JP3248421B2 - Analog-to-digital converter for spectrometer - Google Patents

Analog-to-digital converter for spectrometer

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JP3248421B2
JP3248421B2 JP9404596A JP9404596A JP3248421B2 JP 3248421 B2 JP3248421 B2 JP 3248421B2 JP 9404596 A JP9404596 A JP 9404596A JP 9404596 A JP9404596 A JP 9404596A JP 3248421 B2 JP3248421 B2 JP 3248421B2
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interferogram
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勝久 津田
修司 占部
久雄 片倉
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、近赤外分光器等の
分光器に用いられるアナログ・デジタル変換装置に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an analog / digital converter used for a spectroscope such as a near infrared spectroscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来よりフーリエ変換型分光方式を採用
した分光器はよく知られている。図5はこの種の分光器
の原理図である。光源1からの光がハーフミラー2によ
り透過光と反射光の2つに分けられる。各光は移動ミラ
ー4と光路に対して直角に置かれた固定ミラー3とでそ
れぞれ反射され、再び同じ光路を戻り、ハーフミラー2
上で再び混合(合波)される。このハーフミラー2から
の出射光を受光器5で電気信号に変換する。試料6はハ
ーフミラーと受光器の間に挿入されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a spectroscope employing a Fourier transform type spectroscopy is well known. FIG. 5 is a principle diagram of this type of spectroscope. The light from the light source 1 is divided by the half mirror 2 into two lights, a transmitted light and a reflected light. Each light is reflected by the moving mirror 4 and the fixed mirror 3 placed at a right angle to the optical path, returns to the same optical path again, and returns to the half mirror 2.
Are mixed (combined) again. The light emitted from the half mirror 2 is converted into an electric signal by the light receiver 5. The sample 6 is inserted between the half mirror and the light receiver.

【0003】ハーフミラー2と2つのミラー3,4から
構成される部分はマイケルソン干渉計と呼ばれ、フーリ
エ変換型分光方式ではこのマイケルソン干渉計の片側の
ミラーを光軸方向に変位させる。すると、マイケルソン
干渉計からの2つの出射光は、移動ミラー4の変位に対
応して位相差を持つ。この結果受光器に入る光量は、光
源1が連続した白色スペクトルである場合は図6に示す
ようなインターフェログラムと呼ばれる特殊な波形とな
る。
[0003] The portion composed of the half mirror 2 and the two mirrors 3 and 4 is called a Michelson interferometer. In the Fourier transform spectroscopy, one of the Michelson interferometer mirrors is displaced in the optical axis direction. Then, the two emitted lights from the Michelson interferometer have a phase difference corresponding to the displacement of the moving mirror 4. As a result, when the light source 1 has a continuous white spectrum, the amount of light entering the light receiver has a special waveform called an interferogram as shown in FIG.

【0004】インターフェログラムの中央部では、ハー
フミラー2から2つのミラー3,4までの距離が等しく
なり、すべての波長で位相が一致し、信号強度は最大に
なる。中央部以外では各波長の位相が打ち消しあい零に
近い信号となる。このような波形のインターフェログラ
ムをフーリエ変換すると、図6(b)に示すようなブロ
ードな白色スペクトルが得られる。試料6が入ると、こ
の白色スペクトルにさらに吸収線が入る形となる。
At the center of the interferogram, the distance from the half mirror 2 to the two mirrors 3 and 4 is equal, the phases match at all wavelengths, and the signal strength is maximized. Except for the center part, the phases of the respective wavelengths cancel each other out, resulting in a signal close to zero. When a Fourier transform is performed on the interferogram having such a waveform, a broad white spectrum as shown in FIG. 6B is obtained. When the sample 6 enters, the absorption spectrum is further included in the white spectrum.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、分光器にお
いては、試料のない場合とある場合のインターフェログ
ラム、すなわち参照光と測定光のインターフェログラム
を同時に測定でき、しかもその測定が高速で連続的に行
われるのが望ましい。
By the way, in a spectroscope, an interferogram with and without a sample, that is, an interferogram of a reference beam and a measurement beam can be measured simultaneously, and the measurement is performed at high speed and continuously. It is desirable to be carried out in a targeted manner.

【0006】本発明の目的は、このような点に鑑み、参
照光と測定光のインターフェログラムの2点のアナログ
信号を高速で連続的に多数回アナログ・デジタル変換
(以下アナログ・デジタル変換をAD変換と略す)し、
メモリに格納できるようにした分光器用アナログ・デジ
タル変換装置を実現しようとするものである。
In view of the foregoing, it is an object of the present invention to convert analog signals at two points of an interferogram of a reference light and a measurement light into analog-to-digital converters (hereinafter, analog-to-digital conversions) many times continuously at high speed. AD conversion)
An object of the present invention is to realize an analog-to-digital converter for a spectroscope that can be stored in a memory.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、マイケルソン干渉計から得られる
インターフェログラムを2分し、その一方の信号を参照
光として検出し、他方の信号は試料を透過させて測定光
として検出するように構成された分光器に使用するアナ
ログ・デジタル変換装置であって、前記測定光と参照光
のデータを2系統で同時にサンプリングしアナログ・デ
ジタル変換することによってデータを採取すると共に、
このサンプリングおよび変換の動作を前記インターフェ
ログラムのピーク部分がほぼ中間に来るように多数回行
い、各採取データをメモリに格納するように構成したこ
とを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention divides an interferogram obtained from a Michelson interferometer into two, detects one signal as reference light, and detects the other signal as reference light. An analog-to-digital converter for use in a spectroscope configured to detect a signal as a measurement light by transmitting a sample, wherein the data of the measurement light and the reference light are simultaneously sampled by two systems and converted into an analog-digital signal. And collect data by doing
This sampling and conversion operation is performed a number of times so that the peak portion of the interferogram is substantially at the center, and each sampled data is stored in a memory.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。図1は本発明に係る分光器の一実施例を示す
構成図である。図において、11はハロゲンランプ等の
ような白色光源、12は例えばHe-Neレーザのような単
色光源、13は光源11の光を平行光にするレンズ、1
4はビームスプリッタ、15は固定ミラー、16は移動
ミラーである。なお、固定ミラー15および移動ミラー
16はここではコーナーキューブミラーが使用される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the spectroscope according to the present invention. In the figure, reference numeral 11 denotes a white light source such as a halogen lamp, 12 denotes a monochromatic light source such as a He-Ne laser, 13 denotes a lens for converting the light of the light source 11 into parallel light, 1
4 is a beam splitter, 15 is a fixed mirror, and 16 is a movable mirror. Here, a corner cube mirror is used as the fixed mirror 15 and the movable mirror 16.

【0009】移動ミラー16は図示しない駆動手段によ
り光軸方向に往復移動するようになっており、移動ミラ
ー16の変位は変位センサ17により検出される。変位
センサ17からは移動ミラー16の変位に応じた電気信
号が出力される。
The movable mirror 16 is reciprocated in the optical axis direction by driving means (not shown). The displacement of the movable mirror 16 is detected by a displacement sensor 17. An electric signal corresponding to the displacement of the movable mirror 16 is output from the displacement sensor 17.

【0010】18はレンズであり、ビームスプリッタ1
4を経由した光源11の干渉信号を集束するレンズ、1
9は単色光源12の干渉信号を検出する受光素子、20
はレンズ18で絞られた干渉光を受ける光ファイバ、2
1は光ファイバ20の出力光を2つに分ける光カプラ、
22,24は光ファイバ、23は試料室、25は試料室
23を通過した光(測定光)を検出する受光素子、26
は光ファイバ、27は光カプラの出力光(参照光)を検
出する受光素子である。30はAD変換装置である。こ
のAD変換装置30については後で詳述する。
Reference numeral 18 denotes a lens, and the beam splitter 1
A lens for focusing the interference signal of the light source 11 via
9 is a light receiving element for detecting an interference signal of the monochromatic light source 12;
Is an optical fiber receiving the interference light narrowed down by the lens 18;
1 is an optical coupler for dividing the output light of the optical fiber 20 into two,
22 and 24 are optical fibers, 23 is a sample chamber, 25 is a light receiving element for detecting light (measurement light) passing through the sample chamber 23,
Is an optical fiber, and 27 is a light receiving element for detecting output light (reference light) of the optical coupler. Reference numeral 30 denotes an AD converter. The AD converter 30 will be described later in detail.

【0011】このような構成において、従来と同様の原
理でインターフェログラムを得て、その信号を光カプラ
21で2つに分ける。2つの光は測定光と参照光として
受光素子25,27でそれぞれ検出され、電気信号に変
換されてAD変換装置30に入力される。
In such a configuration, an interferogram is obtained according to the same principle as in the prior art, and the signal is divided into two by the optical coupler 21. The two lights are respectively detected by the light receiving elements 25 and 27 as measurement light and reference light, converted into electric signals, and input to the AD converter 30.

【0012】他方、単色光源(He-Neレーザの場合、波
長は633nm)12の干渉信号は受光素子19で検出さ
れ、その電気信号もAD変換装置30に入力される。こ
の干渉信号はAD変換装置のサンプルクロックとして利
用される。また変位センサ17の出力もAD変換装置3
0に位相信号として入力される。
On the other hand, an interference signal of a monochromatic light source (in the case of a He-Ne laser, the wavelength is 633 nm) 12 is detected by a light receiving element 19, and its electric signal is also input to an AD converter 30. This interference signal is used as a sample clock of the AD converter. The output of the displacement sensor 17 is also converted to the AD converter 3
0 is input as a phase signal.

【0013】AD変換装置30は測定光と参照光を同時
にサンプリングしAD変換する。そのAD変換データは
順次メモリに記憶される。なお、このサンプリング、A
D変換およびデータ記憶は、サンプルクロックごとに複
数回繰り返し行われる。
The AD converter 30 simultaneously samples and AD converts the measurement light and the reference light. The AD conversion data is sequentially stored in the memory. This sampling, A
D conversion and data storage are repeated a plurality of times for each sample clock.

【0014】図2はAD変換装置の構成図である。図に
おいて、31は受光素子25の出力信号(測定光信号)
の直流成分をカットする入力バッファ、32は受光素子
27の出力信号(参照光信号)の直流成分をカットする
入力バッファである。33,34は必要な周波数成分の
みを取り出すためのバンドパスフィルタである。35,
36は共にAD変換器であり、一方のAD変換器35は
バンドパスフィルタ33経由の測定光信号をAD変換
し、他方のAD変換器36はバンドパスフィルタ34経
由の参照光信号をAD変換する。
FIG. 2 is a block diagram of the AD converter. In the figure, 31 is an output signal (measurement light signal) of the light receiving element 25.
An input buffer 32 cuts the DC component of the output signal (reference light signal) of the light receiving element 27. Reference numerals 33 and 34 denote bandpass filters for extracting only necessary frequency components. 35,
Numeral 36 denotes AD converters. One AD converter 35 AD-converts the measurement light signal passed through the band-pass filter 33, and the other AD converter 36 AD-converts the reference light signal passed through the band-pass filter 34. .

【0015】37,38はAD変換器35,36の各シ
リアル出力をそれぞれパラレルデータに変換する直列並
列変換回路である。39は受光素子19から得られる干
渉信号(ここではゼロクロス信号と呼ぶ)をレベル変換
してAD変換用サンプルクロックとするためのレベル変
換器であり、その出力はAD変換器35,35、書込制
御回路41およびAD書込アドレス制御回路42に入力
される。AD書込アドレス制御回路42としては通常カ
ウンタが使用される。
Reference numerals 37 and 38 denote serial / parallel conversion circuits for converting the respective serial outputs of the AD converters 35 and 36 into parallel data, respectively. Reference numeral 39 denotes a level converter for converting the level of an interference signal (herein referred to as a zero-cross signal) obtained from the light receiving element 19 into an AD conversion sample clock. It is input to the control circuit 41 and the AD write address control circuit 42. A normal counter is used as the AD write address control circuit 42.

【0016】40は、変位センサ17の出力信号(ここ
では位相信号という)を取り込み、レベル変換するレベ
ル変換器であり、その出力信号はAD書込アドレス制御
回路42へリセット信号として入力される。レベル変換
器では移動ミラー16が方向転換するときにリセット信
号が発生するように変換する。
Reference numeral 40 denotes a level converter which takes in an output signal (herein referred to as a phase signal) of the displacement sensor 17 and converts the level thereof. The output signal is input to the AD write address control circuit 42 as a reset signal. The level converter performs a conversion so that a reset signal is generated when the moving mirror 16 changes direction.

【0017】書込制御回路41は、直列並列変換回路3
7,38、アドレスセレクタ43、データセレクタ44
およびメモリ45への各制御信号を出力する。アドレス
セレクタ43は、データ書込み時のアドレス(AD書込
アドレス制御回路42の出力)とデータ読出時のアドレ
ス(図示しないマイクロプロセッサから与えられるアド
レス)のいずれかを選択するもので、その出力はメモリ
45に導かれている。
The write control circuit 41 includes a serial / parallel conversion circuit 3
7, 38, address selector 43, data selector 44
And each control signal to the memory 45. The address selector 43 selects one of an address at the time of data writing (an output of the AD write address control circuit 42) and an address at the time of data reading (an address given from a microprocessor (not shown)). It is led to 45.

【0018】データセレクタ44は、データ書込み時の
データ(直列並列変換回路37,38の出力)とデータ
読出時のデータ(図示しないマイクロプロセッサへ出力
されるデータ)のいずれかを選択するものである。
The data selector 44 selects one of data at the time of data writing (output of the serial / parallel conversion circuits 37 and 38) and data at the time of data reading (data output to a microprocessor (not shown)). .

【0019】このような構成におけるAD変換装置30
の動作を図3の波形図および図4のタイムチャートを参
照して次に説明する。試料室23に試料を封入し、移動
ミラー16を左右に往復移動させる。変位センサ17か
ら図3の(a)に示すような三角波状の信号が出力され
る。インターフェログラムは、同図(b)に示すように
現れ、そのピークが現れる時点はハーフミラー2から2
つのミラー3,4までの距離が等しくなった時点に対応
している。
The AD conversion device 30 having such a configuration
3 will be described next with reference to the waveform diagram of FIG. 3 and the time chart of FIG. The sample is sealed in the sample chamber 23, and the movable mirror 16 is reciprocated right and left. The displacement sensor 17 outputs a triangular signal as shown in FIG. The interferogram appears as shown in FIG. 3B, and the point at which the peak appears is from the half mirror 2 to the half mirror 2.
This corresponds to the point in time when the distances to the two mirrors 3 and 4 become equal.

【0020】また、ゼロクロス信号すなわちHe-Ne干渉
信号をレベル変換器39でレベル変換したパルス信号
(サンプルクロック)は同図(c)に示すように生ず
る。実施例では、移動ミラー16の単位変位(左方向ま
たは右方向への1回の移動変位で、ここでは約60ms
の時間がかかる)に対して例えば1024個のパルスが
発生するように調整してある。そしてこの期間の中間時
点にインターフェログラムのピークがあり、その前後に
わたって512個のサンプルデータがインターフェログ
ラムのデータとして使用されるようにしてある。
A pulse signal (sample clock) obtained by level-converting the zero-cross signal, that is, the He-Ne interference signal by the level converter 39, is generated as shown in FIG. In the embodiment, the unit displacement of the movable mirror 16 (one displacement in the leftward or rightward direction, here about 60 ms)
Is adjusted so that, for example, 1024 pulses are generated. There is a peak of the interferogram at an intermediate point in this period, and 512 sample data are used as interferogram data before and after the peak.

【0021】次に、サンプルクロックごとの各部の動作
について説明する。レベル変換器39の出力であるサン
プルクロックは、スタート指令の信号(図4の(a))
としてAD変換器35,36および書込制御回路41に
加えられる。これによりAD変換器35,36はそれぞ
れ入力信号を同時にサンプルホールドしそのホールド値
のAD変換を開始し、16ビットのシリアルデータを順
次出力する(図4の(b))。
Next, the operation of each section for each sample clock will be described. The sample clock which is the output of the level converter 39 is a start command signal ((a) in FIG. 4).
Are added to the AD converters 35 and 36 and the write control circuit 41. As a result, the AD converters 35 and 36 simultaneously sample and hold the input signals, start AD conversion of the hold values, and sequentially output 16-bit serial data (FIG. 4B).

【0022】このとき、アドレスセレクタ43は、AD
書込制御回路42の出力(図4の(d))を選択してメ
モリ45に書込アドレスを与え、データセレクタ44は
直列並列変換回路の出力を選択してメモリ45に与え
る。
At this time, the address selector 43 selects the AD
The output ((d) in FIG. 4) of the write control circuit 42 is selected and a write address is given to the memory 45, and the data selector 44 selects the output of the serial / parallel conversion circuit and gives it to the memory 45.

【0023】上記AD変換器でのAD変換動作(16ビ
ットのシリアルデータ出力)が完了すると、図4の
(c)に示すようにADエンド信号(反転BUSY信
号)が落ち、その後適宜の時間経過後に図4(e),
(f)に示すメモリ書込信号(メモリライトSとメモリ
ライトR)が書込制御回路41から発せられる。なお、
メモリ45に対しては、メモリライトSとメモリライト
Rとのオア(OR)信号(図4の(j))がライト信号
として入力される。
When the A / D conversion operation (16-bit serial data output) by the A / D converter is completed, the A / D end signal (inverted BUSY signal) falls as shown in FIG. Later, FIG.
Memory write signals (memory write S and memory write R) shown in (f) are issued from the write control circuit 41. In addition,
An OR (OR) signal ((j) in FIG. 4) of the memory write S and the memory write R is input to the memory 45 as a write signal.

【0024】なお、書込制御回路41は、図4の(g)
に示すように、前記メモリ書込信号が発生する前にデー
タバス46上に測定光データまたは参照光データが出力
されるように直列並列変換回路37,38を制御する。
また、メモリ45に与えるアドレスのうち下位アドレス
(図4の(h))はAD書込アドレス制御回路42から
与えられ、上位アドレス(図4の(i))は書込制御回
路41から与えられる。上位アドレスはここでは1ビッ
トであり、測定光データと参照光データの書込み時に1
と0に切り換えられるようになっている。これにより測
定光データと参照光データはメモリ45の別々のアドレ
スグループに分けて書き込まれる。
Note that the write control circuit 41 corresponds to (g) of FIG.
As shown in (5), the serial / parallel conversion circuits 37 and 38 are controlled so that the measurement light data or the reference light data is output onto the data bus 46 before the memory write signal is generated.
The lower address ((h) in FIG. 4) of the addresses supplied to the memory 45 is supplied from the AD write address control circuit 42, and the upper address ((i) in FIG. 4) is supplied from the write control circuit 41. . The upper address is 1 bit here, and is 1 bit when writing the measurement light data and the reference light data.
And 0. As a result, the measurement light data and the reference light data are written in different address groups of the memory 45 separately.

【0025】以下サンプルクロックごとに上記の動作を
繰り返し、所定のサンプル数のデータを採取することが
できる。必要数サンプルした後はマイクロプロセッサ側
からアドレス指定を行ってメモリ45内の記憶データを
適宜読出すことができる。
The above operation is repeated every sample clock, and data of a predetermined number of samples can be collected. After the required number of samples have been taken, the microprocessor can specify the address and read the data stored in the memory 45 as appropriate.

【0026】なお、本発明の以上の説明は、説明および
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの
変更、変形をなし得ることは当業者に明らかである。
It is to be noted that the above description of the present invention has been presented by way of explanation and illustration only of particular preferred embodiments. Thus, it will be apparent to one skilled in the art that the present invention may be modified or modified in many ways without departing from its essentials.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、測
定光データと参照光データを同時点に採取でき、しかも
それを多数回連続的に採取することができる。また、イ
ンターフェログラムのピークを中心にその前後の複数の
データをメモリに採取できるようにしてあり、機器の調
整、ドリフト等によってインターフェログラムの中心位
置がずれた場合でも、前後のずれは容易にメモリの領域
でカバーすることができるようになっている。
As described above, according to the present invention, the measurement light data and the reference light data can be sampled at the same time, and can be continuously sampled many times. In addition, a plurality of data before and after the peak of the interferogram can be collected in the memory, so that even if the center position of the interferogram is shifted due to equipment adjustment, drift, etc., the shift before and after is easy. Can be covered by the memory area.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る分光器の一実施例を示す構成図FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of a spectroscope according to the present invention.

【図2】AD変換装置の構成図FIG. 2 is a configuration diagram of an AD converter.

【図3】動作説明のための各部の波形図FIG. 3 is a waveform chart of each part for explaining the operation.

【図4】動作説明ためのタイムチャートFIG. 4 is a time chart for explaining the operation.

【図5】フーリエ変換型分光器の原理図FIG. 5 is a principle diagram of a Fourier transform type spectrometer.

【図6】インターフェログラムの波形を説明するための
図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining a waveform of an interferogram.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 白色光源 12 単色光源 13,18 レンズ 14 ビームスプリッタ 15 固定ミラー 16 移動ミラー 17 変位センサ 19,25,27 受光素子 20,22,24,26 光ファイバ 21 光カプラ 23 試料室 30 AD変換装置 31,32 入力バッファ 33,34 バンドパスフィルタ 35,36 AD変換器 37,38 直列並列変換回路 39,40 レベル変換器 41 書込制御回路 42 AD書込アドレス制御回路 43 アドレスセレクタ 44 データセレクタ 45 メモリ 46 データバス Reference Signs List 11 white light source 12 monochromatic light source 13, 18 lens 14 beam splitter 15 fixed mirror 16 moving mirror 17 displacement sensor 19, 25, 27 light receiving element 20, 22, 24, 26 optical fiber 21 optical coupler 23 sample chamber 30 AD conversion device 31, 32 input buffer 33,34 band-pass filter 35,36 AD converter 37,38 serial-parallel conversion circuit 39,40 level converter 41 write control circuit 42 AD write address control circuit 43 address selector 44 data selector 45 memory 46 data bus

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−269032(JP,A) 特開 昭51−92671(JP,A) 特開 平7−270311(JP,A) 特開 平4−269646(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 G01J 3/00 - 3/52 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-1-269032 (JP, A) JP-A-51-92671 (JP, A) JP-A-7-270311 (JP, A) JP-A-4- 269646 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 21/00-21/01 G01N 21/17-21/61 G01J 3/00-3/52

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】マイケルソン干渉計から得られるインター
フェログラムを2分し、その一方の信号を参照光として
検出し、他方の信号は試料を透過させて測定光として検
出するように構成された分光器に使用するアナログ・デ
ジタル変換装置であって、 前記測定光と参照光のデータを2系統で同時にサンプリ
ングしアナログ・デジタル変換することによってデータ
を採取すると共に、このサンプリングおよび変換の動作
を前記インターフェログラムのピーク部分がほぼ中間に
来るように多数回行い、各採取データをメモリに格納す
るように構成したことを特徴とする分光器用アナログ・
デジタル変換装置。
An interferogram obtained from a Michelson interferometer is bisected, and one of the signals is detected as reference light, and the other signal is transmitted through a sample and detected as measurement light. An analog-to-digital converter for use in a spectroscope, wherein data of the measurement light and reference light are simultaneously sampled by two systems and converted into analog-to-digital data to collect data. An analog / spectrometer analog device characterized in that the interferogram is performed a number of times so that the peak portion is almost at the center, and each sampled data is stored in a memory.
Digital conversion device.
【請求項2】前記マイケルソン干渉計に単色光を入射し
て得られる干渉信号に同期して前記サンプリングを行う
ようにしたことを特徴とする請求項1記載の分光器用ア
ナログ・デジタル変換装置。
2. The analog-to-digital converter for a spectroscope according to claim 1, wherein said sampling is performed in synchronization with an interference signal obtained by making monochromatic light incident on said Michelson interferometer.
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