JP3221725B2 - Eye measurement device - Google Patents

Eye measurement device

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JP3221725B2
JP3221725B2 JP12497792A JP12497792A JP3221725B2 JP 3221725 B2 JP3221725 B2 JP 3221725B2 JP 12497792 A JP12497792 A JP 12497792A JP 12497792 A JP12497792 A JP 12497792A JP 3221725 B2 JP3221725 B2 JP 3221725B2
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eye
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、干渉縞を観察すること
により、被検眼の第1測定対象面から第2測定対象面ま
での眼内寸法を非接触で計測する被検眼計測装置の改良
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improved eye measuring apparatus for measuring an intraocular dimension of a subject eye from a first measuring object surface to a second measuring object surface by observing interference fringes. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、被検眼の第1測定対象面から
第2測定対象面までの距離としての眼軸長、前房深さ、
水晶体厚さ等を計測する被検眼計測装置としては、超音
波を用いて眼の前方から投射した超音波の角膜前面、水
晶体後面、眼底表面における反射波をブラウン管上に描
き出し、そのブラウン管上に描き出されたエコーグラム
を撮影して計測するものが知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an axial length, an anterior chamber depth, as a distance from a first measurement target surface to a second measurement target surface of an eye to be examined,
The eye measurement device that measures the thickness of the lens, etc. There is known a device which captures and measures an echogram obtained.

【0003】しかしながら、この従来の被検眼計測装置
は、その測定精度が±0.2mm程度であり、たとえば、
測定の結果得られた眼軸長を用いてIOL(Intraocula
r lens)のパワーを決定するには、測定精度が不十分で
あるという問題点がある。また、この従来の超音波によ
る被検眼計測装置は、測定に際して被検眼にプローブを
接触させなければならないために、感染等の予防措置を
講じなければならないという面倒もある。
However, this conventional eye measuring apparatus has a measurement accuracy of about ± 0.2 mm.
The IOL (Intraocula) is calculated using the axial length obtained as a result of the measurement.
In order to determine the power of r lens), there is a problem that the measurement accuracy is insufficient. Further, in the conventional eye measuring apparatus using ultrasonic waves, since the probe must be brought into contact with the eye to be measured at the time of measurement, there is also a trouble that precautionary measures such as infection must be taken.

【0004】そこで、被検眼にコヒーレント長の短い光
束を投光し、被検眼の第1測定対象面からの反射光束と
第2測定対象面からの反射光束とを干渉させ、その干渉
信号を用いて第1測定対象面から第2測定対象面までの
眼内寸法を計測する被検眼計測装置が開発されている。
Therefore, a light beam having a short coherent length is projected on the eye to be examined, and the reflected light beam from the first measurement object surface and the reflection light beam from the second measurement object surface of the eye to be examined interfere with each other. In addition, an eye measurement apparatus for measuring an intraocular dimension from a first measurement target surface to a second measurement target surface has been developed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この種
の被検眼計測装置では、被検眼の固視が安定しないた
め、干渉縞が変動し、測定を迅速に行うことが難しいと
いう問題があった。
However, in this type of eye measuring apparatus of this type, since fixation of the eye to be inspected is not stable, interference fringes fluctuate, and it is difficult to perform measurement quickly.

【0006】また、被検眼に対する視度調節の若干のず
れによって、被検眼の眼底からの反射光量が低下するこ
とにより、干渉縞が得られにくくなり、眼内寸法の計測
の迅速化、測定精度の向上を図り難いという問題があっ
た。
In addition, a slight shift in diopter adjustment with respect to the eye to be examined reduces the amount of reflected light from the fundus of the eye to be examined, making it difficult to obtain interference fringes, speeding measurement of intraocular dimensions, and measuring accuracy. There is a problem that it is difficult to improve the quality.

【0007】本発明の目的は、被検眼の眼内寸法の測定
の迅速化、測定精度のより一層の向上を図ることのでき
る被検眼計測装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a measuring apparatus for an eye to be examined which can speed up the measurement of the intraocular dimensions of the eye to be examined and further improve the measuring accuracy.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、上記課題を解決するため、被検眼にコヒーレント長
の短い光束を投光する測定用光源を備えた投光光学系を
有し、前記被検眼への投光により得られた干渉縞を観察
することにより、被検眼の第1測定対象面から第2測定
対象面までの眼内寸法を計測する被検眼計測装置におい
て、前記投光光学系中に、該測定用光源とは別に、被検
眼の視度を調節するための視度調節用光源、及び前記投
光光学系中で、視度調節用光源からの光束及び測定用光
源からの光束が通過する位置に視度調節用レンズを配置
し、該視度調節用光源の発光量が前記測定用光源の発光
量よりも大きく設定されていることを特徴とする。請求
項2に記載の発明は、前記測定用光源と前記視度調節用
光源との光量制御を行う光量制御手段が設けられている
ことを特徴とする。
Means for Solving the Problems The invention according to claim 1
In order to solve the above problem, coherent length
A projection optical system equipped with a measurement light source that projects a short light beam
Observation of interference fringes obtained by projecting light to the eye to be examined
The second measurement from the first measurement target surface of the subject's eye.
In the eye measurement device that measures the intraocular dimensions up to the target surface
In the light projecting optical system, a test object is provided separately from the measurement light source.
A diopter adjusting light source for adjusting the diopter of the eye;
In the optical optics, the luminous flux from the diopter adjusting light source and the measuring light
A diopter adjustment lens is placed at the position where the light beam from the source passes
The light emission amount of the diopter adjusting light source is equal to the light emission amount of the measuring light source.
The amount is set to be larger than the amount. Claim
Item 2. The invention according to Item 2, wherein the measurement light source and the diopter adjustment
Light quantity control means for controlling the light quantity with the light source is provided
It is characterized by the following.

【0009】[0009]

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【作 用】 請求項1に 記載の被検眼計測装置によれば、
視度調節用光源を特別に設けてその発光量を測定用光源
の発光量よりも大きく設定することができるので、視度
調節を行うのに充分な眼底からの反射光量を得ることが
できる。
[For work] According to the examined eye measuring apparatus according to claim 1,
Since the diopter adjustment light source is specially provided and the light emission amount thereof can be set to be larger than the light emission amount of the measurement light source, a sufficient amount of reflected light from the fundus to adjust the diopter can be obtained.

【0012】[0012]

【実施例】【Example】

【0013】[0013]

【第1実施例】第1図は本発明の生体眼計測装置の第1
実施例を示す光学図である。この第1実施例の被検眼計
測装置は、本発明の請求項1に対応している。
FIG. 1 shows a first embodiment of a living eye measuring apparatus according to the present invention.
It is an optical diagram showing an example. The eye measurement apparatus according to the first embodiment corresponds to claim 1 of the present invention.

【0014】第1図において、100は角膜距離測定系、1
01は干渉光投光光学系、102は被検眼角膜に光束を照射
するリング状光源投影部、104は対物レンズである。角
膜距離測定系100は第1光路105、第2光路106を有して
いる。第1光路105は二次元イメージセンサ107、結像レ
ンズ108、ハーフミラー109、絞り110、レンズ111、全反
射ミラー112、レンズ113、ハーフミラー114、ダイクロ
イックミラー115、対物レンズ104から大略構成されてい
る。第2光路106は全反射ミラー116、レンズ117、全反
射ミラー118、119、絞り124から大略構成されている。
In FIG. 1, reference numeral 100 denotes a corneal distance measuring system;
01 is an interference light projecting optical system, 102 is a ring-shaped light source projection unit that irradiates a cornea with a light beam, and 104 is an objective lens. The corneal distance measurement system 100 has a first optical path 105 and a second optical path 106. The first optical path 105 is roughly composed of a two-dimensional image sensor 107, an imaging lens 108, a half mirror 109, an aperture 110, a lens 111, a total reflection mirror 112, a lens 113, a half mirror 114, a dichroic mirror 115, and an objective lens 104. I have. The second optical path 106 generally includes a total reflection mirror 116, a lens 117, total reflection mirrors 118 and 119, and a stop 124.

【0015】リング状光源投影部102は、リング状光源
とパターン板(図示を略す)とからなり、ここでは、メ
リジオナル断面光線が平行であるような照明光を被検眼
に投影するものとなっている。この照明光を被検眼103
に向かって照射すると、被検眼103の角膜120にリング状
の虚像121が形成される。ここでは、リング状光源投影
部102の照明光の波長は、900nm〜1000nmである。ダイク
ロイックミラー115は、その照明光を透過し、後述する
近赤外光の波長を反射する。
The ring-shaped light source projection unit 102 includes a ring-shaped light source and a pattern plate (not shown), and here projects illumination light having parallel meridional sectional rays to the eye to be examined. I have. This illumination light is applied to the subject's eye 103
When irradiated toward the eye 103, a ring-shaped virtual image 121 is formed on the cornea 120 of the eye 103 to be inspected. Here, the wavelength of the illumination light of the ring-shaped light source projection unit 102 is 900 nm to 1000 nm. The dichroic mirror 115 transmits the illumination light, and reflects a wavelength of near-infrared light described later.

【0016】角膜120による反射光は、対物レンズ104、
ダイクロイックミラー115を介してハーフミラー114に導
かれ、第1光路105と第2光路106とに分岐される。第1
光路に導かれた反射光は、レンズ113に基づき一旦リン
グ状の空中像122として結像され、さらに、全反射ミラ
ー112、レンズ111、絞り110、ハーフミラー109、結像レ
ンズ108を経由して二次元イメージセンサ107に結像され
る。第2光路106に導かれた反射光は、全反射ミラー119
により反射され、対物レンズ104に基づき一旦空中像123
として結像され、全反射ミラー118、レンズ117、ハーフ
ミラー116、絞り124、ハーフミラー109、結像レンズ108
を経由して、二次元イメージセンサ107に結像される。
The light reflected by the cornea 120 is reflected by the objective lens 104,
The light is guided to a half mirror 114 via a dichroic mirror 115, and is branched into a first optical path 105 and a second optical path 106. First
The reflected light guided to the optical path is once formed as a ring-shaped aerial image 122 based on a lens 113, and further passes through a total reflection mirror 112, a lens 111, a diaphragm 110, a half mirror 109, and an imaging lens 108. An image is formed on the two-dimensional image sensor 107. The reflected light guided to the second optical path 106 is reflected by a total reflection mirror 119.
Is reflected by the objective lens 104 and is once reflected in the aerial image 123.
And a total reflection mirror 118, a lens 117, a half mirror 116, an aperture 124, a half mirror 109, and an imaging lens 108
Is imaged on the two-dimensional image sensor 107 via.

【0017】絞り110は、レンズ111、レンズ113によっ
て対物レンズ104の後方焦点位置付近にリレーされ、第
1光学系100は、物側に略テレセントリックである。125
はその絞り110の共役像である。絞り124は、レンズ117
によって被検眼103の前方にリレーされ、ここでは、共
役像(実像)126が被検眼の前方25mm〜50mmの箇所に形
成される。
The stop 110 is relayed by a lens 111 and a lens 113 near the rear focal position of the objective lens 104, and the first optical system 100 is substantially telecentric on the object side. 125
Is a conjugate image of the stop 110. The aperture 124 is a lens 117
Is relayed in front of the subject's eye 103, where a conjugate image (real image) 126 is formed at a position 25 mm to 50 mm in front of the subject's eye.

【0018】角膜頂点の位置は、二次元受光素子107に
結像されたリング状の像に基づき求めることができ、そ
の詳細は、特願平2−145107号(発明の名称:眼
内長さ測定装置:出願日 平成2年5月31日)に記載
されている。
The position of the apex of the cornea can be obtained based on a ring-shaped image formed on the two-dimensional light receiving element 107. For details, refer to Japanese Patent Application No. 2-145107 (Title of Invention: Intraocular Length). Measuring device: filing date May 31, 1990).

【0019】干渉光投光光学系101は、測定用光源とし
てのレーザーダイオード130、レンズ131、ピンホール13
2、ビームスプリッタ133、レンズ134、合焦レンズ135、
全反射ミラー136、レンズ137、全反射ミラー138、139、
140、模型眼ユニット部材141、全反射ミラー142、ピン
ホール143、レンズ144、点開口のホトセンサ145を有す
る。レーザーダイオード130は低コヒーレント長のもの
であり、そのコヒーレント長は、例えば、0.05mm〜
0.1mm程度である。その波長は近赤外であり、防眩効
果がある。レーザーダイオード130を出射したレーザー
光はレンズ131によってピンホール132に集光される。ピ
ンホール132は二次点光源としての役割を果たす。な
お、光源としてレーザーダイオードの代わりにスペクト
ル幅の狭いLEDを用いてもよい。なお、162は後述
する視度調節用光学系157の一部を構成するハーフミ
ラーである。
The interference light projecting optical system 101 includes a laser diode 130, a lens 131, and a pinhole 13 as a measurement light source.
2, beam splitter 133, lens 134, focusing lens 135,
Total reflection mirror 136, lens 137, total reflection mirror 138, 139,
140, a model eye unit member 141, a total reflection mirror 142, a pinhole 143, a lens 144, and a photosensor 145 having a point aperture. The laser diode 130 has a low coherent length, and the coherent length is, for example, 0.05 mm to
It is about 0.1 mm. Its wavelength is near infrared and has an antiglare effect. The laser light emitted from the laser diode 130 is focused on the pinhole 132 by the lens 131. The pinhole 132 plays a role as a secondary point light source. Note that an LED having a narrow spectrum width may be used as a light source instead of a laser diode. 162 is described later.
Half-mirror constituting a part of the diopter adjusting optical system 157
It is ra.

【0020】ピンホール132を通過したレーザー光は、
ビームスプリッタ133によってレンズ134に向かう光束と
レンズ137に向かう光束とに分割される。レンズ134は、
レンズ135、全反射ミラー136、ダイクロイックミラー11
5と共に測定光路130´を構成している。レンズ137は、
全反射ミラー138、139、140、模型眼ユニット部材141と
共に参照光路140´を構成している。
The laser light that has passed through the pinhole 132 is
The beam splitter 133 splits the beam toward the lens 134 and the beam toward the lens 137. The lens 134 is
Lens 135, total reflection mirror 136, dichroic mirror 11
5, together with the measurement optical path 130 '. Lens 137
Together with the total reflection mirrors 138, 139, 140 and the model eye unit member 141, a reference optical path 140 'is formed.

【0021】レンズ134、137はピンホール132を通過し
たレーザー光をコリメートする役割を果たす。レンズ13
4によってコリメートされたレーザー光は、合焦レンズ1
35によってレンズ135の焦点位置146にスポットを形成す
る。この焦点位置146は対物レンズ104に関して眼底147
と共役とされている。焦点位置146にスポットを形成す
るレーザー光は、全反射ミラー136、ダイクロイックミ
ラー115、対物レンズ104を経由して被検眼103に導か
れ、眼底147にスポットを形成する。被検眼103はそのス
ポット像を固視できる。
The lenses 134 and 137 play a role of collimating the laser light passing through the pinhole 132. Lens 13
The laser beam collimated by 4 is
By 35, a spot is formed at the focal position 146 of the lens 135. This focal position 146 is different from the fundus 147
And conjugate. The laser beam forming a spot at the focal position 146 is guided to the eye 103 via the total reflection mirror 136, the dichroic mirror 115, and the objective lens 104, and forms a spot on the fundus 147. The eye 103 can fixate the spot image.

【0022】ピンホール143は、レンズ134の焦点位置に
設置され、このピンホール143は眼底147と共役である。
レンズ135は眼底反射光をコリメートする機能を果た
し、そのコリメートされた眼底反射光はレンズ134によ
ってビームスプリッタ133、全反射ミラー142を経由し
て、ピンホール143にリレーされる。ピンホール143はピ
ンホール132とビームスプリッタ133の反射面に関して共
役である。レンズ137によってコリメートされたレーザ
光は、ミラー138、139、140によって模型眼ユニット部
材141に導かれる。模型眼ユニット部材141は、参照光路
の光路長と測定光路の光路長とが同じになるように移動
可能とされている。この模型眼ユニット部材141は、レ
ンズ148、反射ミラー149、可動部材150から概略構成さ
れている。この模型眼ユニット部材141は、その移動に
伴って生じるぶれによる反射光束の偏向を解消するため
に用いたものであり、原理的には、単なる可動ミラーで
もよい。
The pinhole 143 is provided at the focal position of the lens 134, and the pinhole 143 is conjugate with the fundus 147.
The lens 135 has a function of collimating the fundus reflection light, and the collimated fundus reflection light is relayed by the lens 134 to the pinhole 143 via the beam splitter 133 and the total reflection mirror 142. The pinhole 143 is conjugate to the pinhole 132 and the reflection surface of the beam splitter 133. The laser beam collimated by the lens 137 is guided to the model eye unit member 141 by mirrors 138, 139, and 140. The model eye unit member 141 is movable so that the optical path length of the reference optical path and the optical path length of the measurement optical path are the same. This model eye unit member 141 is roughly composed of a lens 148, a reflection mirror 149, and a movable member 150. The model eye unit member 141 is used to eliminate the deflection of the reflected light beam due to the blur caused by the movement thereof, and may be a simple movable mirror in principle.

【0023】眼底反射光と参照光とは、ピンホール143
に集光され、そのピンホール143を通過した光束はレン
ズ144によってホトセンサ145に収束される。模型眼ユニ
ット部材141を移動させて、参照光路と測定光路との光
路差が、レーザーダイオード130のコヒーレント長程度
となると、干渉波形が得られ、この干渉波形は光路長が
一波長変化するごとに正弦波的に変化し、これにより、
装置光学系から眼底までの距離が測定され、装置光学系
から角膜頂点までの位置と装置光学系から眼底までの位
置とに基づき、眼軸長が求められる。その詳細も、特願
平2−145107号(発明の名称:眼内長さ測定装
置:出願日 平成2年5月31日)に記載されているの
で、その説明は、割愛する。
The fundus reflection light and the reference light form a pinhole 143.
The light flux that has passed through the pinhole 143 is converged on the photosensor 145 by the lens 144. By moving the model eye unit member 141, when the optical path difference between the reference optical path and the measurement optical path becomes about the coherent length of the laser diode 130, an interference waveform is obtained, and this interference waveform changes every time the optical path length changes by one wavelength. Changes sinusoidally, which
The distance from the device optical system to the fundus is measured, and the axial length is determined based on the position from the device optical system to the apex of the cornea and the position from the device optical system to the fundus. The details are also described in Japanese Patent Application No. 2-145107 (Title of Invention: Intraocular Length Measuring Device: Filing Date: May 31, 1990), and the description is omitted.

【0024】[0024]

【0025】[0025]

【0026】[0026]

【0027】[0027]

【0028】[0028]

【0029】[0029]

【0030】[0030]

【0031】視度調節用光学系157は、視度調節用光源1
58、レンズ159、全反射ミラー160、ピンホール161、ハ
ーフミラー162、163、全反射ミラー164、165を有する。
ハーフミラー162はピンホール132とビームスプリッタ13
3との間に配設されている。ピンホール161はピンホール
132とハーフミラー162に関して共役であり、二次点光源
としての役割を果たす。
The diopter adjusting optical system 157 includes a diopter adjusting light source 1.
58, a lens 159, a total reflection mirror 160, a pinhole 161, half mirrors 162 and 163, and total reflection mirrors 164 and 165.
Half mirror 162 has pinhole 132 and beam splitter 13
It is arranged between 3 and. Pinhole 161 is pinhole
It is conjugate with respect to 132 and the half mirror 162, and serves as a secondary point light source.

【0032】視度調節用光源158の発光量はレーザーダ
イオード130の発光量よりも大きい。視度調節用光源158
から出射された光束は、レンズ159、全反射ミラー160を
経由して、ピンホール161に導かれ、そのピンホール161
に集光される。ピンホール161を通過した光束は、ハー
フミラー162により反射され、ビームスプリッタ133に導
かれる。その光束はビームスプリッタ133により測定光
路130´に導かれる光束と参照光路140´に導かれる光束
とに分割される。測定光路130´に導かれた光束は、レ
ンズ134により平行光束にされる。その平行光束はハー
フミラー163、合焦レンズ135、全反射ミラー136、ダイ
クロイックミラー115、対物レンズ104を経由して被検眼
103の眼底147に投影される。
The amount of light emitted from the diopter adjusting light source 158 is larger than the amount of light emitted from the laser diode 130. Diopter adjustment light source 158
The light flux emitted from the lens 159 is guided to the pinhole 161 via the lens 159 and the total reflection mirror 160, and the pinhole 161
Is collected. The light beam passing through the pinhole 161 is reflected by the half mirror 162 and guided to the beam splitter 133. The light beam is split by the beam splitter 133 into a light beam guided to the measurement light path 130 'and a light beam guided to the reference light path 140'. The light beam guided to the measurement light path 130 ′ is converted into a parallel light beam by the lens 134. The parallel light flux passes through a half mirror 163, a focusing lens 135, a total reflection mirror 136, a dichroic mirror 115, and an objective lens 104, and
It is projected on the fundus 147 of 103.

【0033】眼底147からの反射光は、対物レンズ104、
ダイクロイックミラー115、全反射ミラー136、合焦レン
ズ135を経由してハーフミラー163に導かれる。そのハー
フミラー163に導かれた反射光は、このハーフミラー163
により反射されて、全反射ミラー164、165、レンズ151
´、ハーフミラー116、絞り124、ハーフミラー109を経
由して二次元イメージセンサ107に導かれ、この二次元
イメージセンサ107に結像される。この二次元イメージ
センサ107に結像されたスポット像が鮮明となるように
視度調節用の合焦レンズ135を可動させることにより視
度調節が行われる。
The reflected light from the fundus 147 passes through the objective lens 104,
The light is guided to the half mirror 163 via the dichroic mirror 115, the total reflection mirror 136, and the focusing lens 135. The reflected light guided to the half mirror 163
And the total reflection mirrors 164 and 165 and the lens 151
The light is guided to the two-dimensional image sensor 107 via the half mirror 116, the aperture 124, and the half mirror 109, and is imaged on the two-dimensional image sensor 107. In order for the spot image formed on the two-dimensional image sensor 107 to be clear
The diopter adjustment is performed by moving the focusing lens 135 for diopter adjustment.

【0034】また、視度調節のときに、眼底147からの
反射光のうち、ハーフミラー163を通過した光束は、レ
ンズ134、ビームスプリッタ133、全反射ミラー142を経
由して、ピンホール143に導かれてこのピンホール143に
集光される。このピンホール143を通過した光束は、レ
ンズ144によりホトセンサ145に収束される。そこで、ホ
トセンサ145に入射する光量が最大となるように合焦レ
ンズ135を移動させて、視度調節を行うことも可能であ
る。なお、視度調節時にのみ、ハーフミラー162、163は
干渉光光学系101の光路に対して挿入離脱可能の構成と
し、この第1実施例では、視度調節のときにのみ干渉光
学系101の光路に挿入されるものである。なお、レーザ
ーダイオード130の発光量、視度調節用光源158の発光量
は図示を略す光量制御回路によって増減される。また、
レーザーダイオード130は、視度調節後に発光される。
At the time of diopter adjustment, of the reflected light from the fundus 147, the light flux that has passed through the half mirror 163 passes through the lens 134, the beam splitter 133, and the total reflection mirror 142, and enters the pinhole 143. The light is guided and focused on the pinhole 143. The light beam passing through the pinhole 143 is converged on the photo sensor 145 by the lens 144. Therefore, it is also possible to adjust the diopter by moving the focusing lens 135 so that the amount of light incident on the photosensor 145 is maximized. Incidentally, only when diopter adjustment, the half mirror 162 and 163 and inserted detachably in configuration with respect to the optical path of the interference optical system 101, in this first embodiment, only the interference optical system 101 when the diopter It is inserted into the optical path. The light emission amount of the laser diode 130 and the light emission amount of the diopter adjusting light source 158 are increased or decreased by a light amount control circuit (not shown). Also,
The laser diode 130 emits light after diopter adjustment.

【0035】ここで、視度調節用光源158の波長を測定
用光源であるレーザーダイオード130よりも可視側に設
定し、ハーフミラー156を視度調節用光源158からの光を
反射し、測定用光源からの光を透過するようなダイクロ
イックミラーに置換すれば各光源の光量を効率よく利用
できる。
Here, the wavelength of the diopter adjusting light source 158 is set to be more visible than the laser diode 130, which is a measuring light source, and the half mirror 156 reflects the light from the diopter adjusting light source 158, and By substituting a dichroic mirror that transmits light from the light source, the light amount of each light source can be used efficiently.

【0036】[0036]

【第2実施例】 第2図 は本発明の被検眼計測装置の第2
実施例の光学図である。この第2図において、第1実施
と同一構成要素については、同一符号が付されてい
る。この実施例では、ハーフミラー163の代わりに偏光
ビームスプリッタ166を備えている。また、被検眼103と
対物レンズ104との間に1/4波長板167が、また、模型
眼ユニット部材141の前方には1/4波長板168が設けら
れている。偏向ビームスプリッタ166は、視度調節時の
み、測定光路130´に挿入される。その偏向ビームスプ
リッタ166は視度調節用光源158からの光束のうち、直線
偏光成分のみを透過させる。この偏光ビームスプリッタ
166を透過した光束は第1実施例と同様に対物レンズ104
に導かれる。そして、対物レンズ104を通過した光束
は、1/4波長板167を通過する際に波長を1/4波長
(位相がπ/2)進められ、円偏光とされる。その円偏
光とされた光束は眼底147に投影され、眼底147により反
射されて再び1/4波長板167に導かれる。その円偏光
の反射光束は、1/4波長板167により更に波長を1/
4波長(位相がπ/2)進められ、元の光束の波長に対
して合計1/2波長(元の光束の偏光方向に対して90
度直交する直線偏光)進められて、元の光路を辿って偏
光ビームスプリッタ166に導かれる。偏光ビームスプリ
ッタ166は元の光束の偏光方向に対して90度直交する
直線偏光特性を有する眼底反射光束を全反射ミラー164
に向けて反射する。そして、この眼底反射光束は第3実
施例と同様に二次元イメージセンサ107に結像され、こ
の二次元イメージセンサ107に結像されたスポット像に
基づき合焦レンズ135を調節する。
FIG . 2 shows a second embodiment of the eye measuring apparatus according to the present invention .
It is an optical diagram of an example . In FIG. 2 , the first embodiment
The same components as in the example are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, a polarization beam splitter 166 is provided instead of the half mirror 163. Further, a 1 / wavelength plate 167 is provided between the subject's eye 103 and the objective lens 104, and a 波長 wavelength plate 168 is provided in front of the model eye unit member 141. The deflection beam splitter 166 is inserted into the measurement optical path 130 'only during diopter adjustment. The deflection beam splitter 166 transmits only the linearly polarized light component of the light beam from the diopter adjusting light source 158. This polarization beam splitter
The light flux transmitted through the objective lens 104 is transmitted in the same manner as in the first embodiment.
It is led to. The luminous flux that has passed through the objective lens 104 is advanced by a quarter wavelength (the phase is π / 2) when passing through the quarter-wave plate 167, and is converted into circularly polarized light. The circularly polarized light beam is projected onto the fundus 147, reflected by the fundus 147, and guided again to the quarter-wave plate 167. The reflected light of the circularly polarized light is further reduced in wavelength by 1/4 by the quarter wavelength plate 167.
Four wavelengths (the phase is π / 2) are advanced, and a total of 波長 wavelengths with respect to the wavelength of the original light flux (90
Then, the light beam is guided to the polarization beam splitter 166 along the original optical path. The polarization beam splitter 166 converts the fundus reflection light beam having a linear polarization characteristic orthogonal to the polarization direction of the original light beam by 90 degrees to the total reflection mirror 164.
Reflects toward. The fundus reflected light beam is formed on the two-dimensional image sensor 107 as in the third embodiment, and the focusing lens 135 is adjusted based on the spot image formed on the two-dimensional image sensor 107.

【0037】なお、参照光路にも1/4波長板168が配
置されているので、参照光路の光束と測定光路の光束と
は支障なく干渉できる。
Since the quarter-wave plate 168 is also arranged in the reference light path, the light beam in the reference light path and the light beam in the measurement light path can interfere without any trouble.

【0038】[0038]

【第3実施例】第3図、第4図は本発明に係わる被検眼
計測装置の第3実施例を示す光学図である。
Third Embodiment FIGS. 3 and 4 are optical diagrams showing a third embodiment of the eye measuring apparatus according to the present invention.

【0039】第3図において、20は半導体レーザー、21
はコリメートレンズ、22、23はビームスプリッタであ
る。半導体レーザー20には、第1実施例〜第4実施例と
同様にコヒーレント長の短いものを用いる。半導体レー
ザーから出射されたレーザー光は、コリメートレンズ21
により平行光束とされる。この平行光束は、ビームスプ
リッタ22の反射面24により、ビームスプリッタ23に導か
れる平行光束P1と光路長変更部材25に導かれる平行光
束P2とに分割される。光路長変更部材25は、反射面2
6、27を有しており、矢印方向へと動かすことにより平
行光束P2の光路長を変更する機能を有する。光路長変
更部材25を矢印方向にΔL/2だけ移動させると、平行
光束P2の光路長はずれ量ΔLだけ変化する。
In FIG . 3, reference numeral 20 denotes a semiconductor laser;
Denotes a collimating lens, and 22 and 23 denote beam splitters. As the semiconductor laser 20, a laser having a short coherent length is used as in the first to fourth embodiments. The laser light emitted from the semiconductor laser is collimated by a collimating lens 21.
Is converted into a parallel light beam. The parallel light flux is split by the reflection surface 24 of the beam splitter 22 into a parallel light flux P1 guided to the beam splitter 23 and a parallel light flux P2 guided to the optical path length changing member 25. The optical path length changing member 25 is
6 and 27, and has a function of changing the optical path length of the parallel light flux P2 by moving in the direction of the arrow. When the optical path length changing member 25 is moved by ΔL / 2 in the direction of the arrow, the optical path length of the parallel light flux P2 changes by the shift amount ΔL.

【0040】ビームスプリッタ23は、反射透過面28を有
している。ビームスプリッタ23とビームスプリッタ22と
の間には、視度調節用の合焦レンズ29が設けられてい
る。合焦レンズ29は、ビームスプリッタ22を通過してき
た平行光束P1を収束光束P1´としてビームスプリッ
タ23の反射透過面28に導く。また、ビームスプリッタ23
には、光路長変更部材25からの平行光束P2が導かれ
る。この平行光束P2は、反射透過面28で反射された平
行光束P2´となり、平行光束P2´と収束光束P1´
とは、ビームスプリッタ55を介して対物レンズ56に導か
れる。この対物レンズ56により、被検眼が正視眼のとき
に収束光束P1´は平行光束P1″となり、平行光束P
2´は収束光束P2″となって生体眼31に導かれる。収
束光束P2″は角膜曲率中心40に向かう光束となる。装
置本体は、生体眼31に対してアライメントされ、二次元
イメージセンサ34は前眼部観察用として用いられる。赤
外LED32から出射された赤外光は、コンデンサレンズ
36、ピンホール37、リレーレンズ49を通過してハーフミ
ラー33で反射され、ビームスプリッタ55に導かれる。
ビームスプリッタ55は、半導体レーザー光を透過させ、
その他の光は反射する。
The beam splitter 23 has a reflection / transmission surface 28. A focusing lens 29 for adjusting diopter is provided between the beam splitters 23 and 22. The focusing lens 29 guides the parallel light flux P1 that has passed through the beam splitter 22 to the reflection / transmission surface 28 of the beam splitter 23 as a convergent light flux P1 '. In addition, beam splitter 23
, The parallel light flux P2 from the optical path length changing member 25 is guided. The parallel light flux P2 becomes a parallel light flux P2 'reflected on the reflection / transmission surface 28, and the parallel light flux P2' and the convergent light flux P1 '.
Is guided to the objective lens 56 via the beam splitter 55. With this objective lens 56, when the eye to be examined is an emmetropic eye, the convergent light beam P1 'becomes a parallel light beam P1 ", and the parallel light beam P1".
2 ′ becomes a convergent light beam P2 ″ and is guided to the living eye 31. The convergent light beam P2 ″ becomes a light beam heading toward the corneal curvature center 40. The apparatus main body is aligned with the living eye 31, and the two-dimensional image sensor 34 is used for observing the anterior segment. The infrared light emitted from the infrared LED 32 is a condenser lens
The light passes through 36, the pinhole 37, and the relay lens 49, is reflected by the half mirror 33, and is guided to the beam splitter 55.
The beam splitter 55 transmits the semiconductor laser light,
Other light is reflected.

【0041】赤外光は、生体眼31の第1測定対象面であ
る角膜38により反射されて再び対物レンズ56を通過し、
ビームスプリッタ55で反射され、ハーフミラー33を通過
し、結像レンズ35を透過して二次元イメージセンサ34に
導かれる。二次元イメージセンサ34はTVモニター44に
接続されている。生体眼31に対する光学系のアライメン
トは、TVモニター44に写し出された赤外反射光束の反
射輝点を観測して行うものであり、光学系の光軸方向に
直交する平面内で上下左右方向に光学系を動かすことに
より、角膜頂点Pに対する光学系の光軸O1の位置合わ
せが行われる。
The infrared light is reflected by the cornea 38, which is the first measurement target surface of the living eye 31, and passes through the objective lens 56 again.
The light is reflected by the beam splitter 55, passes through the half mirror 33, passes through the imaging lens 35, and is guided to the two-dimensional image sensor 34. The two-dimensional image sensor 34 is connected to a TV monitor 44. The alignment of the optical system with respect to the living eye 31 is performed by observing the reflected luminescent spot of the infrared reflected light beam projected on the TV monitor 44, and in the vertical and horizontal directions within a plane orthogonal to the optical axis direction of the optical system. By moving the optical system, the alignment of the optical axis O1 of the optical system with respect to the corneal vertex P is performed.

【0042】収束光束P2″が生体眼31の角膜38の角膜
曲率中心40に向かって入射するように、生体眼31に対す
る光学系の光軸方向のアライメント距離が設定される
と、図4に示すように、収束光束P2″は角膜38により
反射され、その反射光束P3は元の光路に反射される。
一方、生体眼31に導かれる平行光束P1″は、角膜38及
び水晶体41により収束光束として第2測定対象面である
眼底42に導かれる。
When the alignment distance of the optical system with respect to the living eye 31 in the optical axis direction is set so that the convergent light beam P2 ″ is incident toward the corneal curvature center 40 of the cornea 38 of the living eye 31 as shown in FIG. Thus, the convergent light beam P2 "is reflected by the cornea 38, and the reflected light beam P3 is reflected on the original optical path.
On the other hand, the parallel light flux P1 ″ guided to the living eye 31 is guided as a convergent light flux by the cornea 38 and the crystalline lens 41 to the fundus 42, which is the second measurement target surface.

【0043】なお、この第3実施例による眼内寸法の測
定の詳細は、特願平2−213999号(発明の名称:
生体眼の寸法測定装置:出願日 平成2年8月13日)に
記載されているので、その説明は割愛する。
The details of the measurement of intraocular dimensions according to the third embodiment are described in Japanese Patent Application No. 2-213999 (Title of Invention:
The description is omitted here because it is described in the living eye size measuring device: application date August 13, 1990).

【0044】反射された各光束P3、P4は元の光路を
通過してビームスプリッタ22に導かれる。ビームスプリ
ッタ22において、両反射光束P3、P4は、波面形状が
略平面な平面波となる。反射光束P4は、ビームスプリ
ッタ22の反射面24により反射されて結像レンズ46を通
り、コンフォーカル絞り47に結像し、コリメートレンズ
48により平行光束として二次元イメージセンサ43に導か
れる。二次元イメージセンサ43はTVモニター44に接続
されている。
Each of the reflected light beams P3 and P4 passes through the original optical path and is guided to the beam splitter 22. In the beam splitter 22, the two reflected light beams P3 and P4 are plane waves whose wavefront shapes are substantially flat. The reflected light flux P4 is reflected by the reflecting surface 24 of the beam splitter 22, passes through the imaging lens 46, forms an image on the confocal stop 47, and forms a collimating lens.
The light is guided by the 48 to the two-dimensional image sensor 43 as a parallel light beam. The two-dimensional image sensor 43 is connected to a TV monitor 44.

【0045】ところで、TVモニター44に写し出された
干渉縞は、眼底42からの反射光束P4の光量と角膜38か
らの反射光束P3の光量とが著しく異なると、そのコン
トラストが著しく低くなる。というのは、干渉縞のコン
トラストは、互いに干渉される光束同士の光量が等しい
ときに最良となるからである。そこで、この光学系で
は、ビームスプリッタ22の反射面24の反射率を調節して
角膜38からの反射光束P3の光量と眼底42からの反射光
束P4の光量とを略等しくするために、ビームスプリッ
タ22を通過するレーザー光の透過光量に対してビームス
プリッタ22により反射されるレーザー光の反射光量が少
なくなるように設計してある。しかし、生体眼31に個体
差があるため、眼底42からの反射光束P4の光量が個体
差に伴って変わる場合がある。
Incidentally, the contrast of the interference fringes projected on the TV monitor 44 is significantly reduced when the light amount of the reflected light beam P4 from the fundus 42 and the light amount of the reflected light beam P3 from the cornea 38 are significantly different. This is because the contrast of the interference fringes is best when the amounts of light beams that interfere with each other are equal. Therefore, in this optical system, a beam splitter is used to adjust the reflectance of the reflecting surface 24 of the beam splitter 22 so that the light amount of the reflected light beam P3 from the cornea 38 and the light amount of the reflected light beam P4 from the fundus 42 are substantially equal. The laser beam is designed so that the reflected light amount of the laser light reflected by the beam splitter 22 is smaller than the transmitted light amount of the laser light passing through the laser beam. However, since there is an individual difference in the living eye 31, the light amount of the reflected light beam P4 from the fundus may change depending on the individual difference.

【0046】そこで、この実施例にあっては、ビームス
プリッタ22と合焦レンズ29との間に、濃度可変フィルタ
ー45が設けられている。干渉縞のコントラストが低いと
きは、濃度可変フィルター45を回転させて眼底42からの
反射光束P4の光量と角膜38からの反射光束P3の光量
とが略同一となるように調節し、コントラストの良好な
干渉縞が得られるようにする。なお、前房の深さ、水晶
体の厚みを測定する場合、ビームスプリッタ22と合焦レ
ンズ29との間に、高屈折力の光路長変更部材50を挿入
し、平行光束P1と平行光束P2との間の光路長差を短
縮して測定を行う。
Therefore, in this embodiment, a variable density filter 45 is provided between the beam splitter 22 and the focusing lens 29. When the contrast of the interference fringes is low, the density variable filter 45 is rotated to adjust the light amount of the reflected light beam P4 from the fundus 42 and the light amount of the reflected light beam P3 from the cornea 38 so as to be substantially the same. To obtain a good interference fringe. When the depth of the anterior chamber and the thickness of the crystalline lens are measured, a high-refractive-power optical path length changing member 50 is inserted between the beam splitter 22 and the focusing lens 29, and the parallel light flux P1 and the parallel light flux P2 are measured. The measurement is performed while shortening the optical path length difference between.

【0047】ビームスプリッタ22とコリメートレンズ21
との間には、ハーフミラー60が設けられている。ハーフ
ミラー60は視度調節光学系61の一部を構成している。こ
の視度調節光学系61は視度調節光源62、レンズ63、全反
射ミラー64、シャッター65を有する。ハーフミラー60は
コリメートレンズ21とビームスプリッタ22との間の光路
に挿入離脱可能で、視度調節時にのみこの光路に挿入さ
れるようにされ、半導体レーザー光の有効利用が図られ
ている。シャッター65はビームスプリッタ22と光路長変
更部材25との間の光路に挿入離脱可能に設けられ、視度
調節時にのみこの光路に挿入される。
The beam splitter 22 and the collimating lens 21
Between them, a half mirror 60 is provided. The half mirror 60 constitutes a part of the diopter adjusting optical system 61. The diopter adjusting optical system 61 includes a diopter adjusting light source 62, a lens 63, a total reflection mirror 64, and a shutter 65. The half mirror 60 can be inserted into and removed from the optical path between the collimator lens 21 and the beam splitter 22, and is inserted into this optical path only when diopter is adjusted, so that semiconductor laser light is effectively used. The shutter 65 is provided in the optical path between the beam splitter 22 and the optical path length changing member 25 so as to be insertable and detachable, and is inserted into this optical path only at the time of diopter adjustment.

【0048】視度調節用光源62から出射された光束は、
レンズ63により平行光束とされ、全反射ミラー64により
反射されハーフミラー60に導かれ、このハーフミラー60
により反射されてビームスプリッタ22に導かれる。その
平行光束はビームスプリッタ22の反射面24により分割さ
れるが、反射面24により反射された光束はシャッター65
により遮光される。反射面24を通過した光束は、半導体
レーザー20から出射された光束と同様の光路を辿って眼
底42に投影される。眼底42により反射された光束は反射
光束P4と同様に元の光路を辿ってビームスプリッタ22
に導かれ、その反射面24によって反射され、結像レンズ
46を通り、コンフォーカル絞り47に結像し、コリメート
レンズ48aにより平行光束とされ、更に結像レンズ48bに
より二次元イメージセンサ43に結像される。結像レンズ
48bは、コリメートレンズ48aと二次元イメージセンサ43
との間の光路に挿入離脱可能に設けられ、視度調節時に
この光路に挿入し、測定時にはこの光路から退避するよ
うに構成される。従って、二次元イメージセンサ43に結
像された眼底42からの反射スポット像が鮮明となるよう
に合焦レンズ29を移動させることにより視度調節を行
う。
The luminous flux emitted from the diopter adjusting light source 62 is
The light is converted into a parallel light beam by the lens 63, reflected by the total reflection mirror 64, and guided to the half mirror 60.
And is guided to the beam splitter 22. The parallel light beam is split by the reflecting surface 24 of the beam splitter 22, but the light beam reflected by the reflecting surface 24 is
Is shielded from light. The light beam that has passed through the reflecting surface 24 is projected onto the fundus 42 along the same optical path as the light beam emitted from the semiconductor laser 20. The light beam reflected by the fundus 42 follows the original optical path in the same manner as the reflected light beam P4, and the beam splitter 22
And is reflected by its reflecting surface 24 to form an imaging lens.
The light passes through 46, forms an image on a confocal stop 47, is converted into a parallel light beam by a collimating lens 48a, and is further formed on a two-dimensional image sensor 43 by an imaging lens 48b. Imaging lens
48b is a collimating lens 48a and a two-dimensional image sensor 43
Are provided so as to be able to be inserted into and removed from the optical path between them, and are inserted into this optical path during diopter adjustment, and are retracted from this optical path during measurement. Therefore, the diopter is adjusted by moving the focusing lens 29 so that the reflected spot image from the fundus 42 formed on the two-dimensional image sensor 43 becomes clear.

【0049】なお、この第5実施例による眼内寸法の測
定の詳細は、特願平2−213999号(発明の名称:
生体眼の寸法測定装置:出願日 平成2年8月13日)に
記載されているので、その説明は割愛する。
The details of the measurement of intraocular dimensions according to the fifth embodiment are described in Japanese Patent Application No. 213999/1990 (Title of Invention:
The description is omitted here because it is described in the living eye size measuring device: application date August 13, 1990).

【0050】[0050]

【効果】本発明に係わる被検眼計測装置は、以上説明し
たように構成したので、被検眼の眼内寸法の測定の迅速
化、測定精度のより一層の向上を図ることができる。
The eye measuring apparatus according to the present invention is configured as described above, so that the measurement of the intraocular dimension of the eye to be inspected can be speeded up and the measurement accuracy can be further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 被検眼計測装置の第1実施例を示す光学図で
ある。
FIG. 1 is an optical diagram showing a first embodiment of an eye-to-be-measured measuring apparatus.

【図2】 被検眼計測装置の第2実施例を示す光学図で
ある。
FIG. 2 is an optical diagram showing a second embodiment of the eye-to-be-measured measuring apparatus.

【図3】 被検眼計測装置の第3実施例を示す光学図で
ある。
FIG. 3 is an optical diagram showing a third embodiment of the eye-to-be-measured measuring apparatus;

【図4】 図3に示す光束の反射状態を示す拡大図であ
る。
FIG. 4 is an enlarged view showing a reflection state of the light beam shown in FIG . 3;
You.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

130…レーザーダイオード(測定用光源) 151…固視標光源 152…視度調節用光源 61、158…視度調節用光学系29、135…視度調節用の合焦レンズ 130: laser diode (light source for measurement) 151: light source for fixation target 152: light source for diopter adjustment 61, 158 ... optical system 29, 135 for diopter adjustment 135: focusing lens for diopter adjustment

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被検眼にコヒーレント長の短い光束を投光
する測定用光源を備えた投光光学系を有し、前記被検眼
への投光により得られた干渉縞を観察することにより、
被検眼の第1測定対象面から第2測定対象面までの眼内
寸法を計測する被検眼計測装置において、前記投光光学系中に、該測定用光源とは別に、被検眼の
視度を調節するための視度調節用光源、及び前記投光光
学系中で、視度調節用光源からの光束及び測定用光源か
らの光束が通過する位置に視度調節用レンズを配置し、
該視度調節用光源の発光量が前記測定用光源の発光量よ
りも大きく設定されていることを特徴とする被検眼計測
装置。
A light source having a measuring light source for projecting a light beam having a short coherent length to the eye to be inspected, and observing interference fringes obtained by projecting light to the eye to be inspected.
In an eye measurement apparatus for measuring an intraocular dimension from a first measurement target surface to a second measurement target surface of an eye to be inspected, in the light projection optical system, separately from the measurement light source, an eye of the eye to be inspected is provided.
Diopter adjusting light source for adjusting diopter, and the projection light
The light flux from the diopter adjustment light source and the measurement light source
A diopter adjustment lens is placed at a position where these light beams pass,
An eye measurement device for an eye to be examined, wherein the light emission amount of the diopter adjustment light source is set to be larger than the light emission amount of the measurement light source.
【請求項2】 前記測定用光源と前記視度調節用光源と
の光量制御を行う光量制御手段が設けられている請求項
に記載の被検眼計測装置。
2. A light amount control means for controlling light amounts of the measurement light source and the diopter adjustment light source is provided.
2. The eye measurement apparatus according to claim 1.
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