JP3389813B2 - Mounting method of conductive ball - Google Patents

Mounting method of conductive ball

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JP3389813B2
JP3389813B2 JP09350297A JP9350297A JP3389813B2 JP 3389813 B2 JP3389813 B2 JP 3389813B2 JP 09350297 A JP09350297 A JP 09350297A JP 9350297 A JP9350297 A JP 9350297A JP 3389813 B2 JP3389813 B2 JP 3389813B2
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一雄 有門
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、マルチチャンバ式
の吸着ヘッドを用いる導電性ボールの搭載方法に関する
ものである。 【0002】 【従来の技術】フリップチップなどのバンプ付き電子部
品を製造する方法として、吸着ヘッドを用いる方法が知
られている。この方法は、容器などの供給部に備えられ
た導電性ボールを吸着ヘッドの下面に形成された吸着孔
に真空吸着してピックアップし、チップなどのワークの
電極上に搭載するものである。 【0003】また生産性をあげるために、マルチチャン
バ式の吸着ヘッドを用いることが知られている。マルチ
チャンバ式の吸着ヘッドは、複数個のワークに対して同
時に導電性ボールを搭載できるように、吸着ヘッドに複
数のチャンバを設け、各々のチャンバの下面に形成され
た吸着孔に導電性ボールを真空吸着して、複数個のワー
クに一括して導電性ボールを搭載するものである。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】ところで、マルチチャ
ンバ式の吸着ヘッドを用いてワークに導電性ボールを搭
載する場合、複数個のチャンバのうちのいずれかのチャ
ンバの使用を中止したい場合がある。このような場合と
は、たとえば複数個のワークのうちのいずれかが不良品
であって導電性ボールの搭載を中止したい場合や、ある
いは搭載位置に位置決めされたワークの個数よりもチャ
ンバの個数の方が多い場合などである。 【0005】このような場合には、使用を中止するチャ
ンバによる導電性ボールのピックアップは中止する必要
がある。ところが、複数個のチャンバを互いに独立した
完全な気密室にすることは困難なことから、使用を中止
するチャンバ内も隣接する真空吸引中のチャンバの真空
の影響をうけて若干の真空状態になりやすく、その結
果、このチャンバの吸着孔に誤って導電性ボールを真空
吸着してピックアップしやすいものである。 【0006】したがって本発明は、マルチチャンバ式の
吸着ヘッドを用いて導電性ボールのワークへの搭載を有
利に行うことができ、殊に使用を中止するチャンバの吸
着孔に誤って導電性ボールが真空吸着されてピックアッ
プされるのを確実に防止できる導電性ボールの搭載方法
を提供することを目的とする。 【0007】 【0008】【課題を解決するための手段】 発明は、導電性ボール
の供給部に備えられた導電性ボールをマルチチャンバ式
の吸着ヘッドの吸着孔に真空吸着してピックアップし、
位置決め部に位置決めされたワークに移送搭載するよう
にした導電性ボールの搭載方法であって、マルチチャン
バのうちのいずれかのチャンバによる導電性ボールのピ
ックアップを中止するときは、ピックアップを行うチャ
ンバは真空ポンプにより真空吸引し、またピックアップ
を中止したチャンバへはエア源により微小正圧状態にし
このチャンバの吸着孔からエアを吹き出させるように
し、また導電性ボールをワークに搭載するときは、チャ
ンバに大きな正圧を加えて真空状態を破壊し導電性ボー
ルの吸着孔からの離れを良くするようにした。 【0009】 【発明の実施の形態】発明によれば、供給部の導電性
ボールを真空吸着してピックアップする場合、使用を中
止するチャンバに対しては微小正圧を付与することによ
り、このチャンバの吸着孔に導電性ボールが誤って真空
吸着されてピックアップされるのを確実に解消すること
ができる。また導電性ボールをワークに搭載するとき
は、チャンバに大きな正圧を加えて真空状態を破壊し導
電性ボールの吸着孔からの離れを良くしてワークに搭載
することができる。 【0010】以下、本発明の実施の形態を図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の一実施の形態の導電性ボ
ールの搭載装置の正面図、図2は同吸着ヘッドとワーク
の斜視図、図3、図4、図5は同吸着ヘッドの空気圧系
のブロック図、図6は同吸着ヘッドの断面図、図7およ
び図8は同ワークの斜視図である。 【0011】まず、図1を参照して導電性ボールの搭載
装置の全体構造を説明する。図1において、1は導電性
ボールであり、供給部としての容器2に大量に貯溜され
ている。容器2は基台3に載せられている。4はワーク
としてのチップユニットであり、位置決め部5に位置決
めされている。15は吸着ヘッドであって、フレーム6
の前面に装着されている。またフレーム6には吸着ヘッ
ド15を上下動させるための上下動機構7と、吸着ヘッ
ド15を下方へ加圧する加圧手段としてのシリンダ14
が装着されており、モータ8が駆動すると吸着ヘッド1
5は上下動する。フレーム6は水平な移動テーブル9に
保持されており、モータ10が駆動すると移動テーブル
9に沿って横方向へ移動する。基台3と位置決め部5の
間には、吸着ヘッド15の下面に真空吸着された導電性
ボール1にフラックス11を塗布するフラックス塗布部
12が設けられている。なお図1では、吸着ヘッド15
は簡略に記載している。 【0012】図2において、チップユニット4は多面取
りであって、ヨコ方向に2個、タテ方向に4個のチップ
4aがあり、後工程において破線に沿って切断して分離
し、8個のチップ4aを得る。また吸着ヘッド15は、
後述するように2個のチャンバを有しており、1回の動
作で2個のチップ4aの電極(図示せず)上に導電性ボ
ール1を搭載する。チップユニット4は、前工程におい
て製品検査が行われる。そして欠けが有るなどの不良品
のチップ4aにはバッドマーク13が印される。後述す
るように、バッドマーク13が印されたチップ4aに対
する導電性ボール1の搭載は中止される。 【0013】次に、吸着ヘッド15およびその空気圧系
について説明する。図3は吸着ヘッド15が容器2内の
導電性ボール1を真空吸着してピックアップするときの
配管状態を示している。また図4は吸着ヘッド15が導
電性ボール1をチップユニット4に搭載するときの配管
状態を示している。また図5は、右側のチャンバ22の
使用を中止する場合の配管状態を示している。まず、図
3を参照して吸着ヘッド15の構造を説明する。吸着ヘ
ッド15は、上箱16と下箱17から成っており、それ
ぞれのフランジ18,19にクランパ20を嵌め込んで
結合されている(以上、図2も参照)。 【0014】吸着ヘッド15の内部には仕切壁21が設
けられており、これにより吸着ヘッド15の内部は2つ
のチャンバ22に分割されている。また上箱16の適所
にはシール23が設けられている。また下箱17の下面
には吸着孔24が形成されている。1つのチャンバ22
には1個のチップ4aの電極に対応する吸着孔24が形
成されており、したがってこの吸着ヘッド15は、1回
の動作で2個のチップ4aに導電性ボール1を搭載す
る。 【0015】次に、空気圧系について説明する。図3に
おいて、31は第1の真空バルブ、32は第1の真空破
壊バルブ、33は第2の真空バルブ、34は第2の真空
破壊バルブである。また35は第1の圧力調整弁、36
は第2の圧力調整弁、37は真空ポンプ、38は高圧の
エア源である。 【0016】2個のチャンバ22上に立設されたパイプ
26(図2も参照)は、それぞれ第1の真空バルブ31
および第2の真空バルブ33を介して真空ポンプ37に
接続されており、したがって第1の真空バルブ31と第
2の真空吸着バルブ33のON,OFF(通路a,b)
を切り換えることにより、各チャンバ22の真空吸引を
互いに独立して個別に制御することができる。なお通路
aを接続すればONとなってチャンバ22は真空吸引さ
れ、通路bを接続すればOFFとなり、真空破壊バルブ
32,34側に接続される。 【0017】第1の真空破壊バルブ32と第1の圧力調
整弁35は並列に接続されており、その入力側はエア源
38に接続され、出力側は第1の真空バルブ31に接続
されている。第2の真空破壊バルブ34と第2の圧力調
整弁36も同じ配管である。したがって通路cを接続す
れば、ONとなって真空バルブ31,33の通路bを通
ってチャンバ22にエアが圧送され、チャンバ22内は
正圧により真空破壊される。 【0018】後述するように、吸着ヘッド15を下降さ
せることにより吸着孔24に真空吸着された導電性ボー
ル1をチップ4aに着地させ、次いで吸着ヘッド15を
上昇させて導電性ボール1をチップ4aに搭載するとき
は、チャンバ22に大きな正圧を加えてチャンバ22内
の真空状態を瞬間的に破壊し、これにより導電性ボール
1の吸着孔24からの離れを良くする。また吸着ヘッド
15を容器2に対して上下動作を行わせて導電性ボール
1をピックアップする場合は、導電性ボール1のピック
アップを中止するチャンバ22へは、真空破壊バルブ3
2,34をOFFにすることにより圧力調整弁35,3
6から少量のエアを送って微小正圧状態にする。これに
よりその吸着孔24からエアをわずかに吹き出させるこ
とにより、この吸着孔24に導電性ボール1が真空吸着
されてピックアップされるのを確実に防止する。なお微
小正圧の大きさは、圧力調整弁35,36により調整さ
れる。 【0019】この導電性ボールの搭載装置は上記のよう
な構成により成り、次に全体の動作を説明する。まず、
チップユニット4のすべてのチップ4aに導電性ボール
1を搭載する動作を説明する。図1において、吸着ヘッ
ド15は容器2の上方へ移動し、そこで上下動作を行う
ことにより吸着孔24に導電性ボール1を真空吸着して
ピックアップする。図3は、このときの配管状態を示し
ている。この場合、第1の真空バルブ31と第2の真空
バルブ33は通路aが接続されてONであり、通路aを
通じて2つのチャンバ22内は真空ポンプ37で真空吸
引される(矢印A1,A2参照)。 【0020】次に吸着ヘッド15はフラックス塗布部1
2の上方へ移動し、そこで上下動作を行うことにより、
導電性ボール1にフラックス11を付着させる。次に吸
着ヘッド15はチップユニット4の上方へ移動し、そこ
で上下動作を行って導電性ボール1をチップ4aに搭載
する。図4は、このときの配管状態を示している。この
場合、上述したように第1の真空バルブ31と第2の真
空バルブ33をOFFにして通路bを接続し、また第1
の真空破壊バルブ32と第2の真空破壊バルブ34をO
Nにして通路cを接続する。そしてエア源38からエア
を大量に圧送してチャンバ22内を瞬間的に真空破壊し
たうえで(矢印B1,B2)、吸着ヘッド15を上昇さ
せることにより導電性ボール1は吸着孔24から瞬時に
離脱し、チップ4a上に搭載される。 【0021】次に、いずれかのチップ4aにバッドマー
ク13があって、一方のチャンバ22の使用を中止する
場合の動作について説明する。なおバッドマーク13が
印された不良品のチップ4aの情報については、予めコ
ンピュータなどの制御部(図示せず)のメモリに登録さ
れている。 【0022】図5は、このときの配管状態を示してい
る。吸着ヘッド15は容器2の上方へ移動し、そこで上
下動作を行って導電性ボール1を真空吸着してピックア
ップする。図5において、左側のチャンバ22は使用
し、右側のチャンバ22の使用を中止するものとする。
この場合、使用する左側のチャンバ22の空気圧制御は
図3の場合と同様であって、矢印A1で示すようにチャ
ンバ22を真空吸引して導電性ボール1をピックアップ
する。 【0023】使用を中止する右側のチャンバ22内の空
気圧の制御は次のように行う。図5において、第2の真
空バルブ33をOFFにして通路bを接続する。また第
2の真空破壊バルブ34もOFFにする。そこでエア源
38から少量のエアが第2の圧力調整弁36を通じて右
側のチャンバ22へ圧送され、このチャンバ22内は微
小正圧となってその吸着孔24からエアがわずかに吹き
出す(矢印c)。この微小正圧の大きさは、第2の圧力
調整弁36により調整される。 【0024】したがって左側のチャンバ22の吸着孔2
4には導電性ボール1が真空吸着されてピックアップさ
れるが、右側のチャンバ22の吸着孔24には導電性ボ
ール1は真空吸着してピックアップされない。なおこの
正圧付与を行わないとすると、図5において破線矢印K
で示すように上箱16と下箱17の仕切壁21の接合部
から真空洩れが生じ、左側のチャンバ22内も真空状態
となってその吸着孔24に誤って導電性ボール1が真空
吸着されてピックアップされる。 【0025】以下の動作は上述の場合と同様であって、
吸着ヘッド15はフラックス塗布部12の上方へ移動
し、そこで上下動作を行って導電性ボール1にフラック
ス11を付着させた後、吸着ヘッド15はチップユニッ
ト4の上方へ移動し、そこで上下動作を行って導電性ボ
ール1をチップ4aに搭載する。勿論、右側のチャンバ
22の吸着孔24には導電性ボール1は真空吸着されて
いないので、バッドマーク13が印された不良品のチッ
プ4aには導電性ボール1は搭載されない。 【0026】次に、吸着ヘッド15に加える加圧力の大
きさの制御について、図6を参照して説明する。図6
(a)は、2つのチャンバ22でチップユニット4の2
個のチップ4aに導電性ボール1を搭載する場合であ
る。この場合、シリンダ14の加圧力F1を大きくす
る。また図6(b)は一方のチャンバ22の使用を中止
する場合である。この場合、導電性ボール1の数は図6
(a)の場合の半分であるから、図6(a)の場合と同
じ大きさの加圧力を加えると、導電性ボール1は過大な
力でチップ4aに押しつけられ、その結果、導電性ボー
ル1が変形したり、あるいは吸着孔24に嵌り込んで吸
着孔24から抜け出なくなるおそれがある。したがって
この場合はシリンダ14の加圧力F2を小さくする。以
上により、常に適度の力で導電性ボール1をチップ4a
に押し付けて搭載できる。 【0027】上記実施の形態は、バッドマーク13が印
されたチップ4aに対する導電性ボール1の搭載を中止
する場合を例にとって説明したが、次に他の運転方法に
ついて説明する。図7は位置決め部5上に単体のチップ
4aが載せられている場合を示している。この場合、2
つのチャンバ22のうち、何れか一方のチャンバ22の
使用は当然中止される。 【0028】また図8のワーク4Aは、チップ4aが一
列の多面取りであって、後工程で破線に沿って切断す
る。この場合も、何れか一方のチャンバ22の使用は中
止される。勿論、2つのチャンバ22の並び方向をチッ
プ4aの並び方向と同じにすれば、2つのチャンバ22
により導電性ボール1を搭載することも可能である。ま
た上記実施の形態では、マルチチャンバ式の吸着ヘッド
としての2個のチャンバを備えたものを例にとって説明
したが、チャンバの数は2個以上であれば何個でもよい
ものである。 【0029】 【発明の効果】本発明によれば、マルチチャンバ式の吸
着ヘッドにより供給部の導電性ボールを真空吸着してピ
ックアップする場合、使用を中止するチャンバに対して
微小正圧を付与することにより、このチャンバの吸着孔
に導電性ボールが誤って真空吸着されてピックアップさ
れるのを確実に解消することができる。また導電性ボー
ルをワークに搭載するときは、チャンバに大きな正圧を
加えて真空状態を破壊し導電性ボールの吸着孔からの離
れを良くしてワークに搭載することができる。
BACKGROUND OF THE INVENTION [0001] [Technical Field of the Invention The present invention relates to tower mounting method of the conductive ball using the suction head of a multi-chamber type. 2. Description of the Related Art As a method for manufacturing electronic components with bumps such as flip chips, a method using a suction head is known. In this method, a conductive ball provided in a supply unit such as a container is vacuum-adsorbed to a suction hole formed in a lower surface of a suction head, picked up, and mounted on an electrode of a work such as a chip. It is known to use a multi-chamber type suction head in order to increase productivity. In a multi-chamber suction head, a plurality of chambers are provided in the suction head so that conductive balls can be simultaneously mounted on a plurality of works, and the conductive balls are provided in suction holes formed in the lower surface of each chamber. In this method, a conductive ball is mounted on a plurality of works by vacuum suction. [0004] When a conductive ball is mounted on a work using a multi-chamber suction head, it is necessary to stop using one of the plurality of chambers. There is. Such a case is when, for example, one of the plurality of works is defective and the mounting of the conductive ball is to be stopped, or the number of chambers is smaller than the number of works positioned at the mounting position. There are many cases. In such a case, it is necessary to stop picking up the conductive balls by the chamber whose use is stopped. However, since it is difficult to make a plurality of chambers independent and complete airtight chambers, the inside of the chamber to be discontinued is slightly vacuumed due to the vacuum of the adjacent chamber during vacuum suction. As a result, the conductive ball is easily erroneously vacuum-sucked into the suction hole of the chamber and is easily picked up. Therefore, according to the present invention, a conductive chamber can be advantageously mounted on a workpiece by using a multi-chamber type suction head. In particular, the conductive ball is erroneously inserted into a suction hole of a chamber to be discontinued. and to provide a tower mounting method of the conductive balls can be reliably prevented from being vacuum suction is picked up. [0007] [0008] According to an aspect of the present invention, a vacuum suction to pick up conductive balls provided in the supply portion of the conductive ball suction holes of the suction head of a multi-chamber type,
A method for mounting a conductive ball to be transferred and mounted on a work positioned at a positioning unit, wherein when stopping the pickup of the conductive ball by any one of the multi-chambers, the chamber for picking up is performed. vacuum suction by the vacuum pump, also to the small positive pressure state by the air source to the chamber that was discontinued pickup
From the suction hole of the chamber so as to blow out air Te
When mounting conductive balls on a workpiece,
A large positive pressure is applied to the
The distance from the suction hole of the nozzle was improved . According to the present invention, when a conductive ball in a supply section is picked up by vacuum suction, a minute positive pressure is applied to a chamber whose use is to be discontinued. It is possible to reliably prevent the conductive ball from being erroneously vacuum-sucked into the suction hole of the chamber and picked up. When mounting conductive balls on a workpiece
Applies a large positive pressure to the chamber to break the vacuum
Improve the distance of the conductive ball from the suction hole and mount it on the work
Can be done . An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 is a front view of a conductive ball mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of the suction head and a work, and FIGS. 3, 4, and 5 are pneumatic systems of the suction head. FIG. 6 is a sectional view of the suction head, and FIGS. 7 and 8 are perspective views of the work. First, the overall structure of the conductive ball mounting device will be described with reference to FIG. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a conductive ball, which is stored in a large amount in a container 2 as a supply unit. The container 2 is placed on a base 3. Reference numeral 4 denotes a chip unit as a work, which is positioned by the positioning unit 5. Reference numeral 15 denotes a suction head,
It is attached to the front of. The frame 6 has a vertically moving mechanism 7 for vertically moving the suction head 15 and a cylinder 14 as a pressing means for pressing the suction head 15 downward.
Is mounted, and when the motor 8 is driven, the suction head 1 is
5 moves up and down. The frame 6 is held on a horizontal moving table 9, and moves in the horizontal direction along the moving table 9 when the motor 10 is driven. Between the base 3 and the positioning unit 5, there is provided a flux application unit 12 for applying a flux 11 to the conductive ball 1 vacuum-adsorbed on the lower surface of the adsorption head 15. In FIG. 1, the suction head 15
Is simply described. In FIG. 2, the chip unit 4 is a multi-chamfer, and has two chips 4a in the horizontal direction and four chips 4a in the vertical direction. The chip 4a is obtained. In addition, the suction head 15
As will be described later, it has two chambers, and the conductive balls 1 are mounted on electrodes (not shown) of the two chips 4a in one operation. The chip unit 4 is subjected to a product inspection in a previous process. A bad mark 13 is marked on a defective chip 4a such as a chip. As will be described later, mounting of the conductive ball 1 on the chip 4a on which the bad mark 13 is marked is stopped. Next, the suction head 15 and its pneumatic system will be described. FIG. 3 shows a piping state when the suction head 15 picks up the conductive ball 1 in the container 2 by vacuum suction. FIG. 4 shows a piping state when the suction head 15 mounts the conductive balls 1 on the chip unit 4. FIG. 5 shows a piping state when the use of the right chamber 22 is stopped. First, the structure of the suction head 15 will be described with reference to FIG. The suction head 15 is composed of an upper box 16 and a lower box 17 and is connected by fitting a clamper 20 to each of the flanges 18 and 19 (see also FIG. 2). A partition wall 21 is provided inside the suction head 15, whereby the inside of the suction head 15 is divided into two chambers 22. A seal 23 is provided at an appropriate position on the upper box 16. A suction hole 24 is formed on the lower surface of the lower box 17. One chamber 22
Are formed with suction holes 24 corresponding to the electrodes of one chip 4a. Therefore, the suction head 15 mounts the conductive balls 1 on the two chips 4a in one operation. Next, the pneumatic system will be described. In FIG. 3, 31 is a first vacuum valve, 32 is a first vacuum break valve, 33 is a second vacuum valve, and 34 is a second vacuum break valve. 35 is a first pressure regulating valve, 36
Is a second pressure regulating valve, 37 is a vacuum pump, and 38 is a high-pressure air source. The pipes 26 (see also FIG. 2) erected on the two chambers 22 are each provided with a first vacuum valve 31.
And a vacuum pump 37 via a second vacuum valve 33, so that the first vacuum valve 31 and the second vacuum suction valve 33 are turned on and off (passages a and b).
, The vacuum suction of each chamber 22 can be individually controlled independently of each other. When the path a is connected, the chamber 22 is turned on and the chamber 22 is vacuum-sucked. When the path b is connected, the chamber 22 is turned off and connected to the vacuum break valves 32 and 34. The first vacuum break valve 32 and the first pressure regulating valve 35 are connected in parallel. The input side is connected to an air source 38, and the output side is connected to the first vacuum valve 31. I have. The second vacuum break valve 34 and the second pressure regulating valve 36 are also the same piping. Accordingly, when the passage c is connected, the air is turned ON and air is fed to the chamber 22 through the passage b of the vacuum valves 31 and 33, and the inside of the chamber 22 is broken by a positive pressure. As will be described later, by lowering the suction head 15, the conductive ball 1 vacuum-sucked in the suction hole 24 lands on the chip 4a, and then the suction head 15 is raised to move the conductive ball 1 to the chip 4a. When mounted on the chamber 22, a large positive pressure is applied to the chamber 22 to instantaneously break the vacuum state in the chamber 22, thereby improving the separation of the conductive ball 1 from the suction hole 24. When picking up the conductive balls 1 by moving the suction head 15 up and down with respect to the container 2, the vacuum break valve 3 is provided to the chamber 22 where the picking up of the conductive balls 1 is stopped.
By turning off the pressure control valves 35, 3
A small amount of air is sent from 6 to make a small positive pressure state. Thus, by slightly blowing air from the suction hole 24, the conductive ball 1 is reliably prevented from being vacuum-sucked to the suction hole 24 and picked up. Note that the magnitude of the minute positive pressure is adjusted by the pressure adjusting valves 35 and 36. This conductive ball mounting apparatus has the above-described configuration, and the entire operation will be described next. First,
The operation of mounting the conductive balls 1 on all the chips 4a of the chip unit 4 will be described. In FIG. 1, the suction head 15 moves above the container 2 and moves up and down there to pick up the conductive ball 1 by vacuum suction in the suction hole 24. FIG. 3 shows a pipe state at this time. In this case, the first vacuum valve 31 and the second vacuum valve 33 are connected to the passage a and are ON, and the two chambers 22 are suctioned by the vacuum pump 37 through the passage a (see arrows A1 and A2). ). Next, the suction head 15 is connected to the flux coating unit 1.
2 and move up and down there,
The flux 11 is attached to the conductive ball 1. Next, the suction head 15 moves above the chip unit 4, where it moves up and down to mount the conductive ball 1 on the chip 4a. FIG. 4 shows a pipe state at this time. In this case, as described above, the first vacuum valve 31 and the second vacuum valve 33 are turned off to connect the passage b,
The vacuum break valve 32 and the second vacuum break valve 34
N and the passage c is connected. Then, a large amount of air is sent from the air source 38 to instantaneously break the inside of the chamber 22 under vacuum (arrows B1 and B2). It is detached and mounted on the chip 4a. Next, the operation in the case where the bad mark 13 is present on one of the chips 4a and the use of one of the chambers 22 is stopped will be described. The information of the defective chip 4a on which the bad mark 13 is marked is registered in advance in a memory of a control unit (not shown) such as a computer. FIG. 5 shows the state of the piping at this time. The suction head 15 moves above the container 2 and moves up and down to pick up the conductive ball 1 by vacuum suction. In FIG. 5, the left chamber 22 is used and the right chamber 22 is stopped.
In this case, the air pressure control of the left chamber 22 to be used is the same as that in the case of FIG. 3, and the chamber 22 is vacuum-evacuated to pick up the conductive ball 1 as shown by an arrow A1. The control of the air pressure in the right side chamber 22 where the use is stopped is performed as follows. In FIG. 5, the second vacuum valve 33 is turned off to connect the passage b. Also, the second vacuum breaking valve 34 is turned off. Then, a small amount of air is pressure-fed from the air source 38 to the right chamber 22 through the second pressure regulating valve 36, and the inside of the chamber 22 becomes a minute positive pressure and slightly blows out the air from the suction hole 24 (arrow c). . The magnitude of this minute positive pressure is adjusted by the second pressure adjusting valve 36. Therefore, the suction hole 2 of the left chamber 22
4, the conductive ball 1 is vacuum-adsorbed and picked up. However, the conductive ball 1 is not picked up by suction in the suction hole 24 of the right chamber 22. If this positive pressure is not applied, a broken arrow K in FIG.
As shown in the figure, a vacuum leak occurs from the joint between the partition walls 21 of the upper box 16 and the lower box 17, and the inside of the left chamber 22 is also in a vacuum state, whereby the conductive balls 1 are erroneously vacuum-sucked into the suction holes 24. Is picked up. The following operation is the same as the above case.
The suction head 15 moves above the flux application section 12 and performs an up-down operation to attach the flux 11 to the conductive balls 1. Then, the suction head 15 moves above the chip unit 4, where the up-down operation is performed. Then, the conductive ball 1 is mounted on the chip 4a. Of course, since the conductive ball 1 is not vacuum-sucked in the suction hole 24 of the right chamber 22, the conductive ball 1 is not mounted on the defective chip 4a on which the bad mark 13 is marked. Next, control of the magnitude of the pressure applied to the suction head 15 will be described with reference to FIG. FIG.
(A) shows two chip units 4 in two chambers 22.
This is a case where the conductive balls 1 are mounted on the individual chips 4a. In this case, the pressing force F1 of the cylinder 14 is increased. FIG. 6B shows a case where the use of one of the chambers 22 is stopped. In this case, the number of the conductive balls 1 is as shown in FIG.
6A, the conductive ball 1 is pressed against the chip 4a with an excessive force when a pressing force having the same magnitude as that in FIG. 6A is applied. As a result, the conductive ball 1 1 may be deformed or may not fit into the suction hole 24 and fall out of the suction hole 24. Therefore, in this case, the pressing force F2 of the cylinder 14 is reduced. As described above, the conductive ball 1 is always attached to the tip 4a with an appropriate force.
It can be mounted by pressing it. In the above embodiment, the case where the mounting of the conductive ball 1 on the chip 4a with the bad mark 13 is stopped has been described as an example. Next, another operation method will be described. FIG. 7 shows a case where a single chip 4 a is mounted on the positioning section 5. In this case, 2
Of course, use of one of the two chambers 22 is stopped. The work 4A shown in FIG. 8 has a plurality of chips 4a in a row, and is cut along a broken line in a later step. Also in this case, use of one of the chambers 22 is stopped. Of course, if the arrangement direction of the two chambers 22 is the same as the arrangement direction of the chips 4a, the two chambers 22
Thus, the conductive ball 1 can be mounted. Further, in the above-described embodiment, an example in which two chambers are provided as a multi-chamber suction head has been described. However, the number of chambers may be any number as long as it is two or more. According to the present invention, in the case where the conductive balls of the supply section are vacuum-adsorbed and picked up by the multi-chamber suction head, the use of the chamber is stopped.
By applying the minute positive pressure, it is possible to reliably prevent the conductive ball from being erroneously vacuum-sucked into the suction hole of the chamber and picked up. Also a conductive bow
When mounting the tool on a workpiece, apply a large positive pressure to the chamber.
In addition, the vacuum is broken and the conductive balls separate from the suction holes.
It can be mounted on a work with better quality.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置の正面図 【図2】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置の吸着ヘッドとワークの斜視図 【図3】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置の吸着ヘッドの空気圧系のブロック図 【図4】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置の吸着ヘッドの空気圧系のブロック図 【図5】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置の吸着ヘッドの空気圧系のブロック図 【図6】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置の吸着ヘッドの断面図 【図7】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置のワークの斜視図 【図8】本発明の一実施の形態の導電性ボールの搭載装
置のワークの斜視図 【符号の説明】 1 導電性ボール 2 容器 3 位置決め部 4,4A ワーク 4a チップ 9 移動テーブル 14 シリンダ 15 吸着ヘッド 22 チャンバ 24 吸着孔 31 第1の真空バルブ 32 第1の真空破壊バルブ 33 第2の真空バルブ 34 第2の真空破壊バルブ 35 第1の圧力調整弁 36 第2の圧力調整弁 37 真空ポンプ 38 エア源
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a front view of a conductive ball mounting apparatus according to an embodiment of the present invention; FIG. FIG. 3 is a block diagram of a pneumatic system of a suction head of a conductive ball mounting apparatus according to one embodiment of the present invention. FIG. 4 is a conductive ball mounting apparatus of one embodiment of the present invention. FIG. 5 is a block diagram of a pneumatic system of the suction head. FIG. 5 is a block diagram of a pneumatic system of the suction head of the conductive ball mounting device according to one embodiment of the present invention. FIG. 6 is a conductive ball of one embodiment of the present invention. FIG. 7 is a cross-sectional view of a suction head of a mounting device of the present invention. FIG. 7 is a perspective view of a work of a conductive ball mounting device of one embodiment of the present invention. FIG. 8 is a conductive ball mounting device of one embodiment of the present invention. [Description of References] 1 Conductive ball 2 Container 3 Arrangement parts 4, 4A Work 4a Chip 9 Moving table 14 Cylinder 15 Suction head 22 Chamber 24 Suction hole 31 First vacuum valve 32 First vacuum break valve 33 Second vacuum valve 34 Second vacuum break valve 35 First pressure regulating valve 36 Second pressure regulating valve 37 Vacuum pump 38 Air source

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 B23P 21/00 305 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/60 B23P 21/00 305

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】導電性ボールの供給部に備えられた導電性
ボールをマルチチャンバ式の吸着ヘッドの吸着孔に真空
吸着してピックアップし、位置決め部に位置決めされた
ワークに移送搭載するようにした導電性ボールの搭載方
法であって、マルチチャンバのうちのいずれかのチャン
バによる導電性ボールのピックアップを中止するとき
は、ピックアップを行うチャンバは真空ポンプにより真
空吸引し、またピックアップを中止したチャンバへはエ
ア源により微小正圧状態にしてこのチャンバの吸着孔か
らエアを吹き出させるようにし、また導電性ボールをワ
ークに搭載するときは、チャンバに大きな正圧を加えて
真空状態を破壊し導電性ボールの吸着孔からの離れを良
くするようにしたことを特徴とする導電性ボールの搭載
方法。
(57) Claims 1. A conductive ball provided in a conductive ball supply unit is vacuum-sucked into a suction hole of a multi-chamber type suction head, picked up, and positioned at a positioning unit. A method of mounting a conductive ball to be transferred and mounted on a workpiece, wherein when the picking up of the conductive ball by any one of the multi-chambers is stopped, the chamber for picking up is vacuum suctioned by a vacuum pump. and, also as is the chamber was discontinued pick then blowing the air from the suction hole of the chamber and the small positive pressure state by the air source and word conductive balls
When mounting on a workpiece, apply a large positive pressure to the chamber.
Breaks vacuum state and improves separation of conductive balls from suction holes
A method for mounting a conductive ball, characterized in that the conductive ball is mounted.
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