JP3367729B2 - Random pulse generator - Google Patents

Random pulse generator

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JP3367729B2
JP3367729B2 JP34040493A JP34040493A JP3367729B2 JP 3367729 B2 JP3367729 B2 JP 3367729B2 JP 34040493 A JP34040493 A JP 34040493A JP 34040493 A JP34040493 A JP 34040493A JP 3367729 B2 JP3367729 B2 JP 3367729B2
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signal
particles
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counting
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典平 露崎
俊二 上野
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Ikegami Tsushinki Co Ltd
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Ikegami Tsushinki Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、放射性物質からランダ
ムに放射される崩壊粒子の放射線(α、β、γ線)を計
数することにより、ランダムにパルスを発生させるラン
ダムパルス発生装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a random pulse generator which counts the radiation (α, β, γ rays) of decay particles randomly emitted from a radioactive substance to generate a pulse at random.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、パチンコ機、ゲーム機において、
入賞穴等に玉がはいると、ソフトウェアによって作成さ
れROMに書込まれた乱数の発生を停止し、その時の乱
数と予め設定されていた当たり数値と一致した時、当た
りを発生させている。前述した従来の技術では、所定値
の数値をある周期で循環させていた為、完全な乱数では
なく当たりに偏りがあった。また、プログラムにより作
成された乱数をROMに書き込んであった為、当たりの
確率を変更したROMと変換したり、ある条件により認
可された確率以上の当たりが発生する様なプログラム
を、外聞から発見されされにくい形でROMに入れるこ
とにより、容易に不正が行われることがあった。ちなみ
に、平成5年夏から秋にかけて新聞誌上で、パチンコ店
における確率を変更した不正事件が報じられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in pachinko machines and game machines,
When there is a ball in the winning hole or the like, the generation of the random number created by the software and written in the ROM is stopped, and when the random number at that time coincides with the preset hit value, the hit is generated. In the above-mentioned conventional technique, since the numerical value of the predetermined value is circulated in a certain cycle, there is a bias in the winning rather than in the perfect random number. Also, because the random number created by the program was written in the ROM, it is possible to convert it to a ROM with a changed probability of hitting, or find a program that causes a hit exceeding the authorized probability under certain conditions from the outside. By putting in a ROM in a form that is hard to be tampered with, there were cases where fraud was easily made. By the way, from summer to autumn 1993, a newspaper magazine reported an illegal case that changed the probability of pachinko parlors.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来のパチンコ機及び
ゲーム機では、当たりを発生させるランダム数を得る方
法として、所定数の数値をある周期で循環させていた
この循環は内部クロックに依存するため、完全な乱数で
はなく、当たりに偏りがあるという問題点があった。ま
た、プログラムにより作成された乱数をROMに書き込
んであったので、確率を変更したROMと正規のROM
とを変換できるという問題があった。本発明は、自然に
崩壊する放射線を利用することにより、偏りのない、不
正を行うことのできないランダムパルス発生装置を提供
することを目的とする。本願が関連する先願には、同一
発明者による特願平5−100164号がある。本発明
は、当たりに偏りをなくし、より完全な乱数に相当する
所定確率下での当たりの発生を決定する方法と、当たり
に偏りのないランダムパルス発生装置を提供することを
目的とする。
In conventional pachinko machines and game machines, a predetermined number of values is circulated in a certain cycle as a method of obtaining a random number for generating a hit .
Since this circulation depends on the internal clock, there is a problem that it is not a perfect random number but is unevenly distributed. Also, since the random numbers created by the program were written in the ROM, the ROM with changed probability and the regular ROM
There was a problem that you could convert and. An object of the present invention is to provide a random pulse generator that is not biased and cannot be tampered with by utilizing radiation that naturally decays. The prior application to which the present application is related is Japanese Patent Application No. 5-100164 by the same inventor. An object of the present invention is to provide a method for eliminating hit bias and determining a hit occurrence under a predetermined probability corresponding to a more complete random number, and a random pulse generator having no hit bias.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、放射性物質が放射するα、β、γ線につい
て、これら各放射線を所定のエネルギーレベルを保有す
る粒子として捕え、これらの粒子の放射分布が指数関数
の分布に従う点と、この指数関数において、放射される
粒子の個数が,所定時間区間でk個である確率Pkは、
ポアソンの分布式で表示される点と、粒子の個数kが、
一定の確率に従ってランダムに放射されることに着目
し、放射線検出回路で検出した粒子の計数値と、予め設
定した一定の確率を与える基準値とを比較し、これらが
一致した時当たりパルスを発生させるランダムパルス発
生装置において、微弱な放射性物質と、放射性物質に対
面して配置され所定の被爆立体角を占有するとともに、
粒子をそのエネルギーレベルに対応した強度の電気信号
に変換する半導体検出素子と、この電気信号から時定数
信号を発生させて増幅する増幅回路と、この時定数信号
が前記粒子に対応した強度範囲のエネルギーレベルであ
るものを弁別する中波高弁別器と、時定数信号が粒子に
対応した強度以上の高エネルギーレベルであるものをノ
イズとして区別する高波高弁別器と、時定数信号が粒子
に対応した強度以下の低エネルギーレベルであるものを
ノイズとして区別する低波高弁別器と、弁別された信号
を粒子の個数として計数し保持する計数回路と、この計
数回路に対して計数動作を継続させる計数時間をプログ
ラミングにより変更可能に設定する設定回路と、目標の
確率を与える基準値をプログラミングにより変更可能に
設定するメモリと、計数時間内に計数回路に保持された
計数値と基準値とを比較し一致したらパルスを出力する
比較回路とかなるランダムパルス発生装置とした。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention captures α, β, and γ rays emitted by radioactive substances as particles having a predetermined energy level. The point that the radiation distribution of particles follows the distribution of an exponential function, and the probability Pk that the number of particles radiated in this exponential function is k in a predetermined time interval is
The points displayed by Poisson's distribution formula and the number of particles k are
Focusing on random emission according to a certain probability, the count value of particles detected by the radiation detection circuit is compared with a reference value that gives a certain probability set in advance, and an hourly pulse is generated when these match. In the random pulse generator to be made, weak radioactive material, and arranged to face the radioactive material and occupy a predetermined exposure solid angle,
A semiconductor detection element that converts a particle into an electric signal having an intensity corresponding to its energy level, an amplification circuit that generates a time constant signal from this electric signal and amplifies it, and this time constant signal has an intensity range corresponding to the particle. A medium wave height discriminator that discriminates energy levels, a high wave height discriminator that discriminates high energy levels with a time constant signal higher than the intensity corresponding to particles as noise, and a time constant signal corresponds to particles. A low pulse height discriminator that distinguishes low energy levels below the intensity as noise, a counting circuit that counts and holds the discriminated signal as the number of particles, and a counting time for continuing the counting operation for this counting circuit. And a setting circuit that sets it to be changeable by programming, and a memory that sets the reference value that gives the target probability to be changeable by programming. And a random pulse generator comprising comparing circuit Toka et for outputting a pulse After match comparing the count value with a reference value held in the counter circuit a total within a few hours.

【0005】[0005]

【作用】被爆立体角と、計数時間と、基準値を目標確率
に合わせて設定して、各種の当たり確率を設定可能にし
た。RIの自然崩壊する確率を、発生確率に利用するこ
とにより、自然なランダムな確率を発生し、また、数理
演算に応じて各種確率を必要に応じて発生できる。
[Function] The exposure solid angle, the counting time, and the reference value are set according to the target probability, and various hit probabilities can be set. By utilizing the probability that the RI naturally collapses as the occurrence probability, a natural random probability can be generated, and various probabilities can be generated according to a mathematical operation as needed.

【0006】[0006]

【実施例】次に、本発明を図面に従って説明する。本発
明の実施例について図面を参照して説明する。図5は本
発明に係るランダムパルス発生装置の原理を示す図であ
る。天然または人工放射性物質の核種は、α、β、γ線
を放射して自然崩壊する、その際、各物質固有の所定の
崩壊定数に従って崩壊する。平成5年11月24日の日
経新聞夕刊10頁に記載があるように、不安定原子が放
射線を出して他の原子になる過程(崩壊)は”原子の種
類によってきまる一定の確率”で起こるものである。本
願では人体に影響のない微量の放射性物質を利用する。
微量の放射性物質には本願では英国の Amersham 社製の
日本で広く煙検知器に利用されているアメリシューム24
1 Amを利用している。このような放射性物質から相次
で、放射されるα、β、γ線は所定の時間間隔で検出さ
れる。簡単のために、α線に注目して説明する。例え
ば、アメリシューム241 Amでは、α線(ヘリウム原
子)がある単位時間にA個放出される(1〜500個/
秒)。しかしながら、ある単位時間にA個放出されると
いっても、自然現象であるため、ある単位時間に20個
放出される場合、36個放出される場合、全然放出のな
い場合等がある。ただ長時間計測すれば、ある単位時間
に一の確率でA個放出され、他の確率でB個放出される
という事実である(詳細は後述する)。
The present invention will be described below with reference to the drawings. Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is a diagram showing the principle of the random pulse generator according to the present invention. Nuclides of natural or artificial radioactive substances radiate α, β, γ rays and spontaneously decay, in which case they decay according to a predetermined decay constant specific to each substance. As described in the evening edition of page 10 of Nikkei newspaper on November 24, 1993, the process (decay) of unstable atoms that emit radiation to become other atoms occurs with "a certain probability determined by the type of atom". It is a thing. In the present application, a very small amount of radioactive substance that does not affect the human body is used.
A trace amount of radioactive material is used in this application by Amersham of the United Kingdom, which is widely used in Japan for smoke detectors.
I am using 1 Am. The α, β and γ rays emitted successively from such a radioactive substance are detected at predetermined time intervals. For simplicity, the explanation will focus on the α ray. For example, with Americum 241 Am, A number of α rays (helium atoms) are emitted per unit time (1 to 500 /
Seconds). However, even if A pieces are released in a certain unit time, since it is a natural phenomenon, there are cases in which 20 pieces are released, 36 pieces are released in a certain unit time, and there is no release at all. However, it is a fact that if it is measured for a long time, A pieces are emitted with a certain probability at a certain unit time and B pieces are emitted with another probability (details will be described later).

【0007】自然崩壊を表す指数分布の関数は図5のグ
ラフを表す式、 F(t)=Ae{−λt}・・・(1) で表される密度関数である。以下{}内は指数を示す
この平均値は1/λとなる。この平均値は、α線1個の
放射時間間隔の平均値に当たり、従ってある単位時間に
検出されるα線の個数は1/(1/λ)=λとなる。こ
のλの崩壊定数は、アメリシュームAmについてのみな
らず、現存する核種についてはほぼ正確に知られてい
る。α線の放射を検出するには検出時間間隔を測定する
よりもある時間帯に放射されるα線の個数を検出するの
が簡単である。アメリシュームの崩壊は1個のα線の放
射時間間隔が指数関数Fに合うので、ある時間帯に放射
されるα線の個数を検出すればよい。
The function of exponential distribution representing the natural collapse is the density function represented by the formula F (t) = Ae {-λt} (1) representing the graph of FIG. Below, the number in {} indicates an index .
This average value is 1 / λ. This average value corresponds to the average value of the emission time intervals of one α ray, and therefore the number of α rays detected in a certain unit time is 1 / (1 / λ) = λ. The decay constant of λ is known almost exactly not only for Americum Am but also for existing nuclides. In order to detect the emission of α rays, it is easier to detect the number of α rays emitted in a certain time zone than to measure the detection time interval. For the decay of americum, the emission time interval of one α-ray matches the exponential function F, so the number of α-rays emitted in a certain time zone may be detected.

【0008】放射分布が指数分布を示す関数F(t)=
Ae{−λt}に従う時、任意の時間aにおける観測時
間区間h,(a,a+h)内に崩壊するα線の個数がk
個である確率Pkは、次の式で表示できる。 Pk=e{−λt}・(λh){k}/k!・・・(2) ここでk=0で1,2,3,・・・、k!はkの階乗で
ある。この分布はポアソン分布であり、時間区間の始点
aに無関係で、その平均値はλhである。よって単位時
間に放射される平均α線数はh=1時間としてλとな
る。式(2)を、個数kについて解き、次の式を得る。
即ち、 k=G(e・Pk・λ・h)・・・(3) となる。ここで、eは自然対数、λはアメリシュームA
mの崩壊定数、確率Pkを例えば1/220とし、hを
CPU等の制御回路の clockの周波数fまたは1
/f で適当に設定する。
A function F (t) = whose radiation distribution shows an exponential distribution
When Ae {-λt} is followed, the number of α-rays that collapse in the observation time interval h, (a, a + h) at an arbitrary time a is k.
The probability Pk of being individual can be expressed by the following equation. Pk = e {-λt} · (λh) {k} / k! (2) Here, k = 0, 1, 2, 3, ..., k! Is the factorial of k. This distribution is a Poisson distribution, irrespective of the starting point a of the time section, and its average value is λh. Therefore, the average number of α rays radiated in a unit time is λ when h = 1 hour. The equation (2) is solved for the number k to obtain the following equation.
That is, k = G (e · Pk · λ · h) (3) Here, e is the natural logarithm, λ is the americum A
The decay constant of m and the probability Pk are set to 1/220, and h is the frequency f or 1 of the clock of the control circuit such as CPU.
Set appropriately with / f.

【0009】確率Pk=1/220はパチンコ機業界や
法律で定めた当たり確率であり、適度の射幸心を誘い、
ギャンブル性に走らない、健全なゲームであるための適
正確率である。また周波数fは現在のCPUでは20M
Hzなのでhも確定できる。また、kは所定の検出器で
検出できるα線の粒子数である。さて、本願発明者は上
記RIによる乱数の原理を解明し、例えばα線の粒子数
を検出する放射線検出装置を応用したランダムパルス発
生装置を製作した。
The probability Pk = 1/220 is a hit probability determined by the pachinko machine industry or the law, and invites a proper euphoria,
It is a proper probability for a healthy game that does not run gambling. The frequency f is 20M in the current CPU.
Since it is Hz, h can also be determined. Further, k is the number of α-ray particles that can be detected by a predetermined detector. Now, the inventor of the present application has clarified the principle of random numbers based on the RI, and has manufactured a random pulse generator to which a radiation detector for detecting the number of α-ray particles is applied.

【0010】図4において、放射性カプセル30には、
人体に無害な微量のα、β、γ線を放出する人工の放射
性核種のアメリシューム241 Am が格納されている。こ
の放射性カプセル30から放射されるα、β、γ線は検
出装置31により検出される。検出装置31は放射性カ
プセル30に接近して検出面を対向して配置してある。
放射線は検出装置31でエネルギーレベルに対応した電
気信号に変換される。この検出装置31はアメリシュー
ムAmから放射されるα、β、γ線から、検出装置31
が占有する立体角ω内の全粒子を1個づつ漏れなく検出
し、検出信号を弁別回路32に出力する。弁別回路32
はこれら全放射粒子の信号中から特定の放射能α線をエ
ネルギースペクトルに従って選択し、かつ設定された所
定の時間h以内に選択されたα線を計数する。弁別回路
32は計数した値(個数)をカウンタ36に出力する。
カウンタ36には崩壊α線の計数された個数が、設定時
間h(1秒前後)の分累計されて保持される。
In FIG. 4, the radioactive capsule 30 includes:
The artificial radionuclide Americum 241 Am, which emits minute amounts of α, β, and γ rays that are harmless to the human body, is stored. The α, β and γ rays emitted from the radioactive capsule 30 are detected by the detection device 31. The detection device 31 is arranged close to the radioactive capsule 30 with the detection surface facing.
The radiation is converted by the detector 31 into an electric signal corresponding to the energy level. The detection device 31 detects the detection device 31 from the α, β and γ rays emitted from the Amerisum Am.
All particles within the solid angle ω occupied by are detected one by one without omission, and a detection signal is output to the discrimination circuit 32. Discrimination circuit 32
Selects a specific radioactivity α-ray from the signals of all the emitted particles according to the energy spectrum, and counts the selected α-rays within a set predetermined time h. The discrimination circuit 32 outputs the counted value (number) to the counter 36.
The counted number of decay α rays is accumulated in the counter 36 for the set time h (about 1 second) and is held.

【0011】弁別回路32には設定回路33から所定の
時間間隔h(計測時間)が、可変抵抗器等の入力装置4
5から、放射性粒子のエネルギーレベルがそれぞれ設定
される。カウンタ36の累計値xと、読み出し専用メモ
リROM37内の基準値k0とが比較回路38で比較さ
れる。ROM37には予め当該α線について、例えば、
確率Pk=1/220を与える個数k0 の定数が記録さ
れている。確率Pkが1/220以外なら基準値k0 も
変化する。比較回路38は値xと固定値k0 とが一致し
たら、駆動回路39に一致信号pを出力する。この一致
信号pを受けて、駆動回路39は電子表示装置40に、
当たりの表示を出力する。
In the discrimination circuit 32, a predetermined time interval h (measurement time) from the setting circuit 33 is input to the input device 4 such as a variable resistor.
From 5, the energy levels of the radioactive particles are set respectively. The cumulative value x of the counter 36 and the reference value k0 in the read-only memory ROM 37 are compared by the comparison circuit 38. In the ROM 37, regarding the α ray, for example,
The number k0 of constants giving the probability Pk = 1/220 is recorded. If the probability Pk is other than 1/220, the reference value k0 also changes. The comparison circuit 38 outputs the coincidence signal p to the drive circuit 39 when the value x coincides with the fixed value k0. Upon receiving the coincidence signal p, the drive circuit 39 causes the electronic display device 40 to
The display of the hit is output.

【0012】一致信号pがなければ、駆動回路39は外
れの表示を出力し、外れの数字が表示される。値xが固
定値k0 になるかどうかは1/220の確率的なもの
で、このため一致信号pも1/220の確率で乱数的に
発生する。設定回路33はスタート回路34から起動パ
ルスを受け、計測時間のマスクを開く。センサー34
は、パチンコ機では入賞口35に玉が入ったことを検知
して起動パルスを発生する。
If there is no coincidence signal p, the drive circuit 39 outputs an out-of-range display and the out-of-range number is displayed. Whether or not the value x becomes the fixed value k0 is a probability of 1/220, and therefore the coincidence signal p is randomly generated with a probability of 1/220. The setting circuit 33 receives the activation pulse from the start circuit 34 and opens the mask of the measurement time. Sensor 34
Detects that a ball has entered the winning opening 35 of the pachinko machine and generates a start pulse.

【0013】図4の放射性カプセル30、検出装置3
1、弁別回路32、設定回路33、ROM37の構成お
よび機能を図6、7で更に詳しく説明する。本願発明者
は、放射性カプセル30と検出装置31とを銅缶の中に
封入して、核種に対する放射空間における占有立体角ω
を固定し、被爆線量の安定化を実現した。検出装置31
の被爆線量が安定しないと、計測値が不正確になり、安
定した確率を得られなくなる。検出装置31は、ここで
は半導体検出器のPINダイオードを例に説明する。他
に電離箱、GM管、シンチレーションカウンタ、比較計
数管、他の半導体検出器、例えばGe検出器等も検出装
置に利用出来る。
The radioactive capsule 30 and the detection device 3 of FIG.
1, the configuration and function of the discrimination circuit 32, the setting circuit 33, and the ROM 37 will be described in more detail with reference to FIGS. The inventor of the present application encapsulates the radioactive capsule 30 and the detection device 31 in a copper can, and occupies the solid angle ω in the radiation space with respect to the nuclide.
The radiation dose was stabilized by fixing the. Detection device 31
If the exposure dose is unstable, the measured values will be inaccurate and stable probability cannot be obtained. The detection device 31 will be described here using a PIN diode of a semiconductor detector as an example. In addition, an ionization chamber, a GM tube, a scintillation counter, a comparison counter tube, and other semiconductor detectors such as a Ge detector can be used as the detector.

【0014】図6において、検出装置31はPINダイ
オードDと結合コンデンサーCc と保護抵抗Rと前置増
幅器43と時定数を設定する抵抗Rf及びコンデンサー
Cfと増幅器46から構成されている。PINダイオー
ドDが検出した微弱信号は前置増幅器43、増幅器46
で放射線の強度に比例した電圧レベルをもつ放電型のパ
ルス信号に増幅される。ここで前置増幅器43は、FE
T、トランジスタ等ディスクリート部品で構成した市販
のものがあるが、構成部品点数を削減するため本願では
FET入力オペアンプを使用している。増幅器43と増
幅器46とは電源電圧を片電源で使用している為、コン
デンサ100を介して結合されている。
In FIG. 6, the detecting device 31 comprises a PIN diode D, a coupling capacitor Cc, a protection resistor R, a preamplifier 43, a resistor Rf for setting a time constant, a capacitor Cf and an amplifier 46. The weak signal detected by the PIN diode D is the preamplifier 43 and the amplifier 46.
It is amplified into a discharge type pulse signal having a voltage level proportional to the intensity of radiation. Here, the preamplifier 43 is FE
There are commercially available T and transistors such as transistors, but in order to reduce the number of components, an FET input operational amplifier is used. The amplifier 43 and the amplifier 46 are connected via the capacitor 100 because they use a single power supply voltage.

【0015】PINダイオードDは市販の金属缶封印型
を頂面の金属部分を取り去ってシリコン素子の表面を露
出させて使用する。放射性カプセル30にPINダイオ
ードDのシリコン面を対向させて、箱形の金属缶内に納
めて外部から(天然)α線が侵入し易いようにした。バ
イアス電圧Vは保護抵抗Rを介してPINダイオードD
に印加され、PINダイオードDはp−n結合の半導体
であって、荷電したα線が侵入すると不安定電子や不安
定正ホールが移動し、いわゆる通電し、PINダイオー
ドDの両端に電圧変動が発生する。
As the PIN diode D, a commercially available metal can sealing type is used by removing the metal portion on the top surface to expose the surface of the silicon element. The silicon surface of the PIN diode D was made to face the radioactive capsule 30 and housed in a box-shaped metal can so that (natural) α rays could easily enter from the outside. Bias voltage V is passed through protection resistor R to PIN diode D
The PIN diode D is a pn-coupled semiconductor, and when a charged α-ray enters, unstable electrons and unstable positive holes move, so-called energization occurs, and a voltage fluctuation occurs across the PIN diode D. Occur.

【0016】この変動電圧は微弱なもので結合コンデン
サーCc を介して前置増幅器43に送られ、そこで電流
増幅される。この増幅電流は抵抗Rf及びコンデンサー
Cfとにより帰還されて、一般に公知の放電電圧カーブ
を描く時定数信号nを増幅器46に出力する。増幅器4
6はこの時定数信号nを増幅し、弁別回路32に出力す
る。図6において、弁別回路32は3回路からなる弁別
回路101を備え、各弁別回路は第1比較回路50、第
2比較回路51、第3比較回路52からそれぞれ構成さ
れている。各比較回路50〜52は集積回路(IC)で
あり、増幅器46から出力される信号を、放射線による
信号と外来のノイズとを分離するための弁別回路であ
る。第1比較回路50は比較用の高電圧e1 と時定数信
号nとを、第2比較回路51では比較用の低電圧e2 と
時定数信号nとを、また第3比較回路52は比較用の中
間位置電圧e3 と時定数信号nとをそれぞれ比較する。
This fluctuating voltage is weak and is sent to the preamplifier 43 via the coupling capacitor Cc, where it is current-amplified. This amplified current is fed back by the resistor Rf and the capacitor Cf, and outputs a time constant signal n that generally describes a known discharge voltage curve to the amplifier 46. Amplifier 4
6 amplifies this time constant signal n and outputs it to the discrimination circuit 32. In FIG. 6, the discrimination circuit 32 includes a discrimination circuit 101 composed of three circuits, and each discrimination circuit is composed of a first comparison circuit 50, a second comparison circuit 51, and a third comparison circuit 52. Each of the comparison circuits 50 to 52 is an integrated circuit (IC), and is a discrimination circuit for separating a signal output from the amplifier 46 from a signal due to radiation and an external noise. The first comparison circuit 50 uses the comparison high voltage e1 and the time constant signal n, the second comparison circuit 51 uses the comparison low voltage e2 and the time constant signal n, and the third comparison circuit 52 uses the comparison high voltage e1 and the time constant signal n. The intermediate position voltage e3 is compared with the time constant signal n.

【0017】第1比較回路50の一方の入力端に印加さ
れる基準電圧e1 は図8に示す高波高を弁別する上限電
圧で、弁別回路の第1比較回路50は高波高すなわち、
高い電圧のパルスをノイズと見なし弁別する回路であ
る。第2比較回路51の一方の入力端に印加される基準
電圧e2は図8に示す下限波高を弁別する低い電圧で、
この弁別回路は低波高すなわち逆に低い電圧のパルスを
ノイズと見なし弁別する回路である。第3比較回路52
の一方の入力端に印加される基準電圧e3は時定数信号
nそのものの波高の中間の電圧(e1とe2の中間では
ない)で、この弁別回路は、中間以上の電圧で弁別し、
タイミング信号を発生させる。中間の電圧は、正確には
図8に示す時定数信号n(全信号をまず拾い、後で区別
するため)の中間位置の電圧である。これら各基準電圧
はe1、e2、e3の順に低くなっており、エネルギー
レベルによって予め決定された通りに設定されている。
The reference voltage e1 applied to one input terminal of the first comparing circuit 50 is the upper limit voltage for discriminating the high wave height shown in FIG. 8, and the first comparing circuit 50 of the discriminating circuit has the high wave height, that is,
This is a circuit that distinguishes high voltage pulses as noise. The reference voltage e2 applied to one input end of the second comparison circuit 51 is a low voltage for discriminating the lower limit wave height shown in FIG.
This discrimination circuit is a circuit that discriminates a pulse having a low wave height, that is, a low voltage on the contrary, as noise. Third comparison circuit 52
The reference voltage e3 applied to one of the input terminals is an intermediate voltage (not intermediate between e1 and e2) of the wave height of the time constant signal n itself, and this discrimination circuit discriminates at a voltage higher than the intermediate voltage.
Generates timing signals. The intermediate voltage is exactly the voltage at the intermediate position of the time constant signal n shown in FIG. 8 (for picking up all signals first and later distinguishing them). Each of these reference voltages decreases in the order of e1, e2, and e3, and is set as predetermined by the energy level.

【0018】荷電したα線が半導体検出素子に侵入し
て、結合の弱い不安定電子や不安定正ホールを移動させ
て、PINダイオードDの両端に電圧変動を発生させ
る。フリップフロップの集積回路(IC)からなるキャ
ンセル回路53、第1遅延回路54、第1矩形パルス発
生回路56、第2遅延回路55、第2矩形パルス発生回
路58、第3矩形パルス発生路59は、弁別回路の各
比較回路50〜52によって弁別された信号のタイミン
グ調整回路である。これらの相互動作について図8を参
照して以下に説明する。
The charged α-rays enter the semiconductor detection element and move unstable electrons or unstable positive holes that are weakly coupled to generate a voltage fluctuation across the PIN diode D. Cancellation circuit 53 consisting of an integrated circuit of the flip-flop (IC), the first delay circuit 54, the first rectangular pulse generating circuit 56, second delay circuit 55, a second rectangular pulse generating circuit 58, the third rectangular pulse generating circuits 59 Is a timing adjustment circuit for the signals discriminated by the comparison circuits 50 to 52 of the discrimination circuit. These mutual operations will be described below with reference to FIG.

【0019】第1比較回路50は時定数信号nがe1よ
り高いノイズであると、第1弁別信号A1 をキャンセル
回路53に出力し、キャンセル回路53は第1弁別信号
A1をうけてキャンセル信号cを出力する。
When the time constant signal n is noise higher than e1, the first comparison circuit 50 outputs the first discrimination signal A1 to the cancellation circuit 53, and the cancellation circuit 53 receives the first discrimination signal A1 and cancels the cancellation signal c. Is output.

【0020】第2比較回路51は時定数信号nがe2よ
り高いα線の信号であると、第2弁別信号A2 を第1遅
延回路54に出力し、第1遅延回路54は第2弁別信号
A2を受けてその立ち上がり時に、第2弁別信号A2 よ
りも持続時間が約数倍長い第1遅延信号D1 を第1矩形
パルス発生回路56に出力する。第1矩形パルス発生
路56は第1遅延信号D1 を受けてその立ち下がり時
に、第1判定信号J1 を出力する。キャンセル回路53
からのキャンセル信号cは第1遅延回路54に送られて
おり、キャンセル信号cを第1遅延回路54が受信した
時には、第1遅延信号D1 の出力を停止する。
The second comparison circuit 51 outputs the second discrimination signal A2 to the first delay circuit 54 when the time constant signal n is the signal of the α ray higher than e2, and the first delay circuit 54 outputs the second discrimination signal. When A2 is received, the first delay signal D1 having a duration about several times longer than that of the second discrimination signal A2 is output to the first rectangular pulse generation circuit 56 at the time of rising. The first rectangular pulse generating times <br/> circuit 56 at the falling thereof falling receiving first delay signal D1, and outputs a first determination signal J1. Cancel circuit 53
The cancel signal c from is sent to the first delay circuit 54, and when the cancel signal c is received by the first delay circuit 54, the output of the first delay signal D1 is stopped.

【0021】第2弁別信号A2 はまた第2遅延回路55
にも出力され、第2遅延回路55は、第2弁別信号A2
を受けてその立ち下がり時に、第2遅延信号D2 を第2
矩形パルス発生路58に出力する。この第2遅延信号
D2 は第2弁別信号A2 よりも持続時間が約数倍長く、
第1遅延信号D1 と終了時間が同時である。第2矩形パ
ルス発生路58は第2遅延信号D2 を受けてその立ち
下がり時に、第2判定信号J2 を出力する。キャンセル
回路53からのキャンセル信号cは第2矩形パルス発生
路58にもに送られており、キャンセル信号cを第2
矩形パルス発生路58が受信した時には、第2判定信
号J2 の出力を停止する。これはe2より高い電圧は、
α線の信号と高波高のノイズ信号も含み、ノイズ信号は
キャンセル信号cで排除している。
The second discrimination signal A2 is also sent to the second delay circuit 55.
The second delay circuit 55 outputs the second discrimination signal A2
In response to this, the second delayed signal D2
And outputs it to the rectangular pulse generating circuits 58. This second delay signal D2 is approximately several times longer in duration than the second discrimination signal A2,
The first delay signal D1 and the end time are the same. The second rectangular pulse generating circuits 58 when falling the trailing receives a second delayed signal D2, and outputs a second determination signal J2. The cancel signal c from the cancel circuit 53 is the second rectangular pulse generation.
Are sent to the even circuits 58, a cancel signal c second
When the rectangular pulse generator circuitry 58 is received, it stops the output of the second determination signal J2. This is higher voltage than e2,
The α-ray signal and the noise signal having a high wave height are also included, and the noise signal is eliminated by the cancel signal c.

【0022】第3比較回路52は時定数信号nがe3よ
り高いと結果として第3弁別信号A3 を第3矩形パルス
発生路59に出力する。第3矩形パルス発生路59
は第3弁別信号A3 を受けてを受けてその立ち下がり時
に、第3判定信号J3 を出力する。3種の第1、2、3
判定信号J1、J2、J3 は第1AND回路60の条件入
力端に入力され、第1AND回路60はこれら3種の条
件が揃うと検出信号Kを第2AND回路62の一方の条
件入力端に出力する。図7において、第2AND回路6
2の他方の入力端には、設定回路33からマスクパルス
hが入力されている。このマスクパルスhの持続時間の
間、第2AND回路62は順次到来した検出信号Kを取
り込み、カウンタ36に出力する。カウンタ36は計数
機能を備えた到来した検出信号Kを累積しながら保持す
る。
The third comparator circuit 52 is a time constant signal n outputs a third discrimination signal A3 as a result is higher than e3 Third rectangular pulse generating circuits 59. The third rectangular pulse generating circuits 59
Receives the third discrimination signal A3 and outputs the third judgment signal J3 at the falling edge. Three kinds of first, second, third
The determination signals J1, J2, J3 are input to the condition input terminal of the first AND circuit 60, and the first AND circuit 60 outputs the detection signal K to one condition input terminal of the second AND circuit 62 when these three kinds of conditions are satisfied. . In FIG. 7, the second AND circuit 6
The mask pulse h is input from the setting circuit 33 to the other input terminal of 2. During the duration of the mask pulse h, the second AND circuit 62 takes in the detection signals K that have sequentially arrived and outputs them to the counter 36. The counter 36 accumulates and holds the incoming detection signal K having a counting function.

【0023】前置増幅器43と増幅器46の増幅度や規
格が設定されると、増幅器46から出力される時定数信
号n、即ち電圧変動値は、α線について予測でき、V=
V0・e[ −a・ Rf・Cf・t] で決定ができる。具体的に
は、α線の場合は、全体的に弁別回路32の設計仕様に
合わせて決まるその電圧変動値は、高い電圧がe1と低
い電圧がe2との間になるように決定する。従って、本
実施例の弁別回路32上では、観測した電圧変動値が高
い電圧e1と低い電圧e2との間の時のみ、α線として
計数するようにする。電圧変動値が高い電圧e1以上の
場合は、その影響をもたらした原因は落雷やモーター等
の火花による高いエネルギーによる場合が殆どであり、
α線ではないので雑音と見做し、粒子数には計数しな
い。また、電圧変動値が低い電圧e2以下の場合は、減
衰した自然放射線であったり、PINダイオードDの内
在雑音による場合が殆であり、α線ではないので雑音と
して計数しない。
When the amplification degree and the standard of the preamplifier 43 and the amplifier 46 are set, the time constant signal n output from the amplifier 46, that is, the voltage fluctuation value can be predicted for α line, and V =
It can be determined by V0e [-aRfCft]. Specifically, in the case of α rays, the voltage fluctuation value that is determined in accordance with the design specifications of the discrimination circuit 32 as a whole is determined such that the high voltage is between e1 and the low voltage is between e2. Therefore, on the discrimination circuit 32 of the present embodiment, the α ray is counted only when the observed voltage fluctuation value is between the high voltage e1 and the low voltage e2. When the voltage fluctuation value is high voltage e1 or more, the cause of the influence is mostly due to high energy due to lightning strikes or sparks from motors,
Since it is not an α ray, it is regarded as noise and is not counted in the number of particles. Further, when the voltage fluctuation value is lower than the voltage e2, it is mostly due to attenuated natural radiation or due to the internal noise of the PIN diode D, and since it is not an α ray, it is not counted as noise.

【0024】電圧変動値は本実施例の弁別回路32で
は、0Vから約3.5Vの間である、従って高い電圧e
1を4.5Vに、低い電圧e2を1.3Vに設定した。
また、時定数信号nの放電時間は最大40μsecであ
り、1秒間に3万〜4万個のα線(ヘリウム粒子)が到
来しても計数可能な分解精度である。アメリシウムの崩
壊数はせいぜい約1〜500個/秒であるので、回路上
の信号遅れやパルスの立ち上がり精度のバラツキ等を計
算にいれても、高い精度で検出が可能である。
In the discrimination circuit 32 of the present embodiment, the voltage fluctuation value is between 0 V and about 3.5 V, so that the high voltage e
1 was set to 4.5V and the low voltage e2 was set to 1.3V.
In addition, the discharge time of the time constant signal n is 40 μsec at maximum, which is a resolution accuracy that can be counted even when 30,000 to 40,000 α-rays (helium particles) arrive in one second. Since the number of decays of americium is at most about 1 to 500 / second, it is possible to detect with high accuracy even when calculating the signal delay on the circuit and the variation of the rising accuracy of the pulse.

【0025】さて、図8において、横軸には時間の経過
とともに放電する各種の時定数信号nをn1 、n2 、n
3 、n4 に、縦軸には図1の弁別回路32の各点での信
号波形を波高の形に、示している。まず、電圧変動値が
α線(ヘリウム粒子)を示す、いわゆる正定信号n1
(高い電圧e1と低い電圧e2との間の時のとき)は、
低い電圧e2 以上の電圧変動値の部分が図1の第2比較
回路51にて検出されて(高い電圧e1はないので第1
比較回路50では何も検出されず)、第2弁別信号A2
が生成され、第1遅延回路54に出力される。この第2
弁別信号A2 は立ち上がりと同時に第1遅延回路54で
幅広の第1遅延信号D1 を発生し、第1矩形パルス発生
路56に出力する。この第2弁別信号A2 は第2遅延回
路55にも出力され、この第2弁別信号A2 は立ち下が
りと同時に第2遅延回路55でやや幅広の第2遅延信号
D2 を発生し、第2矩形パルス発生路58に出力す
る。第1矩形パルス発生路56は第1遅延信号D1 を
受けてその立ち下がりで第1判定信号J1 を60に出力
し、同時に第2遅延回路58は第2遅延信号D2 を受け
てその立ち下がり(持続時間はD1 >D2 で立ち下がり
が一致するように設定される)で、第2判定信号J2 を
第1AND回路60に出力する。
Now, in FIG. 8, the horizontal axis represents various time constant signals n that discharge with time, n1, n2, and n.
3 and n4, the vertical axis shows the signal waveform at each point of the discrimination circuit 32 of FIG. 1 in the form of wave height. First, the so-called positive definite signal n1 whose voltage fluctuation value indicates α rays (helium particles)
(When between high voltage e1 and low voltage e2),
The portion of the voltage fluctuation value equal to or higher than the low voltage e2 is detected by the second comparison circuit 51 of FIG.
Nothing is detected by the comparison circuit 50), and the second discrimination signal A2
Is generated and output to the first delay circuit 54. This second
At the same time as the discrimination signal A2 rises, the first delay circuit 54 generates a wide first delay signal D1 and outputs it to the first rectangular pulse generation path 56. The second discrimination signal A2 is also output to the second delay circuit 55, and the second discrimination signal A2 generates the second delay signal D2 of a slightly wider width in the second delay circuit 55 at the same time when it falls, and the second rectangular pulse to output to the generation circuits 58. The first rectangular pulse generating circuits 56 and outputs a first determination signal J1 at its falling receiving first delay signal D1 to 60, at the same time the second delay circuit 58 falls its start receiving a second delayed signal D2 (The duration is set so that the falling edges match when D1> D2), and the second determination signal J2 is output to the first AND circuit 60.

【0026】また、電圧e3 以上の部分に相当する中間
位置の電圧部分が第3比較回路52にて検出されて、第
3弁別信号A3 が生成され第3矩形パルス発生路59
に出力される。この第3弁別信号A3 の立ち下がりと同
時に第3矩形パルス発生路59は第3判定信号J3 を
発生し、第1AND回路60に出力する。第1AND回
路60は、第1判定信号J1 、第2判定信号J2 、第3
判定信号J3 、が全部揃った時にのみ、検出信号Kを出
力する。これまでを整理すると、図8に示す様に、低波
高検出電圧より高く、高波高検出電圧より低い信号パル
スを放射線により発生したパルスと見なし、これに中間
波高値により発生させたタイミング信号を第1AND回
路60に加えて、検出対象である放射線による信号のみ
を通過させる。なお、これらの信号のタイミングを取る
ためにパルス幅を制御できるマルチバイブレータを使用
しているが、一般的に発振子による周波数を計数とする
ことによってパルス幅を制御することが可能である。
Further, the voltage portion of the intermediate position is detected by the third comparator circuit 52 which corresponds to the voltage e3 or more parts, the third third rectangular pulse discrimination signal A3 is generated generated circuits 59
Is output to. The third third rectangular pulse generator circuitry 59 simultaneously with the fall of the discrimination signal A3 generates the third determination signal J3, and outputs to the 1AND circuit 60. The first AND circuit 60 includes a first judgment signal J1, a second judgment signal J2, and a third judgment signal J2.
The detection signal K is output only when all the judgment signals J3 have been obtained. To summarize the above, as shown in FIG. 8, a signal pulse higher than the low peak detection voltage and lower than the high peak detection voltage is regarded as a pulse generated by radiation, and a timing signal generated by the intermediate peak value is added to this pulse. In addition to the 1AND circuit 60, only the signal due to the radiation to be detected is passed. Although a multivibrator capable of controlling the pulse width is used to adjust the timing of these signals, it is generally possible to control the pulse width by counting the frequency of the oscillator.

【0027】第1AND回路60は、第1判定信号J1
、第2判定信号J2 、第3判定信号J3 、が全部揃っ
た時にのみ、検出信号Kを第2AND回路62に出力す
る。第2AND回路62は設定回路33からパルスの形
式で与えられた有効期間hに到来(発生)する検出信号
Kを通過させて、カウンタレジスタ36に出力する。図
6において、全ての波高弁別信号A1 、A2 、A3 を計
測することにより、本装置が正常に作動しているか否か
の確認が出来る。全ての波高弁別信号A1 、A2、A3
を計測し何れの信号が定期的に発生しているのかを検出
することにより、不正が行われているか否かを監視する
ことが出来る。図4の設定回路33、カウンタ36、R
OM37、比較回路38について図7で詳しく説明す
る。設定回路33は発振器を内蔵する分周器70と6回
路のデップスイッチ71からなり、デップスイッチ71
の各スイッチを適宜オン・オフして2進数を設定する。
各スイッチのオン・オフは6個の給電抵抗を接地した
り、非接地して分周器70の各端子をLow/High
に設定する。かくして分周器70の分周比を決め、計測
の有効期間hを例えば0.2、0.4、0.5、0.
8、1.0、1.5 秒等に設定できる。
The first AND circuit 60 has a first judgment signal J1.
, The second determination signal J2 and the third determination signal J3 are all completed, the detection signal K is output to the second AND circuit 62. The second AND circuit 62 passes the detection signal K that arrives (is generated) during the effective period h given in the form of a pulse from the setting circuit 33, and outputs it to the counter register 36. In FIG. 6, by measuring all the wave height discrimination signals A1, A2, A3, it is possible to confirm whether or not this device is operating normally. All wave height discrimination signals A1, A2, A3
It is possible to monitor whether fraud is occurring by measuring the signal and detecting which signal is generated periodically. The setting circuit 33, the counter 36, and the R of FIG.
The OM 37 and the comparison circuit 38 will be described in detail with reference to FIG. The setting circuit 33 includes a frequency divider 70 having a built-in oscillator and six circuits of DIP switches 71.
Set the binary number by turning on / off each switch of.
To turn on / off each switch, ground the six power supply resistors or unground them to set each terminal of the frequency divider 70 to Low / High.
Set to. Thus, the frequency division ratio of the frequency divider 70 is determined, and the effective period h of the measurement is set to 0.2, 0.4, 0.5, 0.
It can be set to 8, 1.0, 1.5 seconds, etc.

【0028】計数値を受けるカウンタ36は3の個のシ
フトレジスタ73、74、75、からなり、加算器を構
成する4ビットのシフトレジスタ73、74、75は直
列に接続されている。従って、12ビットであり、2の
12乗、16X16X16までのパルス数を保持でき
る。ROM37は3個の4ビットのデップスイッチ7
6、77、78から構成され、各スイッチのオン・オフ
は16個の給電抵抗を接地したり、非接地にする。各ス
イッチのオン・オフにより16ビットの各端子をLow
/High(0、1)に設定し、16ビットの2進数を
表現できる。
The counter 36 for receiving the count value is composed of three shift registers 73, 74, 75, and the 4-bit shift registers 73, 74, 75 forming an adder are connected in series. Therefore, the number of pulses is 12 bits, and the number of pulses up to 2 12 and 16 × 16 × 16 can be held. ROM37 is three 4-bit DIP switch 7
Each switch is turned on / off by grounding or ungrounding the 16 power supply resistors. Each switch of 16 bits is set to Low by turning on / off each switch.
/ High (0, 1) can be set to represent a 16-bit binary number.

【0029】比較回路38は2個の8ビット比較器8
0、81からなり、16ビットの比較が可能であるが、
比較相手のカウンタ36が12ビットであるため、上位
の比較器81の上位4ビットは使用していない。比較回
路38の比較器80、81の一方の各端子には、ROM
37のデップスイッチ76、77、78のオン・オフに
よるLow/High信号と、他方の各端子にはカウン
タ36のシフトレジスタ73、74、75の端子からL
ow/High信号とがそれぞれ与えられている。上位
の比較器81の上位4ビット用の両側の端子は共に接地
されているなお図では接地を逆三角で示している。
The comparison circuit 38 includes two 8-bit comparators 8
It consists of 0 and 81, and 16-bit comparison is possible,
Since the counter 36 of the comparison partner has 12 bits, the upper 4 bits of the upper comparator 81 are not used. A ROM is connected to one terminal of each of the comparators 80 and 81 of the comparison circuit 38.
A Low / High signal generated by turning on / off the DIP switches 76, 77, and 78 of the counter 37, and L terminals from the terminals of the shift registers 73, 74, and 75 of the counter 36 to the other terminals.
ow / High signal is given respectively. Both terminals for the upper 4 bits of the upper comparator 81 are both grounded . In the figure, grounding is indicated by an inverted triangle.

【0030】比較回路38はROM37の設定値とカウ
ンタ36の計数値とを各ビット毎に比較する。下位比較
器80と上位比較器81からの一致信号はAND回路8
2で集計されて1個のパルスを出力する。さて、ここで
カウンタ36には、分周器70で決めた計測の有効期間
hを例えば1.0秒間に、計数(加算)した値が保持さ
れている。この計測値とROM37の設置値(基準値)
が一致した場合に比較回路38はパルスを出力するが、
このパルスを当たりとして使用する。一致の割合は目標
の確率例えば、1/220としている。
The comparison circuit 38 compares the set value of the ROM 37 with the count value of the counter 36 for each bit. The match signals from the lower comparator 80 and the upper comparator 81 are AND circuits 8.
2 is counted and one pulse is output. Now, here, the counter 36 holds a value obtained by counting (adding) the effective period h of the measurement determined by the frequency divider 70, for example, for 1.0 second. This measurement value and the installation value of ROM 37 (reference value)
The comparison circuit 38 outputs a pulse when
This pulse is used as a hit. The matching rate is set to a target probability, for example, 1/220.

【0031】このように弁別されたパルスをカウンタ3
6のシフトレジスタ73、74、75で加算する。ある
時間単位で計数された値は、比較回路の比較器80、8
1によって、あらかじめROM37のデップスイッチ7
6、77、78に設定されている基準値と比較され一致
した場合のみ、当たりのパルスを出力する。設定回路3
3の分周器70と6回路のデップスイッチ71は、放射
線による信号パルスを加算する時間間隔を設定する。カ
ウンタ36のシフトレジスタ73、74、75は、当た
りの有無を終了した後リセット信号Rによって計数毎に
クリアされる。
The pulse thus discriminated is counted by the counter 3
The shift registers 73, 74, and 75 of 6 add. The value counted in a certain time unit is used as the comparator 80, 8 of the comparison circuit.
Dep switch 7 of ROM 37 in advance depending on 1.
The hit pulse is output only when the reference values set in 6, 77, and 78 are compared and coincident with each other. Setting circuit 3
The frequency divider 70 of 3 and the DIP switch 71 of 6 circuits set the time interval for adding the signal pulses due to the radiation. The shift registers 73, 74, and 75 of the counter 36 are cleared for each count by the reset signal R after finishing the hit / no hit.

【0032】ある一定時間に崩壊する放射線(計数値)
は確率法則に従う現象であるから、一定の放射線源を一
定時間計数しても、その計数値は常に一定値にはなら
ず、ある平均値Mの付近に分散した値が得られる。この
分散はポアリンの分布式で与えられる。ここでp(m)
は、一定時間にmカウント(パルス数)が得られる確率
Mは多数回測定した時のmの平均値とし、Mが数十以上
になるとガウスの分布式{ }内は指数を表すと近似的
に等しくなる。(図3参照)
Radiation that decays in a certain time (count value)
Is a phenomenon according to the law of probability, and therefore, even if a certain radiation source is counted for a certain period of time, the count value does not always become a constant value, and values dispersed around a certain average value M are obtained. This dispersion is given by the Porin distribution formula. Where p (m)
Is the probability M that an m count (the number of pulses) can be obtained in a certain period of time is the average value of m when measured many times, and when M becomes several tens or more, the Gaussian distribution formula {} represents an exponent. Is equal to (See Figure 3)

【0033】いま、1秒間に356 の計数値が得られる放
射線と検出器、物理幾何条件を形成した場合、(2)式で
計数値が356 となる確率は47分の1となる。パチンコ業
界や法律で決められた当たりの確率 220分の1は、1秒
間の計数値が約322.6 の時に得られる。この確率は常に
一定ではなく、ある時は数回計数しただけで一致する場
合、数百回計数しても一致しない場合等があり、ただ多
数回計数した場合、所定の確率になるということであ
る。
When radiation, a detector, and a physical geometric condition for obtaining a count value of 356 per second are formed, the probability that the count value will be 356 in the equation (2) is 1/47. The probability of 1/220 determined by the pachinko industry and the law is obtained when the count value per second is about 322.6. This probability is not always constant, and at some times it may match after counting several times, or may not match even after counting hundreds of times. is there.

【0034】したがって、例えば確率220 分の1となる
基準値322を、予めROM37に設定しておき、パチ
ンコ機の入賞穴に玉が入った時の計数値が295になっ
たとする。計数値がを比較回路38において、設定した
基準値と一致した時、当たりとすればランダムな当たり
をもつパチンコ機となる。また、放射線源の放射強度
(崩壊数)も立体角内で変更できる範囲があるので、カ
プセル30の放射線源と検出ダイオードの距離を調整可
能な構造としてある。
Therefore, for example, it is assumed that a reference value 322 having a probability of 1/220 is set in the ROM 37 in advance and the count value when a ball enters a winning hole of a pachinko machine becomes 295. When the count value coincides with the reference value set in the comparison circuit 38, the hit is a pachinko machine having a random hit. Further, since there is a range in which the radiation intensity (decay number) of the radiation source can be changed within the solid angle, the structure is such that the distance between the radiation source of the capsule 30 and the detection diode can be adjusted.

【0035】本願発明者が試作した アメリシュムAm
のα線(ヘリウム粒子)を計数するランダムパルス発生
装置の観測実験結果を以下に示す。発生確率について、
表1の測定データは、1秒(設定回路33からパルスの
形式で与えられた有効期間h=1.0秒)毎に計数する
観測を10800回(180分)実行したものである。
これをピーク値及び選択したCPS(1秒間のパルス
数)の発生確率について、計測値と理論上の計算値を下
記に示す。
Amerishum Am prototyped by the inventor of the present application
The following are the results of observation experiments of a random pulse generator that counts the α-rays (helium particles). About the occurrence probability,
The measurement data in Table 1 is obtained by performing 10800 times (180 minutes) of observation for counting every 1 second (effective period h = 1.0 second given in the pulse form from the setting circuit 33).
Regarding the peak value and the occurrence probability of the selected CPS (the number of pulses per second), the measured value and the theoretical calculated value are shown below.

【0036】表1からピーク値や任意に選択したCPS
の確率が以下のように読み取れる。 測定値 計算値 測定回数 10800回 ピーク値 229CPS 発生確率 298/10800=1/36.2 1/37.9 0.0275 選択CPS 200CPS 発生確率 42/10800=1/257.1 1/237 0.00389 であり、選択CPSの発生確率にズレが生じている。し
かし
The peak value and CPS selected arbitrarily from Table 1
The probability of can be read as follows. Measured value Calculated value Number of times of measurement 10800 Peak value 229 CPS occurrence probability 298/10800 = 1 / 36.2 1 / 37.9 0.0275 Selection CPS 200 CPS occurrence probability 42/10800 = 1 / 257.1 1/237 0.00389 Therefore, the occurrence probability of the selected CPS is deviated. However

【0037】 選択CPS 発生確率 発生確率 測定値 計算値 199CPS 1/270 1/270 200CPS 1/257 1/237 201CPS 1/177 1/210 202CPS 1/180 1/186 203CPS 1/164 1/167 のように、この程度の計数回数であっても1CPSの差
で、発生確率に1/20〜1/30程度の差しか生じな
いので、実用上は非常に多数回計数して、ますます許容
範囲に入っていく。計測値のカウント数を下記表1に示
す。
Selected CPS Occurrence Probability Occurrence Probability Measured Value Calculated Value 199 CPS 1/270 1/270 200 CPS 1/257 1/237 201 CPS 1/177 1/210 202 CPS 1/180 1/186 203 CPS 1/164 1/167 Moreover, even with this number of counts, the difference of 1 CPS does not cause a difference of about 1/20 to 1/30 in the occurrence probability. Therefore, in practice, counting a very large number of times makes it more and more permissible. Come in. The number of counts of measured values is shown in Table 1 below.

【0038】 表1 CPS 回数 CPS 回数 CPS 回数 CPS 回数 171 1 202 60 230 274 258 42 172 1 203 66 231 254 259 41 175 1 204 69 232 286 260 33 176 1 205 92 233 255 261 35 177 1 206 101 234 234 262 28 179 1 207 104 235 281 263 14 180 1 208 127 236 232 264 27 181 1 209 109 237 238 265 14 182 1 210 152 238 244 266 14 183 2 211 151 239 221 267 15 184 2 212 168 240 212 268 10 185 6 213 189 241 182 269 8 186 5 214 175 242 182 270 7 187 5 215 193 243 173 271 5 188 3 216 196 244 175 272 8 189 10 217 230 245 166 273 3 190 8 218 218 246 147 274 1 191 7 219 231 247 153 275 3 192 17 220 262 248 130 276 6 193 20 221 262 249 107 277 2 194 24 222 274 250 103 278 2 195 31 223 253 251 114 279 2 196 28 224 249 252 90 280 1 197 29 225 269 253 67 282 1 198 42 226 284 254 66 375 1 199 40 227 294 255 54 487 1200 42 228 272 256 65 497 1 201 61 229 298 257 40Table 1 Number of CPS Number of CPS Number of CPS Number of CPS Number of CPS 171 1 202 60 60 230 274 258 42 42 172 1 203 203 66 231 254 259 411 41 175 1 204 69 69 232 286 260 331 176 1 205 205 92 233 255 261 34 35 17 234 262 28 179 1 207 104 104 235 281 263 14 180 180 1 208 127 127 236 232 264 27 181 1 209 109 237 238 265 14 182 1 210 210 152 238 244 266 14 183 2 211 211 151 239 2 216 218 261 267 2 10 185 6 213 189 241 182 269 269 8 186 5 214 175 242 182 270 7 875 215 193 243 173 273 271 5 188 3 216 196 244 175 272 8 8 189 10 217 230 245 166 273 3 190 218 218 218 246 147 274 1 3 19 217 219 231 247 247 2 326 173 275 275 221 262 249 107 277 2 194 24 222 274 250 250 103 278 2 195 31 223 253 251 114 114 279 2 196 28 224 249 252 290 280 1 197 29 225 269 253 253 67 67 282 1 198 42 226 261 275 284 254 254. 255 54 487 1 200 42 228 272 256 65 497 1 201 61 229 29 257 40

【0039】この表の値をグラフにすると図1のように
なる。また、測定回数の10800回を3回繰り返し実
行したグラフを図2に示す。計測回数を次第に増大させ
ると、実験値グラフは理論値のガウス分布に、更に接近
することが理解できる。この実験値のグラフにしたがっ
て当たり確率を設定する方法は次の通りである。この試
作機にはパチンコ機上に許可された1/220=0.0
045の確率を与える計数値はないので、実験的に1/
220に近い、1/257=0.00389で説明す
る。図1に矢印で示すように、まず確率1/257=
0.00389とグラフの交点から計数値200CPS
を得て、基準値として、200を予めROM37に設定
する。
A graph of the values in this table is shown in FIG. Further, FIG. 2 shows a graph in which the number of times of measurement 10,800 times is repeated three times. It can be seen that the experimental value graph more closely approximates the Gaussian distribution of theoretical values when the number of measurements is gradually increased. The method of setting the hit probability according to the graph of this experimental value is as follows. 1/220 = 0.0 that was allowed on the pachinko machine for this prototype
Since there is no count value that gives a probability of 045, 1 /
The description will be made with 1/257 = 0.00389, which is close to 220. As shown by the arrow in FIG. 1, first, the probability 1/257 =
Count value 200 CPS from the intersection of 0.00389 and the graph
Then, 200 is set in the ROM 37 in advance as a reference value.

【0040】実用上の装置の製作上では、ROM37の
3個の4ビットのスイッチ76、77、78をこの順に
10進数200相当の2進数”00001100100
0”になるようにプログラミイングして回路を焼きつけ
る。計測の有効期間がh=1.0秒を与えるように、設
定回路33のデップスイッチ71をプログラミイングし
て回路を焼きつける。また、計測の有効期間h=1.0
秒を変更するとグラフのピーク計数値も変化し、各計数
値の与える確率も変化するので、1/220=0.00
45の確率を得る選択CPSを見つけることができる。
この場合は、計測時間を定める設定回路33の分周器7
0のデップスイッチ71を、有効期間h=1.50秒等
になるようにプログラミイングした回路を焼き付ける。
回路の焼き付けは公知の半導体製造技術の手法に従って
行う。
In manufacturing a practical device, the three 4-bit switches 76, 77 and 78 of the ROM 37 are arranged in this order in a binary number "00001100100" equivalent to a decimal number 200.
The circuit is burned by programming so that it becomes 0 ". The circuit is burned by programming the dep switch 71 of the setting circuit 33 so that the effective period of the measurement is given as h = 1.0 seconds. Valid period h = 1.0
When the second is changed, the peak count value of the graph also changes, and the probability given by each count value also changes, so 1/220 = 0.00
We can find a selected CPS that gets a probability of 45.
In this case, the frequency divider 7 of the setting circuit 33 that determines the measurement time
A circuit in which the 0 dip switch 71 is programmed so that the effective period is h = 1.50 seconds is printed.
The circuit is printed according to a known semiconductor manufacturing technique.

【0041】ランダム性を検証するために、ピーク値2
29CPSと、選択値200CPSとについて測定回数
10800以内の発生間隔をしらべて、表 2、表3を得
た。ピーク値229CPSの発生間隔を表2に示す。表
2から明らかのように最小間隔は2、最大間隔は171
であり、当たりの発生に規則性がないことが理解でき
る。
To verify the randomness, the peak value 2
Tables 2 and 3 were obtained by examining the occurrence intervals of the number of measurements within 10800 for 29 CPS and the selected value of 200 CPS. Table 2 shows the intervals at which the peak value of 229 CPS occurs. As is clear from Table 2, the minimum interval is 2 and the maximum interval is 171.
It can be understood that there is no regularity in the occurrence of hits.

【0042】 表2 発生間隔表示 CPS= 229 測定回数=10800 73 77 33 49 4 8 48 3 2 113 26 5 21 24 45 77 38 21 12 31 20 36 102 102 128 10 95 10 29 8 82 45 38 82 14 66 12 116 84 9 38 7 87 51 103 52 164 11 32 49 3 14 15 7 46 45 23 60 63 31 30 6 4 49 90 73 14 26 5 28 6 17 83 22 7 98 15 15 24 64 32 18 35 3 18 70 2 69 63 35 41 31 37 50 42 64 23 13 67 3 17 43 120 101 11 39 2 19 20 46 53 28 128 18 58 26 69 30 64 65 76 12 18 36 32 89 17 21 99 2 6 3 92 80 68 102 7 10 49 23 28 239 16 71 39 16 50 19 23 12 11 18 9 2 15 11 55 5 38 18 31 6 43 3 23 11 14 44 46 25 10 24 51 3 36 62 60 50 71 23 34 95 36 14 38 65 46 19 4 10 32 21 60 4 25 29 43 24 16 10 28 28 39 11 2 43 23 10 40 80 2 18 11 27 18 2 36 53 85 7 26 29 28 24 19 18 12 21 7 31 3 17 47 11 6 58 136 15 18 29 164 20 15 44 44 55 20 5 47 128 171 5 32 100 14 7 14 3 14 3 4 66 18 11 16 31 3 30 100 3 66 4 46 21 130 10 7 25 30 4 87 7 15 40 54 6 21 28 18 13 67 90 24 17 52 36 48Table 2 Generation interval display CPS = 229 Number of measurements = 10 800 73 77 33 49 4 8 48 3 2 113 26 5 21 24 45 77 38 21 12 31 20 36 102 102 128 10 95 10 29 8 82 45 38 82 14 66 12 116 84 9 38 7 87 51 103 52 164 11 32 49 3 14 15 7 46 45 23 60 63 31 30 6 4 49 90 73 14 26 5 28 6 17 83 22 7 98 15 15 24 64 32 18 35 3 18 70 2 69 63 35 41 31 37 50 42 64 23 13 67 3 17 43 120 101 11 39 2 19 20 46 53 28 128 18 58 26 69 30 64 65 76 12 18 36 32 89 17 21 99 2 6 3 92 80 68 102 7 10 49 23 28 239 16 71 39 16 50 19 23 12 11 18 9 2 15 11 55 5 38 18 31 6 43 3 23 11 14 44 46 25 10 24 51 3 36 62 60 50 71 23 34 95 36 14 38 65 46 19 4 10 32 21 60 4 25 29 43 24 16 10 28 28 39 11 2 43 23 10 40 80 2 18 11 27 18 2 36 53 85 7 26 29 28 24 19 18 12 21 7 31 3 17 47 11 6 58 136 15 18 29 164 20 15 44 44 55 20 5 47 128 171 5 32 100 14 7 14 3 14 3 4 66 18 11 16 31 3 30 100 3 66 4 46 21 130 10 7 25 30 4 87 7 15 40 54 6 21 28 18 13 67 90 24 17 52 36 48

【0043】選択計数値200CPSの発生間隔を表3
に示す。表3から明らかのように最小間隔は7、最大間
隔は1211であり、ここでも規則性がないことが理解
できる。 表3 発生間隔表示 cps=200 測定回数=10800 88 87 313 390 289 115 102 7 75 46 120 789 211 118 9 1521211 136 899 194 78 370 106 613 169 7233 327 76 249 88 201 258 106 185 220 269 121 303 404 318 97
Table 3 shows the generation intervals of the selected count value of 200 CPS.
Shown in. As is clear from Table 3, the minimum interval is 7 and the maximum interval is 1211, and it can be understood that there is no regularity here as well. Table 3 Occurrence interval display cps = 200 Number of measurements = 10 800 88 87 313 390 289 115 102 7 75 46 120 789 211 118 9 152 1211 136 899 194 78 370 106 613 169 7233 327 76 249 88 201 258 106 185 220 269 121 303 404 318 97

【0044】計測値を確率の目標値域へ収束させるに
は、第1にROM37や設定回路33を固定して、核種
と検出器との位置を変更し、入放射立体角を変更させ
て、α線の絶対個数を調整する方法がある。また、第 2
の方法は入放射立体角を固定して、α線の絶対個数を一
定させて、ROM37や設定回路33の条件を変更する
ものである。本願のランダムパルス発生装置はパチンコ
機等のゲーム機に限定して使用する場合は所定確率1/
220等に合わせて、入放射立体角や回路常数を固定す
る。しかし、一般的に各種のシュミレーションに使用す
る場合は、入放射立体角や回路常数を変更可能にして、
広い範囲の目標に合わせることができる。
In order to make the measured values converge to the target range of the probability, firstly, the ROM 37 and the setting circuit 33 are fixed, the positions of the nuclide and the detector are changed, and the incident / emitted solid angle is changed. There is a method to adjust the absolute number of lines. Also, the second
In this method, the incident / radiation solid angle is fixed, the absolute number of α rays is made constant, and the conditions of the ROM 37 and the setting circuit 33 are changed. The random pulse generator of the present application has a predetermined probability 1 / when it is used only for game machines such as pachinko machines.
In accordance with 220, etc., the incoming and outgoing solid angle and the circuit constant are fixed. However, in general, when used for various simulations, it is possible to change the incoming and outgoing solid angle and circuit constant,
Can adapt to a wide range of goals.

【0045】当たり確率を別の値とする他のゲーム機械
用にはランダムパルス発生装置の、上記設定する基準値
を変更して回路の焼き付けを行うことができる。このよ
うな、本願のランダムパルス発生装置を搭載したパチン
コ機等では、どの時点でも当たり確率は一定となる。プ
レイヤーにとっては法定確率以内の当たりが確保され、
健全娯楽としてのパチンコ機の普及に貢献する。また従
来では、当たりを決めるソフトは不正をまぬがれない
が、本願は自然現象を利用するので、人為的な不正はで
きなくなる。なお、この実施例では、核種として241 A
mのα崩壊を利用し、α崩壊により半導体検出素子が放
電するものを、説明したが、RIは別のものでもよい。
For other game machines whose hit probability is another value, the circuit can be printed by changing the above-mentioned reference value of the random pulse generator. In such a pachinko machine equipped with the random pulse generator of the present application, the hit probability is constant at any time. For the player, the hit within the legal probability is secured,
Contribute to the popularization of pachinko machines as a healthy entertainment. Further, in the past, the software for determining the hit cannot prevent fraud, but since the present application uses a natural phenomenon, artificial fraud cannot be performed. In this example, as the nuclide, 241 A
Although the α-decay of m is used to discharge the semiconductor detection element by the α-decay, the RI may be different.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上のように、本発明のランダムパルス
発生装置によれば、自然界でランダムな現象として起こ
るRIの崩壊を利用するので、製造技術や、時間変化に
よる偏りがなく、定時公平な当たり確率を作成できる。
また、本願のランダムパルス発生装置を搭載したパチン
コ機では当りが続けて起こると、いわゆる連ちゃんが起
きても1日の単位等、長時間では、当たり確率が一定に
なり、またパチンコ機の台によるバラツキがなくなる。
また、従来では、完成検査ではパチンコ機のROM内に
書き込まれたソフトを解読するため、長い時間を要して
いたが、本願はパチンコ機とは別体に、ランダムパルス
発生装置を単体として製作できるので、取扱が簡単にな
り、検証や試験や製作が容易になる。更に、このランダ
ムパルス発生装置はパチンコ機ばかりでなく乱数を利用
するシュミレーション実験に応用できる。
As described above, according to the random pulse generator of the present invention, the decay of RI, which occurs as a random phenomenon in nature, is utilized, so that there is no bias due to the manufacturing technique or time change, and the time is fair. You can create a winning probability.
In addition, in a pachinko machine equipped with the random pulse generator of the present application, if hits occur continuously, even if so-called Ren-chan occurs, the probability of hitting becomes constant for a long time, such as a unit of a day. The variation due to is eliminated.
Further, in the past, it took a long time to decode the software written in the ROM of the pachinko machine in the completion inspection, but this application was manufactured separately from the pachinko machine, and the random pulse generator was manufactured as a single unit. As a result, handling becomes easier, and verification, testing, and manufacturing become easier. Furthermore, this random pulse generator can be applied to not only pachinko machines but also simulation experiments using random numbers.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のランダムパルス発生装置の実測データ
のグラフ図である。
FIG. 1 is a graph of measured data of a random pulse generator of the present invention.

【図2】本発明のランダムパルス発生装置の多数回の実
測データのグラフ図である。
FIG. 2 is a graph diagram of actual measurement data of a large number of times of the random pulse generator of the present invention.

【図3】本発明を説明するためのガウス分布図である。FIG. 3 is a Gaussian distribution diagram for explaining the present invention.

【図4】本発明のランダムパルス発生装置を当たりの発
生を決定する装置に応用した回路のブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram of a circuit in which the random pulse generator of the present invention is applied to a device for determining the occurrence of a hit.

【図5】本発明に利用する崩壊現象を示す指数関数の図
である。
FIG. 5 is a diagram of an exponential function showing a collapse phenomenon used in the present invention.

【図6】本発明のランダムパルス発生装置の検出回路と
弁別回路部のブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram of a detection circuit and a discrimination circuit unit of the random pulse generator of the present invention.

【図7】本発明のランダムパルス発生装置の計数回路と
比較回路部のブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram of a counting circuit and a comparison circuit unit of the random pulse generator of the present invention.

【図8】本発明のランダムパルス発生装置の動作を説明
するタイミング図である。
FIG. 8 is a timing diagram illustrating the operation of the random pulse generator of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 放射性カプセル 31 検出装置 32 弁別回路 33 設定回路 34 スタート回路 36 カウンタ 37 ROM 38 比較回路 39 駆動回路 40 表示装置 43 前置増幅器 Rf 時定数抵抗 Cf 時定数容量 D 半導体検出素子 50 第1弁別回路 51 第2弁別回路 52 第3弁別回路 53 キャンセル回路 54 第1遅延回路 55 第2遅延回路 56 第1矩形パルス発生路 58 第2形パルス発生路 59 第3矩形パルス発生路 60 第1AND回路 62 第2AND回路 71、76〜77 デップスイッチ 73〜75 カウンタ 81、82 比較器30 radioactive capsule 31 detection device 32 discrimination circuit 33 setting circuit 34 start circuit 36 counter 37 ROM 38 comparison circuit 39 drive circuit 40 display device 43 preamplifier Rf time constant resistance Cf time constant capacitance D semiconductor detection element 50 first discrimination circuit 51 second discriminating circuit 52 third discriminating circuit 53 cancel circuit 54 first delay circuit 55 second delay circuit 56 first rectangular pulse generating circuits 58 second form pulse generating circuits 59 third rectangular pulse generating circuits 60 a 1AND circuit 62 Second AND circuit 71, 76-77 Dep switch 73-75 Counter 81, 82 Comparator

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上野 俊二 茨城県那珂郡那珂町向山1230池上通信機 株式会社水戸工場内 (56)参考文献 特開 平6−291620(JP,A) 特開 平6−154411(JP,A) 特開 平5−157847(JP,A) 特開 昭59−114918(JP,A) 特開 昭63−55629(JP,A) 特開 平7−162276(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 3/84 A63F 7/02 G06F 7/58 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Shunji Ueno 1230 Mukaiyama, Naka-cho, Naka-gun, Ibaraki Prefecture Ikegami Tsushinki Co., Ltd., Mito Plant (56) Reference JP-A-6-291620 (JP, A) JP-A-6 -154411 (JP, A) JP 5-157847 (JP, A) JP 59-114918 (JP, A) JP 63-55629 (JP, A) JP 7-162276 (JP, A) ) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H03K 3/84 A63F 7/02 G06F 7/58

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 放射性物質が放射するα、β、γ線につ
いて、これら各放射線を所定のエネルギーレベルを保有
する粒子として捕え、これらの粒子の放射分布が指数関
数の分布に従う点と、この指数関数において、放射され
る前記粒子の個数が,所定時間区間でk個である確率P
kは、ポアソンの分布式で表示される点と、前記粒子の
個数kが、一定の確率に従ってランダムに放射されるこ
とに着目し、放射線検出回路で検出した粒子の計数値
と、予め設定した一定の確率を与える基準値とを比較
し、これらが一致した時当たりパルスを発生させるラン
ダムパルス発生装置において、 微弱な放射性物質と、放射性物質に対面して配置され所
定の被爆立体角を占有するとともに、前記粒子をそのエ
ネルギーレベルに対応した強度の電気信号に変換する半
導体検出素子と、この電気信号から時定数信号を発生さ
せて増幅する増幅回路と、この時定数信号が前記粒子に
対応した強度範囲のエネルギーレベルであるものを弁別
する中波高弁別器と、時定数信号が前記粒子に対応した
強度以上の高エネルギーレベルであるものをノイズとし
て区別する高波高弁別器と、時定数信号が前記粒子に対
応した強度以下の低エネルギーレベルであるものをノイ
ズとして区別する低波高弁別器と、前記弁別された信号
を前記粒子の個数として計数し保持する計数回路と、こ
の計数回路に対して計数動作を継続させる計数時間をプ
ログラミングにより変更可能に設定する設定回路と、目
標の確率を与える基準値をプログラミングにより変更可
能に設定するメモリと、前記計数時間内に前記計数回路
に保持された計数値と前記基準値とを比較し一致したら
パルスを出力する比較回路とからなり、 前記被爆立体角と、前記計数時間と、前記基準値を目標
確率に合わせて設定して、各種の当たり確率を設定可能
にしたことを特徴とするランダムパルス発生装置。
1. Regarding α, β and γ rays emitted by a radioactive substance, each of these radiations is captured as particles having a predetermined energy level, and the radiation distribution of these particles follows an exponential distribution, and this index In the function, the probability P that the number of emitted particles is k in a predetermined time interval
Focusing on the point displayed by the Poisson distribution formula and that the number k of the particles is randomly emitted according to a certain probability, k is set in advance with the count value of the particles detected by the radiation detection circuit. A random pulse generator that compares a reference value that gives a certain probability and generates a per-hour pulse when they match, occupies a weak radioactive substance and a predetermined solid angle exposed to the radioactive substance. At the same time, a semiconductor detection element that converts the particles into an electric signal having an intensity corresponding to the energy level, an amplification circuit that generates a time constant signal from the electric signal and amplifies it, and the time constant signal corresponds to the particles. A medium wave height discriminator that discriminates energy levels in the intensity range and a high energy level whose time constant signal is higher than the intensity corresponding to the particles are selected. High wave height discriminator for distinguishing as noise, a low wave height discriminator for discriminating as noise a time constant signal having a low energy level equal to or lower than the intensity corresponding to the particle, and the discriminated signal as the number of particles. A counting circuit for counting and holding, a setting circuit for setting the counting time for continuing the counting operation for this counting circuit to be changeable by programming, and a memory for setting a reference value giving a target probability to be changeable by programming. , A comparing circuit for comparing the count value held in the counting circuit and the reference value within the counting time and outputting a pulse when they match, the exposed solid angle, the counting time, and the reference value A random pulse generator characterized in that various hit probabilities can be set according to a target probability.
【請求項2】 前記計数時間について前記粒子が何個放
射されるかを多数回計測し、この計測値である個数kの
出現頻度から一定の確率グラフを抽出し、この確率グラ
フから目標の確率を与える個数の基準値を決定するよう
にしたことを特徴とするランダムパルス発生装置。
2. The number of emitted particles is measured many times for the counting time, a certain probability graph is extracted from the appearance frequency of the number k, which is the measured value, and the target probability is extracted from this probability graph. A random pulse generator characterized in that a reference value of the number of given pulses is determined.
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