JP3571215B2 - High sensitivity supersonic molecular jet multi-photon ionization mass spectrometer and its high sensitivity detection method - Google Patents

High sensitivity supersonic molecular jet multi-photon ionization mass spectrometer and its high sensitivity detection method Download PDF

Info

Publication number
JP3571215B2
JP3571215B2 JP13959098A JP13959098A JP3571215B2 JP 3571215 B2 JP3571215 B2 JP 3571215B2 JP 13959098 A JP13959098 A JP 13959098A JP 13959098 A JP13959098 A JP 13959098A JP 3571215 B2 JP3571215 B2 JP 3571215B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
nozzle
mass spectrometer
high sensitivity
ionization
ionization mass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP13959098A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH11329345A (en
Inventor
藤太郎 今坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Science and Technology Agency
Original Assignee
Japan Science and Technology Agency
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Science and Technology Agency filed Critical Japan Science and Technology Agency
Priority to JP13959098A priority Critical patent/JP3571215B2/en
Publication of JPH11329345A publication Critical patent/JPH11329345A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3571215B2 publication Critical patent/JP3571215B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置及びその高感度検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、焼却炉において発生するダイオキシンをはじめとする様々な有害物質が、大気汚染の原因物質としてとりあげられている。
【0003】
これら大気中の汚染物質の濃度はppm以下であり、これらの物質を連続的にモニタリングすることは、生活環境を守る上で極めて重要である。
【0004】
しかしながら、現在のところダイオキシン濃度を測定する有効な手段はない。最良の方法、すなわち従来利用されているガスクロマトグラフ質量分析法でも、前処理及び測定に数日から1週間を要する。そのため、焼却炉に付属させてリアルタイムにダイオキシンを測定できる分析装置の出現が、現在強く要望されている。
【0005】
ところで、近年、極めて優れた選択性をもつ分析法の一つとして、超音速分子ジェット/多光子イオン化/飛行時間型質量分析法(SSJ/MPI/TOF/MS)が開発されている。
【0006】
従来の質量分析法では、イオン化過程に選択性がないのに対して、この超音速分子ジェット法では、鋭い吸収線にレーザー波長を合わせて特定の分子種をイオン化して質量分析できるので、選択性が飛躍的に改善される(例えば、特開平10−69877号公報参照)。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この方法は、試料ガスの分子を真空中に噴出させて測定するために、分子密度が低下し、分析感度が低下するといった問題があった。
【0008】
図7はかかる従来のイオン化質量分析装置の構成図である。
【0009】
この図において、101はノズル、102は真空中のイオン化領域、103は加速電極、104は生成したイオンであり、そのイオンの飛行・検出する軸を生成したイオンの方向に対して直角方向になるようにして、検出器へと送るようにしている。つまり、イオンを非同軸方式で検出するようにしている。
【0010】
このイオン化質量分析装置のノズル101からイオン化点までの距離は60mmである。この従来の方式では、これ以上ノズル101をイオン化点に近づけると、並行平板電極である加速電極103によるポテンシャルに歪みが生じるので、イオンの飛行に悪影響を与える。
【0011】
したがって、この60mmが実用上の最小限界である。
【0012】
本発明は、上記問題点を除去し、試料ガスを噴出(生成)する軸と生成したイオンを飛行・検出する軸を一致させ、ノズル直下でイオン化することにより分子密度の低下を抑え、分析感度の向上を図り得る高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置及びその高感度検出方法を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するために、
〔1〕高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置において、試料ガスを出するノズルと、このノズルの近傍で前記ノズルの方向に対して電極面が垂直に配置されるリペラー電極により前記ノズルから噴出・導入された分子ジェットを前記ノズルの方向に直進させるとともに、前記リペラー電極とその後段に配置されるイオン加速手段との間の領域であって、前記ノズルから2mm〜10mmの距離でイオン化を行う領域と、前記ノズル軸方向の位置に配置され前記イオンを検出する検出装置とを具備するようにしたものである。
【0014】
〔2〕上記〔1〕記載の高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置において、前記イオン加速手段は第1のグランド電極と引き出し電極とを同一直線上に配置し、前記検出装置は第2のグランド電極とマイクロチャンネルプレートと信号出力部とを同一直線上に配置するようにしたものである。
【0015】
〔3〕高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置による高感度検出方法において、試料ガスを導出するノズルの近傍で、前記ノズルの方向に対して電極面が垂直リペラー電極を配置し、前記ノルから噴出・導入された分子ジェットを前記ノズルの方向に直進させるとともに、前記リペラー電極とその後段に配置されるイオン加速手段との間の領域であって、前記ノズルから2mm〜10mmの領域でイオン化を行い、前記ノズル軸方向の位置に配置される検出装置で前記イオンを検出するようにしたものである。
【0016】
〔4〕上記〔3〕記載の高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置による高感度検出方法において、前記試料ガスはダイオキシン及びそのダイオキシン関連物質である。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【0018】
図1は本発明の実施例を示す高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置の要部模式図である。
【0019】
この図において、1はノズル、2は絶縁用セラミックプレート、3はノズルの直下であって、高密度試料ガスのイオン化領域、4は加速電極(リペラー電極)、4Bは加速電極(引き出し電極)、5はイオン、6はイオン化室、7は試料ガスである。
【0020】
このように、試料ガス7をイオン化領域3に噴出(生成)し、その試料ガス7を噴出する軸と生成したイオン5を飛行・検出する軸を一致させるようにしている。
【0021】
また、従来のイオン化質量分析装置のノズルからイオン化点までの距離は60mmであったものを、この実施例によれば、2〜10mmに短縮することができ、ノズル1直下の試料ガスの高濃度領域でイオン化を行うことができる。
【0022】
図2は本発明の実施例を示すイオン化質量分析装置の全体構成図である。
【0023】
この図において、10は試料ガス、11はノズル、12は絶縁用セラミックプレート、13はリペラー電極、14は支持用ロッド、15は高電圧引き出し電極、16は第1のグランド電極、17は第2のグランド電極、18,19はイオンを感知するマイクロチャンネルプレート(MCP)を保持するための金属プレート、20はパルスレーザー光である。
【0024】
以下、本発明の高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置の動作について説明する。
【0025】
試料ガスが、ノズル11から間欠的に真空中に噴出・導入されて、分子ジェットが形成される。この分子ジェットにパルスレーザー光20が照射されて、イオン化され、リペラー電極13によって分子ジェットはノズル11の方向に直進し、次いで、高電圧引き出し電極15によって加速される。その後、第1のグランド電極16のイオン通過メッシュを通り、さらに対向配置される第2のグランド電極17のイオン通過メッシュを通り、イオンを感知するマイクロチャンネルプレート(18と19の金属板に挟まれたもの)により検出される。この検出信号がデジタルオシロスコープ(図示なし)によって計測される。
【0026】
この高感度質量分析装置では、試料ガス10を噴出する方向と、イオンを感知するマイクロチャンネルプレート(MCP)が同一上に配置されている。このような同軸方式を用いることにより、ノズル直下の高濃度領域でイオン化を行うことが可能となり、質量分析の高感度化が達成できる。
【0027】
本発明によれば、上記のように構成したので、
(1)高濃度領域でイオン化することができるので、感度が向上する。
【0028】
(2)スリット状の断面を持つ光で励起しても、イオンの初期分布拡がりが少ない。
【0029】
(3)イオンと中性分子の衝突が少なく、感度低下及び質量分析の分解能低下が小さい。
【0030】
(4)イオンを電極で偏向する必要がないので、調整が容易である。
【0031】
(5)イオンを偏向しないため、分子量の違いによる飛行方向の差異がなく、どの分子量のイオンも同一感度で測定できる。
【0032】
(6)ノズルからイオン化点までの距離を変えることにより、試料ガスの冷却状態を変えることが可能である。したがって、スペクトル幅を変化させることができ、選択性を調整することができる。
【0033】
図3は従来のイオン化質量分析装置(飛行距離約1.2m)の場合、図4は本発明の高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置(飛行距離約0.14m)を用いて、実際にクロベンゼンの質量スペクトルを測定した結果を示す図である。
【0034】
ここで、本発明のイオン化質量分析装置におけるノズルからイオン化点までの距離は2mm、従来のイオン化質量分析装置におけるノズルからイオン化点までの距離は60mmの条件で実験を行った。
【0035】
この実験では、レーザー光は、スポット状に集光している。図3と図4を比較すると、信号強度は、本発明のイオン化質量分析装置の方が1500倍高いことがわかる。検出に用いたマイクロチャンネルプレートの感度の違いを補正すると、本発明のイオン化質量分析装置は6500倍程度高感度であることがわかった。
【0036】
これは、本発明のイオン化質量分析装置によって、ノズル直下(2mm)の高濃度領域でイオン化が可能になったこと、飛行距離が従来のものに比べ0.12倍と短くなっていること、イオンの飛行軸の調整が容易になったことなどが、その主な要因と考えられる。
【0037】
本発明のイオン化質量分析装置の同軸方式と従来のイオン化質量分析装置の非同軸方式による感度の違いを比較するために、飛行距離を同一(0.14m)にして検討した。この場合には、本発明のイオン化質量分析装置では10mmの位置にレーザー光を集光した。感度を実測したところ、50倍程度の差異が認められた。これは、ノズルからイオン化点までの距離の2乗により試料ガスの分子密度が低下する効果〔(60mm/10mm)2 =36倍〕とほぼ一致している。したがって、残りの100倍程度は、飛行距離の短縮及び軸調整の容易さなどに起因していると推測される。
【0038】
次に、レーザー光をスポット状及びスリット状に集光して、これが感度に与える影響について検討した。
【0039】
その結果、本発明のイオン化質量分析装置では、スリット状に集光した場合にはノズルから2〜10mmの範囲では、下流になるに従って信号が低下することはなく、むしろ微増することがわかった。これは、イオン化領域をあまり小さくすると、限られた空間に生じた多数のイオン同士の反発により、イオンが拡散して、感度が低下するためと推測される。
【0040】
本発明のイオン化質量分析装置の場合、ベースラインの変動は、クロロベンゼン570ppt(S/N=3)の信号に相当していた。従来のイオン化質量分析装置の1.5ppmと比較すると、2600倍の高感度化が達成されている。また、本発明のイオン化質量分析装置では、ノズルからイオン化点までの距離を変えることによって、試料ガスの冷却状態を変化できることも確認した。すなわち、ノズル直下の2mm及び15mmのところで試料ガスの分子をイオン化し、直下ではMPIスペクトル(多光子イオン化スペクトル)が幅広くなることを確かめた。
【0041】
一方、グリッドの変形・損傷については、メッシュを両面テープで電極に固く保持することにより、その影響を無くすことができた。また、現在のところでは、汚染によるマイクロチャンネルプレートの感度低下は見られていない。なお、このような汚染の影響は、反射型飛行時間型質量分析の配置を用いることにより大幅に低減することができる。
【0042】
本発明によれば、ダイオキシンの前駆体であるクロロベンゼンをリアルタイムで測定することができ、焼却炉中のダイオキシンの挙動を的確に推測することができる。
【0043】
このように、本発明は、環境汚染物質として知られるダイオキシン及びダイオキシン関連物質の高感度・高選択分析に極めて有用である。
【0044】
次に、本発明の超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置における高効率イオン化の条件について説明する。
【0045】
ダイオキシンは発ガン性、胎児毒性、催奇形性、変異誘発性などの毒性を有する、人類が創造した最も有害な化学物質である。近年、ゴミ焼却施設からのダイオキシン排出が指摘され、ダイオキシン生成メカニズムの解明や、ダイオキシンを発生させない新しい廃棄物処理システムの開発が社会的要請をもとに進展しつつある。しかし、例えダイオキシンの発生抑制技術が確立されても、焼却施設からの排出ガスを連続的に常時モニタリングしておかなければ、突発的な事故等でのダイオキシン大量排出をいち早く察知し対処することができず、多大な環境汚染を引き起こす可能性が高い。それにもまして、ダイオキシンの発生抑制技術が確立されていない現状では、排出ガスの連続モニタリングは極めて重要な問題である。しかしながら、現在用いられているガスクロマトグラフ質量分析法では、前処理と測定が煩雑であるためリアルタイムな分析ができないのが現状である。従来の分析法での前処理や異性体分離に費やされる時間を省略し、リアルタイムな分析を可能にするには、高感度で、かつ、異性体分離も瞬時に行われる高選択的な分析法であることが要求されている。超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析法は、現在知られている分析法の中で、それら要求を満たす唯一の手法として、その実用化に大きな期待が寄せられている。
【0046】
しかし、従来の超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析法では、試料ガスの分子を真空中に噴出させて測定するため、分子密度が低下することや、ダイオキシンのような塩素が多数置換した分子では重元素効果の影響で、励起寿命が短くなり、イオン化効率が減少することが指摘されている。
【0047】
本発明では、イオン化効率を向上させるために、共鳴イオン化法と超短パルスイオン化法の利点を組み合わせた場合、どの程度のパルス幅のレーザーを用いるのが最も効果的であるか、実際の分子ジェットの冷却効果の限界も考慮して、エネルギー準位モデルとレート方程式により検討を行った。
【0048】
図5は5準位エネルギー準位モデルとレート方程式を示す図である。
【0049】
この図において、Aは基底状態、Bは中間励起状態、ionはイオン化した状態である。ここで、B準位から寿命τでX状態へ緩和するものとし、また、イオン化後の光子の吸収によって、C状態(光解離などによって分子イオンではない状態)になるとする。また、σ1 ,σ2 ,σ4 は吸収断面積、σ3 は誘導放出断面積である。また、励起寿命と共鳴吸収ライン幅の関係、レーザーパルス幅とライン幅の関係(248nm励起の場合)を、それぞれ表1、表2に示すような値で想定し、共鳴イオン化の効果についても検討した。
【0050】
【表1】

Figure 0003571215
【0051】
【表2】
Figure 0003571215
図6はイオン信号のレーザーエネルギー依存性を示す図であり、図6(a)は非共鳴,τ=10ps、図6(b)は共鳴,τ=10ps、図6(c)は共鳴,τ=100ps、図6(d)は共鳴,τ=1nsをそれぞれ示している。
【0052】
ここで、断面積の値は、単純化のため、芳香族分子として妥当な値である、10-18 cm2 を全ての遷移で採用した。図6(a)は共鳴効果を考慮しなかった場合である。ここでは励起寿命を10psとし、レーザーのパルス幅をns〜100fsまで一桁ずつ変化させた。図6(a)においては、励起寿命より短いパルス幅のレーザーでイオン化の効率が大きくなっていることが分かる。これは、励起寿命より短いパルスを用いた場合は、緩和が起こる前に高効率なイオン化ができることを示唆している。ここでの計算は励起寿命とレーザーのパルス幅の相対的な関係だけでグラフのパターンが決定される。つまり、寿命をnsでパルス幅を10μs〜100psまで変化させたグラフ、あるいは、寿命を10fsでパルス幅を10ps〜100as(asは10-18 秒)まで変化させたグラフと今回のグラフである図6(a)は全く同じ挙動を示す。
【0053】
図6(b)は寿命10psで共鳴効果を考慮した場合である。この計算のグラフも図6(a)と同様にレーザーのパルス幅と励起寿命の相対的な関係で一般化できる。ただし、その一般化は寿命が10psより短い場合のみである。寿命が10psより長い場合は、図6(c),図6(d)にそれぞれ寿命100ps、1nsのグラフを示しているが、図6(b),図6(c),図6(d)のグラフパターンは異なっている。これは、表1に示したように寿命が10psより長い場合はジェットの実際上の冷却効果を考慮し、共鳴吸収ライン幅をすべて0.01nmで飽和させたためである。
【0054】
図6(b),図6(c),図6(d)より、寿命が10psより短い場合は寿命とレーザーのパルス幅が等しい場合が最もイオン化の効率が良く、寿命が10psより長い場合は10psのパルスを用いるのが最も効率が良いことが分かった。
【0055】
なお、イオン化質量分析法において、イオン化効率向上のために共鳴イオン化法、短パルスレーザーイオン化法を用いることの利点は、多くの研究者によって示されてきた。特に、超短パルスレーザーイオン化法については、その有用性が指摘されている(例えば、本願発明者によって提案された特開平10−74479号参照)。しかしながら、超短パルスレーザーは、そのパルス幅が短くなればなるほど、不確定性原理により、レーザーのスペクトルバンド幅が大きくなってしまうという問題が生じてくる。上記先行技術においては、吸収スペクトルが鋭い波長域で実験を行っていないため、レーザースペクトル幅の広がりによるイオン化効率の減少は考慮されていない。しかし、ダイオキシン及びダイオキシン関連物質を分析するため、さらに選択性及びイオン化効率を向上させるには、吸収スペクトルが鋭く、かつ遷移確率が大きな、例えば、純電子遷移(0−0遷移)でイオン化を行なう必要がある。このような場合、先行技術で示された超短パルスレーザーはかえって不利に働くので、その条件は最適とは言えない。
【0056】
このように、本発明の高感度検出方法によれば、上記欠点が除去され、イオン化効率向上を図り、的確な計測を行うことができる。
【0057】
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
【0058】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、以下のような効果を奏することができる。
【0059】
〔A〕試料ガスの分子を噴出(生成)する軸と生成したイオンを飛行・検出する軸を一致させることにより、従来のイオン化質量分析装置のノズルからイオン化点までの距離に対して、大幅にその距離を短縮することができ、かつ、ノズルの近傍の高濃度領域でイオン化を行うことができ、質量分析の高感度化が達成できる。
【0060】
〔B〕より具体的には、
(1)高濃度領域でイオン化できるので、感度が向上する。
【0061】
(2)スリット状の断面を持つ光で励起しても、イオンの初期分布拡がりが少ない。
【0062】
(3)イオンと中性分子の衝突が少なく、感度低下及び質量分析の分解能低下が小さい。
【0063】
(4)イオンを電極で偏向する必要がないので、調整が容易である。
【0064】
(5)イオンを偏向しないため、分子量の違いによる飛行方向の差異がなく、どの分子量のイオンも同一感度で測定できる。
【0065】
(6)ノズルからイオン化点までの距離を変えることにより、試料ガスの冷却状態を変えることが可能である。これによりスペクトル幅を調整できるので、あまりにも吸収スペクトル線幅とレーザーのライン幅が狭く、僅かの波長の不一致のため試料分子を検出できなくなるなどの不都合を避けることができる。
【0066】
〔C〕従来のイオン化質量分析装置のノズルからイオン化点までの距離は60mmであったものを、本発明によれば、2〜10mmに短縮することができ、ノズルの近傍の高濃度領域でイオン化を行うことができる。
【0067】
〔D〕本発明の高感度検出方法によれば、イオン化効率向上を図り、的確な計測を行うことができる。
【0068】
特に、ダイオキシン及びそのダイオキシン関連物質を的確に、しかも高感度に計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置の要部模式図である。
【図2】本発明の実施例を示す高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置の全体構成図である。
【図3】従来のイオン化質量分析装置(飛行距離約1.2m)の場合の飛行時間に対する信号強度の特性図である。
【図4】本発明の高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置(飛行距離約0.14m)の場合の飛行時間に対する信号強度の特性図である。
【図5】5準位エネルギー準位モデルとレート方程式を示す図である。
【図6】イオン信号のレーザーエネルギー依存性を示す図である。
【図7】従来のイオン化質量分析装置の構成図である。
【符号の説明】
1 ノズル
2 絶縁用セラミックプレート
3 イオン化領域
加速電極(リペラー電極)
4B 加速電極(引き出し電極)
5 イオン
6 イオン化室
7,10 試料ガス
11 ノズル
12 絶縁用セラミックプレート
13 リペラー電極
14 支持用ロッド
15 高電圧引き出し電極
16 第1のグランド電極
17 第2のグランド電極
18,19 イオンを感知するマイクロチャンネルプレート(MCP)を保持するための金属プレート
20 パルスレーザー光[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a highly sensitive supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer and a highly sensitive detection method thereof.
[0002]
[Prior art]
In recent years, various harmful substances including dioxins generated in incinerators have been taken up as causative substances of air pollution.
[0003]
The concentration of these pollutants in the atmosphere is less than ppm, and continuous monitoring of these substances is extremely important for protecting the living environment.
[0004]
However, there is currently no effective means for measuring dioxin concentration. Even the best method, gas chromatography mass spectrometry conventionally used, requires several days to one week for pretreatment and measurement. Therefore, there is a strong demand for an analyzer that can be attached to an incinerator to measure dioxin in real time.
[0005]
By the way, in recent years, supersonic molecular jet / multiphoton ionization / time-of-flight mass spectrometry (SSJ / MPI / TOF / MS) has been developed as one of the analysis methods having extremely excellent selectivity.
[0006]
Unlike conventional mass spectrometry, which has no selectivity in the ionization process, this supersonic molecular jet method allows a specific molecular species to be ionized and mass analyzed by adjusting the laser wavelength to a sharp absorption line. The performance is dramatically improved (see, for example, JP-A-10-69877).
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, this method has a problem in that since the molecules of the sample gas are ejected into a vacuum for measurement, the molecular density is reduced and the analysis sensitivity is reduced.
[0008]
FIG. 7 is a configuration diagram of such a conventional ionization mass spectrometer.
[0009]
In this figure, 101 is a nozzle, 102 is an ionization region in a vacuum, 103 is an accelerating electrode, 104 is generated ions, and a direction perpendicular to the direction of the ions that generated the axis for flight / detection of the ions. In this way, it is sent to the detector. That is, ions are detected by a non-coaxial method.
[0010]
The distance from the nozzle 101 of the ionization mass spectrometer to the ionization point is 60 mm. In this conventional method, if the nozzle 101 is moved further closer to the ionization point, the potential of the acceleration electrode 103, which is a parallel plate electrode, is distorted, which adversely affects the flight of ions.
[0011]
Therefore, this 60 mm is the practical minimum limit.
[0012]
The present invention eliminates the above-mentioned problems, matches the axis for ejecting (generating) the sample gas with the axis for flying and detecting the generated ions, and suppresses a decrease in molecular density by ionizing immediately below the nozzle. It is an object of the present invention to provide a high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer capable of improving the sensitivity and a method of detecting the same with high sensitivity.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
The present invention, in order to achieve the above object,
[1] in the high-sensitivity supersonic jet multiphoton ionization mass spectrometer, a nozzle for exit injection the sample gas, the repeller electrode the electrode surface with respect to the axial direction of the nozzle in the vicinity are disposed perpendicularly of the nozzle A molecular jet ejected and introduced from the nozzle is made to travel straight in the direction of the nozzle, and is a region between the repeller electrode and an ion acceleration means disposed at a subsequent stage, and a distance of 2 mm to 10 mm from the nozzle. in the region for ionization is arranged in axial position of the nozzle is obtained so as to comprise a detection device for detecting the ions.
[0014]
[2] In the high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer according to [1], the ion acceleration means arranges the first ground electrode and the extraction electrode on the same straight line, and the detection device uses the The second ground electrode, the microchannel plate, and the signal output unit are arranged on the same straight line.
[0015]
[3] In the high-sensitivity detection method using a high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer, a repeller electrode whose electrode surface is perpendicular to the axial direction of the nozzle is arranged in the vicinity of a nozzle for extracting a sample gas. the Roh with linearly moving molecules jet ejected and introduction from's le in the direction of the nozzle, a region between the ion acceleration means is disposed at the subsequent stage and the repeller electrode, 2 mm to from the nozzle Ionization is performed in a region of 10 mm, and the ions are detected by a detection device arranged at a position in the axial direction of the nozzle.
[0016]
[4] In the high sensitivity detection method using a high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer described in [3], the sample gas is dioxin and a dioxin-related substance.
[0017]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
[0018]
FIG. 1 is a schematic diagram of a main part of a high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer showing an embodiment of the present invention.
[0019]
In this figure, 1 is a nozzle, 2 insulating ceramic plate, 3 is a directly below the nozzle, the ionization region of the dense gas sample, 4 A is an acceleration electrode (repeller electrode), 4B acceleration electrode (extraction electrode) Reference numeral 5 denotes ions, 6 denotes an ionization chamber, and 7 denotes a sample gas.
[0020]
As described above, the sample gas 7 is ejected (generated) into the ionization region 3, and the axis for ejecting the sample gas 7 and the axis for flying and detecting the generated ions 5 are made to coincide.
[0021]
In addition, according to this embodiment, the distance from the nozzle of the conventional ionization mass spectrometer to the ionization point was 60 mm, but this distance can be reduced to 2 to 10 mm, and the high concentration of the sample gas immediately below the nozzle 1 can be obtained. Ionization can be performed in the region.
[0022]
FIG. 2 is an overall configuration diagram of an ionization mass spectrometer showing an embodiment of the present invention.
[0023]
In this figure, 10 is a sample gas, 11 is a nozzle, 12 is an insulating ceramic plate, 13 is a repeller electrode, 14 is a supporting rod, 15 is a high voltage extraction electrode, 16 is a first ground electrode, and 17 is a second ground electrode. , A metal plate for holding a microchannel plate (MCP) for sensing ions, and 20 a pulsed laser beam.
[0024]
Hereinafter, the operation of the high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer of the present invention will be described.
[0025]
The sample gas is intermittently ejected and introduced into the vacuum from the nozzle 11 to form a molecular jet. The molecular jet is irradiated with the pulse laser beam 20 to be ionized, and the molecular jet is directed straight toward the nozzle 11 by the repeller electrode 13, and then accelerated by the high-voltage extraction electrode 15. After that, it passes through the ion-passing mesh of the first ground electrode 16 and further passes through the ion-passing mesh of the second ground electrode 17 that is disposed to face the microchannel plate (which is sandwiched between metal plates 18 and 19). Detected). This detection signal is measured by a digital oscilloscope (not shown).
[0026]
The sensitive mass analyzer, the direction of ejecting the sample gas 10, a microchannel plate (MCP) is disposed on the same axis for sensing ions. By using such a coaxial system, ionization can be performed in a high concentration region immediately below the nozzle, and high sensitivity of mass spectrometry can be achieved.
[0027]
According to the present invention, since it is configured as described above,
(1) Since ionization can be performed in a high concentration region, sensitivity is improved.
[0028]
(2) Even when excited by light having a slit-shaped cross section, the initial distribution of ions is small.
[0029]
(3) Collisions between ions and neutral molecules are small, and the decrease in sensitivity and the decrease in resolution of mass spectrometry are small.
[0030]
(4) Since it is not necessary to deflect ions by the electrodes, adjustment is easy.
[0031]
(5) Since ions are not deflected, there is no difference in flight direction due to differences in molecular weight, and ions of any molecular weight can be measured with the same sensitivity.
[0032]
(6) The cooling state of the sample gas can be changed by changing the distance from the nozzle to the ionization point. Therefore, the spectrum width can be changed, and the selectivity can be adjusted.
[0033]
FIG. 3 shows a conventional ionization mass spectrometer (flight distance of about 1.2 m), and FIG. 4 shows a high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer (flight distance of about 0.14 m) of the present invention. It is a figure showing the result of having actually measured the mass spectrum of chlorobenzene.
[0034]
Here, the experiment was performed under the condition that the distance from the nozzle to the ionization point in the ionization mass spectrometer of the present invention was 2 mm, and the distance from the nozzle to the ionization point in the conventional ionization mass spectrometer was 60 mm.
[0035]
In this experiment, the laser light is focused in a spot shape. Comparing FIG. 3 with FIG. 4, it can be seen that the signal intensity is 1500 times higher in the ionization mass spectrometer of the present invention. When the difference in the sensitivity of the microchannel plate used for the detection was corrected, it was found that the ionization mass spectrometer of the present invention was about 6500 times more sensitive.
[0036]
This is because the ionization mass spectrometer of the present invention enables ionization in a high concentration region just below the nozzle (2 mm), the flight distance is 0.12 times shorter than the conventional one, The main factor is that the adjustment of the flight axis became easier.
[0037]
In order to compare the difference in sensitivity between the coaxial type of the ionization mass spectrometer of the present invention and the non-coaxial type of the conventional ionization mass spectrometer, the flight distance was the same (0.14 m). In this case, in the ionization mass spectrometer of the present invention, a laser beam was focused at a position of 10 mm. When the sensitivity was actually measured, a difference of about 50 times was recognized. This is almost consistent with the effect of reducing the molecular density of the sample gas by the square of the distance from the nozzle to the ionization point [(60 mm / 10 mm) 2 = 36 times]. Therefore, it is presumed that the remaining about 100 times is caused by the shortening of the flight distance and the ease of axis adjustment.
[0038]
Next, the laser light was condensed into a spot shape and a slit shape, and the effect of this on the sensitivity was examined.
[0039]
As a result, in the ionization mass spectrometer of the present invention, it was found that when the light was condensed in a slit shape, in the range of 2 to 10 mm from the nozzle, the signal did not decrease toward the downstream, but rather increased slightly. This is presumably because if the ionization region is too small, the ions are diffused due to the repulsion of a large number of ions generated in a limited space and the sensitivity is reduced.
[0040]
In the case of the ionization mass spectrometer of the present invention, the change in the baseline corresponded to a signal of 570 ptpt of chlorobenzene (S / N = 3). As compared with 1.5 ppm of the conventional ionization mass spectrometer, the sensitivity has been improved by 2600 times. It was also confirmed that the ionized mass spectrometer of the present invention can change the cooling state of the sample gas by changing the distance from the nozzle to the ionization point. That is, it was confirmed that the molecules of the sample gas were ionized at 2 mm and 15 mm immediately below the nozzle, and that the MPI spectrum (multiphoton ionization spectrum) was widened immediately below the nozzle.
[0041]
On the other hand, regarding the deformation and damage of the grid, the influence was able to be eliminated by firmly holding the mesh on the electrode with a double-sided tape. At present, no decrease in the sensitivity of the microchannel plate due to contamination has been observed. In addition, the influence of such contamination can be greatly reduced by using the arrangement of the reflection time-of-flight mass spectrometry.
[0042]
According to the present invention, chlorobenzene, which is a precursor of dioxin, can be measured in real time, and the behavior of dioxin in an incinerator can be accurately estimated.
[0043]
Thus, the present invention is extremely useful for highly sensitive and highly selective analysis of dioxins and dioxin-related substances known as environmental pollutants.
[0044]
Next, conditions for highly efficient ionization in the supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer of the present invention will be described.
[0045]
Dioxins are the most harmful chemicals created by humans, with carcinogenic, fetal, teratogenic, mutagenic and other toxicities. In recent years, dioxin emissions from garbage incineration facilities have been pointed out, and elucidation of the dioxin generation mechanism and development of a new waste treatment system that does not generate dioxin have been progressing in response to social demands. However, even if dioxin generation control technology is established, unless the exhaust gas from the incineration facility is continuously monitored at all times, it is possible to quickly detect and respond to large amounts of dioxin emissions due to unexpected accidents. No, it is likely to cause significant environmental pollution. In addition, in the present situation where dioxin generation suppression technology has not been established, continuous monitoring of exhaust gas is a very important problem. However, in the gas chromatograph mass spectrometry currently used, real-time analysis cannot be performed because pretreatment and measurement are complicated. To eliminate the time required for pretreatment and isomer separation in conventional analytical methods, and to enable real-time analysis, a highly selective and highly selective analytical method in which isomer separation is performed instantaneously Is required. The supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometry is expected to be put to practical use as the only method that meets these requirements among the currently known analysis methods.
[0046]
However, in conventional supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometry, molecules of a sample gas are ejected into a vacuum and measurement is performed. It is pointed out that under the influence of the heavy element effect, the excitation lifetime is shortened and the ionization efficiency is reduced.
[0047]
In the present invention, in order to improve the ionization efficiency, when combining the advantages of the resonance ionization method and the ultra-short pulse ionization method, it is determined how effective the laser of which pulse width is to use is the actual molecular jet. Considering the limit of the cooling effect, the energy level model and the rate equation were used.
[0048]
FIG. 5 is a diagram showing a five-level energy level model and a rate equation.
[0049]
In this figure, A is a ground state, B is an intermediately excited state, and ion is an ionized state. Here, it is assumed that the state is relaxed from the B level to the X state with a lifetime τ, and the state becomes a C state (a state that is not a molecular ion due to photodissociation or the like) due to absorption of a photon after ionization. In addition, σ 1 , σ 2 , and σ 4 are absorption cross sections, and σ 3 is a stimulated emission cross section. In addition, the relationship between the excitation lifetime and the resonance absorption line width, and the relationship between the laser pulse width and the line width (in the case of 248 nm excitation) are assumed to be the values shown in Tables 1 and 2, respectively, and the effect of resonance ionization is also examined. did.
[0050]
[Table 1]
Figure 0003571215
[0051]
[Table 2]
Figure 0003571215
6A and 6B are diagrams showing the laser energy dependence of the ion signal. FIG. 6A shows non-resonance, τ = 10 ps, FIG. 6B shows resonance, τ = 10 ps, and FIG. 6C shows resonance, τ. = 100 ps, and FIG. 6D shows resonance and τ = 1 ns, respectively.
[0052]
Here, for simplification, a value of 10 −18 cm 2 , which is an appropriate value for an aromatic molecule, was adopted for all transitions. FIG. 6A shows a case where the resonance effect is not considered. Here, the excitation lifetime was set to 10 ps, and the pulse width of the laser was changed by one digit from 1 ns to 100 fs. FIG. 6A shows that the ionization efficiency is increased with a laser having a pulse width shorter than the excitation lifetime. This suggests that when a pulse shorter than the excitation lifetime is used, highly efficient ionization can be performed before relaxation occurs. In this calculation, the pattern of the graph is determined only by the relative relationship between the excitation lifetime and the pulse width of the laser. That is, a graph in which the pulse width is changed from 10 μs to 100 ps with a lifetime of 1 ns, or a graph in which the pulse width is changed from 10 ps to 100 as (as is 10 −18 seconds) with a lifetime of 10 fs, and this time graph. FIG. 6A shows exactly the same behavior.
[0053]
FIG. 6B shows a case where the lifespan is 10 ps and the resonance effect is considered. The graph of this calculation can also be generalized by the relative relationship between the pulse width of the laser and the excitation lifetime, as in FIG. However, its generalization is only when the lifetime is shorter than 10 ps. When the lifetime is longer than 10 ps, FIGS. 6C and 6D show graphs of the lifetime of 100 ps and 1 ns, respectively, and FIGS. 6B, 6C, and 6D. The graph pattern of is different. This is because, as shown in Table 1, when the lifetime is longer than 10 ps, the resonance absorption line width is all saturated at 0.01 nm in consideration of the actual cooling effect of the jet.
[0054]
6 (b), 6 (c) and 6 (d), when the lifetime is shorter than 10 ps, the ionization efficiency is highest when the lifetime is equal to the pulse width of the laser, and when the lifetime is longer than 10 ps. It has been found that using a pulse of 10 ps is the most efficient.
[0055]
In the ionization mass spectrometry, many researchers have shown the advantage of using the resonance ionization method and the short pulse laser ionization method for improving the ionization efficiency. In particular, the usefulness of the ultrashort pulse laser ionization method has been pointed out (for example, see Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-74479 proposed by the present inventors). However, as the pulse width of an ultrashort pulse laser becomes shorter, the problem arises that the spectral bandwidth of the laser becomes larger due to the uncertainty principle. In the above prior art, no experiment was performed in a wavelength region where the absorption spectrum was sharp, and therefore, reduction in ionization efficiency due to broadening of the laser spectrum width was not considered. However, in order to analyze dioxin and dioxin-related substances, in order to further improve selectivity and ionization efficiency, ionization is performed with a sharp absorption spectrum and a high transition probability, for example, a pure electronic transition (0-0 transition). There is a need. In such a case, the ultrashort pulse laser shown in the prior art works rather disadvantageously, and the condition is not optimal.
[0056]
As described above, according to the high-sensitivity detection method of the present invention, the above-described disadvantages are eliminated, ionization efficiency is improved, and accurate measurement can be performed.
[0057]
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible based on the spirit of the present invention, and these are not excluded from the scope of the present invention.
[0058]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.
[0059]
[A] By aligning the axis for ejecting (generating) sample gas molecules with the axis for flying and detecting generated ions, the distance from the nozzle of the conventional ionization mass spectrometer to the ionization point is greatly increased. The distance can be shortened, ionization can be performed in a high concentration region near the nozzle, and high sensitivity of mass spectrometry can be achieved.
[0060]
[B] More specifically,
(1) Since ionization can be performed in a high concentration region, sensitivity is improved.
[0061]
(2) Even when excited by light having a slit-shaped cross section, the initial distribution of ions is small.
[0062]
(3) Collisions between ions and neutral molecules are small, and the decrease in sensitivity and the decrease in resolution of mass spectrometry are small.
[0063]
(4) Since it is not necessary to deflect ions by the electrodes, adjustment is easy.
[0064]
(5) Since ions are not deflected, there is no difference in flight direction due to differences in molecular weight, and ions of any molecular weight can be measured with the same sensitivity.
[0065]
(6) The cooling state of the sample gas can be changed by changing the distance from the nozzle to the ionization point. As a result, the spectrum width can be adjusted, so that it is possible to avoid such inconveniences that the line width of the absorption spectrum is too narrow and the line width of the laser is too narrow, and the sample molecules cannot be detected due to a slight wavelength mismatch.
[0066]
[C] The distance from the nozzle of the conventional ionization mass spectrometer to the ionization point was 60 mm, but according to the present invention, it can be reduced to 2 to 10 mm, and the ionization is performed in a high concentration region near the nozzle. It can be performed.
[0067]
[D] According to the high sensitivity detection method of the present invention, it is possible to improve ionization efficiency and perform accurate measurement.
[0068]
In particular, dioxin and its dioxin-related substances can be measured accurately and with high sensitivity.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram of a main part of a high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer showing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an overall configuration diagram of a high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer showing an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a characteristic diagram of a signal intensity with respect to a flight time in the case of a conventional ionization mass spectrometer (flight distance: about 1.2 m).
FIG. 4 is a characteristic diagram of the signal intensity with respect to the flight time in the case of the high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer (flight distance: about 0.14 m) of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a five-level energy level model and a rate equation.
FIG. 6 is a diagram showing laser energy dependence of an ion signal.
FIG. 7 is a configuration diagram of a conventional ionization mass spectrometer.
[Explanation of symbols]
Reference Signs List 1 Nozzle 2 Insulating ceramic plate 3 Ionization area 4 A acceleration electrode (repeller electrode)
4B acceleration electrode (lead electrode)
Reference Signs List 5 ion 6 ionization chamber 7, 10 sample gas 11 nozzle 12 insulating ceramic plate 13 repeller electrode 14 support rod 15 high-voltage extraction electrode 16 first ground electrode 17 second ground electrode 18, 19 microchannel for sensing ions Metal plate 20 for holding plate (MCP) Pulsed laser light

Claims (4)

高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置において、
(a)試料ガスを出するノズルと、
(b)該ノズルの近傍で前記ノズルの方向に対して電極面が垂直に配置されるリペラー電極により前記ノズルから噴出・導入された分子ジェットを前記ノズルの方向に直進させるとともに、前記リペラー電極とその後段に配置されるイオン加速手段との間の領域であって、前記ノズルから2mm〜10mmの距離でイオン化を行う領域と、
)前記ノズル軸方向の位置に配置され前記イオンを検出する検出装置とを具備することを特徴とする高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置。
In a high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer,
A nozzle for exit injection: (a) a sample gas,
(B) a repeller electrode whose electrode surface is arranged perpendicular to the axial direction of the nozzle in the vicinity of the nozzle to cause the molecular jet ejected / introduced from the nozzle to travel straight in the direction of the nozzle, and the repeller electrode And a region between the ion accelerating means arranged in the subsequent stage, and a region for performing ionization at a distance of 2 mm to 10 mm from the nozzle,
( C ) a high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer, comprising: a detector arranged at an axial position of the nozzle to detect the ions.
請求項1記載の高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置において、前記イオン加速手段は第1のグランド電極と引き出し電極とを同一直線上に配置し、前記検出装置は第2のグランド電極とマイクロチャンネルプレートと信号出力部とを同一直線上に配置することを特徴とする高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置。2. The high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer according to claim 1, wherein said ion acceleration means arranges a first ground electrode and an extraction electrode on the same straight line, and said detection device uses a second ground electrode. A high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer, wherein the microchannel plate and the signal output section are arranged on the same straight line. 高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置による高感度検出方法において、
試料ガスを導出するノズルの近傍で、前記ノズルの方向に対して電極面が垂直リペラー電極を配置し、前記ノズルから噴出・導入された分子ジェットを前記ノズルの方向に直進させるとともに、前記リペラー電極とその後段に配置されるイオン加速手段との間の領域であって、前記ノズルから2mm〜10mmの領域でイオン化を行い、前記ノズル軸方向の位置に配置される検出装置で前記イオンを検出することを特徴とする高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置による高感度検出方法。
In a high sensitivity detection method using a high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer,
In the vicinity of the nozzle to derive a sample gas, the electrode surface is arranged perpendicular repeller electrode with respect to the axial direction of the nozzle, causes the straight molecules jet ejected, introduced from the nozzle in the direction of the nozzle, the In a region between the repeller electrode and an ion accelerating means disposed at a subsequent stage , ionization is performed in a region of 2 mm to 10 mm from the nozzle , and the ion is detected by a detection device disposed at a position in the axial direction of the nozzle. A high-sensitivity detection method using a high-sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization mass spectrometer, characterized by detecting the following.
請求項3記載の高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置による高感度検出方法において、前記試料ガスはダイオキシン及びそのダイオキシン関連物質であることを特徴とする高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置による高感度検出方法。4. A high sensitivity supersonic molecular jet multiphoton ionization method according to claim 3, wherein said sample gas is dioxin and a dioxin-related substance. High sensitivity detection method using mass spectrometer.
JP13959098A 1998-05-21 1998-05-21 High sensitivity supersonic molecular jet multi-photon ionization mass spectrometer and its high sensitivity detection method Expired - Fee Related JP3571215B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13959098A JP3571215B2 (en) 1998-05-21 1998-05-21 High sensitivity supersonic molecular jet multi-photon ionization mass spectrometer and its high sensitivity detection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13959098A JP3571215B2 (en) 1998-05-21 1998-05-21 High sensitivity supersonic molecular jet multi-photon ionization mass spectrometer and its high sensitivity detection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11329345A JPH11329345A (en) 1999-11-30
JP3571215B2 true JP3571215B2 (en) 2004-09-29

Family

ID=15248821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13959098A Expired - Fee Related JP3571215B2 (en) 1998-05-21 1998-05-21 High sensitivity supersonic molecular jet multi-photon ionization mass spectrometer and its high sensitivity detection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3571215B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4906403B2 (en) * 2006-05-24 2012-03-28 新日本製鐵株式会社 Jet-REMPI system for gas analysis
JP7078382B2 (en) * 2017-11-22 2022-05-31 藤太郎 今坂 Time-of-flight mass spectrometer and mass spectrometry method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11329345A (en) 1999-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Carson et al. On-line chemical analysis of aerosols by rapid single-particle mass spectrometry
Becker et al. Surface analysis by nonresonant multiphoton ionization of desorbed or sputtered species
US20150069254A1 (en) Sample analyzing system
Passig et al. Laser ionization in single‐particle mass spectrometry
JP3571215B2 (en) High sensitivity supersonic molecular jet multi-photon ionization mass spectrometer and its high sensitivity detection method
Gaie-Levrel et al. Development and characterization of a single particle laser ablation mass spectrometer (SPLAM) for organic aerosol studies
Tonokura et al. Development of a compact laser-based single photon ionization time-of-flight mass spectrometer
LaFranchi et al. A comprehensive characterization of photoelectron resonance capture ionization aerosol mass spectrometry for the quantitative and qualitative analysis of organic particulate matter
JPS6355846A (en) Secondary neutral particle mass spectrometer
KR100691404B1 (en) Non-linear ion post-focusing apparatus and mass spectrometer which uses the apparatus
JP2011233248A (en) Laser ionization mass spectroscope
Ledingham The use of lasers to detect strategic and environmentally sensitive materials
He et al. Chemical intermediate detection following corona discharge on volatile organic compounds: general method using molecular beam techniques
Schröder et al. Surface analysis by laser ionization
JP4906403B2 (en) Jet-REMPI system for gas analysis
JP2640935B2 (en) Surface inspection method and device
CN112074927A (en) Apparatus and method for mass spectrometry of particles
JP4035580B2 (en) Particle analyzer
JP3664977B2 (en) Chemical substance detection device
JP2000088809A (en) Detecting method and detecting device for specific atom in solid
JP2941762B2 (en) Dioxin analyzer
CN114112818B (en) Aerosol particle ionization method, ionization system and mass spectrometry device
US20070108391A1 (en) Method of analyzing dioxins
JP2002189018A (en) Detection device for chemical substance
JP2877300B1 (en) Dioxin analyzer and analysis method

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20031031

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20031210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040302

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040423

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040622

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040623

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080702

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090702

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100702

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110702

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110702

Year of fee payment: 7

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110702

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees