JP3200927B2 - Method and apparatus for measuring coating state - Google Patents
Method and apparatus for measuring coating stateInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、線状体に施された被覆
の厚さ及び偏肉(偏肉度、偏肉方向)を測定する被覆状
態測定方法及び装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for measuring the thickness of a coating applied to a linear body and the thickness of the coating (the thickness of the coating and the thickness direction).
【0002】[0002]
【従来の技術】光ファイバは材質的な問題からそのまま
光伝送用媒体として使用するのは極めて困難であるの
で、従来より光ファイバの線引き直後に樹脂被覆を施し
て被覆光ファイバとし、光ファイバ製造直後の初期強度
の維持を図ると共に長期使用に耐えうるようにしてい
る。2. Description of the Related Art Since it is extremely difficult to use an optical fiber as it is as an optical transmission medium due to material problems, it has been conventionally applied to a resin coating immediately after drawing an optical fiber to form a coated optical fiber. Immediately after the initial strength is maintained, and it is designed to withstand long-term use.
【0003】すなわち、図36に示すように、光ファイ
バ母材1の先端を加熱炉2により加熱・溶融しつつ線引
きして形成された光ファイバ3は、一般に、第一の加圧
ダイ4A、第一の硬化炉5A、第二の加圧ダイ4B、第
二の硬化炉5Bに順次挿通されることにより、その外表
面に二層の樹脂被覆が施された被覆光ファイバ6となっ
てキャプスタン7を介して巻取機8に巻取られるように
なっている。ここで、かかる被覆光ファイバ6に使用さ
れている樹脂被覆材料は、例えば、シリコーン樹脂、ウ
レタン樹脂、エポキシ樹脂などの熱硬化型樹脂や、エポ
キシアクリレート、ウレタンアクリレート、ポリエステ
ルアクリレートなどの紫外線硬化型樹脂、その他、放射
線硬化型樹脂などの高分子材料である。That is, as shown in FIG. 36, an optical fiber 3 formed by drawing the tip of an optical fiber preform 1 while heating and melting it by a heating furnace 2 generally includes a first pressing die 4A, By being sequentially inserted through the first curing furnace 5A, the second pressure die 4B, and the second curing furnace 5B, the coated optical fiber 6 having the outer surface coated with two layers of resin is formed into a capping optical fiber 6. It is wound on a winder 8 via a stun 7. Here, the resin coating material used for the coated optical fiber 6 is, for example, a thermosetting resin such as a silicone resin, a urethane resin, or an epoxy resin, or an ultraviolet curable resin such as an epoxy acrylate, urethane acrylate, or polyester acrylate. And other polymer materials such as radiation-curable resins.
【0004】ところで、このような被覆光ファイバ6に
おいては、その伝送特性及び機械的特性を向上するた
め、光ファイバ1の周囲に施される樹脂被覆が同心円状
となっていることが重要である。一方、光ファイバの生
産性向上のため線速を大きくすると、光ファイバ1の温
度が上昇して加圧ダイ4A,4B中での樹脂の流れが不
均一となるためか樹脂被覆に偏肉が生じ易いという問題
がある。また、偏肉は樹脂内にゴミが混入した場合など
にも生じる。そこで、光ファイバ線引きラインにおいて
は、インラインで被覆光ファイバ6の偏肉を測定し、偏
肉の発生に応じて線速を小さくしたり、線引きを停止し
たりする制御を行う必要がある。Incidentally, in such a coated optical fiber 6, it is important that the resin coating applied around the optical fiber 1 is concentric in order to improve the transmission characteristics and mechanical characteristics. . On the other hand, if the linear velocity is increased to improve the productivity of the optical fiber, the temperature of the optical fiber 1 rises and the resin flow in the pressing dies 4A and 4B becomes uneven, possibly resulting in uneven thickness of the resin coating. There is a problem that it easily occurs. In addition, uneven thickness also occurs when dust enters the resin. Therefore, in the optical fiber drawing line, it is necessary to measure the thickness deviation of the coated optical fiber 6 in-line, and to control the linear velocity to be reduced or the drawing to be stopped according to the occurrence of the thickness deviation.
【0005】ここで、従来の偏肉測定方法の一例を図3
7を参照しながら説明する。同図に示すように、従来に
おいては、線引きされる被覆光ファイバ10の側面にレ
ーザ光源11からのレーザビーム12を照射し、その前
方散乱光パターン13を検出することにより偏肉を測定
している(特開昭60−238737号公報参照)。か
かる方法の原理を図38に示す。同図に示すように、被
覆光ファイバ10を簡単のためにガラス部10aと樹脂
部10bとからなるとすると、両者の屈折率の違い(通
常、ガラス部10aの屈折率ng =1.46、樹脂部1
0bの屈折率nr =1.48〜1.51程度である)か
ら、前方散乱光パターン13には、樹脂部10b−ガラ
ス部10a−樹脂部10bと通過した中央部分の光束1
3aと、樹脂部10bのみを通過した周辺部の光束13
bとが存在する。したがって、前方散乱光パターン13
の左右の対称性及び左右の受光パワーの比により偏肉を
検出することができる。Here, an example of a conventional method for measuring uneven thickness is shown in FIG.
This will be described with reference to FIG. As shown in the figure, conventionally, a side surface of a coated optical fiber 10 to be drawn is irradiated with a laser beam 12 from a laser light source 11, and a thickness variation is measured by detecting a forward scattered light pattern 13 thereof. (See JP-A-60-238737). FIG. 38 shows the principle of such a method. As shown in the figure, assuming that the coated optical fiber 10 is composed of a glass portion 10a and a resin portion 10b for simplicity, the difference in the refractive index between the two (normally, the refractive index ng of the glass portion 10a = 1.46, Resin part 1
From 0b the refractive index n r = about 1.48 to 1.51 of), the forward scattered light pattern 13, the light flux of the central portion which has passed through the resin portion 10b- glass portion 10a- resin portion 10b 1
3a and the luminous flux 13 in the peripheral portion that has passed only through the resin portion 10b
b exists. Therefore, the forward scattered light pattern 13
Can be detected by the left-right symmetry and the ratio of the right and left light receiving powers.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た方法では、前方散乱光パターン13の左右側におい
て、樹脂部10b及びガラス部10aの両方を通過した
光と、樹脂部10bのみを通過した光とが明確に区別さ
れなければ偏肉を検出できないので、例えば図に示すよ
うに被覆径が小さくて樹脂部10bの肉厚が小さい場合
(図39)、又は偏肉が大きすぎる場合(図40)には
偏肉が良好には検出できない。すなわち、図39の場合
には、樹脂部10bの肉厚が小さすぎるので、樹脂部1
0bを通過する光が存在せず、全て樹脂部10b及びガ
ラス部10aの両方を通過してしまい、偏肉が検出でき
ない。また、図40の場合には、図中下側において樹脂
部10bが薄肉となるので、やはり図中下側の樹脂部1
0bのみを通過する光が存在しないので、偏肉が生じて
いることは判断できるが、どの程度の偏肉なのかが検出
できない。However, in the above-described method, on the left and right sides of the forward scattered light pattern 13, the light passing through both the resin portion 10b and the glass portion 10a and the light passing only through the resin portion 10b are compared. Cannot be detected unless they are clearly distinguished. For example, as shown in the figure, when the coating diameter is small and the thickness of the resin portion 10b is small (FIG. 39), or when the thickness is too large (FIG. 40). Cannot detect the uneven thickness well. That is, in the case of FIG. 39, since the thickness of the resin portion 10b is too small,
There is no light passing through 0b, and all light passes through both the resin portion 10b and the glass portion 10a, so that uneven thickness cannot be detected. Also, in the case of FIG. 40, the resin portion 10b becomes thinner on the lower side in the figure, so that the resin
Since there is no light passing only through 0b, it can be determined that the thickness is uneven, but it is not possible to detect how much the thickness is uneven.
【0007】したがって、光ファイバ生産分野におい
て、高性能な光ファイバを生産性よく製造するために、
被覆光ファイバの被覆厚及び偏肉をインラインで正確に
測定しうる技術の出現が望まれている。また、かかる技
術は種々の分野に適用可能である。Therefore, in the field of optical fiber production, in order to manufacture high-performance optical fibers with good productivity,
There is a demand for a technique capable of accurately measuring the coating thickness and uneven thickness of a coated optical fiber in-line. Further, such a technique is applicable to various fields.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決する本発
明に係る[請求項1]の被覆状態測定方法の発明は、表
面に少なくとも一層からなる被覆が施された円柱状線状
体の側面に対して該円柱状線状体の長手方向軸に平行で
ない方向から測定光を照射し、該円柱状線状体の被覆表
面で少なくとも一つの特定方向に反射した表面反射光
と、該被覆と円柱状線状体本体との境界面若しくは被覆
の各層の境界面で上記表面反射光と平行な方向に反射し
た境界面反射光とを検出し、これら表面反射光及び境界
面反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である
反射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉
を推定する被覆状態測定方法おいて、照射する測定光が
実質的な平行光であると共に、表面及び境界面上の反射
点の像を撮像素子を具備する撮像光学系を用いて観測す
ると共に、表面及び境界面上の反射点の像を撮像素子を
具備する撮像光学系を用いて観測することにより反射光
位置ずれ量を測定し、且つ、照射する測定光が該円柱状
線状体の長手方向軸に垂直なスリット光であることを特
徴とする。 [請求項2]の発明は、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法
おいて、照射する測定光が実質的な平行光であると共
に、表面及び境界面上の反射点の像を撮像素子を具備す
る撮像光学系を用いて観測すると共に、表面及び境界面
上の反射点の像を撮像素子を具備する撮像光学系を用い
て観測することにより反射光位置ずれ量を測定し、且
つ、照射する測定光がパルス光であると共に該パルス光
の照射タイミングと同期させて撮像素子を駆動すること
により、反射光位置ずれ量を測定することを特徴とす
る。 [請求項3]の発明は、請求項1において、照射する測
定光がパルス光であると共に、該パルス光の照射タイミ
ングと同期させて撮像素子を駆動することにより、反射
光位置ずれ量を測定することを特徴とする。 [請求項4]の発明は、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法
おいて、照射する測定光がレーザ走査光であると共に、
表面及び境界面上の反射点の像を撮像素子を具備する撮
像光学系を用いて観測することにより反射光位置ずれ量
を測定することを特徴とする。 [請求項5]の発明は、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面
反射光を与える入射光及び該境界面反射光を与える入射
光間のその入射方向に直交する方向の距離である入射光
位置ずれ量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及び偏
肉を推定する被覆状態測定方法おいて、照射する測定光
がレーザ走査光であると共に、表面及び境界面上の反射
点の像を撮像素子を具備する撮像光学系を用いて観測す
ることにより反射光位置ずれ量を測定することを特徴と
する。 [請求項6]の発明は、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法
おいて、照射する測定光が実質的な平行光であると共
に、表面及び境界面上の反射点の像を撮像素子を具備す
る撮像光学系を用いて観測すると共に、表面及び境界面
上の反射点の像を撮像素子を具備する撮像光学系を用い
て観測することにより反射光位置ずれ量を測定し、且
つ、撮像光学系の一部または全体を該円柱状線状体の長
手方向に垂直な断面に対して平行でない方向に傾けるこ
とにより、該円柱状線状体の長手方向に沿って撮像光学
系の合焦位置を変化させたことを特徴とする。 [請求項7]の発明は、請求項2乃至5のいずれか1項
において、撮像光学系の一部または全体を該円柱状線状
体の長手方向に垂直な断面に対して平行でない方向に傾
けることにより、該円柱状線状体の長手方向に沿って撮
像光学系の合焦位置を変化させたことを特徴とする。 [請求項8]の発明は、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
該表面反射光を与える入射光及び該境界面反射光を与え
る入射光間のその入射方向に直交する方向の距離である
入射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉
を推定する被覆状態測定方法おいて、照射する測定光が
レーザ走査光であると共に、表面及び境界面からの反射
光を受光素子上に導き、受光素子出力の時間変化より入
射光位置ずれ量を測定することを特徴とする被覆状態測
定方法。 [請求項9]の発明は、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法
おいて、照射する測定光がレーザ走査光であると共に、
表面及び境界面上の反射点の像を、光入射面側の両端に
それぞれ位置信号電極を有すると共に底面側を基準電極
とする半導体からなり且つ光入射面に入射した入射光に
より発生してその入射位置と上記各位置信号電極までの
距離に反比例した大きさに分かれた光電流を各位置検出
電極から出力する位置検出用半導体装置であるPSD素
子上に結像し、該PSD素子によって検知される光重心
位置の変化から反射光位置ずれ量を測定することを特徴
とする。 [請求項10]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面
反射光を与える入射光及び該境界面反射光を与える入射
光間のその入射方向に直交する方向の距離である入射光
位置ずれ量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及び偏
肉を推定する被覆状態測定方法おいて、照射する測定光
がレーザ走査光であると共に、表面及び境界面上の反射
点の像を、光入射面側の両端にそれぞれ位置信号電極を
有すると共に底面側を基準電極とする半導体からなり且
つ光入射面に入射した入射光により発生してその入射位
置と上記各位置信号電極までの距離に反比例した大きさ
に分かれた光電流を各位置検出電極から出力する位置検
出用半導体装置であるPSD素子上に結像し、該PSD
素子によって検知される光重心位置の変化から反射光位
置ずれ量を測定することを特徴とする。 [請求項11]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
し、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定
方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本
体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反
射光と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面
反射光を与える入射光及び該境界面反射光を与える入射
光間のその入射方向に直交する方向の距離である入射光
位置ずれ量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及び偏
肉を推定する被覆状態測定方法おいて、照射する測定光
がレーザ走査光であると共に、表面及び境界面上の反射
点の像を、光入射面側の両端にそれぞれ位置信号電極を
有すると共に底面側を基準電極とする半導体からなり且
つ光入射面に入射した入射光により発生してその入射位
置と上記各位置信号電極までの距離に反比例した大きさ
に分かれた光電流を各位置検出電極から出力する位置検
出用半導体装置であるPSD素子上に結像し、該PSD
素子によって検知される光重心位置の変化及び光強度の
変化より反射光位置ずれ量を測定すると共に同時に入射
光位置ずれ量を測定することを特徴とする。 [請求項12]の発明は、請求項1〜11の何れかにお
いて、観測光学系の受光開口数を制限して焦点深度を大
きくすると共に受光器に到達する反射光の角度範囲を限
定することにより、特定方向の表面反射光及び境界面反
射光を検出することを特徴とする。 [請求項13]の発明は、請求項12において、観測光
学系が、特定方向に光軸が一致すると共に平行光を焦点
面上の1点に集束するレンズ系と該レンズ系の焦点面上
に配置されたピンホール若しくはスリットとを通過する
光を当該特定方向の表面反射光及び境界面反射光として
検出するものであることを特徴とする。 [請求項14]の発明は、請求項1〜13の何れかにお
いて、照射する測定光が円柱状線状体の長手方向に垂直
な方向に偏光された直線偏光であるか、又は円柱状線状
体での反射光の中の円柱状線状体の長手方向に垂直な方
向の偏光成分のみを光検出部で検出することを特徴とす
る。 [請求項15]の発明は、請求項1〜14の何れかにお
いて、測定光の中で円柱状線状体の被覆表面にブリュー
スター角で入射する光の反射方向を特定方向として表面
反射光及び境界面反射光を検出することを特徴とする。 [請求項16]の発明は、請求項1〜15の何れかにお
いて、円柱状線状体の周囲に屈折率整合剤を設け、円柱
状線状体の被覆表面での反射率と、被覆と円柱状線状体
との境界面若しくは被覆の各層の境界面での反射率との
差を小さくしたことを特徴とする。 [請求項17]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面もしくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を
求める制御部、とを備えた被覆状態測定装置において、
光照射部が、実質的な平行光を出射する平行光源を備え
ると共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を有
する撮像光学系を備えると共に、光検出部が光検出素子
としての撮像素子を有する撮像光学系を備え、且つ光照
射部が円柱状線状体の長手方向軸に垂直な方向に延びる
スリット形状を有する光を生成するスリット生成手段を
具備し、該スリット生成手段を介して測定光を照射する
ことを特徴とする。 [請求項18]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面もしくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を
求める制御部、とを備えた被覆状態測定装置において、
光照射部が、実質的な平行光を出射する平行光源を備え
ると共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を有
する撮像光学系を備えると共に、光検出部が光検出素子
としての撮像素子を有する撮像光学系を備え、且つ光照
射部がパルス光源を備えると共に、該パルス光源の照射
タイミングと光検出部の撮像素子の撮像タイミングとを
同期させる同期回路を備えたことを特徴とする。 [請求項19]の発明は、請求項17において、光照射
部がパルス光源を備えると共に、該パルス光源の照射タ
イミングと光検出部の撮像素子の撮像タイミングとを同
期させる同期回路を備えたことを特徴とする。 [請求項20]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面もしくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を
求める制御部、とを備えた被覆状態測定装置において、
光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を備えた
ことを特徴とする。 [請求項21]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量と、該表面反射光を与える入射光線及び
該境界面反射光を与える入射光線間のその入射方向に直
行する方向の距離である入射光位置ずれ量との両方から
該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを
備えた被覆状態測定装置において、光照射部がレーザ光
源とレーザ光走査機構とを備えると共に、光検出部が光
検出素子としての撮像素子を備えたことを特徴とする。 [請求項22]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面もしくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を
求める制御部、とを備えた被覆状態測定装置において、
光照射部が、実質的な平行光を出射する平行光源を備え
ると共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を有
する撮像光学系を備えると共に、光検出部が光検出素子
としての撮像素子を有する撮像光学系を備え、且つ光検
出部が撮像光学系の一部又は全体を円柱状線状体の長手
方向に垂直な断面に対して平行でない方向に傾けること
により、該円柱状線状体の長手方向に沿って合焦位置が
変化するものであることを特徴とする。 [請求項23]の発明は、請求項18乃至21のいずれ
か一項において、光検出部が撮像光学系の一部又は全体
を円柱状線状体の長手方向に垂直な断面に対して平行で
ない方向に傾けることにより、該円柱状線状体の長手方
向に沿って合焦位置が変化するものであることを特徴と
する。 [請求項24]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、該表面反射光を与える入射光
及び該境界面反射光を与える入射光間のその入射方向に
直交する方向の距離である入射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを備えた
被覆状態測定装置において、光照射部がレーザ光源とレ
ーザ光走査機構とを備えると共に、光検出部が表面及び
境界面からの反射光を受光する受光素子を備え、制御部
が該受光素子からの出力の時間変化とレーザ光走査の速
度とより入射光位置ずれ量を求める回路を備えたことを
特徴とする。 [請求項25]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面もしくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を
求める制御部、とを備えた被覆状態測定装置において、
光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が表面及び境界面からの反射光を受光す
る素子として、光入射面側の両端にそれぞれ位置信号電
極を有すると共に底面側を基準電極とする半導体からな
り且つ光入射面に入射した入射光により発生してその入
射位置と上記各位置信号電極までの距離に反比例した大
きさに分かれた光電流を各位置検出電極から出力する位
置検出用半導体装置であるPSD素子を備え、制御部が
該PSD素子によって検知される光重心位置の変化から
反射光ずれ量を求める回路を備えたことを特徴とする被
覆状態測定装置。 [請求項26]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量と、該表面反射光を与える入射光線及び
該境界面反射光を与える入射光線間のその入射方向に直
行する方向の距離である入射光位置ずれ量との両方から
該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを
備えた被覆状態測定装置において、光照射部がレーザ光
源とレーザ光走査機構とを備えると共に、光検出部が表
面及び境界面からの反射光を受光する素子として、光入
射面側の両端にそれぞれ位置信号電極を有すると共に底
面側を基準電極とする半導体からなり且つ光入射面に入
射した入射光により発生してその入射位置と上記各位置
信号電極までの距離に反比例した大きさに分かれた光電
流を各位置検出電極から出力する位置検出用半導体装置
であるPSD素子を備え、制御部が該PSD素子によっ
て検知される光重心位置の変化から反射光ずれ量を求め
る回路を備えたことを特徴とする被覆状態測定装置。 [請求項27]の発明は、表面に少なくとも一層からな
る被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状
線状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射
する光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくと
も一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円
柱状線状体本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面
で上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光
とを検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面
反射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反
射光位置ずれ量と、該表面反射光を与える入射光線及び
該境界面反射光を与える入射光線間のその入射方向に直
行する方向の距離である入射光位置ずれ量との両方から
該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを
備えた被覆状態測定装置において、光照射部がレーザ光
源とレーザ光走査機構とを備えると共に、光検出部が表
面及び境界面からの反射光を受光する素子として、光入
射面側の両端にそれぞれ位置信号電極を有すると共に底
面側を基準電極とする半導体からなり且つ光入射面に入
射した入射光により発生してその入射位置と上記各位置
信号電極までの距離に反比例した大きさに分かれた光電
流を各位置検出電極から出力する位置検出用半導体装置
であるPSD素子を備え、制御部が該PSD素子によっ
て検知される光重心位置の変化より反射光ずれ量を求め
ると同時に光強度の変化より入射光位置ずれ量を求める
回路を備えたことを特徴とする被覆状態測定装置。 [請求項28]の発明は、請求項17〜27の何れかに
おいて、光検出部が観測光学系の受光開口数を制限する
絞りを具備したことを特徴とする。 [請求項29]の発明は、請求項28において、観測光
学系の受光開口数を制限するための絞りが特定方向に光
軸が一致すると共に平行光を焦点面上の1点に集束する
レンズ系の焦点面上に配置されたピンホール若しくはス
リットであることを特徴とする。 [請求項30]の発明は、請求項17〜29の何れかに
おいて、光照射部が光源からの光を円柱状線状体の長手
方向に垂直な方向の直線偏光とする偏光子を具備する
か、又は光検出部が円柱状線状体からの反射光の中の円
柱状線状体の長手方向に垂直な方向の偏光成分のみを検
出することを特徴とする。 [請求項31]の発明は、請求項17〜30の何れかに
おいて、光照射部の光軸と光検出部の光軸とが測定光の
反射点における円柱状線状体の被覆表面の法線に対して
ブリュースター角をなすことを特徴とする。 [請求項32]の発明は、請求項17〜31の何れかに
おいて、円柱状線状体の周囲に屈折率整合剤を設けてあ
り、円柱状線状体の被覆表面での反射率と、被覆と円柱
状線状体本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で
の反射率との差を小さくしたことを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for measuring a coated state, comprising the steps of: forming a side surface of a cylindrical linear body having at least one coated surface; The measurement light is irradiated from a direction that is not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body, and the surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body, and the coating and Detect the surface reflected light and the boundary surface reflected light reflected in a direction parallel to the boundary surface with the columnar linear body main body or the boundary surface of each layer of the coating, and determine the distance between these surface reflected light and the boundary surface reflected light. In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the amount of displacement of the reflected light that is a distance in a direction orthogonal to the specific direction, the measuring light to be irradiated is substantially parallel light. At the same time, the image of the reflection point on the surface and boundary Observation is performed using an imaging optical system provided, and an image of a reflection point on a surface and a boundary surface is observed using an imaging optical system equipped with an imaging device to measure the amount of displacement of reflected light and irradiate. The measuring light to be measured is slit light perpendicular to the longitudinal axis of the columnar linear body. According to a second aspect of the present invention, the measurement light is applied to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on its surface from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the amount of positional deviation of the reflected light that is a distance in a direction orthogonal to the specific direction between the surface reflected light and the boundary surface reflected light, The measurement light to be irradiated is substantially parallel light, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are observed using an imaging optical system including an imaging device, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are observed. Is measured using an imaging optical system having an imaging device to measure the amount of displacement of the reflected light, and the measurement light to be irradiated is pulsed light, and the imaging device is synchronized with the irradiation timing of the pulsed light. By driving, the amount of displacement of the reflected light is measured. According to a third aspect of the present invention, in the first aspect, the measurement light to be irradiated is pulsed light, and the imaging element is driven in synchronization with the irradiation timing of the pulsed light to measure the amount of displacement of the reflected light. It is characterized by doing. According to a fourth aspect of the present invention, the side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on its surface is irradiated with measurement light from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the amount of positional deviation of the reflected light that is a distance in a direction orthogonal to the specific direction between the surface reflected light and the boundary surface reflected light, The measurement light to be irradiated is laser scanning light,
The method is characterized in that the position of the reflected light is measured by observing the images of the reflection points on the surface and the boundary surface using an imaging optical system having an imaging device. The invention according to claim 5 irradiates the measurement light from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body on the side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
The reflected light position shift amount which is a distance between the surface reflected light and the boundary surface reflected light in a direction orthogonal to the specific direction, and the distance between the incident light providing the surface reflected light and the incident light providing the boundary surface reflected light. In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from both the incident light position shift amount which is the distance in the direction orthogonal to the incident direction, the measurement light to be irradiated is laser scanning light. In addition, the method is characterized in that the reflected light position shift amount is measured by observing the images of the reflection points on the surface and the boundary surface using an imaging optical system having an imaging element. According to a sixth aspect of the present invention, the measurement light is applied to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on its surface from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the amount of positional deviation of the reflected light that is a distance in a direction orthogonal to the specific direction between the surface reflected light and the boundary surface reflected light, The measurement light to be irradiated is substantially parallel light, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are observed using an imaging optical system including an imaging device, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are observed. The reflected light position shift amount is measured by observing using an imaging optical system having an imaging device, and a part or the whole of the imaging optical system is formed in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body. The in-focus position of the imaging optical system is changed along the longitudinal direction of the columnar linear body by inclining in a direction that is not parallel to the cylindrical linear body. According to a seventh aspect of the present invention, in any one of the second to fifth aspects, a part or the whole of the imaging optical system is oriented in a direction not parallel to a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body. By inclining, the focus position of the imaging optical system is changed along the longitudinal direction of the columnar linear body. [8] The invention according to claim 8 is to irradiate the side surface of the cylindrical linear body having at least one layer of coating on its surface with measurement light from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
The coating thickness and uneven thickness of the columnar linear body are determined from the amount of incident light displacement which is a distance in a direction perpendicular to the incident direction between the incident light that gives the surface reflected light and the incident light that gives the boundary surface reflected light. In the estimated coating state measurement method, the measuring light to be irradiated is the laser scanning light, the reflected light from the surface and the boundary surface is guided to the light receiving element, and the amount of displacement of the incident light is measured from the time change of the light receiving element output. A method for measuring a coated state. [9] The invention of claim 9 irradiates the measurement light from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body, the side surface of which is coated with at least one layer on the surface. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the amount of positional deviation of the reflected light that is a distance in a direction orthogonal to the specific direction between the surface reflected light and the boundary surface reflected light, The measurement light to be irradiated is laser scanning light,
The image of the reflection point on the surface and the boundary surface is generated by incident light which is made of a semiconductor having position signal electrodes at both ends on the light incident surface side and having the bottom surface as a reference electrode, and which is incident on the light incident surface. A photocurrent divided into a magnitude inversely proportional to the distance between the incident position and each of the position signal electrodes forms an image on a PSD element, which is a semiconductor device for position detection, which is output from each position detection electrode, and is detected by the PSD element. The amount of displacement of the reflected light is measured from the change in the position of the center of gravity of the light. According to a tenth aspect of the present invention, the side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface is irradiated with measurement light from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
The reflected light position shift amount which is a distance between the surface reflected light and the boundary surface reflected light in a direction orthogonal to the specific direction, and the distance between the incident light providing the surface reflected light and the incident light providing the boundary surface reflected light. In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from both the incident light position shift amount which is the distance in the direction orthogonal to the incident direction, the measurement light to be irradiated is laser scanning light. In addition, an image of the reflection point on the surface and the boundary surface is generated by incident light which is made of a semiconductor having position signal electrodes at both ends on the light incident surface side and having a bottom surface as a reference electrode, and incident on the light incident surface. Then, an image is formed on a PSD element which is a semiconductor device for position detection, in which a photocurrent divided into a magnitude inversely proportional to the distance between the incident position and each of the position signal electrodes is output from each position detection electrode.
The amount of displacement of the reflected light is measured from the change in the position of the center of gravity of the light detected by the element. [11] The invention of claim 11 irradiates measurement light from a direction which is not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface. The surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light at the boundary between the coating and the columnar linear body or at the boundary of each layer of the coating. Detects the boundary surface reflected light reflected in the parallel direction,
The reflected light position shift amount which is a distance between the surface reflected light and the boundary surface reflected light in a direction orthogonal to the specific direction, and the distance between the incident light providing the surface reflected light and the incident light providing the boundary surface reflected light. In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from both the incident light position shift amount which is the distance in the direction orthogonal to the incident direction, the measurement light to be irradiated is laser scanning light. In addition, an image of the reflection point on the surface and the boundary surface is generated by incident light which is made of a semiconductor having position signal electrodes at both ends on the light incident surface side and having a bottom surface as a reference electrode, and incident on the light incident surface. Then, an image is formed on a PSD element which is a semiconductor device for position detection, in which a photocurrent divided into a magnitude inversely proportional to the distance between the incident position and each of the position signal electrodes is output from each position detection electrode.
The method is characterized in that the amount of displacement of the reflected light is measured from the change in the position of the center of gravity of the light and the change in the light intensity detected by the element, and at the same time the amount of displacement of the incident light is measured. According to a twelfth aspect of the present invention, in any one of the first to eleventh aspects, the light receiving numerical aperture of the observation optical system is limited to increase the depth of focus and to limit the angle range of the reflected light reaching the light receiver. Thereby, surface reflected light and boundary surface reflected light in a specific direction are detected. According to a thirteenth aspect of the present invention, in the twelfth aspect, the observation optical system includes a lens system having an optical axis coincident with a specific direction and converging parallel light to one point on a focal plane, and a lens system on the focal plane of the lens system. The light passing through the pinholes or slits arranged in the specific direction is detected as surface reflected light and boundary surface reflected light in the specific direction. [14] The invention of claim 14 is the method according to any one of claims 1 to 13, wherein the measuring light to be irradiated is linearly polarized light polarized in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the cylindrical linear body, or a cylindrical line. The light detector detects only a polarization component in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body in the reflected light from the linear body. [15] The invention according to [15], in any one of [1] to [14], wherein the reflection direction of light incident on the coating surface of the cylindrical linear body at a Brewster angle in the measurement light is a specific direction. And detecting boundary surface reflected light. [16] The invention according to claim 16 is the method according to any one of claims 1 to 15, wherein a refractive index matching agent is provided around the cylindrical linear body, and the reflectance of the cylindrical linear body on the coating surface, It is characterized in that the difference from the reflectance at the boundary surface with the cylindrical linear body or at the boundary surface of each layer of the coating is reduced. The invention of claim 17 irradiates the measurement light from a direction which is not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body, the side surface of which is coated with at least one layer on the surface. A light irradiator, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from a coating state measuring device,
The light irradiation unit includes a parallel light source that emits substantially parallel light, the light detection unit includes an imaging optical system that includes an imaging element as a light detection element, and the light detection unit includes an imaging element as a light detection element And a slit generating means for generating light having a slit shape in which the light irradiating section extends in a direction perpendicular to the longitudinal axis of the columnar linear body, and through the slit generating means. It is characterized by irradiating measurement light. The invention of claim 18 irradiates the measurement light from a direction which is not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body, the side surface of which is coated with at least one layer on the surface. A light irradiator, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from a coating state measuring device,
The light irradiation unit includes a parallel light source that emits substantially parallel light, the light detection unit includes an imaging optical system that includes an imaging element as a light detection element, and the light detection unit includes an imaging element as a light detection element Wherein the light irradiating unit includes a pulse light source, and a synchronization circuit that synchronizes the irradiation timing of the pulse light source with the imaging timing of the image sensor of the light detecting unit. According to a nineteenth aspect, in the seventeenth aspect, the light irradiation unit includes a pulse light source, and further includes a synchronization circuit that synchronizes the irradiation timing of the pulse light source with the imaging timing of the imaging element of the light detection unit. It is characterized by. According to a twentieth aspect of the present invention, the measurement light is applied to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. A light irradiator, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from a coating state measuring device,
The light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit includes an image sensor as a light detection element. According to a twenty-first aspect of the present invention, the measurement light is applied to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface from a direction that is not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. A light irradiating section, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body main body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. From the incident light beam that gives the surface reflected light and the incident light position shift amount that is the distance between the incident light beam that gives the boundary surface reflected light and the direction perpendicular to the incident direction. A control unit for obtaining thickness and uneven thickness; In the apparatus, the light irradiation unit is provided with a laser light source and laser beam scanning mechanism, the light detection unit is characterized by comprising an imaging element as a light-detecting element. According to a twenty-second aspect of the present invention, the measurement light is emitted from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body, the side surface of which is coated with at least one layer on the surface. A light irradiator, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from a coating state measuring device,
The light irradiation unit includes a parallel light source that emits substantially parallel light, the light detection unit includes an imaging optical system that includes an imaging element as a light detection element, and the light detection unit includes an imaging element as a light detection element And the photodetector inclines a part or the whole of the imaging optical system in a direction that is not parallel to a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body. The focus position changes along the longitudinal direction of the body. According to a twenty-third aspect of the present invention, in any one of the eighteenth to twenty-first aspects, the photodetector is arranged so that a part or the whole of the imaging optical system is parallel to a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the cylindrical linear body. The in-focus position changes along the longitudinal direction of the columnar linear body by inclining in a direction other than the above. According to a twenty-fourth aspect of the present invention, the measurement light is emitted from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body on the side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface. A light irradiating section, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body main body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects boundary surface reflected light reflected in a direction parallel to the surface reflected light, and a direction orthogonal to the incident direction between the incident light that provides the surface reflected light and the incident light that provides the boundary surface reflected light A control unit for calculating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the incident light position shift amount that is the distance of the coating state measuring device, wherein the light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism. And the light detection unit reflects from the surface and boundary A light receiving element for receiving, wherein the control unit is provided with a circuit for determining the temporal change rate of more incident light position displacement amount of the laser beam scanning of the output from the light receiving element. According to a twenty-fifth aspect of the present invention, the measurement light is applied to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface from a direction that is not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. A light irradiator, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from a coating state measuring device,
The light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit has position signal electrodes at both ends on the light incident surface side as elements for receiving light reflected from the surface and the boundary surface, and has a bottom surface side. A reference current is used as a reference electrode, and a photocurrent generated by incident light incident on the light incident surface and divided into a magnitude inversely proportional to the distance between the incident position and each of the position signal electrodes is output from each position detection electrode. A covering state measuring device, comprising: a PSD element which is a semiconductor device for position detection to be performed; and a control unit including a circuit for calculating a reflected light shift amount from a change in a position of a center of gravity of light detected by the PSD element. According to a twenty-sixth aspect of the present invention, the measurement light is applied to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface from a direction not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. A light irradiating section, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body main body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. From the incident light beam that gives the surface reflected light and the incident light position shift amount that is the distance between the incident light beam that gives the boundary surface reflected light and the direction perpendicular to the incident direction. A control unit for obtaining thickness and uneven thickness; In the device, the light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit has position signal electrodes at both ends on the light incident surface side as elements for receiving reflected light from the surface and the boundary surface. In addition, each position is detected by a light current which is made of a semiconductor having a bottom surface as a reference electrode and which is generated by incident light incident on the light incident surface and divided into a magnitude inversely proportional to the incident position and the distance to each of the position signal electrodes. A covering state measurement, comprising: a PSD element which is a semiconductor device for position detection output from an electrode; and a control unit including a circuit for obtaining a deviation amount of reflected light from a change in a position of a center of gravity of light detected by the PSD element. apparatus. According to a twenty-seventh aspect of the present invention, the measurement light is applied to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface from a direction that is not parallel to the longitudinal axis of the cylindrical linear body. A light irradiating section, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and a boundary surface between the coating and the columnar linear body main body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects surface reflection light and a boundary surface reflection light reflected in a direction parallel to the surface reflection light, and a reflection light position shift amount that is a distance between the surface reflection light and the boundary surface reflection light in a direction orthogonal to the specific direction. From the incident light beam that gives the surface reflected light and the incident light position shift amount that is the distance between the incident light beam that gives the boundary surface reflected light and the direction perpendicular to the incident direction. A control unit for obtaining thickness and uneven thickness; In the device, the light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit has position signal electrodes at both ends on the light incident surface side as elements for receiving reflected light from the surface and the boundary surface. In addition, each position is detected by a light current which is made of a semiconductor having a bottom surface as a reference electrode and which is generated by incident light incident on the light incident surface and divided into a magnitude inversely proportional to the incident position and the distance to each of the position signal electrodes. A PSD element, which is a semiconductor device for position detection output from the electrode, wherein the control unit obtains the amount of reflected light deviation from the change in the barycentric position of the light detected by the PSD element and simultaneously detects the amount of incident light positional deviation from the change in light intensity A covering state measuring device comprising a circuit for determining [28] The invention of claim 28 is characterized in that, in any one of claims 17 to 27, the light detection unit includes a stop for limiting the light receiving numerical aperture of the observation optical system. According to a twenty-ninth aspect of the present invention, in the twenty-eighth aspect, the stop for limiting the light receiving numerical aperture of the observation optical system has an optical axis coincident with a specific direction and focuses parallel light to one point on a focal plane. It is a pinhole or a slit arranged on the focal plane of the system. [30] The invention according to [30] includes the polarizer according to any one of [17] to [29], wherein the light irradiation unit converts the light from the light source into linearly polarized light in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the cylindrical linear body. Alternatively, the light detection unit detects only a polarized light component in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the cylindrical linear body in the reflected light from the cylindrical linear body. [31] The invention according to claim 31 is the method according to any one of claims 17 to 30, wherein the optical axis of the light irradiating section and the optical axis of the light detecting section are determined by measuring the coating surface of the cylindrical linear body at the reflection point of the measurement light. It is characterized by making a Brewster angle with respect to the line. [32] The invention as set forth in [32], wherein in any one of claims 17 to 31, a refractive index matching agent is provided around the cylindrical linear body, and the reflectance of the cylindrical linear body on the coating surface is; The difference between the reflectance at the interface between the coating and the columnar linear body or the interface between the layers of the coating is reduced.
【0009】一方、本発明に係る被覆状態測定装置は、
表面に少なくとも一層からなる被覆が施された円柱状線
状体の側面に対して該円柱状線状体の長手方向軸に平行
でない方向から測定光を照射する光照射部と、該円柱状
線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射し
た表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界面
もしくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行な
方向に反射した境界面反射光とを検出する光検出部と、
これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを備えた
ことを特徴とし、また、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射す
る光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも
一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱
状線状体本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で
上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光と
を検出する光検出部と、該表面反射光を与える入射光及
び該境界面反射光を与える入射光間のその入射方向に直
交する方向の距離である入射光位置ずれ量から該円柱状
線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを備えたこ
とを特徴とし、さらに、表面に少なくとも一層からなる
被覆が施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線
状体の長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射す
る光照射部と、該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも
一つの特定方向に反射した表面反射光と、該被覆と円柱
状線状体本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面で
上記表面反射光と平行な方向に反射した境界面反射光と
を検出する光検出部と、これら表面反射光及び境界面反
射光間のその特定方向に直交する方向の距離である反射
光位置ずれ量と、該表面反射光を与える入射光線及び該
境界面反射光を与える入射光線間のその入射方向に直行
する方向の距離である入射光位置ずれ量との両方から該
円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを備
えたことを特徴とする。On the other hand, the coating state measuring device according to the present invention
A light irradiating unit that irradiates measurement light from a direction that is not parallel to a longitudinal axis of the cylindrical linear body with respect to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on its surface; Surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the body, and reflected in a direction parallel to the surface reflected light on a boundary surface between the coating and the cylindrical linear body or a boundary surface of each layer of the coating. A light detection unit that detects the reflected light reflected from the boundary surface;
A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the amount of displacement of the reflected light, which is the distance between the surface reflected light and the boundary surface reflected light in the direction orthogonal to the specific direction. A light irradiating unit that irradiates a measurement light from a direction not parallel to a longitudinal axis of the cylindrical linear body with respect to a side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface. Surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the columnar linear body, and the surface reflected light on the boundary between the coating and the columnar linear body or the boundary of each layer of the coating. And a light detection unit that detects boundary surface reflected light reflected in a direction parallel to the direction, and a distance in a direction orthogonal to the incident direction between the incident light that provides the surface reflected light and the incident light that provides the boundary surface reflected light. From a certain amount of incident light position shift, the coating thickness of the cylindrical linear body A control unit for seeking uneven thickness, and further comprising, on the longitudinal axis of the cylindrical linear body, with respect to the side surface of the cylindrical linear body having at least one coating on the surface. A light irradiating unit that irradiates measurement light from a direction that is not parallel, surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body, and a boundary surface between the coating and the cylindrical linear body main body Or, a light detection unit that detects the boundary surface reflected light reflected in a direction parallel to the surface reflected light at the boundary surface of each layer of the coating, and a direction orthogonal to the specific direction between the surface reflected light and the boundary surface reflected light And the incident light position shift amount, which is the distance between the incident light beam that provides the surface reflected light and the incident light beam that provides the boundary surface reflected light, in the direction perpendicular to the incident direction. The coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from That the control unit, characterized by comprising and.
【0010】以下、本発明を図面を参照しながら説明す
る。The present invention will be described below with reference to the drawings.
【0011】図34に示すように、被検体である線状体
の一例としての被覆光ファイバ100はガラス部100
a及び樹脂部100bからなるものとし、該被覆光ファ
イバ100の側方から測定光を照射する。そして、特定
方向への表面反射光及び境界面反射光である光A,Bを
測定し、これら光A,Bの距離である反射光位置ずれ量
d2 を測定する。また、必要により、これら光A,Bに
対応する入射光A′,B′間の距離である入射光位置ず
れ量d1 も測定する。なお、図34では簡単のため、光
A,B,A′,B′は被覆光ファイバ100の長手方向
軸に直交する面内にあるとし、特定方向と照射方向とは
直交するものとする。As shown in FIG. 34, a coated optical fiber 100 as an example of a linear body as an object is a glass part 100.
a and the resin portion 100b, and the measuring light is irradiated from the side of the coated optical fiber 100. The light A is the surface reflected light and the boundary surface reflection light in a specific direction, to measure B, these light A, to measure the reflected light position displacement amount d 2 is the distance B. Further, it required by these lights A, the incident light A corresponding to B ', B' also the incident light position displacement amount d 1 is the distance between measuring. In FIG. 34, for simplicity, it is assumed that the lights A, B, A ', and B' are in a plane orthogonal to the longitudinal axis of the coated optical fiber 100, and the specific direction is orthogonal to the irradiation direction.
【0012】ここで、上述した距離d1 ,d2 に基づい
て被覆状態を推定する方法の一例を図34を参照しなが
ら説明する。なお、ここでは、被覆光ファイバ100の
ガラス部100aの半径r1 、樹脂部100bの半径r
2 、被覆光ファイバ100の周囲の屈折率n1 、樹脂部
100bの屈折率n2 が既知とする。樹脂部100bの
表面を表す半径r2 の円の中心をxy座標の原点
(C2 )とすると、光Aの反射点P0 の座標は下記数1
で示され、また、光B′の樹脂部100bへの入射点P
1 、及び光Bの樹脂部100bからの出射点P2 の座標
はそれぞれ数2及び数3で示される。Here, an example of a method of estimating the covering state based on the distances d 1 and d 2 will be described with reference to FIG. Here, the radius r 1 of the glass part 100a of the coated optical fiber 100 and the radius r 1 of the resin part 100b
2, the refractive index n 1 of the surrounding of the coated optical fiber 100, the refractive index n 2 of the resin portion 100b is assumed to be known. When the center of the circle of radius r 2 representing the surface of the resin portion 100b and the xy coordinates of the origin (C 2), the coordinates of the reflection point P 0 of the light A is below the number 1
And the incident point P of the light B 'on the resin portion 100b.
1, and the coordinate emission point P 2 from the resin portion 100b of the light B is represented by each number 2 and number 3.
【0013】[0013]
【数1】 (Equation 1)
【0014】[0014]
【数2】 (Equation 2)
【0015】[0015]
【数3】 (Equation 3)
【0016】一方、光B′の樹脂部100bへの入射角
θ1 は、P1 の座標(P1x,P1y)を用いて数4で表さ
れ、また、光Bの出射角θ3 はP2 の座標(P2x,
P2y)を用いて数5で表される。さらに、P1 及びP2
での屈折の関係はそれぞれ数6、数7で表される。[0016] On the other hand, the incident angle theta 1 to the resin portion 100b of the light B 'has the coordinates P 1 (P 1x, P 1y ) expressed by the number 4 using also emission angle theta 3 of the light B is P 2 of the coordinate (P 2x,
P 2y ) and is represented by Equation 5. Further, P 1 and P 2
The relationship of refraction at is expressed by Equations 6 and 7, respectively.
【0017】[0017]
【数4】 (Equation 4)
【0018】[0018]
【数5】 (Equation 5)
【0019】[0019]
【数6】 (Equation 6)
【0020】[0020]
【数7】 (Equation 7)
【0021】また、光B′の樹脂部100bとガラス部
100aとの境界面での反射点P3 の座標(P3x,
P3y)を満たす条件は数8及び数9で表される。Further, the coordinates of the reflection point P 3 on the boundary surface between the resin portion 100b and the glass portion 100a of the light B '(P 3x,
The condition satisfying P 3y ) is expressed by Expressions 8 and 9.
【0022】[0022]
【数8】 (Equation 8)
【0023】[0023]
【数9】 (Equation 9)
【0024】ここで、tan (π−θ1 +θ2 )=T1 ,
tan (θ3 −θ4 )=T2とおいて解くと、P3x,P3y
はそれぞれ数10、数11で表される。Here, tan (π−θ 1 + θ 2 ) = T 1 ,
Solving with tan (θ 3 −θ 4 ) = T 2 gives P 3x , P 3y
Is represented by Equations 10 and 11, respectively.
【0025】[0025]
【数10】 (Equation 10)
【0026】[0026]
【数11】 [Equation 11]
【0027】そして、ガラス部100aの中心座標C1
は反射点P3 における入射光と出射光とがなす角の二等
分線上でP3 からr1 の位置にあるので、数10、数1
1より座標(C1x,C1y)は数12で表される。Then, the center coordinate C 1 of the glass part 100a.
Since in the position of r 1 from P 3 with bisector of the angle between the incident light and the outgoing light at the reflection point P 3, the number 10, number 1
From 1, the coordinates (C 1x , C 1y ) are expressed by Equation 12.
【0028】[0028]
【数12】 (Equation 12)
【0029】すなわち、C1 (C1x,C1y)はガラス部
100aの中心の樹脂部100bの中心C2 からのずれ
(偏心量)を表しており、これにより偏肉度(最大肉厚
に対する最小肉厚の比で表される)及び偏肉方向などの
被覆状態を知ることができる。なお、以上の説明は簡単
のため、被覆が一層で反射光である光A,Bが入射光で
ある光A′,B′と直交するものとしたが、被覆が複数
層でも、他の方向への反射光を測定しても同様に被覆状
態を知ることができる。That is, C 1 (C 1x , C 1y ) represents a deviation (amount of eccentricity) of the center of the glass portion 100a from the center C 2 of the resin portion 100b. And the coating state such as the thickness deviation direction. For the sake of simplicity, it is assumed that the light A, B, which is a single layer of reflected light, is orthogonal to the light A ', B', which is incident light. The state of the coating can be similarly determined by measuring the reflected light.
【0030】また、通常の光ファイバの製造ラインにお
いては、品種によって樹脂部100bの外径r2 が変化
し、n1 ,n2 も変化する場合があるが、この場合に
は、被覆光ファイバ100の周囲の複数方向から上述し
たような方法で同様な測定を行うことにより、同じく偏
肉を知ることができる。すなわち、図35に示すよう
に、上述したd1 ,d2 を測定すると同時に、他方向か
ら光を入射して光C′,D′に対応する表面反射光及び
境界面反射光である光C,Dを受光して、光C′,D′
の距離d3 及び光C,Dの距離d4 を測定し、次の手続
で被覆状態を測定する。 d1 ,d2 より、P0 ,P1 ,P2 の座標を算出
し、d3 ,d4 より、P 4,P5 , P6 の座標を算出す
る。 P0 ,P4 の座標から樹脂部100bの外径r2と
中心C2 を算出する。 P3 ,P7 ,C1 の座標を、それぞれn1 ,n2 を
未知数とする関数で示す。 P3 ,P7 のそれぞれに関し、これらがC1 を中心
とする半径r1 の円周上に位置する旨の条件式をつく
る。 のP3 ,P7 ,C1 の座標と、のP3 ,P7 に
関する条件式を解き、座標C1 (x,y)を算出する。 C1 ,C2 の座標より被覆状態を推定する。In addition, a conventional optical fiber production line
The outer diameter r of the resin portion 100b depends on the type.TwoChanges
Then n1, NTwoMay also change, but in this case
Described above from a plurality of directions around the coated optical fiber 100.
By performing similar measurements in the same way,
You can know the meat. That is, as shown in FIG.
In addition, d1, DTwoAt the same time as measuring
And the surface reflected light corresponding to the light C 'and D'
Lights C and D, which are reflected light at the boundary surface, are received, and light C 'and D'
Distance dThreeAnd the distance d between the lights C and DFourMeasure the following procedure
The coated state is measured with. d1, DTwoThan P0, P1, PTwoCalculate the coordinates of
Then dThree, DFourThan P Four, PFive, P6Calculate the coordinates of
You. P0, PFourFrom the coordinates of the outer diameter r of the resin portion 100bTwoWhen
Center CTwoIs calculated. PThree, P7, C1Coordinate of n1, NTwoTo
Shown as a function with unknowns. PThree, P7For each of1Around
Radius r1A conditional expression that is located on the circumference of
You. PThree, P7, C1Coordinates and PThree, P7To
Solve the conditional expression for the coordinate C1(X, y) is calculated. C1, CTwoIs estimated from the coordinates of.
【0031】以上説明したのは、一組のd1 ,d2 に基
づいて被覆状態を推定する例ではあるが、d1 ,d2 の
何れか一方からでも推定することができる。また、一方
向から測定光を照射して複数の特定方向への反射光を検
出することにより求めた複数の入射光位置ずれ量d1 、
あるいは複数の反射光位置ずれ量d2 からも被覆状態を
推定することができる。さらに、複数の方向から測定光
を照射すると共に複数の特定方向へ反射光を検出するこ
とにより、複数組のd1 ,d2 を求めれば、さらに、精
密に被覆状態を推定することができる。Although the above is an example of estimating the covering state based on a pair of d 1 and d 2 , it can be estimated from either d 1 or d 2 . Further, a plurality of incident light position shift amounts d 1 obtained by irradiating measurement light from one direction and detecting reflected lights in a plurality of specific directions,
Or more it can also estimate the covering state from the reflected light position displacement amount d 2. Furthermore, by irradiating measurement light from a plurality of directions and detecting reflected light in a plurality of specific directions to obtain a plurality of sets of d 1 and d 2 , it is possible to more accurately estimate the covering state.
【0032】[0032]
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to embodiments.
【0033】図1には本発明方法を実施するための第一
の実施例に係る被覆状態測定装置を概念的に示す。同図
に示すように、被検体である線状体の一例としての被覆
光ファイバ100は、ガラス部100a及び樹脂部10
0bからなるものとし、該被覆光ファイバ100の側方
には実質的な平行光を出力する平行光照射部110及び
反射光受光部120が配されている。ここで、平行光照
射部110は、被覆光ファイバ100の側面に対向して
設けられ光軸が被覆光ファイバ100の長手方向と直交
するコリメートレンズ111と、このコリメートレンズ
111の後方に設けられた光源112とを具えており、
平行光を被覆光ファイバ100の側面に平行光を照射で
きるようになっている。一方、反射光受光部120は、
被覆光ファイバ100の側面に対向して配されて該被覆
光ファイバ100の長手方向及び上記コリメートレンズ
111の光軸と直交する光軸を有する集光レンズ121
と、この集光レンズ121の後方の焦点位置にスリット
122aを有するピンホール部材122と、このピンホ
ール部材122の後方に設けられると共にピンホール部
材122aが焦点位置となるコリメートレンズ123
と、このコリメートレンズ123の後方に設けられてピ
ンホール122a及びコリメートレンズ123を通過し
た光を受光して検知するイメージセンサ124とを具
え、集光レンズ121の光軸に平行な反射光のみをイメ
ージセンサ124が受光できるようになっている。そし
て、制御部130はイメージセンサ124からデータを
処理することにより反射光位置ずれ量を求めるようにな
っている。図1に示す装置は、特定方向の表面反射光及
び境界面反射光を選択的に受光するために、集光レンズ
121及びピンホール部材122を用いるものであり、
非常に簡単な設備で被覆状態測定を実現することができ
る。なお、本発明でイメージセンサとは固体撮像素子を
いい、MOSトランジスタやCCDメモリの配列上に光
を受けて各セルの出力を電子的に走査することにより光
を電気信号に変換する装置をいう。またピンホール部材
122の代りにスリットを有する部材を用いてもよい。FIG. 1 conceptually shows a coating state measuring apparatus according to a first embodiment for carrying out the method of the present invention. As shown in the figure, a coated optical fiber 100 as an example of a linear body as an object includes a glass portion 100a and a resin portion 10a.
0b, a parallel light irradiating section 110 for outputting substantially parallel light and a reflected light receiving section 120 are arranged beside the coated optical fiber 100. Here, the parallel light irradiating unit 110 is provided to face the side surface of the coated optical fiber 100, and the collimating lens 111 whose optical axis is orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100, and is provided behind the collimating lens 111. With a light source 112,
The parallel light can be applied to the side surface of the coated optical fiber 100. On the other hand, the reflected light receiving unit 120
A condensing lens 121 disposed opposite to the side surface of the coated optical fiber 100 and having an optical axis orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100 and the optical axis of the collimating lens 111.
A pinhole member 122 having a slit 122a at a focal position behind the condenser lens 121, and a collimating lens 123 provided behind the pinhole member 122 and having the pinhole member 122a at the focal position.
And an image sensor 124 provided behind the collimating lens 123 to receive and detect the light passing through the pinhole 122a and the collimating lens 123, and to detect only reflected light parallel to the optical axis of the condenser lens 121. The image sensor 124 can receive light. The controller 130 processes the data from the image sensor 124 to determine the amount of displacement of the reflected light. The device shown in FIG. 1 uses a condenser lens 121 and a pinhole member 122 to selectively receive surface reflected light and boundary surface reflected light in a specific direction,
The coating condition can be measured with very simple equipment. In the present invention, an image sensor refers to a solid-state imaging device, and is a device that receives light on an array of MOS transistors and CCD memories and electronically scans the output of each cell to convert the light into an electric signal. . Further, a member having a slit may be used instead of the pinhole member 122.
【0034】次に、図1の装置により行う偏肉測定の原
理を説明する。平行光照射部110から平行光を照射す
ると、まず、被覆光ファイバ100の樹脂部100bの
表面で反射した表面反射光である光Aと、樹脂部100
bとガラス部100aとの境界面で反射した境界面反射
光である光Bと選択的にイメージセンサ124に受光さ
れ、この他の反射光は受光されない。したがって、光A
及び光Bを受光した位置から、光A及び光B間の距離d
2 を検知することができる。また、被覆状態を測定する
ためには、光A及び光Bに対応する入射光である光A′
及び光B′間の距離d1 も検知する必要はあるが、これ
は例えば光を逆行させて同様に測定することにより求め
ることができる。なお、これらd1 、d2 に基づいて被
覆状態を推定する方法は上述した通りであるのでここで
の説明は省略する。Next, the principle of uneven thickness measurement performed by the apparatus shown in FIG. 1 will be described. When the parallel light is irradiated from the parallel light irradiating section 110, first, the light A which is the surface reflected light reflected on the surface of the resin section 100b of the coated optical fiber 100 and the resin section 100
The light B, which is the boundary light reflected at the boundary between the glass part 100a and the glass part 100a, is selectively received by the image sensor 124, and the other reflected light is not received. Therefore, light A
And the distance d between light A and light B from the position where light B was received.
2 can be detected. Further, in order to measure the covering state, light A ′ which is incident light corresponding to light A and light B is used.
It is also necessary to detect the distance d 1 between the light B ′ and the light B ′, which can be determined, for example, by reversing the light and measuring similarly. Note that the method of estimating the covering state based on these d 1 and d 2 is as described above, and the description is omitted here.
【0035】図2に示す装置は、反射光位置ずれ量(光
A,B間の距離d2)と同時に、入射光位置ずれ量(光
A′,B′間の距離d2 )を測定できるようにしたもの
であり、反射光受光部120側には、ビームスプリッタ
141を介して第二の平行光照射部150が結合されて
おり、平行光照射部110側にはビームスプリッタ14
2を介して第二の反射光受光部160が結合されてい
る。ここで、第二の平行光照射部150は、上述した反
射光(光A,B)に逆行する平行光を被覆光ファイバ1
00に照射するものであり、ビームスプリッタ142に
対向するコリメートレンズ151と、このコリメートレ
ンズ151の後方に配される光源152とを具えてい
る。一方、第二の反射光受光部160は、上述した入射
光(光A′,B′)に逆行する反射光を受光するもので
あり、ビームスプリッタ142に対向する集光レンズ1
61と、この集光レンズ161の焦点にピンホール16
2aを有するピンホール部材162と、このピンホール
部材162の後方に配されると共にピンホール162a
が焦点位置となり該ピンホール162aを通過した反射
光を平行光とするコリメートレンズ163と、ピンホー
ル112a及びコリメートレンズ163を通過した光を
受光するイメージセンサ164とを具えている。なお、
制御部は図1の装置に準じて構成すればよい。The apparatus shown in FIG. 2 can measure the amount of displacement of the incident light (the distance d 2 between the lights A 'and B') simultaneously with the amount of the displacement of the reflected light (the distance d 2 between the lights A and B). The second parallel light irradiating unit 150 is coupled to the reflected light receiving unit 120 via a beam splitter 141, and the beam splitter 14 is connected to the parallel light irradiating unit 110.
2, the second reflected light receiving section 160 is coupled. Here, the second parallel light irradiating unit 150 converts the parallel light that goes backward to the above-mentioned reflected light (light A, B) into the coated optical fiber 1.
The collimator lens 151 irradiates the light to the beam splitter 142 and includes a collimator lens 151 facing the beam splitter 142 and a light source 152 disposed behind the collimator lens 151. On the other hand, the second reflected light receiving unit 160 receives the reflected light that goes backwards from the incident light (lights A ′ and B ′) described above, and the condensing lens 1 facing the beam splitter 142.
61 and the pinhole 16 at the focal point of the condenser lens 161.
2a, a pinhole member 162 having a pinhole 162a
Is a focal position, and has a collimating lens 163 that makes reflected light passing through the pinhole 162a parallel light, and an image sensor 164 that receives light passing through the pinhole 112a and the collimating lens 163. In addition,
The control section may be configured in accordance with the apparatus shown in FIG.
【0036】かかる偏肉測定装置で被覆状態を推定する
方法は、図1に示す装置で説明したものと同様であるの
で、ここでの説明は省略するが、本装置によれば、上述
した入射光である光A′,B′の距離d1 と共に反射光
である光A,Bの距離d2 も同時に測定することができ
る。すなわち、図3、4に示すように、イメージセンサ
124及びイメージセンサ164で検出される出力ピー
クの位置関係によりd1 ,d2 を算出することができ
る。したがって、これらd1 ,d2 を用いることによ
り、上述した手法で被覆状態を推定することができる。The method of estimating the coating state with this uneven thickness measuring apparatus is the same as that described with reference to the apparatus shown in FIG. light a which is a light ', B' light a, distance d 2 B a reflected light with distance d 1 can be measured simultaneously. That is, as shown in FIGS. 3 and 4, d 1 and d 2 can be calculated from the positional relationship between the output peaks detected by the image sensor 124 and the image sensor 164. Therefore, by using these d 1 and d 2 , the covering state can be estimated by the method described above.
【0037】ここで、実際に偏肉を生じている被覆光フ
ァイバ(r1 =125/2μm,r 2 =170/2μ
m)について、d1 ,d2 を測定した例を示す。 (測定例1)d1 =10μm,d2 =20μmとなり、
C1 の座標は(−1.732294,−7.6861
2)として求められた。なお、この例の被覆状態を図示
すると図5のようになる。 (測定例2)d1 =20μm,d2 =0μmとなり、C
1 の座標は(−4.73828,7.53631)とし
て求められた。なお、この例の被覆状態を図示すると図
6のようになる。 (測定例3)d1 =−10μm,d2 =30μmとな
り、C1 の座標は(14.0952,−10.384
7)として求められた。なお、この例の被覆状態を図示
すると図7のようになる。Here, the coated optical fiber actually causing uneven thickness is used.
Fiber (r1= 125/2 µm, r Two= 170 / 2μ
For m), d1, DTwoThe example which measured is shown. (Measurement Example 1) d1= 10 μm, dTwo= 20 μm,
C1Are (−1.732294, −7.66861)
2). In addition, the covering state of this example is illustrated.
Then, it becomes as shown in FIG. (Measurement Example 2) d1= 20 μm, dTwo= 0 μm, and C
1Is (-473.828, 7.53631)
Was asked. It should be noted that the covering state of this example is illustrated.
It looks like 6. (Measurement Example 3) d1= −10 μm, dTwo= 30 μm
C1Are (14.0952, -10.384)
7). In addition, the covering state of this example is illustrated.
Then, it becomes as shown in FIG.
【0038】また、図1の装置では、ピンホール部材1
22とイメージセンサ124との間にコリメートレンズ
124を設けているが、これは必ずしも必要ではない。
また、上述した装置を二セット以上設けることにより、
樹脂部100bの外径r2 、樹脂部100bの屈折率n
2 及び周囲の屈折率n1 が未知でも偏肉が測定できる。
さらに、樹脂部100bの表面での反射率と、樹脂部1
00bとガラス部100aとの境界面での反射率との差
が大きく、受光器で検出しにくい場合には、被覆光ファ
イバ100の周囲に反射率整合剤を配して、上述した表
面の反射率と境界面の反射率との差を小さくするのが好
ましい。Further, in the apparatus shown in FIG.
Although the collimating lens 124 is provided between the image sensor 22 and the image sensor 124, this is not always necessary.
Also, by providing two or more sets of the above-described devices,
Outer diameter r 2 of resin part 100b, refractive index n of resin part 100b
The uneven thickness can be measured even if the refractive index n 1 and the surrounding refractive index n 1 are unknown.
Further, the reflectance on the surface of the resin part 100b and the resin part 1
If the difference between the reflectance at the interface between the glass fiber 100b and the glass part 100a is large and it is difficult to detect the reflectance with the light receiver, a reflectance matching agent is disposed around the coated optical fiber 100 to reflect the above-mentioned surface reflection. It is preferable to reduce the difference between the reflectance and the reflectance of the interface.
【0039】また、図1に示す装置では、特定方向の表
面反射光及び境界面反射光のみを選択的に受光するため
に、集光レンズ121及びピンホール部材122を用い
てるが、これらを用いずに、受光レンズ及び撮像素子か
らなる検出系を用いてもよい。The apparatus shown in FIG. 1 uses the condenser lens 121 and the pinhole member 122 in order to selectively receive only the surface reflected light and the boundary surface reflected light in a specific direction. Instead, a detection system including a light receiving lens and an image sensor may be used.
【0040】図8には受光レンズ125及びCCD撮像
素子126からなる検出系を用いた例を示す。この場合
におけるCCD撮像素子126での受光をテレビモニタ
で観察すると、図9のようになる。同図において、A,
B,C,Dは反射光を示し、図10のA〜Dでの反射光
に対応する。よって、B,Cの距離が上述した反射光位
置ずれ量d2 になる。FIG. 8 shows an example in which a detection system including a light receiving lens 125 and a CCD image sensor 126 is used. Observation of the light received by the CCD image sensor 126 in this case on a television monitor is as shown in FIG. In FIG.
B, C, and D indicate reflected lights, and correspond to the reflected lights in A to D in FIG. Therefore, the distance between B and C is the above-described reflected light position shift amount d 2 .
【0041】また、図1又は図8において、測定光とし
ての平行光の代りに被覆光ファイバ100の長手方向軸
に交差する方向に幅広いスリット光を用いることもでき
る。なお、スリット光はスリット部材、円柱レンズ、あ
るいはプリズムなどのスリット生成手段により生成す
る。そして、図8において平行光の代りにスリット光を
照射した場合の測定結果を図11に示す。この場合のA
〜Dは図10のA〜Dの反射光に対応する。In FIG. 1 or FIG. 8, a wide slit light in a direction intersecting the longitudinal axis of the coated optical fiber 100 can be used instead of the parallel light as the measuring light. Note that the slit light is generated by slit generating means such as a slit member, a cylindrical lens, or a prism. FIG. 11 shows the measurement results when slit light is irradiated instead of parallel light in FIG. A in this case
To D correspond to the reflected lights A to D in FIG.
【0042】さらに、これらの場合において、平行光又
はスリット光の照射を被覆光ファイバ100の長手方向
軸に直交する面に対して傾いた方向から行ってもよい。
この様子を示したのが図12及び図13である。Further, in these cases, the irradiation of the parallel light or the slit light may be performed from a direction inclined with respect to a plane orthogonal to the longitudinal axis of the coated optical fiber 100.
FIG. 12 and FIG. 13 show this state.
【0043】図12の場合には撮像光学系が被覆光ファ
イバ100の長手方向に垂直な断面に対して傾いている
ので、撮像光学系の合焦位置が被覆光ファイバ100の
長手方向に亘って変化することになる。したがって、被
覆光ファイバ100が線引中であり微動している場合に
も、図8のようなテレビモニタにおいて縦方向の何れか
の位置で合焦することになるという効果がある。In the case of FIG. 12, since the imaging optical system is inclined with respect to the cross section perpendicular to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100, the focus position of the imaging optical system extends over the longitudinal direction of the coated optical fiber 100. Will change. Therefore, even when the coated optical fiber 100 is being drawn and is slightly moving, there is an effect that focusing is performed at any position in the vertical direction on the television monitor as shown in FIG.
【0044】また、図13に示すようにスリット光を傾
めから照射した場合には、図14に示すような測定結果
が得られる。すなわち、この場合、図10の場合と比べ
て反射光B,C間の距離が大きくなり、両者が分離し易
く、測定精度が向上するという効果がある。Further, when the slit light is emitted from an inclined position as shown in FIG. 13, a measurement result as shown in FIG. 14 is obtained. That is, in this case, the distance between the reflected lights B and C is larger than in the case of FIG.
【0045】図8、12、13においては、観測光学系
の受光開口数を制限して焦点深度を大きくすると共にC
CD撮像素子126に到達する反射光の角度範囲を限定
すると、測定対象となる反射光の検出が容易になる。具
体的には図15に示すように、受光レンズ125とCC
D撮像素子126との間に絞り部材127を設ければよ
い。8, 12, and 13, the depth of focus is increased by limiting the light receiving numerical aperture of the observation optical system, and
Limiting the angle range of the reflected light reaching the CD image sensor 126 facilitates detection of the reflected light to be measured. More specifically, as shown in FIG.
An aperture member 127 may be provided between the image sensor 126 and the D image sensor 126.
【0046】図15に示すように絞り部材127を設け
ると、円柱状の被覆光ファイバ100の表面の反射光の
うち例えば破線で示す周囲の光が除去されて、必要な反
射光を含む一定範囲の反射光を受光することができ、観
察し易くなるというメリットがある。また、絞り部材1
27の作用により焦点深度が深くなるので、被覆光ファ
イバ100の表面及びガラス部100aと樹脂部100
bとの境界の両方に焦点が合い易くなり、また、被覆光
ファイバ100の位置が不安定であっても観測が容易と
なる。When the stop member 127 is provided as shown in FIG. 15, for example, surrounding light indicated by a broken line among the reflected light on the surface of the cylindrical coated optical fiber 100 is removed, and a predetermined range including necessary reflected light is removed. There is an advantage that the reflected light can be received and observation becomes easy. Also, the aperture member 1
27, the depth of focus becomes deeper, so that the surface of the coated optical fiber 100 and the glass portion 100a and the resin portion 100
It becomes easy to focus on both the boundary with b, and the observation becomes easy even if the position of the coated optical fiber 100 is unstable.
【0047】図16にはスリット光を用いた他の被覆状
態測定装置の一例を概念的に示す。同図に示すように、
被検体である円柱状の一例としての被覆光ファイバ10
0は、ガラス部100a及び樹脂部100bからなるも
のとし、該被覆光ファイバ100の側方にはスリット光
照射部210と反射光受光部220とが配されている。
ここで、スリット光照射部210は、光源としてレーザ
光源又はダイオードなどを有し、被覆光ファイバ100
の長手方向の直交面と傾斜し、図面では紙面とも直交す
る面に沿ってのスリット光を被覆光ファイバ100の側
面にストロボ状に照射するものである。また、反射光受
光部220はスリット光照射部210の中心と被覆光フ
ァイバ100の中心軸とを含む面内に配されてスリット
光の反射光を受光するものであり、本実施例では二次元
イメージセンサを具えている。そして、これらスリット
光照射部210及び反射光受光部220からのデータを
処理して被覆状態を推定するデータ処理部230は、反
射光受光部220からの画像データを読み出して記憶す
るイメージメモリ231と、このイメージメモリ231
からの画像データとスリット光照射部210からのスト
ロボ同期信号とを受けてデータを処理して被覆状態を推
定するCPU232とからなる。FIG. 16 conceptually shows an example of another coating state measuring apparatus using slit light. As shown in the figure,
Coated optical fiber 10 as an example of a cylindrical shape as a subject
Reference numeral 0 denotes a glass part 100a and a resin part 100b, and a slit light irradiating part 210 and a reflected light receiving part 220 are arranged on the side of the coated optical fiber 100.
Here, the slit light irradiation unit 210 has a laser light source or a diode as a light source,
The slit light is applied in a strobe shape to the side surface of the coated optical fiber 100 along a plane that is inclined with respect to the plane perpendicular to the longitudinal direction of FIG. Further, the reflected light receiving section 220 is arranged in a plane including the center of the slit light irradiating section 210 and the central axis of the coated optical fiber 100 to receive the reflected light of the slit light. It has an image sensor. The data processing unit 230 that processes the data from the slit light irradiation unit 210 and the reflected light receiving unit 220 to estimate the covering state includes an image memory 231 that reads out and stores the image data from the reflected light receiving unit 220. , This image memory 231
And a CPU 232 that receives the image data from the camera and the strobe synchronization signal from the slit light irradiation unit 210 and processes the data to estimate the covering state.
【0048】次に、図16の装置により行う被覆状態測
定の原理を説明する。Next, the principle of the coating state measurement performed by the apparatus shown in FIG. 16 will be described.
【0049】図17に示すように、スリット光のうち被
覆光ファイバ100の中心に向かう光L0 が入射各φ1
で入射するとすると、偏肉がない状態では樹脂部100
b表面で反射した光L1 と、樹脂部100bとガラス部
100aとの境界面で反射した光L2 とが得られる。こ
のときの光L1 と光L2 との距離Sと肉厚Dとの間に
は、樹脂部100bの屈折率をn1 とすると、数13に
示す関係があるので、Sを測定することにより肉厚Dを
求めることができる。As shown in FIG. 17, the light L 0 of the slit light directed toward the center of the coated optical fiber 100 is incident on each φ 1.
When there is no unevenness, the resin portion 100
a light L 1 reflected by the b surface, a light L 2 reflected by the boundary surface between the resin portion 100b and the glass portion 100a is obtained. At this time, the distance S between the light L 1 and the light L 2 and the thickness D have a relationship shown in Expression 13 when the refractive index of the resin portion 100b is n 1. To obtain the thickness D.
【0050】[0050]
【数13】 (Equation 13)
【0051】しかし、偏肉が生じていると光L2 は光L
1 と平行には反射せず、図18、19に示すように、ガ
ラス部100aが偏心した方向にずれた光L0 ′がP1
から樹脂部100bに入射してガラス部100aの中心
に向い、該ガラス部100aのP2 で反射してその反射
光がP3 から光L1 と平行な方向に出射する。このと
き、光L0 ′の中心軸に直交する面中の入射角をθ1 、
出射角θ2 とし、同面内におけるP1 とP2 との距離を
k、光L0 と光L0 ′との距離をdとすると、図18に
示すP1 及びP2 の座標は数14、数15で示される。
なお、樹脂部100bの外径(半径)をr2 とする。However, when the thickness deviation occurs, the light L 2 becomes the light L
18 and 19, the light L 0 ′ which is not reflected in parallel to the light 1 and is displaced in the direction in which the glass portion 100a is decentered is P 1 as shown in FIGS.
After entering the resin part 100b toward the center of the glass portion 100a, the reflected light is reflected by the P 2 of the glass portion 100a is emitted in a direction parallel to the light L 1 from P 3. At this time, the incident angle in a plane orthogonal to the central axis of the light L 0 ′ is θ 1 ,
Assuming that the emission angle θ 2 , the distance between P 1 and P 2 in the same plane is k, and the distance between light L 0 and light L 0 ′ is d, the coordinates of P 1 and P 2 shown in FIG. 14, represented by Equation 15.
Note that the outer diameter of the resin portion 100b (the radius) and r 2.
【0052】[0052]
【数14】 [Equation 14]
【0053】[0053]
【数15】 (Equation 15)
【0054】また、P1 ,P2 を含み、中心軸に平行な
面内においてP1 における光L0 ′の入射角及び屈折角
をそれぞれφ1 ,φ2 とし、同面内における反射光L2
と反射光L2 ′との距離をhとすると、hは数16で示
され、さらに数16よりkは数17で示される。なお、
ガラス部100aの半径をr1 とする。Further, in a plane including P 1 and P 2 and parallel to the central axis, the incident angle and refraction angle of the light L 0 ′ at P 1 are φ 1 and φ 2 , respectively, and the reflected light L Two
Assuming that the distance between the light and the reflected light L 2 ′ is h, h is expressed by Expression 16, and k is expressed by Expression 17 from Expression 16. In addition,
The radius of the glass portion 100a and r 1.
【0055】[0055]
【数16】 (Equation 16)
【0056】[0056]
【数17】 [Equation 17]
【0057】ここで、図18におけるガラス部100a
の中心C1 はP1 からガラス部100aの半径方向(r
1 +k)だけ離れた位置にあるので、その座標(C1x,
C1y)は数18で表される。すなわち、図16に示す装
置でh,dを検出することにより、被覆状態を推定する
ことができる。Here, the glass portion 100a in FIG.
Radial (r center C 1 of the glass portion 100a from P 1
1 + k), the coordinates (C 1x,
C 1y ) is represented by Expression 18. That is, by detecting h and d with the device shown in FIG. 16, the covering state can be estimated.
【0058】[0058]
【数18】 (Equation 18)
【0059】図16に示す装置でh,dを求めるには、
反射光受光部220のイメージセンサから得られる反射
光のデータを、樹脂部100bでの屈折等を考慮した補
正を加えて処理すればよい。なお、以上の説明は簡単の
ため、被覆が一層のものとしたが、被覆が複数層でも同
様に被覆状態を知ることができる。In order to obtain h and d using the apparatus shown in FIG.
What is necessary is just to process the data of the reflected light obtained from the image sensor of the reflected light receiving unit 220 by adding a correction considering the refraction and the like in the resin unit 100b. Note that, for the sake of simplicity, the above description has been made with a single-layer coating.
【0060】図16に示す偏肉測定装置で被覆状態を測
定した。すなわち、スリット光照射部210からスリッ
ト光をストロボ状に照射すると共にその反射光を反射光
受光部220で受光し、CPU132によりイメージメ
モリ131に読み込まれたデータを処理することにより
d,hを求め、これにより被覆状態を推定する。The state of coating was measured by a thickness measuring apparatus shown in FIG. That is, the slit light is emitted from the slit light irradiating section 210 in a strobe shape, and the reflected light is received by the reflected light receiving section 220, and the data read into the image memory 131 by the CPU 132 is processed to obtain d and h. Thus, the covering state is estimated.
【0061】実際に観察されているのは図20に示すよ
うな2本の円弧状の反射部RA,RB である。ここで、反
射部RA は樹脂部100b表面での反射光からなるもの
であり、中心のスポットPA からP0 に一致するものと
考えられる。また、反射部R B はガラス部100aでの
反射光が樹脂部100bの表面であらわれたものであ
り、やはりスポットPB が観察される。そして、このス
ポットPB の位置に樹脂部100bでの屈折等の補正を
加えることにより上述したP3 の位置が求めることがで
きるが、簡易にはこのスポットPB の位置をP3 の位置
とすることができる。この場合、PA とPB との上下方
向の距離が図19に示すh′に対応し、P A とPB との
左右方向の距離が図18のdに対応する。したがって、
これらh′(h),dを用いることにより上述した方法
で被覆状態を推定することができる。FIG. 20 shows what is actually observed.
Two arc-shaped reflectors RA,RBIt is. Where anti
Shooting part RAIs composed of light reflected on the surface of the resin portion 100b
And the central spot PATo P0Matches with
Conceivable. Also, the reflection part R BIn the glass part 100a
The reflected light appears on the surface of the resin portion 100b.
Ri, spot PBIs observed. And this
Pot PBCorrection of refraction etc. in the resin part 100b at the position
By adding PThreeThe position of
This spot PBPosition PThreePosition of
It can be. In this case, PAAnd PBUp and down
The direction distance corresponds to h ′ shown in FIG. AAnd PBWith
The distance in the left-right direction corresponds to d in FIG. Therefore,
By using these h ′ (h) and d,
Can estimate the covering state.
【0062】なお、上述した装置を二セット以上設ける
ことにより、樹脂部100bの外径r2 、樹脂部100
bの屈折率n1 及び周囲の屈折率n0 が未知でも偏肉が
測定できる。また、樹脂部100bの表面での反射率
と、樹脂部100bとガラス部100aとの境界面での
反射率との差が大きく、反射光受光部で検出しにくい場
合には、被覆光ファイバ100の周囲に反射率整合剤を
配して、上述した表面の反射率と境界面の反射率との差
を小さくするのが好ましい。By providing two or more sets of the above-described devices, the outer diameter r 2 of the resin portion 100b and the resin portion 100
Even if the refractive index n 1 of b and the surrounding refractive index n 0 are unknown, uneven thickness can be measured. If the difference between the reflectance at the surface of the resin part 100b and the reflectance at the interface between the resin part 100b and the glass part 100a is large and it is difficult for the reflected light receiving part to detect it, the coated optical fiber 100 It is preferable that a difference in reflectance between the above-described surface and the boundary surface is reduced by disposing a reflectance matching agent around the periphery.
【0063】図16に示す装置において、データ処理部
230では、スリット光照射部210のストロボ状の照
射に同期してデータを処理しているが、これによると、
被覆光ファイバ100の位置が長手方向軸に交差する方
向に変動している場合でも確実に行うことができるとい
う効果が得られる。なお、かかる技術は他の実施例の装
置すべてに適用できることが言うまでもない。In the apparatus shown in FIG. 16, the data processing section 230 processes data in synchronization with the stroboscopic irradiation of the slit light irradiation section 210.
Even when the position of the coated optical fiber 100 varies in the direction intersecting the longitudinal axis, the effect can be obtained that the operation can be surely performed. It goes without saying that such a technique can be applied to all the devices of the other embodiments.
【0064】次に、測定光としてレーザ走査光を用いた
実施例を説明する。図21にはレーザ走査光を用いた被
覆状態測定装置の一例を概念的に示す。同図に示すよう
に、被検体である線状体の一例としての被覆光ファイバ
100は、ガラス部100a及び樹脂部100bからな
るものとし、該被覆光ファイバ100の側方にはレーザ
光走査部310及び反射光受光部320が配されてい
る。ここで、レーザ光走査部310は、被覆光ファイバ
100の側面に対向して設けられ光軸が被覆光ファイバ
100の長手方向と直交するコリメートレンズ311
と、このコリメートレンズ311の焦点位置に設けられ
て該焦点位置を通り且つ被覆光ファイバ100の長手方
向と平行な軸中心に回転する回転ミラー312と、この
回転ミラー312の回転中心部にレーザ光を照射するレ
ーザ光源313とを具えており、レーザ光を被覆光ファ
イバ100の長手方向に直交する面内でレーザ光を走査
できるようになっている。一方、反射光受光部320
は、被覆光ファイバ100の側面に対向して配されて該
被覆光ファイバ100の長手方向及び上記コリメートレ
ンズ311の光軸と直交する光軸を有する集光レンズ3
21と、この集光レンズ321の後方の焦点位置にスリ
ット322aを有するスリット部材322と、このスリ
ット部材322の後方に設けられてスリット322aを
通過した光を受光して検知する、例えばフォトダイオー
ドなどの受光器323とを具え、集光レンズ321の光
軸に平行な反射光のみを受光器323が受光できるよう
になっている。そして、制御部330はこれらレーザ光
走査部310及び反射光受光部320からデータを処理
することにより被覆状態を推定する働きをしている。す
なわち、制御部330は、回転ミラー312にミラー駆
動信号を送ると共にその同期信号を出力する回転ミラー
ドライバ331と、受光器323の出力信号を増幅して
出力する増幅器332と、回転ミラードライバ331か
らの同期信号及び増幅器332からの出力信号をA/D
変換するA/D変換器333と、このA/D変換器33
3からの信号を処理して受光器323が反射光を受光し
たときの走査位置を検出するCPU334とを具えてい
る。図21に示す装置は、特定方向の表面反射光及び境
界面反射光を選択的に受光するために、集光レンズ32
1及びスリット部材322を用いるものであり、本発明
方法を非常に簡単な設備で実現することができる。な
お、本発明で受光器とは、光の受光を検出してその光に
応じた電気的信号を出力する素子をいう。また、本発明
で用いるレーザ光のビーム径は、求められる分解能との
関係で適宜選定すればよいが、少なくとも測定する被覆
の最小値より小さく設定するのが望ましい。さらに、ス
リット部材322の代りにピンホールを有する部材を用
いてもよいことは言うまでもない。Next, an embodiment using laser scanning light as the measuring light will be described. FIG. 21 conceptually shows an example of a coating state measuring apparatus using laser scanning light. As shown in the figure, a coated optical fiber 100 as an example of a linear body as an object is composed of a glass part 100a and a resin part 100b, and a laser light scanning part is provided beside the coated optical fiber 100. 310 and a reflected light receiving unit 320 are provided. Here, the laser beam scanning unit 310 is provided to face the side surface of the coated optical fiber 100, and the collimating lens 311 whose optical axis is orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100.
A rotating mirror 312 provided at the focal position of the collimating lens 311 and passing through the focal position and rotating about an axis parallel to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100; And a laser light source 313 that irradiates the laser light in a plane perpendicular to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100. On the other hand, the reflected light receiving unit 320
Is a condensing lens 3 disposed opposite to the side surface of the coated optical fiber 100 and having an optical axis orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100 and the optical axis of the collimating lens 311.
21, a slit member 322 having a slit 322a at a focal position behind the condenser lens 321, and a light receiving and detecting light passing through the slit 322a provided behind the slit member 322, such as a photodiode. And the light receiver 323 can receive only reflected light parallel to the optical axis of the condenser lens 321. The control unit 330 functions to estimate the covering state by processing data from the laser beam scanning unit 310 and the reflected light receiving unit 320. That is, the control unit 330 sends a mirror drive signal to the rotating mirror 312 and outputs a synchronization signal thereof, a rotating mirror driver 331, an amplifier 332 that amplifies and outputs an output signal of the light receiver 323, and a rotating mirror driver 331. A / D is applied to the synchronization signal of
A / D converter 333 for conversion, and A / D converter 33
And a CPU 334 for processing a signal from the optical receiver 3 and detecting a scanning position when the light receiver 323 receives reflected light. The apparatus shown in FIG. 21 includes a condensing lens 32 for selectively receiving surface reflected light and boundary surface reflected light in a specific direction.
1 and the slit member 322, and the method of the present invention can be realized with very simple equipment. In the present invention, the light receiving device refers to an element that detects light reception and outputs an electric signal corresponding to the light. The beam diameter of the laser beam used in the present invention may be appropriately selected depending on the required resolution, but is preferably set to be at least smaller than the minimum value of the coating to be measured. Further, it goes without saying that a member having a pinhole may be used instead of the slit member 322.
【0065】次に、図21の装置により行う偏肉測定の
原理を説明する。回転ミラー312の回転駆動によりレ
ーザ光源313からのレーザ光を図中右から左へ向って
走査すると、まず、被覆光ファイバ100の樹脂部10
0bの表面で反射した表面反射光である光Aが受光器3
23に受光され、次いで、樹脂部100bとガラス部1
00aとの境界面で反射した境界面反射光である光Bが
受光器323に受光され、この他の反射光は受光されな
い。したがって、光A及び光Bを受光したときの出力と
回転ミラードライバ331からの同期信号とにより、光
A及び光Bに対応する入射光である光A′及び光B′間
の走査方向の距離d 1 を検知することができる。また、
被覆状態を測定するためには、必要により光A及び光B
間の距離d2 も検知する必要があるが、これは例えば光
を逆行させて同様に測定することができる。又は、光A
及び光Bを二つに分離して一方をその受光位置が検出で
きる他の検出手段、例えばイメージセンサ等により、同
時に検出することにより求めることができる。さらに、
上記表面反射光及び境界面反射光を検出するものとし
て、光入射面側の両端にそれぞれ位置信号電極を有する
と共に底面側を基準電極とする半導体からなり、光入射
面に入射した入射光により発生してその入射位置と上記
各位置信号電極までの距離に反比例した大きさに分かれ
た光電流を各位置検出電極から出力する位置検出用半導
体装置(PSD;Position Sensitiv
e Device)を用い、両位置信号電極の上記基準
電極に対する電位の和の出力と時間との関係より上記入
射光ずれ量d 1 を求めると共に、各位置信号電極の上記
基準電極に対する電位の大きさから算出される入射位置
の情報より上記反射光ずれ量d2 を求めることができ
る。Next, the thickness deviation measurement performed by the apparatus shown in FIG.
The principle will be described. The laser is driven by the rotation of the rotating mirror 312.
Laser light from the laser light source 313 from right to left in the figure.
When scanning, first, the resin portion 10 of the coated optical fiber 100
The light A which is the surface reflected light reflected on the surface
23, and then the resin portion 100b and the glass portion 1
Light B, which is the boundary surface reflected light reflected at the boundary surface with 00a,
The light is received by the light receiver 323, and other reflected light is not received.
No. Therefore, the output when light A and light B are received and
With the synchronization signal from the rotating mirror driver 331, the light
Between light A 'and light B' which are incident light corresponding to A and light B
Distance d in the scanning direction 1Can be detected. Also,
In order to measure the coating state, if necessary, light A and light B
Distance d betweenTwoAlso need to be detected
Can be similarly measured by reversing the above. Or light A
And the light B is separated into two, and one of them is detected by its light receiving position.
Other detection means such as an image sensor.
It can be obtained by detecting sometimes. further,
The above surface reflected light and boundary surface reflected light shall be detected.
Have position signal electrodes at both ends on the light incident surface side
And a semiconductor whose bottom side is the reference electrode
Generated by the incident light incident on the surface,
Divided into sizes inversely proportional to the distance to each position signal electrode
Position detection semiconductor that outputs the photocurrent from each position detection electrode
Body device (PSD; Position Sensitive)
e Device) and the above reference of both position signal electrodes
From the relationship between the output of the sum of potentials to the electrodes and time,
Light emission amount d 1And the above of each position signal electrode
Incident position calculated from the magnitude of the potential with respect to the reference electrode
From the reflected light deviation dTwoCan ask for
You.
【0066】図22には他の実施例に係る被覆状態測定
装置の構成を概念的に示したものである。なお、図21
と同一作用を示す部材には同一符号を付して重複した説
明は省略する。 図22に示す装置は、入射光位置ずれ
量(光A′,B′間の距離d 1 )と同時に、反射光位置
ずれ量(光A,B間の距離d2 )を測定できるようにし
たものであり、反射光受光部320側には、ビームスプ
リッタ341を介して第二のレーザ光走査部350が結
合されており、レーザ光走査部310側にはビームスプ
リッタ342を介して第二の反射光受光部360が結合
されている。ここで、第二のレーザ光走査部350は、
上述した反射光(光A,B)に逆行するレーザ光を被覆
光ファイバ100に走査するものであり、ビームスプリ
ッタ341に対向するコリメートレンズ351と、この
コリメートレンズ351の焦点位置に配される回転ミラ
ー352と、この回転ミラー352にレーザ光を照射す
るレーザ光源353とを具えている。一方、第二の反射
光受光部360は、上述した入射光(光A′,B′)に
逆行する反射光を受光するものであり、ビームスプリッ
タ342に対向する集光レンズ361と、この集光レン
ズ361の焦点にスリット362aを有するスリット部
材362と、このスリット部材362の後方に配されて
スリット362aを通過した光を受光する受光器363
とを具えている。なお、制御部は図21の装置に準じて
構成すればよい。FIG. 22 shows a coating state measurement according to another embodiment.
1 schematically shows the configuration of the device. Note that FIG.
The same reference numerals are given to members that have the same action as
Description is omitted. The device shown in FIG.
Quantity (distance d between light A 'and B') 1) And reflected light position
Displacement (distance d between light A and B)Two) Can be measured
The reflected light receiving section 320 has a beam splitter
The second laser beam scanning unit 350 is connected via the
The laser beam scanning unit 310 has a beam splitter
The second reflected light receiving unit 360 is coupled via the litter 342
Have been. Here, the second laser beam scanning unit 350
Coated with laser light that goes back to the above-mentioned reflected light (lights A and B)
The optical fiber 100 is scanned, and the beam split
A collimating lens 351 facing the
A rotating mirror arranged at the focal position of the collimating lens 351
352 and irradiate the rotating mirror 352 with laser light.
And a laser light source 353. Meanwhile, the second reflection
The light receiving unit 360 receives the incident light (light A ′, B ′) described above.
It receives reflected light that goes backwards, and
A condenser lens 361 opposed to the condenser 342;
Part having a slit 362a at the focal point of the slit 361
Material 362 and the rear of the slit member 362
Light receiver 363 for receiving light passing through slit 362a
With The control unit is based on the device shown in FIG.
What is necessary is just to comprise.
【0067】かかる被覆状態測定装置で被覆状態を推定
する方法は、図21に示す装置で説明したものと同様で
あるので、ここでの説明は省略するが、本装置によれ
ば、上述した入射光である光A′,B′の距離d1 と共
に反射光である光A,Bの距離d2 も同時に測定するこ
とができる。すなわち、図23、24に示すように、受
光器323及び受光器363で検出される出力ピーク間
の時間と走査の同期信号との関係によりd1 ,d2 を算
出することができる。したがって、これらd1 ,d2 を
用いることにより、上述した手法で被覆状態を推定する
ことができる。The method of estimating the coating state by the coating state measuring apparatus is the same as that described with reference to the apparatus shown in FIG. 21, and thus the description is omitted here. light a which is a light ', B' light a, distance d 2 B a reflected light with distance d 1 can be measured simultaneously. That is, as shown in FIGS. 23 and 24, d 1 and d 2 can be calculated from the relationship between the time between the output peaks detected by the light receivers 323 and 363 and the scanning synchronization signal. Therefore, by using these d 1 and d 2 , the covering state can be estimated by the method described above.
【0068】また、上述した装置を二セット以上設ける
ことにより、樹脂部100bの外径r2 、樹脂部100
bの屈折率n2 及び周囲の屈折率n1 が未知でも被覆状
態が測定できる。さらに、樹脂部100bの表面での反
射率と、樹脂部100bとガラス部100aとの境界面
での反射率との差が大きく、受光器で検出しにくい場合
には、被覆光ファイバ100の周囲に反射率整合剤を配
して、上述した表面の反射率と境界面の反射率との差を
小さくするのが好ましい。By providing two or more sets of the above-described devices, the outer diameter r 2 of the resin portion 100b and the resin portion 100
refractive index n 2 and the refractive index n 1 of the surrounding b can be measured even covering state unknown. Further, when the difference between the reflectance on the surface of the resin portion 100b and the reflectance on the boundary surface between the resin portion 100b and the glass portion 100a is large and it is difficult to detect the reflectance with the light receiver, the area around the coated optical fiber 100 It is preferable to reduce the difference between the reflectance of the surface and the reflectance of the boundary surface by disposing a reflectance matching agent on the surface.
【0069】図25にはレーザ走査光を用いる他の被覆
状態測定装置の一例を概念的に示す。同図に示すよう
に、被検体である線状体の一例としての被覆光ファイバ
100の側方にはレーザ光走査部410及び反射光受光
部420が配されている。ここで、レーザ光走査部41
0は、被覆光ファイバ100の側面に対向して設けられ
光軸が被覆光ファイバ100の長手方向と直交するコリ
メートレンズ411と、このコリメートレンズ411の
焦点位置に設けられて該焦点位置を通り且つ被覆光ファ
イバ100の長手方向と平行な軸中心に回転する回転ミ
ラー412と、この回転ミラー412の回転中心部にレ
ーザ光を照射するレーザ光源413とを具えており、レ
ーザ光を被覆光ファイバ100の長手方向に直交する面
内でレーザ光を走査できるようになっている。一方、反
射光受光部420は、被覆光ファイバ100の側面に対
向して配されて該被覆光ファイバ100の長手方向及び
上記コリメートレンズ411の光軸と直交する光軸を有
する集光レンズ421と、この集光レンズ421の後方
の焦点位置にスリット422aを有するスリット部材4
22と、このスリット部材422の後方に設けられてス
リット422aを通過した光を受光して検知する、位置
検出用半導体装置(PSD;PositionSens
itive Deviceという)423とを具え、集
光レンズ421の光軸に平行な反射光のみをPSD42
3が受光できるようになっている。そして、制御部43
0はこれらレーザ光走査部410及び反射光受光部42
0からデータを処理することにより被覆状態を推定する
働きをしている。すなわち、制御部430は、回転ミラ
ー412にミラー駆動信号を送ると共にその同期信号を
出力する回転ミラードライバ431と、PSD423の
出力信号を処理するPSDドライバ432と、回転ミラ
ードライバ431からの同期信号及びPSDドライバ4
32からの出力信号をA/D変換するA/D変換器43
3と、このA/D変換器433からの信号を処理して入
射光位置ずれ量及び反射光位置ずれ量を検出するCPU
434とを具えている。図25に示す装置は、特定方向
の表面反射光及び境界面反射光を選択的に受光するため
に、集光レンズ421及びスリット部材422を用いる
ものであり、被覆状態測定を非常に簡単な設備で実現す
ることができる。また、スリット部材422の代りにピ
ンホールを有する部材を用いてもよいことは言うまでも
ない。FIG. 25 conceptually shows an example of another coating state measuring apparatus using laser scanning light. As shown in the figure, a laser beam scanning unit 410 and a reflected light receiving unit 420 are arranged on the side of a coated optical fiber 100 as an example of a linear body as an object. Here, the laser beam scanning unit 41
Reference numeral 0 denotes a collimating lens 411 provided to face the side surface of the coated optical fiber 100 and having an optical axis orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100, provided at a focal position of the collimating lens 411, passing through the focal position and A rotating mirror 412 that rotates about an axis parallel to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100 and a laser light source 413 that irradiates a laser beam to the center of rotation of the rotating mirror 412 are provided. The laser beam can be scanned in a plane perpendicular to the longitudinal direction of the laser beam. On the other hand, the condensing lens 421 is disposed opposite to the side surface of the coated optical fiber 100 and has a light axis orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100 and the optical axis of the collimating lens 411. A slit member 4 having a slit 422a at a focal position behind the condenser lens 421.
22 and a semiconductor device for position detection (PSD; Position Sens) which is provided behind the slit member 422 and receives and detects light passing through the slit 422a.
active device 423, and only the reflected light parallel to the optical axis of the condenser lens 421 is transmitted to the PSD 42.
3 can receive light. Then, the control unit 43
0 denotes the laser beam scanning unit 410 and the reflected light receiving unit 42
By processing the data from 0, it functions to estimate the covering state. That is, the control unit 430 sends a mirror driving signal to the rotating mirror 412 and outputs a synchronizing signal of the rotating mirror driver 431, a PSD driver 432 that processes an output signal of the PSD 423, and a synchronizing signal from the rotating mirror driver 431. PSD driver 4
A / D converter 43 for A / D-converting the output signal from 32
And a CPU that processes the signal from the A / D converter 433 to detect the amount of incident light positional deviation and the amount of reflected light positional deviation.
434. The apparatus shown in FIG. 25 uses a condenser lens 421 and a slit member 422 in order to selectively receive surface reflected light and boundary surface reflected light in a specific direction. Can be realized. Needless to say, a member having a pinhole may be used instead of the slit member 422.
【0070】ここで、本実施例で用いるPSD423の
構成を図26を参照しながら説明する。同図に示すよう
に、PSD423は、平板状シリコン基板501の表面
にP型半導体層502、裏面にN型半導体層503を形
成し、表面側両端に位置信号電極504,505を設け
ると共に、裏面側を基準電極506としたものである。
PSD423はこのような構成を有しているので、表面
側の位置信号電極504、505間に光スポットLが入
射すると該入射位置に光エネルギーに比例した電荷が発
生し、この電荷が光電流I1 ,I2 となって両方の位置
信号電極504、505から出力される。このとき、光
電流I1 ,I2 は光スポットLの入射位置と位置信号電
極504、505との距離(抵抗値)に逆比例した大き
さとなるので、この電流I1 ,I2 を例えば基準電極5
06を基準とする電圧V1 ,V2 として取り出せば、割
算信号(V1 −V2 )/(V1 +V2 )より入射位置を
求めることができる。すなわち、光A及び光Bについて
の入射位置より反射光位置ずれ量d2を求めることがで
きる。PSD423は、通常はこのように、光スポット
Lの入射位置を求めることに使用されるが、本発明で
は、和信号(V1 +V2 )と時間との関係をモニタし、
これと走査の同期信号とにより、光A及び光BがPSD
423に受光したときの走査位置を求めるようにしてい
る。したがって、これにより、光A,Bに対応する入射
光である光A′,B′間の距離d1 を求めることができ
る。このように、本発明では、PSD423から割算信
号と同時に和信号を時間との関係でとり出すことによ
り、反射光位置ずれ量d2 と共に入射光位置ずれ量d 1
を同時に検出することができる。Here, the PSD 423 used in this embodiment is
The configuration will be described with reference to FIG. As shown in the figure
The PSD 423 is provided on the surface of the flat silicon substrate 501.
A P-type semiconductor layer 502 and an N-type semiconductor layer 503 on the back surface.
And position signal electrodes 504 and 505 are provided at both ends on the front side.
In addition, the back side is a reference electrode 506.
Since the PSD 423 has such a configuration, the surface
A light spot L enters between the side position signal electrodes 504 and 505.
When emitted, a charge proportional to the light energy is generated at the incident position.
And this charge becomes the photocurrent I1, ITwoAnd both positions
The signal is output from the signal electrodes 504 and 505. At this time, light
Current I1, ITwoIs the incident position of the light spot L and the position signal
The size is inversely proportional to the distance (resistance value) between the poles 504 and 505
The current I1, ITwoTo the reference electrode 5
V with reference to 061, VTwoIf you take out as
Calculation signal (V1-VTwo) / (V1+ VTwo)
You can ask. That is, for light A and light B
Position deviation amount d of reflected light from the incident positionTwoCan ask for
Wear. The PSD 423 usually has a light spot
It is used to find the incident position of L.
Is the sum signal (V1+ VTwo) And time are monitored,
The light A and the light B are converted to PSD by this and the scanning synchronization signal.
423 to find the scanning position when receiving light
You. Therefore, this results in the incident light corresponding to light A, B
The distance d between the light beams A 'and B'1Can ask for
You. Thus, in the present invention, the division signal
By extracting the sum signal at the same time as the signal in relation to time.
And the displacement d of the reflected light positionTwoAnd the incident light displacement d 1
Can be detected simultaneously.
【0071】次に、図25の装置により行う被覆状態測
定の原理を説明する。回転ミラー412の回転駆動によ
りレーザ光源413からのレーザ光を図中右から左へ向
って走査すると、まず、被覆光ファイバ100の樹脂部
100bの表面で反射した表面反射光である光Aが受光
器423に受光され、次いで、樹脂部100bとガラス
部100aとの境界面で反射した境界面反射光である光
BがPSD423に受光され、この他の反射光は受光さ
れない。したがって、光A及び光Bを受光したときの出
力と回転ミラードライバ431からの同期信号とによ
り、光A及び光Bに対応する入射光である光A′及び光
B′間の走査方向の距離d 1 及び光A及び光B間の距離
d2 を検知することができる。Next, the coating state measurement performed by the apparatus shown in FIG.
The constant principle will be described. With the rotation drive of the rotating mirror 412,
The laser beam from the laser light source 413 is directed from right to left in the figure.
First, the resin portion of the coated optical fiber 100
Light A, which is surface reflected light reflected on the surface of 100b, is received
Is received by the container 423, and then the resin portion 100b and glass
Light that is reflected light at the boundary surface reflected at the boundary surface with the portion 100a
B is received by the PSD 423, and other reflected light is received.
Not. Therefore, the output when light A and light B are received
Force and the synchronization signal from the rotating mirror driver 431.
And light A ′ and light which are incident light corresponding to light A and light B, respectively.
Distance d in the scanning direction between B ' 1And the distance between light A and light B
dTwoCan be detected.
【0072】図25に示す被覆状態測定装置で被覆状態
を求めた。すなわち、回転ミラードライバ431からの
ミラー駆動信号により回転ミラー412を回転すること
によりレーザ光源413からのレーザ光を走査し、PS
Dドライバ432ではPSD423からの出力に応じて
和信号(V1 +V2 )及び割算信号(V1 −V2 )/
(V1 +V2 )を求める。そして、CPU434では、
同期信号を基準として和信号(V1 +V2 )を時間との
関係でモニタし、同時にその出力がピークを形成したと
きの割算信号(V1 −V2 )/(V1 +V2 )を求め
る。このときの出力状態を図27に示す。そして、同図
において、和信号出力のピークの位置からd1 を求める
ことができ、このピーク時の割算信号からd2 を求める
ことができる。したがって、これらd1 ,d2 を用いる
ことにより、上述した手法で被覆状態を推定することが
できる。The coating condition was determined by the coating condition measuring device shown in FIG. That is, the laser light from the laser light source 413 is scanned by rotating the rotating mirror 412 according to the mirror driving signal from the rotating mirror driver 431, and the PS
In the D driver 432, the sum signal (V 1 + V 2 ) and the division signal (V 1 −V 2 ) /
(V 1 + V 2 ) is obtained. Then, in the CPU 434,
The sum signal (V 1 + V 2 ) is monitored in relation to time with reference to the synchronization signal, and at the same time, the division signal (V 1 −V 2 ) / (V 1 + V 2 ) when the output forms a peak is obtained. Ask. The output state at this time is shown in FIG. Then, in the figure, d 1 can be obtained from the peak position of the sum signal output, and d 2 can be obtained from the divided signal at the peak. Therefore, by using these d 1 and d 2 , the covering state can be estimated by the method described above.
【0073】なお、図25に示す装置では、スリット部
材422のスリット422aを通過した反射光をそのま
まPSD423で受光しているが、スリット部材422
とPSD423との間に焦点がスリット422aに一致
するコリメートレンズを設けると、反射光がPSD42
3に垂直に入るようになり、より好ましい。また、上述
した装置を二セット以上設けることにより、樹脂部10
0bの外径r2 、樹脂部100bの屈折率n2 及び周囲
の屈折率n1 が未知でも偏肉が測定できる。さらに、樹
脂部100bの表面での反射率と、樹脂部100bとガ
ラス部100aとの境界面での反射率との差が大きく、
PSDで検出しにくい場合には、被覆光ファイバ100
の周囲に反射率整合剤を配して、上述した表面の反射率
と境界面の反射率との差を小さくするのが好ましい。In the apparatus shown in FIG. 25, the reflected light passing through the slit 422a of the slit member 422 is directly received by the PSD 423.
If a collimating lens whose focal point coincides with the slit 422a is provided between the
3, which is more preferable. By providing two or more sets of the above-described devices,
Even if the outer diameter r 2 of 0b, the refractive index n 2 of the resin portion 100b, and the refractive index n 1 of the surroundings are unknown, uneven thickness can be measured. Furthermore, the difference between the reflectance on the surface of the resin part 100b and the reflectance on the interface between the resin part 100b and the glass part 100a is large,
If it is difficult to detect by the PSD, the coated optical fiber 100
It is preferable that a difference in reflectance between the above-described surface and the boundary surface is reduced by disposing a reflectance matching agent around the periphery.
【0074】図28にはさらに、レーザ光走査を用いる
他の被覆状態測定装置を概念的に示す。同図に示すよう
に、被検体である線状体の一例としての被覆光ファイバ
100の側方にはレーザ光走査部610及び反射光受光
部620が配されている。ここで、レーザ光走査部61
0は、被覆光ファイバ100の側面に対向して設けられ
光軸が被覆光ファイバ100の長手方向と直交するコリ
メートレンズ611と、このコリメートレンズ611の
焦点位置に設けられて該焦点位置を通り且つ被覆光ファ
イバ100の長手方向と平行な軸中心に回転する回転ミ
ラー612と、この回転ミラー612の回転中心部にレ
ーザ光を照射するレーザ光源613とを具えており、レ
ーザ光を被覆光ファイバ100の長手方向に直交する面
内でレーザ光を走査できるようになっている。一方、反
射光受光部620は、被覆光ファイバ100の側面に対
向して配されて該被覆光ファイバ100の長手方向及び
上記コリメートレンズ611の光軸と直交する光軸を有
する集光レンズ621と、この集光レンズ621の後方
に配されたビームスプリッタ622と、このビームスプ
リッタ622で分岐された光の焦点位置にそれぞれスリ
ット623a,624aを有するスリット部材623,
624と、これらスリット部材623,624の後方に
設けられてスリット623a,624aを通過した光を
受光して検知する一次元イメージセンサ625と、例え
ばフォトダイオードなどの受光器626とを具え、集光
レンズ621の光軸に平行な反射光のみを一次元イメー
ジセンサ625及び受光器626が受光できるようにな
っている。ここで、一次元イメージセンサ625は、反
射光を受けた図中上下方向の位置情報を出力するもので
あり、受光器626は、反射光を受けたときに電気的信
号を出力するものである。そして、制御部630はこれ
らレーザ光走査部610及び反射光受光部620からデ
ータを処理することにより被覆状態を推定する働きをし
ている。すなわち、制御部630は、回転ミラー612
にミラー駆動信号を送ると共にその同期信号を出力する
回転ミラードライバ631と、回転ミラードライバ63
1からの同期信号を受けると共に定期的に一次元イメー
ジセンサ625から情報を読み出して処理する一次元画
像処理装置632と、回転ミラードライバ631からの
同期信号及び受光器623からの出力信号をA/D変換
するA/D変換器633と、一次元画像処理装置632
及びA/D変換器633からの信号を処理するCPU6
34とを具えている。なお、ここでイメージセンサとは
固体撮像素子をいい、MOSトランジスタやCCDメモ
リの配列上に光を受けて各セルの出力を電子的に走査す
ることにより光を電気信号に変換する装置をいう。ま
た、ここで受光器とは、光の受光を検出してその光に応
じて電気的信号を出力する素子をいう。さらに、スリッ
ト部材623,624の代りにピンホールを有する部材
を用いてもよいことは言うまでもない。FIG. 28 conceptually shows another coating state measuring apparatus using laser beam scanning. As shown in the figure, a laser beam scanning unit 610 and a reflected light receiving unit 620 are arranged on the side of a coated optical fiber 100 as an example of a linear body as an object. Here, the laser beam scanning unit 61
Reference numeral 0 denotes a collimating lens 611 which is provided to face the side surface of the coated optical fiber 100 and whose optical axis is orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100, is provided at the focal position of the collimating lens 611, passes through the focal position A rotating mirror 612 that rotates about an axis parallel to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100, and a laser light source 613 that irradiates a laser beam to the center of rotation of the rotating mirror 612. Laser light can be scanned in a plane perpendicular to the longitudinal direction of the laser beam. On the other hand, the condensing lens 621 disposed opposite to the side surface of the coated optical fiber 100 and having an optical axis orthogonal to the longitudinal direction of the coated optical fiber 100 and the optical axis of the collimating lens 611. A beam splitter 622 disposed behind the condenser lens 621, and a slit member 623 having slits 623a and 624a at the focal position of the light split by the beam splitter 622, respectively.
624, a one-dimensional image sensor 625 provided behind the slit members 623, 624 to receive and detect light passing through the slits 623a, 624a, and a light receiver 626 such as a photodiode, for example. The one-dimensional image sensor 625 and the light receiver 626 can receive only reflected light parallel to the optical axis of the lens 621. Here, the one-dimensional image sensor 625 outputs the position information in the vertical direction in the figure that receives the reflected light, and the light receiver 626 outputs an electric signal when receiving the reflected light. . The control unit 630 functions to estimate the covering state by processing data from the laser light scanning unit 610 and the reflected light receiving unit 620. That is, the control unit 630 controls the rotation mirror 612
Rotating mirror driver 631 that sends a mirror driving signal to the mirror and outputs a synchronization signal of the mirror driving signal;
A one-dimensional image processing device 632 that receives a synchronization signal from the first one and periodically reads and processes information from the one-dimensional image sensor 625, and outputs a synchronization signal from the rotating mirror driver 631 and an output signal from the light receiver 623 to A / A. A / D converter 633 for performing D conversion, and one-dimensional image processing device 632
And a CPU 6 that processes signals from the A / D converter 633
34. Here, the image sensor is a solid-state imaging device, and is a device that converts light into an electric signal by receiving light on an array of MOS transistors or CCD memories and electronically scanning the output of each cell. The light receiver here refers to an element that detects light reception and outputs an electrical signal in accordance with the light. Further, it goes without saying that a member having a pinhole may be used instead of the slit members 623 and 624.
【0075】次に、図28の装置により行う被覆状態測
定の原理を説明する。回転ミラー612の回転駆動によ
りレーザ光源613からのレーザ光を図中右から左へ向
って走査すると、まず、被覆光ファイバ100の樹脂部
100bの表面で反射した表面反射光である光Aが一次
元イメージセンサ625及び受光器626に受光され、
次いで、樹脂部100bとガラス部100aとの境界面
で反射した境界面反射光である光Bが一次元イメージセ
ンサ625及び受光器626に受光され、この他の反射
光は受光されない。したがって、一次元イメージセンサ
625の光A及び光Bの受光位置から光A及び光Bのそ
の反射方向に直交する方向の距離d2 を検知することが
できる。また、受光器626が光A及び光Bを受光した
ときの出力と回転ミラードライバ631からの同期信号
とにより、光A及び光Bに対応する入射光である光A′
及び光B′間の走査方向の距離d1 を検知することがで
きる。Next, the principle of the coating state measurement performed by the apparatus shown in FIG. 28 will be described. When the laser light from the laser light source 613 is scanned from right to left in the figure by rotating the rotating mirror 612, first, the light A, which is the surface reflected light reflected on the surface of the resin portion 100b of the coated optical fiber 100, is primary. Received by the original image sensor 625 and the light receiver 626,
Next, light B, which is reflected light at the boundary surface between the resin portion 100b and the glass portion 100a, is received by the one-dimensional image sensor 625 and the light receiver 626, and other reflected light is not received. Therefore, the distance d 2 in the direction orthogonal to the reflection direction of the light A and the light B from the light receiving position of the light A and the light B of the one-dimensional image sensor 625 can be detected. In addition, based on the output when the light receiver 626 receives the light A and the light B and the synchronization signal from the rotating mirror driver 631, the light A ′ which is the incident light corresponding to the light A and the light B is obtained.
And the distance d 1 in the scanning direction between the light B ′ and the light B ′.
【0076】図28に示す装置を用いて入射光位置ずれ
量d1 と反射光位置ずれ量d2 とを測定する一例につい
て具体的に説明する。図29には本実施例による偏肉測
定を示すタイミングチャートを示す。同図に示すよう
に、本実施例では回転ミラードライバ631からのミラ
ー駆動信号により回転ミラー612を往復回転運動する
ことにより、レーザ光源613からのレーザ光を被覆光
ファイバ100の側面に向って往復走査し、そのときの
反射光である光A,Bを一次元イメージセンサ625及
び受光器626で検出する。なお、回転ミラードライバ
631は、走査方向を変換する毎に同期信号を出してい
る。一次元イメージセンサ625では、一回の走査(一
往路又は一復路)の間中電荷を蓄積しておき、走査方向
の切り替え(同期信号の出力)と同時に1次元画像処理
装置632がその受光信号を読み取るようにする。この
出力信号は、例えば図30に示すように各画素の受光強
度と画素アドレスとの関係で得ることができ、光Aの出
力と光Bの出力との位置関係によりd2 を求めることが
できる。一方、受光器626は、反射光を受光したとき
にA/D変換器633に信号を出力するものであり、A
/D変換器633は、同期信号が出力されてから一定時
間(次の同期信号が出力される少し前まで)A/D変換
して信号を出力するようになっており、これにより、反
射光である光A,光Bの受光間の時間を知ることができ
る。すなわち、図31に示すような出力ピークを得るこ
とができ、2本のピーク間の時間から入射光である光
A′,光B′間の距離d1 と求めることができる。この
ように求めたd1 ,d2 を用いることにより、上述した
手法で被覆状態を推定することができる。An example of measuring the incident light position shift amount d 1 and the reflected light position shift amount d 2 using the apparatus shown in FIG. 28 will be specifically described. FIG. 29 is a timing chart showing the thickness deviation measurement according to the present embodiment. As shown in the figure, in this embodiment, the laser light from the laser light source 613 reciprocates toward the side surface of the coated optical fiber 100 by reciprocatingly rotating the rotating mirror 612 in response to the mirror driving signal from the rotating mirror driver 631. Scanning is performed, and light A and B, which are reflected light at that time, are detected by the one-dimensional image sensor 625 and the light receiver 626. The rotating mirror driver 631 outputs a synchronization signal every time the scanning direction is changed. In the one-dimensional image sensor 625, the charge is accumulated during one scan (one forward pass or one return pass), and at the same time when the scanning direction is switched (synchronous signal output), the one-dimensional image processing device 632 transmits the received light signal. To read. This output signal can be obtained from the relationship between the light receiving intensity of each pixel and the pixel address, for example, as shown in FIG. 30, and d 2 can be obtained from the positional relationship between the output of light A and the output of light B. . On the other hand, the light receiver 626 outputs a signal to the A / D converter 633 when receiving the reflected light.
The / D converter 633 performs A / D conversion for a certain period of time after the synchronization signal is output (until a short time before the next synchronization signal is output) and outputs a signal. It is possible to know the time between the reception of the light A and the light B. That is, an output peak as shown in FIG. 31 can be obtained, and the distance d 1 between the incident light A ′ and light B ′ can be obtained from the time between the two peaks. By using d 1 and d 2 obtained in this way, the covering state can be estimated by the above-described method.
【0077】以上、種々の実施例について説明したが、
次にこれらの各実施例において被覆状態測定の精度を向
上する手法について説明する。The various embodiments have been described above.
Next, a method for improving the accuracy of the coating state measurement in each of the embodiments will be described.
【0078】上述した被覆状態測定方法においては、表
面反射光に対して境界面反射光の光量が少ないので測定
し難いという面があるが、例えば光照射部に偏光子を設
けるか、光検出部に検光子を設けるかして、円柱状線状
体の長手方向に垂直な方向の偏光成分のみを検出するよ
うにすればよい。かかる偏光成分においては表面反射光
と比較して境界面反射光の光量が相対的に向上するから
である。なお、測定光の光源が偏光したレーザ光を出力
するものである場合には、上述した偏光子や検光子は必
要ないことは言うまでもない。In the above-described method for measuring the coating state, there is a problem that the measurement is difficult because the amount of reflected light at the boundary surface is small compared to the reflected light at the surface. An analyzer may be provided to detect only the polarization component in the direction perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body. This is because, in such a polarized light component, the light quantity of the boundary surface reflected light is relatively improved as compared with the surface reflected light. When the light source of the measurement light outputs polarized laser light, it goes without saying that the above-described polarizer and analyzer are not necessary.
【0079】ガラス部の周囲に径180μmで屈折率が
1.497の第1被覆層と、径250μmで屈折率が
1.51の第2被覆層とを設けた被覆光ファイバにおけ
る、第1被覆層と第2被覆層との境界面反射光量/表面
反射光量の比と偏光方向との関係を図32に示す。な
お、入射光と観測する反射光との角度は90度とした。
同図から明らかなように、被覆光ファイバの長手方向に
垂直な偏光方向(90度)近傍において、表面反射光量
に対して境界面反射光量が相対的に向上する。したがっ
て、かかる偏光成分を検出すると、境界面反射光の測定
が確実になる。なお、かかる効果は被覆層とガラス部と
の境界面でも生じ、境界における屈折率差に依存する。
したがって、上述した例より一般に屈折率差が大きい被
覆層とガラス部との境界面においては上述した効果は向
上する。The first coating in a coated optical fiber in which a first coating layer having a diameter of 180 μm and a refractive index of 1.497 and a second coating layer having a diameter of 250 μm and a refractive index of 1.51 are provided around the glass part. FIG. 32 shows the relationship between the ratio of the amount of reflected light at the interface between the layer and the second coating layer / the amount of reflected light at the surface and the polarization direction. The angle between the incident light and the observed reflected light was 90 degrees.
As is clear from the figure, in the vicinity of the polarization direction (90 degrees) perpendicular to the longitudinal direction of the coated optical fiber, the boundary surface reflected light amount is relatively improved with respect to the surface reflected light amount. Therefore, detection of such a polarization component ensures measurement of the boundary surface reflected light. This effect also occurs at the interface between the coating layer and the glass part, and depends on the difference in refractive index at the interface.
Therefore, the above-described effect is improved at the interface between the coating layer and the glass portion, which generally has a larger refractive index difference than the above-described example.
【0080】また、上述したように偏光子あるいは検光
子を用いる代りに、測定光の中で円柱状線状体の被覆表
面にブリュースター角で入射する光の反射方向を特定方
向として、その表面反射光及び境界面反射光を検出する
ようにすると、上述した場合と同様に境界面反射光が検
出し易くなるという効果が得られる。さらに、この場
合、上述したように被覆光ファイバの長手方向に垂直な
直線偏光を測定光とすると、より効果が顕著になる。Instead of using a polarizer or an analyzer as described above, the direction of reflection of the measurement light incident on the coated surface of the cylindrical linear body at a Brewster angle is defined as a specific direction. When the reflected light and the boundary surface reflected light are detected, an effect is obtained that the boundary surface reflected light is easily detected as in the case described above. Further, in this case, if the measurement light is linearly polarized light perpendicular to the longitudinal direction of the coated optical fiber as described above, the effect becomes more remarkable.
【0081】ガラス部の周囲に径180μmで屈折率が
1.497の第1被覆層と、径250μmで屈折率が
1.51の第2被覆層とを設けた被覆光ファイバについ
て、ブリュースター角θ(θ=tan-1(1.51)=
56.49度)で入射する光の反射光を観測できる方向
から表面反射光及び境界面反射光を観測し、測定光の偏
光方向を変化させたときの境界面反射光量/表面反射光
量の比の変化を図33に示す。同図に示すように、被覆
光ファイバの長手方向に垂直な偏光方向の測定光を用い
且つブリュースター角θで入射させた場合には、さらに
境界面反射光量が相対的に大きくなり、境界面反射光が
より検出し易くなるということがわかる。The Brewster angle of a coated optical fiber in which a first coating layer having a diameter of 180 μm and a refractive index of 1.497 and a second coating layer having a diameter of 250 μm and a refractive index of 1.51 are provided around the glass part. θ (θ = tan -1 (1.51) =
(56.49 degrees), the surface reflected light and the boundary reflected light are observed from the direction in which the reflected light of the incident light can be observed, and the ratio of the boundary reflected light amount / surface reflected light amount when the polarization direction of the measurement light is changed. Are shown in FIG. As shown in the figure, when measurement light having a polarization direction perpendicular to the longitudinal direction of the coated optical fiber is used and incident at a Brewster angle θ, the amount of reflected light at the boundary surface further increases relatively, It can be seen that the reflected light is more easily detected.
【0082】[0082]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
被覆表面での特定方向への反射光と被覆と線状体本体と
の境界面での特定方向への反射光とを測定することによ
り被覆状態を連続的に正確に測定できるので、例えば光
ファイバ製造ラインにおいて光ファイバ被覆の状態をイ
ンラインで測定することができる。As described above, according to the present invention,
By measuring the reflected light in a specific direction on the coating surface and the reflected light in a specific direction at the interface between the coating and the linear body, the coating state can be continuously and accurately measured. The state of the optical fiber coating can be measured in-line in the production line.
【図1】一実施例に係る被覆状態測定装置を示す概念図
である。FIG. 1 is a conceptual diagram showing a coating state measuring device according to one embodiment.
【図2】他の実施例に係る被覆状態測定装置を示す概念
図である。FIG. 2 is a conceptual diagram showing a coating state measuring device according to another embodiment.
【図3】図2の装置の受光器の出力ピークを示す説明図
である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing an output peak of a light receiver of the device of FIG. 2;
【図4】図2の装置の受光器の出力ピークを示す説明図
である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing an output peak of a light receiver of the apparatus of FIG.
【図5】被覆状態の測定例を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a measurement example of a covering state.
【図6】被覆状態の測定例を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing a measurement example of a covering state.
【図7】被覆状態の測定例を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a measurement example of a covering state.
【図8】検出系の他の例を示す構成図である。FIG. 8 is a configuration diagram showing another example of the detection system.
【図9】テレビモニタの観測例を示す説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram showing an observation example of a television monitor.
【図10】測定光の反射状態を示す説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram showing a reflection state of measurement light.
【図11】テレビモニタの観測例を示す説明図である。FIG. 11 is an explanatory diagram showing an observation example of a television monitor.
【図12】平行光の斜め入射による測定を示す説明図で
ある。FIG. 12 is an explanatory diagram showing measurement by oblique incidence of parallel light.
【図13】スリット光の斜め入射による測定を示す説明
図である。FIG. 13 is an explanatory diagram showing measurement by oblique incidence of slit light.
【図14】図13の測定結果を示す説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram showing the measurement results of FIG.
【図15】絞り部材の一例を示す説明図である。FIG. 15 is an explanatory diagram illustrating an example of a diaphragm member.
【図16】スリット光照射による被覆状態測定装置を示
す構成図である。FIG. 16 is a configuration diagram showing a coating state measuring device by slit light irradiation.
【図17】図16の装置による測定を示す説明図であ
る。FIG. 17 is an explanatory view showing measurement by the apparatus of FIG.
【図18】図16の装置による測定を示す説明図であ
る。FIG. 18 is an explanatory diagram showing a measurement by the device of FIG.
【図19】図16の装置による測定を示す説明図であ
る。FIG. 19 is an explanatory diagram showing measurement by the device of FIG.
【図20】図16の装置による測定を示す説明図であ
る。FIG. 20 is an explanatory view showing measurement by the device of FIG.
【図21】レーザ光走査による被覆状態測定装置を示す
構成図である。FIG. 21 is a configuration diagram showing a coating state measuring device by laser beam scanning.
【図22】レーザ光走査による被覆状態測定装置を示す
構成図である。FIG. 22 is a configuration diagram showing a coating state measuring device by laser beam scanning.
【図23】図22の装置の測定結果を示す説明図であ
る。FIG. 23 is an explanatory diagram showing measurement results of the device of FIG. 22.
【図24】図22の装置の測定結果を示す説明図であ
る。FIG. 24 is an explanatory diagram showing measurement results of the device of FIG. 22.
【図25】レーザ光走査による被覆状態測定装置を示す
構成図である。FIG. 25 is a configuration diagram showing a coating state measuring device by laser beam scanning.
【図26】PSDを示す構成図である。FIG. 26 is a configuration diagram showing a PSD.
【図27】図25の測定結果を示す説明図である。FIG. 27 is an explanatory diagram showing the measurement results of FIG. 25.
【図28】レーザ光走査による被覆状態測定装置を示す
構成図である。FIG. 28 is a configuration diagram showing a coating state measuring device by laser beam scanning.
【図29】図28の装置による一実施例に係るタイミン
グチャートである。FIG. 29 is a timing chart according to one embodiment of the apparatus of FIG. 28;
【図30】図28の装置の測定結果を示す説明図であ
る。FIG. 30 is an explanatory diagram showing measurement results of the device of FIG. 28.
【図31】図28の装置の測定結果を示す説明図であ
る。FIG. 31 is an explanatory diagram showing measurement results of the device in FIG. 28.
【図32】境界面反射光量/表面光反射光量と偏光方向
との関係を示すグラフである。FIG. 32 is a graph showing a relationship between a boundary surface reflected light amount / surface light reflected light amount and a polarization direction.
【図33】図32において測定光の入射方向をブリュー
スタ角とした場合の関係を示すグラフである。FIG. 33 is a graph showing the relationship when the incident direction of the measurement light in FIG. 32 is the Brewster angle.
【図34】本発明の原理を説明するための説明図であ
る。FIG. 34 is an explanatory diagram for explaining the principle of the present invention.
【図35】本発明の原理を説明するための説明図であ
る。FIG. 35 is an explanatory diagram for explaining the principle of the present invention.
【図36】光ファイバの製造ラインの一例を示す概念図
である。FIG. 36 is a conceptual diagram showing an example of an optical fiber production line.
【図37】従来技術に係る偏肉測定を説明するための原
理図である。FIG. 37 is a principle diagram for explaining uneven thickness measurement according to the related art.
【図38】従来技術に係る偏肉測定の原理を説明するた
めの説明図である。FIG. 38 is an explanatory diagram for explaining the principle of uneven thickness measurement according to the related art.
【図39】従来技術に係る偏肉測定の問題点を示す説明
図である。FIG. 39 is an explanatory diagram showing a problem of uneven thickness measurement according to the related art.
【図40】従来技術に係る偏肉測定の問題点を示す説明
図である。FIG. 40 is an explanatory diagram showing a problem of uneven thickness measurement according to the related art.
100 被覆光ファイバ 100a ガラス部 100b 樹脂部 110 平行光照射部 111 コリメートレンズ 112 光源 120 反射光受光部 121 集光レンズ 122 ピンホール部材 124 イメージセンサ 130 制御部 210 スリット光照射部 220 反射光受光部 230 データ処理部 310 レーザ光走査部 311 コリメートレンズ 312 回転ミラー 313 レーザ光源 320 反射光受光部 321 集光レンズ 322 スリット部材 323 受光部 330 制御部 410 レーザ光走査部 411 コリメートレンズ 412 回転ミラー 413 レーザ光源 420 反射光受光部 421 集光レンズ 422 スリット部材 423 PSD 430 制御部 610 レーザ光走査部 611 コリメートレンズ 612 回転ミラー 613 レーザ光源 620 反射光受光部 621 集光レンズ 622 ビームスプリッタ 623、624 スリット部材 625 一次元イメージセンサ 626 受光器 630 制御部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Coated optical fiber 100a Glass part 100b Resin part 110 Parallel light irradiation part 111 Collimating lens 112 Light source 120 Reflected light receiving part 121 Condensing lens 122 Pinhole member 124 Image sensor 130 Control part 210 Slit light irradiated part 220 Reflected light receiving part 230 Data processing unit 310 Laser light scanning unit 311 Collimating lens 312 Rotating mirror 313 Laser light source 320 Reflected light receiving unit 321 Condensing lens 322 Slit member 323 Light receiving unit 330 Control unit 410 Laser light scanning unit 411 Collimating lens 412 Rotating mirror 413 Laser light source 420 Reflected light receiving section 421 Condensing lens 422 Slit member 423 PSD 430 Control section 610 Laser beam scanning section 611 Collimating lens 612 Rotating mirror 613 Laser light source 20 reflected light receiving unit 621 a condenser lens 622 beam splitter 623, 624 slit member 625 one-dimensional image sensor 626 receiving 630 the control unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 特願平3−95441 (32)優先日 平成3年4月25日(1991.4.25) (33)優先権主張国 日本(JP) (31)優先権主張番号 特願平3−95442 (32)優先日 平成3年4月25日(1991.4.25) (33)優先権主張国 日本(JP) (56)参考文献 特開 昭53−140054(JP,A) 特開 昭63−196106(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 G01M 11/00 - 11/08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (31) Priority claim number Japanese Patent Application No. 3-95441 (32) Priority date April 25, 1991 (1991. 4.25) (33) Priority claim country Japan (JP) (31) Priority claim number Japanese Patent Application No. 3-95442 (32) Priority date April 25, 1991 (1991. 4.25) (33) Priority claim country Japan (JP) (56) References JP JP-A-53-140054 (JP, A) JP-A-63-196106 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01B 11/00-11/30 G01M 11/00-11 / 08
Claims (32)
された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の長
手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円柱
状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射
した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行
な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表面
反射光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する方
向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱状線状体の
被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光が実質的な平行光であると共に、表面及
び境界面上の反射点の像を撮像素子を具備する撮像光学
系を用いて観測すると共に、表面及び境界面上の反射点
の像を撮像素子を具備する撮像光学系を用いて観測する
ことにより反射光位置ずれ量を測定し、且つ、 照射する測定光が該円柱状線状体の長手方向軸に垂直な
スリット光であることを特徴とする被覆状態測定方法。1. A coating comprising at least one coating on a surface.
Length of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the cylindrical linear body
Irradiate the measuring light from a direction that is not parallel to the hand direction axis, and
Reflected in at least one specific direction on the coated surface of the linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
Parallel to the above surface reflected light at the boundary surface of the surface or each layer of the coating
Boundary light reflected in various directions
The direction perpendicular to that particular direction between the reflected light and the reflected light at the interface
Of the columnar linear body from the amount of displacement of the reflected light
In the coating condition measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness, the measuring light to be irradiated is substantially parallel light,
Imaging optics with image sensor for image of reflection point on boundary surface
Observation using the system and reflection points on surfaces and interfaces
Image of the object is observed using an imaging optical system equipped with an image sensor
A method for measuring the amount of displacement of the reflected light, and irradiating the measurement light with slit light perpendicular to the longitudinal axis of the cylindrical linear body.
された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の長
手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円柱
状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射
した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行
な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表面
反射光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する方
向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱状線状体の
被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光が実質的な平行光であると共に、表面及
び境界面上の反射点の像を撮像素子を具備する撮像光学
系を用いて観測すると共に、表面及び境界面上の反射点
の像を撮像素子を具備する撮像光学系を用いて観測する
ことにより反射光位置ずれ量を測定し、且つ、照射する測定光がパルス光であると共に 該パルス光の照
射タイミングと同期させて撮像素子を駆動することによ
り、反射光位置ずれ量を測定することを特徴とする被覆
状態測定方法。2. A method for irradiating a side surface of a cylindrical linear body having at least one layer of coating on its surface with measurement light from a direction not parallel to a longitudinal axis of the cylindrical linear body. Surface reflected light reflected in at least one specific direction on the coating surface of the linear body, and in a direction parallel to the surface reflected light at a boundary surface between the coating and the columnar linear body or a boundary surface of each layer of the coating. The reflected thickness of the columnar linear body is determined by detecting the reflected light reflected on the boundary surface and the positional deviation between the surface reflected light and the boundary surface reflected light in the direction orthogonal to the specific direction. In the covering state measuring method for estimating the meat, the measuring light to be irradiated is substantially parallel light, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are observed using an imaging optical system having an imaging device. Image sensor for reflecting points on the surface and boundary The reflected light position displacement amount measured by observing using an imaging optical system for, and, by driving the imaging device in synchronization with the irradiation timing of the pulsed light with the measurement light irradiated is a pulse light, A method for measuring a covering state, comprising measuring a displacement amount of a reflected light.
ルス光であると共に、該パルス光の照射タイミングと同
期させて撮像素子を駆動することにより、反射光位置ず
れ量を測定することを特徴とする被覆状態測定方法。3. The method according to claim 1, wherein the measuring light to be irradiated is pulsed light, and the amount of displacement of the reflected light is measured by driving the image sensor in synchronization with the irradiation timing of the pulsed light. Method for measuring the state of coating.
された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の長
手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円柱
状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射
した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行
な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表面
反射光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する方
向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱状線状体の
被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光がレーザ走査光であると共に、表面及び
境界面上の反射点の像を撮像素子を具備する撮像光学系
を用いて観測することにより反射光位置ずれ量を測定す
ることを特徴とする被覆状態測定方法。4. A coating comprising at least one coating on the surface.
Length of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the cylindrical linear body
Irradiate the measuring light from a direction that is not parallel to the hand direction axis, and
Reflected in at least one specific direction on the coated surface of the linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
Parallel to the above surface reflected light at the boundary surface of the surface or each layer of the coating
Boundary light reflected in various directions
The direction perpendicular to that particular direction between the reflected light and the reflected light at the interface
Of the columnar linear body from the amount of displacement of the reflected light
In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness, the measuring light to be irradiated is laser scanning light, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are observed using an imaging optical system having an imaging device. Measuring the amount of displacement of the reflected light.
された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の長
手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円柱
状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射
した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行
な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表面
反射光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する方
向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面反射光を与
える入射光及び該境界面反射光を与える入射光間のその
入射方向に直交する方向の距離である入射光位置ずれ量
との両方から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を推定す
る被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光がレーザ走査光であると共に、表面及び
境界面上の反射点の像を撮像素子を具備する撮像光学系
を用いて観測することにより反射光位置ずれ量を測定す
ることを特徴とする被覆状態測定方法。5. A coating comprising at least one coating on the surface.
Length of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the cylindrical linear body
Irradiate the measuring light from a direction that is not parallel to the hand direction axis, and
Reflected in at least one specific direction on the coated surface of the linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
Parallel to the above surface reflected light at the boundary surface of the surface or each layer of the coating
Boundary light reflected in various directions
The direction perpendicular to that particular direction between the reflected light and the reflected light at the interface
The amount of displacement of the reflected light, which is the distance between
Between the incident light and the incident light that gives the interface reflected light.
Incident light position shift, which is the distance in the direction perpendicular to the incident direction
Estimate the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from both
In the coating state measurement method, the measurement light to be irradiated is laser scanning light, and the position of the reflected light is shifted by observing the images of the reflection points on the surface and the boundary surface using an imaging optical system having an imaging device. A method for measuring a coated state, comprising measuring an amount.
された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の長
手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円柱
状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射
した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行
な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表面
反射光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する方
向の距離である反射光位置ずれ 量から該円柱状線状体の
被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光が実質的な平行光であると共に、表面及
び境界面上の反射点の像を撮像素子を具備する撮像光学
系を用いて観測すると共に、表面及び境界面上の反射点
の像を撮像素子を具備する撮像光学系を用いて観測する
ことにより反射光位置ずれ量を測定し、且つ、 撮像光学系の一部または全体を該円柱状線状体の長手方
向に垂直な断面に対して平行でない方向に傾けることに
より、該円柱状線状体の長手方向に沿って撮像光学系の
合焦位置を変化させたことを特徴とする被覆状態測定方
法。6. A coating comprising at least one coating on the surface.
Length of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the cylindrical linear body
Irradiate the measuring light from a direction that is not parallel to the hand direction axis, and
Reflected in at least one specific direction on the coated surface of the linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
Parallel to the above surface reflected light at the boundary surface of the surface or each layer of the coating
Boundary light reflected in various directions
The direction perpendicular to that particular direction between the reflected light and the reflected light at the interface
Of the columnar linear body from the amount of displacement of the reflected light
In the coating condition measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness, the measuring light to be irradiated is substantially parallel light,
Imaging optics with image sensor for image of reflection point on boundary surface
Observation using the system and reflection points on surfaces and interfaces
Image of the object is observed using an imaging optical system equipped with an image sensor
By measuring the amount of displacement of the reflected light, and by tilting a part or the whole of the imaging optical system in a direction that is not parallel to a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the cylindrical linear body, A covering state measuring method, wherein a focus position of an imaging optical system is changed along a longitudinal direction of a shape.
て、 撮像光学系の一部または全体を該円柱状線状体の長手方
向に垂直な断面に対して平行でない方向に傾けることに
より、該円柱状線状体の長手方向に沿って撮像光学系の
合焦位置を変化させたことを特徴とする被覆状態測定方
法。7. The method according to claim 2, wherein
By tilting a part or the whole of the imaging optical system in a direction that is not parallel to a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body, A covering state measuring method, wherein a focus position of the object is changed.
された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の長
手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円柱
状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射
した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行
な方向に反射した境界面反射光とを検出し、該表面反射
光を与える入射光及び該境界面反射光を与える入射光間
のその入射方向に直交する方向の距離である入射光位置
ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を推定する
被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光がレーザ走査光であると共に、表面及び
境界面からの反射光を受光素子上に導き、受光素子出力
の時間変化より入射光位置ずれ量を測定することを特徴
とする被覆状態測定方法。8. A coating comprising at least one coating on the surface.
Length of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the cylindrical linear body
Irradiate the measuring light from a direction that is not parallel to the hand direction axis, and
Reflected in at least one specific direction on the coated surface of the linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
Parallel to the above surface reflected light at the boundary surface of the surface or each layer of the coating
And the boundary surface reflected light reflected in various directions is detected.
Between the incident light that gives the light and the incident light that gives the reflected light at the interface
The incident light position, which is the distance in the direction perpendicular to its incident direction
Estimating the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from the amount of deviation
In the coating state measurement method, the measuring light to be irradiated is laser scanning light, the reflected light from the surface and the boundary surface is guided to the light receiving element, and the amount of displacement of the incident light is measured from the time change of the light receiving element output. A coating state measuring method characterized by the above-mentioned.
された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の長
手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円柱
状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反射
した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平行
な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表面
反射光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する方
向の距離である反射光位置ずれ 量から該円柱状線状体の
被覆厚及び偏肉を推定する被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光がレーザ走査光であると共に、表面及び
境界面上の反射点の像を、光入射面側の両端にそれぞれ
位置信号電極を有すると共に底面側を基準電極とする半
導体からなり且つ光入射面に入射した入射光により発生
してその入射位置と上記各位置信号電極までの距離に反
比例した大きさに分かれた光電流を各位置検出電極から
出力する位置検出用半導体装置であるPSD素子上に結
像し、該PSD素子によって検知される光重心位置の変
化から反射光位置ずれ量を測定することを特徴とする被
覆状態測定方法。9. A coating comprising at least one coating on the surface.
Length of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the cylindrical linear body
Irradiate the measuring light from a direction that is not parallel to the hand direction axis, and
Reflected in at least one specific direction on the coated surface of the linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
Parallel to the above surface reflected light at the boundary surface of the surface or each layer of the coating
Boundary light reflected in various directions
The direction perpendicular to that particular direction between the reflected light and the reflected light at the interface
Of the columnar linear body from the amount of displacement of the reflected light
In the coating state measuring method for estimating the coating thickness and uneven thickness, the measuring light to be irradiated is laser scanning light, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are respectively positioned at both ends on the light incident surface side by position signal electrodes. And a photocurrent generated by incident light incident on the light incident surface and divided into a magnitude inversely proportional to the distance between the incident position and each of the position signal electrodes. A coating state measurement characterized in that an image is formed on a PSD element which is a semiconductor device for position detection outputted from a position detection electrode, and a reflected light position shift amount is measured from a change in a position of a center of gravity of light detected by the PSD element. Method.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円
柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反
射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境
界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平
行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表
面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する
方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面反射光を
与える入射光及び該境界面反射光を与える入射光間のそ
の入射方向に直交する方向の距離である入射光位置ずれ
量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を推定
する被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光がレーザ走査光であると共に、表面及び
境界面上の反射点の像を、光入射面側の両端にそれぞれ
位置信号電極を有すると共に底面側を基準電極とする半
導体からなり且つ光入射面に入射した入射光により発生
してその入射位置と上記各位置信号電極までの距離に反
比例した大きさに分かれた光電流を各位置検出電極から
出力する位置検出用半導体装置であるPSD素子上に結
像し、該PSD素子によって検知される光重心位置の変
化から反射光位置ずれ量を測定することを特徴とする被
覆状態測定方法。10. A coating comprising at least one coating on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Irradiate the measuring light from a direction not parallel to the longitudinal axis, and
At least one specific direction on the coated surface of the columnar linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
At the interface or at the interface of each layer of the coating,
And the boundary surface reflected light reflected in the
Orthogonal to its specific direction between surface reflected light and interface reflected light
The reflected light position shift amount, which is the distance in the direction, and the surface reflected light
Between the incident light to be applied and the incident light to be applied to the interface reflected light.
Incident light displacement, which is the distance in the direction perpendicular to the incident direction
Estimate the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from both
In the coating state measuring method, the measuring light to be irradiated is laser scanning light, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface have position signal electrodes at both ends on the light incident surface side, respectively, and the bottom surface side is referenced. A position which is made of a semiconductor used as an electrode and which is generated by incident light incident on the light incident surface and outputs from each position detecting electrode a photocurrent divided into a magnitude inversely proportional to the incident position and the distance to each of the position signal electrodes. A coating state measuring method, wherein an image is formed on a PSD element which is a semiconductor device for detection, and the amount of displacement of reflected light is measured from a change in the position of the center of gravity of light detected by the PSD element.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射し、該円
柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向に反
射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体との境
界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光と平
行な方向に反射した境界面反射光とを検出し、これら表
面反射 光及び境界面反射光間のその特定方向に直交する
方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面反射光を
与える入射光及び該境界面反射光を与える入射光間のそ
の入射方向に直交する方向の距離である入射光位置ずれ
量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉を推定
する被覆状態測定方法おいて、 照射する測定光がレーザ走査光であると共に、表面及び
境界面上の反射点の像を、光入射面側の両端にそれぞれ
位置信号電極を有すると共に底面側を基準電極とする半
導体からなり且つ光入射面に入射した入射光により発生
してその入射位置と上記各位置信号電極までの距離に反
比例した大きさに分かれた光電流を各位置検出電極から
出力する位置検出用半導体装置であるPSD素子上に結
像し、該PSD素子によって検知される光重心位置の変
化及び光強度の変化より反射光位置ずれ量を測定すると
共に同時に入射光位置ずれ量を測定することを特徴とす
る被覆状態測定方法。11. A coating comprising at least one coating on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Irradiate the measuring light from a direction not parallel to the longitudinal axis, and
At least one specific direction on the coated surface of the columnar linear body
Surface reflected light and the boundary between the coating and the cylindrical linear body.
At the interface or at the interface of each layer of the coating,
And the boundary surface reflected light reflected in the
Orthogonal to its specific direction between surface reflected light and interface reflected light
The reflected light position shift amount, which is the distance in the direction, and the surface reflected light
Between the incident light to be applied and the incident light to be applied to the interface reflected light.
Incident light displacement, which is the distance in the direction perpendicular to the incident direction
Estimate the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body from both
In the coating state measuring method, the measuring light to be irradiated is laser scanning light, and the images of the reflection points on the surface and the boundary surface are provided with position signal electrodes at both ends on the light incident surface side and the bottom surface side is referenced. A position which is made of a semiconductor used as an electrode and which is generated by incident light incident on the light incident surface and outputs from each position detecting electrode a photocurrent divided into a magnitude inversely proportional to the incident position and the distance to each position signal electrode. An image is formed on a PSD element, which is a semiconductor device for detection, and the amount of displacement of reflected light is measured from the change in the position of the center of gravity and the change in light intensity detected by the PSD element, and at the same time the amount of displacement of incident light is measured. A method for measuring a coating state, comprising:
測光学系の受光開口数を制限して焦点深度を大きくする
と共に受光器に到達する反射光の角度範囲を限定するこ
とにより、特定方向の表面反射光及び境界面反射光を検
出することを特徴とする被覆状態測定方法。12. A specific direction by limiting the light-receiving numerical aperture of the observation optical system to increase the depth of focus and restricting the angle range of reflected light reaching the light-receiving device. 1. A method for measuring a coating state, comprising detecting surface reflected light and boundary surface reflected light.
特定方向に光軸が一致すると共に平行光を焦点面上の1
点に集束するレンズ系と該レンズ系の焦点面上に配置さ
れたピンホール若しくはスリットとを通過する光を当該
特定方向の表面反射光及び境界面反射光として検出する
ものであることを特徴とする被覆状態測定方法。13. The observation optical system according to claim 12, wherein:
The optical axis coincides with a specific direction and parallel light is
And detecting light passing through a lens system converging on a point and a pinhole or slit disposed on a focal plane of the lens system as surface reflected light and boundary surface reflected light in the specific direction. To measure the coating condition.
射する測定光が円柱状線状体の長手方向に垂直な方向に
偏光された直線偏光であるか、又は円柱状線状体での反
射光の中の円柱状線状体の長手方向に垂直な方向の偏光
成分のみを光検出部で検出することを特徴とする被覆状
態測定方法。14. The method according to claim 1, wherein the measurement light to be applied is linearly polarized light polarized in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body, or is a linear linear body. A method for measuring a covering state, wherein a photodetector detects only a polarization component in a direction perpendicular to a longitudinal direction of a cylindrical linear body in reflected light.
定光の中で円柱状線状体の被覆表面にブリュースター角
で入射する光の反射方向を特定方向として表面反射光及
び境界面反射光を検出することを特徴とする被覆状態測
定方法。15. The surface reflected light and boundary surface reflection according to any one of claims 1 to 14, wherein the direction of reflection of the measurement light that is incident on the coated surface of the cylindrical linear body at a Brewster angle is a specific direction. A method for measuring a coating state, comprising detecting light.
柱状線状体の周囲に屈折率整合剤を設け、円柱状線状体
の被覆表面での反射率と、被覆と円柱状線状体との境界
面若しくは被覆の各層の境界面での反射率との差を小さ
くしたことを特徴とする被覆状態測定方法。16. The columnar linear body according to claim 1, wherein a refractive index matching agent is provided around the cylindrical linear body, the reflectance of the cylindrical linear body on the coating surface, and the coating and the cylindrical linear body. A method for measuring a coating state, wherein a difference between a reflectance at a boundary surface with a body or a boundary surface of each layer of a coating is reduced.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面もしくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、 とを備えた被覆状態測定装置において、 光照射部が、実質的な平行光を出射する平行光源を備え
ると共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を有
する撮像光学系を備えると共に、光検出部が光検出素子
としての撮像素子を有する撮像光学系を備え、且つ 光照
射部が円柱状線状体の長手方向軸に垂直な方向に延びる
スリット形状を有する光を生成するスリット生成手段を
具備し、該スリット生成手段を介して測定光を照射する
ことを特徴とする被覆状態測定装置。17. A coating comprising at least one coating on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
Surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
From the amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the linear body, wherein the light irradiation unit includes a parallel light source that emits substantially parallel light.
And the light detection section has an image sensor as a light detection element.
An image pickup optical system, and the light detection unit is a light detection element.
An imaging optical system having an imaging element as, and the light irradiation unit includes a slit generating means for generating light having a slit shape extending in a direction perpendicular to the longitudinal axis of the cylindrical linear body, the slit produced A coating state measuring device, which irradiates measurement light through a means.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面もしくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、 とを備えた被覆状態測定装置において、 光照射部が、実質的な平行光を出射する平行光源を備え
ると共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を有
する撮像光学系を備えると共に、光検出部が光検出素子
としての撮像素子を有する撮像光学系を備え、且つ光照
射部がパルス光源を備えると共に、該パルス光源の照射
タイミングと光検出部の撮像素子の撮像タイミングとを
同期させる同期回路を備えたことを特徴とする被覆状態
測定装置。18. A coating comprising at least one coating on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
Surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
From the amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the linear body , the light irradiation unit includes a parallel light source that emits substantially parallel light, and the light detection unit detects light. An image pickup optical system having an image pickup element as an element, the light detection unit includes an image pickup optical system having an image pickup element as a light detection element, and the light irradiation unit includes a pulse light source, and irradiation timing of the pulse light source And a synchronization circuit for synchronizing the imaging timing of the imaging element of the light detection unit with the imaging state of the imaging device.
照射タイミングと光検出部の撮像素子の撮像タイミング
とを同期させる同期回路を備えたことを特徴とする被覆
状態測定装置。19. The light emitting device according to claim 17, wherein the light irradiation unit includes a pulse light source, and a synchronization circuit that synchronizes the irradiation timing of the pulse light source with the imaging timing of the image sensor of the light detection unit. Coating condition measuring device.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面もしくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを備えた
被覆状態測定装置において、 光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を備えた
ことを特徴とする被覆状態測定装置。20. A coating comprising at least one layer on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
Surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
From the amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the linear body.
A covering state measuring device, wherein the light irradiating unit includes a laser light source and a laser beam scanning mechanism, and the light detecting unit includes an imaging element as a light detecting element.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面
反射光を与える入射光線及び該境界面反射光を与える入
射光線間のその入射方向に直行する方向の距離である入
射光位置ずれ量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及
び偏肉を求める制御部、 とを備えた被覆状態測定装置において、 光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を備えた
ことを特徴とする被覆状態測定装置。21. A coating comprising at least one layer on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
The above surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
The amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
An incident light beam that provides reflected light and an input light beam that provides the boundary surface reflected light
The distance between the rays in the direction perpendicular to the direction of incidence.
The coating thickness of the cylindrical linear body and the
And a control unit for determining uneven thickness, wherein the light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit includes an imaging element as a light detection element. Characteristic coating condition measuring device.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面もしくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを備えた
被覆状態測定装置において、 光照射部が、実質的な平行光を出射する平行光源を備え
ると共に、光検出部が光検出素子としての撮像素子を有
する撮像光学系を備えると共に、光検出部が光検出素子
としての撮像素子を有する撮像光学系を備え、且つ光検
出部が撮像光学系の一部又は全体を円柱状線状体の長手
方向に垂直な断面に対して平行でない方向に傾けること
により、該円柱状線状体の長手方向に沿って合焦位置が
変化するものであることを特徴とする被覆状態測定装
置。22. A coating comprising at least one coating on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
Surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
From the amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the linear body.
In the covering state measuring device, the light irradiation unit includes a parallel light source that emits substantially parallel light, the light detection unit includes an imaging optical system that includes an imaging element as a light detection element, and the light detection unit includes light. An imaging optical system having an imaging element as a detection element is provided, and the light detection unit tilts a part or the whole of the imaging optical system in a direction not parallel to a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the cylindrical linear body. An in-focus position changing along a longitudinal direction of the columnar linear body;
おいて、 光検出部が撮像光学系の一部又は全体を円柱状線状体の
長手方向に垂直な断面に対して平行でない方向に傾ける
ことにより、該円柱状線状体の長手方向に沿って合焦位
置が変化するものであることを特徴とする被覆状態測定
装置。23. The method according to claim 18, wherein
In the meantime, the light detection unit inclines a part or the whole of the imaging optical system in a direction that is not parallel to a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body, thereby extending along the longitudinal direction of the columnar linear body. Wherein the focus position changes.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 該表面反射光を与える入射光及び該境界面反射光を与え
る入射光間のその入射 方向に直交する方向の距離である
入射光位置ずれ量から該円柱状線状体の被覆厚及び偏肉
を求める制御部、 とを備えた被覆状態測定装置において、 光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が表面及び境界面からの反射光を受光す
る受光素子を備え、制御部が該受光素子からの出力の時
間変化とレーザ光走査の速度とより入射光位置ずれ量を
求める回路を備えたことを特徴とする被覆状態測定装
置。24. A coating comprising at least one layer on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
The above surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
An output part, and the incident light that gives the surface reflected light and the boundary light that gives the interface reflected light.
Is the distance in the direction perpendicular to the direction of incidence between the incident light
From the incident light position shift amount, the coating thickness and uneven thickness of the cylindrical linear body
A light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and a light detection unit includes a light receiving element that receives light reflected from a surface and a boundary surface. A control unit comprising: a circuit for obtaining a shift amount of the incident light from the time change of the output from the light receiving element and the speed of the laser beam scanning.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面もしくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量から該円柱
状線状体の被覆厚及び偏肉を求める制御部、とを備えた
被覆状態測定装置において、 光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が表面及び境界面からの反射光を受光す
る素子として、光入射面側の両端にそれぞれ位置信号電
極を有すると共に底面側を基準電極とする半導体からな
り且つ光入射面に入射した入射光により発生してその入
射位置と上記各位置信号電極までの距離に反比例した大
きさに分かれた光電流を各位置検出電極から出力する位
置検出用半導体装置であるPSD素子を備え、制御部が
該PSD素子によって検知される光重心位置の変化から
反射光ずれ量を求める回路を備えたことを特徴とする被
覆状態測定装置。25. A coating comprising at least one layer on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
Surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
From the amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
A control unit for determining the coating thickness and uneven thickness of the linear body.
In the coating state measuring device, the light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit serves as a device for receiving light reflected from the surface and the boundary surface, and has position signals at both ends on the light incident surface side. A photocurrent which is made of a semiconductor having electrodes and a bottom electrode serving as a reference electrode and which is generated by incident light incident on the light incident surface and divided into a magnitude inversely proportional to the distance between the incident position and each of the position signal electrodes. A PSD device which is a semiconductor device for position detection that outputs from each position detection electrode is provided, and a control unit is provided with a circuit for calculating a reflected light deviation amount from a change in a position of a center of gravity of light detected by the PSD device. Coating condition measuring device.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表 面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面
反射光を与える入射光線及び該境界面反射光を与える入
射光線間のその入射方向に直行する方向の距離である入
射光位置ずれ量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及
び偏肉を求める制御部、 とを備えた被覆状態測定装置において、 光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が表面及び境界面からの反射光を受光す
る素子として、光入射面側の両端にそれぞれ位置信号電
極を有すると共に底面側を基準電極とする半導体からな
り且つ光入射面に入射した入射光により発生してその入
射位置と上記各位置信号電極までの距離に反比例した大
きさに分かれた光電流を各位置検出電極から出力する位
置検出用半導体装置であるPSD素子を備え、制御部が
該PSD素子によって検知される光重心位置の変化から
反射光ずれ量を求める回路を備えたことを特徴とする被
覆状態測定装置。26. A coating comprising at least one layer on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
Table surface reflected light at the boundary surface of the boundary surface or coating of each layer
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
The amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
An incident light beam that provides reflected light and an input light beam that provides the boundary surface reflected light
The distance between the rays in the direction perpendicular to the direction of incidence.
The coating thickness of the cylindrical linear body and the
And a control unit for determining unevenness and thickness, wherein the light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit receives reflected light from the surface and the boundary surface. And a position signal electrode at both ends on the light incident surface side, and a semiconductor made of a base electrode on the bottom side, which is generated by incident light incident on the light incident surface, and is provided between the incident position and each of the position signal electrodes. A PSD element which is a semiconductor device for position detection that outputs a photocurrent divided into a magnitude inversely proportional to the distance from each position detection electrode, and the control unit detects a shift in reflected light from a change in the position of the center of gravity of light detected by the PSD element. A coating state measuring device comprising a circuit for determining an amount.
施された円柱状線状体の側面に対して該円柱状線状体の
長手方向軸に平行でない方向から測定光を照射する光照
射部と、 該円柱状線状体の被覆表面で少なくとも一つの特定方向
に反射した表面反射光と、該被覆と円柱状線状体本体と
の境界面若しくは被覆の各層の境界面で上記表面反射光
と平行な方向に反射した境界面反射光とを検出する光検
出部と、 これら表面反射光及び境界面反射光間のその特定方向に
直交する方向の距離である反射光位置ずれ量と、該表面
反射光を与える入射光線及び該境界面反射光を与える入
射光線間のその入射方向に直行する方向の距離である入
射光位置ずれ量との両方から該円柱状線状体の被覆厚及
び偏肉を求める制御部、 とを備えた被覆状態測定装置において、 光照射部がレーザ光源とレーザ光走査機構とを備えると
共に、光検出部が表面及び境界面からの反射光を受光す
る素子として、光入射面側の両端にそれぞれ位置信号電
極を有すると共に底面側を基準電極とする半導体からな
り且つ光入射面に入射した入射光により発生してその入
射位置と上記各位置信号電極までの距離に反比例した大
きさに分かれた光電流を各位置検出電極から出力する位
置検出用半導体装置であるPSD素子を備え、制御部が
該PSD素子によって検知される光重心位置の変化より
反射光ずれ量を求めると同時に光強度の変化より入射光
位置ずれ量を求める回路を備えたことを特徴とする被覆
状態測定装置。27. A coating comprising at least one layer on the surface.
Of the cylindrical linear body with respect to the side surface of the applied cylindrical linear body.
Illumination that irradiates measuring light from a direction that is not parallel to the longitudinal axis
Projection part , at least one specific direction on the coating surface of the cylindrical linear body
The surface reflected light reflected on the, the coating and the columnar linear body body
The above surface reflected light at the interface of
Photodetection to detect the boundary surface reflected light reflected in the direction parallel to
In the specific direction between the surface reflected light and the interface reflected light.
The amount of displacement of the reflected light, which is the distance in the orthogonal direction,
An incident light beam that provides reflected light and an input light beam that provides the boundary surface reflected light
The distance between the rays in the direction perpendicular to the direction of incidence.
The coating thickness of the cylindrical linear body and the
And a control unit for determining unevenness and thickness, wherein the light irradiation unit includes a laser light source and a laser light scanning mechanism, and the light detection unit receives reflected light from the surface and the boundary surface. And a position signal electrode at both ends on the light incident surface side, and a semiconductor made of a base electrode on the bottom side, which is generated by incident light incident on the light incident surface, and is provided between the incident position and each of the position signal electrodes. A position detecting semiconductor device for outputting a photocurrent divided into a magnitude inversely proportional to the distance from each position detecting electrode; and a control unit for controlling a reflected light shift due to a change in the optical barycentric position detected by the PSD element. A covering state measuring device comprising a circuit for obtaining an amount of displacement of incident light from a change in light intensity at the same time as obtaining an amount.
光検出部が観測光学系の受光開口数を制限する絞りを具
備したことを特徴とする被覆状態測定装置。28. The method according to claim 17, wherein
A covering state measuring device, wherein the light detecting section includes a stop for limiting a light receiving numerical aperture of the observation optical system.
光開口数を制限するための絞りが特定方向に光軸が一致
すると共に平行光を焦点面上の1点に集束するレンズ系
の焦点面上に配置されたピンホール若しくはスリットで
あることを特徴とする被覆状態測定装置。29. The focal plane of a lens system according to claim 28, wherein a stop for limiting the light-receiving numerical aperture of the observation optical system has an optical axis coincident with a specific direction and focuses parallel light to one point on the focal plane. A coating state measuring device characterized by being a pinhole or a slit arranged on the upper side.
光照射部が光源からの光を円柱状線状体の長手方向に垂
直な方向の直線偏光とする偏光子を具備するか、又は光
検出部が円柱状線状体からの反射光の中の円柱状線状体
の長手方向に垂直な方向の偏光成分のみを検出すること
を特徴とする被覆状態測定装置。30. The method according to claim 17, wherein
The light irradiation unit includes a polarizer that converts light from the light source into linearly polarized light in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the columnar linear body, or the light detection unit includes light reflected from the columnar linear body. A coating state measuring device characterized in that it detects only a polarized light component in a direction perpendicular to a longitudinal direction of a cylindrical linear body.
光照射部の光軸と光検出部の光軸とが測定光の反射点に
おける円柱状線状体の被覆表面の法線に対してブリュー
スター角をなすことを特徴とする被覆状態測定装置。31. The method according to claim 17, wherein
A coating state measuring device, wherein the optical axis of the light irradiating section and the optical axis of the light detecting section make a Brewster angle with respect to the normal of the coating surface of the cylindrical linear body at the reflection point of the measurement light.
円柱状線状体の周囲に屈折率整合剤を設けてあり、円柱
状線状体の被覆表面での反射率と、被覆と円柱状線状体
本体との境界面若しくは被覆の各層の境界面での反射率
との差を小さくしたことを特徴とする被覆状態測定装
置。32. In any one of claims 17 to 31,
A refractive index matching agent is provided around the cylindrical linear body, the reflectance of the cylindrical linear body on the coating surface, the boundary surface between the coating and the cylindrical linear body, or the boundary surface of each layer of the coating. A coating state measuring device characterized in that the difference between the reflectance and the reflectance at the surface is reduced.
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