JP3508743B2 - Waveform distortion determination apparatus and waveform distortion determination method - Google Patents

Waveform distortion determination apparatus and waveform distortion determination method

Info

Publication number
JP3508743B2
JP3508743B2 JP2001195846A JP2001195846A JP3508743B2 JP 3508743 B2 JP3508743 B2 JP 3508743B2 JP 2001195846 A JP2001195846 A JP 2001195846A JP 2001195846 A JP2001195846 A JP 2001195846A JP 3508743 B2 JP3508743 B2 JP 3508743B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveform
logic
differentiating
limit voltage
waveform distortion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001195846A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2003014797A (en
Inventor
和廣 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2001195846A priority Critical patent/JP3508743B2/en
Publication of JP2003014797A publication Critical patent/JP2003014797A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3508743B2 publication Critical patent/JP3508743B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、論理回路において
論理素子に入力される論理信号の歪みを判定する波形歪
判定装置および波形歪判定方法に関し、特に論理信号の
歪みをデジタル的に判定する波形歪判定装置および波形
歪判定方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveform distortion judging apparatus and a waveform distortion judging method for judging distortion of a logic signal input to a logic element in a logic circuit, and more particularly to a waveform for judging distortion of a logic signal digitally. The present invention relates to a distortion determination device and a waveform distortion determination method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、論理回路において論理素子に入力
される論理信号の論理0の閾値電圧と、論理1の閾値電
圧との間の線形動作領域もしくは能動動作領域に電圧の
逆転(段差)等があると、論理素子が誤動作をする可能
性があるため、論理回路の安定動作のためには論理信号
の前縁(立ち上がり)部の波形と、後縁(立ち下り)部
の波形とをオシロスコープ等を使用して測定者が目視で
観測し、電圧の逆転がない等の判定を行っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, inversion of voltage (step) in a linear operation region or an active operation region between a logic 0 threshold voltage and a logic 1 threshold voltage of a logic signal input to a logic element in a logic circuit. Since there is a possibility that the logic element may malfunction, the waveform of the leading edge (rising edge) and the waveform of the trailing edge (falling edge) of the logic signal can be measured with an oscilloscope for stable operation of the logic circuit. The operator made a visual observation by using a device such as “A” to make a determination that there was no voltage reversal.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、波形の確認および判定には測定者の個人差があ
り、微妙な段差等を見逃すことにより、本来異常と判定
されなければならない場合にも正常と判定される可能性
があり、常に正しい判定を行うことができないという問
題点があった。
However, in the prior art, there are individual differences in the confirmation and determination of waveforms between measuring persons, and even when it is necessary to determine an abnormality by overlooking a subtle step or the like. There is a problem that it may be judged as normal, and a correct judgment cannot always be made.

【0004】本発明は斯かる問題点を鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、論理回路において
論理素子に入力される論理信号の前縁部の波形と後縁部
の波形とをデジタル的に判定することにより、微妙な段
差等を見逃すことなく、常に正しい判定を行うことがで
きる波形歪判定装置および波形歪判定方法を提供する点
にある。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a leading edge waveform and a trailing edge waveform of a logic signal input to a logic element in a logic circuit. It is to provide a waveform distortion determination device and a waveform distortion determination method that can always make a correct determination without missing a subtle level difference by digitally determining.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
すべく、以下に掲げる構成とした。請求項1記載の発明
の要旨は、論理回路において論理素子に入力される論理
信号の歪みを判定する波形歪判定装置であって、前記論
理信号を微分する第1微分手段と、該第1微分手段によ
り微分された波形を更に微分する第2微分手段と、前記
第1微分手段から出力と前記第2微分手段から出力とに
基づいて前記論理信号が正常か異常かを判定する判定手
段とを具備することを特徴とする波形歪判定装置に存す
る。また請求項2記載の発明の要旨は、前記判定手段
は、パルス数をカウントすることにより前記論理信号が
正常か異常かを判定させることを特徴とする請求項1記
載の波形歪判定装置に存する。また請求項3記載の発明
の要旨は、前記論理信号の1サイクル分の波形を切り取
る通過スイッチ手段を具備し、前記第1微分手段は、前
記通過スイッチ手段により切り取られた波形を微分させ
ることを特徴とする請求項1又は2記載の波形歪判定装
置に存する。また請求項4記載の発明の要旨は、前記通
過スイッチ手段により切り取られた波形を任意に設定さ
れた下限電圧と上限電圧とでスライスするスライス手段
と、該スライス手段によりスライスされた波形を増幅す
る増幅手段とを具備し、前記第1微分手段は、前記増幅
手段により増幅された波形を微分させることを特徴とす
る請求項1乃至3のいずれかに記載の波形歪判定装置に
存する。また請求項5記載の発明の要旨は、前記スライ
ス手段によりスライスする際の前記下限電圧と前記上限
電圧とは、それぞれ前記論理素子の論理判定の閾値電圧
とさせることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに
記載の波形歪判定装置に存する。また請求項6記載の発
明の要旨は、論理回路において論理素子に入力される論
理信号の歪みを判定する波形歪判定方法であって、前記
論理信号を微分して第1微分波形を生成し、該第1微分
波形を更に微分して第2微分波形を生成し、前記第1微
分波形と前記第2微分波形とに基づいて前記論理信号が
正常か異常かを判定することを特徴とする波形歪判定方
法に存する。また請求項7記載の発明の要旨は、前記第
1微分波形および前記第2微分波形のパルス数をそれぞ
れカウントすることにより前記論理信号が正常か異常か
を判定することを特徴とする請求項6記載の波形歪判定
方法に存する。また請求項8記載の発明の要旨は、前記
論理信号の1サイクル分の波形を切り取り、該切り取ら
れた波形を微分して前記第1微分波形を生成することを
特徴とする請求項6又は7記載の波形歪判定方法に存す
る。また請求項9記載の発明の要旨は、前記切り取った
波形を任意に設定された下限電圧と上限電圧とでスライ
スし、該スライスした波形を増幅し、該増幅した波形を
微分して前記第1微分波形を生成することを特徴とする
請求項6乃至8のいずれかに記載の波形歪判定方法に存
する。また請求項10記載の発明の要旨は、前記スライ
スする際の前記下限電圧と前記上限電圧とは、それぞれ
前記論理素子の論理判定の閾値電圧であることを特徴と
する請求項6乃至9のいずれかに記載の波形歪判定方法
に存する。
The present invention has the following constitution in order to solve the above problems. The gist of the invention according to claim 1 is a waveform distortion determination device for determining distortion of a logic signal input to a logic element in a logic circuit, the first differentiation means for differentiating the logic signal, and the first differentiation means. Second differentiating means for further differentiating the waveform differentiated by the means, and judging means for judging whether the logic signal is normal or abnormal based on the output from the first differentiating means and the output from the second differentiating means. A waveform distortion determination device characterized by being provided. The gist of the invention according to claim 2 resides in the waveform distortion determination device according to claim 1, wherein the determination means determines whether the logic signal is normal or abnormal by counting the number of pulses. . The gist of the invention according to claim 3 further comprises a passage switch means for cutting out a waveform of one cycle of the logic signal, and the first differentiating means differentiates the waveform cut out by the passage switch means. The waveform distortion determination device according to claim 1 or 2 is characterized. A fourth aspect of the present invention is to provide a slicing means for slicing the waveform cut out by the passage switch means with an arbitrarily set lower limit voltage and upper limit voltage, and amplifying the sliced waveform by the slicing means. The waveform distortion determination apparatus according to claim 1, further comprising an amplifying unit, wherein the first differentiating unit differentiates the waveform amplified by the amplifying unit. A fifth aspect of the present invention is characterized in that the lower limit voltage and the upper limit voltage at the time of slicing by the slicing means are threshold voltages for logic determination of the logic element. The waveform distortion determination device according to any one of 4 above. A sixth aspect of the present invention is a waveform distortion determination method for determining distortion of a logic signal input to a logic element in a logic circuit, wherein the logic signal is differentiated to generate a first differential waveform, A waveform characterized by further differentiating the first differential waveform to generate a second differential waveform, and determining whether the logic signal is normal or abnormal based on the first differential waveform and the second differential waveform. Exists in the distortion determination method. Further, the gist of the invention according to claim 7 is that whether the logic signal is normal or abnormal is determined by counting the number of pulses of each of the first differential waveform and the second differential waveform. It exists in the described waveform distortion determination method. Further, the gist of the invention according to claim 8 is that the waveform of one cycle of the logic signal is cut out, and the cut-off waveform is differentiated to generate the first differential waveform. It exists in the described waveform distortion determination method. Further, the gist of the invention according to claim 9 is to slice the cut-off waveform with an arbitrarily set lower limit voltage and upper limit voltage, amplify the sliced waveform, and differentiate the amplified waveform to differentiate the first waveform. The waveform distortion determination method according to any one of claims 6 to 8, wherein a differential waveform is generated. Further, the gist of the invention according to claim 10 is that the lower limit voltage and the upper limit voltage at the time of slicing are threshold voltages for logic determination of the logic element, respectively. The waveform distortion determination method described in (1) exists.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0007】図1は、本発明に係る波形歪判定装置の実
施の形態の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of a waveform distortion determination device according to the present invention.

【0008】本実施の形態は、プローブ部1と、通過ス
イッチ制御部2と、通過スイッチ部3と、スライス部4
と、増幅部5と、第1微分部6と、第1整流部7と、第
2微分部8と、第2整流部9と、検出部10とからな
り、TTL(transistor transistor logic)等の論理
回路(被測定回路)の論理信号が正常か異常かを判定す
る。
In this embodiment, the probe unit 1, the passage switch control unit 2, the passage switch unit 3, and the slice unit 4 are provided.
And an amplifying section 5, a first differentiating section 6, a first rectifying section 7, a second differentiating section 8, a second rectifying section 9 and a detecting section 10, such as a TTL (transistor transistor logic). Determine whether the logic signal of the logic circuit (circuit under test) is normal or abnormal.

【0009】プローブ部1は、被測定回路からほとんど
電流を奪わないようにするため、被測定回路の比べて高
インピーダンス、広帯域なものを使用し、被測定回路か
ら被測定信号を入力する。
The probe section 1 uses a circuit having a high impedance and a wide band as compared with the circuit under test so that the circuit under test draws almost no current and inputs a signal under measurement from the circuit under test.

【0010】通過スイッチ制御部2は、被測定信号、あ
るいは被測定信号と一定の関係を持つ信号に基づいて、
被測定信号の1サイクルを通過させるのに必要なタイミ
ング信号を作成する。
The pass-switch control section 2 determines, based on the signal under measurement or a signal having a fixed relationship with the signal under measurement,
A timing signal required to pass one cycle of the signal under measurement is created.

【0011】通過スイッチ部3は、アナログスイッチで
あり、通過スイッチ制御部2で作成されるタイミング信
号に基づき、被測定信号の1サイクル分を次段のスライ
ス部4に送出する。
The pass switch unit 3 is an analog switch and sends out one cycle of the signal under measurement to the slice unit 4 of the next stage based on the timing signal generated by the pass switch control unit 2.

【0012】スライス部4は、アース電位を基準とした
任意の下限電圧(Vsl)から任意の電圧幅(Vδ)の
上限電圧(Vsh)までの間の波形を選択して切り取
り、次段の増幅部5に送出する。なお、下限電圧値(V
sl)および電圧幅(Vδ)は、任意の値に設定可能で
ある。下限電圧(Vsl)を論理0の閾値電圧に設定
し、上限電圧(Vsh)を論理1の閾値電圧に設定すれ
ば論理素子の線形動作領域を切り取ることができる。T
TLの場合は下限電圧(Vsl)を800mVとし、上
限電圧(Vsh)を2Vすると良い。
The slicing unit 4 selects and cuts a waveform from an arbitrary lower limit voltage (Vsl) to an upper limit voltage (Vsh) having an arbitrary voltage width (Vδ) with respect to the ground potential, and amplifies the next stage. It is sent to the unit 5. The lower limit voltage value (V
sl) and the voltage width (Vδ) can be set to arbitrary values. By setting the lower limit voltage (Vsl) to the threshold voltage of logic 0 and the upper limit voltage (Vsh) to the threshold voltage of logic 1, the linear operation region of the logic element can be cut off. T
In the case of TL, the lower limit voltage (Vsl) may be 800 mV and the upper limit voltage (Vsh) may be 2V.

【0013】増幅部5は、スライス部4によりスライス
されて振幅の減少した波形を増幅し、次段の第1微分部
6に送出する。
The amplifying section 5 amplifies the waveform whose amplitude is reduced by being sliced by the slicing section 4 and sends it to the first differentiating section 6 in the next stage.

【0014】第1微分部6および第2微分部8は、それ
ぞれ増幅部5および第1微分部6からの出力を微分し、
波形の傾きに応じた電圧を出力する。即ち、波形の電圧
値が増加の場合は正極性出力、減少の場合は負極性出
力、変化無しの場合は0Vを出力する。第1微分部6
は、微分した波形を第1整流部7と第2微分部8とに送
出し、第2微分部8は、微分した波形を第2整流部9に
送出する。
The first differentiating section 6 and the second differentiating section 8 differentiate the outputs from the amplifying section 5 and the first differentiating section 6, respectively,
It outputs a voltage according to the slope of the waveform. That is, when the voltage value of the waveform increases, the positive output is output, when it decreases, the negative output, and when there is no change, 0V is output. First differentiator 6
Sends the differentiated waveform to the first rectifying unit 7 and the second differentiating unit 8, and the second differentiating unit 8 sends the differentiated waveform to the second rectifying unit 9.

【0015】第1整流部7および第2整流部9は、それ
ぞれ第1微分部6および第2微分部8からの出力を半波
整流することで正極性出力を削除し、負極性出力を次段
検出部10に送出する。
The first rectifying section 7 and the second rectifying section 9 half-wave rectify the outputs from the first differentiating section 6 and the second differentiating section 8, respectively, to eliminate the positive polarity output, and the negative polarity output to the next. It is sent to the stage detection unit 10.

【0016】検出部10は、通過スイッチ制御部2から
のタイミング信号に基づいて、第1整流部7からの出力
と、第2整流部9の出力の負極性パルスをそれぞれカウ
ントし、負極性パルスのカウント結果により被測定信号
が正常か異常かを判定する。
The detection unit 10 counts the negative polarity pulses of the output from the first rectification unit 7 and the output of the second rectification unit 9 based on the timing signal from the passage switch control unit 2, and outputs the negative polarity pulse. Whether the signal under measurement is normal or abnormal is determined based on the count result of.

【0017】次に、本実施の形態の動作について図2乃
至図5を参照して詳細に説明する。図2は、図1に示す
波形歪判定装置に正常な被測定信号が入力された場合の
波形の状態推移を示す図であり、図3は、図1に示す波
形歪判定装置に前縁部に段差がある被測定信号が入力さ
れた場合の波形の状態推移を示す図であり、図4は、図
1に示す波形歪判定装置に前縁部の傾斜が途中で変化す
る被測定信号が入力された場合の波形の状態推移を示す
図であり、図5は、図1に示す検出部における判定結果
を示す判定表である。
Next, the operation of the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 2 is a diagram showing a state transition of a waveform when a normal measured signal is input to the waveform distortion determination device shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a front edge portion of the waveform distortion determination device shown in FIG. FIG. 4 is a diagram showing a state transition of a waveform when a signal under measurement having a step is input to the waveform distortion determining device shown in FIG. It is a figure which shows the state transition of the waveform at the time of being input, and FIG. 5 is a determination table which shows the determination result in the detection part shown in FIG.

【0018】まず、正常な被測定信号(A1)が入力さ
れた場合について図2を参照して説明する。プローブ部
1に入力された正常な被測定信号(A1)は、プローブ
部1から通過スイッチ部3に送られ、通過スイッチ部3
は、通過スイッチ制御部2の制御に基づいて、1サイク
ル分の波形が抽出し、抽出した1サイクル分の波形をス
ライス部4に送出する。
First, the case where a normal signal under measurement (A1) is input will be described with reference to FIG. The normal measured signal (A1) input to the probe unit 1 is sent from the probe unit 1 to the passage switch unit 3 and the passage switch unit 3
Under the control of the passage switch control unit 2, the waveform for one cycle is extracted, and the extracted waveform for one cycle is sent to the slice unit 4.

【0019】スライス部4は、アース電位を基準とした
下限電圧(Vsl)と上限電圧(Vsh)間の波形を切
り取り(A2)、切り取った波形(A2)を増幅部5に
送出し、増幅部5は、波形(A2)を増幅し(A3)、
増幅した波形(A3)を第1微分部6に送出する。被測
定信号(A1)が正常な場合、切り取った波形(A2)
および増幅した波形(A3)は、前縁(立ち上がり)部
と、後縁(立ち下り)部とが一様に変化し、段差(電圧
レベルの減少)あるいは傾きに大きな変化のない信号と
なる。
The slicing unit 4 cuts (A2) the waveform between the lower limit voltage (Vsl) and the upper limit voltage (Vsh) with respect to the ground potential, sends the cut waveform (A2) to the amplifying unit 5, and the amplifying unit 5 5 amplifies the waveform (A2) (A3),
The amplified waveform (A3) is sent to the first differentiator 6. When the measured signal (A1) is normal, the cut waveform (A2)
The amplified waveform (A3) is a signal in which the leading edge (rising edge) and the trailing edge (falling edge) change uniformly, and there is no large change in step (decrease in voltage level) or slope.

【0020】第1微分部6は、波形(A3)の微分を行
い(A4)、微分した波形(A4)を第1整流部7と第
2微分部8とに送出する。被測定信号(A1)が正常な
場合、スライスして増幅された波形(A3)の前縁部と
後縁部とは、一様な変化をしているため、第1微分部6
から出力される波形(A4)には、前縁部に正極性パル
スが1個、後縁部に負極性パルスが1個得られる。
The first differentiating section 6 differentiates the waveform (A3) (A4) and sends the differentiated waveform (A4) to the first rectifying section 7 and the second differentiating section 8. When the signal under measurement (A1) is normal, the leading edge portion and the trailing edge portion of the waveform (A3) amplified by slicing have a uniform change.
From the waveform (A4) output from, one positive pulse is obtained at the leading edge and one negative pulse is obtained at the trailing edge.

【0021】第1整流部7は、第1微分部6からの波形
(A4)を半波整流することで正極性パルスを削除し
(A5)、半波整流した波形(A5)を検出部10に送
出する。被測定信号(A1)が正常な場合、半波整流さ
れた波形(A5)には、後縁部に負極性パルスが1個得
られる。
The first rectifying section 7 deletes the positive polarity pulse by half-wave rectifying the waveform (A4) from the first differentiating section 6 (A5), and the half-wave rectified waveform (A5) is detected by the detecting section 10. Send to. When the signal under measurement (A1) is normal, one pulse of negative polarity is obtained at the trailing edge of the half-wave rectified waveform (A5).

【0022】第2微分部8は、第1微分部6からの波形
(A4)を更に微分し(A6)、微分した波形(A6)
を第2整流部9に送出する。被測定信号(A1)が正常
な場合、微分された波形(A6)には、前縁部に正極性
パルスが1個と負極性パルスが1個、後縁部に負極性パ
ルスが1個と正極性パルスが1個得られる。
The second differentiating section 8 further differentiates the waveform (A4) from the first differentiating section 6 (A6), and differentiates the waveform (A6).
Is sent to the second rectification unit 9. When the signal under measurement (A1) is normal, the differentiated waveform (A6) has one positive pulse and one negative pulse at the leading edge and one negative pulse at the trailing edge. One positive pulse is obtained.

【0023】第2整流部9は、第2微分部8からの波形
(A6)を半波整流することで正極性パルスを削除し
(A7)、半波整流した波形(A5)を検出部10に送
出する。被測定信号(A1)が正常な場合、半波整流さ
れた波形(A7)には、前縁部と後縁部とに各1個の計
2個の負極性パルスが得られる。
The second rectifying section 9 removes the positive pulse by half-wave rectifying the waveform (A6) from the second differentiating section 8 (A7), and the half-wave rectified waveform (A5) is detected by the detecting section 10. Send to. When the signal under test (A1) is normal, the half-wave rectified waveform (A7) has a total of two negative polarity pulses, one at the leading edge and one at the trailing edge.

【0024】検出部10は、第1整流部7からの波形
(A5)と、第2整流部9からの波形(A7)の負極性
パルスの数をそれぞれカウントし、図5に示す判定表に
基づいて、被測定信号(A1)が正常か異常かを判定
し、図示しないディスプレイ等により判定結果を表示す
る。被測定信号(A1)が正常なので、第1整流部7か
らの波形(A5)に1個、第2整流部9からの波形(A
7)に2個の負極性パルスが得られる。
The detection unit 10 counts the number of negative polarity pulses of the waveform (A5) from the first rectification unit 7 and the waveform (A7) from the second rectification unit 9, respectively, and displays them in the judgment table shown in FIG. Based on this, it is determined whether the signal under measurement (A1) is normal or abnormal, and the determination result is displayed on a display or the like not shown. Since the measured signal (A1) is normal, one waveform (A5) from the first rectifying unit 7 and one waveform (A5 from the second rectifying unit 9
Two negative pulses are obtained in 7).

【0025】次に、前縁部に段差がある被測定信号(B
1)が入力された場合について図3を参照して説明す
る。プローブ部1に入力された前縁部に段差がある被測
定信号(B1)は、プローブ部1から通過スイッチ部3
に送られ、通過スイッチ部3は、通過スイッチ制御部2
の制御に基づいて、1サイクル分の波形が抽出し、抽出
した1サイクル分の波形をスライス部4に送出する。
Next, the measured signal (B
The case where 1) is input will be described with reference to FIG. The signal to be measured (B1) having a step at the front edge, which is input to the probe unit 1, is transmitted from the probe unit 1 to the passage switch unit 3
And the passage switch unit 3 is connected to the passage switch control unit 2
Under the control of 1, the waveform for one cycle is extracted, and the extracted waveform for one cycle is sent to the slice unit 4.

【0026】スライス部4は、アース電位を基準とした
下限電圧(Vsl)と上限電圧(Vsh)間の波形を切
り取り(B2)、切り取った波形(B2)を増幅部5に
送出し、増幅部5は、波形(B2)を増幅し(B3)、
増幅した波形(B3)を第1微分部6に送出する。被測
定信号(B1)の前縁部に段差がある場合、切り取った
波形(B2)および増幅した波形(B3)は、前縁部に
大きな段差がある信号となる。
The slicing unit 4 cuts (B2) the waveform between the lower limit voltage (Vsl) and the upper limit voltage (Vsh) with respect to the ground potential, sends the cut waveform (B2) to the amplification unit 5, and the amplification unit 5 5 amplifies the waveform (B2) (B3),
The amplified waveform (B3) is sent to the first differentiator 6. When the measured signal (B1) has a step at the front edge, the cut waveform (B2) and the amplified waveform (B3) are signals having a large step at the front edge.

【0027】第1微分部6は、波形(B3)の微分を行
い(B4)、微分した波形(B4)を第1整流部7と第
2微分部8とに送出する。被測定信号(B1)の前縁部
に段差がある場合、スライスして増幅された波形(B
3)の前縁部には、大きな段差があるため、第1微分部
6から出力される波形(B4)には、前縁部に正極性パ
ルスが2個と負極性パルスが1個、後縁部に負極性パル
スが1個得られる。
The first differentiating section 6 differentiates the waveform (B3) (B4) and sends the differentiated waveform (B4) to the first rectifying section 7 and the second differentiating section 8. If there is a step at the front edge of the signal under measurement (B1), the waveform (B
Since there is a large step at the leading edge of 3), the waveform (B4) output from the first differentiator 6 has two positive polarity pulses, one negative polarity pulse, and one negative polarity pulse at the leading edge. One negative pulse is obtained at the edge.

【0028】第1整流部7は、第1微分部6からの波形
(B4)を半波整流することで正極性パルスを削除し
(B5)、半波整流した波形(B5)を検出部10に送
出する。被測定信号(B1)の前縁部に段差がある場
合、半波整流された波形(B5)には、前縁部に1個、
後縁部に1個の計2個の負極性パルスが得られる。
The first rectifying unit 7 deletes the positive pulse by half-wave rectifying the waveform (B4) from the first differentiating unit 6 (B5), and the half-wave rectified waveform (B5) is detected by the detecting unit 10. Send to. When the measured signal (B1) has a step at the front edge, the half-wave rectified waveform (B5) has one at the front edge,
Two negative polarity pulses are obtained, one at the trailing edge.

【0029】第2微分部8は、第1微分部6からの波形
(B4)を更に微分し(B6)、微分した波形(B6)
を第2整流部9に送出する。被測定信号(B1)の前縁
部に段差がある場合、微分された波形(B6)には、前
縁部分に正極性パルスが3個と負極性パルスが4個、後
縁部に負極性パルスが1個と正極性パルスが1個得られ
る。
The second differentiating section 8 further differentiates the waveform (B4) from the first differentiating section 6 (B6) and differentiates the waveform (B6).
Is sent to the second rectification unit 9. When the measured signal (B1) has a step at the leading edge, the differentiated waveform (B6) has three positive pulses and four negative pulses at the leading edge and a negative polarity at the trailing edge. One pulse and one positive pulse are obtained.

【0030】第2整流部9は、第2微分部8からの波形
(B6)を半波整流することで正極性パルスを削除し
(B7)、半波整流した波形(B5)を検出部10に送
出する。被測定信号(B1)の前縁部に段差がある場
合、半波整流された波形(B7)には、前縁部に4個、
後縁部に1個の計5個の負極性パルスが得られる。
The second rectifying section 9 removes the positive polarity pulse by half-wave rectifying the waveform (B6) from the second differentiating section 8 (B7), and the half-wave rectified waveform (B5) is detected by the detecting section 10. Send to. When the measured signal (B1) has a step at the leading edge, the half-wave rectified waveform (B7) has four points at the leading edge.
A total of 5 negative polarity pulses are obtained, one at the trailing edge.

【0031】検出部10は、第1整流部7からの波形
(B5)と、第2整流部9からの波形(B7)の負極性
パルスの数をそれぞれカウントし、図5に示す判定表に
基づいて、被測定信号(B1)が正常か異常かを判定
し、図示しないディスプレイ等により判定結果を表示す
る。被測定信号(B1)の前縁部に段差がある場合、第
1整流部7からの波形(B5)に2個、第2整流部9か
らの波形(B7)に5個の負極性パルスが得られ、異常
と判定される。
The detecting section 10 counts the number of negative polarity pulses of the waveform (B5) from the first rectifying section 7 and the waveform (B7) from the second rectifying section 9, respectively, and the result is shown in the judgment table shown in FIG. Based on this, it is determined whether the signal under measurement (B1) is normal or abnormal, and the determination result is displayed on a display (not shown) or the like. When there is a step at the front edge of the signal under measurement (B1), there are two negative polarity pulses in the waveform (B5) from the first rectifying unit 7 and five negative polarity pulses in the waveform (B7) from the second rectifying unit 9. It is obtained and judged to be abnormal.

【0032】次に、前縁部の傾斜が途中で変化する被測
定信号(C1)が入力された場合について図4を参照し
て説明する。プローブ部1に入力された前縁部の傾斜が
途中で変化する被測定信号(C1)は、プローブ部1か
ら通過スイッチ部3に送られ、通過スイッチ部3は、通
過スイッチ制御部2の制御に基づいて、1サイクル分の
波形が抽出し、抽出した1サイクル分の波形をスライス
部4に送出する。
Next, the case where the signal under measurement (C1) in which the inclination of the front edge changes midway is input will be described with reference to FIG. The signal to be measured (C1), which is input to the probe unit 1 and whose inclination of the leading edge portion changes midway, is sent from the probe unit 1 to the pass switch unit 3, and the pass switch unit 3 controls the pass switch control unit 2. Based on the above, the waveform for one cycle is extracted, and the extracted waveform for one cycle is sent to the slice unit 4.

【0033】スライス部4は、アース電位を基準とした
下限電圧(Vsl)と上限電圧(Vsh)間の波形を切
り取り(C2)、切り取った波形(C2)を増幅部5に
送出し、増幅部5は、波形(C2)を増幅し(C3)、
増幅した波形(C3)を第1微分部6に送出する。被測
定信号(C1)の前縁部の傾斜が途中で変化する場合、
切り取った波形(C2)および増幅した波形(C3)
は、前縁部の傾きに大きな変化がある信号となる。
The slicing unit 4 cuts (C2) the waveform between the lower limit voltage (Vsl) and the upper limit voltage (Vsh) with respect to the ground potential, sends the cut waveform (C2) to the amplifying unit 5, and the amplifying unit 5 5 amplifies the waveform (C2) (C3),
The amplified waveform (C3) is sent to the first differentiator 6. When the inclination of the front edge of the signal under measurement (C1) changes midway,
Clipped waveform (C2) and amplified waveform (C3)
Is a signal with a large change in the inclination of the leading edge.

【0034】第1微分部6は、波形(C3)の微分を行
い(C4)、微分した波形(C4)を第1整流部7と第
2微分部8とに送出する。被測定信号(C1)の前縁部
の傾斜が途中で変化する場合、スライスして増幅された
波形(C3)の前縁部には、大きな傾斜変化があるた
め、第1微分部6から出力される波形(C4)には、前
縁部に歪みのある正極性パルスが1個、後縁部に負極性
パルスが1個得られる。
The first differentiating section 6 differentiates the waveform (C3) (C4) and sends the differentiated waveform (C4) to the first rectifying section 7 and the second differentiating section 8. When the inclination of the leading edge of the signal under measurement (C1) changes in the middle, there is a large inclination change in the leading edge of the waveform (C3) amplified by slicing. In the waveform (C4) to be generated, one positive polarity pulse having a distortion at the leading edge portion and one negative polarity pulse at the trailing edge portion are obtained.

【0035】第1整流部7は、第1微分部6からの波形
(C4)を半波整流することで正極性パルスを削除し
(C5)、半波整流した波形(C5)を検出部10に送
出する。被測定信号(C1)の前縁部の傾斜が途中で変
化する場合、半波整流された波形(C5)には、後縁部
に1個の負極性パルスが得られる。
The first rectifying unit 7 deletes the positive pulse by half-wave rectifying the waveform (C4) from the first differentiating unit 6 (C5), and the half-wave rectified waveform (C5) is detected by the detecting unit 10. Send to. When the slope of the leading edge portion of the signal under measurement (C1) changes midway, the negative waveform pulse is obtained at the trailing edge portion in the half-wave rectified waveform (C5).

【0036】第2微分部8は、第1微分部6からの波形
(C4)を更に微分し(C6)、微分した波形(C6)
を第2整流部に送出する。被測定信号(C1)の前縁部
の傾斜が途中で変化する場合、微分された波形(C6)
には、前縁部分に正極性パルスが2個と負極性パルスが
2個、後縁部に負極性パルスが1個と正極性パルスが1
個得られる。
The second differentiating section 8 further differentiates the waveform (C4) from the first differentiating section 6 (C6), and differentiates the waveform (C6).
To the second rectification unit. When the slope of the front edge of the signal under measurement (C1) changes in the middle, the differentiated waveform (C6)
Has two positive and two negative pulses at the leading edge and one negative and one positive pulse at the trailing edge.
You can get one.

【0037】第2整流部9は、第2微分部8からの波形
(C6)を半波整流することで正極性パルスを削除し
(C7)、半波整流した波形(C5)を検出部10に送
出する。被測定信号(C1)の前縁部の傾斜が途中で変
化する場合、半波整流された波形(C7)には、前縁部
に2個、後縁部に1個の計3個の負極性パルスが得られ
る。
The second rectifying section 9 removes the positive pulse by half-wave rectifying the waveform (C6) from the second differentiating section 8 (C7), and the half-wave rectified waveform (C5) is detected by the detecting section 10. Send to. When the inclination of the front edge of the signal under measurement (C1) changes in the middle, the half-wave rectified waveform (C7) has two negative electrodes at the front edge and three negative electrodes at the rear edge. A sex pulse is obtained.

【0038】検出部10は、第1整流部7からの波形
(C5)と、第2整流部9からの波形(C7)の負極性
パルスの数をそれぞれカウントし、図5に示す判定表に
基づいて、被測定信号(C1)が正常か異常かを判定
し、図示しないディスプレイ等により判定結果を表示す
る。被測定信号(C1)の前縁部の傾斜が途中で変化す
る場合、第1整流部7からの波形(C5)に1個、第2
整流部9からの波形(C7)に3個の負極性パルスが得
られ、異常と判定される。
The detecting section 10 counts the number of negative polarity pulses of the waveform (C5) from the first rectifying section 7 and the waveform (C7) from the second rectifying section 9, respectively. Based on this, it is determined whether the signal under measurement (C1) is normal or abnormal, and the determination result is displayed on a display or the like not shown. When the inclination of the front edge of the signal under measurement (C1) changes on the way, one in the waveform (C5) from the first rectifying unit 7, the second
Three negative polarity pulses are obtained in the waveform (C7) from the rectification unit 9, and it is determined that the pulse is abnormal.

【0039】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、論理回路において論理素子に入力される論理信号の
前縁部の波形と後縁部の波形とを微分・整流して負極性
パルスを生成し、生成した負極性パルスをカウントして
正常か異常かをデジタル的に判定することにより、微妙
な段差等を見逃すことなく、常に正しい判定を行うこと
ができるという効果を奏する。
As described above, according to the present embodiment, the negative polarity pulse is obtained by differentiating and rectifying the waveform of the leading edge portion and the waveform of the trailing edge portion of the logic signal input to the logic element in the logic circuit. Is generated, and the generated negative polarity pulse is counted to digitally determine whether the pulse is normal or abnormal. Therefore, it is possible to always make a correct determination without missing a subtle step or the like.

【0040】更に、本実施の形態によれば、スライス部
4において下限電圧(Vsl)と上限電圧(Vsh)間
の波形を切り取り、切り取った波形を増幅部5で増幅し
て利得を上げて、前縁部と後縁部を拡大した波形に基づ
く判定を行うため、論理信号の微小な段差の有無、微妙
な傾きの変化の有無を検出することができ、判定の精度
向上を図ることができるという効果を奏する。
Further, according to the present embodiment, the waveform between the lower limit voltage (Vsl) and the upper limit voltage (Vsh) is cut in the slicing unit 4, and the cut waveform is amplified by the amplifying unit 5 to increase the gain. Since the determination is performed based on the waveform in which the leading edge and the trailing edge are enlarged, it is possible to detect the presence or absence of a minute step in the logic signal and the presence or absence of a slight change in the inclination, and it is possible to improve the accuracy of the determination. Has the effect.

【0041】なお、本発明が上記各実施形態に限定され
ず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施形態は
適宜変更され得ることは明らかである。また、上記構成
部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定され
ず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にす
ることができる。なお、各図において、同一構成要素に
は同一符号を付している。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and it is apparent that each embodiment can be appropriately modified within the scope of the technical idea of the present invention. Further, the number, position, shape, etc. of the above-mentioned constituent members are not limited to those in the above-mentioned embodiment, and the number, position, shape, etc. suitable for carrying out the present invention can be adopted. In addition, in each figure, the same components are denoted by the same reference numerals.

【0042】[0042]

【発明の効果】本発明の波形歪判定装置および波形歪判
定方法は、論理回路において論理素子に入力される論理
信号の前縁部の波形と後縁部の波形とを微分・整流して
負極性パルスを生成し、生成した負極性パルスをカウン
トして正常か異常かをデジタル的に判定することによ
り、微妙な段差等を見逃すことなく、常に正しい判定を
行うことができるという効果を奏する。
According to the waveform distortion determining apparatus and the waveform distortion determining method of the present invention, the waveform of the leading edge portion and the waveform of the trailing edge portion of the logic signal input to the logic element in the logic circuit are differentiated and rectified to obtain the negative polarity. By generating the sex pulse and counting the generated negative pulse to digitally determine whether the pulse is normal or abnormal, it is possible to always make a correct determination without missing a subtle step or the like.

【0043】更に、本発明の波形歪判定装置および波形
歪判定方法は、スライス部において下限電圧(Vsl)
と上限電圧(Vsh)間の波形を切り取り、切り取った
波形を増幅部で増幅して利得を上げて、前縁部と後縁部
を拡大した波形に基づく判定を行うため、論理信号の微
小な段差の有無、微妙な傾きの変化の有無を検出するこ
とができ、判定の精度向上を図ることができるという効
果を奏する。
Further, according to the waveform distortion determination device and the waveform distortion determination method of the present invention, the lower limit voltage (Vsl) is applied to the slice portion.
The waveform between the upper limit voltage (Vsh) and the upper limit voltage (Vsh) is cut, the cut waveform is amplified by the amplification unit to increase the gain, and determination is performed based on the waveform in which the leading edge portion and the trailing edge portion are enlarged. The presence or absence of a step and the presence or absence of a slight change in inclination can be detected, and the accuracy of determination can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る波形歪判定装置の実施の形態の構
成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of a waveform distortion determination device according to the present invention.

【図2】図1に示す波形歪判定装置に正常な被測定信号
が入力された場合の波形の状態推移を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a state transition of a waveform when a normal measured signal is input to the waveform distortion determination device shown in FIG.

【図3】図1に示す波形歪判定装置に前縁部に段差があ
る被測定信号が入力された場合の波形の状態推移を示す
図である。
3 is a diagram showing a state transition of a waveform when a signal under measurement having a step at a front edge portion is input to the waveform distortion determination device shown in FIG.

【図4】図1に示す波形歪判定装置に前縁部の傾斜が途
中で変化する被測定信号が入力された場合の波形の状態
推移を示す図である。
4 is a diagram showing a state transition of a waveform when a signal under measurement whose inclination of a front edge portion changes in the middle is input to the waveform distortion determination device shown in FIG.

【図5】図1に示す検出部における判定結果を示す判定
表である。
5 is a determination table showing the determination result of the detection unit shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 プローブ部 2 通過スイッチ制御部 3 通過スイッチ部 4 スライス部 5 増幅部 6 第1微分部 7 第1整流部 8 第2微分部 9 第2整流部 10 検出部 1 probe part 2 Passage switch control section 3 passage switch section 4 slices 5 Amplifier 6 First differentiation part 7 First rectifier 8 Second differentiation part 9 Second rectifier 10 Detector

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 論理回路において論理素子に入力される
論理信号の歪みを判定する波形歪判定装置であって、 前記論理信号を微分する第1微分手段と、 該第1微分手段により微分された波形を更に微分する第
2微分手段と、 前記第1微分手段から出力と前記第2微分手段から出力
とに基づいて前記論理信号が正常か異常かを判定する判
定手段とを具備することを特徴とする波形歪判定装置。
1. A waveform distortion judging device for judging distortion of a logic signal input to a logic element in a logic circuit, comprising: first differentiating means for differentiating the logic signal; and differentiating by the first differentiating means. A second differentiating means for further differentiating the waveform; and a judging means for judging whether the logic signal is normal or abnormal based on the output from the first differentiating means and the output from the second differentiating means. Waveform distortion determining device.
【請求項2】 前記判定手段は、パルス数をカウントす
ることにより前記論理信号が正常か異常かを判定させる
ことを特徴とする請求項1記載の波形歪判定装置。
2. The waveform distortion determination device according to claim 1, wherein the determination means determines whether the logic signal is normal or abnormal by counting the number of pulses.
【請求項3】 前記論理信号の1サイクル分の波形を切
り取る通過スイッチ手段を具備し、 前記第1微分手段は、前記通過スイッチ手段により切り
取られた波形を微分させることを特徴とする請求項1又
は2記載の波形歪判定装置。
3. A pass switch means for cutting out a waveform of one cycle of the logic signal is provided, and the first differentiating means differentiates the waveform cut out by the pass switch means. Or the waveform distortion determination device according to 2.
【請求項4】 前記通過スイッチ手段により切り取られ
た波形を任意に設定された下限電圧と上限電圧とでスラ
イスするスライス手段と、 該スライス手段によりスライスされた波形を増幅する増
幅手段とを具備し、 前記第1微分手段は、前記増幅手段により増幅された波
形を微分させることを特徴とする請求項1乃至3のいず
れかに記載の波形歪判定装置。
4. Slicing means for slicing the waveform cut out by the passage switch means with an arbitrarily set lower limit voltage and upper limit voltage, and amplifying means for amplifying the waveform sliced by the slicing means. The waveform distortion determination device according to any one of claims 1 to 3, wherein the first differentiating means differentiates the waveform amplified by the amplifying means.
【請求項5】 前記スライス手段によりスライスする際
の前記下限電圧と前記上限電圧とは、それぞれ前記論理
素子の論理判定の閾値電圧とさせることを特徴とする請
求項1乃至4のいずれかに記載の波形歪判定装置。
5. The lower limit voltage and the upper limit voltage when slicing by the slicing means are respectively set to threshold voltages for logic judgment of the logic element. Waveform distortion determination device.
【請求項6】 論理回路において論理素子に入力される
論理信号の歪みを判定する波形歪判定方法であって、 前記論理信号を微分して第1微分波形を生成し、 該第1微分波形を更に微分して第2微分波形を生成し、 前記第1微分波形と前記第2微分波形とに基づいて前記
論理信号が正常か異常かを判定することを特徴とする波
形歪判定方法。
6. A waveform distortion determination method for determining distortion of a logic signal input to a logic element in a logic circuit, wherein the logic signal is differentiated to generate a first differential waveform, and the first differential waveform is A waveform distortion determination method, which further differentiates to generate a second differential waveform, and determines whether the logic signal is normal or abnormal based on the first differential waveform and the second differential waveform.
【請求項7】 前記第1微分波形および前記第2微分波
形のパルス数をそれぞれカウントすることにより前記論
理信号が正常か異常かを判定することを特徴とする請求
項6記載の波形歪判定方法。
7. The waveform distortion determination method according to claim 6, wherein whether the logical signal is normal or abnormal is determined by counting the number of pulses of each of the first differential waveform and the second differential waveform. .
【請求項8】 前記論理信号の1サイクル分の波形を切
り取り、 該切り取られた波形を微分して前記第1微分波形を生成
することを特徴とする請求項6又は7記載の波形歪判定
方法。
8. The waveform distortion determination method according to claim 6, wherein a waveform of one cycle of the logic signal is cut out, and the cut-out waveform is differentiated to generate the first differential waveform. .
【請求項9】 前記切り取った波形を任意に設定された
下限電圧と上限電圧とでスライスし、 該スライスした波形を増幅し、 該増幅した波形を微分して前記第1微分波形を生成する
ことを特徴とする請求項6乃至8のいずれかに記載の波
形歪判定方法。
9. The sliced waveform is sliced with an arbitrarily set lower limit voltage and upper limit voltage, the sliced waveform is amplified, and the amplified waveform is differentiated to generate the first differential waveform. The waveform distortion determination method according to any one of claims 6 to 8, characterized in that.
【請求項10】 前記スライスする際の前記下限電圧と
前記上限電圧とは、それぞれ前記論理素子の論理判定の
閾値電圧であることを特徴とする請求項6乃至9のいず
れかに記載の波形歪判定方法。
10. The waveform distortion according to claim 6, wherein the lower limit voltage and the upper limit voltage at the time of slicing are threshold voltages for logic determination of the logic element, respectively. Judgment method.
JP2001195846A 2001-06-28 2001-06-28 Waveform distortion determination apparatus and waveform distortion determination method Expired - Fee Related JP3508743B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001195846A JP3508743B2 (en) 2001-06-28 2001-06-28 Waveform distortion determination apparatus and waveform distortion determination method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001195846A JP3508743B2 (en) 2001-06-28 2001-06-28 Waveform distortion determination apparatus and waveform distortion determination method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003014797A JP2003014797A (en) 2003-01-15
JP3508743B2 true JP3508743B2 (en) 2004-03-22

Family

ID=19033756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001195846A Expired - Fee Related JP3508743B2 (en) 2001-06-28 2001-06-28 Waveform distortion determination apparatus and waveform distortion determination method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3508743B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4684250B2 (en) * 2007-02-14 2011-05-18 三菱電機株式会社 Waveform signal analyzer

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003014797A (en) 2003-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101231310B (en) Voltage measurement instrument and method having improved automatic mode operation
US8149041B2 (en) High-resolution parametric signal restoration
JP3508743B2 (en) Waveform distortion determination apparatus and waveform distortion determination method
JP5431105B2 (en) Four-terminal resistance measuring device
CN108072820B (en) Superconducting device testing system and method
WO2019234412A2 (en) Partial discharge location device and method
JP4851149B2 (en) Electromagnetic flow meter
US20030234658A1 (en) System and method for testing integrated circuits by transient signal analysis
JPH09166631A (en) Circuit for separating and measuring manual element of pcb
JP2004093416A (en) Voltage / current measuring instrument
CN111239458A (en) Deviation compensation oscilloscope and trigger circuit
CN111208333A (en) Control and sampling circuit of oscilloscope
US6163267A (en) Device for measuring noise
KR20150108133A (en) Digital logic signal generating circuit for frequency measurement
CN211955622U (en) Deviation compensation oscilloscope and trigger circuit
JP3061805U (en) Noise measurement device
CN212159912U (en) Oscilloscope and control and sampling circuit thereof
JP2000162294A (en) Magnetic field sensor
JPS61281981A (en) Dc motor rotor inspecting device
JPS58108465A (en) Method and circuit for processing current probe signal
JPH0715359Y2 (en) Counter
KR0158384B1 (en) Input signal processing apparatus of high frequency counter
JP3083871B2 (en) Counting method of integration counter
Ru-xiong et al. Analyzing system of electric signals in spot welding process
JPH0231173A (en) Rising time measuring circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20031215

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080109

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090109

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100109

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110109

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees