JP3497229B2 - Microscope system - Google Patents

Microscope system

Info

Publication number
JP3497229B2
JP3497229B2 JP07174794A JP7174794A JP3497229B2 JP 3497229 B2 JP3497229 B2 JP 3497229B2 JP 07174794 A JP07174794 A JP 07174794A JP 7174794 A JP7174794 A JP 7174794A JP 3497229 B2 JP3497229 B2 JP 3497229B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
microscope
unit
objective lens
magnification
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP07174794A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH07281096A (en
Inventor
元一 山名
達喜 山田
実成 小嶋
和彦 坪田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP07174794A priority Critical patent/JP3497229B2/en
Publication of JPH07281096A publication Critical patent/JPH07281096A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3497229B2 publication Critical patent/JP3497229B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡光学系の倍率お
よび各種検鏡法に基いて自動的に制御可能な第1の光学
ユニットと、顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡法に基
いて手動で選択または調整を必要とする第2の光学ユニ
ットを備えた顕微鏡システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is based on a first optical unit which can be automatically controlled based on the magnification of a microscope optical system and various microscope methods, and on the basis of the magnification of a microscope optical system and various microscope methods. It relates to a microscope system with a second optical unit that requires manual selection or adjustment.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に顕微鏡は、対物レンズ自体の光学
的性能が顕微鏡としての光学的性能を決める大きな要因
となっている。しかし、対物レンズに入射する照明光が
適切でなければ対物レンズの性能を十分に活かすことが
できない。そのため、照明光が対物レンズに良好に入射
するように光学部材をセッティングする必要がある。同
様に、所望の検鏡法を実現する場合も、各種光学部材を
適切に組み合わせなければ良好な顕微鏡観察を行うこと
はできない。そのため、従来自動化顕微鏡装置が特開昭
59ー172617号公報、特開昭63ー133115
号公報等で公知である。
2. Description of the Related Art Generally, in a microscope, the optical performance of the objective lens itself is a major factor in determining the optical performance of the microscope. However, unless the illumination light incident on the objective lens is appropriate, the performance of the objective lens cannot be fully utilized. Therefore, it is necessary to set the optical member so that the illumination light is favorably incident on the objective lens. Similarly, when realizing a desired microscopic method, good microscopic observation cannot be performed unless various optical members are properly combined. Therefore, the conventional automated microscope apparatus is disclosed in Japanese Patent Laid-Open Nos. 59-172617 and 63-133115.
It is well known in Japanese Patent Publication No.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、いずれ
の公知例も電気的に制御できる光学部材のみを対象とし
ており観察者が望むフレキシブルな顕微鏡の構成には対
応できない。つまり、電気的に制御できる光学部材と、
電気的に制御できない光学部材を目的に応じて観察者が
選択して顕微鏡観察を行う場合には、観察者が必要な調
整を判断しなければならない。
However, any of the known examples is directed only to the electrically controllable optical member, and cannot be adapted to the flexible microscope structure desired by the observer. That is, an electrically controllable optical member,
When an observer selects an optical member that cannot be electrically controlled according to the purpose and performs microscopic observation, the observer must determine necessary adjustments.

【0004】また、機械的偏心及び誤差等により完全自
動化できない複数の光学部材の芯出し調整等は、自動化
の対象外であり、本作業も観察者が判断し調整を行わな
ければならない。
Further, centering adjustment of a plurality of optical members which cannot be completely automated due to mechanical eccentricity and error are not targets of automation, and the observer must also judge and adjust this work.

【0005】以上述べたことから、公知の自動顕微鏡装
置にあっては、適切な観察状態を得るためには、観察者
の見識が必要不可欠となり、調整ミスによる適切でない
観察を行うおそれがある。
From the above description, in the known automatic microscope apparatus, the knowledge of the observer is indispensable for obtaining an appropriate observation state, and there is a possibility that an inappropriate observation may be performed due to an adjustment error.

【0006】本発明は、前記の課題を解決するためなさ
れたもので、芯出し調整はもとより、観察者が望むフレ
キシブルな顕微鏡構成において、誰にでも簡単に適切な
観察状態にセッティングできる顕微鏡システムを提供す
ることを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and in addition to the centering adjustment, in a flexible microscope configuration desired by an observer, a microscope system that enables anyone to easily set an appropriate observation state is provided. The purpose is to provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項1に対応する発明は、顕微鏡光学系の倍率お
よび各種検鏡法に基いて選択される複数の光学ユニット
を備え、前記複数の光学ユニットのうち、電気的に制御
できる光学ユニットを前記顕微鏡光学系の倍率および各
種検鏡法によって自動制御する顕微鏡システムにおい
て、前記顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡法を指定す
る指定手段と、前記顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡
法に基いて、前記複数の光学ユニットのうち、電気的に
制御できない光学ユニットを手動で選択または調整する
ための操作項目、操作方法の操作ガイドデータを記憶し
た記憶手段と、前記指定手段で指定された顕微鏡光学系
の倍率および各種検鏡法に対応する前記電気的に制御で
きない光学ユニットに関する操作ガイドデータを前記記
憶手段から読み出す読出手段と、前記読出手段で読み出
された前記操作ガイドデータを表示する表示手段と、を
具備したことを特徴とする顕微鏡システムである。前記
目的を達成するため、請求項2に対応する発明は、前記
表示手段は、電気的に制御できない光学ユニットの操作
ガイドデータを自動的に表示することを特徴とする請求
項1記載の顕微鏡システムである。
In order to achieve the above object, the invention corresponding to claim 1 is provided with a plurality of optical units selected on the basis of the magnification of a microscope optical system and various spectroscopic methods. In the microscope system for automatically controlling the electrically controllable optical unit of the optical unit according to the magnification of the microscope optical system and various spectroscopic methods, a designating unit for designating the magnification of the microscope optical system and various spectroscopic methods is provided. , Operation items for manually selecting or adjusting an optical unit that cannot be electrically controlled among the plurality of optical units based on the magnification of the microscope optical system and various spectroscopic methods, and operation guide data of the operating method. The stored storage means and the optical unit that cannot be electrically controlled corresponding to the magnification of the microscope optical system designated by the designation means and various spectroscopic methods. Reading means for reading out the operation guide data from the storage means is a microscope system characterized by comprising a display means for displaying the operation guide data read by the reading unit. In order to achieve the above object, the invention according to claim 2 is characterized in that the display means automatically displays operation guide data of an optical unit that cannot be electrically controlled. Is.

【0008】[0008]

【作用】請求項1乃至3に対応する本発明では、指定手
段で顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡法を指定するこ
とにより、手動で選択または調整を必要とするに対応す
る第2の光学ユニットに関する操作ガイドデータが、記
憶手段から読み出されて表示手段に表示されるので、芯
出し調整はもとより、観察者が望むフレキシブルな顕微
鏡構成において、誰にでも簡単に適切な観察状態にセッ
ティングできる。
According to the present invention, which corresponds to claims 1 to 3 , the second optical unit is adapted to manually select or adjust by designating the magnification of the microscope optical system and various spectroscopic methods by the designating means. Since the operation guide data regarding the unit is read from the storage means and displayed on the display means, not only the centering adjustment but also the flexible microscope configuration desired by the observer can be easily set to an appropriate observation state by anyone. .

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
1は本発明の第1実施例に係る顕微鏡システムの全体構
成を示しており、図2は該顕微鏡の光学系の構成を示し
ている。
EXAMPLES Examples of the present invention will be described below. FIG. 1 shows the overall configuration of a microscope system according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows the configuration of the optical system of the microscope.

【0010】本実施例の顕微鏡装置における光学系は、
例えばハロゲンランプからなる透過照明用光源1からの
光をコレクタレンズ2で集光して透過用フィルターユニ
ット3へ入射する。
The optical system in the microscope apparatus of this embodiment is
For example, the light from the transillumination light source 1 including a halogen lamp is condensed by the collector lens 2 and is incident on the transmissive filter unit 3.

【0011】透過用フィルターユニット3は透過照明用
光源1の色温度を変えずに明るさの調光を行う複数枚の
NDフィルターと、色補正を行うための複数枚の補正フ
ィルターとからなり、任意のフィルターを照明光学系の
光路中に選択的に挿脱可能になっている。
The transmission filter unit 3 is composed of a plurality of ND filters for adjusting the brightness without changing the color temperature of the transmission illumination light source 1, and a plurality of correction filters for performing color correction. An arbitrary filter can be selectively inserted into and removed from the optical path of the illumination optical system.

【0012】上記透過用フィルターユニット3を透過し
た照明光を、透過視野絞り4,透過開口絞り5,コンデ
ンサ光学素子ユニット6,コンデンサトップレンズユニ
ット7を介して試料ステージ8の下方からステージ上の
観察試料Sを照明する。
The illumination light transmitted through the transmission filter unit 3 is observed from below the sample stage 8 through the transmission field stop 4, the transmission aperture stop 5, the condenser optical element unit 6, and the condenser top lens unit 7 on the stage. Illuminate the sample S.

