JP3586385B2 - Base gas correction method in gas analysis and gas analyzer using the same - Google Patents

Base gas correction method in gas analysis and gas analyzer using the same Download PDF

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Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ガス分析におけるベースガス補正方法とこれを用いたガス分析装置に関する。
【０００２】
【発明の背景】
従来より、ガソリン車やディーゼル車に代わるものとして電気自動車がその実用化に向けて研究が行われており、この電気自動車のエネルギー供給方式の一つとして燃料電池を用いることが検討されている。図４は、一般的な燃料電池システムの構成を概略的に示すもので、この図において、４１はメタノール供給源で、これからのメタノール（ＣＨ3 ＯＨ）が改質器４２に供給され、ここで、適宜の触媒の下に改質されて、水素ガス（Ｈ2 ）が発生する。このとき水素ガス以外にＣＯ（一酸化炭素）やＣＯ2 （二酸化炭素）あるいはＨＣ（炭化水素）などの不純物が発生するため、これらの不純物を不純物除去部４３において除去処理した後、水素ガスのみが燃料電池４４に供給される。
【０００３】
この場合、発生する水素ガスの濃度は数％〜数１０％というように％オーダーであるが、不純物としてのＣＯ、ＨＣの濃度はｐｐｍオーダーであり、また、ＣＯ2 の濃度は体積％オーダーというように、きわめて微量であるが、燃料電池４４を良好に稼働させる上においては、前記不純物の濃度を正確に把握し、水素ガスに含まれる不純物を可及的に少なくすることが必要である。
【０００４】
そこで、上記燃料電池システムにおいては、図４に示すように、改質器４２直後のガス流路４５にサンプルガス流路４６を接続し、このサンプルガス流路４６に非分散型赤外線ガス分析計（ＮＤＩＲ）や、磁気式酸素計、水素炎イオン化検出法分析計（ＦＩＤ）など各種のガス分析計４７を設けて、その出力から改質器４２において発生した水素ガスに含まれるＣＯ、ＣＯ2 、ＨＣなどの不純物の濃度を監視したり、不純物除去部４３直後のガス流路４８にサンプルガス流路４９を接続し、このサンプルガス流路４９に前記ガス分析計４７と同様のガス分析計５０を設け、ガス分析計４７，５０の出力の差をとることにより、不純物除去部４３において前記不純物がどの程度除去されたかを把握できるようにし、これらに基づいて改質器４２や不純物除去部４３を制御し、燃料電池４４に品質の高い水素ガスが供給されるようにしている。
【０００５】
しかしながら、上記ＣＯやＣＯ2 などのガス濃度の測定においては、測定対象ではない水素ガスが測定対象ガスであるＣＯやＣＯ2 に比べてはるかに大量であり、この水素ガスが所謂ベースガスとなって、これがＣＯやＣＯ2 の濃度測定におけるスパン感度に少なからぬ影響を与えている。
【０００６】
図３は、サンプルガス中の水素ガス濃度のスパン感度に与える影響を示すもので、この図において、符号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、それぞれ、ＣＯ計、ＣＯ2 計、ＴＨＣ計（全炭化水素濃度を測定するガス分析計）、Ｏ2 計（酸素濃度を測定するガス分析計）におけるスパン感度の変化を示す曲線である。この図から、例えばＣＯ計においては、サンプルガス中の水素ガス濃度が大きくなるに伴ってスパン感度が単調的に低下していることが分かる。そして、ＣＯ2 計やＯ2 計においては、前記水素ガス濃度が大きくなるに伴ってスパン感度が単調的に増加している。さらに、ＴＨＣ計においては、水素ガス濃度が大きくなるとスパン感度は一旦低下し、ある濃度以上になるとスパン感度は増加している。
【０００７】
【従来の技術およびその問題点】
従来においては、前記ベースガスとしての水素ガスの影響を連続補正の手法により行うようにしていたが、直線に近似できないような複雑な補正曲線を１または複数用いる必要があり、非常に補正が煩雑であるにもかかわらず精度が必ずしも十分ではなく、また、各ガス分析計の応答速度の相違から補正に時間がかかったり、誤差が大きくなってしまうといったことがあった。
【０００８】
