JP3241670B2 - Thermal head failure detection method - Google Patents

Thermal head failure detection method

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JP3241670B2
JP3241670B2 JP32377498A JP32377498A JP3241670B2 JP 3241670 B2 JP3241670 B2 JP 3241670B2 JP 32377498 A JP32377498 A JP 32377498A JP 32377498 A JP32377498 A JP 32377498A JP 3241670 B2 JP3241670 B2 JP 3241670B2
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resistance value
value
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detecting
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英男 樫村
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エヌイーシーインフロンティア株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、サーマルプリンタ
に使用されるサーマルヘッドの不良検出方法に関し、特
に、高い品位にて印字することを可能とするサーマルヘ
ッドの不良検出方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting a defect in a thermal head used in a thermal printer, and more particularly, to a method for detecting a defect in a thermal head which enables high quality printing.

【0002】[0002]

【従来の技術】サーマルプリンタにおける印字不良は、
サーマルヘッドを構成する複数の発熱体の抵抗値のばら
つきによって発生する印字不良、いわゆるドット抜けに
よるものが殆どである。ドット抜けを防止するための従
来のサーマルヘッドの駆動制御方法としては、例えば、
特開平6−227018号に開示される発明がある。
2. Description of the Related Art Printing defects in a thermal printer are as follows.
In most cases, printing defects caused by variations in resistance values of a plurality of heating elements constituting the thermal head, that is, so-called missing dots are caused. As a conventional thermal head drive control method for preventing dot omission, for example,
There is an invention disclosed in JP-A-6-227018.

【0003】上記公報に開示される発明は、サーマルヘ
ッド発熱素子に、発熱素子の温度を測定する温度検出用
回路と、印加を行う温度が予め設定されていて、該設定
された温度によって印加を行う設定温度制御回路を設
け、印加を行った温度と予め設定されていた温度とを比
較し、設定温度に達していない場合には発熱素子の不具
合として検出して表示するものである。このような構成
とすることにより、どの発熱素子が設定温度に達しなか
ったかを表示することができ、不良発熱素子を効率的か
つ高い信頼性で検出することができるものとなってい
る。
In the invention disclosed in the above publication, a temperature detecting circuit for measuring the temperature of the heating element and a temperature at which the voltage is applied are set in advance to the heating element of the thermal head, and the voltage is applied according to the set temperature. A set temperature control circuit is provided to compare the applied temperature with a preset temperature. If the set temperature is not reached, the temperature is detected and displayed as a defect of the heating element. With such a configuration, it is possible to display which heating element has not reached the set temperature, and it is possible to detect a defective heating element efficiently and with high reliability.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述した特開平6−2
27018号公報に開示される発明においては、印加を
行った温度と予め設定されていた温度とを比較すること
により発熱素子の不具合を検出する構成であるため、発
熱素子の不具合を識別するための基準値を予め設定器に
入力しなければならない。この基準値は、サーマルヘッ
ドの抵抗値のばらつきやサーマルヘッド内の抵抗値のば
らつきを考慮して発熱素子個々に設定しなければならな
いため、煩わしいという問題点がある。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned JP-A-6-2
In the invention disclosed in Japanese Patent No. 27018, the temperature of the heating element is detected by comparing the temperature at which the voltage is applied with a preset temperature. The reference value must be input to the setting device in advance. This reference value has to be set individually for each heating element in consideration of the variation in the resistance value of the thermal head and the variation in the resistance value in the thermal head, so that there is a problem that it is troublesome.

【0005】また、印字を行うたび毎に比較処理を行う
構成であることから印字に時間がかかるという問題点が
ある。
Further, since the comparison process is performed every time printing is performed, there is a problem that printing takes time.

【0006】さらに、発熱素子の不具合が検出されるの
は印字が行われた後であり、不具合が検出されたときの
印字動作およびその処理時間が無駄になるという問題点
がある。
[0006] Furthermore, a defect of the heating element is detected after printing is performed, and there is a problem that a printing operation and a processing time when the defect is detected are wasted.

【0007】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、サーマルヘ
ッドを構成する複数の発熱体の抵抗値のばらつきを印字
を行う前に検出することによって、いわゆるドット抜け
の発生を防止することにより迅速かつ高い品位にて印字
することを可能とするサーマルヘッドの不良検出方法を
実現することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and detects variations in resistance values of a plurality of heating elements constituting a thermal head before printing. Accordingly, it is an object of the present invention to realize a method of detecting a defect of a thermal head which enables printing with high speed and high quality by preventing the occurrence of so-called dot omission.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明のサーマルヘッド
の不良検出方法は、サーマルプリンタに使用されるサー
マルヘッドに含まれる複数の発熱素子の抵抗体のばらつ
きを検出するサーマルヘッドの不良検出方法において、
前記サーマルヘッドの交換時の初期設定時に行われ、前
記複数の発熱素子の抵抗値の最大値および最小値が予め
定められた所定範囲内であるかを確認する第1のステッ
プと、前記サーマルヘッド設定後の所定のタイミングに
行われ、前記複数の発熱素子のそれぞれの抵抗値が第1
のステップにて求められた最大値および最小値の範囲内
であるかを確認する第2のステップと、を有することを
特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION A thermal head failure detection method according to the present invention is a thermal head failure detection method for detecting variations in resistors of a plurality of heating elements included in a thermal head used in a thermal printer. ,
A first step which is performed at an initial setting when replacing the thermal head and checks whether a maximum value and a minimum value of resistance values of the plurality of heating elements are within a predetermined range, and This is performed at a predetermined timing after the setting, and the resistance value of each of the plurality of heating elements is set to the first value.
And a second step of confirming whether the values are within the range of the maximum value and the minimum value obtained in the step (a).

【0009】この場合、第1のステップにて複数の発熱
素子の抵抗値の最大値および最小値が予め定められた所
定範囲外であることが確認された場合には、サーマルヘ
ッドの交換を促すエラー表示を行うこととしてもよい。
In this case, if it is confirmed in the first step that the maximum value and the minimum value of the resistance values of the plurality of heating elements are out of the predetermined range, the replacement of the thermal head is prompted. An error display may be performed.

【0010】また、第2のステップにて複数の発熱素子
のそれぞれの抵抗値が第1のステップにて求められた最
大値および最小値の範囲外であることが確認された場合
には、サーマルヘッドの交換を促すエラー表示を行うこ
ととしてもよい。
If it is confirmed in the second step that the resistance values of the plurality of heating elements are out of the range between the maximum value and the minimum value obtained in the first step, the thermal An error display urging replacement of the head may be displayed.

【0011】また、前記複数の発熱素子の抵抗値の最大
値および最小値が含まれるかを確認する所定範囲が各発
熱素子の公称平均抵抗値に基づいて決定することとして
もよい。
The predetermined range for checking whether the maximum and minimum resistance values of the plurality of heating elements are included may be determined based on the nominal average resistance value of each heating element.

【0012】また、第2のステップを行うタイミング
が、サーマルプリンタの電源投入時であることとしても
よい。
Further, the timing for performing the second step may be when the power of the thermal printer is turned on.

【0013】さらに、第2のステップを行うタイミング
が、サーマルプリンタの所定使用経過時間毎であること
としてもよい。
Further, the timing at which the second step is performed may be every predetermined use elapsed time of the thermal printer.

【0014】「作用」上記のように構成される本発明に
よるサーマルヘッドの不良検出方法は、第1のステップ
にてサーマルヘッドの初期設定時に発熱素子の最大抵抗
値Ruと最小抵抗値Rdを実測してこれらが所定範囲で
あるかを確認する。その後、サーマルプリンタの電源投
入時や所定使用経過時間毎に行われる第2のステップに
て、前記複数の発熱素子のそれぞれの抵抗値が第1のス
テップにて求められた最大値および最小値の範囲内であ
るかを確認する。
[Operation] In the method for detecting a defect of a thermal head according to the present invention having the above-described structure, the first step measures the maximum resistance Ru and the minimum resistance Rd of the heating element at the time of initial setting of the thermal head. Then, it is checked whether these are within a predetermined range. Thereafter, in a second step performed when the power of the thermal printer is turned on or every predetermined elapsed time of use, the resistance value of each of the plurality of heating elements is calculated based on the maximum value and the minimum value obtained in the first step. Check if it is within the range.

【0015】印字不良が発生するような抵抗値の発熱素
子を含むサーマルヘッドが取り付けられた場合、このこ
とは第1のステップにて検出される。
When a thermal head including a heating element having a resistance value that causes printing failure is attached, this is detected in the first step.

【0016】また、経時劣化等により印字不良が発生す
るような発熱素子が含まれるものとなった場合、このこ
とは第2のステップにて検出される。
In the case where a heating element that causes printing failure due to deterioration over time or the like is included, this is detected in the second step.

【0017】第2のステップでの検出は、第1のステッ
プにて求められた最大値および最小値を基準として行う
もので、第1のステップよりも少ない抵抗値範囲で行わ
れるため、実際の抵抗値のばらつきに対し高速に検出が
可能となる。
The detection in the second step is performed based on the maximum value and the minimum value obtained in the first step, and is performed in a resistance value range smaller than that in the first step. It is possible to detect the variation in the resistance value at high speed.

【0018】また、サーマルヘッドに表示される平均抵
抗値は駆動用ICのON抵抗を含めていない場合やサー
マルヘッド製造時のエレメント単位での測定値の場合が
あるので、本検出方法を用いることで確実に抵抗値の検
出が可能となる。
In addition, the average resistance value displayed on the thermal head may not include the ON resistance of the driving IC or may be a measured value in element units at the time of manufacturing the thermal head. Thus, the resistance value can be reliably detected.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0020】図1は本発明による一実施例の構成を示す
ブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment according to the present invention.

【0021】本実施例によるドット抜け検出方法を実現
する回路は、サーマルヘッド8に対する印字動作を制御
するもので、回路全体の動作を制御するCPU1と、サ
ーマルヘッド8に設けられる発熱体の抵抗値が許容範囲
内であるかを確認するための抵抗値データを格納してい
るROM2と、サーマルヘッド8に設けられる発熱体に
ついて検出される抵抗値の最大値、最小値、及び発熱体
の数のカウント数を格納するRAM3と、発熱体の抵抗
値と比較するための基準データを設定するD/A変換回
路4と、同じ抵抗値の発熱体の数をカウントするカウン
タ回路5と、印字を行うためにサーマルヘッド8にヒー
タ電圧を供給するヘッド用電源回路6と、サーマルヘッ
ド8を駆動する印字制御回路7と、サーマルヘッド8に
設けられる発熱体について検出された電圧をD/A変換
回路4出力と比較する検出・比較回路10と、サーマル
ヘッド8に設けられる発熱体について検出された電圧の
検出・比較回路10への入力状態を切り替える切替回路
9と、全発熱素子分の1つの抵抗値についての比較判定
データを格納する記憶回路11によって構成されてい
る。
The circuit for realizing the dot missing detection method according to the present embodiment controls the printing operation on the thermal head 8, and controls the CPU 1 for controlling the operation of the entire circuit and the resistance value of the heating element provided on the thermal head 8. ROM 2 storing resistance value data for confirming whether the temperature is within an allowable range, the maximum value, the minimum value of the resistance value detected for the heating element provided in the thermal head 8 and the number of heating elements. RAM 3 for storing the count number, D / A conversion circuit 4 for setting reference data for comparison with the resistance value of the heating element, counter circuit 5 for counting the number of heating elements having the same resistance value, and printing. A power supply circuit 6 for supplying a heater voltage to the thermal head 8, a print control circuit 7 for driving the thermal head 8, and a heating element provided in the thermal head 8. A detection / comparison circuit 10 for comparing the detected voltage with the output of the D / A conversion circuit 4 and a switching circuit for switching the input state of the voltage detected / compared to the heating / discharging element provided on the thermal head 8 to the detection / comparison circuit 10. 9 and a storage circuit 11 for storing comparison determination data for one resistance value of all the heating elements.

【0022】次に、サーマルヘッド8の構成について詳
細に説明する。
Next, the configuration of the thermal head 8 will be described in detail.

【0023】図2は、本実施例のサーマルヘッド8の構
成例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of the configuration of the thermal head 8 of the present embodiment.

【0024】サーマルヘッド8は、1ドット分として発
熱体13と駆動用トランジスタ14とが組み合わされて
おり、各発熱体13と駆動用トランジスタ14に対して
は検出用抵抗12を介してヒータ電圧hが供給されてい
る。各駆動用トランジスタ14のベースには駆動信号i
が入力されており、駆動信号iにより駆動用トランジス
タ14がONとなると駆動用電流が流れ、発熱体13が
発熱する。その際、駆動用電流もしくは発熱体13の抵
抗値を表わす検出電圧jが検出用抵抗12によって発生
する。本実施例ではこの検出電圧jにより発熱体13の
抵抗値を測定する。
In the thermal head 8, a heating element 13 and a driving transistor 14 are combined for one dot, and a heater voltage h is applied to each heating element 13 and the driving transistor 14 via a detection resistor 12. Is supplied. A drive signal i is provided at the base of each drive transistor 14.
When the drive transistor 14 is turned on by the drive signal i, a drive current flows, and the heating element 13 generates heat. At that time, the detection resistor 12 generates a drive current or a detection voltage j indicating the resistance value of the heating element 13. In this embodiment, the resistance value of the heating element 13 is measured based on the detection voltage j.

【0025】本実施例に示されるドット抜け検出回路で
は、初期設定でサーマルヘッド8に設けられる発熱体の
抵抗値の最大値Ruと最小値Rdを先に求めてRAM3
に格納し、ドット抜けを検出するモードであるドット抜
け検出モード時には全発熱体抵抗値が常にその範囲内に
収まっているかを確認することが行われる。
In the dot missing detection circuit shown in this embodiment, the maximum value Ru and the minimum value Rd of the resistance value of the heating element provided in the thermal head 8 in the initial setting are determined first and the RAM 3
In the dot missing detection mode, which is a mode for detecting missing dots, it is checked whether or not all the heating element resistance values are always within the range.

【0026】例えば、サーマルヘッドとしての平均抵抗
値のばらつき許容範囲を10%とし、サーマルヘッド内
の許容ばらつき範囲も10%とすると、最大の許容抵抗
値R1は、各発熱体13の公称平均抵抗値をRavとす
ると、1.1×(1.1×Rav)となる。本実施例に
おいては、最大の許容抵抗値R1から所定の抵抗値、例
えば、本実施例の場合には1Ωずつ減算処理しながら算
出処理が行われる。
For example, if the allowable variation range of the average resistance value of the thermal head is 10% and the allowable variation range in the thermal head is also 10%, the maximum allowable resistance value R1 is the nominal average resistance of each heating element 13. If the value is Rav, it is 1.1 × (1.1 × Rav). In this embodiment, the calculation process is performed while subtracting a predetermined resistance value from the maximum allowable resistance value R1, for example, 1Ω in this embodiment.

【0027】図3及び図4は本実施例の動作を示すフロ
ーチャートであり、図3は、サーマルヘッド8が交換さ
れたときの初期設定動作として行われるもので、サーマ
ルヘッド8に設けられた発熱体の抵抗値の最大値Ru及
び最小値Rdが許容範囲内のものであるかを求める動作
を示すフローチャートであり、図4は電源投入時や所定
使用時間経過時などの所定のタイミングにて図3に示さ
れる初期設定で求められた最大抵抗値Ruと最小抵抗値
Rdに基づいて行われるドット抜け検出処理を示すフロ
ーチャートである。以下に図3および図4を参照して本
実施例の動作について詳細に説明する。
FIGS. 3 and 4 are flow charts showing the operation of the present embodiment. FIG. 3 shows the operation performed as an initial setting operation when the thermal head 8 is replaced. FIG. 4 is a flowchart showing an operation for determining whether the maximum value Ru and the minimum value Rd of the resistance value of the body are within an allowable range, and FIG. 7 is a flowchart showing a missing dot detection process performed based on the maximum resistance value Ru and the minimum resistance value Rd obtained in the initial setting shown in FIG. Hereinafter, the operation of this embodiment will be described in detail with reference to FIGS.

【0028】まず、図3を参照して本実施例における初
期設定動作について説明する。
First, the initial setting operation in this embodiment will be described with reference to FIG.

【0029】初期設定動作が開始となると、CPU1は
比較抵抗値rをR1とし(ステップA1)、発熱体13
の素子番号aを1とする(ステップA2)。
When the initial setting operation starts, the CPU 1 sets the comparison resistance value r to R1 (step A1), and
Is set to 1 (step A2).

【0030】次に、基準信号fを検出・比較回路10に
設定するため、D/A変換回路4へ抵抗値R1での基準
データeを出力させる(ステップA3)。
Next, in order to set the reference signal f in the detection / comparison circuit 10, the reference data e at the resistance value R1 is output to the D / A conversion circuit 4 (step A3).

【0031】続いてCPU1は、a番目の発熱体素子を
選択するように切替信号dを出力する(ステップA
4)。
Subsequently, the CPU 1 outputs a switching signal d so as to select the a-th heating element (step A).
4).

【0032】その後、印字制御回路7へa番目の発熱体
素子13のみを発熱させる印字制御信号cが出力され、
サーマルヘッド8に駆動信号iが出力される(ステップ
A5)。これにより、a番目の発熱体素子13が駆動さ
れた時の検出電圧jが検出・比較回路10に出力され
(ステップA6)、検出・比較回路10は先にCPU1
により設定された基準信号fと検出電圧jとの比較判定
を行う。
Thereafter, a print control signal c for causing only the a-th heating element 13 to generate heat is output to the print control circuit 7,
The drive signal i is output to the thermal head 8 (Step A5). As a result, the detection voltage j when the a-th heating element 13 is driven is output to the detection / comparison circuit 10 (step A6), and the detection / comparison circuit 10 first executes the CPU 1
A comparison determination is made between the reference signal f set by the above and the detection voltage j.

【0033】ステップA6における判定の結果、比較抵
抗値rの基準信号fと検出電圧jとが一致する場合には
“1”の判定データkが記憶回路11に出力され、比較
抵抗値rの基準信号fと検出電圧jとが一致しない場合
には“0”の判定データkが出力されて記憶回路11に
格納される(ステップA7)。記憶回路11は検出・比
較回路10から“1”が入力されるたび毎にその旨をカ
ウンタ回路5へ通知し、カウンタ回路5は該通知された
回数をカウントする。
As a result of the determination in step A6, if the reference signal f of the comparison resistance value r matches the detection voltage j, the determination data k of "1" is output to the storage circuit 11, and the reference value of the comparison resistance value r is obtained. If the signal f does not match the detection voltage j, the determination data k of "0" is output and stored in the storage circuit 11 (step A7). The storage circuit 11 notifies the counter circuit 5 each time "1" is input from the detection / comparison circuit 10, and the counter circuit 5 counts the notified number.

【0034】続いて、比較抵抗値R1について全発熱素
子数Nについて検出処理を行ったかを比較抵抗値R1に
ついての全発熱素子数の検出電圧jの判定データkが記
憶回路11に格納されているかどうかによって確認し
(ステップA8)、全発熱素子数Nについて比較抵抗値
R1による検出処理を行っていない場合には、発熱素子
番号aに加算処理を行って(ステップA9)、全発熱体
13に対する検出処理が完了するまで上記の動作を繰り
返す(ステップA3〜A8)。
Subsequently, whether the detection processing has been performed for the total number of heating elements N for the comparison resistance value R1 is determined by determining whether the determination data k of the detection voltage j of the total number of heating elements for the comparison resistance value R1 is stored in the storage circuit 11. (Step A8). If the detection processing based on the comparison resistance value R1 has not been performed for all the heating elements N, the addition processing is performed on the heating element number a (Step A9). The above operation is repeated until the detection processing is completed (steps A3 to A8).

【0035】ステップA8において、比較抵抗値R1に
ついて全発熱素子数Nについて検出処理を行っているこ
とが確認された場合には、続けて、比較抵抗値rとし
て、最小の許容抵抗値R2まで検出処理を実施したかが
確認される(ステップA10)。
In step A8, when it is confirmed that the detection process is performed for the total number N of the heating elements for the comparison resistance value R1, the detection is continued to the comparison resistance value r up to the minimum allowable resistance value R2. It is confirmed whether the processing has been performed (step A10).

【0036】ステップA10において、最小の許容抵抗
値R2まで検出処理が実施されていないことが確認され
た場合には、比較抵抗値rの発熱素子数を示すカウンタ
回路5のカウント値gをRAM3に格納し(ステップA
12)、カウンタ回路5をクリアし(ステップA1
4)、比較抵抗値rを1Ω減算する処理を行った後に
(ステップA15)、ステップA3に戻って上記の検出
動作を繰り返す。
In step A10, if it is confirmed that the detection processing has not been performed up to the minimum allowable resistance value R2, the count value g of the counter circuit 5 indicating the number of heating elements of the comparison resistance value r is stored in the RAM 3. Store (Step A
12), clear the counter circuit 5 (step A1)
4) After performing a process of subtracting 1Ω from the comparative resistance value r (step A15), the process returns to step A3 to repeat the above detection operation.

【0037】また、ステップA10において、比較抵抗
値rについての検出処理を最小の許容抵抗値R2まで終
えたことが確認された場合には、CPU1はカウント値
gをRAM3に格納し(ステップA11)、その後、R
AM3に格納されている全比較抵抗値分のカウント数を
参照し、1素子以上カウントされている抵抗値の中の最
大の抵抗値Ruと最小の抵抗値Rdを求める(ステップ
A13)。
If it is confirmed in step A10 that the detection process for the comparison resistance value r has been completed to the minimum allowable resistance value R2, the CPU 1 stores the count value g in the RAM 3 (step A11). , Then R
The maximum resistance value Ru and the minimum resistance value Rd among the resistance values counted for one or more elements are obtained with reference to the count numbers for all the comparison resistance values stored in AM3 (step A13).

【0038】次に、ステップA13で求められた最大抵
抗値Ruおよび最小抵抗値Rdが公称平均抵抗値Rav
±10%の許容範囲以内であるかを確認する(ステップ
A16)。
Next, the maximum resistance value Ru and the minimum resistance value Rd obtained in step A13 are compared with the nominal average resistance value Rav.
It is checked whether it is within the allowable range of ± 10% (step A16).

【0039】最大抵抗値Ruおよび最小抵抗値Rdが許
容範囲以内であれば、最大抵抗値Ruと最小抵抗値Ru
をRAM3へ格納し、今後、サーマルヘッドの交換が無
い限り、この値がドット抜け検出及び寿命判定の基準値
として固定され、初期設定が終了する(ステップA1
8)。
If the maximum resistance Ru and the minimum resistance Rd are within the allowable range, the maximum resistance Ru and the minimum resistance Ru
Is stored in the RAM 3 and this value is fixed as a reference value for dot missing detection and life determination unless the thermal head is replaced in the future, and the initial setting ends (step A1).
8).

【0040】また、ステップA16において、最大抵抗
値Ruおよび最小抵抗値Rdが許容範囲以外であること
が確認された場合には、サーマルヘッドの不良としてエ
ラー表示を行う(ステップA17)。
If it is determined in step A16 that the maximum resistance value Ru and the minimum resistance value Rd are out of the allowable range, an error is displayed as a defect of the thermal head (step A17).

【0041】次に、図4を参照し、上記の初期設定で求
められた最大抵抗値Ruと最小抵抗値Rdに基づいて行
われるドット抜け検出処理について説明する。
Next, with reference to FIG. 4, a dot missing detection process performed based on the maximum resistance value Ru and the minimum resistance value Rd obtained in the above initial setting will be described.

【0042】ドット抜け検出処理が開始されると、CP
U1は比較抵抗値rとして最初に最大抵抗値Ruを設定
し(ステップB1)、続いて発熱体素子番号aを1に設
定する(ステップB2)。
When the dot missing detection process is started, CP
U1 first sets the maximum resistance value Ru as the comparison resistance value r (step B1), and then sets the heating element number a to 1 (step B2).

【0043】次に、比較抵抗値rでの基準データeをD
/A変換回路4に入力し(ステップB3)、これにより
検出・比較回路10へ基準判定信号fが出力される。
Next, the reference data e for the comparison resistance value r is
/ A conversion circuit 4 (step B3), whereby a reference determination signal f is output to the detection / comparison circuit 10.

【0044】続いて、CPU1は、a番目の発熱体素子
が選択されるように切替回路9に対して切替信号dを出
力する(ステップB4)。
Subsequently, the CPU 1 outputs a switching signal d to the switching circuit 9 so that the a-th heating element is selected (step B4).

【0045】次に、a番目の発熱体素子が駆動されるよ
うに印字制御信号cを印字制御回路7に出力する(ステ
ップB5)。
Next, a print control signal c is output to the print control circuit 7 so that the a-th heating element is driven (step B5).

【0046】発熱体素子が駆動されると、検出電圧jが
検出・比較回路10に出力され(ステップB6)、先に
設定された基準信号fと比較される。この比較におい
て、比較抵抗値rの基準信号fと一致した場合には
“1”の判定データkが記憶回路11に出力され、比較
抵抗値rの基準信号fと一致しない場合には“0”の判
定データkが記憶回路11に出力されて格納される(ス
テップB7)。
When the heating element is driven, the detection voltage j is output to the detection / comparison circuit 10 (step B6) and compared with the previously set reference signal f. In this comparison, the determination data k of “1” is output to the storage circuit 11 when the reference signal f of the comparison resistance value r matches, and “0” when the reference data f of the comparison resistance value r does not match. Is output to the storage circuit 11 and stored (step B7).

【0047】次に、比較抵抗値Ruについて全発熱素子
数Nの検出処理を行ったかが確認され(ステップB
8)、全発熱素子数N分実施していなければ発熱素子番
号aに対して加算処理を行って(ステップB9)、ステ
ップB3に戻り、全発熱素子数N分が完了するまでステ
ップB3〜ステップB8と同様の動作を繰り返す。
Next, it is confirmed whether or not the detection processing of the total number of heating elements N has been performed for the comparative resistance value Ru (step B).
8) If addition has not been performed for the total number of heating elements N, the addition processing is performed on the heating element number a (step B9), and the process returns to step B3, and steps B3 to B3 are performed until the total number N of heating elements is completed. The same operation as B8 is repeated.

【0048】比較抵抗値Ruについての全発熱素子数N
の検出電圧jの判定データkが格納されると、比較抵抗
値rが最小の許容抵抗値Rdまで検出処理を実施したか
確認し(ステップB10)、実施していなければ記憶回
路11のカウント値gをRAM3に格納後(ステップB
12)、カウンタ回路5をクリアし(ステップB1
4)、比較抵抗値rを1Ω減算する処理を行う(ステッ
プB15)。
Number of total heating elements N for comparison resistance value Ru
When the determination data k of the detection voltage j is stored, it is checked whether the detection processing has been performed until the comparison resistance value r reaches the minimum allowable resistance value Rd (step B10). g in the RAM 3 (step B
12), clear the counter circuit 5 (step B1)
4), a process of subtracting 1Ω from the comparison resistance value r is performed (step B15).

【0049】比較抵抗値rの減算処理後、再びその比較
抵抗値rでの基準データeを出力して同じ検出処理を繰
り返す(ステップB3〜B9)。
After the subtraction processing of the comparative resistance value r, the reference data e at the comparative resistance value r is output again, and the same detection processing is repeated (steps B3 to B9).

【0050】また、比較抵抗値rが最小の許容抵抗値R
dまで検出処理を終えると、CPU1はカウント値gを
RAM3に格納し(ステップB11)、RAM3に格納
された全比較抵抗値分のカウント数Sを合計し(ステッ
プB13)、全発熱素子数Nと等しいかどうか確認し、
等しければ異常無しとして検出処理は終了する。
The comparative resistance value r is the minimum allowable resistance value R.
When the detection processing is completed up to d, the CPU 1 stores the count value g in the RAM 3 (step B11), adds up the count numbers S for all the comparison resistance values stored in the RAM 3 (step B13), and obtains the total number of heating elements N Is equal to
If they are equal, there is no abnormality and the detection process ends.

【0051】また、等しくない場合は、ドット抜け発生
としてエラー表示を行う(ステップB17)。
If they are not equal, an error is displayed as a missing dot (step B17).

【0052】[0052]

【効果の説明】本発明は以上説明したように、サーマル
ヘッドを構成する複数の発熱体の抵抗値のばらつきを印
字を行う前に検出することによって、いわゆるドット抜
けの発生を防止することができ、印字を迅速かつ高い品
位にて行うことができる効果がある。
As described above, the present invention can prevent the occurrence of so-called dot omission by detecting the variation in the resistance values of the plurality of heating elements constituting the thermal head before printing. This has the effect that printing can be performed quickly and with high quality.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による一実施例の構成を示すブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment according to the present invention.

【図2】図1に示した実施例のサーマルヘッド8の構成
例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of a thermal head 8 of the embodiment shown in FIG.

【図3】図1に示した実施例の動作を示すフローチャー
トである。
FIG. 3 is a flowchart showing an operation of the embodiment shown in FIG. 1;

【図4】図1に示した実施例の動作を示すフローチャー
トである。
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the embodiment shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CPU 2 ROM 3 RAM 4 D/A変換回路 5 カウンタ回路 6 ヘッド用電源回路 7 印字制御回路 8 サーマルヘッド 9 切替回路 10 検出・比較回路 11 記憶回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 CPU 2 ROM 3 RAM 4 D / A conversion circuit 5 Counter circuit 6 Head power supply circuit 7 Print control circuit 8 Thermal head 9 Switching circuit 10 Detection / comparison circuit 11 Storage circuit

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 サーマルプリンタに使用されるサーマル
ヘッドに含まれる複数の発熱素子の抵抗体のばらつきを
検出するサーマルヘッドの不良検出方法において、 前記サーマルヘッドの交換時の初期設定時に行われ、前
記複数の発熱素子の抵抗値の最大値および最小値が予め
定められた所定範囲内であるかを確認する第1のステッ
プと、 前記サーマルヘッド設定後の所定のタイミングに行わ
れ、前記複数の発熱素子のそれぞれの抵抗値が第1のス
テップにて求められた最大値および最小値の範囲内であ
るかを確認する第2のステップと、を有することを特徴
とするサーマルヘッドの不良検出方法。
1. A method of detecting a defect of a thermal head for detecting a variation in resistors of a plurality of heating elements included in a thermal head used in a thermal printer, the method being performed at an initial setting when replacing the thermal head, A first step of checking whether the maximum value and the minimum value of the resistance values of the plurality of heating elements are within a predetermined range, and performing the first step at a predetermined timing after setting the thermal head; A second step of checking whether or not each resistance value of the element is within the range of the maximum value and the minimum value obtained in the first step.
【請求項2】 請求項1記載のサーマルヘッドの不良検
出方法において、 第1のステップにて複数の発熱素子の抵抗値の最大値お
よび最小値が予め定められた所定範囲外であることが確
認された場合には、サーマルヘッドの交換を促すエラー
表示を行うことを特徴とするサーマルヘッドの不良検出
方法。
2. The method according to claim 1, wherein in the first step, it is confirmed that the maximum value and the minimum value of the resistance values of the plurality of heating elements are outside a predetermined range. And displaying an error prompting replacement of the thermal head when the error is detected.
【請求項3】 請求項1または請求項2記載のサーマル
ヘッドの不良検出方法において、 第2のステップにて複数の発熱素子のそれぞれの抵抗値
が第1のステップにて求められた最大値および最小値の
範囲外であることが確認された場合には、サーマルヘッ
ドの交換を促すエラー表示を行うことを特徴とするサー
マルヘッドの不良検出方法。
3. The method for detecting a failure of a thermal head according to claim 1, wherein the resistance value of each of the plurality of heating elements in the second step is the maximum value determined in the first step. A method for detecting a failure of a thermal head, comprising: displaying an error prompting replacement of the thermal head when it is confirmed that the thermal head is outside the minimum value range.
【請求項4】 請求項1乃至請求項3記載のサーマルヘ
ッドの不良検出方法において、 前記複数の発熱素子の抵抗値の最大値および最小値が含
まれるかを確認する所定範囲が各発熱素子の公称平均抵
抗値に基づいて決定することを特徴とするサーマルヘッ
ドの不良検出方法。
4. The method according to claim 1, wherein a predetermined range for checking whether a maximum value and a minimum value of resistance values of the plurality of heating elements are included is set for each heating element. A method for detecting a defect of a thermal head, wherein the defect is determined based on a nominal average resistance value.
【請求項5】 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載
のサーマルヘッドの不良検出方法において、 第2のステップを行うタイミングが、サーマルプリンタ
の電源投入時であることを特徴とするサーマルヘッドの
不良検出方法。
5. The thermal head according to claim 1, wherein the timing of performing the second step is when the power of the thermal printer is turned on. Defect detection method.
【請求項6】 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載
のサーマルヘッドの不良検出方法において、 第2のステップを行うタイミングが、サーマルプリンタ
の所定使用経過時間毎であることを特徴とするサーマル
ヘッドの不良検出方法。
6. The method for detecting a failure of a thermal head according to claim 1, wherein the timing at which the second step is performed is every predetermined use elapsed time of the thermal printer. Thermal head failure detection method.
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