JP3239817U - 定温テスト装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】テストボードの定温テストに適する、完全及び部分的な温度調整ができる定温テスト装置を提供する。
【解決手段】定温テスト装置は、第1の調温部、第2の調温部、計測インターフェース、クーラー及び制御装置を備える。第1の調温部は、テストボードを配置するための調温パネルを有する。第1の調温部は、調温パネルのパネル温度に対し温度制御を行う。第2の調温部は、第1の調温部に嵌め設けられ、調温パネルの局部領域に対し温度制御を行う。制御装置は、計測インターフェースの計測結果に基づいて、クーラーが直接に調温パネルに対し定温制御を行うようにクーラーを制御し、或いは、制御装置は、計測インターフェースの計測結果に基づいて、第2の調温部が間接的に調温パネルを介してテストボードの局部領域に対し定温制御を行うように制御する。これによって、テストボードに対して完全及び部分的な定温制御を行う。
【選択図】図1
【解決手段】定温テスト装置は、第1の調温部、第2の調温部、計測インターフェース、クーラー及び制御装置を備える。第1の調温部は、テストボードを配置するための調温パネルを有する。第1の調温部は、調温パネルのパネル温度に対し温度制御を行う。第2の調温部は、第1の調温部に嵌め設けられ、調温パネルの局部領域に対し温度制御を行う。制御装置は、計測インターフェースの計測結果に基づいて、クーラーが直接に調温パネルに対し定温制御を行うようにクーラーを制御し、或いは、制御装置は、計測インターフェースの計測結果に基づいて、第2の調温部が間接的に調温パネルを介してテストボードの局部領域に対し定温制御を行うように制御する。これによって、テストボードに対して完全及び部分的な定温制御を行う。
【選択図】図1
Description
本考案はテスト装置に関し、特に発光素子のテストを行う個別な温度制御を実現できる定温テスト装置に関する。
LEDは発光時に高温を発生するため、寿命を正確に検査するためには、発光時の温度を一定に保つための温度制御が必要である。そのため、既存のLED寿命テスト装置は、放熱性の良いヒートシンク上に設置し、照度計でLEDの照度を計測して寿命を算出するのが一般的である。
しかし、上記テストは機体内部で行われ、機体のオーブン的機能によりLEDに熱源が供給されるが、機体内部の熱流を均一に分散できないという制約があるため、異なる位置のLEDが異なる熱源を受ける場合があり、LED間でテスト条件が異なってしまうため、LED寿命テストデータに誤差が生じることになる。
本考案の実施形態は、完全及び部分的な温度調整を行う、個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を提供する。
本考案の実施形態は、テストボードの定温テストに適する個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を提供する。個別な温度制御を実現できる定温テスト装置は、第1の調温部、第2の調温部、計測インターフェース、クーラー及び制御装置を備える。制御装置は計測インターフェース、クーラー及び第2の調温部に電気的に接続される。第1の調温部は、テストボードを配置するための調温パネルを有する。第1の調温部は、内部を流れる水流の温度で調温パネルのパネル温度に対し温度制御を行う。第2の調温部は、第1の調温部内に嵌め設けられる。第2の調温部は調温パネルの局部領域に対し温度制御を行う。クーラーは第1の調温部に連通される。制御装置は、第1の計測部の計測結果に基づいて、クーラーが調温パネルに対して定温制御を行うようにクーラーを制御する。制御装置は、第2の計測部の計測結果に基づいて、第2の調温部が間接的に調温パネルを介してテストボードの局部領域に対して定温制御を行うように第2の調温部を制御する。
上記を踏まえて、本考案の実施形態が提供する個別な温度制御を実現できる定温テスト装置は、二重定温制御の構成によって、テストボードに対して完全及び部分的な温度調整を行う。これによって、テストボードは周囲温度の不均一な分布に影響されることなく、定温を得ることができる。
本考案の上記及びその他の目的、特徴、利点及び実施形態をより明白かつ理解しやすくするために、添付図面を以下のように説明する。
考案の特徴及び技術内容がより一層分かるように、以下本考案に関する詳細な説明及び添付図面を参照する。しかし、提供される添付図面は参考及び説明のために提供するものに過ぎず、本考案の実用新案登録請求の範囲を制限するためのものではない。
下記より、本願による「供給装置及びその切り替え手段」にかかる具体的な実施例で本考案が開示する実施形態を説明する。当業者は本明細書の公開内容により本考案のメリット及び効果を理解し得る。本考案は他の異なる実施形態により実行又は応用できる。本明細書における各細節も様々な観点又は応用に基づいて、本考案の精神から逸脱しない限りに、均等の変形及び変更を行うことができる。また、本考案の図面は簡単で模式的に説明するためのものであり、実際的な寸法を示すものではない。以下の実施形態において、さらに本考案に係る技術事項を説明するが、公開された内容は本考案を限定するものではない。また、本明細書に用いられる「又は」という用語は、実際の状況に応じて、関連する項目中の何れか一つ又は複数の組合せを含み得る。
本明細書を通じて、「第1の」、「第2の」、「第3の」などの用語が様々なコンポーネントや信号を説明するために使用されることがあるが、これらのコンポーネントや信号は、これらの用語によって制限されるべきではないことは理解されたい。これらの用語は、主にあるコンポーネント及び別のコンポーネント、またはある信号及び別の信号を区別するために使用される。さらに、本明細書で使用される用語「または」は、関連する列挙された項目のいずれか1つまたは組み合わせを適宜含むことができる。
本実施形態は、個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を提供する。本明細書で説明する定温テストは、例えば、テストボードに対して定温テストを行うことができる。さらに、テストボードに対して定温テストを行う場合、テストボード上のテスト対象物が冷却された後、定温テスト装置によってテスト対象物の温度を定温に保つことができる。しかし、周囲温度の分布が不均一なため、テストパネルの温度も比較的不均一な分布を示している。本考案によって提供される温度調節装置は、テストボード全体を温度制御することができるだけでなく、テストボードの一部の領域を独立して温度制御することができるので、テストボードの各種テスト素子はテスト中に一定の温度を達成でき、外部環境温度の偏在の影響を受けることがない。
図1を参照されたい。図1は、本考案の実施形態が提供する個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を示すセクション模式図である。実施形態での述べた定温テスト装置は、主に、機体1、テスト治具2、クーラー23、制御装置4及び計測インターフェース5を備える。なかでも、制御装置4は、クーラー23、計測インターフェース5及びテスト治具2に電気的に接続される。さらに、テスト治具2は、例えば、第1の調温部21及び第2の調温部22を含み、計測インターフェース5は、例えば、第1の計測部51、第2の計測部52及び第3の計測部53を含む。
特定の実施形態において、制御装置4は、計測インターフェース5を介して計測結果を取得し、その計測結果に基づいて、機体1、第2の調温部22及びクーラー23の動作を対応的に制御する。例えば、機体1では、テスト治具2に配置させるテストボード3に対し加熱テストを行う。制御装置4は、第1の計測部51を介して第1の調温部21の調温パネル211のパネル温度を計測して得て、このパネル温度に基づいてクーラー23の動作を対応的に制御する。制御装置4は、第2の計測部52を介してテストボード3の計測結果を計測して得て、さらにこのテスト結果に基づいて第2の調温部22の動作を対応的に制御する。制御装置4は、第3の計測部53を介して機体1内の機体温度を計測して得て、この機体温度に基づいて、機体1の加熱源を制御する。
さらに、制御装置4は、クーラー23の動作を制御することで、第1の調温部21のパネル温度を第1の定温に維持させる。パネル温度が第1の定温を上回ると、制御装置4は、クーラー23を動作させ、水流温度を下げることで調温パネル211の温度を降温する。パネル温度が第1の降温を下回ると、制御装置4は、クーラー23を動作させ、水流温度を上げることで調温パネル211を昇温する。パネル温度が第1の定温である時、制御装置4は、クーラー23を動作させ、調温パネル211の定温を維持するように水流温度を維持する。
制御装置4は、第2の調温部22の複数の個別調温構成を制御することによって、テストボード3の全体を第2の定温に維持する。テストボード3における何れかのセクションの温度が第2の定温に維持されないと、制御装置4は、第2の調温部22の個別調温構成を介して当該セクションに対し定温制御を行う。
制御装置4は、機体1の加熱源を制御することで、機体1内の機体温度を第3の定温に維持する。具体的に、機体温度が第3の定温を上回ると、制御装置4は、機体を制御することで加熱源による熱を下げて降温する。機体温度が第3の定温を下回ると、制御装置4は機体1の加熱源による熱を上げて昇温する。機体温度が第3の定温に等しい場合、制御装置4は、機体1を制御することで加熱源による熱を維持する。
上述した第1の定温、第2の定温、及び第3の定温の値は、本考案で制限ざれず、実際のニーズに応じて異なっても同じであってもよい。本制御装置4としては、例えば、パーソナルコンピュータ、組込み型コンピュータホスト、ノートブック、タブレットまたは個人用ハンドヘルドデバイスが挙げられ、本考案はこの例に制限されない。
特定の実施形態では、テスト治具2を使用する時、テストボード3のテスト対象物に定温環境を提供するために使用することができ、前記テストボード3は、例えば、複数の表面実装素子(SMD)を備え、表面実装素子は、例えば、複数の発光素子及び複数の感温素子から構成されている。各感温素子は、発光ダイオードやレーザーダイオードなどの発光素子と、感熱抵抗体などの感温素子の動作中の温度を個別に検出することができる。なお、本考案で説明したテストボード3の構造は例示であり、本考案はこれに限定されるものではない。他の実施形態では、隣接する複数の発光素子の温度を、動作中に1つの感温素子で検知することも可能である。
さらに、温度テストを行うようにテスト治具2をテストボード3と共に機体1内に配置し、制御装置4が機体1を制御して熱源を与え、温度テストを行うようにテストボード3上のテスト対象物をテストし、機体1をオーブンとして使用できる、以下の説明では、テスト対象物をレーザーダイオードで例示するが、この考案はこれに限定されるものではない。第1の調温部21は、テストボード3を設置するための調温パネル211を有し、第1の調温部21は、調温パネル211によりテストボード3に対して放熱の定温制御を直接に行うことが可能である。ここで、第1の調温部21は、例えばその内部を流れる水流の温度によって調温パネル211のパネル温度を制御し、この調温パネル211にテストボード3を載せたときに、放熱の定温制御を行うことができるようにするものである。
ここで注目すべきは、例えば、第2の調温部22が調温パネル211の一部に対して独立した温度制御を行うことができるように、第1の調温部21に嵌め設けられることである。さらに、第2の調温部22は、個別に配置された複数の加熱部を有していてもよく、すなわち、これらの加熱部は、調温パネル211の下方に個別に配置されており、加熱部を個別に加熱することができるので、第2の調温部22は、調温パネル211を介してテストボード3の一部を加熱するための定温制御を間接的に行うことが可能である。
特定の実施形態において、第1の調温部21は、入水ポート231及び出水ポート232を備え、入水ポート231及び出水ポート232はそれぞれクーラー23に接続され、クーラー23は、例えば、入水ポート231を通して第1の調温部21に冷却水の流れを提供し、出水ポート232を通して第1の調温部21から流れ出る冷却水を受け止めてもよい。制御装置4は、クーラー23の冷却水の温度を制御して、調温パネル211上のテストボード3に放熱させ、テストボード3の温度を一定に保つようにする。クーラー23の具体的な構造及び動作は、当該技術分野における通常の知識を有する者に知られているため、ここでは詳細に説明しない。
ここで、調温パネル211は、例えば、均一な温度を提供する平坦な面であってよく、テストボード3がこの調温パネル211に置かれたとき、理論的にはテストボード3上の複数のレーザーダイオードは均一な温度を示すことができるようにする。しかし、実際には、機体1が備える熱源がテストボード3上のレーザーダイオードに同じ加熱効果を与えるわけではなく、特に機体1の熱源の出力に近いテストボード3の部分は加熱効果が高くなり、機体1の熱源の出力から遠いテストボード3の部分は加熱効果が低くなる。
従って、第2の調温部22は、調温パネル211の下に分散配置され、制御装置4によって個別に加熱することができる。したがって、制御装置4は、テストボード3の低温領域に対応する第2の調温部22の加熱部を制御して、テストボード3の低温領域のレーザーダイオードを加熱してテストボード3の高温領域のレーザーダイオードと共に一定の温度にすることができ、テスト寿命の高温テスト時にテストボード3内の各レーザーダイオードを正しくテストすることができるようになる。これにより、テストボード3のレーザーダイオードは、テスト寿命の高温テストで正しくテストすることができる。
特定の実施形態において、第2の調温部22の各加熱部の面積は調温パネル211の面積より小さく、各調温部は小さな面積を介して隣接するテストボード3上のレーザーダイオードの一部を加熱することができる。また、第1の調温部21の調温パネル211の面積はテストボード3の面積より大きいので、調温パネル211はテストボード3上の全てのレーザーダイオードに放熱することができるが、これは本考案における限界ではない。
図2~図7を参照する。図2は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の斜視模式図である。図3は、本実施形態で提供されるテストフィクスチャの正面図である。図4は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の後面図である。図5は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の側面図である。図6は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の上面図である。図7は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具のカバー部が蓋閉め状態を示す図である。
特定の実施形態において、図2に示すテスト治具2は、上述した第1の調温部21及び第2の調温部22に加えて、カバー部24及び掛け留め部25を含み、カバー部24は第1の調温部21の一側に枢着され、カバー部24は第1の調温部21に対して回転して図7のように調温パネル211に覆いかぶさるようにする。掛け留め部25を第1の調温部の一辺に枢着し、図7に示すように、カバー部24が調温パネル211を密着して覆うように、掛け留め部25でカバー部24の一辺を掛け留める。
特定の実施形態において、掛け留め部25は、第1の調温部21の両側にそれぞれ第1の掛け留め具251及び第2の掛け留め具252を備え、第1の掛け留め具251及び第2の掛け留め具252は、カバー部24が調温パネル211上で閉じられると、図7に示すように第1の掛け留め具251及び第2の掛け留め具252がカバー部24の上部にそれぞれ設けられた止め部246に連動されるまでそれぞれ調温パネル211に向かって移動することが可能である。
具体的には、図2のテストボード3は、複数のレーザーダイオード31と複数の感温素子32とを含み、各感温素子32は各レーザーダイオード31に隣接して配置され、これを通じて各レーザーダイオード31は寿命テスト中に正確な温度変化を効果的に監視することが可能である。また、複数のレーザーダイオード31と複数の感温素子32とを表面実装技術(SMT)によって表面実装素子(SMD)としてテストボード3上に配置することにより、テストボード3を薄型化し、定温テスト装置による定温テストに資することができることに留意されたい。
特定の実施形態において、実施形態では、図2及び図3に示すように、カバー部24の内部に第2の計測部241が設けられており、この第2の計測部241は、カバー部24が調温パネル211の面を覆っているときにテストボード3を計測することが可能である。ここで、第2の計測部241は、図1に示す第2の計測部52と同等であってもよい。
具体的には、第2の計測部241は、例えば、複数の光計測部242と複数の温度計測部243とを含み、これら光計測部242及び温度計測部243の位置は、レーザーダイオード31及び感温素子32の位置に対応している。すなわち、調温パネル211にカバー部24を閉じたとき、各レーザーダイオード31の上方に光計測部242、各感温素子32の上方に温度計測部243が設けられているので、光計測部242はレーザーダイオード31の光源輝度を滑らかに計測でき、温度計測部243はこれに対応して感温素子32の温度検知値を得ることができる。温度計測部243は、感温素子32の温度検出値を取得することができるまた、第2の計測部241は、レーザーダイオード31と感温素子32との両方に給電するように構成されているので、レーザーダイオード31と感温素子32とが正常に動作し、スムーズに計測することが可能である。したがって、制御装置4は、光計測部242及び温度計測部243を通じて、テストボード3内の全てのレーザーダイオード31の輝度値及び温度値を知ることができる。第2の計測部241の具体的な構成や動作は、当業者に知られているため、ここでは詳細な説明を省略する。
特定の実施形態において、第2の調温部22は、図2及び図3に示すように、複数のヒーターバーを含み、ここでは説明のために、ヒーターバーの数を3つ、すなわち第1のヒーターバー221、第2のヒーターバー222及び第3のヒーターバー223として与えているが、本実施形態はこれに限定されるものではない。セクションこれらのヒーターバーは、調温パネル211の下に均等に配置されているので、テストボード3を対応する3つのセクションに分割して、個別に加熱することができる。ここでのヒーターバーの形状は長尺の短冊状であり、ヒーターバーはテストボード3の幅方向に設置され、加熱棒がテストボード3の複数のレーザーダイオード31を実際に加熱できるように、図2及び図6に示すように、ヒーターバーの長さは少なくともテストボード3の幅よりも大きいことが望ましい。さらに、他の実施形態においても、ヒーターバーの方向は、テストボード3の長さに沿っていてもよく、ヒーターバーの長さは、特に限定されず、少なくともテストボード3の長さよりも大きいことが好ましい。
図8に示すように、本実施形態のテストボードの温度分布を示す模式図であり、テストボード3は、第1のセクション301、第2のセクション302、第3のセクション303に大別でき、各セクションには複数のレーザーダイオード31と複数の感温素子32とが配置されている。第1のヒーターバー221は、テストボード3の第1のセクション301を個別に加熱し、第2のヒーターバー222は、テストボード3の第2のセクション302を個別に加熱し、第3のヒーターバー223は、テストボード3の第3のセクション303を個別に加熱する。
従って、第2の調温部22は、第2の計測部241の計測結果に応じて、テストボード3内の各セクションの温度分布を知ることができる。例えば、テストボード3における第1のセクション301の温度分布は、この第1のセクション301にある全ての感温素子32の結果を制御装置4で平均化することにより得られるものである。この温度の平均値は、この第1のセクション301の温度分布を代表するものである。
別の実施形態において、制御装置4は、この第1のセクション301の全ての感温素子32の感知結果を取って最大温度感知値及び最小温度感知値を求め、この最大温度感知値及び最小温度感知値を平均して平均温度値を求めることによっても、テストボード3における第1のセクション301の温度分布を表すことができる。この平均温度値は、第1のセクションの温度分布を代表する値でもある。なお、上記の平均温度値はあくまで一例であり、本考案を制限するものではない。第2のセクション302及び第3のセクション303の温度分布は、第1のセクションを参照して計算することができるので、ここでは繰り返さない。
このように、第1のセクション301の温度の平均値をT1、第2のセクション302の温度の平均値をT2、第3のセクション303の温度の平均値をT3として、制御装置4により第1のセクション301、第2のセクション302、第3のセクション303の温度分布を算出すると、第1のセクション301の温度はT1、第2のセクション302の温度はT2、第3のセクション303の温度はT3であることがわかる。そして、制御装置4は、T1、T2、T3の相対的な大きさに応じて、対応する独立制御の第2の調温部22において第1のヒーターバー221、第2のヒーターバー222、第3のヒーターバー223のいずれを加熱するかを決定することが可能である。
例えば、T1=T2=T3のとき、テストボード3を代表する全てのレーザーダイオード31が均一な温度に達していれば、制御装置4は、第2の調温部22において、これらのヒーターバーの加熱を個別に制御する必要はない。
T1=T2>T3の場合、テストボード3内の第1のセクション301及び第2のセクション302のレーザーダイオード31は既に均一温度を示しているが、このとき第3のセクション303のレーザーダイオード31は第1のセクション301及び第2のセクション302のレーザーダイオード31と均一温度を示していないので、制御装置4は第2の調温部22内の第3のヒーターバー223を別途制御してT1=T2に等しくなるまでT3上昇させる必要があることを意味する。
T1>T2>T3のとき、テストボード3における第1のセクション301、第2のセクション302、第3のセクション303を表すレーザーダイオード31は均一に暖まっていないので、制御装置4は第2の調温部22の第2のヒーターバー222を別途加熱してT2をT1と同等まで上昇可能にし、制御装置4は第2の調温部22の第3のヒーターバー223も別途加熱してT3をT1と同等まで上昇可能にしておくことが必要である。
上記のT1、T2、T3の相対的な大きさは例示に過ぎず、本考案はこれらに限定されないことに留意されたい。制御装置4は、第2の計測部52の温度計測部243の計測結果に応じて、第2の調温部22の各ヒーターバーを独立して制御し、最終的にT1=T2=T3とすることができるので、第1の調温部21及び第2の調温部22の多重温度制御構造を通じて、テストボード3内の全てのレーザーダイオード31は均一温度になり、機体1内部の熱源分布の偏りに影響を受けないようにすることができる。これにより、機体1内部の熱源の偏在の影響を受けることなく、テストボード3内の全てのレーザーダイオード31を均一な温度にすることができるので、全てのレーザーダイオード31がより正確に、誤差なく寿命テストを行うことができる。
第1の計測部51は、例えば、調温パネル211に設けたパネル温度感温素子、第3の計測部53は、例えば、機体感温素子であり、パネル温度感温素子、機体感温素子、感温素子32は、例えば、感熱抵抗体であるが、本作成はこれに限定されるものではあるまい。
[実施形態による有益な効果]
本創造は、体内温度分布の不均一性に影響されない、調整可能で独立した温度制御装置を提供し、制御装置は、計測インターフェースの計測結果に従って、まず第1の調温部によりテストボードの温度を制御し、次に第2の調温部によりテストボードの温度を制御することができる。これにより、テストボード上のすべての発光素子を二重定温制御することができ、発光素子の寿命テストにおいて、より正確で迅速な結果を得ることができるようになった。
本創造は、体内温度分布の不均一性に影響されない、調整可能で独立した温度制御装置を提供し、制御装置は、計測インターフェースの計測結果に従って、まず第1の調温部によりテストボードの温度を制御し、次に第2の調温部によりテストボードの温度を制御することができる。これにより、テストボード上のすべての発光素子を二重定温制御することができ、発光素子の寿命テストにおいて、より正確で迅速な結果を得ることができるようになった。
以上に開示された内容は本考案の好ましい実施形態に過ぎず、これにより本考案の実用新案登録請求の範囲を制限するものではない。そのため、本考案の明細書及び添付図面の内容に基づき為された等価の技術変形は、全て本考案の実用新案登録請求の範囲に含まれるものとする。
1:機体
2:テスト治具
21:第1の調温部
211:調温パネル
22:第2の調温部
221:第1のヒーターバー
222:第2のヒーターバー
223:第3のヒーターバー
23:クーラー
231:入水ポート
232:出水ポート
24:カバー部
241:第2の計測部
242:光計測部
243:温度計測部
246:止め部
25:掛け留め部
251:第1の掛け留め具
252:第2の掛け留め具
3:テストボード
301:第1のセクション
302:第2のセクション
303:第3のセクション
31:レーザーダイオード
32:感温素子
4:制御装置
5:計測インターフェース
51:第1の計測部
52:第2の計測部
53:第3の計測部
2:テスト治具
21:第1の調温部
211:調温パネル
22:第2の調温部
221:第1のヒーターバー
222:第2のヒーターバー
223:第3のヒーターバー
23:クーラー
231:入水ポート
232:出水ポート
24:カバー部
241:第2の計測部
242:光計測部
243:温度計測部
246:止め部
25:掛け留め部
251:第1の掛け留め具
252:第2の掛け留め具
3:テストボード
301:第1のセクション
302:第2のセクション
303:第3のセクション
31:レーザーダイオード
32:感温素子
4:制御装置
5:計測インターフェース
51:第1の計測部
52:第2の計測部
53:第3の計測部
Claims (10)
- テストボードに対する定温テストに適用する、個別な温度制御が実現できる定温テスト装置であって、
テストボードを配置するための調温パネルを含み、内部を流れる水流温度によって前記調温パネルのパネル温度に対し温度制御を行う第1の調温部と、
前記第1の調温部に嵌め設けられ、前記調温パネルの局部領域に対し温度制御を行う第2の調温部と、
前記パネル温度を計測する第1の計測部、及び前記テストボードに対し計測を行う第2の計測部を含む計測インターフェースと、
前記第1の調温部に連通するクーラーと、
前記計測インターフェース、前記クーラー及び前記第2の調温部に電気的に接続される制御装置と、
を備え、
前記制御装置は、第1の計測部の計測結果に基づいて、前記クーラーが前記調温パネルに対し定温制御を直接に制御するように、前記クーラーを制御し、
前記制御装置は、前記第2の計測部の計測結果に基づいて、前記第2の調温部が前記調温パネルを介して前記テストボードの局部領域に対し定温制御を行うように、前記第2の調温部を制御する、
ことを特徴とする、定温テスト装置。 - 前記テストボードに複数の表面実装デバイスが配置され、前記複数の表面実装デバイスは、複数の発光素子及び複数の感温素子を、前記発光素子毎には1つの感温素子が隣接するように含み、前記第2の計測部は、光計測部及び温度計測部を含み、前記制御装置は、前記光計測部によって前記複数の発光素子の輝度を、前記温度計測部によって前記複数の感温素子の温度感知値を得るように構成される、請求項1に記載の定温テスト装置。
- 前記第1の計測部は、前記調温パネルに配置されたパネル温度感温素子であり、前記第1の調温部は、入水ポート及び出水ポートを含み、前記入水ポート及び前記出水ポートはそれぞれ前記クーラーに連通され、前記クーラーは、前記第1の調温部に冷却水を循環させるように、前記入水ポートに冷却水を給水し、前記出水ポートから前記第1の調温部を経過した前記冷却水を回収するように構成され、前記制御装置は、前記クーラーの前記冷却水の温度を制御することで、前記調温パネルに配置された前記テストボードに対し放熱を行う、請求項2に記載の定温テスト装置。
- 前記第2の調温部は、互いに離間して配置された複数の加熱部を有し、前記制御装置は、前記第2の計測部における前記複数の温度計測部によって、複数の温度感知値を得て、前記複数の加熱部を発熱するように作動させる、請求項2に記載の定温テスト装置。
- 前記複数の加熱部は、複数のヒーターバーであり、かつ、前記ヒーターバーのそれぞれは、前記調温パネルの下における異なる領域に散在され、前記複数の加熱部の面積は、前記調温パネルの面積よりも小さく、前記調温パネルの面積は、前記テストボードの面積の以上である、請求項4に記載の定温テスト装置。
- 前記制御装置は、前記複数のヒーターバーは、前記調温パネルによって、前記テストボードにおける各セクションのそれぞれを対応的に加熱し、前記テストボードにおける各セクションの温度をばらつきなく定温にする、請求項5に記載の定温テスト装置。
- 前記第1の調温部及び前記第2の調温部は機体に配置され、前記制御装置は、前記機体が前記テストボードに対して加熱テストを行うように前記機体を制御する、請求項6に記載の定温テスト装置。
- 前記計測インターフェースは、第3の計測部を備え、前記第3の計測部は、機体感温素子であり、前記制御装置は、前記第3の計測部による計測結果に基づいて、前記機体における加熱源が前記テストボードを加熱するように、前記機体を制御する、請求項7に記載の定温テスト装置。
- 前記発光素子は、発光ダイオードまたはレーザーダイオードであり、前記感温素子は感熱抵抗体である、請求項2に記載の定温テスト装置。
- 前記定温テスト装置は、さらにカバー部及び掛け留め部を含み、前記カバー部は、前記第1の調温部の一方側に枢着され、前記カバー部は、前記調温パネルを覆うように前記第1の調温部に対して回動することができ、前記カバー部内は、前記第2の計測部を含み、前記第2の計測部は、前記カバー部が前記調温パネルを覆った時に前記テストボードに対して計測を行い、前記掛け留め部は、前記第1の調温部の一方側に枢着され、前記掛け留め部は、前記カバー部が前記調温パネルに密合するように前記カバー部の一方側に掛け留める、請求項1に記載の定温テスト装置。
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