JP3378511B2 - 光検出器 - Google Patents

光検出器

Info

Publication number
JP3378511B2
JP3378511B2 JP27343998A JP27343998A JP3378511B2 JP 3378511 B2 JP3378511 B2 JP 3378511B2 JP 27343998 A JP27343998 A JP 27343998A JP 27343998 A JP27343998 A JP 27343998A JP 3378511 B2 JP3378511 B2 JP 3378511B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical waveguide
waveguide core
core portion
detecting optical
main signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP27343998A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000098160A (ja
Inventor
真 疋田
直樹 大庭
暁 都丸
三郎 今村
晃次 圓佛
久男 田部井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Advanced Technology Corp
NTT Inc
NTT Inc USA
Original Assignee
NTT Advanced Technology Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
NTT Inc USA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NTT Advanced Technology Corp, Nippon Telegraph and Telephone Corp, NTT Inc USA filed Critical NTT Advanced Technology Corp
Priority to JP27343998A priority Critical patent/JP3378511B2/ja
Publication of JP2000098160A publication Critical patent/JP2000098160A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3378511B2 publication Critical patent/JP3378511B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は無線光通信方式にお
いて用いられる光検出器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光通信方式としては、光ファイバを用い
た有線光通信方式と、空間光伝搬を基本とする無線光通
信方式とがある。そして、無線光通信方式における比較
的長距離の空間光伝搬では、発信源から発信されたレー
ザ光は正確に光検出器の受信部で受信されることが必要
であり、発信源として空間的に光出力の拡がりが小さい
レーザ光が用いられるのが一般的である。
【0003】そして、無線光通信方式において用いられ
る光検出器の受信部で受信された光信号がシングルモー
ドの場合、受信部での受光面積のサイズは5〜10μm
□程度になる。このため、発信源から信号光であるレー
ザ光を受信部に正確にねらいを定めて発信することは困
難である。この困難さを解決する方法として有本らは多
数本の光ファイバを組み合わせた位置合わせ検出用トラ
ッキングセンサを有する光検出器を提案している(Y. A
rimoto et al., American Institute of Aeronautics a
nd Astronautics, pp162-169, 1998)。
【0004】図4は有本らが提案した従来の位置合わせ
検出用トラッキングセンサを有する光検出器の一部を示
す概略斜視図、図5は図4に示した光検出器の受信部の
前面を示す図である。図に示すように、受信用光ファイ
バ1の周囲に位置検出用光ファイバ2が配置され、受信
用光ファイバ1および位置検出用光ファイバ2は匡体3
により固定されている。
【0005】この光検出器においては、発信源から発信
されたレーザ光が受信用光ファイバ1の中心位置からは
ずれた場合には、周囲に配置された位置検出用光ファイ
バ2で受光することにより受光位置を検知し、位置検出
用光ファイバ2での受光信号でフィードバックをかける
ことにより受信部の位置を動かし、受信部の中心位置に
ある受信用光ファイバ1で信号検出を行なうことができ
るように位置合わせを行なうことができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような光
検出器においては、通常の受信用光ファイバ1はコア部
の面積に較べてクラッド部の面積が大きく、受信用光フ
ァイバ1のクラッド部に当たるレーザ光を検出すること
ができないから、確実に信号検出を行なうことができな
い。
【0007】本発明は上述の課題を解決するためになさ
れたもので、確実に信号検出を行なうことができる光検
出器を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明においては、コア部とクラッド部とからなる
光導波路を用いた光検出器において、光入射端面の上記
コア部が位置する領域の中心部に主信号検出用光導波路
コア部を位置させ、上記主信号検出用光導波路コア部を
取り巻くように複数の位置検出用光導波路コア部を配置
し、前記主信号検出用光導波路コア部をシングルモード
導波路とし、かつ、前記位置検出用光導波路コア部をマ
ルチモード導波路とし、前記複数の位置検出用光導波路
コア間の距離を、前記主信号検出用光導波路コア幅より
も大きく、かつ前記位置検出用光導波路コア幅以下とす
る。
【0009】
【0010】この場合、上記光導波路として高分子材料
からなるものを用いる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る光検出器を示
す概略斜視図、図2は図1のA部詳細図である。図に示
すように、クラッド部13に1本のシングルモード導波
路からなる主信号検出用光導波路コア部11、4本のマ
ルチモード導波路からなる位置検出用光導波路コア部1
2が設けられ、光入射端面16のコア部が位置する領域
の中心部に主信号検出用光導波路コア部11が位置し、
主信号検出用光導波路コア部11を取り巻くように位置
検出用光導波路コア部12が配置され、位置検出用光導
波路コア部12の断面積は主信号検出用光導波路コア部
11の断面積よりも大きい。また、光入射端面16とは
反対側の光出射端面では主信号検出用光導波路コア部1
1、位置検出用光導波路コア部12が離れて設けられ、
光出射端面において主信号検出用光導波路コア部11、
位置検出用光導波路コア部12にコネクタ付きの光ファ
イバ14が接続され、光ファイバ14にフォトディテク
タであるフォトダイオード15が接続されている。
【0012】この光検出器においては、導波路構造であ
るから、フォトリソグラフィー技術のような転写技術を
利用して作製することができるので、平面内で自由なコ
ア部構造を比較的容易に実現できる。このため、主信号
検出用光導波路コア部11、位置検出用光導波路コア部
12の構造を任意に設計することができ、かつ作製でき
るから、光入射端面16における主信号検出用光導波路
コア部11と位置検出用光導波路コア部12との間隔を
狭くすることができるので、発信源から発信されたレー
ザ光を主信号検出用光導波路コア部11または位置検出
用光導波路コア部12で確実に受光することができるた
め、確実に信号検出を行なうことができる。また、光出
射端面では主信号検出用光導波路コア部11、位置検出
用光導波路コア部12が離れて設けられているから、光
ファイバ14を容易に接続することができる。
【0013】図1、図2に示す光検出器を作製するに
は、基板上平面型光導波路を作製するいわゆる平面型光
波回路(PLC)作製プロセスを繰り返し、積層導波路
構造にすることが考えられる。そして、平面型光波回路
作製プロセスには、シリカガラスを用いたものと高分子
材料(ポリマー)を用いたものとがあるが、マルチモー
ドとシングルモードとの両者の光導波路を積層して作製
する場合には、高分子材料を用いる方がはるかに作製プ
ロセスを容易にすることができる。
【0014】つぎに、図1、図2に示した光検出器の作
製方法の概略について説明する。まず、シリコン等から
なる基板上に高分子材料を用いて下部の位置検出用光導
波路コア部12を形成する。つぎに、高分子材料を用い
て主信号検出用光導波路コア部11を形成する。つぎ
に、高分子材料を用いて上部の位置検出用光導波路コア
部12を形成する。つぎに、基板を切断する。つぎに、
光ファイバ14を光出射端面に接続する。
【0015】(第1の作製方法)つぎに、図1、図2に
示した光検出器の作製方法の詳細について説明する。ま
ず、図3(a)に示すように、直径が4インチのシリコン
ウェハ21上に液状の紫外線(UV)硬化型エポキシ樹
脂を30μmの厚さにスピンコートし、紫外線を600
mJ照射して硬化することによりクラッド部13の一部
を形成する。つぎに、クラッド部13上にクロロベンゼ
ン溶液に溶かした重水素化ポリメチルメタクリレート
(PMMA)をスピンコート法とベーキングを繰り返す
ことにより重ね塗りし、30μmの厚さにする。その
後、シリコーン樹脂系のポジ型レジストを塗布し、下部
の位置検出用光導波路コア部12のパタン作製用マスク
を用いて露光機により紫外線を照射し、現像することに
より、レジストをパターニングする。つぎに、酸素ガス
を用いた反応性イオンエッチングを行なったのち、レジ
ストを除去することにより、下部の位置検出用光導波路
コア部12を形成する。つぎに、図3(b)に示すよう
に、液状の紫外線硬化型エポキシ樹脂を下部の位置検出
用光導波路コア部12の下面から35μmの厚さになる
ようにスピンコートし、紫外線を600mJ照射して硬
化することによりクラッド部13の一部を形成する。こ
の場合、下部の位置検出用光導波路コア部12の上面か
らのクラッド部13の厚さは5μmになる。つぎに、ク
ロロベンゼン溶液に溶かした重水素化ポリメチルメタク
リレートを5μmの厚さにスピンコートし、シリコーン
樹脂系のポジ型レジストを塗布し、主信号検出用光導波
路コア部11のパタン作製用マスクを用いて露光機によ
り紫外線を照射し、現像することにより、レジストをパ
ターニングする。つぎに、酸素ガスを用いた反応性イオ
ンエッチングを行なったのち、レジストを除去すること
により、主信号検出用光導波路コア部11を形成する。
つぎに、図3(c)に示すように、液状の紫外線硬化型エ
ポキシ樹脂を主信号検出用光導波路コア部11の下面か
ら10μmの厚さになるようにスピンコートし、紫外線
を600mJ照射して硬化する。この場合、主信号検出
用光導波路コア部11の上面からのクラッド部13の厚
さは5μmになる。つぎに、下部の位置検出用光導波路
コア部12の作製プロセスと同様のプロセスを行なうこ
とにより、上部の位置検出用光導波路コア部12を形成
する。つぎに、クラッド部13の残りの部分を形成す
る。つぎに、シリコンウェハ21を3cm×2.5cmの
大きさにダイシングソーを用いて切断する。つぎに、シ
リコンウェハ21に設けたV溝にシングルモードの光フ
ァイバ14を1セット用意し、シリコンウェハ21に設
けた2個のV溝に2本のマルチモードの光ファイバ14
が固定されたものを2セット用意し、主信号検出用光導
波路コア部11、位置検出用光導波路コア部12の中心
に光ファイバ14のコア中心を合わせて、主信号検出用
光導波路コア部11、位置検出用光導波路コア部12と
光ファイバ14とを接着固定する。つぎに、光ファイバ
14にフォトダイオード15を接続する。
【0016】このように作製した光検出器を互いに直角
な3方向に微動する自動微動台にセットし、位置検出用
光導波路コア部12に接続されたフォトダイオード15
を自動微動台駆動用制御部に接続し、波長が1.3μm
のレーザ光を光入射端面16に照射し、位置検出用光導
波路コア部12に接続されたフォトダイオード15の出
力信号をフィードバック信号とする自動微動台駆動用制
御部により自動微動台を駆動して、主信号検出用光導波
路コア部11と接続された光ファイバ14を通してフォ
トダイオード15で光信号を検知した。この測定によ
り、光検出器が位置検出機能付き光検出器として機能し
ていることを確認した。つぎに、約1m離れたところか
らレーザ光をクラッド部13の位置検出用光導波路コア
部12の間の部分にその中心が当たるように照射した
が、位置検出用光導波路コア部12でレーザ光を検出す
ることができ、自動微動台が駆動して、主信号検出用光
導波路コア部11と接続された光ファイバ14を通して
フォトダイオード15で光信号を検知した。
【0017】(第2の作製方法)つぎに、図1、図2に
示した光検出器の他の作製方法の詳細について説明す
る。まず、図3(a)に示すように、直径が4インチのシ
リコンウェハ21上に液状の紫外線硬化型エポキシ樹脂
を30μmの厚さにスピンコートし、紫外線を600m
J照射して硬化することによりクラッド部13の一部を
形成する。つぎに、クラッド部13上にクロロベンゼン
溶液に溶かしたポリメチルメタクリレートをスピンコー
ト法とベーキングを繰り返すことにより重ね塗りし、3
0μmの厚さにする。その後、シリコーン樹脂系のポジ
型レジストを塗布し、下部の位置検出用光導波路コア部
12のパタン作製用マスクを用いて露光機により紫外線
を照射し、現像することにより、レジストをパターニン
グする。つぎに、酸素ガスを用いた反応性イオンエッチ
ングを行なったのち、レジストを除去することにより、
下部の位置検出用光導波路コア部12を形成する。つぎ
に、図3(b)に示すように、液状の紫外線硬化型エポキ
シ樹脂を下部の位置検出用光導波路コア部12の下面か
ら35μmの厚さになるようにスピンコートし、紫外線
を600mJ照射して硬化することによりクラッド部1
3の一部を形成する。この場合、下部の位置検出用光導
波路コア部12の上面からのクラッド部13の厚さは5
μmになる。つぎに、クロロベンゼン溶液に溶かしたポ
リメチルメタクリレートを5μmの厚さにスピンコート
し、シリコーン樹脂系のポジ型レジストを塗布し、主信
号検出用光導波路コア部11のパタン作製用マスクを用
いて露光機により紫外線を照射し、現像することによ
り、レジストをパターニングする。つぎに、酸素ガスを
用いた反応性イオンエッチングを行なったのち、レジス
トを除去することにより、主信号検出用光導波路コア部
11を形成する。つぎに、図3(c)に示すように、液状
の紫外線硬化型エポキシ樹脂を主信号検出用光導波路コ
ア部11の下面から10μmの厚さになるようにスピン
コートし、紫外線を600mJ照射して硬化する。この
場合、主信号検出用光導波路コア部11の上面からのク
