JP3526375B2 - Light spot interval detecting method / scanning line pitch setting method / light spot interval detecting device / scanning line pitch setting device and multi-beam scanning device - Google Patents
Light spot interval detecting method / scanning line pitch setting method / light spot interval detecting device / scanning line pitch setting device and multi-beam scanning deviceInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、光スポット間隔
検出方法・走査線ピッチ設定方法・光スポット間隔検出
装置・走査線ピッチ設定装置およびマルチビーム走査装
置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light spot interval detection method, a scanning line pitch setting method, a light spot interval detection device, a scanning line pitch setting device, and a multi-beam scanning device.
【0002】[0002]
【従来の技術】画像信号により強度変調させた光束を偏
向させ、被走査面を画像形成のために走査する光走査装
置は、デジタル複写機や各種光プリンタ等の画像形成装
置に関連して広く知られている。近来、走査の高速化を
目して、一度に複数の走査線を同時走査する「マルチビ
ーム走査装置」が提案されている。2. Description of the Related Art An optical scanning device which deflects a light beam whose intensity is modulated by an image signal and scans a surface to be scanned for image formation is widely used in connection with image forming devices such as digital copying machines and various optical printers. Are known. Recently, a "multi-beam scanning device" has been proposed which simultaneously scans a plurality of scanning lines at the same time in order to increase the scanning speed.
【0003】マルチビーム走査装置において留意すべき
重要な点の一つは、副走査方向の記録密度を決定する走
査線ピッチを正確に設定しなければならないことであ
る。走査線ピッチが正確でないと、書き込まれた記録画
像の画素密度が副走査方向に周期的に変動し、記録画像
の像質を劣化させるからである。One of the important points to note in a multi-beam scanning device is that the scanning line pitch that determines the recording density in the sub-scanning direction must be set accurately. This is because if the scanning line pitch is not accurate, the pixel density of the written recorded image periodically fluctuates in the sub-scanning direction, degrading the image quality of the recorded image.
【0004】近来、走査線ピッチを2以上の記録密度の
間(例えば400dpiと600dpiの間)で切り換
え可能にするマルチビーム走査装置も意図されており、
このような装置にあっては、何れの記録密度に対して
も、走査線ピッチの正確な設定が要求される。Recently, a multi-beam scanning device capable of switching the scanning line pitch between two or more recording densities (for example, between 400 dpi and 600 dpi) is also intended,
In such an apparatus, accurate setting of the scanning line pitch is required for any recording density.
【0005】走査線ピッチを変化調整する方法として
は、複数の光源を有する光源部を回転可能とし、光源部
の回転により被走査面上における複数の光スポットの配
列方向が回転する得るようにし、光スポット間隔をDと
するとき、上記配列方向が主走査方向となす角:αが、
所望の走査線ピッチ:Pに対して、P=D・sinαを
満足するように光源部の回転態位を調整する方法が意図
されている。As a method of adjusting the change of the scanning line pitch, a light source section having a plurality of light sources can be rotated so that the arrangement direction of a plurality of light spots on the surface to be scanned can be rotated by the rotation of the light source section. When the light spot spacing is D, the angle α formed by the arrangement direction and the main scanning direction is
It is intended to adjust the rotational position of the light source unit so as to satisfy P = D · sin α with respect to the desired scanning line pitch: P.
【0006】この方法は走査ピッチ設定上有効である
が、走査線ピッチの正確な調整・設定を行ない得るため
には、上記光スポット間隔:Dが正確に分かっていなけ
ればならない。光スポット間隔:Dは、光源部における
各光源の相対的な位置関係や、光源部と被走査面との間
にある光学系の結像倍率等により定まる。This method is effective in setting the scanning pitch, but in order to accurately adjust and set the scanning line pitch, the light spot interval D must be known accurately. The light spot interval: D is determined by the relative positional relationship between the light sources in the light source unit, the imaging magnification of the optical system between the light source unit and the surface to be scanned, and the like.
【0007】光源部と被走査面との間にある光学系の結
像倍率等は、個々のマルチビーム走査装置に光学系を組
付けるときの微少な組付け誤差によっても微妙に異なる
場合が多いし、たとい設計通りの組付け調整がなされて
も、マルチビーム走査装置の実使用に伴う振動等の影響
で、上記結像倍率が経時的に変化してしまうことも考え
られる。The image-forming magnification and the like of the optical system between the light source section and the surface to be scanned often differ subtly due to a slight assembly error when assembling the optical system to each multi-beam scanning device. However, even if the assembling adjustment is performed as designed, it is conceivable that the imaging magnification may change with time due to the influence of vibration and the like accompanying the actual use of the multi-beam scanning device.
【0008】また、光源部における複数光源の相対的な
位置関係も、LD(半導体レーザ)アレイのようなモノ
リシックな構造のものはともかく、独立した複数の半導
体レーザを組み合わせるような光源部では、光源部ごと
の組付け誤差や経時的な変化が考えられ、モノリシック
なLDアレイでも、個体ごとに発光部の間隔が異なるこ
とが考えられる。このような理由で、光源部の回転によ
り光スポットの配列方向を変化させて走査線ピッチを変
化調整する上記方式では「光スポットの間隔を正確に検
出する必要」がある。Further, the relative positional relationship among the plurality of light sources in the light source section is not limited to that of a monolithic structure such as an LD (semiconductor laser) array, but in a light source section in which a plurality of independent semiconductor lasers are combined, It is conceivable that an assembly error for each part and a change with time are considered, and even in a monolithic LD array, the interval of the light emitting parts is different for each individual. For this reason, in the above method in which the arrangement direction of the light spots is changed by the rotation of the light source unit to change and adjust the scanning line pitch, "the interval between the light spots must be accurately detected".
