JP3514860B2 - 調節弁試験装置 - Google Patents

調節弁試験装置

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JP3514860B2
JP3514860B2 JP02205695A JP2205695A JP3514860B2 JP 3514860 B2 JP3514860 B2 JP 3514860B2 JP 02205695 A JP02205695 A JP 02205695A JP 2205695 A JP2205695 A JP 2205695A JP 3514860 B2 JP3514860 B2 JP 3514860B2
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test
control valve
valve
plant
box
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靖雄 郷端
雅道 川上
豊彦 西村
春夫 安達
光雄 薄田
俊也 大谷
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Chugoku Electric Power Co Inc
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Chugoku Electric Power Co Inc
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は石油精製,石油化学,化
学などの装置産業を始めとして発電用プラント,燃焼ガ
ス(LNG,LPG)プラントなどに至る幅広い範囲に
わたって数多く使用されている調節弁の試験装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来か
ら石油精製,石油化学,化学などの装置産業を始めとし
て発電用プラント,燃焼ガス(LNG,LPG)プラン
トなどに至る幅広い範囲にわたって調節弁が使用されて
いる。
【0003】この調節弁は、機能確認の為、プラントの
定期点検時に合わせて作動状況の確認、分解点検による
主要部品の確認などの各種点検を実施している。
【0004】特に、プラント内での調節弁の作動状況の
確認においては経験のある試験担当者がダイアルゲー
ジ,ストップウオッチ,圧力ゲージ,レギュレーターな
どの必要な計測機器を準備して操作を行い、試験を実施
すると同時に試験結果の評価,記録を実施している。
【0005】このため、試験結果の精度は試験担当者の
経験等に影響されることになる。
【0006】そして、試験結果は手作業により別に指定
された試験成績表に転記され、該試験結果の適否が判定
される。
【0007】本発明は、( ) ヒューマンエラーの防止( ) 試験担当者の経験差に影響されない作動状況の定
量的な把握( ) 試験作業の効率化( ) 測定結果の一元管理 を可能にした調節弁試験装置を提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】添付図面を参照して本発
明の要旨を説明する。
【0009】流体流量を制御する調節弁試験装置であっ
、プラント中に設けられている被試験体と しての任
の調節弁2が所定の機能を発揮するか否かを試験する為
の各機器が設けられ持ち運び可能な試験ボックス9と、
被試験体としての調節弁2の弁部に接続され該弁部の変
位を測定する変位センサー1は、試験ボックス9内に設
けられ予めプラント中の個々の調整弁の作動試験に必要
な弁仕様,実施試験項目,試験条件,判定条件から成る
データが入力されたコンピュータにより制御されるよう
に構成されていることを特徴とする調節弁試験装置に係
るものである。
【0010】請求項1記載の調節弁試験装置において、
調節弁2が所定の機能を発揮するか否の試験としては、
リニアリティ・ヒステリシス試験,作動時間試験,ステ
ップ入力試験,ランプ入力試験であり、その為の試験ボ
ックス9内に設けられる機器としては、変位センサー1
用のアンプ5,シーケンサー6,圧力センサー4,電磁
弁3,電空変換器10,減圧 11 であることを特徴とする
調節弁試験装置に係るものである。
【0011】
【作用】試験ボックス9を現場に持ち込み、被試験体で
ある調節弁2に変位センサー1及び試験ボックス9を接
続し、予め入力された仕様等データに基づいて該調節弁
2が所定の機能を発揮するか否かを試験し、該調節弁2
の機能を確認する。
【0012】
【実施例】図面は本発明の一実施例を図示したもので、
以下に説明する。
【0013】図1は本実施例の主な構成を図示したもの
である。符号1は変位センサー(日本電気三栄社製の9
E08−D3−50(〜50mm測定用)及び9E08
−D3−200(〜200mm測定用)であって、調節
弁2の弁部の移動量を物理的に検知し、電気的に出力す
るものである。また、符号2は調節弁(ニイガタ・メー
ソンネーラン社製の空気ポジショナ式)、符号2aは空
気ポジショナ、符号3は電磁弁(CKD社製のGAB4
52−4及びAG43−02−A)、符号4は圧力セン
サー(横河電機社製のFP101−L13−L20A*
A(0〜1.0kgf/cm2))、符号5は変位セン
サー1用のアンプ(日本電気三栄社製のAS210
2)、符号6はシーケンサー(横河電機社製のFM−M
3:A/D,D/A機能)、符号7はパソコン(NEC
社製のPC−9801NX/C120:ハードディス
ク,フロッピーディスク,ディスプレイ付き)、符号8
はプリンター(NEC社製のPC−PR201/63A
(据置用)及びPC−PR101/TA−R)、符号11
は減圧弁(ニイガタ・メーソンネーラン社製の78−
4)、波線は電気配線、二重線は空気配管である。
【0014】本実施例の場合、図1の点線で囲まれた部
分がパーケージされ試験ボックス9内に収納されてお
り、よって、本実施例は、変位センサー1とプリンター
8と該試験ボックス9の3つの部分で構成される。従っ
て、現場には変位センサー1と試験ボックス9を持ち込
むことで良く、非常に便利となり、それだけ作業性が良
好となる。
【0015】パソコン7にはプラント中の個々の調節弁
2の作動試験に必要な仕様等のデータが調節弁番号をキ
ーとして入力されている。
【0016】仕様等のデータは、弁仕様,実施試験項
目,試験条件,判定条件から成る。
【0017】本実施例で行える試験は、( ) リニアリティ・ヒステリシス試験 開閉各、最大5点、計10点における。リニアリティ・
ヒステリシスを測定。ここで、リニアリティ・ヒステリ
シス試験とは調節弁のリニアリティ及びヒステリシスを
確認する為の試験である。
【0018】( ) 作動時間試験 閉→開、開→閉、最大、各2回の作動時間、テッドタイ
ムを測定。
【0019】( ) ステップ入力試験 開閉各、最大4ステップ、計8ステップの入力信号に対
する調節弁の応答を測定。ここで、ステップ入力試験と
はステップ信号が入力された時の調節弁の作動を確認す
る為の試験である。
【0020】( ) ランプ入力試験 閉→開、開→閉、各1回の任意速度のランプ入力に対す
る調節弁の応答を測定。ここで、ランプ入力試験とは一
定の割合で変化する信号が入力された時の調節弁の作動
を確認する為の試験である。
【0021】上記( ) ( )の試験は前記の仕様等デー
タに従って自動的に行われ、結果はフロッピーディスク
に保存される。
【0022】また、( ) ( )の試験項目については予
め設定された判定基準により判定が行われ、その適否は
試験結果とともにディスプレイに表示される。( )
( )の試験結果とその結果に対する判定から、試験成績
表が作成され、プリンター8により出力する。
【0023】次に本実施例の使用方法を示す。
【0024】予め仕様等データを入力してあるパソコン
7を操作し、ディスプレイに表示される調節弁2のリス
トから所定の調節弁2を選び、その内容を確認し、必要
があれば適宜修正し、その後、プラントの定期点検にお
いて、プラントを分解し清掃したりして始動の為組み立
てた調節弁2(この調節弁2に対して流体は流れていな
い。)の空気ポジショナ2aに図1に図示したように本
実施例の試験ボックス9の空気配管を接続し且つ変位セ
ンサー1を調節弁2の弁部に接続し、パソコン7の操作
により前記試験及びその試験結果の判定を行う(尚、判
定後、必要により再試験を行うか否かが判断され
る。)。そして、試験結果及びその判定(再試験を行っ
た場合も含む。)をプリンター8により印字する。
【0025】尚、本実施例は空気による入力を行う空気
ポジショナ2aを採用した調節弁2の場合であるが、電
気による入力を行う電気式ポジショナを採用した調節弁
2でも良いことはもちろんである。
【0026】本実施例は上述のように構成したから、
( )プラント内の調節弁2の試験を効率良く行うことが
でき、また、( )各調節弁2の仕様等データをバソコン
に予め入力しておく為、定期点検での試験内容や判定条
件をプラントにおける個々の調節弁2の特性により詳細
に設定することが容易になり、また、( )この設定は一
度行えばよく、定期点検ごとに一々設定をする必要はな
く、また、( )仕様等データを変更しない限り、定期点
検ごとにおける同一調節弁の試験内容は同じになる為作
動状況の比較が確実に行え、また、( )フロッピーディ
スクには試験結果に加え、その試験で使用した仕様等デ
ータを一緒に保存している為、試験後にパソコン内部の
仕様等データを変更しても過去の試験結果に対する仕様
等データの参照が可能となり、また、( )試験成績表は
1試験単位の印字の他、1フロッピーディスク内の複数
の試験を連続して印字することもでき、効率的な試験成
績表の作成が可能となる。
【0027】
【発明の効果】本発明は上述のように構成したからプラ
ントの調節弁の試験を効率良く適格に行うことが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例の機構図である。
【符号の説明】
1 変位センサー 2 調節弁 3 電磁弁 4 圧力センサー 5 アンプ 6 シーケンサー 9 試験ボックス 10 電空変換器 11 減圧弁
フロントページの続き (72)発明者 西村 豊彦 広島県広島市中区小町4番33号 中国電 力株式会社内 (72)発明者 安達 春夫 新潟県刈羽郡刈羽村大字十日市800番地 ニイガタ・メーソンネーラン株式会社 刈羽工場内 (72)発明者 薄田 光雄 新潟県刈羽郡刈羽村大字十日市800番地 ニイガタ・メーソンネーラン株式会社 刈羽工場内 (72)発明者 大谷 俊也 新潟県刈羽郡刈羽村大字十日市800番地 ニイガタ・メーソンネーラン株式会社 刈羽工場内 (56)参考文献 特開 平4−47248(JP,A) 特開 昭55−149037(JP,A) 実開 平1−146140(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 13/00

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 流体流量を制御する調節弁試験装置であ
    って、プラント中に設けられている被試験体としての任
    意の調節弁が所定の機能を発揮するか否かを試験する為
    の各機器が設けられ持ち運び可能な試験ボックスと、被
    試験体としての調節弁の弁部に接続され該弁部の変位を
    測定する変位センサーは、試験ボックス内に設けられ予
    めプラント中の個々の調整弁の作動試験に必要な弁仕
    様,実施試験項目,試験条件,判定条件から成るデータ
    が入力されたコンピュータにより制御されるように構成
    されていることを特徴とする調節弁試験装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の調節弁試験装置におい
    て、調節弁が所定の機能を発揮するか否の試験として
    は、リニアリティ・ヒステリシス試験,作動時間試験,
    ステップ入力試験,ランプ入力試験であり、その為の試
    験ボックス内に設けられる機器としては、変位センサー
    用のアンプ,シーケンサー,圧力センサー,電磁弁,電
    空変換器,減圧弁であることを特徴とする調節弁試験装
    置。
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JP4164675B2 (ja) * 2003-12-04 2008-10-15 株式会社Ihi サーボ弁特性測定装置
JP4510800B2 (ja) * 2006-12-22 2010-07-28 麒麟麦酒株式会社 バルブのシャフト詰まり検査方法
JP5800746B2 (ja) * 2011-09-30 2015-10-28 日信工業株式会社 シール部材

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