ラッド部13の厚さは5μmになる。つぎに、下部の位
置検出用光導波路コア部12の作製プロセスと同様のプ
ロセスを行なうことにより、上部の位置検出用光導波路
コア部12を形成する。つぎに、クラッド部13の残り
の部分を形成する。つぎに、シリコンウェハ21を3c
m×2.5cmの大きさにダイシングソーを用いて切断
する。つぎに、シリコンウェハ21に設けたV溝にシン
グルモードの光ファイバ14を1セット用意し、シリコ
ンウェハ21に設けた2個のV溝に2本のマルチモード
の光ファイバ14が固定されたものを2セット用意し、
主信号検出用光導波路コア部11、位置検出用光導波路
コア部12の中心に光ファイバ14のコア中心を合わせ
て、主信号検出用光導波路コア部11、位置検出用光導
波路コア部12と光ファイバ14とを接着固定する。つ
ぎに、光ファイバ14にフォトダイオード15を接続す
る。
【0018】このように作製した光検出器を互いに直角
な3方向に微動する自動微動台にセットし、位置検出用
光導波路コア部12に接続されたフォトダイオード15
を自動微動台駆動用制御部に接続し、波長が1.55μ
mのレーザ光を光入射端面16に照射し、位置検出用光
導波路コア部12に接続されたフォトダイオード15の
出力信号をフィードバック信号とする自動微動台駆動用
制御部により自動微動台を駆動して、主信号検出用光導
波路コア部11と接続された光ファイバ14を通してフ
ォトダイオード15で光信号を検知した。この測定によ
り、光検出器が位置検出機能付き光検出器として機能し
ていることを確認した。つぎに、約1m離れたところか
らレーザ光をクラッド部13の位置検出用光導波路コア
部12の間の部分にその中心が当たるように照射した
が、位置検出用光導波路コア部12でレーザ光を検出す
ることができ、自動微動台が駆動して、主信号検出用光
導波路コア部11と接続された光ファイバ14を通して
フォトダイオード15で光信号を検知した。
【0019】(第3の作製方法)つぎに、図1、図2に
示した光検出器の他の作製方法の詳細について説明す
る。まず、図3(a)に示すように、直径が4インチのシ
リコンウェハ21上に液状の紫外線硬化型エポキシ樹脂
を30μmの厚さにスピンコートし、紫外線を600m
J照射して硬化することによりクラッド部13の一部を
形成する。つぎに、クラッド部13上に液状の紫外線硬
化型エポキシ樹脂をスピンコート法と紫外線照射を繰り
返すことにより重ね塗りし、30μmの厚さにする。そ
の後、シリコーン樹脂系のポジ型レジストを塗布し、下
部の位置検出用光導波路コア部12のパタン作製用マス
クを用いて露光機により紫外線を照射し、現像すること
により、レジストをパターニングする。つぎに、酸素ガ
スを用いた反応性イオンエッチングを行なったのち、レ
ジストを除去することにより、下部の位置検出用光導波
路コア部12を形成する。つぎに、図3(b)に示すよう
に、液状の紫外線硬化型エポキシ樹脂を下部の位置検出
用光導波路コア部12の下面から35μmの厚さになる
ようにスピンコートし、紫外線を600mJ照射して硬
化することによりクラッド部13の一部を形成する。こ
の場合、下部の位置検出用光導波路コア部12の上面か
らのクラッド部13の厚さは5μmになる。つぎに、液
状の紫外線硬化型エポキシ樹脂を4μmの厚さにスピン
コートし、シリコーン樹脂系のポジ型レジストを塗布
し、主信号検出用光導波路コア部11のパタン作製用マ
スクを用いて露光機により紫外線を照射し、現像するこ
とにより、レジストをパターニングする。つぎに、酸素
ガスを用いた反応性イオンエッチングを行なったのち、
レジストを除去することにより、主信号検出用光導波路
コア部11を形成する。つぎに、図3(c)に示すよう
に、液状の紫外線硬化型エポキシ樹脂を主信号検出用光
導波路コア部11の下面から9μmの厚さになるように
スピンコートし、紫外線を600mJ照射して硬化す
る。この場合、主信号検出用光導波路コア部11の上面
からのクラッド部13の厚さは5μmになる。つぎに、
下部の位置検出用光導波路コア部12の作製プロセスと
同様のプロセスを行なうことにより、上部の位置検出用
光導波路コア部12を形成する。つぎに、クラッド部1
3の残りの部分を形成する。つぎに、シリコンウェハ2
1を3cm×2.5cmの大きさにダイシングソーを用い
て切断する。つぎに、シリコンウェハ21に設けたV溝
にシングルモードの光ファイバ14を1セット用意し、
シリコンウェハ21に設けた2個のV溝に2本のマルチ
モードの光ファイバ14が固定されたものを2セット用
意し、主信号検出用光導波路コア部11、位置検出用光
導波路コア部12の中心に光ファイバ14のコア中心を
合わせて、主信号検出用光導波路コア部11、位置検出
用光導波路コア部12と光ファイバ14とを接着固定す
る。つぎに、光ファイバ14にフォトダイオード15を
接続する。
【0020】このように作製した光検出器を互いに直角
な3方向に微動する自動微動台にセットし、位置検出用
光導波路コア部12に接続されたフォトダイオード15
を自動微動台駆動用制御部に接続し、波長が0.85μ
mのレーザ光を光入射端面16に照射し、位置検出用光
導波路コア部12に接続されたフォトダイオード15の
出力信号をフィードバック信号とする自動微動台駆動用
制御部により自動微動台を駆動して、主信号検出用光導
波路コア部11と接続された光ファイバ14を通してフ
ォトダイオード15で光信号を検知した。この測定によ
り、光検出器が位置検出機能付き光検出器として機能し
ていることを確認した。つぎに、約2m離れたところか
らレーザ光をクラッド部13の位置検出用光導波路コア
部12の間の部分にその中心が当たるように照射した
が、位置検出用光導波路コア部12でレーザ光を検出す
ることができ、自動微動台が駆動して、主信号検出用光
導波路コア部11と接続された光ファイバ14を通して
フォトダイオード15で光信号を検知した。
【0021】(第4の作製方法)つぎに、図1、図2に
示した光検出器の他の作製方法の詳細について説明す
る。まず、図3(a)に示すように、直径が4インチのシ
リコンウェハ21上に液状の紫外線硬化型エポキシ樹脂
を30μmの厚さにスピンコートし、紫外線を600m
J照射して硬化することによりクラッド部13の一部を
形成する。つぎに、クラッド部13上に液状の紫外線硬
化型エポキシ樹脂をスピンコート法と紫外線照射を繰り
返すことにより重ね塗りし、30μmの厚さにする。そ
の後、シリコーン樹脂系のポジ型レジストを塗布し、下
部の位置検出用光導波路コア部12のパタン作製用マス
クを用いて露光機により紫外線を照射し、現像すること
により、レジストをパターニングする。つぎに、酸素ガ
スを用いた反応性イオンエッチングを行なったのち、レ
ジストを除去することにより、下部の位置検出用光導波
路コア部12を形成する。つぎに、図3(b)に示すよう
に、液状の紫外線硬化型エポキシ樹脂を下部の位置検出
用光導波路コア部12の下面から35μmの厚さになる
ようにスピンコートし、紫外線を600mJ照射して硬
化することによりクラッド部13の一部を形成する。こ
の場合、下部の位置検出用光導波路コア部12の上面か
らのクラッド部13の厚さは5μmになる。つぎに、ジ
グライム溶液に溶かした熱架橋型シリコーン樹脂を5μ
mの厚さにスピンコートし、200℃で2時間ベーキン
グして熱架橋を行なったのち、シリコーン樹脂系のポジ
型レジストを塗布し、主信号検出用光導波路コア部11
のパタン作製用マスクを用いて露光機により紫外線を照
射し、現像することにより、レジストをパターニングす
る。つぎに、酸素ガスとCF4ガスとの混合ガスを用い
た反応性イオンエッチングを行なったのち、レジストを
除去することにより、主信号検出用光導波路コア部11
を形成する。つぎに、図3(c)に示すように、液状の紫
外線硬化型エポキシ樹脂を主信号検出用光導波路コア部
11の下面から10μmの厚さになるようにスピンコー
トし、紫外線を600mJ照射して硬化する。この場
合、主信号検出用光導波路コア部11の上面からのクラ
ッド部13の厚さは5μmになる。つぎに、下部の位置
検出用光導波路コア部12の作製プロセスと同様のプロ
セスを行なうことにより、上部の位置検出用光導波路コ
ア部12を形成する。つぎに、クラッド部13の残りの
部分を形成する。つぎに、シリコンウェハ21を3cm
×2.5cmの大きさにダイシングソーを用いて切断す
る。つぎに、シリコンウェハ21に設けたV溝にシング
ルモードの光ファイバ14を1セット用意し、シリコン
ウェハ21に設けた2個のV溝に2本のマルチモードの
光ファイバ14が固定されたものを2セット用意し、主
信号検出用光導波路コア部11、位置検出用光導波路コ
ア部12の中心に光ファイバ14のコア中心を合わせ
て、主信号検出用光導波路コア部11、位置検出用光導
波路コア部12と光ファイバ14とを接着固定する。つ
ぎに、光ファイバ14にフォトダイオード15を接続す
る。
【0022】このように作製した光検出器を互いに直角
な3方向に微動する自動微動台にセットし、位置検出用
光導波路コア部12に接続されたフォトダイオード15
を自動微動台駆動用制御部に接続し、波長が1.55μ
mのレーザ光を光入射端面16に照射し、位置検出用光
導波路コア部12に接続されたフォトダイオード15の
出力信号をフィードバック信号とする自動微動台駆動用
制御部により自動微動台を駆動して、主信号検出用光導
波路コア部11と接続された光ファイバ14を通してフ
ォトダイオード15で光信号を検知した。この測定によ
り、光検出器が位置検出機能付き光検出器として機能し
ていることを確認した。つぎに、約1m離れたところか
らレーザ光をクラッド部13の位置検出用光導波路コア
部12の間の部分にその中心が当たるように照射した
が、位置検出用光導波路コア部12でレーザ光を検出す
ることができ、自動微動台が駆動して、主信号検出用光
導波路コア部11と接続された光ファイバ14を通して
フォトダイオード15で光信号を検知した。
【0023】なお、上述実施の形態においては、フォト
ディテクタとしてフォトダイオード15を用いたが、フ
ォトディテクタとしてファイバアンプ等を用いてもよ
い。また、上述実施の形態においては、高分子材料とし
てポリメチルメタクリレート、重水素化ポリメチルメタ
クリレート、熱架橋シリコーン樹脂、紫外線硬化型エポ
キシ樹脂を用いたが、透明性高分子材料としてはポリイ
ミド、ゼオネックス(商品名:日本ゼオン(株))、ア
ートン(商品名:JSR(株))等も知られており、検
出すべき波長に対し透明性に優れている高分子材料なら
同等の効果が期待できる。
【0024】
【発明の効果】本発明に係る光検出器においては、主信
号検出用光導波路コア部、位置検出用光導波路コア部の
構造を任意に設計することができるから、主信号検出用
光導波路コア部と位置検出用光導波路コア部との間隔を
狭くすることができるので、発信源から発信されたレー
ザ光を主信号検出用光導波路コア部または位置検出用光
導波路コア部で確実に受光することができるため、確実
に信号検出を行なうことができる。
【0025】また、光導波路として高分子材料からなる
ものを用いたときには、作製プロセスを容易にすること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光検出器を示す概略斜視図であ
る。
【図2】図1のA部詳細図である。
【図3】図1、図2に示した光検出器の作製方法の説明
図である。
【図4】従来の光検出器の一部を示す概略斜視図であ
る。
【図5】図4に示した光検出器の受信部の前面を示す図
である。
【符号の説明】
11…主信号検出用光導波路コア部 12…位置検出用光導波路コア部 13…クラッド部 16…光入射端面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 都丸 暁 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 今村 三郎 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 圓佛 晃次 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 田部井 久男 東京都武蔵野市御殿山一丁目1番3号 エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロ ジ株式会社内 (56)参考文献 特開 平6−66520(JP,A) 特開 昭63−33707(JP,A) 特開 平11−23371(JP,A) 特開 平10−253336(JP,A) 特開 平10−299061(JP,A) 特開 平8−145735(JP,A) 特開 平10−197749(JP,A) Y.Arimoto et.al., 17th AIAA Internati onal Communication Satellite System Conference and Exh ibit,23−27 February 1998,Yokohama,Japan, pp.162−169 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 6/12 - 6/14 G02B 6/42 - 6/43 H04B 10/00 - 10/28

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】コア部とクラッド部とからなる光導波路を
    用いた光検出器において、光入射端面の上記コア部が位
    置する領域の中心部に主信号検出用光導波路コア部を位
    置させ、上記主信号検出用光導波路コア部を取り巻くよ
    うに複数の位置検出用光導波路コア部を配置し 前記主信号検出用光導波路コア部はシングルモード導波
    路であり、かつ、前記位置検出用光導波路コア部はマル
    チモード導波路を用い、 前記複数の位置検出用光導波路コア間の距離は、前記主
    信号検出用光導波路コア幅よりも大きく、かつ前記位置
    検出用光導波路コア幅以下である ことを特徴とする光検
    出器。
  2. 【請求項2】上記光導波路として高分子材料からなるも
    のを用いたことを特徴とする請求項1に記載の光検出
    器。
JP27343998A 1998-09-28 1998-09-28 光検出器 Expired - Fee Related JP3378511B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27343998A JP3378511B2 (ja) 1998-09-28 1998-09-28 光検出器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27343998A JP3378511B2 (ja) 1998-09-28 1998-09-28 光検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000098160A JP2000098160A (ja) 2000-04-07
JP3378511B2 true JP3378511B2 (ja) 2003-02-17

Family

ID=17527937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27343998A Expired - Fee Related JP3378511B2 (ja) 1998-09-28 1998-09-28 光検出器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3378511B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5747384B2 (ja) * 2011-09-30 2015-07-15 国立研究開発法人産業技術総合研究所 多層導波路型光入出力端子
JP7071636B2 (ja) * 2018-07-19 2022-05-19 日本電信電話株式会社 マルチコアファイバ接続器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Y.Arimoto et.al.,17th AIAA International Communication Satellite System Conference and Exhibit,23−27 February 1998,Yokohama,Japan,pp.162−169

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000098160A (ja) 2000-04-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1284426B1 (en) Method of manufacturing optical waveguide device by use of a jig
CA2536130A1 (en) Planar waveguide with patterned cladding and method for producing same
CA2471963A1 (en) Optical waveguide and method of manufacturing the same
Yoshimura et al. Polymeric optical waveguide films with 45 mirrors formed with a 90 V-shaped diamond blade
JP2002148187A (ja) 光導波路型spr現象計測チップ、その製造方法およびspr現象計測方法
JP2000105324A (ja) 光導波路と光ファイバとの接続構造および接続方法
WO2005114278A1 (ja) 屈折率分布型光学部材、および屈折率分布型光学部材の製造方法
JP2005275405A (ja) 光回路板部品を接続する光学的構造及び方法
US7215862B2 (en) Process for producing optical waveguide
JP3378511B2 (ja) 光検出器
JP7601113B2 (ja) 光接続構造、光モジュールおよび光接続構造の製造方法
WO2021033217A1 (ja) 光接続構造およびその製造方法
JP2007505355A (ja) 導波路形成方法及びそれで形成された導波路
JP3413750B2 (ja) モードフィールド整合用光導波路製造方法及びモードフィールド整合用光導波路製造装置
US12111504B2 (en) Alignment method for optical waveguide element
Chen et al. 10Gbps multi-mode waveguide for optical interconnect
JP2002350660A (ja) 積層構造型フォトブリーチング導波路及びその製造方法
JPH01316710A (ja) 新しい光デバイス
JP2005164801A (ja) 光導波路フィルムおよびその作製方法
JP2007183467A (ja) ミラー付光導波路及びその製造方法
Mohammed et al. Efficient and scalable single mode waveguide coupling on silicon based substrates
JPH04140701A (ja) 導波路カプラおよびその製造方法
CN1727927A (zh) 平面光波导装置的制造方法
JP2001004858A (ja) 光導波路及びその製造方法
JP3430501B2 (ja) 光導波路デバイスおよびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071206

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091206

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101206

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees