JP3272192B2 - 被測定物の形状認識方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は被測定物の形状認識方
法に関し、特にワイヤ−ハ−ネスなどのように形状が複
雑な異形状部品の形状を能率よく連続的に認識・計測で
きる形状認識方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のこの種異形状部品において、ワイ
ヤ−ハ−ネスは、例えば図１６に示すように構成されて
いる。同図において、１はワイヤ−ハ−ネスであって、
第１，第２のリ−ド線２，３の一方の端部には独立した
２個の第１端子４が、第１のリ−ド線２の他方の端部に
は第２端子５が、第２のリ−ド線３の他方の端部にはソ
ケット６がそれぞれ接続されており、第２のリ−ド線３
には耐熱性で小径のスリ−ブ７を、第１のリ−ド線２及
びスリ−ブ７には耐熱性で大径のスリ−ブ８をそれぞれ
装着して構成されている。

【０００３】通常、このワイヤ−ハ−ネス１は、作業ラ
インに沿って設けられた各種の部品供給部から供給され
る部品を手作業によって順番に組み立てることによつて
製造されている。製造後は、目視によってワイヤ−ハ−
ネス１が正常に製造されているか否かが検査されている
が、検査能率が低いのみならず、充分な検査精度が得ら
れないという問題がある。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従って、このような問
題を解決するために、作業ラインを流れるワイヤ−ハ−
ネス１をカメラで撮影し、撮影デ−タを画像処理するこ
とにより、ワイヤ−ハ−ネス１の形状を認識する形状認
識装置が提案されている。

【０００５】この形状認識装置によれば、ワイヤ−ハ−
ネス１における部品の欠落などを容易に確認でき、それ
が正常に製造されているか否かの検査を比較的に能率よ
く遂行することができるものである。

【０００６】しかしながら、ワイヤ−ハ−ネス１のよう
に形状が複雑なものでは、作業ラインを流れていく時
に、カメラの視野内にある部品はすべて撮影されるもの
の、部品に重なりが生じている場合には、カメラで撮影
されず、形状認識を行なうことができなくなる。従っ
て、精度がよく確実性の高い検査を期待することができ
ないのみならず、処理デ−タ数が格段に多いために、処
理速度が遅く、作業能率を目視作業に比べて期待するほ
どには改善できないという問題がある。

【０００７】それ故に、本発明の目的は、比較的に簡単
な構成によって被測定物の形状を精度よく、しかも能率
的に計測・認識できる被測定物の形状認識方法を提供す
ることにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】従って、本発明の第１の
発明は、上述の目的を達成するために、発光器と受光器
からなる複数組のセンサ手段の間をマスタ−品を一定方
向に移動させ、センサ手段から出力される信号に基づい
てマスタ−品の形状を計測するステップと、マスタ−品
の形状計測デ−タをマスタ−デ−タとし、このデ−タに
基づいて判定条件を設定するステップと、被測定物をセ
ンサ手段の間を一定方向に移動させ、センサ手段から出
力される信号に基づいて被測定物の形状を計測するステ
ップと、マスタ−デ−タと被測定物に基づくワ−クデ−
タとを比較・解析し、判定条件に基づいて判定するステ
ップとを含み、前記マスタ−品の形状の計測ステップ
は、センサ手段の初期値を設定するステップと、初期設
定値に対し、トリガ−レベルを設定するステップと、マ
スタ−品を一定方向に移動させ、センサ手段から出力さ
れる信号を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換し、一定の時間
間隔毎の各センサ手段からの信号に対応するＡ／Ｄ変換
デ−タを加算し、マスタ−用デ−タエリアに格納するス
テップとを含むことを特徴とし、第２の発明は、発光器
と受光器からなる複数組のセンサ手段の間をマスタ−品
を一定方向に移動させ、センサ手段から出力される信号
に基づいてマスタ−品の形状を計測するステップと、マ
スタ−品の形状計測デ−タをマスタ−デ−タとし、この
デ−タに基づいて判定条件を設定するステップと、被測
定物をセンサ手段の間を一定方向に移動させ、センサ手
段から出力される信号に基づいて被測定物の形状を計測
するステップと、マスタ−デ−タと被測定物に基づくワ
−クデ−タとを比較・解析し、判定条件に基づいて判定
するステップとを含み、前記マスタ−品の形状の計測ス
テップは、センサ手段の初期値を設定するステップと、
初期設定値に対し、トリガ−レベルを設定するステップ
と、マスタ−品を一定方向に移動させ、センサ手段から
出力される信号を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換するステ
ップと、トリガ−レベル以下のすべてのＡ／Ｄ変換デ−
タをメモリに格納するステップと、一定の時間間隔毎の
各センサ手段からの信号に対応するＡ／Ｄ変換デ−タを
加算し、ワ−ク合計用エリアに格納するステップと、ワ
−ク合計用エリアの全デ−タ数を所定のエリアに記憶す
るステップと、ワ−ク合計用エリアのデ−タをマスタ−
用デ−タエリアに移動するステップとを含むことを特徴
とし、第３の発明は、発光器と受光器からなる複数組の
センサ手段の間をマスタ−品を一定方向に移動させ、セ
ンサ手段から出力される信号に基づいてマスタ−品の形
状を計測するステップと、マスタ−品の形状計測デ−タ
をマスタ−デ−タとし、このデ−タに基づいて判定条件
を設定するステップと、被測定物をセンサ手段の間を一
定方向に移動させ、センサ手段から出力される信号に基
づいて被測定物の形状を計測するステップと、マスタ−
デ−タと被測定物に基づくワ−クデ−タとを比較・解析
し、判定条件に基づいて判定するステップとを含み、前
記被測定物の形状の計測ステップは、被測定物を一定方
向に移動させ、センサ手段から出力される信号を一定の
時間間隔でＡ／Ｄ変換するステップと、トリガ−レベル
以下のすべてのＡ／Ｄ変換デ−タをメモリに格納するス
テップと、一定の時間間隔毎の各センサ手段からの信号
に対応するＡ／Ｄ変換デ−タを加算し、ワ−ク合計用エ
リアに格納するステップと、ワ−ク合計用エリアの全デ
−タ数を所定のエリアに記憶するステップとを含むこと
を特徴とする。

【０００９】

【作用】上述の構成によれば、発光器と受光器からなる
センサ手段の間を被測定物を一定方向に移動例えば自由
落下させることによって得られるセンサ手段からの出力
信号をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タに基づいて演算
処理することにより、被測定物の形状を能率的に認識で
き、特にセンサ手段を複数組配置すれば、形状の認識精
度を著しく向上できる。又、センサ手段の間をマスタ−
品及び被測定物を移動させ、センサ手段からの信号をＡ
／Ｄ変換すると共にＡ／Ｄ変換デ−タをマスタ−デ−タ
及びワ−クデ−タとしてメモリに格納した後、それぞれ
のデ−タに基づいて演算処理し解析・判定することによ
り、マスタ−品に対する被測定物の形状を短時間内に精
度よく認識することができる。特に、被測定物の形状計
測に先立って、センサ手段の初期値及びトリガ−レベル
を設定すれば、センサ手段の周囲条件などに起因する変
動要因を抑え、計測結果の信頼性を高めることができ
る。

【００１０】

【実施例】次に、本発明の１実施例について図１〜図３
を参照して説明する。尚、図１６と同一部分には同一参
照符号を付し、その詳細な説明は省略する。同図におい
て、９は筒状体であって、その下端部には例えば円形状
のプレ−ト１０が固定されている。このプレ−ト１０に
は筒状体９と同一の孔９ａが形成されており、孔９ａの
大きさは被測定物例えばワイヤ−ハ−ネス１が何の支障
もなく自由落下できる程度に設定されている。又、プレ
−ト１０の下面には複数組のセンサ手段が配置されてい
る。具体的には、発光器１１ａ，１２ａと受光器１１
ｂ，１２ｂからなる第１，第２のセンサ手段１１，１２
がほぼ９０度ずらして配置されている。尚、発光器１１
ａ，１２ａは例えばレ−ザ−素子にて、受光器１１ｂ，
１２ｂは例えばＣＣＤ素子にてそれぞれ構成されてい
る。１３はＣＰＵなどの制御手段であって、バスライン
１４を介してＡ／Ｄ変換手段１５に接続されており、さ
らに増幅器１６を介して第１，第２のセンサ手段１１，
１２に接続されている。又、バスライン１４にはＩ／Ｏ
インタ−フェ−ス１７、フレキシブルディスク又はディ
スク１８、キ−ボ−ド１９、ＣＲＴディスプレイ，液晶
ディスプレイなどの表示装置２０がそれぞれ接続されて
いる。尚、Ｉ／Ｏインタ−フェ−ス１７には、例えば筒
状体９に形成された移動経路９ａをワイヤ−ハ−ネス１
が通過した後に形状計測され、その認識の結果が不合格
と判定された場合に、図示しない弁でワイヤ−ハ−ネス
１の移動方向を変更する時の出力など各種出力が接続さ
れる。

【００１１】この装置において、マスタ−品及び被測定
物例えばワイヤ−ハ−ネス１を自由落下させ、移動経路
９ａを通過させると、第１，第２のセンサ手段１１，１
２から検出信号が出力される。この出力信号は増幅器１
６で増幅されてＡ／Ｄ変換手段１５にてＡ／Ｄ変換され
る。尚、デ−タの間隔は、例えば約５μｓｅｃに設定さ
れている。それぞれのＡ／Ｄ変換デ−タはバスライン１
４を介して制御手段１３に取り込まれ、演算処理され
る。そして、メモリ手段に格納されると共に、フレキシ
ブルディスク１８にも記憶される。そして、マスタ−品
と比較された被測定物としてのワイヤ−ハ−ネス１の形
状計測結果は表示装置２０に表示される。

【００１２】次に、この装置による被測定物１の形状認
識方法について図４〜図１１を参照して説明する。ま
ず、図４に示すように、例えばワイヤ−ハ−ネスに対応
するマスタ−品を移動経路９ａを自由落下させることに
よって得られるデ−タに基づいてマスタ−品の形状を計
測する（ステップＳ１）。次に、マスタ−品の計測デ−
タに基づいて判定条件を設定する（ステップＳ２）。ス
テップＳ２で判定条件が設定されると、被測定物として
のワイヤ−ハ−ネスを移動経路９ａを自由落下させる
（ステップＳ３）。ワイヤ−ハ−ネスが自由落下する
と、ステップＳ４に移行する。このステップＳ４では、
ワイヤ−ハ−ネスの自由落下に関連して制御手段１３に
取り込まれるデ−タに基づいて形状の計測が実行され
る。そして、計測結果を解析し、ステップＳ２の判定条
件に基づいて判定する（ステップＳ５）。さらに、ステ
ップＳ５の判定結果から被測定物としてのワイヤ−ハ−
ネスの合否を決定する（ステップＳ６）。合格と決定さ
れると、ステップＳ３に戻り、次のワイヤ−ハ−ネスの
自由落下を待つことになる。不合格と決定されると、不
合格品は例えば移動経路９ａから排出される（ステップ
Ｓ７）。そして、不合格品の不合格内容即ち異常項目が
表示装置２０に表示され（ステップＳ８）、ワイヤ−ハ
−ネスの形状認識が終了する。

【００１３】上述のマスタ−品の形状を計測するステッ
プＳ１は、具体的に次のように細分化されている。即
ち、まず、センサ手段１１，１２の間にマスタ−品が全
く存在しない状態での各チャンネルのセンサ手段１１，
１２の出力信号をＡ／Ｄ変換する（ステップＳ１−
１）。そして、各チャンネルのＡ／Ｄ変換デ−タに適宜
の係数（例えば９９％など）を与えてトリガ−レベルを
設定する（ステップＳ１−２）。次に、マスタ−品とし
てのワイヤ−ハ−ネス１を移動経路９ａを自由落下させ
ると、各センサ手段１１，１２から検出信号が出力さ
れ、各チャンネル毎に一定の時間間隔（例えば５μｓｅ
ｃ）でＡ／Ｄ変換される（ステップＳ１−３）。そし
て、どれかのチャンネルがトリガ−レベル以下になれ
ば、ワイヤ−ハ−ネス１が通過したことが確認され（ス
テップＳ１−４）、トリガ−レベル以下のチャンネルが
なければステップＳ１−３に戻って待機することにな
る。ワイヤ−ハ−ネス１の通過が確認されると、各セン
サ手段１１，１２から検出信号が出力され、各チャンネ
ル毎に一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換される（ステップＳ
１−５：ステップＳ１−３と同じ）。そして、いずれか
のチャンネルがトリガ−レベル以下か否かの判定がなさ
れる（ステップＳ１−６）。いずれかのチャンネルがト
リガ−レベル以下の場合には、すべてのチャンネル（す
べてのセンサ手段１１，１２）からの出力に対応するＡ
／Ｄ変換デ−タを図７に示すメモリに格納する（ステッ
プＳ１−７）。例えば第１のセンサ手段１１の一定の時
間間隔毎のデ−タ（サンプリングデ−タ）は、ＣＨ１の
ＮＯ．１，ＮＯ．２・・・・ＮＯ．Ｎに順番に格納し、
以下、各センサ手段毎にＣＨ２，ＣＨ３・・・・ＣＨｎ
の順に格納していく。格納が終了すれば、ステップＳ１
−５に戻る。一方、すべてのチャンネルがトリガ−レベ
ルより大きい場合には、ステップＳ１−８において、各
チャンネルのＡ／Ｄ変換デ−タを加算し、図７に示すワ
−ク合計用エリアに格納する。例えばＮＯ．１における
各チャンネルＣＨ１，ＣＨ２・・・・ＣＨｎのデ−タを
加算してワ−ク合計用エリアに格納し、引き続きＮＯ．
２，ＮＯ．３・・・・ＮＯ．Ｎについても同様に加算し
てそれぞれのエリアに格納する。次に、ワ−ク合計用エ
リアに格納された全デ−タ数（ＮＭ）を図７に示す所定
のエリアに格納する（ステップＳ１−９）。さらに、ワ
−ク合計用エリアに格納されたデ−タを図７に示すマス
タ−用デ−タエリアに移動する（ステップＳ１−１０）
ことによってマスタ−品の形状を計測するステップＳ１
が終了する。

【００１４】又、上述のマスタ−品の形状を計測するス
テップＳ１の細部における全ＣＨ・Ａ／Ｄ変換ステップ
Ｓ１−１は、具体的にさらに次のように細分化されてい
る。即ち、まず、第１のセンサ手段１１（ＣＨ１）の間
にマスタ−品が全く存在しない状態でのセンサ手段１１
の出力信号をＡ／Ｄ変換する指示が制御手段１３から出
される（ステップＳＢ１）。この指示に基づいてＡ／Ｄ
変換されたか否かの判断がなされる（ステップＳＢ
２）。変換が終了すると、デ−タが読み込まれ（ステッ
プＳＢ３）、デ−タはレジスタに格納される（ステップ
ＳＢ４）。次に、ステップＳＢ５以降において、第２の
センサ手段１２（ＣＨ２）に対して第１のセンサ手段１
１（ＣＨ１）と同様なステップが繰り返されることによ
って、全ＣＨ・Ａ／Ｄ変換ステップＳ１−１が終了す
る。

【００１５】又、上述の判定条件の設定ステップＳ２で
は、マスタ−品の形状計測デ−タ（マスタ−デ−タ）に
基づいて例えば次のように条件設定される。即ち、マス
タ−デ−タを基準として各サンプリング点のデ−タに所
定の上下限値を設定する。この上下限値は、例えば管理
限界を厳しくするか或いは緩くするかなどによって決定
される。この上下限値は、キ−ボ−ド１０によって入力
され、バスライン１４を介して制御手段１３のメモリ及
びフレキシブルディスク１８に記憶される。判定項目と
しては、例えばマスタ−品が図１に示すワイヤ−ハ−ネ
スである場合には、総面積の比較、面積変化率の比
較、各測定点での上下限値の比較、複数測定点内で
一つでも上下限値内があればＯＫとする比較、の４項目
で判定される。

【００１６】この判定項目について図８〜図９を参照し
て説明する。まず、総面積の比較は、図８に示すよう
に、各測定点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３・・・・のデ−タが積算
され、Ｐｎが総面積となる。従って、この値に上下限値
を設定して判定項目とするものである。次に、面積変
化率の比較は、マスタ−品に付属する部品の有無ないし
存在する位置を確認するためのものである。例えば図９
に示すワイヤ−ハ−ネス１において、大径のスリ−ブ８
は、図示点線のように移動する可能性がある。この場
合、スリ−ブ８の位置が変わっても総面積には変化がな
いものの、各測定点では図８に示す網目部分のように変
化が見られることがある。従って、各測定点での面積変
化率を比較することによって形状認識の精度を高めるこ
とができる。次に、各測定点での上下限値の比較は、
各測定点Ｐ１，Ｐ２・・・・に上下限値を設定して各部
分での形状認識の精度を高めるものである。最後に、
複数測定点内で一つでも上下限値内があればＯＫとする
比較は、例えば図９に示すワイヤ−ハ−ネス１におい
て、大径のスリ−ブ８は、図示点線のように移動する可
能性がある。この場合、スリ−ブ８の位置は実線位置と
点線位置の間でのみ移動するので、実線部分と点線部分
の２個所においてスリ−ブ８の有無をチェックすれば、
スリ−ブ８が移動しているのか或いは欠落しているのか
が容易に認識できる。

【００１７】上述の被測定物としてのワイヤ−ハ−ネス
１の形状を測定するステップＳ４は、具体的に次のよう
に細分化されている。即ち、まず、ワイヤ−ハ−ネス１
を移動経路９ａを自由落下させることにより、センサ手
段１１，１２の間を通過させる。そして、センサ手段１
１，１２からの出力を一定の時間間隔（例えば５μｓｅ
ｃ）でＡ／Ｄ変換する（ステップＳ４−１）。いずれか
のチャンネルのＡ／Ｄ変換デ−タがトリガ−レベル以下
か否かを判断する（ステップＳ４−２）。このステップ
で、いずれかのＡ／Ｄ変換デ−タがトリガ−レベル以下
の場合には、すべてのチャンネルのＡ／Ｄ変換デ−タを
図７に示すメモリに格納し（ステップＳ４−３）、その
後、ステップＳ４−１に戻る。又、すべてのＡ／Ｄ変換
デ−タがトリガ−レベルより大きい場合には、ステップ
Ｓ４−４に進む。尚、この段階は、ワイヤ−ハ−ネス１
の落下が終了したことを示す。このステップでは、図７
に示すメモリに格納されたＡ／Ｄ変換デ−タを各測定点
毎に加算し、ワ−ク合計用エリアに格納する。例えばＮ
Ｏ．１の測定点における各センサ手段毎（ＣＨ１，ＣＨ
２，・・・・ＣＨｎ）のＡ／Ｄ変換デ−タを加算してワ
−ク合計用エリアに格納し、引き続いて、ＮＯ．２，Ｎ
Ｏ．３・・・・ＮＯ．Ｎについても同様に加算処理して
所定のワ−ク合計用エリアにそれぞれ格納する。そし
て、ワ−ク合計用エリアに格納された全デ−タ数（Ｎ
Ｗ）は、所定のエリアに記憶され（ステップＳ４−
５）、ステップＳ５に進む。

【００１８】このステップＳ５における格納デ−タの解
析・判定の実行は、具体的に次のように細分化されてい
る。即ち、まず、図７に示すワ−ク合計用デ−タエリア
及びマスタ−用デ−タエリアに格納されたデ−タ数が一
致しているか否かを判断する（Ｓ５−１）。このステッ
プでデ−タ数が一致していない場合にはステップＳ５−
２に進み、一致している場合にはステップＳ５−５に進
む。ステップＳ５−２においては、ワ−ク合計用エリア
のデ−タ数ＮＷがマスタ−用エリアのデ−タ数ＮＭより
大きいか否かを判断する。ＮＷがＮＭより大きいと判断
された場合には、〈（ワ−クデ−タ数Ｎ）×ＮＭ／ＮＷ
＋０．５〉なる計算式によってワ−クデ−タ数がマスタ
−デ−タ数に一致するように圧縮される（ステップＳ５
−３）。一方、ＮＷがＮＭより小さいと判断された場合
には、〈（ワ−クデ−タ数Ｎ）×ＮＭ／ＮＷ＋０．５〉
なる計算式によってワ−クデ−タ数がマスタ−デ−タ数
に一致するように拡張され（ステップＳ５−４）、判定
のステップＳ５−５に進む。このステップではステップ
Ｓ２で設定した総面積の比較、面積変化率の比較、
各測定点での上下限値の比較、複数測定点内で一つ
でも上下限値内があればＯＫとする比較、の４項目の判
定項目について条件を満たしているか否かについて判断
される。そして、この判断結果に基づいてステップＳ６
にて被測定物としての合否が判定される。

【００１９】この発明は、図１２に示すような被測定物
１Ａの方向判別を行なうことができる。同図において、
被測定物はスタッドボルトであり、大径の頭部２１の両
側に小径で長さの異なる第１，第２のネジ部２２，２３
を一体的に形成して構成されている。このスタッドボル
ト１Ａは自動車部品として多用されており、使用に先立
って、それの良否，ラインへの供給姿勢などがチェック
されているが、このチェックに適用することができる。
この場合、図１〜図２に示すセンサ手段１１，１２はい
ずれか一方のセンサ手段１１だけでよい。まず、方向判
別について説明する。尚、この方向判別などの基本的な
処理は上記実施例と同様であるので、詳細な説明は省略
する。スタッドボルト１Ａを自由落下させると、図１３
に示すサンプリングデ−タが得られる。このデ−タの最
大位置を求めると共に、それより一定数だけマイナスの
位置Ａ，Ｂ点を求める。そして、Ａ，Ｂ点よりデ−タの
方向が反転する点Ｃ，Ｄを求める。上述したようにセン
サ信号は例えば５μｓｅｃの間隔でＡ／Ｄ変換されてい
る関係で、Ｃ，Ｄ点から端部までのデ−タ数と５μｓｅ
ｃとの積によってそれぞれのネジ部２２，２３の長さ
Ｘ，Ｙを計測することができる。従って、両デ−タの比
較に基づいていずれのネジ部が長いかを判断できる結
果、方向を判別することができる。特に、方向判別され
たスタッドボルト１Ａは、例えば制御手段１３からのコ
マンドに応じてＩ／Ｏインタ−フェ−ス１７を介して方
向反転出力を出力し、方向の異なっているスタッドボル
トの方向を矯正させることもできる。又、ネジ部２２，
２３のネジの数は、Ｃ，Ｄ点から端部に向けてネジ部の
存在によりデ−タが正又は負に交互に反転（変曲）する
ことに着目して、その反転数（変曲点の数）から求める
ことができる。

【００２０】又、この発明は、図１４に示すような被測
定物１Ｂの形状認識を行なうことができる。同図におい
て、被測定物は異形状部品であり、大径の本体部２４の
一端に小径の突起部２５を一体的に形成して構成されて
いる。この異形状部品１Ｂの形状認識は、基本的には上
述の実施例とほぼ同様である。この異形状部品１Ｂを第
１のセンサ手段１１の間を通過させることによって図１
５に示すサンプリングデ−タが得られる。同図における
本体部２４と突起部２５に相当する部分に上下限値を設
定し、各測定点での上下限値の比較を行なう。そして、
被測定物の計測結果がその設定範囲内にあるか否かによ
ってそれの形状が正常であるかどうかを認識できる。
又、ステップＳ２における総面積の比較、面積変化
率の比較、などと組み合わせれば、より精度の高い認識
が可能となる。特に、方向反転の必要がある場合には、
前述の実施例に準じて行なえばよい。

【００２１】尚、本発明は何ら上記実施例にのみ制約さ
れることなく、センサ手段は２個の他、３個以上用いる
ことができるし、同一平面に所定の角度をずらして配置
できない場合には被測定物の移動方向に若干ずらして配
置することもできる。この場合、それぞれのセンサ手段
からの信号処理には時間補正する必要がある。又、被測
定物はワイヤ−ハ−ネス，スタッドボルト以外の部品も
適用できる。又、被測定物の移動経路として筒状体を利
用する他、透明のシュ−トを利用したり、或いは全く省
略することもできる。さらに、センサ手段からの信号は
連続的に出力させた後、一定の時間間隔でサンプリング
してＡ／Ｄ変換することもできるし、又、センサ手段の
信号を一定の時間間隔でサンプリングすることもでき
る。

【００２２】

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、発光器
と受光器からなるセンサ手段の間を被測定物を一定方向
に移動させることによって得られるセンサ手段からの出
力信号をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タに基づいて演
算処理することにより、被測定物の形状を能率的に認識
できる。特に、センサ手段の配置数を多くすればするほ
ど、形状認識の精度を高めることができる。

【００２３】又、被測定物の計測に先立って、マスタ−
品の形状を計測し、その計測デ−タをメモリに格納して
おき、被測定物の計測デ−タをマスタ−デ−タと比較す
るようにすれば、形状の認識性を高めることができる。

【００２４】さらに、マスタ−品の形状計測に先立っ
て、センサ手段の初期値及びトリガ−レベルを設定すれ
ば、センサ手段の周囲条件などに起因する変動要因を抑
え、計測結果の信頼性を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例を示す側断面図。

【図２】図１の下面図。

【図３】本発明装置の信号系のブロック図。

【図４】本発明方法の概略フロ−チャ−ト。

【図５】マスタ−品の計測ステップの細部のフロ−チャ
−ト。

【図６】全ＣＨ・Ａ／Ｄ変換ステップの細部のフロ−チ
ャ−ト。

【図７】メモリ配置図。

【図８】測定点と測定デ−タとの関係を説明するための
図。

【図９】被測定物の付属部品の位置ずれ状態を示す側面
図。

【図１０】被測定物の測定の実行ステップの細部のフロ
−チャ−ト。

【図１１】解析・判定ステップの細部のフロ−チャ−
ト。

【図１２】被測定物の他の実施例を示す側面図。

【図１３】図１２に示す被測定物のセンサ手段による測
定デ−タ。

【図１４】被測定物のさらに異なった実施例を示す側面
図。

【図１５】図１４に示す被測定物のセンサ手段による測
定デ−タ。

【図１６】従来の被測定物の側面図。

【符号の説明】

１，１Ａ，１Ｂ 被測定物 ９ａ 移動経路 １１，１２ センサ手段 １１ａ，１２ａ 発光器 １１ｂ，１２ｂ 受光器 １３ 制御手段 １５ Ａ／Ｄ変換手段 １７ Ｉ／Ｏインタ−フェ−ス １８ フレキシブルディスク １９ キ−ボ−ド ２０ 表示装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−181806（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−154173（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−186002（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−82232（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−29207（ＪＰ，Ａ) 特開 昭48−102656（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−159747（ＪＰ，Ａ) 実開 平７−569（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 102 G06T 1/00 - 9/40

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】発光器と受光器からなる複数組のセンサ手
   段の間をマスタ−品を一定方向に移動させ、センサ手段
   から出力される信号に基づいてマスタ−品の形状を計測
   するステップと、 マスタ−品の形状計測デ−タをマスタ−デ−タとし、こ
   のデ−タに基づいて判定条件を設定するステップと、 被測定物をセンサ手段の間を一定方向に移動させ、セン
   サ手段から出力される信号に基づいて被測定物の形状を
   計測するステップと、 マスタ−デ−タと被測定物に基づくワ−クデ−タとを比
   較・解析し、判定条件に基づいて判定するステップとを
   含み、 前記マスタ−品の形状の計測ステップは、 センサ手段の初期値を設定するステップと、 初期設定値に対し、トリガ−レベルを設定するステップ
   と、 マスタ−品を一定方向に移動させ、センサ手段から出力
   される信号を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換し、一定の時
   間間隔毎の各センサ手段からの信号に対応するＡ／Ｄ変
   換デ−タを加算し、マスタ−用デ−タエリアに格納する
   ステップとを含むことを特徴とする被測定物の形状認識
   方法。
2. 【請求項２】発光器と受光器からなる複数組のセンサ手
   段の間をマスタ−品を一定方向に移動させ、センサ手段
   から出力される信号に基づいてマスタ−品の形状を計測
   するステップと、 マスタ−品の形状計測デ−タをマスタ−デ−タとし、こ
   のデ−タに基づいて判定条件を設定するステップと、 被測定物をセンサ手段の間を一定方向に移動させ、セン
   サ手段から出力される信号に基づいて被測定物の形状を
   計測するステップと、 マスタ−デ−タと被測定物に基づくワ−クデ−タとを比
   較・解析し、判定条件に基づいて判定するステップとを
   含み、 前記マスタ−品の形状の計測ステップは、 センサ手段の初期値を設定するステップと、 初期設定値に対し、トリガ−レベルを設定するステップ
   と、 マスタ−品を一定方向に移動させ、センサ手段から出力
   される信号を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換するステップ
   と、 トリガ−レベル以下のすべてのＡ／Ｄ変換デ−タをメモ
   リに格納するステップと、 一定の時間間隔毎の各センサ手段からの信号に対応する
   Ａ／Ｄ変換デ−タを加算し、ワ−ク合計用エリアに格納
   するステップと、 ワ−ク合計用エリアの全デ−タ数を所定のエリアに記憶
   するステップと、 ワ−ク合計用エリアのデ−タをマスタ−用デ−タエリア
   に移動するステップとを含むことを特徴とする被測定物
   の形状認識方法。
3. 【請求項３】発光器と受光器からなる複数組のセンサ手
   段の間をマスタ−品を一定方向に移動させ、センサ手段
   から出力される信号に基づいてマスタ−品の形状を計測
   するステップと、 マスタ−品の形状計測デ−タをマスタ−デ−タとし、こ
   のデ−タに基づいて判定条件を設定するステップと、 被測定物をセンサ手段の間を一定方向に移動させ、セン
   サ手段から出力される信号に基づいて被測定物の形状を
   計測するステップと、 マスタ−デ−タと被測定物に基づくワ−クデ−タとを比
   較・解析し、判定条件に基づいて判定するステップとを
   含み、 前記被測定物の形状の計測ステップは、 被測定物を一定方向に移動させ、センサ手段から出力さ
   れる信号を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換するステップ
   と、 トリガ−レベル以下のすべてのＡ／Ｄ変換デ−タをメモ
   リに格納するステップと、 一定の時間間隔毎の各センサ手段からの信号に対応する
   Ａ／Ｄ変換デ−タを加算し、ワ−ク合計用エリアに格納
   するステップと、 ワ−ク合計用エリアの全デ−タ数を所定のエリアに記憶
   するステップとを含むことを特徴とする被測定物の形状
   認識方法。