JP3177136U - 半導体素子用容器 - Google Patents

半導体素子用容器 Download PDF

Info

Publication number
JP3177136U
JP3177136U JP2012002751U JP2012002751U JP3177136U JP 3177136 U JP3177136 U JP 3177136U JP 2012002751 U JP2012002751 U JP 2012002751U JP 2012002751 U JP2012002751 U JP 2012002751U JP 3177136 U JP3177136 U JP 3177136U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
container
mounting body
semiconductor element
driving
drive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2012002751U
Other languages
English (en)
Inventor
震維 古
聖元 王
承儒 李
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Gudeng Precision Industrial Co Ltd
Original Assignee
Gudeng Precision Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Gudeng Precision Industrial Co Ltd filed Critical Gudeng Precision Industrial Co Ltd
Application granted granted Critical
Publication of JP3177136U publication Critical patent/JP3177136U/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67373Closed carriers characterised by locking systems

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】ロック機構の動作を安定させ、容器の開閉動作を容易にし、容器内の清浄度を保つ半導体素子用容器を提供する。
【解決手段】載置本体111、シール板112及びカバー10を包含し、該載置本体111に少なくとも一つのロック手段121と駆動手段122が設けられ、該シール板112は該載置本体111の下方に固設され、並びに該駆動手段122を押さえて該駆動手段122を該載置本体111上に固定する。該駆動手段122が回転する時、該ロック手段121を駆動して該載置本体111内で移動させ、該ロック手段121の少なくとも一つの固定部1212が該カバー10の少なくとも一つのロック部に向けて移動し、該固定部を該ロック部にロックし、これにより該カバーを該載置本体111にロックする。
【選択図】図2

Description

本考案は一種の容器に係り、特に、半導体素子を収容するのに用いられる容器に関する。
現代の先進ウエハーOME生産或いは半導体製造において、ウエハー製造技術の不断の改善により、すでに、90nm以下の工程に達成しており、工程線幅の縮小と素子集積度アップに伴い、単位ウエハー内で製造できる素子数は増加している。ただし、このような高集積度の半導体素子の汚染物に対する許容度は下降し、すなわち極めて微量の汚染物(微粒子、粉塵、有機物、ガス或いは揮発物等)により半導体素子の欠陥がもたらされ得て、ひいては半導体素子を静電干渉により短絡させ、損失を形成しうる。
一般の半導体製造工程において、クリーンルーム環境が提供されて空気中の微粒子による汚染が防止されている。半導体素子の運送の過程でも、汚染を防止するため、一つ一つの半導体素子を収容し保護するための容器の提供が必要である。
半導体素子の運送或いはストック時に起こり得る傷害を効果的に減らすため、現在、容器中の構造及び容器内のロック機構を改善する多くの技術があり、収容する半導体素子の保護効果を高めている。標準機械インタフェースの作業システム中、機械のピンを容器内のロック機構中の駆動手段に挿入することで、容器の開閉の操作を実行する。
周知の駆動手段はロック方法で容器内に固定され、機械のピンで容器の駆動手段を駆動する時、駆動手段の外周縁にその中心と相反する作用力が発生し、駆動手段の回転が不安定となり、このためロック機構の動作が不安定となり、このため、ロック機構の各構成要件或いは容器内の其の他の部品間に摩擦が発生し、並びに容器中に汚染顆粒を発生し、これにより容器内に収容された半導体素子の汚染を引き起こす。
本考案は上述の周知の技術の問題を解決するため、一種の半導体素子を収容する容器を提供し、容器内のロック機構をネジ方式によって固定せず、駆動手段を安定して回転させられるようにし、ロック機構の動作を安定させる。
本考案の目的は、一種の半導体素子用容器を提供することにあり、それはネジ方式によらずにロック機構を固定し、ロック機構が安定して動作できるようにし、容器の開閉動作を順調に行えるようにしたものとする。
本考案の目的は、一種の半導体素子用容器を提供することにあり、それは容器内のロック機構の各構成要件に摩擦の発生する機会を減らすことで、容器中に汚染顆粒が発生するのを防止して、容器内に収容された半導体素子の汚染が発生するのを防止し、これにより容器内の高い清浄度を達成するものとする。
本考案は一種の半導体素子用容器を提供し、それは、載置本体を包含し、該載置本体の側壁に少なくとも一つの穿孔が設けられ、該載置本体は、少なくとも一つのロック手段を包含し、該ロック手段は該載置本体内に設置され、該ロック手段はロック本体、少なくとも一つの固定部、駆動部を包含し、該固定部は該ロック本体の一側に設置され且つ該穿孔に対応し、該駆動部は該ロック本体の他の一側に設置される。該載置本体内に駆動手段が枢設され、並びに該駆動部に当接する。シール板は、該載置本体下方に固定され並びに該駆動手段を該載置本体上に押さえる。カバーは、該載置本体の上方を被覆し、該カバーの側壁に少なくとも一つのロック部が設けられ、該ロック部は該穿孔に対応する。
該駆動部が回転する時、該駆動手段が該ロック手段を駆動して該載置本体内で移動させ、該ロック手段の該固定部が該載置本体の該穿孔を通り並びに該ロック部に置かれ、これにより該カバーが該載置本体に固定される。
総合すると、本考案は半導体素子用容器を提供し、そのカバーは載置本体内に設置されたロック機構により載置本体に固定され、これにより容器が密封されて外部の汚染物の容器内への進入が防止される。
本考案のロック機構は少なくとも一つのロック手段により駆動手段と組み合わされ、ロック手段と駆動手段が載置本体に設置され、シール板が駆動手段を押さえる方式で、駆動手段が載置本体内に固定され、ネジによる固定方式ではないため、駆動手段が安定して回転させられる。
駆動手段に二つの回転手段が設けられ、二つの回転手段により駆動手段とシール板の接触の面積が減らされ、駆動手段とシール板の摩擦により汚染顆粒が容器内に発生するのを防止し、これにより容器内に収容された半導体素子が汚染されるのを防止する。
さらに、シール板の二つの回転手段との接触の位置に耐摩擦手段が貼り付けられ、これにより、二つの回転手段とシール板の摩擦により発生する汚染顆粒が減らされ、容器内に汚染顆粒が発生する機会がさらに減らされる。