【0013】なお、コンデンサ光学素子ユニット6は光
路中に選択的に挿入される複数のユニット6a〜6cか
らなり、コンデンサトップレンズユニット7は光路中に
選択的に挿入される複数のユニット7a,7bからな
る。また、試料ステージ8は観察試料Sを光軸と直交す
る平面内で2次元移動できると共に、ピント合わせのた
め光軸方向へ移動可能になっている。透過開口絞り5、
コンデンサ光学素子ユニット6、コンデンサトップレン
ズユニット7によりコンデンサ40を構成している。
The condenser optical element unit 6 comprises a plurality of units 6a to 6c selectively inserted in the optical path, and the condenser top lens unit 7 has a plurality of units 7a and 7b selectively inserted in the optical path. Consists of. Further, the sample stage 8 can move the observation sample S two-dimensionally in a plane orthogonal to the optical axis and can move in the optical axis direction for focusing. Transmission aperture stop 5,
The condenser optical element unit 6 and the condenser top lens unit 7 constitute a condenser 40.

【0014】試料ステージ8の上方には複数のユニット
からなる複数の対物レンズ9a〜9cがレボルバ10に
保持されている。レボルバ10はその回転により観察光
路内の光軸上に挿入すべき対物レンズを交換可能に構成
されている。レボルバ10は、例えば顕微鏡のアーム先
端部に回転自在に取付けられており、そのアーム先端部
の観察光路上にキューブユニット11が配設されてい
る。キューブユニット11は、各種検鏡法により選択的
に挿入される複数のユニット11a〜11cからなる。
キューブユニット11を透過した光をビームスプリッタ
ー12で2方向に分岐し、一方の光をビームスプリッタ
ー13を介して接眼レンズ14へ導いている。なお、ビ
ームスプリッタ12,13は光路に対して挿脱可能にな
っている。
A plurality of objective lenses 9a to 9c composed of a plurality of units are held by a revolver 10 above the sample stage 8. The revolver 10 is constructed so that the objective lens to be inserted on the optical axis in the observation optical path can be exchanged by its rotation. The revolver 10 is rotatably attached to, for example, the tip of an arm of a microscope, and a cube unit 11 is arranged on the observation optical path of the tip of the arm. The cube unit 11 is composed of a plurality of units 11a to 11c which are selectively inserted by various spectroscopic methods.
The light transmitted through the cube unit 11 is split into two directions by the beam splitter 12, and one light is guided to the eyepiece lens 14 via the beam splitter 13. The beam splitters 12 and 13 can be inserted into and removed from the optical path.

【0015】また、水銀ランプ等からなる落射照明用光
源15からの光を、落射用フィルターユニット16,落
射シャッター17,落射視野絞り18,落射開口絞り1
9を介して、キューブユニット11の光路中に挿入され
ているユニットに入射し、観察試料S側へ反射させて落
射照明する。
Further, the light from the epi-illumination light source 15 such as a mercury lamp is reflected by an epi-illumination filter unit 16, an epi-illumination shutter 17, an epi-illumination field stop 18, and an epi-illumination aperture stop 1.
The light enters the unit inserted into the optical path of the cube unit 11 via 9 and is reflected to the observation sample S side to perform epi-illumination.

【0016】なお、落射用フィルターユニット16は落
射照明用光源15の色温度を変えずに明るさの調光を行
う複数枚のNDフィルターと、色補正を行うための複数
枚の補正フィルターとから構成される。
The epi-illumination filter unit 16 is composed of a plurality of ND filters for adjusting brightness without changing the color temperature of the epi-illumination light source 15 and a plurality of correction filters for color correction. Composed.

【0017】一方、観察光路上に挿入されたビームスプ
リッター12で分岐された他方の光を写真撮影用光路へ
導いている。写真撮影用光路に対してビームスプリッタ
ー20が挿脱自在に設けられており、光路中に挿入した
ビームスプリッター20で分岐した一方の光を、結像レ
ンズを介してピント検知用受光素子21へ入射してい
る。このピント検知用受光素子21はピント検知用の光
量を測光するためのものである。
On the other hand, the other light branched by the beam splitter 12 inserted on the observation light path is guided to the light path for photography. A beam splitter 20 is provided so as to be freely inserted into and removed from an optical path for photography, and one of the beams branched by the beam splitter 20 inserted in the optical path is incident on a light receiving element 21 for focus detection through an imaging lens. is doing. The focus detection light receiving element 21 is for measuring the amount of light for focus detection.

【0018】また、写真撮影用光路のビームスプリッタ
ー20で分岐した他方の光を、写真撮影用倍率を任意に
調整するズームレンズ22を介して該光路中に挿入され
たビームスプリッター23に入射する。このビームスプ
リッター23は光路に対して挿脱自在になっており、光
路内に挿入したビームスプリッター23で反射させた光
を、さらに別のビームスプリッター24に入射して2方
向へ分岐している。ビームスプリッター24も光路に対
して挿脱自在になっている。光路内に挿入したビームス
プリッター24で反射した光は写真用受光素子25に入
射している。写真用受光素子25は写真撮影の露出時間
を測光するための素子である。そしてビームスプリッタ
ー24を光路から脱した状態で、ビームスプリッター2
3で反射させた光を写真撮影用シャッター26を介して
写真撮影用のフィルムを収納したカメラ27に入射して
いる。
The other light split by the beam splitter 20 in the optical path for photography is incident on the beam splitter 23 inserted in the optical path via a zoom lens 22 for arbitrarily adjusting the magnification for photography. The beam splitter 23 is insertable into and removable from the optical path, and the light reflected by the beam splitter 23 inserted in the optical path is further incident on another beam splitter 24 and branched in two directions. The beam splitter 24 can also be inserted into and removed from the optical path. The light reflected by the beam splitter 24 inserted in the optical path is incident on the photographic light-receiving element 25. The photographic light-receiving element 25 is an element for measuring the exposure time of photography. Then, with the beam splitter 24 removed from the optical path, the beam splitter 2
The light reflected by 3 is incident on a camera 27 containing a film for photography through a photography shutter 26.

【0019】次に、本実施例の顕微鏡システムにおける
制御系の構成について説明する。装置全体の動作を管理
している操作パネル装置30に対して専用シリアルバス
31を介して写真撮影コントロール部32,AFコント
ロール部33,フレームコントロール部34,透過フィ
ルターコントロール部35,透過視野絞りコントロール
部36,コンデンサコントロール部37,落射視野絞り
コントロール部38,落射フィルターコントロール部3
9をそれぞれ接続している。
Next, the configuration of the control system in the microscope system of this embodiment will be described. A photography control section 32, an AF control section 33, a frame control section 34, a transmission filter control section 35, a transmission visual field diaphragm control section for an operation panel device 30 that manages the operation of the entire device via a dedicated serial bus 31. 36, condenser control unit 37, epi-illumination field stop control unit 38, epi-illumination filter control unit 3
9 are connected to each other.

【0020】写真撮影コントロール部32は、ビームス
プリッター12,20,24を光路中に挿脱するための
駆動及び制御と、ズームレンズ22の駆動及び制御と、
写真用受光素子25の測光値から写真撮影時間を算出す
るための演算処理と、写真撮影用シャッターの開閉駆動
制御と、カメラ27のフィルム巻き上げ及び巻き戻し制
御とを行う。
The photography control section 32 drives and controls the beam splitters 12, 20, and 24 to be inserted into and removed from the optical path, and drives and controls the zoom lens 22.
The arithmetic processing for calculating the photo-taking time from the photometric value of the photo-receiving element 25, the opening / closing drive control of the photo-taking shutter, and the film winding and rewinding control of the camera 27 are performed.

【0021】AFコントロール部33は、ピント検知用
受光素子21からのデータで所定の合焦演算を行い、そ
の演算結果に応じて試料ステージ8を駆動することによ
り自動合焦検出を行う。
The AF control unit 33 performs a predetermined focus calculation based on the data from the focus detection light receiving element 21, and drives the sample stage 8 according to the calculation result to perform automatic focus detection.

【0022】フレームコントロール部34は、透過照明
用光源1,落射照明用光源15,レボルバー10,キュ
ーブユニット11,落射シャッター17を駆動制御する
ものである。
The frame controller 34 drives and controls the transillumination light source 1, the epi-illumination light source 15, the revolver 10, the cube unit 11, and the epi-illumination shutter 17.

【0023】透過フィルターコントロール部35は透過
用フィルターユニット3の駆動及び制御を行い、透過視
野絞りコントロール部36は透過用視野絞り4の駆動及
び制御を行う。また、コンデンサコントロール部37は
コンデンサ光学素子ユニット6,コンデンサトップレン
ズユニット7,透過用開口絞り5の駆動及び制御を行
う。落射視野絞りコントロール部38は落射視野絞り1
8,落射開口絞り19の駆動及び制御を行う。また、落
射フィルターコントロール部39は落射用フィルタユニ
ット16の駆動及び制御を行う。
The transmission filter control unit 35 drives and controls the transmission filter unit 3, and the transmission field stop control unit 36 drives and controls the transmission field stop 4. The condenser control unit 37 drives and controls the condenser optical element unit 6, the condenser top lens unit 7, and the transmission aperture stop 5. The epi-illumination field stop control unit 38 controls the epi-field stop 1
8. Drive and control the incident aperture stop 19. The epi-illumination filter controller 39 drives and controls the epi-illumination filter unit 16.

【0024】上記各コントロール部32〜39は、それ
ぞれ図3に示す回路構成を備えている。すなわち、各コ
ントロール部は、CPU回路41と、このCPU回路4
1からの指令で制御対象の光学ユニットを駆動する駆動
回路42と、制御対象の光学ユニットの位置を検出して
CPU回路41へ知らせる位置検知回路43と、CPU
回路41と専用シリアルバス31とを接続する専用シリ
アル通信インターフェース回路(専用シリアル通信I/
F回路)44と、その他の図示しない周辺回路とを内蔵
する。上記CPU回路41は、CPU(中央演算処理回
路)45がROM46,RAM47にCPUバス48を
介して接続され、ROM46に各々の制御内容を記述し
たプログラムが記憶され、RAM47に制御演算用のデ
ータが格納されている。そして各コントロール部32〜
39に専用シリアルバス31を介して操作パネル装置
0から制御指示が送り込まれ、CPU45がROM46
のプログラムに従って動作することにより各々受け持ち
の光学ユニット等の制御が行われる。
Each of the control units 32 to 39 has the circuit configuration shown in FIG. That is, each control unit includes the CPU circuit 41 and the CPU circuit 4
A drive circuit 42 for driving an optical unit to be controlled by a command from 1. a position detection circuit 43 that detects the position of the optical unit to be controlled and notifies the CPU circuit 41 of the position;
Dedicated silicon for connecting the circuit 41 and the dedicated serial bus 31
Al communication interface circuit (dedicated serial communication I /
F circuit) 44 and other peripheral circuits (not shown ) . In the CPU circuit 41, a CPU (central processing unit) 45 is connected to a ROM 46 and a RAM 47 via a CPU bus 48, a program describing each control content is stored in the ROM 46, and data for control calculation is stored in the RAM 47. It is stored. And each control section 32 ~
39 to the operation panel device 3 via the dedicated serial bus 31
A control instruction is sent from 0, and the CPU 45 causes the ROM 46 to
By operating in accordance with the above program, the control of the optical unit etc. that is in charge of each is performed.

【0025】図4は操作パネル装置(本発明の指定手段
に対応)30の一例を示す図である。操作パネル装置3
0は、CPU(本発明の読出手段に対応)45に対し内
部バス48を介してROM(本発明の記憶手段に対応)
46,RAM47,フォントデータROM103,補助
記憶装置104,表示用メモリ105等が接続されてい
る。
FIG. 4 is a view showing an example of the operation panel device (corresponding to the designation means of the present invention) 30. Operation panel device 3
Reference numeral 0 denotes a ROM (corresponding to the storage means of the present invention) to a CPU (corresponding to the reading means of the present invention) 45 via an internal bus 48.
46, RAM 47, font data ROM 103, auxiliary storage device 104, display memory 105, etc. are connected.

【0026】ROM46には、顕微鏡光学系の倍率およ
び各種検鏡法に基いた光学ユニット(顕微鏡光学系の倍
率および各種検鏡法に基いて手動で選択または調整を必
要とするもの)の操作項目、操作方法等の操作ガイドデ
ータが記憶され、また制御内容を記述したプログラムが
格納され、特に後述する制御指示記憶メモリを構成及び
管理する手順を記述したメモリ管理プログラム、制御指
示記憶メモリの記憶内容を編集する手順を記述した編集
プログラム、記憶内容を再現する命令再現プログラムが
格納されている。RAM47には制御演算用の各種デー
タが格納され、特に上記制御指示記憶メモリが構築され
る。フォントデータROM103は、英語,日本語,特
殊図形及び特種文字等のフォントデータが格納されてい
る。補助記憶装置104は、ICカード等の情報記憶媒
体に対して情報を書き込むことができる構成となってい
る。表示用メモリ105は、操作ガイド等の表示装置1
09に出力するためのガイダンス画面が格納されてい
る。
The ROM 46 has operation items for an optical unit based on the magnification of the microscope optical system and various microscopic methods (which requires manual selection or adjustment based on the magnification of the microscopic optical system and various microscopic methods). , A memory management program that stores operation guide data such as an operation method, a program that describes control contents, and a procedure that configures and manages a control instruction memory, which will be described later, and the stored content of the control instruction memory. An editing program that describes the procedure for editing and an instruction reproducing program that reproduces the stored contents are stored. The RAM 47 stores various data for control calculation, and in particular, the control instruction storage memory is constructed. The font data ROM 103 stores font data such as English, Japanese, special figures and special characters. The auxiliary storage device 104 is configured to be able to write information in an information storage medium such as an IC card. The display memory 105 is a display device 1 such as an operation guide.
The guidance screen for outputting to 09 is stored.

【0027】また、CPU45は、専用シリアル通信イ
ンターフェース回路44を介して専用シリアルバス31
に接続され、またインターフェース回路107を介して
パーソナルコンピュータ等からなる遠隔制御用ホスト装
置108に接続されている。
The CPU 45 also uses the dedicated serial communication interface circuit 44 to provide the dedicated serial bus 31.
Is also connected to the remote control host device 108 including a personal computer or the like via the interface circuit 107.

【0028】一方、上記表示用メモリ105に格納され
ているガイダンス画面は表示装置109(本発明の表示
手段に対応)に出力することにより観察者に操作入力の
ための画面が提供される。この表示装置109に表示さ
れた画面に対してタッチパネル,ジョグダイヤル,専用
スイッチ等からなる操作指示部材110から指示入力す
る。操作指示部材110から指示入力された情報は検出
回路111で検出されCPU45へ入力される。また、
CPU45にはブザー音を出力する音源112が接続さ
れている。
On the other hand, the guidance screen stored in the display memory 105 is output to the display device 109 (corresponding to the display means of the present invention) to provide the observer with a screen for operation input. Instructions are input to the screen displayed on the display device 109 from an operation instruction member 110 including a touch panel, a jog dial, a dedicated switch and the like. The information instructed and input from the operation instructing member 110 is detected by the detection circuit 111 and input to the CPU 45. Also,
A sound source 112 that outputs a buzzer sound is connected to the CPU 45.

【0029】次に、光学部材の特徴を記憶する記憶テー
ブルについて、図5〜図9を参照して説明する。図5は
対物レンズデータテーブルを示すもので、これには対物
識別番号、対物名称、対物倍率、対物属性、開口数、焦
点距離[mm] 、作動距離[mm] 、透過明視野観察条件、
透過暗視野観察条件、透過微分干渉観察条件、透過位相
差観察条件、透過偏光観察条件、落射明視野観察条件、
落射暗視野観察条件、落射微分干渉観察条件、落射蛍光
観察条件が格納され、透過明視野観察条件、透過暗視野
観察条件、透過微分干渉観察条件、透過位相差観察条
件、透過偏光観察条件には、観察可/不可及び可能な場
合は、コンデンサの組合せ条件が格納され、また落射明
視野観察条件、落射暗視野観察条件、落射微分干渉観察
条件、落射蛍光観察条件には、観察可/不可及び可能な
場合は、キューブの組合せ条件が格納されている。
Next, a storage table for storing the characteristics of the optical member will be described with reference to FIGS. FIG. 5 shows an objective lens data table, which includes an objective identification number, objective name, objective magnification, objective attribute, numerical aperture, focal length [mm], working distance [mm], transmitted bright field observation condition,
Transmission dark field observation conditions, transmission differential interference observation conditions, transmission phase difference observation conditions, transmission polarization observation conditions, episcopic bright field observation conditions,
The epi-illumination dark-field observation conditions, epi-illumination differential interference observation conditions, and epi-illumination fluorescence observation conditions are stored.Transmission bright-field observation conditions, transmission dark-field observation conditions, transmission differential interference observation conditions, transmission phase-contrast observation conditions, transmission polarization observation conditions If the observation is possible / impossible and possible, the combination condition of the condenser is stored, and the episcopic bright-field observation condition, epi-illumination dark-field observation condition, epi-illumination differential interference observation condition, and epi-illumination fluorescence observation condition are If possible, the combination conditions of the cube are stored.

【0030】図6はコンデンサ40の光学素子テーブル
を示すもので、これには光学素子識別ID、光学素子名
称が格納されている。図7はコンデンサ40のトップレ
ンズテーブルを示すもので、これにはトップレンズ識別
ID、トップレンズ名称、焦点距離[mm]、視野絞り投
影倍率が格納されている。
FIG. 6 shows an optical element table of the condenser 40, in which an optical element identification ID and an optical element name are stored. FIG. 7 shows a top lens table of the condenser 40, which stores a top lens identification ID, a top lens name, a focal length [mm], and a field stop projection magnification.

【0031】図8はキューブテーブルを示すもので、こ
れにはキューブ識別ID、キューブ名称が格納されてい
る。図9はフィルタテーブルを示すもので、これにはフ
ィルタ識別ID、フィルタ名称、透過率が格納されてい
る。
FIG. 8 shows a cube table in which a cube identification ID and a cube name are stored. FIG. 9 shows a filter table in which a filter identification ID, a filter name, and a transmittance are stored.

【0032】以上述べた各記憶テーブルは、図3の操作
パネル装置30のROM46あるいは補助記憶装置10
4に格納され、光学部材のデータ設定及び各種制御時に
必要に応じてCPU45により読み出される。
The storage tables described above are stored in the ROM 46 of the operation panel device 30 shown in FIG. 3 or the auxiliary storage device 10.
4 and is read out by the CPU 45 as needed at the time of data setting of the optical member and various controls.

【0033】図10〜図12は、図5〜図9に示した各
光学部材のテーブルよりレボルバ10の取付け第1穴位
置に装着された対物レンズ9のデータ設定画面の表示装
置109の表示例を示している。図10は全ての光学部
材のデータ設定状態を示すメイン画面であり、これには
以下の領域が設けてある。上位階層選択スイッチ(S
W)領域500と、設定状態表示領域507と、各ユニ
ット毎の初期設定操作を指定するSW群領域508が設
けてある。上位階層選択SW領域500には、メイン画
面選択SW501、写真撮影設定選択SW502、電動
部位操作選択SW503、オートフォーカス設定操作選
択SW504、初期設定選択SW505、その他の設定
選択SW506が設けられている。これらの選択SWは
いずれも画面に表示され、どの階層の画面からでも選択
可能となっている。メイン画面には顕微鏡観察における
基本的な設定SWが設けてあり、通常の使用ではメイン
画面のみで顕微鏡システムのコントロールが可能になっ
ている。
10 to 12 are display examples of the display device 109 of the data setting screen of the objective lens 9 mounted at the mounting first hole position of the revolver 10 from the table of each optical member shown in FIGS. 5 to 9. Is shown. FIG. 10 is a main screen showing the data setting state of all optical members, which has the following areas. Upper layer selection switch (S
W) area 500, setting status display area 507, and SW group area 508 for designating an initial setting operation for each unit. The upper layer selection SW area 500 is provided with a main screen selection SW 501, a photography setting selection SW 502, an electric part operation selection SW 503, an auto focus setting operation selection SW 504, an initial setting selection SW 505, and other setting selection SW 506. All of these selection SWs are displayed on the screen and can be selected from the screens of any hierarchy. The main screen is provided with a basic setting switch for microscope observation, and in normal use, the microscope system can be controlled only by the main screen.

【0034】設定状態表示領域507には現在の顕微鏡
システムの設定状態、具体的にはキューブ(CUBE)
の設定状態表示部55a、レボルバ(REVO)の設定
状態表示部55b、透過フィルターユニット(EPIー
FC)の設定状態表示部55c、落射フィルターユニッ
ト(DIAーFC)の設定状態表示部55d、落射フィ
ルターコントロール部(UCD)の設定状態表示部55
eが表示されている。この表示内容は、各光学部材のユ
ニット内の配置位置および図5〜図9で示した各光学部
材テーブルから選択設定された部材の光学名称と一致し
ている。
In the setting status display area 507, the current setting status of the microscope system, specifically, a cube (CUBE) is displayed.
Setting display 55a, revolver (REVO) setting display 55b, transmission filter unit (EPI-FC) setting display 55c, epi-filter unit (DIA-FC) setting display 55d, epi-filter Setting state display section 55 of control section (UCD)
e is displayed. This display content matches the arrangement position of each optical member in the unit and the optical name of the member selected and set from each optical member table shown in FIGS. 5 to 9.

【0035】SW群領域508には、キューブ設定選択
SW56a、レボルバ設定選択SW56b、落射フィル
ターコントロール部設定選択SW56c、透過フィルタ
ーユニット設定選択SW56d、落射フィルターユニッ
ト設定選択SW56eが表示されている。
In the SW group area 508, a cube setting selection SW 56a, a revolver setting selection SW 56b, an epi-illumination filter control section setting selection SW 56c, a transmission filter unit setting selection SW 56d, and an epi-illumination filter unit setting selection SW 56e are displayed.

【0036】次に、設定方法の例について説明する。ま
ず、現在の光学部材の設定状態が設定状態表示部55a
〜55eに表示されているので、一目で全ての光学部材
のデータ設定状況が図10にて確認できる。
Next, an example of the setting method will be described. First, the current setting state of the optical member indicates the setting state display portion 55a.
Since the data is displayed in ~ 55e, the data setting status of all optical members can be confirmed at a glance in FIG.

【0037】次に、設定選択SW56a〜56eを押下
げると、表示画面が図11のように切替わる。この場
合、レボルバ10の取付け位置対応に現在の対物レンズ
データ設定内容と、レボルバ10の取付け位置に対応す
る対物レンズ選択スイッチ57a〜57gが表示され
る。図11の状態で、スイッチ57aを押下げると、図
12のように対物レンズデータ選択設定画面表示に切替
わる。
Next, when the setting selection SW 56a to 56e are pushed down, the display screen is switched as shown in FIG. In this case, the current objective lens data setting contents corresponding to the mounting position of the revolver 10 and the objective lens selection switches 57a to 57g corresponding to the mounting position of the revolver 10 are displayed. When the switch 57a is pressed down in the state of FIG. 11, the display switches to the objective lens data selection setting screen display as shown in FIG.

【0038】この場合図5で示した対物レンズテーブル
の一覧およびラインカーソルがスクロール画面59に表
示される。なお、画面のスクロール操作は、ジョグダイ
アル等の操作指示部材50で行なう。このスクロールに
より目的とする対物レンズ名称位置にカーソルを合わせ
て、選択確定スイッチ58aを押下げることにより、当
該レボルバ位置の対物レンズデータ設定が完了したこと
になる。なお、処理的には図5の当該対物識別番号をR
AM47に記憶することになる。
In this case, the list of objective lens tables and the line cursor shown in FIG. 5 are displayed on the scroll screen 59. The screen scrolling operation is performed by the operation instruction member 50 such as a jog dial. This scrolling brings the cursor to the target objective lens name position and depresses the selection confirmation switch 58a, whereby the objective lens data setting at the relevant revolver position is completed. In terms of processing, the objective identification number in FIG.
It will be stored in AM 47 .

【0039】図12の状態で、スイッチ57aを押下げ
操作により、再び図11の表示に切替わり、他のレボル
バ穴取付け位置の対物レンズデータ設定を続けることが
できる。
By depressing the switch 57a in the state of FIG. 12, the display is switched to the display of FIG. 11 again, and the objective lens data setting of another revolver hole mounting position can be continued.

【0040】図10〜図12と同様のデータ設定操作を
他の光学部材に対して実行することにより、対物レン
ズ、コンデサ光学素子、コンデンサトップレンズ、キュ
ーブ、透過/落射フィルターのデータ設定が完了する。
なお、図11および図12の表示画面において、設定放
棄スイッチ58bを押下げると、設定操作を中止して上
位画面に移行する。
By performing the same data setting operation as in FIGS. 10 to 12 on other optical members, the data setting of the objective lens, the condenser optical element, the condenser top lens, the cube, and the transmission / reflection filter is completed. .
When the setting abandon switch 58b is pressed on the display screens of FIGS. 11 and 12, the setting operation is stopped and the screen moves to the upper screen.

【0041】また、操作ガイドは既知のアスキーコード
もしくはJISコードあるいは独自のユニークなフォン
ト識別番号で記述され、操作パネル装置30のROM4
6あるいは補助記憶装置104に格納されている。
The operation guide is described by a known ASCII code or JIS code or a unique unique font identification number, and the ROM 4 of the operation panel device 30.
6 or the auxiliary storage device 104.

【0042】なお、光学部材の特徴を記憶する記憶テー
ブル及び操作ガイドを補助記憶装置104に格納するこ
とにより、後の光学部材の追加及び操作ガイド内容の偏
光が容易になるばかりでなく、様々なユーザの要望に簡
単に対応できる。
By storing the storage table for storing the characteristics of the optical members and the operation guide in the auxiliary storage device 104, not only the addition of optical members and the polarization of the operation guide contents later become easy, but also various operations are possible. It can easily respond to the user's request.

【0043】次に、図1で示した光学系内の光学部材が
全て電動制御可能な場合の検鏡切替え制御がどのように
行なわれるかを、図13を用いて透過位相差検鏡切替え
の場合を例にして説明する。全体の概要としては、操作
パネル装置30よりコントロール部29〜36に光学部
材の制御指示を出力することにより実現する。
Next, how the spectroscopic switching control is performed when all the optical members in the optical system shown in FIG. 1 can be electrically controlled will be described with reference to FIG. A case will be described as an example. As a general outline, it is realized by outputting a control instruction of the optical member from the operation panel device 30 to the control units 29 to 36.

【0044】S1の処理では、操作パネル装置30を介
して観察者が検鏡法(透過位相差検鏡)を選択する。S
2の処理では、光路が不安定状態に移行する前にAFコ
ントロール部33にAF動作を一時停止するように制御
指示する。S3の処理では、現在落射系観察を行なって
いる場合は、落射シャッターを光路に挿入して落射照明
を遮断する制御指示をフレームコントロール部34に出
力する。また、透過照明光が標本に照射されている場合
は、観察時以外に余分な光を標本に照射させないという
目的で、透過フィルターユニット3に遮光板が装着さ
れている場合には、遮光板を光路に挿入して透過照明を
遮断する制御指示を透過フィルターコントロール部35
に出力する。
In the process of S1, the observer selects the speculum method (transmission phase difference spectroscope) via the operation panel device 30. S
In the process of 2, the AF control unit 33 is instructed to control the AF operation to be temporarily stopped before the optical path shifts to the unstable state. In the process of S3, when the epi-illumination system observation is currently being performed, a control instruction for inserting the epi-illumination shutter into the optical path and cutting off the epi-illumination is output to the frame controller 34. Further, when the sample is irradiated with the transmitted illumination light, a light-shielding plate is attached to the transmission filter unit 3 for the purpose of not irradiating the sample with extra light except during observation. Is inserted into the optical path and a control instruction to cut off the transmitted illumination is transmitted to the transmission filter control unit
Output to.

【0045】S4の処理では、対物レンズの切替えが生
ずる場合にレボルバ10の回転により対物レンズが標本
に接触しないためにステージ8を下降させることによ
り、対物レンズと標本Sの距離を十分に確保するように
AFコントロール部33に制御指示を出力する。
In the processing of S4, when the objective lens is switched, the stage 8 is lowered because the objective lens does not come into contact with the sample due to the rotation of the revolver 10, so that a sufficient distance between the objective lens and the sample S is secured. In this way, a control instruction is output to the AF control unit 33 .

【0046】なお、対物レンズを切替える必要がある場
合とは、現在光路中に位置する対物レンズが、図5の対
物レンズテーブルにて透過位相差検鏡不可設定(対物レ
ンズ内に位相板を保有していない)となっているか、必
要とされる光学素子がコンデンサ内に実装されていない
場合等のことである。
When it is necessary to switch the objective lens, when the objective lens currently located in the optical path is set to the transmission phase difference spectroscopic inspection disabled in the objective lens table of FIG. 5 (a phase plate is provided in the objective lens). Not) or the required optical element is not mounted in the capacitor.

【0047】S2〜S4の処理は、必ずしもシーケンシ
ャルに実行される必要はなく、制御時間を短縮するため
に同時に制御するようにしてもよい。次に、S5の処理
では、対物レンズの切替えが必要な場合に、現在レボル
バ10に実装されており、かつ図5の対物レンズテーブ
ルにて検鏡可能に設定されており、かつ必要と定義され
ている光学素子がコンデンサ光学素子ユニット6にて実
装されているという条件を満たす対物レンズを求め、当
該対物レンズをレボルバ10の回転により、光路に挿入
する制御指示をフレームコントロール部34に出力す
る。
The processes of S2 to S4 do not necessarily have to be executed sequentially, and they may be simultaneously controlled in order to shorten the control time. Next, in the processing of S5, when it is necessary to switch the objective lens, it is currently mounted on the revolver 10 and is set to be spectroscopically possible by the objective lens table of FIG. 5, and is defined as necessary. An objective lens that satisfies the condition that the optical element is mounted in the condenser optical element unit 6 is obtained, and a control instruction to insert the objective lens into the optical path is output to the frame control unit 34 by rotating the revolver 10.

【0048】S6の処理では、図5の当該対物レンズテ
ーブルの透過位相差観察条件にて指定されるコンデンサ
トップレンズ及び光学素子(リングスリット)の光路へ
の挿入制御指示をコンデンサコントロール部37に出力
する。また、透過開口絞り径dasは公知の計算式(1)
式により求め、前述と同様にコンデンサコントロール部
37に開口絞りの開閉制御指示を出力する。
In the processing of S6, an instruction to control insertion of the condenser top lens and the optical element (ring slit) into the optical path designated by the transmission phase difference observation condition of the objective lens table of FIG. To do. Further, the transmission aperture stop diameter das is a known calculation formula (1).
Obtained from the equation, and outputs the opening / closing control instruction of the aperture stop to the condenser control unit 37 in the same manner as described above.

【0049】das=2×対物レンズの開口数×コンデン
サトップレンズの焦点距離×Kas[mm] …(1)
(1)式中の対物レンズの開口数は、図5の当該対物レ
ンズテーブルより、コンデンサトップレンズの焦点距離
は、図7の当該コンデンサトップレンズテーブルよりそ
れぞれ獲得する。
Das = 2 × numerical aperture of objective lens × focal length of condenser top lens × Kas [mm] (1)
The numerical aperture of the objective lens in the equation (1) is obtained from the objective lens table of FIG. 5, and the focal length of the condenser top lens is obtained from the condenser top lens table of FIG.

【0050】なお、補正係数Kasは、(1)式の右辺第
1〜第3項で求まる瞳径に対する補正係数であり、一般
的には対物レンズの瞳径より若干絞り込んだ方がコント
ラストの良い画像が得られると言われるが、いずれにせ
よ標本Sに依存することが多い。
The correction coefficient Kas is a correction coefficient for the pupil diameter obtained by the first to third terms on the right side of the equation (1), and generally the contrast is better when it is narrowed down slightly from the pupil diameter of the objective lens. It is said that an image can be obtained, but in any case, it often depends on the sample S.

【0051】S7の処理では、透過視野絞り径dfsは公
知の計算式(2)式により求め、透過視野絞りコントロ
ール部36の視野絞りの開閉制御指示を出力する。 dfs= 接眼レンズの視野数÷(対物倍率×ズーム倍率×視野絞りの投影倍率)×Kfs …(2) (2)式中の対物倍率は、図5の当該対物レンズテーブ
ルより、ズーム倍率は、視野絞りの投影倍率は図7の当
該コンデンサトップレンズテーブルより獲得する。
In the processing of S7, the transmission field stop diameter dfs is obtained by the known calculation formula (2), and the opening / closing control instruction of the field stop of the transmission field stop control unit 36 is output. dfs = field number of eyepiece / (objective magnification × zoom magnification × projection magnification of field stop) × Kfs (2) The objective magnification in the formula (2) is calculated from the objective lens table of FIG. The projection magnification of the field stop is obtained from the condenser top lens table of FIG.

【0052】なお、接眼レンズの視野数は、一般的に2
6.5mmもしくは、別途接眼レンズテーブルを設け、他の
光学部材の設定と同様な形式でデータ設定することによ
り、可変値とすることもできる。
The field of view of the eyepiece lens is generally 2
It can be set to a variable value by setting 6.5 mm or a separate eyepiece lens table and setting data in the same format as the setting of other optical members.

【0053】Kfsは(2)式の右辺の第1項の計算で論
理的に求まる視野外接径に対して、偏心及び誤差等によ
り視野がかける場合等のために補正する係数である。な
お、補正係数Kfsを対物レンズに対応するRAM47に
記憶することにより、対物レンズを切替える毎に視野絞
りを調整する必要はなくなる。
Kfs is a coefficient for correcting the circumscribed diameter of the field of view which is logically obtained by the calculation of the first term on the right side of the equation (2) in the case where the field of view is applied due to eccentricity and error. By storing the correction coefficient Kfs in the RAM 47 corresponding to the objective lens, it is not necessary to adjust the field stop each time the objective lens is switched.

【0054】S8の処理では、公知の計算式(3)式に
より接眼レンズ14を通過した観察光の観察像面におけ
る照度Lが求まり、この照度Lを一定に保つようなND
フィルタの組合せを求め、透過視野絞りコントロール部
36にNDフィルターの光路への挿脱制御指示を出力す
る。この詳細については、特開昭59ー172617号
公報に記載されている。
In the processing of S8, the illuminance L on the observation image plane of the observation light that has passed through the eyepiece lens 14 is obtained by the well-known calculation formula (3), and the ND that keeps the illuminance L constant is obtained.
The combination of filters is obtained, and an instruction to insert / remove the ND filter into / from the optical path is output to the transmission field stop control unit 36. The details are described in JP-A-59-172617.

【0055】 L=LA×ND×AS×OB×ZOOM×Bi×KND [lx] …(3) ただし、 LA:基準照度 ND:NDフィルター無しを1とした場合の明るさ比 AS:対物レンズの瞳径の開口数を1とした場合の開口
径による明るさの比 OB:基準となる対物レンズの明るさを1とした場合の
対物レンズ開口数及び倍率による明るさの比 ZOOM:ズーム倍率1倍を1とした場合のズーム倍率
による明るさ比 Bi:観察像面へ100%観察光が届く場合を1とした
場合の明るさ比 KND:マニュアル操作で明るさを補正する場合の係数 次にS9の処理では、透過位相差検鏡を行なう場合に必
要なキューブ位置(空、キューブ)を光路に挿入する制
御指示をフレームコントロール部34に出力する。
L = LA × ND × AS × OB × ZOOM × Bi × KND [lx] (3) where LA: reference illuminance ND: brightness ratio when no ND filter is 1 AS: objective lens Brightness ratio OB depending on the aperture diameter when the numerical aperture of the pupil diameter is set to 1: OBOM: Zoom ratio 1 based on the numerical aperture and magnification of the objective lens when the brightness of the reference objective lens is set to 1 Brightness ratio by zoom magnification when 1 is set to 1: Bi: Brightness ratio when 1 when 100% of the observation light reaches the observation image plane KND: Coefficient for correcting the brightness manually In the processing of S9, a control instruction to insert the cube position (empty, cube) required for performing the transmission phase contrast microscopy into the optical path is output to the frame control unit 34.

【0056】なお、S5〜S9の処理は、必ずしもシー
ケンシャルに実行する必要はない。次に、S10の処理
では、前述のS4の処理でステージ退避制御を行なった
場合、退避前の位置に戻す制御指示を、AFコントロー
ル部33に出力する。また、S11の処理では、前述の
S3の処理で遮光板の光路挿入による透過照明の遮光制
御を行った場合に、遮光板を光路から離脱させ、標本S
に透過照明光を照射させる制御指示を透過フィルターコ
ントロール部35に出力する。
The processing of S5 to S9 does not necessarily have to be executed sequentially. Next, in the process of S10, when the stage retract control is performed in the process of S4 described above, a control instruction for returning to the position before the retract is output to the AF control unit 33. Further, in the processing of S11, when the light blocking control of the transmitted illumination is performed by inserting the light path of the light blocking plate in the processing of S3 described above, the light blocking plate is removed from the optical path, and the sample S
A control instruction to irradiate the transmission illumination light is output to the transmission filter control unit 35.

【0057】なお、S10,S11の処理は、必ずしも
シーケンシャルに実行させる必要はない。最後に、S1
2の処理で中断させたAF動作を再開させる制御指示を
AFコントロール部33に出力し、一連の透過位相差検
鏡切替え制御が完了し、各光学部材が適切な状態に制御
されることにより、良好な透過位相差観察が行える。た
だし、後述する視野絞りの芯出し及び位相差リングの芯
出しが適切に行われていることが前提条件である。
The processing of S10 and S11 does not necessarily have to be executed sequentially. Finally, S1
By outputting a control instruction for restarting the AF operation interrupted in the process of 2 to the AF control unit 33, a series of transmission phase difference spectroscopic switching control is completed, and each optical member is controlled to an appropriate state, Good transmission phase difference observation can be performed. However, it is a prerequisite that the field stop and the retardation ring, which will be described later, are properly centered.

【0058】次に、本発明の実施例として前述の実施例
のように全て電気的に制御せずに、電気的に制御ができ
ない光学部材が存在する場合の適切な観察状態のセッテ
ィング例を、前述の透過位相差検鏡切替えの場合を例に
して説明する。
Next, as an embodiment of the present invention, an example of setting an appropriate observation state in the case where there is an optical member that cannot be electrically controlled without being electrically controlled as in the above-described embodiments, The case of switching the transmission phase difference microscope will be described as an example.

【0059】前記S1の処理で、操作パネル装置30を
介して観察者が検鏡法(透過位相差検鏡)を選択する。
次いで、電気的に制御できる光学部材が存在する場合
は、図13のS1〜S12の処理に準じて処理を実行す
る。そして、電気的に制御できない光学部材の操作ガイ
ドを自動的に表示装置109に表示し、観察者に操作ガ
イドを表示することにより、会話的に簡単に適切な観察
状態にセッティングできるようにする。
In the process of S1, the observer selects the speculum method (transmission phase difference spectroscope) via the operation panel device 30.
Next, if there is an electrically controllable optical member, the processing is executed according to the processing of S1 to S12 in FIG. Then, the operation guide of the optical member that cannot be electrically controlled is automatically displayed on the display device 109 and the operation guide is displayed to the observer, so that the observer can easily and interactively set the appropriate observation state.

【0060】例えば、対物レンズの光路への挿脱が電気
的に制御できず、かつ現在光路に透過位相差検鏡不可能
な対物レンズが位置している場合は、表示装置109に
図14に示す操作ガイドを表示し、観察者に操作ガイド
を表示し、観察者にレボルバ10を回転させ、当該対物
レンズを光路内に位置させる。そして、作業が完了した
ら、確認スイッチ60を押下げして次のステップへと進
む。なお、AFコントロール部33により、ステージ8
を電気的に上下制御できる場合は、本操作の前後にステ
ージ8の位置の退避/復帰制御は当然自動的に行われ
る。
For example, when the insertion / removal of the objective lens into / from the optical path cannot be electrically controlled, and the objective lens which is currently incapable of transmission phase contrast microscopy is located in the optical path, the display device 109 is shown in FIG. The operation guide is displayed, the operation guide is displayed to the observer, the revolver 10 is rotated to the observer, and the objective lens is positioned in the optical path. Then, when the work is completed, the confirmation switch 60 is pushed down to proceed to the next step. The AF controller 33 controls the stage 8
If it is possible to electrically control up and down, the retracting / returning control of the position of the stage 8 is automatically performed before and after this operation.

【0061】例えば、コンデンサ内の光学部材が電気的
に制御できない場合は、図15に示す操作ガイドを表示
装置109に表示し、観察者に当該光学部材を光路に位
置させる。作業が終了したら、確認スイッチ60を押下
げて次のステップへと進む。
For example, when the optical member in the condenser cannot be electrically controlled, the operation guide shown in FIG. 15 is displayed on the display device 109 and the observer positions the optical member in the optical path. When the work is completed, the confirmation switch 60 is pushed down to proceed to the next step.

【0062】なお、現在の光学部材が適切な位置にいる
ことを装置が確認できる場合は、本操作ガイドは表示装
置109に表示されないことは当然である。例えば、透
過視野絞り4が電気的に制御できない場合は、図16に
示す操作ガイドを表示装置109に表示し、観察者に適
切な絞り径に調整される。作業が終了したら、確認スイ
ッチ60を押さげて次のステップへと進む。なお、適切
な絞り径とは、前述のS7の処理の(2)式で求まる径
である。
When the device can confirm that the current optical member is in the proper position, the operation guide is naturally not displayed on the display device 109. For example, when the transmission field diaphragm 4 cannot be electrically controlled, the operation guide shown in FIG. 16 is displayed on the display device 109, and the diaphragm diameter is adjusted to be suitable for the observer. When the work is completed, the confirmation switch 60 is pushed down to proceed to the next step. The appropriate aperture diameter is the diameter obtained by the equation (2) in the process of S7 described above.

【0063】例えば、透過フィルターが電気的に制御で
きず、かつNDフィルターが実装されている場合は、観
察像面の明るさを一定に保つためのNDフィルターの組
み合わせを、図17に示す操作ガイド形式に表示装置1
09に表示し、観察者に当該Nフィルターの挿脱制御を
行う。そして、作業が終了したら、確認スイッチ60を
押下げて次のステップへと進む。なお、現在の光学部材
が適切な位置に存在することを装置が確認できる場合
は、本操作ガイドは表示されない。
For example, when the transmission filter cannot be electrically controlled and the ND filter is mounted, a combination of ND filters for keeping the brightness of the observation image plane constant is shown in FIG. Display device 1 in format
09, and the observer is controlled to insert and remove the N filter. Then, when the work is completed, the confirmation switch 60 is pushed down to proceed to the next step. If the device can confirm that the current optical member is present at an appropriate position, this operation guide is not displayed.

【0064】例えば、キューブが電気的に制御できず、
かつ適切な光路内に位置していない場合は、図18に示
す操作ガイドを表示装置109に表示し、観察者に当該
キューブを光路内に位置させる。作業が終了したら確認
スイッチ60を押下げて次のステップへと進む。
For example, the cube cannot be electrically controlled,
If it is not located in the proper optical path, the operation guide shown in FIG. 18 is displayed on the display device 109, and the observer positions the cube in the optical path. When the work is completed, the confirmation switch 60 is pushed down to proceed to the next step.

【0065】以上述べたことは、代表的な操作ガイド例
と同様な処理をその他の電気的に制御できない光学部材
に対して行うことにより目的とする適切な環境状態を誤
ることなく、確実にセッティングが可能となる。また、
検鏡法を切替ずに現在の観察状態で最適な観察条件を観
察者が知りたい場合は、図13の処理フローに従った操
作ガイド表示による確認調整作業と次に述べる芯出し等
の確認調整作業により実現する。
As described above, by performing the same processing as that of the typical operation guide example on other optical members which cannot be electrically controlled, the setting can be surely performed without erroneous target environmental conditions. Is possible. Also,
When the observer wants to know the optimum observation condition in the current observation state without switching the speculum method, the confirmation adjustment work by the operation guide display according to the processing flow of FIG. 13 and the confirmation adjustment such as the centering described below. It is realized by work.

【0066】次に、自動化調整が比較的困難である例に
適用した実施例について説明する。自動化調整できない
代表的な例として、光軸の芯出し及び位相差リングスリ
ットの芯出し等がある。また、対物レンズの性能を十分
に活かすためには、適切なカバーガラスの選択、油浸対
物レンズの場合のイマージョンオイルの点着、補正環付
対物レンズの場合の補正環の調整等が必要である。この
調整は、適切な観察を行うためには、必要不可欠である
観察者には煩わしい操作であり、かつ調整方法を忘れが
ちである。
Next, an embodiment applied to an example in which automatic adjustment is relatively difficult will be described. Typical examples that cannot be automatically adjusted include centering of the optical axis and centering of the phase difference ring slit. Also, in order to make full use of the performance of the objective lens, it is necessary to select an appropriate cover glass, spot immersion oil in the case of an oil immersion objective lens, and adjust the correction ring in the case of an objective lens with a correction ring. is there. This adjustment is an inconvenient operation for the observer, which is indispensable for proper observation, and the adjustment method is easy to forget.

【0067】そこで、以下に示す操作ガイド例を表示す
ることにより、調整項目及び調整方法が明確になり、適
切な観察条件を得ることができる。なお、位相差リング
スリットの芯出しは、透過位相差観察時のみ必要な調整
項目であり、また油浸対物レンズのみイマージョンオイ
ルの点着が必要な項目である等、現在観察状態におい
て、必要な調整項目のみを表示装置109に表示する。
そのため、RAM47に記憶している現在の検鏡法及び
対物レンズ位置ならびに図5の当該対物レンズテーブル
項目等を必要に応じて使用する。
Therefore, by displaying the following operation guide example, the adjustment item and the adjustment method are clarified, and an appropriate observation condition can be obtained. In addition, the centering of the phase difference ring slit is an adjustment item necessary only for observation of the transmission phase difference, and is an item requiring spotting of immersion oil only on the oil immersion objective lens. Only the adjustment items are displayed on the display device 109.
Therefore, the current microscopic method and objective lens position stored in the RAM 47, the objective lens table item in FIG. 5, and the like are used as necessary.

【0068】図19は、観察者の操作により、現在の観
察状態(例えば透過位相差観察)で必要な調整項目を表
示装置109に表示した状態である。本操作ガイドによ
り観察者が実施しなけれならない調整項目が一目で判
る。さらに、スイッチ61a〜61dを押下げることに
より、各項目の調整方法の詳細なガイドが表示装置10
9に表示される。
FIG. 19 shows a state in which adjustment items required in the current observation state (for example, transmission phase difference observation) are displayed on the display device 109 by the operation of the observer. This operation guide allows the observer to see at a glance which adjustment items must be performed by the observer. Further, by depressing the switches 61a to 61d, a detailed guide of how to adjust each item can be displayed.
9 is displayed.

【0069】図20は、透過視野絞りによる光軸芯出し
調整の表示例を示している。この要旨を説明すると、ま
ず視野絞りを絞り込み、視野絞り像が視野の中心に位置
するように調整する。次に視野の80%程度に視野絞り
を開閉操作し、視野絞り像が視野の中心に位置するよう
に調整する。最後に、視野に外接するように視野絞りを
開閉操作し、芯出し完了となり、確認スイッチ60を押
下げすることにより、操作ガイド表示を終了する。
FIG. 20 shows a display example of the optical axis centering adjustment by the transmission field stop. To explain this point, first, the field stop is narrowed down and adjusted so that the field stop image is located at the center of the field. Next, the field stop is opened / closed to about 80% of the field of view, and the field stop image is adjusted to be located at the center of the field. Finally, the field stop is opened / closed so as to circumscribe the field of view, the centering is completed, and the confirmation switch 60 is pushed down to end the operation guide display.

【0070】なお、視野絞り4が電気的に開閉制御可能
な場合には視野開閉スイッチ62a〜62cを設け、視
野絞りの開閉制御を視野開閉スイッチ62a〜62cの
押下げにより自動的に行えるようにする。
When the field diaphragm 4 can be electrically controlled to open and close, field opening and closing switches 62a to 62c are provided so that the opening and closing control of the field diaphragm can be automatically performed by pushing down the field opening and closing switches 62a to 62c. To do.

【0071】図21は、位相差視野絞りの芯出し調整の
操作ガイドの表示例を示すものである。レボルバー10
が電気的に制御可能な場合は、スイッチ63a〜63f
が表示され、スイッチ63a〜63fの押下げにより対
物レンズの切替えも可能である。この場合、当然透過位
相差観察不可能な場合は、対物レンズはスイッチ63a
〜63fを押しても切替わらない。また、コンデンサ内
の光学部材が電気的に制御可能な場合は、光路内の対物
レンズの切替えと同期して適切な位相差リングスリット
が光路に挿入された状態を表示部64に表示される。
FIG. 21 shows a display example of an operation guide for centering adjustment of the phase difference field stop. Revolver 10
Switches 63a to 63f if the switch is electrically controllable
Is displayed, and the objective lens can be switched by pressing the switches 63a to 63f. In this case, of course, when the transmission phase difference cannot be observed, the objective lens is the switch 63a.
Even if I press ~ 63f, it does not switch. When the optical member in the condenser is electrically controllable, the display unit 64 displays a state in which an appropriate phase difference ring slit is inserted in the optical path in synchronization with the switching of the objective lens in the optical path.

【0072】図22はイマージョンオイルの点着操作ガ
イドの表示例を示し、図23は補正環の調整ガイド表示
例を示している。補正環付対物レンズの調整において、
図23でも判るように、ピント合わせを頻繁に行なわな
ければならないので、AFコントロール部33でステー
ジ8を電気的に制御できる場合は、AFスイッチ65を
表示装置109の画面に表示し、AFスイッチ65の押
下げにより自動的にピントを合わせるようにできる。
FIG. 22 shows a display example of the immersion oil spotting operation guide, and FIG. 23 shows a display example of the correction ring adjustment guide. In adjusting the objective lens with correction ring,
As can be seen from FIG. 23, focusing must be performed frequently. Therefore, when the stage 8 can be electrically controlled by the AF control unit 33, the AF switch 65 is displayed on the screen of the display device 109 and the AF switch 65 is displayed. You can automatically focus by pressing down.

【0073】以上述べた実施例によれば、比較的難しく
忘れがちな操作を、表示装置109に適宜表示されるの
で、100%顕微鏡の性能を誰もが発揮することが可能
になる。
According to the above-described embodiment, the relatively difficult and easy-to-forget operation is displayed on the display device 109 as appropriate, so that anyone can exhibit the performance of the 100% microscope.

【0074】また、現在の光学系の状態を顕微鏡側が認
識し、かつ制御することが可能である場合は、操作ガイ
ドに従った操作時に、顕微鏡側が補助的に自動セッティ
ングを行うことができるので、その調整操作の作業も簡
単かつ正確にできるようになり、その効果は非常に大き
い。
If the microscope can recognize and control the current state of the optical system, the microscope can assist the automatic setting during the operation according to the operation guide. The adjustment operation can be performed easily and accurately, and the effect is very large.

【0075】さらに、現在の光学系の状態を顕微鏡側が
確認できる場合、現在の状態に応じて、必要な内容の操
作ガイドを必要なときに表示することが可能になるの
で、さらに使い勝手が向上する。
Further, when the current state of the optical system can be confirmed by the microscope side, it is possible to display an operation guide having the necessary contents according to the current state when needed, further improving the usability. .

【0076】本発明は、前述の実施例に限定されず、例
えば以下のように構成してもよい。前述の実施例では、
検鏡法として位相差検鏡法をあげたが、透過検鏡法(明
視野、暗視野、ノマルスキー、偏光、位相差、蛍光)、
落射検鏡法(明視野、暗視野、ノマルスキー、偏光、位
相差、蛍光)であっても同様に実施できる。
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, but may be configured as follows, for example. In the example above,
Although the phase-contrast spectroscopic method was mentioned as the spectroscopic method, the transmission spectroscopic method (bright field, dark field, Nomarski, polarization, phase difference, fluorescence),
The same method can be applied to the episcopy method (bright field, dark field, Nomarski, polarized light, phase difference, fluorescence).

【0077】[0077]

【発明の効果】本発明によれば、芯出し調整はもとよ
り、観察者が望むフレキシブルな顕微鏡構成において、
誰にでも簡単に適切な観察状態にセッティングできる顕
微鏡システムを提供できる。
According to the present invention, in addition to the centering adjustment, in the flexible microscope structure desired by the observer,
It is possible to provide a microscope system that allows anyone to easily set an appropriate observation state.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の顕微鏡システムの第1実施例の全体構
成図。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a first embodiment of a microscope system of the present invention.

【図2】図1に示す顕微鏡システムにおける光学系の構
成図。
FIG. 2 is a configuration diagram of an optical system in the microscope system shown in FIG.

【図3】図1に示す顕微鏡システムにおける各コントロ
ール部に共通の機能ブロック図。
FIG. 3 is a functional block diagram common to each control unit in the microscope system shown in FIG.

【図4】図1の顕微鏡システムにおけるメインコントロ
ール部の機能ブロック図。
4 is a functional block diagram of a main control unit in the microscope system of FIG.

【図5】図3および図4のメモリ46に記憶されている
対物レンズデータテーブルを示す図。
5 is a diagram showing an objective lens data table stored in a memory 46 of FIGS. 3 and 4. FIG.

【図6】図3および図4のメモリ46に記憶されている
コンデンサの光学素子テーブルを示す図。
6 is a diagram showing an optical element table of a condenser stored in a memory 46 of FIGS. 3 and 4. FIG.

【図7】図3および図4のメモリ46に記憶されている
コンデンサのトップレンズテーブルを示す図。
7 is a diagram showing a top lens table of capacitors stored in a memory 46 of FIGS. 3 and 4. FIG.

【図8】図3および図4のメモリ46に記憶されている
キューテーブルを示す図。
8 is a diagram showing a queue table stored in a memory 46 of FIGS. 3 and 4. FIG.

【図9】図3および図4のメモリ46に記憶されている
フィルターテーブルを示す図。
9 is a diagram showing a filter table stored in a memory 46 of FIGS. 3 and 4. FIG.

【図10】図4の表示装置の表示例を示す図。10 is a diagram showing a display example of the display device of FIG.

【図11】図4の表示装置の表示例を示す図。11 is a diagram showing a display example of the display device of FIG.

【図12】図4の表示装置の表示例を示す図。12 is a diagram showing a display example of the display device of FIG.

【図13】図1の動作を説明するためのフローチャー
ト。
FIG. 13 is a flowchart for explaining the operation of FIG.

【図14】図4の表示装置の表示例であって図1の対物
レンズの切換時の操作ガイドを示す図。
14 is a diagram showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide at the time of switching the objective lens of FIG.

【図15】図4の表示装置の表示例であって図1のコン
デンサの光学部材の切換、開口絞り調整時の操作ガイド
を示す図。
15 is a diagram showing a display example of the display device of FIG. 4, showing an operation guide when switching the optical members of the condenser of FIG. 1 and adjusting an aperture stop.

【図16】図4の表示装置の表示例であって図1の透過
視野絞り調整時の操作ガイドを示す図。
16 is a view showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide when adjusting the transmission field diaphragm of FIG.

【図17】図4の表示装置のの表示例であって図1の透
過フィルタ切換時の操作ガイドを示す図。
17 is a diagram showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide when switching the transmission filter of FIG.

【図18】図4の表示装置のの表示例であって図1のキ
ューブ切換時の操作ガイドを示す図。
18 is a diagram showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide at the time of switching the cube of FIG. 1;

【図19】図4の表示装置のの表示例であって項目確認
用の操作ガイドを示す図。
FIG. 19 is a diagram showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide for item confirmation.

【図20】図4の表示装置のの表示例であって図1の光
軸芯出しの操作ガイドを示す図。
20 is a diagram showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide for optical axis centering of FIG. 1.

【図21】図4の表示装置のの表示例であって図1の位
相差リングの芯出しの操作ガイドを示す図。
21 is a view showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide for centering the phase difference ring of FIG. 1. FIG.

【図22】図4の表示装置のの表示例であって図1の油
浸対物レンズの取扱についての操作ガイドを示す図。
22 is a view showing a display example of the display device of FIG. 4 and showing an operation guide for handling the oil immersion objective lens of FIG. 1;

【図23】図4の表示装置のの表示例であって図1の補
正環付対物レンズの取扱についての操作ガイドを示す
図。
23 is a diagram showing a display example of the display device of FIG. 4, showing an operation guide for handling the objective lens with a correction ring of FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…コレクタレンズ、3…透過フィルターユニット、
4…透過視野絞り、5…透過開口絞り、6…コンデンサ
光学素子ユニット、7…コンデンサトップレンズユニッ
ト、8…ステージ、9…対物レンズ、10…レボルバ、
11…キューブユニット、12,13,20,23,2
4…ビームスプリッター、16…落射視野絞り、17…
落射シャッター、18…落射用フィルターユニット、3
0…操作パネル装置、33…AFコントロール部、34
…フレームコントロール部、40…コンデンサ、45,
100…CPU,46,101…ROM,47,102
…RAM,110操作指示部材、109…表示装置。
2 ... collector lens, 3 ... transparent filter unit,
4 ... Transmission field stop, 5 ... Transmission aperture stop, 6 ... Condenser optical element unit, 7 ... Condenser top lens unit, 8 ... Stage, 9 ... Objective lens, 10 ... Revolver,
11 ... Cube unit, 12, 13, 20, 23, 2
4 ... Beam splitter, 16 ... Episcopic field diaphragm, 17 ...
Epi-illumination shutter, 18 ... Epi-illumination filter unit, 3
0 ... Operation panel device, 33 ... AF control unit, 34
... Frame control section, 40 ... Condenser, 45,
100 ... CPU, 46, 101 ... ROM, 47, 102
... RAM, 110 ... operation instruction member, 109 ... display device.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−119267(JP,A) 特開 昭59−172617(JP,A) 特開 昭59−71018(JP,A) 特開 昭59−172634(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 21/00 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) Reference JP-A-5-119267 (JP, A) JP-A-59-172617 (JP, A) JP-A-59-71018 (JP, A) JP-A-59- 172634 (JP, A) (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G02B 21/00

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡法に基
いて選択される複数の光学ユニットを備え、 前記複数の光学ユニットのうち、電気的に制御できる光
学ユニットを前記顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡法
によって自動制御する顕微鏡システムにおいて、 前記顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡法を指定する指
定手段と、 前記顕微鏡光学系の倍率および各種検鏡法に基いて、前
記複数の光学ユニットのうち、電気的に制御できない光
学ユニットを手動で選択または調整するための操作項
目、操作方法の操作ガイドデータを記憶した記憶手段
と、 前記指定手段で指定された顕微鏡光学系の倍率および各
種検鏡法に対応する前記電気的に制御できない光学ユニ
ットに関する操作ガイドデータを前記記憶手段から読み
出す読出手段と、 前記読出手段で読み出された前記操作ガイドデータを表
示する表示手段と、 を具備したことを特徴とする顕微鏡システム。
1. A magnification of the microscope optical system, comprising a plurality of optical units selected based on a magnification of the microscope optical system and various spectroscopic methods, and an optical unit which can be electrically controlled among the plurality of optical units is a magnification of the microscope optical system. And a microscope system automatically controlled by various spectroscopic methods, in which a plurality of optical elements are specified based on the magnification of the microscope optical system and various spectroscopic methods, and the magnification of the microscope optical system and various spectroscopic methods. Among the units, an operation item for manually selecting or adjusting an optical unit that cannot be electrically controlled, a storage unit that stores operation guide data of an operation method, and a magnification and various values of the microscope optical system specified by the specifying unit. Reading means for reading from the storage means operation guide data relating to the optical unit that cannot be electrically controlled corresponding to the speculum method; Microscope system characterized by comprising a display means for displaying the operation guide data read out by the reading means.
【請求項2】前記表示手段は、 電気的に制御できない光学ユニットの操作ガイドデータ
を自動的に表示することを特徴とする請求項1記載の顕
微鏡システム。
2. The microscope system according to claim 1, wherein the display means automatically displays operation guide data of an optical unit that cannot be electrically controlled.
JP07174794A 1994-04-11 1994-04-11 Microscope system Expired - Fee Related JP3497229B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07174794A JP3497229B2 (en) 1994-04-11 1994-04-11 Microscope system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07174794A JP3497229B2 (en) 1994-04-11 1994-04-11 Microscope system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07281096A JPH07281096A (en) 1995-10-27
JP3497229B2 true JP3497229B2 (en) 2004-02-16

Family

ID=13469438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP07174794A Expired - Fee Related JP3497229B2 (en) 1994-04-11 1994-04-11 Microscope system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3497229B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018070049A1 (en) * 2016-10-14 2018-04-19 株式会社ニコン Microscope apparatus, image processing method, and processing device

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4027546B2 (en) * 1999-10-21 2007-12-26 オリンパス株式会社 Microscope system
JP5065530B2 (en) * 2000-09-22 2012-11-07 オリンパス株式会社 microscope
JP4933706B2 (en) * 2000-09-22 2012-05-16 オリンパス株式会社 microscope
JP2003015055A (en) * 2001-06-28 2003-01-15 Nikon Corp Inspecting device, recording medium with program recorded thereon and program
DE10249904B4 (en) * 2002-10-22 2006-04-06 Leica Microsystems (Schweiz) Ag fluorescence microscope
JP5218064B2 (en) * 2006-12-13 2013-06-26 株式会社ニコン Fluorescence detection apparatus and fluorescence observation system
JP5018253B2 (en) * 2007-06-06 2012-09-05 株式会社ニコン Electric microscope
JP5289756B2 (en) * 2007-11-26 2013-09-11 オリンパス株式会社 Microscope observation system
JP5336772B2 (en) * 2008-06-04 2013-11-06 オリンパス株式会社 Microscope system and zooming method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018070049A1 (en) * 2016-10-14 2018-04-19 株式会社ニコン Microscope apparatus, image processing method, and processing device
JPWO2018070049A1 (en) * 2016-10-14 2019-08-08 株式会社ニコン Microscope device, image processing method, and processing device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07281096A (en) 1995-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3537205B2 (en) Microscope equipment
EP0119857B1 (en) Microscope provided with an automatically controlled illuminating optical system
EP0510329B1 (en) Photographing apparatus for microscopes
JP3497229B2 (en) Microscope system
JP3447357B2 (en) Microscope system
JP4819988B2 (en) Microscope system, microscope system operation control method, and recording medium recording operation control program
JPH07199077A (en) Microscopic system
JP3917952B2 (en) Microscope system
JP2009162974A (en) Microscope system and its control method
JP3670331B2 (en) Microscope equipment
JPH08179218A (en) Microscope system
JPH0516566B2 (en)
JP4477181B2 (en) Microscope equipment
JP2634580B2 (en) Microscope with automatically controlled illumination optics
JPH0516565B2 (en)
JPH0921957A (en) Microscope equipped with optical system for automatically controlled illumination
JPH0868946A (en) Microscope system
JP3396070B2 (en) Microscope equipment
JPH07117639B2 (en) Microscope with autofocus device
JP2974330B2 (en) Microscope with function setting device
JPH11271643A (en) System microscope
JPH1068888A (en) Microscopic device
JP2607835B2 (en) Microscope with automatically controlled illumination optics
JP4873382B2 (en) Microscope device and control method of the microscope device
JP4304548B2 (en) Microscope equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030603

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20031104

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071128

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081128

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091128

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101128

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101128

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111128

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111128

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121128

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131128

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees