JP3421556B2 - 液面検出機能を備えた分析装置 - Google Patents
液面検出機能を備えた分析装置Info
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- JP3421556B2 JP3421556B2 JP30750897A JP30750897A JP3421556B2 JP 3421556 B2 JP3421556 B2 JP 3421556B2 JP 30750897 A JP30750897 A JP 30750897A JP 30750897 A JP30750897 A JP 30750897A JP 3421556 B2 JP3421556 B2 JP 3421556B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は分析装置に係り、特
にサンプル又は試薬を分注するのに伴って液体の液面を
検出する機能を備えた分析装置に関する。
にサンプル又は試薬を分注するのに伴って液体の液面を
検出する機能を備えた分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】血液又は尿のような生体サンプルについ
て検査されるべき分析項目を自動分析装置によって分析
する際には、サンプルカップ又は試薬ボトルから反応容
器へ液体を移すために可動ピペッテイングプロ−ブが用
いられる。分注すべき液体内への浸入が深いほどプロ−
ブ外壁への液体付着量が増すので、コンタミネ−ション
が大となる。液体内へのピペッテイングプロ−ブの浸入
深さを極力低減するために、例えば米国特許第４，９７
０，４６８号明細書および米国特許第４，８１８，４９
２号明細書に記載されているようなピペッテイング機構
が用いられる。
て検査されるべき分析項目を自動分析装置によって分析
する際には、サンプルカップ又は試薬ボトルから反応容
器へ液体を移すために可動ピペッテイングプロ−ブが用
いられる。分注すべき液体内への浸入が深いほどプロ−
ブ外壁への液体付着量が増すので、コンタミネ−ション
が大となる。液体内へのピペッテイングプロ−ブの浸入
深さを極力低減するために、例えば米国特許第４，９７
０，４６８号明細書および米国特許第４，８１８，４９
２号明細書に記載されているようなピペッテイング機構
が用いられる。
【０００３】米国特許第４，９７０，４６８号明細書お
よび米国特許第４，８１８，４９２号明細書に記載され
ているピペッテイング機構は、ピペッテイングプロ−ブ
が液面検出用の電極として働くように、ピペッテイング
プロ−ブは静電容量の変化を検出する検出回路に接続さ
れている。そして、ピペッテイングプロ−ブがサンプル
容器又は試薬容器に対して降下され、該プロ−ブが液面
に接触したときに該プロ−ブの降下動作を停止し、次い
で、プロ−ブ内に液体が吸入される。
よび米国特許第４，８１８，４９２号明細書に記載され
ているピペッテイング機構は、ピペッテイングプロ−ブ
が液面検出用の電極として働くように、ピペッテイング
プロ−ブは静電容量の変化を検出する検出回路に接続さ
れている。そして、ピペッテイングプロ−ブがサンプル
容器又は試薬容器に対して降下され、該プロ−ブが液面
に接触したときに該プロ−ブの降下動作を停止し、次い
で、プロ−ブ内に液体が吸入される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明者の経験によれ
ば、ピペッテイングプロ−ブ自体を液面検出用電極とし
て用いた場合であって、特に大気の湿度が低い場合に、
誤った液面検出信号が得られることがしばしば出現し
た。このような液面の誤検出を招く原因は、サンプル容
器又は試薬容器がプラスチック又はガラスのような非導
電性材料で作られていることによると予測された。
ば、ピペッテイングプロ−ブ自体を液面検出用電極とし
て用いた場合であって、特に大気の湿度が低い場合に、
誤った液面検出信号が得られることがしばしば出現し
た。このような液面の誤検出を招く原因は、サンプル容
器又は試薬容器がプラスチック又はガラスのような非導
電性材料で作られていることによると予測された。
【０００５】本発明の目的は、ピペッテイングプロ−ブ
を用いて液体の液面を検出する際に、大気の湿度が低く
ても液面の誤検出を低減できる構成を提供することにあ
る。
を用いて液体の液面を検出する際に、大気の湿度が低く
ても液面の誤検出を低減できる構成を提供することにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、ピペッテイン
グプロ−ブを用いて一方の容器から他方の容器へ液体を
放出する装置を備えており、前記ピペッッテイングプロ
−ブは一方の容器内の液体の液面を検出するための電極
として働き、他方の容器中の内容物は測定手段によって
測定される分析装置に適用される。本発明では、一方の
容器を保持する保持手段は電気的に接地されており、ピ
ペッテイングプロ−ブと保持手段との間における静電容
量の変化は検出回路によって検出される。そして、互い
に対向するように配置された一対の放電素子の一方の放
電素子はピペッテイングプロ−ブと検出回路との間に接
続され、他方の放電素子は電気的に接地されている。
グプロ−ブを用いて一方の容器から他方の容器へ液体を
放出する装置を備えており、前記ピペッッテイングプロ
−ブは一方の容器内の液体の液面を検出するための電極
として働き、他方の容器中の内容物は測定手段によって
測定される分析装置に適用される。本発明では、一方の
容器を保持する保持手段は電気的に接地されており、ピ
ペッテイングプロ−ブと保持手段との間における静電容
量の変化は検出回路によって検出される。そして、互い
に対向するように配置された一対の放電素子の一方の放
電素子はピペッテイングプロ−ブと検出回路との間に接
続され、他方の放電素子は電気的に接地されている。
【０００７】
【発明の実施の形態】図１において、一定温度に保たれ
たウオ−タ−バス（恒温水槽）上に反応デイスク１０９
が回転可能に配置される。多数の反応容器１０６が反応
デイスク１０９に円状に保持されており、所定間隔で間
欠的に移送される。可動ア−ムに取り付けられたサンプ
ルピペッテイングプロ−ブ１０５は、サンプルデイスク
１０２上に設置されているサンプルカップ１０１から反
応容器１０６へ液体サンプルを分注する。一方、可動ア
−ムに取り付けられた試薬ピペッテイングプロ−ブ１１
０は、試薬デイスク１２５に設置されている試薬ボトル
１１２から反応容器１０６へ試薬液を分注する。
たウオ−タ−バス（恒温水槽）上に反応デイスク１０９
が回転可能に配置される。多数の反応容器１０６が反応
デイスク１０９に円状に保持されており、所定間隔で間
欠的に移送される。可動ア−ムに取り付けられたサンプ
ルピペッテイングプロ−ブ１０５は、サンプルデイスク
１０２上に設置されているサンプルカップ１０１から反
応容器１０６へ液体サンプルを分注する。一方、可動ア
−ムに取り付けられた試薬ピペッテイングプロ−ブ１１
０は、試薬デイスク１２５に設置されている試薬ボトル
１１２から反応容器１０６へ試薬液を分注する。
【０００８】サンプルピペッテイングプロ−ブ１０５
は、サンプル用シリンジポンプ１０７の動作に伴って液
体サンプルの吸入動作および吐出動作を実行する。試薬
ピペッテイングプロ−ブ１１０は、試薬用シリンジポン
プ１１１の動作に伴って試薬液の吸入動作および吐出動
作を実行する。両ピペッテイングプロ−ブ１０５および
１１０は耐薬品性の金属で作られており、液面検出用の
電極を兼ねている。各プロ−ブ１０５、１１０はそれぞ
れ対応して設けられている電気的検出回路に電気的に接
続される。サンプルデイスク１０２および試薬デイスク
１２５は、所望の容器を液体吸入位置に位置づけるよう
に、各々回転動作される。
は、サンプル用シリンジポンプ１０７の動作に伴って液
体サンプルの吸入動作および吐出動作を実行する。試薬
ピペッテイングプロ−ブ１１０は、試薬用シリンジポン
プ１１１の動作に伴って試薬液の吸入動作および吐出動
作を実行する。両ピペッテイングプロ−ブ１０５および
１１０は耐薬品性の金属で作られており、液面検出用の
電極を兼ねている。各プロ−ブ１０５、１１０はそれぞ
れ対応して設けられている電気的検出回路に電気的に接
続される。サンプルデイスク１０２および試薬デイスク
１２５は、所望の容器を液体吸入位置に位置づけるよう
に、各々回転動作される。
【０００９】各サンプルのために分析すべき分析項目
は、キ−ボ−ド１２１の如き入力装置から入力される。
分析装置における各ユニットの動作はコンピュ−タ１０
３により制御される。
は、キ−ボ−ド１２１の如き入力装置から入力される。
分析装置における各ユニットの動作はコンピュ−タ１０
３により制御される。
【００１０】サンプルデイスク１０２によってサンプル
吸入位置へ移送されたサンプルカップ１０１内にサンプ
ルピペッテイングプロ−ブ１０５が下降し、プロ−ブ１
０５の先端がサンプルの液面に接触すると下降動作が停
止され、その後、プロ−ブ１０５によって所定量のサン
プルが反応容器１０６へ分注される。サンプルが入れら
れた反応容器１０６が試薬添加位置まで移動されたとき
に、該当する分析項目に対応する試薬液が試薬ピペッテ
イングプロ−ブ１１０により添加される。そのような試
薬の添加に先立って、プロ−ブ１１０内には所定量の試
薬が対応する試薬ボトル１１２から吸入されている。こ
れらのサンプルおよび試薬の分注に伴って、サンプルカ
ップ１０１内のサンプルの液面および試薬ボトル１１２
内の試薬の液面が検出され、それに伴って各プロ−ブの
下降動作が制御される。
吸入位置へ移送されたサンプルカップ１０１内にサンプ
ルピペッテイングプロ−ブ１０５が下降し、プロ−ブ１
０５の先端がサンプルの液面に接触すると下降動作が停
止され、その後、プロ−ブ１０５によって所定量のサン
プルが反応容器１０６へ分注される。サンプルが入れら
れた反応容器１０６が試薬添加位置まで移動されたとき
に、該当する分析項目に対応する試薬液が試薬ピペッテ
イングプロ−ブ１１０により添加される。そのような試
薬の添加に先立って、プロ−ブ１１０内には所定量の試
薬が対応する試薬ボトル１１２から吸入されている。こ
れらのサンプルおよび試薬の分注に伴って、サンプルカ
ップ１０１内のサンプルの液面および試薬ボトル１１２
内の試薬の液面が検出され、それに伴って各プロ−ブの
下降動作が制御される。
【００１１】サンプルおよび試薬が加えられた反応容器
１０６は、撹拌器１１３の位置で混合物が撹拌される。
この反応容器１０６が移送されるときに、光源１１４か
ら発せられた光ビ−ムを横切る。そして、このときの反
応液の吸光度が測定手段としての光度計１１５により測
定される。吸光度信号はＡ／Ｄ変換器１１６を経由し、
インタ−フエ−ス１０４を介してコンピュ−タ１０３に
入り、分析項目の濃度が計算される。分析結果は、イン
タ−フエ−ス１０４を介してプリンタ１１７又はＣＲＴ
１１８の画面に出力されると共に、メモリとしてのハ−
ドデイスク１２２に格納される。測光が終了した反応容
器１０６は、洗浄機構１１９の位置にて洗浄される。洗
浄用ポンプ１２０は、反応容器へ洗浄水を供給すると共
に、反応容器から廃液を排出する。
１０６は、撹拌器１１３の位置で混合物が撹拌される。
この反応容器１０６が移送されるときに、光源１１４か
ら発せられた光ビ−ムを横切る。そして、このときの反
応液の吸光度が測定手段としての光度計１１５により測
定される。吸光度信号はＡ／Ｄ変換器１１６を経由し、
インタ−フエ−ス１０４を介してコンピュ−タ１０３に
入り、分析項目の濃度が計算される。分析結果は、イン
タ−フエ−ス１０４を介してプリンタ１１７又はＣＲＴ
１１８の画面に出力されると共に、メモリとしてのハ−
ドデイスク１２２に格納される。測光が終了した反応容
器１０６は、洗浄機構１１９の位置にて洗浄される。洗
浄用ポンプ１２０は、反応容器へ洗浄水を供給すると共
に、反応容器から廃液を排出する。
【００１２】図２におけるピペッテイング機構２０は、
サンプルピペッテイング機構と試薬ピペッテイング機構
の共通的な構成を、説明の都合上１つにまとめて示して
ある。
サンプルピペッテイング機構と試薬ピペッテイング機構
の共通的な構成を、説明の都合上１つにまとめて示して
ある。
【００１３】図２において、サンプルデイスク又は試薬
デイスクの如き容器移送用ホルダ−４は、サンプル又は
試薬の如き液体５を収容した容器３を保持する。このホ
ルダ−は、容器３の外壁側面を囲む領域に導電性部材例
えば金属が配置されており、その導電性部材が電気的に
接地されている。つまり、ホルダ−４は液面検出ユニッ
トの電極の１つとして働く。サンプル又は試薬用のピペ
ッテイングプロ−ブ６は、昇降可能および水平方向への
旋回可能な可動ア−ム２に取り付けられる。可動ア−ム
２はコンピュ−タ１０３によって制御される駆動部１に
より動作される。ピペッテイングプロ−ブ６が下降して
液体５の液面に接触するとプロ−ブ６の下降が停止さ
れ、所定の体積の液体がプロ−ブ６内に吸入される。
デイスクの如き容器移送用ホルダ−４は、サンプル又は
試薬の如き液体５を収容した容器３を保持する。このホ
ルダ−は、容器３の外壁側面を囲む領域に導電性部材例
えば金属が配置されており、その導電性部材が電気的に
接地されている。つまり、ホルダ−４は液面検出ユニッ
トの電極の１つとして働く。サンプル又は試薬用のピペ
ッテイングプロ−ブ６は、昇降可能および水平方向への
旋回可能な可動ア−ム２に取り付けられる。可動ア−ム
２はコンピュ−タ１０３によって制御される駆動部１に
より動作される。ピペッテイングプロ−ブ６が下降して
液体５の液面に接触するとプロ−ブ６の下降が停止さ
れ、所定の体積の液体がプロ−ブ６内に吸入される。
【００１４】次に、外来ノイズが検出される現象を図３
を参照して説明する。サンプルカップ１０１および試薬
ボトル１１２のような容器３は、ガラス又はプラスチッ
クの如き非導電性の物質で作られる。液面検出用電極と
してのピペッテイングプロ−ブ６は、金属の如き導電性
物質で作られる。容器３の表面電気抵抗が高いため、特
に大気中の湿度が低い場合に、容器の表面に静電気が帯
電しやすい。帯電はガラス容器よりもプラスチック容器
の方が大である。静電気が帯電されている容器３に向か
ってピペッテイングプロ−ブ６が降下し、プロ−ブ６が
容器３に接近したときに、帯電されていた電荷がプロ−
ブ６に向けて放電される。
を参照して説明する。サンプルカップ１０１および試薬
ボトル１１２のような容器３は、ガラス又はプラスチッ
クの如き非導電性の物質で作られる。液面検出用電極と
してのピペッテイングプロ−ブ６は、金属の如き導電性
物質で作られる。容器３の表面電気抵抗が高いため、特
に大気中の湿度が低い場合に、容器の表面に静電気が帯
電しやすい。帯電はガラス容器よりもプラスチック容器
の方が大である。静電気が帯電されている容器３に向か
ってピペッテイングプロ−ブ６が降下し、プロ−ブ６が
容器３に接近したときに、帯電されていた電荷がプロ−
ブ６に向けて放電される。
【００１５】このような放電現象は、ピペッテイングプ
ロ−ブ６の先端が液体５の液面に接触する前に生ずる。
この放電信号は、プロ−ブ６に電気的に接続されている
静電容量変化の検出回路によって検出される。そのよう
な様子を図５に示す。図５において、横軸はピペッテイ
ングプロ−ブ６が下降する時間であって、プロ−ブ６の
降下距離に相当する。図５の縦軸は信号レベルの大きさ
であって、Ａは検知されないレベルであり、Ｂは検知さ
れるレベルである。このような放電に基づく外来ノイズ
信号の大きさは、数ｋＶに達することがある。従って、
このような放電が生じた場合には、ピペッテイングプロ
−ブ６の先端が液面に到達していないにもかかわらず、
液面に達したものと誤って判定されることになる。
ロ−ブ６の先端が液体５の液面に接触する前に生ずる。
この放電信号は、プロ−ブ６に電気的に接続されている
静電容量変化の検出回路によって検出される。そのよう
な様子を図５に示す。図５において、横軸はピペッテイ
ングプロ−ブ６が下降する時間であって、プロ−ブ６の
降下距離に相当する。図５の縦軸は信号レベルの大きさ
であって、Ａは検知されないレベルであり、Ｂは検知さ
れるレベルである。このような放電に基づく外来ノイズ
信号の大きさは、数ｋＶに達することがある。従って、
このような放電が生じた場合には、ピペッテイングプロ
−ブ６の先端が液面に到達していないにもかかわらず、
液面に達したものと誤って判定されることになる。
【００１６】図４に示す液面検出ユニットにおける各電
気回路は基板にパタ−ン印刷されているが、そのような
態様に限定されるものではない。しかし、一対の放電素
子１１ａおよび１１ｂと静電容量変化の検出回路１６と
を含む液面検出回路８は、パタ−ンを印刷したものであ
ることが望ましい。交流発信回路７から出力される交流
信号は、プロ−ブ６を通して検出される静電容量値の変
化を検出できるように液面検出回路８に入力される。交
流信号は正弦波が適正であるが、代りに方形波又は三角
波等を用いることもできる。静電容量の変化の検出回路
は、例えば米国特許第４，８１８，４９２号明細書に示
されているようなブリッジ回路の如き既知の電気回路を
含む。
気回路は基板にパタ−ン印刷されているが、そのような
態様に限定されるものではない。しかし、一対の放電素
子１１ａおよび１１ｂと静電容量変化の検出回路１６と
を含む液面検出回路８は、パタ−ンを印刷したものであ
ることが望ましい。交流発信回路７から出力される交流
信号は、プロ−ブ６を通して検出される静電容量値の変
化を検出できるように液面検出回路８に入力される。交
流信号は正弦波が適正であるが、代りに方形波又は三角
波等を用いることもできる。静電容量の変化の検出回路
は、例えば米国特許第４，８１８，４９２号明細書に示
されているようなブリッジ回路の如き既知の電気回路を
含む。
【００１７】液面検出回路８では交流状態のまま、検出
された静電容量の変化を増幅し、その増幅された信号は
整流回路９に入力される。整流回路９では入力された交
流信号を直流信号に変換し、その直流信号は比較回路１
０に入力される。比較回路１０では入力された静電容量
信号の変化を変化前の値と比較し、プロ−ブ６と容器３
内の液体の液面との接触の有無、つまり、液面検出の有
無を表す検出信号１５が得られる。比較回路１０が直流
信号で動作するようにするのはその方が回路が簡素化さ
れるからである。
された静電容量の変化を増幅し、その増幅された信号は
整流回路９に入力される。整流回路９では入力された交
流信号を直流信号に変換し、その直流信号は比較回路１
０に入力される。比較回路１０では入力された静電容量
信号の変化を変化前の値と比較し、プロ−ブ６と容器３
内の液体の液面との接触の有無、つまり、液面検出の有
無を表す検出信号１５が得られる。比較回路１０が直流
信号で動作するようにするのはその方が回路が簡素化さ
れるからである。
【００１８】プリント基板上に導電性物質で形成された
一対の放電素子１１ａおよび１１ｂのパタ−ンは、０．
１ｍｍ程度のギャップをおいて互いに対向している。各
放電素子は対向する側の先端が、静電気が集中して放電
しやすいように尖っている。一対の放電素子の内の一方
の放電素子１１ａは電気的に接地されている。他方の放
電素子１１ｂはピペッテイングプロ−ブ６に電気的に接
続されると共に、静電容量変化の検出回路１６に電気的
に接続される。
一対の放電素子１１ａおよび１１ｂのパタ−ンは、０．
１ｍｍ程度のギャップをおいて互いに対向している。各
放電素子は対向する側の先端が、静電気が集中して放電
しやすいように尖っている。一対の放電素子の内の一方
の放電素子１１ａは電気的に接地されている。他方の放
電素子１１ｂはピペッテイングプロ−ブ６に電気的に接
続されると共に、静電容量変化の検出回路１６に電気的
に接続される。
【００１９】これにより、プロ−ブ６を通して検出され
る静電気の帯電等による外来ノイズ信号は一対の放電素
子１１ａ、１１ｂを介してア−スに放電され、静電容量
変化の検出回路部１６へのノイズ信号の伝達が抑制され
る。さらに、一対の放電素子の内の放電素子１１ｂと静
電容量変化検出回路１６との間にはインダクタンス１２
が実装されている。このインダクタンス１２は高周波に
対して高いインピ−ダンス特性を示すものである。これ
により、ノイズ信号のア−スへの放電が助長され、静電
容量変化検出回路１６へのノイズ信号の伝達がさらに抑
制される。従って、外来ノイズ信号を液面検出信号であ
るとして誤検出することが大幅に低減される。
る静電気の帯電等による外来ノイズ信号は一対の放電素
子１１ａ、１１ｂを介してア−スに放電され、静電容量
変化の検出回路部１６へのノイズ信号の伝達が抑制され
る。さらに、一対の放電素子の内の放電素子１１ｂと静
電容量変化検出回路１６との間にはインダクタンス１２
が実装されている。このインダクタンス１２は高周波に
対して高いインピ−ダンス特性を示すものである。これ
により、ノイズ信号のア−スへの放電が助長され、静電
容量変化検出回路１６へのノイズ信号の伝達がさらに抑
制される。従って、外来ノイズ信号を液面検出信号であ
るとして誤検出することが大幅に低減される。
【００２０】静電容量変化の検出回路１６の出力信号は
演算増幅器１３を通る。演算増幅器１３の増幅率は装置
の最小検出容量により異なるが、一般的には数十〜数百
倍である。演算増幅器１３の出力交流信号は整流回路９
で直流化される。
演算増幅器１３を通る。演算増幅器１３の増幅率は装置
の最小検出容量により異なるが、一般的には数十〜数百
倍である。演算増幅器１３の出力交流信号は整流回路９
で直流化される。
【００２１】従来の直流化方法は、コンデンサ放電を用
いて積分することにより交流を直流に変換するのが一般
的であるが、このような方法によれば、静電気ノイズや
その他の外来ノイズ等の突発的信号をも積分するので、
液面を誤検出する恐れがある。
いて積分することにより交流を直流に変換するのが一般
的であるが、このような方法によれば、静電気ノイズや
その他の外来ノイズ等の突発的信号をも積分するので、
液面を誤検出する恐れがある。
【００２２】これに対して、図４における直流化方法の
例では、演算増幅器１３の正負両方向出力をツエナ−ダ
イオ−ド１４によってクランプするので、静電気やその
他の外来ノイズ等の突発的信号、つまり、不要信号が整
流回路に伝達されず、積分されない。図４の如く構成す
ることにより、容器３の表面からの静電気の放電の量が
図５の例と同じであったときに、静電容量変化の検出回
路１６で得られる外来ノイズ信号は、図６の例のように
幅が小さくなる。このような信号は積分されないので、
比較回路１０から出力される検出信号に含まれない。従
って、ピペッテイングプロ−ブ６が液面に接触したとき
に生じる静電容量の変化が適正に検出される。本発明を
適用しない図５の例では、外来ノイズの信号の幅が数十
ミリセカンドであったのに対し、本発明を適用した図６
の例では外来ノイズの信号の幅がミリセカンド（ｍｓ）
以下に減少される。
例では、演算増幅器１３の正負両方向出力をツエナ−ダ
イオ−ド１４によってクランプするので、静電気やその
他の外来ノイズ等の突発的信号、つまり、不要信号が整
流回路に伝達されず、積分されない。図４の如く構成す
ることにより、容器３の表面からの静電気の放電の量が
図５の例と同じであったときに、静電容量変化の検出回
路１６で得られる外来ノイズ信号は、図６の例のように
幅が小さくなる。このような信号は積分されないので、
比較回路１０から出力される検出信号に含まれない。従
って、ピペッテイングプロ−ブ６が液面に接触したとき
に生じる静電容量の変化が適正に検出される。本発明を
適用しない図５の例では、外来ノイズの信号の幅が数十
ミリセカンドであったのに対し、本発明を適用した図６
の例では外来ノイズの信号の幅がミリセカンド（ｍｓ）
以下に減少される。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、ピペッテイングプロ−
ブを用いて液体の液面を検出する際に、大気の湿度が低
くても液面の誤検出を低減できる構成が提供される。
ブを用いて液体の液面を検出する際に、大気の湿度が低
くても液面の誤検出を低減できる構成が提供される。
【図１】本発明が適用される自動分析装置の全体構成を
示す概略図である。
示す概略図である。
【図２】液面検出するときのピペッテイング機構の動作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図３】液面検出に伴う外来ノイズによる影響を説明す
るための図である。
るための図である。
【図４】図１の分析装置に適用される液面検出ユニット
における電気系を説明するための図である。
における電気系を説明するための図である。
【図５】本発明を適用しない場合の外来ノイズ信号の例
を示す図である。
を示す図である。
【図６】図５と同じ大きさの外来ノイズを本発明を適用
して低減した例を示す図である。
して低減した例を示す図である。
３：容器、６：ピペッテイングプロ−ブ、７：交流発振
回路、８：液面検出回路、９：整流回路、１０：比較回
路、１１ａ、１１ｂ：放電素子、１２：インダクタン
ス、１６：静電容量変化の検出回路。
回路、８：液面検出回路、９：整流回路、１０：比較回
路、１１ａ、１１ｂ：放電素子、１２：インダクタン
ス、１６：静電容量変化の検出回路。
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(56)参考文献 特開 平３−261864（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−323564（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−174531（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−146227（ＪＰ，Ａ)
実開 平７−7216（ＪＰ，Ｕ)
実開 平３−14431（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 35/10
G01F 23/26
Claims (5)
- 【請求項１】ピペッテイングプロ−ブを用いて一方の容
器から他方の容器へ液体を分注する装置を備えており、
前記ピペッテイングプロ−ブは前記一方の容器内の液体
の液面を検出するため電極として働き、前記他方の容器
中の内容物は測定手段によって測定される分析装置にお
いて、前記一方の容器を保持する手段と、前記ピペッテ
イングプロ−ブと前記保持手段との間における静電容量
の変化を検出する検出回路と、互いに対向するように配
置された一対の放電素子と、前記ピペッテイングプロ−
ブを前記対の放電素子の内の一方の放電素子を介して前
記静電容量変化の検出回路に電気的に接続する手段とを
備え、前記保持手段および前記対の放電素子の内の他方
の放電素子はそれぞれ電気的に接地されていることを特
徴とする液面検出機能を備えた分析装置。 - 【請求項２】前記対の放電素子および前記静電容量変化
の検出回路は印刷パタ−ンで形成されていることを特徴
とする請求項１に記載された液面検出機能を備えた分析
装置。 - 【請求項３】前記対の放電素子は互いに対向する先端が
それぞれ尖った形状であることを特徴とする請求項２に
記載された液面検出機能を備えた分析装置。 - 【請求項４】前記電気的接続手段は前記一方の放電素子
と前記静電容量変化の検出回路との間にインダクタンス
を有することを特徴とする請求項１に記載された液面検
出機能を備えた分析装置。 - 【請求項５】前記保持手段は前記一方の容器を液体吸入
位置に位置づけるための容器移送手段を含むことを特徴
とする請求項１に記載された液面検出機能を備えた分析
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30750897A JP3421556B2 (ja) | 1996-11-19 | 1997-11-10 | 液面検出機能を備えた分析装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30797096 | 1996-11-19 | ||
| JP8-307970 | 1996-11-19 | ||
| JP30750897A JP3421556B2 (ja) | 1996-11-19 | 1997-11-10 | 液面検出機能を備えた分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10206432A JPH10206432A (ja) | 1998-08-07 |
| JP3421556B2 true JP3421556B2 (ja) | 2003-06-30 |
Family
ID=26565142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30750897A Expired - Lifetime JP3421556B2 (ja) | 1996-11-19 | 1997-11-10 | 液面検出機能を備えた分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3421556B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015070525A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | 太平洋セメント株式会社 | 圧電スイッチ |
| JP6660840B2 (ja) | 2016-07-27 | 2020-03-11 | 日本電子株式会社 | 自動分析装置及びプログラム |
| JP6837085B2 (ja) | 2019-01-09 | 2021-03-03 | 日本電子株式会社 | 自動分析装置及びプログラム |
-
1997
- 1997-11-10 JP JP30750897A patent/JP3421556B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10206432A (ja) | 1998-08-07 |
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