JP3255259B2 - 光フィルタ周波数特性測定方法 - Google Patents
光フィルタ周波数特性測定方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、超高速光ソリトン伝送
において、タイミングジッタを低減するために必要とさ
れる光フィルタの中心周波数における曲率特性の高精度
測定に関するものである。
において、タイミングジッタを低減するために必要とさ
れる光フィルタの中心周波数における曲率特性の高精度
測定に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ソリトンは、損失のない光ファイバ中
を、非線形効果で生じる自己位相変調と、波長分散によ
る波形広がりとが相殺し合い、波形形状を保ちながら伝
搬する特殊な光パルスである。しかしながら、実際の光
ファイバは損失を持つため、長距離にわたって光ソリト
ンを伝搬させるには、光増幅器による光ファイバの損失
補償が必要となる。
を、非線形効果で生じる自己位相変調と、波長分散によ
る波形広がりとが相殺し合い、波形形状を保ちながら伝
搬する特殊な光パルスである。しかしながら、実際の光
ファイバは損失を持つため、長距離にわたって光ソリト
ンを伝搬させるには、光増幅器による光ファイバの損失
補償が必要となる。
【０００３】ところで、実際に光ソリトン伝送系を構成
する場合、上記損失補償用の光増幅器から発生する増幅
された自然放出光（ＡＳＥ：Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ Ｓｐ
ｏｎｔａｎｅｏｕｓ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）は、光ソリト
ンのキャリア周波数にランダムな変化を与える。
する場合、上記損失補償用の光増幅器から発生する増幅
された自然放出光（ＡＳＥ：Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ Ｓｐ
ｏｎｔａｎｅｏｕｓ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）は、光ソリト
ンのキャリア周波数にランダムな変化を与える。
【０００４】この変化はゴードンハウス効果と呼ばれ、
個々の光ソリトンの光ファイバ中の伝搬時間を変動さ
せ、タイミングジッタを発生させることが知られてい
る。（文献１Ｊ．Ｐ．Ｇｏｒｄｏｎ ｅｔ ａｌ．，Ｏ
ｐｔ．Ｌｅｔｔ．，１１，ｐｐ．６６５−６６７（１９
８６）参照）
個々の光ソリトンの光ファイバ中の伝搬時間を変動さ
せ、タイミングジッタを発生させることが知られてい
る。（文献１Ｊ．Ｐ．Ｇｏｒｄｏｎ ｅｔ ａｌ．，Ｏ
ｐｔ．Ｌｅｔｔ．，１１，ｐｐ．６６５−６６７（１９
８６）参照）
【０００５】また、ソリトン光源の持つキャリア線幅
も、ゴードンハウス効果と同様の過程でタイミングジッ
タを発生させる。（文献２Ｋ．Ｉｗａｔｓｕｋｉ ｅｔ
ａｌ．，ＯＦＣ ′９４，ＦＣ４（１９９４）参照）
光ソリトン伝送においては、このタイミングジッタが伝
送距離を制限するため、伝送距離の長距離化にはタイミ
ングジッタの低減が重要な課題となる。
も、ゴードンハウス効果と同様の過程でタイミングジッ
タを発生させる。（文献２Ｋ．Ｉｗａｔｓｕｋｉ ｅｔ
ａｌ．，ＯＦＣ ′９４，ＦＣ４（１９９４）参照）
光ソリトン伝送においては、このタイミングジッタが伝
送距離を制限するため、伝送距離の長距離化にはタイミ
ングジッタの低減が重要な課題となる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】タイミングジッタの低
減方法として、これまでに、文献３（Ｍ．Ｎａｋａｚａ
ｗａ ｅｔ ａｌ．，ＯＦＣ／ＩＯＯＣ ′９３，Ｐｏ
ｓｔｄｅａｄｌｉｎｅｐａｐｅｒ，ＰＤ７（１９９
３））に示される伝送路中に配置した光強度変調器によ
りリタイミングをとる方法や、
減方法として、これまでに、文献３（Ｍ．Ｎａｋａｚａ
ｗａ ｅｔ ａｌ．，ＯＦＣ／ＩＯＯＣ ′９３，Ｐｏ
ｓｔｄｅａｄｌｉｎｅｐａｐｅｒ，ＰＤ７（１９９
３））に示される伝送路中に配置した光強度変調器によ
りリタイミングをとる方法や、
【０００７】文献４（Ｙ．Ｋｏｄａｍａ ｅｔ ａ
ｌ．，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．，１７，ｐｐ．３１−３３
（１９９２））あるいは、文献５（Ｌ．Ｆ．Ｍｏｌｌｅ
ｎａｕｅｒｅｔ ａｌ．，Ｅｌｅｃｔｒｏｎ．Ｌｅｔ
ｔ．，２９，ｐｐ．９１０−９１１（１９９３））によ
って提案されている狭帯域光フィルタを伝送路中に挿入
する方法があった。
ｌ．，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．，１７，ｐｐ．３１−３３
（１９９２））あるいは、文献５（Ｌ．Ｆ．Ｍｏｌｌｅ
ｎａｕｅｒｅｔ ａｌ．，Ｅｌｅｃｔｒｏｎ．Ｌｅｔ
ｔ．，２９，ｐｐ．９１０−９１１（１９９３））によ
って提案されている狭帯域光フィルタを伝送路中に挿入
する方法があった。
【０００８】これらの内、前者は、タイミング抽出のた
めの能動回路を要するのに対し、後者は光フィルタ等の
受動素子を用いて実現できるため有利である。伝送路中
に光フィルタを挿入する場合、タイミングジッタの低減
効果は、光フィルタの中心周波数における曲率に強く依
存する。
めの能動回路を要するのに対し、後者は光フィルタ等の
受動素子を用いて実現できるため有利である。伝送路中
に光フィルタを挿入する場合、タイミングジッタの低減
効果は、光フィルタの中心周波数における曲率に強く依
存する。
【０００９】（文献６ Ｓ．Ｋａｗａｉ ｅｔ ａ
ｌ．，ＩＥＩＣＥ Ｔｒａｎｓ．Ｃｏｍｍｕｎ．，Ｅ７
７−Ｂ，ｐｐ．４６２−４６８（１９９４）参照）とこ
ろで、通常、光フィルタは、光の入射方向に対して傾け
て用いられるため、光フィルタの曲率は、入射光の偏波
状態により異なる。従って、超高速光ソリトン伝送系を
設計するには、光フィルタの曲率特性を精度よく測定す
る必要がある。
ｌ．，ＩＥＩＣＥ Ｔｒａｎｓ．Ｃｏｍｍｕｎ．，Ｅ７
７−Ｂ，ｐｐ．４６２−４６８（１９９４）参照）とこ
ろで、通常、光フィルタは、光の入射方向に対して傾け
て用いられるため、光フィルタの曲率は、入射光の偏波
状態により異なる。従って、超高速光ソリトン伝送系を
設計するには、光フィルタの曲率特性を精度よく測定す
る必要がある。
【００１０】従来は、光フィルタに白色光を通し、透過
光を光スペクトラムアナライザで分析することで、光フ
ィルタの周波数特性の測定を行っていた。しかしなが
ら、この測定法では、光フィルタの中心周波数近傍での
極めて小さい変化を、光スペクトラムアナライザで分解
できず、光フィルタの曲率及びその偏波依存性、光フィ
ルタの偏波依存性損失（ＰＤＬ：Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉ
ｏｎ Ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ Ｌｏｓｓ）を精度よく測定
することができなかった。
光を光スペクトラムアナライザで分析することで、光フ
ィルタの周波数特性の測定を行っていた。しかしなが
ら、この測定法では、光フィルタの中心周波数近傍での
極めて小さい変化を、光スペクトラムアナライザで分解
できず、光フィルタの曲率及びその偏波依存性、光フィ
ルタの偏波依存性損失（ＰＤＬ：Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉ
ｏｎ Ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ Ｌｏｓｓ）を精度よく測定
することができなかった。
【００１１】本発明は、このような従来の問題を解決す
るために成されたものであって、超高速光ソリトン伝送
において、タイミングジッタを低減するために必要とさ
れる光フィルタの中心周波数における曲率特性を高い精
度で測定することのできる回路を実現することを目的と
している。
るために成されたものであって、超高速光ソリトン伝送
において、タイミングジッタを低減するために必要とさ
れる光フィルタの中心周波数における曲率特性を高い精
度で測定することのできる回路を実現することを目的と
している。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上述の課
題は前記特許請求の範囲に記載した手段により解決され
る。
題は前記特許請求の範囲に記載した手段により解決され
る。
【００１３】図４は本発明の測定系の基本構成を示す図
であって、数字符号１は発振器、２は波長可変光源、３
は波長計、４はＦＭ変調器、５は偏波状態制御器、６は
偏波状態分析器、７は被測定光フィルタ、１６は受光
器、１７は同期検波器を表わしている。英字符号Ａで示
す破線で囲った部分は、請求項１の発明の場合には不要
である。以下各請求項ごとに、その構成を示す。
であって、数字符号１は発振器、２は波長可変光源、３
は波長計、４はＦＭ変調器、５は偏波状態制御器、６は
偏波状態分析器、７は被測定光フィルタ、１６は受光
器、１７は同期検波器を表わしている。英字符号Ａで示
す破線で囲った部分は、請求項１の発明の場合には不要
である。以下各請求項ごとに、その構成を示す。
【００１４】請求項１の発明は、発振器、波長可変光
源、波長計、ＦＭ変調器、被測定光フィルタ、受光器、
同期検波器とによって測定系を構成し、波長可変光源か
ら光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、発振器からの正弦波
電気信号によりＦＭ変調器を駆動して上記光周波数にｆ
ｍ ｓｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を施しながら、発振
波長（光周波数）を変化させて、周期Ｔの同期検波出力
が零となる光周波数を波長計により求めて、これを中心
周波数と成し、ＦＭ変調された光を被測定光フィルタを
通して受光器で電気信号に変換した後、同期検波器に導
いて、中心周波数近傍の微係数を得て曲率を求める光フ
ィルタ周波数特性測定方法であって、光フィルタが偏波
依存性を有しない場合に適用する。
源、波長計、ＦＭ変調器、被測定光フィルタ、受光器、
同期検波器とによって測定系を構成し、波長可変光源か
ら光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、発振器からの正弦波
電気信号によりＦＭ変調器を駆動して上記光周波数にｆ
ｍ ｓｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を施しながら、発振
波長（光周波数）を変化させて、周期Ｔの同期検波出力
が零となる光周波数を波長計により求めて、これを中心
周波数と成し、ＦＭ変調された光を被測定光フィルタを
通して受光器で電気信号に変換した後、同期検波器に導
いて、中心周波数近傍の微係数を得て曲率を求める光フ
ィルタ周波数特性測定方法であって、光フィルタが偏波
依存性を有しない場合に適用する。
【００１５】請求項２の発明は、先にも述べたように
「特許請求の範囲」の記載のとおりであるが、更に細部
について若干の補足を加えて以下に記述する。本発明
は、光フィルタが偏波依存性を有する場合に適用される
もので、発振器、波長可変光源、波長計、ＦＭ変調器、
偏波状態制御器、偏波状態分析器、被測定光フィルタ、
受光器、同期検波器とによって測定系を構成し、波長可
変光源から光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、偏波状態分
析器により偏波状態を測定する。
「特許請求の範囲」の記載のとおりであるが、更に細部
について若干の補足を加えて以下に記述する。本発明
は、光フィルタが偏波依存性を有する場合に適用される
もので、発振器、波長可変光源、波長計、ＦＭ変調器、
偏波状態制御器、偏波状態分析器、被測定光フィルタ、
受光器、同期検波器とによって測定系を構成し、波長可
変光源から光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、偏波状態分
析器により偏波状態を測定する。
【００１６】但し、このとき、偏波状態の測定は、ＦＭ
変調器を駆動せずに行う。次に、発振器からの正弦波電
気信号によりＦＭ変調器を駆動し、光周波数にｆｍ ｓ
ｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を施す。ここで、ｆｍ は
光フィルタのバンド幅Ｂに比べて十分に小さく設定す
る。
変調器を駆動せずに行う。次に、発振器からの正弦波電
気信号によりＦＭ変調器を駆動し、光周波数にｆｍ ｓ
ｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を施す。ここで、ｆｍ は
光フィルタのバンド幅Ｂに比べて十分に小さく設定す
る。
【００１７】ＣＷ光の発振波長（即ち光周波数）を変化
して、周期Ｔの同期検波出力が零となる光周波数を波長
計により測定する。但し、波長計により光周波数を測定
する際には、ＦＭ変調器の駆動を停止する。以上の操作
を繰り返しながら、偏波状態制御器を用いて偏波状態を
変化させて全ての偏波状態をスキャンしながら、周期Ｔ
の同期検波出力が零となる最大光周波数ｆ ｍａｘ 及び
最小光周波数ｆ ｍｉｎ を測定する。
して、周期Ｔの同期検波出力が零となる光周波数を波長
計により測定する。但し、波長計により光周波数を測定
する際には、ＦＭ変調器の駆動を停止する。以上の操作
を繰り返しながら、偏波状態制御器を用いて偏波状態を
変化させて全ての偏波状態をスキャンしながら、周期Ｔ
の同期検波出力が零となる最大光周波数ｆ ｍａｘ 及び
最小光周波数ｆ ｍｉｎ を測定する。
【００１８】ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ における偏波状
態が直交していれば、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ はそれ
ぞれ、ｆ ０ＴＥ 及びｆ ０ＴＭ に一致しており、ｆ
０ＴＥ 及びｆ ０ＴＭ における透過強度を測定すれば、
それぞれの光周波数におけるΡＤＬが得られる。
態が直交していれば、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ はそれ
ぞれ、ｆ ０ＴＥ 及びｆ ０ＴＭ に一致しており、ｆ
０ＴＥ 及びｆ ０ＴＭ における透過強度を測定すれば、
それぞれの光周波数におけるΡＤＬが得られる。
【００１９】ＣＷ光の偏波状態を、上述した測定で得た
偏波状態の一方（例えばＴＥモード）に設定後、光周波
数に上記ｆｍ ｓｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を施しな
がら、発振波長（即ち光周波数）を変化させる。ＦＭ変
調された光は、被測定光フィルタを通り、受光器で電気
信号に変換される。
偏波状態の一方（例えばＴＥモード）に設定後、光周波
数に上記ｆｍ ｓｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を施しな
がら、発振波長（即ち光周波数）を変化させる。ＦＭ変
調された光は、被測定光フィルタを通り、受光器で電気
信号に変換される。
【００２０】変換された電気信号を同期検波器に導くこ
とで、ｆ ０ＴＥ 近傍の微係数を得ることができ、曲率
ρ ＴＥ を求めることができる。ＣＷ光の偏波状態を直交
させて、ＴＭモードについても同様に測定を行い、曲率
ρ ＴＭ を求めることができる。本発明は以上述べたよう
に構成される光フィルタ周波数特性測定方法である。
とで、ｆ ０ＴＥ 近傍の微係数を得ることができ、曲率
ρ ＴＥ を求めることができる。ＣＷ光の偏波状態を直交
させて、ＴＭモードについても同様に測定を行い、曲率
ρ ＴＭ を求めることができる。本発明は以上述べたよう
に構成される光フィルタ周波数特性測定方法である。
【００２１】請求項３に記載の発明は、発振器、波長可
変光源、波長計、ＦＭ変調器、被測定光フィルタ、受光
器、同期検波器とによって測定系を構成し、 波長可変光
源から光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、 発振器からの周
期Ｔの矩形波デジタル信号によりＦＭ変調器を駆動し、
ＣＷ光の光周波数を、周期Ｔでｆ±Δｆのように変化さ
せて、２値的にＦＭ変調を施しながら、発振波長（光周
波数）を変化させて、周期Ｔの同期検波出力が零となる
光周波数を波長計により求めて、これを中心周波数と成
し、 ＦＭ変調された光を被測定光フィルタを通して受光
器で電気信号に変換した後、同期検波器に導いて、中心
周波数近傍の微係数を得て曲率を求めることを特徴とす
る光フィルタ周波数特性測定方法である。
変光源、波長計、ＦＭ変調器、被測定光フィルタ、受光
器、同期検波器とによって測定系を構成し、 波長可変光
源から光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、 発振器からの周
期Ｔの矩形波デジタル信号によりＦＭ変調器を駆動し、
ＣＷ光の光周波数を、周期Ｔでｆ±Δｆのように変化さ
せて、２値的にＦＭ変調を施しながら、発振波長（光周
波数）を変化させて、周期Ｔの同期検波出力が零となる
光周波数を波長計により求めて、これを中心周波数と成
し、 ＦＭ変調された光を被測定光フィルタを通して受光
器で電気信号に変換した後、同期検波器に導いて、中心
周波数近傍の微係数を得て曲率を求めることを特徴とす
る光フィルタ周波数特性測定方法である。
【００２２】請求項４に記載の発明は、発振器、波長可
変光源、波長計、ＦＭ変調器、偏波状態制御器、偏波状
態分析器、被測定光フィルタ、受光器、同期検波器とに
よって測定系を構成し、 波長可変光源から光周波数のｆ
のＣＷ光を発生させ、ＦＭ変調器を駆動せずに偏波状態
分析器により偏波状態を測定し、次に、発振器からの周
期Ｔの矩形波デジタル信号によりＦＭ変調器を駆動し、
ＣＷ光の光周波数を、周期Ｔでｆ±Δｆのように変化さ
せて、２値的にＦＭ変調を施し、ＣＷ光の発振波長（即
ち光周波数）を変化して、周期Ｔの同期検波出力が零と
なる光周波数をＦＭ変調器の駆動を停止した状態で波長
計により測定し、 以上の操作を繰り返しながら、偏波状
態制御器を用いて偏波状態制御器を変化させて全ての偏
波状態をスキャンしながら、周期Ｔの同期検波出力が零
となる最大光周波数ｆ ｍａｘ 及び最小光周波数ｆ ｍｉｎ
を測定し、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ における偏波状態が直
交しているときの、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ から、ｆ
ＯＴＥ 及びｆ ＯＴＭ における透過強度を測定して、それ
ぞれの光周波数におけるΡＤＬを求め、 ＣＷ光の編波状
態を、上述した測定で得た偏波状態の一方（例えばＴＥ
モード）に設定後、中心周波数を、周期Ｔでｆ±Δｆの
ように変化させて、２値的にＦＭ変調を施しながら、発
振波長（即ち光周波数）を変化させ、ＦＭ変調された光
を、被測定光フィルタを通し、受光器で電気信号に変換
して、 変換された電気信号を同期検波器に導くことで、
ｆ ＯＴＥ 近傍の微係数を得、曲率ρ ＴＥ を求め、ＣＷ光
の編波状態を直交させて、ＴＭモードについても同様に
測定を行い、曲率ρ ＴＭ を求めることを特徴とする光フ
ィルタ周波数特性測定方法である。
変光源、波長計、ＦＭ変調器、偏波状態制御器、偏波状
態分析器、被測定光フィルタ、受光器、同期検波器とに
よって測定系を構成し、 波長可変光源から光周波数のｆ
のＣＷ光を発生させ、ＦＭ変調器を駆動せずに偏波状態
分析器により偏波状態を測定し、次に、発振器からの周
期Ｔの矩形波デジタル信号によりＦＭ変調器を駆動し、
ＣＷ光の光周波数を、周期Ｔでｆ±Δｆのように変化さ
せて、２値的にＦＭ変調を施し、ＣＷ光の発振波長（即
ち光周波数）を変化して、周期Ｔの同期検波出力が零と
なる光周波数をＦＭ変調器の駆動を停止した状態で波長
計により測定し、 以上の操作を繰り返しながら、偏波状
態制御器を用いて偏波状態制御器を変化させて全ての偏
波状態をスキャンしながら、周期Ｔの同期検波出力が零
となる最大光周波数ｆ ｍａｘ 及び最小光周波数ｆ ｍｉｎ
を測定し、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ における偏波状態が直
交しているときの、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ から、ｆ
ＯＴＥ 及びｆ ＯＴＭ における透過強度を測定して、それ
ぞれの光周波数におけるΡＤＬを求め、 ＣＷ光の編波状
態を、上述した測定で得た偏波状態の一方（例えばＴＥ
モード）に設定後、中心周波数を、周期Ｔでｆ±Δｆの
ように変化させて、２値的にＦＭ変調を施しながら、発
振波長（即ち光周波数）を変化させ、ＦＭ変調された光
を、被測定光フィルタを通し、受光器で電気信号に変換
して、 変換された電気信号を同期検波器に導くことで、
ｆ ＯＴＥ 近傍の微係数を得、曲率ρ ＴＥ を求め、ＣＷ光
の編波状態を直交させて、ＴＭモードについても同様に
測定を行い、曲率ρ ＴＭ を求めることを特徴とする光フ
ィルタ周波数特性測定方法である。
【００２３】
【作用】光フィルタの周波数特性Ｈは光周波数ｆの関数
で表わされ、中心光周波数ｆ0の近傍でテイラー展開す
ると、“数１”のように表わされる。
で表わされ、中心光周波数ｆ0の近傍でテイラー展開す
ると、“数１”のように表わされる。
【００２４】
【数１】
【００２５】理解を容易にするために、光フィルタの周
波数特性に偏波依存性はないものとして説明する。ここ
で、Δｆはｆ0 からのずれを表わす。光フィルタは、一
般に、ｆ0 における透過強度を最大として対称な周波数
特性を持つと仮定できるから、Ｈ（ｆ0 ）＝１と規格化
し、Ｈ′（ｆ0 ）＝０とすると、“数１”は“数２”の
ように書くことができる。
波数特性に偏波依存性はないものとして説明する。ここ
で、Δｆはｆ0 からのずれを表わす。光フィルタは、一
般に、ｆ0 における透過強度を最大として対称な周波数
特性を持つと仮定できるから、Ｈ（ｆ0 ）＝１と規格化
し、Ｈ′（ｆ0 ）＝０とすると、“数１”は“数２”の
ように書くことができる。
【００２６】
【数２】
【００２７】Ｈ（ｆ）はｆ０ の近傍で凸関数であるか
ら、正の量ρ＝−１／２Ｈ″（ｆ０）を光フィルタの曲
率と定義する。Δｆは小さいとして、高次の項を無視す
れば、光フィルタの中心周波数近傍における周波数特性
は、“数２”の右辺２項により与えられる。（先の文献
６参照）
ら、正の量ρ＝−１／２Ｈ″（ｆ０）を光フィルタの曲
率と定義する。Δｆは小さいとして、高次の項を無視す
れば、光フィルタの中心周波数近傍における周波数特性
は、“数２”の右辺２項により与えられる。（先の文献
６参照）
【００２８】光ソリトン伝送において、伝送路中に、上
記周波数特性を持つ光フィルタを挿入すると、光ソリト
ンのキャリア周波数は、光フィルタの中心周波数ｆ0 に
収束する。（先の文献４参照）
記周波数特性を持つ光フィルタを挿入すると、光ソリト
ンのキャリア周波数は、光フィルタの中心周波数ｆ0 に
収束する。（先の文献４参照）
【００２９】従って、「従来の技術」で述べた、光ソリ
トンのキャリア周波数のランダムな変化は緩和され、そ
の結果、タイミングジッタが低減されることになる。光
ソリトン伝送におけるタイミングジッタ“数３”は、光
フィルタによる低減効果を含めて、“数４”，“数５”
で与えられる。（文献７河合他、９４年春信学会、Ｂ−
１０２７参照）
トンのキャリア周波数のランダムな変化は緩和され、そ
の結果、タイミングジッタが低減されることになる。光
ソリトン伝送におけるタイミングジッタ“数３”は、光
フィルタによる低減効果を含めて、“数４”，“数５”
で与えられる。（文献７河合他、９４年春信学会、Ｂ−
１０２７参照）
【００３０】
【数３】
【００３１】
【数４】
【００３２】
【数５】
【００３３】ｒは光フィルタによる光ソリトンの損失を
補償する利得係数、Ｃｉ （ｉ＝１，２）は定数、ｚは
伝送距離、ｔｓ はパルス幅、ｌａ は光増幅器間隔を
表わす。これより、タイミングジッタの累積は、光フィ
ルタの中心周波数における曲率ρに依存することが分か
る。
補償する利得係数、Ｃｉ （ｉ＝１，２）は定数、ｚは
伝送距離、ｔｓ はパルス幅、ｌａ は光増幅器間隔を
表わす。これより、タイミングジッタの累積は、光フィ
ルタの中心周波数における曲率ρに依存することが分か
る。
【００３４】従って、“数４”を基に、超高速光ソリト
ン伝送系を設計する際には、ρの値を正確に測定する必
要がある。しかしながら、光フィルタに白色光を通し、
透過光を光スペクトラムアナライザで分析する従来の周
波数特性測定法では、光フィルタの中心周波数近傍での
極めて小さい変化を光スペクトラムアナライザで分解で
きず、所望の測定精度が得られなかった。
ン伝送系を設計する際には、ρの値を正確に測定する必
要がある。しかしながら、光フィルタに白色光を通し、
透過光を光スペクトラムアナライザで分析する従来の周
波数特性測定法では、光フィルタの中心周波数近傍での
極めて小さい変化を光スペクトラムアナライザで分解で
きず、所望の測定精度が得られなかった。
【００３５】そこで、本発明では、同期検波を用いて直
接Ｈ（ｆ）の微分特性を測定する方法を採っている。
（同期検波そのものに文献８：Ｋ．Ｈｏｔａｔｅ ｅｔ
ａｌ．，ＩＯＯＣ ′８３，Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｄ
ｉｇｅｓｔ，ｐｐ．２８０−２８１（１９８３）参照）
接Ｈ（ｆ）の微分特性を測定する方法を採っている。
（同期検波そのものに文献８：Ｋ．Ｈｏｔａｔｅ ｅｔ
ａｌ．，ＩＯＯＣ ′８３，Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｄ
ｉｇｅｓｔ，ｐｐ．２８０−２８１（１９８３）参照）
【００３６】図１に、本発明の測定原理を示す。光周波
数をｆの周りにΔｆ＝ｆm ｓｉｎ（２πｐｔ）でＦＭ変
調し、光フィルタを通過させると、図１に示すように、
ＦＭ変調が強度変調に変換され、“数６”のように変化
する。
数をｆの周りにΔｆ＝ｆm ｓｉｎ（２πｐｔ）でＦＭ変
調し、光フィルタを通過させると、図１に示すように、
ＦＭ変調が強度変調に変換され、“数６”のように変化
する。
【００３７】
【数６】
【００３８】光源の光周波数と光フィルタの中心周波数
が異なる場合は、周期Ｔ＝１／ｐの強度変調成分が生じ
る（図１（ａ））。光源の光周波数と光フィルタの中心
周波数が一致した場合には、周期Ｔの強度変調成分が零
となる（図１（ｂ））。実際の測定結果も図１に示して
ある。
が異なる場合は、周期Ｔ＝１／ｐの強度変調成分が生じ
る（図１（ａ））。光源の光周波数と光フィルタの中心
周波数が一致した場合には、周期Ｔの強度変調成分が零
となる（図１（ｂ））。実際の測定結果も図１に示して
ある。
【００３９】中心周波数ｆ0 の付近でｆを変化させ、ｓ
ｉｎ（２πｐｔ）成分を同期検波することにより、ｆ0
近傍でのＨ′（ｆ）の周波数特性が得られる。光フィル
タのバンド幅Ｂに比べてｆm が十分小さいときは（ｆm
／Ｂ<<１）、“数６”の高次項からの寄与は無視でき
る。
ｉｎ（２πｐｔ）成分を同期検波することにより、ｆ0
近傍でのＨ′（ｆ）の周波数特性が得られる。光フィル
タのバンド幅Ｂに比べてｆm が十分小さいときは（ｆm
／Ｂ<<１）、“数６”の高次項からの寄与は無視でき
る。
【００４０】“数６”より、ｓｉｎ（２πｐｔ）成分の
光強度はｆｍ Ｈ′（ｆ）で与えられ、ｆを変化させる
ことにより、図２（ａ）に示すようなＨ′（ｆ）の周波
数特性が得られる。従って、Ｈ′（ｆ）の中心周波数ｆ
０ での微係数から、曲率ρが求まる。
光強度はｆｍ Ｈ′（ｆ）で与えられ、ｆを変化させる
ことにより、図２（ａ）に示すようなＨ′（ｆ）の周波
数特性が得られる。従って、Ｈ′（ｆ）の中心周波数ｆ
０ での微係数から、曲率ρが求まる。
【００４１】周期４０ＧＨｚの、マッハツェンダ干渉型
の光フィルタを実際に測定した結果も図２（ｂ）に示
す。測定結果から、ρの値は５．７２×１０−２１
（ｓ２）と求められるが、Ｈ（ｆ）を、周期４０ＧＨｚ
の正弦波として計算した値６．１７×１０−２１ （ｓ
２ ）とよく一致している。
の光フィルタを実際に測定した結果も図２（ｂ）に示
す。測定結果から、ρの値は５．７２×１０−２１
（ｓ２）と求められるが、Ｈ（ｆ）を、周期４０ＧＨｚ
の正弦波として計算した値６．１７×１０−２１ （ｓ
２ ）とよく一致している。
【００４２】光フィルタは、上述したように、通常、光
の入射方向に対して傾けて用いられるため、Ｈ（ｆ）は
偏波依存性を持つ。従って、たがいに直交する直線偏波
（ＴＥモード及びＴＭモード）に対して、光フィルタ
は、それぞれＨTE（ｆ）及びＨ TM（ｆ）で表わされた周
波数特性を持つ（図３）。
の入射方向に対して傾けて用いられるため、Ｈ（ｆ）は
偏波依存性を持つ。従って、たがいに直交する直線偏波
（ＴＥモード及びＴＭモード）に対して、光フィルタ
は、それぞれＨTE（ｆ）及びＨ TM（ｆ）で表わされた周
波数特性を持つ（図３）。
【００４３】ＨＴＥ（ｆ）及びＨＴＭ（ｆ）に対し、そ
れぞれの中心周波数をｆ０ＴＥ 及びｆ０ＴＭ 、曲率
をρ ＴＥ及びρ ＴＭとする。光フィルタへの入射光の偏
波状態を制御し、例えばＴＥモードに設定してＨ（ｆ）
の周波数特性を測定し、その後、偏波状態を直交させて
（ＴＭモード）同様に測定することにより、ｆ０ＴＥ及
びｆ０ＴＭ 、ρ ＴＥ及びρ ＴＭが得られる。
れぞれの中心周波数をｆ０ＴＥ 及びｆ０ＴＭ 、曲率
をρ ＴＥ及びρ ＴＭとする。光フィルタへの入射光の偏
波状態を制御し、例えばＴＥモードに設定してＨ（ｆ）
の周波数特性を測定し、その後、偏波状態を直交させて
（ＴＭモード）同様に測定することにより、ｆ０ＴＥ及
びｆ０ＴＭ 、ρ ＴＥ及びρ ＴＭが得られる。
【００４４】本発明を用いれば、従来困難であった中心
周波数ｆ0TE ，ｆ0TM の高精度な判別が可能であり、ｆ
0TE 及びｆ0TM の周波数において、ＰＤＬを“数７”お
よび“数８”のように定義し、測定することが可能であ
る。
周波数ｆ0TE ，ｆ0TM の高精度な判別が可能であり、ｆ
0TE 及びｆ0TM の周波数において、ＰＤＬを“数７”お
よび“数８”のように定義し、測定することが可能であ
る。
【００４５】
【数７】
【００４６】
【数８】
【００４７】
【実施例】図５は本発明の第１の実施例を示したもので
ある。同図に示すように、１は発振器、２は波長可変光
源、３は波長計、４は音響光学変調器、５は偏波状態制
御器、６は偏波状態分析器、７は被測定光フィルタ、８
はＰＩＮ−フォトダイオード（ＰＩＮ）、９はロックイ
ンアンプである。
ある。同図に示すように、１は発振器、２は波長可変光
源、３は波長計、４は音響光学変調器、５は偏波状態制
御器、６は偏波状態分析器、７は被測定光フィルタ、８
はＰＩＮ−フォトダイオード（ＰＩＮ）、９はロックイ
ンアンプである。
【００４８】まず、波長可変光源２より光周波数ｆのＣ
Ｗ光を発生させ、音響光学変調器４をスルーにし、ＦＭ
変調をかけない状態で、偏波状態分析器６により偏波状
態を測定する。次に、発振器１により、音響光学変調器
４を駆動し、ＣＷ光の光周波数ｆにＦＭ変調をかけｆ＋
ｆb ＋ｆm ｓｉｎ（２πｐｔ）へと変化させる。
Ｗ光を発生させ、音響光学変調器４をスルーにし、ＦＭ
変調をかけない状態で、偏波状態分析器６により偏波状
態を測定する。次に、発振器１により、音響光学変調器
４を駆動し、ＣＷ光の光周波数ｆにＦＭ変調をかけｆ＋
ｆb ＋ｆm ｓｉｎ（２πｐｔ）へと変化させる。
【００４９】ここで、ｆb は、音響光学変調器４での光
の回折による光周波数シフト、ｆmｓｉｎ（２πｐｔ）
はＦＭ変調信号による光周波数変化である。ＣＷ光の発
振波長（即ち光周波数）を変化させ、周期Ｔの同期検波
出力が零となる光周波数を波長計３により測定する。
の回折による光周波数シフト、ｆmｓｉｎ（２πｐｔ）
はＦＭ変調信号による光周波数変化である。ＣＷ光の発
振波長（即ち光周波数）を変化させ、周期Ｔの同期検波
出力が零となる光周波数を波長計３により測定する。
【００５０】但し、波長計３により光周波数を測定する
際には、音響光学変調器４の駆動を停止する。以上の操
作を繰り返しながら、偏波状態制御器５を用いて全ての
偏波状態をスキャンし、周期Ｔの同期検波出力が零とな
る最大光周波数ｆmax 及び最小光周波数ｆmin を測定す
る。ここで、波長計３の測定値にｆb を加算したものを
ｆmax 及びｆmin とする。
際には、音響光学変調器４の駆動を停止する。以上の操
作を繰り返しながら、偏波状態制御器５を用いて全ての
偏波状態をスキャンし、周期Ｔの同期検波出力が零とな
る最大光周波数ｆmax 及び最小光周波数ｆmin を測定す
る。ここで、波長計３の測定値にｆb を加算したものを
ｆmax 及びｆmin とする。
【００５１】ｆmax 及びｆmin における偏波状態を偏波
状態分析器６で測定し、偏波状態が直交していれば、ｆ
max 及びｆmin はそれぞれ、ｆ0TE 及びｆ0TM に一致し
ており、ｆ0TE 及びｆ0TM における透過強度を測定すれ
ば、それぞれの光周波数におけるＰＤＬが得られる。
状態分析器６で測定し、偏波状態が直交していれば、ｆ
max 及びｆmin はそれぞれ、ｆ0TE 及びｆ0TM に一致し
ており、ｆ0TE 及びｆ0TM における透過強度を測定すれ
ば、それぞれの光周波数におけるＰＤＬが得られる。
【００５２】ｆ0TE 及びｆ0TM を与える偏波状態を記録
しておき、ＣＷ光の偏波状態をその一方の偏波状態（例
えばＴＥモード）に設定後、発振器１により、音響光学
変調器４を駆動し、ＣＷ光にＦＭ変調を施した状態で、
発振波長（即ち光周波数）を変化させる。ＦＭ変調され
た光は、被測定光フィルタ７を通り、ＰＩＮ８で電気信
号に変換される。
しておき、ＣＷ光の偏波状態をその一方の偏波状態（例
えばＴＥモード）に設定後、発振器１により、音響光学
変調器４を駆動し、ＣＷ光にＦＭ変調を施した状態で、
発振波長（即ち光周波数）を変化させる。ＦＭ変調され
た光は、被測定光フィルタ７を通り、ＰＩＮ８で電気信
号に変換される。
【００５３】発振器１からの電気信号とΡＩＮ８の出力
電気信号とをロックインアンプ９に導き、同期検波す
る。同期検波出力の光周波数依存性から、ＨＴＥ′
（ｆ）の微係数を求めることで曲率ρ ＴＥを得る。ＣＷ
光の偏波状態を直交させて、ＴＭモードについても同様
に測定を行うことにより、曲率ρ ＴＭも求められる。
電気信号とをロックインアンプ９に導き、同期検波す
る。同期検波出力の光周波数依存性から、ＨＴＥ′
（ｆ）の微係数を求めることで曲率ρ ＴＥを得る。ＣＷ
光の偏波状態を直交させて、ＴＭモードについても同様
に測定を行うことにより、曲率ρ ＴＭも求められる。
【００５４】図６は本発明の第２の実施例を示したもの
である。本実施例は基本構成は図５と同じであるが、図
５では、波長可変光源２と音響光学変調器４を用いて、
正弦波のアナログ信号によりＦＭ変調光を発生させるの
に対し、図６では、波長可変光源２、光スイッチ１１
ａ，１１ｂと、音響光学変調器４ａ，４ｂを用いて、方
形波形発生器１０から発生した周期Ｔの矩形波デジタル
信号によりＦＭ変調光を発生させる点が異なる。
である。本実施例は基本構成は図５と同じであるが、図
５では、波長可変光源２と音響光学変調器４を用いて、
正弦波のアナログ信号によりＦＭ変調光を発生させるの
に対し、図６では、波長可変光源２、光スイッチ１１
ａ，１１ｂと、音響光学変調器４ａ，４ｂを用いて、方
形波形発生器１０から発生した周期Ｔの矩形波デジタル
信号によりＦＭ変調光を発生させる点が異なる。
【００５５】音響光学変調器４ａ，４ｂは、絶対値が同
じで符号の異なる光周波数シフトΔｆ、−Δｆが入射光
に与えられるように設定されている。光スイッチ１１
ａ，１１ｂを方形波形発生器１０で駆動して光路をスイ
ッチングすることにより、中心周波数を、周期Ｔでｆ±
Δｆのように変化させることができ、２値的にＦＭ変調
を施すことができる。
じで符号の異なる光周波数シフトΔｆ、−Δｆが入射光
に与えられるように設定されている。光スイッチ１１
ａ，１１ｂを方形波形発生器１０で駆動して光路をスイ
ッチングすることにより、中心周波数を、周期Ｔでｆ±
Δｆのように変化させることができ、２値的にＦＭ変調
を施すことができる。
【００５６】本実施例では、周波数シフトに音響光学変
調器を用いたが、位相変調器を用いても音響光学変調器
と同様に周波数シフトが得られる。位相変調器の駆動電
圧を鋸歯状波とし、その振幅が２πの整数倍の位相変化
を与えるようにすることで、周波数シフトを実現でき
る。この方法は、セロダイン法と呼ばれている。（文
献：大越孝敬編、“光ファイバセンサ”、オーム社、第
４章参照）
調器を用いたが、位相変調器を用いても音響光学変調器
と同様に周波数シフトが得られる。位相変調器の駆動電
圧を鋸歯状波とし、その振幅が２πの整数倍の位相変化
を与えるようにすることで、周波数シフトを実現でき
る。この方法は、セロダイン法と呼ばれている。（文
献：大越孝敬編、“光ファイバセンサ”、オーム社、第
４章参照）
【００５７】図７は本発明の第３の実施例を示したもの
である。本実施例は基本構成は図５と同じであるが、図
５では波長可変光源２と音響光学変調器４によりＦＭ変
調光を発生させるのに対し、図６では分布ブラッグ反射
型半導体レーザ（以下ＤＢＲ−ＬＤ）１２によりＦＭ変
調光を発生させる点が異なる。
である。本実施例は基本構成は図５と同じであるが、図
５では波長可変光源２と音響光学変調器４によりＦＭ変
調光を発生させるのに対し、図６では分布ブラッグ反射
型半導体レーザ（以下ＤＢＲ−ＬＤ）１２によりＦＭ変
調光を発生させる点が異なる。
【００５８】ＤＢＲ−ＬＤ１２は、ＤＢＲ領域、位相制
御領域、発光領域の３電極を備え、発光領域に一定のバ
イアス電流を注入することで一定の光出力が得られ、Ｄ
ＢＲ領域への注入電流を、発振器１からの正弦波電気信
号により制御すれば、所望のＦＭ変調をかけることがで
きる。また、位相制御領域への注入電流を、任意波形発
生器１３で鋸歯状波により制御すれば、一定の割合で発
振光周波数を変化させることができる。
御領域、発光領域の３電極を備え、発光領域に一定のバ
イアス電流を注入することで一定の光出力が得られ、Ｄ
ＢＲ領域への注入電流を、発振器１からの正弦波電気信
号により制御すれば、所望のＦＭ変調をかけることがで
きる。また、位相制御領域への注入電流を、任意波形発
生器１３で鋸歯状波により制御すれば、一定の割合で発
振光周波数を変化させることができる。
【００５９】図８は本発明の第４の実施例を示したもの
である。本実施例は基本構成は図５と同じであるが、図
５では波長可変光源２と音響光学変調器４によりＦＭ変
調光を発生させるのに対し、図８では分布帰還型半導体
レーザ（以下ＤＦＢ−ＬＤ）１４によりＦＭ変調光を発
生させる点が異なる。
である。本実施例は基本構成は図５と同じであるが、図
５では波長可変光源２と音響光学変調器４によりＦＭ変
調光を発生させるのに対し、図８では分布帰還型半導体
レーザ（以下ＤＦＢ−ＬＤ）１４によりＦＭ変調光を発
生させる点が異なる。
【００６０】発振器１からのＦＭ変調信号と、任意波形
発生器１３からの信号とを足し算器１５で足し合わせ
る。但し、任意波形発生器１３は鋸歯状波を発生してい
る。足し合わされた電気信号により、ＤＦＢ−ＬＤ１５
へのバイアス注入電流を制御すれば、所望のＦＭ変調が
かけられ、かつ、発振光周波数を変化させることができ
る。
発生器１３からの信号とを足し算器１５で足し合わせ
る。但し、任意波形発生器１３は鋸歯状波を発生してい
る。足し合わされた電気信号により、ＤＦＢ−ＬＤ１５
へのバイアス注入電流を制御すれば、所望のＦＭ変調が
かけられ、かつ、発振光周波数を変化させることができ
る。
【００６１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光フィルタの中心周波数における曲率特性を精度よく測
定することができる利点がある。
光フィルタの中心周波数における曲率特性を精度よく測
定することができる利点がある。
【図１】本願発明の原理を示す図である。
【図２】光フィルタ周波数特性の微分特性を示す図であ
る。
る。
【図３】光フィルタ周波数特性の偏波依存性を示す図で
ある。
ある。
【図４】本発明の基本構成を示す図である。
【図５】本発明の第１の実施例を示す図である。
【図６】本発明の第２の実施例を示す図である。
【図７】本発明の第３の実施例を示す図である。
【図８】本発明の第４の実施例を示す図である。
１ 発振器 ２ 波長可変光源 ３ 波長計 ４，４ａ，４ｂ 音響光学変調器（ＦＭ変調器） ５ 偏波状態制御器 ６ 偏波状態分析器 ７ 被測定光フィルタ ８ ＰＩＮ−フォトダイオード（ＰＩＮ） ９ ロックインアンプ １０ 方形波形発生器 １１ａ，１１ｂ 光スイッチ １２ 分布ブラッグ反射型半導体レーザ（ＤＢＲ−Ｌ
Ｄ） １３ 任意波形発生器 １４ 分布帰還型半導体レーザ（ＤＦＢ−ＬＤ） １５ 足し算器 １６ 受光器 １７ 同期検波器
Ｄ） １３ 任意波形発生器 １４ 分布帰還型半導体レーザ（ＤＦＢ−ＬＤ） １５ 足し算器 １６ 受光器 １７ 同期検波器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−34446（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/08
Claims (4)
- 【請求項１】 発振器、波長可変光源、波長計、ＦＭ変
調器、被測定光フィルタ、受光器、同期検波器とによっ
て測定系を構成し、 波長可変光源から光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、 発振器からの正弦波電気信号によりＦＭ変調器を駆動し
て上記光周波数にｆ ｍ ｓｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を
施しながら、発振波長（光周波数）を変化させて、周期
Ｔの同期検波出力が零となる光周波数を波長計により求
めて、これを中心周波数と成し、 ＦＭ変調された光を被測定光フィルタを通して受光器で
電気信号に変換した後、同期検波器に導いて、中心周波
数近傍の微係数を得て曲率を求めることを特徴とする光
フィルタ周波数特性測定方法。 - 【請求項２】 発振器、波長可変光源、波長計、ＦＭ変
調器、偏波状態制御器、偏波状態分析器、被測定光フィ
ルタ、受光器、同期検波器とによって測定系を構成し、 波長可変光源から光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、ＦＭ
変調器を駆動せずに偏波状態分析器により偏波状態を測
定し、次に、発振器からの正弦波電気信号によりＦＭ変
調器を駆動し、光周波数にｆ ｍ ｓｉｎ（２πｐｔ）のＦ
Ｍ変調を施し、ＣＷ光の発振波長（即ち光周波数）を変
化して、周期Ｔの同期検波出力が零となる光周波数をＦ
Ｍ変調器の駆動を停止した状態で波長計により測定し、
以上の操作を繰り返しながら、偏波状態制御器を用いて
偏波状態を変化させて全ての偏波状態をスキャンしなが
ら、周期Ｔの同期検波出力が零となる最大光周波数ｆ
ｍａｘ 及び最小光周波数ｆ ｍｉｎ を測定し、ｆ
ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ における偏波状態が直交してい
るときの、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ から、ｆ ０ＴＥ
及びｆ ０ＴＭ における透過強度を測定して、それぞれ
の光周波数におけるＰＤＬを求め、 ＣＷ光の偏波状態を、上述した測定で得た偏波状態の一
方（例えばＴＥモード）に設定後、光周波数に上記ｆ ｍ
ｓｉｎ（２πｐｔ）のＦＭ変調を施しながら、発振波長
（即ち光周波数）を変化させ、ＦＭ変調された光を、被
測定光フィルタを通し、受光器で電気信号に変換して、
変換された電気信号を同期検波器に導く ことで、ｆ
０ＴＥ 近傍の微係数を得、曲率ρ ＴＥ を求め、ＣＷ光
の偏波状態を直交させて、ＴＭモードについても同様に
測定を行い、曲率ρ ＴＭ を求めることを特徴とする光フ
ィルタ周波数特性測定方法。 - 【請求項３】 発振器、波長可変光源、波長計、ＦＭ変
調器、被測定光フィルタ、受光器、同期検波器とによっ
て測定系を構成し、 波長可変光源から光周波数ｆのＣＷ光を発生させ、 発振器からの周期Ｔの矩形波デジタル信号によりＦＭ変
調器を駆動し、ＣＷ光の光周波数を、周期Ｔでｆ±Δｆ
のように変化させて、２値的にＦＭ変調を施しながら、
発振波長（光周波数）を変化させて、周期Ｔの同期検波
出力が零となる光周波数を波長計により求めて、これを
中心周波数と成し、 ＦＭ変調された光を被測定光フィルタを通して受光器で
電気信号に変換した後、同期検波器に導いて、中心周波
数近傍の微係数を得て曲率を求めることを特徴とする光
フィルタ周波数特性測定方法。 - 【請求項４】 発振器、波長可変光源、波長計、ＦＭ変
調器、偏波状態制御器、偏波状態分析器、被測定光フィ
ルタ、受光器、同期検波器とによって測定系を構成し、 波長可変光源から光周波数のｆのＣＷ光を発生させ、Ｆ
Ｍ変調器を駆動せずに偏波状態分析器により偏波状態を
測定し、次に、発振器からの周期Ｔの矩形波デジタル信
号によりＦＭ変調器を駆動し、ＣＷ光の光周波数を、周
期Ｔでｆ±Δｆのように変化させて、２値的にＦＭ変調
を施し、ＣＷ光の発振波長（即ち光周波数）を変化し
て、周期Ｔの同期検波出力が零となる光周波数をＦＭ変
調器の駆動を停止した状態で波長計により測定し、 以上の操作を繰り返しながら、偏波状態制御器を用いて
偏波状態制御器を変化させて全ての偏波状態をスキャン
しながら、周期Ｔの同期検波出力が零となる最大光周波
数ｆ ｍａｘ 及び最小光周波数ｆ ｍｉｎ を測定し、ｆ
ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ における偏波状態が直交していると
きの、ｆ ｍａｘ 及びｆ ｍｉｎ から、ｆ ＯＴＥ 及びｆ
ＯＴＭ における透過強度を測定して、それぞれの光周波
数におけるΡＤＬを求め、 ＣＷ光の編波状態を、上述した測定で得た偏波状態の一
方（例えばＴＥモード ）に設定後、中心周波数を、周期
Ｔでｆ±Δｆのように変化させて、２値的にＦＭ変調を
施しながら、発振波長（即ち光周波数）を変化させ、Ｆ
Ｍ変調された光を、被測定光フィルタを通し、受光器で
電気信号に変換して、 変換された電気信号を同期検波器に導くことで、ｆ
ＯＴＥ 近傍の微係数を得、曲率ρ ＴＥ を求め、ＣＷ光の
編波状態を直交させて、ＴＭモードについても同様に測
定を行い、曲率ρ ＴＭ を求めることを特徴とする光フィ
ルタ周波数特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21843594A JP3255259B2 (ja) | 1994-09-13 | 1994-09-13 | 光フィルタ周波数特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21843594A JP3255259B2 (ja) | 1994-09-13 | 1994-09-13 | 光フィルタ周波数特性測定方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0882574A JPH0882574A (ja) | 1996-03-26 |
| JP3255259B2 true JP3255259B2 (ja) | 2002-02-12 |
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ID=16719873
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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|---|---|---|---|---|
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1994
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