JP3348328B2 - Viterbi decoding device - Google Patents

Viterbi decoding device

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JP3348328B2
JP3348328B2 JP06470195A JP6470195A JP3348328B2 JP 3348328 B2 JP3348328 B2 JP 3348328B2 JP 06470195 A JP06470195 A JP 06470195A JP 6470195 A JP6470195 A JP 6470195A JP 3348328 B2 JP3348328 B2 JP 3348328B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、畳み込み符号を復号
するビタビ復号装置に関するもので、特に、パスメモリ
の構成に係わる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a Viterbi decoding device for decoding a convolutional code, and more particularly, to a configuration of a path memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば衛星通信では、畳み込み符号が用
いられ、その復号には、ビタビ復号が用いられている。
ビタビ復号は、状態遷移を表したトレリス線図を使っ
て、最尤系列の符号を推定するもので、ランダムエラー
に対する訂正能力が非常に大きい。衛星通信では、拘束
長が7程度の畳み込み符号が用いられているが、説明を
簡単とするため、ここでは、拘束長3の符号について説
明する。
2. Description of the Related Art For example, in satellite communication, a convolutional code is used, and Viterbi decoding is used for decoding.
Viterbi decoding estimates the code of the maximum likelihood sequence using a trellis diagram representing a state transition, and has a very large ability to correct random errors. In satellite communication, a convolutional code having a constraint length of about 7 is used, but for simplicity of description, a code with a constraint length of 3 will be described here.

【0003】図14は、拘束長3の畳み込み符号を発生
する符号器の一例である。この符号器は、2段のシフト
レジスタを構成するレジスタ102A、102Bと、加
算器103〜105とから構成されている。すなわち、
入力端子101からのデータが、レジスタ102A及び
102Bの縦続接続に供給されると共に、加算器103
及び104に供給される。レジスタ102A及び102
Bの段間の出力が加算器103に供給される。レジスタ
102Bの出力が加算器104及び105に供給され
る。加算器104及び105の出力が出力端子106A
及び106Bから取り出される。
FIG. 14 shows an example of an encoder that generates a convolutional code having a constraint length of 3. This encoder includes registers 102A and 102B constituting a two-stage shift register, and adders 103 to 105. That is,
The data from the input terminal 101 is supplied to the cascade connection of the registers 102A and 102B and the adder 103
And 104. Registers 102A and 102
The output between the B stages is supplied to the adder 103. The output of the register 102B is supplied to adders 104 and 105. The output of adders 104 and 105 is output terminal 106A.
And 106B.

【0004】この符号器の生成多項式は、 G11=1+D212=1+D+D2 で与えられる。このシフトレジスタ102A、102B
を状態遷移図で表すと、図15に示すようになる。この
図で1/11という記号は、入力が1のとき、11を出
力してこの枝のように遷移する、ということを意味す
る。シストレジスタ102A、102Bで設定できる状
態は、(00)、(01)、(10)、(00)の4通
りである。
The generator polynomial of this encoder is given by G 11 = 1 + D 2 G 12 = 1 + D + D 2 . These shift registers 102A and 102B
Is represented by a state transition diagram as shown in FIG. In this figure, the symbol 1/11 means that when the input is 1, it outputs 11 and transitions like this branch. There are four states that can be set by the cyst registers 102A and 102B: (00), (01), (10), and (00).

【0005】以上のような状態遷移図から、図16に示
すようなトレリス線図が描ける。この図において、実線
の枝は入力0による遷移を示し、破線の枝は入力1によ
り遷移を示す。枝に沿って書かれている数字は、その枝
の遷移が起きたときの出力である。例えば状態(00)
なら、次の状態は(00)か(01)の2通りであり、
入力符号が「0」なら(00)、「1」なら(01)で
ある。状態(01)なら、次の状態は、次の状態は(1
0)か(11)の2通りであり、入力符号が「0」なら
(10)、「1」なら(11)である。このように、各
状態に遷移するパスは、必ず2通りである。
[0005] From the above state transition diagram, a trellis diagram as shown in FIG. 16 can be drawn. In this figure, solid-line branches indicate transitions due to input 0, and dashed-line branches indicate transitions due to input 1. The numbers written along the branch are the output when the transition of that branch occurs. For example, state (00)
Then, the next state is either (00) or (01),
If the input code is "0", it is (00), and if it is "1", it is (01). If the state is (01), the next state is (1)
0) or (11). If the input code is "0", it is (10), and if the input code is "1", it is (11). As described above, there are always two types of paths that transit to each state.

【0006】ビタビ復号は、このようなトレリス線図を
使って、最尤系列の符号を推定するものである。つま
り、各状態に行く経路は、2通りである。ビタビ復号で
は、この2つのパスのうちから、尤度の高いパスを生き
残りパスとして選択していく。このようにして尤度の高
いパスを生き残りパスとして選択していくことで、デー
タが復号される。
[0006] Viterbi decoding estimates the code of the maximum likelihood sequence using such a trellis diagram. That is, there are two routes to each state. In Viterbi decoding, a path with a high likelihood is selected from these two paths as a surviving path. By selecting a path with a high likelihood as a surviving path in this way, data is decoded.

【0007】通常、ビタビ復号器は、ブランチメトリッ
ク演算回路と、ACS回路と、パスメモリと、判定回路
とから構成されている。ブランチメトリック演算回路
は、受信データと受信データの候補との距離を求めるも
のである。ACS回路は、過去のステートメトリックと
2つのパスのブランチメトリックとを加算して今回の2
つのパスのメトリックを求める加算器と、求められた2
つのパスのメトリックを比較するコンパレータと、この
コンパレータの出力から尤度の高いパスを選択するセレ
クタとから構成されている。パスメモリは、各状態での
生き残りパスを記憶するものである。判定回路は、各状
態のパスメモリの出力の最尤判定を行うものである。
Normally, a Viterbi decoder is composed of a branch metric operation circuit, an ACS circuit, a path memory, and a decision circuit. The branch metric calculation circuit is for calculating the distance between the reception data and the reception data candidate. The ACS circuit adds the past state metric and the branch metric of the two paths to obtain the current 2
Adder for calculating the metric of one path and 2 for the metric
It comprises a comparator for comparing the metrics of two paths, and a selector for selecting a path with a high likelihood from the output of this comparator. The path memory stores the surviving path in each state. The determination circuit performs the maximum likelihood determination of the output of the path memory in each state.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述の例では、説明を
簡単化するため、拘束長3の符号について述べたが、衛
星通信では、拘束長が7程度の畳込み符号が用いられて
いる。拘束長が3の符号の場合には、状態数は4である
が、拘束長が7の場合には、状態数は64にもなる。そ
して、衛星通信では、50〜60MHzの高速動作が要
求される。更に、パンクチャド符号を用いて、符号化率
を7/8にする場合、生き残りパスを記憶するパスメモ
リは、100段程度要求される。このため、従来のビタ
ビ復号器では、パスメモリの消費電力が増大するという
問題が生じている。
In the above example, a code with a constraint length of 3 has been described for the sake of simplicity. However, in satellite communication, a convolutional code with a constraint length of about 7 is used. When the constraint length is 3, the number of states is 4, and when the constraint length is 7, the number of states is 64. In satellite communication, a high-speed operation of 50 to 60 MHz is required. Furthermore, when the coding rate is set to 7/8 using punctured codes, about 100 stages of path memories for storing surviving paths are required. For this reason, the conventional Viterbi decoder has a problem that the power consumption of the path memory increases.

