JP3340691B2 - Image inspection equipment for printed circuit boards - Google Patents

Image inspection equipment for printed circuit boards

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JP3340691B2
JP3340691B2 JP03060599A JP3060599A JP3340691B2 JP 3340691 B2 JP3340691 B2 JP 3340691B2 JP 03060599 A JP03060599 A JP 03060599A JP 3060599 A JP3060599 A JP 3060599A JP 3340691 B2 JP3340691 B2 JP 3340691B2
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inspection
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capturing
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康孝 岩田
一正 奥村
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Panasonic Holdings Corp
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路用プリン
ト基板上への実装工程中に、クリーム半田が正しく塗布
されているか、あるいは電子部品が正しく実装されてい
るかの検査を、カメラで撮像した検査対象物の画像デー
タを画像処理して行う画像検査装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention uses a camera to check whether cream solder is correctly applied or electronic components are correctly mounted during a mounting process on a printed circuit board for electronic circuits. The present invention relates to an image inspection apparatus that performs image processing on image data of an inspection object.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の画像検査装置を図8に基づいて説
明する。
2. Description of the Related Art A conventional image inspection apparatus will be described with reference to FIG.

【0003】図8において、従来の画像検査装置は、C
CDセンサを用いたエリアセンサカメラ41と、検査対
象基板44を照明する照明器具42と、エリアセンサカ
メラ41と照明器具42とを支える支柱43と、検査対
象基板44を保持してX方向ーY方向に相対移動可能な
XYテーブル45と、XYテーブル45をX方向に移動
させるモータX・ロータリエンコーダX46と、XYテ
ーブル45をY方向に移動させるモータY・ロータリエ
ンコーダY47と、各種検査項目についての検査を行う
制御部48と、制御内容や検査結果を表示するモニタテ
レビ49と、制御内容を指示するキーボード50とを備
えている。
[0003] In FIG. 8, a conventional image inspection apparatus is C
An area sensor camera 41 using a CD sensor, a lighting fixture 42 for illuminating the inspection target board 44, a support 43 for supporting the area sensor camera 41 and the lighting fixture 42, and an X direction Y holding the inspection target board 44 XY table 45 which can be relatively moved in the directions, a motor X / rotary encoder X46 which moves the XY table 45 in the X direction, a motor Y / rotary encoder Y47 which moves the XY table 45 in the Y direction, and various inspection items. The control unit 48 includes a control unit 48 that performs an inspection, a monitor television 49 that displays control contents and inspection results, and a keyboard 50 that instructs control contents.

【0004】次に、従来の画像検査装置の動作を説明す
る。
Next, the operation of the conventional image inspection apparatus will be described.

【0005】従来の画像検査装置では、検査対象基板4
4をエリアセンサカメラ41で撮像し、その画像データ
を画像処理し、その画像処理データによって、検査して
いるが、エリアセンサカメラ41は、検査対象基板44
全体を一度に撮像し画像データを取込むことができな
い。従って、検査対象基板44を、エリアセンサカメラ
41で撮像できる大きさのエリアに分割して撮像し、そ
の画像データを制御部48にあるメモリに順次蓄積し、
検査対象基板44全体の画像データを蓄積し終えた時点
で、画像処理を行い、その画像処理データに基づいて、
各種検査項目についての検査が行われている。
In the conventional image inspection apparatus, the inspection target substrate 4
4 is imaged by the area sensor camera 41, the image data is subjected to image processing, and inspection is performed based on the image processing data.
It is not possible to capture the entire image at once and capture image data. Therefore, the inspection target substrate 44 is divided into areas of a size that can be imaged by the area sensor camera 41 and imaged, and the image data is sequentially stored in the memory of the control unit 48,
At the time when the image data of the entire inspection target substrate 44 has been accumulated, image processing is performed, and based on the image processing data,
Inspections for various inspection items are performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の画像検
査装置では、次のような問題点がある。
However, the conventional image inspection apparatus has the following problems.

【0007】エリアセンサカメラ41が検査対象基板4
4を撮像可能エリア毎に分割して撮像するためには、こ
れら撮像可能エリアを一つ一つエリアセンサカメラ41
の下にセットする必要があり、そのために、検査対象基
板44を保持したXYテーブル45が起動、停止を繰り
返すことになる。このとき、XYテーブル45の起動、
停止時に検査対象基板44が振動するので、この振動が
減衰するまで、エリアセンサカメラ41の撮像・画像デ
ータ取込みを待たねばならない。この場合、画像データ
を取込むのに一つのエリア当たり約0.5秒かかる。振
動減衰の時間待ちを入れると、例えば、100mm×2
00mmの検査対象基板44の画像データを取込むのに
3分から4分必要となり、これに検査時間が加わるの
で、検査に長時間かかるという問題点があった。
[0007] The area sensor camera 41 is mounted on the substrate 4 to be inspected.
In order to divide the image-capturable areas into image-capable areas and to perform image-capturing, the area-capable area sensor
The XY table 45 holding the inspection target substrate 44 repeatedly starts and stops. At this time, activation of the XY table 45,
Since the substrate 44 to be inspected vibrates at the time of stopping, the imaging and image data acquisition of the area sensor camera 41 must be waited until the vibration is attenuated. In this case, it takes about 0.5 seconds per area to capture image data. When waiting for the time for vibration damping, for example, 100 mm × 2
It takes three to four minutes to capture the image data of the 00 mm inspection target substrate 44, and the inspection time is added to this, so that the inspection takes a long time.

【0008】又、エリアセンサカメラ41は検査対象基
板44をエリアに分割して画像データの取込みを行って
いるが、隣り合ったエリア間で画像データが重複する可
能性があり、これを防ぐために、XYテーブル45の移
動精度を高める必要がある。或いは、画像処理や検査の
際に画像データの重複の影響を除去する調整をしなけれ
ばならないという問題点があった。
Further, the area sensor camera 41 divides the inspection target substrate 44 into areas and takes in image data. However, there is a possibility that image data may be overlapped between adjacent areas. , It is necessary to improve the movement accuracy of the XY table 45. Alternatively, there has been a problem that adjustment must be made to eliminate the influence of duplication of image data during image processing and inspection.

【0009】又、エリアセンサカメラ41では、検査す
べき一つの部分が同一のエリアに入らず、隣り合ったエ
リアに分割される場合があり、この場合には、画像処理
を行って検査するときに、エリア分割の影響を除くため
に複雑な処理が必要になるという問題点があった。
Further, in the area sensor camera 41, there is a case where one part to be inspected does not fall within the same area but is divided into adjacent areas. In this case, when inspecting by performing image processing. In addition, there is a problem that complicated processing is required to eliminate the influence of area division.

【0010】更に、エリアセンサカメラ41では、すべ
てのエリアの画像データを取込んだ後に、画像処理を行
うので、画像データを蓄積するメモリの大きさが、検査
対象基板44の形状、大きさに依存し、大容量のメモリ
が必要な場合があるという問題点があった。
Further, in the area sensor camera 41, image processing is performed after image data of all areas is fetched. Therefore, the size of the memory for storing image data is limited to the shape and size of the inspection target substrate 44. And a large capacity memory is required in some cases.

【0011】本発明は、上記の問題点を解決することを
その課題としている。
An object of the present invention is to solve the above problems.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明のプリント基板の
画像検査装置は、上記の課題を解決するために、電子回
路用のプリント基板のクリーム半田の塗布の良否を検査
する画像検査装置において、前記プリント基板の画像デ
ータを取込む撮像手段と、撮像手段からの画像データを
取込む取込み記憶手段と、切替え可能なメモリを備えて
前記の取込まれた画像データから予め指定された範囲で
ある前記プリント基板上の個別検査エリアの画像データ
を順次切出して記憶する切出し記憶手段と、前記の個別
検査エリアの画像データを順次取込みながら、取込まれ
た個別検査エリアに関する複数の検査項目の検査を並列
して行う検査処理手段とを備えることを特徴とする。
According to the present invention, there is provided an image inspecting apparatus for inspecting whether or not cream solder is applied to a printed circuit board for an electronic circuit. An image capturing means for capturing the image data of the printed circuit board, a capturing storage means for capturing the image data from the image capturing means, and a switchable memory, wherein the range is a range designated in advance from the captured image data. Cut-out storage means for sequentially cutting out and storing the image data of the individual inspection area on the printed circuit board, and inspecting a plurality of inspection items relating to the taken-in individual inspection area while sequentially taking in the image data of the individual inspection area. And an inspection processing unit that performs the processing in parallel.

【0013】また本発明のプリント基板の画像検査装置
は、上記の課題を解決するために、電子回路用のプリン
ト基板の電子部品の実装の良否を検査する画像検査装置
において、前記プリント基板の画像データを取込む撮像
手段と、撮像手段からの画像データを取込む取込み記憶
手段と、切替え可能なメモリを備えて前記の取込まれた
画像データから予め指定された範囲である前記プリント
基板上の個別検査エリアの画像データを順次切出して記
憶する切出し記憶手段と、前記の個別検査エリアの画像
データを順次取込みながら、取込まれた個別検査エリア
に関する複数の検査項目の検査を並列して行う検査処理
手段とを備えることを特徴とする。
According to another aspect of the present invention, there is provided an image inspection apparatus for inspecting the mounting of electronic components on a printed circuit board for an electronic circuit. An image capturing means for capturing data, a capturing storage means for capturing image data from the image capturing means, and a switchable memory on the printed circuit board which is a predetermined range from the captured image data. A cut-out storage unit that sequentially cuts out and stores the image data of the individual inspection area, and an inspection that performs inspection of a plurality of inspection items related to the taken-in individual inspection area in parallel while sequentially taking in the image data of the individual inspection area. And processing means.

【0014】本発明のプリント基板の画像検査装置は、
上記の構成により、検査処理手段が個別検査エリアに関
する複数の検査項目を並列して検査することができるの
で、クリーム半田の塗布の良否あるいは電子部品の実装
の良否についての検査時間を非常に短縮することができ
ると共に記憶手段の記憶容量が小さくてすむ。
The printed board image inspection apparatus of the present invention
With the above configuration, the inspection processing unit can inspect a plurality of inspection items related to the individual inspection area in parallel, so that the inspection time for the quality of the application of the cream solder or the quality of the mounting of the electronic component is greatly reduced. And the storage capacity of the storage means can be small.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明のプリント基板の画像検査
装置の一実施例を図1から図7に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a printed board image inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0016】図1と図4において、本実施例の画像検査
装置は、基板や部品の形状と色を区別できるCCDセン
サを用いたカラーラインセンサカメラ1と、検査対象基
板4を照明する照明器具2と、カラーラインセンサカメ
ラ1と照明器具2とを支える支柱3と、検査対象基板4
を保持して、カラーラインセンサカメラ1を構成するレ
ンズ27とラインセンサ28の取込み軸29に対して直
角(X方向)に相対移動可能なテーブル5と、このテー
ブル5の相対移動量を測定するリニアスケール6と、こ
のテーブル5をX方向に移動させるモータ7と、モータ
7の回転数によりテーブル5の移動量を測定するロータ
リエンコーダ8と、画像検査装置の制御を行う制御部9
と、制御内容や検査結果を表示するモニタテレビ10
と、制御指示内容を対話形式で入力するキーボード11
と、プリント基板上のクリーム半田の塗布の良否に関す
る各検査項目の検査データを入出力するドライバー装置
12とを備えている。
Referring to FIGS. 1 and 4, an image inspection apparatus according to the present embodiment includes a color line sensor camera 1 using a CCD sensor capable of distinguishing the shapes and colors of substrates and components, and a lighting fixture for illuminating an inspection target substrate 4. 2, a column 3 for supporting the color line sensor camera 1 and the lighting fixture 2, and a substrate 4 to be inspected
, And a table 5 which can be relatively moved at a right angle (X direction) with respect to the taking axis 29 of the lens 27 and the line sensor 28 constituting the color line sensor camera 1, and the relative movement amount of the table 5 is measured. A linear scale 6, a motor 7 for moving the table 5 in the X direction, a rotary encoder 8 for measuring the amount of movement of the table 5 by the number of rotations of the motor 7, and a control unit 9 for controlling the image inspection apparatus
And a monitor TV 10 for displaying control contents and inspection results
And a keyboard 11 for interactively inputting control instruction contents
And a driver device 12 for inputting and outputting inspection data of each inspection item regarding the quality of the application of the cream solder on the printed circuit board.

【0017】又、図2と図3において、本実施例の画像
検査装置は、カラーラインセンサカメラ1が取込んだ画
像データをリンク状メモリに順次蓄え、メモリ容量以上
になると、先に取込まれ蓄えられた画像データを書き換
えて蓄える構造になっている取込みメモリ13と、取込
みメモリ13に蓄えられた画像データから、検査すべき
エリア(個別検査エリア)の画像データを切出して蓄え
る切出しメモリ14(切出しメモリ14は、図3に示す
ように、切出しメモリA25と切出しメモリB26とよ
り構成され、一方が取込みメモリ13からの画像データ
を蓄えている間に、他方が自己が直前に蓄えた画像デー
タを次記の画像処理回路15に出力する。)と、切出し
メモリ14に切出された画像データを画像処理する画像
処理回路15と、画像処理回路15で画像処理された画
像処理データによって、各検査項目についての検査を行
う複数の検査処理回路16と、カラーラインセンサカメ
ラ1が取込んだ画像データを取込みメモリ13に蓄える
ために、予めプログラムされた指示または制御部9の指
示によって、取込みメモリ13に取込みメモリアドレス
を送信する取込みメモリアドレス発生回路17と、取込
みメモリ13が蓄えている画像データを検査すべきエリ
ア毎に切出して、これを切出しメモリ14に蓄えるため
に、予めプログラムされた指示または制御部9の指示に
よって、切出しメモリ14に切出しメモリアドレスを送
信する切出しメモリアドレス発生回路18と、切出しメ
モリ14から、画像処理回路15や複数の検査処理回路
16に、予めプログラムされた指示または制御部9の指
示によって、画像データを出力・入力し検査するタイミ
ングをとるための信号を出す画像処理タイミング発生回
路19と、前記リニアスケール6から取込まれた信号に
よって、テーブル5の移動量をカウントし、カラーライ
ンセンサカメラ1の画像データ取込みの開始・終了を行
うリニアスケールカウント回路20と、モータ7を動作
させ、ロータリエンコーダ8から取込まれる信号によっ
て、テーブル5の移動量を制御するモータコントロール
回路21と、前記の照明器具2、モニタテレビ10、キ
ーボード11、ドライバー装置12等とのインターフェ
イスを行うマンマシンインターフェイス22と、前記の
制御部9をコントロールするCPU23と、制御部9の
プログラムと各種検査項目の検査用情報を蓄えるメモリ
24とを備えている。
In FIGS. 2 and 3, the image inspection apparatus of this embodiment sequentially stores the image data captured by the color line sensor camera 1 in a link-type memory. A capture memory 13 configured to rewrite and store rarely stored image data, and a capture memory 14 that captures and stores image data of an area to be inspected (individual inspection area) from the image data stored in the capture memory 13. (As shown in FIG. 3, the cut-out memory 14 includes a cut-out memory A25 and a cut-out memory B26. While one of the cut-out memories 14 stores image data from the take-in memory 13, the other stores an image stored immediately before itself. Data to the following image processing circuit 15), an image processing circuit 15 for performing image processing on the image data cut out in the cutout memory 14, A plurality of inspection processing circuits 16 for inspecting each inspection item based on the image processing data processed by the image processing circuit 15 and image data captured by the color line sensor camera 1 are stored in the capture memory 13. According to a pre-programmed instruction or an instruction from the control unit 9, an acquisition memory address generation circuit 17 for transmitting an acquisition memory address to the acquisition memory 13, and an image data stored in the acquisition memory 13 are cut out for each area to be inspected. In order to store this in the cut-out memory 14, a cut-out memory address generating circuit 18 for transmitting a cut-out memory address to the cut-out memory 14 according to a preprogrammed instruction or an instruction from the control unit 9, and an image processing circuit 15 And a plurality of test processing circuits 16 are provided with pre-programmed instructions. Or an image processing timing generating circuit 19 which outputs a signal for outputting and inputting image data and setting a timing for inspection in accordance with an instruction from the control unit 9, and a movement of the table 5 based on a signal taken from the linear scale 6. A linear scale count circuit 20 that counts the amount and starts / ends image data capture of the color line sensor camera 1, operates the motor 7, and controls the amount of movement of the table 5 by a signal captured from the rotary encoder 8. And a man-machine interface 22 for interfacing with the lighting fixture 2, the monitor television 10, the keyboard 11, the driver device 12, and the like; a CPU 23 for controlling the control unit 9; Memory for storing test information for programs and various test items 24.

【0018】次に、本実施例の画像検査装置の動作を図
5から図7に基づいて説明する。
Next, the operation of the image inspection apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.

【0019】ステップ#1において、図5に示すよう
に、カラーラインセンサカメラ1のレンズ27が、メカ
原点30から、テーブル5に保持された検査対象基板4
の画像データ取込み開始位置31まで移動する距離と、
検査対象基板4の画像データ取込み終了位置32まで移
動する距離と、カラーラインセンサカメラ1が画像デー
タを読込む1走査分のピッチを、制御部9のCPU23
またはリニアスケールカウント回路20に設定する。
In step # 1, as shown in FIG. 5, the lens 27 of the color line sensor camera 1 is moved from the mechanical origin 30 to the inspection target substrate 4 held on the table 5.
The distance to move to the image data capture start position 31 of
The CPU 23 of the control unit 9 determines the distance to be moved to the image data capture end position 32 of the inspection target substrate 4 and the pitch for one scan at which the color line sensor camera 1 reads image data.
Alternatively, it is set in the linear scale count circuit 20.

【0020】ステップ#2において、カラーラインセン
サカメラ1をメカ原点30に戻す。
In step # 2, the color line sensor camera 1 is returned to the mechanical origin 30.

【0021】ステップ#3において、本実施例の画像検
査装置の検査がスタートする。即ち、一方では、カラー
ラインセンサカメラ1が画像データの取込みをスタート
する。モータ7が動作し、テーブル5に保持された検査
対象基板4がカラーラインセンサカメラ1に対して相対
移動し、カラーラインセンサカメラ1がメカ原点30か
ら画像データ取込み開始位置31の方向へ移動する。メ
カ原点30から画像データ取込み開始位置31までの距
離は、カラーラインセンサカメラ1が、検査対象基板4
上を等速度で移動するための準備距離であり、画像デー
タ取込み開始位置31では、カラーラインセンサカメラ
1は検査対象基板4と相対的に等速度で移動している。
カラーラインセンサカメラ1の動作はステップ#4に進
む。
In step # 3, the inspection of the image inspection apparatus of this embodiment starts. That is, on the other hand, the color line sensor camera 1 starts capturing image data. The motor 7 operates, the substrate 4 to be inspected held on the table 5 moves relative to the color line sensor camera 1, and the color line sensor camera 1 moves from the mechanical origin 30 to the image data capture start position 31. . The distance from the mechanical origin 30 to the image data capturing start position 31 is determined by the color line sensor camera 1 by the inspection target substrate 4.
This is a preparation distance for moving at the same speed on the upper side. At the image data capturing start position 31, the color line sensor camera 1 is moving at a constant speed relative to the inspection target substrate 4.
The operation of the color line sensor camera 1 proceeds to step # 4.

【0022】他方では、取込みメモリ13、切出しメモ
リ14、画像処理回路15、検査処理回路16等の検査
機能をスタートする。この検査機能はステップ#7に進
む。
On the other hand, inspection functions such as the acquisition memory 13, the extraction memory 14, the image processing circuit 15, and the inspection processing circuit 16 are started. This inspection function proceeds to step # 7.

【0023】ステップ#4において、リニアスケール6
とリニアスケールカウント回路20とによって、カラー
ラインセンサカメラ1が画像データ取込み開始位置31
に到達したかどうかの判断を行う。カラーラインセンサ
カメラ1が画像データ取込み開始位置31に到達した
ら、ステップ#5に進む。
In step # 4, the linear scale 6
And the linear scale count circuit 20, the color line sensor camera 1 moves the image data capture start position 31
Determine whether or not has been reached. When the color line sensor camera 1 reaches the image data capture start position 31, the process proceeds to step # 5.

【0024】ステップ#5において、リニアスケールカ
ウント回路20は、カラーラインセンサカメラ1に対し
て画像データ取込みを開始するようにパルス信号を出
す。カラーラインセンサカメラ1は、検査対象基板4を
保持したテーブル5が等速度で移動している状態で、画
像データの取込みを行っているので振動は無い。従っ
て、従来の技術では、検査対象基板4をエリアに分割し
て画像データを取込んでいるので、検査対象基板を保持
したテーブルが起動・停止する毎に振動が発生し、この
振動が減衰するまでの時間待ちのロスがあったが、本実
施例では、このロスを無くすることができる。例えば、
100mm×200mmの検査対象基板4の画像データ
を取込むのに、約15秒かかるだけである。
In step # 5, the linear scale count circuit 20 outputs a pulse signal to the color line sensor camera 1 to start taking image data. The color line sensor camera 1 captures image data while the table 5 holding the inspection target substrate 4 is moving at a constant speed, so that there is no vibration. Therefore, in the related art, since the inspection target substrate 4 is divided into areas and image data is taken in, vibration is generated every time the table holding the inspection target substrate is started and stopped, and this vibration is attenuated. Although there was a loss waiting for the time until, this embodiment can eliminate this loss. For example,
It takes only about 15 seconds to capture the image data of the inspection target substrate 4 of 100 mm × 200 mm.

【0025】ステップ#6において、リニアスケールカ
ウント回路20は、カラーラインセンサカメラ1がステ
ップ#1で設定された画像データを読込む1走査分のピ
ッチを終了する毎に、トータル移動距離を演算し、その
演算結果を前記の画像データ取込み終了位置32まで移
動する距離と比較して、カラーラインセンサカメラ1
が、画像データ取込み終了位置32に到達したかどうか
の判断を行う。到達していれば、カラーラインセンサカ
メラ1は画像データ取込みを終了して、ステップ#2に
戻り、次の同種の検査対象基板4の検査を繰り返す。但
し、異種の検査対象基板4の検査を行う場合には、ステ
ップ#1にもどる。
In step # 6, the linear scale counting circuit 20 calculates the total moving distance each time the color line sensor camera 1 completes one scanning pitch for reading the image data set in step # 1. The calculated result is compared with the distance to be moved to the image data capture end position 32, and the color line sensor camera 1
Is determined to have reached the image data capture end position 32. If it has arrived, the color line sensor camera 1 ends the image data capture, returns to step # 2, and repeats the inspection of the next same type of inspection target substrate 4. However, when inspecting a different type of inspection target substrate 4, the process returns to step # 1.

【0026】カラーラインセンサカメラ1が画像データ
取込み終了位置32に到達していなければ、ステップ#
5に戻り、カラーラインセンサカメラ1に対して画像デ
ータ取込みを開始するようにパルス信号を出す。
If the color line sensor camera 1 has not reached the image data fetching end position 32, step #
Returning to step 5, a pulse signal is issued to the color line sensor camera 1 so as to start capturing image data.

【0027】ステップ#7において、予めプログラムさ
れた指示または制御部9の指示によって、切出しメモリ
アドレス発生回路18が、取込みメモリ13に検査すべ
き画像データが蓄えられているかどうかを判断する。蓄
えられていればステップ#8に進む。
In step # 7, the cut-out memory address generation circuit 18 determines whether image data to be inspected is stored in the fetch memory 13 according to a pre-programmed instruction or an instruction from the control unit 9. If stored, the process proceeds to step # 8.

【0028】ステップ#8において、予めプログラムさ
れた指示または制御部9の指示によって、切出しメモリ
アドレス発生回路18が、切出しメモリ14に、検査対
象基板4の検査すべきエリアを指定する。
In step # 8, the cut-out memory address generating circuit 18 specifies an area to be inspected on the test target substrate 4 in the cut-out memory 14 according to a preprogrammed instruction or an instruction from the control unit 9.

【0029】ステップ#9において、切出しメモリアド
レス発生回路18の指示によって、検査すべきエリアの
画像データが、取込みメモリ13から切出しメモリ14
に切り出される。切出しメモリ14は切出しメモリA2
5と切出しメモリB26とで構成されている。取込みメ
モリ13の検査すべきエリアの画像データは先ず切出し
メモリA25に切出される。取込みメモリ13に取込ま
れた画像データは、このように、すぐに切出しメモリ1
4に切り出されるので、取込みメモリ13は、検査対象
基板4の総ての画像データを蓄える必要がなく、取込み
メモリ13の容量は検査対象基板4の形状、大きさに関
係なく、小量のメモリ容量で構成することができる。
In step # 9, the image data of the area to be inspected is extracted from the capture memory 13 by the instruction of the extraction memory address generation circuit 18 from the extraction memory 14.
It is cut out. The extraction memory 14 is an extraction memory A2
5 and a cut-out memory B26. First, the image data of the area to be inspected in the acquisition memory 13 is extracted to the extraction memory A25. The image data captured by the capture memory 13 is thus immediately stored in the capture memory 1.
4, the capture memory 13 does not need to store all the image data of the inspection target substrate 4, and the capacity of the capture memory 13 is small regardless of the shape and size of the inspection target substrate 4. It can be composed of capacitors.

【0030】ステップ#10において、切出しメモリア
ドレス発生回路18が、前記の切出しが終了したか否か
を判定する。終了していれば、ステップ#11に進む。
In step # 10, the cut-out memory address generating circuit 18 determines whether or not the cut-out has been completed. If it has been completed, the process proceeds to step # 11.

【0031】ステップ#11において、切出しメモリア
ドレス発生回路18が、切出しメモリ14のメモリ切替
えを行い、次の検査すべきエリアの画像データを切出し
メモリB26に切出すようにする。又、画像処理タイミ
ング発生回路19が、予めプログラムされた指示または
制御部9の指示によって、画像処理、検査処理のタイミ
ングを発生し、切出しメモリA25に自己が蓄えている
画像処理データを画像処理回路15に出力させ、画像処
理回路15にその画像データを画像処理させる。画像処
理された画像処理データは、複数個ある検査処理回路1
6の中の1個を指定して入力される。指定された検査処
理回路16は受持ち検査項目に従って検査処理を行う。
この場合、取込みメモリ13に蓄えられた画像データ
は、検査すべきエリアを任意に設定して切出すことがで
きる。従って、検査すべきエリアが分割されることが無
いので、画像処理、検査処理が容易に行える。
In step # 11, the cut-out memory address generation circuit 18 switches the memory of the cut-out memory 14, and cuts out the image data of the next area to be inspected into the cut-out memory B26. The image processing timing generation circuit 19 generates the timing of image processing and inspection processing in accordance with a pre-programmed instruction or an instruction of the control unit 9, and stores the image processing data stored in the cut-out memory A25 by the image processing circuit. 15 and causes the image processing circuit 15 to process the image data. The image-processed image data is stored in a plurality of inspection processing circuits 1.
6 is designated and input. The specified inspection processing circuit 16 performs an inspection process according to the responsible inspection item.
In this case, the image data stored in the acquisition memory 13 can be cut out by arbitrarily setting an area to be inspected. Accordingly, since the area to be inspected is not divided, image processing and inspection processing can be easily performed.

【0032】ステップ#12において、画像処理タイミ
ング発生回路19が、それぞれの検査処理の終了を確認
する。
In step # 12, the image processing timing generation circuit 19 confirms the end of each inspection process.

【0033】ステップ#13において、画像処理タイミ
ング発生回路19が、全検査項目終了を確認する。
In step # 13, the image processing timing generation circuit 19 confirms that all inspection items have been completed.

【0034】本発明の画像検査装置は、上記の実施例に
限らず種々の態様が可能である。例えば、上記実施例で
はプリント基板上のクリーム半田の塗布の良否に関する
検査を行っているが、本発明をプリント基板上の電子部
品の実装の良否に関する検査を行う画像検査装置に適用
することができる。
The image inspection apparatus according to the present invention is not limited to the above-described embodiment, but can take various forms. For example, in the above-described embodiment, the inspection regarding the quality of the application of the cream solder on the printed circuit board is performed. .

【0035】又、カラーラインセンサカメラを支柱に固
定して、検査対象基板を移動させているが、カラーライ
ンセンサカメラを移動させ検査対象基板を固定しても良
い。
Although the substrate to be inspected is moved by fixing the color line sensor camera to the support, the substrate to be inspected may be fixed by moving the color line sensor camera.

【0036】又、カラーラインセンサカメラはカラーの
必要は無く、ラインセンサであれば何でも良い。
The color line sensor camera does not need to use a color, and any camera can be used as long as it is a line sensor.

【0037】又、リニアスケールを用いて、テーブルの
移動量測定とそれを基にしたカラーラインセンサカメラ
の画像データ取込みの開始・終了を行っているが、ロー
タリエンコーダを用いてこれを行っても良い。
Although the movement of the table is measured by using the linear scale and the start / end of the image data acquisition of the color line sensor camera based on the measurement is performed, it is also possible to perform this by using the rotary encoder. good.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明によれば、プリント基板上のクリ
ーム半田の塗布の良否あるいは電子部品の実装の良否に
関する検査時間を非常に短縮することができると共に、
記憶手段の記憶容量を小量とすることができる。
According to the present invention, it is possible to greatly reduce the inspection time regarding the quality of the application of the cream solder on the printed circuit board or the quality of the mounting of the electronic component, and
The storage capacity of the storage means can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of one embodiment of the present invention.

【図2】図1のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of FIG.

【図3】図2の切出しメモリの詳細図である。FIG. 3 is a detailed view of a cutout memory of FIG. 2;

【図4】図1のカラーラインセンサカメラのラインセン
サの平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a line sensor of the color line sensor camera of FIG. 1;

【図5】図1のカラーラインセンサカメラの移動距離を
示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a moving distance of the color line sensor camera of FIG. 1;

【図6】図1の動作を示すフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart showing the operation of FIG. 1;

【図7】図1の動作を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing the operation of FIG. 1;

【図8】従来例の斜視図である。FIG. 8 is a perspective view of a conventional example.

【符号の説明】 1 カラーラインセンサカメラ 4 検査対象基板 5 テーブル 6 リニアスケール 7 モータ 8 ロータリエンコーダ 9 制御部 27 カラーラインセンサカメラのレンズ 28 カラーラインセンサカメラのラインセンサ 29 カラーラインセンサカメラの取込み軸 30 メカ原点 31 取込み開始位置 32 取込み終了位置[Description of Signs] 1 Color line sensor camera 4 Inspection target board 5 Table 6 Linear scale 7 Motor 8 Rotary encoder 9 Control unit 27 Lens of color line sensor camera 28 Line sensor of color line sensor camera 29 Capture axis of color line sensor camera 30 Mechanical origin 31 Capture start position 32 Capture end position

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭64−76284(JP,A) 特開 平1−147676(JP,A) 実開 平2−145458(JP,U) 特公 昭52−14112(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/24 G01N 21/88 G06T 1/60 G06T 7/00 H05K 13/08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-64-76284 (JP, A) JP-A-1-147676 (JP, A) JP-A-2-145458 (JP, U) 14112 (JP, B1) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01B 11/24 G01N 21/88 G06T 1/60 G06T 7/00 H05K 13/08

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 電子回路用のプリント基板のクリーム半
田の塗布の良否を検査する画像検査装置において、前記
プリント基板の画像データを取込む撮像手段と、撮像手
段からの画像データを取込む取込み記憶手段と、切替え
可能なメモリを備えて前記の取込まれた画像データから
予め指定された範囲である前記プリント基板上の個別検
査エリアの画像データを順次切出して記憶する切出し記
憶手段と、前記の個別検査エリアの画像データを順次
込みながら、取込まれた個別検査エリアに関する複数の
検査項目の検査を並列して行う検査処理手段とを備える
ことを特徴とするプリント基板の画像検査装置。
1. A cream half of a printed circuit board for an electronic circuit.
In the image inspection apparatus for inspecting the quality of the application of the rice field,
An image capturing means for capturing the image data of the printed circuit board , a capturing storage means for capturing the image data from the image capturing means, and a switchable memory, wherein the range is a predetermined range from the captured image data. A cutting storage unit for sequentially cutting and storing image data of the individual inspection area on the printed circuit board; and a plurality of image data of the individual inspection area taken in while sequentially capturing the image data of the individual inspection area .
Image inspection apparatus of a printed circuit board, characterized in that in parallel the test of the test item and an inspection processing unit intends row.
【請求項2】 電子回路用のプリント基板の電子部品の
実装の良否を検査する画像検査装置において、前記プリ
ント基板の画像データを取込む撮像手段と、撮像手段か
らの画像データを取込む取込み記憶手段と、切替え可能
なメモリを備えて前記の取込まれた画像データから予め
指定された範囲である前記プリント基板上の個別検査エ
リアの画像データを順次切出して記憶する切出し記憶手
段と、前記の個別検査エリアの画像データを順次取込み
ながら、取込まれた個別検査エリアに関する複数の検査
項目の検査を並列して行う検査処理手段とを備えること
を特徴とするプリント基板の画像検査装置。
2. An electronic component of a printed circuit board for an electronic circuit.
In the image inspection apparatus for inspecting the quality of the mounting,
Imaging means for capturing image data of a printed circuit board;
Switchable with capture storage means for capturing image data
From the captured image data
Individual inspection on the printed circuit board within the specified range
Extraction memory for sequentially extracting and storing rear image data
Step and the image data of the individual inspection area are sequentially acquired
Multiple inspections on individual inspection areas
Inspection processing means for performing item inspection in parallel
An image inspection apparatus for printed circuit boards, characterized in that:
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