JP3207764U - Polarizing microscope - Google Patents
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Abstract
【課題】構造が簡略化された偏光顕微鏡を提供する。【解決手段】偏光子７は、可視光源３から試料までの光路上に配置され、可視光源３からの光を透過させることにより、偏光面が第１の方向に沿った直線偏光を生成する。検光子８は、試料に照射された後の光の光路上に配置され、偏光面が第２の方向に沿った直線偏光を透過させる。回転機構９は、検光子８を回転移動させることにより、第１の方向及び第２の方向が直交する直交状態と、第１の方向及び第２の方向が平行に延びる平行状態と、光路上に検光子８がない退避状態との間で遷移させることができる。【選択図】 図１A polarizing microscope having a simplified structure is provided. A polarizer is disposed on an optical path from a visible light source to a sample, and transmits light from the visible light source to generate linearly polarized light having a polarization plane along a first direction. The analyzer 8 is disposed on the optical path of the light after irradiating the sample, and transmits the linearly polarized light whose polarization plane is along the second direction. The rotation mechanism 9 rotates and moves the analyzer 8 so that the first direction and the second direction are orthogonal to each other, and the first direction and the second direction are parallel to each other. Transition to a retracted state where the analyzer 8 is not present. [Selection] Figure 1
Description
本考案は、偏光子及び検光子を備えた偏光顕微鏡に関するものである。 The present invention relates to a polarizing microscope including a polarizer and an analyzer.
試料表面を観察するための光学顕微鏡の中には、偏光子及び検光子が設けられることにより偏光顕微鏡として機能するものがある（例えば、下記特許文献１参照）。偏光顕微鏡では、可視光源から照射される可視光が偏光子に入射し、偏光子を透過することにより直線偏光が生成される。そして、偏光子を透過した直線偏光が試料に照射され、試料からの光（透過光又は反射光）が検光子を透過してカメラに入射する。 Some optical microscopes for observing the sample surface function as a polarizing microscope by providing a polarizer and an analyzer (see, for example, Patent Document 1 below). In a polarizing microscope, visible light irradiated from a visible light source enters a polarizer, and linearly polarized light is generated by passing through the polarizer. Then, the linearly polarized light transmitted through the polarizer is irradiated onto the sample, and light (transmitted light or reflected light) from the sample passes through the analyzer and enters the camera.
偏光顕微鏡は、検光子を回転させる回転機構と、検光子及び回転機構をスライドさせるスライド機構とを備えている。検光子は、回転機構により回転されることで、偏光子に対する相対的な角度が変化する。これにより、試料からの光のうち検光子を透過してカメラに入射する光が変化するため、その変化をカメラで撮影することにより偏光像を観察することができる。 The polarization microscope includes a rotation mechanism that rotates the analyzer and a slide mechanism that slides the analyzer and the rotation mechanism. When the analyzer is rotated by a rotation mechanism, the relative angle with respect to the polarizer changes. Thereby, since the light which permeate | transmits an analyzer and enters a camera among the lights from a sample changes, a polarization image can be observed by image | photographing the change with a camera.
一方、スライド機構により検光子及び回転機構をスライドさせ、検光子を光路上から退避させた場合には、試料からの光が検光子を透過せずにカメラに直接入射する。この場合、試料からの可視光をカメラで撮影することにより光学像を観察することができる。 On the other hand, when the analyzer and the rotation mechanism are slid by the slide mechanism and the analyzer is retracted from the optical path, the light from the sample is directly incident on the camera without passing through the analyzer. In this case, an optical image can be observed by photographing visible light from the sample with a camera.
しかしながら、上記のような従来の偏光顕微鏡では、回転機構及びスライド機構の両方を設ける必要がある。したがって、電動の場合には、回転機構及びスライド機構のそれぞれにモータなどの動力源を設けなければならず、手動の場合には、作業者が把持して動作させるための把持部を複数設けなければならない。そのため、構造が複雑になるという問題があった。 However, in the conventional polarizing microscope as described above, it is necessary to provide both a rotation mechanism and a slide mechanism. Therefore, in the case of electric operation, a power source such as a motor must be provided for each of the rotation mechanism and the slide mechanism, and in the case of manual operation, a plurality of grip portions for the operator to grip and operate must be provided. I must. Therefore, there has been a problem that the structure becomes complicated.
本考案は、上記実情に鑑みてなされたものであり、構造が簡略化された偏光顕微鏡を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a polarization microscope having a simplified structure.
（１）本考案に係る偏光顕微鏡は、光源と、偏光子と、検光子と、移動機構とを備える。前記光源は、試料に向けて光を照射する。前記偏光子は、前記光源から試料までの光路上に配置され、前記光源からの光を透過させることにより、偏光面が第１の方向に沿った直線偏光を生成する。前記検光子は、試料に照射された後の光の光路上に配置され、偏光面が第２の方向に沿った直線偏光を透過させる。前記移動機構は、前記偏光子及び前記検光子を相対的に移動させることにより、前記第１の方向及び前記第２の方向が直交する直交状態と、前記第１の方向及び前記第２の方向が平行に延びる平行状態と、光路上に前記偏光子又は前記検光子がない退避状態との間で遷移させることができる。 (1) A polarizing microscope according to the present invention includes a light source, a polarizer, an analyzer, and a moving mechanism. The light source irradiates light toward the sample. The polarizer is disposed on an optical path from the light source to the sample, and transmits light from the light source to generate linearly polarized light whose polarization plane is in the first direction. The analyzer is disposed on the optical path of the light after irradiating the sample, and transmits the linearly polarized light whose polarization plane is along the second direction. The moving mechanism relatively moves the polarizer and the analyzer, so that the first direction and the second direction are orthogonal to each other, and the first direction and the second direction. Can be transitioned between a parallel state in which the polarizers extend in parallel and a retracted state in which the polarizer or the analyzer is not present on the optical path.
このような構成によれば、偏光子及び検光子を相対的に移動させる１つの移動機構を用いて、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。したがって、直交状態及び平行状態の間で遷移させるための機構と、退避状態に遷移させるための機構とを別々に設ける必要がないため、構造が簡略化された偏光顕微鏡を提供することができる。 According to such a configuration, it is possible to transition between the orthogonal state, the parallel state, and the retracted state by using one moving mechanism that relatively moves the polarizer and the analyzer. Therefore, it is not necessary to separately provide a mechanism for making a transition between the orthogonal state and the parallel state and a mechanism for making a transition to the retracted state, so that a polarizing microscope with a simplified structure can be provided.
（２）前記移動機構は、回転軸線を中心にして前記偏光子又は前記検光子を回転移動させてもよい。 (2) The moving mechanism may rotate the polarizer or the analyzer about the rotation axis.
このような構成によれば、偏光子又は検光子の回転角を調整するだけの簡単な機構で、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。 According to such a configuration, it is possible to transit between the orthogonal state, the parallel state, and the retracted state by a simple mechanism that only adjusts the rotation angle of the polarizer or the analyzer.
（３）前記回転軸線が、前記偏光子又は前記検光子の重心を通っていてもよい。 (3) The rotation axis may pass through the center of gravity of the polarizer or the analyzer.
このような構成によれば、回転移動される偏光子又は検光子の回転軸線が偏心していないため、偏光子又は検光子が重力で回転することを防止できる。したがって、偏光子又は検光子が重力で回転することを阻止するためのストッパ又はブレーキなどを設ける必要がないため、さらに構造を簡略化することができる。 According to such a configuration, since the rotation axis of the rotationally moved polarizer or analyzer is not decentered, the polarizer or analyzer can be prevented from rotating due to gravity. Therefore, it is not necessary to provide a stopper or a brake for preventing the polarizer or the analyzer from rotating due to gravity, so that the structure can be further simplified.
（４）前記偏光子又は前記検光子は、前記回転軸線を中心として９０°以上かつ３６０°未満の回転角で回転することにより、前記直交状態、前記平行状態及び前記退避状態の間で遷移してもよい。 (4) The polarizer or the analyzer transitions between the orthogonal state, the parallel state, and the retracted state by rotating at a rotation angle of 90 ° or more and less than 360 ° about the rotation axis. May be.
このような構成によれば、回転軸線を中心として９０°以上かつ３６０°未満の範囲で偏光子又は検光子の回転角を調整するだけで、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。直交状態と平行状態との間は９０°の回転角で遷移させることができるため、それ以上の回転角まで偏光子又は検光子を回転させることにより、退避状態まで遷移させることができる。 According to such a configuration, the transition is made between the orthogonal state, the parallel state, and the retracted state only by adjusting the rotation angle of the polarizer or the analyzer within the range of 90 ° or more and less than 360 ° around the rotation axis. be able to. Since the transition between the orthogonal state and the parallel state can be performed at a rotation angle of 90 °, the polarizer or the analyzer can be shifted to a retraction state by rotating the polarizer or the analyzer to a rotation angle larger than that.
（５）前記偏光子又は前記検光子は、円板の一部に切欠きを有する形状であり、前記切欠きが光路上に位置しているときに前記退避状態となってもよい。 (5) The polarizer or the analyzer may have a shape having a notch in a part of a disk, and may be in the retracted state when the notch is positioned on the optical path.
このような構成によれば、円板の一部に切欠きを有する形状で偏光子又は検光子を形成するだけの簡単な構成により、その切欠きの部分を用いて退避状態に遷移させることができる。 According to such a configuration, a simple configuration in which a polarizer or an analyzer is formed in a shape having a notch in a part of a disc can be used to make a transition to a retracted state using the notched portion. it can.
（６）前記光源は、試料に向けて可視光を照射する可視光源と、試料に向けて赤外光を照射する赤外光源とを含んでいてもよい。この場合、前記偏光子及び前記検光子は、前記可視光源から照射される可視光の光路上に配置されてもよい。 (6) The light source may include a visible light source that emits visible light toward the sample and an infrared light source that emits infrared light toward the sample. In this case, the polarizer and the analyzer may be disposed on an optical path of visible light emitted from the visible light source.
このような構成によれば、赤外顕微鏡における可視光を用いた観察時に、移動機構を用いて偏光子及び検光子を相対的に移動させるだけで、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。 According to such a configuration, at the time of observation using visible light in an infrared microscope, the polarizer and the analyzer are simply moved relative to each other using the moving mechanism, so that the state is between the orthogonal state, the parallel state, and the retracted state. Transition can be made.
（７）前記偏光子及び前記検光子は、前記赤外光源から照射される赤外光の光路上に配置されてもよい。 (7) The polarizer and the analyzer may be disposed on an optical path of infrared light emitted from the infrared light source.
このような構成によれば、赤外顕微鏡における赤外光を用いた観察時に、移動機構を用いて偏光子及び検光子を相対的に移動させるだけで、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。 According to such a configuration, at the time of observation using infrared light in an infrared microscope, the polarizer and the analyzer are simply moved relatively by using the moving mechanism, so that the orthogonal state, the parallel state, and the retracted state can be changed. You can make a transition with.
本考案によれば、直交状態及び平行状態の間で遷移させるための機構と、退避状態に遷移させるための機構とを別々に設ける必要がないため、構造が簡略化された偏光顕微鏡を提供することができる。 According to the present invention, there is no need to separately provide a mechanism for making a transition between the orthogonal state and the parallel state and a mechanism for making a transition to the retracted state, and thus a polarization microscope with a simplified structure is provided. be able to.
１．赤外顕微鏡の構成
図１は、本考案の一実施形態に係る偏光顕微鏡として機能する赤外顕微鏡１００の構成例を示した概略図である。この赤外顕微鏡１００は、試料に対して赤外光及び可視光を照射することができる。赤外顕微鏡１００には、試料ステージ１、赤外光源２、可視光源３、検出器４、カメラ５、ビームスプリッタ６及びカセグレン鏡２００などが備えられている。
1. Configuration of Infrared Microscope FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of an
試料ステージ１には、分析対象となる試料が載置される。試料ステージ１は、例えば水平方向（ＸＹ方向）及び鉛直方向（Ｚ方向）に移動可能な構成となっている。本実施形態では、試料ステージ１を挟んで上方及び下方に１対のカセグレン鏡２００が設置されている。
On the sample stage 1, a sample to be analyzed is placed. For example, the sample stage 1 is configured to be movable in the horizontal direction (XY direction) and the vertical direction (Z direction). In the present embodiment, a pair of Cassegrain
試料ステージ１に対して上方に設置されたカセグレン鏡２００（上カセグレン鏡２００Ａ）、及び、試料ステージ１に対して下方に設置されたカセグレン鏡２００（下カセグレン鏡２００Ｂ）は、それぞれ同一の構成を有しているが、設置される向きが異なっている。上カセグレン鏡２００Ａ及び下カセグレン鏡２００Ｂは、それぞれの軸線が鉛直方向に延びるように同軸上に配置される。
The Cassegrain mirror 200 (upper Cassegrain mirror 200A) installed above the sample stage 1 and the Cassegrain mirror 200 (lower Cassegrain
赤外光源２は、ＦＴＩＲ（フーリエ変換赤外分光光度計）により構成されており、図示しない固定鏡及び移動鏡を用いて、赤外光の干渉波を発生させることができる。赤外光源２から出射した赤外光は、カセグレン鏡２００を介して試料ステージ１上に照射される。反射測定を行う際には、赤外光源２から出射した赤外光が、反射ミラー２１，２２，２３，２４，２５，２６，２７で順次反射した後、上カセグレン鏡２００Ａ内に上方から導入される。
The
反射ミラー２５は、例えば反射面が放物面からなる放物面鏡により構成されており、平行光として反射ミラー２５に入射した赤外光は、当該反射ミラー２５で反射することにより集光される。反射ミラー２５は、図１に破線で示すように、回転することにより反射面の角度を変更することができる。透過測定を行う際には、反射ミラー２５の角度が変更されることにより、赤外光源２から出射した赤外光が、反射ミラー２１，２２，２３，２４で順次反射した後、反射ミラー２５，２８，２９で順次反射し、下カセグレン鏡２００Ｂ内に下方から導入される。
The reflecting
可視光源３は、試料観察用の可視光（例えば白色）を出射し、カセグレン鏡２００を介して試料ステージ１上に照射される。可視光源３から出射する可視光は、赤外光の光路と大部分が共通する光路を通ってカセグレン鏡２００に導かれる。上記反射ミラー２４は、例えばビームスプリッタにより構成されており、可視光源３から出射した可視光は、当該反射ミラー２４を透過して、赤外光と共通する光路上に導かれる。反射ミラー２４を透過した可視光は、赤外光源２から出射する赤外光と同様に、反射ミラー２５，２６，２７を介して上カセグレン鏡２００Ａ内に上方から導入することもできるし、反射ミラー２５，２８，２９を介して下カセグレン鏡２００Ｂ内に下方から導入することもできる。
The visible
カセグレン鏡２００には、例えば主鏡２０１及び副鏡２０２が備えられている。主鏡２０１は、球面状の凹面からなる反射面を有している。一方、副鏡２０２は、球面状の凸面からなる反射面を有している。副鏡２０２の反射面は、主鏡２０１の反射面よりも小径である。主鏡２０１及び副鏡２０２は、それぞれの反射面の中心が同一の軸線上に位置するように取り付けられている。より具体的には、主鏡２０１の反射面に対して、副鏡２０２の反射面が間隔を隔てて対向している。
The
赤外光及び可視光は、副鏡２０２の反射面で反射した後、主鏡２０１の反射面で反射する。このとき、主鏡２０１の反射面で反射した光は、その一部が副鏡２０２により遮蔽されることとなるが、他の光は副鏡２０２の側方から出射し、測定位置Ｐに集光される。
Infrared light and visible light are reflected by the reflecting surface of the
反射測定が行われる際には、上カセグレン鏡２００Ａ内に導入された赤外光及び可視光が、副鏡２０２及び主鏡２０１で順次反射した後、試料ステージ１上の測定位置Ｐに上方から集光される。測定位置Ｐに載置された試料からの反射光は、上カセグレン鏡２００Ａ内に再び入射し、主鏡２０１及び副鏡２０２で順次反射した後、上カセグレン鏡２００Ａから上方に出射する。
When reflection measurement is performed, infrared light and visible light introduced into the upper Cassegrain mirror 200A are sequentially reflected by the
一方、透過測定が行われる際には、下カセグレン鏡２００Ｂ内に導入された赤外光及び可視光が、副鏡２０２及び主鏡２０１で順次反射した後、試料ステージ１上の測定位置Ｐに下方から集光される。そして、測定位置Ｐに載置された試料からの透過光が、上カセグレン鏡２００Ａ内に入射する。上カセグレン鏡２００Ａ内に入射した光は、主鏡２０１及び副鏡２０２で順次反射した後、上カセグレン鏡２００Ａから上方に出射する。
On the other hand, when transmission measurement is performed, infrared light and visible light introduced into the
上カセグレン鏡２００Ａから上方に出射した試料からの光（反射光又は透過光）は、ビームスプリッタ６に導かれる。このビームスプリッタ６は、可視光又は赤外光の一方を透過し、他方を反射させる。本実施形態では、ビームスプリッタ６が可視光を透過し、赤外光を反射させるような構成について説明するが、ビームスプリッタ６が赤外光を透過し、可視光を反射させるような構成であってもよい。 Light (reflected light or transmitted light) from the sample emitted upward from the upper Cassegrain mirror 200A is guided to the beam splitter 6. The beam splitter 6 transmits one of visible light and infrared light and reflects the other. In the present embodiment, a configuration in which the beam splitter 6 transmits visible light and reflects infrared light will be described. However, the beam splitter 6 transmits infrared light and reflects visible light. May be.
試料に照射され、試料で反射又は透過した赤外光は、ビームスプリッタ６で反射した後、反射ミラー３０で反射して検出器４に入射する。これにより、検出器４から検出信号が出力され、当該検出信号に基づいて試料の反射測定又は透過測定を行うことができる。一方、試料に照射され、試料で反射又は透過した可視光は、ビームスプリッタ６を透過した後、反射ミラー３１で反射してカメラ５に入射する。これにより、可視光によって照明された画像をカメラ５で撮像し、その画像を確認することができる。
The infrared light irradiated to the sample and reflected or transmitted by the sample is reflected by the beam splitter 6, then reflected by the
本実施形態では、可視光源３から照射される可視光の光路上に、偏光子７及び検光子８が配置されている。偏光子７は、可視光源３から試料までの光路上に配置されており、検光子８は、試料に照射された後の可視光の光路上に配置されている。偏光子７及び検光子８は、いずれも可視光のみの光路上に配置されており、赤外光の光路上には位置しないように配置されている。
In the present embodiment, a
偏光子７は、可視光源３からの可視光を透過させることにより、偏光面が第１の方向に沿った直線偏光を生成する。すなわち、偏光子７に入射する可視光のうち、第１の方向に沿って振動する光のみが偏光子７を透過し、直線偏光として試料に照射される。偏光子７は、可視光源３からの可視光の光軸に対して直交するように配置されている。試料に照射された直線偏光は、試料で反射又は透過することにより振動方向が不規則となり、その後に検光子８に入射する。
The
検光子８は、偏光面が第２の方向に沿った直線偏光を透過させる。すなわち、試料からの反射光又は透過光のうち、第２の方向に沿って振動する光のみが検光子８を透過し、直線偏光としてカメラ５に入射する。検光子８は、試料からの反射光又は透過光の光軸に対して直交するように配置されている。
The
本実施形態では、検光子８が、当該検光子８に対して直交する回転軸線Ａを中心に回転可能に保持されている。回転軸線Ａは、検光子８に入射する試料からの反射光又は透過光の光軸に対して平行に延びている。検光子８は、例えばモータなどの駆動源を含む回転機構（移動機構）９により、回転軸線Ａを中心に回転駆動される。
In the present embodiment, the
回転機構９を用いて回転軸線Ａを中心に検光子８を回転させることにより、偏光子７に対する検光子８の相対的な回転角を変化させ、カメラ５に入射する試料からの反射光又は透過光を変化させることができる。このようにしてカメラ５で撮像される画像を変化させることにより、試料の偏光特性を観察することができる。
By rotating the
２．検光子の回転移動
図２Ａ〜図２Ｃは、検光子８を回転させたときの直線偏光の方向の変化について説明するための概略図である。本実施形態では、検光子８は、円板８１の一部に切欠き８２を有する形状で形成されている。検光子８の回転軸線Ａは、例えば円板８１の中心に位置しており、当該回転軸線Ａを中心とする一定の角度範囲θの部分に切欠き８２が形成されている。
2. 2A to 2C are schematic diagrams for explaining a change in the direction of linearly polarized light when the
この例では、上記角度範囲θが９０°となっているが、これに限られるものではない。上記角度範囲θは、１８０°未満であることが好ましく、９０°以上かつ１８０°未満であればより好ましい。すなわち、切欠き８２を除く検光子８の部分は、回転軸線Ａを中心として１８０°以上かつ３６０°未満であることが好ましく、１８０°以上かつ２７０°未満であればより好ましい。
In this example, the angle range θ is 90 °, but the present invention is not limited to this. The angle range θ is preferably less than 180 °, more preferably 90 ° or more and less than 180 °. That is, the portion of the
測定位置Ｐに試料が載置されていない状態では、検光子８に入射する光Ｌは、第１の方向Ｄ１に沿った直線偏光となる。光Ｌの通過位置は、回転軸線Ａを中心に回転する検光子８（円板８１）の軌道上に位置するとともに、切欠き８２の軌道上にも位置している。したがって、回転軸線Ａを中心に検光子８を回転させることにより、検光子８を透過する光の振動方向である第２の方向Ｄ２を第１の方向Ｄ１に対して相対的に変化させることができるとともに、光Ｌが切欠き８２を通過する状態とすることもできる。
In a state where the sample is not placed at the measurement position P, the light L incident on the
図２Ａの状態は、第１の方向Ｄ１と第２の方向Ｄ２とが直交する直交状態である。この状態はクロスニコルと呼ばれており、第１の方向Ｄ１に沿った直線偏光である光Ｌは、検光子８を透過することができない。一方、図２Ｂの状態は、第１の方向Ｄ１と第２の方向Ｄ２とが平行に延びる平行状態である。この状態では、第１の方向Ｄ１に沿った直線偏光である光Ｌは、そのまま検光子８を透過することができる。
The state of FIG. 2A is an orthogonal state in which the first direction D1 and the second direction D2 are orthogonal. This state is called crossed Nicol, and the light L that is linearly polarized light along the first direction D1 cannot pass through the
図２Ｃの状態は、光Ｌの光路上に検光子８がない退避状態である。この状態はオープンニコルと呼ばれており、光Ｌの光路上に切欠き８２が位置している。したがって、第１の方向Ｄ１に沿った直線偏光である光Ｌは、検光子８を透過することなく切欠き８２を通過することとなる。
The state shown in FIG. 2C is a retracted state in which the
このように、本実施形態では、回転軸線Ａを中心にして検光子８を回転移動させることにより、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。この例では、図２Ａの直交状態から検光子８を時計回りに９０°回転させることにより、第１の方向Ｄ１と第２の方向Ｄ２との角度を連続的に変化させ、図２Ｂの平行状態に遷移させることができる。また、図２Ｂの状態から検光子８を時計回りにさらに１８０°回転させることにより、図２Ｃの退避状態に遷移させることができる。
As described above, in the present embodiment, the
すなわち、本実施形態では、回転軸線Ｌを中心として２７０°の回転角で検光子８を回転させることにより、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。ただし、上記回転角は２７０°に限られるものではなく、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができるような任意の回転角とすることができる。この場合、上記回転角は、９０°以上かつ３６０°未満であることが好ましく、１８０°以上かつ２７０°以下であることがより好ましい。
That is, in the present embodiment, the
３．検光子の具体的構成例
図３Ａは、検光子８の具体的構成の一例を示した図である。この例では、円板８１に対して９０°の角度範囲で切欠き８２が形成されることにより検光子８が構成されている。検光子８は、第２の方向Ｄ２に沿った直線偏光を透過させる本体８３と、本体８３の外周を保持する保持部８４と備えている。
3. Specific Configuration Example of Analyzer FIG. 3A is a diagram illustrating an example of a specific configuration of the
保持部８４は、中空の円形状に形成された外枠８４１と、切欠き８２に沿って形成されたリブ８４２とが一体的に形成された構成を有している。保持部８４は、例えば樹脂又は金属などにより形成されている。保持部８４は、フィルム状の本体８３よりも厚みが大きい部材であり、単位面積当たりの重さが本体８３よりも重い。そのため、検光子８の重心は円板８１の中心からずれており、本実施形態では、回転軸線Ａが検光子８の重心を通るように配置されている。
The holding
図３Ｂは、検光子８の具体的構成の他の例を示した図である。この例では、円板８１に対して１８０°の角度範囲で切欠き８２が形成されることにより半円板状の検光子８が構成されている。検光子８は、第２の方向Ｄ２に沿った直線偏光を透過させる本体８５と、本体８５の外周を保持する保持部８６と備えている。
FIG. 3B is a diagram showing another example of the specific configuration of the
保持部８６は、中空の半円形状に形成されている。保持部８６は、例えば樹脂又は金属などにより形成されている。保持部８６は、フィルム状の本体８５よりも厚みが大きい部材であり、単位面積当たりの重さが本体８５よりも重い。そのため、検光子８の重心は円板８１の中心からずれており、本実施形態では、回転軸線Ａが検光子８の重心を通るように配置されている。
The holding
４．作用効果
（１）本実施形態では、偏光子７及び検光子８を相対的に移動させる１つの移動機構（回転機構９）を用いて、図２Ａ〜図２Ｃに示すように、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。したがって、直交状態及び平行状態の間で遷移させるための機構と、退避状態に遷移させるための機構とを別々に設ける必要がないため、構造が簡略化された赤外顕微鏡１００を提供することができる。
4). Operational Effect (1) In this embodiment, as shown in FIGS. 2A to 2C, a single moving mechanism (rotating mechanism 9) that relatively moves the
（２）特に、移動機構が、回転軸線Ａを中心にして検光子８を回転移動させる回転機構９により構成されているため、検光子８の回転角を調整するだけの簡単な機構で、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。
(2) In particular, since the moving mechanism is constituted by the rotating mechanism 9 that rotates and moves the
（３）また、図３Ａ又は図３Ｂに例示されるように、回転軸線Ａが検光子８の重心を通っているような構成であれば、回転移動される検光子８の回転軸線Ａが偏心していないため、検光子８が重力で回転することを防止できる。したがって、検光子８が重力で回転することを阻止するためのストッパ又はブレーキなどを設ける必要がないため、さらに構造を簡略化することができる。このような効果は、回転軸線Ａが鉛直方向に対して交差する方向（例えば水平方向）に延びている場合に特に顕著となる。
(3) Further, as illustrated in FIG. 3A or FIG. 3B, if the rotation axis A passes through the center of gravity of the
（４）また、本実施形態では、回転軸線Ａを中心として９０°以上かつ３６０°未満の範囲（例えば２７０°）で検光子８の回転角を調整するだけで、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。直交状態と平行状態との間は９０°の回転角で遷移させることができるため、それ以上の回転角まで検光子８を回転させることにより、退避状態まで遷移させることができる。
(4) In this embodiment, the orthogonal state, the parallel state, and the retracted state can be obtained simply by adjusting the rotation angle of the
（５）さらに、本実施形態では、図３Ａ又は図３Ｂに例示されるように、円板８１の一部に切欠き８２を有する形状で検光子８を形成するだけの簡単な構成により、その切欠き８２の部分を用いて退避状態に遷移させることができる。
(5) Furthermore, in this embodiment, as illustrated in FIG. 3A or FIG. 3B, the simple structure of simply forming the
５．変形例
（１）上記実施形態では、検光子８が可視光源３から照射される可視光の光路上に配置された構成について説明した。この場合、赤外顕微鏡１００における可視光を用いた観察時に、移動機構（回転機構９）を用いて偏光子７及び検光子８を相対的に移動させるだけで、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。
5. Modification (1) In the above embodiment, the configuration in which the
しかし、このような構成に限らず、検光子８が赤外光源２から照射される赤外光の光路上に配置された構成であってもよい。この場合、赤外顕微鏡１００における赤外光を用いた観察時に、移動機構を用いて偏光子及び検光子を相対的に移動させるだけで、直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させることができる。
However, the configuration is not limited to this, and the configuration may be such that the
（２）上記実施形態では、回転軸線Ａを中心にして検光子８を回転移動させるような構成について説明した。しかし、このような構成に限らず、偏光子７に直交する回転軸線を中心にして、偏光子７を回転移動させるような構成であってもよい。また、偏光子７及び検光子８を相対的に移動させるような構成であれば、偏光子７及び検光子８の両方を回転移動させるような構成であってもよいし、偏光子７及び検光子８の少なくとも一方をスライドなどの回転以外の態様で移動させるような構成であってもよい。
(2) In the above embodiment, the configuration in which the
（３）偏光子７又は検光子８を直交状態、平行状態及び退避状態の間で遷移させる移動機構は、回転機構９のようにモータなどの駆動源を含む構成に限らず、手動式のものであってもよい。この場合、作業者が把持して偏光子７又は検光子８を移動させるためのレバーが移動機構に設けられていてもよい。
(3) The moving mechanism that shifts the
（４）以上の実施形態では、本考案が赤外顕微鏡１００に適用される場合について説明した。しかし、本考案は、赤外顕微鏡１００に限らず、赤外光源２を備えていない偏光顕微鏡にも適用可能である。
(4) In the above embodiment, the case where this invention was applied to the
１ 試料ステージ
２ 赤外光源
３ 可視光源
４ 検出器
５ カメラ
６ ビームスプリッタ
７ 偏光子
８ 検光子
９ 回転機構
８１ 円板
８２ 切欠き
８３ 本体
８４ 保持部
８５ 本体
８６ 保持部
１００ 赤外顕微鏡
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (7)
前記光源から試料までの光路上に配置され、前記光源からの光を透過させることにより、偏光面が第１の方向に沿った直線偏光を生成する偏光子と、
試料に照射された後の光の光路上に配置され、偏光面が第２の方向に沿った直線偏光を透過させる検光子と、
前記偏光子及び前記検光子を相対的に移動させることにより、前記第１の方向及び前記第２の方向が直交する直交状態と、前記第１の方向及び前記第２の方向が平行に延びる平行状態と、光路上に前記偏光子又は前記検光子がない退避状態との間で遷移させることができる移動機構とを備えることを特徴とする偏光顕微鏡。 A light source that emits light toward the sample;
A polarizer disposed on an optical path from the light source to the sample and transmitting linearly polarized light along a first direction by transmitting light from the light source; and
An analyzer that is disposed on the optical path of the light after being irradiated on the sample, and whose plane of polarization transmits linearly polarized light along the second direction;
By moving the polarizer and the analyzer relatively, the orthogonal state in which the first direction and the second direction are orthogonal to each other, and the parallel in which the first direction and the second direction extend in parallel. A polarization microscope comprising: a moving mechanism capable of transitioning between a state and a retracted state where the polarizer or the analyzer is not present on an optical path.
前記偏光子及び前記検光子は、前記可視光源から照射される可視光の光路上に配置されることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の偏光顕微鏡。 The light source includes a visible light source that irradiates visible light toward the sample, and an infrared light source that irradiates infrared light toward the sample,
The polarizing microscope according to claim 1, wherein the polarizer and the analyzer are arranged on an optical path of visible light emitted from the visible light source.
前記偏光子及び前記検光子は、前記赤外光源から照射される赤外光の光路上に配置されることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の偏光顕微鏡。 The light source includes a visible light source that irradiates visible light toward the sample, and an infrared light source that irradiates infrared light toward the sample,
The polarizing microscope according to claim 1, wherein the polarizer and the analyzer are disposed on an optical path of infrared light emitted from the infrared light source.
Priority Applications (1)
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| JP2016004556U JP3207764U (en) | 2016-09-16 | 2016-09-16 | Polarizing microscope |
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| JP (1) | JP3207764U (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023162425A1 (en) * | 2022-02-24 | 2023-08-31 | 国立大学法人東海国立大学機構 | Polarizing microscope, crystal defect evaluation device, and crystal defect evaluation method |
-
2016
- 2016-09-16 JP JP2016004556U patent/JP3207764U/en not_active Ceased
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| WO2023162425A1 (en) * | 2022-02-24 | 2023-08-31 | 国立大学法人東海国立大学機構 | Polarizing microscope, crystal defect evaluation device, and crystal defect evaluation method |
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