JP3481708B2 - Potential sensor calibration method - Google Patents
Potential sensor calibration methodInfo
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- JP3481708B2 JP3481708B2 JP01231495A JP1231495A JP3481708B2 JP 3481708 B2 JP3481708 B2 JP 3481708B2 JP 01231495 A JP01231495 A JP 01231495A JP 1231495 A JP1231495 A JP 1231495A JP 3481708 B2 JP3481708 B2 JP 3481708B2
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は感光体の電位を測定する
電位センサを有する複写機,ファクシミリ,プリンタ等
の画像形成装置で電位センサの出力を校正する電位セン
サ校正方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a potential sensor calibration method for calibrating the output of a potential sensor in an image forming apparatus such as a copying machine, a facsimile or a printer having a potential sensor for measuring the potential of a photoconductor.
【0002】[0002]
【従来の技術】複写機,ファクシミリ,プリンタ等の画
像形成装置に用いられる感光体は、その帯電特性,感度
等が環境変動,経時変動により変動して電位変動を生ず
る。そこで、電子写真装置においては、感光体の電位変
動を抑えて高品位な画像を維持するために、感光体上に
作られた電位パターンを電位センサによって検知し、そ
れに基づいて帯電器の出力,露光量等を制御することが
行われている。2. Description of the Related Art A photoconductor used in an image forming apparatus such as a copying machine, a facsimile machine, a printer or the like has potential fluctuations due to changes in its charging characteristics, sensitivity, etc. due to environmental changes and aging. Therefore, in the electrophotographic apparatus, in order to suppress the potential fluctuation of the photoconductor and maintain a high-quality image, the potential pattern formed on the photoconductor is detected by the potential sensor, and the output of the charger is determined based on the detected potential pattern. The exposure amount and the like are controlled.
【0003】電位センサは、プローブ筺体を測定対象と
同電位にすることで距離補正を行って測定対象との距離
に対する依存性をなくした距離補正型の電位センサと、
距離補正を行わない電位センサとがある。距離補正を行
わない電位センサとしては、図6に示すような振動容量
型の電位センサと、図7に示すようなチョッパ型の電位
センサがある。振動容量型の電位センサにおいては、測
定対象11に電源12から電圧を印加し、センサーケー
ス13内の検知電極14を圧電音叉で駆動して振動させ
ることで、測定対象11と検知電極14との間の容量C
を変化させる。このとき、検知電極14から抵抗15を
介してアースへ電流が流れ、検知電極14に発生する交
流電圧が測定対象11の電位に依存することを利用して
測定対象11の電位を測定する。The potential sensor is a distance-correction type potential sensor in which the distance between the probe housing and the measurement target is adjusted to the same potential as that of the measurement target to eliminate the dependency on the distance to the measurement target.
There is a potential sensor that does not perform distance correction. As potential sensors that do not perform distance correction, there are a vibration capacitance type potential sensor as shown in FIG. 6 and a chopper type potential sensor as shown in FIG. In the vibration capacitance type potential sensor, a voltage is applied from the power source 12 to the measurement target 11 and the detection electrode 14 in the sensor case 13 is driven by the piezoelectric tuning fork to vibrate, whereby the measurement target 11 and the detection electrode 14 are separated from each other. Capacity C between
Change. At this time, a current flows from the detection electrode 14 to the ground via the resistor 15 and the potential of the measurement target 11 is measured by utilizing that the AC voltage generated in the detection electrode 14 depends on the potential of the measurement target 11.
【0004】また、チョッパ型の電位センサにおいて
は、測定対象11に電源12から電圧を印加し、センサ
ーケース13内のチョッパ16を圧電音叉で駆動して振
動させることで、測定対象11とセンサーケース13内
の検知電極14との間の容量Cを変化させる。このと
き、検知電極14から抵抗15を介してアースへ電流が
流れ、検知電極14に発生する交流電圧が測定対象11
の電位に依存することを利用して測定対象11の電位を
測定する。Further, in the chopper type potential sensor, a voltage is applied to the measuring object 11 from the power source 12, and the chopper 16 in the sensor case 13 is driven by the piezoelectric tuning fork to vibrate, whereby the measuring object 11 and the sensor case are oscillated. The capacitance C between the detection electrode 14 in 13 and the detection electrode 14 is changed. At this time, a current flows from the detection electrode 14 to the ground via the resistor 15, and the AC voltage generated at the detection electrode 14 is measured.
The potential of the measurement target 11 is measured by utilizing the dependence on the potential of.
【0005】距離補正を行わない電位センサでは、図8
(b)に示すように電位センサ10と被測定物11との
間の距離lが変化すると、図8(a)に示すように電位
センサ10と被測定物11との間の距離lに応じて電位
センサ10の出力Vmが変動してしまう。また、図9
(b)に示すように電位センサ10と被測定物11との
角度θが変化すると、図9(a)に示すように電位セン
サ10と被測定物11との角度θに応じて電位センサ1
0の出力Vmが変動してしまう。さらに、図10に示す
ように被測定物11と電位センサ10の出力Vmとの関
係(傾きと切片)が電位センサ10の傾きのバラツキに
より変化してしまう。そこで、電位センサの出力は1台
毎に校正しなければならない。A potential sensor that does not perform distance correction is shown in FIG.
When the distance l between the potential sensor 10 and the object to be measured 11 changes as shown in FIG. 8B, the distance l between the potential sensor 10 and the object to be measured 11 is changed as shown in FIG. 8A. As a result, the output Vm of the potential sensor 10 fluctuates. In addition, FIG.
When the angle θ between the potential sensor 10 and the DUT 11 changes as shown in (b), the potential sensor 1 changes according to the angle θ between the potential sensor 10 and the DUT 11 as shown in FIG. 9A.
The output Vm of 0 fluctuates. Further, as shown in FIG. 10, the relationship (inclination and intercept) between the DUT 11 and the output Vm of the potential sensor 10 changes due to the variation in the inclination of the potential sensor 10. Therefore, the output of the potential sensor must be calibrated for each unit.
【0006】電位センサの出力の校正は、例えば感光体
静止時に感光体に800V,100Vの電圧を印加し、
感光体に800Vを印加したときの電位センサの出力電
圧をV800、感光体に100Vを印加したときの電位セ
ンサの出力電圧をV100をすると、
y={(800V−100V)/(V800−V100)}x+{800V
−V800・(800V−100V)/(V800−V100)}
なる校正式で電位センサの出力xをyに校正するという
電位センサ校正方式が採られている。校正式は一般的に
はy=ax+b(a,b:係数)で表わされる。To calibrate the output of the potential sensor, for example, a voltage of 800 V or 100 V is applied to the photoconductor when the photoconductor is stationary,
When the output voltage of the potential sensor when 800 V is applied to the photoconductor is V 800 , and the output voltage of the potential sensor when 100 V is applied to the photoconductor is V 100 , y = {(800V-100V) / (V 800 -V 100)} x + {800V -V 800 · (800V-100V) / ( potential sensor calibration method of calibrating at V 800 -V 100)} becomes calibration equation the output x of the potential sensor to y is adopted . The calibration formula is generally represented by y = ax + b (a, b: coefficient).
【0007】また、特開平4ー58266号公報には、
距離補正型の電位センサを使って(残留電位上昇分+電
位センサオフセット分)を同時に測定する静電記録装置
用感光体表面電位計校正装置が記載されている。特開平
5ー196672号公報には、距離補正型でない電位セ
ンサの校正を、4点の基準電圧で行い、校正式が所定範
囲でないときは異常判定を行う方法が記載されている。
さらに、特開昭62ー44755号公報には、特開平4
ー58266号公報記載の装置と同様に電位センサのオ
フセット分と残留電位分を同時に補正する方法が記載さ
れている。Further, Japanese Patent Laid-Open No. 4-58266 discloses that
There is described a photoconductor surface potential meter calibration device for an electrostatic recording device, which simultaneously measures (a residual potential increase amount + a potential sensor offset amount) using a distance correction type potential sensor. Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-196672 describes a method of calibrating a potential sensor that is not a distance correction type with four reference voltages, and performing an abnormality determination when the calibration formula is not within a predetermined range.
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 62-44755 discloses Japanese Patent Laid-Open No.
Similar to the device described in Japanese Patent No. 58266, there is described a method for simultaneously correcting the offset component and the residual potential component of the potential sensor.
【0008】また、特開昭56ー95255号公報に
は、記録体表面の電位を測定するための表面電位計を搭
載した画像形成装置において、この表面電位計を校正す
るための高圧電源と表面電位計による電位測定値を表示
する表示器を内蔵したことを特徴とする画像形成装置が
記載されている。Further, Japanese Patent Laid-Open No. 56-95255 discloses an image forming apparatus equipped with a surface electrometer for measuring the electric potential of the surface of a recording medium, and a high-voltage power source and a surface for calibrating the surface electrometer. An image forming apparatus is described which has a built-in display for displaying a potential measurement value by an electrometer.
【0009】特開平4ー80772号公報には、感光
体、感光体を一様に荷電する荷電手段、荷電した感光体
を露光する手段、露光により生じた感光体上の静電潜像
を現像する手段、感光体の表面電位を検出し、これを示
す電位信号を発生する電位検出手段、および、該電位信
号に応じて画像形成条件を制御する制御手段、を備える
画像形成装置において、前記荷電手段で前記感光体を相
異なった荷電量で荷電し、該相異なった荷電量で荷電し
たときの前記電位検出手段が検出した電位信号により前
記電位検出手段の感光体表面電位に対する電位信号の相
関を演算する入出力特性検出手段:および、前記入出力
特性検出手段が演算した相関に従い、前記電位検出手段
が発生する電位信号に対応する感光体表面電位を演算
し、この感光体表面電位に対応して画像形成条件を定め
る制御手段:を備えることを特徴とする、感光体を用い
る画像形成装置が記載されている。Japanese Unexamined Patent Publication No. 80772/1992 discloses a photoconductor, a charging means for uniformly charging the photoconductor, a means for exposing the charged photoconductor, and an electrostatic latent image formed on the photoconductor by the exposure. In the image forming apparatus, a potential detecting unit that detects a surface potential of the photoconductor and generates a potential signal indicating the potential, and a control unit that controls an image forming condition according to the potential signal. Means for charging the photoconductor with different amounts of charge, and the potential signal detected by the potential detection means when the photoconductor is charged with different amounts of charge correlates the potential signal with the surface potential of the photoconductor of the potential detection means. And an input / output characteristic detecting means for calculating the surface potential of the photoconductor corresponding to the potential signal generated by the potential detecting means according to the correlation calculated by the input / output characteristic detecting means. Control means for determining the corresponding image forming conditions: characterized in that it comprises a image forming apparatus using the photoreceptor is described.
