JP3239817U - 定温テスト装置 - Google Patents

Abstract

【課題】テストボードの定温テストに適する、完全及び部分的な温度調整ができる定温テスト装置を提供する。
【解決手段】定温テスト装置は、第１の調温部、第２の調温部、計測インターフェース、クーラー及び制御装置を備える。第１の調温部は、テストボードを配置するための調温パネルを有する。第１の調温部は、調温パネルのパネル温度に対し温度制御を行う。第２の調温部は、第１の調温部に嵌め設けられ、調温パネルの局部領域に対し温度制御を行う。制御装置は、計測インターフェースの計測結果に基づいて、クーラーが直接に調温パネルに対し定温制御を行うようにクーラーを制御し、或いは、制御装置は、計測インターフェースの計測結果に基づいて、第２の調温部が間接的に調温パネルを介してテストボードの局部領域に対し定温制御を行うように制御する。これによって、テストボードに対して完全及び部分的な定温制御を行う。
【選択図】図１

Description

本考案はテスト装置に関し、特に発光素子のテストを行う個別な温度制御を実現できる定温テスト装置に関する。

ＬＥＤは発光時に高温を発生するため、寿命を正確に検査するためには、発光時の温度を一定に保つための温度制御が必要である。そのため、既存のＬＥＤ寿命テスト装置は、放熱性の良いヒートシンク上に設置し、照度計でＬＥＤの照度を計測して寿命を算出するのが一般的である。

しかし、上記テストは機体内部で行われ、機体のオーブン的機能によりＬＥＤに熱源が供給されるが、機体内部の熱流を均一に分散できないという制約があるため、異なる位置のＬＥＤが異なる熱源を受ける場合があり、ＬＥＤ間でテスト条件が異なってしまうため、ＬＥＤ寿命テストデータに誤差が生じることになる。

本考案の実施形態は、完全及び部分的な温度調整を行う、個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を提供する。

本考案の実施形態は、テストボードの定温テストに適する個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を提供する。個別な温度制御を実現できる定温テスト装置は、第１の調温部、第２の調温部、計測インターフェース、クーラー及び制御装置を備える。制御装置は計測インターフェース、クーラー及び第２の調温部に電気的に接続される。第１の調温部は、テストボードを配置するための調温パネルを有する。第１の調温部は、内部を流れる水流の温度で調温パネルのパネル温度に対し温度制御を行う。第２の調温部は、第１の調温部内に嵌め設けられる。第２の調温部は調温パネルの局部領域に対し温度制御を行う。クーラーは第１の調温部に連通される。制御装置は、第１の計測部の計測結果に基づいて、クーラーが調温パネルに対して定温制御を行うようにクーラーを制御する。制御装置は、第２の計測部の計測結果に基づいて、第２の調温部が間接的に調温パネルを介してテストボードの局部領域に対して定温制御を行うように第２の調温部を制御する。

上記を踏まえて、本考案の実施形態が提供する個別な温度制御を実現できる定温テスト装置は、二重定温制御の構成によって、テストボードに対して完全及び部分的な温度調整を行う。これによって、テストボードは周囲温度の不均一な分布に影響されることなく、定温を得ることができる。

本考案の上記及びその他の目的、特徴、利点及び実施形態をより明白かつ理解しやすくするために、添付図面を以下のように説明する。

本考案の実施形態による個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を示すセクション模式図である。 本考案の実施形態によるテスト治具を示す斜視模式図である。 本考案の実施形態によるテスト治具を示す前面図である。 本考案の実施形態によるテスト治具を示す後面図である。 本考案の実施形態によるテスト治具を示す側面図である。 本考案の実施形態によるテスト治具を示す上面図である。 本考案の実施形態によるテスト治具におけるカバー部が蓋閉め状態を示す図である。 本考案の実施形態によるテストボードの温度分布模式図である。

考案の特徴及び技術内容がより一層分かるように、以下本考案に関する詳細な説明及び添付図面を参照する。しかし、提供される添付図面は参考及び説明のために提供するものに過ぎず、本考案の実用新案登録請求の範囲を制限するためのものではない。

下記より、本願による「供給装置及びその切り替え手段」にかかる具体的な実施例で本考案が開示する実施形態を説明する。当業者は本明細書の公開内容により本考案のメリット及び効果を理解し得る。本考案は他の異なる実施形態により実行又は応用できる。本明細書における各細節も様々な観点又は応用に基づいて、本考案の精神から逸脱しない限りに、均等の変形及び変更を行うことができる。また、本考案の図面は簡単で模式的に説明するためのものであり、実際的な寸法を示すものではない。以下の実施形態において、さらに本考案に係る技術事項を説明するが、公開された内容は本考案を限定するものではない。また、本明細書に用いられる「又は」という用語は、実際の状況に応じて、関連する項目中の何れか一つ又は複数の組合せを含み得る。

本明細書を通じて、「第１の」、「第２の」、「第３の」などの用語が様々なコンポーネントや信号を説明するために使用されることがあるが、これらのコンポーネントや信号は、これらの用語によって制限されるべきではないことは理解されたい。これらの用語は、主にあるコンポーネント及び別のコンポーネント、またはある信号及び別の信号を区別するために使用される。さらに、本明細書で使用される用語「または」は、関連する列挙された項目のいずれか１つまたは組み合わせを適宜含むことができる。

本実施形態は、個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を提供する。本明細書で説明する定温テストは、例えば、テストボードに対して定温テストを行うことができる。さらに、テストボードに対して定温テストを行う場合、テストボード上のテスト対象物が冷却された後、定温テスト装置によってテスト対象物の温度を定温に保つことができる。しかし、周囲温度の分布が不均一なため、テストパネルの温度も比較的不均一な分布を示している。本考案によって提供される温度調節装置は、テストボード全体を温度制御することができるだけでなく、テストボードの一部の領域を独立して温度制御することができるので、テストボードの各種テスト素子はテスト中に一定の温度を達成でき、外部環境温度の偏在の影響を受けることがない。

図１を参照されたい。図１は、本考案の実施形態が提供する個別な温度制御を実現できる定温テスト装置を示すセクション模式図である。実施形態での述べた定温テスト装置は、主に、機体１、テスト治具２、クーラー２３、制御装置４及び計測インターフェース５を備える。なかでも、制御装置４は、クーラー２３、計測インターフェース５及びテスト治具２に電気的に接続される。さらに、テスト治具２は、例えば、第１の調温部２１及び第２の調温部２２を含み、計測インターフェース５は、例えば、第１の計測部５１、第２の計測部５２及び第３の計測部５３を含む。

特定の実施形態において、制御装置４は、計測インターフェース５を介して計測結果を取得し、その計測結果に基づいて、機体１、第２の調温部２２及びクーラー２３の動作を対応的に制御する。例えば、機体１では、テスト治具２に配置させるテストボード３に対し加熱テストを行う。制御装置４は、第１の計測部５１を介して第１の調温部２１の調温パネル２１１のパネル温度を計測して得て、このパネル温度に基づいてクーラー２３の動作を対応的に制御する。制御装置４は、第２の計測部５２を介してテストボード３の計測結果を計測して得て、さらにこのテスト結果に基づいて第２の調温部２２の動作を対応的に制御する。制御装置４は、第３の計測部５３を介して機体１内の機体温度を計測して得て、この機体温度に基づいて、機体１の加熱源を制御する。

さらに、制御装置４は、クーラー２３の動作を制御することで、第１の調温部２１のパネル温度を第１の定温に維持させる。パネル温度が第１の定温を上回ると、制御装置４は、クーラー２３を動作させ、水流温度を下げることで調温パネル２１１の温度を降温する。パネル温度が第１の降温を下回ると、制御装置４は、クーラー２３を動作させ、水流温度を上げることで調温パネル２１１を昇温する。パネル温度が第１の定温である時、制御装置４は、クーラー２３を動作させ、調温パネル２１１の定温を維持するように水流温度を維持する。

制御装置４は、第２の調温部２２の複数の個別調温構成を制御することによって、テストボード３の全体を第２の定温に維持する。テストボード３における何れかのセクションの温度が第２の定温に維持されないと、制御装置４は、第２の調温部２２の個別調温構成を介して当該セクションに対し定温制御を行う。

制御装置４は、機体１の加熱源を制御することで、機体１内の機体温度を第３の定温に維持する。具体的に、機体温度が第３の定温を上回ると、制御装置４は、機体を制御することで加熱源による熱を下げて降温する。機体温度が第３の定温を下回ると、制御装置４は機体１の加熱源による熱を上げて昇温する。機体温度が第３の定温に等しい場合、制御装置４は、機体１を制御することで加熱源による熱を維持する。

上述した第１の定温、第２の定温、及び第３の定温の値は、本考案で制限ざれず、実際のニーズに応じて異なっても同じであってもよい。本制御装置４としては、例えば、パーソナルコンピュータ、組込み型コンピュータホスト、ノートブック、タブレットまたは個人用ハンドヘルドデバイスが挙げられ、本考案はこの例に制限されない。

特定の実施形態では、テスト治具２を使用する時、テストボード３のテスト対象物に定温環境を提供するために使用することができ、前記テストボード３は、例えば、複数の表面実装素子（ＳＭＤ）を備え、表面実装素子は、例えば、複数の発光素子及び複数の感温素子から構成されている。各感温素子は、発光ダイオードやレーザーダイオードなどの発光素子と、感熱抵抗体などの感温素子の動作中の温度を個別に検出することができる。なお、本考案で説明したテストボード３の構造は例示であり、本考案はこれに限定されるものではない。他の実施形態では、隣接する複数の発光素子の温度を、動作中に１つの感温素子で検知することも可能である。

さらに、温度テストを行うようにテスト治具２をテストボード３と共に機体１内に配置し、制御装置４が機体１を制御して熱源を与え、温度テストを行うようにテストボード３上のテスト対象物をテストし、機体１をオーブンとして使用できる、以下の説明では、テスト対象物をレーザーダイオードで例示するが、この考案はこれに限定されるものではない。第１の調温部２１は、テストボード３を設置するための調温パネル２１１を有し、第１の調温部２１は、調温パネル２１１によりテストボード３に対して放熱の定温制御を直接に行うことが可能である。ここで、第１の調温部２１は、例えばその内部を流れる水流の温度によって調温パネル２１１のパネル温度を制御し、この調温パネル２１１にテストボード３を載せたときに、放熱の定温制御を行うことができるようにするものである。

ここで注目すべきは、例えば、第２の調温部２２が調温パネル２１１の一部に対して独立した温度制御を行うことができるように、第１の調温部２１に嵌め設けられることである。さらに、第２の調温部２２は、個別に配置された複数の加熱部を有していてもよく、すなわち、これらの加熱部は、調温パネル２１１の下方に個別に配置されており、加熱部を個別に加熱することができるので、第２の調温部２２は、調温パネル２１１を介してテストボード３の一部を加熱するための定温制御を間接的に行うことが可能である。

特定の実施形態において、第１の調温部２１は、入水ポート２３１及び出水ポート２３２を備え、入水ポート２３１及び出水ポート２３２はそれぞれクーラー２３に接続され、クーラー２３は、例えば、入水ポート２３１を通して第１の調温部２１に冷却水の流れを提供し、出水ポート２３２を通して第１の調温部２１から流れ出る冷却水を受け止めてもよい。制御装置４は、クーラー２３の冷却水の温度を制御して、調温パネル２１１上のテストボード３に放熱させ、テストボード３の温度を一定に保つようにする。クーラー２３の具体的な構造及び動作は、当該技術分野における通常の知識を有する者に知られているため、ここでは詳細に説明しない。

ここで、調温パネル２１１は、例えば、均一な温度を提供する平坦な面であってよく、テストボード３がこの調温パネル２１１に置かれたとき、理論的にはテストボード３上の複数のレーザーダイオードは均一な温度を示すことができるようにする。しかし、実際には、機体１が備える熱源がテストボード３上のレーザーダイオードに同じ加熱効果を与えるわけではなく、特に機体１の熱源の出力に近いテストボード３の部分は加熱効果が高くなり、機体１の熱源の出力から遠いテストボード３の部分は加熱効果が低くなる。

