JP3379530B2 - Halogen bulb and halogen bulb with reflector using the same - Google Patents

Halogen bulb and halogen bulb with reflector using the same

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JP3379530B2
JP3379530B2 JP2001054008A JP2001054008A JP3379530B2 JP 3379530 B2 JP3379530 B2 JP 3379530B2 JP 2001054008 A JP2001054008 A JP 2001054008A JP 2001054008 A JP2001054008 A JP 2001054008A JP 3379530 B2 JP3379530 B2 JP 3379530B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はハロゲン電球および
これを用いた反射鏡付きハロゲン電球に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a halogen bulb and a halogen bulb with a reflector using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にハロゲン電球は、店舗用照明や住
宅用照明等に用いられている。
2. Description of the Related Art Generally, halogen light bulbs are used for store lighting, residential lighting, and the like.

【0003】従来、このようなハロゲン電球には、低電
圧タイプ(主に定格電圧12Vタイプ)と、高電圧タイ
プ(日本:定格電圧100Vまたは110Vタイプ、米
国:定格電圧120Vタイプ、欧州:定格電圧230V
または240Vタイプ等)とがあり、さらに一端部のみ
に封止部を有する片口金形と両端部が封止された両口金
形とがある。
Conventionally, such a halogen bulb has a low voltage type (mainly a rated voltage of 12V type) and a high voltage type (Japan: a rated voltage of 100V or 110V type, USA: a rated voltage of 120V type, and Europe: a rated voltage. 230V
Or 240V type), and further, there are a single-ended die having a sealing portion only at one end and a double-ended die having both ends sealed.

【0004】このような従来のハロゲン電球のうち、片
口金形のハロゲン電球は、一端部に封止部を有する発光
管内に、フィラメントと、このフィラメントを保持した
2本の内部リード線とが設けられている。また、発光管
内には、キセノンガス、クリプトンガス、またはアルゴ
ンガス等を主体とする母体ガスが封入されている。
Among such conventional halogen bulbs, the halogen bulb of single-ended type has a filament and two internal lead wires holding the filament in an arc tube having a sealing portion at one end. Has been. Further, a mother gas mainly containing xenon gas, krypton gas, argon gas or the like is enclosed in the arc tube.

【0005】封止部には、口金が接着剤によって固定さ
れている。
A base is fixed to the sealing portion with an adhesive.

【0006】内部リード線は、封止部に封止された金属
箔を介して外部リード線に接続されている。この外部リ
ード線は、口金に接続されている。
The internal lead wire is connected to the external lead wire via the metal foil sealed in the sealing portion. This external lead wire is connected to the base.

【0007】このような片口金形ハロゲン電球のうち、
特に高電圧タイプのハロゲン電球では、発光管の破損を
抑制するために、母体ガスの常温(25℃)時の封入圧
を低圧に、例えば0.2MPa以下にすることが知られ
ている。
Among such single-ended halogen bulbs,
In particular, in a high-voltage type halogen bulb, it is known that the enclosure pressure of the base gas at normal temperature (25 ° C.) is set to a low pressure, for example, 0.2 MPa or less, in order to suppress damage to the arc tube.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の高電圧タイプのハロゲン電球では、寿命末期
時にフィラメントが断線し、この断線したフィラメント
間でアーク放電が誘発され、このアーク放電が内部リー
ド線間を移行して封止部近傍まで到達し、その時の熱衝
撃(具体的には、アーク放電による熱衝撃と、過熱され
た内部リード線の熱による熱衝撃)によって封止部にク
ラックが発生するという問題がある。
However, in such a conventional high-voltage type halogen bulb, the filament is broken at the end of its life, an arc discharge is induced between the broken filaments, and this arc discharge causes an internal lead. The wire moves between the wires and reaches the vicinity of the sealing part, and the thermal shock at that time (specifically, the thermal shock due to the arc discharge and the thermal shock due to the heat of the overheated internal lead wire) causes cracks in the sealing part. There is a problem that it occurs.

【0009】また、従来の高電圧タイプのハロゲン電球
では、フィラメントの材料であるタングステンが蒸発し
て、フィラメントが断線しやすくなり、寿命が短くなる
という問題もある。
Further, in the conventional high voltage type halogen bulb, there is also a problem that tungsten, which is a material of the filament, evaporates, the filament is easily broken, and the life is shortened.

【0010】本発明は、このような問題を解決するため
になされたもので、発光管の封止部にクラックが発生す
るのを防止することができるとともに、長寿命なハロゲ
ン電球およびこれを用いた反射鏡付きハロゲン電球を提
供するものである。
The present invention has been made in order to solve such a problem, and it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion of the arc tube and to provide a long-life halogen bulb and a halogen bulb using the same. The halogen bulb with a reflector is provided.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
ハロゲン電球は、端部に封止部を有する発光管内に、フ
ィラメントが設けられているとともに、キセノンガスお
よびクリプトンガスのうち少なくとも一方を主体とする
母体ガスが封入されたハロゲン電球であって、前記ハロ
ゲン電球の定格電圧をV(V)、前記母体ガスの常温時
の封入圧をP(MPa)、前記キセノンガスおよび前記
クリプトンガスの組成比をそれぞれXe%、Kr%とし
た場合、V≧100(V)、かつ、P≧0.7+0.1
×(Kr%/(Kr%+Xe%))(ただし、Kr%+
Xe%=100(%)、かつ、0≦Kr%≦100、か
つ、0≦Xe%≦100)なる関係式を満たす構成を有
している。
A halogen bulb according to claim 1 of the present invention has a filament provided in an arc tube having a sealing portion at its end, and at least one of xenon gas and krypton gas. Is a halogen bulb containing a base gas mainly containing V, a rated voltage of the halogen bulb is V (V), a filling pressure of the base gas at room temperature is P (MPa), the xenon gas and the krypton gas. When the composition ratios of X and Y are respectively Xe% and Kr%, V ≧ 100 (V) and P ≧ 0.7 + 0.1
X (Kr% / (Kr% + Xe%)) (however, Kr% +
Xe% = 100 (%), 0 ≦ Kr% ≦ 100, and 0 ≦ Xe% ≦ 100).

【0012】また、本発明の請求項4記載の反射鏡付き
ハロゲン電球は、内部に請求項1ないし請求項3のいず
れかに記載のハロゲン電球が設けられ、かつ前面に前面
ガラスが取り付けられた反射鏡を備えている構成を有し
ている。
A halogen lamp with a reflecting mirror according to claim 4 of the present invention is provided with the halogen lamp according to any one of claims 1 to 3 inside and a front glass attached to the front surface. It has a configuration including a reflecting mirror.

【0013】これらの構成により、断線したフィラメン
ト間に誘発されたアーク放電が封止部へ移行するのを阻
止することができるので、熱衝撃によって封止部にクラ
ックが発生するのを防止することができ、またフィラメ
ントのタングステンが蒸発するのを抑制することができ
るので、フィラメントを断線しにくくすることができ
る。
With these configurations, it is possible to prevent the arc discharge induced between the broken filaments from migrating to the sealing portion, so that cracking of the sealing portion due to thermal shock is prevented. In addition, since it is possible to suppress the evaporation of tungsten in the filament, it is possible to prevent the filament from breaking.

【0014】なお、本発明において、ガスの組成比を表
す「%」は全て「体積%」を示している。
In the present invention, all "%" representing the composition ratio of the gas represent "volume%".

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0016】本発明の第1の実施の形態である定格電圧
110V(定格電力65W)の片口金形ハロゲン電球
は、図1に示すように、全長が44mm、最大外径が1
4mmである石英ガラス製の発光管1を備えている。
As shown in FIG. 1, the first embodiment of the present invention is a single-ended halogen lamp having a rated voltage of 110 V (rated power of 65 W) and has a total length of 44 mm and a maximum outer diameter of 1 mm.
It is equipped with a 4 mm quartz glass arc tube 1.

【0017】発光管1は、閉塞部2、楕円体状の発光部
3、円筒状の筒部4、および封止部5とが順次連設され
ている。
The arc tube 1 has a closed portion 2, an ellipsoidal light emitting portion 3, a cylindrical tubular portion 4, and a sealing portion 5 which are successively arranged.

【0018】この発光管1の封止部5側の端部には、口
金6が接着剤7によって固定されている。
A base 6 is fixed to the end of the arc tube 1 on the side of the sealing portion 5 with an adhesive 7.

【0019】発光管1内には、キセノンガスおよびクリ
プトンガスのうち少なくとも一方を主体とし、そこに窒
素ガス、および微量の例えば臭化メチレン(CH2
2)からなるハロゲン化合物を添加した母体ガスが封
入されている。ハロゲン化合物の添加量は母体ガス全体
に対して5ppm〜1500ppmである。
At least one of xenon gas and krypton gas is mainly contained in the arc tube 1, and nitrogen gas and a trace amount of methylene bromide (CH 2 B) are contained therein.
A mother gas to which a halogen compound composed of r 2 ) is added is enclosed. The amount of the halogen compound added is 5 ppm to 1500 ppm with respect to the whole base gas.

【0020】なお、ここでいう「主体」とは、40%以
上を示す。したがって、キセノンガスおよびクリプトン
ガスのうち少なくとも一方が母体ガス全体に対して40
%以上含まれている。
The term "main body" as used herein means 40% or more. Therefore, at least one of the xenon gas and the krypton gas is 40% of the total amount of the base gas.
% Or more is included.

【0021】このように母体ガスとして、窒素ガスを添
加することにより、点灯時、後述するフィラメント8の
両端間でアーク放電が発生するのを抑制することができ
る。窒素ガスの添加量は母体ガス全体に対して5%〜2
0%にすることが好ましい。窒素ガスの添加量が母体ガ
ス全体に対して5%未満では、アーク放電の発生を抑制
することができない。一方、窒素ガスの添加量が母体ガ
ス全体に対して20%を越えると、フィラメント8の温
度が低下し、発光効率が低下してしまう。
As described above, by adding the nitrogen gas as the base gas, it is possible to suppress the occurrence of arc discharge between both ends of the filament 8 which will be described later at the time of lighting. The amount of nitrogen gas added is 5% to 2 with respect to the whole base gas.
It is preferably 0%. If the amount of nitrogen gas added is less than 5% with respect to the entire base gas, the occurrence of arc discharge cannot be suppressed. On the other hand, if the amount of nitrogen gas added exceeds 20% of the total amount of the base gas, the temperature of the filament 8 is lowered and the luminous efficiency is lowered.

【0022】封止部5を除く発光管1の外面には、酸化
タンタル(Ta25)と酸化ケイ素(SiO2)との多
層干渉膜からなる赤外線反射膜9が形成されている。
On the outer surface of the arc tube 1 excluding the sealing portion 5, an infrared reflection film 9 composed of a multilayer interference film of tantalum oxide (Ta 2 O 5 ) and silicon oxide (SiO 2 ) is formed.

【0023】発光部3内には、タングステンからなるフ
ィラメント8が設けられている。このフィラメント8
は、その両端部が石英製の円筒形ステム10に保持され
たタングステンからなる内部リード線11にそれぞれ接
続されている。
A filament 8 made of tungsten is provided in the light emitting section 3. This filament 8
Are connected at their opposite ends to internal lead wires 11 made of tungsten held by a quartz cylindrical stem 10.

【0024】この内部リード線11は、封止部5内に封
止されたモリブデン箔12を介してモリブデンからなる
外部リード線13に接続されている。また、この外部リ
ード線13は口金6の金具6a,6bにそれぞれ接続さ
れている。
The internal lead wire 11 is connected to an external lead wire 13 made of molybdenum through a molybdenum foil 12 sealed in the sealing portion 5. The external lead wires 13 are connected to the metal fittings 6a and 6b of the base 6, respectively.

【0025】外部リード線13と口金6の金具6aとの
間には、点灯中、フィラメント8が断線した場合に、フ
ィラメント8への電流供給を遮断し、断線したフィラメ
ント8間に誘発されたアーク放電が持続し、封止部5に
クラックが発生するのを防止するための保護用電流ヒュ
ーズ(図示せず)が設けられていることが好ましい。
Between the external lead wire 13 and the metal fitting 6a of the base 6, when the filament 8 is broken during lighting, the current supply to the filament 8 is cut off and the arc induced between the broken filaments 8 is cut off. It is preferable to provide a protective current fuse (not shown) for preventing discharge from continuing and cracking in the sealing portion 5.

【0026】次に、このようなハロゲン電球において、
母体ガス(組成比率は、キセノンガス:窒素ガス=8
8:12、および200ppmの臭化メチレン)の常温
(25℃)時の封入圧P(以下、単に封入圧Pという)
を0.1MPaから1.5MPaまで種々変化させたも
の(表1中、ランプA〜ランプS)を各50本ずつ作製
し、各々のハロゲン電球を水平点灯させた状態で落下衝
撃を与え、意図的にフィラメントを断線させた後に、封
止部5でのクラックの発生率および発光管1の破損率を
調べたところ、表1に示すとおりの結果が得られた。
Next, in such a halogen bulb,
Base gas (composition ratio is xenon gas: nitrogen gas = 8)
Filling pressure P of methylene bromide of 8:12 and 200 ppm at room temperature (25 ° C.) (hereinafter, simply referred to as filling pressure P)
Of 50 lamps (Lamp A to Lamp S in Table 1) were variously changed from 0.1 MPa to 1.5 MPa, and each of the halogen bulbs was horizontally lit to give a drop impact. After the filament was broken, the rate of occurrence of cracks in the sealing portion 5 and the rate of breakage of the arc tube 1 were examined, and the results shown in Table 1 were obtained.

【0027】なお、表1中の判定欄において、封止部5
でのクラックの発生率が0%のランプを「○」、封止部
5でのクラックの発生率および発光管1の破損率が0%
のランプを「◎」、それ以外のランプを「×」とした
(表2および表3についても同様)。
In the judgment column in Table 1, the sealing portion 5
A lamp with a crack occurrence rate of 0% is “◯”, a crack occurrence rate in the sealing portion 5 and a breakage rate of the arc tube 1 are 0%.
The lamps of No. 2 and No. 3 were designated as “⊚” and the other lamps were designated as “×” (the same applies to Tables 2 and 3).

【0028】なお、「発光管の破損」とは、発光管1が
割れてリークしてしまう状態を示すこととする。
The "damage of the arc tube" means a state where the arc tube 1 breaks and leaks.

【0029】また、表1中、実施例1〜実施例15につ
いては保護用電流ヒューズを備えていない。実施例16
〜実施例18、および従来例については保護用電流ヒュ
ーズを備えている。
Further, in Table 1, Examples 1 to 15 are not equipped with a protective current fuse. Example 16
˜Example 18 and the conventional example are provided with a protective current fuse.

【0030】[0030]

【表1】 [Table 1]

【0031】表1から明らかなように、ランプG、ラン
プH、およびランプIでは、発光管1が破損したものが
わずかにあるものの、封止部5でのクラックの発生率が
0%であった。また、ランプJ、ランプK、ランプL、
ランプM、ランプN、ランプO、ランプP、ランプQ、
およびランプRでは、封止部5でのクラックの発生率が
0%であったとともに、発光管1の破損率も0%であっ
た。
As is apparent from Table 1, in the lamps G, H, and I, although the arc tube 1 was slightly damaged, the crack occurrence rate in the sealing portion 5 was 0%. It was In addition, lamp J, lamp K, lamp L,
Lamp M, lamp N, lamp O, lamp P, lamp Q,
In the lamp R, the occurrence rate of cracks in the sealing portion 5 was 0%, and the damage rate of the arc tube 1 was 0%.

【0032】したがって、封入圧Pを0.7MPa以上
にすることにより、封止部5でのクラックの発生を防止
することができる。また、特に封入圧Pを1.0MPa
以上にすることにより、封止部5でのクラックの発生を
防止することができるとともに、発光管1の破損も防止
することができる。さらに、封入圧Pが0.7MPa以
上1.0MPa未満でも、保護用電流ヒューズを備えて
いることにより、封止部5でのクラックの発生を防止す
ることができるとともに、発光管1の破損も防止するこ
とができる。
Therefore, by setting the filling pressure P to 0.7 MPa or more, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5. Also, especially the filling pressure P is 1.0 MPa.
With the above, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5 and also to prevent the arc tube 1 from being damaged. Further, even when the sealing pressure P is 0.7 MPa or more and less than 1.0 MPa, the provision of the protective current fuse can prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5 and also damage the arc tube 1. Can be prevented.

【0033】一方、ランプC、ランプD、ランプE、お
よびランプFでは封止部5にクラックが発生したり、こ
の封止部5のクラックが起点となって発光管1(具体的
には封止部5)が破損したりするものがあった。特に、
ランプEおよびランプFでは、封止部5のクラックとは
無関係に発光管1(具体的には発光部)が破損したもの
があった。また、ランプAおよびランプBでは、発光管
1が破損したものはなかったものの、封止部5にクラッ
クが発生した。さらに、ランプS(従来例)では、保護
用電流ヒューズが設けられているにもかかわらず、封止
部にクラックが発生した。
On the other hand, in the lamp C, the lamp D, the lamp E, and the lamp F, cracks are generated in the sealing portion 5, or the cracks in the sealing portion 5 are the starting points, and the arc tube 1 (specifically, the sealing is performed). Some of the stoppers 5) were damaged. In particular,
In some of the lamps E and F, the arc tube 1 (specifically, the light emitting portion) was damaged regardless of the crack in the sealing portion 5. Further, in the lamps A and B, although the arc tube 1 was not damaged, cracks were generated in the sealing portion 5. Further, in the lamp S (conventional example), cracks occurred in the sealing portion, although the protective current fuse was provided.

【0034】なお、例えば本発明の実施の形態にかかる
ハロゲン電球に用いた発光管1の場合、封入圧Pが5.
0MPa以上になると、発光管1がその圧力の大きさに
耐えられず、クラックが発生してしまう。ただし、この
封入圧Pの上限値は、発光管1の材質や厚み等によって
異なる。
For example, in the case of the arc tube 1 used in the halogen bulb according to the embodiment of the present invention, the filling pressure P is 5.
At 0 MPa or more, the arc tube 1 cannot withstand the magnitude of the pressure and cracks occur. However, the upper limit value of the enclosed pressure P varies depending on the material, thickness, and the like of the arc tube 1.

【0035】ここで、発明者は、封入圧Pを5つの領
域、つまり領域A(封入圧Pが0.1MPa以上0.2
MPa以下)、領域B(封入圧Pが0.2MPaを越え
0.4MPa以下)、領域C(封入圧Pが0.4MPa
を越え0.7MPa未満)、領域D(封入圧Pが0.7
MPa以上1.0MPa未満)、領域E(封入圧Pが
1.0MPa以上)にわけて、各領域での発光管内のア
ーク放電現象をビデオカメラとオシロスコープとを用い
て観測したところ、次のことがわかった。
Here, the inventor has made the enclosed pressure P into five regions, that is, the region A (the enclosed pressure P is 0.1 MPa or more and 0.2 MPa or more).
MPa) or less, region B (filling pressure P exceeds 0.2 MPa and 0.4 MPa or less), region C (filling pressure P is 0.4 MPa)
Over 0.7 MPa and less than 0.7 MPa), region D (encapsulation pressure P is 0.7
When the arc discharge phenomenon in the arc tube in each region was observed using a video camera and an oscilloscope, the following were found: I understood.

【0036】領域Aでは、断線したフィラメント8間に
誘発されたアーク放電が封止部5まで移行した後、その
まま消弧・停止していることがわかった(以下、アーク
放電移行モードという)。
In the region A, it was found that the arc discharge induced between the broken filaments 8 was transferred to the sealing portion 5 and then was extinguished and stopped as it is (hereinafter referred to as arc discharge transfer mode).

【0037】領域Bでも領域Aと同様にアーク放電移行
モードが起きていることがわかったが、領域Bのアーク
放電移行モードは、領域Aのアーク放電移行モードと異
なり、アーク放電が封止部5近傍で持続する時間がわず
かに長かった。
It was found that the arc discharge transfer mode occurs in the region B as in the region A, but the arc discharge transfer mode in the region B is different from the arc discharge transfer mode in the region A and the arc discharge is generated in the sealing portion. It lasted slightly longer at around 5.

【0038】領域Cでは、アーク放電移行モードが存続
しつつ、次の2つのアーク放電現象が起きることがわか
った。一つは、断線したフィラメント8間に誘発された
アーク放電が封止部5まで移行せずに、発光部3内で停
滞していた(以下、アーク放電停滞モードという)。こ
れは、封入圧Pの上昇によって内部リード線11間の放
電破壊エネルギーが増大するため、アーク放電が封止部
5へ移行しなくなるからであると考えられる。また、も
う一つは、断線したフィラメント8間に誘発されたアー
ク放電が直ちに消弧してしまった(以下、アーク放電消
弧モードという)。これは、誘発されたアーク放電の放
電維持電圧が封入圧Pの上昇によってランプの定格電圧
よりも高くなるからであると考えられる。
It has been found that in the region C, the following two arc discharge phenomena occur while the arc discharge transfer mode continues. One is that the arc discharge induced between the broken filaments 8 did not move to the sealing part 5 and remained in the light emitting part 3 (hereinafter, referred to as arc discharge stagnant mode). It is considered that this is because the arc breakdown does not move to the sealing portion 5 because the discharge breakdown energy between the internal lead wires 11 increases due to the increase of the filling pressure P. The other is that the arc discharge induced between the broken filaments 8 was immediately extinguished (hereinafter referred to as arc discharge extinguishing mode). It is considered that this is because the discharge sustaining voltage of the induced arc discharge becomes higher than the rated voltage of the lamp due to the increase of the filling pressure P.

【0039】領域Dでは、アーク放電移行モードが消滅
し、またアーク放電停滞モードも減少し、アーク放電消
弧モードが優勢となることがわかった。
In the region D, it was found that the arc discharge transition mode disappeared, the arc discharge stagnant mode also decreased, and the arc discharge extinguishing mode became dominant.

【0040】領域Eでは、アーク放電停滞モードが消滅
し、アーク放電消弧モードのみが存続することがわかっ
た。
In the region E, it was found that the arc discharge stagnant mode disappeared and only the arc discharge extinguished mode remained.

【0041】以上のことから、封止部5でのクラックの
発生はアーク放電移行モードの発生によって起きている
と考えられる。つまり、誘発され、封止部5へ移行した
アーク放電の熱衝撃、および過熱された内部リード線1
1の熱による熱衝撃によって封止部5にクラックが発生
していると考えられる。
From the above, it is considered that the cracks in the sealing portion 5 are caused by the arc discharge transfer mode. That is, the thermal shock of the arc discharge induced and transferred to the sealing portion 5, and the overheated internal lead wire 1
It is considered that cracks have occurred in the sealing portion 5 due to the thermal shock of the heat of 1.

【0042】また、封止部5に発生したクラックが起点
となって起こる発光管1の破損はアーク放電移行モード
でのアーク放電の持続時間が長くなることで起きている
と考えられる。
Further, it is considered that the breakage of the arc tube 1 caused by the crack generated in the sealing portion 5 as the starting point is caused by the prolonged duration of the arc discharge in the arc discharge transfer mode.

【0043】さらに、封止部5でのクラックとは無関係
な発光管1の破損の発生はアーク放電停滞モードの発生
によって起きていると考えられる。つまり、誘発され、
停滞したアーク放電の熱衝撃によって発光部3が破損し
ていると考えられる。ただし、ランプEおよびランプF
の発光管1の破損には、封止部5のクラックが起点とな
って封止部5が破損しているものもある。
Further, it is considered that the breakage of the arc tube 1 unrelated to the cracks in the sealing portion 5 is caused by the arc discharge stagnant mode. That is, triggered,
It is considered that the light emitting unit 3 is damaged by the thermal shock of the stagnant arc discharge. However, lamp E and lamp F
As for the breakage of the arc tube 1, there is also a case where the sealing part 5 is broken due to a crack of the sealing part 5 as a starting point.

【0044】したがって、母体ガスの常温時の封入圧P
を0.7MPa以上にすることにより、封止部5でのク
ラックの発生がなくなったのは、アーク放電移行モード
が消滅したためであると考えられる。
Therefore, the filling pressure P of the mother gas at room temperature is
It is considered that the reason why the crack generation in the sealing portion 5 disappeared when the pressure was set to 0.7 MPa or more was that the arc discharge transfer mode disappeared.

【0045】また、母体ガスの常温時の封入圧Pを1.
0MPa以上にすることにより、発光部3の破損が発生
しなくなったのは、アーク放電移行モードおよびアーク
放電停滞モードが消滅したためであると考えられる。
Further, the filling pressure P of the mother gas at room temperature is 1.
It is considered that the reason why the damage to the light emitting section 3 did not occur when the pressure was set to 0 MPa or more was that the arc discharge transfer mode and the arc discharge stagnant mode disappeared.

【0046】また次に、ハロゲン電球として、母体ガス
(組成比率はクリプトンガス:窒素ガス=88:12、
および200ppmの臭化メチレン)の常温時の封入圧
Pを0.1MPaから1.4MPaまで種々変化させた
ものを各50本ずつ作製し、キセノンガスを主体とする
母体ガスを用いた場合と同じ条件で封止部5におけるク
ラックの発生率および発光管1の破損率を調べたとこ
ろ、表2に示すとおりの結果が得られた。
Next, as a halogen bulb, a base gas (composition ratio: krypton gas: nitrogen gas = 88: 12,
And 200 ppm of methylene bromide), the encapsulation pressure P of which at room temperature was variously changed from 0.1 MPa to 1.4 MPa, 50 pieces each were produced, and the same as when the base gas mainly containing xenon gas was used. When the occurrence rate of cracks in the sealing portion 5 and the breakage rate of the arc tube 1 were examined under the conditions, the results shown in Table 2 were obtained.

【0047】なお、表2中、実施例19〜実施例32に
ついては保護用電流ヒューズを備えていない。実施例3
3〜実施例35については保護用電流ヒューズを備えて
いる。
In Table 2, Examples 19 to 32 do not have a protective current fuse. Example 3
A protective current fuse is provided in each of Examples 3 to 35.

【0048】[0048]

【表2】 [Table 2]

【0049】表2から明らかなように、ランプa、ラン
プb、およびランプcでは、発光管1が破損したものが
わずかにあるものの、封止部5でのクラックの発生率が
0%であった。また、ランプd、ランプe、ランプf、
ランプg、ランプh、ランプi、およびランプjでは、
封止部5でのクラックの発生率が0%であったととも
に、発光管1の破損率も0%であった。
As is clear from Table 2, in the lamps a, b, and c, although the arc tube 1 was slightly damaged, the occurrence rate of cracks in the sealing portion 5 was 0%. It was In addition, lamp d, lamp e, lamp f,
For lamp g, lamp h, lamp i, and lamp j,
The occurrence rate of cracks in the sealing portion 5 was 0%, and the damage rate of the arc tube 1 was 0%.

【0050】したがって、クリプトンガスを主体とする
母体ガスの常温時の封入圧Pを0.8MPa以上にする
ことにより、封止部5でのクラックの発生を防止するこ
とができる。また、特にクリプトンガスを主体とする母
体ガスの常温時の封入圧Pを1.1MPa以上にするこ
とにより、封止部5でのクラックの発生を防止すること
ができるとともに、発光管1の破損も防止することがで
きる。さらに、封入圧Pが0.8MPa以上1.1MP
a未満でも、保護用電流ヒューズを備えていることによ
り、封止部5でのクラックの発生を防止することができ
るとともに、発光管1の破損も防止することができる。
Therefore, by setting the filling pressure P of the base gas mainly composed of krypton gas at room temperature to 0.8 MPa or more, the occurrence of cracks in the sealing portion 5 can be prevented. Further, by setting the filling pressure P of the base gas mainly composed of krypton gas at room temperature to 1.1 MPa or more, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5 and damage the arc tube 1. Can also be prevented. Furthermore, the enclosed pressure P is 0.8 MPa or more and 1.1 MP
Even if it is less than a, the provision of the protective current fuse can prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5 and also prevent the arc tube 1 from being damaged.

【0051】一方、ランプV、ランプW、ランプX、ラ
ンプY、およびランプZでは封止部5にクラックが発生
したり、この封止部5のクラックが起点となって発光管
1(具体的には封止部5)が破損したりするものがあっ
た。特に、ランプYおよびランプZでは、封止部5のク
ラックとは無関係に発光管1(具体的には発光部)が破
損したものがあった。また、ランプTおよびランプUで
は、発光管1が破損したものはなかったものの、封止部
5にクラックが発生した。
On the other hand, in the lamp V, the lamp W, the lamp X, the lamp Y, and the lamp Z, a crack is generated in the sealing portion 5, or the crack of the sealing portion 5 serves as a starting point and the arc tube 1 (specifically, In some cases, the sealing part 5) was damaged. In particular, in some lamps Y and Z, the arc tube 1 (specifically, the light emitting portion) was damaged regardless of the crack in the sealing portion 5. Further, in the lamp T and the lamp U, although the arc tube 1 was not damaged, cracks were generated in the sealing portion 5.

【0052】さらに、ハロゲン電球として、母体ガス
(組成比率はキセノンガス:クリプトンガス:窒素ガス
=44:44:12、および200ppmの臭化メチレ
ン)の常温時の封入圧Pを0.1MPaから1.4MP
aまで種々変化させたものを各50本ずつ作製し、キセ
ノンガスを主体とする母体ガスを用いた場合と同じ条件
で封止部5におけるクラックの発生率および発光管1の
破損率を調べたところ、表3に示すとおりの結果が得ら
れた。
Further, as a halogen bulb, the filling pressure P of the base gas (composition ratio: xenon gas: krypton gas: nitrogen gas = 44: 44: 12, and 200 ppm of methylene bromide) at room temperature from 0.1 MPa to 1 MPa. .4MP
Fifty pieces with various changes up to a were produced, and the incidence of cracks in the sealing portion 5 and the fracture rate of the arc tube 1 were examined under the same conditions as in the case of using a base gas mainly composed of xenon gas. However, the results shown in Table 3 were obtained.

【0053】なお、表3中、実施例36〜実施例49に
ついては保護用電流ヒューズを備えていない。実施例5
0〜実施例52については保護用電流ヒューズを備えて
いる。
In Table 3, Examples 36 to 49 do not have a protective current fuse. Example 5
0 to Example 52 are provided with a protective current fuse.

【0054】[0054]

【表3】 [Table 3]

【0055】表3から明らかなように、ランプr、ラン
プs、およびランプtでは、発光管1が破損したものが
わずかにあるものの、封止部5でのクラックの発生率が
0%であった。また、ランプu、ランプv、ランプw、
ランプx、ランプy、ランプz、およびランプaaで
は、封止部5でのクラックの発生率が0%であったとと
もに、発光管1の破損率も0%であった。
As is clear from Table 3, in the lamps r, s, and t, although the arc tube 1 was slightly damaged, the crack occurrence rate in the sealing portion 5 was 0%. It was In addition, lamp u, lamp v, lamp w,
In each of the lamp x, the lamp y, the lamp z, and the lamp aa, the crack occurrence rate in the sealing portion 5 was 0%, and the breakage rate of the arc tube 1 was 0%.

【0056】したがって、キセノンガスおよびクリプト
ンガスを主体とする母体ガスの常温時の封入圧Pを例え
ば0.8MPa以上にすることにより、封止部5でのク
ラックの発生を防止することができる。また、特にキセ
ノンガスおよびクリプトンガスを主体とする母体ガスの
常温時の封入圧Pを例えば1.1MPa以上にすること
により、封止部5でのクラックの発生を防止することが
できるとともに、発光管1の破損も防止することができ
る。さらに、封入圧Pが0.8MPa以上1.1MPa
未満でも、保護用電流ヒューズを備えていることによ
り、封止部5でのクラックの発生を防止することができ
るとともに、発光管1の破損も防止することができる。
Therefore, by setting the filling pressure P of the base gas mainly composed of xenon gas and krypton gas at room temperature to, for example, 0.8 MPa or more, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5. Further, by setting the filling pressure P of the base gas mainly composed of xenon gas and krypton gas at room temperature to be 1.1 MPa or more, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5 and to emit light. It is possible to prevent breakage of the pipe 1. Furthermore, the enclosed pressure P is 0.8 MPa or more and 1.1 MPa.
Even if it is less than 1, the provision of the protective current fuse makes it possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5 and also prevent damage to the arc tube 1.

【0057】一方、ランプm、ランプn、ランプo、ラ
ンプp、およびランプqでは封止部5にクラックが発生
したり、この封止部5のクラックが起点となって発光管
1(具体的には封止部5)が破損したりするものがあっ
た。特に、ランプpおよびランプqでは、封止部5のク
ラックとは無関係に発光管1(具体的には発光部)が破
損したものがあった。また、ランプkおよびランプlで
は、発光管1が破損したものはなかったものの、封止部
5にクラックが発生した。
On the other hand, in the lamp m, the lamp n, the lamp o, the lamp p, and the lamp q, a crack is generated in the sealing portion 5, or the crack of the sealing portion 5 serves as a starting point and the arc tube 1 (specifically, In some cases, the sealing part 5) was damaged. In particular, in some of the lamps p and q, the arc tube 1 (specifically, the light emitting portion) was damaged regardless of the cracks in the sealing portion 5. In the lamps k and l, the arc tube 1 was not damaged, but cracks were generated in the sealing portion 5.

【0058】次に、表1に示したランプBとランプGと
において、寿命時間について検討を行った。
Next, the life time of the lamp B and the lamp G shown in Table 1 was examined.

【0059】なお、寿命時間の測定は、2.5時間点
灯、0.5時間消灯を1サイクルとして、これを繰り返
した。
The measurement of the life time was repeated with one cycle consisting of lighting for 2.5 hours and extinguishing for 0.5 hours.

【0060】その結果、ランプGでは、寿命時間が32
50時間であった。一方、ランプBでは、寿命時間が1
850時間であった。これは、ランプGの場合、ランプ
Bに比して封入圧Pが高いためにフィラメント8のタン
グステンが蒸発するのを抑制することができたためであ
ると考えられる。
As a result, the life time of the lamp G is 32
It was 50 hours. On the other hand, lamp B has a lifetime of 1
It was 850 hours. It is considered that this is because, in the case of the lamp G, the filling pressure P is higher than that of the lamp B, so that the evaporation of the tungsten of the filament 8 can be suppressed.

【0061】以上のように、端部に封止部5を有する発
光管1内に、フィラメント8が設けられているととも
に、キセノンガスおよびクリプトンガスのうち少なくと
も一方を主体とする母体ガスが封入され、定格電圧をV
(V)、母体ガスの常温時の封入圧をP(MPa)、キ
セノンガスおよびクリプトンガスの組成比をそれぞれX
e%、Kr%とした場合、V≧100(V)、かつ、P
≧0.7+0.1×(Kr%/(Kr%+Xe%))
(ただし、Kr%+Xe%=100(%)、かつ、0≦
Kr%≦100、かつ、0≦Xe%≦100)なる関係
式を満たすことにより、封止部5でのクラックの発生を
防止することができるとともに、寿命時間を向上させる
ことができる。
As described above, the filament 8 is provided in the arc tube 1 having the sealing portion 5 at the end, and the base gas mainly containing at least one of xenon gas and krypton gas is enclosed. , Rated voltage V
(V), the filling pressure of the mother gas at room temperature is P (MPa), and the composition ratio of xenon gas and krypton gas is X, respectively.
When e% and Kr%, V ≧ 100 (V) and P
≧ 0.7 + 0.1 × (Kr% / (Kr% + Xe%))
(However, Kr% + Xe% = 100 (%) and 0 ≦
By satisfying the relational expression of Kr% ≦ 100 and 0 ≦ Xe% ≦ 100, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion 5 and improve the life time.

【0062】なお、母体ガスの封入圧Pの下限値がキセ
ノンガスを主体とする場合(0.7MPa)と、クリプ
トンガスを主体とする場合(0.8MPa)とで異なる
のは、クリプトンガスの原子半径がキセノンガスの原子
半径よりも小さいため、クリプトンガスの平均自由行程
がキセノンガスの平均自由行程よりも長くなり、その結
果、クリプトンガスのみを封入した場合は、キセノンガ
スのみを封入した場合に比して電子による電離確率が高
くなり、アーク放電が発生しやすくなるためであると考
えられる。
The lower limit of the filling pressure P of the base gas differs between the case where xenon gas is mainly used (0.7 MPa) and the case where krypton gas is mainly used (0.8 MPa). Since the atomic radius is smaller than that of xenon gas, the mean free path of krypton gas is longer than that of xenon gas.As a result, when only krypton gas is sealed, when only xenon gas is sealed. It is considered that this is because the probability of ionization due to electrons is higher than that of, and arc discharge is more likely to occur.

【0063】また、特にP≧1.0+0.1×(Kr%
/(Kr%+Xe%))(ただし、Kr%+Xe%=1
00、かつ、0≦Kr%≦100、かつ、0≦Xe%≦
100)なる関係式を満たすことにより、発光管1の破
損を防止することもできる。
In particular, P ≧ 1.0 + 0.1 × (Kr%
/ (Kr% + Xe%)) (Kr% + Xe% = 1
00 and 0 ≦ Kr% ≦ 100 and 0 ≦ Xe% ≦
By satisfying the relational expression 100), it is possible to prevent the arc tube 1 from being damaged.

【0064】さらに、保護用電流ヒューズを備えたハロ
ゲン電球において、ハロゲン電球の定格電圧をV
(V)、母体ガスの常温時の封入圧をP(MPa)、キ
セノンガスおよびクリプトンガスの組成比をそれぞれX
e%、Kr%とした場合、V≧100(V)、かつ、P
≧0.7+0.1×(Kr%/(Kr%+Xe%))
(ただし、Kr%+Xe%=100(%)、かつ、0≦
Kr%≦100、かつ、0≦Xe%≦100)なる関係
式を満たすことにより、従来のハロゲン電球(例えばラ
ンプS)に比して、線径の大きい保護用電流ヒューズを
用いることができるので、保護用電流ヒューズと口金6
の金具6aとの接続作業や、保護用電流ヒューズと外部
リード線13との接続作業を容易化することができ、か
つ保護用電流ヒューズの折損を防止することができる。
以下、線径の大きい保護用電流ヒューズを用いることが
できる理由について説明する。
Furthermore, in a halogen bulb equipped with a protective current fuse, the rated voltage of the halogen bulb is V
(V), the filling pressure of the mother gas at room temperature is P (MPa), and the composition ratio of xenon gas and krypton gas is X, respectively.
When e% and Kr%, V ≧ 100 (V) and P
≧ 0.7 + 0.1 × (Kr% / (Kr% + Xe%))
(However, Kr% + Xe% = 100 (%) and 0 ≦
By satisfying the relational expression of Kr% ≦ 100 and 0 ≦ Xe% ≦ 100, a protection current fuse having a larger wire diameter can be used as compared with a conventional halogen light bulb (for example, the lamp S). , Protective current fuses and caps 6
The connection work with the metal fitting 6a and the connection work between the protection current fuse and the external lead wire 13 can be facilitated, and breakage of the protection current fuse can be prevented.
Hereinafter, the reason why the protection current fuse having a large wire diameter can be used will be described.

【0065】まず、保護用電流ヒューズの線径を種々変
化させた場合のヒューズ溶断時間T h(msec)を調
べたところ、表4に示すとおりの結果が得られた。
First, the wire diameter of the protective current fuse is changed variously.
Fuse blowing time T hAdjust (msec)
As a result, the results shown in Table 4 were obtained.

【0066】次に、ランプA、ランプG、ランプH、お
よびランプIにおいて、断線したフィラメント間に誘発
されたアーク放電の最小持続時間Tmin(msec)を
調べたところ、表5に示すとおりの結果が得られた。
Next, in Lamp A, Lamp G, Lamp H, and Lamp I, the minimum duration T min (msec) of the arc discharge induced between the broken filaments was examined. Results were obtained.

【0067】[0067]

【表4】 [Table 4]

【0068】[0068]

【表5】 [Table 5]

【0069】(Tmin−Th)>0なる関係式を満たせ
ば、発光管1が破損するのを防止することができる、つ
まり、発光管1が破損する前に、保護用電流ヒューズが
溶断することを意味する。
If the relational expression (T min −T h )> 0 is satisfied, it is possible to prevent the arc tube 1 from being damaged, that is, the protective current fuse is blown before the arc tube 1 is damaged. Means to do.

【0070】したがって、表4および表5から明らかな
ように、ランプG、つまり封入圧Pが0.7MPaの場
合、線径が0.24mm以下までの保護用電流ヒューズ
を用いることができることがわかる。また、ランプH、
つまり封入圧Pが0.8MPaの場合、線径が0.28
mm以下までの保護用電流ヒューズを用いることができ
ることがわかる。さらに、ランプI、つまり封入圧Pが
0.9MPaの場合、線径が0.30mm以下までの保
護用電流ヒューズを用いることができることがわかる。
Therefore, as is apparent from Tables 4 and 5, when the lamp G, that is, the filling pressure P is 0.7 MPa, it is possible to use a protective current fuse having a wire diameter of 0.24 mm or less. . Also, the lamp H,
That is, when the filling pressure P is 0.8 MPa, the wire diameter is 0.28.
It can be seen that protective current fuses up to mm can be used. Furthermore, it is understood that when the lamp I, that is, the filling pressure P is 0.9 MPa, a protective current fuse having a wire diameter of 0.30 mm or less can be used.

【0071】一方、ランプAでは、線径が0.12mm
以下まで保護用電流ヒューズしか用いることができない
ことがわかる。
On the other hand, in the lamp A, the wire diameter is 0.12 mm.
It can be seen that only the protective current fuse can be used up to the following.

【0072】このように上記した構成により、線径の大
きい保護用電流ヒューズを用いることができる。
With the above-described structure, it is possible to use a protective current fuse having a large wire diameter.

【0073】なお、上記実施の形態では、母体ガスとし
て、キセノンガスおよびクリプトンガスのうち少なくと
も一方と窒素ガスとからなるものを用いた場合について
説明したが、この母体ガスにアルゴンガス等を添加して
も上記と同様の効果を得ることができる。
In the above embodiment, the case where the base gas is made of at least one of xenon gas and krypton gas and nitrogen gas has been described. However, argon gas or the like is added to the base gas. However, the same effect as above can be obtained.

【0074】また、上記実施の形態では、定格電圧11
0Vで定格電力65Wのハロゲン電球の場合について説
明したが、これに限らず定格電圧100Vで定格電力5
0Wや90Wのハロゲン電球、または定格電圧110
V、120V、220V、230V、240Vのハロゲ
ン電球等の場合でも上記と同様の効果を得ることができ
る。
In the above embodiment, the rated voltage 11
The case of a halogen bulb having a rated power of 65 W at 0 V has been described, but the present invention is not limited to this, and a rated power of 5 V at a rated voltage of 100 V is used.
0W or 90W halogen bulb or rated voltage 110
Even in the case of a halogen bulb of V, 120V, 220V, 230V, 240V or the like, the same effect as above can be obtained.

【0075】次に、本発明の第2の実施の形態である反
射鏡付きランプは、図2に示すように、前面の開口径が
70mmの回転楕円体状の反射鏡14と、この反射鏡1
4の内部に設けられた定格電圧110V(定格電力65
W)の片口金形ハロゲン電球15と、反射鏡14の前面
に取り付けられた前面ガラス16とを備えている。
Next, as shown in FIG. 2, a lamp with a reflecting mirror according to a second embodiment of the present invention has a spheroidal reflecting mirror 14 having a front opening diameter of 70 mm, and this reflecting mirror. 1
Rated voltage 110V (rated power 65
It has a single-ended halogen light bulb 15 of W) and a front glass 16 attached to the front surface of the reflecting mirror 14.

【0076】なお、17は口金を示す。Reference numeral 17 indicates a base.

【0077】片口金形ハロゲン電球15は、図1に示す
本発明の第1の実施の形態である定格電圧110V(定
格電力65W)の片口金形ハロゲン電球において、口金
6を取り除いたものと同じ構成を有している。
The single-ended halogen light bulb 15 is the same as the one-ended halogen light bulb with the rated voltage of 110 V (rated power of 65 W) according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. Have a configuration.

【0078】この片口金形ハロゲン電球15は、接着剤
(図示せず)によって口金17に固定されている。
The single-ended halogen bulb 15 is fixed to the base 17 with an adhesive (not shown).

【0079】前面ガラス16は、金具16aによって反
射鏡14に固定されている。
The front glass 16 is fixed to the reflecting mirror 14 by a metal fitting 16a.

【0080】以上のような本発明の第2の実施の形態に
かかる反射鏡付きランプの構成によれば、封止部でのク
ラックの発生を防止することができるとともに、寿命時
間を向上させることができる。
According to the structure of the lamp with a reflector according to the second embodiment of the present invention as described above, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion and improve the life time. You can

【0081】[0081]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、封止部に
おけるクラックの発生を防止することができるととも
に、長寿命なハロゲン電球およびこれを用いた反射鏡付
きランプを提供することができるものである。
As described above, according to the present invention, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the sealing portion and to provide a halogen bulb having a long life and a lamp with a reflector using the halogen bulb. Is.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態であるハロゲン電球
の一部切欠正面図
FIG. 1 is a partially cutaway front view of a halogen bulb according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施の形態である反射鏡付きラ
ンプの一部切欠正面図
FIG. 2 is a partially cutaway front view of a reflector-equipped lamp according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 発光管 2 閉塞部 3 発光部 4 筒部 5 封止部 6,17 口金 6a,6b 金具 7 接着剤 8 フィラメント 9 赤外線反射膜 10 ステム 11 内部リード線 12 モリブデン箔 13 外部リード線 14 反射鏡 15 片口金形ハロゲン電球 16 前面ガラス 16a 金具 1 arc tube 2 blockage 3 light emitting part 4 tube 5 Sealing part 6,17 mouthpiece 6a, 6b metal fittings 7 adhesive 8 filament 9 Infrared reflective film 10 stems 11 internal lead wire 12 Molybdenum foil 13 External lead wire 14 Reflector 15 single-ended halogen bulb 16 Front glass 16a metal fittings

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤川 武志 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工 業株式会社内 (56)参考文献 特開 平10−241639(JP,A) 特開 平11−67160(JP,A) 特開 平7−254394(JP,A) 実開 昭55−133669(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01R 1/50 H01R 1/66 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Takeshi Fujikawa Inventor Takeshi Fujikawa 1-1, Sachimachi, Takatsuki-shi, Osaka, Matsushita Electronics Industrial Co., Ltd. (56) Reference JP 10-241639 (JP, A) JP JP 11-67160 (JP, A) JP-A-7-254394 (JP, A) Actual development Sho 55-133669 (JP, U) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01R 1/50 H01R 1/66

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 端部に封止部を有する発光管内に、フィ
ラメントが設けられているとともに、キセノンガスおよ
びクリプトンガスのうち少なくとも一方を主体とする母
体ガスが封入されたハロゲン電球であって、前記ハロゲ
ン電球の定格電圧をV(V)、前記母体ガスの常温時の
封入圧をP(MPa)、前記キセノンガスおよび前記ク
リプトンガスの組成比をそれぞれXe%、Kr%とした
場合、V≧100(V)、かつ、P≧0.7+0.1×
(Kr%/(Kr%+Xe%))(ただし、Kr%+X
e%=100(%)、かつ、0≦Kr%≦100、か
つ、0≦Xe%≦100)なる関係式を満たすことを特
徴とするハロゲン電球。
1. A halogen light bulb in which a filament is provided in an arc tube having a sealing portion at an end thereof, and a host gas mainly containing at least one of xenon gas and krypton gas is enclosed. When the rated voltage of the halogen bulb is V (V), the filling pressure of the base gas at room temperature is P (MPa), and the composition ratios of the xenon gas and the krypton gas are Xe% and Kr%, respectively, V ≧ 100 (V) and P ≧ 0.7 + 0.1 ×
(Kr% / (Kr% + Xe%)) (However, Kr% + X
e% = 100 (%) and 0 ≦ Kr% ≦ 100 and 0 ≦ Xe% ≦ 100).
【請求項2】 P≧1.0+0.1×(Kr%/(Kr
%+Xe%))(ただし、Kr%+Xe%=100
(%)、かつ、0≦Kr%≦100、かつ、0≦Xe%
≦100)なる関係式を満たすことを特徴とする請求項
1記載のハロゲン電球。
2. P ≧ 1.0 + 0.1 × (Kr% / (Kr
% + Xe%)) (however, Kr% + Xe% = 100
(%) And 0 ≦ Kr% ≦ 100 and 0 ≦ Xe%
The halogen light bulb according to claim 1, wherein the relational expression ≦ 100) is satisfied.
【請求項3】 点灯中、前記フィラメントが断線した場
合に、前記フィラメントへの電流供給を遮断するための
保護用電流ヒューズが設けられていることを特徴とする
請求項1または請求項2記載のハロゲン電球。
3. The protective current fuse for cutting off the current supply to the filament when the filament is broken during lighting, according to claim 1 or claim 2. Halogen bulb.
【請求項4】 内部に請求項1ないし請求項3のいずれ
かに記載のハロゲン電球が設けられ、かつ前面に前面ガ
ラスが取り付けられた反射鏡を備えていることを特徴と
する反射鏡付きハロゲン電球。
4. A halogen with a reflector, wherein the halogen bulb according to any one of claims 1 to 3 is provided inside, and a reflector having a front glass attached to a front surface thereof is provided. light bulb.
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