JP3314229B2 - Drying processing equipment - Google Patents

Drying processing equipment

Info

Publication number
JP3314229B2
JP3314229B2 JP14110997A JP14110997A JP3314229B2 JP 3314229 B2 JP3314229 B2 JP 3314229B2 JP 14110997 A JP14110997 A JP 14110997A JP 14110997 A JP14110997 A JP 14110997A JP 3314229 B2 JP3314229 B2 JP 3314229B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rotating body
drying
support
holding
side wall
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP14110997A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH1055996A (en
Inventor
儀幸 本田
佳夫 熊谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP14110997A priority Critical patent/JP3314229B2/en
Publication of JPH1055996A publication Critical patent/JPH1055996A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3314229B2 publication Critical patent/JP3314229B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば半導体ウ
エハやガラス基板等の被処理体を回転させて乾燥させる
乾燥処理装置に関するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a drying apparatus for drying an object to be processed such as a semiconductor wafer or a glass substrate by rotating the object.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体ウエハやガラス基板等
(以下にウエハ等という)の被処理体に各種の処理を施
して半導体製品や液晶表示製品等を製造する過程におい
ては、これらウエハ等の被処理体に各種の薬液等を作用
させることから、例えば薬液処理後に被処理体に残留す
る薬液を除去する目的で、純水等を用いた洗浄が行わ
れ、その後に被処理体に付着した水分を除去する乾燥処
理が行われている。
2. Description of the Related Art In general, in the process of manufacturing semiconductor products and liquid crystal display products by subjecting a workpiece such as a semiconductor wafer or a glass substrate (hereinafter referred to as a wafer or the like) to various kinds of processing, these wafers or the like are covered. Since various chemicals and the like are allowed to act on the treatment object, cleaning using pure water or the like is performed, for example, in order to remove the chemical solution remaining on the treatment object after the treatment with the chemical solution. A drying process has been carried out to remove.

【0003】このために用いられる乾燥処理装置とし
て、遠心力を利用してウエハ等に付着している洗浄液等
の水滴を除去するいわゆる公転式の乾燥処理装置が知ら
れている(実開昭63−180925号、特開平7−1
76512号公報参照)。このうち実開昭63−180
925号に記載の乾燥処理装置は、回転体の上に立設し
た一対の枠壁に、一対の箱状のカセットホルダを揺動可
能に枢支すると共に、両カセットホルダを離間・接近さ
せるように構成されている。この装置によれば、カセッ
トホルダ内に多数のウエハを収容するカセットを挿入し
た後、両カセットホルダを離間させ、次いで回転体を回
転することにより、カセットホルダを水平に位置させる
と共に、遠心力によってウエハに付着した洗浄液を飛散
させて乾燥することができる。また、特開平7−176
512号公報に記載の乾燥処理装置は、上記カセットを
複数の円板状のウエハの一円弧部分を嵌め込みウエハを
並べ載置する載置台とし、この載置台を入れる箱状のク
レードルに上記一円弧部分と垂直となるウエハの他の円
弧部分を挟み保持する溝が形成される保持枠の両側に設
けた構造である。
As a drying apparatus used for this purpose, there is known a so-called revolving type drying apparatus which removes water droplets such as a cleaning liquid adhering to a wafer or the like by using a centrifugal force (Japanese Utility Model Application Laid-open No. Sho 63). -180925, JP-A-7-1
No. 76512). 63-180 of these
In the drying apparatus described in No. 925, a pair of box-shaped cassette holders are pivotally supported on a pair of frame walls erected on a rotating body so as to be swingable, and both cassette holders are separated and approached. Is configured. According to this device, after inserting a cassette accommodating a large number of wafers into the cassette holder, the cassette holder is separated horizontally, and then the rotating body is rotated to position the cassette holder horizontally, and the centrifugal force is applied. The cleaning liquid attached to the wafer can be scattered and dried. Also, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-176
In the drying apparatus described in Japanese Patent Publication No. 512, the above-mentioned cassette is used as a mounting table on which one circular arc portion of a plurality of disk-shaped wafers is fitted, and the wafers are arranged and placed. This is a structure provided on both sides of a holding frame in which a groove for holding the other arc portion of the wafer perpendicular to the portion is formed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者す
なわち実開昭63−180925号に記載の乾燥処理装
置においては、カセットホルダ内に洗浄処理を終えたウ
エハをカセットと共に挿入する構造であるため、容積が
大きくなり大型となり、しかも、ウエハ以外のカセット
にも洗浄液が付着しているため、乾燥に多くの時間を要
するという問題がある。また、カセットホルダ内にカセ
ットを挿入するため、乾燥に供される空気の流れに乱れ
が生じて乾燥効率が低下すると共に、空気の乱れにより
パーティクルがウエハに付着し、コンタミネーションが
発生するという問題もあった。
However, the former, that is, the drying processing apparatus described in Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 63-180925, has a structure in which the wafers having been subjected to the cleaning processing are inserted into the cassette holder together with the cassette. Therefore, there is a problem that a large amount of time is required for drying since the cleaning liquid also adheres to a cassette other than the wafer. In addition, since the cassette is inserted into the cassette holder, the flow of the air supplied for drying is disturbed, and the drying efficiency is reduced. In addition, the particles are attached to the wafer due to the disturbed air, thereby causing contamination. There was also.

【0005】これに対し、後者すなわち特開平7−17
6512号公報に記載の乾燥処理装置は、カセットに代
えて上述した載置台を箱状のクレードル内に入れる構造
であるため、容積を小さくすることができると共に、小
型にすることができる。しかしながら、クレードルが箱
状に形成されているため、乾燥に供される空気がクレー
ドル内を通過する際に乱れが生じ、前者と同様に乾燥効
率が低下すると共に、空気の乱れによりパーティクルが
ウエハに付着し、コンタミネーションが発生する虞れが
あった。
On the other hand, the latter, that is, Japanese Patent Laid-Open No.
The drying processing apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6512 has a structure in which the mounting table described above is placed in a box-shaped cradle instead of the cassette, so that the volume can be reduced and the size can be reduced. However, since the cradle is formed in a box shape, turbulence occurs when the air supplied for drying passes through the cradle, and the drying efficiency is reduced as in the former case, and the turbulence of the air causes particles to adhere to the wafer. There is a possibility that the toner may adhere and cause contamination.

【0006】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、装置の小型化、パーティクルの付着及びコンタミネ
ーションの発生を防止し、かつ乾燥効率の向上を図れる
ようにした乾燥処理装置を提供することを目的とするも
のである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a drying processing apparatus capable of miniaturizing the apparatus, preventing adhesion of particles and generation of contamination, and improving drying efficiency. It is the purpose.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、回転手段により回転される
回転体と、この回転体の上方において回転体の上方位置
に配設されると共に、回転体と共に回転する被処理体用
支持手段とを具備する乾燥処理装置において、上記回転
体に、上記支持手段の側方を直線状に覆う一対の側壁を
有するフードを設け、 上記支持手段、上記側壁と略
平行な壁部と、上記回転体の半径方向に開口する通気口
とを有する筒状をなし、複数の上記被処理体の両側部側
を保持する複数の保持溝を列設する保持部を有する支持
枠と、複数の上記被処理体の最下端より偏倚する箇所を
保持する複数の保持溝を列設する下部支持体とを具備
、 上記下部支持体を、この下部支持体と係脱可能な
昇降手段により上記支持枠に対して昇降可能に形成して
なる、ことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a rotating body which is rotated by a rotating means, and is disposed above the rotating body at a position above the rotating body. And a hood having a pair of side walls that linearly cover the sides of the support means, wherein the hood is provided with: The means has a cylindrical shape having a wall portion substantially parallel to the side wall and a vent opening in a radial direction of the rotating body, and is formed on both sides of a plurality of the processing objects.
Having a holding portion for arranging a plurality of holding grooves for holding
A frame and a portion deviated from the lowermost end of the plurality of objects to be processed
And a lower support body in which a plurality of holding grooves for holding are arranged.
And the lower support can be disengaged from the lower support.
It is formed so as to be able to move up and down with respect to the support frame by elevating means
It becomes, characterized in that.

【0008】上記請求項1記載の発明において、上記被
処理体支持手段は、回転体の上方位置に配設されて回転
体と共に回転されるものであれば、1つでもよく、ある
いは、2つ、3つ等の複数個であってもよい。支持手段
を複数個具備する場合には、、複数の支持手段を、回転
体の回転中心に関して対称位置に配設する方が好ましい
(請求項2)。ここで、対称位置とは、回転中心から同
距離の位置に配設されることを含む意味である。
In the first aspect of the present invention, the object support means may be one or two as long as it is disposed at a position above the rotating body and is rotated together with the rotating body. Or three or more. When a plurality of support means are provided, it is preferable to arrange the plurality of support means symmetrically with respect to the rotation center of the rotating body (claim 2). Here, the symmetric position means that it is disposed at the same distance from the center of rotation.

【0009】請求項3記載の発明は、請求項1又は2記
載の乾燥処理被装置において、上記フードの側壁と支持
手段の壁部との間に、両者と平行な整流板を配設してな
る、ことを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the apparatus to be dried according to the first or second aspect, a straightening plate parallel to the hood is provided between the side wall of the hood and the wall of the support means. It is characterized by that.

【0010】請求項4記載の発明は、回転手段により回
転される回転体と、この回転体の上方において回転体の
上方位置に配設されると共に、回転体と共に回転する被
処理体用支持手段と、上記回転体及び支持手段を包囲す
る処理容器とを具備する乾燥処理装置において、 上記
回転体に、上記支持手段の側方を直線状に覆う一対の側
壁を有するフードを設け、 上記支持手段、上記側壁
と略平行な壁部と、上記回転体の半径方向に開口する通
気口とを有する筒状をなし、複数の上記被処理体の両側
部側を保持する複数の保持溝を列設する保持部を有する
支持枠と、複数の上記被処理体の最下端より偏倚する箇
所を保持する複数の保持溝を列設する下部支持体とを具
備し、 上記下部支持体を、この下部支持体と係脱可能
な昇降手段により上記支持枠に対して昇降可能に形成し
てなり、 上記処理容器には、上記回転体の回転中心に
対向する部位に空気取入口を設けると共に、この処理容
器の側壁の一部に、底部から少なくとも上記回転体の上
面高さ部位まで延びる排気口を設けた、ことを特徴とす
る。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a rotating body which is rotated by a rotating means, and a supporting means for a workpiece which is disposed above the rotating body at a position above the rotating body and which rotates with the rotating body. And a processing vessel surrounding the rotator and the support means, wherein the rotator is provided with a hood having a pair of side walls that linearly cover the sides of the support means, is no and the side wall substantially parallel to the wall portion, a cylindrical shape having a vent opening in the radial direction of the rotating body, both sides of the plurality of the object to be processed
Having a holding portion for arranging a plurality of holding grooves for holding the portion side
A support frame, and a member that deviates from a lowermost end of the plurality of objects to be processed.
And a lower support having a plurality of holding grooves for holding a place.
The lower support can be disengaged from this lower support
Is formed so that it can be raised and lowered with respect to the support frame
In the processing container, an air intake is provided at a portion facing the rotation center of the rotating body, and a portion of a side wall of the processing container extends from a bottom to at least a top surface of the rotating body. An exhaust port is provided.

【0011】上記請求項4記載の発明において、上記被
処理体支持手段は、1つでもよく、あるいは、2つ、3
つ等の複数個であってもよい。支持手段を複数個具備す
る場合は、上記請求項2記載の発明と同様に回転体の回
転中心に関して対称位置に配設する方が好ましい(請求
項5)。
In the invention according to claim 4, the object supporting means may be one, or two or three.
There may be more than one. When a plurality of support means are provided, it is preferable to dispose them in a symmetrical position with respect to the rotation center of the rotating body as in the second aspect of the invention (claim 5).

【0012】この発明において、上記フードの側壁は、
上記支持手段の側方を直線状に覆う板状のものであれば
よいが、好ましくは側壁の端部を、回転方向に沿って傾
斜あるいは円弧状に形成する方がよい。また、側壁にお
ける上記回転体の回転方向と対向する部位に、水切り穴
を設けることにより、被処理体から飛散された水滴を排
出できる点で好ましい(請求項6)。
In the present invention, the side wall of the hood is
Any plate may be used as long as it covers the side of the support means in a straight line, but it is preferable that the end of the side wall is formed to be inclined or arcuate along the rotation direction. Further, it is preferable that a drain hole is provided in a portion of the side wall opposite to the rotation direction of the rotating body, so that water droplets scattered from the object can be discharged (claim 6).

【0013】また、上記支持手段は、上記側壁と平行な
壁部と回転体の半径方向に開口する通気口を有する箱状
であればよいが、好ましくは支持手段の最外周部を、回
転方向に沿って傾斜あるいは円弧状に形成する方がよ
い。また、支持手段の端部に、この支持手段にて支持さ
れる被処理体の露出面を覆う遮蔽案内板を突設すること
により、端部側の被処理体への空気流を整流化できる点
で好ましい(請求項7)。
The support means may be a box having a wall parallel to the side wall and a vent opening in the radial direction of the rotating body. Preferably, the outermost peripheral part of the support is moved in the rotational direction. It is better to form it in an inclined or arcuate shape along. Further, by projecting a shielding guide plate that covers the exposed surface of the object supported by the support means at the end of the support means, the air flow to the object at the end side can be rectified. This is preferable in point (claim 7).

【0014】加えて、上記フードの側壁の両端部に、回
転体の回転方向に沿う傾斜部又は円弧状部を設け、支持
手段の壁部の最外周部に、回転体の回転方向に沿う傾斜
部又は円弧状部を設ける方が好ましい(請求項8)。
In addition, at both ends of the side wall of the hood, inclined portions or arc-shaped portions are provided along the rotation direction of the rotating body, and the outermost peripheral portion of the wall portion of the support means is provided with an inclined portion along the rotating direction of the rotating body. It is preferable to provide a portion or an arc-shaped portion (claim 8).

【0015】この発明によれば、回転体に、支持手段の
側方を直線状に覆う一対の側壁を有するフードを設け、
支持手段は、側壁と略平行な壁部と、回転体の半径方向
に開口する通気口とを有する筒状をなし、複数の被処理
体の両側部側を保持する複数の保持溝を列設する保持部
を有する支持枠と、複数の被処理体の最下端より偏倚す
る箇所を保持する複数の保持溝を列設する下部支持体と
を具備し、下部支持体を、この下部支持体と係脱可能な
昇降手段により支持枠に対して昇降可能に形成すること
により、被処理体に付着した水滴が自重により最下端部
に落下するので、保持棒に付着することなく水切りする
ことができる。また、側壁によって乾燥用空気を掻き取
りながら回転体が回転すると共に、回転体の中心部に流
れる空気が、側壁と支持手段の壁部との間及び支持手段
にて支持される被処理体間に平行に一方向に流れ、被処
理体に付着する水滴を飛散させることができる。更に、
被処理体から飛散された水滴を側壁による掻き取りによ
って外方に排出することができる。
According to the invention, the rotating body is provided with the support means.
Provide a hood having a pair of side walls that cover the sides linearly,
The support means includes a wall portion substantially parallel to the side wall and a radial direction of the rotating body.
A cylindrical shape with a vent opening to the
A holding section that arranges a plurality of holding grooves that hold both sides of the body
A support frame with
Lower support that rows a plurality of holding grooves to hold
Comprising a lower support, which can be disengaged from the lower support.
When the support frame is formed so as to be able to move up and down by the elevating means, the water drop adhering to the object to be processed falls to the lowermost end by its own weight, so that the water can be drained without adhering to the holding rod. In addition, the rotating body rotates while scraping the drying air by the side wall, and the air flowing to the central portion of the rotating body flows between the side wall and the wall of the supporting means and between the workpieces supported by the supporting means. Water flowing in one direction in parallel with the object, and water droplets attached to the object to be processed can be scattered. Furthermore,
Water droplets scattered from the object to be processed can be discharged outward by scraping by the side wall.

【0016】また、昇降手段によって下部支持体を支持
枠に対して昇降させることによって、被処理体と支持枠
の保持部とが干渉することなく、被処理体の受け渡しを
行うことができ、しかも、下部支持体を下降した状態で
被処理体の中心側部を保持部で保持することができる
The lower support is supported by the lifting means.
The object to be processed and the support frame are raised and lowered with respect to the frame.
Delivery of workpieces without interference with the holding part
Can be performed, and with the lower support lowered
The central portion of the object to be processed can be held by the holding portion .

【0017】また、上記フードの側壁と支持手段の壁部
との間に、両者と略平行な整流板を配設することによ
り、更に空気の流れを整流化することができると共に、
整流板によってパーティクルの被処理体側への侵入を阻
止することができる。
Further, by arranging a rectifying plate substantially parallel to the side wall of the hood and the wall of the supporting means, the flow of air can be further rectified.
The flow straightening plate can prevent particles from entering the object side.

【0018】また、回転体及び支持手段を包囲する処理
容器に、回転体の回転中心に対向する部位に空気取入口
を設けると共に、この処理容器の側壁の一部に、底部か
ら少なくとも回転体の上面高さ部位まで延びる排気口を
設けることにより、乾燥用空気を回転体の中心部側から
取り込んで、被処理体に均一に流すことができ、被処理
体から飛散された水滴を排気口側に排出することができ
る。また、フードの側壁の両端部に、回転体の回転方向
に沿う傾斜部又は円弧状部を設け、支持手段の壁部の最
外周部に、回転体の回転方向に沿う傾斜部又は円弧状部
を設けることにより、フード及び支持手段の側壁に付着
する水滴の水切りを良好にすることができる 。
The processing vessel surrounding the rotating body and the supporting means is provided with an air inlet at a position facing the center of rotation of the rotating body, and at least a portion of the side wall of the processing vessel is provided with at least the rotating body from the bottom. By providing an exhaust port extending to the top surface, drying air can be taken in from the center of the rotating body and can be uniformly flowed to the object to be processed, and water droplets scattered from the object can be discharged to the exhaust port side. Can be discharged. In addition, at both ends of the side wall of the hood, an inclined portion or an arc-shaped portion along the rotation direction of the rotating body is provided, and at the outermost peripheral portion of the wall portion of the support means, an inclined portion or an arc-shaped portion along the rotation direction of the rotating body. By providing the hood, drainage of water droplets adhering to the side wall of the hood and the supporting means can be improved.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下に、この発明の実施の形態を
図面に基づいて詳細に説明する。この実施形態では半導
体ウエハの乾燥処理装置に適用した場合について説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In this embodiment, a case where the present invention is applied to a semiconductor wafer drying processing apparatus will be described.

【0020】図1はこの発明の乾燥処理装置の概略断面
図、図2は図1の側面図、図3はその要部断面図であ
る。
FIG. 1 is a schematic sectional view of a drying apparatus of the present invention, FIG. 2 is a side view of FIG. 1, and FIG.

【0021】上記乾燥処理装置は、回転手段であるモー
タ1により回転される例えば円板状の回転体2と、この
回転体2上に搭載され回転体2の回転中心に関して対称
位置に配設されると共に、回転体2と共に回転する、複
数例えば25枚の半導体ウエハW(以下にウエハとい
う)を支持する複数(図面では2つの場合を示すが、3
つ、4つ、5つ、6つ等であってもよい)の被処理体用
支持手段であるクレードル10a,10bと、回転体2
とクレードル10a,10bを収容する処理室31を有
する有底円筒状の処理容器30と、この処理容器30の
上部開口部30aを開閉する蓋32とを具備してなる。
The above-mentioned drying apparatus is provided with, for example, a disk-shaped rotating body 2 rotated by a motor 1 as a rotating means, and is mounted on the rotating body 2 and arranged at symmetrical positions with respect to the rotation center of the rotating body 2. At the same time, a plurality of (for example, 25 wafers) supporting a plurality of, for example, 25 semiconductor wafers W (hereinafter referred to as wafers), which rotate together with the rotating body 2 (three cases are shown in the drawing)
, Cradles 10a, 10b as support means for the object to be processed, and rotator 2
And a processing chamber 31 having a bottom and a processing chamber 31 for accommodating the cradle 10a, 10b, and a lid 32 for opening and closing the upper opening 30a of the processing container 30.

【0022】上記回転体2は、その上面に一対の側壁1
1を有するフード12が平行状に起立されており、両側
壁11によってクレードル10a,10bの側方を直線
状に覆っている。また、回転体2は処理容器30の底部
を貫通する回転軸3に連結され、この回転軸3には従動
プーリ4が装着されており、この従動プーリ4とモータ
1の駆動軸1aに装着された駆動プーリ5とにタイミン
グベルト6が掛け渡されて、モータ1の回転によって回
転体2が水平回転し得るように構成されている。この場
合、モータ1はサーボモータを用い、回転体2及びクレ
ードル10a,10bの水平回転の始動、停止、制動及
び微速回転が連続的に行えるようになっている。
The rotating body 2 has a pair of side walls 1 on its upper surface.
A hood 12 having an upper side 1 is erected in parallel, and the side walls 11 linearly cover the sides of the cradle 10a, 10b. The rotating body 2 is connected to a rotating shaft 3 that penetrates the bottom of the processing container 30. A driven pulley 4 is mounted on the rotating shaft 3, and the driven pulley 4 is mounted on a driving shaft 1 a of the motor 1. A timing belt 6 is wound around the driving pulley 5 so that the rotating body 2 can be rotated horizontally by the rotation of the motor 1. In this case, a servo motor is used as the motor 1 so that the starting, stopping, braking, and low-speed rotation of the rotating body 2 and the cradle 10a, 10b can be continuously performed.

【0023】上記両クレードル10a,10bは、図4
ないし図6に示すように、側壁11と平行な壁部14a
を有する角筒状の支持枠14と、この支持枠14に対し
て昇降可能な格子状の下部支持体15とで構成されてい
る。したがって、クレードル10a,10bは、側壁1
1と平行な壁部14aと、回転体2の半径方向に開口す
る通気口(具体的には、角筒状の支持枠14と下部支持
体15の格子穴15aによって構成される)を有する筒
状構造に形成される。また、支持枠14は、回転体2の
フード12に支軸13をもって、回転体2の回転方向と
直交する方向に回転可能に枢着されて、ウエハWを受け
渡す垂直姿勢と、乾燥処理時の水平姿勢とに変位し得る
ように構成されている。
The two cradles 10a and 10b are arranged as shown in FIG.
As shown in FIG. 6, a wall portion 14a parallel to the side wall 11 is formed.
And a grid-like lower support 15 that can be raised and lowered with respect to the support frame 14. Therefore, the cradle 10a, 10b
A tube having a wall portion 14a parallel to the first member 1 and a ventilation opening (specifically, formed by a rectangular cylindrical support frame 14 and a lattice hole 15a of a lower support member 15) that opens in the radial direction of the rotating body 2. It is formed in the shape of a lattice. Further, the support frame 14 is rotatably mounted on the hood 12 of the rotating body 2 with the support shaft 13 in a direction orthogonal to the rotating direction of the rotating body 2 so as to transfer the wafer W, It is configured so that it can be displaced to the horizontal posture.

【0024】この場合、クレードル10a,10bの最
外周部すなわち水平姿勢における支持枠14の外側端部
には、回転方向に沿って傾斜部14bが設けられてい
る。また、側壁11の両端部にも同様に回転方向に沿っ
て傾斜部11bが設けられている(図4ないし図6参
照)。このように、傾斜部14b,11bを設けること
により、クレードル10a,10b及び側壁11に付着
する水滴の水切りを良好にすることができる。また、側
壁11の両端部に傾斜部11bを設けることにより、フ
ード12に剛性をもたせることができる。なお、傾斜部
14b,11bにかえて円弧状部を設けてもよい。
In this case, an inclined portion 14b is provided in the outermost peripheral portion of the cradle 10a, 10b, that is, the outer end portion of the support frame 14 in a horizontal posture along the rotation direction. Similarly, inclined portions 11b are provided at both ends of the side wall 11 along the rotation direction (see FIGS. 4 to 6). By providing the inclined portions 14b and 11b in this way, it is possible to improve drainage of water droplets attached to the cradle 10a and 10b and the side wall 11. Further, by providing the inclined portions 11 b at both ends of the side wall 11, the hood 12 can have rigidity. Note that an arc-shaped portion may be provided instead of the inclined portions 14b and 11b.

【0025】また、図4及び図5に示すように、フード
12の側壁11とクレードル10a,10bとの間には
側壁11と略平行な整流板16が配置されている。この
整流板16によって側壁11とクレードル10,10b
の間に沿って空気が一方向に流れることにより、空気が
整流化され、また外部から持ち込まれたパーティクルが
ウエハW側に侵入するのを阻止できるようになってい
る。
As shown in FIGS. 4 and 5, between the side wall 11 of the hood 12 and the cradle 10a, 10b, a rectifying plate 16 substantially parallel to the side wall 11 is arranged. The side wall 11 and the cradle 10, 10b are formed by the current plate 16.
By flowing air in one direction along the gap, the air is rectified, and particles brought in from the outside can be prevented from entering the wafer W side.

【0026】また、クレードル10a,10bの一端す
なわち水平姿勢時に上端に位置する側には、ウエハWの
外形とほぼ同形の半円弧状の遮蔽板例えばダミー板17
が両クレードル10a,10bの対向面に突設されて、
クレードル10a,10bにて保持されるウエハWの露
出面が覆われている。このダミー板17によってクレー
ドル10a,10bに保持される端部側のウエハWに流
れる空気を整流化することができ、乱気流による端部側
ウエハWのダメージを防止することができる。
On one end of the cradle 10a, 10b, that is, on the side located at the upper end in the horizontal position, a semicircular shielding plate such as a dummy plate 17 having substantially the same shape as the outer shape of the wafer W is provided.
Are protruded from the opposing surfaces of both cradles 10a and 10b,
The exposed surface of the wafer W held by the cradle 10a, 10b is covered. The air flowing to the end wafer W held by the cradle 10a, 10b can be rectified by the dummy plate 17, and damage to the end wafer W due to turbulence can be prevented.

【0027】上記のように、回転体2の上部に、クレー
ドル10a,10bの側方を直線状に覆う一対の側壁1
1を有するフード12を設け、クレードル10a,10
bを、側壁11と略平行な壁部14aと、回転体2の半
径方向に開口する通気口とを有する筒状構造とすること
により、側壁11によって乾燥用空気を掻き取りながら
回転体2が回転すると共に、回転体2の中心部に流れる
空気が、側壁11、整流板16、クレードル10a,1
0bの壁部14aの間、及びクレードル10a,10b
内に支持されるウエハW間に平行に一方向に流れ、ウエ
ハWに付着する水滴を飛散させることができる。そし
て、ウエハWから飛散された水滴を側壁11による掻き
取りによって外方に排出することができる。この場合、
図5に示すように、側壁11における回転体2の回転方
向と対向する部位の下部に水切り穴11aを設けること
により、側壁11の内側に飛散された水滴を水切り穴1
1aから排出することができ、更に乾燥効率の向上を図
ることができる。
As described above, the pair of side walls 1 that linearly cover the sides of the cradle 10a, 10b
1 is provided, and cradle 10a, 10
b is a cylindrical structure having a wall portion 14a substantially parallel to the side wall 11 and a ventilation opening that opens in the radial direction of the rotating body 2, so that the rotating body 2 While rotating, the air flowing to the center of the rotating body 2 flows through the side wall 11, the current plate 16, the cradle 10a, 1
0b between the wall 14a and the cradle 10a, 10b
Water flowing in one direction in parallel between the wafers W supported therein can be scattered. Then, the water droplets scattered from the wafer W can be discharged outward by scraping by the side wall 11. in this case,
As shown in FIG. 5, a drain hole 11 a is provided below a portion of the side wall 11 opposite to the rotation direction of the rotating body 2, so that water droplets scattered inside the side wall 11 can be drained.
1a, and the drying efficiency can be further improved.

【0028】また、上記支持枠14は、図6及び図8に
示すように、上部の対向する内側壁に、複数例えば25
個の保持溝18aを列設した保持部18が設けられてお
り、これら保持部18によってウエハWの中心部両側が
保持されるようになっている。また、下部支持体15
は、ウエハWの最下端部より偏倚する2箇所を保持する
2本の第1の保持棒19と、ウエハWにおける第1の保
持棒19の外側の2箇所を保持する第2の保持棒20
と、これら第1の保持棒19と第2の保持棒20を支持
する支持基部21とで構成されている。この場合、第1
の保持棒19及び第2の保持棒20には、それぞれ複数
例えば25個の保持溝19a,20aが列設されている
(図8参照)。なお、保持部18,第1の保持棒19及
び第2の保持棒20は耐薬品性及び耐強度性を有する材
質例えばPTFE(ポリテトラフルオロエチレン)又は
PFA(テトラフルオロエチレン−パーフルオロアルキ
ルビニルエーテル共重合体)、石英あるいはPEEK
(ポリエーテルエーテルケトン)製部材にて形成されて
いる。また、支持枠14と支持基部21は、表面がタフ
ラム処理されたアルミニウム合金製部材にて形成される
と共に、その表面にフッ素樹脂が含浸処理されている。
このように、支持枠14及び下部支持体15の主要部を
構成する支持基部21をアルミニウム合金製部材にて形
成し、表面にフッ素樹脂を含浸処理することにより、下
部支持体15を軽量にすることができると共に、耐薬品
性をもたせて寿命の増大を図ることができる。なお、少
なくとも支持基部21のみをアルミニウム合金製部材に
て形成すると共に、その表面にフッ素樹脂を含浸処理し
てもよい。
As shown in FIGS. 6 and 8, a plurality of support frames 14, for example, 25
A plurality of holding grooves 18a are provided in a row, and both sides of the central portion of the wafer W are held by these holding parts 18. Also, the lower support 15
Are two first holding rods 19 for holding two positions offset from the lowermost end of the wafer W, and a second holding rod 20 for holding two positions on the wafer W outside the first holding rods 19.
And a support base 21 for supporting the first holding rod 19 and the second holding rod 20. In this case, the first
Each of the holding rods 19 and 20 has a plurality of, for example, 25 holding grooves 19a, 20a arranged in rows (see FIG. 8). The holding portion 18, the first holding rod 19, and the second holding rod 20 are made of a material having chemical resistance and strength resistance, for example, PTFE (polytetrafluoroethylene) or PFA (tetrafluoroethylene-perfluoroalkylvinyl ether). Polymer), quartz or PEEK
(Polyether ether ketone). The support frame 14 and the support base 21 are formed of a member made of an aluminum alloy whose surface is subjected to a tuffram treatment, and the surfaces thereof are impregnated with a fluororesin.
As described above, the support base 21 constituting the main parts of the support frame 14 and the lower support 15 is formed of an aluminum alloy member, and the surface thereof is impregnated with a fluororesin, thereby reducing the weight of the lower support 15. In addition to providing chemical resistance, it is possible to extend the life. Note that at least only the support base 21 may be formed of an aluminum alloy member, and the surface thereof may be impregnated with a fluororesin.

【0029】このように、第1の保持棒19をウエハW
の最下端部より偏倚した2箇所に配置し、第2の保持棒
20を第1の保持棒の外側の2箇所に配置することによ
り、ウエハWを4点で支持することができるので、ウエ
ハWの下部側を安定した状態で保持することができる。
また、第1の保持棒19がウエハWの最下端部より偏倚
した位置におかれることにより、ウエハWに付着した水
滴が自重により最下端部に落下し、第1の保持棒19に
付着することなく水切りすることができる。
As described above, the first holding rod 19 is
Since the wafer W can be supported at four points by arranging the second holding rod 20 at two points outside the first holding rod by disposing the wafer W at two points offset from the lowermost end of the wafer. The lower side of W can be held in a stable state.
In addition, since the first holding rod 19 is located at a position deviated from the lowermost end of the wafer W, water droplets attached to the wafer W fall to the lowermost end by its own weight and adhere to the first holding rod 19. Drain without draining.

【0030】上記のように構成される第1の保持棒19
と第2の保持棒20を有する下部支持体15は、図7に
示すように、支持枠14の両側に垂設されたガイド軸2
2に摺動可能に装着されて、垂直方向に移動すなわち支
持枠14に対して昇降可能に形成されており、図1に示
すように、処理容器30の下方に配設された昇降手段2
3によって昇降し得るように構成されている。
The first holding rod 19 configured as described above
As shown in FIG. 7, the lower support body 15 having the second holding rod 20 and the guide shaft 2
2 is slidably mounted on the supporting frame 14 so as to be vertically movable, that is, capable of moving up and down with respect to the support frame 14, and as shown in FIG.
3 so as to be able to move up and down.

【0031】昇降手段23は、図1に示すように、ステ
ッピングモータ23aによって回転する垂直方向に延び
るボールねじ23bと、このボールねじ23bに螺合す
る可動子23cに連結される操作ロッド23dとを具備
している。操作ロッド23dが上昇すると下部支持体1
5が上昇し、操作ロッド23dが下降すると下部支持体
15が下降するようになっている。すなわち、両クレー
ドル10a,10bが垂直姿勢で近接位置におかれた状
態で、昇降手段23の操作ロッド23dが上昇すること
により、下部支持体15が押し上げられ、ウエハチャッ
ク40bから50枚のウエハWを受け取ることができる
ようになっている(図8参照)。
As shown in FIG. 1, the elevating means 23 includes a vertically extending ball screw 23b rotated by a stepping motor 23a and an operation rod 23d connected to a movable element 23c screwed to the ball screw 23b. I have it. When the operating rod 23d rises, the lower support 1
When the operating rod 23d moves down, the lower support 15 moves down. That is, in a state where the cradle 10a and the cradle 10b are placed in the close position in the vertical posture, the lower support 15 is pushed up by raising the operation rod 23d of the lifting / lowering means 23, and 50 wafers W are moved from the wafer chuck 40b. (See FIG. 8).

【0032】なお、操作ロッド23dは可動子23cに
対して回転自在に連結されており、この操作ロッド23
dの下端部に連結されたロータリアクチェータ23eに
よって回転されることにより、操作ロッド23dの上端
部に装着されたフック23fが図8に示すように、下部
支持体15の下面に設けられた係合部15aに係脱可能
に構成されている。このように昇降手段23と下部支持
体15とを係脱可能にすることにより、フック23fと
係合部15aとを係合させて操作ロッド23dを昇降さ
せることができ、また、下部支持体15を下降した後、
フック23fと係合部15aとの係合を解除して、操作
ロッド23dを更に下降させることで、乾燥処理時の回
転体2及びクレードル10a,10bの水平回転に支障
をきたすことがないようにしてある。
The operating rod 23d is rotatably connected to the mover 23c.
As a result of being rotated by the rotary chopper 23e connected to the lower end of the lower support d, the hook 23f mounted on the upper end of the operating rod 23d is engaged with the lower surface of the lower support 15 as shown in FIG. It is configured to be disengageable with the part 15a. As described above, by making the lifting / lowering means 23 and the lower support 15 detachable, the operation rod 23d can be raised and lowered by engaging the hook 23f and the engaging portion 15a. After descending
By disengaging the hook 23f from the engagement portion 15a and further lowering the operation rod 23d, the rotation of the rotating body 2 and the cradle 10a, 10b during the drying process is not hindered. It is.

【0033】上記のようにして第1の保持棒19と第2
の保持棒20を有する下部支持体15を、支持枠14に
対して昇降させることにより、ウエハ搬送装置40との
間でウエハWの受け渡しを行うことができ、しかも、ウ
エハWを保持して昇降しても、図6及び図8に示すよう
に、ウエハWと支持枠14に設けられた保持部18とが
干渉することがなく、下部支持体15を下降した状態で
はウエハWの中心側側部を保持部18で保持することが
できる。
As described above, the first holding rod 19 and the second holding rod 19
The lower support 15 having the holding rod 20 is moved up and down with respect to the support frame 14, so that the wafer W can be transferred to and from the wafer transfer device 40. However, as shown in FIGS. 6 and 8, the wafer W and the holding portion 18 provided on the support frame 14 do not interfere with each other, and when the lower support 15 is lowered, the center side of the wafer W The part can be held by the holding part 18.

【0034】また、上記両クレードル10a,10bの
一方10aには、両側に走行ローラ24が設けられてお
り、フード12の側壁11に設けられたガイドレール2
5に沿って移動すなわち他方のクレードル10bに対し
て接離移動(相対移動)し得るように構成されている
(図6及び図7参照)。そして、図示しない移動手段に
よって一方のクレードル10aが他方のクレードル10
bに対して接離移動されるようになっている。
A traveling roller 24 is provided on both sides of one of the cradle 10a, 10b, and a guide rail 2 provided on the side wall 11 of the hood 12.
5, that is, it can move toward and away from (relative to) the other cradle 10 b (see FIGS. 6 and 7). Then, one cradle 10a is turned into the other cradle 10 by moving means (not shown).
b.

【0035】また、両クレードル10a,10bの一側
の回転中心より偏心した位置には、図6に示すように、
突軸27が突設されている。この突軸27は、図示しな
い押上手段によって押し上げられることにより、クレー
ドル10a,10bが垂直姿勢となり、また、押上手段
が下降して突軸27との係合が解除されることにより、
ウエハWを支持したクレードル10a,10bが自重に
よって水平面に対して10〜40度傾斜した状態となる
ように構成されている。クレードル10a,10bを1
0〜40度傾斜させる理由は、10度以下にすると、停
止時にウエハWが前に飛び出す虞れがあり、また、40
度以上であると、回転時に水平姿勢が保てなくなる虞れ
があるからである。
As shown in FIG. 6, at a position eccentric from the rotation center on one side of both cradles 10a and 10b,
A protruding shaft 27 protrudes. The protruding shaft 27 is pushed up by push-up means (not shown) so that the cradle 10a, 10b is in a vertical position, and the push-up means is lowered to release the engagement with the protruding shaft 27.
The cradle 10a, 10b supporting the wafer W is configured to be inclined by 10 to 40 degrees with respect to the horizontal plane due to its own weight. One cradle 10a, 10b
The reason for the inclination of 0 to 40 degrees is that if the inclination is set to 10 degrees or less, there is a possibility that the wafer W may jump forward when stopped.
If the rotation angle is higher than the degree, the horizontal posture may not be maintained during rotation.

【0036】一方、処理容器30の上部には空気取入口
30aが設けられている。この空気取入口30aには、
中央に通気穴34aを有するドーナツ状天板34が配置
され、その上方位置にはドーナツ状のフィルタ35が配
設されると共に、このフィルタ35の中央部上方に中心
側が下方に向かって縮径形成された遮蔽板36が設けら
れている。このように、空気取入口30aに、天板3
4,ドーナツ状フィルタ35及び遮蔽板36を配置する
ことにより、外周側からフィルタ35を介して流れ込む
空気を天板34の通気穴34aを通って処理室31の中
心部上方に流すことができる。
On the other hand, an air inlet 30a is provided in the upper part of the processing vessel 30. In this air intake 30a,
A donut-shaped top plate 34 having a vent hole 34a at the center is arranged, and a donut-shaped filter 35 is disposed above the donut-shaped top plate 34. The provided shielding plate 36 is provided. As described above, the top plate 3 is connected to the air inlet 30a.
4. By arranging the donut-shaped filter 35 and the shielding plate 36, the air flowing from the outer peripheral side through the filter 35 can flow above the center of the processing chamber 31 through the ventilation hole 34 a of the top plate 34.

【0037】また、処理容器30の空気取入口30aに
はヒンジ37を介して蓋32が開閉可能に取り付けられ
ており、ヒンジ37の枢支軸37aに連結する連結リン
ク38を介して連接する開閉シリンダ39(開閉手段)
のピストンロッド39aの伸縮動作によって蓋32が開
閉し得るように構成されている。なお、蓋32には、ド
ーナツ状天板34,フィルタ35,遮蔽板36,イオナ
イザ42及び容器洗浄用ノズル43が取り付けられてお
り、蓋32の開閉に伴なって動くようになっている。
A lid 32 is attached to the air inlet 30a of the processing container 30 via a hinge 37 so as to be openable and closable, and is opened and closed by a connecting link 38 connected to a pivot 37a of the hinge 37. Cylinder 39 (opening / closing means)
The lid 32 can be opened and closed by the expansion and contraction operation of the piston rod 39a. The lid 32 is provided with a donut-shaped top plate 34, a filter 35, a shielding plate 36, an ionizer 42, and a container cleaning nozzle 43. The lid 32 moves as the lid 32 opens and closes.

【0038】また、上記処理容器30の底部は、図1及
び図3に示すように、外周側の排気口30cに向って下
り勾配で、かつ回転方向に沿って順次下り勾配の底面3
0bを有しており、また、処理容器30の側部には、底
部から少なくとも回転体2の上面高さ位置(部位)まで
延びる矩形状あるいは楕円形状等の排気口30cが設け
られており、この排気口30cに排気ダクト33が接続
されている(図1及び図2参照)。この場合、排気ダク
ト33はエルボ状に屈曲されて排気口30cに接続され
ており、そのエルボ部33a内の下部側には、仕切板3
3bが垂設されており、処理容器30から排出されるミ
ストを含む排気が仕切板33bに衝突することにより、
気液が分離されると共に、排気流の乱流(渦流)が抑制
されて処理容器30内への悪影響を阻止し得るように構
成されている。なお、分離された排液は下方の排液管3
3cに流れて外部に排出され、排気は側方に接続する排
気管33dを介して外部へ排気される。
As shown in FIG. 1 and FIG. 3, the bottom of the processing vessel 30 has a downward slope toward the exhaust port 30c on the outer peripheral side and a downward slope sequentially along the rotational direction.
0b, and a rectangular or elliptical exhaust port 30c extending from the bottom to at least the height position (part) of the upper surface of the rotating body 2 is provided on the side of the processing container 30. An exhaust duct 33 is connected to the exhaust port 30c (see FIGS. 1 and 2). In this case, the exhaust duct 33 is bent in an elbow shape and is connected to the exhaust port 30c.
3b is suspended, and exhaust gas including mist discharged from the processing container 30 collides with the partition plate 33b,
Gas and liquid are separated, and turbulence (vortex flow) of the exhaust flow is suppressed, so that adverse effects on the inside of the processing vessel 30 can be prevented. In addition, the separated drainage is provided in the lower drainage pipe 3.
The exhaust gas flows to 3c and is exhausted to the outside, and the exhaust gas is exhausted to the outside via an exhaust pipe 33d connected to the side.

【0039】また、乾燥処理装置の上方には、フィルタ
とファン(図示せず)を有する風量調整可能なフィルタ
ファンユニット44が配置されて、乾燥処理装置内に供
給される空気が清浄化されるようになっている。更に、
乾燥運転中には、乾燥処理装置を具備する洗浄装置内の
風速及び風量が一定になるよう設計されている。具体的
には、回転体2の回転数による処理容器30の外部側の
洗浄装置内の風速及び風量を測定し、その実験結果によ
り回転体2の回転数に対応させてフィルタファンユニッ
ト44の風速及び風量を制御することによって洗浄装置
内の風速及び風量を一定に維持する。勿論、フィルタの
外部付近に風速・風量センサを設け、この風速・風量セ
ンサの検出結果に基づいて常時風速及び風量を制御して
もよい。また、乾燥処理装置の外側にはウエハ搬送装置
40が横移動及び昇降可能に配設されている。このウエ
ハ搬送装置40は、複数枚例えば50枚のウエハWを保
持する保持溝を有する複数例えば2本の保持棒40aを
有する2本の対向方向に接離移動自在な保持アームから
なるウエハチャック40bが形成されており、保持した
ウエハWを乾燥処理装置の上方へ移動し、ウエハチャッ
ク40bを接離移動することで、50枚のウエハWを上
昇した上記クレードル10a,10bに受け渡すことが
できるようになっている。
Further, a filter fan unit 44 having a filter and a fan (not shown) capable of adjusting the air flow is disposed above the drying processing apparatus, and the air supplied into the drying processing apparatus is cleaned. It has become. Furthermore,
During the drying operation, it is designed so that the air velocity and the air volume in the cleaning device including the drying processing device are constant. Specifically, the wind speed and the air volume in the cleaning device on the outside of the processing container 30 are measured based on the rotation speed of the rotating body 2, and the wind speed of the filter fan unit 44 is set to correspond to the rotation speed of the rotating body 2 based on the experimental results. By controlling the air flow and the air flow, the air velocity and the air flow in the cleaning device are kept constant. Of course, a wind speed / air volume sensor may be provided near the outside of the filter, and the wind speed / air volume may be constantly controlled based on the detection result of the wind speed / air volume sensor. In addition, a wafer transfer device 40 is provided outside the drying processing device so as to be able to move and move up and down. The wafer transfer device 40 includes a wafer chuck 40b having two (eg, two) holding arms 40a each having a plurality of (eg, two) holding rods 40a having holding grooves for holding a plurality of, eg, 50 wafers W, and capable of moving in and out of opposing directions. Is moved, and the held wafer W is moved above the drying processing apparatus, and the wafer chuck 40b is moved toward and away from the cradle 10a, 10b. It has become.

【0040】次に、上記乾燥処理装置の動作態様につい
て説明する。まず、一方のクレードル10aを他方のク
レードル10bに近接させ、昇降手段23の上昇動作に
より下部支持体15を上昇させて、ウエハWの受け取り
可能な態勢にする。この状態で、乾燥処理装置の上方に
移動したウエハ搬送装置40のウエハチャック40bを
下降させて下部支持体15(具体的には第1及び第2の
保持棒19,20)上にウエハWを載置し、ウエハチャ
ック40bを開放方向に移動してウエハWの受け渡しを
行った後、ウエハ搬送装置40のウエハチャック40b
は上方へ後退する。このとき、昇降手段23の操作部は
下降し、処理容器30の下方位置に待機する。
Next, the operation of the above-described drying apparatus will be described. First, one cradle 10a is brought close to the other cradle 10b, and the lower support 15 is raised by the lifting operation of the lifting / lowering means 23 so that the wafer W can be received. In this state, the wafer chuck 40b of the wafer transfer device 40 moved above the drying processing device is lowered to place the wafer W on the lower support 15 (specifically, the first and second holding rods 19 and 20). The wafer W is transferred, and the wafer W is transferred by moving the wafer chuck 40b in the opening direction.
Retreats upward. At this time, the operation unit of the elevating means 23 descends, and waits at a position below the processing container 30.

【0041】次に、一方のクレードル10aが他方のク
レードル10bから離れ、両クレードル10a,10b
が回転体2の中心に関して対向位置におかれる。このと
き同時に、開閉シリンダ39が駆動して蓋32が閉じ
る。この状態において、クレードル10a,10bが水
平面に対して10〜40度傾斜状態となる。
Next, one cradle 10a separates from the other cradle 10b, and both cradles 10a, 10b
Are located at opposing positions with respect to the center of the rotating body 2. At this time, the opening / closing cylinder 39 is simultaneously driven to close the lid 32. In this state, the cradle 10a, 10b is inclined by 10 to 40 degrees with respect to the horizontal plane.

【0042】次に、サーボモータ1が駆動して回転体2
及びクレードル10a,10bが水平回転すると、遠心
力によりクレードル10a,10bが水平状態となり、
空気流が中心部から各ウエハWの間の隙間を通って外周
側に流れ、また側壁11,クレードル10a,10bの
壁部14a,整流板16の間を流れることで、回転体2
の中心部に流れ込んだ空気が整流状態となって外方すな
わち半径方向に平行に一方向に流れて、ウエハWに付着
した水滴が飛散されると共に、乾燥される。
Next, the servo motor 1 is driven to rotate the rotating body 2
When the cradle 10a, 10b rotates horizontally, the cradle 10a, 10b becomes horizontal by centrifugal force,
The air flow flows from the center to the outer peripheral side through the gap between the wafers W, and flows between the side wall 11, the wall 14a of the cradle 10a, 10b, and the rectifying plate 16, so that the rotating body 2
Air flowing into the center of the wafer W is in a rectified state and flows outward, that is, in one direction parallel to the radial direction, so that water droplets attached to the wafer W are scattered and dried.

【0043】回転体2及びクレードル10a,10bを
所定時間回転した後、サーボモータ1の駆動を停止し、
押上手段を駆動してクレードル10a,10bを垂直姿
勢にし、この状態で移動手段により一方のクレードル1
0aを他方のクレードル10bに近接する。次に、昇降
手段23を上昇駆動して、両クレードル10a,10b
の下部支持体15及びこれらに支持される複数枚例えば
50枚のウエハWを上昇させる。そして、ウエハ搬送装
置40のウエハチャック40bを乾燥処理装置の上方に
移動し、下降させて、ウエハチャック40bによって乾
燥処理された例えば50枚のウエハWを支持した後、上
昇し、横移動して所定の場所にウエハWを搬送する。
After rotating the rotator 2 and the cradle 10a, 10b for a predetermined time, the drive of the servo motor 1 is stopped,
The push-up means is driven to bring the cradle 10a, 10b into a vertical position.
0a is close to the other cradle 10b. Next, the lifting / lowering means 23 is driven to move upward to move both cradles 10a and 10b.
Is raised and a plurality of, for example, 50 wafers W supported by the lower supports 15 are raised. Then, the wafer chuck 40b of the wafer transfer device 40 is moved above the drying processing device and lowered to support, for example, 50 wafers W that have been dried by the wafer chuck 40b, and then rise and move laterally. The wafer W is transferred to a predetermined place.

【0044】上記のように構成されるこの発明の乾燥処
理装置は単独の装置として使用できることは勿論である
が、半導体ウエハ表面のパーティクル、有機汚染物、金
属不純物等のコンタミネーションを除去するための洗浄
処理システムに組込んで使用することができる。
The drying apparatus of the present invention constructed as described above can of course be used as a stand-alone apparatus, but it is used for removing contamination such as particles, organic contaminants and metal impurities on the surface of a semiconductor wafer. It can be used by being incorporated into a cleaning treatment system.

【0045】上記半導体ウエハの洗浄処理システムは、
図9に示すように、未処理のウエハWを収容する搬入部
50と、ウエハWの洗浄処理を行う洗浄処理部60と洗
浄後のウエハWを収容する搬出部51とで主要部が構成
されている。
The semiconductor wafer cleaning processing system comprises:
As shown in FIG. 9, a main part is configured by a loading unit 50 that stores an unprocessed wafer W, a cleaning processing unit 60 that performs a cleaning process on the wafer W, and an unloading unit 51 that stores the cleaned wafer W. ing.

【0046】搬入部50は、洗浄処理前の所定枚数例え
ば25枚のウエハWを収容するキャリア52を待機させ
る待機部53と、キャリア52からのウエハWの取り出
し、オリフラ合わせ及びウエハWの枚数検出等を行うロ
ーダ部54と、外部から搬送ロボットなどによって搬入
されるキャリア52の待機部53への移送及びこの待機
部53とローダ部54との間でキャリア52の移送を行
うためのキャリア搬送アーム55とを具備してなる。
The carry-in section 50 is provided with a standby section 53 for waiting a carrier 52 accommodating a predetermined number of wafers W, for example, 25 wafers W before the cleaning processing, taking out the wafer W from the carrier 52, aligning the orientation flat, and detecting the number of wafers W. And a carrier transfer arm for transferring the carrier 52 carried in from outside by a transfer robot or the like to the standby unit 53 and transferring the carrier 52 between the standby unit 53 and the loader unit 54. 55.

【0047】洗浄処理部60には、搬入部50から搬出
部51に向かって直線状に順に、ウエハ搬送装置40の
ウエハチャック40bを洗浄・乾燥する第1のチャック
洗浄・乾燥処理室61、ウエハW表面の有機汚染物、金
属不純物、パーティクル等の不純物質を薬液によって洗
浄処理する第1の薬液処理室62、第1の薬液処理室6
2で洗浄されたウエハWを例えば純水によって洗浄する
2つの水洗処理室63,64、第1の薬液処理室62の
薬液とは異なる薬液で洗浄する第2の薬液処理室65、
第2の薬液処理室65で洗浄されたウエハWを例えば純
水によって洗浄する2つの水洗処理室66,67、ウエ
ハチャック40bを洗浄・乾燥する第2のチャック洗浄
・乾燥処理室68及び上記不純物質が除去されたウエハ
Wを乾燥させる本実施例の乾燥処理装置を具備する乾燥
処理室69が配設されている。
The cleaning processing section 60 includes a first chuck cleaning / drying processing chamber 61 for cleaning and drying the wafer chuck 40b of the wafer transfer device 40 in a linear manner from the loading section 50 to the unloading section 51 in order. A first chemical processing chamber 62 and a first chemical processing chamber 6 for cleaning impurities such as organic contaminants, metal impurities, and particles on the W surface with a chemical.
2 cleaning processing chambers 63 and 64 for cleaning the wafer W cleaned in 2 with pure water, a second chemical processing chamber 65 for cleaning with a chemical different from the chemical in the first chemical processing chamber 62,
Two washing processing chambers 66 and 67 for cleaning the wafer W cleaned in the second chemical processing chamber 65 with, for example, pure water, a second chuck cleaning and drying processing chamber 68 for cleaning and drying the wafer chuck 40b, and the impurities described above. A drying processing chamber 69 having a drying processing apparatus of the present embodiment for drying the wafer W from which the quality has been removed is provided.

【0048】また、洗浄処理部60の側方には、各処理
室61〜69に沿って配設された案内部40cと、この
案内部40cに装着されて水平(X方向)及び垂直(Z
方向)に移動自在な3基のウエハ搬送ブロック40dと
で構成されるウエハ搬送装置40が設けられており、ウ
エハ搬送ブロック40dに設けられたウエハチャック4
0bにて保持されるウエハWが各処理室61〜68に搬
送された後、乾燥処理室69に搬送されて、上述の回転
体2の高速回転によって乾燥処理されるようになってい
る。
On the side of the cleaning section 60, a guide section 40c is provided along each of the processing chambers 61 to 69, and is mounted on the guide section 40c to be horizontal (X direction) and vertical (Z direction).
And a wafer chuck 4 provided on the wafer transfer block 40d.
After the wafer W held at 0b is transferred to each of the processing chambers 61 to 68, the wafer W is transferred to the drying processing chamber 69, and is dried by the high-speed rotation of the rotating body 2 described above.

【0049】なお、洗浄処理部60の上方には空キャリ
ア及び満杯キャリアを搬送するキャリア搬送部70が設
けられている。また、洗浄処理部60の背面側には薬液
等の処理液を収容するタンクや配管群を含む処理液・配
管収容室71が設けられている。
A carrier transport section 70 for transporting empty carriers and full carriers is provided above the cleaning section 60. On the back side of the cleaning processing unit 60, a processing liquid / piping storage chamber 71 including a tank and a piping group for storing a processing liquid such as a chemical solution is provided.

【0050】上記実施形態では、この発明の乾燥処理装
置を半導体ウエハの乾燥処理装置に適用した場合につい
て説明したが、半導体ウエハ以外のガラス基板あるいは
LCD基板等の被処理体の乾燥処理装置にも適用できる
ことは勿論である。
In the above embodiment, the case where the drying apparatus of the present invention is applied to a semiconductor wafer drying apparatus has been described. However, the present invention is also applicable to an object to be processed such as a glass substrate or an LCD substrate other than a semiconductor wafer. Of course, it can be applied.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上に説明したように、この発明の乾燥
処理装置は上記のように構成されているので、以下のよ
うな効果が得られる。
As described above, since the drying apparatus of the present invention is configured as described above, the following effects can be obtained.

【0052】1)回転体に、支持手段の側方を直線状に
覆う一対の側壁を有するフードを設け、支持手段は、側
壁と略平行な壁部と、回転体の半径方向に開口する通気
口とを有する筒状をなし、複数の被処理体の両側部側を
保持する複数の保持溝を列設する保持部を有する支持枠
と、複数の被処理体の最下端より偏倚する箇所を保持す
る複数の保持溝を列設する下部支持体とを具備し、下部
支持体を、この下部支持体と係脱可能な昇降手段により
支持枠に対して昇降可能に形成することにより、被処理
体に付着した水滴が自重により最下端部に落下するの
で、保持棒に付着することなく水切りすることができ
る。また、構造を簡単にすることができる。また、側壁
によって乾燥用空気を掻き取りながら回転体が回転する
と共に、回転体の中心部に流れる空気が、側壁と支持手
段の壁部との間及び支持手段にて支持される被処理体間
に平行に一方向に流れ、被処理体に付着する水滴を飛散
させることができるので、被処理体から飛散された水滴
を側壁による掻き取りによって外方に排出することがで
き、乾燥効率の向上を図ることができる。
1) The side of the support means is linearly formed on the rotating body.
A hood having a pair of side walls to cover is provided, and
A wall that is approximately parallel to the wall, and ventilation that opens in the radial direction of the rotating body
It has a cylindrical shape with a mouth,
Support frame having a holding portion for arranging a plurality of holding grooves for holding
And a position deviated from the lowermost end of the plurality of objects to be processed is held.
And a lower support body in which a plurality of holding grooves are arranged in a row.
The support is lifted up and down by the lower support
By being formed to be able to move up and down with respect to the support frame, water droplets adhering to the object to be processed fall to the lowermost end portion by their own weight, so that water can be drained without adhering to the holding rod. Further, the structure can be simplified. In addition, the rotating body rotates while scraping the drying air by the side wall, and the air flowing to the central portion of the rotating body flows between the side wall and the wall of the supporting means and between the workpieces supported by the supporting means. Water flowing in one direction parallel to the surface of the workpiece, and water droplets adhering to the workpiece can be scattered, so that water droplets scattered from the workpiece can be discharged outward by scraping by the side walls, thereby improving drying efficiency. Can be achieved.

【0053】また、昇降手段によって下部支持体を支持
枠に対して昇降させることによって、被処理体と支持枠
の保持部とが干渉することなく、被処理体の受け渡しを
行うことができ、しかも、下部支持体を下降した状態で
被処理体の中心側部を保持部で保持することができる
The lower support is supported by the lifting means.
The object to be processed and the support frame are raised and lowered with respect to the frame.
Delivery of workpieces without interference with the holding part
Can be performed, and with the lower support lowered
The central portion of the object to be processed can be held by the holding portion .

【0054】2)フードの側壁と支持手段の壁部との間
に、両者と略平行な整流板を配設することにより、更に
空気の流れを整流化することができると共に、整流板に
よってパーティクルの被処理体側への侵入を阻止するこ
とができるので、上記1)に加えて更に乾燥効率の向上
を図ることができる。
2) By arranging a rectifying plate substantially parallel to both the side wall of the hood and the wall of the support means, the flow of air can be further rectified, and the rectifying plate allows particles to flow. Can be prevented from entering the object to be processed, so that the drying efficiency can be further improved in addition to the above 1).

【0055】3)回転体及び支持手段を包囲する処理容
器に、回転体の回転中心に対向する部位に空気取入口を
設けると共に、この処理容器の側壁の一部に、底部から
少なくとも回転体の上面高さ部位まで延びる排気口を設
けることにより、乾燥用空気を回転体の中心部側から取
り込んで、被処理体に均一に流すことができ、被処理体
から飛散された水滴を排気口側に排出することができ
る。
3) The processing vessel surrounding the rotating body and the supporting means is provided with an air inlet at a portion opposed to the rotation center of the rotating body, and at least a part of the side wall of the processing vessel is provided with at least the rotating body from the bottom. By providing an exhaust port extending to the top surface, drying air can be taken in from the center of the rotating body and can be uniformly flowed to the object to be processed, and water droplets scattered from the object can be discharged to the exhaust port side. Can be discharged.

【0056】4)フードの側壁の両端部に、回転体の回
転方向に沿う傾斜部又は円弧状部を設け、支持手段の壁
部の最外周部に、回転体の回転方向に沿う傾斜部又は円
弧状部を設けることにより、フード及び支持手段の側壁
に付着する水滴の水切りを良好にすることができる 。
4) At both ends of the side wall of the hood, an inclined portion or an arc-shaped portion is provided along the rotating direction of the rotating body, and at the outermost peripheral portion of the wall portion of the support means, an inclined portion or a rotating portion along the rotating direction of the rotating body is provided. By providing the arc-shaped portion, drainage of water droplets adhering to the side wall of the hood and the supporting means can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の乾燥処理装置の概略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view of a drying apparatus according to the present invention.

【図2】図1の側面図である。FIG. 2 is a side view of FIG.

【図3】乾燥処理装置の要部を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a main part of a drying processing apparatus.

【図4】この発明における回転体と支持手段を示す斜視
図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a rotating body and a support means in the present invention.

【図5】回転体と支持手段の別の形態を示す斜視図であ
る。
FIG. 5 is a perspective view showing another form of the rotating body and the support means.

【図6】乾燥処理装置の要部を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a main part of the drying processing apparatus.

【図7】図6の側面図である。FIG. 7 is a side view of FIG. 6;

【図8】支持手段によりウエハを保持する状態を示す断
面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state where a wafer is held by a support means.

【図9】この発明の乾燥処理装置を組込んだ洗浄処理シ
ステムを示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a cleaning processing system incorporating the drying processing apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

W 半導体ウエハ(被処理体) 1 サーボモータ(回転手段) 2 回転体 10a,10b クレードル(支持手段) 11 側壁 11a 水切り穴 12 フード 14 支持枠 14a 壁部 15 下部支持体 15a 格子穴(通気口) 16 整流板 17 ダミー板(遮蔽板)18 保持部 18a 保持溝 19 第1の保持棒 19a 保持溝 20 第2の保持棒 20a 保持溝 23 昇降手段 30 処理容器 30a 空気取入口 30c 排気口W Semiconductor wafer (object to be processed) 1 Servo motor (rotating means) 2 Rotating body 10a, 10b Cradle (supporting means) 11 Side wall 11a Drain hole 12 Hood 14 Support frame 14a Wall 15 Lower support 15a Grid hole (vent) 16 Rectifying plate 17 Dummy plate (shielding plate) 18 Holding part 18a Holding groove 19 First holding rod 19a Holding groove 20 Second holding rod 20a Holding groove 23 Elevating means 30 Processing container 30a Air intake 30c Exhaust port

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−166524(JP,A) 特開 平7−115082(JP,A) 実開 平1−63134(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304 651 Continuation of front page (56) References JP-A-62-166524 (JP, A) JP-A-7-115082 (JP, A) JP-A-1-63134 (JP, U) (58) Fields surveyed (Int .Cl. 7 , DB name) H01L 21/304 651

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 回転手段により回転される回転体と、こ
の回転体の上方において回転体の上方位置に配設される
と共に、回転体と共に回転する被処理体用支持手段とを
具備する乾燥処理装置において、 上記回転体に、上記支持手段の側方を直線状に覆う一対
の側壁を有するフードを設け、 上記支持手段、上記側壁と略平行な壁部と、上記回転
体の半径方向に開口する通気口とを有する筒状をなし、
複数の上記被処理体の両側部側を保持する複数の保持溝
を列設する保持部を有する支持枠と、複数の上記被処理
体の最下端より偏倚する箇所を保持する複数の保持溝を
列設する下部支持体とを具備し、 上記下部支持体を、この下部支持体と係脱可能な昇降手
段により上記支持枠に対して昇降可能に形成してなる、 ことを特徴とする乾燥処理装置。
1. A drying process comprising: a rotating body that is rotated by a rotating means; and a supporting means for an object that is disposed above the rotating body and above the rotating body and that rotates with the rotating body. In the apparatus, the rotator is provided with a hood having a pair of side walls that linearly cover the sides of the support unit, and the support unit has a wall portion substantially parallel to the side wall and a radial direction of the rotator. Forming a tubular shape with an open vent ,
A plurality of holding grooves for holding both sides of the plurality of workpieces
A supporting frame having a holding portion for arranging a plurality of
A plurality of holding grooves to hold the position deviated from the lowermost end of the body
A lower support that is arranged in a line, and the lower support can be disengaged from the lower support.
A drying treatment apparatus characterized by being formed so as to be able to move up and down with respect to the support frame by means of steps .
【請求項2】 請求項1記載の乾燥処理装置において、 上記回転体の回転中心に関して対称位置に複数の被処理
体支持手段を具備することを特徴とする乾燥処理装置。
2. The drying apparatus according to claim 1, further comprising a plurality of workpiece support means at symmetrical positions with respect to the rotation center of the rotating body.
【請求項3】 請求項1又は2記載の乾燥処理装置にお
いて、 上記フードの側壁と支持手段の壁部との間に、両者と平
行な整流板を配設してなる、 ことを特徴とする乾燥処理装置。
3. The drying processing apparatus according to claim 1, wherein a straightening plate parallel to both the side wall of the hood and the wall of the supporting means is disposed between the side wall of the hood and the wall of the supporting means. Drying processing equipment.
【請求項4】 回転手段により回転される回転体と、こ
の回転体の上方において回転体の上方位置に配設される
と共に、回転体と共に回転する被処理体用支持手段と、
上記回転体及び支持手段を包囲する処理容器とを具備す
る乾燥処理装置において、 上記回転体に、上記支持手段の側方を直線状に覆う一対
の側壁を有するフードを設け、 上記支持手段、上記側壁と略平行な壁部と、上記回転
体の半径方向に開口する通気口とを有する筒状をなし、
複数の上記被処理体の両側部側を保持する複数の保持溝
を列設する保持部を有する支持枠と、複数の上記被処理
体の最下端より偏倚する箇所を保持する複数の保持溝を
列設する下部支持体とを具備し、 上記下部支持体を、この下部支持体と係脱可能な昇降手
段により上記支持枠に対して昇降可能に形成してなり、 上記処理容器には、上記回転体の回転中心に対向する部
位に空気取入口を設けると共に、この処理容器の側壁の
一部に、底部から少なくとも上記回転体の上面高さ部位
まで延びる排気口を設けた、 ことを特徴とする乾燥処理装置。
4. A rotating body that is rotated by the rotating means, and an object-to-be-processed supporting means that is disposed above the rotating body at a position above the rotating body and rotates together with the rotating body.
In drying apparatus comprising a processing chamber surrounding the rotary body and the support means, the said rotary body is provided with a hood having a pair of side walls covering the sides of the support means in a straight line, said supporting means, A wall having a wall substantially parallel to the side wall, and a vent having a vent opening in a radial direction of the rotating body ;
A plurality of holding grooves for holding both sides of the plurality of workpieces
A supporting frame having a holding portion for arranging a plurality of
A plurality of holding grooves to hold the position deviated from the lowermost end of the body
A lower support that is arranged in a line, and the lower support can be disengaged from the lower support.
It is formed so as to be able to move up and down with respect to the support frame by a step, and the processing container is provided with an air intake at a portion facing the rotation center of the rotating body, and a part of the side wall of the processing container, An exhaust port extending from a bottom portion to at least a height portion of the upper surface of the rotating body is provided.
【請求項5】 請求項4記載の乾燥処理装置において、 上記回転体の回転中心に関して対称位置に複数の被処理
体支持手段を具備することを特徴とする乾燥処理装置。
5. The drying apparatus according to claim 4, further comprising a plurality of processing object support means at symmetric positions with respect to the rotation center of the rotating body.
【請求項6】 請求項1ないし5のいずれかに記載の乾
燥処理装置において、 上記フードの側壁における上記回転体の回転方向と対向
する部位に、水切り穴を設けた、 ことを特徴とする乾燥処理装置。
6. The drying apparatus according to claim 1, wherein a drain hole is provided in a portion of the side wall of the hood facing a rotation direction of the rotating body. Processing equipment.
【請求項7】 請求項1ないし5のいずれかに記載の乾
燥処理装置において、 上記支持手段の端部に、この支持手段にて支持される被
処理体の露出面を覆う遮蔽案内板を突設してなる、 ことを特徴とする乾燥処理装置。
7. The drying processing apparatus according to claim 1, wherein a shield guide plate that covers an exposed surface of the object to be processed supported by the support means is protruded from an end of the support means. A drying processing apparatus, comprising:
【請求項8】 請求項1ないし7のいずれかに記載の乾
燥処理装置において、 上記フードの側壁の両端部に、回転体の回転方向に沿う
傾斜部又は円弧状部を設け、 支持手段の壁部の最外周部に、回転体の回転方向に沿う
傾斜部又は円弧状部を設けた、 ことを特徴とする乾燥処理装置。
8. The drying apparatus according to claim 1, wherein an inclined portion or an arc-shaped portion is provided at both ends of the side wall of the hood along a rotating direction of the rotating body, and the wall of the supporting means is provided. A slanted portion or an arc-shaped portion along the rotation direction of the rotating body is provided at an outermost peripheral portion of the portion.
JP14110997A 1996-05-20 1997-05-16 Drying processing equipment Expired - Fee Related JP3314229B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14110997A JP3314229B2 (en) 1996-05-20 1997-05-16 Drying processing equipment

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8-147898 1996-05-20
JP14789896 1996-05-20
JP14110997A JP3314229B2 (en) 1996-05-20 1997-05-16 Drying processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1055996A JPH1055996A (en) 1998-02-24
JP3314229B2 true JP3314229B2 (en) 2002-08-12

Family

ID=26473421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14110997A Expired - Fee Related JP3314229B2 (en) 1996-05-20 1997-05-16 Drying processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3314229B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1055996A (en) 1998-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5873177A (en) Spin dryer and substrate drying method
JP2020088394A (en) Substrate processing apparatus for processing substrate
US6395101B1 (en) Single semiconductor wafer processor
JP3122868B2 (en) Coating device
JP2020077871A (en) Substrate processing apparatus for treating substrate
US6797076B1 (en) Spray nozzle system for a semiconductor wafer container cleaning aparatus
JP2003045839A (en) Substrate processing apparatus and method
JP2010509784A (en) Workpiece stocker arranged in a ring
TW526101B (en) Wafer container cleaning system
US6575689B2 (en) Automated semiconductor immersion processing system
TW201207981A (en) Airflow management for low particulate count in a process tool
KR20170070610A (en) Apparatus and Method for treating substrate
US6668844B2 (en) Systems and methods for processing workpieces
CN116967235B (en) Wafer box automatic cleaning and detecting integrated equipment and method
JP3984004B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2004507102A (en) Semiconductor wafer container cleaning equipment
JP3314229B2 (en) Drying processing equipment
JP3245674B2 (en) Drying processing equipment
JP3892687B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP3208661B2 (en) Drying treatment apparatus and drying treatment method
JP3219284B2 (en) Cleaning equipment
JPH11288916A (en) Drying processor
US20210384046A1 (en) Substrate processing apparatus, reactor mover for moving a reactor of the apparatus and method of maintaining the reactor of the apparatus
TWI839398B (en) Substrate processing apparatus for processing substrates
JP3449524B2 (en) Wafer cleaning device

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020508

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees