JP3394091B2 - Displacement gauge - Google Patents

Displacement gauge

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JP3394091B2 JP10476994A JP10476994A JP3394091B2 JP 3394091 B2 JP3394091 B2 JP 3394091B2 JP 10476994 A JP10476994 A JP 10476994A JP 10476994 A JP10476994 A JP 10476994A JP 3394091 B2 JP3394091 B2 JP 3394091B2
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】この発明は変位計に係り、さらに
詳しくは、発光素子と半導体光位置検出素子(PSD;
Position Sensitive Detect
or)とからなるセンサ部を備えて三角測量方式により
被測定面の変位量を測定するようにした変位計に関する
ものである。 【0002】 【従来の技術】図4に示すように発光素子12と半導体
光位置検出素子(PSD)14とからなるセンサ部11
を備えて三角測量方式により被測定面16の変位量を測
定するようにした変位計は、発光素子12である半導体
レーザからのレーザ光13を測定対象物15の被測定面
16に照射し、その散乱光を受光レンズによって半導体
光位置検出素子14の側に光スポットとして結像させ、
その際の光スポットの位置により、例えばCを基準位置
とする測定対象物15の被測定面16がAからBまでの
間を移動した際の変位量を振幅Dとして測定することが
できるようになっている。 【0003】ところで、上記変位計は、測定対象物15
の被測定面16にレーザ光13を照射し、その散乱光を
半導体光位置検出素子14の側に光スポットとして結像
させるものであるため、測定対象物15の色や材質など
との関係で反射光量に変化が生じ、これが測定値に影響
を及ぼすことになる。 【0004】このため、上記変位計については、従来よ
り製品出荷前に例えば白色拡散反射物を標準測定対象物
として用い、その際に得られる測定がを図3に実線で示
すような標準測定値となるように出力特性の調整を行っ
たうえでユーザー側に引き渡されていた。 【0005】一方、ユーザー側が変位計を用いる場合に
は、上記標準測定対象物とは色や材質などの異なるもの
を実際の測定対象物15とするのが一般的であり、メー
カー側で調整した標準仕様のもとで測定しようとすると
図3に破線で示すように出力特性にずれが生ずることか
ら、得られる測定値をずれが生じた分だけ補正してやる
必要があった。 【0006】この場合における出力特性の補正は、通
常、ソフトウエアにより行う手法とハードウエアにより
行う手法とのいずれかを採用することで行われており、
特に、ハードウエアにより行う手法を採用するものであ
るときは、外部からの調整操作ができる補正回路を変位
計に組み込むことで行われていた。 【0007】 【発明が解決しようとする課題】ところで、ハードウエ
アのもとで出力特性の補正を行う場合には、変位計に組
み込まれている上記補正回路を操作することでユーザー
側にて必要な調整を行うことはできる。 【0008】しかし、上記補正回路を操作することで出
力特性の補正を行ってしまった場合には、ユーザー側で
再度、標準仕様としての出荷前の出力特性に復帰させる
ことができず、メーカー側の手を借りて標準仕様へとそ
の出力特性を復帰させる調整を行う必要があり、煩雑で
操作上の融通性に欠ける不都合があった。 【0009】 【課題を解決するための手段】この発明は従来技術にみ
られた上記課題に鑑みてなされたものであり、その構成
上の特徴は、発光素子と、この発光素子からの照射光を
測定対象物の被測定面にて反射させて受光される光スポ
ットの位置により前記被測定面の変位状況を変位信号と
して出力する半導体光位置検出素子とからなるセンサ部
を少なくとも有して三角測量方式により前記被測定面の
変位量を測定する変位計において、前記センサ部が検出
して出力側に送出される変位信号は、標準となる測定対
象物が示す出力特性に対応させた測定値を得るために必
要な補正を行う第1補正回路と、標準となる測定対象物
に対し実測される測定対象物の側が示す出力特性のずれ
を修正した測定値を得るために必要な補正を行う第2補
正回路との択一的な切替えを自在に配設される測定値補
正手段を経由させることで、必要な補正処理を行った測
定値として出力させるようにしたことにある。 【0010】 【作用】このため、センサ部が検出して出力側に送出さ
れる変位信号を測定値補正手段を構成している第1補正
回路と第2補正回路とのいずれかを経由させることで、
出荷時に調整されている出力特性に対応する測定値と、
標準となる測定対象物に対しユーザー側で実測される測
定対象物が示す出力特性のずれを修正するための補正処
理を行った後の測定値とを選択的に出力させることがで
きる。 【0011】したがって、ユーザー側では、所望に応じ
第1補正回路と第2補正回路とのいずれかに自由に切り
替えることができるので、簡便かつ柔軟な操作性を確保
することができる。 【0012】 【実施例】この発明に係る変位計は、既に述べた図4の
説明からも明らかなように半導体レーザからなる発光素
子12と、この発光素子12からの照射光であるレーザ
光13を測定対象物15の被測定面16にて反射させて
受光される光スポットの位置により前記被測定面16の
変位状況を変位信号として出力する半導体光位置検出素
子(PSD)14とからなるセンサ部11を少なくとも
有しており、三角測量法により前記被測定面16の変位
量を測定することができるようにして形成されており、
しかも、実測される測定対象物15の色や材質の違いに
対応して出力特性にずれが生じた分だけ測定値を補正す
るための測定値補正手段を備えて形成されている。 【0013】図1は、この発明に係る変位計が備える上
記測定値補正手段の構成例を示すブロック図であり、こ
の場合の測定値補正手段21は、第1補正回路22と第
2補正回路23と、これら第1補正回路22と第2補正
回路23とを択一的に切り替えるためのスイッチ24と
を少なくとも備えて構成されている。 【0014】このうち、第1補正回路22は、標準とな
る測定対象物が示す出力特性に対応させた測定値を得る
ために必要な補正を行うものであり、出荷時に予め調整
されており、ユーザー側がこれを自由に調整操作するこ
とができないようにして配設されている。 【0015】また、第2補正回路23は、標準となる測
定対象物に対し実測される測定対象物15の側が示す出
力特性のずれを修正した測定値を得るために必要な補正
を行うものであり、ユーザー側にて外部から自由に調整
操作することができるようにして配設されている。 【0016】図2は、図1に示す測定値補正手段21の
具体的な構成例を示すものであり、変位信号の入力側と
出力側との間には演算増幅器25が配設されており、こ
の演算増幅器25からの出力信号は負帰還回路26の側
に配設されている測定値補正手段21を経由することで
負帰還されるようになっている。 【0017】この場合における上記測定値補正手段21
は、可変抵抗器からなる第1補正回路22と、同じく可
変抵抗器からなる第2補正回路23とが少なくとも並列
接続され、かつ、前記負帰還回路26の入力側に配設さ
れているスイッチ24を第1接点t1 又は第2接点t2
のいずれかの側に接続させて回路を閉成することにより
第1補正回路22と第2補正回路23との択一的な切替
えが自在となって形成されている。なお、第1補正回路
22を形成している可変抵抗器自体はユーザー側で操作
することができないようになっている。 【0018】この発明は上述したようにして構成されて
いるので、センサ部11が検出して出力側に送出される
変位信号は、演算増幅器25の負帰還回路26の側に並
列接続させた第1補正回路22と第2補正回路23とを
備える測定値補正手段21を経由して負帰還されること
になる。 【0019】しかも、上記測定値補正手段21は、スイ
ッチ24を第1接点tと第2接点t2 とのいずれかの側
に接続させることで、第1補正回路22と第2補正回路
23とを択一的に切り替えることができるので、演算増
幅器25からの出力信号は第1補正回路22又は第2補
正回路23のいずれかを経由させることで負帰還させる
ことができる。 【0020】このため、ユーザー側では、出荷時に調整
されている出力特性に基づく測定値を得たい場合、スイ
ッチ24を第1接点t1 の側に接続させて第1補正回路
22を閉成することで直ちにその対応を図ることができ
る。 【0021】また、標準となる測定対象物とは異なる測
定対象物15をユーザー側で実測しようとする場合に
は、スイッチ24を第2点t2 の側に接続させて第2補
正回路23を閉成することで直ち第1補正回路22から
切り替えることができる。 【0022】しかも、第2補正回路23は、例えば可変
抵抗器などのようにユーザー側にて外部から自由に調整
操作することができようにして形成されているので、実
測しようとする測定対象物15が示す出力特性に応じて
個別に調整することができるので、標準となる測定対象
物との関係で生ずる出力特性のずれを修正するための補
正処理を行った後、測定値として出力させることができ
る。 【0023】したがって、ユーザー側では、必要に応じ
第1補正回路と第2補正回路とのいずれかに自由に切り
替えることで、変位計を現場ニーズに簡便かつ柔軟に対
応させながら操作して測定作業を遂行することができ
る。 【0024】 【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、セ
ンサ部が検出して出力側に送出される変位信号を測定値
補正手段を構成している第1補正回路と第2補正回路と
のいずれかを経由させることで、出荷時に調整済みの標
準的な出力特性に対応する測定値と、標準となる測定対
象物に対しユーザー側で実測される測定対象物が示す出
力特性のずれを修正するための補正処理を行った後の測
定値とを選択的に出力させることができる。 【0025】したがって、ユーザー側では、所望に応じ
第1補正回路と第2補正回路とのいずれかに自由に切り
替えることができるので、簡便かつ柔軟な操作性を確保
することができる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a displacement meter, and more particularly, to a light emitting device and a semiconductor optical position detecting device (PSD;
Position Sensitive Detect
or a displacement meter provided with a sensor unit configured to measure a displacement amount of a surface to be measured by a triangulation method. 2. Description of the Related Art As shown in FIG. 4, a sensor section 11 comprising a light emitting element 12 and a semiconductor light position detecting element (PSD) 14 is shown.
The displacement meter that measures the displacement amount of the surface 16 to be measured by a triangulation method, irradiates a laser beam 13 from a semiconductor laser, which is the light emitting element 12, to the surface 16 to be measured of the measurement object 15, The scattered light is imaged as a light spot on the side of the semiconductor light position detecting element 14 by a light receiving lens,
By the position of the light spot at that time, for example, the displacement amount when the measurement surface 16 of the measurement object 15 having the reference position C moves from A to B can be measured as the amplitude D. Has become. [0003] Incidentally, the above-mentioned displacement meter is used to
Is irradiated with the laser light 13 on the surface 16 to be measured, and the scattered light is imaged as a light spot on the side of the semiconductor optical position detecting element 14. The amount of reflected light changes, which affects the measured value. [0004] For this reason, conventionally, for example, a white diffuse reflector is used as a standard measurement object before shipment of a product, and the measurement obtained at that time is a standard measurement value as shown by a solid line in FIG. After adjusting the output characteristics so as to be delivered to the user side. [0005] On the other hand, when the user uses a displacement meter, it is general that the actual measurement object 15 is different from the above standard measurement object in color, material, and the like. When the measurement is performed under the standard specifications, the output characteristics are shifted as shown by a broken line in FIG. 3. Therefore, it is necessary to correct the measured value obtained by the amount of the shift. [0006] In this case, the correction of the output characteristics is usually performed by adopting either a method performed by software or a method performed by hardware.
In particular, when the method using hardware is adopted, the correction is performed by incorporating a correction circuit capable of performing an external adjustment operation into the displacement meter. [0007] By the way, when the output characteristics are corrected under hardware, the user needs to operate the correction circuit incorporated in the displacement meter. Adjustments can be made. However, if the output characteristics are corrected by operating the correction circuit, the user cannot return to the output characteristics before shipping as the standard specification again, and It is necessary to make adjustments to restore the output characteristics to the standard specifications with the help of the above, and there is a disadvantage that the operation is complicated and lacks flexibility in operation. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems in the prior art, and its structural features are a light emitting element and light emitted from the light emitting element. At least a sensor unit including a semiconductor light position detecting element that outputs a displacement state of the measured surface as a displacement signal based on the position of a light spot reflected and received by the measured surface of the measurement target. In a displacement meter that measures a displacement amount of the surface to be measured by a surveying method, a displacement signal detected by the sensor unit and sent to an output side is a measurement value corresponding to a standard output characteristic of a measurement target. A first correction circuit for performing a correction necessary for obtaining a target, and a correction required for obtaining a measurement value obtained by correcting a deviation of an output characteristic indicated on the side of the measured object with respect to a standard measured object. 2nd correction round An alternative switching between the road and the road is performed via a measurement value correction unit that is freely disposed, and the measurement value is output as a measurement value that has undergone necessary correction processing. For this reason, the displacement signal detected by the sensor section and sent to the output side is passed through one of the first correction circuit and the second correction circuit constituting the measurement value correction means. so,
Measured values corresponding to output characteristics adjusted at the time of shipment,
It is possible to selectively output a measured value after performing a correction process for correcting a deviation of the output characteristic of the measurement object measured by the user with respect to the standard measurement object. Therefore, the user can freely switch between the first correction circuit and the second correction circuit as desired, so that simple and flexible operability can be ensured. The displacement meter according to the present invention has a light emitting element 12 composed of a semiconductor laser and a laser beam 13 which is an irradiation light from the light emitting element 12, as is apparent from the description of FIG. And a semiconductor light position detecting element (PSD) 14 which outputs the state of displacement of the measured surface 16 as a displacement signal based on the position of a light spot that is reflected by the measured surface 16 of the measurement object 15 and received. It has at least a portion 11 and is formed so that the displacement of the surface 16 to be measured can be measured by triangulation.
In addition, it is provided with a measured value correcting means for correcting the measured value by the amount corresponding to the deviation of the output characteristic corresponding to the difference in the color or material of the measured object 15 to be measured. FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of the measured value correcting means provided in the displacement meter according to the present invention. In this case, the measured value correcting means 21 comprises a first correction circuit 22 and a second correction circuit. 23, and a switch 24 for selectively switching between the first correction circuit 22 and the second correction circuit 23. The first correction circuit 22 performs a correction necessary to obtain a measured value corresponding to an output characteristic indicated by a standard measuring object, and is adjusted in advance at the time of shipment. It is arranged so that the user cannot freely adjust it. The second correction circuit 23 performs a correction necessary for obtaining a measured value obtained by correcting a deviation of the output characteristic of the measured object 15 which is actually measured with respect to a standard measured object. It is provided so that the user can freely perform adjustment operation from outside. FIG. 2 shows a specific example of the configuration of the measured value correcting means 21 shown in FIG. 1. An operational amplifier 25 is provided between the input side and the output side of the displacement signal. The output signal from the operational amplifier 25 is negatively fed back through the measured value correcting means 21 provided on the side of the negative feedback circuit 26. In this case, the measured value correcting means 21 is used.
The switch 24 includes a first correction circuit 22 composed of a variable resistor and a second correction circuit 23 also composed of a variable resistor connected at least in parallel, and a switch 24 disposed on the input side of the negative feedback circuit 26. To the first contact t 1 or the second contact t 2
The first correction circuit 22 and the second correction circuit 23 can be selectively switched by connecting the circuit to any one of the above and closing the circuit. The variable resistor itself forming the first correction circuit 22 cannot be operated by the user. Since the present invention is configured as described above, the displacement signal detected by the sensor section 11 and sent to the output side is supplied to the negative feedback circuit 26 of the operational amplifier 25 in parallel with the negative feedback circuit 26. Negative feedback is performed via the measurement value correction unit 21 including the first correction circuit 22 and the second correction circuit 23. Further, the measured value correcting means 21 connects the switch 24 to either the first contact point t or the second contact point t 2 , so that the first correction circuit 22 and the second correction circuit 23 Can be switched alternatively, so that the output signal from the operational amplifier 25 can be fed back negatively through either the first correction circuit 22 or the second correction circuit 23. For this reason, when the user wants to obtain a measured value based on the output characteristic adjusted at the time of shipment, the switch 24 is connected to the first contact point t 1 to close the first correction circuit 22. By doing so, it is possible to take immediate action. When the user intends to actually measure a measurement object 15 different from the standard measurement object, the switch 24 is connected to the second point t 2 and the second correction circuit 23 is connected. By closing, it is possible to switch from the first correction circuit 22 immediately. Further, since the second correction circuit 23 is formed so that the user can freely perform an adjustment operation from the outside, such as a variable resistor, the object to be measured is measured. 15 can be individually adjusted in accordance with the output characteristics shown in FIG. 15, so that a correction process for correcting a deviation of the output characteristics caused by a relationship with a standard measurement object is performed, and then output as a measured value. Can be. Therefore, the user can freely switch between the first correction circuit and the second correction circuit as needed, thereby operating the displacement meter easily and flexibly to meet the needs of the site and performing the measurement work. Can be carried out. As described above, according to the present invention, the first correction circuit and the second correction circuit constituting the measurement value correction means for converting the displacement signal detected by the sensor section and sent to the output side. The measured value corresponding to the standard output characteristic adjusted at the time of shipment by passing through one of the correction circuit and the output characteristic indicated by the measurement object measured by the user with respect to the standard measurement object Can be selectively output with the measured value after the correction processing for correcting the deviation. Therefore, the user can freely switch between the first correction circuit and the second correction circuit as desired, so that simple and flexible operability can be ensured.

【図面の簡単な説明】 【図1】この発明に係る変位計が備える測定値補正手段
の構成例を示すブロック図である。 【図2】この発明に係る変位計が備える測定値補正手段
の具体的な構成例を示す回路図である。 【図3】この発明に係る変位計を用いた場合における出
力特性を標準となる測定対象物とそれ以外の測定対象物
とに場合分けして例示する説明図である。 【図4】測定対象物の被測定面に対し変位計を用いて行
われる測定状態を示す説明図である。 【符号の説明】 11 センサ部 12 発光素子 13 レーザ光 14 半導体光位置検出素子(PSD) 15 測定対象物 16 被測定面 17 被測定波形 21 測定値補正手段 22 第1補正回路 23 第2補正回路 24 スイッチ 25 演算増幅器 26 負帰還回路 t1 第1接点 t2 第2接点
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a measurement value correcting unit provided in a displacement meter according to the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific configuration example of a measurement value correction unit provided in the displacement meter according to the present invention. FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating an example of output characteristics when a displacement meter according to the present invention is used for a standard measurement object and other measurement objects. FIG. 4 is an explanatory diagram showing a measurement state performed using a displacement meter on a surface to be measured of a measurement object. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Sensor section 12 Light emitting element 13 Laser light 14 Semiconductor light position detecting element (PSD) 15 Measurement object 16 Measurement surface 17 Measurement waveform 21 Measurement value correction means 22 First correction circuit 23 Second correction circuit 24 switch 25 operational amplifier 26 negative feedback circuit t 1 first contact t 2 second contact

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 発光素子と、この発光素子からの照射光
を測定対象物の被測定面にて反射させて受光される光ス
ポットの位置により前記被測定面の変位状況を変位信号
として出力する半導体光位置検出素子とからなるセンサ
部を少なくとも有して三角測量方式により前記被測定面
の変位量を測定する変位計において、前記センサ部が検
出して出力側に送出される変位信号は、標準となる測定
対象物が示す出力特性に対応させた測定値を得るために
必要な補正を行う第1補正回路と、標準となる測定対象
物に対し実測される測定対象物の側が示す出力特性のず
れを修正した測定値を得るために必要な補正を行う第2
補正回路との択一的な切替えを自在に配設される測定値
補正手段を経由させることで、必要な補正処理を行った
測定値として出力させるようにしたことを特徴とする変
位計。
(1) A light-emitting element and a light-receiving element that reflects irradiation light from the light-emitting element on a surface to be measured of an object to be measured and receives the light from the light-emitting element. A displacement meter for measuring the displacement of the surface to be measured by a triangulation method at least having a sensor unit comprising a semiconductor optical position detecting element for outputting a displacement state as a displacement signal. The displacement signal sent to the side is a first correction circuit for performing a correction necessary to obtain a measurement value corresponding to the output characteristic indicated by the standard measurement object, and is actually measured for the standard measurement object. A second correction is performed to obtain a measured value in which the deviation of the output characteristic indicated by the object to be measured is corrected.
A displacement meter characterized in that an alternative switching with a correction circuit is passed through measurement value correction means which is freely disposed, and is output as a measurement value subjected to necessary correction processing.
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