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】この発明は、上記光ス
ポット間隔を確実に検出できる光スポット間隔検出方法
の実現を課題とする。この発明の別の課題は、上記光ス
ポット間隔検出方法を利用して正確な走査線ピッチの設
定を行ないうる走査線ピッチ設定方法の実現にある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to realize a light spot interval detecting method capable of surely detecting the light spot interval. Another object of the present invention is to realize a scanning line pitch setting method capable of accurately setting the scanning line pitch by using the above-described light spot interval detection method.
【0010】この発明の他の課題は、上記走査線ピッチ
検出方法を実施するための光スポット間隔検出装置の実
現にある。Another object of the present invention is to realize an optical spot interval detecting device for implementing the above scanning line pitch detecting method.
【0011】この発明のさらに別の課題は、上記走査線
ピッチ設定方法を実施するための走査線ピッチ設定装置
の実現にある。Still another object of the present invention is to realize a scanning line pitch setting device for carrying out the above scanning line pitch setting method.
【0012】この発明のさらに他の課題は、上記光スポ
ット間隔検出装置もしくは走査線ピッチ設定装置を有す
るマルチビーム走査装置の実現にある。Still another object of the present invention is to realize a multi-beam scanning device having the above-mentioned light spot interval detecting device or scanning line pitch setting device.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】この発明の光スポット間
隔検出方法は「光源部の回転により、被走査面上におけ
る複数の光スポットの配列方向を回転させることのでき
るマルチビーム走査装置において、2つの光スポットの
間隔を検出する方法」であって、以下の点を特徴とする
(請求項1)。According to a method of detecting a light spot interval of the present invention, in a multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source unit, A method for detecting the interval between two light spots ", which is characterized by the following points (claim 1).
【0014】即ち、走査領域外に配備され、複数の光ス
ポットを共通に検出できる受光面長さを走査直交方向に
有する単一の受光素子を用い、間隔を検出すべき2つの
光スポットにより受光面を所定の走査速度:vで走査
し、受光素子の出力に基づき矩形状の信号を得、各光ス
ポットに対応した矩形状の信号の信号間隔時間:tを検
出する工程を光源部を回転させつつ繰返し、信号間隔時
間:tの最大値:tmaxを得、この最大値:tmaxと走査
速度:vとから、v・tmaxとして光スポット間隔を得
る。That is, a single light-receiving element provided outside the scanning area and having a light-receiving surface length capable of commonly detecting a plurality of light spots in the scanning orthogonal direction is used, and light is received by two light spots whose intervals are to be detected. The surface is scanned at a predetermined scanning speed: v, a rectangular signal is obtained based on the output of the light receiving element, and the step of detecting the signal interval time: t of the rectangular signal corresponding to each light spot is rotated. By repeating this, the maximum value of signal interval time: t: t max is obtained, and the light spot interval is obtained as v · t max from this maximum value: t max and scanning speed: v.
【0015】「光源部」としては、発光部を2以上有す
るモノリシックなLDアレイや、複数の半導体レーザや
複数のLEDを組み合わせたものを用いることができ
る。走査領域外に配備される単一の受光素子は、光スポ
ット間隔検出の目的のためには、ビーム走査開始側の領
域外に設けても、ビーム走査終了側の領域外に設けても
良いが、この受光素子をビーム走査開始側に設ける場合
には、これを「同期光検出用に兼用」しても良い。As the "light source part", a monolithic LD array having two or more light emitting parts or a combination of a plurality of semiconductor lasers and a plurality of LEDs can be used. The single light receiving element arranged outside the scanning region may be provided outside the region on the beam scanning start side or outside the region on the beam scanning end side for the purpose of detecting the light spot interval. When this light receiving element is provided on the beam scanning start side, it may be "also used for synchronous light detection".
【0016】被走査面上に一度に形成される光スポット
の最大数は、光源部に含まれる光源(発光部)の数に等
しい。光源の数が3以上の場合には、検出すべき光スポ
ット間隔は、互いに隣接する任意の2つの光源に対応す
る光スポットの間隔でも良いし、3以上の光源のうちの
任意の2つを点灯させたときに被走査面上に形成される
2つの光スポットの間隔でもよい。3以上の光スポット
を被走査面に形成できる場合、これらは必ずしも1直線
上に配列されていなくてもよい。The maximum number of light spots formed at one time on the surface to be scanned is equal to the number of light sources (light emitting portions) included in the light source portion. When the number of light sources is three or more, the light spot interval to be detected may be the light spot interval corresponding to any two light sources adjacent to each other, or any two of the three or more light sources may be used. It may be an interval between two light spots formed on the surface to be scanned when the light is turned on. When three or more light spots can be formed on the surface to be scanned, they do not necessarily have to be arranged on one straight line.
【0017】光源部に含まれる光源(発光部)の数は上
記の如く3以上でも良いが、これを2としても良く(請
求項2)、この場合、マルチビーム走査は「2ビーム走
査」となる。The number of light sources (light emitting units) included in the light source unit may be three or more as described above, but may be two (Claim 2). In this case, the multi-beam scanning is "two-beam scanning". Become.
【0018】この発明の走査線ピッチ設定方法は「光源
部の回転により、被走査面上における複数の光スポット
の配列方向を回転させることのできるマルチビーム走査
装置において、複数の光スポットにより同時に走査され
る走査線のピッチを調整する方法」であって、以下の如
き特徴を有する(請求項3)。According to the scanning line pitch setting method of the present invention, in a multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source section, a plurality of light spots are simultaneously scanned. Method for adjusting the pitch of the scanning lines, which has the following features (claim 3).
【0019】上記請求項1または2記載の方法で光スポ
ット間隔:v・tmaxが検出されるときの光源部の態位
を「光源部の回転に対するホームポジション」とし、調
整すべき所望の走査線ピッチ:dに対して、d=v・t
max・sinθを満足する角:θを求め、光源部を所定
の向きに角:θだけ回転させることにより走査線のピッ
チを所望の走査線ピッチ:dに設定する。When the light spot interval: v · t max is detected by the method according to claim 1 or 2, the position of the light source unit is defined as the "home position with respect to the rotation of the light source unit", and the desired scanning to be adjusted. Line pitch: For d, d = v · t
An angle θ that satisfies max · sin θ is obtained, and the light source unit is rotated in the predetermined direction by the angle θ, so that the scanning line pitch is set to a desired scanning line pitch d.
【0020】ここに「走査線ピッチ」は、請求項1また
は2記載の発明の方法で光スポット間隔を検出された2
つの光スポットで同時に走査を行なうときに各光スポッ
トが走査する走査線の間隔を意味し、記録密度により決
定される副走査方向の画素幅と等しいか、あるいはこの
画素幅の整数倍である。Here, the "scan line pitch" is 2 when the light spot interval is detected by the method of the present invention.
This means the interval between scanning lines scanned by each light spot when scanning is performed with one light spot at the same time, and is equal to the pixel width in the sub-scanning direction determined by the recording density or an integral multiple of this pixel width.
【0021】この発明の「光スポット間隔検出装置」
は、請求項1または2記載の光スポット検出方法を実施
するための装置、即ち「光源部の回転により、被走査面
上における複数の光スポットの配列方向を回転させるこ
とのできるマルチビーム走査装置において、2つの光ス
ポットの間隔を検出する装置」であって、回転手段と、
単一の受光素子と、制御・演算手段とを有する(請求項
4)。"Optical spot interval detector" of the present invention
Is a device for carrying out the light spot detection method according to claim 1, that is, "a multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on the surface to be scanned by rotating the light source section. , A device for detecting the distance between two light spots, which comprises rotating means,
It has a single light receiving element and a control / arithmetic means (claim 4).
【0022】「回転手段」は、光源部を回転させる手段
であり、駆動源として適当なステップピッチを持ったス
テッピングモータと、その回転を光源部に伝達する回転
伝達機構により好適に構成できる。The "rotating means" is means for rotating the light source section, and can be suitably constructed by a stepping motor having an appropriate step pitch as a drive source and a rotation transmitting mechanism for transmitting the rotation to the light source section.
【0023】「単一の受光素子」は、走査領域外に配備
され、複数の光スポットを共通に検出できる受光面長さ
を走査直交方向に有する。理想的に偏向された複数の光
束を考え、これら理想的な光束が受光素子の受光面部分
を横切る位置において、偏向光束が移動する方向を「走
査方向(被走査面上の主走査方向に対応する)」と呼
び、上記位置において走査方向に直交する方向を「走査
直交方向(被走査面上の副走査方向に対応する)」と称
する。受光素子の受光面が「走査直交方向において、複
数の光スポットを共通に検出できる長さを持つ」とは、
検出すべき2つの光スポットの配列方向が走査直交方向
と成った場合に、受光面が、これら2つの光スポットを
受光できるだけの長さを走査直交方向に有するというこ
とを意味する。The "single light receiving element" is provided outside the scanning region and has a light receiving surface length in the scanning orthogonal direction that can commonly detect a plurality of light spots. Considering ideally deflected multiple light beams, at the position where these ideal light beams cross the light receiving surface of the light receiving element, the direction in which the deflected light beam moves is defined as "scanning direction (corresponding to the main scanning direction on the scanned surface). The direction orthogonal to the scanning direction at the above position is referred to as the "scanning orthogonal direction (corresponding to the sub-scanning direction on the surface to be scanned)". The light receiving surface of the light receiving element "has a length capable of commonly detecting a plurality of light spots in the scanning orthogonal direction"
This means that when the array direction of the two light spots to be detected is the scanning orthogonal direction, the light receiving surface has a length in the scanning orthogonal direction that can receive the two light spots.
【0024】「制御・演算手段」は、回転手段を制御し
つつ、間隔を検出すべき2つの光スポットにより受光面
を所定の走査速度:vで走査させ、受光素子の出力に基
づき矩形状の信号を得、各光スポットに対応した矩形状
の信号の信号間隔時間:tの最大値:tmaxを得、この
最大値:tmaxと走査速度:vとから、v・tmaxとして
光スポット間隔を得る手段である。The "control / arithmetic means" controls the rotating means while scanning the light receiving surface at a predetermined scanning speed: v with two light spots whose intervals are to be detected, and has a rectangular shape based on the output of the light receiving element. The signal is obtained, and the maximum value of the signal interval time: t of the rectangular signal corresponding to each light spot: t max is obtained. From this maximum value: t max and the scanning speed: v, the light spot is defined as v · t max. It is a means of obtaining a gap.
【0025】この光スポット間隔検出装置においても、
光源部における光源(発光部)の数は3以上でも良い
が、この数を2とすることができる(請求項5)。Also in this light spot interval detecting device,
The number of light sources (light emitting units) in the light source unit may be three or more, but this number can be two (claim 5).
【0026】この発明の走査線ピッチ設定装置は「光源
部の回転により、被走査面上における複数の光スポット
の配列方向を回転させることのできるマルチビーム走査
装置において、複数の光スポットにより同時に走査され
る走査線のピッチを調整する装置」であって、請求項4
または5記載の構成に加え、ピッチ調整手段を有する
(請求項6)。According to the scanning line pitch setting device of the present invention, a "multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source section is used to simultaneously scan a plurality of light spots. 5. A device for adjusting the pitch of scanning lines to be performed.
Alternatively, in addition to the structure described in 5, pitch adjusting means is provided (claim 6).
【0027】「ピッチ調整手段」は、請求項4または5
記載の装置で光スポット間隔:v・tmaxが検出される
ときの光源部の態位を光源部の回転に対するホームポジ
ションとし、調整すべき所望の走査線ピッチ:dに対し
て、d=v・tmax・sinθを満足する角:θを求
め、光源部を所定の向きに角:θだけ回転させることに
より走査線のピッチを所望の走査線ピッチ:dに設定す
る手段である。The "pitch adjusting means" is defined in claim 4 or 5.
With the apparatus described, the position of the light source unit when the light spot interval: v · t max is detected is the home position with respect to the rotation of the light source unit, and d = v with respect to the desired scan line pitch: d to be adjusted. A means for determining an angle satisfying t max · sin θ: θ, and rotating the light source unit in a predetermined direction by an angle of θ to set the scanning line pitch to a desired scanning line pitch: d.
【0028】この発明のマルチビーム走査装置は「光源
部の回転により、被走査面上における複数の光スポット
の配列方向を回転させることのできるマルチビーム走査
装置」であって、請求項4または5記載の光スポット間
隔検出装置もしくは請求項6記載の走査線ピッチ設定装
置を有する(請求項7)。A multi-beam scanning device according to the present invention is a "multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source section". It has the light spot interval detection device described above or the scanning line pitch setting device described in claim 6 (claim 7).
【0029】[0029]
【発明の実施の形態】請求項7記載のマルチビーム走査
装置の実施の1形態を示す図2において、符号10で示
す「光源部」からは、2ビーム走査用の2つの光束が、
それぞれ平行光束として放射される(請求項2,5)。
放射された2光束は光スポット整形用のアパーチュア板
20の開口部を通過してシリンダレンズ30に入射し、
副走査対応方向(光源から被走査面に到る光路を直線的
に展開した仮想的な光路上で副走査方向に平行的に対応
する方向を言い、上記仮想的な光路上で主走査方向に平
行的に対応する方向を主走査対応方向と言う)にのみ集
光され、光偏向器であるポリゴンミラー40の偏向反射
面41の近傍に、主走査対応方向に長い線像として結像
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In FIG. 2 showing an embodiment of a multi-beam scanning device according to claim 7, two light beams for two-beam scanning are emitted from a “light source part” shown by reference numeral 10.
They are emitted as parallel light beams (claims 2 and 5).
The emitted two light beams pass through the opening of the aperture plate 20 for shaping the light spot and enter the cylinder lens 30,
Sub-scanning corresponding direction (refers to a direction parallel to the sub-scanning direction on a virtual optical path in which the optical path from the light source to the surface to be scanned is linearly developed, and in the main scanning direction on the virtual optical path. The parallel corresponding direction is referred to as the main scanning corresponding direction) and is focused as a long line image in the main scanning corresponding direction in the vicinity of the deflection reflection surface 41 of the polygon mirror 40 which is an optical deflector.
【0030】ポリゴンミラー40が矢印方向へ等速回転
すると、偏向反射面により反射された2光束は偏向光束
となり、「走査結像光学系」であるfθレンズ32の作
用により、被走査面50上に2つの光スポットとして集
光し、被走査面50を走査する。被走査面位置には通
常、光導電性の感光体が配備されるので、光スポットは
実体的には感光体を走査する。When the polygon mirror 40 rotates at a constant speed in the direction of the arrow, the two light beams reflected by the deflecting / reflecting surface become a deflecting light beam, and the f.theta. The light is focused as two light spots on the scanning surface 50 and scanned. Since a photoconductive photoconductor is usually arranged at the position of the surface to be scanned, the light spot actually scans the photoconductor.
【0031】光源部10は、ケーシング18内に、2つ
の半導体レーザ11,12と、2つののコリメートレン
ズ13,14と、半導体レーザ11からの光束の偏光面
を90度旋回させる1/2波長板15と、半導体レーザ
11,12からの光束を合成するビーム合成プリズム1
6と、合成された2光束の偏光状態を「シェーディング
補正」のために円偏光状態にするための1/4波長板1
7とを配備したものである。The light source unit 10 has two semiconductor lasers 11 and 12, two collimating lenses 13 and 14 inside a casing 18, and a 1/2 wavelength for rotating the polarization plane of the light beam from the semiconductor laser 11 by 90 degrees. Beam combining prism 1 for combining the light beams from the plate 15 and the semiconductor lasers 11 and 12
6 and a quarter-wave plate 1 for changing the polarization state of the combined two light fluxes to a circular polarization state for “shading correction”
7 and 7 are deployed.
【0032】半導体レーザ11,12から放射された各
光束は、対応するコリメートレンズ13,14で平行光
束化されたのちビーム合成プリズム16に入射する。半
導体レーザ11からの光束は、ビーム合成プリズム16
における偏光ビームスプリッタ膜162を透過してビー
ム合成プリズム16から射出する。半導体レーザ12か
らの光束はビーム合成プリズム16の斜面161で内部
反射し、偏光ビームスプリッタ膜162により反射され
てビーム合成プリズム16から射出する。The light beams emitted from the semiconductor lasers 11 and 12 are collimated by the corresponding collimating lenses 13 and 14, and then enter the beam combining prism 16. The light flux from the semiconductor laser 11 is generated by the beam combining prism 16
And is emitted from the beam combining prism 16. The light flux from the semiconductor laser 12 is internally reflected by the inclined surface 161 of the beam combining prism 16, reflected by the polarization beam splitter film 162, and emitted from the beam combining prism 16.
【0033】図2において、コリメートレンズ13,1
4は共に「主走査対応方向に平行な同一面内」にある。
半導体レーザ11,12は、その内の少なくとも一方
が、対応するコリメートレンズの光軸から主・副走査対
応方向に微小距離ずれている。図1(a)では、半導体
レーザ12のコリメートレンズ14の光軸からの副走査
対応方向へのずれが「誇張して」描かれている。即ち、
半導体レーザ11,12の発光部を結ぶ直線は主走査対
応方向と微少な角:θAをなし、角:θAの傾きにより、
ビーム合成プリズム16から射出する2光束は互いに副
走査対応方向に微少角傾いている。この微少角により、
被走査面50上に集光する2つの光スポットの副走査方
向の間隔:PSが定まる。In FIG. 2, the collimating lenses 13 and 1
Both 4 are "in the same plane parallel to the main scanning corresponding direction".
At least one of the semiconductor lasers 11 and 12 is deviated from the optical axis of the corresponding collimator lens by a minute distance in the main / sub scanning corresponding direction. In FIG. 1A, the deviation of the semiconductor laser 12 from the optical axis of the collimator lens 14 in the sub-scanning corresponding direction is “exaggerated”. That is,
Straight line corresponding to the main scanning direction and the fine angular connecting the light emitting portion of the semiconductor laser 11, 12: form a theta A, square: the slope of theta A,
The two light beams emitted from the beam combining prism 16 are tilted with respect to each other in the sub-scanning corresponding direction by a slight angle. With this slight angle,
The gap in the sub-scanning direction of the two light spots focused on the scanned surface 50: P S is determined.
【0034】また半導体レーザ11,12の、対応する
コリメートレンズの光軸からの主走査対応方向の微少な
ずれにより、ビーム合成プリズム16から射出する光束
は、主走査方向において、図に示すように互いに微少な
角:θBをなす。この角:θBにより被走査面50上に集
光する2つの光スポットの主走査方向の間隔:PMが定
まる。Further, due to the slight deviation of the semiconductor lasers 11 and 12 from the optical axis of the corresponding collimating lens in the main scanning corresponding direction, the light beam emitted from the beam combining prism 16 is as shown in the drawing in the main scanning direction. Form a small angle with each other: θ B. The angle: θ B determines the interval P M between the two light spots focused on the surface to be scanned 50 in the main scanning direction.
【0035】光源部10を、コリメートレンズ13の光
軸の回りに回転させることにより、被走査面50上の2
つの光スポットの間隔を一定に保ったまま、これらスポ
ットを結ぶ方向を回転させることができ、このことを利
用して、上記間隔:PS,PMを調整することが可能であ
る。By rotating the light source section 10 around the optical axis of the collimating lens 13, the light on the surface 50 to be scanned can be increased by 2.
One remains a gap of the light spot was held constant, it is possible to rotate the direction connecting these spots, by utilizing this fact, the interval: P S, it is possible to adjust the P M.
【0036】ビーム合成プリズム16を射出した2光束
は直線偏光の偏光面が互いに直交しており、このままで
は偏向反射面41の反射角変化による反射率の差により
「シェーディング」が生じるので、1/4波長板17を
透過させることにより、これらを円偏光状態にする。こ
のようにして、合成され、シェーディング補正された2
光束が光源部10から射出する。The two light beams emitted from the beam combining prism 16 have their planes of linearly polarized light orthogonal to each other, and if they remain as they are, "shading" occurs due to the difference in reflectance due to the change in the reflection angle of the deflective reflection surface 41. These are made into a circularly polarized state by transmitting them through the four-wave plate 17. In this way, the combined and shading-corrected 2
The light flux is emitted from the light source unit 10.
【0037】光源部10から射出し、ポリゴンミラー4
0により偏向された2光束は走査領域へ向かって偏向す
るが、走査領域へ向かう途上においてfθレンズ32を
介してミラー61へ入射し、ミラー61により受光素子
64に向けて反射される。即ち、受光素子64は「走査
領域外に配備された単一の受光素子(請求項1,4)」
であり、また、同期光検出用の受光素子を兼ねている。The polygon mirror 4 is emitted from the light source unit 10.
The two light beams deflected by 0 are deflected toward the scanning region, but enter the mirror 61 through the fθ lens 32 on the way to the scanning region and are reflected by the mirror 61 toward the light receiving element 64. That is, the light receiving element 64 is "a single light receiving element provided outside the scanning area (claims 1 and 4)."
And also serves as a light receiving element for detecting the synchronous light.
【0038】受光素子64は、ミラー61を介する光路
上で被走査面50と等価な位置に配備され(図は作図の
関係でそのように描かれていない)、2光束とも受光素
子64の受光面上に(fθレンズ32の結像作用で)光
スポットとして集光する。The light receiving element 64 is arranged at a position equivalent to the surface to be scanned 50 on the optical path through the mirror 61 (not shown in the figure for the sake of drawing), and the two light beams are received by the light receiving element 64. It is condensed as a light spot on the surface (due to the image forming action of the fθ lens 32).
【0039】光源部10は、「回転手段」である回転機
構65(ステッピングモータとその回転を光源部に伝達
する回転伝達機構(ギヤ、チェーン、ワイヤ等)により
構成されている)により、前述の如く、コリメートレン
ズ13の光軸の回りに回転させることができるようにな
っている。また、受光素子64の出力は「制御・演算手
段」である制御演算部70に入力するようになってい
る。The light source unit 10 has the above-mentioned rotation mechanism 65 (a rotation mechanism) (composed of a stepping motor and a rotation transmission mechanism (gear, chain, wire, etc.) for transmitting the rotation thereof to the light source unit). Thus, the collimator lens 13 can be rotated around the optical axis. Further, the output of the light receiving element 64 is input to the control calculation section 70 which is a "control / calculation means".
【0040】図1(a)において、符号64Aは受光素
子64の「受光面」を示している。また、符号SP1,
SP2で示す「光スポット」は、それぞれ矢印のように
移動して走査領域へと向かう。光スポットSP1は半導
体レーザ11から放射された光束によるものであり、光
スポットSP1は半導体レーザ12から放射された光束
によるものである。受光面64Aは、走査直交方向(図
の上下方向)に十分な長さを有し、光スポットSP1,
SP2の走査直交方向の間隔が最大値:Lになった状態
でも、確実にこれら光スポットを受光できるようになっ
ている。In FIG. 1A, reference numeral 64A indicates a "light receiving surface" of the light receiving element 64. Further, reference characters SP1,
The “light spot” indicated by SP2 moves toward the scanning area by moving as indicated by arrows. The light spot SP1 is due to the light beam emitted from the semiconductor laser 11, and the light spot SP1 is due to the light beam emitted from the semiconductor laser 12. The light receiving surface 64A has a sufficient length in the scanning orthogonal direction (vertical direction in the drawing), and the light spot SP1,
Even when the interval in the scanning orthogonal direction of SP2 is the maximum value: L, these light spots can be reliably received.
【0041】説明の簡単のために、半導体レーザ11は
コリメートレンズ13の光軸上に発光部があるとする。
すると、光源部10を回転機構65によりコリメートレ
ンズ13の光軸の回りに回転させると、光スポットSP
2が光スポットSP1を中心として回転することにな
る。光スポットSP1,SP2間の距離:Lが「光スポ
ット間隔」であって検出対象である。光スポット間隔:
Lは、図2に示した間隔:PS,PMを用いて表せば「L
=√(PS 2+PM 2)」である。For simplicity of explanation, it is assumed that the semiconductor laser 11 has a light emitting portion on the optical axis of the collimator lens 13.
Then, when the light source unit 10 is rotated around the optical axis of the collimator lens 13 by the rotation mechanism 65, the light spot SP
2 rotates around the light spot SP1. The distance L between the light spots SP1 and SP2 is the "light spot interval" and is the detection target. Light spot spacing:
L is expressed as “L if expressed using the intervals: P S and P M shown in FIG.
= √ (P S 2 + P M 2 ) ”.
【0042】図2に示す制御演算部70は図3に示すよ
うになっている。即ち、制御演算部70はMPU(メイ
ンプロセッサユニット)71と、画像処理ユニット73
とコンパレータ74を有する。MPU71は、画像処理
ユニット73を制御するとともに、回転機構65のステ
ッピングモータMを駆動するドライバ72(回転機構の
一部である)を制御してステッピングモータMの回転を
制御する。画像処理ユニット73は、MPU71の制御
を受け、ドライバ81,82を介して半導体レーザ1
1,12の点滅を制御する。コンパレータ74は、受光
素子64の出力を適当なスレッシュレベルで2値化して
矩形状の信号に変換し、その信号を画像処理ユニット7
3に向けて出力する。MPU71はまた、2ビーム走査
装置全体の制御部として、ポリゴンミラーの回転等も制
御する。The control calculation section 70 shown in FIG. 2 is as shown in FIG. That is, the control calculation unit 70 includes an MPU (main processor unit) 71 and an image processing unit 73.
And a comparator 74. The MPU 71 controls the image processing unit 73 and also controls the driver 72 (which is a part of the rotation mechanism) that drives the stepping motor M of the rotation mechanism 65 to control the rotation of the stepping motor M. The image processing unit 73 is controlled by the MPU 71 and receives the semiconductor laser 1 via the drivers 81 and 82.
The blinking of 1 and 12 is controlled. The comparator 74 binarizes the output of the light receiving element 64 at an appropriate threshold level and converts it into a rectangular signal, and the signal is processed by the image processing unit 7.
Output to 3. The MPU 71 also controls the rotation of the polygon mirror and the like as a control unit of the entire two-beam scanning device.
【0043】さて、光スポット間隔の検出は以下の如く
に行なわれる。MPU71の制御により半導体レーザ1
1,12を点灯させ、ポリゴンミラー40を所定の回転
速度で定速回転させる。これにより、受光素子64の受
光面64Aは2つの光スポットSP1,SP2により所
定の走査速度:vで走査されることになる。2つの光ス
ポットSP1,SP2が受光面64Aを走査するたび
に、受光素子64から出力される信号をコンパレータ7
4で2値化すると、図1(b)に示すように連続した2
つの矩形状の信号が得られるので、これらの信号のリー
ディングエッジ間の時間間隔:tにより「信号間隔時
間」を得る。Now, the detection of the light spot interval is performed as follows. Semiconductor laser 1 controlled by MPU71
1 and 12 are turned on and the polygon mirror 40 is rotated at a constant speed at a predetermined rotation speed. As a result, the light receiving surface 64A of the light receiving element 64 is scanned by the two light spots SP1 and SP2 at a predetermined scanning speed: v. Each time the two light spots SP1 and SP2 scan the light receiving surface 64A, the signal output from the light receiving element 64 is output to the comparator 7
When binarized by 4, the continuous 2 as shown in FIG.
Since one rectangular signal is obtained, the "signal interval time" is obtained by the time interval: t between the leading edges of these signals.
【0044】即ち、図1(c)に示すように、受光素子
64の出力はコンパレータ74で矩形状の信号とされて
カウンタ73Aに送られ、カウンタ73Aはクロック発
生器73Bからのクロックにより上記時間間隔をカウン
トする。なお、カウンタ73A、クロック発生器73B
は共に、図3に示す画像処理ユニット73に含まれてい
る。That is, as shown in FIG. 1C, the output of the light receiving element 64 is sent to the counter 73A as a rectangular signal by the comparator 74, and the counter 73A receives the above-mentioned time by the clock from the clock generator 73B. Count the intervals. The counter 73A and the clock generator 73B
Are both included in the image processing unit 73 shown in FIG.
【0045】カウンタ73Aによるカウント結果はMP
U71にて時間間隔:tとしてサンプリングされる。M
PU71は、サンプリングを行なうごとにステッピング
モータを1パルス分駆動して、光源部10を微少角回転
させ、次々にサンプリングされる時間間隔:tを前回の
サンプリング結果と大小比較することを繰り返すことに
より、最大値:tmaxを検出する。最大値:tmaxが得ら
れるとき、光スポットSP1,SP2の「配列方向」は
走査方向に平行になる。The result of counting by the counter 73A is MP.
Sampled at U71 with time interval: t. M
The PU 71 drives the stepping motor by one pulse each time sampling is performed, rotates the light source unit 10 by a small angle, and repeats the time interval: t for successive sampling by comparing the previous sampling result with the previous sampling result. , The maximum value: t max is detected. When the maximum value: t max is obtained, the “arrangement direction” of the light spots SP1 and SP2 becomes parallel to the scanning direction.
【0046】最大値:tmaxが得られると、MPU71
は演算:v・tmaxを実行して光スポット間隔:Lを求
めると共に、上記最大値:tmaxが得られたときのステ
ッピングモータのアドレスをセットする。When the maximum value: t max is obtained, the MPU 71
Performs the calculation: v · t max to obtain the light spot interval: L, and sets the address of the stepping motor when the maximum value: t max is obtained.
【0047】図4に、MPU71が上記光スポット検出
を行なう時の上記手順をフロー図として示す。FIG. 4 is a flow chart showing the above-mentioned procedure when the MPU 71 detects the light spot.
【0048】次に、「走査線ピッチ設定」を説明する。
走査線ピッチ設定は、上に説明した「光スポット間隔検
出」の結果を利用して行なわれる。図5のフロー図に示
すように、走査線ピッチ設定が行なわれるときには、前
述のように、最大時間:tmaxが得られるとき、光スポ
ットSP1,SP2の配列方向は「走査方向と平行」に
なるので、このときステッピングモータのアドレスをセ
ットしてこの状態を光源部10の回転に対するホームポ
ジションとする。Next, "scan line pitch setting" will be described.
The scanning line pitch is set by using the result of the "light spot interval detection" described above. As shown in the flow chart of FIG. 5, when the scanning line pitch is set, as described above, when the maximum time: t max is obtained, the arrangement direction of the light spots SP1 and SP2 is "parallel to the scanning direction". Therefore, at this time, the address of the stepping motor is set to set this state as the home position for the rotation of the light source unit 10.
【0049】そして、上記の如く検出された光スポット
間隔:Lに対し、光スポット配列方向を角:θだけ傾け
る(この目的のためには、光源部10を角:θだけ回転
させればよい)と、光スポットSP1,SP2の走査直
交方向の隔たりは、L・sinθとなるから、目的とす
る走査線ピッチ:dに対して、d=L・sinθとなる
角:θを回転角:θとしてMPU71で割り出す(演算
で行なっても良いし、sinθとd/Lの関係を定めた
テーブルに基づいて割り出しても良い)。Then, the light spot arrangement direction is tilted by the angle: θ with respect to the light spot interval: L detected as described above (for this purpose, the light source section 10 may be rotated by the angle: θ). ) And the distance between the light spots SP1 and SP2 in the direction orthogonal to the scanning direction is L · sin θ, and therefore the angle: θ at which d = L · sin θ with respect to the target scanning line pitch: d is the rotation angle: θ. As MPU 71 (calculation may be performed or may be calculated based on a table that defines the relationship between sin θ and d / L).
【0050】そして、この回転角:θを実現するよう
に、MPU71によりステッピングモータMを制御する
ことにより所望の走査線ピッチを設定できる。従って、
この場合、MPU71と回転機構65とが「ピッチ調整
手段」を構成することになる。Then, a desired scanning line pitch can be set by controlling the stepping motor M by the MPU 71 so as to realize this rotation angle: θ. Therefore,
In this case, the MPU 71 and the rotating mechanism 65 constitute "pitch adjusting means".
【0051】かくして、図2に示す2ビーム走査装置
は、光源部10の回転により被走査面50上における複
数の光スポットの配列方向を回転させることのできるマ
ルチビーム走査装置であって、光スポット間隔検出装置
および走査線ピッチ設定装置を有する(請求項7)。Thus, the two-beam scanning device shown in FIG. 2 is a multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on the surface to be scanned 50 by rotating the light source section 10. It has a space | interval detection apparatus and a scanning line pitch setting apparatus (Claim 7).
【0052】[0052]
【発明の効果】以上に説明したように、この発明によれ
ば新規な光スポット間隔検出方法及び装置を実現でき
る。この光スポット間隔検出方法および装置によれば、
光スポット間隔を精度良く検出できる。この発明によれ
ばまた、新規な走査線ピッチ設定方法および装置を実現
できる。この走査線ピッチ設定方法及び装置によれば、
所望の走査線ピッチの容易且つ精度良い設定が可能であ
る。またこの発明によれば、新規なマルチビーム走査装
置を実現できる。このマルチビーム走査装置によれば、
光スポット間隔を精度良く検出できるので、これに基づ
き正確に走査線ピッチを設定することにより良好なマル
チビーム走査を実現できる。As described above, according to the present invention, a novel light spot interval detecting method and device can be realized. According to this light spot interval detection method and device,
The light spot interval can be detected accurately. According to the present invention, it is also possible to realize a new scanning line pitch setting method and apparatus. According to this scanning line pitch setting method and apparatus,
A desired scanning line pitch can be set easily and accurately. Further, according to the present invention, a novel multi-beam scanning device can be realized. According to this multi-beam scanning device,
Since the light spot interval can be detected with high accuracy, good multi-beam scanning can be realized by accurately setting the scanning line pitch based on this.
【図1】この発明の光スポット間隔検出方法を説明する
ための図である。FIG. 1 is a diagram for explaining a light spot interval detection method of the present invention.
【図2】この発明のマルチビーム走査装置の実施の1形
態である2ビーム走査装置を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining a two-beam scanning device which is one embodiment of the multi-beam scanning device of the present invention.
【図3】図2における制御演算部を説明するための図で
ある。FIG. 3 is a diagram for explaining a control calculation unit in FIG.
【図4】上記実施の形態における光スポット間隔検出の
手順を示すフロー図である。FIG. 4 is a flowchart showing a procedure of detecting a light spot interval in the above embodiment.
【図5】上記実施の形態における走査線ピッチ設定の手
順を示すフロー図である。FIG. 5 is a flowchart showing a procedure for setting a scanning line pitch in the above embodiment.
64A 受光素子の受光面 SP1 光スポット SP2 光スポット L 光スポット間隔 Light receiving surface of 64A light receiving element SP1 light spot SP2 light spot L light spot interval
Claims (7)
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、2つの光スポットの間
隔を検出する方法であって、 走査領域外に配備され、複数の光スポットを共通に検出
できる受光面長さを走査直交方向に有する単一の受光素
子を用い、 間隔を検出すべき2つの光スポットにより上記受光面を
所定の走査速度:vで走査し、上記受光素子の出力に基
づき矩形状の信号を得、各光スポットに対応した矩形状
の信号の信号間隔時間:tを検出する工程を、光源部を
回転させつつ繰返し、上記信号間隔時間:tの最大値:
tmaxを得、 上記最大値:tmaxと上記走査速度:vとから、v・t
maxとして光スポット間隔を得ることを特徴とする光ス
ポット間隔検出方法。1. A method for detecting an interval between two light spots in a multi-beam scanning device capable of rotating an arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source section, comprising: Use a single light receiving element that is located outside the area and has a light receiving surface length in the scanning orthogonal direction that can commonly detect multiple light spots, and scan the above light receiving surface with two light spots whose intervals should be detected. The process of scanning at speed: v, obtaining a rectangular signal based on the output of the light receiving element, and detecting the signal interval time: t of the rectangular signal corresponding to each light spot is repeated while rotating the light source unit. , The above signal interval time: maximum value of t:
t max, and from the maximum value: t max and the scanning speed: v, v · t
A method for detecting a light spot interval, which is characterized by obtaining a light spot interval as max .
おいて、 光源部が2つの光源を有することを特徴とする光スポッ
ト間隔検出方法。2. The light spot interval detection method according to claim 1, wherein the light source section has two light sources.
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、複数の光スポットによ
り同時に走査される走査線のピッチを調整する方法であ
って、 請求項1または2記載の方法で光スポット間隔:v・t
maxが検出されるときの光源部の態位を光源部の回転に
対するホームポジションとし、 調整すべき所望の走査線ピッチ:dに対して、d=v・
tmax・sinθを満足する角:θを求め、 光源部を所定の向きに上記角:θだけ回転させることに
より上記走査線のピッチを上記所望の走査線ピッチ:d
に設定することを特徴とする走査線ピッチ設定方法。3. In a multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source section, the pitch of scanning lines simultaneously scanned by a plurality of light spots is adjusted. The method according to claim 1 or 2, wherein the light spot interval: v · t
The position of the light source unit when max is detected is the home position with respect to the rotation of the light source unit, and d = v.
An angle θ that satisfies t max · sin θ is determined, and the pitch of the scanning lines is set to the desired scanning line pitch d by rotating the light source unit in a predetermined direction by the angle θ.
A method for setting a scanning line pitch, characterized in that
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、2つの光スポットの間
隔を検出する装置であって、 光源部を回転させる回転手段と、 走査領域外に配備され、複数の光スポットを共通に検出
できる受光面長さを走査直交方向に有する単一の受光素
子と、 上記回転手段を制御しつつ、間隔を検出すべき2つの光
スポットにより上記受光面を所定の走査速度:vで走査
させて、上記受光素子の出力に基づき矩形状の信号を
得、各光スポットに対応した矩形状の信号の信号間隔時
間:tの最大値:tmaxを得、この最大値:tmaxと上記
走査速度:vとから、v・tmaxとして光スポット間隔
を得る制御・演算手段とを有することを特徴とする光ス
ポット間隔検出装置。4. A multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source part, which is a device for detecting an interval between two light spots. A rotating unit for rotating the unit, a single light receiving element provided outside the scanning region and having a light receiving surface length in the scanning orthogonal direction capable of commonly detecting a plurality of light spots, and an interval while controlling the rotating unit. The light receiving surface is scanned at a predetermined scanning speed: v by two light spots to be detected to obtain a rectangular signal based on the output of the light receiving element, and a rectangular signal signal corresponding to each light spot. A control / calculation means for obtaining the maximum value of the interval time: t: t max, and obtaining the light spot interval as v · t max from the maximum value: t max and the scanning speed: v is characterized. Light spot隔検 detection device.
おいて、 光源部が2つの光源を有することを特徴とする光スポッ
ト間隔検出装置。5. The light spot interval detecting device according to claim 4, wherein the light source unit has two light sources.
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置において、複数の光スポットによ
り同時に走査される走査線のピッチを調整する装置であ
って、 請求項4または5記載の装置で光スポット間隔:v・t
maxが検出されるときの光源部の態位を光源部の回転に
対するホームポジションとし、調整すべき所望の走査線
ピッチ:dに対して、d=v・tmax・sinθを満足
する角:θを求め、光源部を所定の向きに上記角:θだ
け回転させることにより上記走査線のピッチを上記所望
の走査線ピッチ:dに設定するピッチ調整手段を有する
ことを特徴とする走査線ピッチ設定装置。6. A pitch of scanning lines simultaneously scanned by a plurality of light spots in a multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source section. 6. The device according to claim 4 or 5, wherein the light spot interval is v · t.
The position of the light source unit when max is detected is the home position with respect to the rotation of the light source unit, and an angle θ that satisfies d = v · t max · sin θ with respect to the desired scanning line pitch to be adjusted: d And a pitch adjusting means for setting the pitch of the scanning lines to the desired scanning line pitch: d by rotating the light source unit in a predetermined direction by the angle: θ. apparatus.
複数の光スポットの配列方向を回転させることのできる
マルチビーム走査装置であって、 請求項4または5記載の光スポット間隔検出装置もしく
は請求項6記載の走査線ピッチ設定装置を有することを
特徴とするマルチビーム走査装置。7. A multi-beam scanning device capable of rotating the arrangement direction of a plurality of light spots on a surface to be scanned by rotating a light source section, wherein the light spot interval detecting device according to claim 4 or 5. A multi-beam scanning device comprising the scanning line pitch setting device according to claim 6.
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JP20483096A JP3526375B2 (en) | 1996-08-02 | 1996-08-02 | Light spot interval detecting method / scanning line pitch setting method / light spot interval detecting device / scanning line pitch setting device and multi-beam scanning device |
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