JP3174980B2 - 赤外線カメラの反射率の補正装置 - Google Patents
赤外線カメラの反射率の補正装置Info
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Description
関し,特に走査線の濃淡むらのない赤外線カメラの反射
率の補正装置に関するものである。
物1の表面から放射される赤外線3を検出して,その温
度分布を可視像(熱画像)として表示する赤外線熱画像
装置に使用される赤外線カメラについて以下のような構
成のものがある。以下,これについて図4,図5に基づ
いて,光学系走査機構について説明する。対象物1の表
面からの光2,3は,ハウジング11の前面開口部12
に設けられているシリコンウインド4によって可視光2
が遮断され,赤外線3のみが赤外線カメラ内に入射され
る。内部に入射した赤外線(赤外線像)3は,シリコン
ウインド4と同一平面に位置している第1の折り返しミ
ラ−5により回転ミラ−7とほぼ同一平面に位置してい
る振動ミラ−6方向に反射される。この反射光(赤外線
3)は振動ミラ−6により垂直方向に約10°振られ
て,回転ミラ−7の各ミラ−面71 ,72 ・・・に入射
する。従って,各ミラ−面71 ,72 ・・・は,振動ミ
ラ−6が垂直方向に振動することにより,対象物1の表
面を少しずつ垂直方向にずれた部分を水平方向に走査す
ることになる。
本程度である。8面体の回転ミラ−7を用いているの
で,振動ミラ−6が10°振る間に回転ミラ−7は少な
くとも12.5回転しなくてはならず,実際には振動ミ
ラ−6の復路に要する時間も考慮して16回転してい
る。即ち,回転ミラ−7の16回転で垂直方向10°の
範囲が走査され,第2の折り返しミラ−8(以下,反射
ミラ−8と記す)方向へ反射され,ここで収束レンズ9
方向へ反射され,この収束レンズ9でその光束が絞られ
て赤外線検出器10に入射して,光電変換される。この
熱画像の電気信号は増幅器13で増幅され,プロセッサ
14により各種の信号処理がなされ,表示装置15に表
示される。
出器10には,0.1°に相当する赤外線3が入射す
る。そして,次のミラ−面72 が走査する時は,振動ミ
ラ−6の面が0.1°ずれるため,先にミラ−面71 で
水平走査した部分とは垂直方向に0.1°ずれた位置が
同様に走査される。従って,回転ミラ−7の12.5回
転で対象物1の垂直方向10°を走査し,又,水平方向
に関しては回転ミラ−7の各ミラ−面71 ,72 ・・・
により水平視野角(この実施例では15°)が走査され
る。そこで,リアルタイムで水平走査線100本の熱画
像を得るために,回転ミラ−7は回転速度を14400
rpmの高速で回転するように設定され,赤外線検出器
10から1秒間に15画面のリアルタイムの熱画像信号
が得られる。この熱画像信号は,増幅器13で増幅さ
れ,プロセッサ14で画像処理されて表示装置15に表
示される。
転ミラ−7の各ミラ−面71 ,72・・・に入射した対
象物1からの赤外線3は,収束レンズ9により,その光
束が収束されて赤外線検出器10に入射し,電気信号に
変換されて増幅器13により増幅されてプロセッサ14
へ出力される。一方,図5において,赤外線検出器10
に入射する対象物1からの赤外線エネルギ−Wに関し
て,一般に式(1)が成立する。 W=τw .ρx ・ρf ・τL ・ε0 ・W0 ≒ρx ・ε0 ・W0 ・・・・(1) 但し,xは回転ミラ−7のミラ−番号でx=1,2,3
・・・・である。 τw :シリコンウインド ρf :反射ミラ−8の反射率 τL :収束レンズ9の透過率 ε0 :対象物1の放射率 W0 :対象物1の放射エネルギ− である。
器10で光電変換されて,増幅器13で増幅された電気
エネルギ−(以下,出力Vと記す)は,一般に,式
(2)で表される。 V=f(τw .ρx ・ρf ・τL ・ε0 ・W0 )・A・・・・・(2) 但し,A:増幅器13の増幅率である。このように,式
(2)で示されるように,増幅器13の出力端OUT
(プロセッサ14の入力端となる)における出力Vは,
対象物1からの赤外線エネルギ−ε0 ・W0 およびx番
目のミラ−面7x における反射率ρx ,シリコンウイン
ド4の透過率τw ,反射ミラ−8の反射率ρf ,収束レ
ンズ9の透過率τL および増幅率Aにより変動する。
は,図6に示すように,回転ミラ−7の第1のミラ−面
71 による走査線L1 が持つ電気エネルギ−V1 (出力
V1)は,式(2)より, V1 =f(τw .ρ1 ・ρf ・τL ・ε0 ・W0 )・A・・・・・(3) で表される。同様に,第2のミラ−面72 による電気エ
ネルギ−V2 (出力V2 )は, V2 =f(τw .ρ2 ・ρf ・τL ・ε0 ・W0 )・A・・・・・(4) で表され,第3のミラ−面73 以降についても同様であ
る。ここで,回転ミラ−7の各ミラ−面71 ,72 ,7
3 ・・・・と変化するのに対して,シリコンウインド4
の透過率τw ,反射ミラ−8の反射率ρf および収束レ
ンズ9の透過率τL は共通であるとともに,対象物1か
らの赤外線エネルギ−ε0 ・W0 を一定とすると,式
(2)は,一般に, V=f(ρx )τw .ρf ・τL ・ε0 ・W0 ・A・・・・・(5) 但し,τw .ρf ・τL =aとする。で表され,回転ミ
ラ−7の各ミラ−面71 ,72 ,73 ・・における反射
率ρx(それぞれρ1 ,ρ2 ・・・)のバラツキのみが
出力Vの変動要素となる。
この熱画像から対象物1の温度を測定する赤外線放射温
度計として赤外線カメラを使用する場合がある。このよ
うな場合,赤外線カメラで対象物1の温度計測を行う原
理は以下の通りである。赤外線検出器10は,それ自身
が対象物1の赤外線3を感知して絶対温度を測定する能
力を備えていないため,通常は,図5,図7に示すよう
に,ハウジング11の内壁11a近傍に室温センサ−1
6が配設されており,この室温センサ−16によりカメ
ラヘッド内の室温Ta が測定される。
カメラヘッドのハウジング11の内壁11aから放射さ
れる赤外線3aとの相対遼を捉えて,その値を温度変換
することにより,室温Ta との相対温度である室温相対
温度ΔTが測定され,この室温相対温度ΔTに室温Ta
が加算されて,対象物1の絶対温度T0 (測定温度)
は, T0 =ΔT+Ta ・・・・・・・(6) で表される。
室温Ta を完全に捉えるために,先に発明者は,回転ミ
ラ−7を構成するミラ−面71 ,72 ・・・の内,少な
くとも1面を赤外線3に対する反射係数が零である部
材,例えば,黒色塗料を塗付する等して覆うとともに,
このミラ−面71 ,72 ・・・に対応する赤外線検出器
10の出力をカメラヘッド内の室温としての基準温度と
するようにしたものを出願した。
ば,ミラ−面78 が赤外線3の反射係数零である黒色部
材29で覆われている。回転ミラ−7が時計方向に回転
すると,例えば,ミラ−面71 は,最初ハウジング11
の内壁11aの温度を観測した後,前面開口部12から
対象物1を観測し,次いで,他方のハウジング11の内
壁11bの温度を観測する。この赤外線3は第2の折り
返しミラ−(反射ミラ−)8から収束レンズ9を介して
赤外線検出器10に入力する。この時の赤外線検出器1
0の出力波形は,ハウジング11の内壁11aの温度
(測定された室温)Ta および法線方向からの自我反射
像の温度TH ,および対象物1の室温との相対温度ΔT
を出力する。
は,赤外線3はすべて吸収されてしまうので,このミラ
−面78 に対応する赤外線検出器10の出力波形部分だ
け平坦になるとともに,実際の室温Ta が表示される。
そして,次のミラ−面71 による出力波形は,ミラ−面
72 による出力波形と同様である。そこで,このミラ−
面78 に対応する赤外線検出器10の出力を基準室温T
と設定され,正確な温度測定がなされている。以下,室
温Ta はこの方法で決定された値とする。
かであるように,前者の形式のものは,赤外線検出器1
0の増幅器13の出力端OUTにおける出力Vは,対象
物1からの赤外線エネルギ−ε0 ・W0 および増幅器1
3の増幅率Aを一定と仮定すると,反射率ρx により変
動する。従って,製造上の不良品や汚損等により,回転
ミラ−7の各ミラ−面71 ,72 ・・・の反射率ρx
(それぞれρ1 ,ρ2 ,ρ3 ・・・・で表示される)が
それぞれ異なると,各走査線L1 ,L2 ・・・の持つエ
ネルギ−表示量が変化して,図6に示すように,走査線
L1 ,L2 ・・・が明るくなったり,暗くなったりする
ため,熱画像上に縞模様が現れ,視覚上および温度測定
上の問題であった。
のミラ−面78 を赤外線3に対する反射係数が零である
黒色部材29で覆うとともに,このミラ−面78 に対応
する赤外線検出器10の出力を基準温度(以下,室温T
a と記す)とするようにした形式のものも,正確な温度
測定が可能ではあるが,上記のような理由により,各ミ
ラ−面71 ,72 ・・・の反射率ρx が異なると,出力
の変動要素となり,前者のものと同様に走査線L1 ,L
2 ・・・の持つエネルギ−表示量が変化して熱画像に縞
模様が出来るとともに,赤外線カメラとしての赤外線量
測定値つまり温度の測定値に変動が生じるという問題が
あった。
ラ−の各ミラ−面にそれぞれ対応する数のスイッチから
なり,この各スイッチを回転ミラ−の回転に同期する同
期信号により切り換え制御されるスイッチ回路と,この
各スイッチの出力端にそれぞれ接続され,増幅器の増幅
率を可変可能な増幅率可変手段とを増幅器に設け,各ミ
ラ−面毎にスイッチ回路を切り換え制御することによ
り,ミラ−面にそれぞれ対応する出力信号の増幅率を変
えるようにして各ミラ−面の反射率の変動を補正するよ
うにしたものである。
た基準黒体と,A/D変換器によりデジタル変換された
赤外線検出器からの出力を格納するフレ−ムメモリと,
基準黒体の温度と室温との相対値を演算して基準デ−タ
を算出する基準デ−タ算出手段と,基準デ−タを格納す
るとともに,この基準デ−タと各ミラ−面毎のデ−タと
を比較する比較メモリと,基準デ−タを格納するととも
に,この基準デ−タとミラ−面毎のデ−タとを比較する
比較メモリと,基準デ−タと各ミラ−面毎のデ−タとの
比率を演算する比率演算手段と,この比率を各ミラ−面
毎の出力に乗算して増幅器の出力を補正する出力補正手
段とを増幅器に設け,この増幅器の出力端においてミラ
−面にそれぞれ対応する出力値が同一レベルとなるよう
に補正するようにして,各ミラ−面の反射率の変動を補
正するようにしたものである。
ている熱画像を目覗により観察しながら,可変抵抗R
1 ,R2 ・・・の抵抗値を調整して,出力端における増
幅器の出力電圧を一定に調整する。ここで,回転ミラ−
7の各ミラ−面71 ,72・・・が,対象物1に対向し
ている面番をセンサ−18により検出し,これを同期信
号としてスイッチ回路の各スイッチS1 ,S2 ・・・を
各ミラ−面に対応させて切り換え制御して,増幅器13
の増幅率A1 ,A2 ・・を変更して走査線毎の出力電圧
のバラツキを補正している。
ミラ−面,例えばミラ−面71 から得られる出力を基準
デ−タD1 とし,この基準デ−タD1 と他のミラ−面7
2 ,73 ・・からのデ−タD2 ,D3 ・・・との比率D
2 /D1 ,D3 /D1 ・・を求め,この比率を増幅器1
3の出力Vに乗算して,各ミラ−面71 ,72 ・・の反
射率の変動による出力の変動を補正して,出力端におい
て同一レベルとなるようにして,走査線毎の出力電圧の
バラツキを補正している。
示す構成図に基づいて詳細に説明する。なお,図4〜図
7において述べたと同一の名称は同一の符号をもって記
載し,その説明を省略する。赤外線カメラヘッドを構成
するハウジング11の前面開口部12には,回転ミタ−
7の各ミラ−面71 ,72 ・・・が対向位置するととも
に,対象物1から放射される赤外線3のみを透過するシ
リコンウインド4で覆われている。17は同期回路で,
回転ミラ−7の近傍に配設されているフォトインタラプ
タ等のセンサ−18により,各ミラ−面71 ,72 ,7
3 ・・・を検出して,回転ミラ−7の回転数を基本周波
数とする同期信号が作成される。
R1 ,R2 ・・・および演算増幅器20とにより構成さ
れている。スイッチ回路19には,各ミラ−面71 ,7
2 ,73 ・・・にそれぞれ対応するスイッチS1 ,S
2 ,S3 ・・・が並列に接続されており,各可動接点に
は赤外線検出器10からの出力信号が入力抵抗R0 を介
して接続されており,各固定接点にはそれぞれ可変抵抗
R1 ,R2 ,R3 ・・・が接続されており,この可変抵
抗R1 ,R2 ,R3 ・・・の抵抗値を可変にすることに
より,演算増幅器20の増幅率A1 ,A2 ,A3 ・・・
が調整される。OUTは増幅器13の出力端である。な
お,増幅器13の増幅率Aを各ミラ−面71 ,72 ,7
3 ・・・に対応する増幅率A1 ,A2 ,A3 ・・・に変
更するための増幅率可変手段としては,上記実施例に限
定されることなく,他のいかなる手段を用いても同様な
作用効果がある。
面番xのミラ−面7xの時の出力は,一般に式(5)に
示すように, V=f(ρx )τw .ρf ・τL ・ε0 ・W0 ・A =f(ρx )・ε0 ・W0 ・a・A・・・・・(5) で表示されるから,増幅器13の増幅率Aが各ミラ−面
71 ,72 ,73 ・・毎に変化するとすると,例えば,
ミラ−面71 の時の出力V1 は,式(5)より, V1 =f(ρ1 )・f(A)・ε0 ・W0 ・a・・・・・(6) で表される。ミラ−面72 の時の出力V2 は,同様に V2 =f(ρ2 )・f(A)・ε0 ・W0 ・a・・・・・(7) で表され,他のミラ−面73 ,74 ・・についても同様
に表わされる。このように,一般に,増幅器13の出力
Vは,各ミラ−面71 ,72 ,73 ・・の反射率ρx と
増幅率Aとの関数となる。
反射率ρ1 ,ρ2 ,ρ3 ・・・の変動に対応させて増幅
率Aをそれぞれ増幅率A1 ,A2 ,A3 ・・・と変更す
ることにより,反射率ρ1 ,ρ2 ,ρ3 ・・・の変動を
補正することが出来る。そこで,可変抵抗R1 ,R2 ・
・・の値により増幅器13の増幅率Aが決定されるの
で,まず,可変抵抗R1 ,R2 ・・・の抵抗値が調整さ
れなければならない。この可変抵抗R1 ,R2 ・・・の
抵抗値の調整は,表示装置15に表示されている熱画像
を目覗により観察しながら,あるいは増幅器13の出力
端OUTにおける出力信号を検出して全ての出力が同一
となるように調整される。
1 ,72 ,73 ・・に対応する各走査線L1 ,L2 ・・
・を目覗により観察しながら,これらの走査線L1 ,L
2 ・・・がすべて同一表示量となるように,それぞれ可
変抵抗R1 ,R2 ,R3 ・・・を調整して,増幅率A
1 ,A2 ,A3 ・・・をかえれば,ミラ−面71 ,7
2 ,73 ・・の反射率ρ1 ,ρ2 ,ρ3 ・・・の変動が
補正され,増幅器13の出力端OUTにおいては,ミラ
−面71 ,72 ,73 ・・・に対応する出力Vは,各走
査線L1 ,L2 ・・毎にすべて等しくなり,熱画像は均
一に表示される。
3 ・・・の調整により各ミラ−面71 ,72 ,73 ・・
に対応する増幅率A1 ,A2 ・・・が決定された後,通
常の動作状態に設定される。そこで,対象物1からの赤
外線3は光学系走査機構により走査され,その熱画像
は,図6に示すように,ミラ−面71 ,72 ,73 ・・
に対応する走査線L1,L2 ,L3 ・・・により表示さ
れている。ここで,スイッチS1 ,S2 ,S3 ・・・お
よび可変抵抗R1 ,R2 ,R3 ・・・は,回転ミラ−7
の各ミラ−面71 ,72 ,73 ・・・にそれぞれ対応し
ているので,ミラ−面71 ,72 ,73 ・・・が現在ど
の面番に対応するかはセンサ−18により検出された回
転ミラ−7の回転数を同期信号としてスイッチ回路19
に入力し,各スイッチS1 ,S2 ,S3 ・・・が制御さ
れる。
・からの赤外線エネルギ−ε0 ・W 0 ・aが光電変換さ
れた信号は,同期回路17からの同期信号に制御されて
それぞれ各走査線L1 ,L2 ・・・に対応するスイッチ
S1 ,S2 ,S3 ・・・に順次入力され,可変抵抗R
1 ,R2 ,R3 ・・・の抵抗値によりそれぞれ決定され
る増幅率A1 ,A2 ,A3 ・・・に従って,各走査線L
1 ,L2 ・・・毎に増幅され,表示装置15に表示され
る。
図3に基づいて詳細に説明する。第1の実施例では,ス
イッチ回路19の可変抵抗R1 ,R2 ・・・を調整して
増幅器13の出力Vを同一にして,各ミラ−面71 ,7
2 ・・・の反射率ρ の変動を補正するものであるに対
して,この実施例では,CPU21により自動的に補正
しようとするものである。図2はこの発明の第2の実施
例を示す構成図,図3は波形図を示すものである。な
お,すでに述べたと同一の名称には,同一符号を用いる
とともに,その説明を省略する。
1内に配設されている基準黒体で,温度が一定な基準温
度から基準となるデ−タD1 を得るためのもので,回転
ミラ−7のミラ−面71 ,72 ・・・は,第2の反射ミ
ラ−23,第2の収束レンズ24を介して基準黒体22
を走査するような位置に配置されている。25はA/D
変換器で増幅器13の出力Vが,デジタル信号に変換さ
れる。26はフレ−ムメモリ,27はサンプルアンドホ
−ルド回路(以下S/H回路と記す)で,演算増幅器1
3からの信号をサンプリングアンドホ−ルドして同期信
号の制御のもとに,比較メモリ28に格納される。比較
メモリ28は基準デ−タD1 となる最初のデ−タがCP
U21を介して入力され,この基準デ−タとS/H回路
27からのサンプルホ−ルドされたデ−タと比較するた
めのものである。
ラ−7の任意の一面,この実施例ではミラ−面78 に
は,反射率が零の黒色部材29として黒色塗料が塗布さ
れており,赤外線3の基準温度となる室温Ta が測定で
きるように構成されているとともに,ハウジング11内
部には基準黒体22が配設されている。
は,赤外線検出器10からの出力は室温Ta のレベルと
なり,対象物1の出力は得られない。次に,ミラ−面7
1 からの出力が得られるが,最初に基準黒体22からの
デ−タD1 (この実施例では基準デ−タとなっている)
に続いて対象物1から放射された赤外線3によるデ−タ
P1 が得られ,検出器自身を観測した像のデ−タH1が
ミラ−面71 の出力デ−タとなる。
については,8個おきに基準黒体22からのデ−タD1
が出力し,同様に,ミラ−面72 ,73 ・・・について
もそれぞれ基準黒体22からのデ−タD1 ,D2 ・・・
がいずれも8個おきに出力される。なお,室温センサ1
6および黒色部材29でとらえた基準温度とから正確な
室温Ta が測定される。そこで,基準黒体22のデ−タ
D1 は,CPU21において,第1のミラ−面71 で捉
えた基準黒体22の温度と室温Ta との相対値が求めら
れ,この相対値をデジタル変換して基準デ−タD(この
実施例ではD1 )が算出される。
リ26からCPU21を介して室温Ta と基準黒体22
の温度との相対値を示すデ−タD1 が格納されている。
このデ−タD1 は第2のミラ−面72 以下の基準デ−タ
となるものである。従って,第2のミラ−面72 で対象
物1を見る場合,第1のミラ−面71 の反射率ρ1 が第
2のミラ−面72 の反射率ρ2 と異なっている場合に
は,室温Taを基準にして対象物1の測定温度を決定し
ているため,反射率ρ1 と反射率ρ2とが異なると,対
象物1の測定温度が変動することになる。即ち,基準黒
体22の温度が一定で,且つ,各ミラ−面71 ,72 ・
・・の反射率ρx が一定であるならば,対象物1の測定
温度が変動することはない。
ラ−面71 〜77 からのデ−タは,A/D変換器25で
デジタル信号に変換され,演算増幅器20で増幅された
後,フレ−ムメモリ26に格納される。このフレ−ムメ
モリ26のデ−タについてCPU21では,以下のよう
な演算がなされる。ミラ−面71 における出力は,式
(5)より V1 =f(ρ1 )ε0 ・W0 ・a・A・・・・・(6) で表される。
メモリ28に取り込まれる基準黒体22のデ−タD1 を
基準デ−タとすると,他のミラ−面72 ,73 ・・・に
おける反射率ρ2 ,ρ3 ・・・が異なるため,それぞれ
ミラ−面71 ,72 ・・で得られる室温Ta と基準黒体
22の温度との相対値は異なった値が得られる。例え
ば,第1のミラ−面71 の反射率ρ1 が100%とし,
第2のミラ−面72 の反射率ρ2 が90%であるとする
と,第2のミラ−面72 のデ−タD2 は,90%しか得
られない。従って,第2のミラ−面72 のデ−タD2 を
10%上げれば,第1のミラ−面71 のデ−タD1 と同
じになり,相対的に反射率ρx の変動を補正することが
出来る。
いる各デ−タは,CPU21に読み出されて比較メモリ
28に格納されている基準デ−タ(この実施例では基準
デ−タとしてミラ−面71 のデ−タD1 )と他のミラ−
面72 ,73 ・・・のデ−タD2 ,D3 ,D4 ・・・と
が比較され,その結果はCPU21に読み出される。C
PU21では,この比較メモリ28からの結果に基づい
てデ−タD1 に対するデ−タD2 ,D3 ・・・の比率D
2 /D1 ,D3 /D1 ,D4 /D1 ・・・が演算され
る。このように,比較メモリ28において,最初に取り
込まれたx番面のミラ−面7x のデ−タを基準デ−タと
して毎回デ−タをサンプルアンドホ−ルドしてあとに続
くミラ−面のデ−タのレベルがいくらであるかが比較さ
れている。これら一連の動作はセンサ−18から検出さ
れた回転ミラ−7の回転数を基準にした同期回路17か
らの同期信号により制御されている。
3 ・・・について,式(6)に基準黒体22による比率
D1 /D1 ,D2 /D1 ,D3 /D1 を掛け合わせる
と,各ミラ−面71 ,72 ・・・の出力V1 ,V2 ・・
・は, V1 =f(ρ1 )ε0 ・W0 ・a・A(D1 /D1 )・・・(7) V2 =f(ρ2 )ε0 ・W0 ・a・A(D2 /D1 )・・・(8) で表され,以下V3 以降についても同様に表される。こ
のように,各ミラ−面71 〜77 について,一般的には
次式(9)で表示される。 Vx =f(ρx )ε0 ・W0 ・a・A(Dx /D1 )・・・(9) 但し,x=1,2,3・・・である。
−面7x で最初に基準黒体22のデ−タが取り込まれた
とした時の基準黒体22のデ−タDx を基準デ−タとし
て,この基準デ−タDx と各ミラ−面71 〜77 におけ
る基準黒体22のデ−タD1,D2 ,D3 ・・・との比
率(D1 /D1 ),(D2 /D1 ),(D3 /D1 )・
・・を,各ミラ−面71 〜77 の出力V1 ,V2 ,V3
・・・に乗算すれば,各ミラ−面71 〜77 における反
射率ρ1 ,ρ2 ,ρ3 ・・・の変動が補正され,出力端
OUTにおける出力値が同一レベルとなるように補正さ
れる。
にそれぞれ対応する数のスイッチからなり,この各スイ
ッチを回転ミラ−の回転に同期する同期信号により切り
換え制御されるスイッチ回路と,この各スイッチの出力
端にそれぞれ接続され,増幅器の増幅率を可変可能な増
幅率可変手段とを増幅器に設け,各ミラ−面毎にスイッ
チ回路を切り換え制御することにより,ミラ−面にそれ
ぞれ対応する出力信号の増幅率を変えるようにして各ミ
ラ−面の反射率の変動を補正するようにしたものであ
る。第1の発明は,回転ミラ−の各ミラ−面にそれぞれ
対応する数のスイッチからなり,この各スイッチを回転
ミラ−の回転に同期する同期信号により切り換え制御さ
れるスイッチ回路と,この各スイッチの出力端にそれぞ
れ接続され,増幅器の増幅率を可変可能な増幅率可変手
段とを増幅器に設け,各ミラ−面毎にスイッチ回路を切
り換え制御するので,回転ミラ−のミラ−面の汚損等に
よる反射率の低下による熱画像のみだれを無くすことが
できる。又,修理時の汚損にたいしても,再度可変抵抗
を調整することにより出力値を一定にすることが出来
る。
た基準黒体と,A/D変換器によりデジタル変換された
赤外線検出器からの出力を格納するフレ−ムメモリと,
基準黒体の温度と室温との相対値を演算して基準デ−タ
を算出する基準デ−タ算出手段と,基準デ−タを格納す
るとともに,この基準デ−タと各ミラ−面毎のデ−タと
を比較する比較メモリと,基準デ−タと各ミラ−面毎の
デ−タとの比率を演算する比率演算手段と,この比率を
各ミラ−面毎の出力に乗算して増幅器の出力を補正する
出力補正手段とを増幅器に設け,この増幅器の出力端に
おいてミラ−面にそれぞれ対応する出力値が同一レベル
となるように補正するようにしたので,自動的に各ミラ
−面の汚損などによる反射率の変動を補正することがで
きるとともに,使用中に反射率が変動してもこれに十分
対応することができる。
Claims (2)
- 【請求項1】 対象物から放射された赤外線のみを透過
するウインドと,ミラ−面により構成される多面体の回
転ミラ−とを有し,前記赤外線を垂直および水平走査す
る光学系走査機構と,この光学系走査機構からの走査光
を受光して光電変換する赤外線検出器と,この赤外線検
出器からの出力を増幅する増幅器とを備えた赤外線カメ
ラにおいて,前記回転ミラ−のミラ−面にそれぞれ対応
する数のスイッチからなり,この各スイッチは前記回転
ミラ−の回転に同期する同期信号により切り換え制御さ
れるスイッチ回路と,この各スイッチの出力端にそれぞ
れ接続され,前記増幅器の増幅率を可変可能な増幅率可
変手段とを前記増幅器に設け,前記スイッチ回路を切り
換え制御することにより,前記各ミラ−面にそれぞれ対
応する出力信号の増幅率を変更することを特徴とする赤
外線カメラの反射率の補正装置。 - 【請求項2】 対象物から放射された赤外線のみを透過
するウインドと,ミラ−面により構成される多面体の回
転ミラ−とを有し,前記赤外線を垂直および水平走査す
る光学系走査機構と,この光学系走査機構からの走査光
を受光して光電変換する赤外線検出器と,この赤外線検
出器からの出力を増幅する増幅器とを備えた赤外線カメ
ラにおいて,前記ハウジング内に配設した基準黒体と,
A/D変換器によりデジタル変換された前記赤外線検出
器からの出力を格納するフレ−ムメモリと,前記基準黒
体の温度と室温との相対値を演算して基準デ−タを算出
する基準デ−タ算出手段と,前記基準デ−タを格納する
とともに,この基準デ−タと前記各ミラ−面毎のデ−タ
とを比較する比較メモリと,前記基準デ−タと前記各ミ
ラ−面毎のデ−タとの比率を演算する比率演算手段と,
この比率を前記各ミラ−面毎の出力に乗算して前記増幅
器の出力を補正する出力補正手段と,を前記増幅器に設
け,この増幅器の出力端において前記ミラ−面にそれぞ
れ対応する出力値が同一レベルとなるように補正するこ
とを特徴とする赤外線カメラの反射率の補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35553192A JP3174980B2 (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | 赤外線カメラの反射率の補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35553192A JP3174980B2 (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | 赤外線カメラの反射率の補正装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06186653A JPH06186653A (ja) | 1994-07-08 |
JP3174980B2 true JP3174980B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=18444478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35553192A Expired - Lifetime JP3174980B2 (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | 赤外線カメラの反射率の補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3174980B2 (ja) |
-
1992
- 1992-12-18 JP JP35553192A patent/JP3174980B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06186653A (ja) | 1994-07-08 |
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