JP3190981B2 - Dustproof cover for mask - Google Patents

Dustproof cover for mask

Info

Publication number
JP3190981B2
JP3190981B2 JP1493293A JP1493293A JP3190981B2 JP 3190981 B2 JP3190981 B2 JP 3190981B2 JP 1493293 A JP1493293 A JP 1493293A JP 1493293 A JP1493293 A JP 1493293A JP 3190981 B2 JP3190981 B2 JP 3190981B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
layer
carbon atoms
refractive index
polymer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1493293A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH06230558A (en
Inventor
誠 ▲瀧▼澤
池田  正紀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Corp
Original Assignee
Asahi Kasei Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Corp filed Critical Asahi Kasei Corp
Priority to JP1493293A priority Critical patent/JP3190981B2/en
Publication of JPH06230558A publication Critical patent/JPH06230558A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3190981B2 publication Critical patent/JP3190981B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、LSI(大規模集積回
路)製造のリソグラフィー工程において使用されるフォ
トマスクやレティクル等の透明基板(以下、マスクとい
う。)の異物付着を防止することを目的として使用され
るマスク用防塵カバー(以下、ペリクルという。)に関
するものである。更に詳しくは、本発明は、低屈折率で
あり、溶解性、成膜性、接着性に優れた材料からなる反
射防止層を有するペリクルに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention has an object to prevent foreign substances from adhering to a transparent substrate (hereinafter, referred to as a mask) such as a photomask or a reticle used in a lithography process for manufacturing an LSI (Large Scale Integrated Circuit). The present invention relates to a dustproof cover for a mask (hereinafter, referred to as a pellicle) used as a mask. More specifically, the present invention relates to a pellicle having an antireflection layer made of a material having a low refractive index and having excellent solubility, film formability and adhesiveness.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体製造において、集積回路パターン
の形成にはステッパ(縮小投影露光装置)等の半導体製
造装置が使用されている。ここで重要なのは、回路パタ
ンを形成するための原版となるマスクの品質である。近
年、大規模集積回路の発展に伴って集積回路の画線幅は
非常に微細になってきている。今後もその傾向は進むと
予想され、マスクの品質が、半導体の収率や製造コスト
に大きく影響するものとなってきている。特に、マスク
に付着する異物が歩留りを低下させることが重大な問題
である。
2. Description of the Related Art In semiconductor manufacturing, a semiconductor manufacturing apparatus such as a stepper (reduction projection exposure apparatus) is used for forming an integrated circuit pattern. What is important here is the quality of a mask serving as an original for forming a circuit pattern. In recent years, with the development of large-scale integrated circuits, the image line width of integrated circuits has become extremely fine. This trend is expected to continue in the future, and the quality of the mask is greatly affecting the yield and manufacturing cost of semiconductors. In particular, it is a serious problem that foreign matter adhering to the mask lowers the yield.

【0003】この問題を解決する手段の1つとして、い
わゆるペリクルを装着してマスクを異物から保護する方
法が採用されている(例えば、特公昭54−28716
号公報を参照)。ペリクルは、一般にフレーム、このフ
レームの一方の側面に接着された透明な膜及び、フレー
ムの他方の側面に貼り付けられた粘接着体から構成さ
れ、粘接着体によりマスクに装着される。ペリクルをマ
スクに装着することで、マスク面に異物(ゴミ)が付着
することが防げる一方、ペリクルに異物が付着した場合
でも、異物はフレームの高さだけマスク面から離れてい
るために露光時には異物は焦点を結ばず、集積回路パタ
ン像への影響がない。
As one of the means for solving this problem, a method of mounting a so-called pellicle to protect the mask from foreign substances has been adopted (for example, Japanese Patent Publication No. 54-28716).
Reference). The pellicle is generally composed of a frame, a transparent film adhered to one side of the frame, and an adhesive adhered to the other side of the frame, and is attached to the mask by the adhesive. By attaching the pellicle to the mask, foreign matter (dust) can be prevented from adhering to the mask surface, but even if foreign matter adheres to the pellicle, the foreign matter is separated from the mask surface by the height of the frame. Foreign matter does not focus and has no effect on the integrated circuit pattern image.

【0004】ペリクルには以上のメリットがあるが、ペ
リクル自体にも異物が付いていないことが要求される。
特に、ペリクルの内面に異物が付着している場合は、マ
スクへの装着時あるいは装着後に異物が落下してマスク
面に付着することが有り得る。そのために装着前に予
め、異物を除去する必要がある。この方法には接触式あ
るいは非接触式の方法があるが、空気で異物を吹き飛ば
すエアブロー法が、ペリクルの膜面を傷つけにくいこと
から、通常用いられている。
Although the pellicle has the above advantages, it is required that the pellicle itself be free of foreign matter.
In particular, if foreign matter is attached to the inner surface of the pellicle, the foreign matter may fall and adhere to the mask surface during or after attachment to the mask. Therefore, it is necessary to remove foreign matter before mounting. This method includes a contact method and a non-contact method, but an air blow method in which foreign matter is blown off with air is generally used because the pellicle film surface is hardly damaged.

【0005】一方、大規模集積回路は少量多品種生産の
方向が強まってきつつある。このことは、多数のマスク
を使用することを意味し、マスクの保管管理の必要性が
増してきている。その際ペリクルを装着しての保管は異
物の管理上簡便であることが認められつつある。ペリク
ルはその使用目的から明らかなように、まず光線透過性
の高いことが必要である。光線透過性が低いと、目的の
露光量を得るにはより長い時間の露光が必要となり、工
程の生産性が低くなる。
[0005] On the other hand, large-scale integrated circuits are increasingly being produced in small quantities and in many types. This means that a large number of masks are used, and the necessity of storing and managing the masks is increasing. At that time, it has been recognized that storage with a pellicle attached thereto is simple in management of foreign substances. As is clear from the purpose of use, the pellicle must firstly have high light transmittance. When the light transmittance is low, a longer exposure time is required to obtain a desired exposure amount, and the productivity of the process is lowered.

【0006】従来、ペリクルとしてニトロセルロースの
単層薄膜や単層膜の少なくとも一方に反射防止層を設け
たものが用いられている。反射防止層を設ける場合、最
適反射防止条件は、反射防止層が1層の場合は中心層の
屈折率をn、反射防止層の屈折率をn1 としたときn
1/2 =n1 と示される。即ち、中心層材料の屈折率の平
方根と反射防止層の屈折率が等しいときに反射防止効果
は最大になる。
Heretofore, pellicles having at least one of a nitrocellulose single-layer thin film and a single-layer film provided with an antireflection layer have been used. When providing the anti-reflection layer, the optimum antireflection conditions, when the refractive index of the central layer in the case of the antireflection layer is one layer and n, the refractive index of the antireflection layer and the n 1 n
It is indicated as 1/2 = n 1. That is, when the square root of the refractive index of the center layer material is equal to the refractive index of the antireflection layer, the antireflection effect is maximized.

【0007】中心層材料がセルロース誘導体の場合、n
はほぼ1.5であるのでn1/2 =1.22となり、屈折
率が1.22に近いものが反射防止層の材料として優れ
る。但し、有機材料では1.22に近い屈折率のものは
稀である。ここでは、屈折率が1.36以下の材料から
なる層を低屈折率層と呼び、屈折率が1.36より大き
い材料からなる層を高屈折率層と呼ぶことにする。
When the center layer material is a cellulose derivative, n
Is approximately 1.5, so that n 1/2 = 1.22. A material having a refractive index close to 1.22 is excellent as a material for the antireflection layer. However, organic materials having a refractive index close to 1.22 are rare. Here, a layer made of a material having a refractive index of 1.36 or less is called a low refractive index layer, and a layer made of a material having a refractive index larger than 1.36 is called a high refractive index layer.

【0008】ペリクルの反射防止層材料として有用と考
えられる、低屈折率でかつ透明性の高い材料としては、
屈折率1.34のサイトップ〈登録商標〉(旭硝子
(株)製、特開昭63−260932号公報)や屈折率
1.31及び1.29のテフロン〈登録商標〉AF(D
uPont社製、特開平3−170901号公報)のよ
うな主鎖に環状構造を有するパーフルオロビニル重合体
が挙げられる。以下にサイトップ〈登録商標〉、テフロ
ン〈登録商標〉AFの構造式を示す。
As a material having a low refractive index and high transparency, which is considered to be useful as an antireflection layer material of a pellicle,
Cytop (registered trademark) having a refractive index of 1.34 (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., JP-A-63-260932) and Teflon (registered trademark) AF (D) having a refractive index of 1.31 and 1.29.
A perfluorovinyl polymer having a cyclic structure in the main chain, as described in U.S. Pat. No. 3,170,901). The structural formulas of CYTOP (registered trademark) and Teflon (registered trademark) AF are shown below.

【0009】サイトップ〈登録商標〉CYTOP (registered trademark)

【0010】[0010]

【化3】 Embedded image

【0011】テフロン〈登録商標〉AFTeflon (registered trademark) AF

【0012】[0012]

【化4】 Embedded image

【0013】しかしながら、屈折率の点では最も好まし
いテフロン〈登録商標〉AFは溶媒に難溶であり、その
溶液は、ポリマー溶液のゴミ除去のために必要な、例え
ば孔径0.2μmのフィルターを通らず濾過ができない
という欠点があった。また、濾過せずに使用するとして
も、溶解性が不十分なために、スピンコート法で成膜し
た場合に膜の色斑が生じたり、散乱の原因となるポリマ
ーの微粒子を含むために光線透過性が低くなる等といっ
た問題があった。
However, Teflon (registered trademark) AF, which is most preferable in terms of refractive index, is poorly soluble in a solvent, and the solution is passed through a filter having a pore size of 0.2 μm, which is necessary for removing dust from the polymer solution. There was a drawback that filtration was not possible. In addition, even if used without filtration, because of insufficient solubility, when a film is formed by a spin coating method, color unevenness of the film occurs, or light is contained due to the inclusion of polymer fine particles that cause scattering. There were problems such as low permeability.

【0014】また、テフロン〈登録商標〉AFやサイト
ップ〈登録商標〉のようなパーフルオロビニル重合体を
低屈折率層として透明薄膜体(以後、中心層という。)
上、あるいは中心層上に形成された高屈折率層上にコー
トした場合、中心層と低屈折率層間、あるいは高屈折率
層と低屈折率層間の接着性が低く、ペリクル表面の異物
をエアブローで除去する際に低屈折率層がその下層から
剥離しやすいという問題があった。さらに、積層フィル
ムをフレームに貼り付けてペリクルを製造する工程で、
低屈折率層の接着性が低いためにペリクルがフレームか
ら剥離しやすいという欠点もあった。
Further, a transparent thin film (hereinafter, referred to as a central layer) is made of a perfluorovinyl polymer such as Teflon (registered trademark) AF or Cytop (registered trademark) as a low refractive index layer.
When coated on the upper layer or on the high refractive index layer formed on the center layer, the adhesion between the center layer and the low refractive index layer or between the high refractive index layer and the low refractive index layer is low, and foreign matter on the pellicle surface is blown by air. There is a problem that the low-refractive-index layer is easily peeled off from the lower layer when it is removed by the above method. Furthermore, in the process of manufacturing the pellicle by attaching the laminated film to the frame,
There is also a disadvantage that the pellicle is easily peeled off from the frame due to the low adhesiveness of the low refractive index layer.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
のパーフルオロビニル重合体を低屈折率層材料として用
いたペリクルの問題点を解決した高性能ペリクルを提供
することである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a high-performance pellicle which solves the problem of the pellicle using the above-mentioned perfluorovinyl polymer as a low refractive index layer material.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明者らは上記の課題
を解決すべく鋭意検討した結果、特定の置換基を有する
フッ素系重合体を反射防止層用の低屈折率層材料として
使用することにより上記の課題が解決できることを見出
し、本発明を完成するに至った。即ち、本発明は、透明
薄膜体の少なくとも一方の面に、低屈折率層からなる1
層の反射防止層又は高屈折率層の上に低屈折率層を積層
した2層の反射防止層が形成されたマスク用防塵カバー
において、上記反射防止層を形成する低屈折率層が、側
鎖にカルボニル含有基を有するアモルファスパーフルオ
ロポリマーからなることを特徴とするマスク用防塵カバ
ーに関するものである。更には、本発明は、該マスク用
防塵カバーにおいて側鎖にカルボニル含有基を有するア
モルファスパーフルオロポリマーが、下記式(1)で表
されるポリマーであるマスク用防塵カバーに関するもの
である。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made intensive studies to solve the above-mentioned problems, and as a result, have used a fluoropolymer having a specific substituent as a low refractive index layer material for an antireflection layer. As a result, they have found that the above problems can be solved, and have completed the present invention. That is, in the present invention, at least one surface of the transparent thin film comprises a low refractive index layer.
In a dustproof cover for a mask in which two antireflection layers are formed by laminating a low refractive index layer on a layer of an antireflection layer or a high refractive index layer, the low refractive index layer forming the antireflection layer is The present invention relates to a dustproof cover for a mask, comprising an amorphous perfluoropolymer having a carbonyl-containing group in a chain. Furthermore, the present invention relates to a dustproof cover for a mask, wherein the amorphous perfluoropolymer having a carbonyl-containing group in a side chain in the dustproof cover for a mask is a polymer represented by the following formula (1).

【0017】[0017]

【化5】 Embedded image

【0018】(ここで、Rfoは式(2)のパーフルオ
ロエーテルユニットを表す。R1 は炭素数1〜15のパ
ーフルオロアルキル基又はその部分置換体、ビニル基、
炭素数2〜50のパーフルオロエーテル基又はその部分
置換体を表す。また、R1 の末端が他のトリアジン環と
連結して網目構造ポリマーを形成してもよい。m1 は0
又は正の整数、m2 は正の整数であり、m2 /(m1
2 )=0.001〜1.0である。Rfo、R1 は式
(3)と同じ。R2 は炭素数1〜10のパーフルオロア
ルキレン基、炭素数2〜30の二価のパーフルオロエー
テル基、あるいは単結合を表す。XはORa 、NRb
c を表し、Ra 、Rb 、Rc は水素原子又は炭素数1〜
10の炭化水素基を表す。)
(Where Rfo represents a perfluoroether unit of the formula (2). R 1 represents a perfluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms or a partially substituted product thereof, a vinyl group,
Represents a perfluoroether group having 2 to 50 carbon atoms or a partially substituted product thereof. Further, the terminal of R 1 may be linked to another triazine ring to form a network polymer. m 1 0
Or a positive integer, m 2 is a positive integer, and m 2 / (m 1 +
m 2 ) = 0.001 to 1.0. Rfo and R 1 are the same as in formula (3). R 2 represents a perfluoroalkylene group having 1 to 10 carbon atoms, a divalent perfluoroether group having 2 to 30 carbon atoms, or a single bond. X is OR a , NR b R
c , R a , R b , and R c are a hydrogen atom or a carbon atom
Represents 10 hydrocarbon groups. )

【0019】[0019]

【化6】 Embedded image

【0020】(ここで、t=1,2,3又は4、s=
1,2又は3、Zは炭素数2〜20のパーフルオロアル
キレン基又は炭素数4〜25のパーフルオロエーテル基
を表す。n1 =0又は1、n2 =1〜300、(Ct
2tO)単位及び(ZO)単位の配列は任意に選ぶことが
できる。)以下、本発明について詳しく述べる。
(Where t = 1, 2, 3, or 4, s =
1, 2 or 3, Z represents a perfluoroalkylene group having 2 to 20 carbon atoms or a perfluoroether group having 4 to 25 carbon atoms. n 1 = 0 or 1, n 2 = 1 to 300, (C t F
Sequence of 2t O) units and (ZO) units can be arbitrarily selected. Hereinafter, the present invention will be described in detail.

【0021】本発明においては、前述のとおり屈折率が
1.36以下の材料からなる層を低屈折率層、屈折率が
1.36より大きい材料からなる層を高屈折率層と呼ぶ
ことにする。本発明に使用される側鎖にカルボニル含有
基を有するアモルファスパーフルオロポリマーとは、側
鎖にカルボニル含有基を有すし、かつ主鎖の主要成分が
アモルファスパーフルオロ構造であるポリマーを意味す
る。具体的には、例えば、パーフルオロポリエーテル
鎖を主鎖の主要成分とし、ペンダント基としてカルボニ
ル含有基を持つポリマー、テフロン〈登録商標〉AF
やサイトップ〈登録商標〉のような主鎖に環状構造を持
つパーフルオロビニル重合体に、ペンダント基としてカ
ルボニル含有基が結合している構造のポリマー等が挙げ
られる。
In the present invention, as described above, a layer made of a material having a refractive index of 1.36 or less is called a low refractive index layer, and a layer made of a material having a refractive index larger than 1.36 is called a high refractive index layer. I do. The amorphous perfluoropolymer having a carbonyl-containing group in a side chain used in the present invention means a polymer having a carbonyl-containing group in a side chain and a main component of a main chain having an amorphous perfluoro structure. Specifically, for example, a polymer having a perfluoropolyether chain as a main component of the main chain and having a carbonyl-containing group as a pendant group, Teflon (registered trademark) AF
And a polymer having a structure in which a carbonyl-containing group is bonded as a pendant group to a perfluorovinyl polymer having a cyclic structure in the main chain such as CYTOP (registered trademark).

【0022】これらの側鎖にカルボニル含有基を有する
アモルファスパーフルオロポリマーは、何れも高い接着
性を有しているので、ペリクルの低屈折率層材料として
有用である。中でものポリマー、特に上記式(1)で
表されるポリマーは接着性に優れているだけでなく、低
屈折率であり、溶解性、成膜性、耐光性にも優れてお
り、ペリクルの低屈折率層材料として極めて有用であ
る。
All of these amorphous perfluoropolymers having a carbonyl-containing group in the side chain have high adhesiveness and are useful as a material for a low refractive index layer of a pellicle. Among them, the polymer, particularly the polymer represented by the above formula (1), not only has excellent adhesiveness, but also has a low refractive index, excellent solubility, film formability, light resistance, and low pellicle properties. It is extremely useful as a refractive index layer material.

【0023】本発明の低屈折率層材料として使用される
ポリマー中のカルボニル含有基としては特に限定しない
が、具体例としてはカルボキシル基、エステル基、アミ
ド基、ケトン基等が挙げられる。式(2)で表されるパ
ーフルオロユニットRfoの分子量は特に制限はない
が、通常は数平均分子量が300〜6×104 の範囲、
好ましくは1000〜2×104 の範囲、更に好ましく
は1500〜1×104 の範囲のものが使用される。R
foの分子量があまり小さすぎると屈折率が低いポリマ
ーが得られない。また、あまり大きいと合成が困難であ
り、かつ接着性も悪化するので実用的でない。
The carbonyl-containing group in the polymer used as the material for the low refractive index layer of the present invention is not particularly limited, but specific examples include a carboxyl group, an ester group, an amide group, and a ketone group. Although the molecular weight of the perfluoro unit Rfo represented by the formula (2) is not particularly limited, the number average molecular weight is usually in a range of 300 to 6 × 10 4 ,
Preferably in the range of 1,000 to 2 × 10 4, more preferably used is in the range of 1,500-1 × 10 4. R
If the molecular weight of fo is too small, a polymer having a low refractive index cannot be obtained. On the other hand, if it is too large, it is difficult to synthesize and the adhesion is deteriorated, so that it is not practical.

【0024】該ポリマーのRfoの構造としては、下記
式(2−1)、式(2−2)又は式(2−3)で表され
るものが好ましいが、これらに限定されるものではな
い。
The structure of Rfo of the polymer is preferably represented by the following formula (2-1), formula (2-2) or formula (2-3), but is not limited thereto. .

【0025】[0025]

【化7】 Embedded image

【0026】(ここでAは炭素数2〜20のパーフルオ
ロアルキレン基又は炭素数4〜25のパーフルオロエー
テルの二価残基、あるいはそれらの置換体である。m、
nは0又は正の整数であり、m+nは通常は0〜30
0、好ましくは4〜300、更に好ましくは4〜100
の範囲である。)
(Where A is a divalent residue of a perfluoroalkylene group having 2 to 20 carbon atoms or a perfluoroether having 4 to 25 carbon atoms, or a substituted product thereof.
n is 0 or a positive integer, and m + n is usually from 0 to 30.
0, preferably 4 to 300, more preferably 4 to 100
Range. )

【0027】[0027]

【化8】 Embedded image

【0028】(ここでA′は炭素数1〜19のパーフル
オロアルキレン基又は炭素数3〜24のパーフルオロエ
ーテルの二価残基、あるいはそれらの置換体である。p
は0又は正の整数であり、通常は1〜300、好ましく
は4〜300、更に好ましくは4〜100の範囲であ
る。)
(Where A 'is a divalent residue of a perfluoroalkylene group having 1 to 19 carbon atoms or a perfluoroether having 3 to 24 carbon atoms, or a substituted product thereof.
Is 0 or a positive integer, and is usually in the range of 1 to 300, preferably 4 to 300, and more preferably 4 to 100. )

【0029】[0029]

【化9】 Embedded image

【0030】(ここでRfは炭素数2〜20のパーフル
オロアルキレン基又は炭素数4〜20のパーフルオロエ
ーテルの二価残基である。a,b,c,d,eは0又は
正の整数であり、a+b+c+d+eは通常は2〜30
0、好ましくは4〜100、更に好ましくは4〜80の
範囲である。fは0又は1であり、gは1、2又は3で
ある。D,EはそれぞれD=F,E=CF3 あるいはD
=CF3 ,E=Fの何れかである。また、下記化10に
表される各ユニットの配列は、任意に選ぶことができ
る。)
(Where Rf is a divalent residue of a perfluoroalkylene group having 2 to 20 carbon atoms or a perfluoroether having 4 to 20 carbon atoms. A, b, c, d and e are 0 or positive A + b + c + d + e is usually 2 to 30
0, preferably 4 to 100, and more preferably 4 to 80. f is 0 or 1, and g is 1, 2 or 3. D and E are respectively D = F, E = CF 3 or D
= CF 3 , E = F. The arrangement of each unit represented by the following formula 10 can be arbitrarily selected. )

【0031】[0031]

【化10】 Embedded image

【0032】本発明に使用される式(1)のポリマー
は、各種の方法で合成され得るが、通常は、特公昭62
−14169号公報、特公昭62−14171号公報、
特開昭57−175185号公報、特公昭53−536
0号公報、カナダ特許第960222号明細書等に記載
されている、両末端にカルボキシル基、酸フルオライド
基、エステル基、アミド基、ニトリル基、アミジン基等
の官能基を有する二官能性パーフルオロポリエーテルオ
リゴマーを原料として合成される。より具体的には、式
(1)のポリマーは当該二官能性オリゴマーを原料とし
て、欧州特許第0422231号公報、特開平2−20
2919号公報あるいは特開平4−85328号公報等
に記載の方法によって合成される。
The polymer of the formula (1) used in the present invention can be synthesized by various methods.
No. -14169, Japanese Patent Publication No. 62-14171,
JP-A-57-175185, JP-B-53-536
No. 0, Canadian Patent No. 960222, etc., a bifunctional perfluoro group having a functional group such as a carboxyl group, an acid fluoride group, an ester group, an amide group, a nitrile group, an amidine group at both ends. It is synthesized using a polyether oligomer as a raw material. More specifically, the polymer of the formula (1) is prepared by using the bifunctional oligomer as a raw material, in EP 0422231, JP-A No. 2-20
It is synthesized by the method described in JP-A No. 2919 or JP-A-4-85328.

【0033】すなわち前記式(1)のポリマーは、下記
式(3)で表されるポリマーとR1COY(ここでYは
F、Cl又はBrを表す。)や(R1 CO)2 O(ここ
でR 1 は炭素数1〜15のパーフルオロアルキル基又は
その部分置換体、ビニル基、炭素数2〜50のパーフル
オロエーテル基又はその部分置換体を表す。)等のアシ
ル化剤(以下、アシル化剤Iと総称する。)及び下記式
(4)や下記式(5)等のアシル化剤(以下、アシル化
剤IIと総称する。)を反応させることで合成される。
That is, the polymer of the above formula (1) is as follows:
The polymer represented by the formula (3) and R1COY (where Y is
Represents F, Cl or Br. ) And (R1CO)TwoO (here
In R 1Is a perfluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms or
Partially substituted product, vinyl group, C2-50 perful
Represents an oloether group or a partially substituted product thereof. Reeds such as
(Hereinafter referred to as acylating agent I) and the following formula
(4) or an acylating agent represented by the following formula (5) (hereinafter, acylation)
Agent II. ) Is reacted.