この発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、ベースガス補正を簡易に行うことができるガス分析におけるベースガス補正方法とこれを用いたガス分析装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明のガス分析におけるベースガス補正方法は、サンプルガスに含まれる複数の測定対象ガスの濃度をそれぞれの測定対象ガス分析計によって分析する場合、サンプルガスに含まれ、サンプルガスのスパン感度に影響を与えるベースガスの濃度範囲を測定対象ガスごとにグループ区分し、前記ベースガスの濃度に基づいて測定対象ガスごとに各グループにおける一つの補正係数を選択し、前記各測定対象ガス分析計の出力を測定対象ガスごとに定点補正するようにしている（請求項１）。
【００１０】
そして、この発明では、サンプルガスに含まれる複数の測定対象ガスの濃度をそれぞれ分析する測定対象ガス分析計とこれら測定対象ガス分析計からの出力を処理する演算処理部とを備えたガス分析装置において、前記演算処理部において、前記サンプルガスに含まれ、サンプルガスのスパン感度に影響を与えるベースガスの濃度範囲を測定対象ガスごとにグループ区分して前記演算処理部内に記憶した各グループにおける一つの補正係数を、前記ベースガスの濃度に基づいて測定対象ガスごとに選択し、前記各測定対象ガス分析計からの出力を測定対象ガスごとに定点補正するようにしている（請求項３）。
【００１１】
なお、サンプルガスに含まれるベースガスの濃度を検出するためのガス分析計を設けてもよく（請求項２および４）、また、前記ベースガスの濃度の時間的変化が予め分かっている場合には、前記ガス分析計を設ける必要はない。
【００１２】
この発明においては、サンプルガスに含まれる複数の測定対象ガスの濃度をそれぞれの 測定対象ガス分析計によって分析する場合、サンプルガスに含まれ、サンプルガスのスパン感度に影響を与えるベースガスの濃度範囲を測定対象ガスごとにグループ区分し、前記ベースガスの濃度に基づいて測定対象ガスごとに各グループにおける一つの補正係数を選択し、前記各測定対象ガス分析計の出力を測定対象ガスごとに定点補正するようにしているので、前記出力を簡便かつ迅速に補正することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
図１は、この発明のガス分析装置の構成を概略的に示すもので、この図１において、１は水素ガスを主として含むサンプルガスＳが流れるサンプルガス流路で、その上流側は、例えば水素ガスを発生させるための改質器（図示していない）の後段のガス流路（図示していない）に接続されている。そして、このサンプルガス流路１の下流側は、複数の互いに並列な流路２に分岐されており、各分岐流路２にはサンプルガスＳ中に含まれるＣＯ、ＣＯ2 、ＴＨＣなどの測定対象ガスの濃度をそれぞれ分析するためのガス分析計３および水素ガスの濃度を分析するためのＨ2 計４が設けられている。
【００１４】
５は複数のガス分析計３およびＨ2 計４の出力信号が入力され、これに基づいてサンプルガスＳ中に含まれる測定対象ガスおよび水素ガスのそれぞれ濃度を求めるための演算処理部としてのパソコンである。
【００１５】
そして、この発明のガス分析装置においては、パソコン５においてガス分析計３のそれぞれの出力からＣＯ、ＣＯ2 、ＴＨＣなどの測定対象ガスの濃度を求める場合、ベースガスとしての水素ガスの影響を除去するため、サンプルガスＳに含まれる水素ガスの濃度と測定対象ガスのスパン感度との関係を用いて定点補正するようにしている。以下、この定点補正の一例を、図２および図３を参照しながら説明する。
【００１６】
既に説明したように、ＣＯ、ＣＯ2 、ＴＨＣなどを測定するガス分析計３においては、サンプルガスＳに水素ガスが含まれていると、そのスパン感度に影響を受けるが、サンプルガスＳ中の水素ガスの濃度とスパン感度との間には、図３に示すような関係があることが分かっている。つまり、スパン感度は、前記水素ガスの変化と密接に関連して変化しているが、これを連続的に補正することは、既に説明しているように、好ましくない。この発明では、この連続補正に代わるものとして、定点補正している。
【００１７】
例えば、ＣＯ計においては、そのスパン感度は、図３の符号Ａで示すように変化するが、サンプルガスＳ中の水素ガスの濃度範囲を、例えば１０体積％きざみでグループ区分し、そのグループにおける中間の値を用いて補正を行うのである。図中の●印ａ1 〜ａ5 は、それぞれ、水素ガス濃度が０〜１０体積％、１０〜２０体積％、２０〜３０体積％、３０〜４０体積％、４０〜５０体積％において用いられる値である。同様に、ＣＯ2 計、ＴＨＣ計、Ｏ2 計においても図中の○印で示すように、各グループにおける中間の値を用いるようにする。
【００１８】
図２は、前記値を用いた感度補正表の一例を示すもので、この補正表は、パソコン５のＲＡＭ内に記憶されており、この補正表において、Ｇｒｏｕｐ１，２，３，４，５は前記水素ガス濃度の１０体積％きざみの範囲に対応している。例えばＣＯ2 計においては、水素ガス濃度が０〜１０体積％の範囲であれば、補正係数として１．０１を用い、以下、１０体積％きざみで設定された濃度範囲が変わるごとに、それぞれの範囲において設定された補正係数を用いるのである。そして、この補正係数は、Ｈ2 計４の出力に基づいてパソコン５において演算された水素ガス濃度に基づいて自動的に選択されるようになっている。
【００１９】
そして、各ガス分析計３の出力は、パソコン５において、例えば下記の（１）式によって補正される。
補正後の出力＝スパン補正係数×ガス分析計出力 ……（１）
【００２０】
上述したように、この発明においては、サンプルガスＳに含まれるベースガスの濃度と測定対象ガスのスパン感度との関係を用いて、測定対象ガスを測定するためのガス分析計３からの出力を定点補正するようにしているので、ガス分析計３の出力を簡便かつ迅速に補正することができ、測定対象ガスの濃度を精度よく測定することができる。
【００２１】
上述の実施の形態においては、ベースガスとしての水素ガスの濃度を専用のＨ2 計４を用いて測定し、補正係数が自動的に設定されるようにしているが、水素ガスの時間的な濃度変化が予め把握できるような場合には、Ｈ2 計４を省略することができるが、前記図２に示すパソコン５の画面において、マニュアル操作により補正係数を設定する必要がある。すなわち、図２における符号６で示すグループ選択キーを用いて、グループ選択を行うのである。
【００２２】
そして、上述の実施の形態においては、燃料電池システムにおける例を挙げ、ベースガスとして水素ガスを例示しているが、この発明はこれに限られるものではなく、ベースガスの影響を受けやすいガス分析に広く適用することができる。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明においては、サンプルガスに含まれる複数の測定対象ガスの濃度をそれぞれの測定対象ガス分析計によって分析する場合、サンプルガスに含まれ、サンプルガスのスパン感度に影響を与えるベースガスの濃度範囲を測定対象ガスごとにグループ区分し、前記ベースガスの濃度に基づいて測定対象ガスごとに各グループにおける一つの補正係数を選択し、前記各測定対象ガス分析計の出力を測定対象ガスごとに定点補正するようにしているので、ガス分析計におけるスパン感度がベースガスの影響によって変化するような場合において、所望の測定対象ガスを精度よくしかも簡便に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明のガス分析装置の一例を概略的に示す図である。
【図２】前記ガス分析装置において用いる補正表を表示したパソコンの画面の一例を示す図である。
【図３】サンプルガス中の水素ガス濃度とガス分析計のスパン感度との関係を概略的に示す図である。
【図４】発明の背景を説明するための図である。
【符号の説明】
３…測定対象ガス分析用ガス分析計、４…ベースガス分析用ガス分析計、５…演算処理部、Ｓ…サンプルガス。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a base gas correction method in gas analysis and a gas analyzer using the same.
[0002]
BACKGROUND OF THE INVENTION
2. Description of the Related Art Conventionally, electric vehicles have been studied for practical use as alternatives to gasoline vehicles and diesel vehicles, and the use of fuel cells as one of the energy supply methods for electric vehicles has been studied. FIG. 4 schematically shows the configuration of a general fuel cell system. In this figure, reference numeral 41 denotes a methanol supply source, from which methanol (CH 3 OH) is supplied to a reformer 42. Is reformed under an appropriate catalyst to generate hydrogen gas (H 2 ). At this time, impurities such as CO (carbon monoxide), CO 2 (carbon dioxide) or HC (hydrocarbon) are generated in addition to the hydrogen gas. Is supplied to the fuel cell 44.
[0003]
In this case, the concentration of the generated hydrogen gas is on the order of% such as several% to several tens of%, but the concentrations of CO and HC as impurities are on the order of ppm, and the concentration of CO 2 is on the order of volume%. As described above, in order to operate the fuel cell 44 satisfactorily in a very small amount, it is necessary to accurately grasp the concentration of the impurities and reduce the impurities contained in the hydrogen gas as much as possible.
[0004]
Therefore, in the above fuel cell system, as shown in FIG. 4, a sample gas passage 46 is connected to a gas passage 45 immediately after the reformer 42, and a non-dispersive infrared gas analyzer is connected to the sample gas passage 46. (NDIR), various types of gas analyzers 47 such as a magnetic oximeter, a flame ionization detection method analyzer (FID), and CO, CO 2 contained in hydrogen gas generated in the reformer 42 from the output thereof. , The concentration of impurities such as HC and the like, and a sample gas flow path 49 connected to a gas flow path 48 immediately after the impurity removal section 43, and a gas analyzer similar to the gas analyzer 47 described above is connected to the sample gas flow path 49. By providing a difference 50 between the outputs of the gas analyzers 47 and 50, it is possible to grasp the degree to which the impurities have been removed in the impurity removing section 43. Controls the impurity removal unit 43, high-quality hydrogen gas is to be supplied to the fuel cell 44.
[0005]
However, in the measurement of the gas concentration of CO or CO 2 or the like, the amount of hydrogen gas that is not the measurement target is much larger than that of the measurement target gas such as CO or CO 2 , and this hydrogen gas becomes a so-called base gas. This has a considerable effect on the span sensitivity in measuring the concentration of CO or CO 2 .
[0006]
Figure 3 shows the effect of the span sensitivity of the hydrogen gas concentration in the sample gas, in this figure, reference numeral A, B, C, D, respectively, CO meter, CO 2 meter, THC meter (total hydrocarbon gas analyzer) to measure the hydrogen concentration, a curve showing the variation of the span sensitivity in O 2 meter (gas analyzer for measuring the oxygen concentration). From this figure, it can be seen that, for example, in a CO meter, the span sensitivity monotonously decreases as the hydrogen gas concentration in the sample gas increases. In the CO 2 meter and the O 2 meter, the span sensitivity monotonically increases as the hydrogen gas concentration increases. Further, in the THC meter, the span sensitivity once decreases when the hydrogen gas concentration increases, and increases when the hydrogen gas concentration exceeds a certain concentration.
[0007]
[Prior art and its problems]
Conventionally, the influence of the hydrogen gas as the base gas has been performed by a continuous correction method. However, it is necessary to use one or more complicated correction curves that cannot be approximated to a straight line, and the correction is very complicated. Despite this, the accuracy is not always sufficient, and the response time of each gas analyzer may take a long time to correct due to a difference in response speed, or the error may increase.
[0008]
The present invention has been made in consideration of the above-mentioned matters, and an object of the present invention is to provide a base gas correction method in gas analysis that can easily perform base gas correction and a gas analyzer using the same. is there.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
To achieve the above object, the base gas correction method in the gas analysis of the present invention, when analyzing the concentration of a plurality of measurement target gas in the sample gas by the respective measurement target gas analyzer included in the sample gas, concentrated Dohan circumference of the base gas that affect the span sensitivity of the sample gas to the group classified by the measurement target gas, selects one of the correction coefficient in each group for each measurement target gas based on the concentration of the base gas The output of each of the measurement target gas analyzers is corrected at a fixed point for each measurement target gas .
[0010]
And, in this invention, the gas analysis and a processing unit for processing the output of the density of a plurality of measurement target gas in the sample gas from the measurement target gas analyzer Toko these measured gas analyzer for each analysis in the device, in the arithmetic processing unit, the sample contained in the gas, each storing a concentration range of the base gas that affect the span sensitivity of the sample gas to group classified by the measurement target gas into the arithmetic processing section group one the correction coefficient, and select for each measurement object gas based on the concentration of the base gas in the are to be fixed point correction for each measurement target gas output from the measurement target gas analyzer (claim 3 ).
[0011]
In addition, a gas analyzer for detecting the concentration of the base gas contained in the sample gas may be provided (claims 2 and 4), and when a temporal change in the concentration of the base gas is known in advance. Does not require the gas analyzer.
[0012]
In the present invention, when the concentrations of a plurality of measurement target gases contained in the sample gas are analyzed by the respective measurement target gas analyzers, the concentration range of the base gas contained in the sample gas and affecting the span sensitivity of the sample gas the group classified by the measurement target gas, on the basis of the concentration of the base gas and select one of the correction coefficient in each group for each measurement target gas, fixed point output of the respective measuring object gas analyzers for each measurement object gas Since the correction is performed, the output can be corrected simply and quickly.
[0013]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 schematically shows the configuration of a gas analyzer according to the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a sample gas flow path through which a sample gas S mainly containing hydrogen gas flows, and the upstream side thereof is, for example, hydrogen. It is connected to a gas flow path (not shown) downstream of a reformer (not shown) for generating gas. The downstream side of the sample gas flow path 1 is branched into a plurality of parallel flow paths 2, and each branch flow path 2 measures CO, CO 2 , THC, etc. contained in the sample gas S. H 2 four for analyzing the concentration of the gas analyzer 3 and hydrogen gas for analyzing the concentration of the target gas are provided respectively.
[0014]
Reference numeral 5 denotes a personal computer as an arithmetic processing unit for receiving output signals of the plurality of gas analyzers 3 and the H 2 analyzer 4 and obtaining the respective concentrations of the gas to be measured and the hydrogen gas contained in the sample gas S based on the input signals. It is.
[0015]
In the gas analyzer according to the present invention, when the concentration of the gas to be measured such as CO, CO 2 , THC or the like is obtained from the output of the gas analyzer 3 in the personal computer 5, the influence of the hydrogen gas as the base gas is removed. Therefore, the fixed point correction is performed using the relationship between the concentration of the hydrogen gas contained in the sample gas S and the span sensitivity of the gas to be measured. Hereinafter, an example of the fixed point correction will be described with reference to FIGS.
[0016]
As described above, in the gas analyzer 3 for measuring CO, CO 2 , THC, etc., if the sample gas S contains hydrogen gas, the span sensitivity is affected. It is known that there is a relationship as shown in FIG. 3 between the concentration of hydrogen gas and the span sensitivity. That is, although the span sensitivity changes in close relation to the change in the hydrogen gas, it is not preferable to continuously correct the change as described above. In the present invention, fixed point correction is performed as an alternative to the continuous correction.
[0017]
For example, in the CO meter, the span sensitivity changes as shown by the symbol A in FIG. 3, but the concentration range of the hydrogen gas in the sample gas S is divided into groups by, for example, 10 volume%. The correction is performed using the intermediate value. ● mark a 1 ~a 5 in the drawing, respectively, the hydrogen gas concentration is 0-10% by volume, 10 to 20 vol%, 20 to 30 vol%, 30 to 40 vol%, is used in 40 to 50 vol% Value. Similarly, in the CO 2 meter, the THC meter, and the O 2 meter, an intermediate value in each group is used as shown by a circle in the figure.
[0018]
FIG. 2 shows an example of a sensitivity correction table using the above values. This correction table is stored in the RAM of the personal computer 5, and in this correction table, Groups 1, 2, 3, 4, and 5 This corresponds to a range of 10% by volume of the hydrogen gas concentration. For example, in a CO 2 meter, if the hydrogen gas concentration is in the range of 0 to 10% by volume, 1.01 is used as the correction coefficient, and each time the concentration range set in increments of 10% by volume changes, The correction coefficient set in the range is used. The correction coefficient is automatically selected based on the hydrogen gas concentration calculated in the personal computer 5 based on the output of the H 2 meter 4.
[0019]
Then, the output of each gas analyzer 3 is corrected in the personal computer 5 by, for example, the following equation (1).
Output after correction = Span correction coefficient x Gas analyzer output ... (1)
[0020]
As described above, in the present invention, the output from the gas analyzer 3 for measuring the measurement target gas is determined by using the relationship between the concentration of the base gas contained in the sample gas S and the span sensitivity of the measurement target gas. Since the fixed point correction is performed, the output of the gas analyzer 3 can be corrected easily and quickly, and the concentration of the gas to be measured can be accurately measured.
[0021]
In the above-described embodiment, the concentration of hydrogen gas as the base gas is measured using the dedicated H 2 meter 4 and the correction coefficient is automatically set. If the concentration change is as previously grasp, which can be omitted and H 2 four, the screen of the personal computer 5 shown in FIG. 2, it is necessary to set the correction coefficient by manual operation. That is, group selection is performed using the group selection key indicated by reference numeral 6 in FIG.
[0022]
In the above-described embodiment, hydrogen gas is exemplified as the base gas by taking an example in the fuel cell system. However, the present invention is not limited to this, and the gas analysis is susceptible to the base gas. Can be widely applied to.
[0023]
【The invention's effect】
As described above, in the present invention, when the concentrations of a plurality of measurement target gases contained in the sample gas are analyzed by the respective measurement target gas analyzers, the concentrations are included in the sample gas and affect the span sensitivity of the sample gas. group dividing the concentration range of the base gas in each measurement target gas to provide, on the basis of the concentration of the base gas and select one of the correction coefficient in each group for each measurement target gas, the output of each of the measurement target gas analyzers Since the fixed point is corrected for each gas to be measured, a desired gas to be measured can be accurately and simply measured when the span sensitivity in the gas analyzer changes due to the influence of the base gas.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram schematically showing an example of a gas analyzer according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing an example of a screen of a personal computer displaying a correction table used in the gas analyzer.
FIG. 3 is a diagram schematically showing a relationship between a hydrogen gas concentration in a sample gas and a span sensitivity of a gas analyzer.
FIG. 4 is a diagram for explaining the background of the invention.
[Explanation of symbols]
Reference numeral 3 denotes a gas analyzer for analyzing a target gas, 4 denotes a gas analyzer for analyzing a base gas, 5 denotes an arithmetic processing unit, and S denotes a sample gas.

Claims (4)

サンプルガスに含まれる複数の測定対象ガスの濃度をそれぞれの測定対象ガス分析計によって分析する場合、サンプルガスに含まれ、サンプルガスのスパン感度に影響を与えるベースガスの濃度範囲を測定対象ガスごとにグループ区分し、前記ベースガスの濃度に基づいて測定対象ガスごとに各グループにおける一つの補正係数を選択し、前記各測定対象ガス分析計の出力を測定対象ガスごとに定点補正すること特徴とするガス分析におけるベースガス補正方法。When analyzing the concentration of a plurality of measurement target gas in the sample gas by the respective measurement target gas analyzer included in the sample gas, measuring the dark Dohan circumference of the base gas that affect the span sensitivity of sample gas The target gas is divided into groups, and one correction coefficient in each group is selected for each gas to be measured based on the concentration of the base gas, and the output of each gas to be measured is fixed-point corrected for each gas to be measured. A base gas correction method in gas analysis. ベースガス濃度を専用のガス分析計で測定するようにした請求項１に記載のガス分析におけるベースガス補正方法。2. The method according to claim 1, wherein the base gas concentration is measured by a dedicated gas analyzer. サンプルガスに含まれる複数の測定対象ガスの濃度をそれぞれ分析する測定対象ガス分析計とこれら測定対象ガス分析計からの出力を処理する演算処理部とを備えたガス分析装置において、前記演算処理部において、前記サンプルガスに含まれ、サンプルガスのスパン感度に影響を与えるベースガスの濃度範囲を測定対象ガスごとにグループ区分して前記演算処理部内に記憶した各グループにおける一つの補正係数を、前記ベースガスの濃度に基づいて測定対象ガスごとに選択し、前記各測定対象ガス分析計からの出力を測定対象ガスごとに定点補正することを特徴とするガス分析装置。In the gas analyzer and a measurement target gas analyzer for each analysis and processing unit for processing the outputs from these measurement target gas analyzer plurality of the concentration of the measurement target gas in the sample gas, the arithmetic processing unit in the sample contained in the gas, one of the correction coefficient in each group stored in the group classified into the arithmetic processing portion of concentrated Dohan circumference of the base gas per measurement target gas affecting the span sensitivity of sample gas Is selected for each gas to be measured based on the concentration of the base gas, and the output from each gas analyzer to be measured is fixed-point corrected for each gas to be measured . サンプルガスに含まれるベースガスの濃度を検出するためのガス分析計を設け、このガス分析計の出力を演算処理部に入力するようにした請求項３に記載のガス分析装置。4. The gas analyzer according to claim 3, further comprising a gas analyzer for detecting a concentration of the base gas contained in the sample gas, and an output of the gas analyzer being input to an arithmetic processing unit.
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