従って、第２の調温部２２は、調温パネル２１１の下に分散配置され、制御装置４によって個別に加熱することができる。したがって、制御装置４は、テストボード３の低温領域に対応する第２の調温部２２の加熱部を制御して、テストボード３の低温領域のレーザーダイオードを加熱してテストボード３の高温領域のレーザーダイオードと共に一定の温度にすることができ、テスト寿命の高温テスト時にテストボード３内の各レーザーダイオードを正しくテストすることができるようになる。これにより、テストボード３のレーザーダイオードは、テスト寿命の高温テストで正しくテストすることができる。

特定の実施形態において、第２の調温部２２の各加熱部の面積は調温パネル２１１の面積より小さく、各調温部は小さな面積を介して隣接するテストボード３上のレーザーダイオードの一部を加熱することができる。また、第１の調温部２１の調温パネル２１１の面積はテストボード３の面積より大きいので、調温パネル２１１はテストボード３上の全てのレーザーダイオードに放熱することができるが、これは本考案における限界ではない。

図２～図７を参照する。図２は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の斜視模式図である。図３は、本実施形態で提供されるテストフィクスチャの正面図である。図４は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の後面図である。図５は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の側面図である。図６は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具の上面図である。図７は、本考案の実施形態で提供されるテスト治具のカバー部が蓋閉め状態を示す図である。

特定の実施形態において、図２に示すテスト治具２は、上述した第１の調温部２１及び第２の調温部２２に加えて、カバー部２４及び掛け留め部２５を含み、カバー部２４は第１の調温部２１の一側に枢着され、カバー部２４は第１の調温部２１に対して回転して図７のように調温パネル２１１に覆いかぶさるようにする。掛け留め部２５を第１の調温部の一辺に枢着し、図７に示すように、カバー部２４が調温パネル２１１を密着して覆うように、掛け留め部２５でカバー部２４の一辺を掛け留める。

特定の実施形態において、掛け留め部２５は、第１の調温部２１の両側にそれぞれ第１の掛け留め具２５１及び第２の掛け留め具２５２を備え、第１の掛け留め具２５１及び第２の掛け留め具２５２は、カバー部２４が調温パネル２１１上で閉じられると、図７に示すように第１の掛け留め具２５１及び第２の掛け留め具２５２がカバー部２４の上部にそれぞれ設けられた止め部２４６に連動されるまでそれぞれ調温パネル２１１に向かって移動することが可能である。

具体的には、図２のテストボード３は、複数のレーザーダイオード３１と複数の感温素子３２とを含み、各感温素子３２は各レーザーダイオード３１に隣接して配置され、これを通じて各レーザーダイオード３１は寿命テスト中に正確な温度変化を効果的に監視することが可能である。また、複数のレーザーダイオード３１と複数の感温素子３２とを表面実装技術（ＳＭＴ）によって表面実装素子（ＳＭＤ）としてテストボード３上に配置することにより、テストボード３を薄型化し、定温テスト装置による定温テストに資することができることに留意されたい。

特定の実施形態において、実施形態では、図２及び図３に示すように、カバー部２４の内部に第２の計測部２４１が設けられており、この第２の計測部２４１は、カバー部２４が調温パネル２１１の面を覆っているときにテストボード３を計測することが可能である。ここで、第２の計測部２４１は、図１に示す第２の計測部５２と同等であってもよい。

具体的には、第２の計測部２４１は、例えば、複数の光計測部２４２と複数の温度計測部２４３とを含み、これら光計測部２４２及び温度計測部２４３の位置は、レーザーダイオード３１及び感温素子３２の位置に対応している。すなわち、調温パネル２１１にカバー部２４を閉じたとき、各レーザーダイオード３１の上方に光計測部２４２、各感温素子３２の上方に温度計測部２４３が設けられているので、光計測部２４２はレーザーダイオード３１の光源輝度を滑らかに計測でき、温度計測部２４３はこれに対応して感温素子３２の温度検知値を得ることができる。温度計測部２４３は、感温素子３２の温度検出値を取得することができるまた、第２の計測部２４１は、レーザーダイオード３１と感温素子３２との両方に給電するように構成されているので、レーザーダイオード３１と感温素子３２とが正常に動作し、スムーズに計測することが可能である。したがって、制御装置４は、光計測部２４２及び温度計測部２４３を通じて、テストボード３内の全てのレーザーダイオード３１の輝度値及び温度値を知ることができる。第２の計測部２４１の具体的な構成や動作は、当業者に知られているため、ここでは詳細な説明を省略する。

特定の実施形態において、第２の調温部２２は、図２及び図３に示すように、複数のヒーターバーを含み、ここでは説明のために、ヒーターバーの数を３つ、すなわち第１のヒーターバー２２１、第２のヒーターバー２２２及び第３のヒーターバー２２３として与えているが、本実施形態はこれに限定されるものではない。セクションこれらのヒーターバーは、調温パネル２１１の下に均等に配置されているので、テストボード３を対応する３つのセクションに分割して、個別に加熱することができる。ここでのヒーターバーの形状は長尺の短冊状であり、ヒーターバーはテストボード３の幅方向に設置され、加熱棒がテストボード３の複数のレーザーダイオード３１を実際に加熱できるように、図２及び図６に示すように、ヒーターバーの長さは少なくともテストボード３の幅よりも大きいことが望ましい。さらに、他の実施形態においても、ヒーターバーの方向は、テストボード３の長さに沿っていてもよく、ヒーターバーの長さは、特に限定されず、少なくともテストボード３の長さよりも大きいことが好ましい。

図８に示すように、本実施形態のテストボードの温度分布を示す模式図であり、テストボード３は、第１のセクション３０１、第２のセクション３０２、第３のセクション３０３に大別でき、各セクションには複数のレーザーダイオード３１と複数の感温素子３２とが配置されている。第１のヒーターバー２２１は、テストボード３の第１のセクション３０１を個別に加熱し、第２のヒーターバー２２２は、テストボード３の第２のセクション３０２を個別に加熱し、第３のヒーターバー２２３は、テストボード３の第３のセクション３０３を個別に加熱する。

従って、第２の調温部２２は、第２の計測部２４１の計測結果に応じて、テストボード３内の各セクションの温度分布を知ることができる。例えば、テストボード３における第１のセクション３０１の温度分布は、この第１のセクション３０１にある全ての感温素子３２の結果を制御装置４で平均化することにより得られるものである。この温度の平均値は、この第１のセクション３０１の温度分布を代表するものである。

別の実施形態において、制御装置４は、この第１のセクション３０１の全ての感温素子３２の感知結果を取って最大温度感知値及び最小温度感知値を求め、この最大温度感知値及び最小温度感知値を平均して平均温度値を求めることによっても、テストボード３における第１のセクション３０１の温度分布を表すことができる。この平均温度値は、第１のセクションの温度分布を代表する値でもある。なお、上記の平均温度値はあくまで一例であり、本考案を制限するものではない。第２のセクション３０２及び第３のセクション３０３の温度分布は、第１のセクションを参照して計算することができるので、ここでは繰り返さない。

このように、第１のセクション３０１の温度の平均値をＴ１、第２のセクション３０２の温度の平均値をＴ２、第３のセクション３０３の温度の平均値をＴ３として、制御装置４により第１のセクション３０１、第２のセクション３０２、第３のセクション３０３の温度分布を算出すると、第１のセクション３０１の温度はＴ１、第２のセクション３０２の温度はＴ２、第３のセクション３０３の温度はＴ３であることがわかる。そして、制御装置４は、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の相対的な大きさに応じて、対応する独立制御の第２の調温部２２において第１のヒーターバー２２１、第２のヒーターバー２２２、第３のヒーターバー２２３のいずれを加熱するかを決定することが可能である。

例えば、Ｔ１＝Ｔ２＝Ｔ３のとき、テストボード３を代表する全てのレーザーダイオード３１が均一な温度に達していれば、制御装置４は、第２の調温部２２において、これらのヒーターバーの加熱を個別に制御する必要はない。

Ｔ１＝Ｔ２＞Ｔ３の場合、テストボード３内の第１のセクション３０１及び第２のセクション３０２のレーザーダイオード３１は既に均一温度を示しているが、このとき第３のセクション３０３のレーザーダイオード３１は第１のセクション３０１及び第２のセクション３０２のレーザーダイオード３１と均一温度を示していないので、制御装置４は第２の調温部２２内の第３のヒーターバー２２３を別途制御してＴ１＝Ｔ２に等しくなるまでＴ３上昇させる必要があることを意味する。

Ｔ１＞Ｔ２＞Ｔ３のとき、テストボード３における第１のセクション３０１、第２のセクション３０２、第３のセクション３０３を表すレーザーダイオード３１は均一に暖まっていないので、制御装置４は第２の調温部２２の第２のヒーターバー２２２を別途加熱してＴ２をＴ１と同等まで上昇可能にし、制御装置４は第２の調温部２２の第３のヒーターバー２２３も別途加熱してＴ３をＴ１と同等まで上昇可能にしておくことが必要である。

上記のＴ１、Ｔ２、Ｔ３の相対的な大きさは例示に過ぎず、本考案はこれらに限定されないことに留意されたい。制御装置４は、第２の計測部５２の温度計測部２４３の計測結果に応じて、第２の調温部２２の各ヒーターバーを独立して制御し、最終的にＴ１＝Ｔ２＝Ｔ３とすることができるので、第１の調温部２１及び第２の調温部２２の多重温度制御構造を通じて、テストボード３内の全てのレーザーダイオード３１は均一温度になり、機体１内部の熱源分布の偏りに影響を受けないようにすることができる。これにより、機体１内部の熱源の偏在の影響を受けることなく、テストボード３内の全てのレーザーダイオード３１を均一な温度にすることができるので、全てのレーザーダイオード３１がより正確に、誤差なく寿命テストを行うことができる。

第１の計測部５１は、例えば、調温パネル２１１に設けたパネル温度感温素子、第３の計測部５３は、例えば、機体感温素子であり、パネル温度感温素子、機体感温素子、感温素子３２は、例えば、感熱抵抗体であるが、本作成はこれに限定されるものではあるまい。

［実施形態による有益な効果］
本創造は、体内温度分布の不均一性に影響されない、調整可能で独立した温度制御装置を提供し、制御装置は、計測インターフェースの計測結果に従って、まず第１の調温部によりテストボードの温度を制御し、次に第２の調温部によりテストボードの温度を制御することができる。これにより、テストボード上のすべての発光素子を二重定温制御することができ、発光素子の寿命テストにおいて、より正確で迅速な結果を得ることができるようになった。

以上に開示された内容は本考案の好ましい実施形態に過ぎず、これにより本考案の実用新案登録請求の範囲を制限するものではない。そのため、本考案の明細書及び添付図面の内容に基づき為された等価の技術変形は、全て本考案の実用新案登録請求の範囲に含まれるものとする。

１：機体
２：テスト治具
２１：第１の調温部
２１１：調温パネル
２２：第２の調温部
２２１：第１のヒーターバー
２２２：第２のヒーターバー
２２３：第３のヒーターバー
２３：クーラー
２３１：入水ポート
２３２：出水ポート
２４：カバー部
２４１：第２の計測部
２４２：光計測部
２４３：温度計測部
２４６：止め部
２５：掛け留め部
２５１：第１の掛け留め具
２５２：第２の掛け留め具
３：テストボード
３０１：第１のセクション
３０２：第２のセクション
３０３：第３のセクション
３１：レーザーダイオード
３２：感温素子
４：制御装置
５：計測インターフェース
５１：第１の計測部
５２：第２の計測部
５３：第３の計測部

Claims (10)

1. テストボードに対する定温テストに適用する、個別な温度制御が実現できる定温テスト装置であって、
   テストボードを配置するための調温パネルを含み、内部を流れる水流温度によって前記調温パネルのパネル温度に対し温度制御を行う第１の調温部と、
   前記第１の調温部に嵌め設けられ、前記調温パネルの局部領域に対し温度制御を行う第２の調温部と、
   前記パネル温度を計測する第１の計測部、及び前記テストボードに対し計測を行う第２の計測部を含む計測インターフェースと、
   前記第１の調温部に連通するクーラーと、
   前記計測インターフェース、前記クーラー及び前記第２の調温部に電気的に接続される制御装置と、
   を備え、
   前記制御装置は、第１の計測部の計測結果に基づいて、前記クーラーが前記調温パネルに対し定温制御を直接に制御するように、前記クーラーを制御し、
   前記制御装置は、前記第２の計測部の計測結果に基づいて、前記第２の調温部が前記調温パネルを介して前記テストボードの局部領域に対し定温制御を行うように、前記第２の調温部を制御する、
   ことを特徴とする、定温テスト装置。
2. 前記テストボードに複数の表面実装デバイスが配置され、前記複数の表面実装デバイスは、複数の発光素子及び複数の感温素子を、前記発光素子毎には１つの感温素子が隣接するように含み、前記第２の計測部は、光計測部及び温度計測部を含み、前記制御装置は、前記光計測部によって前記複数の発光素子の輝度を、前記温度計測部によって前記複数の感温素子の温度感知値を得るように構成される、請求項１に記載の定温テスト装置。
3. 前記第１の計測部は、前記調温パネルに配置されたパネル温度感温素子であり、前記第１の調温部は、入水ポート及び出水ポートを含み、前記入水ポート及び前記出水ポートはそれぞれ前記クーラーに連通され、前記クーラーは、前記第１の調温部に冷却水を循環させるように、前記入水ポートに冷却水を給水し、前記出水ポートから前記第１の調温部を経過した前記冷却水を回収するように構成され、前記制御装置は、前記クーラーの前記冷却水の温度を制御することで、前記調温パネルに配置された前記テストボードに対し放熱を行う、請求項２に記載の定温テスト装置。
4. 前記第２の調温部は、互いに離間して配置された複数の加熱部を有し、前記制御装置は、前記第２の計測部における前記複数の温度計測部によって、複数の温度感知値を得て、前記複数の加熱部を発熱するように作動させる、請求項２に記載の定温テスト装置。
5. 前記複数の加熱部は、複数のヒーターバーであり、かつ、前記ヒーターバーのそれぞれは、前記調温パネルの下における異なる領域に散在され、前記複数の加熱部の面積は、前記調温パネルの面積よりも小さく、前記調温パネルの面積は、前記テストボードの面積の以上である、請求項４に記載の定温テスト装置。
6. 前記制御装置は、前記複数のヒーターバーは、前記調温パネルによって、前記テストボードにおける各セクションのそれぞれを対応的に加熱し、前記テストボードにおける各セクションの温度をばらつきなく定温にする、請求項５に記載の定温テスト装置。
7. 前記第１の調温部及び前記第２の調温部は機体に配置され、前記制御装置は、前記機体が前記テストボードに対して加熱テストを行うように前記機体を制御する、請求項６に記載の定温テスト装置。
8. 前記計測インターフェースは、第３の計測部を備え、前記第３の計測部は、機体感温素子であり、前記制御装置は、前記第３の計測部による計測結果に基づいて、前記機体における加熱源が前記テストボードを加熱するように、前記機体を制御する、請求項７に記載の定温テスト装置。
9. 前記発光素子は、発光ダイオードまたはレーザーダイオードであり、前記感温素子は感熱抵抗体である、請求項２に記載の定温テスト装置。
10. 前記定温テスト装置は、さらにカバー部及び掛け留め部を含み、前記カバー部は、前記第１の調温部の一方側に枢着され、前記カバー部は、前記調温パネルを覆うように前記第１の調温部に対して回動することができ、前記カバー部内は、前記第２の計測部を含み、前記第２の計測部は、前記カバー部が前記調温パネルを覆った時に前記テストボードに対して計測を行い、前記掛け留め部は、前記第１の調温部の一方側に枢着され、前記掛け留め部は、前記カバー部が前記調温パネルに密合するように前記カバー部の一方側に掛け留める、請求項１に記載の定温テスト装置。

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