JP3203368B2 - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
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- JP3203368B2 JP3203368B2 JP20519890A JP20519890A JP3203368B2 JP 3203368 B2 JP3203368 B2 JP 3203368B2 JP 20519890 A JP20519890 A JP 20519890A JP 20519890 A JP20519890 A JP 20519890A JP 3203368 B2 JP3203368 B2 JP 3203368B2
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、カメラに適用される測光装置に関する。
（従来の技術） 第６図は従来のCdS測光装置の構成図であり、１は測
光手段であるCdS、２はCdS1に直列に接続された第１半
固定抵抗、３は第１半固定抵抗２に並列に接続された第
２半固定抵抗、４はCdS1から出力されるアナログ出力を
デジタル出力に変換するA/D・Ｃ（アナログ／デジタル
・コンバータ）、５はA/D・C4からの出力を受けてカメ
ラの機械系ドライバ６に駆動信号を出力するCPU（中央
演算処理部）である。
光手段であるCdS、２はCdS1に直列に接続された第１半
固定抵抗、３は第１半固定抵抗２に並列に接続された第
２半固定抵抗、４はCdS1から出力されるアナログ出力を
デジタル出力に変換するA/D・Ｃ（アナログ／デジタル
・コンバータ）、５はA/D・C4からの出力を受けてカメ
ラの機械系ドライバ６に駆動信号を出力するCPU（中央
演算処理部）である。
同図において、CdS1は、被写体の輝度によって受光量
が変化することを受けて抵抗値が変化し、よって出力電
圧を変化させるものである。この出力電圧の変化は、A/
D・C4を介してCPU5で被写体輝度変化として演算処理さ
れ、カメラの機械系ドライバ６へ駆動信号として出力さ
れる。
が変化することを受けて抵抗値が変化し、よって出力電
圧を変化させるものである。この出力電圧の変化は、A/
D・C4を介してCPU5で被写体輝度変化として演算処理さ
れ、カメラの機械系ドライバ６へ駆動信号として出力さ
れる。
しかし前記CdS1の出力特性は素子ごとでバラツキが大
きく、このバラツキを補正する必要がある。上記の従来
装置では、第１半固定抵抗２によりCdS1の抵抗値の補正
を行い、また第２半固定抵抗３によりCdS1の特性値であ
るγ値の補正を行っている。
きく、このバラツキを補正する必要がある。上記の従来
装置では、第１半固定抵抗２によりCdS1の抵抗値の補正
を行い、また第２半固定抵抗３によりCdS1の特性値であ
るγ値の補正を行っている。
ところが上述した補正方法では、一方の抵抗の調整が
他の抵抗の調整に影響を与えるため、第１半固定抵抗２
と第２半固定抵抗３との調整を交互に繰り返して全体的
な調整を行っている。具体的には、作業者が回路出力値
を指示器によって読み取り、目標とする値まで半固定抵
抗の調節を行っており、この調節作業は煩雑で自動化も
難しく、製造コストがかかるという問題があった。
他の抵抗の調整に影響を与えるため、第１半固定抵抗２
と第２半固定抵抗３との調整を交互に繰り返して全体的
な調整を行っている。具体的には、作業者が回路出力値
を指示器によって読み取り、目標とする値まで半固定抵
抗の調節を行っており、この調節作業は煩雑で自動化も
難しく、製造コストがかかるという問題があった。
そこで、特開昭62−25733号公報、特開昭63−97925号
公報に示された補正装置のように、測光データを補正す
るため、A/D・Ｃからの出力値に対する調整値をデジタ
ル値としてEEPROMなどの不揮発性メモリに記憶すること
が知られている。具体的には、測光手段であるSPD（シ
リコン・フォト・ダイオード）の出力を対数圧縮した出
力をアナログ／デジタル変換することにより被写体輝度
と比例したデジタルデータを得ており、このためデジタ
ルデータの補正を一次関数により行え、現在カメラで用
いられているワンチップマイクロコンピュータで対応で
きるため、一対の半固定抵抗を用いる従来の装置に比べ
低コスト化、省スペース化が図れることになる。
公報に示された補正装置のように、測光データを補正す
るため、A/D・Ｃからの出力値に対する調整値をデジタ
ル値としてEEPROMなどの不揮発性メモリに記憶すること
が知られている。具体的には、測光手段であるSPD（シ
リコン・フォト・ダイオード）の出力を対数圧縮した出
力をアナログ／デジタル変換することにより被写体輝度
と比例したデジタルデータを得ており、このためデジタ
ルデータの補正を一次関数により行え、現在カメラで用
いられているワンチップマイクロコンピュータで対応で
きるため、一対の半固定抵抗を用いる従来の装置に比べ
低コスト化、省スペース化が図れることになる。
（発明が解決しようとする課題） しかし、第７図に示すCdS測光装置の構成図のよう
に、第６図と同様に測光手段にCdS1を用いて、予めCdS1
のバラツキを調整値として不揮発性メモリからなる調整
値記録部７に記録しておき、CdS1にある光量が照射され
た時の出力をA/D・C4でデジタル化した後、CPU5で調整
値記録部７から記録されている調整値データを受けてCd
S1の出力を補正するようにすると、CdSの出力を直接ア
ナログ／デジタル変換したデジタルデータは、CdS1での
受光量と対数関係にあるため、一般的なカメラに用いら
れているワンチップマイクロコンピュータでは、補正を
デジタル的に行うことに演算処理の面で対応できないと
いう問題が生じる。
に、第６図と同様に測光手段にCdS1を用いて、予めCdS1
のバラツキを調整値として不揮発性メモリからなる調整
値記録部７に記録しておき、CdS1にある光量が照射され
た時の出力をA/D・C4でデジタル化した後、CPU5で調整
値記録部７から記録されている調整値データを受けてCd
S1の出力を補正するようにすると、CdSの出力を直接ア
ナログ／デジタル変換したデジタルデータは、CdS1での
受光量と対数関係にあるため、一般的なカメラに用いら
れているワンチップマイクロコンピュータでは、補正を
デジタル的に行うことに演算処理の面で対応できないと
いう問題が生じる。
また第７図に示すCdS測光装置のCdS1とバイアス抵抗
８との接続部からの出力Voutは、第８図に示した出力Vo
ut及びガンマ特性値γと、輝度LVとの関係を示す説明図
のように、LVに対するVoutの変化量は、低輝度（０〜4L
V）及び高輝度（12〜16LV）において著しく小さくな
る。ただし第８図において、CdS1の特性は、CdS1の抵抗
をRCとすると、 であり、かつＫ＝535.781、γ＝−0.033×LV＋0.982、
バイアス抵抗８の抵抗値Ｒ＝8KΩである。
８との接続部からの出力Voutは、第８図に示した出力Vo
ut及びガンマ特性値γと、輝度LVとの関係を示す説明図
のように、LVに対するVoutの変化量は、低輝度（０〜4L
V）及び高輝度（12〜16LV）において著しく小さくな
る。ただし第８図において、CdS1の特性は、CdS1の抵抗
をRCとすると、 であり、かつＫ＝535.781、γ＝−0.033×LV＋0.982、
バイアス抵抗８の抵抗値Ｒ＝8KΩである。
上記の第８図の変化を示す出力VoutをA/D・C4でデジ
タル変換して輝度LVを求めようとすると、第９図に示す
ように大きな量子化誤差を生じてしまう。読ただし第９
図において、横軸は出力Voutの０〜1Vを８ビットのA/D
・Ｃで呼んだデジタル値（０〜256）、縦軸はVout値が
１変化した時の輝度変化量である。
タル変換して輝度LVを求めようとすると、第９図に示す
ように大きな量子化誤差を生じてしまう。読ただし第９
図において、横軸は出力Voutの０〜1Vを８ビットのA/D
・Ｃで呼んだデジタル値（０〜256）、縦軸はVout値が
１変化した時の輝度変化量である。
そこで特開平１−114726号公報に示された測光装置の
ように、バイアス抵抗を被写体輝度が高い場合に小さ
く、また被写体輝度が低い場合に大きくすることによ
り、量子化誤差を輝度の高低に係らず小さくしようとす
るものがある。
ように、バイアス抵抗を被写体輝度が高い場合に小さ
く、また被写体輝度が低い場合に大きくすることによ
り、量子化誤差を輝度の高低に係らず小さくしようとす
るものがある。
しかし特開平１−114726号公報の装置は、CdS1のバラ
ツキの補正をデジタル的に行うことに対応したものでは
ない。
ツキの補正をデジタル的に行うことに対応したものでは
ない。
本発明の目的は、測光手段の出力を直接アナログ／デ
ジタル変換したデータに対して容易に補正が加えられ、
かつ広い範囲で精度よく測光ができる測光装置を提供す
ることにある。
ジタル変換したデータに対して容易に補正が加えられ、
かつ広い範囲で精度よく測光ができる測光装置を提供す
ることにある。
（課題を解決するための手段） 上記の目的を達成するため、本発明は、被写体の輝度
に応じて抵抗値が変化する受光素子及び該受光素子に直
列に接続され、かつ前記測光手段の被写体輝度に応じて
選択される抵抗値が異なる複数のバイアス抵抗からなる
測光手段と、前記測光手段の受光素子とバイアス抵抗と
の接続部から出力されるアナログ情報をデジタルデータ
に変換して出力するアナログ／デジタル変換手段と、前
記アナログ／デジタル変換手段からの出力に基づいて測
光データを出力する手段とを備えた測光装置において、
基準となる受光素子と基準となる前記抵抗値の各バイア
ス抵抗とにおける受光量と該受光量に応じたアナログ情
報との関係が、それぞれ基準特性デジタルデータのデー
タテーブルとして予め記録されているデータテーブル手
段と、前記アナログ／デジタル変換手段から出力される
輝度に対応する各デジタルデータにおける前記各基準特
性デジタルデータに対する誤差に基づき各データテーブ
ルごとに調整値が予め設定されて、それらが記憶されて
いる記憶手段と、被写体輝度により前記バイアス抵抗を
選択する選択手段と、前記選択手段により選択されたバ
イアス抵抗に応じて前記データテーブル手段のデータテ
ーブル及び前記記憶手段の調整値を決定するデータ決定
手段と、前記測光手段による測光時に、前記アナログ／
デジタル変換手段から出力されるデジタルデータに対し
て前記データ決定手段により決定されたデータテーブル
と調整値に基づいて補正を行う補正手段とを備えたこと
を特徴とする。
に応じて抵抗値が変化する受光素子及び該受光素子に直
列に接続され、かつ前記測光手段の被写体輝度に応じて
選択される抵抗値が異なる複数のバイアス抵抗からなる
測光手段と、前記測光手段の受光素子とバイアス抵抗と
の接続部から出力されるアナログ情報をデジタルデータ
に変換して出力するアナログ／デジタル変換手段と、前
記アナログ／デジタル変換手段からの出力に基づいて測
光データを出力する手段とを備えた測光装置において、
基準となる受光素子と基準となる前記抵抗値の各バイア
ス抵抗とにおける受光量と該受光量に応じたアナログ情
報との関係が、それぞれ基準特性デジタルデータのデー
タテーブルとして予め記録されているデータテーブル手
段と、前記アナログ／デジタル変換手段から出力される
輝度に対応する各デジタルデータにおける前記各基準特
性デジタルデータに対する誤差に基づき各データテーブ
ルごとに調整値が予め設定されて、それらが記憶されて
いる記憶手段と、被写体輝度により前記バイアス抵抗を
選択する選択手段と、前記選択手段により選択されたバ
イアス抵抗に応じて前記データテーブル手段のデータテ
ーブル及び前記記憶手段の調整値を決定するデータ決定
手段と、前記測光手段による測光時に、前記アナログ／
デジタル変換手段から出力されるデジタルデータに対し
て前記データ決定手段により決定されたデータテーブル
と調整値に基づいて補正を行う補正手段とを備えたこと
を特徴とする。
（作 用） 上記の手段を採用したため、輝度によって測光手段に
おける受光素子に接続されるバイアス抵抗の抵抗値を変
えて特性補正を行い、予め基準となる測光手段における
各バイアス抵抗の抵抗値に対応して演算記録された基準
特性デジタルデータのデータテーブルと、この基準特性
デジタルデータに対する実際の出力特性の誤差に基づき
設定された各バイアス抵抗ごとのデータテーブルの調整
値によって、測光手段の出力をアナログ／デジタル変換
したデジタルデータに対して補正を加える。
おける受光素子に接続されるバイアス抵抗の抵抗値を変
えて特性補正を行い、予め基準となる測光手段における
各バイアス抵抗の抵抗値に対応して演算記録された基準
特性デジタルデータのデータテーブルと、この基準特性
デジタルデータに対する実際の出力特性の誤差に基づき
設定された各バイアス抵抗ごとのデータテーブルの調整
値によって、測光手段の出力をアナログ／デジタル変換
したデジタルデータに対して補正を加える。
（実施例） 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明の一実施例の構成図であり、10は被写
体からの光を受けて被写体輝度に応じたアナログ情報を
出力するCdS、11a,11bはCdS10の一極とそれぞれ直列に
接続された抵抗値RA,RBが異なる一対のバイアス抵抗、1
2はCdS10から出力されるアナログ情報をデジタル情報に
変換して出力するため、CdS10の他極及びCdS10とバイア
ス抵抗11a,11bとの接続部に接続されたA/D・Ｃ（アナロ
グ／デジタル・コンバータ）、13はA/D・C12からのデジ
タルデータを受けて後述するようにカメラの機械系ドラ
イバ14に駆動信号を出力するCPU（中央演算処理部）、1
5はCdS10の被写体輝度に応じたアナログ情報のバイアス
抵抗11a,11bに応じた基準特性がデジタルデータテーブ
ルとして記録（後述する）されたROMなどからなるデー
タテーブル手段、16は予め測定されたCdS10及びA/D・C1
2の出力特性における前記各デジタルデータテーブルの
基準特性デジタルデータに対する誤差に基づいた調整値
（後述する）を記憶するEEPROMなどの不揮発性メモリか
らなる記憶手段、17は記憶手段16に記憶された調整値に
基づいてA/D・C12からデジタル変換されて出力される測
光情報をデータテーブル手段15のデジタルデータテーブ
ルを受けて補正するようにCPU13に設けられた補正手
段、18はバイアス抵抗11a,11bのいずれか一方をCdS10と
接続させるように各バイアス抵抗11a,11bとCPU13との間
に接続されたスイッチングトランジスタTrA,TrBからな
る選択手段、19は選択されたバイアス抵抗11a,11bに対
応するデジタルデータと調整値を決定するデータ決定手
段であり、前記CdS10とバイアス抵抗11a,11bによって測
光手段20が構成されている。
体からの光を受けて被写体輝度に応じたアナログ情報を
出力するCdS、11a,11bはCdS10の一極とそれぞれ直列に
接続された抵抗値RA,RBが異なる一対のバイアス抵抗、1
2はCdS10から出力されるアナログ情報をデジタル情報に
変換して出力するため、CdS10の他極及びCdS10とバイア
ス抵抗11a,11bとの接続部に接続されたA/D・Ｃ（アナロ
グ／デジタル・コンバータ）、13はA/D・C12からのデジ
タルデータを受けて後述するようにカメラの機械系ドラ
イバ14に駆動信号を出力するCPU（中央演算処理部）、1
5はCdS10の被写体輝度に応じたアナログ情報のバイアス
抵抗11a,11bに応じた基準特性がデジタルデータテーブ
ルとして記録（後述する）されたROMなどからなるデー
タテーブル手段、16は予め測定されたCdS10及びA/D・C1
2の出力特性における前記各デジタルデータテーブルの
基準特性デジタルデータに対する誤差に基づいた調整値
（後述する）を記憶するEEPROMなどの不揮発性メモリか
らなる記憶手段、17は記憶手段16に記憶された調整値に
基づいてA/D・C12からデジタル変換されて出力される測
光情報をデータテーブル手段15のデジタルデータテーブ
ルを受けて補正するようにCPU13に設けられた補正手
段、18はバイアス抵抗11a,11bのいずれか一方をCdS10と
接続させるように各バイアス抵抗11a,11bとCPU13との間
に接続されたスイッチングトランジスタTrA,TrBからな
る選択手段、19は選択されたバイアス抵抗11a,11bに対
応するデジタルデータと調整値を決定するデータ決定手
段であり、前記CdS10とバイアス抵抗11a,11bによって測
光手段20が構成されている。
ここで本実施例の測光情報の基本的補正方法の概念に
ついて説明する、 一般にCdSの抵抗Rn+1は、輝度がLVn+1の時、特性値
（ガンマ値）をγとすると、 であり、光量がゼロの時の抵抗値をＫ（定数）とする
と、 となる。ここで、基準となるCdSの抵抗RCを、 とすると、CdSの出力Voutは、バイアス抵抗の抵抗値を
Ｒとすると、RCとＲとの分圧比により、 となる。
ついて説明する、 一般にCdSの抵抗Rn+1は、輝度がLVn+1の時、特性値
（ガンマ値）をγとすると、 であり、光量がゼロの時の抵抗値をＫ（定数）とする
と、 となる。ここで、基準となるCdSの抵抗RCを、 とすると、CdSの出力Voutは、バイアス抵抗の抵抗値を
Ｒとすると、RCとＲとの分圧比により、 となる。
ここで実際に使用されるCdSの抵抗R1を、 とすると、基準となるCdSと実際に使用されるCdS10とが
同一出力である場合、前記（３），（４），（５）式よ
り の関係が成立する。従って（６）式より、 ここでγ0,γの関数が連続の時、（７）式より （８）式のＸが実際に使用されるCdSと、基準となるCdS
との出力のずれ量となる。一般的に（８）式は、 Ｘ＝Ａ（X0＋Ｂ） …（９） と表わされる。ただしＡ値は低輝度時のずれ量ALと高輝
度時のずれ量AHの両者であり、Ｂ値は測光範囲の中心の
光量をCdSに照射した時の実際のずれ量である。
同一出力である場合、前記（３），（４），（５）式よ
り の関係が成立する。従って（６）式より、 ここでγ0,γの関数が連続の時、（７）式より （８）式のＸが実際に使用されるCdSと、基準となるCdS
との出力のずれ量となる。一般的に（８）式は、 Ｘ＝Ａ（X0＋Ｂ） …（９） と表わされる。ただしＡ値は低輝度時のずれ量ALと高輝
度時のずれ量AHの両者であり、Ｂ値は測光範囲の中心の
光量をCdSに照射した時の実際のずれ量である。
従って、本実施例に適用して考えると、CdS10の被写
体輝度（受光量）に応じた（本実施例ではバイアス抵抗
11a,11bの抵抗値RA,RBに対応する）アナログ情報の基準
特性をデジタルデータに変換してデータテーブル手段15
に記録しておき、CdS10及びA/D・C12の出力特性におけ
る前記基準特性のデジタルデータに対する誤差（ずれ
量）を予め調整値（AL,AH,B）として記憶手段16に記憶
させておくことにより、測光情報の補正がなされること
になる。
体輝度（受光量）に応じた（本実施例ではバイアス抵抗
11a,11bの抵抗値RA,RBに対応する）アナログ情報の基準
特性をデジタルデータに変換してデータテーブル手段15
に記録しておき、CdS10及びA/D・C12の出力特性におけ
る前記基準特性のデジタルデータに対する誤差（ずれ
量）を予め調整値（AL,AH,B）として記憶手段16に記憶
させておくことにより、測光情報の補正がなされること
になる。
次に上記の測光情報の補正の説明を分り易くするた
め、まず１個のバイアス抵抗Ｒを用いた例で説明するこ
とにする。
め、まず１個のバイアス抵抗Ｒを用いた例で説明するこ
とにする。
第４図はCdSのアナログ出力の基準特性の一例を示す
説明図であって、測光範囲を輝度（LV）２〜12とし、LV
7を測光中心、LV3を低輝度中心、LV11を高輝度中心と
し、γ＝−0.025×LV＋0.825,K＝573.04,Rcds（CdSのLV
7の抵抗）＝16kΩ、バイアス抵抗Ｒの抵抗値を16kΩと
する。この条件で、例えばCdS10のLV7の時の出力Vout
は、0.5Vとなる。また第４図ではLV0〜16を０〜256の８
ビットで表している。
説明図であって、測光範囲を輝度（LV）２〜12とし、LV
7を測光中心、LV3を低輝度中心、LV11を高輝度中心と
し、γ＝−0.025×LV＋0.825,K＝573.04,Rcds（CdSのLV
7の抵抗）＝16kΩ、バイアス抵抗Ｒの抵抗値を16kΩと
する。この条件で、例えばCdS10のLV7の時の出力Vout
は、0.5Vとなる。また第４図ではLV0〜16を０〜256の８
ビットで表している。
一方、A/D・C12のA/D範囲を、０〜1Vとして０〜256の
８ビットとする。
８ビットとする。
第４図の基準特性の出力Voutと輝度LVとの関係を、８
ビット×256バイトのROMからなるデータテーブル手段15
に表１のようにデジタルデータテーブルに変換して記録
する。
ビット×256バイトのROMからなるデータテーブル手段15
に表１のようにデジタルデータテーブルに変換して記録
する。
表１において、枠で囲った数値の“48"はLV3に対応
し、“112"はLV7に、また“176"はLV11にそれぞれ対応
する。
し、“112"はLV7に、また“176"はLV11にそれぞれ対応
する。
補正プログラムは、CPU13内の補正手段17が有してお
り、 LV＝DD（VD）＋DLV …（Ａ） If（LV＜112）LV＝LV＋ALV＊（LV−112） …（Ｂ） If（LV＞112）LV＝LV＋BLV＊（LV−112） …（Ｃ） となる。ただし、DD（VD）はA/D変換値VDに対応する表
１のテーブルデータ値、DLVはLV値のシフト値、ALVは低
輝度補正値、BLVは高輝度補正値であり、ここではLV7に
対応するデジタル値“112"を基準にして輝度判定を行っ
ている。
り、 LV＝DD（VD）＋DLV …（Ａ） If（LV＜112）LV＝LV＋ALV＊（LV−112） …（Ｂ） If（LV＞112）LV＝LV＋BLV＊（LV−112） …（Ｃ） となる。ただし、DD（VD）はA/D変換値VDに対応する表
１のテーブルデータ値、DLVはLV値のシフト値、ALVは低
輝度補正値、BLVは高輝度補正値であり、ここではLV7に
対応するデジタル値“112"を基準にして輝度判定を行っ
ている。
また、（Ａ）式により輝度値シフトをした結果、“11
2"であれば、低，高輝度補正は不要となる。
2"であれば、低，高輝度補正は不要となる。
前記（Ｂ），（Ｃ）式のALV,BLVは１より小さいた
め、８ビットのCPU13でALVとBLVを256倍して記録してお
き、ALV＊（LV−112）またはBLV＊（LV−112）の計算が
終ってから1/256倍することで、整数演算だけの簡単な
演算になる。
め、８ビットのCPU13でALVとBLVを256倍して記録してお
き、ALV＊（LV−112）またはBLV＊（LV−112）の計算が
終ってから1/256倍することで、整数演算だけの簡単な
演算になる。
測光情報に対する調整値は前記DLV,ALV,BLVの３つで
あり、それぞれの調整時の輝度値はLV7,LV3,LV11であ
る。そして各輝度値での基準特性におけるテーブルデー
タ値は、それぞれ“112"“48"“176"であり、調整するC
dSに前記輝度値を与えた時のテーブルデータ値との差
が、基準特性と調整するCdSのずれ量となり、これを調
整値として記憶手段16に記憶する（製造工程時に行われ
る）。
あり、それぞれの調整時の輝度値はLV7,LV3,LV11であ
る。そして各輝度値での基準特性におけるテーブルデー
タ値は、それぞれ“112"“48"“176"であり、調整するC
dSに前記輝度値を与えた時のテーブルデータ値との差
が、基準特性と調整するCdSのずれ量となり、これを調
整値として記憶手段16に記憶する（製造工程時に行われ
る）。
よって各調整輝度で得られるテーブルデータをLV7′,
LV3′,LV11′とすれば、調整値プログラムは、 DLV＝112−LV7′ …（Ｄ） ALV＝INT（256＊（48−LV3″）／（LV3″−112）） …（Ｅ） BLV＝INT（256＊（176−LV11″）／（LV11″−112）） …（Ｆ） となる（Ｅ），（Ｆ）式において、INTは整数比の意味
であり、実際の演算ではCPU13は整数演算のみであるか
ら切り捨てられる。また、LV3″とLV11″とは、それぞ
れ LV3″＝LV3′＋DLV,LV11″＝LV11″＋DLV ある。
LV3′,LV11′とすれば、調整値プログラムは、 DLV＝112−LV7′ …（Ｄ） ALV＝INT（256＊（48−LV3″）／（LV3″−112）） …（Ｅ） BLV＝INT（256＊（176−LV11″）／（LV11″−112）） …（Ｆ） となる（Ｅ），（Ｆ）式において、INTは整数比の意味
であり、実際の演算ではCPU13は整数演算のみであるか
ら切り捨てられる。また、LV3″とLV11″とは、それぞ
れ LV3″＝LV3′＋DLV,LV11″＝LV11″＋DLV ある。
上述したDLV,ALVによる基準特性に対する補正を図解
すると、第５図に示すようになる。また図示していない
がBLVはALVと同様にして示される。
すると、第５図に示すようになる。また図示していない
がBLVはALVと同様にして示される。
次に本実施例の測光情報の補正を第２図のフローチャ
ートと第３図の説明図を参照して説明する。
ートと第３図の説明図を参照して説明する。
本実施例では、第３図に示す出力Vout及びガンマ値γ
と、輝度LVとの関係を示す説明図のように第１バイアス
抵抗11aの抵抗値RAを30kΩとして、この第１バイアス抵
抗11aによる測光範囲をLV0〜７の低輝度範囲とし、第２
バイアス抵抗11bの抵抗値RBを1kΩとして、この第２バ
イアス抵抗11bによる測光範囲をLV7〜16の高輝度範囲と
するように、CPU13からの選択信号を受けて選択手段18
で、CdS10に接続される第1,第２バイアス抵抗11a,11bの
選択がなされる。そして第４図の説明で既述したのと同
様にLV0〜16を０〜256の８ビットで表し、出力Voutを０
〜1Vとして、これを０〜256の８ビットで表し、データ
テーブル手段15のデジタルデータテーブルを第1,第２バ
イアス抵抗11a,11bのそれぞれについて、出力Voutに対
応した輝度LVが抽出できるものである。
と、輝度LVとの関係を示す説明図のように第１バイアス
抵抗11aの抵抗値RAを30kΩとして、この第１バイアス抵
抗11aによる測光範囲をLV0〜７の低輝度範囲とし、第２
バイアス抵抗11bの抵抗値RBを1kΩとして、この第２バ
イアス抵抗11bによる測光範囲をLV7〜16の高輝度範囲と
するように、CPU13からの選択信号を受けて選択手段18
で、CdS10に接続される第1,第２バイアス抵抗11a,11bの
選択がなされる。そして第４図の説明で既述したのと同
様にLV0〜16を０〜256の８ビットで表し、出力Voutを０
〜1Vとして、これを０〜256の８ビットで表し、データ
テーブル手段15のデジタルデータテーブルを第1,第２バ
イアス抵抗11a,11bのそれぞれについて、出力Voutに対
応した輝度LVが抽出できるものである。
第２図において、測光スタート時の待機状態では、CP
U13からの出力によって、第１バイアス抵抗（抵抗値
RA）11aがCdS10と接続されるように選択手段18の第１ス
イッチングトランジスタTrAがオンされ、第２スイッチ
ングトランジスタTrBがオフになっている（S1）。この
状態でCdS10から受光量に応じた出力Voutが出されると
（S2のYES）、A/D・C12でデジタル化され（S3）、CPU13
へ入力されるとデータ決定手段19によって決定されたデ
ータテーブル手段15の第１バイアス抵抗11aに対応するR
A用データテーブルからデジタル化されたデータに対応
するテーブルデータ値LV（＝DDA（VD））を抽出し（S
4）、補正手段17により記憶手段16に記憶されている前
記テーブルデータ値DDA（VD）に対する調整値中のシフ
ト値DLVAにて平行シフト（LV＝DDA（VD）＋DLVAが行わ
れる（S5）。ここで基準輝度LV7（＝デジタル値112）で
得られるテーブルデータをLV7′Ａとすれば、前記
（Ｄ）式より、 DLVA＝112−LV7′Ａ …（Ｄ′） となる。
U13からの出力によって、第１バイアス抵抗（抵抗値
RA）11aがCdS10と接続されるように選択手段18の第１ス
イッチングトランジスタTrAがオンされ、第２スイッチ
ングトランジスタTrBがオフになっている（S1）。この
状態でCdS10から受光量に応じた出力Voutが出されると
（S2のYES）、A/D・C12でデジタル化され（S3）、CPU13
へ入力されるとデータ決定手段19によって決定されたデ
ータテーブル手段15の第１バイアス抵抗11aに対応するR
A用データテーブルからデジタル化されたデータに対応
するテーブルデータ値LV（＝DDA（VD））を抽出し（S
4）、補正手段17により記憶手段16に記憶されている前
記テーブルデータ値DDA（VD）に対する調整値中のシフ
ト値DLVAにて平行シフト（LV＝DDA（VD）＋DLVAが行わ
れる（S5）。ここで基準輝度LV7（＝デジタル値112）で
得られるテーブルデータをLV7′Ａとすれば、前記
（Ｄ）式より、 DLVA＝112−LV7′Ａ …（Ｄ′） となる。
シフト後のLV値がLV7を基準として高輝度か否かが判
断され、低輝度（LV＜112）であると（S6のNO）、前記
（Ｅ）式による低輝度補正がなされる（S7）。
断され、低輝度（LV＜112）であると（S6のNO）、前記
（Ｅ）式による低輝度補正がなされる（S7）。
しかし高輝度（LV＞112）であると（S6のYES）,CPU13
からの出力によって、選択手段18では第２スイッチング
トランジスタTrAがオフされ、第２スイッチングトラン
ジスタTrBがオンされて第２バイアス抵抗（抵抗値RB）1
1bがCdS10と接続され（S8）、CdS10の出力VoutがA/D・C
12でデジタル化され（S9）、CPU13へ入力されるとデー
タ決定手段19によって決定されたデータテーブル手段15
の第２バイアス抵抗11bに対応するRB用データテーブル
からデジタル化されたデータに対応するテーブルデータ
値LV（＝DDB（VD））を抽出し（S10）、補正手段17によ
り記憶手段16に記憶されている前記テーブルデータ値DD
B（VD）に対する調整値中のシフト値DLVBにて平行シフ
ト（LV＝DDB（VDI）＋DLVB）が行られる（S11）。ここ
で基準輝度LV7で得られるテーブルデータをLV7′Ｂとす
れば、前記（Ｄ）式より、 DLVB＝112−LV7′Ｂ …（Ｄ″） となる。さらに前記（Ｆ）式による高輝度補正がなされ
る（S12）。
からの出力によって、選択手段18では第２スイッチング
トランジスタTrAがオフされ、第２スイッチングトラン
ジスタTrBがオンされて第２バイアス抵抗（抵抗値RB）1
1bがCdS10と接続され（S8）、CdS10の出力VoutがA/D・C
12でデジタル化され（S9）、CPU13へ入力されるとデー
タ決定手段19によって決定されたデータテーブル手段15
の第２バイアス抵抗11bに対応するRB用データテーブル
からデジタル化されたデータに対応するテーブルデータ
値LV（＝DDB（VD））を抽出し（S10）、補正手段17によ
り記憶手段16に記憶されている前記テーブルデータ値DD
B（VD）に対する調整値中のシフト値DLVBにて平行シフ
ト（LV＝DDB（VDI）＋DLVB）が行られる（S11）。ここ
で基準輝度LV7で得られるテーブルデータをLV7′Ｂとす
れば、前記（Ｄ）式より、 DLVB＝112−LV7′Ｂ …（Ｄ″） となる。さらに前記（Ｆ）式による高輝度補正がなされ
る（S12）。
そして（S7）あるいは（S12）により測光情報の補正
が完了すると、CPU13から機械系ドライバ14へ駆動信号
が出力される（S13）。
が完了すると、CPU13から機械系ドライバ14へ駆動信号
が出力される（S13）。
このように本実施例では、従来の測光装置のような調
整用半固定抵抗は不要であり、半固定抵抗の調整を数回
繰り返す作業も不要となり、３つの輝度で各々１つの調
整ができ、自動化も容易になる。さらに本実施例では、
基準特性デジタルデータから補正をしているためCdSの
出力を直接にアナログ／デジタル変換したデジタルデー
タを用いて簡単な演算で補正が可能になり、またCdS10
に対するバイアス抵抗を高輝度の場合に抵抗値を小さ
く、低輝度の場合に抵抗値を大きくすることにより、量
子化誤差を高輝度または低輝度においても小さくでき、
広範囲で高精度の測光が可能になる。
整用半固定抵抗は不要であり、半固定抵抗の調整を数回
繰り返す作業も不要となり、３つの輝度で各々１つの調
整ができ、自動化も容易になる。さらに本実施例では、
基準特性デジタルデータから補正をしているためCdSの
出力を直接にアナログ／デジタル変換したデジタルデー
タを用いて簡単な演算で補正が可能になり、またCdS10
に対するバイアス抵抗を高輝度の場合に抵抗値を小さ
く、低輝度の場合に抵抗値を大きくすることにより、量
子化誤差を高輝度または低輝度においても小さくでき、
広範囲で高精度の測光が可能になる。
なお、上記の実施例では、測光手段にCdSを用いた
が、他の受光素子を用いることもでき、またバイアス抵
抗を２個、また調整輝度ポイントをLV3,7,11の３箇所に
したが、この数に限定されるものではない。
が、他の受光素子を用いることもでき、またバイアス抵
抗を２個、また調整輝度ポイントをLV3,7,11の３箇所に
したが、この数に限定されるものではない。
またデータテーブルのデータ数は、CdS10の出力Vout
からLV値を求めるためのもので、出力Voutを８ビットの
A/D・Ｃにより変換すれば、１個のバイアス抵抗につい
て最大256個のデータが必要になり、バイアス抵抗の数
が増えればデータ数は増加するが、出力VoutによるLV値
の精度がどのLVでも均一になるため、バイアス抵抗が２
個の場合、出力Voutを７ビットにしてデータ数を等しく
しても、低輝度，高輝度においてバイアス抵抗が１個の
場合よりもLV値の精度はよくなる。
からLV値を求めるためのもので、出力Voutを８ビットの
A/D・Ｃにより変換すれば、１個のバイアス抵抗につい
て最大256個のデータが必要になり、バイアス抵抗の数
が増えればデータ数は増加するが、出力VoutによるLV値
の精度がどのLVでも均一になるため、バイアス抵抗が２
個の場合、出力Voutを７ビットにしてデータ数を等しく
しても、低輝度，高輝度においてバイアス抵抗が１個の
場合よりもLV値の精度はよくなる。
前記データテーブルのデータ数を少なくする方法とし
て、データテーブルの一部に出力VoutとLV値との近似式
を採用すること、あるいはデータテーブルには基準特性
のある出力VoutのLVデータからの変化量のみ記入するこ
とでビット数を減らし、データを復元することが考えら
れる。
て、データテーブルの一部に出力VoutとLV値との近似式
を採用すること、あるいはデータテーブルには基準特性
のある出力VoutのLVデータからの変化量のみ記入するこ
とでビット数を減らし、データを復元することが考えら
れる。
（発明の効果） 本発明によれば、輝度によって測光手段における受光
素子に接続されるバイアス抵抗の抵抗値を変えて特性補
正を行い、予め基準となる測光手段における各バイアス
抵抗の抵抗値に対応して演算記録された基準特性デジタ
ルデータのデータテーブルと、この基準特性デジタルデ
ータに対する実際の出力特性の誤差に基づき設定された
各バイアス抵抗ごとのデータテーブルの調整値によっ
て、測光手段の出力をアナログ／デジタル変換したデジ
タルデータに対して補正を加えることができるため、簡
単な構成で、広範囲にわたって容易かつ高精度に測光情
報を補正することができる。
素子に接続されるバイアス抵抗の抵抗値を変えて特性補
正を行い、予め基準となる測光手段における各バイアス
抵抗の抵抗値に対応して演算記録された基準特性デジタ
ルデータのデータテーブルと、この基準特性デジタルデ
ータに対する実際の出力特性の誤差に基づき設定された
各バイアス抵抗ごとのデータテーブルの調整値によっ
て、測光手段の出力をアナログ／デジタル変換したデジ
タルデータに対して補正を加えることができるため、簡
単な構成で、広範囲にわたって容易かつ高精度に測光情
報を補正することができる。
第１図は本発明の測光装置の一実施例の構成図、第２図
は本実施例の測光情報の補正に係るフローチャート、第
３図は本実施例におけるCdSのアナログ出力の基準特性
を示す説明図、第４図は本実施例を説明するためのCdS
のアナログ出力の基準特性の一例を示す説明図、第５図
は基準特性に対する調整を図解した説明図、第６図は従
来のCdS測光装置の構成図、第７図は他のCdS測光装置の
構成図、第８図は一般的なCdSのアナログ出力の基準特
性を示す説明図、第９図は第８図における輝度変化量を
示す説明図である。 10……CdS、11a,11b……バイアス抵抗、12……アナログ
／デジタル変換手段、13……CPU、15……データテーブ
ル手段、16……記憶手段、17……補正手段、18……選択
手段、19……データ決定手段、20……測光手段。
は本実施例の測光情報の補正に係るフローチャート、第
３図は本実施例におけるCdSのアナログ出力の基準特性
を示す説明図、第４図は本実施例を説明するためのCdS
のアナログ出力の基準特性の一例を示す説明図、第５図
は基準特性に対する調整を図解した説明図、第６図は従
来のCdS測光装置の構成図、第７図は他のCdS測光装置の
構成図、第８図は一般的なCdSのアナログ出力の基準特
性を示す説明図、第９図は第８図における輝度変化量を
示す説明図である。 10……CdS、11a,11b……バイアス抵抗、12……アナログ
／デジタル変換手段、13……CPU、15……データテーブ
ル手段、16……記憶手段、17……補正手段、18……選択
手段、19……データ決定手段、20……測光手段。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01J 1/42 - 1/44 G03B 7/081 - 7/097 G01D 3/02 - 3/04
Claims (1)
- 【請求項１】被写体の輝度に応じて抵抗値が変化する受
光素子及び該受光素子に直列に接続され、かつ前記測光
手段の被写体輝度に応じて選択される抵抗値が異なる複
数のバイアス抵抗からなる測光手段と、 前記測光手段の受光素子とバイアス抵抗との接続部から
出力されるアナログ情報をデジタルデータに変換して出
力するアナログ／デジタル変換手段と、 前記アナログ／デジタル変換手段からの出力に基づいて
測光データを出力する手段とを備えた測光装置におい
て、 基準となる受光素子と基準となる前記抵抗値の各バイア
ス抵抗とにおける受光量と該受光量に応じたアナログ情
報との関係が、それぞれ基準特性デジタルデータのデー
タテーブルとして予め記録されているデータテーブル手
段と、 前記アナログ／デジタル変換手段から出力される輝度に
対応する各デジタルデータにおける前記各基準特性デジ
タルデータに対する誤差に基づき各データテーブルごと
に調整値が予め設定されて、それらが記憶されている記
憶手段と、 被写体輝度により前記バイアス抵抗を選択する選択手段
と、 前記選択手段により選択されたバイアス抵抗に応じて前
記データテーブル手段のデータテーブル及び前記記憶手
段の調整値を決定するデータ決定手段と、 前記測光手段による測光時に、前記アナログ／デジタル
変換手段から出力されるデジタルデータに対して前記デ
ータ決定手段により決定されたデータテーブルと調整値
に基づいて補正を行う補正手段と、 を備えたことを特徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20519890A JP3203368B2 (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20519890A JP3203368B2 (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | 測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0493624A JPH0493624A (ja) | 1992-03-26 |
| JP3203368B2 true JP3203368B2 (ja) | 2001-08-27 |
Family
ID=16503031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20519890A Expired - Fee Related JP3203368B2 (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3203368B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10608657B2 (en) | 2016-10-28 | 2020-03-31 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog-to-digital conversion apparatus and analog-to-digital conversion method |
-
1990
- 1990-08-03 JP JP20519890A patent/JP3203368B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0493624A (ja) | 1992-03-26 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080629 Year of fee payment: 7 |
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