【0010】特開平4ー174871号公報には、感光
体の表面電位を測定する表面電位計を備えた画像形成装
置において、前記感光体表面の非画像形成時の電位を基
準値として用いて前記表面電位計を校正することを特徴
とする表面電位計の校正方法が記載されている。Japanese Unexamined Patent Publication No. 4-174871 discloses an image forming apparatus equipped with a surface potential meter for measuring the surface potential of a photoconductor, using the potential of the photoconductor surface during non-image formation as a reference value. A method for calibrating a surface electrometer is described, which comprises calibrating the surface electrometer.
【0011】特開平4ー181267号公報には、電子
写真方式による作像プロセスを行うための記録体と、そ
の表面電位を測定するための表面電位センサとを備えた
画像形成装置において、前記表面電位センサを校正する
ための高圧電源と、前記表面電位センサの校正時には前
記記録体の基材を前記高圧電源の出力端に電気的に接続
し、校正時以外は前記記録体の基材を装置筐体に電気的
に接続するように切り換える切換手段とを設けたことを
特徴とする電子写真方式の画像形成装置が記載されてい
る。Japanese Unexamined Patent Publication No. 4-181267 discloses an image forming apparatus equipped with a recording medium for performing an image forming process by electrophotography and a surface potential sensor for measuring the surface potential of the recording medium. A high-voltage power supply for calibrating the potential sensor, and a base material of the recording body is electrically connected to an output end of the high-voltage power supply when the surface potential sensor is calibrated, and the base material of the recording body is a device except during calibration. An electrophotographic image forming apparatus is described, which is provided with a switching unit that switches to electrically connect to a housing.
【0012】特開平4ー181268号公報には、電子
写真方式による作像プロセスを行うための記録体と、そ
の表面電位を測定するための表面電位センサとを備えた
画像形成装置において、前記記録体の基材を高圧電源の
出力端に電気的に接続する状態と、装置筐体に電気的に
接続する状態とに切り換える接続切換手段と、該手段に
よって前記記録体の基材を前記高圧電源の出力端に電気
的に接続させた状態で、前記記録体の基材への印加電圧
を所定値ずつステップアップさせながら、前記表面電位
センサの各出力値を記憶する手段と、前記接続切換手段
によって前記記録体の基材を装置筐体に電気的に接続さ
せた状態で、前記表面電位センサの出力値を前記記憶手
段によって記憶した各値と比較することにより、前記記
録体の実際の表面電位を検出する手段とを設けたことを
特徴とする電子写真方式の画像形成装置が記載されてい
る。Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 4-181268 discloses an image forming apparatus equipped with a recording medium for performing an image forming process by electrophotography and a surface potential sensor for measuring the surface potential of the recording medium. Connection switching means for switching between a state in which the base material of the body is electrically connected to the output end of the high-voltage power supply and a state in which the base material of the body is electrically connected to the device housing, and the base material of the recording body is connected to the high-voltage power supply by the means. Means for storing each output value of the surface potential sensor while stepping up the voltage applied to the base material of the recording medium by a predetermined value in a state of being electrically connected to the output terminal of the recording medium, and the connection switching means. By comparing the output value of the surface potential sensor with each value stored by the storage means in a state where the base material of the recording body is electrically connected to the apparatus housing by the actual surface of the recording body. An electrophotographic image forming apparatus, characterized in that a means for detecting the position are described.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】上記距離補正型の電位
センサでは、測定対象との距離,角度に対して出力が安
定しているが、高価である。また、距離補正を行わない
他の電位センサでは、上記電位センサ校正方式で電位セ
ンサの出力の校正を行うが、図13に示すように感光体
の残留電位が被測定物(感光体)の休止時間や感光体温
度により変化し、感光体に残留電位が残っている場合に
は電位センサの校正を行うことができない。In the above-mentioned potential sensor of the distance correction type, the output is stable with respect to the distance and the angle with respect to the measuring object, but it is expensive. In other potential sensors that do not perform distance correction, the output of the potential sensor is calibrated by the above potential sensor calibration method. However, as shown in FIG. 13, the residual potential of the photoconductor is the rest of the measured object (photoconductor). If the residual potential remains on the photoconductor due to changes with time or the photoconductor temperature, the potential sensor cannot be calibrated.
【0014】また、上記特開平4ー58266号公報記
載の静電記録装置用感光体表面電位計校正装置では、距
離補正型の電位センサを使って残留電位上昇分と電位セ
ンサオフセット分を同時に測定するが、これは距離補正
型でない電位センサには適用できず、そもそも電位セン
サの直線性が校正されなければ使用できない。また、特
開平5ー196672号公報記載の方法では、距離補正
型でない電位センサの出力の校正を4点の基準電圧で行
うが、感光体に残留電位が残っている場合には感光体印
加電圧に残留電位が上乗せしてしまい、電位センサの出
力を校正することができない。Further, in the photoconductor surface electrometer calibration device for an electrostatic recording device described in the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 4-58266, the residual potential increase amount and the potential sensor offset amount are simultaneously measured by using the distance correction type potential sensor. However, this cannot be applied to a potential sensor that is not a distance correction type, and cannot be used unless the linearity of the potential sensor is calibrated in the first place. Further, in the method described in JP-A-5-196672, the output of a potential sensor that is not a distance correction type is calibrated with four reference voltages, but when the residual potential remains on the photoconductor, the voltage applied to the photoconductor is used. Since the residual potential is added to, the output of the potential sensor cannot be calibrated.
【0015】さらに、図12に示すように経時で電位セ
ンサに例えばトナーのような帯電物が汚れとして付着す
ることにより、校正式の係数a,bが変動する。また、
距離補正型の電位センサでは、2点間(図6および図7
に示すような被測定物11と電極14との間)の誘電率
が環境により変化するので、電位センサの出力が環境の
変化、例えば図14に示すように電位センサの周囲温度
の変化により変化する(電位センサの出力特性の傾きが
変化する)。このように電位センサの出力は校正式の係
数a,bが種々の要因により変動するので、精度の良い
電位センサ出力の校正ができない。Further, as shown in FIG. 12, when a charged substance such as toner adheres to the potential sensor as dirt over time, the coefficients a and b of the calibration formula change. Also,
In the distance correction type potential sensor, the distance between two points (see FIG. 6 and FIG.
Since the permittivity (between the DUT 11 and the electrode 14 as shown in Fig. 4) changes depending on the environment, the output of the potential sensor changes due to the change of environment, for example, the ambient temperature of the potential sensor as shown in Fig. 14. (The slope of the output characteristic of the potential sensor changes). As described above, since the output of the potential sensor fluctuates due to various factors in the coefficients a and b of the calibration formula, the output of the potential sensor cannot be calibrated accurately.
【0016】また、電位センサ出力の校正時に用いる電
圧は通常係数aを求める際に2点間の距離が遠いほど電
位センサの出力の精度が良くなると考えられているため
に範囲が広く設定されており、電位センサの特性である
入出力特性のリニアリティを考慮したものはない。距離
補正型の電位センサが使用可能であるためには、必ず発
生する図11に示すような入出力特性の直線領域(図1
1では200V以上の領域)と、入出力特性の非直線領
域(図11では200V以下)を見極めて入出力特性の
直線領域で2点間の電圧を印加してy=ax+bなる校
正式を算出しないと、精度の良い校正式が得られない。
また、2点間の電圧は、現像バイアス電源からの電圧を
校正時に用いてこの電圧を作像時の印加電圧より高い電
圧とすると、本体へのリークが生じて適正な校正式が得
られず、本体の電気的制御系へのノイズ発生にもなる。Further, the voltage used when calibrating the output of the potential sensor is set to have a wide range because it is considered that the accuracy of the output of the potential sensor is improved as the distance between the two points is increased when the coefficient a is normally calculated. However, there is no consideration for the linearity of the input / output characteristic which is the characteristic of the potential sensor. In order to be able to use the distance correction type potential sensor, the linear region of the input / output characteristic as shown in FIG.
1 is 200 V or more) and the non-linear region of input / output characteristics (200 V or less in FIG. 11), and a voltage between two points is applied in the linear region of input / output characteristics to calculate a calibration formula of y = ax + b. Otherwise, a precise calibration formula cannot be obtained.
As for the voltage between two points, if the voltage from the developing bias power supply is used at the time of calibration and this voltage is set to a voltage higher than the applied voltage at the time of image formation, leakage to the main body occurs and an appropriate calibration formula cannot be obtained. It also causes noise to the electrical control system of the main body.
【0017】本発明は、上記問題点を改善し、電位セン
サの出力を精度良く校正できて感光体に残留電位が残っ
ている場合にも電位センサの出力を校正でき、かつ、低
価格な距離補正型の電位センサでも電位センサの出力を
精度良く校正できる電位センサ校正方法を提供すること
を目的とする。According to the present invention, the above problems are improved, the output of the potential sensor can be accurately calibrated, and the output of the potential sensor can be calibrated even when the residual potential remains on the photoconductor, and the distance is low. An object of the present invention is to provide a potential sensor calibration method capable of accurately calibrating the output of a potential sensor even with a correction type potential sensor.
【0018】[0018]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明は、感光体の表面電位を測定す
る電位センサを備えた画像形成装置で前記感光体の導電
部分に基準電圧を印加して前記電位センサから得られた
出力を基準に前記電位センサの出力を所定の演算式で校
正する電位センサ校正方法において、前記演算式の複数
の係数における互いに異なる組合わせの係数をそれぞれ
求め、この求めた係数を使用して前記電位センサの出力
を前記演算式で校正する複数の校正手段を設け、この複
数の校正手段を切り換えて前記電位センサの出力を校正
する。In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is an image forming apparatus equipped with a potential sensor for measuring the surface potential of a photoconductor, and a reference voltage is applied to a conductive portion of the photoconductor. In the potential sensor calibration method for calibrating the output of the potential sensor with a predetermined arithmetic expression on the basis of the output obtained by applying the potential sensor, the coefficients of different combinations in the plurality of coefficients of the arithmetic expression are respectively different. A plurality of calibrating means for calibrating the output of the potential sensor by the arithmetic expression using the calculated coefficient are provided, and the output of the potential sensor is calibrated by switching the plurality of calibrating means.
【0019】請求項2記載の発明は、感光体の表面電位
を測定する電位センサを備えた画像形成装置で前記感光
体の導電部分に複数の基準電圧を印加して前記電位セン
サから得られた出力から前記電位センサの出力xをy=
ax+bなる演算式でyに校正する電位センサ校正方法
において、係数a,bを求める第1の校正手段と、係数
aのみ求めて係数bは前回のものを使用する第2の校正
手段とを設け、前記第1の校正手段は通常の時に用い、
又は前記電位センサの累積動作時間や前記感光体の累積
動作時間が所定の時間を超えたことを検知した時に前記
感光体の休止時間と前回の前記感光体の残留電位との関
係から用い、前記第2の校正手段は前記電位センサの周
囲の環境を検出してこの環境が所定の範囲を超えた時に
用いる。According to a second aspect of the present invention, an image forming apparatus is provided with a potential sensor for measuring the surface potential of the photoconductor, and a plurality of reference voltages are applied to the conductive portions of the photoconductor to obtain the potential from the potential sensor. From the output, the output x of the potential sensor is y =
In the potential sensor calibration method for calibrating to y with the arithmetic expression ax + b, a first calibration means for obtaining the coefficients a and b and a second calibration means for obtaining only the coefficient a and using the previous coefficient b are used. , The first calibration means is normally used,
Alternatively, when it is detected that the cumulative operating time of the potential sensor or the cumulative operating time of the photoconductor exceeds a predetermined time, it is used from the relationship between the rest time of the photoconductor and the previous residual potential of the photoconductor, The second calibration means detects the environment around the potential sensor and uses it when the environment exceeds a predetermined range.
【0020】請求項3記載の発明は、請求項1または2
記載の電位センサ校正方法において、前記基準電圧の印
加は前記画像形成装置の現像バイアス電源により行い、
前記基準電圧は前記画像形成装置の画像形成時に前記現
像バイアス電源により印加される電圧の範囲内でかつ前
記電位センサの直線性が得られる範囲内とする。The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2.
In the potential sensor calibration method described above, the application of the reference voltage is performed by a developing bias power source of the image forming apparatus,
The reference voltage is within a range of a voltage applied by the developing bias power source during image formation by the image forming apparatus and within a range where the linearity of the potential sensor is obtained.
【0021】[0021]
【実施例】図1は本発明を適用した画像形成装置の第1
の例を示す。この第1例は、請求項1,2記載の発明を
電子写真方式の画像形成装置に適用した例である。この
第1の例では、感光体からなる像担持体は例えば感光体
ドラム21が用いられる。感光体ドラム21は、駆動部
により回転駆動されて帯電手段としての帯電チャージャ
22により均一に帯電された後に露光手段により画像露
光を受けて静電潜像が形成され、イレーサ23により不
要領域が除電されて静電潜像が現像手段としての現像ロ
ーラ24aを有する現像装置24により現像されてトナ
ー像となる。感光体ドラム21と転写装置25との間に
は給紙装置から感光体ドラム21上のトナー像にタイミ
ングを合わせて転写紙が送り込まれ、この転写紙は転写
手段としての転写チャージャ25により感光体ドラム2
1上のトナー像が転写されて分離手段としての分離チャ
ージャ26により感光体ドラム21から分離される。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a first image forming apparatus to which the present invention is applied.
For example: The first example is an example in which the inventions of claims 1 and 2 are applied to an electrophotographic image forming apparatus. In the first example, for example, the photoconductor drum 21 is used as the image carrier made of the photoconductor. The photoconductor drum 21 is rotationally driven by a driving unit and uniformly charged by a charging charger 22 as a charging unit, and then subjected to image exposure by an exposing unit to form an electrostatic latent image, and an eraser 23 eliminates unnecessary areas. Then, the electrostatic latent image is developed into a toner image by the developing device 24 having the developing roller 24a as a developing means. A transfer sheet is fed between the photoconductor drum 21 and the transfer device 25 from the paper feeding device in synchronization with the toner image on the photoconductor drum 21, and the transfer sheet is transferred to the photoconductor by the transfer charger 25 as a transfer unit. Drum 2
The toner image on 1 is transferred and separated from the photoconductor drum 21 by a separation charger 26 as a separating means.
【0022】さらに、転写紙は、搬送装置27により搬
送され、定着手段としての定着ローラ28a及び加圧ロ
ーラ28bを有する定着装置28によりトナー像が定着
されて外部へ排出される。また、感光体ドラム21は、
クリーニング手段としてのクリーニングブラシ29a及
びクリーニングブレード29bを有するクリーニング装
置29によりクリーニングされて残留トナーが除去さ
れ、除電手段としての除電ランプ30により除電されて
再使用可能となる。Further, the transfer sheet is conveyed by the conveying device 27, the toner image is fixed by the fixing device 28 having the fixing roller 28a and the pressure roller 28b as the fixing means, and the toner image is discharged to the outside. Further, the photosensitive drum 21 is
Cleaning is performed by a cleaning device 29 having a cleaning brush 29a and a cleaning blade 29b as a cleaning unit to remove residual toner, and the charge is removed by a charge removal lamp 30 as a charge removal unit to enable reuse.
【0023】また、上記露光手段は例えば露光ランプで
原稿を照明してその反射光を感光体ドラム21に照射す
ることにより感光体ドラム21上に静電潜像を形成す
る。電位センサ31はイレーサ23と現像装置24との
間に配置されて感光体ドラム21の表面電位、つまり、
帯電電位V0,露光後電位(露光された部分の電位)
VL,残留電位(イレーサ23により除電された部分の
電位)VRを測定する。The exposure means forms an electrostatic latent image on the photosensitive drum 21 by illuminating the original with an exposure lamp and irradiating the photosensitive drum 21 with the reflected light. The potential sensor 31 is disposed between the eraser 23 and the developing device 24, and the surface potential of the photosensitive drum 21, that is,
Charging potential V 0 , potential after exposure (potential of exposed portion)
The V L and the residual potential (potential of the portion removed by the eraser 23) V R are measured.
【0024】CPU32,ROM32及びRAM33か
らなるマイクロコンピュータは制御部を構成する。CP
U32は電位センサ31で測定された感光体ドラム21
の帯電電位V0,露光後電位VL,残留電位VRに対する
A/D変換器35の出力信号(V0,VL,VRをA/D
変換した信号)を取り込んでRAM34に格納して必要
な演算に使う。図示しないパワーパックは帯電チャージ
ャ22や露光装置の露光ランプを駆動し、CPU32は
RAM34に格納した上記電位センサー31の測定値に
基づいてPWM回路38を介して現像バイアス電源を構
成する現像バイアスパワーパック(以下単にパワーパッ
クと呼ぶ)37を制御してパワーパック37から現像ロ
ーラ24aへの現像バイアス電圧を制御したり、図示し
ないパワーパックを制御して帯電チャージャ22の出力
や露光ランプ電圧を制御することで露光量を制御したり
する。A microcomputer comprising a CPU 32, a ROM 32 and a RAM 33 constitutes a control section. CP
U32 is the photoconductor drum 21 measured by the potential sensor 31.
The charge potential V 0, potential after exposure V L, the output signal of the A / D converter 35 for the residual potential V R (V 0, V L , a V R A / D
The converted signal) is fetched and stored in the RAM 34 to be used for necessary calculation. A power pack (not shown) drives the charging charger 22 and the exposure lamp of the exposure device, and the CPU 32 forms a development bias power pack which constitutes a development bias power source via the PWM circuit 38 based on the measurement value of the potential sensor 31 stored in the RAM 34. (Hereinafter simply referred to as a power pack) 37 is controlled to control the developing bias voltage from the power pack 37 to the developing roller 24a, and a power pack (not shown) is controlled to control the output of the charger 22 and the exposure lamp voltage. This controls the amount of exposure.
【0025】切り換えスイッチ40は動作せず、感光体
ドラム21は導電基板からなる導電部分上に光導電層を
形成したものであって導電基板が切り換えスイッチ40
を介して接地されたままとなっている。以上が画像形成
装置の構成および動作である。また、感光体ドラム21
の回転している累積動作時間が感光体累積動作時間計測
手段によりカウントされ(計測され)、感光体ドラム2
1の停止している休止時間が感光体休止時間計測手段に
よりカウントされ(計測され)、電位センサ31の累積
動作時間が電位センサ累積動作時間計測手段によりカウ
ントされる(計測される)。The changeover switch 40 does not operate, and the photosensitive drum 21 has a photoconductive layer formed on a conductive portion made of a conductive substrate.
It remains grounded through. The above is the configuration and operation of the image forming apparatus. In addition, the photosensitive drum 21
The cumulative operating time of rotation of the photoconductor drum 2 is counted (measured) by the photoconductor cumulative operating time measuring means.
The stopped pause time of 1 is counted (measured) by the photoconductor pause time measuring means, and the accumulated operation time of the potential sensor 31 is counted (measured) by the potential sensor accumulated operation time measuring means.
【0026】次に、この第1の例における電位センサ校
正手段について説明する。電位センサ31の出力を校正
する時にはスイッチ40が切り換えられて動作する。電
位センサ31の出力を校正する時期は、感光体ドラム2
1が停止している時であり、サーミスタ39は電位セン
サ31の周囲の温度や感光体ドラム21の温度の概略を
検知する。CPU32は、サーミスタ39からの温度検
知信号がA/D変換器36でA/D変換されて入力され
ると共に、図示しないスイッチからの強制的な実行信号
や、感光体累積動作時間計測手段からの感光体累積動作
時間カウント値、感光体休止時間計測手段からの感光体
休止時間カウント値、電位センサ累積動作時間計測手段
からの電位センサ累積動作時間カウント値が入力され、
これらの信号をRAM34内のデータと比較してROM
33からのデータに従って電位センサ31の出力の校正
を実行する。Next, the potential sensor calibration means in the first example will be described. When calibrating the output of the potential sensor 31, the switch 40 is switched to operate. When the output of the potential sensor 31 is calibrated, the photosensitive drum 2
1 is stopped, and the thermistor 39 detects the temperature around the potential sensor 31 and the temperature of the photosensitive drum 21. The CPU 32 receives the temperature detection signal from the thermistor 39 after being A / D converted by the A / D converter 36 and input, and also has a compulsory execution signal from a switch (not shown) and a photosensitive member cumulative operation time measuring means. The photosensitive member cumulative operating time count value, the photosensitive member resting time count value from the photosensitive member resting time measuring means, and the potential sensor cumulative operating time count value from the potential sensor cumulative operating time measuring means are input,
ROM comparing these signals with the data in RAM 34
The output of the potential sensor 31 is calibrated according to the data from 33.
【0027】この時、CPU32は所定のデータをPW
M回路38を介してパワーパック37へ出力してパワー
パック37を制御し、パワーパック37から基準電圧が
スイッチ40を通して感光体ドラム21の導電基板に印
加される。また、CPU32は、感光体ドラム21の導
電基板への基準電圧印加後に電位センサ31からの出力
信号をA/D変換器35を介して取り込み、このA/D
変換器35からのデジタル信号より校正式のデータを演
算により求めてこれをRAM34に格納する。At this time, the CPU 32 sends the predetermined data to the PW.
The power pack 37 is output via the M circuit 38 to control the power pack 37, and the reference voltage is applied from the power pack 37 to the conductive substrate of the photoconductor drum 21 through the switch 40. Further, the CPU 32 takes in the output signal from the potential sensor 31 through the A / D converter 35 after applying the reference voltage to the conductive substrate of the photoconductor drum 21, and the A / D
Calibration formula data is calculated from the digital signal from the converter 35 and stored in the RAM 34.
【0028】図2および図3はCPU32の電位センサ
校正用処理フローを示す。この第1の例は、感光体ドラ
ム21の導電基板に所定の基準電圧VMAX、例えば60
0Vを印加したときの電位センサ31の出力をVmaxと
し、感光体ドラム21に他の所定の基準電圧VMIN、例
えば200Vを印加したときの電位センサ31の出力を
Vminとしたとき、
a=(VMAX−VMIN)/(Vmax−Vmin):傾き・・・(1)
b=VMAX−Vmax×{(VMAX−VMIN)/(Vmax−Vmin)}:切片・・・(2
)
なる式で校正式の傾きおよび切片を求め、校正式y=a
x+bから電位センサ31の出力xをyに校正する。2 and 3 show the processing flow of the potential sensor calibration of the CPU 32. In the first example, a predetermined reference voltage V MAX , for example, 60 is applied to the conductive substrate of the photosensitive drum 21.
When the output of the potential sensor 31 when 0 V is applied is V max, and when the output of the potential sensor 31 when another predetermined reference voltage V MIN , for example, 200 V is applied to the photoconductor drum 21 is V min , a = (V mAX -V mIN) / (V max -V min): slope ··· (1) b = V mAX -V max × {(V mAX -V mIN) / (V max -V min)}: Intercept ... (2) The slope and the intercept of the calibration formula are obtained by the formula, and the calibration formula y = a
The output x of the potential sensor 31 is calibrated to y from x + b.
【0029】電位センサ31の出力の校正を行うための
校正モードをオンとするには、図示しない切り換えスイ
ッチをオンとし、電位センサ31の電源オンで動作した
累積動作時間が所定の時間以上になったか否かを判断
し、電位センサ31の周囲の温度が前回の校正モードオ
ン時と所定の温度差以上あるか否かを判断し、かつ、感
光体ドラム21が動作(回転)している時には校正モー
ドであるか否かを判断しなければならず、さらに、感光
体ドラム21が動作している時には電位センサ31の出
力にノイズ等が混入した場合に正確な校正式が得られな
いことがあるので、この例では感光体ドラム21の停止
を検出している時だけ電位センサ31の出力の校正を実
行するようにしている。In order to turn on the calibration mode for calibrating the output of the potential sensor 31, the changeover switch (not shown) is turned on, and the accumulated operating time when the power of the potential sensor 31 is turned on exceeds a predetermined time. It is determined whether or not the temperature around the potential sensor 31 is equal to or more than a predetermined temperature difference from the previous calibration mode ON, and when the photosensitive drum 21 is operating (rotating). It is necessary to judge whether or not it is in the calibration mode. Further, when noise or the like is mixed in the output of the potential sensor 31 while the photosensitive drum 21 is operating, an accurate calibration formula may not be obtained. Therefore, in this example, the output of the potential sensor 31 is calibrated only when the stop of the photosensitive drum 21 is detected.
【0030】ここで、図示しない切り換えスイッチのオ
ンは感光体ドラム21の交換時や電位センサ31の交換
時等を想定し手動で行うことができるものであり、図示
しない切り換えスイッチが手動で強制的にオンされて強
制的な実行信号が生成される。したがって、図示しない
切り換えスイッチは強制的実行信号生成手段を構成す
る。また、この例では、校正式y=ax+bにおける係
数a,bにおける互いに異なる組合わせを選択するため
の、つまり、aおよびbと,aのみとのいずれかを選択
するための係数選択用手動スイッチが設けられ、その選
択された係数を求めて適正な校正式を得るようにしてい
る。Here, the change-over switch (not shown) can be manually turned on when the photosensitive drum 21 or the potential sensor 31 is changed, and the change-over switch (not shown) is manually forced. Is turned on to generate a forced execution signal. Therefore, the changeover switch (not shown) constitutes a forced execution signal generating means. Further, in this example, a manual switch for selecting a coefficient for selecting different combinations of the coefficients a and b in the calibration formula y = ax + b, that is, for selecting either a and b or only a. Is provided, and an appropriate calibration formula is obtained by obtaining the selected coefficient.
【0031】電位センサ31の累積動作時間は、電位セ
ンサ31の経時劣化を検知するためのもので、感光体ド
ラム21の動作時間を検出する等により電位センサ31
の経時を代用できるものであれば代用してもよい。ここ
では、電位センサ31の劣化が短い時間であるので、電
位センサ31の累積動作時間が所定の時間、例えば20
0時間経過することにより電位センサ31の校正を実行
するものとしている。The cumulative operating time of the potential sensor 31 is for detecting deterioration of the potential sensor 31 with time, and the potential sensor 31 is detected by detecting the operating time of the photosensitive drum 21.
The above may be substituted as long as it can substitute the elapsed time. Here, since the deterioration of the potential sensor 31 is short, the cumulative operation time of the potential sensor 31 is a predetermined time, for example, 20.
It is assumed that the calibration of the potential sensor 31 is executed after the lapse of 0 hours.
【0032】但し、この時は感光体ドラム21の残留電
位を考慮しないと、電位センサ31出力の校正の正確性
に欠けるので、図13に示すような校正モードに入る前
の感光体ドラム21の動作時の残留電位と、サーミスタ
39により検知した感光体ドラム21の温度の概略と、
校正モードに入る前に感光体ドラム21が休止していた
時間との関係から、感光体ドラム21の残留電位が校正
式を変更しても良いものである(十分に低い)か否かを
決定し、感光体ドラム21の残留電位が校正式を変更し
てはいけないものである場合には電位センサ31の累積
動作時間はそのままカウントアップして電位センサ31
の校正は実行せずに終了する。However, at this time, unless the residual potential of the photosensitive drum 21 is taken into consideration, the accuracy of calibration of the output of the potential sensor 31 is lacking, so that the photosensitive drum 21 before entering the calibration mode as shown in FIG. An outline of the residual potential during operation and the temperature of the photosensitive drum 21 detected by the thermistor 39;
From the relationship with the time during which the photoconductor drum 21 was stopped before entering the calibration mode, it is determined whether or not the residual potential of the photoconductor drum 21 can change the calibration formula (sufficiently low). However, when the residual potential of the photosensitive drum 21 is such that the calibration formula should not be changed, the cumulative operation time of the potential sensor 31 is counted up and the potential sensor 31 is counted.
The calibration is finished without executing.
【0033】電位センサ31の周囲の温度、湿度、気圧
等により空気中の誘電率が変動して電位センサ31の出
力感度(傾き)が変化するが、湿度は温度との相関によ
り変わることや、温度を検知することでその値を周囲の
環境変化を代用する値として使用できることを図14に
示すように実験的に確認したので、今回の温度と前回校
正式を得た時の温度との差が6℃以上連続して2分間以
上継続したか否かを判定し、その差が6℃以上連続して
2分間以上継続した場合には感光体ドラム21の停止を
確認して校正モードの実行に入る。但し、この時は、電
位センサ31の出力感度が変化するだけであるので、感
光体ドラム21の残留電位等の影響を受けないように傾
き(係数a)のみ変更し、切片(係数b)は変更せずに
前回のデータを使うようにしている。The output sensitivity (inclination) of the potential sensor 31 changes due to changes in the dielectric constant in the air due to the temperature, humidity, atmospheric pressure, etc. around the potential sensor 31, but humidity changes depending on the correlation with temperature, and Since it was experimentally confirmed as shown in Fig. 14 that the value can be used as a substitute for the environmental change by detecting the temperature, the difference between this temperature and the temperature when the previous calibration formula was obtained For 6 minutes or more continuously for 2 minutes or more, and if the difference continues for 6 minutes or more for 2 minutes or more, confirm that the photosensitive drum 21 is stopped and execute the calibration mode. to go into. However, at this time, since the output sensitivity of the potential sensor 31 only changes, only the slope (coefficient a) is changed and the intercept (coefficient b) is changed so as not to be affected by the residual potential of the photosensitive drum 21. I am trying to use the previous data without changing it.
【0034】すなわち、図2に示すようにCPU32
は、電位センサ校正用処理フローでは、ステップS1で
図示しない切り換えスイッチがオンされたか否かを判断
し、切り換えスイッチがオフしている場合にはステップ
S2で電位センサ31の累積動作時間が所定の時間、例
えば200時間経過したか否かを判断する。CPU32
は、電位センサ31の累積動作時間が200時間経過し
ていない時にはステップS3でサーミスタ39の出力信
号をA/D変換器36を介して取り込んでこのA/D変
換器36からのデジタル値と、前回校正式を得た時にサ
ーミスタ39からA/D変換器36を介して取り込んで
RAM34に格納した値とから、今回の校正時にサーミ
スタ39で検知した電位センサ31の周囲温度と,前回
校正式を得た時にサーミスタ39で検知した電位センサ
31の周囲温度との差が6℃以上連続して2分間以上継
続したか否かを判定し、その差が6℃以上連続して2分
間以上継続した場合にはステップS3’でフラグnを0
にクリアしてステップS7に進むが、そうでない場合に
は電位センサ校正用処理フローを終了する。That is, as shown in FIG.
In the potential sensor calibration processing flow, it is determined in step S1 whether or not a changeover switch (not shown) is turned on. If the changeover switch is off, the cumulative operating time of the potential sensor 31 is determined in step S2. It is determined whether or not time has passed, for example, 200 hours. CPU32
When the accumulated operating time of the potential sensor 31 has not passed 200 hours, the output signal of the thermistor 39 is taken in through the A / D converter 36 in step S3, and the digital value from the A / D converter 36 and The ambient temperature of the potential sensor 31 detected by the thermistor 39 at the time of this calibration and the previous calibration formula are calculated based on the value acquired from the thermistor 39 via the A / D converter 36 when the calibration formula was obtained last time and stored in the RAM 34. When it was obtained, it was judged whether or not the difference from the ambient temperature of the potential sensor 31 detected by the thermistor 39 continued for 6 minutes or more and continued for 2 minutes or more, and the difference continued for 6 minutes or more and continued for 2 minutes or more. In this case, the flag n is set to 0 in step S3 '.
However, if not so, the potential sensor calibration process flow ends.
【0035】また、CPU32は、電位センサ31の累
積動作時間が200時間経過した時にはステップS4で
フラグnを1にセットしてステップS5で感光体休止時
間計測手段からの入力信号を取り込むとともに、電位セ
ンサ31の出力信号をA/D変換器35を介して取り込
んで感光体ドラム21の休止時間および残留電位を求
め、ステップS6でその感光体ドラム21の休止時間お
よび残留電位と、サーミスタ39からA/D変換器36
を介して取り込んだ入力信号により、図13に示すよう
な校正モードに入る前の感光体ドラム21の動作時の残
留電位と、サーミスタ39により検知した感光体ドラム
21の温度の概略と、校正モードに入る前に感光体ドラ
ム21が休止していた時間との関係から、感光体ドラム
21の残留電位が校正式を変更しても良いものである
(十分に低い)か否かを決定する。When the accumulated operation time of the potential sensor 31 has passed 200 hours, the CPU 32 sets the flag n to 1 in step S4, fetches the input signal from the photoconductor rest time measuring means in step S5, and The output signal of the sensor 31 is taken in via the A / D converter 35 to obtain the rest time and residual potential of the photosensitive drum 21, and in step S6 the rest time and residual potential of the photosensitive drum 21 and the thermistor 39 to A / D converter 36
With the input signal taken in through, the residual potential during operation of the photoconductor drum 21 before entering the calibration mode as shown in FIG. 13, the outline of the temperature of the photoconductor drum 21 detected by the thermistor 39, and the calibration mode. It is determined whether the residual potential of the photoconductor drum 21 is sufficient to change the calibration formula (sufficiently low) from the relationship with the time during which the photoconductor drum 21 was stopped before entering.
【0036】CPU32は、感光体ドラム21の残留電
位が校正式を変更しても良いものである(十分に低い)
と決定した場合にはステップS7に進み、そうでない場
合にはステップS8でフラグnを0にクリアしてからス
テップSに進む。また、CPU32は、切り換えスイッ
チがオンされた時にはステップS9で係数選択用手動ス
イッチ(マニアルSW)からの入力信号をチェックして
係数aのみが選択されているか否かを判断し、係数aの
みが選択されている場合にはステップS7に進んで係数
a,bが選択されている場合にはステップS10でフラ
グnを1にセットしてからステップS7に進む。The CPU 32 may change the calibration formula for the residual potential of the photosensitive drum 21 (sufficiently low).
If it is determined to be, the process proceeds to step S7. If not, the flag n is cleared to 0 in step S8, and then the process proceeds to step S. When the changeover switch is turned on, the CPU 32 checks the input signal from the coefficient selecting manual switch (manual SW) in step S9 to determine whether only the coefficient a is selected. If it is selected, the process proceeds to step S7. If the coefficients a and b are selected, the flag n is set to 1 in step S10, and then the process proceeds to step S7.
【0037】CPU32は、ステップS7で感光体ドラ
ム21が停止しているか否かを判断し、感光体ドラム2
1が停止していない場合には電位センサ校正用処理フロ
ーを終了する。また、CPU32は、感光体ドラム21
が停止している場合にはステップS11でフラグnが0
であるか否かを判断し、フラグnが0である場合にはス
テップS13でサーミスタ(温度センサ)39の出力信
号をA/D変換器36を介して取り込んでRAM34に
格納してステップS14以降の校正モードの計算に移行
する。また、CPU32は、フラグnが0でない場合に
はステップS12で電位センサ累積動作時間計測手段か
ら取り込んでRAM34に格納したデータをクリアして
からステップS13に進む。The CPU 32 determines in step S7 whether or not the photosensitive drum 21 is stopped, and the photosensitive drum 2 is stopped.
When 1 is not stopped, the potential sensor calibration processing flow ends. Further, the CPU 32 controls the photoconductor drum 21.
Is stopped, the flag n is set to 0 in step S11.
If the flag n is 0, the output signal of the thermistor (temperature sensor) 39 is fetched via the A / D converter 36 and stored in the RAM 34 in step S13, and step S14 and thereafter. Move on to the calculation of calibration mode. When the flag n is not 0, the CPU 32 clears the data fetched from the potential sensor cumulative operation time measuring means and stored in the RAM 34 in step S12, and then proceeds to step S13.
【0038】次に、校正モードの計算について説明す
る。CPU32は、ステップS14ではスイッチ40を
オンさせてパワーパック37からスイッチ40を通して
感光体ドラム21の導電基板に現像ローラ24aへの現
像バイアス電圧と同じ電圧を基準電圧として印加させ
る。これは、パワーパック37からなる現像バイアス電
源が定電圧駆動されていること、パワーパック37の精
度が±1%以内と高いこと、校正時に現像装置24が使
用されていないことによる。Next, the calculation of the calibration mode will be described. In step S14, the CPU 32 turns on the switch 40 to apply the same voltage as the developing bias voltage to the developing roller 24a to the conductive substrate of the photosensitive drum 21 from the power pack 37 through the switch 40 as a reference voltage. This is because the developing bias power source including the power pack 37 is driven at a constant voltage, the accuracy of the power pack 37 is high within ± 1%, and the developing device 24 is not used during the calibration.
【0039】また、パワーパック37から感光体ドラム
21の導電基板への電圧印加は、電位センサ31の出力
の校正時にはパワーパック37が感光体ドラム21の導
電基板への電圧印加と現像ローラ24aへの電圧印加に
併用されているが、感光体ドラム21と現像ローラ24
aとを同一電位とすることで感光体ドラム21から現像
装置24へのリーク防止と、スイッチ40の簡素化を図
るためである。Further, when the voltage is applied from the power pack 37 to the conductive substrate of the photosensitive drum 21, the power pack 37 applies the voltage to the conductive substrate of the photosensitive drum 21 and to the developing roller 24a when the output of the potential sensor 31 is calibrated. Is also used to apply the voltage of the photoconductor drum 21 and the developing roller 24.
This is because the potential of “a” is set to the same potential to prevent the leak from the photoconductor drum 21 to the developing device 24 and to simplify the switch 40.
【0040】次に、CPU32は、ステップS15にて
測定ルーチンを実行するが、この測定ルーチンでは図4
に示すようにPWM回路38を介してパワーパック37
を制御して感光体ドラム21の導電基板に例えば200
Vの基準電圧VMINを印加させ、電位センサ31の測定
値VminをA/D変換器35を介して取り込んでVMINお
よびVminをRAM34に記憶させる。同様に、CPU
32は、PWM回路38からパワーパック37へのデー
タを感光体ドラム21の導電基板に対する印加基準電圧
VMAXが例えば600Vになるように切り換えてパワー
パック37を制御し、電位センサ31の測定値Vmaxを
A/D変換器35を介して取り込んでVM AXおよびVmax
をRAM34に記憶させる。Next, the CPU 32 executes the measurement routine in step S15. In this measurement routine, as shown in FIG.
As shown in FIG.
To control the conductive substrate of the photosensitive drum 21 to, for example, 200
A reference voltage V MIN of V is applied, the measured value V min of the potential sensor 31 is captured via the A / D converter 35, and V MIN and V min are stored in the RAM 34. Similarly, CPU
The reference numeral 32 controls the power pack 37 by switching the data from the PWM circuit 38 to the power pack 37 so that the reference voltage V MAX applied to the conductive substrate of the photosensitive drum 21 becomes, for example, 600 V, and the measured value V of the potential sensor 31. max is captured via the A / D converter 35 to obtain V M AX and V max.
Are stored in the RAM 34.
【0041】ここに、CPU32は、実際には電位セン
サ31の立ち上がり(5msec)や出力のノイズを避
けるために、図5に示すように感光体ドラム21の導電
基板に電圧VMIN,VMAXを印加した各時点からそれぞれ
5msecが経過した後に電位センサ31の測定値V
min,VmaxをそれぞれA/D変換器35を介して50点
づつサンプリングし、その各平均値を求めてVmin,V
maxとしてRAM34に記憶する。Here, the CPU 32 actually applies the voltages V MIN and V MAX to the conductive substrate of the photosensitive drum 21 as shown in FIG. 5 in order to avoid the rise of the potential sensor 31 (5 msec) and the noise of the output. Measured value V of the potential sensor 31 after 5 msec has passed from each time of application
min, V max was 50 points at a time sampled by the A / D converter 35, respectively, V min Searching for the respective average value, V
It is stored in the RAM 34 as max .
【0042】次に、CPU32は、ステップS16でフ
ラグnが1にセットされているか否かを判断してフラグ
nが1にセットされている場合にはステップS17でR
OM33に予め記憶されている次の計算式
b=VMAX−Vmax×{(VMAX−VMIN)/(Vmax−Vmin)}:切片
により、RAM34に格納した上記VMAX,VMIN,V
max,Vminのデータに基づいて切片bを求め、ステップ
S18でその切片bをRAM34に格納してステップS
19に進む。Next, the CPU 32 judges whether or not the flag n is set to 1 in step S16, and if the flag n is set to 1, R is read in step S17.
The following calculation formula previously stored in the OM 33: b = V MAX −V max × {(V MAX −V MIN ) / (V max −V min )}: The above V MAX and V MIN stored in the RAM 34 by the intercept. , V
The intercept b is obtained based on the max and V min data, and the intercept b is stored in the RAM 34 in step S18, and is stored in step S18.
Proceed to 19.
【0043】また、CPU32は、フラグnが0にクリ
アされている場合にはステップS16からステップS1
9に飛ぶ。CPU32は、ステップS19ではROM3
3に予め記憶されている次の計算式
a=(VMAX−VMIN)/(Vmax−Vmin):傾き
により、RAM34に格納した上記VMAX,VMIN,V
max,Vminのデータに基づいて傾きaを求め、ステップ
S20でその傾きaをRAM34に格納する。When the flag n is cleared to 0, the CPU 32 proceeds from step S16 to step S1.
Fly to 9. The CPU 32 causes the ROM 3 in step S19.
The following pre-stored in the 3 equation a = (V MAX -V MIN) / (V max -V min): slope by said V MAX was stored in RAM 34, V MIN, V
The inclination a is obtained based on the max and V min data, and the inclination a is stored in the RAM 34 in step S20.
【0044】次に、CPU32は、ステップS21で今
求めた新しいa,bのデータ、もしくはbのデータのみ
で前回のa,bのデータ、もしくはbのデータを修正し
て演算式y=ax+bを修正し、ステップS22でフラ
グnをクリアして電位センサ校正用処理フローを終了す
る。Next, the CPU 32 corrects the previous a, b data or b data only with the new a, b data or b data currently obtained in step S21 to obtain the arithmetic expression y = ax + b. After correction, the flag n is cleared in step S22 and the potential sensor calibration processing flow ends.
【0045】電位センサ出力の校正終了後には、CPU
32は、電位センサ31で測定された感光体ドラム21
の帯電電位V0,露光後電位VL,残留電位VRに対する
A/D変換器35の出力信号を取り込んでRAM34に
格納し、このRAM34に格納した電位センサ31の測
定値をRAM34内の係数a及びbによりROM33内
の式y=ax+bで校正することによって電位センサ測
定値の修正を行い、その修正した値に基づいて画像を高
品位に維持するようにPWM回路38を介してパワーパ
ック37を制御して現像バイアス電圧を制御したり、図
示しないパワーパックを制御して帯電チャージャ22の
出力や露光ランプ電圧を制御することにより感光体ドラ
ム2の帯電電位や露光量を制御したりする。After the calibration of the potential sensor output is completed, the CPU
32 is the photoconductor drum 21 measured by the potential sensor 31.
Of the charge potential V 0 , the post-exposure potential V L , and the residual potential V R of the output signal of the A / D converter 35 are stored in the RAM 34, and the measured value of the potential sensor 31 stored in the RAM 34 is stored as a coefficient in the RAM 34. The potential sensor measurement value is corrected by calibrating with the formula y = ax + b in the ROM 33 by a and b, and the power pack 37 is provided via the PWM circuit 38 so as to maintain the image of high quality based on the corrected value. To control the developing bias voltage, and to control the output of the charger 22 and the exposure lamp voltage by controlling a power pack (not shown) to control the charging potential and the exposure amount of the photosensitive drum 2.
【0046】この第1の例は、請求項1記載の発明を適
用した画像形成装置の例であって、CPU32,ROM
32及びRAM33からなる制御部は演算式y=ax+
bの複数の係数a,bにおける互いに異なる組合わせ
a,bと、bのみをそれぞれ求めてこの求めた係数を使
用して電位センサ31の出力を演算式y=ax+bで校
正する複数の校正手段を兼ねており、この複数の校正手
段を係数選択用手動スイッチで切り換えて電位センサ3
1の出力を校正するので、係数が種々の変動要因により
変動しても変動要因に応じて校正手段を切り換えて精度
良く電位センサ31の出力を校正することができる。例
えば、感光体ドラム21に高い残留電位が残っている時
に電位センサ31の出力を校正する場合にも、校正時に
不具合の要因を調べて不具合があれば、その不具合によ
り変動する係数を求める処理フローを校正手段の切り換
えでスキップして電位センサ31の出力を校正し、その
後の校正時に再びその不具合を調べてその不具合がない
時に上記処理フローをスキップせずにその不具合により
変動する係数を求めて電位センサ31の出力を校正する
ことで、電位センサ31の出力の校正で逆に精度が悪く
なることもなく常に精度の良い電位センサ31の出力の
校正を確保することができる。The first example is an example of an image forming apparatus to which the invention described in claim 1 is applied, and includes a CPU 32 and a ROM.
The control unit composed of 32 and the RAM 33 has an arithmetic expression y = ax +
A plurality of calibrating means for calibrating the output of the potential sensor 31 by the arithmetic expression y = ax + b by using only the different combinations a and b of the plurality of coefficients a and b of b and b, respectively. The plurality of calibration means are switched by a coefficient selection manual switch to change the potential sensor 3
Since the output of No. 1 is calibrated, even if the coefficient fluctuates due to various fluctuation factors, the output of the potential sensor 31 can be calibrated accurately by switching the calibration means according to the fluctuation factors. For example, even when the output of the potential sensor 31 is calibrated when a high residual potential remains on the photoconductor drum 21, if there is a defect by checking the cause of the defect during the calibration, a processing flow for obtaining a coefficient that fluctuates due to the defect Is skipped by switching the calibration means, the output of the potential sensor 31 is calibrated, the defect is checked again during the subsequent calibration, and when there is no defect, the coefficient that fluctuates due to the defect is obtained without skipping the processing flow. By calibrating the output of the potential sensor 31, it is possible to always ensure accurate calibration of the output of the potential sensor 31 without the accuracy of the calibration of the output of the potential sensor 31 deteriorating.
【0047】また、(2)式の切片(係数b)を常に機
械毎に実測して決めることができる。切片は、個々の電
位センサー31自体が持っている切片であるので、1台
毎に実測しない限り必ずバラツキを持ってしまうが、第
1の例のように常に機械毎に実測して決めることにより
バラツキを抑えることができて電位センサ出力の校正を
精度良く行うことができる。Further, the intercept (coefficient b) of the equation (2) can be always measured and determined for each machine. Since the intercept is the intercept possessed by each potential sensor 31 itself, there will always be variations unless actually measured for each unit, but by always measuring and determining for each machine as in the first example. Variations can be suppressed and the potential sensor output can be calibrated with high accuracy.
【0048】また、感光体ドラム21の交換時は工場出
荷時も含まれ、工場出荷時に例えばアルミニウム製のド
ラム等を用いて電位センサ31の出力の校正を行うこと
もできる。感光体ドラム21の交換毎に電位センサー3
1の出力の校正を行うと、電位センサー31の経時的な
直線性の傾きや切片のズレ(例えばトナーによる汚れ)
をも校正できる点で優れている。The replacement of the photoconductor drum 21 includes the factory shipment, and the output of the potential sensor 31 can be calibrated using the aluminum drum or the like at the factory shipment. A potential sensor 3 each time the photosensitive drum 21 is replaced.
When the output of No. 1 is calibrated, the inclination of linearity of the potential sensor 31 and the deviation of the intercept (for example, stain by toner)
Is also excellent in that it can be calibrated.
【0049】また、第1の例は、請求項2記載の発明を
適用した画像形成装置の例であって、CPU32,RO
M32及びRAM33からなる制御部は係数a,bを求
める第1の校正手段と、係数aのみ求めて係数bは前回
のものを使用する第2の校正手段とを兼ねており、第1
の校正手段は通常の時に用い、又は電位センサ31の累
積動作時間や感光体ドラム21の累積動作時間が所定の
時間を超えたことを検知した時に感光体ドラムの休止時
間と前回の前記感光体の残留電位との関係から用い、第
2の校正手段は電位センサ31の周囲の環境を検出して
この環境が所定の範囲を超えた時に用いるので、係数が
種々の変動要因により変動しても変動要因に応じて校正
手段を切り換えて精度良く電位センサ31の出力を校正
することができ、感光体ドラム21に残留電位が残って
いる場合にも電位センサ31の出力を校正できる。The first example is an example of an image forming apparatus to which the invention described in claim 2 is applied, and includes a CPU 32, RO
The control unit composed of the M32 and the RAM 33 serves both as a first calibrating means for obtaining the coefficients a and b, and as a second calibrating means for obtaining only the coefficient a and using the last one as the coefficient b.
The calibration means is normally used, or when it is detected that the accumulated operating time of the potential sensor 31 or the accumulated operating time of the photosensitive drum 21 exceeds a predetermined time, the rest time of the photosensitive drum and the previous photosensitive body. The second calibration means detects the environment around the potential sensor 31 and is used when this environment exceeds a predetermined range. Therefore, even if the coefficient fluctuates due to various fluctuation factors. The output of the potential sensor 31 can be accurately calibrated by switching the calibration means according to the variation factor, and the output of the potential sensor 31 can be calibrated even when the residual potential remains on the photosensitive drum 21.
【0050】請求項3記載の発明を適用した画像形成装
置の第2の例は、請求項3記載の発明を適用した画像形
成装置の一例であり、上記第1の例において、感光体ド
ラム21の導電基板に印加する基準電圧を規定したもの
である。図11は電位センサの入出力特性の概略を示
す。電位センサ31として用いられる距離補正型電位セ
ンサは図11に示すように入出力特性の全領域において
直線性が得られるものではなく、感光体ドラム21への
印加電圧も現像装置24やクリーニング装置28等の電
源電圧との整合はもちろん感光体ドラム21に接してい
るユニットの電圧との整合を図ることで、不具合のない
精度の良い安定した校正式y=ax+bが得られる。A second example of the image forming apparatus to which the invention of claim 3 is applied is an example of the image forming apparatus to which the invention of claim 3 is applied. In the first example, the photosensitive drum 21 is used. The reference voltage to be applied to the conductive substrate is defined. FIG. 11 shows the outline of the input / output characteristics of the potential sensor. The distance correction type potential sensor used as the potential sensor 31 cannot obtain linearity in the entire region of the input / output characteristics as shown in FIG. 11, and the voltage applied to the photosensitive drum 21 is also the developing device 24 and the cleaning device 28. A stable calibration equation y = ax + b with no defects can be obtained by matching not only the power supply voltage of the above, but also the voltage of the unit in contact with the photosensitive drum 21.
【0051】ここでは、電位センサ31の出力を校正す
る校正時に、パワーパック37からスイッチ40を通し
て感光体ドラム21の導電基板に印加する基準電圧が2
00V以上である場合に電位センサ31の入出力特性と
して±1%の直線性が得られ、パワーパック37からス
イッチ40を通して感光体ドラム21の導電基板に印加
する基準電圧が200V以下である場合に電位センサ3
1の入出力特性の直線性が±2.5%となること、パワ
ーパック37からスイッチ40を通して感光体ドラム2
1の導電基板に印加する基準電圧が0V以下である場合
にも電位センサ31の入出力特性が不安定であることか
ら、CPU32は、校正時にPWM回路38を介してパ
ワーパック37を制御して基準電圧VMINを電位センサ
31の入出力特性の直線性が得られる範囲内とする。例
えば、CPU32は、校正時にPWM回路38を介して
パワーパック37を制御してパワーパック37からスイ
ッチ40を通して感光体ドラム21の導電基板に印加す
る基準電圧VMINを200Vとする。Here, at the time of calibration for calibrating the output of the potential sensor 31, the reference voltage applied from the power pack 37 to the conductive substrate of the photoconductor drum 21 through the switch 40 is 2.
When the input voltage of the potential sensor 31 has a linearity of ± 1% when the voltage is 00V or more, and when the reference voltage applied from the power pack 37 to the conductive substrate of the photoconductor drum 21 through the switch 40 is 200V or less. Potential sensor 3
The linearity of the input / output characteristic of 1 is ± 2.5%, and the photoconductor drum 2 from the power pack 37 through the switch 40.
Since the input / output characteristics of the potential sensor 31 are unstable even when the reference voltage applied to the conductive substrate 1 is 0 V or less, the CPU 32 controls the power pack 37 via the PWM circuit 38 during calibration. The reference voltage V MIN is set within the range in which the linearity of the input / output characteristics of the potential sensor 31 is obtained. For example, the CPU 32 controls the power pack 37 via the PWM circuit 38 during calibration, and sets the reference voltage V MIN applied from the power pack 37 to the conductive substrate of the photoconductor drum 21 through the switch 40 to 200V.
【0052】また、CPU32は、校正時にPWM回路
38を介してパワーパック37を制御してパワーパック
37からスイッチ40を通して感光体ドラム21の導電
基板に印加した基準電圧VMAXが画像形成装置本体へリ
ークしたり感光体ドラム21に接しているクリーニング
装置29への不具合やリーク(例えば感光体ドラム21
の傷発生や基準電圧VMAXのクリーニングブラシ29a
を通してのリーク)が発生したりしない電圧とし、例え
ば画像形成装置の画像形成時にパワーパック37により
現像ローラ24aに印加される現像バイアス電圧の範囲
内の600Vとする。Further, the CPU 32 controls the power pack 37 via the PWM circuit 38 at the time of calibration so that the reference voltage V MAX applied to the conductive substrate of the photoconductor drum 21 from the power pack 37 to the image forming apparatus main body via the switch 40. Problems or leaks to the cleaning device 29 that leaks or is in contact with the photosensitive drum 21 (for example, the photosensitive drum 21).
Scratches and cleaning brush 29a with reference voltage V MAX
Is set to 600 V, which is within the range of the developing bias voltage applied to the developing roller 24a by the power pack 37 at the time of image formation by the image forming apparatus.
【0053】この第2の例は、請求項3記載の発明を適
用した画像形成装置の一例であって、感光体ドラム21
に対する基準電圧の印加は現像バイアス電源37により
行い、基準電圧は画像形成装置の画像形成時に現像バイ
アス電源37により現像装置24に印加される電圧の範
囲内でかつ電位センサ31の直線性が得られる範囲内と
するので、電位センサの入出力特性として直線性が得ら
れる範囲で、感光体ドラム21への印加電圧も現像装置
24やクリーニング装置28等の電源電圧との整合はも
ちろん感光体ドラム21に接しているユニットの電圧と
の整合を図ることができて不具合のない精度の良い安定
した校正式y=ax+bが得られ、低価格な距離補正型
の電位センサでも電位センサの出力を精度良く校正でき
る。The second example is an example of the image forming apparatus to which the invention according to claim 3 is applied, and is the photosensitive drum 21.
The developing bias power supply 37 applies the reference voltage to the developing bias power supply 37, and the reference voltage is within the range of the voltage applied to the developing device 24 by the developing bias power supply 37 at the time of image formation of the image forming apparatus and the linearity of the potential sensor 31 is obtained. Since the voltage is within the range, the voltage applied to the photoconductor drum 21 matches the power supply voltage of the developing device 24, the cleaning device 28, and the like, as well as the photoconductor drum 21 within the range where the linearity is obtained as the input / output characteristic of the potential sensor. A stable calibration formula y = ax + b with good accuracy can be obtained because it can be matched with the voltage of the unit in contact with the unit, and the output of the potential sensor can be accurately measured even with a low-cost distance correction type potential sensor. Can calibrate.
【0054】[0054]
【発明の効果】以上のように請求項1記載の発明によれ
ば、感光体の表面電位を測定する電位センサを備えた画
像形成装置で前記感光体の導電部分に基準電圧を印加し
て前記電位センサから得られた出力を基準に前記電位セ
ンサの出力を所定の演算式で校正する電位センサ校正方
法において、前記演算式の複数の係数における互いに異
なる組合わせの係数をそれぞれ求め、この求めた係数を
使用して前記電位センサの出力を前記演算式で校正する
複数の校正手段を設け、この複数の校正手段を切り換え
て前記電位センサの出力を校正するので、係数が種々の
変動要因により変動しても変動要因に応じて校正手段を
切り換えて精度良く電位センサの出力を校正することが
できる。感光体に高い残留電位が残っている時に電位セ
ンサの出力を校正する場合にも、校正時に不具合の要因
を調べて不具合があれば、その不具合により変動する係
数を求めずに電位センサの出力を校正し、その後の校正
時に再びその不具合を調べてその不具合がない時にその
不具合により変動する係数を求めて電位センサの出力を
校正することで、電位センサの出力の校正で逆に精度が
悪くなることもなく常に精度の良い電位センサの出力の
校正を確保することができる。As described above, according to the first aspect of the invention, in the image forming apparatus equipped with the potential sensor for measuring the surface potential of the photoconductor, the reference voltage is applied to the conductive portion of the photoconductor, and In a potential sensor calibration method in which the output of the potential sensor is calibrated with a predetermined arithmetic expression on the basis of the output obtained from the potential sensor, coefficients of different combinations in a plurality of coefficients of the arithmetic expression are respectively obtained, and this is obtained. Since a plurality of calibrating means for calibrating the output of the potential sensor by using the coefficient is provided by using the coefficient and the output of the potential sensor is calibrated by switching the plurality of calibrating means, the coefficient fluctuates due to various fluctuation factors. However, the output of the potential sensor can be calibrated with high accuracy by switching the calibrating means according to the variation factor. Even when the output of the potential sensor is calibrated when a high residual potential remains on the photoconductor, the cause of the defect is checked during calibration, and if there is a defect, the output of the potential sensor is calculated without obtaining the coefficient that fluctuates due to the defect. When the calibration is performed, the defect is checked again at the time of the subsequent calibration, and when there is no defect, the coefficient of output of the potential sensor is calibrated by obtaining the coefficient that fluctuates due to the defect. It is possible to always ensure accurate calibration of the output of the potential sensor.
【0055】請求項2記載の発明によれば、感光体の表
面電位を測定する電位センサを備えた画像形成装置で前
記感光体の導電部分に複数の基準電圧を印加して前記電
位センサから得られた出力から前記電位センサの出力x
をy=ax+bなる演算式でyに校正する電位センサ校
正方法において、係数a,bを求める第1の校正手段
と、係数aのみ求めて係数bは前回のものを使用する第
2の校正手段とを設け、前記第1の校正手段は通常の時
に用い、又は前記電位センサの累積動作時間や前記感光
体の累積動作時間が所定の時間を超えたことを検知した
時に前記感光体の休止時間と前回の前記感光体の残留電
位との関係から用い、前記第2の校正手段は前記電位セ
ンサの周囲の環境を検出してこの環境が所定の範囲を超
えた時に用いるので、係数が種々の変動要因により変動
しても変動要因に応じて校正手段を切り換えて精度良く
電位センサの出力を校正することができる。感光体に高
い残留電位が残っている時に電位センサの出力を校正す
る場合にも、校正時に不具合の要因を調べて不具合があ
れば、その不具合により変動する係数を求めずに電位セ
ンサの出力を校正し、その後の校正時に再びその不具合
を調べてその不具合がない時にその不具合により変動す
る係数を求めて電位センサの出力を校正することで、電
位センサの出力の校正で逆に精度が悪くなることもなく
常に精度の良い電位センサの出力の校正を確保すること
ができる。According to the second aspect of the invention, in the image forming apparatus equipped with the potential sensor for measuring the surface potential of the photoconductor, a plurality of reference voltages are applied to the conductive portion of the photoconductor to obtain from the potential sensor. The output of the potential sensor from the obtained output x
In a potential sensor calibration method for calibrating y to y by an arithmetic expression of y = ax + b, a first calibration means for obtaining coefficients a and b, and a second calibration means for obtaining only coefficient a and using the previous coefficient b And the first calibration means is used at a normal time, or when the accumulated operation time of the potential sensor or the accumulated operation time of the photoconductor is detected to exceed a predetermined time, the rest time of the photoconductor And the previous residual potential of the photoconductor, the second calibrating means detects the environment around the potential sensor and uses it when the environment exceeds a predetermined range. Even if it fluctuates due to a fluctuating factor, the output of the potential sensor can be calibrated accurately by switching the calibration means according to the fluctuating factor. Even when the output of the potential sensor is calibrated when a high residual potential remains on the photoconductor, the cause of the defect is checked during calibration, and if there is a defect, the output of the potential sensor is calculated without obtaining the coefficient that fluctuates due to the defect. When the calibration is performed, the defect is checked again at the time of the subsequent calibration, and when there is no defect, the coefficient of output of the potential sensor is calibrated by obtaining the coefficient that fluctuates due to the defect. It is possible to always ensure accurate calibration of the output of the potential sensor.
【0056】請求項3記載の発明によれば、請求項1ま
たは2記載の電位センサ校正方法において、前記基準電
圧の印加は前記画像形成装置の現像バイアス電源により
行い、前記基準電圧は前記画像形成装置の画像形成時に
前記現像バイアス電源により印加される電圧の範囲内で
かつ前記電位センサの直線性が得られる範囲内とするの
で、電位センサの入出力特性として直線性が得られる範
囲で、感光体への印加電圧も各部の電源電圧との整合は
もちろん感光体に接しているユニットの電圧との整合を
図ることができて不具合のない精度の良い安定した校正
式を得ることができ、低価格な距離補正型の電位センサ
でも電位センサの出力を精度良く校正できる。According to a third aspect of the invention, in the potential sensor calibration method according to the first or second aspect, the reference voltage is applied by a developing bias power source of the image forming apparatus, and the reference voltage is used for the image formation. Since the voltage is applied within the range of the voltage applied by the developing bias power source when the image is formed in the apparatus and within the range where the linearity of the potential sensor is obtained, the photosensitivity is set within the range where the input / output characteristic of the potential sensor is linear. The voltage applied to the body can be matched not only with the power supply voltage of each part, but also with the voltage of the unit in contact with the photoconductor, and a stable and accurate calibration formula can be obtained without any problems. The output of the potential sensor can be accurately calibrated even with a cost-effective distance correction type potential sensor.
【図1】本発明を適用した画像形成装置の第1の例を示
す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a first example of an image forming apparatus to which the present invention has been applied.
【図2】同第1の例におけるCPUの電位センサ校正用
処理フローの一部を示すフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart showing a part of a potential sensor calibration processing flow of the CPU in the first example.
【図3】同第1の例におけるCPUの電位センサ校正用
処理フローの他の一部を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing another part of the potential sensor calibration processing flow of the CPU in the first example.
【図4】同第1の例におけるCPUの電位センサ校正用
処理フローの一部を詳しく示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing in detail a part of a potential sensor calibration processing flow of the CPU in the first example.
【図5】同第1の例で用いる校正式の傾き及び切片を決
める電位センサ校正時の動作タイミングを示すタイミン
グチャートである。FIG. 5 is a timing chart showing the operation timing when calibrating the potential sensor that determines the slope and intercept of the calibration formula used in the first example.
【図6】従来の振動容量型電位センサを示す概略図であ
る。FIG. 6 is a schematic view showing a conventional vibrating capacitance type potential sensor.
【図7】従来のチョッパ型電位センサを示す概略図であ
る。FIG. 7 is a schematic diagram showing a conventional chopper type potential sensor.
【図8】距離補正を行わない電位センサの被測定物との
距離と出力との関係を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a relationship between a distance to an object to be measured and an output of the potential sensor without distance correction.
【図9】距離補正を行わない電位センサの被測定物との
距離との角度と出力との関係を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a relationship between an output and an angle of a potential sensor, which is not subjected to distance correction, with respect to a measured object.
【図10】距離補正を行わない電位センサの入出力特性
の直線性のバラツキを示す図である。FIG. 10 is a diagram showing variations in linearity of input / output characteristics of a potential sensor without distance correction.
【図11】距離補正を行わない電位センサの入出力特性
が被測定物との距離(ギャップ)を変化させた時に推移
する様子を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing how the input / output characteristics of the potential sensor without distance correction change when the distance (gap) to the object to be measured is changed.
【図12】電位センサの入出力特性が経時で変動する様
子を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing how the input / output characteristics of the potential sensor change over time.
【図13】感光体残留電位が休止時間によって減衰する
様子を感光体温度の効果による減衰とともに示す図であ
る。FIG. 13 is a diagram showing how the residual potential of the photoconductor decays due to the rest time, together with the decay due to the effect of the photoconductor temperature.
【図14】電位センサの出力値が環境条件により変動す
る様子を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing how the output value of the potential sensor changes depending on environmental conditions.
21 感光体ドラム 24 現像装置 29 クリーニング装置 31 電位センサ 32 CPU 33 ROM 34 RAM 35,36 A/D変換器 37 パワーパック 38 PWM回路 39 サーミスタ 40 スイッチ 21 photoconductor drum 24 Developing device 29 Cleaning device 31 Potential sensor 32 CPU 33 ROM 34 RAM 35,36 A / D converter 37 Power Pack 38 PWM circuit 39 Thermistor 40 switch
Claims (3)
備えた画像形成装置で前記感光体の導電部分に基準電圧
を印加して前記電位センサから得られた出力を基準に前
記電位センサの出力を所定の演算式で校正する電位セン
サ校正方法において、前記演算式の複数の係数における
互いに異なる組合わせの係数をそれぞれ求め、この求め
た係数を使用して前記電位センサの出力を前記演算式で
校正する複数の校正手段を設け、この複数の校正手段を
切り換えて前記電位センサの出力を校正することを特徴
とする電位センサ校正方法。1. An image forming apparatus equipped with a potential sensor for measuring a surface potential of a photoconductor, wherein a reference voltage is applied to a conductive portion of the photoconductor and an output of the potential sensor is used as a reference. In a potential sensor calibration method for calibrating an output with a predetermined arithmetic expression, coefficients of different combinations in a plurality of coefficients of the arithmetic expression are respectively obtained, and the obtained coefficient is used to calculate the output of the electric potential sensor by the arithmetic expression. A method for calibrating a potential sensor, characterized in that a plurality of calibrating means for calibrating are provided, and the output of the potential sensor is calibrated by switching the plurality of calibrating means.
備えた画像形成装置で前記感光体の導電部分に複数の基
準電圧を印加して前記電位センサから得られた出力から
前記電位センサの出力xをy=ax+bなる演算式でy
に校正する電位センサ校正方法において、係数a,bを
求める第1の校正手段と、係数aのみ求めて係数bは前
回のものを使用する第2の校正手段とを設け、前記第1
の校正手段は通常の時に用い、又は前記電位センサの累
積動作時間や前記感光体の累積動作時間が所定の時間を
超えたことを検知した時に前記感光体の休止時間と前回
の前記感光体の残留電位との関係から用い、前記第2の
校正手段は前記電位センサの周囲の環境を検出してこの
環境が所定の範囲を超えた時に用いることを特徴とする
電位センサ校正方法。2. An image forming apparatus equipped with a potential sensor for measuring a surface potential of a photoconductor, wherein a plurality of reference voltages are applied to a conductive portion of the photoconductor, and an output obtained from the potential sensor is used to detect the potential sensor. The output x is expressed as y = ax + b in the formula y
In the potential sensor calibration method for calibrating according to step 1, there is provided a first calibration means for obtaining the coefficients a and b, and a second calibration means for obtaining only the coefficient a and using the previous coefficient b.
The calibrating means is normally used, or when the accumulated operation time of the potential sensor or the accumulated operation time of the photoconductor is detected to exceed a predetermined time, the rest time of the photoconductor and the previous photoconductor A method for calibrating a potential sensor, characterized in that the second calibrating means detects the environment around the potential sensor and uses it when the environment exceeds a predetermined range, based on the relationship with the residual potential.
法において、前記基準電圧の印加は前記画像形成装置の
現像バイアス電源により行い、前記基準電圧は前記画像
形成装置の画像形成時に前記現像バイアス電源により印
加される電圧の範囲内でかつ前記電位センサの直線性が
得られる範囲内とすることを特徴とする電位センサ校正
方法。3. The potential sensor calibration method according to claim 1, wherein the reference voltage is applied by a developing bias power source of the image forming apparatus, and the reference voltage is the developing bias when an image is formed by the image forming apparatus. A method of calibrating a potential sensor, characterized in that it is within a range of a voltage applied by a power source and within a range where linearity of the potential sensor is obtained.
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