要となる。
【0004】
また、LSIの内部にスキャン回路によりどのキーが押下されているかがスキャンされ、LSI内部の処理部がスキャン回路からの割り込み信号によりどのキーが押下されたか否かを検出する等の処理が実行されている。
【0005】
さらに、ASICなど集積回路は装置の小型化に伴い、チップの微細化、パッケージの小型化の方向に進んでいる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来のキースキャン装置では、キースキャン回路とキーをスキャンし押下されているキーを確定するためのインタフェース、すなわちASICなど集積回路との入出力インタフェースが多数必要である。
【0007】
また、キーが配置している回路部分からLSIに入力される信号線の数が多いため、キースキャン装置を小型化することが難しい。
【0008】
さらに、LSI内部のスキャン回路等の回路が大きく、LSIを小型化することも難しい。
【0009】
また、キースキャン装置が搭載される装置の大きさの増大を抑制するためには部品を縮小しなければならず、小型部品の採用は製造コストの増大につながる。
【0010】
そこで本発明は、これら上述した従来における問題に鑑み、装置の大きさを小さくすることができ、さらにLSIとキースキャン回路の信号線数を減らすことが可能なキースキャン装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明のキースキャン装置は、
第1の端子、第2の端子、及び第3の端子を有して、当該各端子が接続している接続状態、および当該各端子が非接続である非接続状態のいずれかの状態にすることが可能なキーが行列状に配置されているキー群と、
一端を前記キー群中のある行に配置される複数のキーの各第1の端子に接続し他端を接地している抵抗が各行ごとに配置されている第1の抵抗群と、
一端を前記キー群中のある列に配置される複数のキーの各第2の端子に接続している抵抗が各列ごとに配置されている第2の抵抗群と、
前記第2の抵抗群に含まれる複数の抵抗の他端に接続し、複数の該他端を定電圧に保つ定電圧手段と、
各前記第3の端子に接続し、前記キー群のうちのいずれかのキーの前記各端子が接続状態であるか否かに応じて、前記第1の抵抗群及び前記第2の抵抗群にもとづく電圧値を検出する検出手段と、
を具備したものである。
【0013】
以上のような構成によれば、キースキャンを実行するインタフェースを最小の1ラインで行うことが可能になる。
また、インタフェースの減少は装置の小型化や軽量化を実現し微細化、パッケージの小型化の進むLSIにも大きく貢献できる。
さらに、抵抗にもとづく電圧値は、抵抗の配置によりキー個別に割り当てることが可能になる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係るキースキャン装置を説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るキースキャン装置の機能ブロック図である。
本実施形態のキースキャン装置は、行列状に配置されているキー(i,j)(1≦i≦m、1≦j≦n;m,nは自然数。n=1,2,3,・・・)と、列方向に配置されている抵抗2と、行方向に配置されている抵抗3と、接地されている抵抗4と、LSI5内のA/Dコンバータ(アナログ−デジタルコンバータ)6と、電源VDDを具備している。ここで、行方向とは図1において左右の方向を示し、列方向とは図1において上下の方向を示す。
【0015】
各キー(i,j)は、端子を3つ有しており、キー(i,j)が押下されると、そのキー(i,j)のすべての端子が導通状態になる。逆に、キー(i,j)を放すと、そのキー(i,j)のすべての端子が非導通状態になる。本実施形態では、キー(i,j)は行列状に規則正しく配置されており、方形状にm×n個のキー(i,j)が配置されている。
【0016】
列方向に配置されている抵抗2はその一端を、その抵抗2の行方向に配列しているすべてのキー(i,j)の、図1ではキー(i,j)の真ん中に示されている第2端子8に接続している。
【0017】
たとえば、Rci(1≦i≦m)は、その直ぐ右に配置しているキー(i,1)の第2端子8に接続して、さらにキー(i,1)の第2端子8はそのすぐ右に配置しているキー(i,2)の第2端子8に接続している。すなわち、Rciと(i,1)から(i,n)までのn個のキーの第2端子8とが接続している。
【0018】
そして、列方向に配置されている抵抗2の他端は接地されている。上述の例では、Rciのキー(i,1)に接続している端子とは別のもう1つの端子が接地されている。
【0019】
行方向に配置されている抵抗3はその一端を、その抵抗3の列方向に配列しているすべてのキー(i,j)の、抵抗2の場合とは異なりキー(i,j)の右に示されている第3端子9に接続している。
【0020】
たとえば、Rrj(1≦j≦n)は、その直ぐ下に配置しているキー(1,j)の第3端子9に接続して、さらにキー(1,j)の第3端子9はその直ぐ下に配置しているキー(2,j)の第3端子9に接続している。すなわち、Rrjと(1,j)から(m,j)までのm個のキーの第3端子9とが接続している。
【0021】
そして、行方向に配置している抵抗3の他端は電源VDDに接続している。電源VDDは、定電圧源である。上述の例では、キー(1,j)に接続している端子とは別のもう1つの端子が電源VDDに接続している。
【0022】
キー(i、j)の第1端子7は、A/Dコンバータ6および抵抗4に接続している。抵抗4は、第1端子7に溜る可能性のある電荷を放電するためのものである。
【0023】
抵抗4は、図1に示されている列方向および行方向にそれぞれ配置されている抵抗RciおよびRrj(1≦i≦m、1≦j≦n)に比較して十分に大きな値を有するように設定されている。換言すれば、抵抗RciおよびRrj(1≦i≦m、1≦j≦n)にとって、抵抗4は外界と各キーの第1端子7との間を絶縁しているような効果を奏する。
【0024】
A/Dコンバータ6は、すべてのキー(i、j)の第1端子7を接続している信号線における電圧値を検出する。この電圧値にもとづいて、LSI5(large scale integrated circuit)は、どのキーが押下されたかを検出することが可能になる。
すなわち、キー(i,j)(1≦i≦m、1≦j≦n)が押下されると、抵抗Rciおよび抵抗Rrjによって一意に定まる電圧値がA/Dコンバータ6に入力される。図1では、A/Dコンバータは1つしか設置されていないが、2つ以上のA/Dコンバータが設置されて、所定のキー(i,j)の第1端子7と接続されていてもよい。たとえば、図1の上半分のキーは第1のA/Dコンバータに接続され、下半分のキーは第2のA/Dコンバータに接続されるように設定されていてもよい。
【0025】
この場合は、それぞれのA/Dコンバータに接続されている回路内において、抵抗値を設定すればよいので、A/Dコンバータが識別する必要のある電圧値の数が減少する。したがって、より正確な電圧値の検出が実現できる可能性が大きくなる。
【0026】
また、微細に抵抗値を設定する必要もこの場合はほぼ半減させることが可能になる。さらに、上部と下部で同一の回路構成にすることが可能になるので、列方向に配置されている抵抗も同じ抵抗値を有する抵抗を使用することができる。したがって、異なる抵抗値を有する多くの抵抗を用意する必要もなくなる。
【0027】
また、電圧値を測定するA/Dコンバータ6の代わりに、電流値を測定する検出器が配置されてもよい。A/Dコンバータ6は、キーが押下された場合に変化する電気的特性、すなわち電圧値や電流値等の変化を検出することができる機器であれば、どんなものでもよい。
【0028】
図2は、図1の左上の4つのキーを含む部分を拡大した拡大図である。図3は、図1に示される各キーが単独で押下された場合に、A/Dコンバータが検出する電圧値を示した図である。図3では、簡単のため電源VDDの電圧値を1としている。VDDの電圧値がVである場合は、電圧値が記載されている各項目の値にVをかければよい。
実際にキーが押下された場合の動作を以下に詳細に説明する。
キー(i,j)(1≦i≦m、1≦j≦n)が押下されると、キー(i,j)の第1端子7の電圧値は、RciとRrjとの間の電圧値に等しくなる。キー(i,j)が押下されると、Rciは一端が接地されて他端が第1端子7およびRrjの一端に接続する。さらに、Rrjの他端は電源VDDに接続している。
【0029】
したがって、キー(i,j)の第1端子7の電圧値は、Rci/(Rci+Rrj)のV倍になる。キー(i,j)のみが押下されている場合は、この電圧値がA/Dコンバータ6で検出される。
たとえば、キー(1,1)が押下されれば、キー(1,1)の第1端子7の電圧値はRc1/(Rc1+Rr1)になる。また、キー(1,2)が押下されれば、キー(1,2)の第1端子7の電圧値はRc1/(Rc1+Rr2)になる。
【0030】
図3に示したRciおよびRrj(1≦i≦m、1≦j≦n)からなるRci/(Rci+Rrj)がすべて異なる値になるように、すべてのRciおよびRrjを調整する。その結果、押下されたキーが異なれば、A/Dコンバータ6で検出される電圧値も異なるようになる。したがって、この場合は、A/Dコンバータ6で検出される電圧値を図3に示される表に当てはめれば、どのキーが押下されたかLSI5が判定することが可能になる。
【0031】
さらに発展して、キーのうちいくつかが同時に押下される場合もキーの押下を有効にする必要がある場合は、それらのキーが押下された場合にA/Dコンバータ6で検出される電圧値も図3に示されたRci/(Rci+Rrj)(1≦i≦m、1≦j≦n)とは異なる値になるように、抵抗値RciおよびRrj(1≦i≦m、1≦j≦n)を調整する。
【0032】
その結果、押下されると想定されているキーが押下された場合、どのキーが押下されたかを確実に判定することが可能になる。
【0033】
また、さらに発展させて押下される可能性があるすべての場合が考慮されて、抵抗値が設定されていてもよい。この場合は、ユーザが間違えて意味の無いキー操作をした場合には、警告音または警告表示等をCPUを通じてスピーカや画面等に出力するように設定することも可能である。
【0034】
以上の実施形態に係るキースキャン装置により、キースキャンを実行するインタフェースを最小の1ラインで行うことが可能になる。
また、インタフェースの大きさを減少することができるため、装置の小型化や軽量化に伴い微細化、パッケージの小型化の進むLSIにも大きく貢献することができる。
(比較例)
図4は、図1に示される実施形態に係るキースキャン装置と比較するためのキースキャン装置の機能ブロック図である。図4には、キーが2端子を有している場合である。
【0035】
図4に示されているキースキャン装置は、キー[i,j](1≦i≦m、1≦j≦2)と、列方向に配置されている抵抗12と、行方向に配置されている抵抗13と、LSI5内に設置されているA/Dコンバータ6−k(1≦k≦m)と、電源VDDを具備している。
【0036】
各キー[i,j]は、端子を2つ有していること以外は、図1および図2に示される本発明の実施形態に係るキースキャン装置のキーと同様である。また、列方向に配置されている抵抗12も、上記の実施形態に係るキースキャン装置の抵抗2と同様に配置されている。
【0037】
列方向に配置されている抵抗12は、各キー[i,j]の第1端子14に接続している。第1端子14は、図4ではキー[i,j]の左方に示されているものである。
【0038】
行方向に配置されている抵抗13は、各キーの第2端子15に接続している。第2端子15は、図4では、キー[i,j]の右方に示されているものである。上記の実施形態に比較して図4の例では、キーの端子が2つしかないため、配置する抵抗の数が増えてしまう。
【0039】
すなわち、図4の例では、たとえば同じキー数2n個における抵抗の数で比較すると、行方向の抵抗の数がn倍になってしまう。さらに、その増加した抵抗の数にしたがって、キーと接続する信号線の長さも増大する可能性もある。
【0040】
また、A/Dコンバータ6−k(1≦k≦m)も、列方向に配列されている抵抗12ごとに接続される必要がある。これもキー[i,j]の端子が2つしかないため、列方向に配置されている抵抗12の接続同士を連結してしまうと、すべての列方向に配置されている抵抗12が電圧値に影響してしまい、A/Dコンバータが電圧値を検出することができない可能性が大きくなってしまう。これでは、押下されたキーによる電圧値を検出することが不可能になるので、A/Dコンバータは、列方向に配列されている抵抗12の数だけ配置する必要がある。
A/Dコンバータは、LSIに占める面積が大きいため、このようにA/Dコンバータを抵抗12の数だけ配置すると、チップ面積の増大につながる。チップ面積の増大はコストアップにつながる。
【0041】
一方、図1から図3に示されている本発明の実施形態に係るキースキャン装置は、A/Dコンバータを1つで済ませることが可能である。また、キーは行列状に配置することが可能になるので、必要となる抵抗も最小限の数で済ませることが可能になる。したがって、実装面積は小さくなり、製造コストもおさえることが可能になる。
【0042】
本発明は、特定のキーが押下される等によって電気的に信号をLSI等に送出して指令をCPU等に伝達するための装置であれば、適用される装置は限定されない。たとえば、キーボード、電話機の入力装置、リモートコントローラ等に使用されることが可能である。
特に、キー部分の回路とLSIとの間の伝送路が制限されているような装置に対して、有効である。
【0043】
本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その技術的範囲において種々変形して実施することができる。
【0044】
【発明の効果】
本発明のキースキャン装置によれば、装置の大きさを小さくすることができ、さらにLSIとの信号線数を減らすことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るキースキャン装置の機能ブロック図。
【図2】図1の左上の4つのキーを含む部分を拡大した拡大図。
【図3】図1に示される各キーが単独で押下された場合に、A/Dコンバータが検出する電圧値を示した図。
【図4】図1に示される実施形態に係るキースキャン装置と比較するためのキースキャン装置の機能ブロック図。
【符号の説明】
2 抵抗
3 抵抗
4 抵抗
5 LSI
6 コンバータ
7 第1端子
8 第2端子
9 第3端子
12 抵抗
13 抵抗
14 第1端子
15 第2端子
Claims (3)
- 第1の端子、第2の端子、及び第3の端子を有して、当該各端子が接続している接続状態、および当該各端子が非接続である非接続状態のいずれかの状態にすることが可能な
一端を前記第1の端子に接続し他端を接地している抵抗第1の抵抗群と、
一端を前記第2の端子に接続している抵抗第2の抵抗群と、
前記第2の抵抗群に含まれる複数の抵抗の他端に接続し、複数の該他端を定電圧に保つ定電圧手段と、
前記第3の端子に接続し、前記キーのうちのいずれかのキーの前記各端子が接続状態であるか否かに応じて、前記第1の抵抗群及び前記第2の抵抗群にもとづく電圧値を検出する検出手段と、
を具備することを特徴とするキースキャン装置。 - 前記キーのうち接続状態になっているキーと、この場合の前記検出手段が検出する電圧値とが対応するように前記第1の抵抗群及び前記第2の抵抗群に含まれる各抵抗の抵抗値が設定されていることを特徴とする請求項1に記載のキースキャン装置。
- 前記検出手段は、1つの信号線で前記複数のキーに接続していることを特徴とする請求項1に記載のキースキャン装置。
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