JP3427966B2 - 光導波路回路と入出力光ファイバの調心方法及び光導波路回路実装装置 - Google Patents
光導波路回路と入出力光ファイバの調心方法及び光導波路回路実装装置Info
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Description
出力光ファイバの調心方法及び光導波路回路実装装置に
係わり、特に、光通信あるいは光情報処理などの分野で
用いられる光導波路回路とその入出力光ファイバと接続
する時の相対位置の設定方法に適用して有効な技術に関
するものである。
た石英系光導波路などによって構成されたプレーナ光導
波路回路(PLC:Planar Lightwave Circuit)の研究
が盛んに行われている。そのなかで最も重要な回路の一
つとしてアレイ導波路格子型波長合分波器(Arrayed Wa
veguide Grating Multiplexer 、以下、AWGと称す
る。)がある。
長がn×ΔLずつ異なる30〜100本程度のアレイ導
波路を伝搬した複数の光の干渉により光の波長合分波機
能を実現している。ここで、nは導波路の実効屈折率で
あり、ΔLは10〜100μm程度の値である。
の多光束干渉により実現していることである。この結果
として、(イ)回路挿入損失が波長チャンネル数に依存
しない、(ロ)分波される互いのチャンネル波長の間隔
がフォトマスクの精度で定まり、0.1nm以下の精度
で作製できるという2つの特長を有している。
使用する光通信システムにおいて、AWGは極めて需要
な光回路になることが予測される(H.Takahashi et a
l., "Arrayed-Waveguide Grating for Wavelength Divi
sion Multi/Demultiplexer with Nanometre Resolutio
n," Electron. Lett., vol.26, no.2, pp.87-88, 1990.
参照)。
合分波器)の一例の概略構成を示す斜視図である。
波路11、出力導波路12、入力側スラブ導波路13、
出力側スラブ導波路15、アレイ導波路14より構成さ
れる。ここで、各光導波路は、シリコン(Si)基板1
6上に形成されている。
中心入力ポートから中心出力ポートへの透過波長特性の
一例を示すグラフである。
ァイバの調心方法を使用した光導波路回路実装装置の概
略構成を示す斜視図である。
および出力光ファイバの、AWG10と接続される端子
部は、ファイバ部品22に固定されて、それぞれ入力光
ファイバアレイ21および出力光ファイバアレイ24を
構成する。このファイバ部品22は、x,y,z,θ方
向において、粗調心および微調心ができる微動台23に
取り付けられている。なお、同図中の点線は電気的な制
御系を意味する。
レイ21および出力光ファイバアレイ24との接続時の
調心は、波長可変光源20から特定の波長の光を、入力
光ファイバアレイ21のある特定の入力光ファイバ21
aに入射し、出力光ファイバアレイ24のある特定の出
力光ファイバ24aからの出力光をフォトダイオード2
5で受光する。そのフォトダイオード25で受光される
出力光が最大になるように、コンピュータ26により微
動台23を制御して、入力光ファイバアレイ21および
出力光ファイバアレイ24とAWG10との位置を決定
し、その後、入力光ファイバアレイ21および出力光フ
ァイバアレイ24と、AWG10との界面に充填した紫
外線硬化樹脂を硬化して、接続を行っていた。
とは、図7の特性を有するAWG10に関しては約15
54nmの最も透過損失が小さくなる波長を意味する。
なお、この波長の値は、作製するAWG10ごとに異な
るものである。
ため、特定の波長しか透過しない。このため、例えば、
光源としてファブリペローレーザーダイオード(EP−
LD)や発光ダイオード(LED)のように広帯域なス
ペクトルを有する光源を使用した場合、入力導波路11
から出力導波路12への透過損失が20dB程度にまで
大きくなる。この値に、入力光ファイバ21aと入力導
波路11の相対位置が十分に合っていない状態での結合
損失、出力光ファイバ24aと出力導波路12の相対位
置が十分に合っていない状態での結合損失を加算する
と、入力光ファイバ21aからAWG10を伝搬して、
出力光ファイバ24aへ結合する光は、入力光に対して
−50dB程度にまで低くなる。
路11に光を入射したときに、結合できなかった一部の
光が光導波路回路のクラッドを伝搬して出力光ファイバ
24aに結合する。以下、本明細書では、この入力光フ
ァイバ21aから入力導波路11に光を入射したとき
に、結合できなかった一部の光が光導波路回路のクラッ
ドを伝搬して出力光ファイバ24aに結合する光を迷光
と称する。この迷光の大きさは光導波路回路の大きさに
依存しているが、入力光ファイバ21aと出力光ファイ
バ24aとが対向している場合、入力光に対して−30
〜−40dB程度となる。
G10を伝搬して出力光ファイバ24aへ結合する光
が、入力光に対して−50dB程度にまで低くなると、
この迷光が無視できなくなり、AWG10と入力光ファ
イバアレイ21および出力光ファイバアレイ24との接
続時の調心が困難になる。
10の透過損失が最も小さくなる波長の光(図7に示す
例では1554nm)のみを用いて、AWG10と、入
力光ファイバアレイ21および出力光ファイバアレイ2
4との調心を行っていた。
長の光を用いると、入力導波路11から出力導波路12
への透過損失が3dB程度にまで下がるため、入力光フ
ァイバアレイ21と入力導波路11の相対位置、および
出力光ファイバアレイ24と出力導波路12の相対位置
が概ね合っている場合においては、前記迷光に比べてA
WG10を伝搬してくる光の強度の方が大きくなるた
め、入力光ファイバアレイ21と入力導波路11、およ
び出力光ファイバアレイ24と出力導波路12との調心
が可能となる。
入力光ファイバアレイ21と入力導波路11、および出
力光ファイバアレイ24と出力導波路12との相対位置
が概ね合えば互いの調心が可能であるが、現状では、互
いの相対位置を概ね合わせるために多大の時間がかか
り、かつ、作業者に対して高度の熟練度が要求されると
いう問題点があった。
光ファイバアレイ21と入力導波路11、および出力光
ファイバアレイ24と出力導波路12との相対位置が、
それぞれずれていて、その結合損失が、例えば、15d
Bずつある場合、入力光ファイバ21aからAWG10
を伝搬して出力光ファイバ24aへ結合する光が、入力
光に対して−33dBになり、この時は、前記迷光と同
程度の光強度となるため調心ができなくなる。
関係から作業者の判断で互いの粗調心を行っている。将
来において、AWG10と、入力光ファイバアレイ21
および出力光ファイバアレイ24との実装を自動化して
コストを低減することは、AWG10の価格を下げる上
で重要な課題である。
路11との相対位置、および出力光ファイバと出力導波
路12の相対位置を概ね合わせる粗調心工程と、精度良
く合わせる微調心工程を簡便な方法で実現する方法と装
置が必要であるという問題点があった。
るためになされたものであり、本発明の目的は、光導波
路回路と入出力光ファイバの調心方法において、入出力
光ファイバと光導波路回路との相対位置を、最適な位置
に容易、かつ、簡易に合わせることが可能となる技術を
提供することにある。
置において、入出力光ファイバと光導波路回路との相対
位置を、最適な位置に容易、かつ、簡易に合わせること
が可能となる技術を提供することにある。
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
にする。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記の通りである。
入力光ファイバあるいは出力光ファイバとの間で最適な
光学接続を得るための光導波路回路と入出力光ファイバ
の調心方法において、前記入出力光ファイバに調心用の
光を入射し、前記光導波路回路と前記入出力光ファイバ
との接続部以外の前記光導波路回路内部で発生する漏れ
光を測定して、その強度が最大となるように前記光導波
路回路と前記入出力光ファイバとの相対位置を制御する
ことを特徴とする。
入力光ファイバあるいは出力光ファイバとを接続する光
導波路回路実装装置において、前記入力光ファイバある
いは出力光ファイバに調心用の光を入射する光入射手段
と、前記光入射手段から前記入力光ファイバあるいは出
力光ファイバに入射された光が前記光導波路回路内部を
伝搬する時に生じる漏れ光を測定する測定手段と、前記
測定手段で測定した漏れ光強度が最大となるように前記
光導波路回路と該入出力光ファイバとの相対位置を制御
する位置制御手段とを備えることを特徴とする。
される端面に隣接する端面において、光導波路回路の一
部からの漏れ光を検出して入出力光ファイバの粗調心お
よび微調心を行うことを特徴とする。
施形態を詳細に説明する。
いて、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰
り返しの説明は省略する。
形態である光導波路回路と入出力光ファイバの調心方法
を使用した光導波路回路実装装置の概略構成を示す斜視
図である。
光ファイバアレイ21との接続時の調心は、ファブリペ
ローレーザーダイオード(EP−LD)28からの光
を、チャンネルセレクタ27を介して、入力光ファイバ
アレイ21のある特定の入力光ファイバ21aに入射す
る。
示すAWG10と同様、アレイ導波路14とスラブ導波
路(13,15)との接続点を有する回路である。この
アレイ導波路14とスラブ導波路(13,15)との界
面では、互いの光の強度分布が異なるため、入力側スラ
ブ導波路13と出力側スラブ導波路15で、各々約0.
5dB(約10%)ずつの光が漏れ光としてクラッドに
放射される。入力側スラブ導波路13で放出された光
は、入力導波路11が配置された端面に隣接する導波路
端面から外部に放出される。
は、この光をフォトダイオード25で受光する。そし
て、フォトダイオード25で受光する光量が最大になる
ように、コンピュータ26により微動台23を制御し
て、入力光ファイバアレイ21とAWG10との位置を
決定し、即ち、入力光ファイバアレイ21をAWG10
の入力導波路11に対して調心した後、入力光ファイバ
アレイ21とAWG10との界面に充填した紫外線硬化
樹脂を硬化して、接着固定する。
される迷光は、入力光に対して−70dB程度で、アレ
イ導波路14と入力側スラブ導波路13との界面で放射
され、フォトダイオード25に受光される光(−40〜
−20dB)に比べて充分小さい。このため、本実施の
形態では、迷光の影響を受けずに入力光ファイバアレイ
21とAWG10との調心を容易、かつ簡易に行うこと
が可能となる。
光源として、前記図8に示す波長可変光源20に比べ
て、価格が格段に低いファブリペローレーザーダイオー
ド(EP−LD)等を使用することが可能である。即
ち、本実施の形態では、AWG10の入力側スラブ導波
路13とアレイ導波路14との界面からの漏れ光を利用
している。この漏れ光は基本的に波長特性を持たないた
め、調心に用いる光源として特定の波長の光を使用する
必要性はない。そのため、ファブリペローレーザーダイ
オード(EP−LD)等を使用することができる。
り外さずに、続けて出力導波路12と出力光ファイバア
レイ24との調心を行うことが可能である。
(EP−LD)28からの光を、チャンネルセレクタ2
7を介して、出力光ファイバアレイ24のある特定の出
力光ファイバ24aに入射し、出力側スラブ導波路15
で放出された光を、フォトダイオード25で受光する。
そして、フォトダイオード25で受光する光量が最大に
なるように、コンピュータ26により微動台23を制御
して、出力光ファイバアレイ24をAWG10の出力導
波路12に対して調心した後、出力光ファイバアレイ2
4とAWG10との界面に充填した紫外線硬化樹脂を硬
化して、接着固定する。
ァイバアレイ21と入力導波路11との間の調心と、出
力光ファイバアレイ24と出力導波路12と間の調心と
を別々に行うことができる。
1と入力導波路11との光結合がとれるだけでは調心が
できず、同時に出力光ファイバアレイ24と出力導波路
12との光結合がとれて、初めて入力光ファイバアレイ
21と入力導波路11との微調心を行うことができる。
このため、初めに入力光ファイバアレイ21、AWG1
0、および出力光ファイバアレイ24の3つの光結合を
とるために長い時間が必要であった。これに対して、本
実施の形態では、入力光ファイバアレイ21の入力導波
路11との調心、および出力光ファイバアレイ24と出
力導波路12との調心が別々に行えるため、実装に要す
る時間を大幅に短縮することが可能となる。
の形態である光導波路回路と入出力光ファイバの調心方
法を使用した光導波路回路実装装置の概略構成を示す斜
視図である。
が、弾性のあるシリコーン樹脂で封止されており、AW
G10の端面にシリコーンを密着させて漏れ光を測定す
る点で、前記実施の形態1と相違する。
の上面を示す平面図である。図3に示すように、AWG
10のスラブ導波路(13,15)の角度(θ)は、A
WG10の設計に依存しているが、中には角度(θ)が
44°以上になる場合もある。
の角度(θ)が44°以上になるようなAWG10にお
いて、前記実施の形態1に記載した方法で、入力光ファ
イバアレイ21の入力導波路11との調心、および出力
光ファイバアレイ24と出力導波路12との調心を行う
場合に、以下のような問題が生じる。
導波路14と入力側スラブ導波路13との界面、あるい
は、アレイ導波路14と出力側スラブ導波路15との界
面でクラッドに漏れだした光は、フォトダイオード25
が配置された端面に44°以上の入射角で入射する。A
WG10の端面は空気に接しているため、光は端面で全
反射してAWG10の外部には放出されない。このた
め、フォトダイオード25で漏れ光を受光することがで
きない。
では、図2および図3に示すように、フォトダイオード
25を弾性シリコーン樹脂で封止し、そのシリコーンを
AWG10端面に密着させて、全反射が生じないように
してフォトダイオード25で漏れ光を受光する。
用いたAWG10の実装を前提としているため、ガラス
とほぼ同等の屈折率を持つシリコーンを用いたが、AW
G10の導波路材料がInPなどの半導体の場合は、シ
リコーンの代わりにより屈折率の高い樹脂を用いる必要
がある。
の形態である光導波路回路と入出力光ファイバの調心方
法を使用した光導波路回路実装装置の概略構成を示す斜
視図である。
射された光をフォトダイオード25で直接受光するので
はなく、一旦プローブファイバ30を介してフォトダイ
オード25で受光している点で、前記実施の形態1と相
違する。
面近傍に比較的形状の大きなフォトダイオード25を配
置すると、様々な大きさのAWG10に対応する上で障
害となる。そこで、本実施形態では、フォトダイオード
25に比較して形状が小さいプローブファイバ30を用
いるようにしたものである。
の形態である光導波路回路と入出力光ファイバの調心方
法を使用した光導波路回路実装装置の概略構成を示す斜
視図である。
に複屈折がある場合、入射偏波状態によって中心波長が
変化する偏波依存性を有する。
て、そのAWG回路10の中央に1/2波長板を挿入す
る方法が用いられている。これはAWG回路中央に約2
0〜30μm幅の溝32をダイシングソーで加工し、ポ
リイミドを基板とする1/2波長板31を挿入、接着剤
で硬化している(Y.Inoue, Y.Ohmori, M.Kawachi, S.An
do, T.Sawada, and H.Takahashi, "Polarization mode
converter with polyimide half waveplate in silica-
based planar lightwave circuits," IEEE Photon. Tec
hnol. Lett., vol.6, pp.626-628, 1994. 参照)。
では光の閉じ込め構造がないため0.3〜0.4dB程
度の光がクラッドに放出される。その光は、図5に示す
フォトダイオード25が設置されている端面から外部に
放射される。本実施形態ではこの光をフォトダイオード
25で検出して、入力光ファイバアレイ21と入力導波
路11との調心を行うようにしたものである。
WG10に適用した場合について説明したが、本発明は
これに限定されるものではなく、その他の光導波路回路
に適用可能であることはいうまでもない。
前記実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は、
前記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲において種々変更可能であることは勿論で
ある。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。
と光導波路回路との調心を、入力光ファイバおよび出力
光ファイバ毎に個別に、迷光の影響を受けずに行えるた
め、調心時間を短縮でき、光導波路回路の入出力光ファ
イバ実装に要する時間を大幅に低減することが可能とな
る。
て、安価なファブリペローレーザーダイオード等を使用
することができるので、装置全体の価格を安くすること
が可能である。
光導波路回路の回路特性(例えば、透過波長など)を予
め調べておく必要がないため、実装にかかる評価コスト
を低減することが可能である。
出力光ファイバの調心方法を使用した光導波路回路実装
装置の概略構成を示す斜視図である。
入出力光ファイバの調心方法を使用した光導波路回路実
装装置の概略構成を示す斜視図である。
平面図である。
入出力光ファイバの調心方法を使用した光導波路回路実
装装置の概略構成を示す斜視図である。
入出力光ファイバの調心方法を使用した光導波路回路実
装装置の概略構成を示す斜視図である。
構成を示す斜視図である。
おける、中心入力ポートから中心出力ポートへの透過波
長特性の一例を示すグラフである。
方法を使用した光導波路回路実装装置の概略構成を示す
斜視図である。
1…入力導波路、12…出力導波路、13,15…スラ
ブ導波路、14…アレイ導波路、16…シリコン(S
i)基板、20…波長可変光源、21…入力光ファイバ
アレイ、21a…入力光ファイバ、22…ファイバ部
品、23…微動台、24…出力光ファイバアレイ、24
a…出力光ファイバ、25…フォトダイオード、26…
コンピュータ、27…チャンネルセレクタ、28…ファ
ブリペローレーザーダイオード(FP−LD)、29…
シリコーン樹脂、30…プローブファイバ、31…ポリ
イミド1/2波長板、32…溝。
Claims (7)
- 【請求項1】 平面基板上に形成された光導波路回路
と、入力光ファイバあるいは出力光ファイバとの間で最
適な光学接続を得るための光導波路回路と入出力光ファ
イバの調心方法において、 前記入出力光ファイバに調心用の光を入射し、前記光導
波路回路と前記入出力光ファイバとの接続部以外の前記
光導波路回路内部で発生する漏れ光を測定して、その強
度が最大となるように前記光導波路回路と前記入出力光
ファイバとの相対位置を制御することを特徴とする光導
波路回路と入出力光ファイバの調心方法。 - 【請求項2】 前記光導波路回路は、対向する端面に入
出力導波路を有するアレイ導波路格子型波長合分波回路
であることを特徴とする請求項1に記載の光導波路回路
と入出力光ファイバの調心方法。 - 【請求項3】 前記漏れ光を、前記入出力光ファイバを
接続する端面と隣接する端面で測定することを特徴とす
る請求項1または請求項2に記載の光導波路回路と入出
力光ファイバの調心方法。 - 【請求項4】 前記漏れ光を、屈折率整合材を介したフ
ォトダイオードを使用して測定することを特徴とする請
求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の光導波路
回路と入出力光ファイバの調心方法。 - 【請求項5】 前記漏れ光は、導波路構造の不整合部か
らの放射光であることを特徴とする請求項1ないし請求
項4のいずれか1項に記載の光導波路回路と入出力光フ
ァイバの調心方法。 - 【請求項6】 前記漏れ光は、導波路構造を持たない溝
からの放射光であることを特徴とする請求項1ないし請
求項4のいずれか1項に記載の光導波路回路と入出力光
ファイバの調心方法。 - 【請求項7】 平面基板上に形成された光導波路回路
と、入力光ファイバあるいは出力光ファイバとを接続す
る光導波路回路実装装置において、 前記入力光ファイバあるいは出力光ファイバに調心用の
光を入射する光入射手段と、 前記光入射手段から前記入力光ファイバあるいは出力光
ファイバに入射された光が前記光導波路回路内部を伝搬
する時に生じる漏れ光を測定する測定手段と、 前記測定手段で測定した漏れ光強度が最大となるように
前記光導波路回路と該入出力光ファイバとの相対位置を
制御する位置制御手段とを備えることを特徴とする光導
波路回路実装装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18194297A JP3427966B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | 光導波路回路と入出力光ファイバの調心方法及び光導波路回路実装装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP18194297A JP3427966B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | 光導波路回路と入出力光ファイバの調心方法及び光導波路回路実装装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH1123896A JPH1123896A (ja) | 1999-01-29 |
JP3427966B2 true JP3427966B2 (ja) | 2003-07-22 |
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ID=16109592
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP18194297A Expired - Lifetime JP3427966B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | 光導波路回路と入出力光ファイバの調心方法及び光導波路回路実装装置 |
Country Status (1)
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---|---|---|---|---|
US6945708B2 (en) * | 2003-02-18 | 2005-09-20 | Jds Uniphase Corporation | Planar lightwave circuit package |
-
1997
- 1997-07-08 JP JP18194297A patent/JP3427966B2/ja not_active Expired - Lifetime
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