JP3343920B2 - Voltage detection circuit - Google Patents

Voltage detection circuit

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JP3343920B2
JP3343920B2 JP22033291A JP22033291A JP3343920B2 JP 3343920 B2 JP3343920 B2 JP 3343920B2 JP 22033291 A JP22033291 A JP 22033291A JP 22033291 A JP22033291 A JP 22033291A JP 3343920 B2 JP3343920 B2 JP 3343920B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電圧検出回路に係り、特
に電源電圧が所定電圧よりも低下したことを検出する電
圧検出回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a voltage detection circuit, and more particularly to a voltage detection circuit for detecting that a power supply voltage has dropped below a predetermined voltage.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は従来の電圧検出回路の一例の回路
図である。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a conventional voltage detection circuit.

【0003】同図において、入力端子5より入力された
電源電圧Vccは抵抗R6 ,R7 により分圧されて差動
増幅器7に入力される。一方、周知の温度補償されたバ
ントギャップツェナーダイオードDzは、一端に電源電
圧vccが供給された電流源I3 より電流を供給されて
基準電圧VREF =1.25Vを発生する。差動増幅器7
は電源電圧Vccの分圧電圧と基準電圧VREF を比較
し、電流電圧Vccが所定のしきい値電圧よりも低下し
たとき検出電圧VDET を出力端子6に出力する。基準電
圧VREF は温度補償されているので、温度変化に対して
安定に電源電圧Vccの低下が検出される。
[0003] In the figure, the power supply voltage Vcc inputted from the input terminal 5 is inputted is divided by resistors R 6, R 7 to a differential amplifier 7. On the other hand, bunt gap Zener diode Dz which is known temperature compensation, the power supply voltage vcc is supplied with current from current source I 3 supplied to generate a reference voltage V REF = 1.25V at one end. Differential amplifier 7
Compares the divided voltage of the power supply voltage Vcc with the reference voltage VREF, and outputs the detection voltage VDET to the output terminal 6 when the current voltage Vcc falls below a predetermined threshold voltage. Since the reference voltage VREF is temperature-compensated, a drop in the power supply voltage Vcc is detected stably with respect to a change in temperature.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかるに従来の電圧検
出回路では、温度特性を良好にするために温度補償され
たバンドギャップツェナーダイオードDzを使用してい
る。このため基準電圧V REF =1.25Vとされるの
で、電源電圧Vccのしきい値は1.25V以上でなけ
れば検出動作することができない欠点がある。
However, the conventional voltage detection
In the output circuit, temperature compensation is performed to improve the temperature characteristics.
Using a band gap zener diode Dz
You. Therefore, the reference voltage V REF= 1.25V
Therefore, the threshold value of the power supply voltage Vcc must be 1.25 V or more.
However, there is a disadvantage that the detection operation cannot be performed.

【0005】一方、ダイオードの順方向降下電圧VF
基準電圧とすればしきい値を1.25V以下の低電圧と
することはできるが、基準電圧が負の温度特性をもって
しまう。
On the other hand, although the threshold value if the reference voltage a forward voltage drop V F of the diode can be less of a low-voltage 1.25V, the reference voltage will have a negative temperature characteristic.

【0006】本発明は上記の欠点に鑑みなされたもので
あり、1.25V以下の低電圧にて電源電圧の低下を検
出できて、かつ温度変化に対しても安定に動作すること
ができる電圧検出回路を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described drawbacks, and has been made in view of the above circumstances. A voltage capable of detecting a drop in power supply voltage at a low voltage of 1.25 V or less and operating stably even with temperature changes. It is an object to provide a detection circuit.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
めに本発明では、図1に示す原理図のとおり構成した。
In order to solve the above problem, the present invention is configured as shown in the principle diagram of FIG.

【0008】すなわち、電源電圧Vccから定電流を生成
する定電流回路2と、該定電流回路2で生成された定電
流が供給され、PN接合電圧を発生するPN接合素子1
とを含み、該PN接合電圧に応じた基準電圧VREFを発
生する基準電圧発生手段3と、該電源電圧Vccに応じた
入力電圧VIを該基準電圧発生手段3よりの出力基準電
圧VREFと比較して検出電圧VDETを出力する検出手段4
を具備した電圧検出回路において、前記基準電圧発生手
段3は、前記PN接合素子1に並列に接続され、前記P
N接合電圧を分圧し、前記基準電圧発生手段3の出力基
準電圧VREFとして前記検出手段4に供給する分圧抵抗
R1、R2を有し、前記検出手段4は、エミッタを共通接
続され、夫々の電流密度の比を所望の温度特性が得られ
る所定の値とされた第1及び第2のトランジスタQ2、
Q3と、前記第1のトランジスタQ2のコレクタ電流に応
じて前記第2のトランジスタQ3のコレクタ電流を前記
第1のトランジスタQ2のコレクタ電流と等しくなるよ
うに制御するカレントミラー回路Q4、Q5とを含む差動
増幅器からなり、前記基準電圧発生手段3の出力基準電
圧VREFを前記第1のトランジスタQ2のベースに、前記
入力電圧VIを前記第2のトランジスタQ3のベースに入
力したことを特徴とする。
That is, a constant current is generated from the power supply voltage Vcc.
Constant current circuit 2 and the constant current generated by the constant current circuit 2.
PN junction element 1 which is supplied with a current and generates a PN junction voltage
And a reference voltage generating means 3 for generating a reference voltage VREF according to the PN junction voltage , and comparing an input voltage VI according to the power supply voltage Vcc with an output reference voltage VREF from the reference voltage generating means 3. Detecting means 4 for outputting detection voltage VDET
In the voltage detection circuit provided with the said reference voltage generating hand
The stage 3 is connected in parallel to the PN junction device 1 and
The N junction voltage is divided and the output base of the reference voltage generating means 3 is divided.
A voltage dividing resistor supplied to the detection means 4 as a reference voltage VREF
R1 and R2, and the detecting means 4 has first and second transistors Q2, Q2, Q3, whose emitters are connected in common and whose current density ratio is set to a predetermined value to obtain a desired temperature characteristic.
Q3 and current mirror circuits Q4 and Q5 for controlling the collector current of the second transistor Q3 to be equal to the collector current of the first transistor Q2 according to the collector current of the first transistor Q2. A differential amplifier is provided, wherein the output reference voltage VREF of the reference voltage generating means 3 is input to the base of the first transistor Q2, and the input voltage VI is input to the base of the second transistor Q3.

【0009】[0009]

【作用】上記の構成によれば、基準電圧VREFはPN接
合電圧の周知の負の温度係数(−2mV/°C)を有し
ており、基準電圧発生手段3に並列に接続された分圧抵
抗R1、R2により温度係数を任意の負の値に設定でき
る。一方、差動増幅器の出力が反転して検出信号VDET
が出力される入力オフセット電圧の温度係数は任意に設
定される第1及び第2のトランジスタの電流密度比B/
Aの対数に比例するので、B/Aの値を選ぶことにより
任意の正、負の値、または零とし得るように作用する。
According to the above arrangement, the reference voltage VREF has a well-known negative temperature coefficient (-2 mV / ° C.) of the PN junction voltage, and the divided voltage connected in parallel to the reference voltage generating means 3. Usually
Temperature coefficient can be set to any negative value by anti-R1 and R2
You. Hand, the detection signal VDET output of the differential amplifier is inverted
Is output, the temperature coefficient of the input offset voltage is arbitrarily set. The current density ratio B /
Since it is proportional to the logarithm of A, it works so that it can be set to any positive or negative value or zero by selecting the value of B / A.

【0010】[0010]

【実施例】図2は本発明の一実施例の回路図である。同
図に示す如く、入力端子5よりの電源電圧Vccは、入
力端子5とグランド間に直列に接続された抵抗R3 ,R
4 により分圧されてVI (入力電圧)とされ、検出手段
4に入力される。一方、検出手段4の出力検出電圧V
DETは、トランジスタQ6 を介して出力端子6に出力さ
れる。
FIG. 2 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention. As shown in the figure, the power supply voltage Vcc from the input terminal 5 is equal to the resistances R 3 and R 3 connected in series between the input terminal 5 and the ground.
The voltage is divided by V 4 into V I (input voltage), which is input to the detection means 4. On the other hand, the output detection voltage V
DET is output to the output terminal 6 via the transistor Q 6.

【0011】基準電圧発生手段3は、PN接合素子であ
るトランジスタQ1と抵抗R1 ,R 2 、定電流回路であ
る電流源I1 からなっている。トランジスタQ1 はベー
ス・コレクタを接続されダイオードとして使用されてい
る。トランジスタQ1 のエミッタはグランドに接続さ
れ、ベース・コレクタは電流源I1 を介して電源電圧V
ccが供給される入力端子5に接続されている。また、
トランジスタQ1 のベース・コレクタとグランド間には
抵抗R1 ,R2 が直列に接続されている。
The reference voltage generating means 3 is a PN junction element.
Transistor Q1And resistance R1, R TwoIs a constant current circuit.
Current source I1Consists of Transistor Q1Ha
Connected as a diode
You. Transistor Q1Emitter connected to ground
And the base and collector are current sources I1Supply voltage V through
It is connected to an input terminal 5 to which cc is supplied. Also,
Transistor Q1Between the base collector and ground
Resistance R1, RTwoAre connected in series.

【0012】この結果、電源電圧Vccがトランジスタ
1 のPN接合電圧であるベース・エミッタ間順方向降
下電圧VF (≒0.6V)以上であればトランジスタQ
1 がオンし、抵抗R1 ,R2 によりVF を分圧した電圧
が基準電圧VREF として検出手段4に出力される。本実
施例ではVREF ≒0.2Vとなるように抵抗R1 ,R 2
の値が選ばれている。
As a result, the power supply voltage Vcc is
Q1Base-emitter forward drop
Lower voltage VF(≒ 0.6 V) or more, the transistor Q
1Turns on and the resistance R1, RTwoBy VFDivided voltage
Is the reference voltage VREFIs output to the detection means 4. Real truth
In the example, VREFResistor R so that it becomes ≒ 0.2V1, R Two
Is chosen.

【0013】検出手段4は、電流電源I2 、トランジス
タQ2 (第1のトランジスタ)、トランジスタQ3 (第
2のトランジスタ)、トランジスタQ4 ,Q5 からなる
差動増幅器により構成されている。第1および第2のト
ランジスタの共通接続されたエミッタは電流源I2 を介
して電源電圧Vccが供給される入力端子5に接続され
ている。トランジスタQ2 ,Q3 の夫々のコレクタは、
カレントミラー接続されたトランジスタQ4 ,Q5 のコ
レクタに接続されている。
The detecting means 4 comprises a differential amplifier comprising a current power supply I 2 , a transistor Q 2 (first transistor), a transistor Q 3 (second transistor), and transistors Q 4 and Q 5 . Commonly connected emitters of the first and second transistors are connected to the input terminal 5 to which a power supply voltage Vcc through a current source I 2 is supplied. The collectors of the transistors Q 2 and Q 3 are
It is connected to the collectors of transistors Q 4 and Q 5 which are connected in a current mirror.

【0014】このように、検出手段4は、トランジスタ
2 のベースにトランジスタQ1 のベース・エミッタ接
合電圧を分圧した基準電圧(VREF ≒0.2V)を入力
し、トランジスタQ3 のベースに電源電圧Vccを分圧
した入力電圧VI を入力して比較する。入力電圧VI
低下して夫々のベース電圧の差がトランジスタQ2 ,Q
3 のベース・エミッタ接合電圧の差(オフセット電圧Δ
B )となると、トランジスタQ3 がオンしてハイレベ
ルの検出電圧がトランジスタQ6 のベースに出力され
る。
[0014] Thus, the detection means 4 receives the divided reference voltage (V REF ≒ 0.2V) the base-emitter junction voltage of the transistor Q 1 to the base of the transistor Q 2, the base of the transistor Q 3 the power supply voltage Vcc to input divided by the input voltage V I is compared to. The difference between the input voltage V I to decrease each of the base voltage transistors Q 2, Q
3 base-emitter junction voltage difference (offset voltage Δ
When the V B), the detection voltage of a high level, the transistor Q 3 is turned on is output to the base of the transistor Q 6.

【0015】続いて、トランジスタQ6 がオンして出力
端子6にローレベルの検出電圧が出力される。
Subsequently, the transistor Q 6 is turned on, and a low-level detection voltage is output to the output terminal 6.

【0016】ところで、入力オフセット電圧ΔVB は ΔVB =VBEQ2−VBEQ3 Incidentally, the input offset voltage ΔV B is ΔV B = V BEQ2 −V BEQ3

【0017】[0017]

【数1】 (Equation 1)

【0018】で表わされる。ただし、kはボルツマン定
数、Tは絶対温度、qは電子の電荷量、Aはトランジス
タQ2 のエミッタ面積、BはトランジスタQ3 のエミッ
タ面積、Isは逆方向飽和電流、ICQ2 はトランジスタ
2 のコレクタ電流、ICQ3 はトランジスタQ3 のコレ
クタ電流、Isは遂方向飽和電流である。(なお、直流
電流増幅率βは、β≫1とする。) (1)式においてICQ2 =ICQ3 とすると、 ΔVB =(kT/q)・ln(B/A) (2) となる。したがって、オフセット電圧ΔVB の温度係数
## EQU1 ## Here, k is the Boltzmann constant, T is the absolute temperature, q is the electron charge amount, A is the emitter area of the transistor Q 2, B is the emitter area of the transistor Q 3, Is is the reverse saturation current, I CQ2 transistor Q 2 , I CQ3 is the collector current of the transistor Q 3 , and Is is the forward saturation current. (Note that the DC current amplification factor β is β≫1.) If I CQ2 = I CQ3 in the equation (1), ΔV B = (kT / q) · ln (B / A) (2) . Therefore, the temperature coefficient of the offset voltage ΔV B is

【0019】[0019]

【数2】 (Equation 2)

【0020】で表わされる。## EQU1 ##

【0021】一方、基準電圧VREF On the other hand, the reference voltage V REF is

【0022】[0022]

【数3】 (Equation 3)

【0023】となる。## EQU2 ##

【0024】(4)式において、トランジスタQ1 のベ
ース・エミッタ接合電圧の温度係数ΔVBEQ1/ΔTは周
知の如く−2mV/°Cの負の値を示している。したが
って、(3)式においてB>Aとしてオフセット電圧Δ
B 温度係数ΔVB /ΔTを正の値とし、
In the equation (4), the temperature coefficient ΔV BEQ1 / ΔT of the base-emitter junction voltage of the transistor Q 1 shows a negative value of −2 mV / ° C. as is well known. Therefore, in equation (3), B> A and the offset voltage Δ
The V B temperature coefficient [Delta] V B / [Delta] T is a positive value,

【0025】[0025]

【数4】 (Equation 4)

【0026】となるようにトランジスタQ2 ,Q3 のエ
ミッタ面積比B/Aおよび抵抗R1 ,R2 の値を選ぶこ
とにより、基準電圧VREF とオフセット電圧ΔVB の温
度係数が等しくされ、温度変化に対して安定に動作する
ことができる。
By selecting the emitter area ratio B / A of the transistors Q 2 and Q 3 and the values of the resistances R 1 and R 2 so that the temperature coefficient of the reference voltage V REF and the offset voltage ΔV B are equalized, It can operate stably with respect to temperature changes.

【0027】このように本実施例によれば、1.25V
以下の低電圧の電源電圧VccからトランジスタQ1
ベース・エミッタ接合電圧に応じて抵抗R1 ,R2 で設
定された基準電圧VREF を発生し、これを電流比を所定
の値とされたトランジスタQ 2 ,Q3 を有する誤差増幅
器により電源電圧Vccを分圧した入力電圧VI と比較
し、電源電圧Vccの低下を温度変化に対して安定に検
出することができる。また、基準電圧VREF の温度係数
は抵抗R1 ,R2 の値により任意の負の値にでき、オフ
セット電圧ΔVB の温度係数はトランジスタQ2 ,Q3
のエミッタ面積を選ぶことにより任意の正または負の
値、あるいは零とできるので、全体として任意の温度特
性を持たせることが可能である。
As described above, according to the present embodiment, 1.25 V
From the following low voltage power supply voltage Vcc, the transistor Q1of
Resistance R according to base-emitter junction voltage1, RTwoSet in
Fixed reference voltage VREFAnd the current ratio is determined
Of the transistor Q Two, QThreeError amplification with
Input voltage V obtained by dividing power supply voltage Vcc byICompare with
And a stable detection of a drop in the power supply voltage Vcc against a temperature change.
Can be issued. Also, the reference voltage VREFTemperature coefficient of
Is the resistance R1, RTwoValue can be any negative value, off
Set voltage ΔVBThe temperature coefficient of transistor QTwo, QThree
Any positive or negative by choosing the emitter area of
Value, or zero, so that any temperature
It is possible to have the nature.

【0028】次に、図3は本発明の他の実施例の回路図
である。
FIG. 3 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention.

【0029】同図中、図2と同一構成部分には同一符号
を付し、その説明は省略する。
2, the same components as those of FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

【0030】本実施例は、図2において入力電圧VI
分圧抵抗R4 のグランド側に抵抗R 5 を直列に接続し、
抵抗R4 ,R5 の接続点に基準電圧VREF の分圧抵抗R
2 のグランド側を接続した構成とされている。これによ
れば、トランジスタQ2 のベース電圧が低くなったとき
に、抵抗R5 の両端の電圧降下が減少してトランジスタ
3 のベース電圧を低下させ、トランジスタQ2 が飽和
状態に入るのを防止している。
In this embodiment, the input voltage VIof
Voltage dividing resistor RFourResistor R on the ground side of FiveAre connected in series,
Resistance RFour, RFiveThe reference voltage VREFOf the voltage dividing resistance R
TwoAre connected on the ground side. This
Then, the transistor QTwoWhen the base voltage of
And the resistor RFiveThe voltage drop across the transistor decreases
QThreeLowers the base voltage of the transistor QTwoIs saturated
Prevents entering state.

【0031】なお、PN接合素子はトランジスタに限ら
ず、ダイオードを使用してもよい。また、夫々のトラン
ジスタを逆極性として構成しても、上記実施例と同様の
効果を得ることができことは勿論である。
The PN junction element is not limited to a transistor, but may be a diode. Further, even when the respective transistors are configured to have the opposite polarities, it is needless to say that the same effect as in the above embodiment can be obtained.

【0032】[0032]

【発明の効果】上述の如く本発明によれば、基準電圧発
生手段に並列に接続された分圧抵抗により基準電圧の温
度係数を任意の負の値に設定し、電源電圧に応じた電圧
分圧抵抗により分圧された基準電圧とを入力して比較
する差動増幅器の出力が反転して検出信号が出力される
入力オフセット電圧の温度係数は任意に設定される第1
及び第2のトランジスタの電流密度比により任意の値と
することにより、全体の温度特性を任意の特性とするこ
とができ、勿論、温度特性をもたないように設定するこ
ともできる特長がある。
As described above, according to the present invention, a reference voltage generator is provided.
The temperature of the reference voltage is set by a voltage-dividing resistor connected in parallel with the
Set the degree coefficient to any negative value, input the voltage according to the power supply voltage and the reference voltage divided by the voltage- dividing resistor and compare them. The output of the differential amplifier is inverted and the detection signal is output. The first temperature coefficient of the input offset voltage is set arbitrarily.
In addition, by setting the current density ratio to an arbitrary value according to the current density ratio of the second transistor, the overall temperature characteristic can be set to an arbitrary characteristic, and, of course, the temperature characteristic can be set to have no temperature characteristic. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の原理図である。FIG. 1 is a principle diagram of the present invention.

【図2】本発明の一実施例の回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の他の実施例の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention.

【図4】従来の電圧検出回路の一例の回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of an example of a conventional voltage detection circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 PN接合素子 2 定電流回路 3 基準電圧発生手段 4 検出信号 Vcc 電源電圧 VREF 基準電圧 VI 入力電圧 VDET 検出電圧 Q1 トランジスタ(PN接合素子) Q2 トランジスタ(第1のトランジスタ) Q3 トランジスタ(第2のトランジスタ) I1 電流源(定電流回路)1 PN junction element 2 constant current circuit 3 reference voltage generating means 4 detecting signal Vcc supply voltage V REF reference voltage V I input voltage V DET detection voltage Q 1 transistor (PN junction element) Q 2 transistor (first transistor) Q 3 Transistor (second transistor) I 1 current source (constant current circuit)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 19/00 - 19/32 H02H 3/02 - 3/253 H02J 1/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Fields surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 19/00-19/32 H02H 3/02-3/253 H02J 1/00

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 電源電圧から定電流を生成する定電流回
路と、該定電流回路で生成された定電流が供給され、P
N接合電圧を発生するPN接合素子とを含み、該PN接
合電圧に応じた基準電圧を発生する基準電圧発生手段
と、該電源電圧に応じた入力電圧を該基準電圧発生手段
よりの出力基準電圧と比較して検出電圧を出力する検出
手段とを具備した電圧検出回路において、前記基準電圧発生手段は、前記PN接合素子に並列に接
続され、前記PN接合電圧を分圧し、前記基準電圧発生
手段の出力基準電圧として前記検出手段に供給する分圧
抵抗を有し、 前記検出手段は、エミッタを共通接続され、夫々の電流
密度の比を所望の温度特性が得られる所定の値とされた
第1及び第2のトランジスタと、 前記第1のトランジスタのコレクタ電流に応じて前記第
2のトランジスタのコレクタ電流を前記第1のトランジ
スタのコレクタ電流と等しくなるように制御するカレン
トミラー回路とを含む差動増幅器からなり、 前記基準電圧発生手段の出力基準電圧を前記第1のトラ
ンジスタのベースに、前記入力電圧を前記第2のトラン
ジスタのベースに入力したことを特徴とする電圧検出回
路。
(1)A constant current circuit that generates a constant current from the power supply voltage
And a constant current generated by the constant current circuit.
A PN junction element for generating an N-junction voltage,The PN contact
Reference voltage generation means for generating a reference voltage according to the combined voltage
And an input voltage corresponding to the power supply voltage to the reference voltage generating means.
Detection that outputs the detection voltage in comparison with the output reference voltage
And a voltage detection circuit comprising:The reference voltage generating means is connected to the PN junction element in parallel.
And divides the PN junction voltage to generate the reference voltage.
A partial voltage supplied to the detection means as an output reference voltage of the means
Have resistance,  The detecting meansIsEmitters are connected in common, each current
The density ratio was set to a predetermined value to obtain the desired temperature characteristics.
First and second transistors; and the first and second transistors in accordance with a collector current of the first transistor.
2 is connected to the first transistor.
Karen controlled to be equal to the collector current of the star
And a differential amplifier including a first mirror and an output reference voltage of the reference voltage generating means.
The input voltage is applied to the base of a transistor in the second transistor.
Voltage detection circuit characterized by being input to the base of a transistor
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