JP3507175B2 - Network analyzer - Google Patents

Network analyzer

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JP3507175B2
JP3507175B2 JP05643795A JP5643795A JP3507175B2 JP 3507175 B2 JP3507175 B2 JP 3507175B2 JP 05643795 A JP05643795 A JP 05643795A JP 5643795 A JP5643795 A JP 5643795A JP 3507175 B2 JP3507175 B2 JP 3507175B2
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、被試験対象のインピ
ーダンスを高確度で測定する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for measuring impedance of a test object with high accuracy.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来技術の例としては、π回路治具を用
いた低インピーダンス測定の例がある。これについて、
図3を参照して説明する。本装置の構成は、図3(a)
に示すように、ネットワークアナライザ200と、π回
路治具220と、被試験対象(DUT)100とで構成
している。ネットワークアナライザのキャリブレーショ
ンは、オープン/ショート/ロードの各接続状態で予め
校正してπ回路治具220の誤差影響をなくしておく。
2. Description of the Related Art As an example of the prior art, there is an example of low impedance measurement using a .pi. Circuit jig. about this,
This will be described with reference to FIG. The configuration of this device is shown in FIG.
As shown in FIG. 3, the network analyzer 200, the π circuit jig 220, and the device under test (DUT) 100 are included. The calibration of the network analyzer is performed in advance in each open / short / load connection state to eliminate the error effect of the π circuit jig 220.

【0003】π回路治具220は、ネットワークアナラ
イザの入力端子201、出力端子206の特性インピー
ダンス50Ωを12.5Ω固定の低い入出力特性インピ
ーダンスに変換してDUT100に接続する為のアダプ
タであって、低インピーダンスの水晶振動子等を精度良
く測定する為に挿入される。しかし、固定した低インピ
ーダンスよりも低いインピーダンスを有するDUT10
0の場合には、ショート・キャリブレーションとのレベ
ル差が小さくなる為、測定ばらつき、測定誤差、再現性
が悪い等の不具合が生じる。この誤差や変動は2〜5%
もの誤差値となる場合もある。この不具合についてショ
ート・キャリブレーションとのレベル差が小さくなる例
を説明する。測定するインピーダンスZ=2Z0×
{(Vs−Vm)/Vm}として表せる。ここで、Z0は測
定系の特性インピーダンスであり、VsはDUT両端を
ショートした時のネットワークアナライザがキャリブレ
ーションした測定値であり、Vmは実際にDUTを接続
した時の測定値とする。上記式よりばらつき無くインピ
ーダンスZを測定するには、(Vs−Vm)を大きくする
必要があることが判る。更にVm測定値が小さくならな
いような条件で測定する必要がある。これらのことか
ら、自ずと測定確度の良い範囲が存在することが判る。
The π circuit jig 220 is an adapter for converting the characteristic impedance 50Ω of the input terminal 201 and the output terminal 206 of the network analyzer into a low input / output characteristic impedance fixed to 12.5Ω and connecting it to the DUT 100. It is inserted to measure a low-impedance crystal oscillator etc. with high accuracy. However, the DUT 10 having a lower impedance than the fixed low impedance
In the case of 0, the level difference from the short calibration becomes small, so that problems such as measurement variations, measurement errors, and poor reproducibility occur. This error or fluctuation is 2-5%
It may be an error value. Regarding this problem, an example in which the level difference from the short calibration is reduced will be described. Impedance to be measured Z = 2Z0 ×
It can be expressed as {(Vs-Vm) / Vm}. Here, Z0 is the characteristic impedance of the measurement system, Vs is the measurement value calibrated by the network analyzer when both ends of the DUT are short-circuited, and Vm is the measurement value when the DUT is actually connected. From the above equation, it can be seen that it is necessary to increase (Vs-Vm) in order to measure the impedance Z without variation. Further, it is necessary to measure under the condition that the Vm measurement value does not become small. From these, it can be understood that there is a range with good measurement accuracy.

【0004】また、高インピーダンスなるDUTを測定
する場合には、図3(b)に示すように、ネットワーク
アナライザ200と直接接続して測定する。この時のネ
ットワークアナライザの入出力インピーダンスは50Ω
である為、測定系のインピーダンスと大きく外れた高
いインピーダンスを有するDUT100の場合には、測
定入力端子206でのレベルが低くなってしまい、同様
の測定誤差の不具合を生じる。
When measuring a high impedance DUT, the DUT is directly connected to the network analyzer 200 as shown in FIG. 3B. The input / output impedance of the network analyzer at this time is 50Ω
Therefore, in the case of the DUT 100 having a high impedance that greatly deviates from the impedance of the measurement system, the level at the measurement input terminal 206 becomes low, and the same problem of measurement error occurs.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、D
UT100の入出力インピーダンスと測定系のインピー
ダンスとが大きく外れたインピーダンスを有するDUT
100のインピーダンス測定の場合には、測定ばらつ
き、測定誤差、再現性が悪い等の不具合があり、測定確
度が悪くなるという難点があった。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention As described above, D
DUT having an impedance in which the input / output impedance of the UT100 and the impedance of the measurement system are largely deviated
In the case of measuring the impedance of 100, there were problems such as measurement variations, measurement errors, poor reproducibility, and the like, and there was a problem that the measurement accuracy deteriorated.

【0006】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、DUT100の入出力インピーダンスに近い入出力
インピーダンス変換器を設けて、測定確度を一層良好に
するインピーダンス測定器を実現することを目的とす
る。
Therefore, an object of the present invention is to provide an impedance measuring instrument which further improves the measurement accuracy by providing an input / output impedance converter close to the input / output impedance of the DUT 100.

【0007】[0007]

【課題を解決する為の手段】第1図は、本発明による第
1の解決手段を示している。上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、ネットワークアナライザ200
内にある信号発生器210側の出力端とDUT100入
力端100in間に高インピーダンスを高い確度で測定す
る為に直列に挿入した切り替え抵抗群250と、ネット
ワークアナライザの測定入力端子と並列に接続した切り
替え抵抗群270を設け、また、低インピーダンスを高
い確度で測定する為に、前記切り替え抵抗群250の信
号出力端とDUT100入力端100in間に挿入するπ
回路抵抗群230と、DUT100出力端100outと
測定入力端子206の間に挿入するπ回路抵抗群240
を設ける構成手段にする。これにより、ネットワークア
ナライザを使用して高インピーダンスから低インピーダ
ンス迄の被測定対象DUTの高確度なインピーダンス測
定装置を実現する。
FIG. 1 shows a first solution according to the present invention. In order to solve the above problems, the network analyzer 200 according to the configuration of the present invention is used.
Switching resistor group 250 inserted in series between the output end on the side of the signal generator 210 and the input end 100in of the DUT100 in order to measure the high impedance with high accuracy, and the switching connected in parallel with the measurement input terminal of the network analyzer. A resistor group 270 is provided, and π is inserted between the signal output terminal of the switching resistor group 250 and the DUT100 input terminal 100in to measure the low impedance with high accuracy.
A circuit resistance group 230 and a π circuit resistance group 240 inserted between the output terminal 100out of the DUT 100 and the measurement input terminal 206.
Is provided. As a result, the network analyzer is used to realize a highly accurate impedance measuring device of the DUT to be measured from high impedance to low impedance.

【0008】第2図は、本発明による第2の解決手段を
示している。上記課題を解決するために、本発明の構成
では、ネットワークアナライザ200の信号出力端子と
DUT100入力端100in間に挿入して、低インピー
ダンスから高インピーダンス測定迄を切り替えるπ回路
抵抗群230と、DUT100出力端100outと測定
入力端子206の間に挿入するπ回路抵抗群240を設
ける構成手段にする。これによっても、ネットワークア
ナライザを使用して高インピーダンスから低インピーダ
ンス迄の被測定対象DUTの高確度なインピーダンス測
定装置を実現する。
FIG. 2 shows a second solution according to the present invention. In order to solve the above problems, in the configuration of the present invention, the π circuit resistance group 230 for switching from low impedance to high impedance measurement and the DUT 100 output are inserted between the signal output terminal of the network analyzer 200 and the DUT 100 input terminal 100in. The constituent means is provided with a π circuit resistance group 240 inserted between the end 100out and the measurement input terminal 206. This also realizes a highly accurate impedance measuring device of the DUT to be measured from high impedance to low impedance by using the network analyzer.

【0009】また、ネットワークアナライザ200側の
入出力端のインピーダンスより高い被測定対象DUTの
インピーダンスの測定の場合には、ネットワークアナラ
イザ200内にある信号発生器210側の出力端とDU
T100入力端100in間に直列に挿入した切り替え抵
抗群250と、ネットワークアナライザの測定入力端子
と並列に接続した切り替え抵抗群270を設ける構成で
も良い。
When measuring the impedance of the DUT to be measured, which is higher than the impedance at the input / output end on the network analyzer 200 side, the output end on the signal generator 210 side in the network analyzer 200 and the DU
The switching resistor group 250 inserted in series between the T100 input terminals 100in and the switching resistor group 270 connected in parallel with the measurement input terminal of the network analyzer may be provided.

【0010】[0010]

【作用】信号発生器210出力端に、直列に挿入した切
り替え抵抗群250は、高インピーダンスのDUT測定
時に、測定値の変化量(Vs−Vm)が比較的大きく得ら
れる役割を持つ。また、 DUT測定端子206に、並
列に接続した切り替え抵抗群270は、高インピーダン
スのDUT測定時に、測定値の変化量(Vs−Vm)が比
較的大きく得られる為、同様に測定精度が向上する役割
がある。また、低インピーダンス測定用抵抗群として、
ネットワークアナライザ200の信号出力端子とDUT
100入力端100in間には直列にπ回路抵抗群230
を挿入し、DUT100出力端100outと測定入力端
子206の間に、直列にπ回路抵抗群240を挿入する
することで、DUT両端を所定の低インピーダンス条件
にする作用があり、また、低インピーダンスのDUT測
定時に、測定値の変化量(Vs−Vm)が比較的大きく得
られる為、測定精度の向上作用がある。
The switching resistor group 250 inserted in series at the output end of the signal generator 210 has a role of obtaining a relatively large change amount (Vs-Vm) of the measured value at the time of measuring the high impedance DUT. Further, the switching resistance group 270 connected in parallel to the DUT measurement terminal 206 has a relatively large change amount (Vs-Vm) in the measured value at the time of measuring the high impedance DUT, and thus the measurement accuracy is similarly improved. There is a role. Also, as a low impedance measurement resistance group,
Signal output terminal of network analyzer 200 and DUT
Π circuit resistance group 230 in series between 100 input terminals 100in
By inserting the π circuit resistance group 240 in series between the DUT 100 output terminal 100out and the measurement input terminal 206, there is an effect of making both ends of the DUT a predetermined low impedance condition, and Since a relatively large amount of change (Vs-Vm) in the measured value can be obtained during DUT measurement, there is an effect of improving the measurement accuracy.

【0011】[0011]

【実施例】本発明の実施例は、高インピーダンスと低イ
ンピーダンスに対応したインピーダンス測定装置の例で
ある。図1に示すインピーダンス変換装置のように、高
インピーダンス測定用として、ネットワークアナライザ
200の信号発生器210出力端側には、直列に挿入す
る切り替え抵抗群250と、測定端子206と並列に接
続する切り替え抵抗群270をネットワークアナライザ
200内部に設ける。抵抗R00は例えば10KΩであ
り、抵抗R01は3KΩであり、抵抗R0nは50Ωで
ある。およそ抵抗値は3倍程度毎に設け、これを開閉す
るリレーK01〜K0nを有していてリレー制御部28
0によりDUT100のインピーダンスに近くなる所望
のリレーが選択される。測定端子206側についても同
様であり、抵抗R80は例えば10KΩであり、抵抗R
81は3KΩであり、抵抗R8nは50Ωである。これ
を開閉するリレーK41〜K4nを有していてリレー制
御部280によりDUT100のインピーダンスに近く
なる所望のリレーが選択される。これらリレーは、キャ
リブレーション時にも使用されて、個々の抵抗群のイン
ピーダンス偏差を補正する為の補正値を予め求めておい
て、従来と同様に、測定時の誤差要因とならないように
している。
EXAMPLE The example of the present invention is an example of an impedance measuring device that is compatible with high impedance and low impedance. As in the impedance converter shown in FIG. 1, a switching resistor group 250 inserted in series and a switching resistor connected in parallel with the measurement terminal 206 are provided on the output side of the signal generator 210 of the network analyzer 200 for high impedance measurement. The resistor group 270 is provided inside the network analyzer 200. The resistance R00 is, for example, 10 KΩ, the resistance R01 is 3 KΩ, and the resistance R0n is 50 Ω. The resistance value is provided about every three times, and the relay control unit 28 has relays K01 to K0n for opening and closing the resistance value.
A 0 selects the desired relay that approximates the impedance of the DUT 100. The same applies to the measurement terminal 206 side, and the resistance R80 is, for example, 10 KΩ, and the resistance R
81 is 3 KΩ, and the resistance R8n is 50Ω. A desired relay having the relays K41 to K4n for opening and closing the relay and having the impedance close to the impedance of the DUT 100 is selected by the relay control unit 280. These relays are also used at the time of calibration, and a correction value for correcting the impedance deviation of each resistance group is previously obtained so that they do not become an error factor at the time of measurement as in the conventional case.

【0012】また、低インピーダンス測定用抵抗群とし
て、ネットワークアナライザ200の信号出力端子とD
UT100入力端100in間には直列にπ回路抵抗群2
30を挿入し、DUT100出力端100outと測定入
力端子206の間に、直列にπ回路抵抗群240を挿入
する構成をネットワークアナライザ200外部に設け
る。例えば50Ωから2Ωにインピーダンス変換するπ
回路抵抗値の例としては、R00=R81=50Ω、R
21=R51=56Ω、R31=R71=430Ω、R
41=R61=2Ωの値である。リレーK20、K30
は、50Ω近辺のインピーダンスを測定する場合に閉じ
て使用し、π抵抗網R21、R31、R41とR51、
R61、R71は、150Ω近辺のインピーダンス測定
用であり、π抵抗網R2m、R3m、R4mとR5m、
R6m、R7mは、10KΩ近辺のインピーダンス測定
用である。これらを開閉するリレーK20〜K2m、K
60〜K6m、K31〜K3m、K41〜K4mを有し
ていてリレー制御部280によりDUT100のインピ
ーダンスに近くなる所望のリレーが選択される。これら
リレーは、キャリブレーション時にも使用されて測定時
の誤差要因とならないように予め校正用補正値を求めて
おく。
Further, as a low impedance measuring resistance group, a signal output terminal of the network analyzer 200 and D
Π circuit resistance group 2 in series between UT100 input terminals 100in
A configuration in which the π circuit resistance group 240 is inserted in series between the DUT 100 output terminal 100out and the measurement input terminal 206 is provided outside the network analyzer 200. For example, π for impedance conversion from 50Ω to 2Ω
As an example of the circuit resistance value, R00 = R81 = 50Ω, R00
21 = R51 = 56Ω, R31 = R71 = 430Ω, R
41 = R61 = 2Ω. Relay K20, K30
Is used when measuring the impedance in the vicinity of 50Ω, and is used for π resistance networks R21, R31, R41 and R51,
R61 and R71 are for impedance measurement in the vicinity of 150Ω, and π resistance networks R2m, R3m, R4m and R5m,
R6m and R7m are for impedance measurement in the vicinity of 10 KΩ. Relays K20-K2m, K for opening and closing these
A desired relay having 60 to K6m, K31 to K3m, and K41 to K4m and close to the impedance of the DUT 100 is selected by the relay control unit 280. These relays are also used during calibration, and a calibration correction value is obtained in advance so as not to cause an error factor during measurement.

【0013】上記構成のインピーダンス変換用抵抗群を
DUTのインピーダンスに対応して所望のリレーを開閉
して、DUTのインピーダンスに近いインピーダンス変
換により測定することにより、ショート・キャリブレー
ションとのレベル差が十分大きなレベル変化として測定
でき、あるいは測定入力端子206でのレベルが高く測
定できることとなり、従来の不具合を改善してより一層
測定確度のあるインピーダンス測定を実現することがで
きる。
By measuring the impedance conversion resistance group having the above configuration by opening and closing a desired relay corresponding to the impedance of the DUT and performing impedance conversion close to the impedance of the DUT, the level difference from the short calibration is sufficient. The measurement can be performed as a large level change or the level at the measurement input terminal 206 can be measured to be high, so that the conventional problems can be improved and impedance measurement with higher measurement accuracy can be realized.

【0014】上記実施例の説明では、切り替え抵抗群2
50と切り替え抵抗群270をネットワークアナライザ
に内蔵し、π回路抵抗群230とπ回路抵抗群240を
外部に設ける例で説明したが、所望により、これらをネ
ットワークアナライザに内蔵する構成としても良いし、
外部に設ける構成としても良い。
In the above description of the embodiment, the switching resistance group 2
50 and the switching resistance group 270 are built in the network analyzer, and the π circuit resistance group 230 and the π circuit resistance group 240 are provided outside, however, they may be built in the network analyzer if desired.
It may be provided externally.

【0015】上記実施例の説明では、π回路抵抗群23
0とπ回路抵抗群240を低インピーダンス用とした抵
抗値とした場合で説明していたが、所望により、図2に
示す構成とし、高インピーダンス迄適用する抵抗値を与
えるπ回路抵抗を追加して、低インピーダンスから高イ
ンピーダンス迄をカバーする構成としても良く、同様に
して実施可能である。
In the description of the above embodiment, the π circuit resistance group 23
Although the description has been made in the case where the resistance values of 0 and the π circuit resistance group 240 are set to the low impedance, the π circuit resistance that gives the resistance value applied up to the high impedance is added, if desired, with the configuration shown in FIG. It is also possible to have a structure that covers from low impedance to high impedance, and it is possible to carry out in the same manner.

【0016】また、ネットワークアナライザ200側の
入出力端のインピーダンスより高い被測定対象DUTの
インピーダンスの測定の場合には、π回路抵抗群230
とπ回路抵抗群240を削除して、切り替え抵抗群25
0と270を設ける構成のみとしても良く、同様にして
実施可能である。
When measuring the impedance of the DUT to be measured, which is higher than the impedance at the input / output end of the network analyzer 200, the π circuit resistance group 230
And the π circuit resistance group 240 are deleted, and the switching resistance group 25
0 and 270 may be provided alone, and the same implementation is possible.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。信
号発生器210出力端に、直列に挿入した切り替え抵抗
群250は、高インピーダンスのDUT測定時に、測定
値の変化量(Vs−Vm)が比較的大きく得られる為、測
定精度が向上する効果がある。また、 DUT測定端子
206に、並列に接続した切り替え抵抗群270は、高
インピーダンスのDUT測定時に、測定値の変化量(V
s−Vm)が比較的大きく得られる為、測定精度が向上す
る効果がある。また、低インピーダンス測定用抵抗群と
して、ネットワークアナライザ200の信号出力端子と
DUT100入力端100in間には直列にπ回路抵抗群
230を挿入し、DUT100出力端100outと測定
入力端子206の間に、直列にπ回路抵抗群240を挿
入するすることで、DUT両端を所定の低インピーダン
ス条件にでき、低インピーダンスのDUT測定時に、測
定値の変化量(Vs−Vm)が比較的大きく得られる為、
測定精度が向上する効果がある。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects. The switching resistor group 250 inserted in series at the output end of the signal generator 210 has a relatively large change amount (Vs-Vm) in the measured value at the time of high impedance DUT measurement, and thus has the effect of improving the measurement accuracy. is there. Further, the switching resistor group 270 connected in parallel to the DUT measurement terminal 206 has a change amount (V) of the measured value at the time of the high impedance DUT measurement.
Since s-Vm) is obtained relatively large, it has an effect of improving the measurement accuracy. Further, as a low impedance measurement resistance group, a π circuit resistance group 230 is inserted in series between the signal output terminal of the network analyzer 200 and the DUT100 input terminal 100in, and a series circuit is inserted between the DUT100 output terminal 100out and the measurement input terminal 206. By inserting the π circuit resistance group 240 into the DUT, both ends of the DUT can be set to a predetermined low impedance condition, and a relatively large change amount (Vs−Vm) of the measured value can be obtained at the time of measuring the low impedance DUT.
This has the effect of improving the measurement accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の、第1のインピーダンス測定装置の構
成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a first impedance measuring device of the present invention.

【図2】本発明の、第2のインピーダンス測定装置の構
成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram of a second impedance measuring device of the present invention.

【図3】(a)従来の、低インピーダンス測定装置の構
成図である。 (b)従来の、高インピーダンス測定装置の構成図であ
る。
FIG. 3A is a configuration diagram of a conventional low impedance measuring device. (B) It is a block diagram of the conventional high impedance measuring device.

【符号の説明】 K00〜K0m、K20〜K2m、K30〜K3m、K
41〜K4m、K51〜K5h、K61〜K6m リレ
ー R21、R31、R41 π抵抗網 R51、R61、R71 抵抗 R81 抵抗 100 被試験対象(DUT) 200 ネットワークアナライザ 201 入力端子 206 測定入力端子 210 信号発生器 220 π回路治具 230、240 π回路抵抗群 250、270 切り替え抵抗群 280 リレー制御部
[Explanation of Codes] K00 to K0m, K20 to K2m, K30 to K3m, K
41 to K4m, K51 to K5h, K61 to K6m Relays R21, R31, R41 π resistance networks R51, R61, R71 Resistance R81 Resistance 100 Test object (DUT) 200 Network analyzer 201 Input terminal 206 Measurement input terminal 210 Signal generator 220 π circuit jig 230, 240 π circuit resistance group 250, 270 switching resistance group 280 relay control section

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ネットワークアナライザを使用して被測
定対象(DUT)のインピーダンス測定装置において、 ネットワークアナライザ(200)内にある信号発生器
(210)側の出力端とDUT(100)入力端(10
0in)間に直列に挿入した切り替え抵抗群(250)
と、ネットワークアナライザの測定入力端子と並列に接
続した切り替え抵抗群(270)を設け、 前記切り替え抵抗群(250)の信号出力端とDUT
(100)入力端(100in)間に挿入するπ回路抵抗
群(230)と、DUT(100)出力端(100ou
t)と測定入力端子(206)の間に挿入するπ回路抵
抗群(240)を設け、 以上を具備していることを特徴としたネットワークアナ
ライザ。
1. An impedance measuring device for a device under test (DUT) using a network analyzer, wherein an output end on a signal generator (210) side and an input end (10) of a DUT (100) in a network analyzer (200).
Switching resistor group (250) inserted in series between 0 in)
And a switching resistor group (270) connected in parallel with the measurement input terminal of the network analyzer, the signal output end of the switching resistor group (250) and the DUT.
The π circuit resistance group (230) inserted between the (100) input terminal (100 in) and the DUT (100) output terminal (100 ou)
A network analyzer characterized in that a π circuit resistance group (240) inserted between t) and a measurement input terminal (206) is provided, and the above is provided.
【請求項2】 ネットワークアナライザを使用して被測
定対象(DUT)のインピーダンス測定装置において、 ネットワークアナライザ(200)の信号出力端子とD
UT(100)入力端(100in)間に挿入して、低イ
ンピーダンスから高インピーダンス測定迄を切り替える
π回路抵抗群(230)と、DUT(100)出力端
(100out)と測定入力端子(206)の間に挿入す
るπ回路抵抗群(240)を設け、 以上を具備していることを特徴としたネットワークアナ
ライザ。
2. An impedance measuring device of a device under test (DUT) using a network analyzer, wherein a signal output terminal of the network analyzer (200) and D
It is inserted between the UT (100) input end (100in) and switches from low impedance to high impedance measurement. Π circuit resistance group (230), DUT (100) output end (100out) and measurement input terminal (206). A network analyzer characterized by comprising a π circuit resistance group (240) to be inserted between them and comprising the above.
【請求項3】 ネットワークアナライザを使用して、ネ
ットワークアナライザ(200)側の入出力端のインピ
ーダンスより高い被測定対象(DUT)のインピーダン
ス測定装置において、 ネットワークアナライザ(200)内にある信号発生器
(210)側の出力端とDUT(100)入力端(10
0in)間に直列に挿入した切り替え抵抗群(250)
と、ネットワークアナライザの測定入力端子と並列に接
続した切り替え抵抗群(270)を設け、 以上を具備していることを特徴としたネットワークアナ
ライザ。
3. An impedance measuring device for a device under test (DUT) having a higher impedance than the impedance of an input / output terminal on the side of the network analyzer (200) by using the network analyzer. 210) side output terminal and DUT (100) input terminal (10
Switching resistor group (250) inserted in series between 0 in)
And a switching resistor group (270) connected in parallel with the measurement input terminal of the network analyzer, and the above is provided.
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