JP3527844B2 - Multi-branch optical line test method and apparatus - Google Patents

Multi-branch optical line test method and apparatus

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JP3527844B2 JP06013198A JP6013198A JP3527844B2 JP 3527844 B2 JP3527844 B2 JP 3527844B2 JP 06013198 A JP06013198 A JP 06013198A JP 6013198 A JP6013198 A JP 6013198A JP 3527844 B2 JP3527844 B2 JP 3527844B2
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    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • G01M11/3136Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers

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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の回線(光線
路)に分岐した多分岐光線路について、該多分岐光線路
の障害発生時刻,障害発生回線および障害発生距離を測
定する多分岐光線路試験方法および装置に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-branch optical line for branching a plurality of lines (optical lines) to measure a fault occurrence time, a fault occurrence line and a fault occurrence distance of the multi-branch optical line. The present invention relates to a road test method and apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】図10は、従来の多分岐光線路試験装置
の構成例を示すブロック図である。この多分岐光線路試
験装置は、1.31/1.55波長多重伝送システムに
設けられた8分岐型光線路について、該光線路の故障切
分けの試験を行うものである。この図において、OTD
R測定器1から出射された試験光(1.6μm帯)は、
カプラ2を介して光線路3に入射し、スターカプラ4に
よって分岐された後、光ファイバfb1〜fb8に分配
される。
2. Description of the Related Art FIG. 10 is a block diagram showing a configuration example of a conventional multi-branching optical line test apparatus. This multi-branch optical line test device is for performing a fault isolation test of the 8-branch optical line provided in the 1.31 / 1.55 wavelength division multiplexing transmission system. In this figure, OTD
The test light (1.6 μm band) emitted from the R measuring device 1 is
The light enters the optical line 3 via the coupler 2, is branched by the star coupler 4, and is then distributed to the optical fibers fb1 to fb8.

【0003】各光ファイバfb1〜fb8のONU(Op
tical Network Unit:加入者ネットワーク装置)の手前
には、フィルタ41〜48が各々設けられている。フィ
ルタ41〜48は、各ONUに対する信号光のみを通過
させ、試験光を反射する通過帯域特性を有している。し
たがって、光ファイバfb1〜fb8を進んできた各試
験光は、これらのフィルタ41〜48によって反射さ
れ、各フィルタ41〜48の反射光が光ファイバfb1
〜fb8を逆戻りすることとなる。そして、これらの反
射光は、スターカプラ4を通過することにより合波さ
れ、カプラ2を介して応答光としてOTDR測定器1に
戻される。このようにして戻された応答光は、OTDR
測定器1によって解析される。
ONU (Op of each optical fiber fb1 to fb8
Filters 41 to 48 are respectively provided in front of a (tical network unit). The filters 41 to 48 have a pass band characteristic of passing only the signal light for each ONU and reflecting the test light. Therefore, the test lights that have traveled through the optical fibers fb1 to fb8 are reflected by these filters 41 to 48, and the reflected lights of the filters 41 to 48 are optical fibers fb1.
~ Fb8 will be reversed. Then, these reflected lights are combined by passing through the star coupler 4, and returned to the OTDR measuring device 1 as response light via the coupler 2. The response light returned in this way is OTDR
It is analyzed by the measuring instrument 1.

【0004】図11は、OTDR測定器1によって観測
される応答光の波形例を示すグラフである。この図に示
す波形は、上記応答光の時系列的変化を示すものである
が、図11では、該応答光の伝播時間に光の伝送速度を
乗じた値(すなわち、応答光が伝播してきた光ファイバ
の長さ)を横軸としている。ここで、応答光は、各フィ
ルタ41〜48の反射光が合波されたものであるが、こ
れらのフィルタ41〜48は、OTDR測定器1からの
距離が互いに異なる位置に設けられている。従って、O
TDR測定器1によって観測される各フィルタ41〜4
8からの反射光は時間軸上において重ならず、各々分離
して観測されることとなる。図11では、最も左側に示
されている波形Rがスターカプラ4からの反射光であ
り、該波形Rから右側に向かって順に、光ファイバfb
1〜fb8を介してOTDR測定器1に戻される反射光
の波形が表示されている。
FIG. 11 is a graph showing an example of a waveform of response light observed by the OTDR measuring device 1. The waveform shown in this figure shows a time-series change of the response light, but in FIG. 11, a value obtained by multiplying the propagation time of the response light by the transmission speed of the light (that is, the response light has propagated). The length of the optical fiber is the horizontal axis. Here, the response light is obtained by combining the reflected lights of the filters 41 to 48, and these filters 41 to 48 are provided at positions different in distance from the OTDR measuring device 1. Therefore, O
Each filter 41 to 4 observed by the TDR measuring device 1
The reflected lights from 8 do not overlap on the time axis and are observed separately. In FIG. 11, the waveform R shown on the leftmost side is the reflected light from the star coupler 4, and the optical fiber fb is sequentially arranged from the waveform R toward the right side.
The waveform of the reflected light returned to the OTDR measuring instrument 1 via 1 to fb8 is displayed.

【0005】図12は、OTDR測定器1によって観測
される応答光のうち光ファイバfb6〜fb8を介して
戻ってきた反射光の波形を拡大して示したグラフであ
る。ここで、図12(a)は、いずれの光ファイバにも
障害が発生していない場合を示し、図12(b)は、光
ファイバfb7に3dBの曲げ損失を付与して障害をシ
ミュレートした場合を示している。これらの図に示すよ
うに、光ファイバfb7については、障害を模擬的に発
生させたことにより、反射光の強度の低下が生じている
ことが分かる。
FIG. 12 is an enlarged graph showing the waveform of the reflected light returned from the response light observed by the OTDR measuring device 1 via the optical fibers fb6 to fb8. Here, FIG. 12A shows a case where no failure occurs in any optical fiber, and FIG. 12B shows a failure simulated by giving a bending loss of 3 dB to the optical fiber fb7. The case is shown. As shown in these figures, it can be seen that, with respect to the optical fiber fb7, the intensity of the reflected light is reduced due to the simulated occurrence of the failure.

【0006】このように、図10に示す構成によれば、
OTDR測定器1に戻ってくる応答光中の各反射光の強
度を解析することにより、光線路に生じた障害を検出す
ることができる。なお、この技術については、1994
年電子情報通信学会秋期大会における論文B−846
「分岐型光線路の1.6μm帯故障切り分け試験技術」
に開示されている。
As described above, according to the configuration shown in FIG.
By analyzing the intensity of each reflected light in the response light returning to the OTDR measuring device 1, it is possible to detect the fault occurring in the optical line. Regarding this technology, 1994
Paper B-846 at the IEICE Autumn Meeting
"1.6μm band fault isolation test technology for branch type optical line"
Is disclosed in.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の多分岐光線路試験装置においては、障害が発生した
光線路を特定することはできるが、該光線路における障
害発生点の距離(位置)は検出できない、という課題が
あった。また、上述した従来の多分岐光線路試験装置に
おいては、分岐した各光ファイバについて、該光ファイ
バに設置するフィルタを、カプラから該フィルタまでの
間隔が互いに異なるように設置しなければならないの
で、ファイバ長が制限されてしまう、という課題があっ
た。さらに、上述した従来の多分岐光線路試験装置にお
いては、各光ファイバにそれぞれフィルタを設けなくて
はならないので、システムが高コストになる、という課
題があった。
By the way, in the above-mentioned conventional multi-branched optical line test apparatus, the optical line in which a fault has occurred can be specified, but the distance (position) of the fault occurrence point in the optical line. There was a problem that could not be detected. Further, in the above-mentioned conventional multi-branched optical line test apparatus, for each branched optical fiber, the filter to be installed in the optical fiber, it is necessary to install so that the distance from the coupler to the filter is different from each other, There is a problem that the fiber length is limited. Further, in the above-mentioned conventional multi-branched optical line test device, there is a problem that the system becomes expensive because a filter must be provided for each optical fiber.

【0008】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、多分岐光線路の障害発生時刻,障害発生回線
および障害発生距離を自動的に検出することができる多
分岐光線路試験方法および装置を提供することを目的と
する。
The present invention has been made under such a background, and a multi-branch optical line test method capable of automatically detecting a fault occurrence time, a fault occurrence line and a fault occurrence distance of the multi-branch optical line. And to provide a device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
複数の光線路に分岐した多分岐光線路の分岐点に光パル
スを導入する第1の過程と、前記各光線路の各部におけ
る前記光パルスの反射光が重なった応答光を受光する第
2の過程と、前記応答光を電気信号に変換した波形デー
タを対数変換する第3の過程と、対数変換された波形デ
ータに対して、近似直線を計算する第4の過程と、対数
変換された波形データと前記近似直線とを比較して、前
記波形データにおけるフレネル反射点を検出する第5の
過程と、前記フレネル反射点を分割点として、前記波形
データを分割する第6の過程と、分割された各範囲につ
いて減衰定数分離解析を行い、各光線路の減衰定数を算
出する第7の過程と、算出した減衰定数を、測定時刻に
対応させて記憶装置に格納する第8の過程と、前記第1
の過程から前記第8の過程が一定時間毎に繰り返し行わ
れた後、前記記憶装置に格納されている減衰定数の変化
に基づいて、前記多分岐光線路における障害発生時刻,
障害発生回線および障害発生距離を判断する第9の過程
とを具備することを特徴とする。請求項2記載の発明
は、請求項1記載の多分岐光線路試験方法において、前
記第3の過程における対数変換式は、yn =5log
(xn )ただし、xn は前記波形データ、yn は対数変
換された波形データであることを特徴とする。請求項3
記載の発明は、請求項1または請求項2のいずれかに記
載の多分岐光線路試験方法において、前記第5の過程
は、対数変換された波形データと前記近似直線との交点
に基づいて、前記フレネル反射点を検出することを特徴
とする。請求項4記載の発明は、請求項1ないし請求項
3のいずれかに記載の多分岐光線路試験方法において、
前記第9の過程は、前記減衰定数を各測定時刻間で比較
し、減衰定数が変化すると、障害が発生したと判断し、
減衰定数が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断し、
減衰定数が変化した位置を反射ピークの距離を判断し、
該反射ピークの距離が変化した光線路を障害発生回線と
判断し、変化後の反射ピークの距離を障害発生距離と判
断することを特徴とする。請求項5記載の発明は、複数
の光線路に分岐した多分岐光線路の分岐点に光パルスを
導入する発光手段と、前記各光線路の各部における前記
光パルスの反射光が重なった応答光を受光する受光手段
と、前記応答光を電気信号に変換した波形データを対数
変換する変換手段と、対数変換された波形データに対し
て、近似直線を計算する近似手段と、対数変換された波
形データと前記近似直線とを比較して、前記波形データ
におけるフレネル反射点を検出する比較手段と、前記フ
レネル反射点を分割点として、前記波形データを分割す
る分割手段と、分割された各範囲について減衰定数分離
解析を行い、各光線路の減衰定数を算出する解析手段
と、算出した減衰定数を、測定時刻に対応させて記憶装
置に格納する書込手段と、前記各手段による処理が一定
時間毎に繰り返し行われた後、前記記憶装置に格納され
ている減衰定数に基づいて、前記多分岐光線路における
障害発生時刻,障害発生回線および障害発生距離を判断
する判断手段とを具備することを特徴とする。請求項6
記載の発明は、請求項5記載の多分岐光線路試験装置に
おいて、前記変換手段における対数変換式は、yn =5
log(xn )ただし、xn は前記波形データ、yn は
対数変換された波形データであることを特徴とする。請
求項7記載の発明は、請求項5または請求項6のいずれ
かに記載の多分岐光線路試験装置において、前記比較手
段は、対数変換された波形データと前記近似直線との交
点に基づいて、前記フレネル反射点を検出することを特
徴とする。請求項8記載の発明は、請求項5ないし請求
項7のいずれかに記載の多分岐光線路試験装置におい
て、前記判断手段は、前記減衰定数を各測定時刻間で比
較し、減衰定数が変化すると、障害が発生したと判断
し、減衰定数が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断
し、減衰定数が変化した位置を反射ピークの距離を判断
し、該反射ピークの距離が変化した光線路を障害発生回
線と判断し、変化後の反射ピークの距離を障害発生距離
と判断することを特徴とする。
The invention according to claim 1 is
A first process of introducing an optical pulse into a branch point of a multi-branched optical line branched into a plurality of optical lines, and a second process of receiving response light in which reflected light of the optical pulse in each part of each optical line overlaps Process, a third process of logarithmically converting the waveform data obtained by converting the response light into an electric signal, a fourth process of calculating an approximate straight line for the logarithmically converted waveform data, and a logarithmically converted waveform. A fifth step of comparing the data with the approximate straight line to detect a Fresnel reflection point in the waveform data; and a sixth step of dividing the waveform data using the Fresnel reflection point as a division point. And a seventh step of calculating an attenuation constant of each optical line by performing an attenuation constant separation analysis for each range, and an eighth step of storing the calculated attenuation constant in a storage device in association with a measurement time, First
After the eighth step is repeated at regular intervals, the failure occurrence time in the multi-branched optical line is determined based on the change in the attenuation constant stored in the storage device.
And a ninth step of determining a fault occurrence line and a fault occurrence distance. According to a second aspect of the present invention, in the multi-branched optical line test method according to the first aspect, the logarithmic conversion formula in the third step is yn = 5log.
(Xn) where xn is the waveform data and yn is logarithmically converted waveform data. Claim 3
A fifth aspect of the present invention is the method for testing a multi-branched optical line according to any one of the first and second aspects, wherein the fifth step is based on an intersection between the logarithmically converted waveform data and the approximate straight line. The Fresnel reflection point is detected. The invention according to claim 4 is the method for testing a multi-branched optical line according to any one of claims 1 to 3,
In the ninth step, the attenuation constants are compared between measurement times, and when the attenuation constants change, it is determined that a failure has occurred,
Judge that the measurement time when the damping constant has changed is the time of failure occurrence,
Judge the distance of the reflection peak at the position where the attenuation constant has changed ,
It is characterized in that the optical line in which the distance of the reflection peak has changed is determined to be the failure occurrence line, and the distance of the reflection peak after change is determined to be the failure occurrence distance. According to a fifth aspect of the present invention, light emitting means for introducing an optical pulse into a branch point of a multi-branched optical line branched into a plurality of optical lines, and response light in which reflected light of the optical pulse in each part of each optical line overlap. Light receiving means, a converting means for logarithmically converting the response light into an electric signal, and an approximation means for calculating an approximate straight line for the logarithmically converted waveform data, and a logarithmically converted waveform. Comparing the data and the approximate straight line, comparing means for detecting a Fresnel reflection point in the waveform data, dividing means for dividing the waveform data using the Fresnel reflection point as a division point, and for each divided range Analyzing means for performing attenuation constant separation analysis to calculate the attenuation constant of each optical line, writing means for storing the calculated attenuation constant in a storage device in correspondence with the measurement time, and processing by the above-mentioned means. And a failure occurrence time, a failure occurrence line, and a failure occurrence distance in the multi-branched optical line based on an attenuation constant stored in the storage device. It is characterized by doing. Claim 6
According to a fifth aspect of the present invention, in the multi-branched optical line test apparatus according to the fifth aspect, the logarithmic conversion formula in the conversion means is yn = 5.
log (xn) where xn is the waveform data and yn is logarithmically converted waveform data. According to a seventh aspect of the present invention, in the multi-branched optical line test apparatus according to the fifth aspect or the sixth aspect, the comparison means is based on an intersection between the logarithmically converted waveform data and the approximate straight line. , The Fresnel reflection point is detected. The invention according to claim 8 is the multi-branched optical line test apparatus according to any one of claims 5 to 7, wherein the determination means compares the attenuation constants between measurement times, and the attenuation constants change. Then, it is determined that a failure has occurred, the measurement time at which the attenuation constant has changed is determined to be the failure occurrence time, the position at which the attenuation constant has changed is determined as the distance of the reflection peak, and the optical path where the distance of the reflection peak has changed is determined. Is determined to be the fault occurrence line, and the distance of the reflection peak after the change is determined to be the fault occurrence distance.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施形態について説明する。図1は、この発明の一実
施形態による多分岐光線路試験装置の構成例を示すブロ
ック図である。この図において、MS1はOTDR測定
器であり、SW1はデータ解析を行う為のソフトウェア
が格納されたメモリである。また、FB1〜FB4はそ
れぞれ分岐光ファイバであり、ED1〜ED4はそれぞ
れ各分岐光ファイバの終端器である。また、CP1は光
カプラであり、CN1〜CN4は、該光カプラCP1と
分岐光ファイバFB1〜FB4とを接続するコネクタで
あり、CN5は、該光カプラCP1とOTDR測定器M
S1とを接続するコネクタである。上記光カプラCP
1,分岐光ファイバFB1〜FB4および終端器ED1
〜ED4は、本実施形態における試験対象を構成してい
る。そして、この試験対象に対し、カプラCP1を介し
て接続されたOTDR測定器MS1、および、該OTD
R測定器MS1が実行するソフトウェアを格納したメモ
リSW1が、本実施形態に係る多分岐光線路試験装置を
構成している。なお、図1には示されていないが、本装
置は、OTDR測定器MS1の測定結果を記憶する大容
量の測定結果記憶装置(ハードディスク等)を有してい
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a multi-branching optical line test apparatus according to an embodiment of the present invention. In this figure, MS1 is an OTDR measuring device, and SW1 is a memory in which software for data analysis is stored. FB1 to FB4 are branch optical fibers, and ED1 to ED4 are terminators of the branch optical fibers. Further, CP1 is an optical coupler, CN1 to CN4 are connectors for connecting the optical coupler CP1 and the branched optical fibers FB1 to FB4, and CN5 is the optical coupler CP1 and the OTDR measuring device M.
It is a connector for connecting to S1. Optical coupler CP
1, branch optical fibers FB1 to FB4 and terminator ED1
~ ED4 constitutes a test target in the present embodiment. Then, with respect to this test object, the OTDR measuring device MS1 connected through the coupler CP1 and the OTD
The memory SW1 storing the software executed by the R measuring device MS1 constitutes the multi-branched optical line test apparatus according to the present embodiment. Although not shown in FIG. 1, the present apparatus has a large-capacity measurement result storage device (hard disk or the like) that stores the measurement result of the OTDR measuring device MS1.

【0011】次に、上記構成による多分岐光線路試験装
置の動作を説明する。 (1)OTDR波形データの取り込み OTDR測定器MS1が光パルスを出射すると、該光パ
ルスは光カプラCP1で分割され、各分岐光ファイバF
B1〜FB4に入射する。それぞれの分岐光ファイバF
B1〜FB4で生じた後方散乱光は、光カプラCP1で
重なり、応答光としてOTDR測定器MS1に戻る。こ
の応答光は、OTDR測定器MS1内部で、そのレベル
に応じた電気信号に変換される。変換された電気信号
は、OTDR波形データ(デジタル波形データ)として
メモリに保存される。
Next, the operation of the multi-branched optical line testing device having the above-mentioned configuration will be described. (1) Acquisition of OTDR waveform data When the OTDR measuring device MS1 emits an optical pulse, the optical pulse is split by the optical coupler CP1 and each branched optical fiber F
It is incident on B1 to FB4. Each branch optical fiber F
The backscattered light generated in B1 to FB4 is overlapped by the optical coupler CP1 and returns to the OTDR measuring device MS1 as response light. The response light is converted into an electric signal according to the level inside the OTDR measuring device MS1. The converted electric signal is stored in the memory as OTDR waveform data (digital waveform data).

【0012】図2は、いずれの分岐光ファイバにも障害
が発生していない場合におけるOTDR波形データの一
例を示すグラフである。この図において、横軸は距離を
示し、該横軸上において各データを示す点(ポイント)
は、1点が2mに対応している。すなわち、例えば、2
0000ポイントは40km(=2m×20000)に
対応する。また、この図において、縦軸は各分岐光ファ
イバFB1〜FB4の後方散乱光のレベルを示す。な
お、このOTDR波形データは、各分岐光ファイバFB
1〜FB4の後方散乱光が様々重なったものである。ま
た、図2において、ED1〜ED4は、それぞれ、各分
岐光ファイバFB1〜FB4の終端器における反射ピー
クの波形である。一方、CPは、カプラCP1におい
て、各分岐光ファイバFB1〜FB4に接続するコネク
タの反射ピークの波形である。
FIG. 2 is a graph showing an example of OTDR waveform data when no fault has occurred in any of the branch optical fibers. In this figure, the horizontal axis indicates distance, and points on the horizontal axis indicating each data (point)
The point corresponds to 2 m. That is, for example, 2
0000 points correspond to 40 km (= 2 m × 20000). In addition, in this figure, the vertical axis represents the level of the backscattered light of each of the branch optical fibers FB1 to FB4. This OTDR waveform data is used for each branch optical fiber FB.
The backscattered lights of 1 to FB4 are variously overlapped. Further, in FIG. 2, ED1 to ED4 are waveforms of reflection peaks at the terminators of the branched optical fibers FB1 to FB4, respectively. On the other hand, CP is a waveform of the reflection peak of the connector connected to each of the branched optical fibers FB1 to FB4 in the coupler CP1.

【0013】(2)波形解析 図3は、本試験装置によるOTDR波形データの解析処
理の一例を示すフローチャートである。まず、ステップ
S1では、OTDR波形データ(リニア波形データ:図
2の波形)を対数波形データへ変換する。本実施形態に
おける対数波形データへの変換式は、下記の式(1)で
ある。 yn =5log(xn ) ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1) ここで、xn は、OTDR測定器MS1によって受信さ
れる後方散乱光のレベル(光パワー)を示す。また、x
n の添え字nは、図2に示すグラフの横軸上における各
ポイントの番号(n=1,2,3、……,20000)
を示す。すなわち、xn において、x1 は図2に示すグ
ラフにおける2m(=2m×1)地点からの後方散乱光
のレベルを表し、x20000 は40km(=2m×200
00)地点からの後方散乱光のレベルを表している。式
(1)により、20000個のリニア波形データxn
は、20000個の対数データyn に変換される。図4
は、図2に示すグラフ(リニア波形データ)を対数波形
データに変換したグラフである。
(2) Waveform Analysis FIG. 3 is a flow chart showing an example of an OTDR waveform data analysis process by the test apparatus. First, in step S1, OTDR waveform data (linear waveform data: waveform of FIG. 2) is converted into logarithmic waveform data. The conversion formula to logarithmic waveform data in the present embodiment is the following formula (1). yn = 5log (xn) (1) where xn is the level of the backscattered light (optical power) received by the OTDR measuring instrument MS1. ) Is shown. Also, x
The subscript n of n is the number of each point on the horizontal axis of the graph shown in FIG. 2 (n = 1, 2, 3, ..., 20000)
Indicates. That is, in xn, x1 represents the level of backscattered light from the 2m (= 2m × 1) point in the graph shown in FIG. 2, and x20000 represents 40km (= 2m × 200).
00) represents the level of backscattered light. 20,000 linear waveform data xn according to equation (1)
Is converted into 20000 logarithmic data yn. Figure 4
3 is a graph obtained by converting the graph (linear waveform data) shown in FIG. 2 into logarithmic waveform data.

【0014】ステップS2では、図4に示す対数波形デ
ータに対して、最小2乗近似法を用いて、近似直線y=
a1 ・d+b1 (図4の直線D1)の定数a1 およびb
1 を計算する。次に、図4に示すように、該近似直線D
1が対数変換後の波形と交わる点をPu0,Pd0,P
u1,Pd1,……,Pu4,Pd4とし、これらの交
点の距離d(Pu0),d(Pd0),……,d(Pd
4)を計算する。そして、距離d(Pu0),d(Pd
0)に基づいて、反射ピークCPの立ち上がり点PU0
および立ち下がり点PD0の距離を計算する。同様の方
法で、反射ピークED1〜ED4の立ち上がり点PU1
〜PU4および立ち下がり点PD1〜PD4の距離を計
算する。
In step S2, an approximate straight line y = is applied to the logarithmic waveform data shown in FIG. 4 by using the least squares approximation method.
a1 · d + b1 (straight line D1 in FIG. 4) constants a1 and b
Calculate 1. Next, as shown in FIG.
The points where 1 intersects the waveform after logarithmic conversion are Pu0, Pd0, P
u1, Pd1, ..., Pu4, Pd4, and the distances d (Pu0), d (Pd0), ..., d (Pd
4) is calculated. Then, the distances d (Pu0), d (Pd
0) based on the rising point PU0 of the reflection peak CP
And the distance of the falling point PD0 is calculated. In the same manner, the rising points PU1 of the reflection peaks ED1 to ED4
~ PU4 and the distances of the falling points PD1 to PD4 are calculated.

【0015】ステップS3では、上記反射ピーク(フレ
ネル反射点)を分割点として、図2に示すOTDR波形
データを分割する。本実施形態では、図2に示すOTD
R波形データは、下記の範囲(L1〜L4)に分割され
る。 L1:点PD0−点PU1間 L2:点PD1−点PU2間 L3:点PD2−点PU3間 L4:点PD3−点PU4間 波形分割後、それぞれの範囲L1〜L4について減衰定
数分離解析を行い、減衰定数を算出する。図5は、いず
れの分岐光ファイバにも障害が発生していない場合にお
ける減衰定数とその判断の一例を示す表である。
In step S3, the OTDR waveform data shown in FIG. 2 is divided using the reflection peak (Fresnel reflection point) as a division point. In this embodiment, the OTD shown in FIG.
The R waveform data is divided into the following ranges (L1 to L4). L1: between point PD0 and point PU1 L2: between point PD1 and point PU2 L3: between point PD2 and point PU3 L4: between point PD3 and point PU4 After the waveform division, attenuation constant separation analysis is performed for each range L1 to L4, Calculate the damping constant. FIG. 5 is a table showing an example of an attenuation constant and its determination when no failure occurs in any of the branch optical fibers.

【0016】ステップS4では、ステップS3で算出さ
れた減衰定数を、測定結果記憶装置(図示略)に格納す
る。なお、以上説明したステップS1〜S4の処理は、
一定時間毎に繰り返される。本実施形態では、一定時間
毎に一回の測定を行うので、各測定時刻をt1 ,t2 ,
……,tk ,tk+1 ,tk+2 ,……とする。この測定時
刻は、ステップS4において、該測定時刻に測定された
減衰定数と共に、測定結果記憶装置に記録される。
In step S4, the attenuation constant calculated in step S3 is stored in the measurement result storage device (not shown). The processing of steps S1 to S4 described above is
It is repeated at regular intervals. In the present embodiment, since the measurement is performed once at a fixed time, the measurement times are t1, t2,
..., tk, tk + 1, tk + 2, .... This measurement time is recorded in the measurement result storage device together with the attenuation constant measured at the measurement time in step S4.

【0017】ここで、例えば、図6に示すように、時刻
tk+1 において、分岐光ファイバFB3の×点で障害が
発生した場合を考える。この場合、OTDR測定器MS
1に取り込まれるOTDR波形データは、図2に示す波
形から図7に示す波形に変化する。図7において、ED
3’は、分岐光ファイバFB3の×点における反射ピー
クの波形である。
Here, for example, as shown in FIG. 6, consider a case where a failure occurs at point x of the branch optical fiber FB3 at time tk + 1. In this case, the OTDR measuring device MS
The OTDR waveform data captured in 1 changes from the waveform shown in FIG. 2 to the waveform shown in FIG. In FIG. 7, ED
3'is a waveform of a reflection peak at the point x of the branched optical fiber FB3.

【0018】図7に示すOTDR波形データの取り込み
後、処理はステップS1(図3参照)に進み、該OTD
R波形データ(リニア波形データ)は、図8に示す対数
波形データに変換される。次に、ステップS2では、図
8に示す対数波形データに対して、最小2乗近似法を用
いて、近似直線y=a2 ・d+b2 (図8の直線D2)
の定数a2 およびb2 を計算する。そして、障害が発生
していない場合(図4参照)と同様の方法で、反射ピー
クCP〜ED4の立ち上がり点PU0’〜PU4’およ
び立ち下がり点PD0’〜PD4’の距離を計算する。
After capturing the OTDR waveform data shown in FIG. 7, the process proceeds to step S1 (see FIG. 3), and
The R waveform data (linear waveform data) is converted into logarithmic waveform data shown in FIG. Next, in step S2, an approximate straight line y = a2.d + b2 (straight line D2 in FIG. 8) is applied to the logarithmic waveform data shown in FIG. 8 by using the least squares approximation method.
The constants a2 and b2 of Then, the distances between the rising points PU0 ′ to PU4 ′ and the falling points PD0 ′ to PD4 ′ of the reflection peaks CP to ED4 are calculated by the same method as in the case where no failure has occurred (see FIG. 4).

【0019】ステップS3では、上記反射ピーク(フレ
ネル反射点)を分割点として、図7に示すOTDR波形
データをL1’〜L4’に分割し、それぞれの範囲L
1’〜L4’について減衰定数分離解析を行う。図9
は、分岐光ファイバFB3で障害が発生した場合におけ
る減衰定数とその判断の一例を示す表である。ステップ
S4では、ステップS3で算出された減衰定数を、測定
時刻tk+1における測定結果として、測定結果記憶装置
(図示略)に記憶する。以上、ステップS1〜S4の処
理を繰り返すことにより、測定結果記憶装置には、測定
時刻t1 〜tk における減衰定数(図5参照)と、測定
時刻tk+1 における減衰定数(図9参照)とが格納され
ることとなる。
In step S3, the OTDR waveform data shown in FIG. 7 is divided into L1 'to L4' using the reflection peak (Fresnel reflection point) as a division point, and each range L is divided.
A damping constant separation analysis is performed for 1 ′ to L4 ′. Figure 9
[Fig. 6] is a table showing an example of an attenuation constant and its determination when a failure occurs in the branch optical fiber FB3. In step S4, the attenuation constant calculated in step S3 is stored in the measurement result storage device (not shown) as the measurement result at the measurement time tk + 1. As described above, by repeating the processes of steps S1 to S4, the measurement result storage device stores the attenuation constants at the measurement times t1 to tk (see FIG. 5) and the attenuation constants at the measurement time tk + 1 (see FIG. 9). Will be stored.

【0020】上記ステップS1〜S4の処理の終了後、
ステップS5では、測定結果記憶装置(図示略)に格納
されている減衰定数に基づいて、障害発生時刻,障害発
生回線および障害発生距離を判断する。この判断処理に
ついて、上記障害(時刻tk+1 において、分岐光ファイ
バFB3の×点で障害が発生した場合:図6参照)を例
に取って説明する。この場合、時刻t1 →時刻tk で
は、減衰定数の変化がないので(図5参照)、障害は発
生していないと判断する。一方、時刻tk →時刻tk+1
では、減衰定数が変化するので(図5→図9)、障害が
発生したと判断する。このとき、減衰定数の変化は時刻
tk →時刻tk+1 の間で発生したので、この時刻間に障
害が発生したと判断する。また、障害発生回線について
は、反射ピークの位置が変化した分岐光ファイバFB3
が障害発生回線であると判断する。また、障害発生距離
(位置)については、該障害発生距離は反射ピークED
3’の距離と判断する。以上説明したように、本試験装
置は、多分岐光線路の障害発生時刻,障害発生回線およ
び障害発生距離を自動的に検出することができる。
After the processing of steps S1 to S4 is completed,
In step S5, the failure occurrence time, the failure occurrence line, and the failure occurrence distance are determined based on the attenuation constant stored in the measurement result storage device (not shown). This determination processing will be described by taking the above-described failure (when a failure occurs at the point x of the branch optical fiber FB3 at time tk + 1: see FIG. 6) as an example. In this case, since there is no change in the damping constant from time t1 to time tk (see FIG. 5), it is determined that no failure has occurred. On the other hand, time tk → time tk + 1
Then, since the attenuation constant changes (FIG. 5 → FIG. 9), it is determined that a failure has occurred. At this time, since the change of the damping constant occurs between the time tk and the time tk + 1, it is determined that a failure has occurred during this time. As for the faulty line, the branch optical fiber FB3 in which the position of the reflection peak has changed
Is the faulty line. Further, regarding the fault occurrence distance (position), the fault occurrence distance is the reflection peak ED.
Judge as 3'distance. As described above, the test apparatus can automatically detect the failure occurrence time, the failure occurrence line, and the failure occurrence distance of the multi-branched optical line.

【0021】以上、この発明の実施形態を図面を参照し
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があってもこの発明に含まれる。たとえ
ば、上述した一実施形態においては、ステップS1〜S
4の処理を繰り返し行って各時刻の減衰定数を求めた
後、ステップS5で障害の各種判断を行ったが、ステッ
プS1〜S5までの処理を繰り返し行うことも考えられ
る。すなわち、一定時間毎に減衰定数が求められる度
に、ステップS5で(1つ前の時刻における減衰定数と
比較することにより)障害の各種判断を行うことも考え
られる。この場合、ほぼリアルタイムで障害の各種判断
を行うことができる。また、同実施形態においては、4
分岐型の光線路を対象とした例を示したが、対象となる
多分岐光線路の分岐数はこれに限定されず、本発明は、
任意の分岐数の多分岐光線路に対応することができる。
The embodiment of the present invention has been described in detail above with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to this embodiment, and the design change and the like without departing from the gist of the present invention. Even this is included in this invention. For example, in the above-described embodiment, steps S1 to S
After repeatedly performing the process of 4 to obtain the attenuation constant at each time, various determinations of the failure are made in step S5, but it is also possible to repeat the processes of steps S1 to S5. That is, it is conceivable that each time a damping constant is obtained at regular time intervals, various determinations of a failure may be made (by comparing with the damping constant at the immediately preceding time) in step S5. In this case, it is possible to make various kinds of judgments on the fault almost in real time. Further, in the same embodiment, 4
Although an example of a branch type optical line is shown, the number of branches of the target multi-branch optical line is not limited to this, and the present invention is
It is possible to support a multi-branched optical line with an arbitrary number of branches.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、多分岐光線路の障害発生時刻,障害発生回線および
障害発生距離を自動的に検出することができる。したが
って、従来のように、障害回線を測定する際に、フィル
タを回線毎に異なる間隔に設置することなく、効率よく
これら測定作業を行うことが可能である。また、この多
分岐光線路試験装置においては、該装置によって常に同
一の計測動作が行われるので、人が計測を行う場合と比
較して、客観性および信頼性がより高い計測を行うこと
が可能である。
As described above, according to the present invention, the failure occurrence time, the failure occurrence line, and the failure occurrence distance of the multi-branched optical line can be automatically detected. Therefore, it is possible to efficiently perform these measurement operations without installing filters at different intervals for each line when measuring a faulty line as in the conventional case. In addition, in this multi-branched optical line test device, the same measurement operation is always performed by the device, so that it is possible to perform measurement with higher objectivity and reliability as compared with the case where a person performs measurement. Is.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の一実施形態による多分岐光線路試
験装置の構成例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a multi-branched optical line test device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 いずれの分岐光ファイバにも障害が発生して
いない場合におけるOTDR波形データ(リニア波形デ
ータ)の一例を示すグラフである。
FIG. 2 is a graph showing an example of OTDR waveform data (linear waveform data) in the case where no failure has occurred in any of the branch optical fibers.

【図3】 本実施形態によるOTDR波形データの解析
処理の一例を示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing an example of an OTDR waveform data analysis process according to the present embodiment.

【図4】 いずれの分岐光ファイバにも障害が発生して
いない場合におけるOTDR波形データ(対数波形デー
タ)の一例を示すグラフである。
FIG. 4 is a graph showing an example of OTDR waveform data (logarithmic waveform data) when no failure occurs in any of the branch optical fibers.

【図5】 いずれの分岐光ファイバにも障害が発生して
いない場合における減衰定数とその判断の一例を示す図
表である。
FIG. 5 is a table showing an example of an attenuation constant and its determination when no failure occurs in any of the branch optical fibers.

【図6】 障害発生点の一例を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing an example of a failure occurrence point.

【図7】 分岐光ファイバFB3で障害が発生した場合
におけるOTDR波形データ(リニア波形データ)の一
例を示すグラフである。
FIG. 7 is a graph showing an example of OTDR waveform data (linear waveform data) when a failure occurs in the branch optical fiber FB3.

【図8】 分岐光ファイバFB3で障害が発生した場合
におけるOTDR波形データ(対数波形データ)の一例
を示すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing an example of OTDR waveform data (logarithmic waveform data) when a failure occurs in the branch optical fiber FB3.

【図9】 分岐光ファイバFB3で障害が発生した場合
における減衰定数とその判断の一例を示す図表である。
FIG. 9 is a table showing an example of an attenuation constant and its determination when a failure occurs in the branch optical fiber FB3.

【図10】 従来の多分岐光線路試験装置の構成例を示
すブロック図である。
FIG. 10 is a block diagram showing a configuration example of a conventional multi-branched optical line test apparatus.

【図11】 従来の多分岐光線路試験装置によって観測
される応答光の波形例を示すグラフである。
FIG. 11 is a graph showing a waveform example of response light observed by a conventional multi-branched optical line test apparatus.

【図12】 図11に示す応答光のうち光ファイバfb
6〜fb8に対応する反射光の波形を拡大して示したグ
ラフである。
FIG. 12 is an optical fiber fb of the response light shown in FIG.
It is the graph which expanded and showed the waveform of the reflected light corresponding to 6-fb8.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

MS1……OTDR測定器、 SW1……メモリ、FB
1〜FB4……分岐光ファイバ、 ED1〜ED4……
終端器、CP1……カプラ、 CN1〜CN5……コネ
クタ
MS1 ... OTDR measuring instrument, SW1 ... memory, FB
1-FB4 ... Branched optical fibers, ED1-ED4 ...
Terminator, CP1 ... Coupler, CN1-CN5 ... Connector

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清水 慶一 大阪府大阪市北区中之島3丁目3番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 篠崎 孝一 大阪府大阪市北区中之島3丁目3番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 元治 崇 大阪府大阪市北区中之島3丁目3番22号 関西電力株式会社内 (56)参考文献 特開 平9−329526(JP,A) 特開 昭59−61739(JP,A) 特開 平5−126674(JP,A) 特開 平9−269248(JP,A) 特開 平11−6785(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 11/00 - 11/08 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued Front Page (72) Inventor Keiichi Shimizu 3-3-2 Nakanoshima, Kita-ku, Osaka City, Osaka Prefecture Kansai Electric Power Co., Inc. (72) Inventor Koichi Shinozaki 3--3 Nakanoshima, Kita-ku, Osaka City, Osaka Prefecture No. 22 In Kansai Electric Power Co., Inc. (72) Inventor Takashi Motoji 3-3-22 Nakanoshima, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka Kansai Electric Power Co., Inc. (56) Reference JP-A-9-329526 (JP, A) 59-61739 (JP, A) JP 5-126674 (JP, A) JP 9-269248 (JP, A) JP 11-6785 (JP, A) (58) Fields investigated (Int .Cl. 7 , DB name) G01M 11/00-11/08

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の光線路に分岐した多分岐光線路の
分岐点に光パルスを導入する第1の過程と、 前記各光線路の各部における前記光パルスの反射光が重
なった応答光を受光する第2の過程と、 前記応答光を電気信号に変換した波形データを対数変換
する第3の過程と、 対数変換された波形データに対して、近似直線を計算す
る第4の過程と、 対数変換された波形データと前記近似直線とを比較し
て、前記波形データにおけるフレネル反射点を検出する
第5の過程と、 前記フレネル反射点を分割点として、前記波形データを
分割する第6の過程と、 分割された各範囲について減衰定数分離解析を行い、各
光線路の減衰定数を算出する第7の過程と、 算出した減衰定数を、測定時刻に対応させて記憶装置に
格納する第8の過程と、 前記第1の過程から前記第8の過程が一定時間毎に繰り
返し行われた後、前記記憶装置に格納されている減衰定
の変化に基づいて、前記多分岐光線路における障害発
生時刻,障害発生回線および障害発生距離を判断する第
9の過程とを具備することを特徴とする多分岐光線路試
験方法。
1. A first process of introducing an optical pulse into a branch point of a multi-branched optical line branched into a plurality of optical lines, and a response light in which reflected light of the optical pulse in each part of each optical line overlaps with each other. A second step of receiving light, a third step of logarithmically converting the waveform data obtained by converting the response light into an electric signal, and a fourth step of calculating an approximate straight line for the logarithmically converted waveform data, A fifth step of comparing logarithmically converted waveform data with the approximate straight line to detect a Fresnel reflection point in the waveform data, and a sixth step of dividing the waveform data using the Fresnel reflection point as a division point. Step 7: Attenuation constant separation analysis is performed for each divided range, and a seventh step of calculating the attenuation constant of each optical line, and 8th step of storing the calculated attenuation constant in a storage device corresponding to the measurement time The process of After the process from the process of the eighth it was repeated every predetermined time, based on the change of the attenuation constant stored in the storage device, the multi-branch optical network failure at time, fault occurrence line and fault 9. A multi-branched optical line test method, comprising: a ninth step of determining a generation distance.
【請求項2】 請求項1記載の多分岐光線路試験方法に
おいて、前記第3の過程における対数変換式は、yn =
5log(xn )ただし、xn は前記波形データ、yn
は対数変換された波形データであることを特徴とする多
分岐光線路試験方法。
2. The method for testing a multi-branched optical line according to claim 1, wherein the logarithmic conversion formula in the third step is yn =
5log (xn) where xn is the waveform data, yn
Is a logarithmically converted waveform data, the multi-branched optical line test method.
【請求項3】 請求項1または請求項2のいずれかに記
載の多分岐光線路試験方法において、 前記第5の過程は、対数変換された波形データと前記近
似直線との交点に基づいて、前記フレネル反射点を検出
することを特徴とする多分岐光線路試験方法。
3. The multi-branched optical line test method according to claim 1, wherein the fifth step is based on an intersection between the logarithmically converted waveform data and the approximate straight line. A method for testing a multi-branched optical line characterized by detecting the Fresnel reflection point.
【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかに記
載の多分岐光線路試験方法において、 前記第9の過程は、 前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、 減衰定数が変化すると、障害が発生したと判断し、 減衰定数が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断し、 減衰定数が変化した位置を反射ピークの距離を判断し、
該反射ピークの距離が変化した光線路を障害発生回線と
判断し、 変化後の反射ピークの距離を障害発生距離と判断するこ
とを特徴とする多分岐光線路試験方法。
4. The multi-branched optical line test method according to claim 1, wherein in the ninth step, the attenuation constant is compared between measurement times, and the attenuation constant changes. , It is judged that a failure has occurred, the measurement time when the attenuation constant has changed is judged as the failure occurrence time, and the position where the attenuation constant has changed is judged the reflection peak distance.
A method for testing a multi-branched optical line, characterized in that an optical line in which the distance of the reflection peak has changed is determined to be a faulty line, and the changed distance of the reflection peak is determined to be the faulty distance.
【請求項5】 複数の光線路に分岐した多分岐光線路の
分岐点に光パルスを導入する発光手段と、 前記各光線路の各部における前記光パルスの反射光が重
なった応答光を受光する受光手段と、 前記応答光を電気信号に変換した波形データを対数変換
する変換手段と、 対数変換された波形データに対して、近似直線を計算す
る近似手段と、 対数変換された波形データと前記近似直線とを比較し
て、前記波形データにおけるフレネル反射点を検出する
比較手段と、 前記フレネル反射点を分割点として、前記波形データを
分割する分割手段と、分割された各範囲について減衰定
数分離解析を行い、各光線路の減衰定数を算出する解析
手段と、 算出した減衰定数を、測定時刻に対応させて記憶装置に
格納する書込手段と、 前記各手段による処理が一定時間毎に繰り返し行われた
後、前記記憶装置に格納されている減衰定数の変化に基
づいて、前記多分岐光線路における障害発生時刻,障害
発生回線および障害発生距離を判断する判断手段とを具
備することを特徴とする多分岐光線路試験装置。
5. A light emitting means for introducing an optical pulse into a branch point of a multi-branched optical line branched into a plurality of optical lines, and a response light in which reflected light of the optical pulse in each part of each of the optical lines overlaps. Light receiving means, conversion means for logarithmically converting the waveform data obtained by converting the response light into an electric signal, approximation means for calculating an approximate straight line for the logarithmically converted waveform data, and logarithmically converted waveform data and the Comparison means for comparing Fresnel reflection points in the waveform data by comparing with an approximate straight line, dividing means for dividing the waveform data with the Fresnel reflection points as division points, and attenuation constant separation for each divided range. An analysis unit that analyzes and calculates the attenuation constant of each optical line, a writing unit that stores the calculated attenuation constant in a storage device corresponding to the measurement time, and a process by each unit After being repeatedly performed for each constant time, based on the change of the attenuation constant stored in the storage device, time of failure in the multi-branch optical network, a determining means for determining a fault occurrence line and fault distance A multi-branched optical line test apparatus comprising:
【請求項6】 請求項5記載の多分岐光線路試験装置に
おいて、 前記変換手段における対数変換式は、yn =5log
(xn ) ただし、xn は前記波形データ、yn は対数変換された
波形データであることを特徴とする多分岐光線路試験装
置。
6. The multi-branched optical line test apparatus according to claim 5, wherein the logarithmic conversion formula in the conversion means is yn = 5log.
(Xn) where xn is the waveform data and yn is logarithmically converted waveform data.
【請求項7】 請求項5または請求項6のいずれかに記
載の多分岐光線路試験装置において、 前記比較手段は、対数変換された波形データと前記近似
直線との交点に基づいて、前記フレネル反射点を検出す
ることを特徴とする多分岐光線路試験装置。
7. The multi-branched optical line test apparatus according to claim 5, wherein the comparison means is based on an intersection point between the logarithmically converted waveform data and the approximate straight line. A multi-branched optical line test device characterized by detecting a reflection point.
【請求項8】 請求項5ないし請求項7のいずれかに記
載の多分岐光線路試験装置において、 前記判断手段は、 前記減衰定数を各測定時刻間で比較し、 減衰定数が変化すると、障害が発生したと判断し、 減衰定数が変化した測定時刻を障害発生時刻と判断し、 減衰定数が変化した位置を反射ピークの距離を判断し、
該反射ピークの距離が変化した光線路を障害発生回線と
判断し、 変化後の反射ピークの距離を障害発生距離と判断するこ
とを特徴とする多分岐光線路試験装置。
8. The multi-branched optical line test apparatus according to claim 5, wherein the determination unit compares the attenuation constants between measurement times, and when the attenuation constant changes, a failure occurs. Is determined to have occurred, the measurement time at which the attenuation constant has changed is determined to be the failure occurrence time, and the position at which the attenuation constant has changed is determined as the reflection peak distance.
A multi-branch optical line test apparatus, characterized in that an optical line in which the distance of the reflection peak has changed is determined to be a failure occurrence line, and the changed reflection peak distance is determined to be the failure occurrence distance.
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DE69941839D1 (en) * 1998-02-23 2010-02-04 Sumitomo Electric Industries SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING A BRANCHING LINE
JP4055306B2 (en) * 1999-11-08 2008-03-05 富士通株式会社 Transmission path failure detection apparatus and method
US6885954B2 (en) * 2001-03-16 2005-04-26 Mindspeed Technologies, Inc. Sequence time domain reflectometry using complementary golay codes
US6934655B2 (en) * 2001-03-16 2005-08-23 Mindspeed Technologies, Inc. Method and apparatus for transmission line analysis
US20030068024A1 (en) * 2001-10-05 2003-04-10 Jones William W. Communication system activation
ITTO20020168A1 (en) * 2002-02-28 2003-08-28 Telecom Italia Lab Spa PROCEDURE FOR AUTOMATIC CONTROL OF OPTICAL FIBERS IN SHAFT NETS.
DE60309572T2 (en) * 2002-03-21 2007-07-05 United Parcel Service Of America, Inc. System for recording and storing vehicle sensor data
KR100566203B1 (en) * 2003-12-19 2006-03-29 삼성전자주식회사 Self-healing passive optical network
KR100605926B1 (en) * 2004-04-30 2006-08-01 삼성전자주식회사 Optical transceiver for compensating the loss and optical network using the same
KR100687710B1 (en) * 2004-11-20 2007-02-27 한국전자통신연구원 Method and apparatus for monitering optical fiber of passive optical network system
US8750341B2 (en) 2008-01-04 2014-06-10 Mindspeed Technologies, Inc. Method and apparatus for reducing optical signal speckle
JP2009232077A (en) * 2008-03-21 2009-10-08 Nec Corp Station side terminating apparatus, communication system, method for managing subscriber's apparatus, and program for the station side terminating apparatus
EP2141832B1 (en) * 2008-07-03 2013-09-18 Nokia Siemens Networks OY Automatic topology discovery for passive optical networks
KR101587091B1 (en) * 2008-10-17 2016-01-20 엑스포 아이엔씨. Method and Apparatus for Deriving Parameters of Optical Paths in Optical Networks using a Two-Wavelength OTDR and a Wavelength-Dependent Reflective Element
GB0823688D0 (en) * 2008-12-31 2009-02-04 Tyco Electronics Raychem Nv Unidirectional absolute optical attenuation measurement with OTDR
US8396960B2 (en) * 2009-05-08 2013-03-12 Canon Kabushiki Kaisha Efficient network utilization using multiple physical interfaces
US8325601B2 (en) * 2009-05-08 2012-12-04 Canon Kabushiki Kaisha Reliable network streaming of a single data stream over multiple physical interfaces
US8880716B2 (en) * 2009-05-08 2014-11-04 Canon Kabushiki Kaisha Network streaming of a single data stream simultaneously over multiple physical interfaces
US8356109B2 (en) 2010-05-13 2013-01-15 Canon Kabushiki Kaisha Network streaming of a video stream over multiple communication channels
WO2013055105A1 (en) * 2011-10-11 2013-04-18 Ls Cable Ltd. Optical line monitoring system and method
US8693866B1 (en) * 2012-01-20 2014-04-08 Google Inc. Fiber diagnosis system for WDM optical access networks
GB2499386A (en) * 2012-02-10 2013-08-21 United Technologists Europe Ltd OTDR Mapping Method using an optical reflector at a specific customer fibre end to increase the amplitude relative to other reflection events in the trace
CN104579459B (en) * 2013-10-25 2018-03-16 华为技术有限公司 A kind of method, apparatus and system of fiber link identification
US10693555B2 (en) * 2014-09-03 2020-06-23 British Telecommunications Public Limited Company Optical network faulted identification
CN104485990A (en) * 2014-12-02 2015-04-01 国家电网公司 Multi-path fiber core test device and method
CN105547725A (en) * 2015-12-19 2016-05-04 南昌欧菲生物识别技术有限公司 Control method for multipath test
US10230459B2 (en) * 2017-02-14 2019-03-12 The Boeing Company System and method for optical time-domain reflectometry and design data wire testing
CN108398934B (en) * 2018-02-05 2019-12-13 常州高清信息技术有限公司 equipment fault monitoring system for rail transit
US10911052B2 (en) 2018-05-23 2021-02-02 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Multi-level signal clock and data recovery
CN109495165B (en) * 2018-10-23 2020-11-17 长飞光纤光缆股份有限公司 OTDR test method based on industrial Internet platform
US11005573B2 (en) 2018-11-20 2021-05-11 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Optic signal receiver with dynamic control
CN114430512B (en) * 2020-10-29 2023-04-28 华为技术有限公司 Port identification method and device
US11658630B2 (en) 2020-12-04 2023-05-23 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Single servo loop controlling an automatic gain control and current sourcing mechanism
CN116015428B (en) * 2022-12-27 2024-03-08 高勘(广州)技术有限公司 DVS-based optical fiber length determination method, device and system

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5383015A (en) * 1992-12-22 1995-01-17 At&T Corp. Optical time domain reflectometry measurements on a multi-branch optical network using multiwavelength pass filters
JP3224344B2 (en) * 1996-06-10 2001-10-29 安藤電気株式会社 Multi-branch optical line test equipment
JP3402083B2 (en) * 1996-08-05 2003-04-28 Kddi株式会社 Optical fiber line fault location detector
JP3439323B2 (en) * 1997-06-18 2003-08-25 安藤電気株式会社 Test equipment for multi-stage multi-branch optical line

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