JP3390130B2 - Spherical object supply device - Google Patents

Spherical object supply device

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JP3390130B2
JP3390130B2 JP28872497A JP28872497A JP3390130B2 JP 3390130 B2 JP3390130 B2 JP 3390130B2 JP 28872497 A JP28872497 A JP 28872497A JP 28872497 A JP28872497 A JP 28872497A JP 3390130 B2 JP3390130 B2 JP 3390130B2
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JP
Japan
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passage
fluid
semiconductor element
suction
supply device
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研 石田
克己 天野
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Mitsui High Tech Inc
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Mitsui High Tech Inc
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、球状半導体チップ
等に使用される球状物を処理する際に、各処理工程に該
球状物を定期的に搬送する装置に関する。 【0002】 【従来の技術】従来、半導体チップは、板状の単結晶シ
リコンウェハー上に回路パターンを形成していたが、近
年、直径1mm程度或いはそれ以下の球状のシリコン上
に回路パターンを形成して半導体素子を製造する技術が
開発されている。そして、この球状の半導体素子を効率
的に製造するためには、球状のシリコンの処理搬送工程
を連結してライン化し、連続化する必要がある。 【0003】しかしながら、このようなライン化を行う
に当たって、前工程から搬送されてくる球状のシリコン
が不規則に次工程に供給されると、次工程では供給され
てくる球状シリコンの量が変動するために、その変動量
に合わせて処理条件を変更せざるを得ず、効率的な処理
を行うことができない。そこで、球状シリコン等の球状
物はある一定の間隔をもって、定期的に次工程に供給さ
れる必要がある。 【0004】このような供給作業は生産性並びに品質の
点からも高速処理と、高い信頼性を要求されるが、これ
までのところ、そのような技術は提案されていない。 【0005】 【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、球状シリコン等の球状物を一定の間隔をも
って、定期的に、しかも好ましくは高速で供給すること
の可能な供給装置を提供することにある。 【0006】 【課題を解決するための手段】 本発明の球状物の供給
装置は、外周部に段差が設けられて形成された外周段部
に球状物の収容室を間隔をおいて複数設けた回転受継器
と、前記回転受継器を水平回転自在に支持すると共に、
前記収容室に通ずる搬送雰囲気流によって供給される球
状物の受取通路と、受取通路の軸線の延長上にある吸
引通路と、該吸引通路の位置とは対称位置にある取出通
路と、該取出通路の軸線の延長上にある流体吐出通路を
有する支持器と、前記吸引通路内を介して雰囲気を吸引
する真空吸引装置と、前記流体吐出通路内に加圧流体を
供給する流体供給装置と、前記取出通路に連結された加
速管路と、前記加速管路から分岐した分岐管路と、前記
分岐管路内に加圧流体を導入する流体供給装置とを
え、さらに、前記分岐管路を介して前記加速管路内に噴
射される前記加圧流体によって球状物を更に加速する加
速装置を設けたことを特徴とする。 【0007】 【0008】 【0009】なお、本明細書においては、「雰囲気」又
は「流体」とは、活性ガス、不活性ガス等の気体のみを
意味するものではなく、水や各種溶液等の液体をも含
む。 【0010】 【発明の実施の形態】以下、本発明を球状の半導体素子
の搬送に適用した実施例によって、その実施の形態を具
体的に説明する。ただし、本発明を実施例に限定するも
のでは決してない。 【0011】図1は、本発明の球状物の供給装置の蓋部
を取り外して示す正面図であり、図2は図1をD−D線
から見た断面図を示し、図3は図1のA部分の拡大図で
ある。また、図4及び図5はそれぞれ図2のB及びC部
分の拡大断面図である。 【0012】図1において、1は回転自在な円板状の回
転受継器であり、その外周部には段差が設けられて外周
段部1aとされている。図3に詳細に示すように、外周
段部1aには、その外周面に沿って球状の半導体素子3
を収容するための収容室2が回転受継器1の円周方向に
所定の間隔をおいて複数箇所設けられている。収容室2
は、図3(a)に示すように、外周段部1aの外周面に
開口する断面略半円形の半円筒形状であってもよく、ま
た、図3(b)に示すような、外周段部1aの外周面か
ら所定距離だけ回転受継器1の中心側に位置して穿孔さ
れた断面円形の円筒形状であってもよい。この収容室2
は、半導体素子3を1個ずつ収容できる程度の空間を有
している。なお、外周段部1aの高さを調整することに
より、収容室に複数個の半導体素子3を収容することも
可能である。 【0013】回転受継器1は、図2に示すように、支持
器4の内部に回転自在に支持されている。この支持器4
は、回転受継器1に対してハウジングとなる容器部5
と、この容器部5に対してカバーとなる蓋部6とに分割
されて構成されている。 【0014】容器部5には、回転受継器1を収納すると
ともに蓋部6を嵌合するための凹部7が形成されてお
り、また、回転受継器1に一体に形成された回転軸8を
回転自在に支持するためのベアリング9が設けられてい
る。そして、容器部5の外周部の所定箇所には図示しな
い前工程から搬送雰囲気流によって供給されてくる半導
体素子3を受け入れる受取管10が設けられている。本
実施例においては、半導体素子3はエアー流によって前
工程から供給される。 【0015】受取管10は、半導体素子3を回転受継器
1の収容室2に供給するためのものであり、その先端部
は、容器部5を貫通して穿設された、収容室2と同じ程
度の径を有する受取通路12の一端と連結されて一体と
されている。受取通路12の他端は外周段部1aに設け
られた収容室2に臨む位置に開口しており、半導体素子
3は受取通路12を介して収容室2に導入可能とされて
いる。 【0016】半導体素子3を受取通路12から収容室2
内に導入するにあたっては、受取通路12を収容室2の
上方に位置させ、重力による半導体素子3の自然落下を
利用してもよいが、半導体素子3を確実且つ高速に収容
室に収容するためには、下記に示すような吸引力を利用
した収容機構を採用することが好ましい。 【0017】すなわち、本実施例においては図4に示さ
れるように、受取通路12の軸線の延長上であって、収
容室2を挟んだ位置の蓋部6に吸引通路13が穿設さ
れ、その一端が収容室2に向けて開口している。吸引通
路13の他端は図示しない真空吸引装置に接続された吸
引管14に連結されており、前記真空吸引装置の作動に
より吸引通路13を介して雰囲気が吸引され、その吸引
力は収容室2及び受取通路12に及ぼされるように設定
されている。なお、半導体素子3が誤って吸引通路13
に入り込まないように、吸引通路13の径は半導体素子
3の直径よりも若干小さく設定されている。また、必要
に応じて、吸引通路13には、半導体素子3周辺の雰囲
気中に含まれる微細なゴミを取り除くためのフィルター
を設けてもよい。 【0018】さて、本実施例では図2に示すように、蓋
部6の、吸引通路13が穿設されている位置とは対称位
置に、半導体素子3を収容室2から取り出すための取出
通路11が穿設されている。取出通路11の一端は収容
室2に開口すると共に、他端には図示しない次工程に向
けて半導体素子3を搬送するための送出管15が連結さ
れている。なお、半導体素子3の取出通路11への円滑
な移送のために、取出通路11の直径は収容室2の径と
略同一又はそれより若干大径とされている。 【0019】半導体素子3を取出通路11を介して収容
室2から取り出すにあたっては、取出通路11を収容室
2の下方に位置させ、重力による半導体素子3の自然落
下を利用してもよいが、半導体素子3を確実且つ高速に
収容室から排出するためには、下記に示すような高圧流
体の噴射力を利用した排出機構を採用することが好まし
い。 【0020】すなわち、本実施例においては、取出通路
11の軸線の延長上であって、収容室2を挟んだ位置の
容器部5に吐出通路16が穿設されており、その一端が
収容室2に向けて開口している。そして、吐出通路16
の他端は図示しない流体供給装置に接続された噴出管1
7に連結されており、前記流体供給装置の作動により供
給された高圧流体の噴射力を吐出通路16を介して収容
室2及び取出通路11に及ぼすようにされている。ま
た、前記高圧流体の噴出圧を高め、また、半導体素子3
が誤って吐出通路16内に入り込むことのないように、
吐出通路16の径は半導体素子3の直径よりも小さく設
定されている。本実施例においては、前記流体供給装置
として、高圧エアー供給装置が使用される。 【0021】なお、受取通路12又は取出通路11に
は、半導体素子3の存在を確認するための位置検出手段
を配設してもよい。前記位置検出手段としては、各通路
を挟んで相対向して設けられた光ファイバーセンサから
なるセンサが挙げられるが、その他の公知のセンサを使
用することも可能である。このように位置検出手段を設
置した場合には、半導体素子3の定期的な供給を確認す
ることが可能となる。 【0022】さて、蓋部6は、容器部5に対して気密状
態で取り付けられており、また、回転受継器1の外周面
は、容器部5の凹部7の内周面と密接した状態で摺動可
能となっている。回転受継器1ならびに支持器6の材質
には、半導体素子3の搬送雰囲気、たとえば、水、不活
性ガス等に合わせて、樹脂あるいはステンレス及びステ
ンレスにテフロン(登録商標)樹脂をコーティングした
ものを用いることができる。 【0023】そして、支持器4は、フランジ18を介し
て駆動軸ホルダ19に取り付けられている。駆動軸ホル
ダ19には該ホルダを貫通して駆動軸20が貫設されて
おり、駆動軸20は、ジョイント21を介して回転受継
器1の回転軸8に連結されている。駆動軸20には、詳
細な説明を省略する駆動力伝達機構22を介してモータ
23からの回転駆動力が伝達される。 【0024】本実施例の球状物の供給装置においては、
支持器4から所定距離離隔した位置に、加速装置24が
配設されている。加速装置24の内部には加速管路25
が穿設されており、加速管路25の一端は支持器4から
延びる送出管15に、他端は図示しない次工程へ延びる
搬送管27に連結されている。 【0025】加速装置24内の加速管路25の所定箇所
からは、分岐角度θをもって分岐管路25aが分岐して
おり、分岐管路25aは図示しない流体供給装置に接続
された流体供給管26に連結され、高圧流体を加速管路
25内に供給可能とされている。ここで、前記分岐角度
θは鋭角であることが必要であるが、分岐管路25aか
ら供給される高圧流体が送出管15へ逆流することを防
止するために、45度以下とすることが好ましく、30
度以下とするのがより好ましい。なお、前記流体供給装
置は、噴出管17に高圧流体を供給する上記流体供給装
置と共通としてもよく、別体としてもよい。本実施例に
おいては、前記高圧流体として、高圧エアーが使用され
る。 【0026】本実施例においては、送出管15、加速管
路25及び搬送管27が一直線上に連結されており、し
たがって、半導体素子3は支持器4の送出管15から図
示しない次工程へと、その進路を変更することなく供給
される。なお、搬送管17を分岐管路25aの延長線上
に配設することも可能である。この場合は、分岐管路2
5aから供給される高圧流体、すなわち高圧エアーの進
路が変更しないので、半導体素子3をより高速で、遠方
まで搬送することが可能となる。 【0027】以下、上記した球状物の供給装置の作動に
ついて説明する。 【0028】回転受継器1はモータ23により回転駆動
され、また、受取管10からは図示しない前工程によっ
て処理された複数の球状の半導体素子3が不規則に回転
受継器1に向けて供給されてくる。半導体素子3の供給
方法としては、高速エアーによる搬送力を利用すること
が好ましいものの、供給手段は特に限定されるものでは
ない。 【0029】そして、通常、半導体素子3の供給速度は
きわめて速く、したがって収容室2への半導体素子3の
収容速度よりも受取管10への半導体素子3の供給速度
が大きいために、半導体素子3は受取管10中におい
て、図4に示すように互いに連なった状態で回転受継器
1の外周段部1aに対向する位置に堆積する。 【0030】さて、吸引管14からは図示しない吸引装
置の作動により吸引力が作用している。そして前記吸引
力は吸引通路13を介して外周段部1aの位置にまで達
している。 【0031】そして、この状態で回転受継器1が回転し
て収容室2の位置が受取通路12と吸引通路13の位置
に一致すると、吸引通路13からの吸引力は収容室2を
介して受取通路12まで及ぶ。したがって、受取通路1
2内に堆積した状態の半導体素子3は収容室2へと吸引
される。しかしながら、収容室2は半導体素子1個分の
容量しかなく、かつ、吸引通路13への侵入は不可能と
されているので、半導体素子3は収容室2に1個ずつ収
容される。なお、このとき、受取通路12の開口端にシ
ャッタを設け、半導体素子3が収容室2内に収容される
と、該シャッタが閉鎖する構成とすることも可能であ
る。この場合は、収容室2内に半導体素子3を1個ずつ
より確実に収容することが可能となり、また、回転受継
器1が回転する際の、収容室2内に収容された半導体素
子3と受取通路12内に待機している半導体素子3との
間の接触摩擦による半導体素子3の表面の摩耗を防止す
ることが可能となる。 【0032】回転受継器1の回転速度は、収容室2への
半導体素子3の収容速度を決定するものであるが、通常
は、受取通路12内に大量の半導体素子3が堆積しない
程度に適宜設定される。ただし、回転受継器1の回転速
度が過剰に大きい場合は、半導体素子3が収容室2へ収
容される速度が半導体素子3の供給速度を上回り、収容
室2内に収容すべき半導体素子3がなくなってしまう恐
れがあるので、回転受継器1の回転速度は、受取通路1
2内に少なくとも1個以上の半導体素子3が常時存在す
る程度の速度を上限とされる。 【0033】さて、回転受継器1が回転すると、この回
転に従って、半導体素子3は収容室2内に保持された状
態で回転受継器1の円周に沿って移動する。 【0034】収容室2の位置が取出通路11と吐出通路
16の位置に一致すると、図示しない流体供給装置から
供給される高圧エアーが噴出管17及び吐出通路16を
介して収容室2に噴射され、該エアーの噴射力によって
収容室2内の半導体素子3は取出通路11へと送出さ
れ、次いで送出管15を介して次工程へと供給される。 【0035】そして、本実施例では、送出管15の延長
上に加速装置24が設置されているので、送出管15を
介して加速装置4内の加速管路25に到達した半導体素
子3は、図示しない流体供給装置から流体供給管26及
び分岐管路25aを経て供給される高圧エアーによって
更に加速されて搬送管27へと移送される。したがっ
て、半導体素子3をより高速で次工程に送出することが
可能となる。 【0036】 【発明の効果】本発明では以下の効果を奏する。 【0037】(1)球状半導体素子等の球状物を1個ず
つ分離することにより、球状物を一定の間隔をもって、
定期的に次工程に供給することが可能となる。したがっ
て、次工程において、球状物に対する処理を一定の品質
をもって実行することができる。 【0038】(2)エアー等の流体を吸引及び噴射する
ことによって、球状半導体素子等の球状物を1個ずつ分
離しているので、球状物の確実な操作が可能である。 【0039】(3)高速の加圧流体によって、球状半導
体素子等の球状物を送出するので、球状物を高速で搬送
することが可能となる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of processing a spherical object used for a spherical semiconductor chip or the like, and periodically transporting the spherical object to each processing step. Related to the device. 2. Description of the Related Art Conventionally, a semiconductor chip has a circuit pattern formed on a plate-like single-crystal silicon wafer. In recent years, however, a circuit pattern has been formed on a spherical silicon having a diameter of about 1 mm or less. A technology for manufacturing a semiconductor device has been developed. In order to efficiently manufacture the spherical semiconductor element, it is necessary to connect the spherical silicon processing / transporting steps to form a line so as to be continuous. However, when such a line is formed, if the spherical silicon conveyed from the previous step is irregularly supplied to the next step, the amount of the supplied spherical silicon fluctuates in the next step. For this reason, the processing conditions must be changed in accordance with the fluctuation amount, and efficient processing cannot be performed. Therefore, spherical objects such as spherical silicon need to be periodically supplied to the next step at certain intervals. [0004] Such a supply operation requires high-speed processing and high reliability also in terms of productivity and quality, but no such technique has been proposed so far. The problem to be solved by the present invention is to supply a spherical material such as spherical silicon at regular intervals, preferably at a high speed, at a constant interval. It is to provide a device. [0006] In the present invention, a plurality of spherical object storage chambers are provided at intervals on an outer peripheral step formed by providing a step on the outer peripheral part. A rotation successor, and supporting the rotation succession horizontally rotatably,
A receiving path of spheres supplied by the conveyor atmosphere flow communicating with the accommodating chamber, Ru extension on near the axis of the receiving passage intake
The take-out passage is located at a position symmetrical to the position of the suction passage
A road, and a supporting device having <br/> a fluid discharge passage is on the extension of the axis of said mounting out passage, a vacuum suction device for sucking the atmosphere via the suction passage, pressurized before Symbol fluid discharge passage A fluid supply device for supplying a pressurized fluid, an acceleration conduit connected to the take-out passage, a branch conduit branched from the acceleration conduit, and a fluid supply device for introducing a pressurized fluid into the branch conduit. Be prepared
Further, an acceleration device for further accelerating the spherical object by the pressurized fluid injected into the acceleration pipe via the branch pipe is provided. In the present specification, the term “atmosphere” or “fluid” does not mean only a gas such as an active gas or an inert gas, but refers to water or various solutions. Including liquid. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to embodiments in which the present invention is applied to the transport of spherical semiconductor elements. However, the present invention is not limited to the embodiments. FIG. 1 is a front view of a spherical object supply apparatus of the present invention with a lid removed, FIG. 2 is a sectional view of FIG. 1 taken along the line D-D, and FIG. It is an enlarged view of A part of FIG. FIGS. 4 and 5 are enlarged sectional views of portions B and C in FIG. 2, respectively. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a rotatable disk-shaped rotary transfer device, which is provided with a step on its outer peripheral portion to form an outer peripheral step portion 1a. As shown in detail in FIG. 3, a spherical semiconductor element 3 is formed on the outer peripheral step portion 1a along the outer peripheral surface thereof.
Are provided at a plurality of locations at predetermined intervals in the circumferential direction of the rotary transfer device 1. Containment room 2
May have a semi-cylindrical shape having a substantially semi-circular cross-section opening on the outer peripheral surface of the outer peripheral step portion 1a as shown in FIG. 3 (a), or an outer peripheral step as shown in FIG. It may be a cylindrical shape having a circular cross section that is perforated at a predetermined distance from the outer peripheral surface of the portion 1a on the center side of the rotary transfer device 1. This accommodation room 2
Has a space that can accommodate the semiconductor elements 3 one by one. By adjusting the height of the outer peripheral step 1a, a plurality of semiconductor elements 3 can be accommodated in the accommodation chamber. As shown in FIG. 2, the rotation successor 1 is rotatably supported inside a support 4. This support 4
Is a container part 5 serving as a housing for the rotary successor 1.
And a lid portion 6 serving as a cover for the container portion 5. The container portion 5 has a recess 7 for accommodating the rotary transfer device 1 and fitting the lid portion 6. The rotary shaft 8 formed integrally with the rotary transfer device 1 is provided with a rotary shaft 8. A bearing 9 for rotatably supporting is provided. A receiving tube 10 is provided at a predetermined location on the outer peripheral portion of the container portion 5 for receiving the semiconductor element 3 supplied by a carrier atmosphere flow from a previous step (not shown). In this embodiment, the semiconductor element 3 is supplied from the previous process by an air flow. The receiving tube 10 is for supplying the semiconductor element 3 to the accommodation chamber 2 of the rotary successor 1, and the distal end thereof is connected to the accommodation chamber 2 pierced through the container part 5. One end of the receiving passage 12 having the same diameter is connected to and integrated with one end. The other end of the receiving passage 12 is open at a position facing the accommodation room 2 provided in the outer peripheral step portion 1 a, and the semiconductor element 3 can be introduced into the accommodation room 2 through the reception passage 12. The semiconductor element 3 is moved from the receiving passage 12 to the accommodation chamber 2.
When the semiconductor element 3 is introduced into the storage chamber, the receiving passage 12 may be positioned above the storage chamber 2 and natural fall of the semiconductor element 3 due to gravity may be used. It is preferable to employ a housing mechanism utilizing a suction force as described below. That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 4, a suction passage 13 is formed in the cover 6 at a position extending the axis of the receiving passage 12 and sandwiching the accommodation chamber 2, One end is open toward the accommodation room 2. The other end of the suction passage 13 is connected to a suction tube 14 connected to a vacuum suction device (not shown), and the atmosphere is sucked through the suction passage 13 by the operation of the vacuum suction device. And the receiving passage 12. It should be noted that the semiconductor element 3 is mistakenly
The diameter of the suction passage 13 is set slightly smaller than the diameter of the semiconductor element 3 so as not to enter. If necessary, the suction passage 13 may be provided with a filter for removing fine dust contained in the atmosphere around the semiconductor element 3. In this embodiment, as shown in FIG. 2, a take-out passage for taking out the semiconductor element 3 from the housing chamber 2 is provided at a position symmetrical to the position where the suction passage 13 is formed in the lid portion 6. 11 are drilled. One end of the take-out passage 11 is open to the storage chamber 2, and the other end is connected to a delivery pipe 15 for carrying the semiconductor element 3 toward a next step (not shown). The diameter of the extraction passage 11 is substantially the same as or slightly larger than the diameter of the storage chamber 2 for smooth transfer of the semiconductor element 3 to the extraction passage 11. When the semiconductor element 3 is taken out of the accommodation chamber 2 through the extraction passage 11, the extraction passage 11 may be located below the accommodation chamber 2 and the natural fall of the semiconductor element 3 by gravity may be used. In order to reliably and quickly discharge the semiconductor element 3 from the storage chamber, it is preferable to employ a discharge mechanism using the ejection force of a high-pressure fluid as described below. That is, in the present embodiment, the discharge passage 16 is formed in the container portion 5 at a position on the extension of the axis of the take-out passage 11 and sandwiching the storage chamber 2, and one end of the discharge passage 16 is formed in the storage chamber. Opening toward 2. And the discharge passage 16
Is a jet pipe 1 connected to a fluid supply device (not shown).
7, so that the ejection force of the high-pressure fluid supplied by the operation of the fluid supply device is exerted on the storage chamber 2 and the discharge passage 11 via the discharge passage 16. Further, the ejection pressure of the high-pressure fluid is increased, and
So as not to accidentally enter the discharge passage 16.
The diameter of the discharge passage 16 is set smaller than the diameter of the semiconductor element 3. In the present embodiment, a high-pressure air supply device is used as the fluid supply device. The receiving passage 12 or the take-out passage 11 may be provided with a position detecting means for confirming the presence of the semiconductor element 3. As the position detecting means, a sensor including an optical fiber sensor provided to face each other with the passages interposed therebetween may be used, but other known sensors may be used. When the position detecting means is provided in this way, it is possible to confirm the periodic supply of the semiconductor element 3. The lid 6 is attached to the container 5 in an airtight manner, and the outer peripheral surface of the rotary transfer device 1 is in close contact with the inner peripheral surface of the concave portion 7 of the container 5. It is slidable. As the material of the rotation transfer device 1 and the support device 6, a resin or stainless steel or a material obtained by coating stainless steel with Teflon (registered trademark) resin in accordance with the transport atmosphere of the semiconductor element 3, for example, water, an inert gas, or the like is used. be able to. The support 4 is attached to a drive shaft holder 19 via a flange 18. A drive shaft 20 is provided through the drive shaft holder 19 so as to pass through the holder. The drive shaft 20 is connected to the rotation shaft 8 of the rotation receiver 1 via a joint 21. Rotational driving force from a motor 23 is transmitted to the drive shaft 20 via a driving force transmission mechanism 22 whose detailed description is omitted. In the apparatus for supplying spherical objects according to the present embodiment,
An accelerator 24 is provided at a position separated from the support 4 by a predetermined distance. The accelerating device 24 has an accelerating line 25 therein.
One end of the acceleration pipe 25 is connected to the delivery pipe 15 extending from the support 4, and the other end is connected to a transport pipe 27 extending to the next step (not shown). A branch line 25a branches from a predetermined portion of the acceleration line 25 in the acceleration device 24 at a branch angle θ, and the branch line 25a is connected to a fluid supply pipe 26 connected to a fluid supply device (not shown). And a high-pressure fluid can be supplied into the acceleration pipeline 25. Here, the branch angle θ needs to be an acute angle, but is preferably 45 degrees or less in order to prevent the high-pressure fluid supplied from the branch pipe 25a from flowing back to the delivery pipe 15. , 30
It is more preferable that the temperature be equal to or less than the degree. Note that the fluid supply device may be common to the fluid supply device that supplies the high-pressure fluid to the ejection pipe 17, or may be a separate body. In this embodiment, high-pressure air is used as the high-pressure fluid. In the present embodiment, the delivery pipe 15, the acceleration pipe 25 and the transport pipe 27 are connected in a straight line, so that the semiconductor element 3 moves from the delivery pipe 15 of the support 4 to the next step (not shown). , Supplied without changing its course. In addition, it is also possible to arrange the conveying pipe 17 on an extension of the branch pipe line 25a. In this case, branch line 2
Since the path of the high-pressure fluid, that is, the high-pressure air supplied from 5a is not changed, the semiconductor element 3 can be transported at a higher speed to a distant place. Hereinafter, the operation of the above-mentioned sphere supplying device will be described. The rotation receiver 1 is rotationally driven by a motor 23, and a plurality of spherical semiconductor elements 3 processed in a preceding step (not shown) are irregularly supplied from the reception tube 10 to the rotation receiver 1. Come. As a method for supplying the semiconductor element 3, it is preferable to use a conveying force by high-speed air, but the supply means is not particularly limited. Normally, the supply speed of the semiconductor element 3 is extremely high. Therefore, the supply speed of the semiconductor element 3 to the receiving tube 10 is higher than the storage rate of the semiconductor element 3 in the storage chamber 2. Is deposited in the receiving pipe 10 at a position facing the outer peripheral step 1a of the rotary transfer device 1 in a state of being connected to each other as shown in FIG. A suction force is applied from the suction pipe 14 by the operation of a suction device (not shown). The suction force reaches the position of the outer peripheral step portion 1a via the suction passage 13. When the rotary transfer device 1 rotates in this state and the position of the storage chamber 2 coincides with the positions of the receiving passage 12 and the suction passage 13, the suction force from the suction passage 13 is received through the storage chamber 2. It extends to passage 12. Therefore, receiving passage 1
The semiconductor element 3 deposited in the interior 2 is sucked into the accommodation chamber 2. However, since the accommodation room 2 has a capacity of only one semiconductor element and cannot enter the suction passage 13, the semiconductor elements 3 are accommodated one by one in the accommodation room 2. At this time, a shutter may be provided at the opening end of the receiving passage 12 and the shutter may be closed when the semiconductor element 3 is housed in the housing chamber 2. In this case, the semiconductor elements 3 can be more reliably accommodated one by one in the accommodation chamber 2, and the semiconductor elements 3 accommodated in the accommodation chamber 2 when the rotation receiver 1 rotates can be used. It is possible to prevent wear of the surface of the semiconductor element 3 due to contact friction with the semiconductor element 3 waiting in the receiving passage 12. The rotation speed of the rotary transfer device 1 determines the housing speed of the semiconductor element 3 in the housing chamber 2. Is set. However, when the rotation speed of the rotation receiver 1 is excessively high, the speed at which the semiconductor element 3 is accommodated in the accommodation room 2 exceeds the supply speed of the semiconductor element 3, and the semiconductor element 3 to be accommodated in the accommodation room 2 The rotation speed of the rotary successor 1 is limited to the
The upper limit is a speed at which at least one or more semiconductor elements 3 are always present in 2. When the rotation receiver 1 rotates, the semiconductor element 3 moves along the circumference of the rotation receiver 1 while being held in the accommodation chamber 2 according to the rotation. When the position of the storage chamber 2 coincides with the positions of the discharge passage 11 and the discharge passage 16, high-pressure air supplied from a fluid supply device (not shown) is injected into the storage chamber 2 through the discharge pipe 17 and the discharge passage 16. The semiconductor element 3 in the storage chamber 2 is sent out to the take-out passage 11 by the jetting force of the air, and then supplied to the next step through the sending pipe 15. In this embodiment, since the acceleration device 24 is installed on the extension of the delivery pipe 15, the semiconductor device 3 that has reached the acceleration pipe 25 in the acceleration device 4 via the delivery pipe 15 is The fluid is further accelerated by high-pressure air supplied from a fluid supply device (not shown) through the fluid supply pipe 26 and the branch conduit 25a and transferred to the transport pipe 27. Therefore, it is possible to send the semiconductor element 3 to the next step at a higher speed. The present invention has the following effects. (1) By separating spherical objects such as spherical semiconductor elements one by one, the spherical objects can be separated at regular intervals.
It can be supplied to the next step periodically. Therefore, in the next step, the processing for the spherical object can be executed with a certain quality. (2) Since spherical objects such as spherical semiconductor elements are separated one by one by sucking and ejecting a fluid such as air, reliable operation of the spherical objects is possible. (3) Since a spherical object such as a spherical semiconductor element is sent out by a high-speed pressurized fluid, the spherical object can be transported at a high speed.

【図面の簡単な説明】 【図1】 本発明のペースメーカーの蓋部を取り外して
示す正面図。 【図2】 図1をD−D線から見た断面図。 【図3】 図1のA部分の拡大図。 【図4】 図2のB部分の拡大断面図。 【図5】 図2のC部分の拡大断面図。 【符号の説明】 1 回転受継器 15
送出管 1a 外周段部 16
吐出通路 2 収容室 17
噴出管 3 半導体素子 18
フランジ 4 支持器 19
駆動軸ホルダ 5 容器部 20
駆動軸 6 蓋部 21
ジョイント 7 凹部 22
駆動力伝達機構 8 回転軸 23
モータ 9 ベアリング 24
加速装置 10 受取管 25
加速管路 11 取出通路 25a
分岐管路 12 受取通路 26
流体供給管 13 吸引通路 27
搬送管 14 吸引管
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a front view of a pacemaker of the present invention with a lid removed. FIG. 2 is a cross-sectional view of FIG. 1 taken along line DD. FIG. 3 is an enlarged view of a portion A in FIG. 1; FIG. 4 is an enlarged sectional view of a portion B in FIG. 2; FIG. 5 is an enlarged sectional view of a portion C in FIG. 2; [Explanation of Signs] 1 Rotary successor 15
Delivery tube 1a Outer peripheral step 16
Discharge passage 2 accommodation room 17
Ejector tube 3 Semiconductor element 18
Flange 4 support 19
Drive shaft holder 5 Container part 20
Drive shaft 6 Lid 21
Joint 7 recess 22
Driving force transmission mechanism 8 Rotating shaft 23
Motor 9 Bearing 24
Accelerator 10 Receiving pipe 25
Acceleration pipeline 11 extraction passage 25a
Branch pipe 12 Receiving passage 26
Fluid supply pipe 13 suction passage 27
Transfer tube 14 Suction tube

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭48−9471(JP,A) 特開 平6−135542(JP,A) 実開 昭58−112485(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B65G 47/84 - 47/86 B65G 47/00 - 47/22 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-48-9471 (JP, A) JP-A-6-135542 (JP, A) Japanese Utility Model 1983-112485 (JP, U) (58) Survey Field (Int.Cl. 7 , DB name) B65G 47/84-47/86 B65G 47/00-47/22

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 外周部に段差が設けられて形成された外
周段部に球状物の収容室を間隔をおいて複数設けた回転
受継器と、 前記回転受継器を水平回転自在に支持すると共に、前記
収容室に通ずる搬送雰囲気流によって供給される球状物
の受取通路と、受取通路の軸線の延長上にある吸引通
路と、該吸引通路の位置とは対称位置にある取出通路
と、該取出通路の軸線の延長上にある流体吐出通路を
する支持器と、 前記吸引通路内を介して雰囲気を吸引する真空吸引装置
と、 前記流体吐出通路内に加圧流体を供給する流体供給装置
と、 前記取出通路に連結された加速管路と、 前記加速管路から分岐した分岐管路と、 前記分岐管路内に加圧流体を導入する流体供給装置とを
備え、 さらに、 前記分岐管路を介して前記加速管路内に噴射される前記
加圧流体によって球状物を更に加速する加速装置を設け
たことを特徴とする球状物の供給装置。
(1) A rotary successor having a plurality of spherical chambers provided at intervals on an outer peripheral step formed by providing a step on an outer peripheral portion; vessel together with horizontally rotatably supported, the receive path of spheres supplied by the conveyor atmosphere flow communicating with the accommodating chamber, the suction passage Ru extension on near the axis of the receive path
Path and a take-out path located symmetrically with respect to the position of the suction path
A support having a fluid discharge passage on an extension of the axis of the take-out passage; a vacuum suction device for sucking an atmosphere through the suction passage; and a pressurization in the fluid discharge passage. A fluid supply device for supplying a fluid, an acceleration conduit connected to the take-out passage, a branch conduit branched from the acceleration conduit, and a fluid supply device for introducing a pressurized fluid into the branch conduit.
Provided further supply device for spherical object, characterized in that a accelerator to further accelerate the spheres by the pressurized fluid injected into the accelerating tube passage through said branch pipe.
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