JP3417502B2 - Manufacturing method of surface acoustic wave device - Google Patents

Manufacturing method of surface acoustic wave device

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JP3417502B2
JP3417502B2 JP06542895A JP6542895A JP3417502B2 JP 3417502 B2 JP3417502 B2 JP 3417502B2 JP 06542895 A JP06542895 A JP 06542895A JP 6542895 A JP6542895 A JP 6542895A JP 3417502 B2 JP3417502 B2 JP 3417502B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、弾性表面波装置のAl
−Cu合金電極の腐食を防止するための製造方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to an Al surface acoustic wave device.
The manufacturing method for preventing the corrosion of the Cu alloy electrode
To do.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、弾性表面波装置の高周波化が進む
につれてその電極加工の微細化が要求され、電極加工に
はウエットエッチング法に変わってドライエッチング法
が用いられてきている。さらに、弾性表面波装置の十分
な耐電力寿命を得るためには、その電極材としてAl−
Cu等の合金が不可欠である。
2. Description of the Related Art In recent years, as the frequency of surface acoustic wave devices has increased, finer electrode processing has been required, and dry etching has been used instead of wet etching for electrode processing. Further, in order to obtain a sufficient power withstanding life of the surface acoustic wave device, Al-
An alloy such as Cu is indispensable.

【0003】しかし、ドライエッチングによるAl及び
Al合金のエッチングには塩素系のガスが使用されるた
め、エッチング後の電極の腐食が問題となっている。半
導体装置のAl配線時にも同様の問題が発生している
が、半導体装置で用いられるSiO2基板よりも、弾性
表面波装置で用いられるLiNbO3やLiTaO3基板
上のAl合金の方が腐食が発生しやすい。
However, since chlorine-based gas is used for etching Al and Al alloy by dry etching, corrosion of electrodes after etching is a problem. A similar problem occurs when Al wiring of a semiconductor device is used. However, an Al alloy on a LiNbO 3 or LiTaO 3 substrate used in a surface acoustic wave device is more corroded than an SiO 2 substrate used in a semiconductor device. Likely to happen.

【0004】上記の問題を解決するため、半導体分野で
は、前記腐食を防止する方法として、エッチング後にフ
ッ素系ガスのプラズマ処理により塩素を置換する方法が
特開平5−36691号に、また、エッチング後に酸で
洗浄する方法が特開平2−148728号に、また、エ
ッチング後にアルカリで洗浄する方法が特開平3−14
5728号に、また、エッチング後に有機溶剤で洗浄す
る方法が特開平3−180040号に、また、エッチン
グ後に純水で洗浄する方法が特開平3−166724号
に、また、エッチング後に加熱する方法が特開平3−2
80535号に、また、エッチング後に熱した不活性ガ
スを供給する方法が特開昭63−53268号にそれぞ
れ開示されている。
In order to solve the above problems, in the field of semiconductors, as a method for preventing the corrosion, a method of substituting chlorine by plasma treatment with a fluorine-based gas after etching is disclosed in JP-A-5-36691, and after etching. A method of washing with an acid is disclosed in JP-A-2-148728, and a method of washing with an alkali after etching is disclosed in JP-A-3-14728.
No. 5728, a method of cleaning with an organic solvent after etching is disclosed in JP-A-3-180040, a method of cleaning with pure water after etching is disclosed in JP-A-3-166724, and a method of heating after etching is disclosed. Japanese Patent Laid-Open No. 3-2
No. 80535 and a method of supplying an inert gas heated after etching are disclosed in JP-A-63-53268.

【0005】しかしながら、これらの方法では、腐食の
防止が十分ではない。特に、水洗を行う方法では、Al
−Cu合金では水洗時に新たに発生する腐食が問題とな
っている。これは、Al−Cu合金膜にはCuAl2
の析出があり、このCuAl2相が電位を上昇させさら
に純水中に溶存酸素が存在するとそれが酸化剤として働
き、腐食の条件が満たされるために腐食が発生すること
による。従って、水洗する純水の脱酸素処理をして、腐
食発生の一因である溶存酸素を除去する方法は腐食防止
の有効な一手段である。
However, these methods do not sufficiently prevent corrosion. Particularly, in the method of washing with water, Al
With Cu alloys, corrosion that newly occurs during washing with water poses a problem. This is because there is precipitation of CuAl 2 phase in the Al-Cu alloy film, and when this CuAl 2 phase raises the potential and dissolved oxygen exists in pure water, it acts as an oxidant and the condition of corrosion is satisfied. Because of the occurrence of corrosion. Therefore, a method of deoxidizing pure water to be washed with water to remove dissolved oxygen, which is one of the causes of corrosion, is an effective means for preventing corrosion.

【0006】本発明の代表的な先行技術として、特開平
4−51521号(以降先行例1と称する)について説
明する。
As a typical prior art of the present invention, Japanese Patent Laid-Open No. 4-51521 (hereinafter referred to as Prior Art 1) will be described.

【0007】図12において、RIE(反応性イオンエ
ッチング)装置214でエッチング処理された後、加熱
装置215で、基板表面を熱風処理し、続いて水洗装置
216で水洗処理する。
In FIG. 12, after being etched by a RIE (reactive ion etching) device 214, the heating device 215 heats the surface of the substrate with hot air, and then a water washing device 216 performs a water washing process.

【0008】この水洗装置216では、図13におい
て、まず、超純水導入管237から導入された超純水
は、水素ガス導入管236から導入された水素ガスと共
に、脱酸素処理を行うための触媒239を充填してなる
触媒樹脂充填塔240に導かれる。
In this water washing device 216, first, in FIG. 13, the ultrapure water introduced from the ultrapure water introducing pipe 237 is used for deoxidizing treatment together with the hydrogen gas introduced from the hydrogen gas introducing pipe 236. It is guided to a catalyst resin packed tower 240 filled with the catalyst 239.

【0009】ここでの、触媒作用により超純水中の酸素
が水素と反応して、下式に示す通りに水となるために、
脱酸素処理を行うことができる。
Since oxygen in the ultrapure water reacts with hydrogen due to the catalytic action to become water as shown in the following formula,
Deoxidation treatment can be performed.

【0010】H2 + 1/2O2 → H2O この反応は定量的に進行し、8ppmの溶存酸素を含む
2Oに対して1ppmのH2を添加すれば、ほぼ溶存酸
素を除去することができる。この装置を用いると機械的
化学的に処理の困難な低温の水でも容存O2を20pp
m以下にすることができ、装置の運転も簡単である。
H 2 + 1 / 2O 2 → H 2 O This reaction proceeds quantitatively, and by adding 1 ppm of H 2 to H 2 O containing 8 ppm of dissolved oxygen, almost all of the dissolved oxygen is removed. be able to. With this equipment, 20 pp of O 2 can be stored even in low temperature water that is difficult to process mechanically and chemically.
It can be less than m, and the operation of the device is simple.

【0011】このようにして触媒樹脂充填塔240で脱
酸素処理された超純水238は、導入管235を介して
水洗容器232に導入され、スピンナ234によって吸
引回転され被処理基板233を水洗する。
The ultrapure water 238 deoxidized by the catalyst resin packed tower 240 in this manner is introduced into the water washing container 232 through the introduction pipe 235, and is suction-rotated by the spinner 234 to wash the substrate 233 to be treated with water. .

【0012】上記のような、脱酸素処理方法では純水と
水素を混合し、触媒を使って純水中の溶存酸素を水素と
反応させて水にすることによって、純水中の溶存酸素を
低減させており、このように脱酸素処理された水で水洗
しているために、水洗時に酸化されることもなく、良好
な配線パターンを形成することが可能とされている。
In the above deoxidation treatment method, pure water and hydrogen are mixed, and dissolved oxygen in pure water is reacted with hydrogen using a catalyst to form water, whereby dissolved oxygen in pure water is removed. Since it is reduced and is washed with deoxidized water in this way, it is possible to form a good wiring pattern without being oxidized during the washing.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、弾性表
面波装置の電極加工においては、Al−Cu合金を電極
材として用いており、これを塩素系ガスでドライエッチ
ング加工する場合には、そのエッチング後に発生する腐
食およびエッチング後の水洗時に新たに発生する腐食に
対して十分な対策が取られていない。
However, in the electrode processing of the surface acoustic wave device, an Al-Cu alloy is used as an electrode material, and when this is dry-etched with a chlorine-based gas, after the etching, the Al-Cu alloy is used. Sufficient measures have not been taken against the corrosion that occurs and the corrosion that newly occurs when washing with water after etching.

【0014】また、先行例1の方法では、水素を使用す
るのでその取り扱いに注意を要し、さらに触媒も使用
し、装置が大掛かりとなり、高価でもある。さらに、先
行例1の方法では溶存酸素は20ppm程度までしか低
減できないため、耐腐食に対する脱酸素処理は不十分で
ある。
Further, in the method of the prior art example 1, since hydrogen is used, it is necessary to handle it with care, and also a catalyst is used, which requires a large apparatus and is expensive. Furthermore, since the dissolved oxygen can be reduced to only about 20 ppm by the method of Prior Art 1, deoxidation treatment for corrosion resistance is insufficient.

【0015】本発明は、上記問題を解決すべく、Al−
Cu合金電極を塩素系ガスプラズマエッチン グ加工す
る場合の腐食防止の方法として、エッチングに連続して
アッシングを行った後 の大気中での腐食を防止するた
めの水洗方法を提供することを目的とする。また水洗時
に新たに発生する腐食を防止する水洗方法を提供する
ことを目的とする。
In order to solve the above problems, the present invention is based on Al-
An object of the present invention is to provide a water washing method for preventing corrosion in the atmosphere after performing ashing in succession to etching as a method for preventing corrosion when performing a chlorine-based gas plasma etching process on a Cu alloy electrode. To do. Another object of the present invention is to provide a water washing method that prevents corrosion that newly occurs during water washing.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明に係わる弾性表面
波装置の製造方法は、塩素系ガスのプラズマエッチング
により 、弾性表面波装置のAl−Cu合金電極を形成
する工程と、レジストアッシングする工 程と、前記レ
ジストアッシング後に、基板を脱酸素処理を行った超純
水で洗浄する工程 とを含むことを特徴とする弾性表面
波装置の製造方法である。
A method of manufacturing a surface acoustic wave device according to the present invention comprises a step of forming an Al--Cu alloy electrode of a surface acoustic wave device by plasma etching with a chlorine-based gas, and a step of resist ashing. And a step of cleaning the substrate with deoxidized ultrapure water after the resist ashing, the method of manufacturing a surface acoustic wave device.

【0017】また、超純水の脱酸素処理が、N2ガスバ
ブリングによって行われることを特徴とする弾性表面波
装置の製造方法である。
Further, the method for manufacturing a surface acoustic wave device is characterized in that the ultrapure water is deoxidized by N 2 gas bubbling.

【0018】また、超純水の脱酸素処理が、CO2ガス
バブリングによって行われることを特徴とする弾性表面
波装置の製造方法である。
Further, the method of manufacturing a surface acoustic wave device is characterized in that ultrapure water is deoxidized by CO 2 gas bubbling.

【0019】また、塩素系ガスのプラズマエッチングに
より、弾性表面波装置のAl−Cu合金電極 を形成す
る工程と、レジストアッシングする工程と、該レジスト
アッシング後に基板を 高真空チャンバから大気中に取
り出して脱酸素処理を行った超純水で洗浄する工程とを
有する弾性表面波装置の製造方法において、前記基板
を前記高真空チャンバから大気中 に取り出してから1
分間以内に、次工程である前記洗浄工程で洗浄すること
を特徴とす る弾性表面波装置の製造方法である。
Further, a step of forming an Al--Cu alloy electrode of the surface acoustic wave device by plasma etching of chlorine-based gas, a step of resist ashing, and a step of removing the substrate from the high vacuum chamber to the atmosphere after the resist ashing. A method of manufacturing a surface acoustic wave device, comprising: a step of cleaning with deoxygenated ultrapure water. 1) after removing the substrate from the high vacuum chamber into the atmosphere
The method for producing a surface acoustic wave device is characterized in that the washing is performed in the next washing step within a minute.

【0020】また、塩素系ガスのプラズマエッチングに
より、弾性表面波装置のAl−Cu合金電極 を形成す
る工程と、レジストアッシングする工程と、該レジスト
アッシング後に基板を 高真空チャンバから大気中に取
り出して脱酸素処理を行った超純水で洗浄する工程とを
有する弾性表面波装置の製造方法において、前記基板
を前記高真空チャンバから大気中 に取り出して前記洗
浄工程で洗浄するまでの大気中雰囲気が、相対湿度30
%以下であ ることを特徴とする弾性表面波装置の製造
方法である。
Further, a step of forming an Al--Cu alloy electrode of the surface acoustic wave device by plasma etching of chlorine-based gas, a step of resist ashing, and taking out the substrate from the high vacuum chamber into the atmosphere after the resist ashing. In the method of manufacturing a surface acoustic wave device, which comprises a step of cleaning with deoxygenated ultrapure water, the atmosphere in the atmosphere until the substrate is taken out of the high vacuum chamber into the atmosphere and cleaned in the cleaning step is , Relative humidity 30
% Or less, is a method of manufacturing a surface acoustic wave device.

【0021】また、前記基板を前記高真空チャンバから
取り出して前記洗浄工程で洗浄するまでの雰囲気が、乾
燥N2雰囲気であることを特徴とする弾性表面波装置の
製造方法である。
Further, in the method of manufacturing the surface acoustic wave device, the atmosphere until the substrate is taken out from the high vacuum chamber and cleaned in the cleaning step is a dry N 2 atmosphere.

【0022】また、前記Al−Cu合金電極が、0.5
乃至2.0wt%のCuを含むAl−Cu合 金電極か
らなることを特徴とする弾性表面波装置の製造方法であ
る。
Further, the Al--Cu alloy electrode is 0.5
A method of manufacturing a surface acoustic wave device comprising an Al-Cu alloy electrode containing Cu to 2.0 wt%.

【0023】本発明によれば、エッチング工及びアッシ
ングにより電極を形成した後、N2ガスまた はCO2
スをバブリングして溶存酸素を除去した脱酸素超純水で
水洗を行い、また、 形成されたAl−Cu合金電極の
腐食が発生する迄の潜伏期間内に脱酸素超純水で水洗
を行い、また、腐食発生迄の潜伏期間が長い、相対湿度
30%以下の大気中または乾燥 N2雰囲気中で脱酸素
超純水を用いて水洗を行うことにより、本発明に係わる
弾性表面 波装置の製造方法の上記目的が達成される。
According to the present invention, an electrode is formed by etching and ashing, and then N 2 gas or CO 2 gas is bubbled to remove dissolved oxygen and rinsed with deoxygenated ultrapure water. Rinse with deoxygenated ultrapure water within the incubation period until corrosion of the Al-Cu alloy electrode is generated.
The surface acoustic wave according to the present invention is obtained by rinsing with deoxygenated ultrapure water in an atmosphere having a long incubation period until the occurrence of corrosion and a relative humidity of 30% or less or in a dry N 2 atmosphere. The above object of the method for manufacturing the device is achieved.

【0024】[0024]

【作用】Al合金膜を塩素系ガスでプラズマエッチング
した後及び純水で水洗する時に発生する腐食は、電気化
学論でいう孔食であり孔食は次の4つの条件がそろった
時にのみ発生する。
[Function] Corrosion that occurs when the Al alloy film is plasma-etched with chlorine gas and washed with pure water is pitting corrosion in electrochemical theory, and pitting corrosion occurs only when the following four conditions are met. To do.

【0025】 不動態膜の存在 不動態膜の局所破壊 電位の上昇 酸化剤の存在 水洗に用いる超純水中に溶存酸素が存在すると、この溶
存酸素が酸化剤として働いてAlの価電子を奪うために
孔食が次の反応で起こる。
Presence of passivation film Local breakdown of passivation film Increase in potential Existence of oxidizing agent If dissolved oxygen exists in the ultrapure water used for washing with water, this dissolved oxygen acts as an oxidizing agent to deprive Al valence electrons. Therefore, pitting corrosion occurs in the next reaction.

【0026】 H2O + O2 + e- → OH- ・・・ 1 Al → Al3+ + e- ・・・ 2 本発明の請求項1,2,3によれば、超純水中の溶存酸
素を除くことにより、孔食条件のうちのを除くことが
できて、上記1,2式のe-の移動が防止され水洗時の
腐食(孔食)が防止される。
[0026] H 2 O + O 2 + e - → OH - ··· 1 Al → Al 3+ + e - In accordance with claim 1, 2, 3 ... 2 invention, ultrapure water By removing the dissolved oxygen, it is possible to remove one of the pitting corrosion conditions, the movement of e − in the above equations 1 and 2 is prevented, and the corrosion (pitting corrosion) at the time of washing with water is prevented.

【0027】またAl−Cu合金電極をCl系ガスでプ
ラズマエッチングした後、大気中に取り出す と大気中
の水分が作用して腐食が発生する。
If the Al-Cu alloy electrode is plasma-etched with a Cl-based gas and then taken out into the atmosphere, moisture in the atmosphere acts and corrosion occurs.

【0028】 Cl2 + H2O → Cl- + H+ + O ・・・3 Al + H2O + O2 → Al3+ + OH-・・・4 Al3+ + Cl- → AlCl3 ・・・5 前記3,4,5式の腐食反応が起こるためには或る所定
の反応時間(潜伏期間)が必要とされる。本発明の請求
項4によれば、この潜伏期間内に脱酸素超純水で水洗し
て、Cl,Oを除去することにより、孔食条件のうちの
,を除くことができ、腐食が防止される。
[0028] Cl 2 + H 2 O → Cl - + H + + O ··· 3 Al + H 2 O + O 2 → Al 3+ + OH - ··· 4 Al 3+ + Cl - → AlCl 3 · .. 5 A certain predetermined reaction time (latency period) is required for the corrosion reaction of the above equations 3, 4, and 5 to occur. According to the fourth aspect of the present invention, by washing with deoxygenated ultrapure water to remove Cl and O within this incubation period, it is possible to remove the pitting corrosion condition and prevent corrosion. To be done.

【0029】また、本発明の請求項5,6によれば、エ
ッチング及びアッシング後に相対湿度30%以下の大気
中または乾燥N2雰囲気中で脱酸素超純水で水洗するこ
とにより上記3,4,5式の反応が抑制されて孔食条件
のうちの,が除かれ腐食が防止される。
According to the fifth and sixth aspects of the present invention, after etching and ashing, washing with deoxygenated ultrapure water is performed in the atmosphere having a relative humidity of 30% or less or in a dry N 2 atmosphere to wash with water. , The reaction of equation 5 is suppressed, and one of the pitting conditions is removed, and corrosion is prevented.

【0030】本発明の請求項7によれば、Al−Cu合
金電極中のCuの質量比を0.5乃至2.0wt%にす
ることによって、弾性表面波装置の耐電力寿命が延び信
頼性を高めることができる。
According to the seventh aspect of the present invention, by setting the mass ratio of Cu in the Al--Cu alloy electrode to 0.5 to 2.0 wt%, the power withstanding life of the surface acoustic wave device is extended and the reliability is improved. Can be increased.

【0031】[0031]

【実施例】本発明の実施例について、図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0032】実施例 1 図1(a)乃至(d)に本発明の実施例における工程順断面図
を示す。本実施例において、11は圧電単結晶基板、1
2はAl−Cu電極層、13はフォトレジストである。
Embodiment 1 FIGS. 1 (a) to 1 (d) show sectional views in order of steps in an embodiment of the present invention. In this embodiment, 11 is a piezoelectric single crystal substrate, 1
2 is an Al-Cu electrode layer, and 13 is a photoresist.

【0033】圧電単結晶基板(LiNbO3基板あるい
はLiTaO3基板)11上に、例えば0.15μmの厚
さのAl−0.5wt%Cu合金のスパッタ膜を形成す
る(図1(a))。次に、フォトリソグラフイにより、
例えば弾性表面波フィルタのレジストパターンを形成し
(図1(b))、この後、Cl2とBCl3との混合ガス
を用いたマグネトロンRIE(反応性イオンエッチン
グ)によってレジストパターンをマスクとしてAl−
0.5wt%Cu合金膜をプラズマエッチングし弾性表
面波フィルタの電極を形成する(図1(c))。
On the piezoelectric single crystal substrate (LiNbO 3 substrate or LiTaO 3 substrate) 11, for example, a sputtered film of Al-0.5 wt% Cu alloy having a thickness of 0.15 μm is formed (FIG. 1A). Next, by photolithography,
For example, a resist pattern of a surface acoustic wave filter is formed (FIG. 1 (b)), and thereafter, by using magnetron RIE (reactive ion etching) using a mixed gas of Cl 2 and BCl 3 , Al-using the resist pattern as a mask.
The 0.5 wt% Cu alloy film is plasma-etched to form an electrode of the surface acoustic wave filter (FIG. 1 (c)).

【0034】この時、Al−Cu合金電極周辺の基板上
に付着物が存在することがSEM(走査電子顕微鏡)に
よって確認されている。また、これらの付着物はオーバ
ーエッチング時間が長い程多く、エッチングによるレジ
ストの残渣であることがSEMによって確認されてい
る。
At this time, it has been confirmed by SEM (scanning electron microscope) that deposits are present on the substrate around the Al--Cu alloy electrode. Further, it has been confirmed by SEM that these deposits increase as the over-etching time increases, and that they are resist residues due to etching.

【0035】その後、高真空を保ったまま基板を別室に
移し、O2とCF4との混合ガスを用いてマイクロ波ダウ
ンフロープラズマによりレジストパターンをアッシング
し除去する(図1(d))。しかし、このアッシングに
よって、エッチング残渣である付着物は除去されないこ
とがSEMによって確認されている。この付着物中には
F,C,OおよびClが含まれていることがEPMA
(電子プローブX線微小部分析装置)によって確認され
ている。
After that, the substrate is transferred to another chamber while maintaining a high vacuum, and the resist pattern is ashed and removed by microwave downflow plasma using a mixed gas of O 2 and CF 4 (FIG. 1 (d)). However, it has been confirmed by SEM that the ashing does not remove the deposits as etching residues. EPMA indicates that the deposit contains F, C, O and Cl.
(Electron probe X-ray micro analyzer).

【0036】次に、Cl,F,C,Oを含む付着物が付
着しているLiNbO3基板を大気中に取り出した後、
1分以内に図2に示す基板洗浄槽で基板の洗浄を行う。
Next, after taking out the LiNbO 3 substrate to which the deposit containing Cl, F, C and O adheres to the atmosphere,
The substrate is cleaned in the substrate cleaning tank shown in FIG. 2 within 1 minute.

【0037】以下に、基板洗浄槽の構造と本発明による
実施結果を説明する。図2に本発明の実施例における基
板洗浄槽の構造を示す。この実施例において、21は洗
浄槽、22は多数の孔のある合成樹脂製の多孔板、23
は基板ホルダー、24は基板である。洗浄槽21は例え
ば容積5リットルの直方体形状で、洗浄槽21の底部に
は例えば樹脂板に直径約1mmの小孔を多数個設けた多
孔板22を洗浄槽21の底面より約5mm上部に設けて
ある。この洗浄槽21に超純水を満たし、圧力約0.5
kg/cm2のN2ガスを洗浄槽21と多孔板22との間
に導入し、N2ガスを多孔板22の孔より超純水中に吹
き出させて超純水を3分間以上バブリングする。これに
より、以下に示すように、超純水中の溶存酸素が除去さ
れる。
The structure of the substrate cleaning tank and the results of the practice of the present invention will be described below. FIG. 2 shows the structure of the substrate cleaning tank in the embodiment of the present invention. In this embodiment, 21 is a washing tank, 22 is a synthetic resin porous plate having a large number of holes, and 23
Is a substrate holder, and 24 is a substrate. The cleaning tank 21 has, for example, a rectangular parallelepiped shape with a volume of 5 liters, and a bottom portion of the cleaning tank 21 is provided with a perforated plate 22 provided with a large number of small holes having a diameter of about 1 mm on a resin plate, for example, about 5 mm above the bottom of the cleaning tank 21. There is. The cleaning tank 21 is filled with ultrapure water and the pressure is about 0.5.
N 2 gas of kg / cm 2 is introduced between the cleaning tank 21 and the perforated plate 22, the N 2 gas is blown into the ultrapure water through the holes of the perforated plate 22, and the ultrapure water is bubbled for 3 minutes or more. . Thereby, as shown below, dissolved oxygen in the ultrapure water is removed.

【0038】図3はN2ガスバブリング時間と超純水中
の溶存酸素量との相関図である。図3において、洗浄槽
21中に満たす超純水を流水にした場合と溜水にした場
合との、N2ガスバブリング時間と超純水中の溶存酸素
量との相関が示されている。ここで用いたN2ガス圧力
は、図2で説明した場合と同様の0.5kg/cm2であ
る。流水の場合は洗浄槽21の上部より超純水を流入
し、オーバーフローさせている。その結果、超純水の流
量が大(図3中のB)以外の場合、N2ガスバブリング
時間約3分間で溶存酸素量は0.2〜0.3ppm以下と
なった。
FIG. 3 is a correlation diagram between the N 2 gas bubbling time and the amount of dissolved oxygen in ultrapure water. FIG. 3 shows the correlation between the N 2 gas bubbling time and the amount of dissolved oxygen in the ultrapure water when the ultrapure water with which the cleaning tank 21 is filled is made to be running water or accumulated water. The N 2 gas pressure used here is 0.5 kg / cm 2 which is the same as that described in FIG. In the case of running water, ultrapure water is introduced from the upper part of the cleaning tank 21 and overflowed. As a result, when the flow rate of ultrapure water was other than high (B in FIG. 3), the amount of dissolved oxygen was 0.2 to 0.3 ppm or less in about 3 minutes of N 2 gas bubbling time.

【0039】また、前記溶存酸素を除去した超純水洗浄
槽21を第1槽とし、この他に同様な槽を、第2槽とし
て別途に設ける。大気中に取り出した前記LiNbO3
基板を、前記洗浄槽21の第1槽に、短時間、例えば3
0秒間浸して洗浄を行った後、続けて第2槽に例えば1
分間以上浸して洗浄を行うことによって、Cl,F,
C,Oを含んだ基板上の付着物が除去されることがSE
Mにより確認されている。
The ultrapure water cleaning tank 21 from which the dissolved oxygen has been removed is used as the first tank, and a similar tank is separately provided as the second tank. The LiNbO 3 taken out into the atmosphere
The substrate is placed in the first tank of the cleaning tank 21 for a short time, for example, 3
After soaking for 0 second to wash, continue to the second tank with, for example, 1
By soaking for more than a minute and cleaning, Cl, F,
SE removes the deposits on the substrate containing C and O.
Confirmed by M.

【0040】図4は洗浄時間における腐食発生状態を示
す図である。図4において、従来の溶存酸素を含む超純
水および本発明によるN2ガスバブリングにより溶存酸
素を除去した超純水を用いて基板洗浄した場合の、洗浄
時間によるAl−Cu合金電極の腐食発生状態を示す。
従来の溶存酸素を多く含む超純水で基板洗浄した場合
は、1分以上超純水中に基板を浸漬するとAl−0.5
wt%Cu電極に腐食が発生したのに対して、本発明に
よるN2ガスバブリングにより溶存酸素を0.2乃至0.
3ppm以下に除去した超純水で洗浄した場合は10分
以上基板を超純水中に浸漬しても電極に腐食は全く発生
しなかった。
FIG. 4 is a diagram showing a corrosion occurrence state during the cleaning time. In FIG. 4, when a substrate is cleaned using conventional ultrapure water containing dissolved oxygen and ultrapure water from which dissolved oxygen has been removed by N 2 gas bubbling according to the present invention, corrosion of the Al—Cu alloy electrode occurs depending on the cleaning time. Indicates the status.
When the substrate is cleaned with conventional ultrapure water containing a large amount of dissolved oxygen, if the substrate is immersed in ultrapure water for 1 minute or longer, Al-0.5
Corrosion occurred in the wt% Cu electrode, while dissolved oxygen was changed from 0.2 to 0.2 by the N 2 gas bubbling according to the present invention.
When the substrate was washed with ultrapure water removed to 3 ppm or less, no corrosion occurred on the electrode even if the substrate was immersed in ultrapure water for 10 minutes or longer.

【0041】図5は洗浄後の電極のSEM写真である。
図5において、純水およびN2ガスバブリング純水で各
10分間洗浄した場合の各々の電極の腐食発生状態が示
されている。ここで、N2バスバブリングせずに溶存酸
素を含んでいる純水で洗浄した場合(図5(a))、電
極に腐食が発生しているのが明確に確認できる。さら
に、N2ガスでバブリングした純水(図5(b))では
腐食が発生していないことが確認できる。
FIG. 5 is an SEM photograph of the electrode after cleaning.
FIG. 5 shows the corrosion occurrence state of each electrode when washed with pure water and N 2 gas bubbling pure water for 10 minutes each. Here, when cleaning is performed with pure water containing dissolved oxygen without N 2 bath bubbling (FIG. 5A), it can be clearly confirmed that the electrodes are corroded. Further, it can be confirmed that the pure water bubbling with N 2 gas (FIG. 5B) does not cause corrosion.

【0042】ここで、純水洗浄の場合(図5(a))に
電極に腐食が生じるのは、エッチングガスCl2に起因
する不動態膜破壊アニオンCl-によって電極パターン
サイドの不動態膜(Al23)が局所破壊されており、
溶存酸素を含んだ純水(実験に使用した純水の溶存酸素
量6.8mg/l)に浸すと、この溶存酸素が酸化剤と
して働き孔食条件が満たされて不動態膜破壊部分の孔食
が進行し、腐食が生じることによる。
Here, in the case of cleaning with pure water (FIG. 5A), the electrode is corroded because the passivation film destruction anion Cl caused by the etching gas Cl 2 causes the passivation film on the electrode pattern side ( Al 2 O 3 ) is locally destroyed,
When immersed in pure water containing dissolved oxygen (the amount of dissolved oxygen in the pure water used in the experiment was 6.8 mg / l), this dissolved oxygen acts as an oxidizer and the pitting corrosion condition is satisfied, so that the pores in the passivated film breakage part are filled. This is due to the progress of food and corrosion.

【0043】さらに、図6はバブリングガス中の酸素含
有量と腐食発生数との相関図である。図6において、バ
ブリングガスN2中のO2含有量と、これらのガスでバブ
リングした純水で基板洗浄した場合のAl−0.5wt
%Cu合金電極の腐食発生数との相関を示す。各ガスで
のバブリングは5分間、基板洗浄は5分間行った。発生
した腐食数は光学顕微鏡を用いて計数した。含有酸素量
が少ない程腐食発生数は減少している。酸素量0%のガ
スでは腐食は全く発生しなかった。この場合も、Al−
Cu電極の腐食が孔食であり、孔食の発生に必要な一要
因である酸化剤(酸素)を除くことにより腐食が防止で
きることを示している。
Further, FIG. 6 is a correlation diagram between the oxygen content in the bubbling gas and the number of corrosion occurrences. In FIG. 6, the O 2 content in the bubbling gas N 2 and Al-0.5 wt when the substrate was cleaned with pure water bubbling with these gases
The correlation with the number of corrosion occurrences of the% Cu alloy electrode is shown. Bubbling with each gas was performed for 5 minutes, and substrate cleaning was performed for 5 minutes. The number of corrosions generated was counted using an optical microscope. The smaller the oxygen content, the smaller the number of corrosion occurrences. Corrosion did not occur at all in the gas having an oxygen content of 0%. Also in this case, Al-
It is shown that the corrosion of the Cu electrode is pitting corrosion, and the corrosion can be prevented by removing the oxidizing agent (oxygen) which is one factor necessary for the occurrence of pitting corrosion.

【0044】また、本発明による前記N2ガスバブリン
グ超純水で洗浄した後、N2ブロードライヤーによって
乾燥させたAl−0.5wt%Cu電極は大気中に1ヶ
月以上放置しても腐食は発生しなかった。これは、水洗
することにより、大気中の水分と作用して腐食の発生要
因となるCl,Oを多く含んでいる基板付着物が除去さ
れ、同時にCl,Oも除去されるため、腐食が発生しな
いことによる。
The Al-0.5 wt% Cu electrode, which has been washed with the N 2 gas bubbling ultrapure water according to the present invention and then dried by an N 2 blow dryer, is not corroded even if left in the atmosphere for 1 month or more. Did not occur. This is because by washing with water, the deposits on the substrate containing a large amount of Cl and O, which act on the moisture in the atmosphere and cause corrosion, are removed, and at the same time, Cl and O are also removed, so that corrosion occurs. It depends on what you do not do.

【0045】以上のように、N2ガスバブリングによっ
て溶存酸素を除去した超純水で洗浄する方法はAl−C
u合金電極の耐腐食に十分な効果が得られた。
As described above, the method of cleaning with ultrapure water from which dissolved oxygen has been removed by bubbling with N 2 gas is Al--C.
A sufficient effect was obtained on the corrosion resistance of the u alloy electrode.

【0046】また、N2ガスに代えてCO2ガスを用いた
場合にも同じ効果が得られることが確認されている。
It has been confirmed that the same effect can be obtained when CO 2 gas is used instead of N 2 gas.

【0047】図7はバブリングガスの種類と耐腐食性を
示す図である。図7において、超純水中の溶存酸素の除
去にN2ガスバブリング及びCO2ガスバブリングをそれ
ぞれ用いた場合および溶存酸素を除去しない超純水を用
いた場合の電極腐食状態を示す。
FIG. 7 shows the type of bubbling gas and the corrosion resistance. FIG. 7 shows electrode corrosion states when N 2 gas bubbling and CO 2 gas bubbling were used to remove dissolved oxygen in ultrapure water and when ultrapure water that did not remove dissolved oxygen was used.

【0048】CO2ガスバブリングの場合もN2ガスバブ
リングの場合と同様に溶存酸素が0.2乃至0.3ppm
以下となった場合に電極に腐食は発生しなかった。CO
2ガスバブリングの場合には、超純水中の溶存酸素が0.
8乃至1.2ppmでも電極に腐食がみられなかった。
これは、CO2ガスが超純水に溶解すると炭酸が生じる
ためpHが低下し、Alの全面腐食領域に入って、電極
の腐食が確認されないことによる。確認できる電極の腐
食は孔食であって、孔食はAlの全面腐食領域では発生
しない。
In the case of CO 2 gas bubbling, the dissolved oxygen content is 0.2 to 0.3 ppm as in the case of N 2 gas bubbling.
No corrosion occurred on the electrodes when CO
In the case of 2 gas bubbling, the dissolved oxygen in the ultrapure water is 0.
No corrosion was observed on the electrode even at 8 to 1.2 ppm.
This is because when the CO 2 gas is dissolved in ultrapure water, carbonic acid is generated, the pH is lowered, the pH enters the general corrosion area of Al, and the corrosion of the electrode is not confirmed. The electrode corrosion that can be confirmed is pitting corrosion, and pitting corrosion does not occur in the general corrosion area of Al.

【0049】本実施例ではCO2の場合の超純水はpH
3.8乃至4.3であり、またAlの全面腐食領域はpH
約4以下およびpH約8以上であることから、本実施例
のCO2の場合は全面腐食領域内とみられる。
In this embodiment, the pH of ultrapure water in the case of CO 2 is
3.8 to 4.3, and the general corrosion area of Al is pH
Since the pH is about 4 or less and the pH is about 8 or more, the CO 2 of this example is considered to be within the general corrosion region.

【0050】CO2ガスバブリングによって溶存酸素を
除去した場合は電極に確認できる腐食(孔食)は発生し
ないが電極全体が一様に腐食しており電極が腐食してい
ることに変わりはない。
When dissolved oxygen is removed by CO 2 gas bubbling, no observable corrosion (pitting corrosion) occurs in the electrode, but the entire electrode is uniformly corroded and the electrode remains corroded.

【0051】但し、電極の全面腐食速度が軽微であるた
め、溶存酸素除去ガスとしてCO2ガスも有効であっ
た。
However, since the overall corrosion rate of the electrode was small, CO 2 gas was also effective as a dissolved oxygen removing gas.

【0052】さらに、N2ガス及びCO2ガス以外にも溶
存酸素除去ガスとして、Ar,H2等存在するがいずれ
も価格や効率および安全性の面からみて実用的ではな
い。
In addition to N 2 gas and CO 2 gas, there are Ar, H 2 and the like as dissolved oxygen removing gases, but none of them is practical in terms of price, efficiency and safety.

【0053】実施例 2 実施例1と同様のLiNbO3基板に同様のAl−0.5
wt%Cu合金の弾性表面波フィルタ電極を、同様のエ
ッチング/アッシングによって形成した後、前記基板を
高真空チャンバから大気中に取り出し、2分以上経過し
た後で、実施例1と同様にN2ガスバブリングで溶存酸
素を除去した超純水で洗浄を行ったところ、Al−Cu
合金電極に若干の腐食がみられた。
Example 2 The same LiNbO 3 substrate as in Example 1 and the same Al-0.5 were used.
After forming the surface acoustic wave filter electrode of the wt% Cu alloy by the same etching / ashing, the substrate was taken out of the high vacuum chamber into the atmosphere, and after 2 minutes or more, N 2 was removed in the same manner as in Example 1. When washed with ultrapure water from which dissolved oxygen was removed by gas bubbling, Al-Cu
Some corrosion was observed on the alloy electrode.

【0054】これは、高真空チャンバから前記基板を取
り出し、N2ガスバブリングで溶存酸素を除去した超純
水で洗浄する迄の間に大気中で腐食したものであり、つ
まり腐食発生潜伏期間以上の長時間にわたって、水分を
含む大気中に放置したために、洗浄前の大気中で腐食し
たものであり、水洗中及び水洗後に発生した腐食ではな
いことが確認できる。
This is one in which the substrate was taken out from the high vacuum chamber, and was corroded in the atmosphere until it was washed with ultrapure water from which dissolved oxygen was removed by bubbling with N 2 gas, that is, the corrosion generation latent period or more. It can be confirmed that it was corroded in the atmosphere before cleaning because it was left in the atmosphere containing water for a long time, and it was not the corrosion that occurred during or after washing with water.

【0055】図8はAl−Cu合金の含有量に対する腐
食発生潜伏期間を示す図である。図8は、Cu含有量が
0.5wt%と3.0wt%の場合のエッチング/アッ
シング終了後の大気中(相対湿度50乃至60%)放置
時間による電極の腐食発生状態を示している。Al−C
u合金において、Cuの含有量が0.5wt%の場合、
腐食発生潜伏期間が1分間以内であることが確認でき
る。また、Cuの含有量が3.0wt%の場合は、腐食
発生潜伏期間が5秒間以内であることが確認できる。
FIG. 8 is a diagram showing the latent period for corrosion occurrence with respect to the content of Al--Cu alloy. FIG. 8 shows a state in which corrosion of the electrodes occurs due to the time of standing in the atmosphere (relative humidity 50 to 60%) after etching / ashing when the Cu contents are 0.5 wt% and 3.0 wt%. Al-C
In the u alloy, when the Cu content is 0.5 wt%,
It can be confirmed that the latent period for corrosion occurrence is within 1 minute. Further, it can be confirmed that when the Cu content is 3.0 wt%, the corrosion generation latent period is within 5 seconds.

【0056】実施例 3 実施例1と同様のLiNbO3基板に同様のAl−0.5
wt%Cu合金の弾性表面波フィルタ電極を、同様のエ
ッチング/アッシングによって形成した後、高真空チャ
ンバから相対湿度30%以下の大気中に基板を取り出
し、同じく相対湿度30%以下の大気中で実施例1と同
様にN2ガスバブリングで溶存酸素を除去した超純水で
洗浄を行った。
Example 3 A LiNbO 3 substrate similar to that of Example 1 was formed on the same Al-0.5 substrate.
After forming a surface acoustic wave filter electrode of wt% Cu alloy by the same etching / ashing, the substrate was taken out from the high vacuum chamber into the atmosphere with a relative humidity of 30% or less, and the same was performed in an atmosphere with a relative humidity of 30% or less. As in Example 1, cleaning was performed with ultrapure water from which dissolved oxygen was removed by N 2 gas bubbling.

【0057】この場合、高真空チャンバから基板を取り
出した後15分以上経過してから洗浄を行っても、電極
に腐食は発生しなかった。
In this case, the electrodes did not corrode even if the substrate was taken out from the high-vacuum chamber and cleaned for 15 minutes or more.

【0058】これは、Al−Cu合金電極の腐食に関与
している大気中の水分が極端に少ないためで、水分を含
まない雰囲気中での腐食潜伏期間は半永久的に長く、腐
食は極端に発生しにくくなることによるものである。
This is because the water content in the atmosphere, which is involved in the corrosion of the Al--Cu alloy electrode, is extremely small, and the corrosion incubation period in an atmosphere containing no water is semipermanently long, and the corrosion is extremely large. This is because it is less likely to occur.

【0059】実施例 4 実施例1と同様のLiNbO3基板にCu含有量0.5
wt%,1.0wt%,2.0wt%,3.0wt%の
Al−Cu合金の弾性表面波フィルタ電極を、同様のエ
ッチング/アッシングによって形成した後、高真空チャ
ンバから大気中に取り出し、5分以内に、発生した腐食
数を計数した。
Example 4 The same LiNbO 3 substrate as in Example 1 was used, and the Cu content was 0.5.
Wt%, 1.0 wt%, 2.0 wt%, and 3.0 wt% Al-Cu alloy surface acoustic wave filter electrodes were formed by similar etching / ashing, and then taken out from the high vacuum chamber into the atmosphere. Within minutes, the number of corrosion occurrences was counted.

【0060】図9は、Al−Cu合金膜のCu含有量と
腐食発生率の相関を示す図である。また、図10は、図
9の各Cu含有量に対して発生した腐食のSEM写真で
ある。図9および図10において、Cu含有量が増すに
つれて、腐食の発生率が飛躍的に大きくなることが分か
る。これは、Cu含有量が増す程腐食発生要因のひとつ
であるCuAl2相の折出が多くなり、腐食発生促進に
つながっていることによる。CuAl2相はAl−Cl
合金膜の粒界に折出し、粒内のCu固溶相より自然電極
電位が高いため、Alの価電子の移動を引き起こしAl
を腐食させる。(孔食発生要因の電位の上昇) また、図11は、蒸着およびスパッタによって形成し
た、純Alおよび0.5wt%Cu合金電極の耐電力寿
命を示す図である。図11において、純Alの場合は、
蒸着およびスパッタ共に、耐電力寿命が1ヶ月,4ヶ月
と低いのに対して、Al−0.5wt%Cu合金スパッ
タ電極の場合は10年と長いことが分かる。
FIG. 9 is a diagram showing the correlation between the Cu content of the Al—Cu alloy film and the corrosion occurrence rate. In addition, FIG. 10 is an SEM photograph of corrosion that occurred for each Cu content in FIG. 9. In FIGS. 9 and 10, it can be seen that as the Cu content increases, the occurrence rate of corrosion dramatically increases. This is because the CuAl 2 phase, which is one of the factors causing corrosion, increases as the Cu content increases, which leads to promotion of corrosion generation. CuAl 2 phase is Al-Cl
Since the natural electrode potential is higher than that of the Cu solid solution phase in the grains, it causes the migration of Al valence electrons and causes the migration of Al valence electrons.
Corrode. (Increase in Potential Caused by Pitting Corrosion) FIG. 11 is a diagram showing the power withstanding life of pure Al and 0.5 wt% Cu alloy electrodes formed by vapor deposition and sputtering. In FIG. 11, in the case of pure Al,
It can be seen that the power withstanding life of both vapor deposition and sputtering is as low as 1 month and 4 months, while that of the Al-0.5 wt% Cu alloy sputter electrode is as long as 10 years.

【0061】以上述べてきたように、Cu含有量の多い
程耐電力寿命は長く、またCu含有量が少ない程腐食の
発生が少ないことが示された。従って、耐電力寿命が1
0年と長いAl−0.5wt%Cuスパッタ電極を採用
する場合は、実施例1および実施例2で示してきたよう
に、腐食発生潜伏期間1分間以内に、本発明によるN2
ガスバブリング超純水によって水洗を行うことによって
腐食が防止され、耐電力寿命および信頼性共に高い弾性
表面波装置を得ることが可能となる。また、耐電力寿命
が10年以上と予測される1.0乃至2.0wt%Cu
含有電極を採用する場合は、本発明による実施例3に示
すように、相対湿度が30%以下の大気中または乾燥N
2雰囲気中において、N2ガスバブリング超純水で洗浄す
ることによって腐食が防止され、信頼性が高く且つ耐電
力寿命のさらに長い弾性表面波装置を得ることが可能と
なることが推測される。
As described above, it has been shown that the higher the Cu content, the longer the power withstanding life, and the lower the Cu content, the less the occurrence of corrosion. Therefore, the withstand power life is 1
When an Al-0.5 wt% Cu sputtered electrode having a long period of 0 years is adopted, as shown in Examples 1 and 2, N 2 according to the present invention is used within a corrosion generation latent period of 1 minute.
By rinsing with gas bubbling ultrapure water, corrosion is prevented, and it is possible to obtain a surface acoustic wave device having a high power durability and high reliability. In addition, 1.0 to 2.0 wt% Cu whose power withstanding life is expected to be 10 years or more
When the containing electrode is adopted, as shown in Example 3 according to the present invention, the relative humidity is 30% or less in the air or in dry N.
It is presumed that by cleaning with N 2 gas bubbling ultrapure water in two atmospheres, corrosion can be prevented, and it is possible to obtain a surface acoustic wave device with high reliability and a longer withstand power life.

【0062】なお、前記実施例で用いた基板の材質、電
極の材質、洗浄槽の構造はこれらに限るものではないこ
とは言うまでもない。
Needless to say, the material of the substrate, the material of the electrode and the structure of the cleaning tank used in the above embodiment are not limited to these.

【0063】[0063]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、大気中の水分と反応して電極の腐食を誘発する要因
であるCl,Oを基板から除去し、大気中で発生する腐
食を防止するために行う水洗に、N2ガスバブリングま
たはCO2ガスバブリングによって溶存酸素を除去した
超純水を用いることによって、水洗中に新たに発生する
腐食をも防止される。
As described above, according to the present invention, Cl, O, which is a factor that reacts with moisture in the atmosphere and induces corrosion of the electrode, is removed from the substrate, and the corrosion generated in the atmosphere is removed. By using ultrapure water from which dissolved oxygen has been removed by N 2 gas bubbling or CO 2 gas bubbling, corrosion that newly occurs during water washing can also be prevented by performing water washing for preventing the above.

【0064】また本発明によれば、大気中に取り出した
基板を腐食発生潜伏期間内に前記超純水によって洗浄す
るかまたは、相対湿度30%以下の大気中または乾燥N
2雰囲気中で前記超純水によって洗浄することによって
電極の腐食が防止される。
Further, according to the present invention, the substrate taken out into the atmosphere is cleaned with the ultrapure water within the latent period for corrosion generation, or the substrate is dried in the atmosphere with a relative humidity of 30% or less or in a dry N 2 atmosphere.
2 Corrosion of electrodes is prevented by cleaning with ultrapure water in an atmosphere.

【0065】この方法によって信頼性の高い弾性表面波
装置の電極パターンを得ることが可能となる。また、高
価なガスや触媒、薬品等を使用しないで済みさらに簡単
な装置で済むため、高効率化および製造コストの低減が
可能となる。
By this method, it is possible to obtain a highly reliable electrode pattern of the surface acoustic wave device. Further, since expensive gas, catalyst, chemicals, etc. are not used and a simpler device is sufficient, it is possible to improve efficiency and reduce manufacturing cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1図は本発明の実施例の工程を示す断面図FIG. 1 is a sectional view showing a process of an embodiment of the present invention.

【図2】第2図は洗浄槽の説明図FIG. 2 is an explanatory view of a cleaning tank.

【図3】第3図はN2ガスバブリング時間と超純水中の
溶存酸素量との相関図
FIG. 3 is a correlation diagram between N2 gas bubbling time and the amount of dissolved oxygen in ultrapure water.

【図4】第4図は洗浄時間における腐食発生状態を示す
FIG. 4 is a diagram showing a corrosion occurrence state during a cleaning time.

【図5】第5図は洗浄後の電極のSEM写真FIG. 5 is a SEM photograph of the electrode after cleaning.

【図6】第6図はバブリングガス中の酸素含有量と腐食
発生数との相関図
FIG. 6 is a correlation diagram between the oxygen content in the bubbling gas and the number of corrosion occurrences.

【図7】第7図はバブリングガスの種類と耐腐食性を示
す図
FIG. 7 is a diagram showing types of bubbling gas and corrosion resistance.

【図8】第8図はAl−Cu合金膜のCu含有量に対す
る腐食潜伏期間を示す図
FIG. 8 is a diagram showing the corrosion incubation period with respect to the Cu content of the Al—Cu alloy film.

【図9】第9図はAl−Cu合金膜のCu含有量と腐食
発生率の相関図
FIG. 9 is a correlation diagram between the Cu content and the corrosion occurrence rate of the Al—Cu alloy film.

【図10】第10図はAl−Cu合金膜のCu含有量と
腐食発生状態を示すSEM写真
FIG. 10 is an SEM photograph showing the Cu content and the corrosion occurrence state of the Al—Cu alloy film.

【図11】第11図は膜質,成膜方法による電極の耐電
力性を示す図
FIG. 11 is a diagram showing the power resistance of the electrode according to the film quality and the film forming method.

【図12】第12図は表面処理装置の従来例の図FIG. 12 is a diagram of a conventional example of a surface treatment apparatus.

【図13】第13図は水洗装置の従来例の図FIG. 13 is a view of a conventional example of a water washing device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11──圧電単結晶基板 12──Al-Cu合金電極層 13──フォトレジストパターン 21──洗浄槽 22──多孔板 23──基板ホルダー 24──圧電単結晶基板 11--Piezoelectric single crystal substrate 12 --- Al-Cu alloy electrode layer 13 --- Photoresist pattern 21 ── Washing tank 22 ── Perforated plate 23 --- Substrate holder 24 ── Piezoelectric single crystal substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 成宮 義和 東京都中央区日本橋一丁目13番1号ティ ーディーケイ株式会社内 (56)参考文献 特開 平6−61774(JP,A) 特開 平5−291863(JP,A) 特開 平2−312308(JP,A) 特開 平2−206214(JP,A) 特開 平2−94911(JP,A) 特開 平1−259611(JP,A) 特開 平7−45569(JP,A) 実開 昭63−162526(JP,U)   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Yoshikazu Narimiya               1-13-1, Nihonbashi, Chuo-ku, Tokyo               -In DC Inc.                (56) Reference JP-A-6-61774 (JP, A)                 JP-A-5-291863 (JP, A)                 Japanese Patent Laid-Open No. 2-312308 (JP, A)                 JP-A-2-206214 (JP, A)                 JP-A-2-94911 (JP, A)                 JP-A-1-259611 (JP, A)                 JP-A-7-45569 (JP, A)                 63-162526 (JP, U)

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 塩素系ガスのプラズマエッチングによ
り、弾性表面波装置用圧電基板にAl−Cu合金電極
形成する工程と、レジストアッシングする工程と、前記
レジストアッシング後に、前記弾性表面波装置用圧電
板を脱酸素処理を行った超純水で洗浄する工程とを含む
ことにより、前記脱酸素処理を行わないときに発生する
Al−Cu合金電極の腐食を抑止することを特徴とする
弾性表面波装置の製造方法。
1. A step of forming an Al—Cu alloy electrode on a piezoelectric substrate for a surface acoustic wave device by plasma etching of chlorine-based gas, a step of resist ashing, and a piezoelectric element for a surface acoustic wave device after the resist ashing. It occurs when the deoxidation treatment is not carried out by including the step of washing the substrate with ultrapure water that has been deoxidized.
A method for manufacturing a surface acoustic wave device, characterized in that corrosion of an Al-Cu alloy electrode is suppressed .
【請求項2】 超純水の脱酸素処理が、N2ガスバブリ
ングによって行われることを特徴とする請求項1に記載
の弾性表面波装置の製造方法。
2. The method of manufacturing a surface acoustic wave device according to claim 1, wherein the deoxidation treatment of ultrapure water is performed by N 2 gas bubbling.
【請求項3】 超純水の脱酸素処理が、CO2ガスバブ
リングによって行われることを特徴とする請求項1に記
載の弾性表面波装置の製造方法。
3. The method of manufacturing a surface acoustic wave device according to claim 1, wherein the deoxygenation treatment of ultrapure water is performed by CO 2 gas bubbling.
【請求項4】 塩素系ガスのプラズマエッチングによ
り、弾性表面波装置用圧電基板にAl−Cu合金電極
形成する工程と、引き続き高真空を保ったままレジスト
アッシングする工程と、該レジストアッシング後に前記
弾性表面波用圧電基板を高真空チャンバから大気中に取
り出して脱酸素処理を行った超純水で洗浄する工程とを
有することにより、脱酸素処理を行わないときに発生す
るAl−Cu合金電極の腐食を抑止する弾性表面波装置
の製造方法において、前記弾性表面波装置用圧電基板を
前記高真空チャンバから大気中に取り出してから1分以
内に、次工程である前記洗浄工程で洗浄することを特徴
とする弾性表面波装置の製造方法。
By plasma etching of 4. A chlorine-based gas, and forming a Al-Cu alloy electrode on the piezoelectric substrate for a surface acoustic wave device, a step of resist ashing while continuing keeping the high vacuum, the after the resist ashing
It occurs when deoxidation treatment is not performed by having a step of removing the piezoelectric substrate for surface acoustic wave from the high vacuum chamber to the atmosphere and cleaning it with ultrapure water that has been deoxidized.
In the method of manufacturing a surface acoustic wave device for suppressing the corrosion of an Al-Cu alloy electrode , the following step is performed within 1 minute after the piezoelectric substrate for the surface acoustic wave device is taken out of the high vacuum chamber into the atmosphere. A method of manufacturing a surface acoustic wave device, which comprises cleaning in a cleaning step.
【請求項5】 塩素系ガスのプラズマエッチングによ
り、弾性表面波装置用圧電基板にAl−Cu合金電極
形成する工程と、引き続き高真空を保ったままレジスト
アッシングする工程と、該レジストアッシング後に前記
弾性表面波装置用圧電基板を高真空チャンバから大気中
に取り出して脱酸素処理を行った超純水で洗浄する工程
とを有することにより、脱酸素処理を行わないときに発
生するAl−Cu合金電極の腐食を抑止する弾性表面波
装置の製造方法において、前記弾性表面波装置用圧電
板を前記高真空チャンバから大気中に取り出して前記洗
浄工程で洗浄するまでの大気中雰囲気が、相対湿度30
%以下であることを特徴とする弾性表面波装置の製造方
法。
5. A step of forming an Al--Cu alloy electrode on a piezoelectric substrate for a surface acoustic wave device by plasma etching with a chlorine-based gas, a step of successively performing resist ashing while maintaining a high vacuum, and a step of performing the resist ashing after the resist ashing.
By removing the piezoelectric substrate for the surface acoustic wave device into the atmosphere from the high vacuum chamber and cleaning it with deionized ultrapure water, it is possible to generate the piezoelectric substrate when deoxidation is not performed.
In a method of manufacturing a surface acoustic wave device for suppressing corrosion of a generated Al-Cu alloy electrode, the surface acoustic wave device piezoelectric substrate is taken out of the high vacuum chamber into the atmosphere and cleaned in the cleaning step. Atmosphere until the relative humidity is 30
% Or less, a method of manufacturing a surface acoustic wave device.
【請求項6】 前記基板を前記高真空チャンバから取り
出して前記洗浄工程で洗浄するまでの雰囲気が、乾燥N
2雰囲気であることを特徴とする請求項5に記載の弾性
表面波装置の製造方法。
6. The atmosphere until the substrate is taken out of the high vacuum chamber and washed in the washing step is dry N.
The method for manufacturing a surface acoustic wave device according to claim 5, wherein the atmosphere is two atmospheres.
【請求項7】 前記Al−Cu合金電極が、0.5乃至
2.0wt%のCuを含むことを特徴とする請求項1乃
至6のいずれかの弾性表面波装置の製造方法。
7. The method of manufacturing a surface acoustic wave device according to claim 1, wherein the Al—Cu alloy electrode contains Cu of 0.5 to 2.0 wt%.
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