【0009】すなわち、図17は、従来のパスメモリセ
ルの構成を示すものである。図17において、111は
2入力セレクタ、112はDフリップフロップである。
セレクタ111のA入力端には、入力端子121からデ
ータが供給される。セレクタ111のB入力端には、入
力端子122からデータが供給される。セレクタ111
のセレクト信号入力端には、入力端子123から、AC
S回路のからのセレクト信号が供給される。セレクタ1
11の出力がDフリップフロップ112に供給される。
Dフリップフロップ112のクロック入力端には、入力
端子124からシステムクロックが供給される。Dフリ
ップフロップ112の出力が出力端子125から取り出
される。
FIG. 17 shows the structure of a conventional path memory cell. In FIG. 17, 111 is a two-input selector, and 112 is a D flip-flop.
Data is supplied from an input terminal 121 to an A input terminal of the selector 111. Data is supplied from an input terminal 122 to the B input terminal of the selector 111. Selector 111
Is connected to the input terminal 123 from the input terminal 123.
A select signal from the S circuit is supplied. Selector 1
The output of 11 is supplied to the D flip-flop 112.
A system clock is supplied from an input terminal 124 to a clock input terminal of the D flip-flop 112. The output of the D flip-flop 112 is taken out from the output terminal 125.

【0010】拘束長7の符号で、状態数が64の場合に
は、これらのセルが図18に示すように配される。この
場合、パスメモリ全体でフリップフロップの数が700
0個にもおよぶ。これらが全てシステムクロックに同期
して動作するため、その消費電力は膨大なものとなる。
このため、3.3Vの低電圧動作でも消費電力が2W近
くになり、素子の信頼性やパッケージコスト、搭載した
セットでの冷却の問題等が生じる。
In the case of a code having a constraint length of 7 and the number of states is 64, these cells are arranged as shown in FIG. In this case, the number of flip-flops in the entire path memory is 700
As many as zero. Since all of them operate in synchronization with the system clock, the power consumption is enormous.
For this reason, even at a low voltage operation of 3.3 V, the power consumption becomes close to 2 W, which causes problems such as reliability of the element, package cost, and cooling in a mounted set.

【0011】この対策として、SST方式と、4者択一
パスメモリ方式が提案されている。SST方式は、受信
データを簡易的に誤り訂正なしとして復号し、再び畳み
込み符号化して受信データとの差をとりパスメモリに入
力するものである。この方式は、差異のないところだけ
データの変化が起こるので、パスメモリでのラッチ反転
が減少し、消費電力は削減される。しかしながら、消費
電力全体に占めるラッチ反転の割合はおよそ2割程度で
あり、全体から見ると、この方法による改善効果は小さ
い。
As a countermeasure, an SST system and a four-pass memory system have been proposed. In the SST method, received data is simply decoded without error correction, convolutionally coded again, and a difference from the received data is obtained and input to a path memory. In this method, since data changes occur only in places where there is no difference, latch inversion in the path memory is reduced, and power consumption is reduced. However, the ratio of latch inversion to the total power consumption is about 20%, and the improvement effect by this method is small as a whole.

【0012】また、4者択一パスメモリ方式は、通常Q
PSK変調された1組のI/Q受信データに対してブラ
ンチメトリックの計算を行う所を、連続する2組のI/
Q受信データに対してブランチメトリック計算を行うも
のである。これにより、ACSでの生き残りパスの尤度
計算をシステムクロックの2回に1回行うようにし、こ
れに従ってパスメモリ部もシステムクロックの2倍の周
期で動作させ、低消費電力化を図るものである。回路構
成にもよるが、パスメモリではフリップフロップのトラ
ンスミッションゲート等システムクロックに同期して動
作する部分か消費電力の6割以上を占めているので、こ
の方法は低消費電力化には有効である。
[0012] The four-pass alternative memory system is usually
When calculating a branch metric for a set of PSK-modulated I / Q reception data, two consecutive sets of I / Q are used.
The branch metric calculation is performed on the Q reception data. As a result, the likelihood calculation of the surviving path in the ACS is performed once every two system clocks, and accordingly, the path memory unit is also operated at twice the cycle of the system clock, thereby achieving low power consumption. is there. Although depending on the circuit configuration, the path memory occupies 60% or more of the power consumption, such as a transmission gate of a flip-flop, which operates in synchronization with the system clock, and thus this method is effective for reducing the power consumption. .

【0013】しかし、尤度計算を2回に1回に減らすこ
とにより、従来は1つの受信データに対して4つのブラ
ンチメトリック演算を計算しているところを、2つの受
信データに対して16のブランチメトリック値を計算す
る必要が生じてくる。また、ACS回路では、従来のブ
ランチメトリック値とステートメトリック値の和を2組
求めてその大小を比較を行い、一方を選択する動作が行
われていたが、この方法では、ブランチメトリック値と
ステートメトリック値の和を4組求め、その中の最小値
を求めることになる。つまり、配線数や回路規模は2倍
以上になる。
However, by reducing the likelihood calculation to twice every two times, the conventional calculation of four branch metric calculations for one received data is different from the calculation of 16 branch metrics for two received data. It becomes necessary to calculate a branch metric value. Further, in the ACS circuit, a conventional operation of obtaining two sets of the sum of the branch metric value and the state metric value, comparing the sums, and selecting one of them is performed. Four sets of metric values are obtained, and the minimum value is obtained. That is, the number of wirings and the circuit scale are doubled or more.

【0014】また、従来のパスメモリでは、上述のよう
に、1つの状態毎にメモリセルを構成している。各メモ
リセルの結線は非常に複雑になる。このため、パスメモ
リセルをどのように結線するかがチップサイズに大きな
影響をもたらす。チップサイズが大きくなると、配線容
量が増大し、消費電力の増大につながる。また、多数の
フリップフロップが同時に動作するために、電源系を十
分に強化する必要が生じる。
Further, in the conventional path memory, as described above, a memory cell is formed for each state. The connection of each memory cell becomes very complicated. Therefore, how the path memory cells are connected has a great influence on the chip size. As the chip size increases, the wiring capacity increases, leading to an increase in power consumption. Further, since a large number of flip-flops operate at the same time, it is necessary to sufficiently strengthen the power supply system.

【0015】したがって、この発明の目的は、パスメモ
リの動作周波数を下げることで、消費電力の低減が図れ
るようにしたビタビ復号装置を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a Viterbi decoding device capable of reducing power consumption by lowering the operating frequency of a path memory.

【0016】この発明の他の目的は、最適な配線が行
え、チップサイズが減少し、消費電力の低減が図れるよ
うにしたビタビ復号装置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a Viterbi decoding device capable of performing optimum wiring, reducing the chip size, and reducing power consumption.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】この発明は、受信データ
と受信データの候補との距離を求めるブランチメトリッ
ク演算回路と、ブランチメトリックとステートメトリッ
クとを加算する加算器と、メトリックを比較するコンパ
レータと、メトリックから生き残りパスを選択するセレ
クタとからなるACS回路と、生き残りパスを記憶する
パスメモリとからなり、Nを処理段数を示す数とし、M
を状態数を示す数とし、拘束長をKとすると、第N段目
の状態M及び状態(M+2 (k−2) )と、第(N+
1)段目の状態(2M)及び状態(2M+1)をパスメ
モリセルとし、パスメモリセルからパスメモリを構成す
るようにしたビタビ復号装置である。
According to the present invention, there is provided a branch metric operation circuit for obtaining a distance between received data and a candidate for received data, an adder for adding a branch metric and a state metric, and a comparator for comparing the metrics. consists and ACS circuit comprising a selector for selecting the survivor path from the metric, the path memory for storing the survivor path, and the number indicating the number of processing stages the N, M
Is the number indicating the number of states, and the constraint length is K, the Nth stage
State (M + 2 (k-2) ) and the (N +
1) The state (2M) and the state (2M + 1) at the stage
This is a Viterbi decoding device in which a path memory is configured from a path memory cell as a memory cell .

【0018】この発明では、パスメモリセル、互いに
半周期位相が異なり、システムクロックの1/2周波数
のクロックで動作する2つのフリップフロップと、2つ
のフリップフロップの出力をシステムクロックにより交
互に振り分けるセレクタとからなる要素を2組で構成す
ようにしている。
According to the present invention, the path memory cells have two half-period phases different from each other and operate with a clock having a half frequency of the system clock, and outputs of the two flip-flops are alternately distributed according to the system clock. Configure two elements consisting of selectors
So that that.

【0019】[0019]

【作用】パスメモリセルでのシフト回路を、システムク
ロックの1/2の周波数で半周期位相の異なるクロック
で動作する2つのフリップフロップと、このフリップフ
ロップの出力を振り分けるセレクタとに置き換えている
ので、パスメモリのフリップフロップの動作周波数を1
/2に落とすことができる。
The shift circuit in the path memory cell is replaced by two flip-flops operating at clocks having a half frequency of the system clock and different in half-period phase, and a selector for distributing the output of the flip-flop. , The operating frequency of the flip-flop of the path memory is set to 1
/ 2.

【0020】拘束長がKの符号を用いた場合に、第N段
目の状態M及び状態(M+2(K-2))と、第(N+1)
段目の状態(2M)及び状態(2M+1)とからパスメ
モリセルが構成されている。更に、各パスメモリ間のト
レリス線図に基づく結線を第1の配線層により行い、各
パスの選択信号を第2の配線層により行い、かつ、パス
メモリセル回路が形成されている領域上では、第1及び
第の2配線が略直交している。これにより、パスメモリ
の配線が最適に行える。
When a code with a constraint length of K is used, the state M and the state (M + 2 (K−2) ) of the N-th stage and the state (N + 1)
The state (2M) and the state (2M + 1) in the stage form a path memory cell. Further, the connection based on the trellis diagram between the path memories is performed by the first wiring layer, the selection signal of each path is performed by the second wiring layer, and in the region where the path memory cell circuit is formed. , The first and second wirings are substantially orthogonal. Thereby, the wiring of the path memory can be optimally performed.

【0021】[0021]

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面参照
して説明する。図1は、この発明が適用できるビタビ復
号器の全体構成を示すものである。図1において、1A
及び1Bは、入力端子である。入力端子1A及び1B
に、受信データが供給される。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows the overall configuration of a Viterbi decoder to which the present invention can be applied. In FIG. 1, 1A
And 1B are input terminals. Input terminals 1A and 1B
Is supplied with received data.

【0022】なお、受信信号は、例えば、1/4πシフ
トQPSK変調されて送られてきたデータの復調出力で
ある。I軸の復調出力が入力端子1Aに供給され、Q軸
の復調出力が入力端子1Bに供給される。受信データ
は、例えば、拘束長7の畳込み符号を用いて符号化され
ている。拘束長7の符号器としては、例えば、図2に示
すように、シフトレジスタ11と、加算器12及び13
とからなるものが用いられる。
The received signal is, for example, a demodulated output of data transmitted after being subjected to 1 / 4π shift QPSK modulation. The demodulated output of the I axis is supplied to the input terminal 1A, and the demodulated output of the Q axis is supplied to the input terminal 1B. The received data is encoded using, for example, a convolutional code having a constraint length of 7. As an encoder having the constraint length 7, for example, as shown in FIG. 2, a shift register 11, adders 12 and 13
The following is used.

【0023】図2に示すような、拘束長7の畳み込み符
号器の場合、状態数は(26 =64)になる。そして、
各状態に遷移するパスは、夫々2通りのどちらかであ
る。すなわち、シフトレジスタ11の次の状態は、左に
1ビットシフトして、LSBに入力データが与えられた
ような状態となるので、図3に示すように、ある時点で
の状態が例えば「8(001000)」であったとする
と、以前の状態は「4(000100)」か「36(1
00100)」の何れかである。このような状態遷移か
らトレリス線図が作られる。この発明が適用されたビタ
ズ復号装置では、このような状態遷移を基にトレリス線
図が作られ、このトレリス線図から生き残りパスが選択
されていき、畳み込み符号が復号される。
In the case of a convolutional encoder having a constraint length of 7 as shown in FIG. 2, the number of states is (2 6 = 64). And
The path that transits to each state is one of two types. That is, the next state of the shift register 11 is shifted to the left by one bit, and becomes a state in which the input data is given to the LSB. Therefore, as shown in FIG. (001000) ", the previous state is" 4 (000100) "or" 36 (1
00100) ”. A trellis diagram is created from such state transitions. In the Vitaz decoding apparatus to which the present invention is applied, a trellis diagram is created based on such a state transition, a surviving path is selected from the trellis diagram, and a convolutional code is decoded.

【0024】入力端子1A及び1Bからの受信データが
ブランチメトリック演算回路2に供給される。ブランチ
メトリック演算回路2は、受信データと受信データの候
補との距離を求めるものである。すなわち、受信データ
(I,Q)の候補としては、(0,0)、(0,1)、
(1,0)、(1,1)があげられる。ブランチメトリ
ック演算回路2は、受信データ(I,Q)と、この受信
データの候補(0,0)、(0,1)、(1,0)、
(1,1)との距離を求め、これをブランチメトリック
BM00、BM01、BM10、BM11として出力す
る。
The data received from the input terminals 1A and 1B is supplied to the branch metric calculation circuit 2. The branch metric calculation circuit 2 calculates the distance between the reception data and the reception data candidate. That is, as candidates for the received data (I, Q), (0, 0), (0, 1),
(1,0) and (1,1). The branch metric calculation circuit 2 receives the received data (I, Q) and the candidates (0, 0), (0, 1), (1, 0),
The distance to (1,1) is obtained, and this is output as branch metrics BM00, BM01, BM10, and BM11.

【0025】なお、ブランチメトリック演算回路2で
は、軟判定と呼ばれる手法が用いられる。これは、復調
器で受信データを0か1かを判定してしまうと、伝送路
のノイズや歪みにより0と1との中間の値になりデータ
を誤判定する場合があるので、受信データを3ビット程
度で表わして、距離を求めるようにするものである。す
なわち、この場合、受信データ(I,Q)の候補は、
(000,000)、(000,111)、(111,
000)、(111,111)として表される。このよ
うに表現された候補と、受信データとの距離が求められ
る。
The branch metric calculation circuit 2 uses a technique called soft decision. This is because if the demodulator determines whether the received data is 0 or 1, the data becomes an intermediate value between 0 and 1 due to noise or distortion in the transmission path, and the data may be erroneously determined. The distance is calculated by expressing the distance in about three bits. That is, in this case, candidates for the reception data (I, Q) are:
(00000,000), (000,111), (111,
000) and (111,111). The distance between the candidate expressed in this way and the received data is obtained.

【0026】ブランチメトリック演算回路2の出力がA
CS回路3に供給される。ACS回路3は、ステートメ
トリックとその状態に到達する2つのパスのブランチメ
トリックとを加算する加算器と、求められた2つのパス
のメトリックを比較するコンパレータと、このコンパレ
ータの出力から生き残りパスを選択するセレクタとから
なる。
The output of the branch metric calculation circuit 2 is A
It is supplied to the CS circuit 3. The ACS circuit 3 adds an adder that adds a state metric and a branch metric of two paths that reach the state, a comparator that compares the obtained metrics of the two paths, and selects a surviving path from an output of the comparator. Selector.

【0027】図4は、ACS回路の具体的構成である。
図4において、入力端子21及び入力端子23に時点t
のブランチメトリックが供給される。入力端子22に、
状態mの時点(t−1)のステートメトリックが供給さ
れる。入力端子24に、状態(m+32)の時点(t−
1)のステートメトリックが供給される。
FIG. 4 shows a specific configuration of the ACS circuit.
In FIG. 4, the input terminal 21 and the input terminal 23
Are supplied. To the input terminal 22,
The state metric at the time (t-1) of the state m is supplied. The input terminal 24 is connected to the state (m + 32) at the time (t−
The state metric of 1) is supplied.

【0028】入力端子21からのブランチメトリック
と、入力端子22からのステートメトリックが加算器2
5に供給され、加算器される。入力端子23からのブラ
ンチメトリックと、入力端子24からのステートメトリ
ックが加算器26に供給され、加算される。
The adder 2 calculates the branch metric from the input terminal 21 and the state metric from the input terminal 22.
5 to be added. The branch metric from the input terminal 23 and the state metric from the input terminal 24 are supplied to the adder 26 and added.

【0029】加算器25の出力が比較器27に供給され
ると共に、セレクタ28に供給される。加算器26の出
力が比較器27に供給されると共に、セレクタ28に供
給される。
The output of the adder 25 is supplied to a comparator 27 and also to a selector 28. The output of the adder 26 is supplied to a comparator 27 and also to a selector 28.

【0030】比較器27で、加算器25の出力と加算器
26の出力とが比較され、その状態に到達する2つのパ
スの尤度が判断される。比較器27の出力がセレクタ2
8に供給される。比較器27は、求められたメトリック
から、2つのパスのうち尤度の高い方が出力されるよう
に、セレクタ28を切り換える。これにより、生き残り
パスが選択される。
The comparator 27 compares the output of the adder 25 with the output of the adder 26, and determines the likelihood of the two paths that reach that state. The output of the comparator 27 is the selector 2
8 is supplied. The comparator 27 switches the selector 28 such that the higher likelihood of the two paths is output from the obtained metric. Thereby, the surviving path is selected.

【0031】セレクタ28の出力がフリップフロップ2
9に供給される。フリップフロップ29には、端子30
からクロックが供給される。フリップフロップ29の出
力が出力端子31から出力される。
The output of the selector 28 is the flip-flop 2
9. The flip-flop 29 has a terminal 30
Is supplied with a clock. The output of the flip-flop 29 is output from the output terminal 31.

【0032】図1において、ACS回路3の出力がパス
メモリ4に供給される。パスメモリ4により、各状態で
の生き残りパスが記憶される。パスメモリ4の出力が判
定回路5に供給される。判定回路5により、各状態のパ
スメモリ4の出力の最尤判定が行われる。これにより、
受信データが復号される。復号されたデータは、出力端
子6から出力される。
In FIG. 1, the output of the ACS circuit 3 is supplied to a path memory 4. The path memory 4 stores the surviving paths in each state. The output of the path memory 4 is supplied to the determination circuit 5. The maximum likelihood determination of the output of the path memory 4 in each state is performed by the determination circuit 5. This allows
The received data is decoded. The decoded data is output from the output terminal 6.

【0033】パスメモリ4について詳述する。パスメモ
リ4は、上述のように、各状態での生き残りパスを記憶
するものである。この発明が適用されたパスメモリ4で
は、チップサイズの削減と、消費電力の低減が図られて
いる。
The path memory 4 will be described in detail. The path memory 4 stores the surviving path in each state as described above. In the path memory 4 to which the present invention is applied, the chip size and the power consumption are reduced.

【0034】すなわち、従来のパスメモリセルは、図1
7で示したように、各段の1つの状態を単位として構成
されている。これに対して、この発明が適用されたパス
メモリセルでは、第N段の2つの状態と、これに続く第
(N+1)段目の2つの状態とから、1つのパスメモリ
セルを構成している。このような構成とすると、配線が
最適に行なえる。
That is, the conventional path memory cell is the same as that shown in FIG.
As shown in FIG. 7, one state of each stage is configured as a unit. On the other hand, in the path memory cell to which the present invention is applied, one path memory cell is configured from the two states of the N-th stage and the two states of the (N + 1) -th stage that follow. I have. With such a configuration, wiring can be optimally performed.

【0035】つまり、拘束長7の符号を用いると、パン
クチャド符号を利用して符号化率を7/8にした場合
に、状態数64を1段として100段程度のパスメモリ
が必要とされる。そして、各段間の接続は、非常に複雑
になる。したがって、パスメモリの各段をどのように配
線するかがチップサイズに大きな影響を及ぼす。メタル
3層配線でレイアウトした場合、以下のようにすると最
適な配線になると考えられる。
In other words, when a code having a constraint length of 7 is used, when the coding rate is set to 7/8 by using a punctured code, about 100 stages of path memories are required with one stage number of 64 stages. You. And the connection between each stage becomes very complicated. Therefore, how each stage of the path memory is wired has a great influence on the chip size. In the case of laying out with metal three-layer wiring, it is considered that an optimum wiring is obtained in the following manner.

【0036】状態mのパスメモリからは、状態2mと状
態(2m+1)のパスメモリセルに結線される。このこ
とから、各段の中で、ある状態(状態m及び状態(m+
(K-2) ))を示すパスメモリと、その状態の次の状態
(状態2m及び(2m+1))を示すパスメモリとを隣
接して配置すれば、前段からの結線は1本で済む。これ
により段間結線は半分の64本でよくなる。
The path memory in the state m is connected to the path memory cells in the states 2m and (2m + 1). From this, in each stage, a certain state (state m and state (m +
2 (K-2) )) and a path memory indicating the next state (states 2m and (2m + 1)) next to that state are arranged adjacent to each other, so that only one connection is required from the preceding stage. . As a result, the number of inter-stage connections can be reduced to a half of 64 lines.

【0037】次に、パスメモリ間の接線であるが、結線
の規則から最低でも32本程度交差部分が生じてまう。
この交差部分の幅はメタル配線のピッチで決まるので、
接線方向に対して直交する方向の長さが短い方が交差部
分の面積は小さくなる。但し、その長さは(配線ピッチ
×64)以上なければならない。更に、セルの上を配線
が密接して通ると、配線のパスメモリセルのコンタクト
領域を大きくとらなければならなくなる。このことか
ら、パスメモリセルの各段の形状は、図5に示すような
形状より、図5Bに示すような正方形に近い方が望まし
い。
Next, as for the tangent line between the path memories, at least about 32 intersections may occur due to the rules of connection.
Since the width of this intersection is determined by the pitch of the metal wiring,
The shorter the length in the direction perpendicular to the tangential direction, the smaller the area of the intersection. However, its length must be (wiring pitch × 64) or more. Furthermore, if the wiring passes closely over the cell, the contact area of the path memory cell of the wiring must be increased. For this reason, the shape of each stage of the path memory cell is preferably closer to a square as shown in FIG. 5B than to a shape as shown in FIG.

【0038】信号線と電源線への配線層の割当は、パス
メモリセルの回路上では、図6に示すように、パス接続
線を第1の配線層で行い、ACS選択線を第2の配線層
でパス接続線とは直交する方向に行うことが望ましい。
両者を別の配線層にすることは当然のことであるが、直
交させるのは、段間でのパス接続線の交差を第2の配線
層を使って行うためである。
The wiring layers are allocated to the signal lines and the power supply lines on the path memory cell circuit, as shown in FIG. 6, by making the path connection lines in the first wiring layer and by setting the ACS selection lines in the second wiring layer. It is desirable that the wiring be performed in a direction orthogonal to the path connection line in the wiring layer.
It is a matter of course that both are formed in different wiring layers, but the reason why they are made orthogonal is that the intersection of the path connection lines between the stages is performed using the second wiring layer.

【0039】この発明が適用されたパスメモリセルで
は、図7Bに示すように、第N段の2つの状態と、これ
に続く第(N+1)段目の2つの状態とからパスメモリ
セルが構成される。そして、図7Aに示すように、略正
方形に近い状態に、セルが配置される。そして、パス接
続線が第1の配線層で行われ、ACS選択線が第2の配
線層で、パス接続線とは直交する方向に、行われてい
る。
In the path memory cell to which the present invention is applied, as shown in FIG. 7B, the path memory cell is composed of the two states of the N-th stage and the following two states of the (N + 1) -th stage. Is done. Then, as shown in FIG. 7A, the cells are arranged in a state close to a substantially square. The path connection line is formed in the first wiring layer, and the ACS selection line is formed in the second wiring layer in a direction orthogonal to the path connection line.

【0040】更に、この発明が適用されたパスメモリセ
ルでは、Dフリップフロップにより1クロックシフトさ
せる代わりに、システムクロックの1/2の周波数で半
周期位相のずれたクロックで動作する2つのDフリップ
フロップによりセレクタの出力を取込み、この2つのD
フリップフロップの出力を交互に取り出すようにしてい
る。これにより、フリップフロップの動作周波数が下が
り、低消費電力化が図れる。
Further, in the path memory cell to which the present invention is applied, two D flip-flops which operate with a clock having a half cycle of a system clock and a half cycle phase shift, instead of being shifted by one clock by a D flip-flop. The output of the selector is fetched by the
The output of the flip-flop is taken out alternately. Thus, the operating frequency of the flip-flop is reduced, and power consumption can be reduced.

【0041】図8は、この発明が適用されたビタビ復号
装置におけるパスメモリセルの一例である。このパスメ
モリセルは、第N段の状態mと状態(m+32)と、こ
れに続く第(N+1)段目の状態2mと状態(2m+
1)との、4つの部分を1つのパスメモリセルとして構
成したものである。
FIG. 8 shows an example of a path memory cell in a Viterbi decoder to which the present invention is applied. The path memory cell has the state m and the state (m + 32) of the Nth stage, and the state 2m and the state (2m +
4) are configured as one pass memory cell.

【0042】図8において、入力端子31及び32に
は、状態mに行く前段からの2つのデータが供給され
る。入力端子31及び32からのデータがセレクタ35
のA側入力及びB側入力に夫々に供給される。セレクタ
35には、端子37から、ACS回路からの出力に基づ
くセレクト信号が供給される。
In FIG. 8, two data are supplied to the input terminals 31 and 32 from the stage before going to the state m. The data from the input terminals 31 and 32 is
Are supplied to the A-side input and the B-side input, respectively. A selector 37 is supplied with a select signal from a terminal 37 based on an output from the ACS circuit.

【0043】セレクタ35の出力がフリップフロップ4
1及び42に供給される。フリップフロップ41には、
クロックCK1が供給される。フリップフロップ42に
は、クロックCK2が供給される。クロックCK1及び
CK2は、システムクロックCKの1/2の周波数のク
ロックで、互いに半周期位相がずらされている。フリッ
プフロップ41及び42の出力がセレクタ45のA側入
力及びB側入力に夫々供給される。セレクタ45には、
端子47から、システムクロックCKがセレクト信号と
して供給される。セレクタ45の出力がセレクタ51の
A側入力及びセレクタ52のA側入力に供給される。
The output of the selector 35 is the flip-flop 4
1 and 42. In the flip-flop 41,
The clock CK1 is supplied. The clock CK2 is supplied to the flip-flop 42. The clocks CK1 and CK2 are clocks having a frequency half of that of the system clock CK, and are shifted in phase by half a period from each other. Outputs of the flip-flops 41 and 42 are supplied to an A-side input and a B-side input of the selector 45, respectively. In the selector 45,
From the terminal 47, a system clock CK is supplied as a select signal. The output of the selector 45 is supplied to the A-side input of the selector 51 and the A-side input of the selector 52.

【0044】入力端子33及び34からのデータがセレ
クタ36のA側入力及びB側入力に夫々供給される。セ
レクタ36には、端子38から、ACS回路の出力に基
づく、セレクト信号が供給される。
Data from the input terminals 33 and 34 are supplied to the A-side input and the B-side input of the selector 36, respectively. A selector 36 is supplied with a select signal from a terminal 38 based on the output of the ACS circuit.

【0045】セレクタ36の出力がフリップフロップ4
3及び44に供給される。フリップフロップ43には、
クロックCK1が供給される。フリップフロップ44に
は、クロックCK2が供給される。フリップフロップ4
3及び44の出力がセレクタ46のA側入力及びB側入
力に夫々供給される。セレクタ46には、端子48か
ら、システムクロックCKがセレクト信号として供給さ
れる。セレクタ46の出力がセレクタ51のB側入力及
びセレクタ52のB側入力に供給される。
The output of the selector 36 is the flip-flop 4
3 and 44. In the flip-flop 43,
The clock CK1 is supplied. The clock CK2 is supplied to the flip-flop 44. Flip-flop 4
The outputs of 3 and 44 are supplied to the A-side input and B-side input of the selector 46, respectively. The selector 46 is supplied with a system clock CK from a terminal 48 as a select signal. The output of the selector 46 is supplied to the B-side input of the selector 51 and the B-side input of the selector 52.

【0046】セレクタ51には、端子53からセレクト
信号が供給される。セレクタ51の出力が出力端子55
から出力される。セレクタ52には、端子54からセレ
クト信号が供給される。セレクタ52の出力が出力端子
56から出力される。
The selector 51 is supplied with a select signal from a terminal 53. The output of selector 51 is output terminal 55
Output from The selector 52 is supplied with a select signal from a terminal 54. The output of the selector 52 is output from the output terminal 56.

【0047】図9は、上述のメモリセルの各部の動作を
示すタイミングチャートである。図9において、入力端
子31に、図9Dに示すように、データD10、D1
1、D12、…が供給され、入力端子32に、図9Eに
示すように、データD20、D21、D22、…が供給
される。セレクト信号入力端子37には、図9Fに示す
ように、セレクト信号が供給される。このセレクト信号
により、入力端子31からのデータと、入力端子32か
らのデータとが選択される。セレクタ35の出力がDフ
リップフロップ41及び42に供給される。
FIG. 9 is a timing chart showing the operation of each part of the above-mentioned memory cell. In FIG. 9, as shown in FIG. 9D, data D10, D1
Are supplied to the input terminal 32, and data D20, D21, D22,... Are supplied to the input terminal 32 as shown in FIG. 9E. A select signal is supplied to the select signal input terminal 37 as shown in FIG. 9F. With this select signal, data from the input terminal 31 and data from the input terminal 32 are selected. The output of the selector 35 is supplied to D flip-flops 41 and 42.

【0048】Dフリップフロップ41には、図9Bに示
すようなクロックCK1が供給され、Dフリップフロッ
プ42には、図9C示すように、このクロックCK1と
半周期位相の異なるクロックCK2が供給される。Dフ
リップフロップ41には、このクロックCK1で、セレ
クタ35の出力が取り込まれる。また、Dフリップフロ
ップ42には、このクロックCK2で、セレクタ35の
出力が取り込まれる。したがって、フリップフロップ4
1からは、図9Gに示すように、データが出力される。
フリップフロップ42からは、図9Hに示すように、デ
ータが出力される。
A clock CK1 as shown in FIG. 9B is supplied to the D flip-flop 41, and a clock CK2 having a half-period phase different from that of the clock CK1 is supplied to the D flip-flop 42 as shown in FIG. 9C. . The output of the selector 35 is taken into the D flip-flop 41 by the clock CK1. The output of the selector 35 is taken into the D flip-flop 42 by the clock CK2. Therefore, flip-flop 4
1 outputs data as shown in FIG. 9G.
Data is output from the flip-flop 42 as shown in FIG. 9H.

【0049】入力端子33に、図9Iに示すように、デ
ータD30、D31、D32、…が供給され、入力端子
34に、図9Jに示すように、データD40、D41、
D42、…が供給される。セレクト信号入力端子38に
は、図9Kに示すように、セレクト信号が供給される。
このセレクト信号により、入力端子33からのデータ
と、入力端子34からのデータとが選択される。セレク
タ36の出力がDフリップフロップ43及び44に供給
される。
As shown in FIG. 9I, data D30, D31, D32,... Are supplied to the input terminal 33, and data D40, D41,.
D42,... Are supplied. The select signal input terminal 38 is supplied with a select signal as shown in FIG. 9K.
With this select signal, data from the input terminal 33 and data from the input terminal 34 are selected. The output of the selector 36 is supplied to D flip-flops 43 and 44.

【0050】Dフリップフロップ43には、図9Bに示
すようなクロックCK1が供給され、Dフリップフロッ
プ44には、図9C示すように、このクロックCK1と
半周期位相の異なるクロックCK2が供給される。Dフ
リップフロップ43には、このクロックCK1で、セレ
クタ36の出力が取り込まれる。また、Dフリップフロ
ップ44には、このクロックCK2で、セレクタ36の
出力が取り込まれる。したがって、フリップフロップ4
3からは、図9Lに示すように、データが出力される。
フリップフロップ42からは、図9Mに示すように、デ
ータが出力される。
A clock CK1 as shown in FIG. 9B is supplied to the D flip-flop 43, and a clock CK2 having a half-period phase different from that of the clock CK1 is supplied to the D flip-flop 44 as shown in FIG. 9C. . The output of the selector 36 is taken into the D flip-flop 43 by the clock CK1. The output of the selector 36 is taken into the D flip-flop 44 by the clock CK2. Therefore, flip-flop 4
3 outputs data as shown in FIG. 9L.
Data is output from the flip-flop 42 as shown in FIG. 9M.

【0051】フリップフロップ41の出力及びフリップ
フロップ42の出力がセレクタ45に供給される。セレ
クタ45には、端子47から、図9Aに示すシステムク
ロックCKが供給される。フリップフロップ41の出力
(図9G)とフリップフロップ42の出力(図9H)と
が、セレクタ45により、システムクロックCKで振り
分けられる。これにより、セレクタ45からは、図9N
に示すように、データが出力される。
The output of the flip-flop 41 and the output of the flip-flop 42 are supplied to the selector 45. The selector 47 is supplied with the system clock CK shown in FIG. The output of the flip-flop 41 (FIG. 9G) and the output of the flip-flop 42 (FIG. 9H) are distributed by the selector 45 by the system clock CK. As a result, the selector 45 outputs the signal from FIG.
The data is output as shown in FIG.

【0052】フリップフロップ43の出力及びフリップ
フロップ44の出力がセレクタ46に供給される。セレ
クタ46には、端子48から、図9Aに示すシステムク
ロックCKが供給される。フリップフロップ43の出力
(図9L)とフリップフロップ44の出力(図9M)と
が、セレクタ46により、システムクロックCKで振り
分けられる。これにより、セレクタ46からは、図9O
に示すように、データが出力される。
The output of the flip-flop 43 and the output of the flip-flop 44 are supplied to the selector 46. The selector 46 is supplied with the system clock CK shown in FIG. The output of the flip-flop 43 (FIG. 9L) and the output of the flip-flop 44 (FIG. 9M) are distributed by the selector 46 by the system clock CK. As a result, the selector 46 outputs
The data is output as shown in FIG.

【0053】セレクタ51には、図9Pに示すように、
セレクト信号が供給される。このセレクト信号により、
セレクタ45の出力(図9N)と、セレクタ46の出力
(図9O)とが選択される。これにより、出力端子55
からは、図9Qに示すように、データが出力される。
As shown in FIG. 9P, the selector 51
A select signal is supplied. By this select signal,
The output of the selector 45 (FIG. 9N) and the output of the selector 46 (FIG. 9O) are selected. Thereby, the output terminal 55
, Data is output as shown in FIG. 9Q.

【0054】セレクタ52には、図9Rに示すように、
セレクト信号が供給される。このセレクト信号により、
セレクタ45の出力(図9N)と、セレクタ46の出力
(図9O)とが選択される。これにより、出力端子56
からは、図9Sに示すように、データが出力される。
As shown in FIG. 9R, the selector 52
A select signal is supplied. By this select signal,
The output of the selector 45 (FIG. 9N) and the output of the selector 46 (FIG. 9O) are selected. Thereby, the output terminal 56
, Data is output as shown in FIG. 9S.

【0055】なお、N段の出力、即ちセレクタ45及び
46の出力は、従来のパスメモリセルで構成した場合の
N段の出力を1クロック遅延させたものとなっている。
これは、メモリセルの出力、即ち出力端子55及び56
の出力のタイミングを、従来のメモリセルで構成した場
合と一致させるためである。そのために、(N+1)段
のセレクト信号は、通常のセレクト信号を1クロック遅
延させたものを用意する必要がある。
The outputs of the N stages, that is, the outputs of the selectors 45 and 46 are obtained by delaying the output of the N stage in the case of the conventional path memory cell by one clock.
This is the output of the memory cell, ie, the output terminals 55 and 56.
Is made to coincide with the output timing of the conventional memory cell. For this purpose, it is necessary to prepare a (N + 1) -stage select signal that is obtained by delaying the normal select signal by one clock.

【0056】このようなパスメモリセルが、従来のパス
メモリセルと同様な動作をすることを確認するために、
従来のパスメモリセルで、第N段の状態mと状態(m+
32)と、第(N+1)段目の状態2mと状態(2m+
1)との、4つの部分を構成した例について、以下に説
明する。
In order to confirm that such a path memory cell performs the same operation as the conventional path memory cell,
In the conventional path memory cell, the state m and the state (m +
32), the state 2m and the state (2m +
An example in which the four parts 1) and 1) are configured will be described below.

【0057】図10において、151Aは、n段の状態
mのパスメモリセル、151Bは、n段の状態(m+3
2)のパスメモリセルである。151Cは、(n+1)
段の状態2mのパスメモリセル、151Dは、(n+
1)段の状態(2m+1)のパスメモリセルである。
In FIG. 10, 151A is an n-stage state memory cell in the state m, and 151B is an n-stage state memory (m + 3).
2) Path memory cell. 151C is (n + 1)
The path memory cell 151D in the state 2m of the stage is (n +
1) The path memory cell in the state (2m + 1) of the stage.

【0058】パスメモリセル151Aのセレクタ111
Aには、入力端子121A及び122Aを介して、前段
からの2つのデータが供給される。セレクタ111Aで
2つのデータのうちの1つが選択され、これがDフリッ
プフロップ112Aを介して出力される。同様に、パス
メモリセル151Bのセレクタ111Bには、入力端子
121B及び122Bを介して、前段からの2つのデー
タが供給される。セレクタ111Bで2つのデータのう
ちの1つが選択され、これがDフリップフロップ112
Bを介して出力される。
Selector 111 of path memory cell 151A
A is supplied with two data from the preceding stage via input terminals 121A and 122A. One of the two data is selected by the selector 111A, and is output via the D flip-flop 112A. Similarly, two data from the preceding stage are supplied to the selector 111B of the path memory cell 151B via the input terminals 121B and 122B. One of the two data is selected by the selector 111B, and this is
Output via B.

【0059】パスメモリセル151Cのセレクタ111
Cには、入力端子121C及び122Cを介して、パス
メモリセル151A及び151Bからの2つのデータが
供給される。セレクタ111Cで2つのデータのうちの
1つが選択され、これがDフリップフロップ112Cを
介して、出力端子125Cから出力される。同様に、パ
スメモリセル151Dのセレクタ111Dには、入力端
子121D及び122Dを介して、パスメモリセル15
1A及び151Bからの2つのデータが供給される。セ
レクタ111Dで2つのデータのうちの1つが選択さ
れ、これがDフリップフロップ112Dを介して、出力
端子125Dから出力される。
The selector 111 of the path memory cell 151C
C is supplied with two data from the path memory cells 151A and 151B via the input terminals 121C and 122C. One of the two data is selected by the selector 111C, and this is output from the output terminal 125C via the D flip-flop 112C. Similarly, the path memory cell 151 is connected to the selector 111D of the path memory cell 151D via the input terminals 121D and 122D.
Two data from 1A and 151B are provided. One of the two data is selected by the selector 111D, and is output from the output terminal 125D via the D flip-flop 112D.

【0060】図11は、上述のように、2段のパスメモ
リを構成した場合の各部データを示すタイミングチャー
トである。図11において、メモリセル151Aの入力
端子121Aに、図11Bに示すように、データD1
0、D11、D12、…が供給され、入力端子122A
に、図11Cに示すように、データD20、D21、D
22、…が供給される。メモリセル151Aのセレクト
信号入力端子123Aには、図11Dに示すように、セ
レクト信号が供給される。このセレクト信号により、入
力端子121Aからのデータと、入力端子122Bから
のデータとが選択される。選択されたデータは、Dフリ
ップフロップ112Aで1クロック遅延されて出力され
る。したがって、出力端子125Aからは、図11Fに
示すようにデータが出力される。
FIG. 11 is a timing chart showing data of each part when a two-stage path memory is configured as described above. In FIG. 11, as shown in FIG. 11B, the data D1 is input to the input terminal 121A of the memory cell 151A.
0, D11, D12,... Are supplied to the input terminal 122A.
As shown in FIG. 11C, data D20, D21, D
, Are supplied. The select signal is supplied to the select signal input terminal 123A of the memory cell 151A, as shown in FIG. 11D. With this select signal, data from the input terminal 121A and data from the input terminal 122B are selected. The selected data is output after being delayed by one clock in the D flip-flop 112A. Therefore, data is output from the output terminal 125A as shown in FIG. 11F.

【0061】また、メモリセル151Bの入力端子12
1Bに、図11Fに示すように、データD30、D3
1、D32、…が供給され、入力端子122Bに、図1
1Gに示すように、データD40、D41、D42、…
が供給される。メモリセル151Bのセレクト信号入力
端子123Bには、図11Hに示すように、セレクト信
号が供給される。このセレクト信号により、入力端子1
21Bからのデータと、入力端子122Bからのデータ
とが選択される。選択されたデータは、Dフリップフロ
ップ112Bで1クロック遅延されて出力される。した
がって、出力端子125Bからは、図11Iに示すよう
にデータが出力される。
The input terminal 12 of the memory cell 151B
1B, as shown in FIG. 11F, data D30, D3
, D32,... Are supplied to the input terminal 122B.
As shown in FIG. 1G, data D40, D41, D42,.
Is supplied. The select signal is supplied to the select signal input terminal 123B of the memory cell 151B as shown in FIG. 11H. By this select signal, the input terminal 1
The data from 21B and the data from input terminal 122B are selected. The selected data is output after being delayed by one clock in the D flip-flop 112B. Therefore, data is output from the output terminal 125B as shown in FIG. 11I.

【0062】メモリセル151Cの入力端子121Cに
は、メモリセル151Aの出力(図11E)が供給さ
れ、入力端子122Bには、メモリセル151Bの出力
(図11I)が供給される。メモリセル151Cのセレ
クト信号入力端子123Cには、図11Jに示すよう
に、セレクト信号が供給される。このセレクト信号によ
り、入力端子121Cからのデータと、入力端子122
Cからのデータとが選択される。選択されたデータは、
Dフリップフロップ112Cで1クロック遅延されて出
力される。したがって、出力端子125Cからは、図1
1Kに示すようにデータが出力される。
The output (FIG. 11E) of the memory cell 151A is supplied to the input terminal 121C of the memory cell 151C, and the output (FIG. 11I) of the memory cell 151B is supplied to the input terminal 122B. The select signal is supplied to the select signal input terminal 123C of the memory cell 151C as shown in FIG. 11J. By this select signal, the data from the input terminal 121C and the input terminal 122
The data from C is selected. The selected data is
The output is delayed by one clock in the D flip-flop 112C. Therefore, from the output terminal 125C, FIG.
Data is output as shown in 1K.

【0063】メモリセル151Dの入力端子121Dに
は、メモリセル151Aの出力(図11E)が供給さ
れ、入力端子122Dには、メモリセル151Bの出力
(図11I)が供給される。メモリセル151Dのセレ
クト信号入力端子123Dには、図11Lに示すよう
に、セレクト信号が供給される。このセレクト信号によ
り、入力端子121Dからのデータと、入力端子122
Dからのデータとが選択される。選択されたデータは、
Dフリップフロップ112Dで1クロック遅延されて出
力される。したがって、出力端子125Dからは、図1
1Mに示すようにデータが出力される。
The output (FIG. 11E) of the memory cell 151A is supplied to the input terminal 121D of the memory cell 151D, and the output (FIG. 11I) of the memory cell 151B is supplied to the input terminal 122D. The select signal is supplied to the select signal input terminal 123D of the memory cell 151D as shown in FIG. 11L. By this select signal, the data from the input terminal 121D and the input terminal 122
The data from D is selected. The selected data is
The output is delayed by one clock by the D flip-flop 112D. Therefore, from the output terminal 125D, FIG.
Data is output as shown in FIG.

【0064】図9Q及び図9Sと、図11K及び図11
Sとを比較すれば分かるように、この発明が適用された
パスメモリセルは、従来と同様の動作を行うことができ
る。
FIGS. 9Q and 9S and FIGS. 11K and 11
As can be seen from a comparison with S, the path memory cell to which the present invention is applied can perform the same operation as the conventional one.

【0065】図12は、従来のパスメモリを用いたビダ
ビ復号装置と、4者択一方式を用いたビタビ復号装置
と、この発明が適用されたビタビ復号装置とを、回路規
模で比較したものであり、図13は、動作性能で比較し
たものである。図12及び図13から、本願発明の効果
は、明らかである。つまり、この発明が適用さたビタビ
復号装置及び4者択一方式では、従来方式に比べて、パ
スメモリのクロックレートを落とすことができ、消費電
力が低減できる。4者択一方式は、回路規模の点で不利
である。この発明が適用されたビタビ復号装置は、消費
電力の低減が図れると共に、回路規模が殆ど増大しな
い。
FIG. 12 is a circuit size comparison between a conventional Viterbi decoding device using a path memory, a Viterbi decoding device using the four-choice method, and a Viterbi decoding device to which the present invention is applied. FIG. 13 shows a comparison in operation performance. The effects of the present invention are clear from FIGS. That is, in the Viterbi decoding device and the four-choice method to which the present invention is applied, the clock rate of the path memory can be reduced and the power consumption can be reduced as compared with the conventional method. The four-choice method is disadvantageous in terms of circuit scale. In the Viterbi decoding device to which the present invention is applied, power consumption can be reduced, and the circuit scale hardly increases.

【0066】[0066]

【発明の効果】この発明によれは、パスメモリセルでの
シフト回路を、システムクロックの1/2の周波数で半
周期位相の異なるクロックで動作する2つのフリップフ
ロップと、このフリップフロップの出力を振り分けるセ
レクタとに置き換えているので、パスメモリのフリップ
フロップの動作周波数を1/2に落とすことができる。
このため、消費電力の大幅な削減を図ることができる。
According to the present invention, a shift circuit in a path memory cell is provided with two flip-flops operating at clocks having a half frequency of a system clock and different half-cycle phases, and an output of the flip-flop. Since the selector is replaced with a selector for distribution, the operating frequency of the flip-flop of the path memory can be reduced to half.
Therefore, the power consumption can be significantly reduced.

【0067】また、この発明によれば、拘束長がKの符
号を用いた場合に、第N段目の状態M及び状態(M+2
(K-2) )と、第(N+1)段目の状態(2M)及び状態
(2M+1)とからパスメモリセルが構成されている。
更に、各パスメモリ間のトレリス線図に基づく結線を第
1の配線層により行い、各パスの選択信号を第2の配線
層により行い、かつ、パスメモリセル回路が形成されて
いる領域上では、第1及び第2の配線が略直交してい
る。これにより、パスメモリの配線が最適に行える。
Further, according to the present invention, when a code having a constraint length of K is used, the state M and the state (M + 2
(K-2) ) and the state (2M) and the state (2M + 1) of the (N + 1) -th stage constitute a path memory cell.
Further, the connection based on the trellis diagram between the path memories is performed by the first wiring layer, the selection signal of each path is performed by the second wiring layer, and in the region where the path memory cell circuit is formed. , The first and second wirings are substantially orthogonal. Thereby, the wiring of the path memory can be optimally performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明が適用できるビタビ復号装置の一例の
ブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図2】この発明が適用できるビタビ復号装置における
符号の説明に用いるブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram used for describing codes in a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図3】この発明が適用できるビタビ復号装置の説明に
用いる略線図である。
FIG. 3 is a schematic diagram used for describing a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図4】この発明が適用できるビタビ復号装置における
ACS回路の一例のブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram of an example of an ACS circuit in a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図5】この発明が適用できるビタビ復号装置の説明に
用いる略線図である。
FIG. 5 is a schematic diagram used for describing a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図6】この発明が適用できるビタビ復号装置の説明に
用いる略線図である。
FIG. 6 is a schematic diagram used for describing a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図7】この発明が適用できるビタビ復号装置の説明に
用いる略線図である。
FIG. 7 is a schematic diagram used for describing a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図8】この発明が適用できるビタビ復号装置における
パスメモリの一例のブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram of an example of a path memory in a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図9】この発明が適用できるビタビ復号装置における
パスメモリの説明に用いるタイミング図である。
FIG. 9 is a timing chart used to describe a path memory in a Viterbi decoding device to which the present invention can be applied.

【図10】パスメモリの説明に用いるブロック図であ
る。
FIG. 10 is a block diagram used for explaining a path memory.

【図11】パスメモリの説明に用いるタイミング図であ
る。
FIG. 11 is a timing chart used for explaining a path memory.

【図12】この発明の一実施例の説明に用いる略線図で
ある。
FIG. 12 is a schematic diagram used for describing one embodiment of the present invention.

【図13】この発明の一実施例の説明に用いる略線図で
ある。
FIG. 13 is a schematic diagram used for describing one embodiment of the present invention.

【図14】畳込み符号の説明に用いるブロック図であ
る。
FIG. 14 is a block diagram used for describing a convolutional code.

【図15】畳込み符号の説明に用いる状態遷移図であ
る。
FIG. 15 is a state transition diagram used for describing a convolutional code.

【図16】ビタビ復号の説明に用いるトレリス線図であ
る。
FIG. 16 is a trellis diagram used for describing Viterbi decoding.

【図17】従来のパスメモリセルの一例のブロック図で
ある。
FIG. 17 is a block diagram of an example of a conventional path memory cell.

【図18】従来のパスメモリの説明に用いるブロック図
である。
FIG. 18 is a block diagram used for explaining a conventional path memory.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 ブラチメトリック演算回路 3 ACS回路 4 パスメモリ 35、36、45、46、51、52 セレクタ 41、42、43、44 フリップフロップ 2 Brachymetric operation circuit 3 ACS circuit 4 Path memory 35, 36, 45, 46, 51, 52 Selector 41, 42, 43, 44 Flip-flop

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 13/00 H04B 14/00 H04L 25/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H03M 13/00 H04B 14/00 H04L 25/00

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 受信データと上記受信データの候補との
距離を求めるブランチメトリック演算回路と、 上記ブランチメトリックとステートメトリックとを加算
する加算器と、メトリックを比較するコンパレータと、
上記メトリックから生き残りパスを選択するセレクタと
からなるACS回路と、 上記生き残りパスを記憶するパスメモリとからなり、上記パスメモリを、第N段目の2つの状態と、上記第N
段目に続く(N+1)段目の2つの状態を示すメモリセ
ルを単位とし、互いに半周期位相が異なり、システムク
ロックの1/2の周波数のクロックで動作する2つのフ
リップフロップと、上記2つのフリップフロップの出力
をシステムクロックにより交互に振り分けるセレクタと
からなる要素を2組で 構成するようにしたビタビ復号装
置。
A branch metric calculation circuit for calculating a distance between received data and a candidate for the received data; an adder for adding the branch metric and a state metric; a comparator for comparing metrics;
An ACS circuit comprising a selector for selecting a surviving path from the metric; and a path memory for storing the surviving path .
A memory cell indicating two states of the (N + 1) th stage following the stage
The half-cycle phase differs from each other in units of
Two clocks that operate with a clock of half the frequency of the lock
A flip-flop and the output of the above two flip-flops
And a selector that alternately distributes the
A Viterbi decoding device comprising two sets of elements consisting of
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