JP3187775B2 - Logic circuit - Google Patents

Logic circuit

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JP3187775B2
JP3187775B2 JP23661798A JP23661798A JP3187775B2 JP 3187775 B2 JP3187775 B2 JP 3187775B2 JP 23661798 A JP23661798 A JP 23661798A JP 23661798 A JP23661798 A JP 23661798A JP 3187775 B2 JP3187775 B2 JP 3187775B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、非動作時には回
路素子に動作電力を供給しないスリープモードを有する
論理回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a logic circuit having a sleep mode that does not supply operating power to circuit elements when it is not operating.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、半導体集積論理回路において
アクティブ(能動状態)モード時の高速度化とスリープ
(休止状態)モード時の低消費電力化を両立することを
目的として、電源遮断の機能付き電源回路を備えた半導
体集積論理回路が用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor integrated logic circuit, a power supply has been designed to achieve both high speed in an active mode and low power consumption in a sleep mode. A semiconductor integrated logic circuit including a power supply circuit with a cutoff function is used.

【0003】例えば特開平06−029834号公報で
は、半導体集積論理回路を低閾値トランジスタで構成し
ている。これにより、低い電源電圧の下でもアクティブ
時には高速に論理回路を動作させるとともに、高閾値ト
ランジスタを介して電源を供給している。
For example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 06-029834, a semiconductor integrated logic circuit is constituted by low threshold transistors. As a result, the logic circuit operates at a high speed in the active state even under a low power supply voltage, and power is supplied through the high threshold transistor.

【0004】従って、スリープ時には該高閾値トランジ
スタをカットオフさせて電源供給を遮断し、且つサブス
レッショルド漏洩電流をも遮断して消費電力の低減を図
ることができる。
Therefore, during sleep, the power supply can be cut off by cutting off the high threshold transistor, and the subthreshold leakage current can be cut off to reduce power consumption.

【0005】また特開平05−210976号公報に示
される半導体集積論理回路では、構成要素であるC−M
OS(Complementary-Metal Oxide Semiconducto
r)論理素子群から漏洩するサブスレッショルド電流の
総和よりも小さな漏洩電流しか流さないようなデバイス
パラメータを有するスイッチ素子を介して給電を行って
いる。
Further, in a semiconductor integrated logic circuit disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 05-210976, the CM
OS (Complementary-Metal Oxide Semiconducto)
r) Power is supplied via a switch element having a device parameter such that a leakage current smaller than the sum of sub-threshold currents leaking from the logic element group flows.

【0006】図6はこういった従来技術のような電力制
御回路を備えた半導体集積論理回路100の構成例を示
す接続図である。この論理回路100は、NAND回路
102やインバータ回路103等の論理から構成される
C−MOS論理素子群104を有している。
FIG. 6 is a connection diagram showing a configuration example of a semiconductor integrated logic circuit 100 having such a power control circuit as in the prior art. This logic circuit 100 has a C-MOS logic element group 104 composed of logic such as a NAND circuit 102 and an inverter circuit 103.

【0007】このC−MOS論理素子群104の実電源
線RVDには電源電位VDDが接続されている。また、
C−MOS論理素子群104の疑似電源線RVVには、
互いに並列に接続された制御スイッチ用のn−MOSト
ランジスタ105−1 105−2〜105−n−1
105−nを介して接地電位(電源電位VSS)である
実電源線RVSが接続されている。
The power supply potential VDD is connected to the real power supply line RVD of the C-MOS logic element group 104. Also,
The pseudo power supply line RVV of the C-MOS logic element group 104 includes:
N-MOS transistors 105 -1 for connected control switches in parallel with each other, 105 -2 ~105 -n-1,
105 is a through -n ground potential (power supply potential V SS) actual power supply line R VS is connected.

【0008】モード制御信号SLPはインバータ回路1
01によって反転し、信号配給線106を介して各n−
MOSトランジスタ105−1〜105−nのゲート電
極へ供給される。
The mode control signal SLP is supplied to the inverter circuit 1
01 and each n-
It is supplied to the gate electrode of the MOS transistor 105 -1 to 105 -n.

【0009】なお上述のn−MOSトランジスタ105
−1〜105−nにあっては、C−MOS論理素子群1
04から漏洩するサブスレッショルド電流の総和より
も、このn−MOS型トランジスタ105−1〜105
−nから漏洩するサブスレッショルド電流の総和が小さ
くなるようにデバイスパラメータが設定される。
The above-mentioned n-MOS transistor 105
-1 to 105- n , the C-MOS logic element group 1
Than the sum of the sub-threshold current leaking from 04, the n-MOS transistor 105 -1 to 105
Device parameters are set such that the sum of sub-threshold currents leaking from −n becomes small.

【0010】ここで、モード制御信号SLPが“0”
(これをアクティブモードとする)である時には、n−
MOSトランジスタ105−1〜105−nが導通状態
となり、C−MOS論理素子群104に接地電位が直接
接続される。
Here, the mode control signal SLP is "0".
(This is an active mode), n-
MOS transistor 105 -1 to 105 -n are turned, the ground potential is connected directly to the C-MOS logic element group 104.

【0011】一方モード制御信号SLPが“1”(これ
をスリープモードとする)である時には、n−MOSト
ランジスタ105−1〜105−nが遮断状態となり、
C−MOS論理素子群104が接地電位から遮断される
とともに、サブスレッショルド漏洩電流も抑制される。
こうして、スリープモード時の低消費電力化が図られ
る。
Meanwhile mode control signal when S LP is that a "1" (referred to as sleep mode), n-MOS transistor 105 -1 to 105 -n is the cut-off state,
The C-MOS logic element group 104 is cut off from the ground potential, and the sub-threshold leakage current is suppressed.
Thus, low power consumption in the sleep mode is achieved.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】このような構成では、
スリープモード(即ちモード制御信号SLPが“1”)
である場合にはC−MOS論理素子群104の等価イン
ピーダンスよりもn−MOSトランジスタ105−1
105−nの等価インピーダンスの方が大きい。このた
め、疑似電源線RVVが電源電位VDDまで充電され
る。
In such a configuration,
Sleep mode (that is, mode control signal SLP is "1")
In this case, the equivalent impedance of the C-MOS logic element group 104 is higher than that of the n-MOS transistors 105 -1 to
The equivalent impedance of 105- n is larger. Therefore, the pseudo power supply line RVV is charged up to the power supply potential VDD .

【0013】一方アクティブモード(即ちモード制御信
号SLPが“0”)へ遷移すると、n−MOSトランジ
スタ105−1〜105−nが導通状態となる。従って
電源電位VDDまで充電された疑似電源線RVVの電荷
は、n−MOSトランジスタ105−1〜105−n
よって接地電位付近まで放電される。
[0013] On the other hand, if the active mode (i.e. the mode control signal S LP is "0") into the transition, n-MOS transistor 105 -1 to 105 -n are rendered conductive. Thus the charge of the virtual power supply line R VV until the power supply potential V DD is charged is discharged to near ground potential by n-MOS transistor 105 -1 to 105 -n.

【0014】即ち、スリープモードとアクティブモード
とのモード切り換えに伴なって、疑似電源線RVVに充
電するために電力を必要とし、放電されるときに電荷は
全て無駄に消費されてしまう。
That is, with the switching of the mode between the sleep mode and the active mode, power is required to charge the pseudo power supply line RVV , and all the charges are wasted when discharged.

【0015】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、スリープモード−アクティブモードの切り換
えにともなう電荷の蓄積によって無駄に消費される電力
を低減させることができる論理回路を提供することを目
的としている。
The present invention has been made in view of such a background, and provides a logic circuit capable of reducing wasteful power consumption due to accumulation of electric charge in switching between a sleep mode and an active mode. It is an object.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に記
載の発明の要旨は、第1の電源線(RVD)と、前記第
1の電源線(RVD)より電圧が低い第2の電源線(R
VS)と、第1のスイッチ(15a−1,15a−2
…,15a−n)を介して前記第2の電源線(RVS
に接続される第1の疑似電源線(RVa)と、第2のス
イッチ(15b−1,15b−2,…,15b−n)を
介して前記第1の電源線(RVD)に接続される第2の
疑似電源線(RVb)と、前記第1の電源線(RVD
と前記第1の疑似電源線(RVa)との間に接続されて
駆動電力が供給され、ゲート回路(13a−1,13a
−2,…)を含んで構成される第1の論理素子群(14
a)と、前記第2の疑似電源線(RVb)と前記第2の
電源線(RVS)との間に接続されて駆動電力が供給さ
れ、ゲート回路(13b−1,13b−2,…)を含ん
で構成される第2の論理素子群(14b)と、前記第1
の疑似電源線(RVa)と前記第2の疑似電源線(R
Vb)との間で電荷を移動させる電荷転送手段(23,
32)と、前記第1のスイッチ(15a−1,15a
−2,…,15a−n)ならびに前記第2のスイッチ
(15b−1,15b−2,…,15b−n)を制御す
る切換制御手段(31)と、前記電荷転送手段(23,
32)と前記切換制御手段(31)とを制御する転送制
御手段(22)と、モード信号発生回路(21)と前記
転送制御手段(22)、前記電荷転送手段(23)とか
ら構成され、モード制御回路(24)からの指示に基づ
いて起動される電荷再利用回路(20)とを備え、前記
第1のスイッチ(15a −1 ,15a −2 ,…,15a
−n )は、前記第1の論理素子群(14a)から漏洩す
るサブスレッショルド電流の総和よりも、当該第1のス
イッチ(15a −1 ,15a −2 ,…,15a −n )か
ら漏洩するサブスレッショルド電流の総和の方が小さく
なるようにデバイスパラメータが設定され、前記第2の
スイッチ(15b −1 ,15b −2 ,…,15b −n
は、前記第2の論理素子群(14b)から漏洩するサブ
スレッショルド電流の総和よりも、当該第2のスイッチ
(15b −1 ,15b −2 ,…,15b −n )から漏洩
するサブスレッショルド電流の総和の方が小さくなるよ
うにデバイスパラメータが設定され、前記電荷転送手段
(32)は、前記第1のスイ ッチ(15a −1 ,15a
−2 ,…,15a −n )と同等に小さな電流を漏洩する
ようなデバイスパラメータに設定された第3のスイッチ
(35)から構成され、当該第3のスイッチ(35)の
ゲート電極には転送制御信号SEQが入力され、ソース
電極−ドレイン電極間は、前記第1の疑似電源線(R
Va)−前記第2の疑似電源線(RVb)間に接続さ
れ、前記第1のスイッチ(15a−1,15a−2
…,15a−n)、前記第2のスイッチ(15b−1
15b−2,…,15b−n)、前記第1の論理素子群
(14a)、および前記第2の論理素子群(14b)は
各々MOSトランジスタから構成され、スリープモード
においては前記第1のスイッチ(15a−1,15a
−2,…,15a−n)のインピーダンスは前記第1の
論理素子群(14a)のインピーダンスより高く且つ前
記第2のスイッチ(15b−1,15b−2,…,15
−n)のインピーダンスは前記第2の論理素子群(1
4b)のインピーダンスより高く設定され、前記第1の
論理素子群(14a)の前記第1の電源線(RVD)に
は電源電位(VDD)が接続され、また前記第1の疑似
電源線(RVa)には互いに並列に接続された制御スイ
ッチ用の前記第1のスイッチ(15a−1,15
−2,…,15a−n)を介して電源電位(VSS
である前記第2の電源線(RVS)が接続され、前記第
2の論理素子群(14b)の前記第2の疑似電源線(R
Vb)には互いに並列に接続された制御スイッチ用の前
記第2のスイッチ(15b−1,15b−2,…,15
−n)を介して前記電源電位(VDD)が接続され、
また前記第2の電源線(RVS)は電源電位SS
に接続され、前記切換制御手段(31)は、前記第2の
疑似電源線(R Vb )間に接続され、前記第1のスイッ
チ(15a −1 ,15a −2 ,…,15a −n )と同等
に小さな電流を漏洩するようなデバイスパラメータに設
定されたC−MOSのインバータ回路(31a,31
b,31c)から構成され、前記モード信号発生回路
(21)は、前記転送制御手段(22)の制御信号(C
tl21)に基づいて、前記第1のスイッチ(15a
−1,15a−2,…,15a−n)の導通や遮断を制
御する信号を信号配給線(16a)に出力するととも
に、応答信号(Res21)を前記転送制御手段(2
2)に返信し、前記転送制御手段(22)は、前記第1
の論理素子群(14a)ならびに前記第2の論理素子群
(14b)のスリープモードからアクティブモードへの
遷移に際して、前記第1の疑似電源線(RVa)の電位
と前記第2の疑似電源線(RVb)の電位とが略同電位
になるまで前記電荷転送手段(23,32)によって当
該第1の疑似電源線(RVa)と当該第2の疑似電源線
(RVb)との間で電荷を転送し、前記第1の疑似電源
線(RVa)の電位と前記第2の疑似電源線(RVb
の電位とが略同電位になった後に前記第1のスイッチ
(15a−1,15a−2,…,15a−n)および前
記第2のスイッチ(15b−1,15b−2,…,15
−n)をオン状態に制御するとともに、前記第1の論
理素子群(14a)ならびに前記第2の論理素子群(1
4b)のアクティブモードからスリープモードへの遷移
に際して、前記第1のスイッチ(15a−1,15a
−2,…,15a−n)および前記第2のスイッチ(1
5b−1,15b−2,…,15b−n)をオフにした
後に、前記第1の疑似電源線(RVa)の電位と前記第
2の疑似電源線(RVb)の電位とが略同電位になるま
で前記電荷転送手段(23,32)によって当該第1の
疑似電源線(RVa)と当該第2の疑似電源線
(RVb)との間で電荷を転送し、前記電荷再利用回路
(20a)は、前記切換制御手段(31)および前記電
荷転送手段(32)から構成され、モード制御信号(S
LP)および転送制御信号(SEQ)に基づいて制御さ
れ、前記電荷転送回路(23)は、前記転送制御手段
(22)の制御信号(Ctl22)に基づいて電荷転送
路(17a)および電荷転送路(17b)を介して前記
第1の疑似電源線(RVa)と前記第2の疑似電源線
(RVb)との間で電荷を転送し、また、応答信号(R
es22)を前記転送制御手段(22)に返信し、前記
転送制御手段(22)は、前記モード制御回路(24)
の制御信号(Ctl24)に基づいて前記電荷再利用回
路(20)内の動作を制御するとともに、応答信号(R
es24)を前記モード制御回路(24)に返信し、前
記第2の疑似電源線(RVb)間に接続された前記イン
バータ回路(31a)は、前記モード制御信号
(SLP)を入力として、前記信号配給線(16a)へ
信号を出力し、また、直列に接続された前記第2の疑似
電源線(RVb)間に接続され、インバータ回路(31
b)と前記第2の疑似電源線(RVb)間に接続され、
インバータ回路(31c)とは、モード制御信号SLP
を入力として前記信号配給線(16b)へ信号を出力す
ることを特徴とする論理回路に存する。
According to a first aspect of the present invention, a first power supply line (R VD ) and a second power supply line (R VD ) having a lower voltage than the first power supply line (R VD ) are provided. Power line (R
VS ) and the first switches (15a −1 , 15a −2 ,
, 15a- n ) and the second power supply line ( RVS )
A first pseudo power supply line (R Va) which is connected to the second switch (15b -1, 15b -2, ... , 15b -n) connected to said via a first power supply line (R VD) A second pseudo power supply line (R Vb ), and the first power supply line (R VD ).
And the first pseudo power supply line (R Va ) to supply drive power to the gate circuit (13a -1 , 13a).
-2 ,...).
a), and driving power is supplied between the second pseudo power supply line (R Vb ) and the second power supply line (R VS ), and the gate circuits (13b −1 , 13b −2 , ..) and the first logic element group (14b)
And the second pseudo power supply line (R Va ).
Vb ) and charge transfer means (23,
32) and the first switches (15a- 1 , 15a).
-2, ..., 15a -n) and said second switch (15b -1, 15b -2, ... , 15b -n) and switching control means for controlling (31), said charge transfer means (23,
32), a transfer control means (22) for controlling the switching control means (31), a mode signal generating circuit (21), the transfer control means (22), and the charge transfer means (23), and a charge recycle circuit is activated (20) based on an instruction from the mode control circuit (24), wherein
The first switches (15a- 1 , 15a- 2 , ..., 15a
-N ) leaks from the first logic element group (14a).
Is smaller than the sum of the sub-threshold currents.
Switch (15a- 1 , 15a- 2 , ..., 15a- n )
The sum of the sub-threshold currents leaking from
Device parameters are set such that
Switches (15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15b- n )
Is a sub leaking from the second logic element group (14b).
The second switch is more than the sum of the threshold currents.
(15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15b- n )
The sum of the sub-threshold currents
Sea urchin device parameters are set, the charge transfer means (32), said first switch (15a -1, 15a
-2 , ..., 15a- n )
A transfer control signal S EQ is input to a gate electrode of the third switch (35) set to such device parameters, and the third switch (35) has a gate electrode connected between the source electrode and the drain electrode. The first pseudo power supply line (R
Va ) -the second switch (15a- 1 , 15a- 2 , 15a- 2 ) connected between the second pseudo power supply line ( RVb ).
, 15a- n ) and the second switch (15b- 1 ,
15b- 2 ,..., 15b- n ), the first logic element group (14a), and the second logic element group (14b) each include a MOS transistor, and in the sleep mode, the first switch. (15a- 1 and 15a
-2, ..., 15a -n) impedance of the first higher than the impedance of the logic element group (14a) and said second switch (15b -1, 15b -2, ... , 15
b− n ) is the impedance of the second logic element group (1).
4b), the power supply potential (V DD ) is connected to the first power supply line (R VD ) of the first logic element group (14a), and the first pseudo power supply line (R Va ) includes the first switches (15a −1 , 15a −1) for control switches connected in parallel with each other.
a− 2 ,..., 15a− n ) via the power supply potential ( VSS ).
Is connected to the second pseudo power supply line (R VS ) of the second logic element group (14b).
Vb ), the second switches (15b- 1 , 15b- 2 ,..., 15b) for the control switches connected in parallel to each other.
b− n ), the power supply potential (V DD ) is connected,
The second power supply line (R VS ) is connected to a power supply potential ( VSS ).
And the switching control means (31) is connected to the second
Connected between the pseudo power supply line (R Vb ) and the first switch.
H (15a- 1 , 15a- 2 , ..., 15a- n )
Device parameters that leak small current
C-MOS inverter circuits (31a, 31
b, 31c), and the mode signal generation circuit (21) includes a control signal (C) of the transfer control means (22).
tl21), the first switch (15a
-1 , 15a -2 ,..., 15a- n ) are output to the signal distribution line (16a) and a response signal ( Res21 ) is transmitted to the transfer control means (2).
2), and the transfer control means (22) returns to the first
When the logic element group (14a) and the second logic element group (14b) transition from the sleep mode to the active mode, the potential of the first pseudo power supply line (R Va ) and the second pseudo power supply line Until the potential of (R Vb ) becomes substantially equal to the potential between the first pseudo power supply line (R Va ) and the second pseudo power supply line (R Vb ) by the charge transfer means (23, 32). To transfer the electric charge, and the potential of the first pseudo power supply line ( RVa ) and the second pseudo power supply line ( RVb ).
, 15a- 1 , 15a- 2 , ..., 15a- n and the second switches (15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15)
b −n ) to an on state, the first logic element group (14a) and the second logic element group (1
4b) at the time of transition from the active mode to the sleep mode, the first switches (15a- 1 and 15a)
-2, ..., 15a -n) and said second switch (1
5b -1 , 15b -2 ,..., 15b -n ), and thereafter, the potential of the first pseudo power supply line (R Va ) and the potential of the second pseudo power supply line (R Vb ) are substantially equal. and transferring charge between said charge transfer means (23, 32) by the first pseudo power supply line to the same potential (R Va) with the second pseudo power supply line (R Vb), re the charge Use circuit
(20a) is composed of the switching control means (31) and the charge transfer means (32), and includes a mode control signal (S
LP ) and a transfer control signal (S EQ ), and the charge transfer circuit (23) controls the charge transfer path (17a) and the charge based on the control signal (C tl22 ) of the transfer control means (22). Charge is transferred between the first pseudo power supply line (R Va ) and the second pseudo power supply line (R Vb ) via a transfer path (17b), and a response signal (R
The Es22) reply to the transfer control means (22), wherein
The transfer control means (22) includes a mode control circuit (24)
The operation in the charge recycling circuit (20) is controlled based on the control signal (C tl24 ) of the
The ES 24) returns to the mode control circuit (24), connected between said second pseudo power supply line (R Vb) wherein in
The barter circuit (31a) receives the mode control signal (S LP ) as an input, outputs a signal to the signal distribution line (16a), and also connects the second pseudo power supply line (R Vb ) connected in series. And an inverter circuit (31
b) and the second pseudo power supply line (R Vb ),
The inverter circuit (31c) includes a mode control signal S LP
, And outputs a signal to the signal distribution line (16b).

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下に、本発明について説明す
る。図1は、本発明の一実施の形態にかかる論理回路の
構成を示すブロック図である。この図に示す論理回路1
は、ゲート回路13a−1 13a−2 ,…等から構
成されるC−MOS論理素子群14aと、ゲート回路1
3b−1 13b−2 ,…等から構成されるC−MOS
論理素子群14bとを有している。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a logic circuit according to one embodiment of the present invention. Logic circuit 1 shown in FIG.
0, the gate circuit 13a -1, 13a -2, and C-MOS logic element group 14a consisting of ... etc., the gate circuit 1
C-MOS composed of 3b- 1 , 13b- 2 ,...
And a logic element group 14b.

【0018】C−MOS論理素子群14aの実電源線R
VDには電源電位VDDが接続され、また疑似電源線R
Vaには互いに並列に接続された制御スイッチ用のn−
MOSトランジスタ15a−1 15a−2 ,…,15
−nを介して接地電位(電源電位VSS)である実電
源線RVSが接続されている。
The actual power supply line R of the C-MOS logic element group 14a
The power supply potential VDD is connected to VD , and the pseudo power supply line R
Va has n- for control switches connected in parallel with each other.
MOS transistors 15a- 1 , 15a- 2 , ..., 15
actual power supply line R VS via a -n is the ground potential (power supply potential V SS) is connected.

【0019】C−MOS論理素子群14bの疑似電源線
Vbには互いに並列に接続された制御スイッチ用のp
−MOSトランジスタ15b−1 15b−2 ,…,
5b−mを介して電源電位VDDが接続され、また実電
源線RVSは接地電位(電源電位VSS)に接続されて
いる。
[0019] p for C-MOS logic element control switch connected in parallel with each other in the virtual power supply line R Vb of group 14b
-MOS transistors 15b- 1 , 15b- 2 , ..., 1
Is connected to the power supply potential V DD via 5b -m, also actual power supply line R VS is connected to a ground potential (power supply potential V SS).

【0020】論理回路10が有する電荷再利用回路20
は、モード信号発生回路21と転送制御回路22、そし
て電荷転送回路23とから構成され、モード制御回路2
4からの指示に基づいて起動される。
The charge recycling circuit 20 included in the logic circuit 10
Is composed of a mode signal generation circuit 21, a transfer control circuit 22, and a charge transfer circuit 23.
4 is started based on an instruction from the user.

【0021】このモード信号発生回路21は、転送制御
回路22の制御信号Ctl21に基づいて、n−MOS
トランジスタ15a−1〜15a−nの導通や遮断を制
御する信号を信号配給線16aに出力するとともに、応
答信号Res21を転送制御回路22に返信する。
The mode signal generating circuit 21 is adapted to generate an n-MOS based on a control signal Ctl21 from the transfer control circuit 22.
A signal for controlling the conduction and interruption of the transistors 15a- 1 to 15a - n is output to the signal distribution line 16a, and a response signal Res21 is returned to the transfer control circuit 22.

【0022】電荷転送回路23は、転送制御回路22の
制御信号Ctl22に基づいて電荷転送路17aおよび
17bを介して疑似電源線RVaと疑似電源線RVb
の間で電荷を転送し、また応答信号Res22を転送制
御回路22に返信する。
The charge transfer circuit 23 transfers charge between the control signal C the virtual power supply line through the charge transfer paths 17a and 17b on the basis of the TL22 R Va and the virtual power supply line R Vb of the transfer control circuit 22, In addition, it returns a response signal Res22 to the transfer control circuit 22.

【0023】転送制御回路22は、モード制御回路24
の制御信号Ctl24に基づいて電荷再利用回路20内
の動作を制御するとともに、応答信号Res24をモー
ド制御回路24に返信する。
The transfer control circuit 22 includes a mode control circuit 24
The control in the charge recycling circuit 20 is controlled based on the control signal Ctl24 of the above, and a response signal Res24 is returned to the mode control circuit 24.

【0024】なお上述のn−MOSトランジスタ15a
−1〜15a−nにあっては、C−MOS論理素子群1
4aから漏洩するサブスレッショルド電流の総和より
も、このn−MOSトランジスタ15a−1〜15a
−nから漏洩するサブスレッショルド電流の総和の方が
小さくなるようにデバイスパラメータが設定されてい
る。
The above-described n-MOS transistor 15a
-1 to 15a- n , the C-MOS logic element group 1
4a, the sum of the sub-threshold currents leaking from n-MOS transistors 15a- 1 to 15a
The device parameters are set such that the sum of the sub-threshold currents leaking from −n becomes smaller.

【0025】同様にp−MOSトランジスタ15b−1
〜15b−mにあっても、C−MOS論理素子群14b
から漏洩するサブスレッショルド電流の総和よりも、こ
のp−MOSトランジスタ15b−1〜15b−mから
漏洩するサブスレッショルド電流の総和の方が小さくな
るようにデバイスパラメータが設定されている。
Similarly, p-MOS transistor 15b -1
15b- m , the C-MOS logic element group 14b
The device parameters are set such that the sum of the sub-threshold currents leaking from the p-MOS transistors 15b- 1 to 15b - m is smaller than the sum of the sub-threshold currents leaking from the P-MOS transistors.

【0026】図2は本実施の形態においてスリープモー
ドからアクティブモードへモードを遷移させる場合の制
御動作の流れを示すフローチャートである。なおここで
は、現在本実施の形態がスリープモード下にあるものと
して説明する。
FIG . 2 is a flowchart showing the flow of a control operation when the mode is changed from the sleep mode to the active mode in the present embodiment. Here, the description will be made assuming that the present embodiment is currently in the sleep mode.

【0027】スリープモードにおいては、モード信号発
生回路21から信号配給線16aを介して出力される信
号が低電位であるため、n−MOSトランジスタ15a
−1〜15a−nは全て遮断状態となっている。
In the sleep mode, since the signal output from the mode signal generating circuit 21 via the signal distribution line 16a has a low potential, the n-MOS transistor 15a
-1 to 15a- n are all in the cutoff state.

【0028】また、C−MOS論理素子群14aの総イ
ンピーダンスよりもn−MOSトランジスタ15a−1
〜15a−nの総インピーダンスの方が高いので、疑似
電源線RVaの電位は電源電位VDDまで充電され、高
電位状態となっている。
Further, the n-MOS transistor 15a -1 exceeds the total impedance of the C-MOS logic element group 14a.
Since the higher the total impedance to 15A -n, the potential of the virtual power supply line R Va is charged to the power supply potential V DD, and has a high potential state.

【0029】一方、モード信号発生回路21から信号配
給線16bを介して出力され信号は高電位であるた
め、p−MOSトランジスタ15b−1〜15b−m
全て遮断状態となっている。
On the other hand, the mode signal generating circuit 21 signals that will be outputted through the signal distribution line 16b from being turned since the high potential, and also all p-MOS transistor 15b -1 ~15b -m off.

【0030】従って、C−MOS論理素子群14bの総
インピーダンスよりもp−MOSトランジスタ15b
−1〜15b−mの総インピーダンスの方が高いので、
疑似電源線RVbの電位は接地電位(VSS)まで放電
され、低電位状態となっている。
Therefore, the p-MOS transistor 15b is larger than the total impedance of the C-MOS logic element group 14b.
Since the total impedance of -1 to 15b- m is higher,
The potential of the pseudo power supply line R Vb is discharged to the ground potential ( VSS ) and is in a low potential state.

【0031】本実施の形態では、まずモード制御回路2
4から電荷再利用回路20へ制御信号Ctl24が出力
され、スリープモードからアクティブモードへ切り換え
られる(ステップSa1)。
In this embodiment, first, the mode control circuit 2
4 outputs a control signal C tl24 to the charge recycling circuit 20, and switches from the sleep mode to the active mode (step Sa1).

【0032】この制御信号Ctl24は電荷再利用回路
20を構成する転送制御回路22に伝達され、これによ
って、スリープモードからアクティブモードへのモード
遷移に際して、電源回路の電荷が再利用される。
This control signal Ctl24 is transmitted to the transfer control circuit 22 constituting the charge recycling circuit 20, whereby the charge of the power supply circuit is reused at the time of the mode transition from the sleep mode to the active mode.

【0033】次に、スリープモードからアクティブモー
ドへのモード切り換え命令に応答して転送制御回路22
から電荷転送回路23へ制御信号Ctl22が出力さ
れ、これによって電荷が転送される(ステップSa
2)。
Next, the transfer control circuit 22 responds to the mode switching command from the sleep mode to the active mode.
Outputs a control signal Ctl22 to the charge transfer circuit 23, whereby charges are transferred (step Sa).
2).

【0034】即ち、電源電位VDDまで充電された疑似
電源線RVaの電荷を、電荷転送回路23が電荷転送路
17aおよび17bを介して疑似電源線RVbに転送す
る。これによって、接地電位まで放電されていた疑似電
源線RVbの電位が上昇する。
That is, the charge of the pseudo power supply line RVa charged to the power supply potential VDD is transferred by the charge transfer circuit 23 to the pseudo power supply line RVb via the charge transfer paths 17a and 17b. As a result, the potential of the pseudo power supply line RVb discharged to the ground potential increases.

【0035】この電荷転送は、疑似電源線RVbの電位
と疑似電源線RVaの電位とが概ね等しくなると終了す
るが、この時の疑似電源線RVbの電位は電源電位V
DDより低く、また疑似電源線RVaの電位は接地電位
よりも高い。
This charge transfer ends when the potential of the pseudo power supply line R Vb and the potential of the pseudo power supply line R Va are substantially equal. At this time, the potential of the pseudo power supply line R Vb is changed to the power supply potential V.
DD , and the potential of the pseudo power supply line RVa is higher than the ground potential.

【0036】電荷転送回路23は電荷転送状態を監視し
(ステップSa3)、疑似電源線RVbの電位と疑似電
源線RVaの電位とが概ね等しくなると、電荷転送が終
了した旨を知らせる応答信号Res22を転送制御回路
22へ伝達する(ステップSa4)。
The charge transfer circuit 23 monitors the charge transfer state (step Sa3), and when the potential of the pseudo power supply line R Vb and the potential of the pseudo power supply line R Va are substantially equal, a response signal notifying that the charge transfer has been completed. Res22 is transmitted to the transfer control circuit 22 (step Sa4).

【0037】応答信号Res22を受けた転送制御回路
22は、制御信号Ctl21をモード信号発生回路21
へ送り、これによってモード信号発生回路21は信号配
給線16aには高電位の信号を出力し、信号配給線16
bには低電位の信号を出力する(ステップSa5)。
Upon receiving the response signal Res22 , the transfer control circuit 22 transmits the control signal Ctl21 to the mode signal generation circuit 21.
And the mode signal generating circuit 21 outputs a high-potential signal to the signal distribution line 16a.
A low potential signal is output to b (step Sa5).

【0038】信号配給線16aが高電位、また信号配給
線16bが低電位になることで、n−MOSトランジス
タ15a−1〜15a−nおよびp−MOSトランジス
タ15b−1〜15b−mの全てが導通状態になる。
Since the signal distribution line 16a has a high potential and the signal distribution line 16b has a low potential, all of the n-MOS transistors 15a- 1 to 15a - n and the p-MOS transistors 15b- 1 to 15b - m are changed. It becomes conductive.

【0039】これによって、疑似電源線RVbは電源電
位VDDまで完全に充電され、一方疑似電源線RVa
接地電位まで完全に放電されてアクティブモードへ遷移
する。モード信号発生回路21は、信号配給線16aが
高電位、信号配給線16bが低電位になってから所定時
間経過後(ステップSa6)に、アクティブモードへの
遷移処理が終了した旨を知らせる応答信号R
es21を、転送制御回路22へ伝達する(ステップS
a7)。
As a result, the pseudo power supply line R Vb is completely charged to the power supply potential V DD , while the pseudo power supply line R Va is completely discharged to the ground potential and transits to the active mode. The mode signal generating circuit 21 provides a response signal notifying that the transition processing to the active mode has been completed after a lapse of a predetermined time (step Sa6) since the signal distribution line 16a has become high potential and the signal distribution line 16b has become low potential. R
es21 is transmitted to the transfer control circuit 22 (step S
a7).

【0040】応答信号Res21を受けた転送制御回路
22は、応答信号Res24をモード制御回路24へ送
り、電荷転送処理が終了してスリープモードからアクテ
ィブモードへの切り換えが完了した旨を通知する(ステ
ップSa8)。これを以って、スリープモードからアク
ティブモードへの遷移に係る、電源回路の電荷再利用の
処理が終了する。
The response signal R ES21 the received transfer control circuit 22, a response signal R ES 24 sends to the mode control circuit 24 notifies the switching from the sleep mode to the active mode charge transfer process is completed is completed (Step Sa8). With this, the process of charge reuse of the power supply circuit related to the transition from the sleep mode to the active mode ends.

【0041】図3は本実施の形態においてアクティブモ
ードからスリープモードへモードを遷移させる場合の制
御動作の流れを示すフローチャートである。なおここで
は、現在本実施の形態がアクティブモード下にあるもの
として説明する。
FIG . 3 is a flowchart showing a control operation flow when the mode is changed from the active mode to the sleep mode in the present embodiment. Here, the description will be made assuming that the present embodiment is currently in the active mode.

【0042】アクティブモードにおいては、モード信号
発生回路21から信号配給線16aを介して出力される
信号が高電位であるため、n−MOSトランジスタ15
−1〜15a−nは全てON状態となっている。
In the active mode, since the signal output from the mode signal generating circuit 21 via the signal distribution line 16a is at a high potential, the n-MOS transistor 15
a- 1 to 15a- n are all in the ON state.

【0043】また、C−MOS論理素子群14aの総イ
ンピーダンスよりもn−MOSトランジスタ15a−1
〜15a−nの総インピーダンスの方が高いので、疑似
電源線RVaの電位は接地電位(VSS)まで放電さ
れ、低電位状態となっている。
The n-MOS transistor 15a -1 is more than the total impedance of the C-MOS logic element group 14a.
Since towards the total impedance to 15A -n is high, the potential of the virtual power supply line R Va is discharged to the ground potential (V SS), and has a low potential state.

【0044】一方、モード信号発生回路21から信号配
給線16bを介して出力され信号は低電位であるた
め、p−MOSトランジスタ15b−1〜15b−m
全てON状態となっている。
On the other hand, the mode signal generating circuit 21 signals that will be outputted through the signal distribution line 16b from being turned due to low potential, and all even p-MOS transistor 15b -1 ~15b -m ON state.

【0045】従って、C−MOS論理素子群14bの総
インピーダンスよりもp−MOSトランジスタ15b
−1〜15b−mの総インピーダンスの方が高いので、
疑似電源線RVbの電位は電源電位VDDまで充電さ
れ、高電位状態となっている。
Therefore, the p-MOS transistor 15b exceeds the total impedance of the C-MOS logic element group 14b.
Since the total impedance of -1 to 15b- m is higher,
The potential of the pseudo power supply line R Vb is charged to the power supply potential V DD and is in a high potential state.

【0046】本実施の形態では、まずモード制御回路2
4から電荷再利用回路20へ制御信号Ctl24が出力
され、アクティブモードからスリープモードへ切り換え
られる(ステップSb1)。
In this embodiment, first, the mode control circuit 2
4 outputs a control signal C tl24 to the charge recycling circuit 20, and switches from the active mode to the sleep mode (step Sb1).

【0047】この制御信号Ctl24は電荷再利用回路
20を構成する転送制御回路22に伝達され、これによ
って、アクティブモードからスリープモードへのモード
遷移に際して、電源回路の電荷が再利用される。
The control signal Ctl24 is transmitted to the transfer control circuit 22 constituting the charge recycling circuit 20, whereby the charge of the power supply circuit is reused at the time of the mode transition from the active mode to the sleep mode.

【0048】次に、アクティブモードからスリープモー
ドへのモード切り換え命令に応答して制御回路22は、
制御信号Ctl21をモード信号発生回路21へ送る。
Next, in response to the mode switching command from the active mode to the sleep mode, the control circuit 22
The control signal C tl21 is sent to the mode signal generation circuit 21.

【0049】これによってモード信号発生回路21は、
信号配給線16aには低電位の信号を出力し、信号配給
線16bには高電位の信号を出力する(ステップSb
2)。
As a result, the mode signal generating circuit 21
A low-potential signal is output to the signal distribution line 16a, and a high-potential signal is output to the signal distribution line 16b (step Sb).
2).

【0050】信号配給線16aが低電位、また信号配給
線16bが高電位になることで、n−MOSトランジス
タ15a−1〜15a−nおよびp−MOSトランジス
タ15b−1〜15b−mの全てがOFF状態になる。
Since the signal distribution line 16a has a low potential and the signal distribution line 16b has a high potential, all of the n-MOS transistors 15a- 1 to 15a - n and the p-MOS transistors 15b- 1 to 15b - m are changed. It turns off.

【0051】モード信号発生回路21は、信号配給線1
6aが低電位、信号配給線16bが高電位になってから
所定時間経過後(ステップSb3)に、スリープモード
への遷移処理が終了した旨を知らせる応答信号R
es21を、転送制御回路22へ伝達する(ステップS
b4)。
The mode signal generating circuit 21 includes the signal distribution line 1
After a lapse of a predetermined period of time (step Sb3) since the low potential of the signal supply line 6a and the high potential of the signal distribution line 16b have been reached, a response signal R indicating that the transition processing to the sleep mode has been completed.
es21 is transmitted to the transfer control circuit 22 (step S
b4).

【0052】応答信号Res21を受けた転送制御回路
22は、電荷転送回路23へ制御信号Ctl22を出力
し、これによって電荷が転送される(ステップSb
5)。
Upon receiving the response signal Res21 , the transfer control circuit 22 outputs a control signal Ctl22 to the charge transfer circuit 23, whereby charges are transferred (step Sb).
5).

【0053】即ち、電源電位VDDまで充電されていた
疑似電源線RVbの電荷を、電荷転送回路23が電荷転
送路17aおよび17bを介して疑似電源線RVbに転
送する。これによって、接地電位まで放電された疑似電
源線RVaの電位が上昇する。
That is, the charge of the pseudo power supply line R Vb charged to the power supply potential V DD is transferred by the charge transfer circuit 23 to the pseudo power supply line R Vb via the charge transfer paths 17a and 17b. As a result, the potential of the pseudo power supply line RVa discharged to the ground potential increases.

【0054】この電荷転送は、疑似電源線RVbの電位
と疑似電源線RVaの電位とが概ね等しくなると終了す
るが、この時の疑似電源線RVbの電位は電源電位V
DDより低く、また疑似電源線RVaの電位は接地電位
よりも高い。
This charge transfer ends when the potential of the pseudo power supply line R Vb and the potential of the pseudo power supply line R Va are substantially equal. At this time, the potential of the pseudo power supply line R Vb is set to the power supply potential V.
DD , and the potential of the pseudo power supply line RVa is higher than the ground potential.

【0055】電荷転送回路23は電荷転送状態を監視し
(ステップSb6)、疑似電源線RVbの電位と疑似電
源線RVaの電位とが概ね等しくなると、電荷転送が終
了した旨を知らせる応答信号Res22を転送制御回路
22へ伝達する(ステップSb7)。
The charge transfer circuit 23 monitors the charge transfer state (step Sb6), and when the potential of the pseudo power supply line R Vb is substantially equal to the potential of the pseudo power supply line R Va , a response signal indicating that the charge transfer has been completed. Res22 is transmitted to the transfer control circuit 22 (step Sb7).

【0056】応答信号Res22を受けた転送制御回路
22は、応答信号Res24をモード制御回路24へ送
り、電荷転送処理が終了してアクティブモードからスリ
ープモードへの切り換えが完了した旨を通知する(ステ
ップSb8)。これを以って、アクティブモードからス
リープモードへの遷移に係る、電源回路の電荷再利用の
処理が終了する。
Upon receiving the response signal Res22 , the transfer control circuit 22 sends the response signal Res24 to the mode control circuit 24 to notify that the charge transfer process has been completed and the switching from the active mode to the sleep mode has been completed. (Step Sb8). With this, the charge recycling process of the power supply circuit related to the transition from the active mode to the sleep mode ends.

【0057】図4は本発明の論理回路の応用例を示すも
のであり、詳細な構成例を示す接続図である。なお図4
において、図1に示す各部と対応する部分には同一の符
号を付し、その説明は省略する。
FIG. 4 shows an application example of the logic circuit of the present invention, and is a connection diagram showing a detailed configuration example. FIG. 4
In FIG. 7, the same reference numerals are given to the portions corresponding to the respective portions shown in FIG.

【0058】電荷再利用回路20aは、モード制御部3
1および電荷転送回路32から構成され、モード制御信
号SLPおよび転送制御信号SEQに基づいて制御され
る。このモード制御部31は、漏洩電流のより小さなデ
バイスパラメータに設定されたC−MOSのインバータ
回路31a31b31cから構成されている。
The charge recycling circuit 20a includes the mode control unit 3
1 and the charge transfer circuit 32, and are controlled based on the mode control signal SLP and the transfer control signal SEQ . The mode control unit 31 is a C-MOS inverter set to a device parameter having a smaller leakage current.
It is composed of circuits 31a , 31b and 31c.

【0059】インバータ回路31aは、モード制御信号
LPを入力として、信号配給線16aへ信号を出力す
る。また、直列に接続されたインバータ回路31bとイ
ンバータ回路31cとは、モード制御信号SLPを入力
として信号配給線16bへ信号を出力する。
The inverter circuit 31a receives the mode control signal SLP as an input and outputs a signal to the signal distribution line 16a. Further, the inverter circuit 31b and the inverter circuit 31c connected in series receive the mode control signal SLP as an input and output a signal to the signal distribution line 16b.

【0060】また電荷転送回路32は、例えば漏洩電流
のより小さなデバイスパラメータに設定されたn−MO
Sトランジスタ35等から構成されている。このn−M
OSトランジスタ35のゲート電極には転送制御信号S
EQが入力され、ソース電極−ドレイン電極間は、疑似
電源線RVa−疑似電源線RVb間を接続される。
The charge transfer circuit 32 is, for example, an n-MO set to a device parameter having a smaller leakage current.
It is composed of an S transistor 35 and the like. This n-M
The transfer control signal S is applied to the gate electrode of the OS transistor 35.
EQ is input, the source electrode - drain electrode, the virtual power supply line R Va - is connected between the virtual power supply line R Vb.

【0061】図5は、図4に示す構成の各部における信
号あるいは電位の変化の様子を示すタイミングチャート
である。これらの図に基づいて、まず給電回路10aが
スリープモードからアクティブモードへ遷移する場合に
ついて説明する。
FIG. 5 is a timing chart showing how signals or potentials change in each section of the configuration shown in FIG. First, a case where the power supply circuit 10a makes a transition from the sleep mode to the active mode will be described with reference to these drawings.

【0062】スリープモードにおいては、モード制御信
号SLPは高電位になっており、モード制御部31から
信号配給線16aに低電位信号が供給され、n−MOS
トランジスタ15a−1〜15a−nは全て遮断状態と
なっている。
In the sleep mode, the mode control signal SLP is at a high potential, a low potential signal is supplied from the mode control unit 31 to the signal distribution line 16a, and the n-MOS
The transistors 15a- 1 to 15a - n are all in a cutoff state.

【0063】また上述と同様、C−MOS論理素子群1
4aの総インピーダンスよりもn−MOSトランジスタ
15a−1〜15a−nの総インピーダンスの方が高い
ので、疑似電源線RVaは電源電位VDDまで充電され
て高電位となっている。
As described above, the C-MOS logic element group 1
Since the higher the total impedance of the n-MOS transistor 15a -1 to 15A -n than the total impedance of 4a, the virtual power supply line R Va has a high potential is charged to the power supply potential V DD.

【0064】一方このとき、モード制御部31から信号
配給線16bに高電位信号が供給され、p−MOSトラ
ンジスタ15b−1〜15b−mも全て遮断状態となっ
ている。この場合やはりC−MOS論理素子群14bの
総インピーダンスよりもp−MOSトランジスタ15b
−1〜15b−mの総インピーダンスの方が高いので、
疑似電源線RVbは接地電位まで放電されて低電位とな
っている。
On the other hand, at this time, a high potential signal is supplied from the mode control unit 31 to the signal distribution line 16b, and all the p-MOS transistors 15b- 1 to 15b - m are in a cutoff state. In this case, the p-MOS transistor 15b also exceeds the total impedance of the C-MOS logic element group 14b.
Since the total impedance of -1 to 15b- m is higher,
The pseudo power supply line RVb is discharged to the ground potential and becomes a low potential.

【0065】時刻Tm1においてスリープモードからア
クティブモードへの遷移を開始するために、所定の時間
EQの立ち上がり幅を有する転送制御信号SEQを入
力し、n−MOSトランジスタ35を間欠的に導通状態
にする。
[0065] At time T m1 to initiate the transition to the active mode from the sleep mode, enter the transfer control signal S EQ with rising width of a predetermined time t EQ, intermittently conducting the n-MOS transistor 35 State.

【0066】これにより、電源電位VDDまで充電され
た疑似電源線RVaの電荷を、電荷転送回路32を介し
て、疑似電源線RVbに転送する。このとき疑似電源線
Vbの電位は、接地電位から上昇する。
As a result, the electric charge of the pseudo power supply line R Va charged to the power supply potential VDD is transferred to the pseudo power supply line R Vb via the charge transfer circuit 32. At this time, the potential of the pseudo power supply line R Vb rises from the ground potential.

【0067】なお上述の所定の時間tEQは、転送制御
信号SEQの立ち上がりから疑似電源線RVaの電位と
疑似電源線RVbの電位とが概ね等しくなるまでに必要
な時間を予め設定する。
The above-mentioned predetermined time t EQ sets in advance the time required from the rising of the transfer control signal S EQ until the potential of the pseudo power supply line R Va and the potential of the pseudo power supply line R Vb become substantially equal. .

【0068】こうして転送制御信号SEQが立ち下がる
時刻 m2 には、疑似電源線RVaの電位は電源電位V
DDよりも低く、また疑似電源線RVbの電位は接地電
位よりも高い状態となる。
[0068] The transfer control signal S EQ falls time T m2 is thus the potential of the virtual power supply line R Va power supply potential V
DD, and the potential of the pseudo power supply line RVb is higher than the ground potential.

【0069】こうして疑似電源線RVaの電位と疑似電
源線RVbの電位とがほぼ等しくなった後、時刻 m3
においてモード制御信号SLPを高電位から低電位へと
遷移させる。これによってモード制御部31は、信号配
給線16aに対しては高電位の信号を、また信号配給線
16bに対しては低電位の信号を出力させる。ここで、
疑似電源線RVaの電位は接地電位まで降下し、一方疑
似電源線RVbの電位は電源電位VDDまで上昇し、完
全なアクティブモードへと遷移する。
[0069] After thus the potential of the potential and the virtual power supply line R Vb pseudo power supply line R Va becomes substantially equal, the time T m3
At the same time, the mode control signal SLP is changed from the high potential to the low potential. Accordingly, the mode control unit 31 outputs a high-potential signal to the signal distribution line 16a and a low-potential signal to the signal distribution line 16b. here,
The potential of the pseudo power supply line R Va drops to the ground potential, while the potential of the pseudo power supply line R Vb rises to the power supply potential V DD and transitions to a completely active mode.

【0070】次に給電回路10aがアクティブモードか
らスリープモードへ遷移する場合について説明する。ア
クティブモードにおいては、モード制御信号SLPは低
電位になっており、モード制御部31から信号配給線1
6aに高電位信号が供給され、n−MOSトランジスタ
15a−1〜15a−nは全て導通状態となっている。
Next, a case where the power supply circuit 10a transitions from the active mode to the sleep mode will be described. In the active mode, the mode control signal SLP is at a low potential, and the mode control unit 31 sends the signal distribution line 1
A high-potential signal is supplied to 6a, and the n-MOS transistors 15a- 1 to 15a - n are all conducting.

【0071】また上述と同様、C−MOS論理素子群1
4aの総インピーダンスよりもn−MOSトランジスタ
15a−1〜15a−nの総インピーダンスの方が高い
ので、疑似電源線RVaは接地電位まで放電されて低電
位となっている。
As described above, the C-MOS logic element group 1
Since the higher the total impedance of the n-MOS transistor 15a -1 to 15A -n than the total impedance of the 4a, the virtual power supply line R Va has become lower potential is discharged to the ground potential.

【0072】一方このとき、モード制御部31から信号
配給線16bに低電位信号が供給され、p−MOSトラ
ンジスタ15b−1〜15b−mも全て導通状態となっ
ている。この場合やはりC−MOS論理素子群14bの
総インピーダンスよりもp−MOSトランジスタ15b
−1〜15b−mの総インピーダンスの方が高いので、
疑似電源線RVbは電源電位VDDまで充電されて高電
位となっている。
On the other hand, at this time, a low potential signal is supplied from the mode control unit 31 to the signal distribution line 16b, and all the p-MOS transistors 15b- 1 to 15b - m are in a conductive state. In this case, the p-MOS transistor 15b also exceeds the total impedance of the C-MOS logic element group 14b.
Since the total impedance of -1 to 15b- m is higher,
The pseudo power supply line R Vb is charged to the power supply potential V DD and has a high potential.

【0073】時刻Tm4においてアクティブモードから
スリープモードへの遷移を開始するために、モード制御
信号SLPを低電位から高電位へと遷移させる。これに
よってモード制御部31は、信号配給線16aに対して
は低電位の信号を、また信号配給線16bに対しては高
電位の信号を出力させる。
At time Tm4 , to start the transition from the active mode to the sleep mode, the mode control signal SLP is changed from the low potential to the high potential. Thus, the mode control unit 31 outputs a low-potential signal to the signal distribution line 16a and a high-potential signal to the signal distribution line 16b.

【0074】この後時刻Tm5において所定の時間t
EQの立ち上がり幅を有する転送制御信号SEQを入力
し、n−MOSトランジスタ35を間欠的に導通状態に
する。これにより、電源電位VDDまで充電された疑似
電源線RVbの電荷を、電荷転送回路32を介して、疑
似電源線RVaに転送する。このとき疑似電源線RVa
の電位は、接地電位から上昇する。
Thereafter, at time Tm5 , a predetermined time t
The transfer control signal S EQ having the rising width of the EQ is input, and the n-MOS transistor 35 is intermittently turned on. As a result, the charges of the pseudo power supply line R Vb charged to the power supply potential V DD are transferred to the pseudo power supply line R Va via the charge transfer circuit 32. At this time, the pseudo power supply line R Va
Rise from the ground potential.

【0075】なお上述の所定の時間tEQは、転送制御
信号SEQの立ち上がりから疑似電源線RVaの電位と
疑似電源線RVbの電位とが概ね等しくなるまでに必要
な時間を予め設定する。
The above-mentioned predetermined time t EQ sets in advance the time required from the rising of the transfer control signal S EQ until the potential of the pseudo power supply line R Va and the potential of the pseudo power supply line R Vb become substantially equal. .

【0076】こうして転送制御信号SEQが立ち下がる
時刻 m6 には、疑似電源線RVaの電位は接地電位よ
りも高く、また疑似電源線RVaの電位は電源電位V
DDよりも低い状態となる。
[0076] At time T m6 to transfer control signal S EQ falls in this way, the potential of the virtual power supply line R Va is higher than the ground potential, and the potential of the virtual power supply line R Va power supply potential V
The state is lower than DD .

【0077】この後、徐々に疑似電源線RVbの電荷は
放電されて電位は接地電位まで降下し、一方疑似電源線
Vaには徐々に電荷が充電されて電位は電源電位V
DDまで上昇し、完全なスリープモードへと遷移する。
Thereafter, the electric charge of pseudo power supply line R Vb is gradually discharged, and the potential drops to the ground potential. On the other hand, the electric charge of pseudo power supply line R Va is gradually charged, and the electric potential becomes the power supply potential V.
It rises to DD and transits to a complete sleep mode.

【0078】[0078]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、第1の電源線と、前記第1の電源線より電圧が低い
第2の電源線と、第1のスイッチを介して前記第2の電
源線に接続される第1の疑似電源線と、第2のスイッチ
を介して前記第1の電源線に接続される第2の疑似電源
線と、前記第1の電源線と前記第1の疑似電源線との間
に接続されて駆動電力が供給される第1の論理素子群、
前記第2の疑似電源線と前記第2の電源線との間に接続
されて駆動電力が供給される第2の論理素子群と、前記
第1の疑似電源線と前記第2の疑似電源線との間で電荷
を移動させる電荷転送手段と、前記第1のスイッチなら
びに第2のスイッチを制御する切換制御手段と、前記電
荷転送手段と前記切換制御手段とを制御する転送制御手
段とからなる論理回路において、前記転送制御手段は、
前記第1の論理素子群ならびに前記第2の論理素子群の
スリープモードからアクティブモードへの遷移に際し
て、前記第1の疑似電源線の電位と前記第2の疑似電源
線の電位とが略同電位になるまで前記電荷転送手段によ
って当該第1の疑似電源線と当該第2の疑似電源線との
間で電荷を転送し、前記第1の疑似電源線の電位と前記
第2の疑似電源線の電位とが略同電位になった後に前記
第1のスイッチおよび前記第2のスイッチをオンにし、
一方前記第1の論理素子群ならびに前記第2の論理素子
群のアクティブモードからスリープモードへの遷移に際
して、前記第1のスイッチおよび前記第2のスイッチを
にオフにした後に、前記第1の疑似電源線の電位と前記
第2の疑似電源線の電位とが略同電位になるまで前記電
荷転送手段によって当該第1の疑似電源線と当該第2の
疑似電源線との間で電荷を転送する。この発明は、この
ような背景の下になされたもので、スリープモード−ア
クティブモードの切り換えにともなう電荷の蓄積によっ
て無駄に消費される電力を低減させることができる論理
回路が実現可能であるという効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the first power supply line, the second power supply line having a voltage lower than that of the first power supply line, and the second power supply line via the first switch. A first pseudo power supply line connected to the second power supply line, a second pseudo power supply line connected to the first power supply line via a second switch, the first pseudo power supply line, and the second pseudo power supply line. A first logic element group connected between the first logic power supply line and a driving power supply;
A second logic element group connected between the second pseudo power supply line and the second power supply line and supplied with driving power; the first pseudo power supply line and the second pseudo power supply line Charge transfer means for transferring charges between the first and second switches, switching control means for controlling the first switch and the second switch, and transfer control means for controlling the charge transfer means and the switching control means. In the logic circuit, the transfer control means includes:
When the first logic element group and the second logic element group transition from the sleep mode to the active mode, the potential of the first pseudo power supply line and the potential of the second pseudo power supply line are substantially equal. The electric charge is transferred between the first pseudo power supply line and the second pseudo power supply line by the charge transfer means until the potential of the first pseudo power supply line and the potential of the second pseudo power supply line become higher. Turning on the first switch and the second switch after the potential and the potential become substantially the same potential,
On the other hand, at the time of transition from the active mode to the sleep mode of the first logic element group and the second logic element group, after turning off the first switch and the second switch, the first pseudo The electric charge transfer means transfers electric charges between the first pseudo power supply line and the second pseudo power supply line until the electric potential of the power supply line and the electric potential of the second pseudo power supply line become substantially equal. . The present invention has been made under such a background, and has an effect that it is possible to realize a logic circuit that can reduce wastefully consumed power due to accumulation of electric charges in switching between a sleep mode and an active mode. Is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施の形態にかかる論理回路の構
成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a logic circuit according to one embodiment of the present invention.

【図2】 同実施の形態においてスリープモードからア
クティブモードへモードを遷移させる場合の制御動作の
流れを示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a flow of a control operation when the mode is changed from a sleep mode to an active mode in the embodiment.

【図3】 同実施の形態においてアクティブモードから
スリープモードへモードを遷移させる場合の制御動作の
流れを示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing a flow of a control operation when the mode is shifted from an active mode to a sleep mode in the embodiment.

【図4】 本発明の論理回路の応用例を示すものであ
り、詳細な構成例を示す接続図である。
FIG. 4 is a connection diagram showing an application example of the logic circuit of the present invention and showing a detailed configuration example.

【図5】 図4に示す構成の各部における信号あるいは
電位の変化の様子を示すタイミングチャートである。
FIG. 5 is a timing chart showing a state of a change in a signal or a potential in each unit having the configuration shown in FIG. 4;

【図6】 従来技術の電力制御回路を備えた半導体集積
論理回路の構成例を示す接続図である。
FIG. 6 is a connection diagram illustrating a configuration example of a semiconductor integrated logic circuit including a power control circuit according to the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 論理回路10a 給電回路 13a−1 13a−2 ,…,13a−n ゲート回路 13b−1 13b−2 ,…,13b −m ゲート回路 14a C−MOS論理素子群(第1の論理素子群) 14b C−MOS論理素子群(第2の論理素子群) 15a−1 15a−2 ,…,15a−n n−MOS
トランジスタ(第1のスイッチ) 15b−1 15b−2 ,…,15b p−MOS
トランジスタ(第2のスイッチ) 16a16b 信号配給線 17a17b 電荷転送路 20 電荷再利用回路 21 モード信号発生回路 22 転送制御回路(転送制御手段) 2332 電荷転送回路(電荷転送手段) 24 モード制御回路 31 モード制御部(切換制御手段) 31a31b31c インバータ回路 35 n−MOSトランジスタ(第3のスイッチ) 100 論理回路 101 インバータ回路 102 NAND回路 103 インバータ回路 104 C−MOS論理素子群 105−1 105−2 ,…,105−n n−MOS
トランジスタ Ctl21 tl22 tl24 制御信号 Res21 es22 es24 応答信号 RVa 疑似電源線(第1の疑似電源線) RVb 疑似電源線(第2の疑似電源線) RVD 実電源線(第1の電源線) RVS 実電源線(第2の電源線) RVV 疑似電源線 SLP モード制御信号 VDD 電源電位
10 logic circuit 10a power supply circuit 13a- 1 , 13a- 2 , ..., 13a- n gate circuit 13b- 1 , 13b- 2 , ..., 13b- m gate circuit 14a C-MOS logic element group (first logic element group ) 14b C-MOS logic element group (second logic element group) 15a- 1 , 15a- 2 , ..., 15a- nn -MOS
Transistors (first switches) 15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15b - mp -MOS
Transistors (second switches) 16a , 16b Signal distribution lines 17a , 17b Charge transfer paths 20 Charge recycling circuits 21 Mode signal generation circuits 22 Transfer control circuits (transfer control means) 23 , 32 Charge transfer circuits (charge transfer means) 24 Mode control circuit 31 Mode control section (switch control means) 31a , 31b , 31c Inverter circuit 35 n-MOS transistor (third switch) 100 Logic circuit 101 Inverter circuit 102 NAND circuit 103 Inverter circuit 104 C-MOS logic element group 105 -1, 105 -2, ..., 105 -n n-MOS
Transistor Ctl21 , Ctl22 , Ctl24 Control signal Res21 , Res22 , Res24 response signal R Va pseudo power supply line (first pseudo power supply line) R Vb pseudo power supply line (second pseudo power supply line) R VD real Power supply line (first power supply line) R VS actual power supply line (second power supply line) R VV pseudo power supply line S LP mode control signal V DD power supply potential

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 第1の電源線(RVD)と、 前記第1の電源線(RVD)より電圧が低い第2の電源
線(RVS)と、 第1のスイッチ(15a−1,15a−2,…,15a
−n)を介して前記第2の電源線(RVS)に接続され
る第1の疑似電源線(RVa)と、 第2のスイッチ(15b−1,15b−2,…,15b
−n)を介して前記第1の電源線(RVD)に接続され
る第2の疑似電源線(RVb)と、 前記第1の電源線(RVD)と前記第1の疑似電源線
(RVa)との間に接続されて駆動電力が供給され、ゲ
ート回路(13a−1,13a−2,…)を含んで構成
される第1の論理素子群(14a)と、 前記第2の疑似電源線(RVb)と前記第2の電源線
(RVS)との間に接続されて駆動電力が供給され、ゲ
ート回路(13b−1,13b−2,…)を含んで構成
される第2の論理素子群(14b)と、 前記第1の疑似電源線(RVa)と前記第2の疑似電源
線(RVb)との間で電荷を移動させる電荷転送手段
(23,32)と、 前記第1のスイッチ(15a−1,15a−2,…,1
5a−n)ならびに前記第2のスイッチ(15b−1
15b−2,…,15b−n)を制御する切換制御手段
(31)と、 前記電荷転送手段(23,32)と前記切換制御手段
(31)とを制御する転送制御手段(22)と、 モード信号発生回路(21)と前記転送制御手段(2
2)、前記電荷転送手段(23)とから構成され、モー
ド制御回路(24)からの指示に基づいて起動される電
荷再利用回路(20)とを備え、前記第1のスイッチ(15a −1 ,15a −2 ,…,1
5a −n )は、前記第1の論理素子群(14a)から漏
洩するサブスレッショルド電流の総和よりも、当該第1
のスイッチ(15a −1 ,15a −2 ,…,15
−n )から漏洩するサブスレッショルド電流の総和の
方が小さくなるようにデバイスパラメータが設定され、 前記第2のスイッチ(15b −1 ,15b −2 ,…,1
5b −n )は、前記第 2の論理素子群(14b)から漏
洩するサブスレッショルド電流の総和よりも、当該第2
のスイッチ(15b −1 ,15b −2 ,…,15
−n )から漏洩するサブスレッショルド電流の総和の
方が小さくなるようにデバイスパラメータが設定され、 前記電荷転送手段(32)は、前記第1のスイッチ(1
5a −1 ,15a −2 ,…,15a −n )と同等に小さ
な電流を漏洩するようなデバイスパラメータに設定され
た第3のスイッチ(35)から構成され、当該第3のス
イッチ(35)のゲート電極には転送制御信号SEQ
入力され、ソース電極−ドレイン電極間は、前記第1の
疑似電源線(RVa)−前記第2の疑似電源線
(RVb)間に接続され、 前記第1のスイッチ(15a−1,15a−2,…,1
5a−n)、前記第2のスイッチ(15b−1,15b
−2,…,15b−n)、前記第1の論理素子群(14
a)、および前記第2の論理素子群(14b)は各々M
OSトランジスタから構成され、スリープモードにおい
ては前記第1のスイッチ(15a−1,15a−2
…,15a−n)のインピーダンスは前記第1の論理素
子群(14a)のインピーダンスより高く且つ前記第2
のスイッチ(15b−1,15b−2,…,15
−n)のインピーダンスは前記第2の論理素子群(1
4b)のインピーダンスより高く設定され、 前記第1の論理素子群(14a)の前記第1の電源線
(RVD)には電源電位(VDD)が接続され、また前
記第1の疑似電源線(RVa)には互いに並列に接続さ
れた制御スイッチ用の前記第1のスイッチ(15
−1,15a−2,…,15a−n)を介して電源電
位(VSS)である前記第2の電源線(RVS)が接続
され、 前記第2の論理素子群(14b)の前記第2の疑似電源
線(RVb)には互いに並列に接続された制御スイッチ
用の前記第2のスイッチ(15b−1,15b−2
…,15b−n)を介して前記電源電位(VDD)が接
続され、また前記第2の電源線(RVS)は電源電位
SS に接続され、 前記切換制御手段(31)は、前記第2の疑似電源線
(R Vb )間に接続され、前記第1のスイッチ(15a
−1 ,15a −2 ,…,15a −n )と同等に小 さな電
流を漏洩するようなデバイスパラメータに設定されたC
−MOSのインバータ回路(31a,31b,31c)
から構成され、 前記モード信号発生回路(21)は、前記転送制御手段
(22)の制御信号(Ctl21)に基づいて、前記第
1のスイッチ(15a−1,15a−2,…,15a
−n)の導通や遮断を制御する信号を信号配給線(16
a)に出力するとともに、応答信号(Res21)を前
記転送制御手段(22)に返信し、前記転送制御手段(22)は、 前記第1の論理素子群
(14a)ならびに前記第2の論理素子群(14b)の
スリープモードからアクティブモードへの遷移に際し
て、前記第1の疑似電源線(RVa)の電位と前記第2
の疑似電源線(RVb)の電位とが略同電位になるまで
前記電荷転送手段(23,32)によって当該第1の疑
似電源線(RVa)と当該第2の疑似電源線(RVb
との間で電荷を転送し、前記第1の疑似電源線
(RVa)の電位と前記第2の疑似電源線(RVb)の
電位とが略同電位になった後に前記第1のスイッチ(1
5a−1,15a−2,…,15a−n)および前記第
2のスイッチ(15b−1,15b−2,…,15b
−n)をオン状態に制御するとともに、前記第1の論理
素子群(14a)ならびに前記第2の論理素子群(14
b)のアクティブモードからスリープモードへの遷移に
際して、前記第1のスイッチ(15a−1,15
−2,…,15a−n)および前記第2のスイッチ
(15b−1,15b−2,…,15b−n)をオフに
した後に、前記第1の疑似電源線(RVa)の電位と前
記第2の疑似電源線(RVb)の電位とが略同電位にな
るまで前記電荷転送手段(23,32)によって当該第
1の疑似電源線(RVa)と当該第2の疑似電源線(R
Vb)との間で電荷を転送し、 前記電荷再利用回路(20a)は、 前記切換制御手段
(31)および前記電荷転送手段(32)から構成さ
れ、モード制御信号(SLP)および転送制御信号(S
EQ)に基づいて制御され、前記電荷転送回路(23)は、 前記転送制御手段(2
2)の制御信号(Ctl22)に基づいて電荷転送路
(17a)および電荷転送路(17b)を介して前記第
1の疑似電源線(RVa)と前記第2の疑似電源線(R
Vb)との間で電荷を転送し、また、応答信号(R
es22)を前記転送制御手段(22)に返信し、前記転送制御手段(22)は、 前記モード制御回路(2
4)の制御信号(Ctl24)に基づいて前記電荷再利
用回路(20)内の動作を制御するとともに、応答信号
(Res24)を前記モード制御回路(24)に返信
し、 前記第2の疑似電源線(RVb)間に接続された前記イ
ンバータ回路(31a)は、前記モード制御信号(S
LP)を入力として、前記信号配給線(16a)へ信号
を出力し、また、直列に接続された前記第2の疑似電源
線(RVb)間に接続され、インバータ回路(31b)
と前記第2の疑似電源線(RVb)間に接続され、イン
バータ回路(31c)とは、モード制御信号SLPを入
力として前記信号配給線(16b)へ信号を出力するこ
とを特徴とする論理回路。
1. A first power supply line (R VD ), a second power supply line (R VS ) having a lower voltage than the first power supply line (R VD ), and a first switch (15a −1 , 15a- 2 , ..., 15a
-N ), a first pseudo power supply line (R Va ) connected to the second power supply line (R VS ), and a second switch (15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15b).
Via said -n) first power supply line (second pseudo power supply line connected to the R VD) and (R Vb), said first power supply line (R VD) and said first pseudo power supply line (R Va ), a driving power is supplied thereto, and a first logic element group (14a) including gate circuits (13a- 1 , 13a- 2 ,...); Are connected between the pseudo power supply line (R Vb ) and the second power supply line (R VS ) to supply drive power, and include gate circuits (13b- 1 , 13b- 2 ,...). A second logic element group (14b), and charge transfer means (23, 32) for transferring charges between the first pseudo power supply line (R Va ) and the second pseudo power supply line (R Vb ). ) And the first switch (15a- 1 , 15a- 2 ,..., 1)
5a −n ) and the second switch (15b −1 ,
15b −2 ,..., 15b −n ); transfer control means (22) for controlling the charge transfer means (23, 32) and the switch control means (31); A mode signal generating circuit (21) and the transfer control means (2);
2) a charge recycling circuit (20) which is constituted by the charge transfer means (23) and is activated based on an instruction from a mode control circuit (24); and the first switch (15a- 1) , 15a- 2 , ..., 1
5a- n ) leaks from the first logic element group (14a).
Than the sum of the sub-threshold currents leaking,
Switches (15a- 1 , 15a- 2 , ..., 15)
a −n ) of the sum of the sub-threshold currents leaking from
The device parameters are set such that the second switch (15b −1 , 15b −2 ,..., 1)
5b- n ) leaks from the second logic element group (14b).
Than the sum of the sub-threshold currents leaking,
Switches (15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15)
b− n ) of the sum of the sub-threshold currents leaking from
The device parameters are set so that the first switch (1 ) is smaller than the first switch (1).
5a- 1 , 15a- 2 , ..., 15a- n )
A third switch (35) set to a device parameter that leaks a large current, a transfer control signal S EQ is input to a gate electrode of the third switch (35), and a source electrode-drain The electrodes are connected between the first pseudo power supply line ( RVa ) and the second pseudo power supply line ( RVb ), and the first switches (15a- 1 , 15a- 2 ,..., 1)
5a- n ) and the second switches (15b- 1 , 15b- 1) .
-2, ..., 15b -n), the first logic element group (14
a) and the second logic element group (14b) are each M
In the sleep mode, the first switches (15a- 1 , 15a- 2 , 15a- 2 ,
, 15a- n ) are higher than the impedance of the first logic element group (14a) and the second
Switches (15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15)
b− n ) is the impedance of the second logic element group (1).
4b), the power supply potential (V DD ) is connected to the first power supply line (R VD ) of the first logic element group (14a), and the first pseudo power supply line (R Va ) has the first switch (15) for the control switch connected in parallel with each other.
a- 1 , 15a -2 ,..., 15a- n ), the second power supply line (R VS ), which is the power supply potential ( VSS ), is connected to the second logic element group (14b). The second pseudo power supply line (R Vb ) is connected to the second switches (15b −1 , 15b −2 , 15b −2 , 15b −2 ,
, 15b- n ) are connected to the power supply potential (V DD ), and the second power supply line (R VS ) is connected to the power supply potential (R VS ).
( VSS ) , and the switching control means (31) is connected to the second pseudo power supply line.
(R Vb ) and the first switch (15a
-1, 15a -2, ..., 15a -n) and equally small Sana electrostatic
C set to a device parameter that leaks flow
-MOS inverter circuits (31a, 31b, 31c)
The mode signal generation circuit (21) is configured to control the first switches (15a- 1 , 15a- 2 ,..., 15a) based on a control signal (Ctl21) of the transfer control means (22).
-N ) is transmitted to the signal distribution line (16).
a) and returns a response signal ( Res21 ) to the transfer control means (22). The transfer control means (22) transmits the first logic element group (14a) and the second logic When the element group (14b) transitions from the sleep mode to the active mode, the potential of the first pseudo power supply line (R Va ) and the potential of the second
The first pseudo power supply line (R Va ) and the second pseudo power supply line (R Vb ) by the charge transfer means (23, 32) until the potential of the pseudo power supply line (R Vb ) becomes substantially the same as the potential of the pseudo power supply line (R Vb). )
And the first switch is switched after the potential of the first pseudo power supply line (R Va ) and the potential of the second pseudo power supply line (R Vb ) become substantially equal. (1
5a- 1 , 15a- 2 , ..., 15a- n ) and the second switch (15b- 1 , 15b- 2 , ..., 15b).
-N ) to an on state, and the first logic element group (14a) and the second logic element group (14a).
In the transition from the active mode to the sleep mode in b), the first switches (15a -1 , 15a)
a -2, ..., 15a -n) and said second switch (15b -1, 15b -2, ... , after the 15b -n) off, the potential of the first pseudo power supply line (R Va) The first pseudo power supply line (R Va ) and the second pseudo power supply by the charge transfer means (23, 32) until the potential of the second pseudo power supply line (R Vb ) becomes substantially the same as the potential of the second pseudo power supply line (R Vb ). Line (R
To transfer charge between the Vb), said charge recycle circuit (20a), said consist switching control means (31) and said charge transfer means (32), the mode control signal (S LP) and transfer control Signal (S
EQ ), and the charge transfer circuit (23) controls the transfer control means (2).
2) Based on the control signal (C tl22 ), the first pseudo power supply line (R Va ) and the second pseudo power supply line (R Va ) via the charge transfer path (17a) and the charge transfer path (17b).
Vb ) and the response signal (R
es22 ) is returned to the transfer control means (22), and the transfer control means (22)
4) controlling the operation in the charge recycling circuit (20) based on the control signal (C tl24 ), and returning a response signal ( Res24 ) to the mode control circuit (24); The above-mentioned a connected between the pseudo power supply lines (R Vb ).
The inverter circuit (31a) receives the mode control signal (S
LP ) as an input and outputs a signal to the signal distribution line (16a), and is connected between the second pseudo power supply lines (R Vb ) connected in series to form an inverter circuit (31b).
And the second pseudo power supply line (R Vb ), and the inverter circuit (31c) receives a mode control signal S LP as an input and outputs a signal to the signal distribution line (16b). Logic circuit.
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