JP3247577B2 - Hardness / tensile automatic testing machine - Google Patents
Hardness / tensile automatic testing machineInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、同一の試験片に対して
硬さと引張強度を全自動で測定するようにした硬さ/引
張自動試験機に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic hardness / tensile tester for automatically measuring hardness and tensile strength of the same test piece.
【0002】[0002]
【従来の技術】金属材料や非金属材料、あるいは複合材
料の物性などを評価する場合、材料の硬さと引張強度が
要求される場合がある。従来は、硬さと引張強度はそれ
ぞれ単独の試験機で別々に測定されている。2. Description of the Related Art When evaluating the physical properties of a metal material, a nonmetal material, or a composite material, the hardness and tensile strength of the material may be required. Conventionally, hardness and tensile strength are each separately measured by a single testing machine.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】そのため、硬さ試験に
適した形状の試験片と引張強度に適した試験片をそれぞ
れ用意しなければならない。また、硬さ試験と引張強度
を手動または自動によりそれぞれ別々のタイミングで行
なっていたため、同一の試験片に対する硬さと引張強度
を一対一に対応して正確に把握できなかった。Therefore, a test piece having a shape suitable for the hardness test and a test piece suitable for the tensile strength must be prepared. In addition, since the hardness test and the tensile strength were performed manually or automatically at different timings, the hardness and the tensile strength for the same test piece could not be accurately grasped on a one-to-one basis.
【0004】本発明の目的は、硬さと引張強度とを同一
の試験片に対して自動的に連続して測定することができ
る硬さ/引張自動試験機を提供することにある。An object of the present invention is to provide an automatic hardness / tensile tester capable of automatically and continuously measuring the hardness and tensile strength of the same test piece.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明に係る硬さ/引張
自動試験機は、試験片有無検出センサが収納部に設けら
れ、試験片を収納する試験片収容装置と、試験片端面検
出センサが設けられ、前記収容装置から取り出された試
験片の幅および長手方向の位置決めを行うとともに、一
対の吸着部とその間に設けられた試験片吸着防止用突起
部により試験片複数吸着防止可能な位置決め装置と、前
記試験片に記された情報を読取る情報読取り装置と、前
記試験片の寸法を測定する測寸装置と、複数の硬さ測定
値の演算を行なうデータ処理部を備えた1台または複数
の硬度計からなる硬さ試験装置と、引張強度を測定する
引張試験装置と、前記各装置間での試験片の搬送を制御
するとともに、前記情報読取り装置で読取った情報に基
づいて、試験する種類を判別して試験片を分離すること
なく前記各種硬さ試験装置と引張試験装置で試験を行う
ようにシーケンス制御する制御装置とを具備するもので
ある。According to the present invention, there is provided an automatic hardness / tensile testing machine in which a test piece presence / absence detection sensor is provided in a storage section, a test piece storage device for storing a test piece, and a test piece end face detection sensor. Is provided, which performs positioning in the width and longitudinal directions of the test piece taken out from the storage device, and positioning that can prevent a plurality of test pieces from being sucked by a pair of suction portions and a test piece suction preventing protrusion provided between the pair of suction portions. An apparatus including an apparatus, an information reading apparatus for reading information written on the test piece, a dimension measuring apparatus for measuring the size of the test piece, and a data processing unit for calculating a plurality of hardness measurement values or A hardness tester consisting of a plurality of hardness testers, a tensile tester for measuring tensile strength, and controlling the transfer of a test piece between the respective devices, and a test based on information read by the information reader. Do In which and a control device for the sequence control to perform tests with the various hardness testing device and tensile testing apparatus without separating the specimen to determine the kind.
【0006】[0006]
【作用】収容装置から取り出された試験片の情報が情報
読取り装置で読取られる。制御装置はこの読取り情報に
基づいて試験片の試験を行う。すなわち、行うべき試験
や硬さ試験の種類を判別し、その判別結果に応じて各装
置に試験片を順次に搬送する。硬さ試験を行う試験片に
ついては、硬さ試験の後、引張り試験を行う。The information of the test piece taken out of the storage device is read by the information reading device. The control device tests the test piece based on the read information. That is, the type of the test or the hardness test to be performed is determined, and the test pieces are sequentially conveyed to each device according to the determination result. For the test piece on which the hardness test is performed, a tensile test is performed after the hardness test.
【0007】[0007]
【実施例】図1〜図8により本発明の一実施例を説明す
る。図1〜図6において、10は搬送装置であり、直線
状に配設された搬送レール11と、このレール11の上
を直線移動する搬送ロボット12と、ロボット12を走
行させる走行機構13とを備える。搬送ロボット12
は、水平面内に置かれている試験片をその上方から真空
または磁石で吸着する吸着装置と、吸着した試験片を図
1の矢印A,B方向に搬送する搬送部と、試験片を90
度旋回して垂直方向に向ける回動装置とを備える。走行
機構13は、レール11に沿って設けられたラックと、
ロボット11に一体に設けられたモータと、このモータ
の出力軸に連結されラックと噛合するピニオンギアとを
備え、モータを回転してロボット12をレール11上の
所望の位置に移動する。これらの装置や機構はそれぞれ
周知であり詳細な図示は省略する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6, reference numeral 10 denotes a transfer device, which includes a transfer rail 11 disposed linearly, a transfer robot 12 that moves linearly on the rail 11, and a traveling mechanism 13 that moves the robot 12. Prepare. Transfer robot 12
Is a suction device that sucks a test piece placed in a horizontal plane from above by a vacuum or a magnet, a transport unit that transports the sucked test piece in the directions of arrows A and B in FIG.
And a turning device for turning the device in the vertical direction. The traveling mechanism 13 includes a rack provided along the rail 11,
The motor includes a motor integrally provided with the robot, and a pinion gear connected to an output shaft of the motor and meshing with the rack. The motor is rotated to move the robot to a desired position on the rail. These devices and mechanisms are well known, and detailed illustration is omitted.
【0008】搬送装置10の一方の側に沿って、収容装
置20と、刻印読取り装置(情報読取り装置)30と、
接触式測寸装置40と、研磨装置50と、自動ビッカー
ス硬さ計本体60と、自動ロックウエル硬さ計本体70
と、自動ブリネル硬さ計本体80と、引張試験機本体9
0と、試験片回収装置100Aとが配置されている。ま
た、搬送装置10の他方の側には、刻印読取り制御装置
35と、自動ビッカース硬さ計制御装置65と、自動ロ
ックウエル硬さ計制御装置75と、自動ブリネル硬さ計
制御装置85と、引張試験機コントローラ95Aと、引
張試験機計測盤95Bと、シーケンス制御装置110
と、データ処理装置120と、試験片回収装置100
B,100Cとが配置されている。Along one side of the transport device 10, a storage device 20, a stamp reading device (information reading device) 30,
Contact type measuring device 40, polishing device 50, automatic Vickers hardness meter main body 60, automatic rockwell hardness meter main body 70
, Automatic Brinell hardness tester main body 80, tensile tester main body 9
0 and a test piece collection device 100A. Also, on the other side of the transport device 10, a stamp reading control device 35, an automatic Vickers hardness meter control device 65, an automatic Rockwell hardness meter control device 75, an automatic Brinell hardness meter control device 85, Testing machine controller 95A, tensile testing machine measuring board 95B, sequence controller 110
, A data processing device 120, and a test piece collection device 100
B, 100C.
【0009】図10は本実施例で使用されるダンベル型
試験片TPを示し、両端部LP,RPは引張試験機の把
持部であり、ハッチング部HPは硬さ試験の被測定部で
ある。FIG. 10 shows a dumbbell type test piece TP used in this embodiment. Both ends LP and RP are gripping portions of a tensile tester, and a hatched portion HP is a portion to be measured in a hardness test.
【0010】図3にも示すように、収容装置20は、図
10に示す試験片を複数枚積層して収容する3つの収容
部20a〜20cと、収容部に積層されている試験片を
昇降する昇降部(不図示)と、積層されている試験片の
最上部の1枚を吸着保持して位置決め部20dに搬送す
る搬送部20eとを備える。搬送部20eの試験片吸着
部は一対の吸盤とその間に設けられた複数の吸着防止用
突起とにより薄い試験片の場合にその試験を若干曲げて
複数枚の吸着を防止している。As shown in FIG. 3, the storage device 20 includes three storage portions 20a to 20c for stacking and storing a plurality of test pieces shown in FIG. And a transport unit 20e that adsorbs and holds the uppermost one of the stacked test pieces and transports it to the positioning unit 20d. The test piece suction part of the transporting unit 20e has a pair of suction cups and a plurality of suction prevention projections provided therebetween to slightly bend the test in the case of a thin test piece to prevent the suction of a plurality of sheets.
【0011】各々の収容部底面には試験片有無検出用セ
ンサ20fが設けられ、各収容部の試験片の有無を自動
判別する。このセンサは、試験片の表面性状(黒皮、圧
延、みがきなど)にかかわらず試験片を検出することが
できる高感度型のセンサである。また、この有無判別機
能により割込み試験を行うこともできる。A test piece presence / absence detection sensor 20f is provided on the bottom of each of the storage sections, and automatically determines the presence or absence of a test piece in each of the storage sections. This sensor is a high-sensitivity type sensor capable of detecting a test piece regardless of the surface properties (black scale, rolling, polishing, etc.) of the test piece. Also, an interrupt test can be performed by the presence / absence determination function.
【0012】試験片TPは、位置決め部20dによって
水平面内の直交2軸(長手方向と幅方向)に対して位置
決めされる。また、位置決め部20dは端面検出センサ
を備え、試験片に曲り、反り、ねじれなどの変形があっ
ても、幅、長さ方向とも確実に位置決めできるように端
面検出センサにより位置を検出し、位置決めを行う。The test piece TP is positioned by a positioning portion 20d with respect to two orthogonal axes (longitudinal direction and width direction) in a horizontal plane. The positioning section 20d is provided with an end face detection sensor. Even if the test piece is bent, warped, twisted, or otherwise deformed, the position is detected by the end face detection sensor so that the test piece can be reliably positioned in the width and length directions. I do.
【0013】これにより、搬送装置10のロボット12
が収容装置20の位置決め部20dまで前進すると、そ
の把持部により試験片を把持し、位置決め部20dから
刻印読取り装置30へ搬送する。なお、位置決め部20
dでは把持部で試験片を把持した状態で曲りの大きな試
験片を検出し、このような異常のある試験片は後述する
回収装置へ回収される。なお、収容装置20の各部は周
知であるから詳細な図示は省略する。Accordingly, the robot 12 of the transfer device 10
Moves forward to the positioning portion 20d of the storage device 20, the test piece is gripped by the gripping portion, and is conveyed from the positioning portion 20d to the marking reading device 30. The positioning unit 20
In d, a test piece having a large bend is detected in a state where the test piece is gripped by the grip portion, and the test piece having such an abnormality is collected by a collecting device described later. In addition, since each part of the storage device 20 is well-known, detailed illustration is omitted.
【0014】図4に位置決め部20dの全体構成を示
す。受け皿昇降シリンダ201のピストンロッドの先端
には試験片受け皿202が設けられ、試験片はこの受け
皿202に載置される。試験片幅方向を挟んで幅方向位
置決め用アーム203、204が配設され、これらアー
ム203、204は送りねじ205の右ねじと左ねじに
それぞれ螺合している。送りねじ205は幅方向位置決
めアーム開閉用モータ206で回転し、幅方向位置決め
用アーム203、204を開閉する。アーム203、2
04の開閉運動により試験片の幅方向の位置決めが行わ
れる。アーム203の端部にはそれぞれ透過型光電スイ
ッチの投光素子207a、208aと受光素子207
b、208bが上下方向に所定距離離して配置され、ア
ーム204の端部にはそれぞれ透過型光電スイッチの投
光素子209a、210aと受光素子209b、210
b(それぞれ不図示)が上下方向に配置されている。FIG. 4 shows the overall configuration of the positioning section 20d. A test piece tray 202 is provided at the tip of the piston rod of the tray lifting cylinder 201, and the test piece is placed on the tray 202. Arms 203 and 204 for positioning in the width direction are provided so as to sandwich the width direction of the test piece, and these arms 203 and 204 are screwed to right and left screws of the feed screw 205, respectively. The feed screw 205 is rotated by a width-direction positioning arm opening / closing motor 206 to open and close the width-direction positioning arms 203 and 204. Arm 203, 2
The positioning of the test piece in the width direction is performed by the opening / closing motion of 04. The light projecting elements 207a and 208a and the light receiving element 207 of the transmission type photoelectric switch are provided at the ends of the arm 203, respectively.
b and 208b are arranged at a predetermined distance in the vertical direction, and the light emitting elements 209a and 210a and the light receiving elements 209b and 210
b (not shown) are arranged vertically.
【0015】モータ206により幅方向位置決めアーム
203、204を閉じ操作すると試験片TPがアーム2
03、204に応動されて受け皿202の中心CLXに
位置決めされ、このとき、各投光素子207a、208
a、209a、210aからの光は試験片TPで遮光さ
れ、各受光素子207b、208b、209b、210
bは光を受光していないことを示すレベルの信号を出力
する。When the width-direction positioning arms 203 and 204 are closed by the motor 206, the test piece TP is
03, 204, and is positioned at the center CLX of the tray 202. At this time, each of the light emitting elements 207a, 208
a, 209a, and 210a are shielded by the test piece TP, and the light receiving elements 207b, 208b, 209b, and 210
b outputs a signal of a level indicating that no light is received.
【0016】一方、試験片長手方向を挟んで長手方向位
置決め用アーム211、212が配設され、これらアー
ム211、212は送りねじ213の右ねじと左ねじに
それぞれ螺合している。送りねじ213は長手方向位置
決めアーム開閉用モータ214で回転し、長手方向位置
決め用アーム211、212を開閉する。アーム21
1、212の開閉運動により試験片の長手方向の位置決
めが行われる。アーム211の上部には透過型光電スイ
ッチの投光素子215aと受光素子215bが上下方向
に所定距離離して設けられ、アーム212の上部には透
過型光電スイッチの投光素子216aと受光素子216
bが所定距離離して設けられている。On the other hand, arms 211 and 212 for positioning in the longitudinal direction are provided so as to sandwich the longitudinal direction of the test piece, and these arms 211 and 212 are screwed to the right and left screws of the feed screw 213, respectively. The feed screw 213 is rotated by a longitudinal positioning arm opening / closing motor 214 to open and close the longitudinal positioning arms 211 and 212. Arm 21
The test piece is positioned in the longitudinal direction by the opening and closing movements of the test pieces 1 and 212. A light projecting element 215a and a light receiving element 215b of a transmission type photoelectric switch are provided above the arm 211 at a predetermined distance in the vertical direction, and a light projecting element 216a and a light receiving element 216 of the transmission type photoelectric switch are provided above the arm 212.
b are provided at a predetermined distance.
【0017】モータ214により長手方向位置決めアー
ム211、212を閉じ操作すると試験片TPがアーム
211、212に応動されて受け皿202の中心CLY
に位置決めされ、このとき、各投光素子215a、21
6aからの光は試験片TPで遮光され、各受光素子21
5b、216bは光を受光していないことを示すレベル
の信号を出力する。When the longitudinal positioning arms 211 and 212 are closed by the motor 214, the test piece TP is moved by the arms 211 and 212 and the center CLY of the tray 202 is moved.
At this time, each light emitting element 215a, 21
6a is blocked by the test piece TP,
5b and 216b output signals of a level indicating that no light is received.
【0018】さらに、アーム211、212の上部には
互いに対向して光電スイッチの投光素子217aと受光
素子217bが設けられている。受け皿202に反りの
ある試験片TPが載置され、投光素子217aからの光
が試験片TPで遮断されると受光素子217bが光を受
光していないことを示すレベルの信号を出力する。Further, a light projecting element 217a and a light receiving element 217b of the photoelectric switch are provided above the arms 211 and 212 so as to face each other. When the warped test piece TP is placed on the tray 202 and the light from the light projecting element 217a is cut off by the test piece TP, a signal of a level indicating that the light receiving element 217b is not receiving light is output.
【0019】刻印読取り装置30は、搬送装置10から
供給される試験片TPの載置部30aと、この載置部3
0aに置かれた試験片TPの試験片番号を読取る読取り
部30bとを備える。刻印読取り装置30は、照射角
度、明るさなどの照射パターンを自動的に変え、試験片
の刻印の正常読取りができるようになされている。な
お、刻印に代えてバーコードを付してバーコードリーダ
を使用することもできる他、試験片の情報を種々の形態
で試験片に付与しそれに応じた読取り装置を使用でき
る。The marking reading device 30 includes a mounting portion 30a for the test piece TP supplied from the transport device 10, and a mounting portion 3a.
A reading section 30b for reading the test strip number of the test strip TP placed at 0a. The marking reading device 30 automatically changes the irradiation pattern such as the irradiation angle and the brightness so that the marking of the test piece can be read normally. In addition, a bar code reader can be used by attaching a bar code instead of the engraving, and information of the test piece can be given to the test piece in various forms, and a reading device corresponding thereto can be used.
【0020】図1、図2および図5に示すように測寸装
置40は、搬送装置10から供給される試験片TPの載
置部40aと、載置部40aに載置されている試験片の
厚さ、幅を測定する測定部40bとを備える。なお、厚
板の試験片は厚さと幅が、薄板の試験片は厚さだけが測
定される。As shown in FIGS. 1, 2 and 5, the dimensioning device 40 includes a mounting portion 40 a for the test piece TP supplied from the transport device 10 and a test piece mounted on the mounting portion 40 a. And a measuring unit 40b for measuring the thickness and width of the object. The thickness and width of a thick test piece are measured, and only the thickness of a thin test piece is measured.
【0021】図1、図2および図5に示すように研磨装
置50は、搬送装置10から供給される試験片TPの載
置部50aと、試験片の被測定部HPを研磨する研磨部
50bと、載置部50aと研磨部50bとの間で試験片
TPを搬送する搬送部50cとを備える。この研磨装置
50は、ビッカース硬さ試験とロックウエル硬さ試験を
行なう場合に試験片TPの被硬さ測定部HPを研磨する
ものである。As shown in FIGS. 1, 2 and 5, the polishing apparatus 50 includes a mounting section 50a for the test piece TP supplied from the transfer apparatus 10 and a polishing section 50b for polishing the measured section HP of the test piece. And a transport section 50c for transporting the test piece TP between the mounting section 50a and the polishing section 50b. The polishing device 50 is for polishing the hardness measurement portion HP of the test piece TP when performing the Vickers hardness test and the Rockwell hardness test.
【0022】図1、図2および図5に示すようにビッカ
ース硬さ計本体60は、搬送装置10から供給される試
験片TPの載置部60aと、試験片の被測定部HPに圧
子を押圧する圧子押圧部60bと、被測定部HPに形成
された圧痕を撮像する撮像部60cとを備える。As shown in FIGS. 1, 2 and 5, the Vickers hardness tester main body 60 has an indenter on the mounting portion 60 a of the test piece TP supplied from the transport device 10 and on the measured portion HP of the test piece. An indenter pressing portion 60b for pressing and an imaging portion 60c for imaging an indentation formed on the measurement target portion HP are provided.
【0023】このビッカース硬さ計本体60は、ビッカ
ース硬さ計制御部65からの試験指示にしたがって試験
を行う。本装置の硬さ測定処理においては、撮像部60
cで撮像された圧痕の画像をビッカース硬さ計制御装置
65に供給し、周知の画像処理により圧痕の所定の寸法
を演算してビッカース硬さを算出する。また、データ処
理として、単に平均値を演算するだけでなく、指示によ
っては5点測定を行い、そのうち最大、最小を除く平均
値を演算することも可能である。このようなビッカース
硬さ計は周知技術であるから詳細な図示は省略する。The Vickers hardness tester main body 60 performs a test in accordance with a test instruction from the Vickers hardness tester controller 65. In the hardness measurement processing of the present apparatus, the imaging unit 60
The image of the indentation captured in step c is supplied to the Vickers hardness meter controller 65, and a predetermined size of the indentation is calculated by well-known image processing to calculate the Vickers hardness. Further, as data processing, it is possible not only to calculate an average value but also to perform five-point measurement depending on an instruction, and to calculate an average value excluding the maximum value and the minimum value. Since such a Vickers hardness tester is a well-known technique, detailed illustration is omitted.
【0024】図1、図2および図6に示すようにロック
ウエル硬さ計本体70は、搬送装置10から供給される
試験片TPの載置部70aと、指示された荷重に自動的
に切換え、試験片の被測定部HPに圧子を押圧する圧子
押圧部70bと、被測定部HPに形成された圧痕の深さ
を測定する変位計70cとを備える。変位計70cで測
定された変位はロックウエル硬さ計制御装置75に供給
され、ロックウエル硬さが算出される。また、データ処
理として、単に平均値を演算するだけでなく、指示によ
っては5点測定を行い、そのうち最大、最小を除く平均
値を演算することも可能である。このようなロックウエ
ル硬さ計は周知技術であるから詳細な図示は省略する。As shown in FIGS. 1, 2 and 6, the rockwell hardness tester main body 70 automatically switches between the mounting portion 70a for the test piece TP supplied from the transfer device 10 and the specified load. An indenter pressing portion 70b for pressing an indenter against the measured portion HP of the test piece and a displacement gauge 70c for measuring the depth of an indentation formed on the measured portion HP are provided. The displacement measured by the displacement meter 70c is supplied to the Rockwell hardness meter controller 75, and the Rockwell hardness is calculated. Further, as data processing, it is possible not only to calculate an average value but also to perform five-point measurement depending on an instruction, and to calculate an average value excluding the maximum value and the minimum value. Since such a Rockwell hardness tester is a well-known technique, detailed illustration is omitted.
【0025】図1、図2および図6に示すようにブリネ
ル硬さ計本体80は、搬送装置10から供給される試験
片TPの載置部80aと、試験片の被測定部HPに圧子
を押圧する圧子押圧部80bと、被測定部HPに形成さ
れた圧痕を撮像する撮像部80cとを備える。撮像部8
0cで撮像された圧痕の画像はブリネル硬さ計制御装置
85に供給され、周知の画像処理により圧痕の所定の寸
法を演算して、ブリネル硬さが算出される。このような
ブリネル硬さ計は周知技術であるから詳細な図示は省略
する。As shown in FIGS. 1, 2 and 6, the Brinell hardness tester main body 80 has an indenter on the mounting portion 80a of the test piece TP supplied from the transfer device 10 and on the measured portion HP of the test piece. An indenter pressing portion 80b for pressing and an imaging portion 80c for imaging an indentation formed on the measured portion HP are provided. Imaging unit 8
The image of the indentation taken at 0c is supplied to the Brinell hardness meter control device 85, and a predetermined size of the indentation is calculated by well-known image processing to calculate the Brinell hardness. Since such a Brinell hardness tester is a well-known technique, detailed illustration is omitted.
【0026】図1、図2および図7に示すように引張試
験機本体90は、搬送装置10から供給される試験片T
Pの両端を把持する上下把持部90a,90bと、上下
把持部90a,90bを互いに離間させて試験片TPに
引張負荷を与える負荷部90cと、負荷時に試験片に働
く荷重を検出する荷重検出部90dと、試験片の変位を
測定する変位測定部(不図示)とを備える。荷重と変位
とは引張試験機コントローラ95Aに送られ、コントロ
ーラ95Aは荷重ー変位特性曲線を作成したり、各種の
降伏荷重を演算する。このような引張試験機は周知技術
であるから詳細な図示は省略する。As shown in FIGS. 1, 2 and 7, the tensile tester main body 90 is provided with a test piece T supplied from the transfer device 10.
Upper and lower gripping portions 90a and 90b for gripping both ends of P, a load portion 90c for separating the upper and lower gripping portions 90a and 90b from each other to apply a tensile load to the test piece TP, and a load detector for detecting a load applied to the test piece at the time of loading And a displacement measuring unit (not shown) for measuring the displacement of the test piece. The load and displacement are sent to a tensile tester controller 95A, which creates a load-displacement characteristic curve and calculates various yield loads. Since such a tensile tester is a well-known technique, detailed illustration is omitted.
【0027】図8は全自動硬さ/引張試験機の処理手順
を示すフローチャートであり、操作者が起動スイッチを
オンすることによりデータ処理装置120のCPUに格
納されたプログラムが起動されて、図4に示す処理が実
行される。この図により動作を説明する。FIG. 8 is a flowchart showing a processing procedure of the fully automatic hardness / tensile tester. When an operator turns on a start switch, a program stored in the CPU of the data processing device 120 is started. 4 is executed. The operation will be described with reference to FIG.
【0028】ステップS1において、搬送装置10のロ
ボット12により、収容装置20の最上部の試験片TP
を吸着し、刻印読み取り装置30の載置部に搬送する。
ステップS2では、読み取り装置30の読取り部で試験
片TPの試験片番号を読取り、ステップS3において、
読取った試験片番号をデータ処理装置120を経由して
上位コンピュータ200に送る。上位コンピュータ20
0は受信した試験片番号に基づいて、その試験片に対し
て行なう試験情報を読み出し、データ処理装置120に
送る。データ処理装置120はステップS4でこの試験
機情報を受信する。ここで、上位コンピュータ200と
は、図示する全自動試験機とは別に設けられ、たとえ
ば、この試験機で試験される材料の製造や工程を管理す
るのに使用されるコンピュータである。In step S1, the uppermost test piece TP of the storage device 20 is moved by the robot 12 of the transfer device 10.
And transported to the mounting portion of the stamp reading device 30.
In step S2, the reading unit of the reading device 30 reads the test piece number of the test piece TP, and in step S3,
The read test strip number is sent to the host computer 200 via the data processing device 120. Host computer 20
0 reads out the test information to be performed on the test piece based on the received test piece number and sends it to the data processing device 120. The data processing device 120 receives this tester information in step S4. Here, the host computer 200 is a computer that is provided separately from the fully-automated testing machine shown in the drawing, and is used, for example, to manage the production and process of the material to be tested by this testing machine.
【0029】ステップS5では、刻印読み取り装置30
の載置部30a上の試験片TPを搬送装置10のロボッ
ト12により測寸装置40の載置部40aに搬送する。
ステップS6では、測寸装置40で試験片TPの厚さや
幅を測定し、測定データを読み取る。ステップS7で
は、読み取った測定データに基づいて、引張試験におけ
る荷重レンジや応力計算のための断面積を演算する。ス
テップS8では、上位コンピュータ200から受信した
試験情報に基づいて所定の試験を行なうようにデータ処
理装置120は各装置や試験機を制御する。このステッ
プS8の詳細は後述する。ステップS9では、試験終了
後に試験片を回収装置に回収するため、搬送装置10の
ロボット12で試験片を吸着し、指定された回収装置ま
で搬送して回収装置に回収する。回収装置の指定は、再
処理が必要な試験片、再処理不要な試験片、異常な試験
片の3つに分類されてそれぞれ対応する回収装置へ回収
される。In step S5, the marking reading device 30
The test piece TP on the mounting portion 30a is transferred by the robot 12 of the transfer device 10 to the mounting portion 40a of the dimensioning device 40.
In step S6, the thickness and width of the test piece TP are measured by the size measuring device 40, and the measurement data is read. In step S7, a load range in a tensile test and a cross-sectional area for calculating stress are calculated based on the read measurement data. In step S8, the data processing device 120 controls each device and the testing machine so as to perform a predetermined test based on the test information received from the host computer 200. The details of step S8 will be described later. In step S9, the test piece is sucked by the robot 12 of the transfer device 10 and collected by the collection device after being transported to the designated collection device in order to collect the test piece in the collection device after the test is completed. The designation of the collecting device is classified into three types: a test piece that needs reprocessing, a test piece that does not require reprocessing, and an abnormal test piece, and is collected into the corresponding collecting device.
【0030】ここで、再処理が必要な試験片とは、後処
理として絞り測定を行う試験片、試験片の表面変化観察
を行う試験片、あるいは引張規格外れ材や破断位置不適
切材などを指す。また、異常試験片とは、長さ方向曲り
過大材、刻印読取り不能材、測寸異常材、硬さ異常材な
どを指し、品質確認上極めて重要な項目を判別し各回収
装置に振り分けることができるように構築されている。Here, the test piece which needs reprocessing includes a test piece for performing a squeezing measurement as a post-processing, a test piece for observing a change in the surface of the test piece, a material out of a tensile standard, and a material having an inappropriate breaking position. Point. In addition, abnormal test specimens refer to overbending materials in the length direction, materials that cannot be stamped, abnormal measuring materials, abnormal hardness materials, etc., which are extremely important for quality confirmation and can be assigned to each collection device. It is built to be able to.
【0031】図9は回収処理を説明する手順を示す図で
ある。このフローチャートは回収の種類を説明するもの
であり、図8に示した各ステップとは整合しない。ステ
ップS901で試験片を位置決めし、ステップS902
で反り検出光電スイッチの受光素子217bからの信号
に基づいて試験片の反りが正常か否かを判定する。受光
素子217bからの信号が光を受光していないレベルの
信号であるときは反りのある異常材としてステップS9
16で異常材回収箱に試験片を回収する。FIG. 9 is a diagram showing a procedure for explaining the collection process. This flowchart describes the type of collection, and does not match the steps shown in FIG. In step S901, the test piece is positioned, and in step S902
Then, based on the signal from the light receiving element 217b of the warp detection photoelectric switch, it is determined whether or not the warpage of the test piece is normal. If the signal from the light receiving element 217b is a signal of a level at which light is not received, it is determined as a warped abnormal material in step S9.
At 16, the test piece is collected in the abnormal material collection box.
【0032】受光素子217bからの信号が光を受光し
ているレベルの信号であるときは反りのない正常材とし
てステップS903に進む。ステップS903では、刻
印読取り装置30により試験片の刻印を読取り、読取り
が異常の場合にはステップS916で異常材回収箱に試
験片を回収する。読取りが正常に行われた場合には、ス
テップS905において、測寸装置40で試験片の厚
さ、幅を測定する。測寸値が規格内でなければ異常材と
してステップS916で異常材回収箱に試験片を回収す
る。規格内と判定されると、ステップS907で硬さ試
験を行う。ステップS908に進むと、硬さ試験結果が
規格内か否かを判定し、規格外であればステップS91
6で異常材回収箱に試験片を回収する。If the signal from the light receiving element 217b is a signal of a level at which light is being received, the process proceeds to step S903 as a normal material without warpage. In step S903, the marking of the test piece is read by the marking reading device 30, and if the reading is abnormal, the test piece is collected in the abnormal material collection box in step S916. If the reading is performed normally, the thickness and width of the test piece are measured by the dimension measuring device 40 in step S905. If the measured value is not within the standard, the test piece is collected in the abnormal material collection box in step S916 as an abnormal material. If determined to be within the standard, a hardness test is performed in step S907. In step S908, it is determined whether the hardness test result is within the standard.
At 6, the test piece is collected in the abnormal material collection box.
【0033】次いでステップS909で引張り試験を行
い、ステップS910でローピングモードと判定される
とステップS915に進んで再処理必要材回収箱に試験
片を回収する。ここでローピングモードとは、引張り試
験により規定値だけひずみを与えて試験片の表面状態を
目視する試験である。検査ローピングモードでない場合
にはステップS911に進み、引張り試験結果値が規格
内であるか否かを判定し、規格外の場合にはステップS
915に進んで再処理必要材回収箱に試験片を回収す
る。引張り試験結果が規格内と判定されるとステップS
912でC破断かを判定する。C破断であればステップ
S915に進んで再処理必要材回収箱に試験片を回収す
る。C破断の場合にはステップS913に進む。ステッ
プS913において絞り測定が必要な試験片と判定され
るとステップS915に進んで再処理必要材回収箱に試
験片を回収する。絞り測定不要の場合にはステップS9
14において、再処理不要材回収箱に試験片を回収す
る。なお、絞り測定とは、引張り破断後に幅方向の収縮
量(絞り)を手動で測定するものである。Next, a tensile test is performed in step S909, and if it is determined in step S910 that the mode is the roping mode, the flow advances to step S915 to collect test pieces in the reprocessing-necessary material collection box. Here, the roping mode is a test in which a strain is applied by a specified value by a tensile test and the surface state of the test piece is visually observed. If it is not in the inspection roping mode, the process proceeds to step S911, and it is determined whether or not the tensile test result value is within the standard.
Proceeding to 915, the test piece is collected in the reprocessing necessary material collection box. If it is determined that the tensile test result is within the standard, step S
At 912, it is determined whether the fracture is C or not. If the fracture is C, the process proceeds to step S915, where the test piece is collected in the reprocessing necessary material collection box. In the case of C fracture, the process proceeds to step S913. If it is determined in step S913 that the test piece requires the aperture measurement, the process advances to step S915 to collect the test piece in the reprocessing-needed material collection box. If aperture measurement is not required, step S9
At 14, the test specimen is collected in the reprocessing unnecessary material collection box. The drawing measurement is to manually measure the amount of contraction (drawing) in the width direction after tensile breaking.
【0034】なお、測定データの処理はデータ処理装置
120で行なわれるが、全試験片の測定が終了した後に
バッチ処理でデータ演算処理を行なったり、リアルタイ
ムでその都度データ処理してもよい。演算データは不図
示のプリンタで出力される他、上位コンピュータ200
に転送される。The processing of the measurement data is performed by the data processing device 120. However, after the measurement of all the test pieces is completed, the data calculation processing may be performed by batch processing, or the data processing may be performed in real time. The calculation data is output by a printer (not shown), and the host computer 200
Is forwarded to
【0035】ステップS8における試験情報に基づいた
試験はたとえばつぎの〜のようなものであり、デー
タ処理装置120はこの試験情報に基づいて全自動硬さ
/引張試験機を制御し、所望の試験を行なう。 ビッカース硬さ試験と引張試験 ロックウエル硬さ試験と引張試験 ブリネル硬さ試験と引張試験 ビッカース硬さ試験およびロックウエル硬さ試験と引
張試験 ビッカース硬さ試験およびブリネル硬さ試験と引張試
験 ロックウエル硬さ試験およびブリネル硬さ試験と引張
試験 なお、ここでいう引張試験とは、引張強さや破断伸びを
検出する通常の引張り強伸度試験の他に、材料の加工硬
化指数を調べるn値試験や材料の絞り特性を調べるr値
試験なども含まれ、それらの試験内容が変っても連続的
に運転が可能である。The test based on the test information in step S8 is, for example, as follows: The data processing device 120 controls the fully automatic hardness / tensile tester based on the test information, and Perform Vickers hardness test and tensile test Rockwell hardness test and tensile test Brinell hardness test and tensile test Vickers hardness test and Rockwell hardness test and tensile test Vickers hardness test and Brinell hardness test and tensile test Rockwell hardness test and Brinell hardness test and tensile test In addition to the ordinary tensile strength and elongation test for detecting tensile strength and elongation at break, n-value test for examining work hardening index of material and drawing of material An r-value test for examining characteristics is also included, and continuous operation is possible even if the contents of those tests change.
【0036】データ処理装置120は、上位コンピュー
タ200から受信した試験情報に応じて、図8のステッ
プS8における試験処理をそれぞれ行う。詳細手順は省
略するが、上記〜の試験内容にしたがって、収容装
置20から取り出された試験片TPは搬送装置10で順
次に各工程に搬送され、各工程で必要な測定、処理が行
なわれる。The data processing device 120 performs the test processing in step S8 in FIG. 8 according to the test information received from the host computer 200. Although the detailed procedure is omitted, the test pieces TP taken out of the storage device 20 are sequentially transported to each step by the transport device 10 according to the above-described test contents, and necessary measurement and processing are performed in each step.
【0037】たとえば、ビッカース硬さ試験やロックウ
エル硬さ試験で硬さ被測定部HPの研磨が必要である場
合には、試験片TPは、測寸後に研磨装置50に搬送さ
れて研磨され、その後、各硬さ計に搬送される。For example, when it is necessary to polish the hardness measuring portion HP in the Vickers hardness test or the Rockwell hardness test, the test piece TP is conveyed to the polishing device 50 after the measurement, and polished. Is transferred to each hardness meter.
【0038】このような実施例によれば次のような効果
が得られる。 1本の試験片に対して硬さ試験と引張試験を行なうこ
とができ、そのデータは対応づけてプリント出力あるい
は記憶されるので、物性評価の信頼性が向上する。ま
た、試験片の数量を減らすことができる。 硬さのデータと引張強度のデータをほぼ同時期に入手
することができるから、品質管理への対応を極めて早く
行なうことができる。 試験片に試験片番号を刻印し、その試験片番号に基づ
いて予め定めた試験を行なうようにしたから、収容装置
に試験片を収容する際、その収容順序はバラバラでもよ
く、試験片順序のトラッキングミスが防止される。According to this embodiment, the following effects can be obtained. The hardness test and the tensile test can be performed on one test piece, and the data is printed out or stored in association with each other, so that the reliability of the physical property evaluation is improved. Further, the number of test pieces can be reduced. Since the data of the hardness and the data of the tensile strength can be obtained almost at the same time, it is possible to respond to the quality control very quickly. Since the test piece number is stamped on the test piece and a predetermined test is performed based on the test piece number, when storing the test pieces in the storage device, the order of storing the test pieces may be different, and the order of the test piece order may be different. Tracking errors are prevented.
【0039】なお、試験片の厚さに応じてビッカース硬
さかロックウエル硬さかブリネル硬さを判別するように
すれば、試験情報の中にどの硬さ計を使用するかを指定
する必要がなく、試験情報の指定が効率よく行える。ま
た、厚さで判別される硬さ試験の種類と試験情報の硬さ
試験の種類との一致を識別して、より信頼性の高い試験
を行うことができる。あるいは、試験情報では薄板に適
した硬さ試験が指定されていた場合、試験片が厚板の場
合には、厚さ情報を優先して硬さ試験の種類を決めた
り、逆に、試験情報で指定された硬さ試験を優先するよ
うにしてもよい。If the Vickers hardness, Rockwell hardness or Brinell hardness is determined according to the thickness of the test piece, there is no need to specify which hardness meter to use in the test information. Test information can be specified efficiently. In addition, it is possible to identify a match between the type of the hardness test determined by the thickness and the type of the hardness test in the test information, thereby performing a more reliable test. Alternatively, if the test information specifies a hardness test suitable for a thin plate, and if the test piece is a thick plate, the type of hardness test is determined by giving priority to the thickness information. Alternatively, the hardness test specified in the above may be prioritized.
【0040】硬さ試験、引張試験に加えて粗さ測定装置
を追加して、必要に応じて試験片の粗さを硬さや引張強
度とともに測定するようにしてもよい。直線搬送装置を
旋回マニュピュレータ搬送装置とし、旋回マニュピュレ
ータの円周経路上に収容装置、刻印読み取り装置、測寸
装置、研磨装置、各種試験機を配設してもよい。なお、
リューダス試験などの表面変化観察が必要な場合には引
張り試験機の後段に画像装置を設置するなど、実施例の
ものに限らずその他の試験機、計測装置などを使用する
こともできる。A roughness measuring device may be added in addition to the hardness test and the tensile test, and the roughness of the test piece may be measured together with the hardness and the tensile strength, if necessary. The rectilinear conveying device may be a turning manipulator conveying device, and a housing device, an engraving reading device, a dimension measuring device, a polishing device, and various types of testing machines may be arranged on a circumferential path of the turning manipulator. In addition,
When surface change observation such as a Rydus test is required, an image device is installed at the subsequent stage of the tensile tester. For example, other test machines and measuring devices can be used in addition to those of the embodiment.
【0041】[0041]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、1
本の試験片に対して硬さ試験と引張試験を行なうことが
でき、物性評価の信頼性が向上する。また、試験片の数
量を減らすことができる。さらに、硬さのデータと引張
強度のデータをほぼ同時期に入手することができるか
ら、品質管理への対応を極めて早く行なうことができ
る。さらにまた、試験片に試験片情報を付与し、その試
験片情報に基づいて予め定めた試験を行なうようにした
から、収容装置に試験片を収容する際、その収容順序は
バラバラでもよく、試験片順序のトラッキングミスが防
止される。As described above, according to the present invention, 1
A hardness test and a tensile test can be performed on this test piece, and the reliability of physical property evaluation is improved. Further, the number of test pieces can be reduced. Further, since the data of the hardness and the data of the tensile strength can be obtained almost at the same time, it is possible to respond to the quality control very quickly. Furthermore, since the test piece information is added to the test piece and a predetermined test is performed based on the test piece information, when storing the test pieces in the storage device, the storing order may be different, Tracking errors in one order are prevented.
【図1】本発明による硬さ/引張試験機の一例を示す平
面図である。FIG. 1 is a plan view showing an example of a hardness / tensile tester according to the present invention.
【図2】図1に示した硬さ/引張試験機の正面図であ
る。FIG. 2 is a front view of the hardness / tensile tester shown in FIG.
【図3】図2の部分拡大図である。FIG. 3 is a partially enlarged view of FIG. 2;
【図4】位置決め部を示す図であり、(a)は平面から
見たもの、(b)は正面からみたものである。FIGS. 4A and 4B are views showing a positioning unit, wherein FIG. 4A is a plan view and FIG. 4B is a front view.
【図5】図2の部分拡大図である。FIG. 5 is a partially enlarged view of FIG. 2;
【図6】図2の部分拡大図である。FIG. 6 is a partially enlarged view of FIG. 2;
【図7】図2の部分拡大図である。FIG. 7 is a partially enlarged view of FIG. 2;
【図8】図1に示した硬さ/引張試験機の測定手順例を
示すフローチャートである。8 is a flowchart showing an example of a measurement procedure of the hardness / tensile tester shown in FIG.
【図9】試験片の回収の種類を説明するフローチャート
である。FIG. 9 is a flowchart illustrating the types of test piece collection.
【図10】試験片の一例の平面図である。FIG. 10 is a plan view of an example of a test piece.
10 搬送装置 20 収容装置 20d 位置決め部 20f 試験片有無検出センサ 30 刻印読み取り装置 40 測寸装置 50 研磨装置 60 全自動ビッカース硬さ計本体 65 自動ビッカース硬さ計制御装置 70 全自動ロックウエル硬さ計本体 75 自動ロックウエル硬さ計制御装置 80 全自動ブリネル硬さ計本体 85 自動ブリネル硬さ計制御装置 90 引張試験機本体 95 引張試験機制御装置 100 回収装置 110 シーケンス制御装置 120 データ処理装置 200 上位コンピュータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Conveying device 20 Storage device 20d Positioning part 20f Test piece presence / absence detection sensor 30 Marking reading device 40 Sizing device 50 Polishing device 60 Fully automatic Vickers hardness meter main body 65 Automatic Vickers hardness meter control device 70 Fully automatic rockwell hardness meter main body 75 Automatic Rockwell hardness tester control device 80 Fully automatic Brinell hardness tester main unit 85 Automatic Brinell hardness tester control device 90 Tensile tester main unit 95 Tensile tester control device 100 Collection device 110 Sequence control device 120 Data processing device 200 Host computer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 雅美 京都市北区紫野西御所田町1番地 株式 会社島津製作所紫野工場内 (72)発明者 垣尾 尚史 京都市北区紫野西御所田町1番地 株式 会社島津製作所紫野工場内 (72)発明者 前田 憲一 京都市北区紫野西御所田町1番地 株式 会社島津製作所紫野工場内 (72)発明者 上田 昭夫 京都市北区紫野西御所田町1番地 株式 会社島津製作所紫野工場内 (56)参考文献 特開 平6−313751(JP,A) 特開 平5−281113(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 3/42 G01N 3/08 JICSTファイル(JOIS)──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Masami Fujii, Inventor 1 at Shimono Nishinogoshoda-cho, Kita-ku, Kyoto-shi Inside Shimanzu Seisakusho's Shiino Plant (72) Inventor Naofumi Gakio 1, Shiono-Nishi-Goshoda-cho, Kita-ku, Kyoto-shi Shimadzu Corporation Shiino Plant (72) Inventor Kenichi Maeda 1 Shiino Nishi Goshoda-cho, Kita-ku, Kyoto City Stock Company Shimadzu Corporation Shiono Plant (72) Inventor Akio Ueda 1 Shiono Nishi-Goshoda Town Kita-ku, Kyoto City Shimadzu Corporation (56) References JP-A-6-313751 (JP, A) JP-A-5-281113 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 3 / 42 G01N 3/08 JICST file (JOIS)
Claims (1)
れ、試験片を収納する試験片収容装置と、 試験片端面検出センサが設けられ、前記収容装置から取
り出された試験片の幅および長手方向の位置決めを行う
とともに、一対の吸着部とその間に設けられた試験片吸
着防止用突起部により試験片複数吸着防止可能な位置決
め装置と、 前記試験片に記された情報を読取る情報読取り装置と、 前記試験片の寸法を測定する測寸装置と、 複数の硬さ測定値の演算を行なうデータ処理部を備えた
1台または複数の硬度計からなる硬さ試験装置と、 引張強度を測定する引張試験装置と、 前記各装置間での試験片の搬送を制御するとともに、前
記情報読取り装置で読取った情報に基づいて、試験する
種類を判別して試験片を分離することなく前記各種硬さ
試験装置と引張試験装置で試験を行うようにシーケンス
制御する制御装置とを具備することを特徴とする硬さ/
引張自動試験機。1. A test piece storage device for storing a test piece provided with a test piece presence / absence detection sensor, and a test piece end face detection sensor for storing a test piece, and the width and length of a test piece taken out of the storage device are provided. A positioning device capable of preventing a plurality of test pieces from being suctioned by a pair of suction portions and a test piece suction prevention protrusion provided between the pair of suction portions and an information reading device for reading information written on the test piece; A size measuring device for measuring the size of the test piece, a hardness testing device including one or a plurality of hardness testers having a data processing unit for calculating a plurality of hardness measurement values, and measuring a tensile strength. A tensile test device, and controls the transport of the test piece between the respective devices, and determines the type to be tested based on the information read by the information reading device to separate the test pieces without separating the test pieces. Characterized by comprising a control device for performing sequence control so that a test is performed by a tensile test device and a tensile test device.
Automatic tensile testing machine.
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