JP3577818B2 - Optimal timing detection method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は例えばディジタル通信に使用される変調器の最適タイミング検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
図5は、従来の2相位相シフト・キーイング信号波変調器の符号誤り率の測定装置を示す図である。図において1はデータ・ジェネレータ、2はクロック・ジェネレータ、4は復調器、5は符号誤り率測定器、9は供試体(変調器)である。
【0003】
次に、従来の測定装置の動作について説明する。従来の装置では、データ・ジェネレータ1はクロック・ジェネレータ2から供給されるクロック信号に従いランダムパターンのデータを供試体である変調器9に送出する。クロック・ジェネレータ2もデータ・ジェネレータ1に対してだけでなく、供試体である変調器に送出する。変調器の出力信号は復調器4にてベースバンド信号に復調された後、符号誤り率測定器5にて復調ベースバンド信号の符号誤り率を測定する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
一般に、変調器内波形整形回路入力端でのデータ及びクロックのタイミング関係は図4に示すとおりである。クロック上りトランジェント50%レベル点がデータ区間の中心に来るように調整されている。しかし、データ及びクロックのタイミング関係が図6に示すようにクロック上りトランジェント50%レベル点がデータ50%レベルを示す時点から若干外れていても、波形整形回路内でのデータ識別及び波形整形動作は正常に行われる。したがって、変調器内波形整形回路入力端でのデータ及びクロックのタイミング関係が誤って図6のとおりになっていても、従来の測定装置では符号誤り率上問題のないデータを取得してしまい、上記タイミング関係の誤りに気づかないまま、変調器を合格と判定する可能性が大きかった。誤ったタイミング関係にて調整された変調器において、入力クロック信号に雑音が乗ったために、クロックタイミングにずれが生じた場合、図においてクロック上り50%の時点がデータの50%レベルの時点と一致した場合、波形整形回路内のデータ1、0の識別が不正確になり、その結果、符号誤り率が急激に悪化し、伝送路の伝送品質を悪化させる問題があった。
【0005】
変調器内波形整形回路入力端でのデータとクロックタイミングが規定タイミングにあることを含めて変調器の性能を確認し、合格と判定し、出荷することは、所要伝送品質を満足する回線を実現する上で解決すべき課題であった。
【0006】
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、変調器内波形整形回路でのデータとクロックタイミングが規定どおりに調整されていることを確認し、かつ変調器が所要変調を実施しているかを確認できることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る最適タイミング検出方法は、2相位相シフトキーイング信号波の変調器に対しデータ信号を発生するデータジェネレータと、クロック信号を発生するクロックジェネレータと、変調器出力信号の符号誤り率を測定する符号誤り率測定器と、上記クロックジェネレータが発生するクロック信号の位相をシフトする移相器と、移相器の位相シフト量を調整する中央処理装置と、クロック信号の位相シフト量とそれに対応する変調器出力信号の符号誤り率を表示するデータ表示装置とから構成され、規定クロックタイミング時、及びクロックの位相を規定よりずらした時の変調器出力信号の符号誤り率を測定し、規定クロックタイミング時と同じくクロックの位相を規定よりずらした時も同一符号誤り率であるか否かを判定することにより、クロックタイミングの位相ズレが規定範囲内にあり、かつ変調器が正常動作していることが確認できるようにしたものである。
【0008】
また、この発明の最適タイミング検出方法は、クロックの位相を符号誤り率が最悪値になるまで規定よりズラシて行き、符号誤り率が最悪値となるクロックの移相量がデータ1ビットの区間長の半分の値かどうかを判定することにより、変調器内のクロックタイミング調整が規定どおり実施されているかを確認できるようにしたものである。
【0009】
【発明の実施の形態】
実施の形態1
図1は、この発明の実施の形態1を示すもので、クロックジェネレータ2の出力と供試体である変調器9のクロック信号入力端の間に移相器3を設置し、上記移相器3の位相シフト量を調整し、また復調ベースバンド信号の符号誤り率を記録・合格判定を行う中央処理装置6を設置している。なお7はデータ表示装置、8はキーボードである。図2は上記中央処理装置6に予めロードされたプログラムのフローチャートである。
【0010】
上記のように構成された最適タイミング検出装置では、図2に示すフローチャートに従い、中央処理装置6が移相器3、データジェネレータ1、クロックジェネレータ2、復調器4、符号誤り率測定器5を動作させる。図2のステップ11にて、データとクロックとの関係において、クロックタイミングを図4に示す規定タイミングにて供試体である変調器9を動作させ、ステップ12にて復調器4にて復調されたベースバンド信号の符号誤り率を符号誤り率測定器5にて測定する。その測定結果をステップ13にて規格値以下の値であるかを識別し、規格値以下の場合次のステップに進み、規格値より大きい値の場合は変調器内クロックタイミングは異常と判定し(ステップ24)、その旨をデータ表示装置7に表示する(ステップ25)。
【0011】
ステップ14〜20にてクロックタイミングを規定タイミングから外部入力値に従った位相シフト量にてクロックタイミングを規定からズラし、復調ベースバンドの符号誤り率を測定し、その測定結果が規格値以下の値であるかを識別・判定する。規格値より大きい値の場合は変調器内クロックタイミングは異常と判断する(ステップ24)。ステップ20の判定にて符号誤り率測定結果が規格値以下の値であると判定された場合、クロックタイミングの位相ズレが規格範囲の限界でも変調器は正常に機能すると判定し(ステップ21)、その旨をデータ表示装置(ステップ22)に表示する。以上の動作を実施することにより、変調器内波形整形回路入力端でのデータ及びクロックのタイミング関係が図6に示すようにクロック上りトランジェント50%レベル点がデータ50%レベルを示す時点から若干外れている状態にあることが検知でき、誤って合格判定を下すことを避けることが可能となる。
【0012】
実施の形態2
図3は、図1に示す実施の形態の中の中央処理装置6にロードされたプログラムのフローチャートである。
図1に示す最適タイミング検出装置では、図3に示すフローチャートに従い、中央処理装置6が移相器3、データジェネレータ1、クロックジェネレータ2、復調器4、符号誤り率測定器5を動作させる。図3においてステップ28で、クロックタイミングを図4に示す規定タイミングにて供試体である変調器9を動作させ、ステップ29で復調器4にて復調されたベースバンド信号の符号誤り率を符号誤り率測定器5にて測定する。その測定結果をステップ30で規格値以下の値であるかを判別し、規格値以下の場合次のステップに進み、規格値より大きい値の場合は変調器内クロックタイミングは異常と判定し(ステップ39)、その旨をデータ表示装置7に表示する(ステップ40)。
【0013】
規格値以下の場合、ステップ31,32でクロックの位相をシフトし、ステップ33にて符号誤り率を測定し、ステップ34に移行する。ステップ34にて前回取得した符号誤り率より大きい値かを判定し、大きい場合はステップ31に戻り、ステップ34にて前回測定時の値より大きくない値が検出されるまでステップ31〜33の作業を繰り返す。大きくない値が検出された場合はステップ35にて、前回符号誤り率測定時のクロック位相量を記録し、ステップ36で記録されたクロック位相量がデータ区間長の半分の長さにあたるかを判定する。クロック位相量がデータ区間長の半分の長さにあたると判定された場合、ステップ37で変調器内クロックタイミングは正常と判断し、ステップ38で変調器内クロックタイミングが正常である旨をCRT端末7に表示する。クロック位相量がデータ区間長の半分の長さにあたらないと判定された場合、ステップ39で変調器内クロックタイミングは異常と判断し、ステップ40で変調器内クロックタイミングが異常である旨をデータ表示装置7に表示する。
【0014】
【発明の効果】
この発明によれば、中央処理装置6が移相器3の位相シフト量を調整し、規定クロックタイミング時、及び規定からタイミングをずらした時の復調ベースバンドの符号誤り率を符号誤り率測定器5で測定して符号誤り率に変化がないことを確認することにより、変調器内波形整形回路でのデータとクロックとのタイミングのずれが規格内にあれば、変調器は正常に動作するか否かを判断することが可能となる。
【0015】
また、この発明によれば、復調ベースバンドの符号誤り率が最悪値となる位相シフト量を測定・記録し、その位相シフト量がデータ区間長の半分であることを確認することにより、変調器内波形整形回路のクロックタイミングが規定どおり設定されていることを確認できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による最適タイミング検出装置の実施の形態1、及び2を示す図である。
【図2】この発明による最適タイミング検出装置の実施の形態1での中央処理装置にロードされたプログラムのフローチャートである。
【図3】この発明による最適タイミング検出装置の実施の形態2での中央処理装置にロードされたプログラムのフローチャートである。
【図4】変調器内波形整形回路入力端での正常時のデータ及びクロックのタイミング関係を示す図である。
【図5】従来の最適タイミング検出装置を示す図である。
【図6】変調器内波形整形回路入力端での異常時のデータ及びクロックのタイミング関係を示す図である。
【符号の説明】
1 データ・ジェネレータ
2 クロック・ジェネレータ
3 移相器
4 復調器
5 符号誤り率
6 中央処理装置(CPU)
7 データ表示装置
8 キーボード
9 供試体(変調器)
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for detecting an optimum timing of a modulator used for digital communication, for example.
[0002]
[Prior art]
FIG. 5 is a diagram showing a conventional apparatus for measuring the bit error rate of a two-phase phase shift keying signal wave modulator. In the figure, 1 is a data generator, 2 is a clock generator, 4 is a demodulator, 5 is a bit error rate measuring device, and 9 is a test sample (modulator).
[0003]
Next, the operation of the conventional measuring device will be described. In the conventional device, the data generator 1 sends out data of a random pattern to the modulator 9 as a test object according to a clock signal supplied from the clock generator 2. The clock generator 2 also sends the data to the modulator, which is the specimen, in addition to the data generator 1. After the demodulator 4 demodulates the output signal of the modulator into a baseband signal, the code error rate measuring device 5 measures the bit error rate of the demodulated baseband signal.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Generally, the timing relationship between data and clock at the input terminal of the waveform shaping circuit in the modulator is as shown in FIG. The 50% level point of the clock rising transient is adjusted to be at the center of the data section. However, even if the timing relationship between the data and the clock slightly deviates from the point at which the clock rising transient 50% level point indicates the data 50% level as shown in FIG. 6, the data identification and waveform shaping operation in the waveform shaping circuit is not performed. Normally done. Therefore, even if the timing relationship between the data and the clock at the input terminal of the waveform shaping circuit in the modulator is erroneously set as shown in FIG. 6, the conventional measuring device obtains data having no problem in the bit error rate, There was a high possibility that the modulator was determined to pass without noticing the error in the timing relationship. In the modulator adjusted with the wrong timing relation, when the clock timing shifts due to the noise on the input clock signal, the time point of the clock rising 50% coincides with the time point of the data 50% level in the figure. In this case, the identification of the data 1 and 0 in the waveform shaping circuit becomes inaccurate. As a result, there is a problem that the bit error rate rapidly deteriorates and the transmission quality of the transmission path deteriorates.
[0005]
Modulator waveform shaping circuit Check the modulator performance including the fact that the data and clock timing at the input end are at the specified timing, judge it to be acceptable, and ship it to realize a line that satisfies the required transmission quality. This was a problem to be solved.
[0006]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and confirms that data and clock timing in a waveform shaping circuit in a modulator are adjusted as specified, and that the modulator performs required modulation. The purpose is to be able to confirm that.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
An optimal timing detection method according to the present invention measures a data generator that generates a data signal for a modulator of a two-phase shift keying signal wave, a clock generator that generates a clock signal, and measures a bit error rate of a modulator output signal. A bit error rate measuring device, a phase shifter for shifting a phase of a clock signal generated by the clock generator, a central processing unit for adjusting a phase shift amount of the phase shifter, and a phase shift amount of the clock signal and corresponding A data display device for displaying the bit error rate of the modulator output signal to be modulated, and measuring the bit error rate of the modulator output signal at a specified clock timing and when the phase of the clock is shifted from the specified value. To determine whether the same bit error rate is obtained when the clock phase is shifted from the specified value, as in the case of timing. More, located in the phase shift is specified range of clock timing, and in which the modulator operates normally is able to see.
[0008]
Further, according to the optimum timing detecting method of the present invention, the phase of the clock is shifted from the prescribed value until the bit error rate becomes the worst value, and the phase shift amount of the clock at which the code error rate becomes the worst value is the section length of one bit of data. By determining whether or not the value is half of the value, it is possible to confirm whether or not the clock timing adjustment in the modulator is performed as prescribed.
[0009]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Embodiment 1
FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention, in which a phase shifter 3 is provided between an output of a clock generator 2 and a clock signal input end of a modulator 9 which is a test object. And a central processing unit 6 for recording the code error rate of the demodulated baseband signal and making a pass judgment. 7 is a data display device and 8 is a keyboard. FIG. 2 is a flowchart of a program loaded in the central processing unit 6 in advance.
[0010]
In the optimal timing detecting device configured as described above, the central processing unit 6 operates the phase shifter 3, the data generator 1, the clock generator 2, the demodulator 4, and the code error rate measuring device 5 according to the flowchart shown in FIG. Let it. In step 11 of FIG. 2, the modulator 9 as a test sample is operated at the clock timing specified in FIG. 4 in relation to the data and the clock, and demodulated by the demodulator 4 in step 12. The code error rate of the baseband signal is measured by the code error rate measuring device 5. The measurement result is discriminated in step 13 as to whether or not the value is equal to or smaller than the standard value. If the measured result is equal to or smaller than the standard value, the process proceeds to the next step. Step 24), and the fact is displayed on the data display device 7 (step 25).
[0011]
In steps 14 to 20, the clock timing is shifted from the specified timing by the phase shift amount according to the external input value from the specified timing, and the demodulation baseband code error rate is measured. Identify and judge whether it is a value. If the value is larger than the standard value, it is determined that the clock timing in the modulator is abnormal (step 24). If it is determined in step 20 that the bit error rate measurement result is equal to or smaller than the standard value, it is determined that the modulator functions normally even if the phase shift of the clock timing is at the limit of the standard range (step 21). This is displayed on the data display device (step 22). By performing the above operation, the timing relationship between the data and the clock at the input terminal of the waveform shaping circuit in the modulator slightly deviates from the point at which the clock rising transient 50% level point shows the data 50% level as shown in FIG. Can be detected, and it is possible to avoid erroneously making a pass determination.
[0012]
Embodiment 2
FIG. 3 is a flowchart of a program loaded in the central processing unit 6 in the embodiment shown in FIG.
In the optimal timing detection device shown in FIG. 1, the central processing unit 6 operates the phase shifter 3, the data generator 1, the clock generator 2, the demodulator 4, and the code error rate measuring device 5 according to the flowchart shown in FIG. In FIG. 3, at step 28, the modulator 9 as a test object is operated at the clock timing specified in FIG. 4, and at step 29, the code error rate of the baseband signal demodulated by the demodulator 4 is determined by the code error. It is measured by the ratio measuring device 5. The measurement result is determined in step 30 as to whether the value is equal to or less than the standard value. If the value is equal to or smaller than the standard value, the process proceeds to the next step. 39), the fact is displayed on the data display device 7 (step 40).
[0013]
If not, the clock phase is shifted in steps 31 and 32, the bit error rate is measured in step 33, and the process proceeds to step 34. In step 34, it is determined whether the value is larger than the previously obtained bit error rate. If the value is larger, the process returns to step 31. In steps 34, the operations in steps 31 to 33 are performed until a value not larger than the value obtained in the previous measurement is detected. repeat. If a value that is not large is detected, in step 35, the clock phase amount at the time of the previous measurement of the bit error rate is recorded, and it is determined whether the clock phase amount recorded in step 36 is equal to half the data section length. I do. If the clock phase amount is determined to be half the length of the data section, the clock timing in the modulator is determined to be normal in step 37 and the CRT terminal 7 determines in step 38 that the clock timing in the modulator is normal. To be displayed. If it is determined that the clock phase amount does not correspond to half the length of the data section, the clock timing in the modulator is determined to be abnormal in step 39, and data indicating that the clock timing in the modulator is abnormal is determined in step 40. It is displayed on the display device 7.
[0014]
【The invention's effect】
According to the present invention, the central processing unit 6 adjusts the phase shift amount of the phase shifter 3 and determines the code error rate of the demodulated baseband at the specified clock timing and when the timing is shifted from the specified clock error rate. By confirming that there is no change in the bit error rate by measuring in step 5, if the timing difference between the data and the clock in the modulator waveform shaping circuit is within the standard, does the modulator operate normally? It is possible to determine whether or not.
[0015]
Further, according to the present invention, the phase shift amount at which the code error rate of the demodulated baseband has the worst value is measured and recorded, and the phase shift amount is confirmed to be half of the data section length, so that the modulator is improved. It can be confirmed that the clock timing of the internal waveform shaping circuit is set as specified.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing Embodiments 1 and 2 of an optimum timing detection device according to the present invention.
FIG. 2 is a flowchart of a program loaded into a central processing unit in the first embodiment of the optimum timing detection device according to the present invention;
FIG. 3 is a flowchart of a program loaded into a central processing unit according to a second embodiment of the optimum timing detection device according to the present invention;
FIG. 4 is a diagram showing a timing relationship between data and a clock in a normal state at an input terminal of a waveform shaping circuit in a modulator.
FIG. 5 is a diagram showing a conventional optimal timing detection device.
FIG. 6 is a diagram illustrating a timing relationship between data and a clock when an abnormality occurs at an input end of a waveform shaping circuit in the modulator.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Data generator 2 Clock generator 3 Phase shifter 4 Demodulator 5 Code error rate 6 Central processing unit (CPU)
7 Data display device 8 Keyboard 9 Specimen (modulator)

Claims (2)

2相位相シフトキーイング信号波の変調器に対しデータ信号を発生するデータジェネレータと、クロック信号を発生するクロックジェネレータと、上記変調器出力信号の符号誤り率を測定する符号誤り率測定器と、上記クロックジェネレータが発生するクロック信号の位相をシフトする移相器と、上記移相器の位相シフト量を調整する中央処理装置と、クロック信号の位相シフト量とそれに対応する変調器出力信号の符号誤り率を表示するデータ表示装置とを備え、規定クロックタイミング時、及びクロックの位相を規定よりずらした時の変調器出力信号の符号誤り率を測定し、規定クロックタイミング時と同じくクロックの位相を規定よりずらした時も同一符号誤り率であるかを確認することにより、クロックタイミングの位相ズレが規格範囲内にあり、かつ変調器が正常動作していることが確認できるようにしたことを特徴とする最適タイミング検出方法。A data generator for generating a data signal for a modulator of a two-phase phase shift keying signal wave, a clock generator for generating a clock signal, a code error rate measuring device for measuring a code error rate of the modulator output signal, A phase shifter for shifting the phase of the clock signal generated by the clock generator, a central processing unit for adjusting the phase shift amount of the phase shifter, a phase shift amount of the clock signal, and a code error of the modulator output signal corresponding thereto. A data display device for displaying the rate, and measures the code error rate of the modulator output signal at the specified clock timing and when the clock phase is shifted from the specified, and specifies the clock phase as at the specified clock timing. By checking whether the same bit error rate is obtained even when the clock is shifted further, the phase shift of the clock timing can be Located 囲内, and optimal timing detection method characterized by that the modulator operates normally is able to see. 2相位相シフトキーイング信号波の変調器に対しデータ信号を発生するデータジェネレータと、クロック信号を発生するクロックジェネレータと、上記変調器出力信号の符号誤り率を測定する符号誤り率測定器と、上記クロックジェネレータが発生するクロック信号の位相をシフトする移相器と、上記移相器の位相シフト量を調整する中央処理装置と、クロック信号の位相シフト量とそれに対応する変調器出力信号の符号誤り率を表示するデータ表示装置とを備え、クロックの位相を符号誤り率が最悪値になるまで規定よりズラシて行き、符号誤り率が最悪値となるクロックの移相量がデータ1ビットの区間長の半分の値かどうかを判定することにより、変調器内のクロックタイミング調整が規定どおり実施されているかを確認できるようにしたことを特徴とする最適タイミング検出方法。A data generator for generating a data signal for a modulator of a two-phase phase shift keying signal wave, a clock generator for generating a clock signal, a code error rate measuring device for measuring a code error rate of the modulator output signal, A phase shifter for shifting the phase of the clock signal generated by the clock generator, a central processing unit for adjusting the phase shift amount of the phase shifter, a phase shift amount of the clock signal, and a code error of the modulator output signal corresponding thereto. A data display device for displaying the rate, wherein the phase of the clock is shifted from the specified value until the bit error rate becomes the worst value, and the phase shift amount of the clock at which the code error rate becomes the worst value is the data 1-bit section length. To determine if the clock timing adjustment in the modulator has been performed as specified. Optimal timing detection method characterized by the.
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