JP3449707B2 - Semiconductor manufacturing apparatus, wafer transfer method in semiconductor manufacturing apparatus, and semiconductor element manufacturing method - Google Patents

Semiconductor manufacturing apparatus, wafer transfer method in semiconductor manufacturing apparatus, and semiconductor element manufacturing method

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JP3449707B2
JP3449707B2 JP2002036819A JP2002036819A JP3449707B2 JP 3449707 B2 JP3449707 B2 JP 3449707B2 JP 2002036819 A JP2002036819 A JP 2002036819A JP 2002036819 A JP2002036819 A JP 2002036819A JP 3449707 B2 JP3449707 B2 JP 3449707B2
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wafer
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cassette
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康博 原田
良二 斉藤
昭一郎 泉
利一 狩野
幸二 遠目塚
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for transferring a wafer which exhibits a merit of a single sheet system and a merit of a batch system and is efficient in a wafer transferring of the apparatus for manufacturing semiconductor. SOLUTION: The apparatus for manufacturing semiconductor includes a transfer equipment for transferring the wafer between a boat accommodating the wafer in a horizontal attitude on multi-stages in a upward/downward direction and a cassette accommodating X sheets (1<Y<X) of wafer, and the transfer equipment has Y sheets of plates for holding the wafer. The apparatus for manufacturing semiconductor is capable of transferring the wafers loaded on the Y sheets of plates at the same time. Regarding a product of wafer and a dummy of wafer, the apparatus has a control portion which controls so as to transfer Z sheets (1<Z<Y) of wafers using Z sheets of plates among the Y sheets of them when transferring those sheets at the same time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置、
例えば縦型CVD拡散装置及び半導体製造装置に於ける
ウェーハ移載方法及び半導体素子の製造方法に関するも
のである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus,
For example, the present invention relates to a wafer transfer method and a semiconductor element manufacturing method in a vertical CVD diffusion apparatus and a semiconductor manufacturing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子の製造プロセスの1つにCV
D処理がある。これは所要枚数のシリコンのウェーハを
CVD装置内で加熱し、化学気相堆積(CVD)させる
ものであるが、CVD処理の均質化を図る為、製品用ウ
ェーハを挾む様に列の両端部には各複数枚のダミーウェ
ーハが配列されており、更に製品用ウェーハの途中、所
要の間隔で検査用のモニタウェーハが各1枚配列されて
いる。これを図11により略述する。
2. Description of the Related Art CV is one of the manufacturing processes for semiconductor devices.
There is D processing. In this method, a required number of silicon wafers are heated in a CVD apparatus and chemical vapor deposition (CVD) is performed, but in order to homogenize the CVD process, both end portions of the row are sandwiched so as to sandwich the product wafers. A plurality of dummy wafers are arrayed in each, and a monitor wafer for inspection is arrayed at a required interval in the middle of the product wafer. This will be outlined with reference to FIG.

【0003】拡散炉内ではウェーハ1 はボート2 によっ
て支持される様になっており、拡散炉でウェーハ1 をC
VD処理する場合は、先ず、ボート2 にウェーハ1 が所
要の配列となる様挿入し、ウェーハ1 が挿入されたボー
ト2 を拡散炉内に装入する。一般には拡散炉内は全域に
亘って均一な温度分布にはなってなく、従って前記ボー
ト2 には処理すべきウェーハ1 数に対し充分余裕のある
数(例えばウェーハの処理枚数の1.5倍の数)だけの
ウェーハ収納スペースを備えており、ウェーハを処理す
る場合は温度分布の均一な箇所に対応させ、或はウェー
ハの枚数に応じてボート2 のウェーハ収納位置を選定す
る様になっている。
In the diffusion furnace, the wafer 1 is supported by the boat 2.
When performing VD processing, first, the wafers 1 are inserted into the boat 2 so that the required arrangement is obtained, and the boat 2 with the wafers 1 inserted therein is loaded into the diffusion furnace. Generally, the temperature distribution in the diffusion furnace is not uniform over the entire area, and therefore the boat 2 has a sufficient margin for the number of wafers to be processed (for example, 1.5 times the number of processed wafers). The number of wafer storage spaces is equal to the number of wafers, and when processing wafers, it corresponds to a location with uniform temperature distribution, or the wafer storage position of boat 2 is selected according to the number of wafers. There is.

【0004】ボート2 のウェーハ配列の上端部、下端部
にはそれぞれ適宜数のダミーウェーハ1bからなる、ダミ
ーウェーハ群3,4 が収納され、モニタウェーハ1cを挾ん
で所定枚数の製品用ウェーハ1aからなる製品用ウェーハ
群5 が収納され、更にモニタウェーハ1cを挾んで順次製
品用ウェーハ群5 が収納されている。最下部の製品用ウ
ェーハ群5 と前記ダミーウェーハ群4 との間にはモニタ
ウェーハ1cが挿入されている。
Dummy wafer groups 3 and 4 each consisting of an appropriate number of dummy wafers 1b are housed at the upper and lower ends of the wafer array of the boat 2, and a predetermined number of product wafers 1a are sandwiched between monitor wafers 1c. The product wafer group 5 is housed, and the product wafer group 5 is housed one after the other across the monitor wafer 1c. A monitor wafer 1c is inserted between the lowermost product wafer group 5 and the dummy wafer group 4.

【0005】ウェーハ移載装置はカセットに装填された
ウェーハを前記ボートへ移載し、又処理後のウェーハを
空のカセットへ装填する一連の作業を行うものである。
The wafer transfer device transfers a wafer loaded in a cassette to the boat and performs a series of operations for loading the processed wafer into an empty cassette.

【0006】従来のウェーハ移載装置について図12に
於いて説明する。
A conventional wafer transfer device will be described with reference to FIG.

【0007】図12に示されるものは、枚葉式(1枚ず
つ移送する方式)のウェーハ移載装置を示しており、ハ
ンドリングユニット6 の周囲にはウェーハ1 が装填され
たカセット7 が同一円周上に所要数配置され、又ハンド
リングユニット 6に隣接して移載用エレベータ8 、ロー
ド・アンロードエレベータ9 が設けられ、移載用エレベ
ータ 8のボート受台10は前記円周を含む円筒面の母線に
沿って昇降する様になっており、ロード・アンロードエ
レベータ9 のボート受台11の上方には縦型拡散炉12が設
けられている。又、移載用エレベータ8 とロード・アン
ロードエレベータ9 との間にはボート2 の移替えを行う
移替えユニット13が設けられている。
FIG. 12 shows a wafer transfer apparatus of a single wafer type (a method of transferring one wafer at a time), in which a cassette 7 loaded with a wafer 1 is arranged in the same circle around the handling unit 6. A required number of units are arranged on the circumference, and a transfer elevator 8 and a load / unload elevator 9 are provided adjacent to the handling unit 6, and the boat pedestal 10 of the transfer elevator 8 is a cylindrical surface including the circumference. The vertical diffusion furnace 12 is provided above the boat pedestal 11 of the load / unload elevator 9 along the bus. Further, a transfer unit 13 for transferring the boat 2 is provided between the transfer elevator 8 and the load / unload elevator 9.

【0008】前記ハンドリングユニット6 は前記円周の
中心を中心に回転し且昇降する回転アーム14と該回転ア
ーム14に沿って半径方向に進退するウェーハ吸着チャッ
ク15を備え、カセット7 に装填されたウェーハ1 を一枚
ずつ吸着して取出し、移載用エレベータ8 に乗置された
ボート2 に上側から順次移載して行く。移載用エレベー
タ8 はウェーハ1 の移載の進行に追従して、一段ずつ下
降する。
The handling unit 6 is equipped with a rotary arm 14 that rotates around the center of the circumference and moves up and down, and a wafer suction chuck 15 that advances and retreats in the radial direction along the rotary arm 14 and is loaded in the cassette 7. Wafers 1 are picked up one by one and taken out, and transferred sequentially from the top to the boat 2 placed on the transfer elevator 8. The transfer elevator 8 follows the progress of the transfer of the wafer 1 and descends step by step.

【0009】ウェーハ1 の移載の完了したボート2 は移
替えユニット13によって移載用エレベータ8 からロード
・アンロードエレベータ9 へ移替えられ、ロード・アン
ロードエレベータ9 はボート2 を拡散炉12内へ装入す
る。
The boat 2 on which the wafers 1 have been transferred is transferred from the transfer elevator 8 to the load / unload elevator 9 by the transfer unit 13, and the load / unload elevator 9 moves the boat 2 into the diffusion furnace 12. Charge into.

【0010】CVD処理が完了するとボート2 が拡散炉
12より取出され、更に移替えユニット13により移載用エ
レベータ8 に移替えられ、ハンドリングユニット6 によ
り上記したと逆の手順でカセット7 へ装填される。
When the CVD process is completed, the boat 2 becomes a diffusion furnace.
It is taken out from the cassette 12, further transferred to the transfer elevator 8 by the transfer unit 13, and loaded into the cassette 7 by the handling unit 6 in the reverse order of the above.

【0011】上記した従来の移載装置は枚葉式であった
が、図13に示す様に一括式のものもある。
The above-mentioned conventional transfer device is a single-wafer type, but there is also a collective type as shown in FIG.

【0012】これは、ウェーハ吸着チャック15が25組
の吸着プレート16を備え、カセット7 に装填されている
25枚のウェーハ1 を全部一括してチャッキングしボー
ト2へ移載を行うものである。
The wafer suction chuck 15 is equipped with 25 sets of suction plates 16 and chucks all 25 wafers 1 loaded in a cassette 7 and transfers them to a boat 2. .

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】然し、上記した従来の
枚葉方式の移載装置、一括方式の移載装置には以下に述
べる様な不具合がある。
However, the above-mentioned conventional single-wafer transfer apparatus and batch transfer apparatus have the following problems.

【0014】前記したボート2 に挿入されるウェーハの
配列、上段、下段のダミーウェーハの枚数を各何枚にす
るか、あるいはモニタウェーハを製品用ウェーハの何枚
目毎に且何枚設けるかは処理を行う条件、或は顧客の処
理仕様によって異なる。
The arrangement of the wafers to be inserted into the above-mentioned boat 2, the number of the upper and lower dummy wafers, or the number of the product wafers and the monitor wafers to be provided are determined. It depends on the processing conditions or the processing specifications of the customer.

【0015】前者の枚葉方式はウェーハを一枚ずつ移載
して行くので、ウェーハの如何なる配列にも対応でき
る。然し、動作回数が著しく多く、その為移載時間が長
くなり、効率が悪い。又、動作回数が多いということは
発塵の可能性が確率的に増大し、製品品質に悪影響を与
える。
In the former single wafer method, wafers are transferred one by one, so that any arrangement of wafers can be supported. However, the number of operations is extremely large, which results in a long transfer time and poor efficiency. In addition, the large number of operations increases the probability of dust generation stochastically, which adversely affects the product quality.

【0016】これに対し、後者一括方式は、移載時間が
短く、極めて能率的であるという利点はあるが、25枚
一括で処理している為、ウェーハ移載時にウェーハの配
列を整えることはできない。従って、カセットにウェー
ハを装填する際に所定の配列となる様、ダミーウェー
ハ、モニタウェーハ、製品用ウェーハを混在させる様に
している。カセットへのウェーハの装填作業は手作業で
あり、種類の異なるウェーハを所定の配列となる様装填
する作業は非常に煩雑であり、能率も悪く、又誤挿入も
避けられないのが現状であった。
On the other hand, the latter batch method has the advantage that the transfer time is short and is extremely efficient, but since 25 wafers are processed in a batch, it is not possible to arrange the wafers at the time of wafer transfer. Can not. Therefore, dummy wafers, monitor wafers, and product wafers are mixed so that a predetermined arrangement is obtained when wafers are loaded in the cassette. The loading of wafers into the cassette is a manual operation, and the loading of different types of wafers in a predetermined arrangement is extremely complicated, inefficient, and erroneous insertion is inevitable. It was

【0017】斯かる実情に鑑み本出願人は先の出願(実
願昭63-130524 号)に於いて5枚のウェーハを一度に移
載する部分一括移載方式のウェーハ移載機を提案してい
るが、本発明は該部分一括移載方式に於いて枚葉方式の
長所と一括方式の長所とを充分に発揮させ得るウェーハ
の移載方法、移載装置、移載制御装置を提供しょうとす
るものである。
In view of such a situation, the present applicant proposed a partial batch transfer type wafer transfer machine for transferring five wafers at a time in the previous application (Japanese Patent Application No. 63-130524). However, the present invention provides a wafer transfer method, transfer apparatus, and transfer control apparatus that can fully exert the advantages of the single wafer method and the advantages of the batch method in the partial batch transfer method. It is what

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明は、水平姿勢のウ
ェーハを上下方向に多段に収納するボート、ウェーハを
25枚装填可能な所要数のカセット、前記ボートとカセ
ット間でウェーハを移載する1組の移載装置とを有する
縦型CVD拡散装置に於いて、前記移載装置が1枚乃至
5枚のウェーハを移載可能であり、ダミーウェーハ、製
品用ウェーハについては一度に1枚乃至5枚移載し、ダ
ミーウェーハ、製品用ウェーハの間に挿入されるモニタ
ウェーハは1枚ずつ移載するウェーハ移載方法に係り、
或はダミーウェーハについては一度に1枚乃至5枚移載
し、製品用ウェーハについては5枚ずつ移載し、或は最
初にボート上部に位置される所要枚数の上部ダミーウェ
ーハを移載し、その後順次モニタウェーハ、製品ウェー
ハ、下部ダミーウェーハを移載し、或は最初にボート上
部に位置される複数枚の上部ダミーウェーハを移載し、
次にボート下部に位置される複数枚の下部ダミーウェー
ハを移載し、その後モニタウェーハと製品用のウェーハ
を交互に移載し、或はダミーウェーハの上下総枚数を5
の倍数とし且下側のダミーウェーハの枚数が5枚以上の
場合で、上側に挿入したダミーウェーハの5枚以下の余
り端数をウェーハ配列の最下位置に移替え、或はダミー
ウェーハの上下総枚数を5の倍数とし且下側のダミーウ
ェーハの枚数が5枚以下の場合で、上側ダミーウェーハ
の5枚以下の端数分についてはカセットから直接端数を
受取り移載し、下側ダミーウェーハの移載については製
品用ウェーハ、モニタウェーハの移載が完了した後移載
するウェーハ移載方法に係り、又水平姿勢のウェーハを
上下方向に多段に収納するボート、ウェーハを25枚装
填可能な所要数のカセット、前記ボートとカセット間で
ウェーハを移載する1組の移載装置とを有する縦型CV
D拡散装置に於いて、5段に配設されたチャックプレー
トを有し、該チャックプレートをそれぞれのチャックプ
レートに対応させ設けた電磁弁を介して真空源に接続し
てなるウェーハチャックをウェーハの半径方向に移動可
能、鉛直方向の軸心を中心に回転可能、且昇降可能とし
た縦型CVD拡散装置に於けるウェーハ移載機に係り、
又チャックプレートのピッチを可変可能とした縦型CV
D拡散装置に於けるウェーハ移載装置に係るものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, a boat for accommodating horizontally oriented wafers in multiple stages in the vertical direction, a required number of cassettes capable of loading 25 wafers, and transferring the wafers between the boats and the cassettes. In a vertical CVD diffusion device having a set of transfer devices, the transfer device can transfer one to five wafers, and one to one dummy wafer or product wafer at a time. According to the wafer transfer method in which five wafers are transferred and monitor wafers inserted between the dummy wafer and the product wafer are transferred one by one,
Or, transfer one to five dummy wafers at a time, transfer five product wafers at a time, or transfer the required number of upper dummy wafers located at the top of the boat first, After that, monitor wafers, product wafers, and lower dummy wafers are transferred one by one, or a plurality of upper dummy wafers that are initially positioned on the boat are transferred.
Next, a plurality of lower dummy wafers located at the bottom of the boat are transferred, and then monitor wafers and product wafers are transferred alternately, or the total number of dummy wafers above and below is set to 5
If the number of dummy wafers on the lower side is 5 or more, the surplus fraction of 5 or less dummy wafers inserted on the upper side is moved to the lowermost position of the wafer array, or the total number of upper and lower dummy wafers is changed. When the number of dummy wafers on the lower side is 5 or less and the number of dummy wafers on the lower side is 5 or less, the fractions of 5 or less on the upper dummy wafers are directly transferred and transferred from the cassette, and the lower dummy wafers are transferred. Regarding the mounting, it depends on the wafer transfer method that transfers the product wafers and monitor wafers after they have been transferred, and also the boat that stores the wafers in the horizontal position in multiple stages in the vertical direction, and the required number of 25 wafers that can be loaded. Vertical CV having a cassette, and a set of transfer devices for transferring wafers between the boat and the cassette
In the D diffuser, a wafer chuck having chuck plates arranged in five stages and connected to a vacuum source via electromagnetic valves provided corresponding to the chuck plates is used as a wafer chuck. The present invention relates to a wafer transfer machine in a vertical CVD diffusion device that can be moved in a radial direction, can be rotated about a vertical axis, and can be moved up and down.
Vertical CV with variable chuck plate pitch
The present invention relates to a wafer transfer device in a D diffusion device.

【0019】本発明ではウェーハを5枚ずつ移載するの
で、移載が迅速に行われ且カセットが収納するウェーハ
の数が25枚であり、端数処理をする必要がなく、又端
数処理があっても最小限の動作ですむ。
In the present invention, since 5 wafers are transferred at a time, the transfer is performed quickly, and the number of wafers stored in the cassette is 25. Therefore, it is not necessary to perform fractional processing, and there is no fractional processing. However, the minimum operation is required.

【0020】又、収納ラックの横行とロード・アンロー
ドエレベータとの共働により、ウェーハチャックを収納
ラックの如何なるカセット収納位置にも移動させ得、次
にスライド機構によるウェーハチャックの進退、スライ
ド機構の回転、移載用エレベータの昇降によりウェーハ
をボートへ移載、又ウェーハをボートからカセットへと
移載する。尚、電磁弁の個々の動作で1〜5枚迄の任意
数のウェーハをチャックでき移載も可能である。
Further, the wafer chuck can be moved to any cassette storage position of the storage rack by the cooperation of the traverse of the storage rack and the load / unload elevator, and then the wafer chuck is moved back and forth by the slide mechanism and the slide mechanism is moved. Wafers are transferred to the boat by rotating and elevating the transfer elevator, and wafers are transferred from the boat to the cassette. It should be noted that any number of wafers from 1 to 5 can be chucked and transferred by individual operations of the solenoid valve.

【0021】次に、主制御部へ所望のシーケンスプログ
ラムを設定入力することにより、収納ラックの任意の位
置に製品用カセット、ダミーカセット、モニタカセット
を収納させ、作業条件としてこれらカセット位置、ボー
トのウェーハ配列等を入力部より入力すれば、ウェーハ
を5枚を基本として順次所望の配列となる様移載する。
Next, by setting and inputting a desired sequence program to the main controller, the product cassette, the dummy cassette, and the monitor cassette are stored at arbitrary positions of the storage rack, and these cassette positions and boat By inputting the wafer arrangement and the like from the input section, the wafers are transferred sequentially so as to form a desired arrangement on the basis of five wafers.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0023】図1、図2は本発明に係るウェーハ移載制
御装置を具備した縦型CVD拡散装置を示している。
1 and 2 show a vertical CVD diffusion apparatus equipped with a wafer transfer control device according to the present invention.

【0024】該装置について略述する。The device will be briefly described.

【0025】12は拡散炉、17はロード・アンロードエレ
ベータ、18は移載用エレベータ、19はカセットストッ
カ、20は操作パネル、21は装置本体を示す。
Reference numeral 12 is a diffusion furnace, 17 is a load / unload elevator, 18 is a transfer elevator, 19 is a cassette stocker, 20 is an operation panel, and 21 is an apparatus main body.

【0026】前記ロード・アンロードエレベータ17はボ
ート2 を載置し、該ボート2 はロード・アンロードエレ
ベータ17の昇降によって、拡散炉12へ装入、取出される
様になっている。
The boat 2 is mounted on the load / unload elevator 17, and the boat 2 is loaded / unloaded to / from the diffusion furnace 12 by raising and lowering the load / unload elevator 17.

【0027】移載用エレベータ18はハンドリングユニッ
ト22を具備しており、後述する昇降モータ23の駆動によ
り、該ハンドリングユニット22を昇降させる様になって
いる。又、カセットストッカ19は所要段数(該例では4
段)、複数列(該例では2列)のカセット収納ラック24
を備え、該カセット収納ラック24は後述するラック横行
モータ25により水平方向に移動される様になっている。
The transfer elevator 18 is provided with a handling unit 22, and is driven by a lifting motor 23, which will be described later, to raise and lower the handling unit 22. Further, the cassette stocker 19 has a required number of stages (4 in this example).
Multi-row (two rows in this example) cassette storage rack 24
The cassette storage rack 24 is horizontally moved by a rack traverse motor 25 described later.

【0028】次に移載装置の主要部をなす、前記ハンド
リングユニット22について図3により詳述する。
Next, the handling unit 22 which is a main part of the transfer device will be described in detail with reference to FIG.

【0029】移載用エレベータ18に取付けられた基板26
に同軸減速機27を介してスライド機構28が取付けられて
おり、該スライド機構28にはウェーハチャック29が取付
けられている。
Substrate 26 attached to transfer elevator 18
A slide mechanism 28 is attached via a coaxial speed reducer 27, and a wafer chuck 29 is attached to the slide mechanism 28.

【0030】前記基板26には回転用のモータ30が固着し
てあり、該モータ30の出力軸31と前記減速機27の入力軸
32とはタイミングギア33、タイミングベルト34、タイミ
ングギア35を介して連結してあり、該減速機27の出力軸
36にスライド機構28を固着してある。又、減速機27の中
心部は中空となっており、該中空部37にケーブル38、後
述するウェーハチャックの真空ホース39等を挿通させて
いる。
A motor 30 for rotation is fixed to the substrate 26, and an output shaft 31 of the motor 30 and an input shaft of the speed reducer 27.
32 is connected through a timing gear 33, a timing belt 34, and a timing gear 35, and the output shaft of the speed reducer 27.
The slide mechanism 28 is fixed to 36. Further, the central portion of the speed reducer 27 is hollow, and a cable 38, a vacuum hose 39 of a wafer chuck described later, and the like are inserted into the hollow portion 37.

【0031】前記スライド機構28は前記減速機27の回転
軸心と直交し水平方向に延びるガイド40及び該ガイド40
と平行に設けられ回転自在なスクリューロッド41を有
し、該ガイド40にはスライダ42を摺動自在に設け、該ス
ライダ42とスクリューロッド41とはナットブロック43を
介して螺合してある。又、ガイド40の側方にはスライド
モータ44を設け、該スライドモータ44と前記スクリュー
ロッド41とはタイミングプーリ45、タイミングベルト4
6、タイミングプーリ47を介して連結する。
The slide mechanism 28 includes a guide 40 extending in the horizontal direction orthogonal to the rotation axis of the speed reducer 27 and the guide 40.
The guide 40 has a rotatable screw rod 41, and a slider 42 is slidably provided on the guide 40. The slider 42 and the screw rod 41 are screwed together via a nut block 43. A slide motor 44 is provided on the side of the guide 40, and the slide motor 44 and the screw rod 41 are connected to each other by a timing pulley 45 and a timing belt 4.
6. Connected via the timing pulley 47.

【0032】尚、48,49 は行程端を検出する為のリミッ
トセンサ、50,51 は該リミットセンサ48,49 を動作させ
る為の遮蔽板である。
Reference numerals 48 and 49 are limit sensors for detecting the stroke end, and 50 and 51 are shield plates for operating the limit sensors 48 and 49.

【0033】前記スライダ42に固着されるウェーハチャ
ック29は収納時のウェーハピッチと同ピッチで5枚重ね
られたチャックプレート54,55,56,57,58を有し、該チャ
ックプレート54,55,56,57,58は中空で、チャックプレー
ト54,55,56,57,58の上面には吸引孔58を穿設してある。
更に、チャックプレート54, 55,56,57,58 の中空部はそ
れぞれ電磁弁59,60,61,62,63(後述)を介して真空源に
接続する。
The wafer chuck 29 fixed to the slider 42 has five chuck plates 54, 55, 56, 57 and 58 stacked at the same pitch as the stored wafer pitch. 56, 57, 58 are hollow, and suction holes 58 are formed in the upper surfaces of the chuck plates 54, 55, 56, 57, 58.
Further, the hollow portions of the chuck plates 54, 55, 56, 57 and 58 are connected to a vacuum source via solenoid valves 59, 60, 61, 62 and 63 (described later), respectively.

【0034】以下作動の概略を説明する。The outline of the operation will be described below.

【0035】収納ラック24のカセット収納位置をA列、
B列とし下段側より1段、2段…とし、A1,A2,…B1, B2
…とし、所要の収納位置にダミーウェーハが装填された
カセット7bを、モニタウェーハが装填されたカセット7c
を、又製品用ウェーハが装填されたカセット7aを収納さ
せておく。
The cassette storage position of the storage rack 24 is row A,
Row B, 1 step, 2 steps ... from the bottom, A1, A2, ... B1, B2
..., and the cassette 7b loaded with the dummy wafers at the required storage position is replaced with the cassette 7c loaded with the monitor wafers.
And a cassette 7a loaded with product wafers.

【0036】ハンドリングユニット22は予め定められた
ウェーハの配列となる様、カセットストッカ19側からウ
ェーハ1 を取出し、ボート2 へ移変える。
The handling unit 22 takes out the wafers 1 from the cassette stocker 19 side and transfers them to the boat 2 so that the wafers are arranged in a predetermined manner.

【0037】先ず、ラック横行モータ25と昇降モータ23
との協動によって、ハンドリングユニット22を移載すべ
きウェーハ1 が装填されているカセット7 の収納位置に
位置決めし、スライドモータ44によりスクリューロッド
41を回転させ、ウェーハチャック29のチャックプレート
53,54,55,56,57をウェーハ1 と1 との間に挿入する。昇
降モータ23でウェーハチャック29を若干上昇させ5枚の
ウェーハ1 を受取り、電磁弁59,60,61,62,63を動作させ
て吸着し、ウェーハ1 をチャックする。スライドモータ
44を駆動してスライダ42を後退させ、ウェーハ1 を完全
にカセット7 より引出した後、回転モータ30によりタイ
ミングギア33、タイミングベルト34、タイミングギア3
5、減速機27を介してスライド機構28を回転させる。次
に昇降モータ23によってウェーハチャック29をボート2
のウェーハの挿入位置迄昇降させ、スライドモータ44に
よりウェーハチャック29を前進させ、ウェーハ1 をボー
ト2に挿入する。ウェーハ挿入後電磁弁59,60,61,62,63
を非動作し、昇降モータ23でウェーハチャック29を若干
下げ、ウェーハ1 をボート2 に移載し、スライドモータ
44でウェーハチャック29を後退させる。
First, the rack traverse motor 25 and the lifting motor 23
The handling unit 22 is positioned at the storage position of the cassette 7 in which the wafers 1 to be transferred are loaded by the cooperation with the screw motor 44 by the slide motor 44.
Rotate 41, chuck plate of wafer chuck 29
Insert 53,54,55,56,57 between wafers 1 and 1. The wafer chuck 29 is slightly raised by the elevating motor 23 to receive the five wafers 1, and the solenoid valves 59, 60, 61, 62 and 63 are operated to adsorb the wafers 1 to chuck the wafers 1. Slide motor
44 is driven to retract the slider 42, and the wafer 1 is completely pulled out from the cassette 7, and then the rotary motor 30 is used to drive the timing gear 33, the timing belt 34, and the timing gear 3.
5. The slide mechanism 28 is rotated via the speed reducer 27. Next, the wafer chuck 29 is moved to the boat 2 by the lifting motor 23.
The wafer chuck 29 is moved up and down to the wafer insertion position and the wafer chuck 29 is moved forward by the slide motor 44 to insert the wafer 1 into the boat 2. Solenoid valve after wafer insertion 59,60,61,62,63
The wafer chuck 29 is slightly lowered by the lift motor 23, the wafer 1 is transferred to the boat 2, and the slide motor
At 44, the wafer chuck 29 is retracted.

【0038】以上の動作を繰返して、カセットストッカ
19側からボート2 へのウェーハ移載を行う。又、ボート
2 からカセットストッカ19側への移載は上記した動作の
逆の手順によって行われる。
By repeating the above operation, the cassette stocker
Transfer wafers from side 19 to boat 2. Also boat
Transfer from 2 to the cassette stocker 19 side is performed by the reverse procedure of the above operation.

【0039】ボート2 へのウェーハ1 を所望の配列で移
載するのは、上記した移載動作を適宜組合せ制御するこ
とによりなされる。
The wafers 1 are transferred to the boat 2 in a desired arrangement by appropriately combining and controlling the transfer operations described above.

【0040】図4に於いて、斯かる制御を行わせる制御
装置の概略を示す。
FIG. 4 shows an outline of a control device for performing such control.

【0041】図中70は入力部、71は主制御部、72は横行
モータ制御部、73は昇降モータ制御部、74は回転モータ
制御部、75はスライドモータ制御部、76は電磁弁制御
部、77は表示部、64は収納ラックのA列、B列を検出す
る位置センサ、65,66,67はそれぞれ各モータの回転量を
検出するエンコーダである。
In the figure, 70 is an input unit, 71 is a main control unit, 72 is a traverse motor control unit, 73 is a lifting motor control unit, 74 is a rotation motor control unit, 75 is a slide motor control unit, and 76 is a solenoid valve control unit. , 77 is a display unit, 64 is a position sensor for detecting the rows A and B of the storage rack, and 65, 66, 67 are encoders for detecting the rotation amounts of the respective motors.

【0042】前記入力部70からは作業者によって、収納
ラック24に収納させた製品用ウェーハカセット7a、ダミ
ーウェーハカセット7b、モニタウェーハカセット7cの位
置aを、上ダミーウェーハの数bを、下ダミーウェーハ
の数cを、モニタウェーハの数dを、モニタウェーハの
位置eを、製品用ウェーハの数fをそれぞれ入力する様
になっている。主制御部71にはシーケンスプログラムが
設定入力されており、前記作業者によって入力された作
業条件a,b……fに従って前記各制御部72,73,74,75,
76に動作命令を発すると共に作業者から入力される作業
条件、更にガイダンスメッセージを表示部に表示させる
様になっている。
From the input section 70, by the operator, the position a of the product wafer cassette 7a, the dummy wafer cassette 7b, and the monitor wafer cassette 7c stored in the storage rack 24, the number b of the upper dummy wafers, the lower dummy wafer The number c of wafers, the number d of monitor wafers, the position e of monitor wafers, and the number f of product wafers are input. A sequence program is set and input in the main control unit 71, and the control units 72, 73, 74, 75,
The operation command is issued to 76, and the working condition input by the operator and the guidance message are displayed on the display unit.

【0043】又、各モータ制御部72,73,74,75 は主制御
部71からの動作命令を満足する様位置センサ64、各エン
コーダ65,66,67からのフィードバック信号によりラック
横モータ25、昇降モータ23、回転モータ30、スライドモ
ータ44の動きを監視しつつ駆動する。又、電磁弁制御部
76はチャックするウェーハ1 の数に応じて、所定の数、
所定の位置の電磁弁を動作させる。
Further, each motor control unit 72, 73, 74, 75 receives the position sensor 64 so that the operation command from the main control unit 71 is satisfied, and the rack lateral motor 25, by the feedback signal from each encoder 65, 66, 67, The lifting motor 23, the rotation motor 30, and the slide motor 44 are driven while being monitored. Also, solenoid valve control unit
76 is a predetermined number according to the number of wafers 1 to be chucked,
Operate the solenoid valve in place.

【0044】更に、各制御部72,73,74,75,76は動作命令
に従って、前記モータ25.23,30,44、電磁弁59, 60,61,6
2,63 を駆動し終えると完了の信号を前記主制御部71へ
出力する。主制御部71は各制御部から、完了信号が入力
されるとシーケンスプログラムに従って、次の動作命令
を出力する。
Further, each of the control units 72, 73, 74, 75, 76, according to the operation command, the motors 25.23, 30, 44, the solenoid valves 59, 60, 61, 6
When the driving of 2,63 is completed, a completion signal is output to the main control unit 71. When the completion signal is input from each control unit, the main control unit 71 outputs the next operation command according to the sequence program.

【0045】以下、図6〜図9を併用して制御作動を説
明する。
The control operation will be described below with reference to FIGS.

【0046】先ず作業者が例えば、ダミーカセット7bを
収納ラック24のA1位置に、モニタカセット7cをB1の位置
に、残りの位置に製品用カセット7aを装入したとする
と、入力部70へ入力する動作条件aは上記各カセットの
収納ラック24の収納位置を入力する。更に上ダミーウェ
ーハ1bの数を8枚、下ダミーウェーハ1bの数を12枚と
すると作業条件としてb=8、c=12を設定する。こ
の時、ダミーウェーハの数としては、b+c=5nであ
る条件を設ける。同様にモニタウェーハ1cの数を5枚
(この数は任意に設定)、モニタウェーハ間の製品用ウ
ェーハ1aの数を25枚(カセット7 のウェーハ収納枚数
が25枚であるので25枚を基準とするが5の倍数であ
れば任意の数でよい)等とすると、d=5、……、f=
25等を順次入力してゆく。
First, assuming that the operator inserts the dummy cassette 7b into the A1 position of the storage rack 24, the monitor cassette 7c into the B1 position, and the product cassette 7a into the remaining position, the input is input to the input section 70. As the operating condition a to be entered, the storage position of the storage rack 24 of each cassette is input. Further, assuming that the number of upper dummy wafers 1b is 8 and the number of lower dummy wafers 1b is 12, b = 8 and c = 12 are set as working conditions. At this time, the number of dummy wafers is set to b + c = 5n. Similarly, the number of monitor wafers 1c is 5 (this number is arbitrarily set), the number of product wafers 1a between monitor wafers is 25 (25 wafers are stored in the cassette 7, so 25 However, if it is a multiple of 5, it can be any number.) And so on, d = 5, ..., f =
Enter 25 etc. in sequence.

【0047】上記作業条件が入力設定され、スタートさ
れると、主制御部71はシーケンスプログラムに従って前
記各制御部へ動作命令を発する。
When the above working conditions are input and set and started, the main control unit 71 issues an operation command to each control unit according to a sequence program.

【0048】先ず、横行モータ制御部72、昇降モータ制
御部73が横行モータ25、昇降モータ23を駆動して、ハン
ドリングユニット22の位置を収納ラック24のA1位置に対
峙させる。ハンドリングユニット22の移動、収納ラック
24の移動はエンコーダ65、位置センサ64からのフィード
バック信号によりその完了が確認され、完了信号が横行
モータ制御部72、横行モータ制御部73より主制御部71へ
入力される。主制御部71はこの完了信号の入力を待っ
て、昇降モータ制御部73、回転モータ制御部74、スライ
ドモータ制御部75、電磁弁制御部76へウェーハ移載命令
を発し、これら制御部73,74,75,76 は昇降モータ23、回
転モータ30、スライドモータ44、電磁弁59,60,61,62,63
を適宜駆動する。尚、各モータ23,30,44の動きをエンコ
ーダ65,66,67で監視し、動作が完了した場合は完了信号
を主制御部71へ入力することは前記したと同様である。
又、ウェーハの移載動作そのものについては前述してあ
るのでここでは省略する。更に、モニタカセット7c、製
品用カセット7a、の収納位置へのハンドリングユニット
22の移動についても前記した動作の繰返えしであるので
省略し、以下はウェーハ1 のカセット7 からボート2 へ
の移載手順を主に説明する。
First, the traverse motor control unit 72 and the elevating motor control unit 73 drive the traverse motor 25 and the elevating motor 23 so that the position of the handling unit 22 faces the A1 position of the storage rack 24. Moving the handling unit 22, storage rack
Completion of the movement of 24 is confirmed by a feedback signal from the encoder 65 and the position sensor 64, and the completion signal is input from the traverse motor control unit 72 and the traverse motor control unit 73 to the main control unit 71. The main control unit 71 waits for the input of this completion signal, issues a wafer transfer command to the lifting motor control unit 73, the rotation motor control unit 74, the slide motor control unit 75, and the solenoid valve control unit 76, and these control units 73, 74,75,76 are lift motor 23, rotary motor 30, slide motor 44, solenoid valve 59,60,61,62,63
Are driven appropriately. The encoders 65, 66 and 67 monitor the movements of the motors 23, 30, and 44, and when the operation is completed, the completion signal is input to the main control unit 71 in the same manner as described above.
Since the wafer transfer operation itself has been described above, it is omitted here. Furthermore, a handling unit for storing the monitor cassette 7c and the product cassette 7a.
Since the movement of 22 is also a repetition of the above-mentioned operation, it is omitted, and the following mainly describes the procedure for transferring the wafer 1 from the cassette 7 to the boat 2.

【0049】ダミーウェーハ1bを上側に8枚挿入する場
合は、図5に示す如く、カセット7bに装填されているダ
ミーウェーハ1bを下側から5枚チャックし、ボート2 の
ウェーハ配列の最上部へ移載し(動作軌跡)、更にカ
セット7bより5枚チャックして、前の動作で挿入したダ
ミーウェーハ1bの下側に挿入する(動作軌跡)。次
に、ボート2 に挿入されたダミーウェーハ1bの下側の2
枚を上側から2枚のチャックプレート53, 54でチャック
し、ウェーハ配列の最下位置に移替える(動作軌跡
)。下側のダミーウェーハ1bの移載については、更に
5枚移載した状態(動作軌路)で一担中止し、上方の
5枚を未移載の状態としておく。
When inserting eight dummy wafers 1b on the upper side, as shown in FIG. 5, five dummy wafers 1b loaded in the cassette 7b are chucked from the lower side to the top of the wafer array of the boat 2. The wafer is transferred (movement locus), and further five chucks from the cassette 7b are chucked and inserted below the dummy wafer 1b inserted in the previous movement (movement locus). Next, the lower two of the dummy wafer 1b inserted in the boat 2
The two plates are chucked from the upper side by two chuck plates 53 and 54, and are moved to the lowermost position of the wafer array (operation locus). With respect to the transfer of the lower dummy wafer 1b, the transfer is stopped while the further five wafers have been transferred (operation track), and the upper five wafers are left untransferred.

【0050】以降のウェーハはウェーハの種類の如何に
拘らず、ボート2 の上側から下方に向って順次移載して
ゆく(図6中動作軌跡〜(10))。
Subsequent wafers are sequentially transferred from the upper side to the lower side of the boat 2 regardless of the type of wafer (operation locus- (10) in FIG. 6).

【0051】尚、モニタウェーハ1cの移載については、
モニタカセット7cに装填された下側モニタウェーハ1cか
ら順次1枚ずつ、ウェーハチャック29の最上位置チャッ
クプレート53によって吸引チャックして、図7の動作軌
跡〜で示す様にボート2に上側から挿入してゆく。
又、製品用ウェーハ1aの移載については、製品用カセッ
ト7aの上側よりウェーハ1aを5枚ずつチャックして、ボ
ート2 へ上側から下方に向って移載する(図8動作軌跡
〜)。尚、カセット7aに装填されているウェーハ1a
の数は25枚であり、移載の動作は5回で完了し、且端
数処理は行う必要がない。
Regarding transfer of the monitor wafer 1c,
The lower monitor wafer 1c loaded in the monitor cassette 7c is sucked and chucked one by one from the lower monitor wafer 1c by the uppermost chuck plate 53 of the wafer chuck 29, and is inserted into the boat 2 from the upper side as shown in the operation trajectory of FIG. Go on.
Regarding the transfer of the product wafers 1a, five wafers 1a are chucked from the upper side of the product cassette 7a and transferred to the boat 2 from the upper side to the lower side (Fig. 8 operation locus ~). The wafer 1a loaded in the cassette 7a
Is 25 sheets, the transfer operation is completed in 5 times, and it is not necessary to perform the fraction processing.

【0052】次に、上ダミーウェーハ1bの枚数が12
枚、下ダミーウェーハ1bの枚数が3で計15枚と、下ダ
ミーウェーハ1bの枚数が5>である場合の移載手順を図
9に於いて説明する。
Next, the number of upper dummy wafers 1b is 12
The transfer procedure when the number of the lower dummy wafers 1b is 3 and the total number of the lower dummy wafers 1b is 15 and the total number is 15> will be described with reference to FIG.

【0053】上ダミーウェーハの移載について、5枚ず
つ2回移載し、次に2枚だけチャックして移載する(動
作軌跡〜)。而して、下ダミーウェーハ3枚の移載
は製品用ウェーハ、モニタウェーハの移載が完了した後
最後に行う。この場合、ボート2 にはウェーハ配列の下
方にも充分空スペースがあるので、下ダミーウェーハ移
載の際、ウェーハチャック29とボート2 とが干渉するこ
とはない。
Regarding the transfer of the upper dummy wafer, transfer is performed twice for each five wafers, and then, only two wafers are transferred by chucking (operation locus-). Thus, the transfer of the three lower dummy wafers is performed last after the transfer of the product wafer and the monitor wafer is completed. In this case, since the boat 2 has a sufficient empty space below the wafer arrangement, the wafer chuck 29 and the boat 2 do not interfere with each other when the lower dummy wafer is transferred.

【0054】又、上ダミーウェーハの枚数が5>である
場合については図5に於いて説明した移載手順のうち動
作軌跡を省略したものとすればよい。更に、図5に於
ける動作軌跡については最初に行わず、製品ウェー
ハ、ダミーウェーハを移載する動作の最後に付加しても
よい。
When the number of upper dummy wafers is 5>, the operation locus may be omitted in the transfer procedure described with reference to FIG. Further, the operation locus in FIG. 5 may be added at the end of the operation of transferring the product wafer and the dummy wafer instead of first.

【0055】又、ボート2 から各カセット7a,7b,7cへの
移載については上記した手順の逆を行えばよいことは言
うまでもない。
Needless to say, the transfer of the boat 2 to the cassettes 7a, 7b, 7c may be carried out by reversing the above-mentioned procedure.

【0056】以上の作動説明で明らかな様に、カセット
に装填されるウェーハの数が25枚であることに着目し
て、ウェーハを5枚一度にチャックして移載する方式を
採用しており、且ダミーウェーハの数を上下合せて5×
n枚としてあるので、ダミーウェーハが5枚以下の移載
は(端数処理)は原則的には1回で完了して能率的であ
り、又モニタウェーハの移載については枚葉処理方式の
思想で行っているので如何なる配列にも対応でき、製品
用ウェーハの移載は5枚ずつ行っているので、端数処理
を行う必要なく迅速に行い得る。
As is clear from the above description of the operation, the method of chucking and transferring 5 wafers at a time is adopted, paying attention to the fact that the number of wafers loaded in the cassette is 25. And, the number of dummy wafers is 5 x
Since there are n wafers, transfer of 5 or less dummy wafers (fractional processing) is completed in principle in a single operation, which is efficient, and transfer of monitor wafers is a concept of single wafer processing method. Since it can be used in any arrangement, since the transfer of the product wafers is performed every five wafers, it can be performed quickly without the need for fractional processing.

【0057】次に、ウェーハカセットは6"ウェーハで3/
16インチ、8"ウェーハで1/4 インチと収納ピッチが異な
る。従って、前記ウェーハチャック29に図10に示すピ
ッチ可変機構を付加すればよい。
Next, the wafer cassette is 3 "for 6" wafers.
The storage pitch is different from 1/4 inch for 16 inch and 8 "wafers. Therefore, the pitch varying mechanism shown in FIG.

【0058】ガイド軸80にスライド基板81,82,84,85 を
摺動自在に嵌合させ、支持基板83をガイド軸80に固着す
る。前記したチャックプレート53,54,55,56,57はスライ
ド基板81,82 、支持基板83、スライド基板84,85 に取付
けてある。
The slide substrates 81, 82, 84, 85 are slidably fitted to the guide shaft 80, and the supporting substrate 83 is fixed to the guide shaft 80. The chuck plates 53, 54, 55, 56, 57 described above are attached to the slide substrates 81, 82, the support substrate 83, and the slide substrates 84, 85.

【0059】スクリューシャフト86を前記スライド基板
81, 82,84,85を貫通させ回転自在に設け、該スクリュー
シャフト86はピッチ調整モータ87によって回転される様
になっており、該モータ87の回転量はエンコーダ88で検
出される。
The screw shaft 86 is attached to the slide substrate.
81, 82, 84, 85 are rotatably provided so that the screw shaft 86 is rotated by a pitch adjusting motor 87, and the rotation amount of the motor 87 is detected by an encoder 88.

【0060】該スクリューシャフト86と前記支持基板83
とは回転自在に嵌合し、前記スライド基板82とスクリュ
ーシャフト86とは第1螺子部89a で螺合し、スライド基
板81とスクリューシャフト86とは第2螺子部90a で螺合
し、更にスクリューシャフト86とスライド基板84とは第
3螺子部89b で螺合し、スクリューシャフト86とスライ
ド基板85とは第4螺子部90b で螺合している。而して、
第1螺子部89a と第3螺子部89b とは同一ピッチで左右
逆螺子、第2螺子部90a と第4螺子部90b とは左右逆螺
子で第1、第3螺子部89a,89b に対し2倍のピッチを有
しており、前記ピッチ調整モータ89を回転することによ
り、チャックプレート53,54,55,56,57が同一間隔の関係
を保って近接離反する様になっている。
The screw shaft 86 and the supporting substrate 83
Is rotatably fitted, the slide base plate 82 and the screw shaft 86 are screwed together at the first screw portion 89a, the slide base plate 81 and the screw shaft 86 are screwed together at the second screw portion 90a, and the screw The shaft 86 and the slide base plate 84 are screwed together by the third screw portion 89b, and the screw shaft 86 and the slide base plate 85 are screwed together by the fourth screw portion 90b. Therefore,
The 1st screw part 89a and the 3rd screw part 89b are a right and left reverse screw with the same pitch, and the 2nd screw part 90a and the 4th screw part 90b are a left and right reverse screw, and it is 2 with respect to the 1st, 3rd screw parts 89a, 89b. It has a double pitch, and by rotating the pitch adjusting motor 89, the chuck plates 53, 54, 55, 56, 57 are moved toward and away from each other while maintaining the same interval relationship.

【0061】前記ピッチ調整モータ89を駆動制御するピ
ッチ調整モータ制御部(図示せず)を前記主制御部71か
らの動作命令により動作させる様にし、且前記入力部70
に設定入力する作業条件の一にピッチ変更を付加すれ
ば、カセットとボート間にウェーハ収納ピッチの相違が
あっても対応することができる。
A pitch adjusting motor control unit (not shown) for driving and controlling the pitch adjusting motor 89 is operated by an operation command from the main control unit 71, and the input unit 70 is operated.
If a pitch change is added to one of the working conditions set and input to, it is possible to cope with a difference in wafer storage pitch between the cassette and the boat.

【0062】尚、上記した制御装置、制御作動につい
て、図12に示した如くカセットを平面的に配設した拡
散装置にも実施可能であることは勿論である。
It is needless to say that the control device and the control operation described above can be applied to a diffusion device having a cassette arranged in a plane as shown in FIG.

【0063】[0063]

【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば下記の如
く優れた効果を発揮する。
As described above, according to the present invention, the following excellent effects are exhibited.

【0064】(i) 5枚づつ移載するので移載能率がよ
い。
(I) The transfer efficiency is good because the transfer is performed every 5 sheets.

【0065】(ii) カセットのウェーハ収納枚数が25
であるので製品用ウェーハの移載については端数処理を
行う必要がなく、ダミーウェーハの移載についても最少
限の動きで処理できる。
(Ii) The number of wafers stored in the cassette is 25
Therefore, it is not necessary to carry out a fractional process for the transfer of the product wafer, and the transfer of the dummy wafer can be processed with the minimum movement.

【0066】(iii) 最少限の動きで処理可能なことから
シーケンスプログラムが簡単となり、使用するメモリー
等の電子部品の容量が少なくてすみ安価となる。
(Iii) Since the sequence program can be processed with the minimum number of movements, the sequence program can be simplified, the capacity of the electronic parts such as the memory to be used can be small, and the cost can be reduced.

【0067】(iv) 端数処理が行え、移載時のウェーハ
を所望の配列にし得るところから、予め所定の配列にし
てカセットに装填する必要がなく、作業者の負担を軽減
し得ると共に誤操作による損失を低減でき歩留りを向上
させ得る。
(Iv) Since the fractional processing can be performed and the wafers at the time of transfer can be arranged in a desired arrangement, it is not necessary to arrange the wafers in a predetermined arrangement in advance in the cassette, and the operator's burden can be reduced and erroneous operation can be performed. The loss can be reduced and the yield can be improved.

【0068】(v) 入力部からの作業条件を変えること
で容易にウェーハの配列を変更できるので、顧客の多様
化した要求に充分対応でき製品価値を向上させ得る。
(V) Since the wafer arrangement can be easily changed by changing the working conditions from the input section, it is possible to sufficiently meet the diversified requirements of the customer and improve the product value.

【0069】(vi) チャックプレートのピッチが可変で
あるので、カセットとボートとの間にウェーハ収納ピッ
チの相違があっても円滑にウェーハの移載を行うことが
できる。
(Vi) Since the chuck plate pitch is variable, wafers can be transferred smoothly even if there is a difference in wafer storage pitch between the cassette and the boat.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る移載装置を具備した縦型CVD拡
散装置の概略斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view of a vertical CVD diffusion device equipped with a transfer device according to the present invention.

【図2】同前外観図である。FIG. 2 is an external view of the same.

【図3】ハンドリングユニットの分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view of a handling unit.

【図4】本発明に係る制御装置の概略ブロック図であ
る。
FIG. 4 is a schematic block diagram of a control device according to the present invention.

【図5】移載動作説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a transfer operation.

【図6】移載動作説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a transfer operation.

【図7】移載動作説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram of a transfer operation.

【図8】移載動作説明図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a transfer operation.

【図9】移載動作説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of a transfer operation.

【図10】ウェーハチャックの他の例を示す説明図であ
る。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing another example of the wafer chuck.

【図11】ボートに対するウェーハ配列の一例を示す図
である。
FIG. 11 is a diagram showing an example of a wafer array for a boat.

【図12】ウェーハ移載装置の従来例の説明図である。FIG. 12 is an explanatory diagram of a conventional example of a wafer transfer device.

【図13】同前他の従来例の説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram of another conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1a,1b,1c ウェーハ 2 ボート 7,7a,7b,7c カセット 12 拡散炉 17 ロード・アンロードエレベータ 18 移載用エレベータ 23 昇降モータ 25 横行モータ 28 スライド機構 29 ウェーハチャック 30 回転モータ 53,54,55,56,57 チャックプレート 59,60,61,62,63 電磁弁 70 入力部 71 主制御部 73 昇降モータ制御部 74 回転モータ制御部 75 スライドモータ制御部 76 電磁弁制御部 1,1a, 1b, 1c wafer Two boats 7,7a, 7b, 7c cassette 12 Diffusion furnace 17 Road / unload elevator 18 Transfer elevator 23 Lifting motor 25 traverse motor 28 Slide mechanism 29 Wafer chuck 30 rotation motor 53,54,55,56,57 Chuck plate 59,60,61,62,63 Solenoid valve 70 Input section 71 Main control unit 73 Lifting motor controller 74 Rotary motor controller 75 Slide motor controller 76 Solenoid valve controller

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 狩野 利一 東京都中野区東中野三丁目14番20号 株 式会社日立国際電気内 (72)発明者 遠目塚 幸二 東京都中野区東中野三丁目14番20号 株 式会社日立国際電気内 (56)参考文献 特開 平2−297925(JP,A) 特開 昭63−24615(JP,A) 特開 昭49−69073(JP,A) 特開 昭63−155632(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 B65G 49/07 C23C 16/44 H01L 21/205 H01L 21/22 511 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Riichi Kano 3-14-20 Higashi-Nakano, Nakano-ku, Tokyo Inside Hitachi Kokusai Electric Co., Ltd. No. 20 Within Hitachi Kokusai Electric Co., Ltd. (56) Reference JP-A-2-297925 (JP, A) JP-A 63-24615 (JP, A) JP-A 49-69073 (JP, A) JP-A 63-155632 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/68 B65G 49/07 C23C 16/44 H01L 21/205 H01L 21/22 511

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 水平姿勢のウェーハを上下方向に多段に
収納するボートと、X枚(但し1<Y<X)のウェーハ
を収納したカセットとの間で、ウェーハを移載する1つ
の移載装置を有し、更に該移載装置はウェーハを保持す
るY枚のプレートを有し、ウェーハを該Y枚のプレート
上に各々載置した状態で同時に移載可能な半導体製造装
置であって、製品ウェーハ、ダミーウェーハについて
は、Z枚(但し1<Z<Y)のウェーハを一度に移載す
る際に、前記Y枚のプレートの内、Z枚のプレートを使
用し、モニタウェーハについては前記Y枚のプレートの
内の1枚のプレートを使用して1枚ずつ移載する制御部
を有することを特徴とする半導体製造装置。
1. A single transfer for transferring wafers between a boat that stores horizontally oriented wafers in multiple stages in the vertical direction and a cassette that stores X (where 1 <Y <X) wafers. A semiconductor manufacturing apparatus having a Y-plate for holding wafers and capable of simultaneously transferring the wafers on the Y-plates. For product wafers and dummy wafers, when transferring Z (1 <Z <Y) wafers at a time, use Z of the Y plates , and monitor wafers as described above. Of Y plates
A semiconductor manufacturing apparatus having a control unit that transfers one by one using one of the plates .
【請求項2】 水平姿勢のウェーハを上下方向に多段に
収納するボートと、X枚(但し1<Y<X)のウェーハ
を収納したカセットとの間で、ウェーハを移載する1つ
の移載装置を有し、更に該移載装置はウェーハを保持す
るY枚のプレートを有し、ウェーハを該Y枚のプレート
上に各々載置した状態で同時に移載可能な半導体製造装
置であって、製品ウェーハ、ダミーウェーハについて
は、Z枚(但し1<Z<Y)のウェーハを一度に移載す
る際に、前記Y枚のプレートの内、Z枚のプレートを使
用し、モニタウェーハについては前記Y枚のプレートの
内の1枚のプレートを使用して1枚ずつ移載することを
特徴とする半導体製造装置に於けるウェーハ移載方法。
2. One transfer for transferring wafers between a boat that stores wafers in a horizontal posture in multiple stages in the vertical direction and a cassette that stores X (1 <Y <X) wafers. A semiconductor manufacturing apparatus having a Y-plate for holding wafers and capable of simultaneously transferring the wafers on the Y-plates. For product wafers and dummy wafers, when transferring Z (1 <Z <Y) wafers at a time, use Z of the Y plates , and monitor wafers as described above. Of Y plates
A wafer transfer method in a semiconductor manufacturing apparatus, characterized in that one of the plates is used to transfer one by one .
【請求項3】 水平姿勢のウェーハを上下方向に多段に
収納するボートと、X枚(但し1<Y<X)のウェーハ
を収納したカセットとの間で、ウェーハを移載する1つ
の移載装置を有し、更に該移載装置はウェーハを保持す
るY枚のプレートを有し、ウェーハを該Y枚のプレート
上に各々載置した状態で同時に移載可能な半導体製造装
置であって、製品ウェーハ、ダミーウェーハについて
は、Z枚(但し1<Z<Y)のウェーハを一度に移載す
る際に、前記Y枚のプレートの内、Z枚のプレートを使
用し、モニタウェーハについては前記Y枚のプレートの
内の1枚のプレートを使用して1枚ずつ移載することを
特徴とする半導体素子の製造方法。
3. A single transfer for transferring wafers between a boat for accommodating horizontally oriented wafers in multiple stages in the vertical direction and a cassette for accommodating X (1 <Y <X) wafers. A semiconductor manufacturing apparatus having a Y-plate for holding wafers and capable of simultaneously transferring the wafers on the Y-plates. For product wafers and dummy wafers, when transferring Z (1 <Z <Y) wafers at a time, use Z of the Y plates , and monitor wafers as described above. Of Y plates
A method of manufacturing a semiconductor element, characterized in that one of the plates is used to transfer each one .
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