このほか、本考案のロック機構の各ロック手段には回転手段が設けられ、回転手段は駆動手段と接触し、こうして駆動手段とロック手段の接触の面積が減らされ、駆動手段とロック手段が摩擦を発生して容器内に汚染顆粒を発生するのを防止し、これにより容器内に収容された半導体素子が汚染されるのを防止する。
回転手段は駆動手段の回転に伴い回転し、並びに駆動手段との接触が発生する摩擦力を減らし、駆動手段に順調にロック手段を駆動させて載置本体内で移動させ、これによりロック機構を順調に動作させ、それにより容器に順調な開閉動作を行わせる。
本考案の第1実施例の容器の分解図である。 本考案の第1実施例の容器の部分分解図である。 本考案の第1実施例の容器の別の部分分解図である。 本考案の第1実施例の駆動手段の立体図である。 本考案の第1実施例のロック手段と駆動手段の立体図である。 本考案の第1実施例の載置本体の立体図である。 本考案の第1実施例の弾性素子の表示図である。 本考案の第2実施例の部分分解図である。 本考案の第2実施例のロック手段と駆動手段の立体図である。
本考案の技術内容、構造特徴、達成する目的を詳細に説明するため、以下に実施例を挙げ並びに図面を組み合わせて説明する。
周知の容器のロック機構はネジ方式で固定されているため、ロック機構の動作が不安定となり、このため容器の開閉操作が順調に行えなくなり、且つロック機構と容器内の其の他の部品との摩擦を発生させやすく、並びに汚染顆粒を容器中に発生して容器中の半導体素子を汚染する。
図1、図2及び図3を参照されたい。それらは本考案の第1実施例の分解図及び部分分解図である。これらの図に示されるように、本実施例は一種の半導体素子用容器1を提供し、容器1はカバー10、載置本体111及びシール板112(図2及び図3参照)を包含する。
載置本体111の外側表面には少なくとも一つの半導体素子が載置され、カバー10は該載置本体111の半導体素子を載置する外側表面を被覆する。且つ載置本体111内にはロック機構が設けられ、シール板112はロック機構を押さえて、ロック機構を載置本体111内に固定する。カバー10はロック機構により載置本体111上に固定され、容器1を完全に密封し、これにより外部の汚染物の容器1内への進入を防止し、容器1内の少なくとも一つの半導体素子(たとえば、マスク、ウエハー或いは其の他の半導体素子)が汚染されるのを防止する。
その後、容器1の密封性を増すため、さらにカバー10と載置本体111の間に密封手段14が設けられて、外部の汚染物の容器1内への進入がより防止され、これにより容器1内部の高い清浄度が達成される。
載置本体111は内表面1111と側壁1112を具え、側壁1112は内表面1111の周縁を囲み、並びに収容空間を形成している。本実施例のロック機構は収容空間内に置かれ、並びに二つのロック手段121及び駆動手段122を包含する。二つのロック手段121は相互に対称に載置本体111の内表面1111上に設置され、各ロック手段121はロック本体1211を具え、ロック本体1211の一側に二つの固定部1212が設けられ、載置本体111の側壁1112に四つの穿孔1110が設けられ、並びにそれぞれ二つのロック手段121の四つの固定部1212に対応する。
カバー10の側壁にも四つのロック部102が設けられ(図1参照)、四つのロック部102は載置本体111の四つの穿孔1110に対応し、ゆえに、二つのロック手段121の四つの固定部1212がそれぞれ載置本体111の二つの穿孔1110を通り、並びに対応するロック部102に設置され、こうしてカバー10が載置本体111にロックされる。
本実施例の固定部1212は凸部とされ、対応する固定部1212のロック部102は凹溝とされ、これは本考案の一つの実施例に過ぎず、固定部1212とロック部102は其の他の構造とされて並びに相互に嵌合するものであればよいが、ここではこれ以上説明しない。
図4も参照されたい。図4は本考案の第1実施例の駆動手段の立体図である。図示されるように、駆動手段122は載置本体111の内表面1111上に設置され、並びに二つのロック手段121の間に位置する。載置本体111の内表面1111は枢接部1113(図3参照)を具え、駆動手段122は駆動本体1221を具え、駆動本体1221は第1表面12211と第2表面12212を具え、駆動本体1221の第1表面12211上に回転軸1222が設けられ(図2参照)、回転軸1222は枢接部1113に枢接され(図3参照)、これにより駆動手段122が載置本体111上で回転可能とされる。
このほか、載置本体111にさらに軸受1114が設けられ、並びに該軸受1114が枢接部1113に設置され、回転軸1222は軸受1114に枢接され、これにより枢接部1113に枢接され、軸受1114は枢接部1113と回転軸1222の間の摩擦を減らし、これにより駆動手段122が順調に載置本体111上で回転可能である。
さらに、図5も参照されたい。図5は本考案の第1実施例のロック手段と駆動手段の立体図である。図示されるように、駆動手段122は二つの案内構造1223(図2を参照されたい)を具えている。本実施例の二つの案内構造1223はそれぞれ凸柱とされ、二つの案内構造1223は駆動本体1221の第1表面12211に凸設され、並びにそれぞれ回転軸1222より駆動本体1221の周縁に向けて延伸されている。
各ロック手段121のロック本体1211の別の一側にはさらに駆動部1213が設けられ、二つのロック手段121の二つの駆動部1213はそれぞれ駆動手段122の二つの案内構造1223の間に位置し、二つの案内構造1223はそれぞれ対応する駆動部1213に接触する。
シール板112は載置本体111の下方に固定され、並びに駆動手段122の駆動本体1221の第2表面12212に当接し、駆動手段122が載置本体111の内表面1111とシール板112の間に固定され、これによりロック機構が載置本体111内に固定される。
本実施例の駆動手段122の回転軸1222はネジ止め方式を利用して載置本体111に固定されるのではなく、これにより駆動手段122の外周縁に回転軸1222と反対の作用力が発生するのを防止し、それによりこの作用力により駆動手段122が回転時に不安定となるのを防止する。
さらに図3に示されるように、シール板112は二つの挿入孔1121を具え、本実施例では二つの挿入孔1121がそれぞれ円弧状を呈し、駆動手段122の駆動本体1221にさらに二つの駆動孔1224が設けられ、本実施例の二つの駆動孔1224はそれぞれ駆動本体1221を貫通して対応する案内構造1223内に至るが、案内構造1223を貫通せず、ゆえに、駆動孔1224は盲孔とされ、シール板112の二つの挿入孔1121は駆動手段122の二つの駆動孔1224に対応する。
駆動手段122を回転させたい時、ピン2が挿入孔1121に挿入され、並びに二つの駆動孔1224に挿入され、且つ挿入孔1121内を移動させられ駆動手段122を駆動し回転させる。
駆動手段122が回転する時、駆動手段122の二つの案内構造1223が二つのロック手段121の二つの駆動部1213を押動し、これにより二つのロック手段121が載置本体111内で横向きに移動させられる。
駆動手段122が逆時計回転する時、二つの案内構造1223が二つのロック手段121の二つの駆動部1213を押動し、二つのロック手段121はそれぞれ載置本体111の両側に向けて移動し、これにより各ロック手段121の固定部1212がカバー10のロック部102に向けて移動させられ、並びにロック部102内に係合させられ、これにより載置本体111がカバー10上にロックされる。
駆動手段122が時計周りに回転する時、二つの案内構造1223が二つのロック手段121の二つの駆動部1213を押動して載置本体111の中心に向けて移動させ、これにより各ロック手段121の固定部1212をカバー10のロック部102より離脱させ、これによりカバー10が載置本体111より分離させられる。
さらに、図3を参照されたい。ロック手段121を線形移動させるため、載置本体111にさらに二つの第1リミット手段1115が設けられ、二つの第1リミット手段1115はそれぞれ二つのロック手段121の両側に位置し、二つのロック手段121は二つの第1リミット手段1115の間を横向きに移動し、すなわち、二つの第1リミット手段1115は二つのロック手段121の移動方向に平行である。
載置本体111にはさらに二つの第2リミット手段1116が設けられ、該二つの第2リミット手段1116は駆動手段122の両側に位置し、駆動手段122の駆動本体1221の周縁にさらに二つのリミット手段1225が設けられ、二つのリミット手段1225はそれぞれ第2リミット手段1116の間に位置する。
図6も参照されたい。駆動手段122が回転する時、駆動手段122の二つのリミット手段1225はそれぞれ二つの第2リミット手段1116の間で活動し、これにより駆動手段122の回転角度が制限される。
このほか、載置本体111の内表面1111にさらに二つの第3リミット手段1117が設けられ、各ロック手段121のロック本体1211にさらに位置決め孔1214が設けられ、二つの第3リミット手段1117はそれぞれ対応するロック手段121の位置決め孔1214内に位置し、こうして二つのロック手段121の載置本体111内の位置が制限される。
載置本体111内にさらに複数の支持部材1118が設けられ、これら支持部材1118は二つの第1リミット手段1115の間に設置され、並びに二つのロック手段121の下方に位置し、これにより二つのロック手段121を支持し、且つ二つのロック手段121を載置本体111の内表面1111より離し、二つのロック手段121と載置本体111の内表面1111の接触する面積を減らし、それにより二つのロック手段121の移動時の載置本体111の内表面1111との間の摩擦力を減らし、二つのロック手段121を順調に載置本体111の内表面1111上で移動させる。
再び図2から図5を参照されたい。本実施例の駆動手段122はさらに二つの押さえ部1226が包含し、核一つの押さえ部1226は凸塊とされ、押さえ部1226は駆動本体1221の第1表面12211より突出し、二つの押さえ部1226はそれぞれ二つの案内構造1223の間に位置する。
押さえ部1226は案内面12261を具え、駆動手段122が逆時計周りに回転する時、各ロック手段121の駆動部1213を具えた一側が対応する押さえ部1226の案内面12261に当接し、駆動手段122の回転に伴い、案内面12261が駆動部1213の表面に当接し、並びに駆動部1213の表面に沿って前進し、ロック手段121の駆動部1213を具えた一側は案内面12261に沿って下がり、ロック手段121の固定部1212を具えた一側は高くなり、これにより固定部1212がカバー10のロック部102に嵌合され、これにより、容器1が良好な気密性を具備する。
各ロック手段121の駆動部1213の押さえ部1226に当接する一側は斜面12111を具え、斜面12111は駆動部1213の一側に位置する。押さえ部1226は容易にロック本体1211の斜面12111に沿って駆動部1213の表面上に移動し、並びに駆動部1213の表面に沿って前進する(図5参照)。
駆動手段122の駆動本体1221にさらに二つの回転手段1227が設けられ、二つの回転手段1227は駆動本体1221に嵌設され、並びに押さえ部1226の下方に位置する。
駆動手段122が回転する時、二つの回転手段1227は駆動手段122をシール板112と直接接触させず、すなわち駆動手段122とシール板112の接触の面積を減らして、駆動手段122とシール板112の間の摩擦力を減らし、且つ二つの回転手段1227は駆動手段122の回転により回転し、駆動手段122を安定して回転させ、こうして駆動手段122とシール板112の摩擦を減少することにより汚染顆粒発生の機会を減らし、容器1内に収容された半導体素子が汚染される問題の発生を防止する。
本実施例の回転手段1227は軸受とされるが、其の他の素子とされてもよく、これについてはこれ以上説明しない。
二つの回転手段1227は駆動手段122を安定して回転させるが、シール板112と摩擦により、容器1内で汚染顆粒を発生して容器1内の半導体素子を汚染する恐れがある。このため、本実施例では、シール板112に摩擦を減らすための耐摩擦手段1122を貼り付け、この耐摩擦手段1122はシール板112と二つの回転手段1227の摩擦が発生する位置に位置し、二つの回転手段1227とシール板112間の摩擦を減らし、並びに二つの回転手段1227がシール板112を摩損する機会を減らせ、さらに汚染顆粒の発生を減らして容器1内の半導体素子2の汚染を防止できる。
図6を再び参照されたい。載置本体111内には二つの連接部1119が設けられ、二つの連接部1119はそれぞれ対応するロック手段121の一側に位置する。各ロック手段121のロック本体1211にさらに連接部1215が設けられ、各連接部1119は弾性素子13を介して対応するロック手段121の連接部1215に連接される。
載置本体111の二つの第1リミット手段1115はそれぞれ切欠き11151を具え、これら切欠き11151を対応する弾性素子13が通過し、弾性素子13の高さが載置本体111の厚さより小さくされ、容器1のシール板112が載置本体111を密封する。
二つのロック手段121をカバー10のロック部102にロックした時の二つのロック手段121の位置を開始位置と定義すると、二つのロック手段121が載置本体111の中心に向けて移動する時、弾性素子13はロック手段121に伴い載置本体111の中心に向けて移動し、また切欠き11151の側辺に当接し、これによりロック手段121の載置本体111の中心に向けての移動が制限される。
弾性素子13は自身の材質により弾性を有し、弾性素子13が切欠き11151の側辺に接触する時、弾性素子13は切欠き11151の当接を受けて回復力を発生し、この回復力によりロック手段121は開始位置に回復する。こうして、駆動手段122が正常動作していない時、弾性素子13はロック手段121を開始位置に回復させ、すなわち、ロック手段121をカバー10のロック部102にロックし、これにより載置本体111とカバー10の離脱を防止する。
図7を併せて参照されたい。図7は本考案の第1実施例の弾性素子の表示図である。図示されるように弾性素子13は第1部131と第1部131に接続された第2部132を具えている。弾性素子13の第2部132は弾性素子13の第1部131に対して下向きに傾斜する。弾性素子13の第1部131の一端は載置本体111の連接部1119に設置され、弾性素子13の第2部132の一端はロック手段121の連接部1215に設置される。弾性素子13の第2部132は弾性素子13の第1部131に対して下向きに傾斜し、これによりロック手段121のロック本体1211を押さえる。
ロック手段121の駆動部1213は駆動手段122の押さえ部1226の押圧を受ける時、ロック手段121の固定部1212を上昇させ並びにカバー10のロック部102にロックさせ、弾性素子13の第2部132は弾性素子13の第1部131に対して下向きに傾斜し、ロック手段121のロック本体1211を押さえ、ロック手段121の固定部1212に上昇した状態を維持させ並びにカバー10のロック部102にロックさせ、これにより容器1に良好な気密性を持たせる。
図8及び図9を参照されたい。これらは本考案の第2実施例の容器の部分分解図及び立体図である。図示されるように、上述の実施例中、駆動手段122の回転時に、駆動手段122とロック手段121の駆動部1213の一部表面が接触し、これにより駆動手段122の押さえ部1226と駆動部1213の表面の間に摩擦が発生する。
駆動手段122と駆動部1213の間に発生する摩擦を減らすため、各ロック手段121の駆動部1213と駆動手段122の押さえ部1226の摩擦が発生する位置には、回転手段12110が嵌設され、これにより駆動手段122の押さえ部1226の案内面12261とロック手段121の駆動部1213に位置する回転手段12110が接触し、これにより駆動部1213と押さえ部1226の接触の面積が減らされて、駆動部1213と押さえ部1226の間に発生する摩擦が減らされ、並びに汚染顆粒が容器内に発生して容器内に収容された半導体素子を汚染するのを防止する。
駆動手段122が回転する時、駆動手段122の押さえ部1226の案内面12261とロック手段121の駆動部1213に位置する回転手段12110が接触し、駆動手段122が回転手段12110を駆動し回転させる。回転手段12110は案内面12261に沿って回転して移動し、案内面12261の末端には位置決め凹溝12262が設けられ、回転手段12110が案内面12261に沿って移動して位置決め凹溝12262にいたる時、位置決め凹溝12262は回転手段12110の移動を阻止し並びに回転手段12110を位置決めし、これにより、ロック手段121の固定部1212がカバーのロック部にロックされる。
本実施例の回転手段12110は案内面12261に沿って回転可能で、これにより回転手段12110と案内面12261の間の摩擦力を減らし、駆動手段122が順調にロック手段121を駆動して載置本体111内で移動させ、並びにロック機構を順調に動作させ、これにより容器に順調な開閉動作を行わせる。
本実施例の回転手段12110は軸受とされるが、其の他の素子とされてもよく、それについてはこれ以上の説明を行わない。
1 容器
10 カバー
102 ロック部
111 載置本体
1110 穿孔
1111 内表面
1112 側壁
1113 枢接部
1114 軸受
1115 第1リミット手段
11151 切欠き
1116 第2リミット手段
1117 第3リミット手段
1118 支持部材
1119 連接部
112 シール板
1121 挿入孔
1122 耐摩擦手段
121 ロック手段
1211 ロック本体
12110 回転手段
12111 斜面
1212 固定部
1213 駆動部
1214 位置決め孔
1215 連接部
122 駆動手段
1221 駆動本体
12211 第1表面
12212 第2表面
1222 回転軸
1223 案内構造
1224 駆動孔
1225 リミット手段
1226 押さえ部
12261 案内面
12262 位置決め凹溝
1227 回転手段
13 弾性素子
131 第1部
132 第2部
2 ピン

Claims (21)

  1. 半導体素子用容器において、
    載置本体であって、側壁に少なくとも一つの穿孔を具え、
    少なくとも一つのロック手段であって、該載置本体内に設置され、該ロック手段はロック本体、少なくとも一つの固定部、駆動部を包含し、該固定部は該ロック本体の一側に設置され、且つ該穿孔に対応し、該駆動部は該ロック本体の他の一側に設置された、上記少なくとも一つのロック手段と、
    駆動手段であって、該載置本体内に設置され、並びに該駆動部に接触する、上記駆動手段と、
    を具えた、上記載置本体と、
    シール板であって、該載置本体の下方に固定され、並びに該載置本体上に該駆動手段を押さえる、上記シール板と、
    カバーであって、該載置本体の上方を被覆し、該カバーの側壁に少なくとも一つのロック部が設けられ、該ロック部が該穿孔に対応する、上記カバーと、
    を包含し、該駆動手段が回転する時、該駆動手段が該ロック手段を駆動して該載置本体内で移動させ、該ロック手段の該固定部が該載置本体の該穿孔を通り並びに該ロック部に設置されることで、該カバーが該ロック本体に固定されることを特徴とする、半導体素子用容器。
  2. 請求項1記載の半導体素子用容器において、
    該シール手段に設置されて並びに該駆動手段に対応する耐摩擦手段をさらに包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  3. 請求項1記載の半導体素子用容器において、
    該カバーと該載置本体の間に設置された密封手段をさらに包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  4. 請求項1記載の半導体素子用容器において、
    該載置本体はさらに、
    少なくとも一つの支持手段であって、該載置本体内に設置され、並びに該ロック手段の下方に位置して該ロック手段を支持する、上記少なくとも一つの支持手段を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  5. 請求項1記載の半導体素子用容器において、
    該載置本体はさらに、
    二つの第1リミット手段であって、該載置本体内に設置され、並びに該ロック手段の両側に位置し、並びに該ロック手段の移動方向と平行である、上記二つの第1リミット手段を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  6. 請求項1記載の半導体素子用容器において、
    該載置本体はさらに、
    二つの第2リミット手段であって、該載置本体内に設置され、並びにそれぞれ該駆動手段の二つのリミット手段の間に位置し、該二つのリミット手段はそれぞれ該二つの第2リミット手段の間で活動する、上記二つの第2リミット手段を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  7. 請求項1記載の半導体素子用容器において、
    該載置本体はさらに、
    少なくとも一つの第3リミット手段であって、該載置本体内に設置され、並びに該ロック本体の位置決め孔に通される、上記少なくとも一つの第3リミット手段を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  8. 請求項1記載の半導体素子用容器において、
    弾性素子であって、その一端が該載置本体の連接部に接続され、その他端が該ロック手段の連接部に接続された、上記弾性素子をさらに包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  9. 請求項8記載の半導体素子用容器において、該弾性素子は第1部と第2部を具え、該第1部の一端は該載置本体の該連接部に接続され、該第2部の一端は該ロック手段の該連接部に接続され、該第2部は該第1部に対して傾斜することを特徴とする、半導体素子用容器。
  10. 請求項1記載の半導体素子用容器において、該駆動手段はさらに、
    駆動本体であって、第1表面と該第1表面に対応する第2表面を具え、該第1表面と該ロック手段が接触し、該第2表面と該シール板が接触する、上記駆動本体と、
    回転軸であって、該駆動本体の該第1表面に設置され、該回転軸は該載置本体に設けられた枢接部に設置される、上記回転軸と、
    を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  11. 請求項10記載の半導体素子用容器において、
    該駆動手段はさらに、
    少なくとも一つの回転手段であって、該駆動本体に嵌設され、並びに該シール板に接触する上記少なくとも一つの回転手段と、
    を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  12. 請求項11記載の半導体素子用容器において、該回転手段は軸受とされることを特徴とする、半導体素子用容器。
  13. 請求項10記載の半導体素子用容器において、該載置本体はさらに、
    軸受であって、該枢接部に設置され、該回転軸が該軸受に設置される、上記軸受、
    を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  14. 請求項10記載の半導体素子用容器において、
    該駆動手段はさらに、
    少なくとも一つの案内構造であって、該駆動本体の該第1表面に凸設され、並びに該回転軸より該駆動本体の周縁に向けて延伸され、且つ該ロック本体に設けられた駆動部と接触する、上記少なくとも一つの案内構造、
    を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  15. 請求項10記載の半導体素子用容器において、
    該シール板はさらに、
    少なくとも一つの挿入孔であって、該駆動本体の少なくとも一つの駆動孔に対応し、並びに少なくとも一つのピンが通され、該ピンが該挿入孔を通り該駆動孔に挿入され、並びに該挿入孔内を移動し、これにより該駆動手段を回転させる、上記少なくとも一つの挿入孔、
    を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  16. 請求項10記載の半導体素子用容器において、
    該駆動手段はさらに、
    少なくとも一つの押さえ部であって、該駆動本体の該第1表面に凸設され、並びに該駆動部の表面を押さえる、上記少なくとも一つの押さえ部、
    を包含することを特徴とする、半導体素子用容器。
  17. 請求項16記載の半導体素子用容器において、該押さえ部の該駆動部に対応する表面は案内面とされ、該ロック手段の該駆動部を具えた一側は該斜面に沿って昇降することを特徴とする、半導体素子用容器。
  18. 請求項17記載の半導体素子用容器において、さらに、
    二つの回転手段であって、それぞれ対応する該ロック手段の該駆動部に嵌設され、並びに対応する該押さえ部の該案内面に接触することを特徴とする、半導体素子用容器。
  19. 請求項18記載の半導体素子用容器において、該案内面の末端に位置決め凹溝があり、該回転手段が該位置決め凹溝内に設置されることを特徴とする、半導体素子用容器。
  20. 請求項18記載の半導体素子用容器において、該回転手段が軸受とされることを特徴とする、半導体素子用容器。
  21. 請求項17記載の半導体素子用容器において、該駆動部の一側に斜面があり、該斜面が該押さえ部の該案内面と接触することを特徴とする、半導体素子用容器。
JP2012002751U 2012-03-22 2012-05-10 半導体素子用容器 Expired - Lifetime JP3177136U (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101205228U TWM434763U (en) 2012-03-22 2012-03-22 Containers for packaging semiconductor components
TW101205228 2012-03-22

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP3177136U true JP3177136U (ja) 2012-07-19

Family

ID=47047300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012002751U Expired - Lifetime JP3177136U (ja) 2012-03-22 2012-05-10 半導体素子用容器

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9064917B2 (ja)
JP (1) JP3177136U (ja)
KR (1) KR200474782Y1 (ja)
TW (1) TWM434763U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018531050A (ja) * 2016-09-09 2018-10-25 広東美的生活電器制造有限公司Guangdong Midea Consumer Electrics Manufacturing Co., Ltd. 蒸気バルブ、容器カバーおよび液体加熱容器

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI746045B (zh) * 2020-07-07 2021-11-11 家登精密工業股份有限公司 基板載具鎖扣結構
CN115639719A (zh) * 2021-07-19 2023-01-24 长鑫存储技术有限公司 光罩盒及半导体设备
TWI822366B (zh) * 2022-09-28 2023-11-11 家登精密工業股份有限公司 鎖附導正結構

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4995430A (en) * 1989-05-19 1991-02-26 Asyst Technologies, Inc. Sealable transportable container having improved latch mechanism
US5711427A (en) * 1996-07-12 1998-01-27 Fluoroware, Inc. Wafer carrier with door
US5957292A (en) * 1997-08-01 1999-09-28 Fluoroware, Inc. Wafer enclosure with door
US8083272B1 (en) * 1998-06-29 2011-12-27 Industrial Technology Research Institute Mechanically actuated air tight device for wafer carrier
US6430877B1 (en) * 1998-07-13 2002-08-13 Asyst Technologies, Inc. Pod door alignment device
EP1349794A4 (en) * 2000-12-13 2006-03-08 Entegris Cayman Ltd SYSTEM TO PREVENT IMPROPER INTRODUCTION OF FOUP DOOR TO FOUP
US6457598B1 (en) * 2001-03-20 2002-10-01 Prosys Technology Integration, Inc. Module cover assembly with door latch transmission mechanism for wafer transport module
US7182203B2 (en) * 2003-11-07 2007-02-27 Entegris, Inc. Wafer container and door with vibration dampening latching mechanism
US7325698B2 (en) * 2004-04-18 2008-02-05 Entegris, Inc. Wafer container door with particulate collecting structure
US7909166B2 (en) * 2008-08-14 2011-03-22 Gudeng Precision Industrial Co, Ltd Front opening unified pod with latch structure

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018531050A (ja) * 2016-09-09 2018-10-25 広東美的生活電器制造有限公司Guangdong Midea Consumer Electrics Manufacturing Co., Ltd. 蒸気バルブ、容器カバーおよび液体加熱容器

Also Published As

Publication number Publication date
KR200474782Y1 (ko) 2014-10-14
US9064917B2 (en) 2015-06-23
KR20130005747U (ko) 2013-10-02
US20130248413A1 (en) 2013-09-26
TWM434763U (en) 2012-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101213373B1 (ko) 수납 용기
US7549552B2 (en) Storage container
JP3177136U (ja) 半導体素子用容器
KR101451477B1 (ko) 래치 구조물을 갖는 전방 개방 통합 포드
US8528947B2 (en) Closed container and lid opening/closing system therefor
US8322759B2 (en) Closed container and lid opening/closing system therefor
JP4919123B2 (ja) 処理基板収納ポッド及び処理基板収納ポッドの蓋開閉システム
JP4647417B2 (ja) 基板収納容器の蓋体開閉方法
US7971723B1 (en) Wafer container with oval latch
US8196748B2 (en) Wafer container with oval latch
JP3177145U (ja) 半導体素子用容器
KR101437351B1 (ko) 박판수납용기용 도어
JP5263633B2 (ja) 密閉容器及び該密閉容器の蓋開閉システム
JP4115115B2 (ja) 基板収納容器の蓋体係止機構
US6338604B1 (en) Lid latch mechanism for clean box
JP5686699B2 (ja) 蓋体及び基板収納容器
US20130028688A1 (en) Load port apparatus and clamping device to be used for the same
JP5268860B2 (ja) 基板収納容器
JP4266828B2 (ja) 鼓形キースロットを有するウェハーキャリアのドア及びラッチ機構
JP4115224B2 (ja) 基板収納容器
JP2010141222A (ja) 基板収納容器及びその蓋体取り付け方法
JP2012190898A (ja) 基板収納容器

Legal Events

Date Code Title Description
R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3177136

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150627

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term