JP3438977B2 - Film forming method using plasma CVD device - Google Patents

Film forming method using plasma CVD device

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JP3438977B2 JP33623894A JP33623894A JP3438977B2 JP 3438977 B2 JP3438977 B2 JP 3438977B2 JP 33623894 A JP33623894 A JP 33623894A JP 33623894 A JP33623894 A JP 33623894A JP 3438977 B2 JP3438977 B2 JP 3438977B2
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慶一 蔵本
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精一 木山
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基板上に硬質炭素被膜
等の各種被膜を形成するプラズマCVD装置を用いた被
膜形成方法に関するものである。
The present invention relates to relates to a film forming method using the Help plasma CVD apparatus to form various film, such as a hard carbon film on the substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電気カミソリの刃、半導体材料、
磁気ヘッド、圧電材料、或いは各種機器の摺動部等の特
性向上や表面保護を図るべく、これらの表面に、各種資
材からなる被膜を形成することが行なわれている。例え
ば、電気カミソリの刃の製造工程においては、ECR
(電子サイクロトロン共鳴)プラズマCVD(chemical va
por deposition)装置を用いて、Si基板の表面に硬質
炭素被膜(ダイヤモンド状被膜)が形成される。
2. Description of the Related Art Conventionally, electric razor blades, semiconductor materials,
In order to improve the characteristics and protect the surface of magnetic heads, piezoelectric materials, or sliding parts of various devices, coatings made of various materials are formed on these surfaces. For example, in the manufacturing process of electric razor blades, ECR
(Electron cyclotron resonance) Plasma CVD (chemical va
A hard carbon film (diamond-like film) is formed on the surface of the Si substrate by using a por deposition apparatus.

【0003】図3は、従来のECRプラズマCVD装置
の構成を表わしている(特開平3-175620号)。該ECRプ
ラズマCVD装置においては、真空チャンバー(10)の内
部に、プラズマ発生室(4)と、基板(11)が設置されるべ
き反応室とが形成され、プラズマ発生室(4)には、導波
管(2)を介してマイクロ波発生装置(1)が接続されてい
る。導波管(2)とプラズマ発生室(4)の接続部にはマイ
クロ波導入窓(3)が設けられる。プラズマ発生室(4)に
は、プラズマ発生室(4)にアルゴン(Ar)等の放電ガス
を導入するための放電ガス導入管(5)が接続されてい
る。又、プラズマ発生室(4)を包囲して、プラズマ磁界
発生装置(6)が設けられる。真空チャンバー(10)内の反
応室には、基板ホルダー(12)が設置されると共に、反応
ガス導入管(14)が接続されている。基板ホルダー(12)に
は、高周波電源(13)が接続されている。
FIG. 3 shows the configuration of a conventional ECR plasma CVD apparatus (Japanese Patent Laid-Open No. 3-175620). In the ECR plasma CVD apparatus, a plasma generation chamber (4) and a reaction chamber in which the substrate (11) is to be installed are formed inside the vacuum chamber (10), and the plasma generation chamber (4) includes The microwave generator (1) is connected via the waveguide (2). A microwave introduction window (3) is provided at the connection between the waveguide (2) and the plasma generation chamber (4). A discharge gas introduction pipe (5) for introducing a discharge gas such as argon (Ar) into the plasma generation chamber (4) is connected to the plasma generation chamber (4). Further, a plasma magnetic field generator (6) is provided so as to surround the plasma generation chamber (4). A substrate holder (12) is installed in the reaction chamber in the vacuum chamber (10), and a reaction gas introduction pipe (14) is connected to the substrate holder (12). A high frequency power source (13) is connected to the substrate holder (12).

【0004】マイクロ波発生装置(1)からのマイクロ波
は、導波管(2)、マイクロ波導入窓(3)を経て、プラズ
マ発生室(4)に導かれる。マイクロ波による高周波磁界
とプラズマ磁界発生装置(6)からの磁界の作用によっ
て、プラズマ発生室(4)には高密度のプラズマが形成さ
れる。このプラズマは、プラズマ磁界発生装置(6)によ
る発散磁界に沿って、反応室に導かれる。
The microwave from the microwave generator (1) is guided to the plasma generation chamber (4) through the waveguide (2) and the microwave introduction window (3). High-density plasma is formed in the plasma generation chamber (4) by the action of the high frequency magnetic field generated by the microwave and the magnetic field from the plasma magnetic field generator (6). This plasma is guided to the reaction chamber along the divergent magnetic field generated by the plasma magnetic field generator (6).

【0005】反応室では、反応ガス導入管(14)から導入
された原料ガスとしてのメタン(CH4)ガスがプラズマ
の作用によって分解され、炭素Cが基板ホルダー(12)上
の基板(11)の表面に堆積するのである。ここで、基板ホ
ルダー(12)には高周波電源(13)によって所定の高周波電
圧(RF電圧)が印加されて、基板(11)には負の自己バイ
アスが発生しており、所謂バイアスプラズマCVD法が
実施される。即ち、プラズマ中におけるイオンの移動速
度は電子に比べて遅いため、RF電圧印加中の電位振れ
に対して、電子は追随するが、イオンは追随できない。
従って、基板(11)にRF電圧を印加することにより、多
くの電子が基板(11)に向けて放射され、基板(11)に負の
自己バイアスが発生する。この結果、プラズマ中の正イ
オンが基板(11)側に引き込まれ、図4に示す如く、基板
(11)上にはダイヤモンド状被膜(15)が形成されるのであ
る。
In the reaction chamber, methane (CH 4 ) gas as a source gas introduced from the reaction gas introduction pipe (14) is decomposed by the action of plasma, and carbon C is deposited on the substrate (11) on the substrate holder (12). Is deposited on the surface of. Here, a predetermined high-frequency voltage (RF voltage) is applied to the substrate holder (12) by a high-frequency power source (13), and a negative self-bias is generated in the substrate (11), which is a so-called bias plasma CVD method. Is carried out. That is, since the moving speed of ions in plasma is slower than that of electrons, the electrons can follow the potential fluctuation during the application of the RF voltage, but the ions cannot.
Therefore, when an RF voltage is applied to the substrate (11), many electrons are emitted toward the substrate (11), and a negative self-bias is generated in the substrate (11). As a result, positive ions in the plasma are drawn to the substrate (11) side, and as shown in FIG.
A diamond-like coating (15) is formed on (11).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のEC
RプラズマCVD装置においては、プラズマの作用によ
って生じたイオン、ラジカル等の被膜形成種の多くは基
板(11)上に堆積して、被膜が形成されるが、被膜形成種
の一部は、プラズマ発生室(4)の内壁にも堆積して、不
要な被膜が形成されることになる。従って、被膜形成種
の全てが本来の被膜形成に寄与せず、基板(11)上の成膜
速度が低下する問題があった。又、長時間のプロセスに
おいては、プラズマ発生室(4)の内壁に形成された被膜
が剥離し、基板上の被膜に悪影響を及ぼす問題があっ
た。
However, the conventional EC
In the R plasma CVD apparatus, most of film forming species such as ions and radicals generated by the action of plasma are deposited on the substrate (11) to form a film. Unnecessary film is formed by depositing on the inner wall of the generation chamber (4). Therefore, all of the film-forming species do not contribute to the original film formation, and there is a problem that the film formation rate on the substrate (11) decreases. Further, in a long-time process, the coating film formed on the inner wall of the plasma generating chamber (4) peels off, which adversely affects the coating film on the substrate.

【0007】本発明の目的は、プラズマの作用によって
生じた被膜形成種の内、従来よりも多くの被膜形成種を
基板上に堆積させて、品質の良好な被膜を高い成膜速度
で形成することの出来るプラズマCVD装置を用いた被
膜形成方法を提供することである。
An object of the present invention is to deposit more film forming species than the conventional one among film forming species generated by the action of plasma on a substrate to form a film of good quality at a high film forming rate. film forming method using the plasma CVD equipment which may be to provide.

【0008】[0008]

【課題を解決する為の手段】本発明に用いられるプラズ
マCVD装置は、プラズマ発生室と、プラズマ発生室内
にプラズマを発生させるためのプラズマ発生手段と、プ
ラズマ発生室に接続して形成された反応室と、反応室内
に設けられた基板ホルダーと、反応室内に反応ガスを導
入するための反応ガス導入手段を具えると共に、プラズ
マ発生室内には、プラズマ発生室の内周壁に沿う筒状の
電極が設置され、該筒状電極には、筒状電極に直流電圧
又は高周波電圧を印加するための電源が接続されてい
る。
A plasma CVD apparatus used in the present invention is connected to a plasma generating chamber, plasma generating means for generating plasma in the plasma generating chamber, and the plasma generating chamber. The reaction chamber formed by the above, the substrate holder provided in the reaction chamber, and the reaction gas introducing means for introducing the reaction gas into the reaction chamber are provided, and in the plasma generation chamber, the inner peripheral wall of the plasma generation chamber is provided. A cylindrical electrode is installed along the line, and a power source for applying a DC voltage or a high frequency voltage to the cylindrical electrode is connected to the cylindrical electrode.

【0009】具体的構成において、基板ホルダーには、
基板に発生する自己バイアスが負となる様に基板ホルダ
ーに高周波電圧を印加するための第2の電源が接続され
ている。
In a concrete configuration, the substrate holder is
A second power supply for applying a high frequency voltage is connected to the substrate holder so that the self-bias generated on the substrate becomes negative.

【0010】又、プラズマ発生手段は、電子サイクロト
ロン共鳴プラズマ源から構成される。
The plasma generation means is composed of an electron cyclotron resonance plasma source.

【0011】更に又、筒状電極は、電子サイクロトロン
共鳴プラズマ源による電子サイクロトロン共鳴点を包囲
する位置に設置されている。
Furthermore, the cylindrical electrode is installed at a position surrounding the electron cyclotron resonance point of the electron cyclotron resonance plasma source.

【0012】本発明に係る被膜形成方法は、上記本発明
のプラズマCVD装置において、プラズマ発生室内にプ
ラズマを発生させた状態で、プラズマ発生室内の筒状電
極に、直流電圧又は高周波電圧を印加するものである。
In the method for forming a coating film according to the present invention, in the plasma CVD apparatus of the present invention, a DC voltage or a high frequency voltage is applied to the cylindrical electrode inside the plasma generating chamber while the plasma is being generated inside the plasma generating chamber. It is a thing.

【0013】具体的には、筒状電極は、基板上に形成す
べき被膜と密着性の低い材料を含む資材から形成されて
おり、基板上に被膜を形成しつつ、筒状電極に直流電圧
又は高周波電圧を印加することによって、筒状電極の内
面に付着した被膜をスパッタ除去する。
Specifically, the tubular electrode is made of a material containing a material having low adhesion to the coating film to be formed on the substrate, and the DC voltage is applied to the tubular electrode while forming the coating film on the substrate. Alternatively, by applying a high frequency voltage, the coating film attached to the inner surface of the cylindrical electrode is removed by sputtering.

【0014】この場合、基板上に形成すべき被膜は硬質
炭素被膜であって、前記密着性の低い材料は、ステンレ
ス鋼、Fe、Al、Cu、或いはTiである。
In this case, the film to be formed on the substrate is a hard carbon film, and the material having low adhesion is stainless steel, Fe, Al, Cu, or Ti.

【0015】又、他の具体的方法において、筒状電極
は、基板上に形成すべき被膜と密着性の高い材料を含む
資材から形成されており、基板上に被膜を形成しつつ、
或いは被膜形成後、筒状電極に直流電圧又は高周波電圧
を印加することによって、筒状電極の内面に付着した被
膜をスパッタ除去する。
In another specific method, the cylindrical electrode is formed of a material containing a material having high adhesion to the coating film to be formed on the substrate, and while forming the coating film on the substrate,
Alternatively, after forming the coating film, a DC voltage or a high frequency voltage is applied to the tubular electrode to remove the coating film deposited on the inner surface of the tubular electrode by sputtering.

【0016】この場合、基板上に形成すべき被膜は硬質
炭素被膜であって、前記密着性の高い材料は、Si、
C、Ru、或いはGeである。
In this case, the film to be formed on the substrate is a hard carbon film, and the material having high adhesion is Si,
C, Ru, or Ge.

【0017】更に他の具体的方法において、筒状電極の
資材は、基板上に形成すべき被膜の構成元素の内、少な
くとも1つの元素を含んでおり、基板上に被膜を形成し
つつ、筒状電極に直流電圧又は高周波電圧を印加するこ
とによって、筒状電極の内面をスパッタし、筒状電極の
資材を基板上に堆積させる。
In still another specific method, the material of the tubular electrode contains at least one element among the constituent elements of the film to be formed on the substrate, and the tube is formed while forming the film on the substrate. By applying a DC voltage or a high frequency voltage to the cylindrical electrode, the inner surface of the cylindrical electrode is sputtered and the material of the cylindrical electrode is deposited on the substrate.

【0018】[0018]

【作用】本発明に用いられるプラズマCVD装置におい
ては、プラズマ発生室、プラズマ発生手段、反応室、基
板ホルダー、及び反応ガス導入手段によって、従来装置
と同様の被膜形成装置が構成され、基板ホルダー上の基
板に被膜を形成出来る。ここで、プラズマ発生室内の筒
状電極に電圧を印加しない状態では、従来装置ではプラ
ズマ発生室の内壁に堆積していた被膜形成種が、本発明
では筒状電極の内周面に堆積することになる。
In the plasma CVD apparatus used in the present invention, the plasma generating chamber, the plasma generating means, the reaction chamber, the substrate holder, and the reaction gas introducing means constitute a film forming apparatus similar to the conventional apparatus, and the film forming apparatus is mounted on the substrate holder. A coating can be formed on the substrate. Here, in a state in which a voltage is not applied to the tubular electrode in the plasma generation chamber, the film-forming species that had been deposited on the inner wall of the plasma generation chamber in the conventional apparatus should be deposited on the inner peripheral surface of the tubular electrode in the present invention. become.

【0019】しかし、基板上に被膜を形成する過程で、
或いは被膜形成後に、プラズマ発生室内にプラズマを発
生させた状態で、筒状電極に直流電圧或いは高周波電圧
を印加することによって、プラズマ中の陽イオンが筒状
電極の内周面へスパッタされ、筒状電極内周面の被膜が
スパッタ除去される。この結果、筒状電極内周面の被膜
形成は、可及的に抑制されると共に、スパッタされた被
膜形成種が基板表面に堆積することになる。尚、プラズ
マ発生手段のパワーが比較的低い場合には、筒状電極内
周面に微小な厚さの被膜が形成されることになるが、被
膜の厚さが極く薄い場合には、剥離の虞れはない。従っ
て、長時間のプロセスを経ても、筒状電極内周面の被膜
の剥離に起因する問題は発生せず、成膜に寄与する被膜
形成種が増加して、基板上の成膜速度が向上する。
However, in the process of forming a film on the substrate,
Alternatively, after the film is formed, by applying a DC voltage or a high frequency voltage to the cylindrical electrode in a state where plasma is generated in the plasma generation chamber, cations in the plasma are sputtered onto the inner peripheral surface of the cylindrical electrode, The coating on the inner peripheral surface of the electrode strip is removed by sputtering. As a result, film formation on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode is suppressed as much as possible, and sputtered film forming species are deposited on the substrate surface. Incidentally, when the power of the plasma generating means is relatively low, a coating film having a minute thickness is formed on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode, but when the coating film is extremely thin, peeling occurs. There is no fear of. Therefore, even after a long-time process, the problem caused by the peeling of the coating on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode does not occur, the number of coating formation species that contributes to the deposition increases, and the deposition rate on the substrate improves. To do.

【0020】具体的構成において、基板ホルダーに対し
て、基板に発生する自己バイアスが負となる様に高周波
電圧を印加することによって、バイアスプラズマCVD
法が実施され、例えばダイヤモンド状被膜の形成が可能
となる。
In a specific configuration, bias plasma CVD is performed by applying a high frequency voltage to the substrate holder so that the self-bias generated in the substrate becomes negative.
The method is carried out, allowing for example the formation of a diamond-like coating.

【0021】又、プラズマ発生手段として、電子サイク
ロトロン共鳴プラズマ源を採用すれば、プラズマの密度
を更に上げることが出来、低温で高品質の被膜を形成す
ることが出来る。
If an electron cyclotron resonance plasma source is used as the plasma generating means, the plasma density can be further increased and a high quality coating can be formed at a low temperature.

【0022】更に又、筒状電極を、電子サイクロトロン
共鳴プラズマ源による電子サイクロトロン共鳴点を包囲
する位置に設置すれば、筒状電極内周面の被膜に対し
て、密度の高いプラズマによる効果的なスパッタ除去が
行なわれる。
Furthermore, if the cylindrical electrode is installed at a position surrounding the electron cyclotron resonance point of the electron cyclotron resonance plasma source, the film on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode can be effectively treated by the high-density plasma. Sputter removal is performed.

【0023】具体的な被膜形成方法において、筒状電極
を、基板上に形成すべき被膜と密着性の低い材料を含む
資材から形成した場合には、筒状電極内周面に堆積した
被膜の厚さがある限度を越えると、剥離の虞れがある
が、基板上の薄膜形成と同時に、筒状電極内面の被膜を
スパッタ除去することによって、該被膜の厚さを限度以
下に抑え、剥離の発生を未然に防止することが出来る。
In a specific coating film forming method, when the tubular electrode is made of a material containing a material having low adhesion to the coating film to be formed on the substrate, the coating film deposited on the inner peripheral surface of the tubular electrode is If the thickness exceeds a certain limit, peeling may occur, but at the same time when the thin film is formed on the substrate, the coating on the inner surface of the cylindrical electrode is removed by sputtering to keep the thickness of the coating below the limit and peeling. It is possible to prevent the occurrence of.

【0024】又、筒状電極を、基板上に形成すべき被膜
と密着性の高い材料を含む資材から形成した場合には、
被膜が比較的厚くなっても剥離の虞れはないから、筒状
電極内周面の被膜に対するスパッタ除去は、基板上の被
膜形成の終了後に行なうことが可能である。
When the tubular electrode is made of a material containing a material having high adhesion to the film to be formed on the substrate,
Since there is no risk of peeling even if the coating becomes relatively thick, it is possible to remove the coating on the inner peripheral surface of the tubular electrode by sputtering after the formation of the coating on the substrate is completed.

【0025】更に他の具体的方法において、筒状電極
を、基板上に形成すべき被膜の構成元素の内、少なくと
も1つの元素を含んだ資材から形成した場合、プラズマ
発生手段のパワーをある程度まで上げることによって、
筒状電極内周面に対する被膜の形成は完全に阻止するこ
とが出来、更には、筒状電極自体をターゲットとするス
パッタによって、筒状電極の資材を基板上に堆積させる
ことが出来る。これによって、基板上の被膜に筒状電極
の構成元素を含めることが出来、被膜の特性改善が可能
となる。
In still another specific method, when the cylindrical electrode is formed from a material containing at least one of the constituent elements of the coating film to be formed on the substrate, the power of the plasma generating means is to some extent. By raising
The formation of a coating on the inner peripheral surface of the tubular electrode can be completely prevented, and furthermore, the material for the tubular electrode can be deposited on the substrate by sputtering with the tubular electrode itself as the target. As a result, the constituent elements of the tubular electrode can be included in the coating on the substrate, and the characteristics of the coating can be improved.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明に係るプラズマCVD装置を用い
た被膜形成方法によれば、プラズマの作用によって生じ
た被膜形成種の内、従来よりも多くの被膜形成種を基板
上に堆積させて、品質の良好な被膜を高い成膜速度で形
成することが出来る。
According to the film forming method using the plasma CVD equipment according to the present invention, among the film forming species generated by the action of the plasma, and the number of film forming species than conventional deposited on the substrate A high quality coating can be formed at a high deposition rate.

【0027】[0027]

【実施例】以下、本発明の一実施例につき、図面に沿っ
て詳述する。装置構成 本発明に用いられるプラズマCVD装置においては、図
1に示す如く、真空チャンバー(10)の内部に、プラズマ
発生室(4)と、基板(11)が設置されるべき反応室とが形
成され、プラズマ発生室(4)には、導波管(2)を介して
マイクロ波発生装置(1)が接続されている。導波管(2)
とプラズマ発生室(4)の接続部にはマイクロ波導入窓
(3)が設けられる。プラズマ発生室(4)には、プラズマ
発生室(4)にアルゴン(Ar)等の放電ガスを導入するた
めの放電ガス導入管(5)が接続されている。又、プラズ
マ発生室(4)を包囲して、プラズマ磁界発生装置(6)が
設けられる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. Apparatus Configuration In the plasma CVD apparatus used in the present invention, as shown in FIG. 1, a plasma generating chamber (4) and a reaction chamber in which a substrate (11) is to be installed are formed inside a vacuum chamber (10). The microwave generation device (1) is connected to the plasma generation chamber (4) through the waveguide (2). Waveguide (2)
A microwave introduction window at the connection between the plasma generation chamber and the plasma generation chamber (4)
(3) is provided. A discharge gas introduction pipe (5) for introducing a discharge gas such as argon (Ar) into the plasma generation chamber (4) is connected to the plasma generation chamber (4). Further, a plasma magnetic field generator (6) is provided so as to surround the plasma generation chamber (4).

【0028】上述の構成は、従来装置と同様であるが、
本発明においては更に、プラズマ発生室(4)の内部に、
円筒状の絶縁体(8)を介して、円筒状の電極(7)が取り
付けられ、該筒状電極(7)には、筒状電極(7)に13.
56MHzの高周波電圧を印加するための高周波電源
(9)が接続されている。
The above-mentioned configuration is similar to that of the conventional device,
In the present invention, further, inside the plasma generation chamber (4),
A cylindrical electrode (7) is attached through a cylindrical insulator (8), and the cylindrical electrode (7) is attached to the cylindrical electrode (7).
High frequency power supply for applying high frequency voltage of 56MHz
(9) is connected.

【0029】以下、上記プラズマCVD装置を用いて、
Si基板上に硬質炭素被膜であるダイヤモンド状被膜を
形成する方法について、複数の実施例に沿って具体的に
説明する。
Hereinafter, using the above plasma CVD apparatus,
A method of forming a diamond-like coating which is a hard carbon coating on a Si substrate will be specifically described with reference to a plurality of examples.

【0030】第1実施例 本実施例では、筒状電極(7)は、ダイヤモンド状被膜と
の密着性が低いステンレス鋼を用いて形成する。この場
合、筒状電極(7)内周面に堆積する被膜の剥離を防止す
るために、基板(11)に対する成膜と同時に、筒状電極
(7)内周面の被膜の除去を行なう。
First Embodiment In this embodiment, the tubular electrode (7) is formed of stainless steel which has low adhesion to the diamond film. In this case, in order to prevent the coating film deposited on the inner peripheral surface of the tubular electrode (7) from peeling off, the tubular electrode is formed at the same time as the film formation on the substrate (11).
(7) The coating on the inner peripheral surface is removed.

【0031】先ず、基板ホルダー(12)上に基板(11)を取
り付け、真空チャンバー(10)の内部を10-5〜10-7
orrに排気する。次に、放電ガス導入管(5)からAr
ガスを5.7×10-4Torrで供給すると共に、マイ
クロ波発生装置(1)から2.45GHz、300Wのマ
イクロ波を供給して、プラズマ発生室(4)内に形成され
たArプラズマを基板(11)表面に放射する。これと同時
に、ステンレス鋼製の筒状電極(7)に対して、高周波電
源(9)からRF電圧を印加して、−400Vの自己バイ
アスを発生させる。
First, the substrate (11) is mounted on the substrate holder (12), and the inside of the vacuum chamber (10) is set to 10 -5 to 10 -7 T.
Exhaust to orr. Next, from the discharge gas introduction pipe (5), Ar
The gas is supplied at 5.7 × 10 −4 Torr and the microwave of 2.45 GHz and 300 W is supplied from the microwave generator (1) to generate the Ar plasma formed in the plasma generation chamber (4). It radiates to the surface of the substrate (11). At the same time, an RF voltage is applied from the high frequency power supply (9) to the stainless steel tubular electrode (7) to generate a self-bias of -400V.

【0032】又、これと同時に、基板(11)に発生する自
己バイアスが−50Vとなる様に、高周波電源(13)から
13.56MHzのRF電圧を基板ホルダー(12)に印加
する。反応ガス導入管(14)からは、CH4ガスを1.3×
10-3Torrで供給する。反応ガス導入管(14)から供
給されたCH4ガスは、プラズマの作用により分解さ
れ、これによって生じた炭素が、反応性の高いイオン又
は中性の活性状態となって、基板(11)の表面へ放射され
る。
At the same time, an RF voltage of 13.56 MHz is applied to the substrate holder (12) from the high frequency power source (13) so that the self-bias generated on the substrate (11) becomes -50V. From the reaction gas introduction pipe (14), CH 4 gas was added to 1.3 ×
Supplied at 10 -3 Torr. The CH 4 gas supplied from the reaction gas introduction pipe (14) is decomposed by the action of plasma, and the carbon generated by this is turned into a highly reactive ion or a neutral active state, and the carbon of the substrate (11) is discharged. Emitted to the surface.

【0033】以上の工程を約3分間行ない、基板(11)の
表面に、膜厚2600オングストロームのダイヤモンド
状被膜(15)を形成した。
The above steps were carried out for about 3 minutes to form a diamond-like coating (15) having a film thickness of 2600 angstroms on the surface of the substrate (11).

【0034】一方、比較例として、筒状電極(7)にRF
電圧を印加しない状態で、他の条件は上記第1実施例と
同一として、基板(11)の表面にダイヤモンド状被膜を形
成した。そして、第1実施例及び比較例によって、夫々
の基板上に形成されたダイヤモンド状被膜の厚さと、筒
状電極内周面に形成された被膜の厚さを測定した。
On the other hand, as a comparative example, RF is applied to the cylindrical electrode (7).
A diamond-like coating was formed on the surface of the substrate (11) under the same conditions as in Example 1 except that no voltage was applied. Then, according to the first example and the comparative example, the thickness of the diamond-like coating formed on each substrate and the thickness of the coating formed on the inner peripheral surface of the tubular electrode were measured.

【0035】この結果、下記表1に示す様に、比較例の
筒状電極内周面に形成された被膜の膜厚が1に対して、
上記第1実施例の筒状電極内周面に形成された被膜の膜
厚は0.65の大きさとなった。
As a result, as shown in Table 1 below, when the film thickness of the coating film formed on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode of Comparative Example was 1,
The film thickness of the coating film formed on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode of the first embodiment was 0.65.

【0036】[0036]

【表1】 [Table 1]

【0037】この結果から明らかな様に、第1実施例に
よれば、電極内周面の被膜を従来よりも約35%薄くす
ることが出来る。これは、電極に印加されたRF電圧に
よって発生する自己バイアス電圧により、電極内周面の
被膜がスパッタされたものと考えられる。従って、第1
実施例によれば、電極内周面の被膜の厚さが限界となる
まで、長時間に亘ってプロセスを行なうことが出来、こ
れによって、基板上の被膜の厚さを大きくすることが出
来る。
As is clear from this result, according to the first embodiment, the coating film on the inner peripheral surface of the electrode can be made thinner by about 35% than the conventional one. It is considered that this is because the coating film on the inner peripheral surface of the electrode was sputtered by the self-bias voltage generated by the RF voltage applied to the electrode. Therefore, the first
According to the embodiment, the process can be performed for a long time until the thickness of the coating film on the inner peripheral surface of the electrode reaches its limit, and thus the thickness of the coating film on the substrate can be increased.

【0038】又、下記表2は、上記第1実施例及び比較
例において、基板上に形成されたダイヤモンド状被膜の
膜厚を比較したものである。
Further, Table 2 below compares the film thicknesses of the diamond-like coatings formed on the substrate in the above-mentioned first embodiment and comparative example.

【0039】[0039]

【表2】 [Table 2]

【0040】この結果から明らかな様に、第1実施例に
よれば、従来よりも厚いダイヤモンド状被膜が得られ
る。これは、電極内周面の被膜がスパッタされることに
よって、被膜形成種が基板表面に放射され、成膜に寄与
したものと考えられる。
As is clear from this result, according to the first embodiment, a diamond-like coating thicker than the conventional one can be obtained. It is considered that this is because the film forming species was radiated to the substrate surface by sputtering the film on the inner peripheral surface of the electrode and contributed to the film formation.

【0041】第2実施例 本実施例では、筒状電極(7)は、ダイヤモンド状被膜と
の密着性が高いSiを用いて形成する。この場合、筒状
電極(7)内周面に堆積した被膜が剥離する虞れがないこ
とから、基板(11)に対する成膜が終了した後に、電極内
周面の被膜の除去を行なう。
Second Embodiment In this embodiment, the cylindrical electrode (7) is formed by using Si, which has a high adhesiveness with the diamond film. In this case, since there is no fear that the coating film deposited on the inner peripheral surface of the tubular electrode (7) will be peeled off, the coating film on the inner peripheral surface of the electrode is removed after the film formation on the substrate (11) is completed.

【0042】先ず、基板ホルダー(12)上にSi基板(11)
を取り付け、真空チャンバー(10)の内部を10-5〜10
-7Torrに排気する。次に、放電ガス導入管(5)から
Arガスを5.7×10-4Torrで供給すると共に、
マイクロ波発生装置(1)から2.45GHz、300W
のマイクロ波を供給して、プラズマ発生室(4)内に形成
されたArプラズマを基板(11)表面に放射する。
First, the Si substrate (11) is placed on the substrate holder (12).
And attach the inside of the vacuum chamber (10) to 10 -5 to 10
-Exhaust to 7 Torr. Next, while supplying Ar gas at 5.7 × 10 −4 Torr from the discharge gas introducing pipe (5),
2.45GHz, 300W from microwave generator (1)
To supply Ar plasma generated in the plasma generation chamber (4) to the substrate (11) surface.

【0043】又、これと同時に、基板(11)に発生する自
己バイアスが−50Vとなる様に、高周波電源(13)から
13.56MHzのRF電圧を基板ホルダー(12)に印加
する。反応ガス導入管(14)からは、CH4ガスを1.3×
10-3Torrで供給する。反応ガス導入管(14)から供
給されたCH4ガスは、プラズマの作用により分解さ
れ、これによって生じた炭素が、反応性の高いイオン又
は中性の活性状態となって、基板(11)の表面へ放射され
る。
At the same time, an RF voltage of 13.56 MHz is applied to the substrate holder (12) from the high frequency power source (13) so that the self-bias generated on the substrate (11) becomes -50V. From the reaction gas introduction pipe (14), CH 4 gas was added to 1.3 ×
Supplied at 10 -3 Torr. The CH 4 gas supplied from the reaction gas introduction pipe (14) is decomposed by the action of plasma, and the carbon generated by this is turned into a highly reactive ion or a neutral active state, and the carbon of the substrate (11) is discharged. Emitted to the surface.

【0044】以上の工程を約3分間行ない、基板(11)の
表面に、膜厚2400オングストロームのダイヤモンド
状被膜(15)を形成した。
The above steps were carried out for about 3 minutes to form a diamond-like coating (15) having a film thickness of 2400 angstroms on the surface of the substrate (11).

【0045】その後、放電ガス導入管(5)からArガス
を5.7×10-4Torrで供給すると共に、マイクロ
波発生装置(1)から2.45GHz、300Wのマイク
ロ波を供給して、プラズマ発生室(4)内にArプラズマ
を発生させると同時に、筒状電極(7)に対して、高周波
電源(9)からRF電圧を印加して、−400Vの自己バ
イアスを発生させる。以上の工程を約30分行なって、
筒状電極(7)の内周面に付着した被膜をスパッタ除去す
る。
After that, Ar gas was supplied from the discharge gas introducing pipe (5) at 5.7 × 10 −4 Torr, and microwave of 2.45 GHz and 300 W was supplied from the microwave generator (1), At the same time that Ar plasma is generated in the plasma generation chamber (4), an RF voltage is applied to the cylindrical electrode (7) from a high frequency power source (9) to generate a self-bias of -400V. Perform the above steps for about 30 minutes,
The coating film attached to the inner peripheral surface of the cylindrical electrode (7) is removed by sputtering.

【0046】そして、第2実施例によって基板上に形成
されたダイヤモンド状被膜の厚さと、筒状電極内周面に
形成された被膜の厚さを測定し、上記の比較例と比較し
た。
Then, the thickness of the diamond-like coating formed on the substrate according to the second embodiment and the thickness of the coating formed on the inner peripheral surface of the tubular electrode were measured and compared with the above comparative example.

【0047】この結果、下記表3に示す様に、比較例の
筒状電極内周面に形成された被膜の膜厚が1に対して、
上記第2実施例の筒状電極内周面に形成された被膜の膜
厚は0.81の大きさとなった。
As a result, as shown in Table 3 below, when the film thickness of the coating film formed on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode of Comparative Example was 1,
The film thickness of the coating film formed on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode of the second embodiment was 0.81.

【0048】[0048]

【表3】 [Table 3]

【0049】この結果から明らかな様に、第2実施例に
よれば、電極内周面に付着した被膜をスパッタにより効
果的に除去することが出来る。尚、上記工程を更に続行
すれば、電極内周面に付着した被膜を完全に除去するこ
とが出来る。
As is clear from this result, according to the second embodiment, the film adhered to the inner peripheral surface of the electrode can be effectively removed by sputtering. If the above process is further continued, it is possible to completely remove the coating film attached to the inner peripheral surface of the electrode.

【0050】第3実施例 本実施例は、上記プラズマCVD装置を用いて、Si基
板上に形成される被膜の組成を制御するものである。
尚、本実施例の装置構成は上記第2実施例と同一であ
り、成膜工程は上記第1実施例と同一であるが、マイク
ロ波発生装置(1)から発生するマイクロ波の電力を0〜
800Wの範囲で変化させて、異なるマイクロ波電力の
下で基板(11)上に得られるダイヤモンド状被膜(15)の組
成を調べる。
Third Embodiment In this embodiment, the composition of the coating film formed on the Si substrate is controlled by using the above plasma CVD apparatus.
The apparatus configuration of this embodiment is the same as that of the second embodiment, and the film forming process is the same as that of the first embodiment, but the microwave power generated by the microwave generator (1) is 0. ~
The composition of the diamond-like coating (15) obtained on the substrate (11) under different microwave power is investigated by varying in the range of 800W.

【0051】先ず、基板ホルダー(12)上にSi基板(11)
を取り付け、真空チャンバー(10)の内部を10-5〜10
-7Torrに排気する。次に、放電ガス導入管(5)から
Arガスを5.7×10-4Torrで供給すると共に、
マイクロ波発生装置(1)から2.45GHzのマイクロ
波を供給して、プラズマ発生室(4)内に形成されたAr
プラズマを基板(11)表面に放射する。これと同時に、S
i製の筒状電極(7)に対して、高周波電源(9)からRF
電圧を印加して、−500Vの自己バイアスを発生させ
る。
First, the Si substrate (11) is placed on the substrate holder (12).
And attach the inside of the vacuum chamber (10) to 10 -5 to 10
-Exhaust to 7 Torr. Next, while supplying Ar gas at 5.7 × 10 −4 Torr from the discharge gas introducing pipe (5),
The microwave of 2.45 GHz is supplied from the microwave generator (1) to generate Ar formed in the plasma generation chamber (4).
The plasma is radiated on the surface of the substrate (11). At the same time, S
RF from the high frequency power supply (9) to the cylindrical electrode (7) made of i
A voltage is applied to generate a self-bias of -500V.

【0052】又、これと同時に、基板(11)に発生する自
己バイアスが−50Vとなる様に、高周波電源(13)から
13.56MHzのRF電圧を基板ホルダー(12)に印加
する。反応ガス導入管(14)からは、CH4ガスを1.3×
10-3Torrで供給する。反応ガス導入管(14)から供
給されたCH4ガスは、プラズマの作用により分解さ
れ、これによって生じた炭素が、反応性の高いイオン又
は中性の活性状態となって、基板(11)の表面へ放射され
る。
At the same time, an RF voltage of 13.56 MHz is applied to the substrate holder (12) from the high frequency power source (13) so that the self-bias generated on the substrate (11) becomes -50V. From the reaction gas introduction pipe (14), CH 4 gas was added to 1.3 ×
Supplied at 10 -3 Torr. The CH 4 gas supplied from the reaction gas introduction pipe (14) is decomposed by the action of plasma, and the carbon generated by this is turned into a highly reactive ion or a neutral active state, and the carbon of the substrate (11) is discharged. Emitted to the surface.

【0053】この結果、基板(11)の表面にダイヤモンド
状被膜(15)が形成される。
As a result, a diamond-like coating (15) is formed on the surface of the substrate (11).

【0054】図2は、上記第3実施例によって得られた
ダイヤモンド状被膜のSiとCの組成比を、マイクロ波
電力との関係で表わしたものである。図示の如く、マイ
クロ波電力が300W以下では、被膜中にSiは含まれ
ておらず、300Wを越えると微量ながら被膜中にSi
が含まれることになり、マイクロ波電力の増大に伴っ
て、Siの量が増加している。
FIG. 2 shows the composition ratio of Si and C of the diamond-like coating film obtained in the third embodiment described above in relation to the microwave power. As shown in the figure, when the microwave power is 300 W or less, Si is not contained in the film.
Is included, and the amount of Si increases with the increase in microwave power.

【0055】これは、マイクロ波電力が300W以下で
は、筒状電極(7)内周面に被膜が低い成膜速度で堆積す
ることになり、電極内周面はスパッタされないが、マイ
クロ波電力が300Wを越えると、筒状電極をスパッタ
するイオン量が増加することによって、電極内周面の被
膜は完全にスパッタ除去され、更にマイクロ波電力が増
大してイオン量が増加すると、Si製の電極の内周面が
スパッタされ始め、そのスパッタ原子が基板上の被膜に
混入するからである。
This means that when the microwave power is 300 W or less, the coating film is deposited on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode (7) at a low film forming rate, and the inner peripheral surface of the electrode is not sputtered, but the microwave power is increased. When the power exceeds 300 W, the amount of ions sputtered on the cylindrical electrode increases, so that the coating film on the inner peripheral surface of the electrode is completely removed by sputtering. Further, when the microwave power increases and the amount of ions increases, the Si electrode This is because the inner peripheral surface of No. 1 starts to be sputtered and the sputtered atoms mix into the coating film on the substrate.

【0056】従って、第3実施例によれば、マイクロ波
電力を制御することによって、筒状電極内周面に付着す
る被膜の除去と、基板上に形成される被膜の組成の制御
が可能である。
Therefore, according to the third embodiment, by controlling the microwave power, it is possible to remove the coating adhered to the inner peripheral surface of the cylindrical electrode and control the composition of the coating formed on the substrate. is there.

【0057】上記実施例の説明は、本発明を説明するた
めのものであって、特許請求の範囲に記載の発明を限定
し、或は範囲を減縮する様に解すべきではない。又、本
発明の各部構成は上記実施例に限らず、特許請求の範囲
に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能である。例え
ば筒状電極(7)は、円筒形に限らず、例えば多角柱状の
筒形や、複数枚の平板電極を円陣に配置して、実質的に
筒状の電極を形成するものであっても、同様の効果が得
られるのは言うまでもない。又、筒状電極(7)には直流
電圧を印加して、筒状電極(7)内周面の被膜をスパッタ
除去する構成も採用可能である。
The above description of the embodiments is for explaining the present invention, and should not be construed as limiting the invention described in the claims or limiting the scope. Further, the configuration of each part of the present invention is not limited to the above embodiment, but various modifications can be made within the technical scope described in the claims. For example, the cylindrical electrode (7) is not limited to a cylindrical shape, and may be, for example, a polygonal cylindrical shape, or a plurality of flat plate electrodes arranged in a circle to form a substantially cylindrical electrode. Needless to say, the same effect can be obtained. It is also possible to adopt a configuration in which a DC voltage is applied to the cylindrical electrode (7) to remove the coating film on the inner peripheral surface of the cylindrical electrode (7) by sputtering.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に用いられるプラズマCVD装置の構成
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a plasma CVD apparatus used in the present invention.

【図2】基板上に形成される被膜の組成とマイクロ波電
力との関係を表わすグラフである。
FIG. 2 is a graph showing the relationship between the composition of a film formed on a substrate and microwave power.

【図3】従来のプラズマCVD装置の構成を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a conventional plasma CVD apparatus.

【図4】基板上にダイヤモンド状被膜が形成されている
状態の断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state where a diamond-like coating is formed on a substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

(1) マイクロ波発生装置 (2) 導波管 (3) マイクロ波導入窓 (4) プラズマ発生室 (5) 放電ガス導入管 (6) プラズマ磁界発生装置 (7) 筒状電極 (8) 絶縁体 (10) 真空チャンバー (11) 基板 (12) 基板ホルダー (1) Microwave generator (2) Waveguide (3) Microwave introduction window (4) Plasma generation chamber (5) Discharge gas introduction pipe (6) Plasma magnetic field generator (7) Cylindrical electrode (8) Insulator (10) Vacuum chamber (11) Substrate (12) Board holder

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木山 精一 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三洋電機株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−291713(JP,A) 特開 平5−335279(JP,A) 特開 平6−252054(JP,A) 特開 平4−329679(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23C 16/00 - 16/56 C30B 29/04 H01L 21/205 H01L 21/31 H05H 1/46 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Seiichi Kiyama 2-5-5 Keihan Hon-dori, Moriguchi City, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd. (56) Reference JP-A-4-291713 (JP, A) Special Features Kaihei 5-335279 (JP, A) JP-A-6-252054 (JP, A) JP-A-4-329679 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) C23C 16 / 00-16/56 C30B 29/04 H01L 21/205 H01L 21/31 H05H 1/46

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 プラズマCVD装置を用いて基板上に被
膜を形成する方法であって、プラズマCVD装置は、プ
ラズマ発生室と、プラズマ発生室内にプラズマを発生さ
せるためのプラズマ発生手段と、プラズマ発生室に接続
して形成された反応室と、反応室内に設けられた基板ホ
ルダーと、反応室内に反応ガスを導入するための反応ガ
ス導入手段を具えると共に、プラズマ発生室内には、プ
ラズマ発生室の内周壁に沿う実質的に筒状の電極が設置
され、該筒状電極は、前記基板上に形成すべき前記被膜
と密着性の低い材料を含む資材から形成されており、プ
ラズマ発生室内にプラズマを発生させた状態で、前記筒
状電極に、直流電圧又は高周波電圧を印加することによ
って、前記筒状電極の内面に付着した前記被膜をスパッ
タ除去することを特徴とするプラズマCVD装置を用い
た被膜形成方法。
1. A substrate is coated on a substrate using a plasma CVD apparatus.
A method for forming a film, wherein a plasma CVD apparatus
Plasma is generated in the plasma generation chamber and the plasma generation chamber.
Connect to the plasma generating means and plasma generating chamber
Formed in the reaction chamber and the substrate heater provided in the reaction chamber.
And the reaction gas for introducing the reaction gas into the reaction chamber.
In addition to being equipped with a means for introducing a plasma,
A substantially cylindrical electrode is installed along the inner wall of the plasma generation chamber
And the tubular electrode has the coating film to be formed on the substrate.
It is made of materials including materials with low adhesion to
While plasma is generated in the plasma generation chamber,
By applying DC voltage or high frequency voltage to the electrode
The coating on the inner surface of the tubular electrode.
Using a plasma CVD apparatus characterized by removing
Film forming method.
【請求項2】 基板上に形成すべき被膜は硬質炭素被膜
であって、前記密着性の低い材料は、ステンレス鋼、F
e、Al、Cu、或いはTiである請求項1に記載のプ
ラズマCVD装置を用いた被膜形成方法。
2. The hard carbon coating is to be formed on the substrate.
The material having low adhesion is stainless steel, F
The alloy according to claim 1, which is e, Al, Cu, or Ti.
A film forming method using a plasma CVD apparatus.
【請求項3】 プラズマCVD装置を用いて基板上に被
膜を形成する方法であって、プラズマCVD装置は、プ
ラズマ発生室と、プラズマ発生室内にプラズマを発生さ
せるためのプラズマ発生手段と、プラズマ発生室に接続
して形成された反応室と、反応室内に設けられた基板ホ
ルダーと、反応室内に反応ガスを導入するための反応ガ
ス導入手段を具えると共に、プラズマ発生室内には、プ
ラズマ発生室の内周壁に沿う実質的に筒状の電極が設置
され、該筒状電極は、前記基板上に形成すべき前記被膜
と密着性の高い材料を含む資材から形成されており、プ
ラズマ発生室内にプラズマを発生させた状態で、前記筒
状電極に、直流電圧又は高周波電圧を印加することによ
って、前記筒状電極の内面に付着した前記被膜をスパッ
タ除去することを特徴とするプラズマCVD装置を用い
た被膜形成方法。
3. A substrate is coated on the substrate by using a plasma CVD apparatus.
A method for forming a film, wherein a plasma CVD apparatus
Plasma is generated in the plasma generation chamber and the plasma generation chamber.
Connect to the plasma generating means and plasma generating chamber
Formed in the reaction chamber and the substrate heater provided in the reaction chamber.
And the reaction gas for introducing the reaction gas into the reaction chamber.
In addition to being equipped with a means for introducing a plasma,
A substantially cylindrical electrode is installed along the inner wall of the plasma generation chamber
And the tubular electrode has the coating film to be formed on the substrate.
It is made of materials including materials with high adhesion and
While plasma is generated in the plasma generation chamber,
By applying DC voltage or high frequency voltage to the electrode
The coating on the inner surface of the tubular electrode.
Using a plasma CVD apparatus characterized by removing
Film forming method.
【請求項4】 基板上に形成すべき被膜は硬質炭素被膜
であって、前記密着性の高い材料は、Si、C、Ru、
或いはGeである請求項3に記載のプラズマCVD装置
を用いた被膜形成方法。
4. A hard carbon coating is to be formed on the substrate.
The material having high adhesion is Si, C, Ru,
Alternatively, the plasma CVD apparatus according to claim 3, which is Ge.
A method for forming a film using.
【請求項5】 プラズマCVD装置を用いて基板上に被
膜を形成する方法であって、プラズマCVD装置は、プ
ラズマ発生室と、プラズマ発生室内にプラズ マを発生さ
せるためのプラズマ発生手段と、プラズマ発生室に接続
して形成された反応室と、反応室内に設けられた基板ホ
ルダーと、反応室内に反応ガスを導入するための反応ガ
ス導入手段を具えると共に、プラズマ発生室内には、プ
ラズマ発生室の内周壁に沿う実質的に筒状の電極が設置
され、該筒状電極の資材は、前記基板上に形成すべき前
記被膜の構成元素の内、少なくとも1つの元素を含んで
おり、基板上に被膜を形成しつつ、筒状電極に直流電圧
又は高周波電圧を印加することによって、筒状電極の内
面をスパッタし、筒状電極の資材を基板上に堆積させる
ことを特徴とするプラズマCVD装置を用いた被膜形成
方法。
5. A substrate is coated on the substrate using a plasma CVD apparatus.
A method for forming a film, wherein a plasma CVD apparatus
And the plasma generating chamber, of generating a plasma in a plasma generation chamber
Connect to the plasma generating means and plasma generating chamber
Formed in the reaction chamber and the substrate heater provided in the reaction chamber.
And the reaction gas for introducing the reaction gas into the reaction chamber.
In addition to being equipped with a means for introducing a plasma,
A substantially cylindrical electrode is installed along the inner wall of the plasma generation chamber
And the material of the tubular electrode is to be formed on the substrate.
Contain at least one of the constituent elements of the coating
The DC voltage is applied to the cylindrical electrode while forming the coating on the substrate.
Or by applying a high frequency voltage,
The surface is sputtered and the material for the cylindrical electrode is deposited on the substrate.
Film formation using a plasma CVD apparatus characterized by
Method.
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