【0034】[0034]

【化11】 Embedded image

【0035】(ここでRfoは式(2)のパーフルオロ
エーテルユニットを表す。)
(Where Rfo represents a perfluoroether unit of the formula (2))

【0036】[0036]

【化12】 Embedded image

【0037】(ここでR2 は式(1)のR2 に同じ。)[0037] (wherein R 2 is the same as R 2 of formula (1).)

【0038】[0038]

【化13】 Embedded image

【0039】(ここでY′はF、Cl又はBrを表
す。)尚、アシル化剤IIのうち上記式(4)で表され
る化合物を用いた場合、式(1)でX=OHのポリマー
が得られる。以上より、アシル化剤I及びアシル化剤I
Iの任意の組合せによる上記式(3)のポリマーのアシ
ル化反応により任意の構造の、かつ任意の−COX基含
量の式(1)のポリマーが得られる。
(Where Y 'represents F, Cl or Br) When the compound represented by the above formula (4) among the acylating agents II is used, in the formula (1), X = OH A polymer is obtained. From the above, acylating agent I and acylating agent I
The acylation reaction of the polymer of the above formula (3) with any combination of I gives a polymer of the formula (1) having an arbitrary structure and an arbitrary -COX group content.

【0040】尚、式(1)において−COX基含量をm
2 /(m1 +m2 )で表した場合、通常は0.001〜
1、好ましくは0.005〜0.8、更に好ましくは
0.01〜0.5の範囲が用いられる。この値が0.0
01未満の場合は接着性が充分でなく好ましくない。R
1 COY(ここでYはF、Cl又はBrを表す。)や
(R1 CO)2 O(ここでR1 は炭素数1〜15のパー
フルオロアルキル基又はその部分置換体、ビニル基、炭
素数2〜50のパーフルオロエーテル基又はその部分置
換体を表す。)で表されるアシル化剤Iの具体例として
は、CF3 COCl,CF3 CF2 CF2 COF,CF
3 (CF2 5 COCl,CH2 =CHCOCl,(C
3 CO)2 O,(CF3 CF2 CF2 CO)2 O,や
下記式(6)等の化合物が挙げられる。
In the formula (1), the -COX group content is defined as m
When expressed as 2 / (m 1 + m 2 ), it is usually 0.001 to
1, preferably in the range of 0.005 to 0.8, more preferably 0.01 to 0.5. This value is 0.0
If it is less than 01, the adhesiveness is not sufficient, which is not preferable. R
1 COY (where Y represents F, Cl or Br) or (R 1 CO) 2 O (where R 1 is a perfluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms or a partially substituted product thereof, a vinyl group, a carbon specific examples of the acylating agent I represented by represents.) perfluoroether group or a partially substituted compound having 2~50, CF 3 COCl, CF 3 CF 2 CF 2 COF, CF
3 (CF 2 ) 5 COCl, CH 2 CHCHCOCl, (C
Examples thereof include F 3 CO) 2 O, (CF 3 CF 2 CF 2 CO) 2 O, and compounds represented by the following formula (6).

【0041】[0041]

【化14】 Embedded image

【0042】尚、R1 がパーフルオロアルキル基やパー
フルオロエーテル基の部分置換体である場合、部分置換
体とは当該パーフルオロアルキル基又はパーフルオロエ
ーテル基中のフッ素原子の一部、全フッ素原子数の35
%以内、好ましくは20%以内が水素原子及び/又はフ
ッ素原子以外のハロゲン原子で置換されたものを表す。
When R 1 is a partially substituted product of a perfluoroalkyl group or a perfluoroether group, the partially substituted product refers to a part of the fluorine atom in the perfluoroalkyl group or the perfluoroether group, 35 atoms
% Or less, preferably 20% or less, substituted with a halogen atom other than a hydrogen atom and / or a fluorine atom.

【0043】一方、アシル化剤IIの具体例としては、
下記式(7)〜(13)等の化合物が挙げられる。
On the other hand, specific examples of the acylating agent II include:
Compounds represented by the following formulas (7) to (13) are exemplified.

【0044】[0044]

【化15】 Embedded image

【0045】[0045]

【化16】 Embedded image

【0046】[0046]

【化17】 Embedded image

【0047】[0047]

【化18】 Embedded image

【0048】[0048]

【化19】 Embedded image

【0049】[0049]

【化20】 Embedded image

【0050】[0050]

【化21】 Embedded image

【0051】尚、式(1)において、X=OR′(R′
は低級アルキル基を表す。)であるポリマーを合成した
後に、加水分解又はHNRb c との反応によりX=O
H又はNRb c のポリマーに変換してもよい。本発明
のペリクルに使用される、式(1)で表される繰り返し
単位からなるポリマーは、アシル化剤の量を調節するこ
とにより、トリアジン環、即ち式(1)の繰り返し単位
とイミドイルアミジン基、すなわち式(3)の繰り返し
単位を共に含むポリマーが得られるが、このポリマーも
本発明の低屈折率層として使用できる。
In the equation (1), X = OR '(R'
Represents a lower alkyl group. ) After synthesis, X = O by hydrolysis or reaction with HNR b R c
It may be converted to a polymer of H or NR b R c . The polymer comprising the repeating unit represented by the formula (1) used in the pellicle of the present invention can be prepared by adjusting the amount of the acylating agent to obtain a triazine ring, that is, a repeating unit of the formula (1) and an imidoylamidine. A polymer is obtained which contains both groups, i.e. repeating units of the formula (3), which can also be used as the low refractive index layer according to the invention.

【0052】式(1)で表される繰り返し単位からなる
ポリマーの分子量は、特に限定されるものでなく、当該
ポリマーがペリクルの使用条件下で流動性を示さないも
のであればよい。但し、ペリクルの耐久性、操作性等か
ら、当該ポリマーの粘度又は当該ポリマーの原料である
式(3)のポリマーの粘度が、40℃において0.15
dl/g以上、好ましくは0.20dl/g以上、更に
好ましくは0.30dl/g以上のものが使用される。
The molecular weight of the polymer comprising the repeating unit represented by the formula (1) is not particularly limited as long as the polymer does not show fluidity under the conditions of use of the pellicle. However, from the viewpoint of durability and operability of the pellicle, the viscosity of the polymer or the viscosity of the polymer of the formula (3) as a raw material of the polymer is 0.15 at 40 ° C.
dl / g or more, preferably 0.20 dl / g or more, more preferably 0.30 dl / g or more is used.

【0053】本発明のペリクルに使用されるポリマー
は、各種のフッ素系溶媒あるいはフッ素系溶媒を含む混
合溶媒に容易に溶解するので、その溶液を用いて当該ポ
リマーを積層したペリクル膜を容易に作成できる。本発
明に使用されるポリマーの溶剤は、1,1,2−トリク
ロロ−1,2,2−トリフルオロエタン(R−113)
のようなクロロフルオロカーボン系溶媒、パーフルオロ
ヘキサンやパーフルオロオクタンに代表されるパーフル
オロカーボン系溶媒、パーフルオロ−2−ブチルテトラ
ヒドロフラン、2H−テトラデカフルオロ−5−(トリ
フルオロメチル)−3,6−ジオキサノナン等の含フッ
素エーテル系溶媒、あるいはトリ(パーフルオロ−n−
ブチル)アミンのようなパーフルオロアミン系溶媒とい
ったフッ素系溶媒、又は上記フッ素系溶媒とエーテル系
溶媒等の極性溶媒との混合溶媒などが挙げられる。
Since the polymer used in the pellicle of the present invention is easily dissolved in various fluorine-based solvents or mixed solvents containing a fluorine-based solvent, a pellicle film in which the polymer is laminated can be easily prepared using the solution. it can. The solvent of the polymer used in the present invention is 1,1,2-trichloro-1,2,2-trifluoroethane (R-113).
Chlorofluorocarbon solvents such as perfluorohexane and perfluorooctane; perfluoro-2-butyltetrahydrofuran; 2H-tetradecafluoro-5- (trifluoromethyl) -3,6- Fluorinated ether solvents such as dioxanonane, or tri (perfluoro-n-
A fluorinated solvent such as a perfluoroamine solvent such as butyl) amine, or a mixed solvent of the above fluorinated solvent and a polar solvent such as an ether solvent can be used.

【0054】本発明に使用されるポリマーの1つの特長
は屈折率が低いことであるが、その中でも屈折率
(nD )が1.28〜1.36の範囲のものがペリクル
の低屈折率材料として有用であり、好ましくは1.29
〜1.34、更に好ましくは1.29〜1.32であ
る。本発明のペリクルの中心層を構成する材料は、透明
性と強度に優れ、かつ使用する光源に対する安定性が高
いものである必要があり、例えばセルロースアセテー
ト、セルロースアセテートブチレート、セルロースアセ
テートプロピオネート、エチルセルロース等のセルロー
ス誘導体及び特開平2−294645号公報記載のセル
ロース誘導体が挙げられる。これらのセルロース誘導体
はそれぞれ単独又は2種以上の混合物として用いられる
が、2種以上の混合物が好ましく、更には膜強度、高湿
度下での形状保持性に優れるニトロセルロースと耐候性
に優れるセルロースアセテート、セルロースアセテート
ブチレート、セルロースアセテートプロピオネート等と
いったニトロセルロース以外のセルロース誘導体の混合
物が好ましい。該混合物中のニトロセルロースの含有量
は、膜強度、高湿度下での形状保持性及び耐候性のバラ
ンスを考慮すると、10〜50重量%が好ましく、更に
は20〜40重量%が好ましい。ニトロセルロースの含
有量が10重量%未満の場合は膜の耐候性が劣り、また
50重量%を超えると膜強度が著しく低下するため好ま
しくない。
One of the features of the polymer used in the present invention is that the refractive index is low. Among them, those having a refractive index (n D ) in the range of 1.28 to 1.36 are low refractive indexes of the pellicle. Useful as a material, preferably 1.29
To 1.34, more preferably 1.29 to 1.32. The material constituting the central layer of the pellicle of the present invention is required to be excellent in transparency and strength, and to have high stability to a light source to be used, for example, cellulose acetate, cellulose acetate butyrate, cellulose acetate propionate. And cellulose derivatives such as ethyl cellulose and cellulose derivatives described in JP-A-2-294645. Each of these cellulose derivatives is used alone or as a mixture of two or more types, and a mixture of two or more types is preferable. Further, nitrocellulose having excellent film strength and shape retention under high humidity and cellulose acetate having excellent weather resistance are provided. Preferred is a mixture of cellulose derivatives other than nitrocellulose, such as cellulose acetate butyrate and cellulose acetate propionate. The content of nitrocellulose in the mixture is preferably from 10 to 50% by weight, and more preferably from 20 to 40% by weight in consideration of the balance between film strength, shape retention under high humidity, and weather resistance. When the content of nitrocellulose is less than 10% by weight, the weather resistance of the film is inferior, and when it exceeds 50% by weight, the film strength is remarkably reduced.

【0055】該セルロース誘導体の分子量は大きいほ
ど、膜の形状保持性が向上する。従って、数平均分子量
は3万以上が好ましく、より好ましくは5万以上であ
る。上記のセルロース誘導体のうち、ニトロセルロース
は旭化成工業(株)から、セルロースアセテート、セル
ロースアセテートブチレート、セルロースアセテートプ
ロピオネートはイーストマンコダック社から市販品を容
易に入手できる。
The higher the molecular weight of the cellulose derivative, the better the shape retention of the membrane. Therefore, the number average molecular weight is preferably 30,000 or more, more preferably 50,000 or more. Among the above cellulose derivatives, commercially available nitrocellulose can be easily obtained from Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd., and cellulose acetate, cellulose acetate butyrate, and cellulose acetate propionate can be easily obtained from Eastman Kodak Co., Ltd.

【0056】セルロース誘導体の溶媒としては、メチル
エチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサ
ノン等のケトン類、酢酸ブチル、酢酸イソブチル、乳酸
エチル、酢酸セロソルブ等のエステル類及びこれらのう
ちの2種以上の混合溶媒が使用される。本発明の中心層
の成膜法は、溶融法やキャスト法等の通常用いられる各
種の成膜法が適用できる。例えば、ニトロセルロースの
ように熱可塑性でない材料の場合には、溶液にしてキャ
ストする方法が通常用いられる。本発明のペリクルでは
膜厚の均一性が重要であり、均一な厚みの薄膜を製造す
る方法としては、回転塗布法(スピンコータ法)、ナイ
フコータ法、浸漬引き上げ法、流体表面への流延法等が
適当であるが、中でもスピンコータ法が好適である。但
し、本発明の薄膜を得るためのスピンコーティングの条
件は、溶液の粘度、溶液からの溶媒の蒸発速度、スピン
コータ周囲の温度、湿度、スピン回転数、スピン時間等
多くの因子が影響するので、正しく選択する必要があ
る。
As the solvent for the cellulose derivative, ketones such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone, esters such as butyl acetate, isobutyl acetate, ethyl lactate and cellosolve, and a mixed solvent of two or more of these are used. Is done. As the film forming method of the center layer of the present invention, various film forming methods usually used such as a melting method and a casting method can be applied. For example, in the case of a non-thermoplastic material such as nitrocellulose, a method of casting in a solution is usually used. In the pellicle of the present invention, uniformity of the film thickness is important. As a method for producing a thin film having a uniform thickness, a spin coating method (spin coater method), a knife coater method, an immersion pulling method, a casting method on a fluid surface, and the like. Is suitable, and among them, the spin coater method is preferable. However, the spin coating conditions for obtaining the thin film of the present invention are affected by many factors such as the viscosity of the solution, the evaporation rate of the solvent from the solution, the temperature around the spin coater, the humidity, the spin speed, and the spin time. You need to make the right choice.

【0057】本発明のペリクルの膜厚は特に限定される
ものではないが、好ましくは0.2〜10μm、更に好
ましくは0.5〜8μmである。3層膜の製造方法を以
下に説明する。まずスピンコーティングによって平滑基
板上に形成された中心層材料の薄膜から、溶媒をホット
プレート、オーヴン等で揮発させる。乾燥後の薄膜の上
に、既に述べた含フッ素ポリマーの所定の濃度に調製し
た溶液をスピンコータ法等によって塗布、乾燥し、反射
防止層として該含フッ素ポリマーの薄膜を形成し2層膜
とする。続いて、平滑基板上に形成された2層膜を、金
属又は樹脂等の枠を張り付けて剥し取り、反転させて再
度反射防止層をスピンコーティングして、中心層の両側
に含フッ素ポリマー層を持つ3層膜を得る。
The thickness of the pellicle of the present invention is not particularly limited, but is preferably 0.2 to 10 μm, and more preferably 0.5 to 8 μm. A method for manufacturing a three-layer film will be described below. First, a solvent is volatilized from a thin film of a center layer material formed on a smooth substrate by spin coating using a hot plate, an oven, or the like. On the thin film after drying, a solution prepared to a predetermined concentration of the above-mentioned fluoropolymer is applied by a spin coater method or the like, and dried to form a thin film of the fluoropolymer as an antireflection layer to form a two-layer film. . Subsequently, the two-layer film formed on the smooth substrate is peeled off by attaching a frame of metal or resin, inverted, spin-coated again with an antireflection layer, and a fluorine-containing polymer layer is formed on both sides of the center layer. A three-layer film is obtained.

【0058】5層膜は、上記の3層膜の中心層と反射防
止層の間に高屈折率材料を成膜する違いだけで、上記と
同様に製造できる。2層の反射防止層を形成する場合に
は、中心層の屈折率をn、反射防止層の低屈折率層の屈
折率をn1 、同高屈折率層の屈折率をn2 とすると、反
射防止条件は、n1/2 =n2 /n1 で表される。中心層
をセルロース誘導体とする場合、nはほぼ1.5である
ので、n2 /n1 =1.22が反射防止条件となる。例
えば、本発明を構成する含フッ素ポリマーの屈折率の好
ましい範囲は1.28〜1.36であり、それに対応す
る高屈折率層の屈折率は1.56〜1.66となる。こ
の条件を満たす高分子材料としてはビニル芳香族重合体
が好適であり、具体例としてはスチレン、スチレンの誘
導体、ビニルナフタレン等の単独重合体又は共重合体が
挙げられる。
The five-layer film can be manufactured in the same manner as described above, except that a high refractive index material is formed between the central layer and the antireflection layer of the three-layer film. When forming the anti-reflection layer of two layers, the refractive index of the central layer n, n 1 the refractive index of the low refractive index layer of the antireflection layer, and the refractive index of the same height refractive index layer and n 2, The anti-reflection condition is represented by n 1/2 = n 2 / n 1 . When the central layer is made of a cellulose derivative, n is approximately 1.5, so that n 2 / n 1 = 1.22 is the antireflection condition. For example, the preferred range of the refractive index of the fluoropolymer constituting the present invention is 1.28 to 1.36, and the corresponding refractive index of the high refractive index layer is 1.56 to 1.66. As the polymer material satisfying this condition, a vinyl aromatic polymer is preferable, and specific examples thereof include a homopolymer or a copolymer of styrene, a derivative of styrene, and vinyl naphthalene.

【0059】[0059]

【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を更に具体的に
説明するが、本発明はその要旨を超えない限りこれらの
実施例に制限されるものではない。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail with reference to the following Examples, which should not be construed as limiting the scope of the invention.

【0060】[0060]

【合成例1】特開平2−202919号公報の実施例4
と同様の方法により、下記式(14−1)で表されるジ
ニトリルオリゴマー(数平均分子量5050、二官能性
純度99.9%以上)から下記式(14−2)で表され
るポリイミドイルアミジンを合成した。
[Synthesis Example 1] Example 4 of JP-A-2-202919
In the same manner as described above, a dinitrile oligomer represented by the following formula (14-1) (number average molecular weight: 5050, bifunctional purity: 99.9% or more) is converted to a polyimide yl represented by the following formula (14-2). Amidine was synthesized.

【0061】[0061]

【化22】 Embedded image

【0062】(m′、m″は正の整数を表す)(M ′ and m ″ represent positive integers)

【0063】[0063]

【化23】 Embedded image

【0064】(m′、m″は式(14−1)と同じ。
n′は正の整数を表す。)このポリイミドイルアミジン
のパーフルオロオクタン中40℃での固有粘度は0.4
70dl/gであった。
(M ′ and m ″ are the same as in the equation (14-1).
n 'represents a positive integer. ) This polyimideylamidine has an intrinsic viscosity of 0.4 in perfluorooctane at 40 ° C.
It was 70 dl / g.

【0065】[0065]

【合成例2】合成例1で得たポリイミドイルアミジン5
g(1mmol)をパーフルオロヘキサン50gに溶解
し、下記式(12)のアシル化剤1.35g(10mm
ol)を20gのフレオン〈登録商標〉−113に溶解
した溶液と混合し、40℃で17時間撹拌して反応させ
た。
[Synthesis Example 2] Polyimide Ilamidine 5 obtained in Synthesis Example 1
g (1 mmol) was dissolved in 50 g of perfluorohexane, and 1.35 g of an acylating agent represented by the following formula (12) (10 mm
ol) was mixed with a solution of 20 g of Freon (registered trademark) -113, and the mixture was stirred and reacted at 40 ° C. for 17 hours.

【0066】[0066]

【化24】 Embedded image

【0067】反応終了後に、過剰のクロロフォルムを加
えてポリマーを沈澱させ精製した。溶媒を留去して4.
8gの無色透明なポリマーを得た。このポリマーの赤外
吸収スペクトルは1766cm-1にカルボニル基に帰属
される吸収と、1556cm -1にトリアジン環に帰属さ
れる吸収を持っており下記式(14−3)の構造である
ことが確認された。固有粘度は0.50dl/gで、屈
折率は1.31であった。
After the completion of the reaction, excess chloroform was added.
The polymer was precipitated and purified. 3. Evaporate the solvent.
8 g of a clear, colorless polymer were obtained. Infrared of this polymer
Absorption spectrum is 1766cm-1Attributable to the carbonyl group
Absorption and 1556cm -1Attributable to the triazine ring
And has a structure represented by the following formula (14-3).
It was confirmed that. The intrinsic viscosity is 0.50 dl / g,
The folding ratio was 1.31.

【0068】[0068]

【化25】 Embedded image

【0069】[0069]

【合成例3】合成例2と同じポリイミドイルアミジンと
該ポリイミドイルアミジン中のイミドイルアミジン基の
モル数に対して0.40倍モルのパーフルオログルタル
酸無水物を反応させた後に、該イミドイルアミジン基の
20倍モルの無水トリフルオロ酢酸と反応させて、下記
式(14−4)の構造のパーフルオロポリトリアジンを
合成した。
Synthetic Example 3 The same polyimide yl amidine as in Synthetic Example 2 was reacted with perfluoroglutaric anhydride in a molar ratio of 0.40 times the number of moles of imidoylamidine groups in the polyimideylamidine, and By reacting with trifluoroacetic anhydride at a molar ratio of 20 times the ilamidine group, a perfluoropolytriazine having the structure of the following formula (14-4) was synthesized.

【0070】[0070]

【化26】 Embedded image

【0071】(m′、m″、n″、n″′は正の整数を
表し、n″′/(n″+n″′)=0.4である。)上
記式(14−4)のパーフルオロポリトリアジンは、そ
の赤外吸収スペクトルに1783cm-1にカルボキシル
基に帰属される吸収を持つ、無色透明のポリマーであ
り、屈折率は1.31であった。
(M ′, m ″, n ″, n ″ ″ represent positive integers, and n ″ ″ / (n ″ + n ″ ″) = 0.4.) Perfluoropolytriazine was a colorless and transparent polymer having an absorption at 1,783 cm -1 attributable to a carboxyl group in its infrared absorption spectrum, and had a refractive index of 1.31.

【0072】[0072]

【実施例1】セルロースアセテートプロピオネート(イ
ーストマンコダック社製CAP482−2:以下CAP
と略す。)の7重量%の酢酸エチルセロソルブ溶液と、
合成例2のポリトリアジン(屈折率1.31)の0.8
重量%のトリ(パーフルオロ−n−ブチル)アミン溶液
を各々、孔径0.1μmのフィルタで濾過して調製し
た。スピンコータにセットしたシリコンウェファに、調
製したCAP溶液を20ml滴下し、ウェファを1,0
00rpmで45秒間回転させた後にホットプレートで
溶媒を蒸発させて、ウェファ上に膜厚1.9μmのCA
P薄膜を形成した。続いて、この薄膜上に調製したポリ
トリアジン溶液を3ml滴下し、600rpmで30秒
間回転させた後に風乾して2層膜を形成した。
Example 1 Cellulose acetate propionate (CAP482-2 manufactured by Eastman Kodak Co., Ltd .: CAP
Abbreviated. A) a 7% by weight solution of ethyl cellosolve in
0.8 of polytriazine (refractive index 1.31) of Synthesis Example 2
Each of the wt.% Tri (perfluoro-n-butyl) amine solutions was prepared by filtration through a filter having a pore size of 0.1 μm. 20 ml of the prepared CAP solution was dropped on a silicon wafer set on a spin coater, and the wafer was placed in a 1.0-cm wafer.
After rotating at 00 rpm for 45 seconds, the solvent was evaporated on a hot plate, and a 1.9 μm thick CA was deposited on the wafer.
A P thin film was formed. Subsequently, 3 ml of the prepared polytriazine solution was dropped on the thin film, rotated at 600 rpm for 30 seconds, and air-dried to form a two-layer film.

【0073】次に、この2層膜をウェファから剥離し反
転してスピンコータにセットし、ポリトリアジン層を上
記と同様な方法で形成し、3層膜とした。この3層ペリ
クルを水銀ランプからの単色光で観察したところ、表面
は平滑でかつ色ムラのない良好な膜であった。この3層
ペリクルの光線透過率は、g線で99.8%、i線で9
9.7%であった。
Next, the two-layer film was peeled from the wafer, turned over, and set on a spin coater, and a polytriazine layer was formed in the same manner as described above to form a three-layer film. Observation of the three-layer pellicle with monochromatic light from a mercury lamp revealed that the surface was a good film having a smooth surface and no color unevenness. The light transmittance of this three-layer pellicle is 99.8% for g-line and 9 for i-line.
9.7%.

【0074】図1にこの3層膜の光線透過率を示す。こ
の光線透過特性は、g線〜i線の波長範囲の光で露光す
るプロジェクションアライナ用のペリクルとして好まし
いものである。
FIG. 1 shows the light transmittance of this three-layer film. This light transmission characteristic is preferable as a pellicle for a projection aligner that is exposed to light in the wavelength range of g-line to i-line.

【0075】[0075]

【実施例2】合成例3のポリトリアジン(屈折率1.3
1)のトリ(パーフルオロ−n−ブチル)アミン溶液を
用いる以外は実施例1と同様にして3層膜を製膜した。
この3層ペリクルを水銀ランプからの単色光で観察した
ところ、表面は平滑でかつ色ムラのない良好な膜であっ
た。
Example 2 Polytriazine of Synthesis Example 3 (refractive index 1.3
A three-layer film was formed in the same manner as in Example 1 except that the tri (perfluoro-n-butyl) amine solution of 1) was used.
Observation of the three-layer pellicle with monochromatic light from a mercury lamp revealed that the surface was a good film having a smooth surface and no color unevenness.

【0076】この3層ペリクルの光線透過率は、g線及
びi線で99.8%であった。
The light transmittance of the three-layer pellicle was 99.8% for g-line and i-line.

【0077】[0077]

【比較例1】DuPont社製のテフロン〈登録商標〉
AF1600(屈折率1.31)をトリ(パーフルオロ
−n−ブチル)アミンに溶解し1.5重量%の溶液とし
た。しかしながら、この溶液は、孔径0.1μmのフィ
ルタでは目詰まりして濾過できなかった。
[Comparative Example 1] Teflon (registered trademark) manufactured by DuPont
AF1600 (refractive index 1.31) was dissolved in tri (perfluoro-n-butyl) amine to form a 1.5% by weight solution. However, this solution was clogged with a filter having a pore size of 0.1 μm and could not be filtered.

【0078】この溶液を濾過せずに、実施例1のポリト
リアジン溶液の代わりに用いて実施例1と同様にして3
層ペリクルを製膜したが、水銀ランプからの単色光では
膜の中心から放射状に走る筋状の色ムラが観察された。
This solution was used in the same manner as in Example 1 except that the solution was not filtered, but instead of the polytriazine solution of Example 1.
A layer pellicle was formed, but with monochromatic light from a mercury lamp, streak-like color unevenness running radially from the center of the film was observed.

【0079】[0079]

【実施例3】セルロースプロピオネート(Aldric
h社製、以下CPと略)6gとニトロセルロース(旭化
成工業(株)製HIG−20、硝化度12.0%、以下
NCと略)4gを酢酸エチルセロソルブに溶解し、固形
分濃度7g/dlの溶液としたものと、実施例1で用い
たポリトリアジン溶液を各々孔径0.1μmのフィルタ
で濾過して調製した。
Example 3 Cellulose propionate (Aldric)
h company, hereinafter abbreviated as CP) 6 g and nitrocellulose (Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd. HIG-20, nitrification degree 12.0%, hereinafter abbreviated as NC) 4 g were dissolved in ethyl acetate cellosolve to obtain a solid concentration of 7 g / The dl solution and the polytriazine solution used in Example 1 were each prepared by filtering with a filter having a pore size of 0.1 μm.

【0080】スピンコータにセットしたシリコンウェフ
ァに、調製したCP/NC溶液を20ml滴下し、ウェ
ファを950rpmで45秒間回転させた後にホットプ
レートで溶媒を蒸発させて、ウェファ上に膜厚1.9μ
mのCP/NC薄膜を形成した。続いて、この薄膜上に
調製したポリスチレン溶液を3ml滴下し、500rp
mで30秒間回転させた後に風乾して2層膜を形成し
た。
20 ml of the prepared CP / NC solution was dropped on a silicon wafer set on a spin coater, and the wafer was rotated at 950 rpm for 45 seconds. Then, the solvent was evaporated on a hot plate to form a film having a thickness of 1.9 μm on the wafer.
m CP / NC thin films were formed. Subsequently, 3 ml of the prepared polystyrene solution was dropped on this thin film, and 500 rpm
m and then air dried to form a two-layer film.

【0081】更に、この2層膜上に調製したポリトリア
ジン溶液を3ml滴下し、600rpmで30秒間回転
させた後に風乾して2層膜を形成した。次に、この3層
膜をウェファから剥離し反転してスピンコータにセット
し、CP/NC膜層上にポリスチレン層及びポリトリア
ジン層を、順に上記と同様な方法で形成し、5層膜とし
た。
Further, 3 ml of the prepared polytriazine solution was dropped on the two-layer film, rotated at 600 rpm for 30 seconds, and air-dried to form a two-layer film. Next, the three-layer film was peeled off from the wafer, inverted, and set on a spin coater, and a polystyrene layer and a polytriazine layer were sequentially formed on the CP / NC film layer in the same manner as described above to form a five-layer film. .

【0082】この5層ペリクルの光線透過率は、g線で
99.6%、i線で99.7%であった。また、g線〜
i線の範囲では光線透過率は99%以上だった。
The light transmittance of the five-layer pellicle was 99.6% for g-line and 99.7% for i-line. Also, g-line ~
The light transmittance was 99% or more in the range of the i-line.

【0083】[0083]

【実施例4】実施例3で調製したCP/NC溶液及び実
施例2で調整したポリトリアジン溶液から、実施例1と
同様にして3層膜を形成した。この3層ペリクルの光線
透過率は、g線及びi線で99.8%であった。
Example 4 A three-layer film was formed from the CP / NC solution prepared in Example 3 and the polytriazine solution prepared in Example 2 in the same manner as in Example 1. The light transmittance of this three-layer pellicle was 99.8% for g-line and i-line.

【0084】[0084]

【実施例5及び6、比較例2及び3】図2に示すサンプ
ルを作成してCP+NCブレンド膜とパーフルオロポリ
マーの剥離強度の程度を調べた。図2のパーフルオロポ
リマーとして、合成例3の高分子鎖中にカルボキシル基
を持つポリトリアジン(実施例5)、合成例2の高分子
鎖中にエステル基を持つポリトリアジン(実施例6)、
サイトップ〈登録商標〉CTX−809(旭硝子(株)
製、比較例2)、テフロン〈登録商標〉AF−1600
(DuPont社製、比較例3)の3種を用いた。
Examples 5 and 6, Comparative Examples 2 and 3 Samples shown in FIG. 2 were prepared, and the degree of peel strength between the CP + NC blend film and the perfluoropolymer was examined. As the perfluoropolymer of FIG. 2, a polytriazine having a carboxyl group in the polymer chain of Synthesis Example 3 (Example 5), a polytriazine having an ester group in the polymer chain of Synthesis Example 2 (Example 6),
Cytop (registered trademark) CTX-809 (Asahi Glass Co., Ltd.)
Comparative Example 2), Teflon (registered trademark) AF-1600
(DuPont, Comparative Example 3).

【0085】図2のサンプルの円形のアルミフレームを
20gfの荷重で引張ったときの剥離状態の結果を表1
に示す。これによると、高分子鎖中にカルボキシル基を
持つポリトリアジンは、サイトップ〈登録商標〉、テフ
ロン〈登録商標〉AFといったパーフルオロビニル重合
体よりもはるかに高い接着性を持つことがわかる。
Table 1 shows the results of the peeled state when the circular aluminum frame of the sample of FIG. 2 was pulled under a load of 20 gf.
Shown in According to this, it is understood that polytriazine having a carboxyl group in the polymer chain has much higher adhesiveness than perfluorovinyl polymers such as Cytop (registered trademark) and Teflon (registered trademark) AF.

【0086】[0086]

【実施例7及び比較例4】反射防止層材料として合成例
3のポリトリアジン(実施例7)及びサイトップ〈登録
商標〉CTX−809(旭硝子(株)製、比較例4)を
用いて、実施例1と同様に3層ペリクルの作成を試み
た。その際、図2と同様な形態で2層膜に粘着層をつけ
た円形のフレームを押し当ててウェファから剥離する操
作を行ったところ、合成例3のポリトリアジンでは2層
膜が剥離できたのに対して、サイトップ〈登録商標〉で
はサイトップ〈登録商標〉とCAPの界面で剥離した。
Example 7 and Comparative Example 4 Using the polytriazine of Synthesis Example 3 (Example 7) and CYTOP® CTX-809 (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., Comparative Example 4) as antireflection layer materials, An attempt was made to form a three-layer pellicle in the same manner as in Example 1. At that time, an operation of pressing a circular frame having an adhesive layer on the two-layer film in the same manner as in FIG. 2 and peeling the wafer from the wafer was performed. With the polytriazine of Synthesis Example 3, the two-layer film could be peeled. On the other hand, CYTOP (registered trademark) peeled off at the interface between CYTOP (registered trademark) and CAP.

【0087】実施例7の3層ペリクルは、水銀ランプか
らの単色光で観察したところ、表面は平滑でかつ色ムラ
のない良好な膜であった。この3層ペリクルの光線透過
率は、g線及びi線の双方で99.8%であった。
The three-layer pellicle of Example 7 was a good film having a smooth surface and no color unevenness when observed with monochromatic light from a mercury lamp. The light transmittance of this three-layer pellicle was 99.8% for both g-line and i-line.

【0088】[0088]

【表1】 [Table 1]

【0089】[0089]

【発明の効果】本発明のペリクルは、透明性が高く、か
つ溶解性、接着性に優れる低屈折率の含フッ素ポリマー
を反射防止層の低屈折率層成分として使用することによ
り、光線透過率が高く、かつ耐エアブロー性、操作性に
も優れるペリクルである。
The pellicle of the present invention has a high light transmittance by using a low refractive index fluoropolymer having high transparency and excellent solubility and adhesiveness as a low refractive index layer component of an antireflection layer. It is a pellicle that has high air resistance and excellent air blow resistance and operability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1のペリクルの光線透過率を示すグラフ
である。
FIG. 1 is a graph showing the light transmittance of a pellicle of Example 1.

【図2】実施例5、実施例6及び比較例2、比較例3の
剥離強度評価用サンプルの構造を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing the structure of a peel strength evaluation sample of Example 5, Example 6, Comparative Example 2, and Comparative Example 3.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 アルミフレーム 2 接着剤 3 パーフルオロポリマー(0.1μm) 4 CN+NCブレンド膜(10μm) 5 シリコンウェハー Reference Signs List 1 aluminum frame 2 adhesive 3 perfluoropolymer (0.1 μm) 4 CN + NC blend film (10 μm) 5 silicon wafer

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 透明薄膜体の少なくとも一方の面に、低
屈折率層からなる1層の反射防止層又は高屈折率層の上
に低屈折率層を積層した2層の反射防止層が形成された
マスク用防塵カバーにおいて、上記反射防止層を形成す
る低屈折率層が、側鎖にカルボニル含有基を有するアモ
ルファスパーフルオロポリマーからなることを特徴とす
るマスク用防塵カバー。
1. An anti-reflection layer comprising a low-refractive-index layer or a low-refractive-index layer laminated on a high-refractive-index layer is formed on at least one surface of a transparent thin film body. The dustproof cover for a mask according to claim 1, wherein the low refractive index layer forming the antireflection layer is made of an amorphous perfluoropolymer having a carbonyl-containing group in a side chain.
【請求項2】 側鎖にカルボニル含有基を有するアモル
ファスパーフルオロポリマーが、下記式(1)で表され
るポリマーである請求項1記載のマスク用防塵カバー。 【化1】 (ここで、Rfoは式(2)のパーフルオロエーテルユ
ニットを表す。R1 は炭素数1〜15のパーフルオロア
ルキル基又はその部分置換体、ビニル基、炭素数2〜5
0のパーフルオロエーテル基又はその部分置換体を表
す。また、R1 の末端が他のトリアジン環と連結して網
目構造ポリマーを形成してもよい。m1 は0又は正の整
数、m2 は正の整数であり、m2 /(m1 +m2 )=
0.001〜1.0である。R2 は炭素数1〜10のパ
ーフルオロアルキレン基、炭素数2〜30の二価のパー
フルオロエーテル基、あるいは単結合を表す。XはOR
a 、NR b c を表し、Ra 、Rb 、Rc は水素原子又
は炭素数1〜10の炭化水素基を表す。) 【化2】 (ここで、t=1,2,3又は4、s=1,2又は3、
Zは炭素数2〜20のパーフルオロアルキレン基又は炭
素数4〜25のパーフルオロエーテル基を表す。n1
0又は1、n2 =1〜300、(Ct 2tO)単位及び
(ZO)単位の配列は任意に選ぶことができる。)
2. An amole having a carbonyl-containing group in a side chain.
A fast perfluoropolymer represented by the following formula (1)
The dustproof cover for a mask according to claim 1, which is a polymer. Embedded image(Where Rfo is a perfluoroether unit of the formula (2)
Represents a knit. R1Is a perfluoroa having 1 to 15 carbon atoms
Alkyl group or partially substituted product thereof, vinyl group, 2 to 5 carbon atoms
0 represents a perfluoroether group or a partially substituted product thereof.
You. Also, R1Is linked to the other triazine ring
An eye structure polymer may be formed. m1Is 0 or positive integer
Number, mTwoIs a positive integer and mTwo/ (M1+ MTwo) =
0.001 to 1.0. RTwoIs a group having 1 to 10 carbon atoms.
-Fluoroalkylene group, divalent par having 2 to 30 carbon atoms
Represents a fluoroether group or a single bond. X is OR
a, NR bRcAnd Ra, Rb, RcIs a hydrogen atom or
Represents a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms. )(Where t = 1, 2, 3, or 4, s = 1, 2, or 3,
Z is a perfluoroalkylene group having 2 to 20 carbon atoms or carbon
Represents a perfluoroether group having a prime number of 4 to 25. n1=
0 or 1, nTwo= 1 to 300, (CtF2tO) units and
The arrangement of (ZO) units can be arbitrarily selected. )
JP1493293A 1993-02-01 1993-02-01 Dustproof cover for mask Expired - Fee Related JP3190981B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1493293A JP3190981B2 (en) 1993-02-01 1993-02-01 Dustproof cover for mask

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1493293A JP3190981B2 (en) 1993-02-01 1993-02-01 Dustproof cover for mask

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06230558A JPH06230558A (en) 1994-08-19
JP3190981B2 true JP3190981B2 (en) 2001-07-23

Family

ID=11874745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1493293A Expired - Fee Related JP3190981B2 (en) 1993-02-01 1993-02-01 Dustproof cover for mask

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3190981B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06230558A (en) 1994-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3947571B2 (en) Pellicle
WO1988004070A1 (en) Dust cover with excellent light transmittance for photomask reticle
JPH01120555A (en) Pellicle
US5378514A (en) Frame-supported pellicle for photolithography
JPH0367262A (en) Protective implement for preventing contamination
JPWO2019073972A1 (en) Polyimide resin and its manufacturing method, polyimide solution, and polyimide film and its manufacturing method
CN103718105A (en) Pellicle for lithography, photomask fitted with pellicle and exposure method
US6342292B1 (en) Organic thin film and process for producing the same
JP3190981B2 (en) Dustproof cover for mask
WO1998036324A1 (en) Pellicle membrane for ultraviolet rays and pellicle
JPH06230560A (en) Pellicle
JP5786855B2 (en) Method for producing positive photosensitive resin composition
JPS60237450A (en) Dust preventing cover for nonreflective photomask-reticle and its manufacture
JPH06230559A (en) Dustproof cover for mask
JP3968899B2 (en) Fluoropolymer composition and method for obtaining thin film
JPH0534899A (en) Dusttight cover for mask
JP3186844B2 (en) Pellicle and manufacturing method thereof
JP3302268B2 (en) Pellicle manufacturing method
JP2000241960A (en) Substrate for formation of film for pellicle
JP2790850B2 (en) Cellulose thin film for pellicle
JPH03168642A (en) Pellicle
JPH03265858A (en) Pellicle film
JP2006163215A (en) Method for manufacturing pellicle film
JPH0885728A (en) Production of thin fluororesin film
JPS61249046A (en) Photosensitive composition

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010417

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080525

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090525

Year of fee payment: 8

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090525

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 9

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 9

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110525

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110525

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120525

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees