JP3174941B2 - Camera ranging device - Google Patents

Camera ranging device

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JP3174941B2
JP3174941B2 JP11072695A JP11072695A JP3174941B2 JP 3174941 B2 JP3174941 B2 JP 3174941B2 JP 11072695 A JP11072695 A JP 11072695A JP 11072695 A JP11072695 A JP 11072695A JP 3174941 B2 JP3174941 B2 JP 3174941B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はカメラ等の測距装置に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring device such as a camera.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から積分回路を使った投受光タイプ
のさまざまな測距装置が提案されているが、これらは投
光回路を動作させ、その積分電圧が所定の電圧を越える
までの投光回数あるいは時間を計測することにより被写
体までの距離を算出していた。
2. Description of the Related Art Conventionally, various distance measuring devices of a light emitting / receiving type using an integrating circuit have been proposed. These devices operate a light emitting circuit and emit light until the integrated voltage exceeds a predetermined voltage. The distance to the subject was calculated by measuring the number of times or the time.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが前記のような
測距装置では、積分電圧が所定の電圧を超えるまでの時
間が予測できないので、被写体が非常に遠い場合あるい
は被写体からの反射光が非常に小さい場合などは測距に
時間がかかり過ぎてしまい、シャッターチャンスを逃し
てしまったり、動被写体の撮影や連写時に非常に不利で
あった。
However, in the distance measuring device as described above, the time until the integrated voltage exceeds a predetermined voltage cannot be predicted. Therefore, when the subject is very far or the reflected light from the subject is very small. When the distance is small, the distance measurement takes too much time, so that a shutter chance is missed, and it is very disadvantageous when shooting a moving subject or in continuous shooting.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、本発明では、被写体へパルス光を照射する投光手段
と、前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光
する半導体位置検出素子と、前記半導体位置検出素子
出力電流を電圧に変換する電流電圧変換回路と、前記電
流電圧変換回路の出力信号を増幅する増幅回路と、前記
増幅回路の出力信号を積分する積分回路と、前記受光手
段の投光回数をカウントするカウント手段と、前記積分
回路の出力電圧が第1の所定の電圧を超えるかあるいは
前記カウント手段の出力値が所定の値を超えた場合に前
記投光動作を終了し、前記カウント手段の出力値が前記
所定の値を超えることで前記投光動作を終了した場合、
その時点での前記積分回路の出力電圧が第2の所定の電
圧に達している際にその時点での前記第1の所定電圧に
対する前記積分回路の出力電圧の比と前記カウント手段
の出力値との演算値に応じて変動する距離信号を得る演
算手段とを備えている。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a light projecting means for irradiating a subject with pulsed light, and a semiconductor for receiving light reflected by the subject when the light emitted from the light projecting means is reflected by the subject. A position detection element , a current-voltage conversion circuit that converts an output current of the semiconductor position detection element into a voltage, an amplification circuit that amplifies an output signal of the current-voltage conversion circuit, and an integration circuit that integrates an output signal of the amplification circuit. A counting means for counting the number of light projections of the light receiving means, and the light emitting means when the output voltage of the integration circuit exceeds a first predetermined voltage or the output value of the counting means exceeds a predetermined value. The light operation is completed, and the output value of the counting
When the light emitting operation is terminated by exceeding a predetermined value,
The output voltage of the integrating circuit at that time is equal to a second predetermined voltage.
Operating means for obtaining a distance signal that varies according to the calculated value of the ratio of the output voltage of the integration circuit to the first predetermined voltage at that time and the output value of the counting means when the pressure has reached Have.

【0005】[0005]

【作用】被写体への投光中に積分電圧の検知と投光回数
のカウントを同時に行い、いずれかが所定の条件を満た
した時点で測距を終了し、カウント手段の出力値が所定
の値を超えることで投光動作を終了した場合、その時点
での積分回路の出力電圧が第2の所定の電圧に達してい
る際にその時点で得られた第1の所定の電圧に対する積
分電圧の比とカウント回数との演算値に応じて変動する
距離信号を得る。
The detection of the integrated voltage and the counting of the number of times of light emission are simultaneously performed during the light emission to the subject, and when any one of the conditions is satisfied, the distance measurement is terminated, and the output value of the counting means becomes equal to the predetermined value.
When the light emission operation is terminated by exceeding the value of
The output voltage of the integrator at has reached the second predetermined voltage.
In this case, a distance signal that fluctuates according to the calculated value of the ratio of the integrated voltage to the first predetermined voltage and the count number obtained at that time is obtained.

【0006】[0006]

【実施例】本発明の構成を図1に基づいて説明する。投
光回路10は近赤外発光素子(以下IREDという)1
4を駆動するための駆動回路であり、トランジスタ1
1、抵抗12、13およびIRED14からなる。演算
回路80(以下CPUという)から投光信号が出力され
ると、IRED14は発光する。発光した光は投光レン
ズ1を通り、不図示の被写体によってその一部を反射さ
れ、反射した光の一部は受光レンズ2を通ってPSD3
に入射する。実際にはIRED14はパルス駆動され
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The configuration of the present invention will be described with reference to FIG. The light emitting circuit 10 is a near-infrared light emitting element (hereinafter referred to as IRED) 1
4 is a driving circuit for driving the transistor 1
1, the resistors 12, 13 and the IRED 14. When a light emission signal is output from the arithmetic circuit 80 (hereinafter, referred to as CPU), the IRED 14 emits light. The emitted light passes through the light projecting lens 1 and is partially reflected by a subject (not shown). A part of the reflected light passes through the light receiving lens 2 and the PSD 3
Incident on. Actually, the IRED 14 is pulse-driven.

【0007】第1の電流電圧変換回路20、第2の電流
電圧変換回路30は半導体位置検出素子3(以下PSD
という)と一体となって1つの受光回路を構成する。P
SD3に光信号が入射すると、PSD3はその強度と入
射位置に応じた電流を電流電圧変換回路20、30に出
力する。第1の電流電圧変換回路20はアンプ21と帰
還抵抗22で構成された、入力電流に比例した電圧を出
力する回路である。第2の電流電圧変換回路30はアン
プ31と帰還抵抗32とで構成され、電流電圧変換回路
20と同じ構成で、やはり信号電流に比例した電圧を出
力する。スイッチ4は電流電圧変換回路20と30のい
ずれかの出力を増幅回路40に出力する。スイッチ4は
CPU80によって制御され、遠距離側の測距を行うと
きは第1の電流電圧変換回路20側に、近距離側の測距
を行うときは第2の電流電圧変換回路30側にオンす
る。
The first current-voltage conversion circuit 20 and the second current-voltage conversion circuit 30 are provided with a semiconductor position detecting element 3 (hereinafter referred to as PSD).
To form one light receiving circuit. P
When an optical signal is incident on SD3, PSD3 outputs a current corresponding to the intensity and incident position to current / voltage conversion circuits 20, 30. The first current-voltage conversion circuit 20 is a circuit composed of an amplifier 21 and a feedback resistor 22, and outputs a voltage proportional to the input current. The second current-to-voltage conversion circuit 30 includes an amplifier 31 and a feedback resistor 32. The second current-to-voltage conversion circuit 30 has the same configuration as the current-to-voltage conversion circuit 20, and outputs a voltage proportional to the signal current. The switch 4 outputs one of the outputs of the current-voltage conversion circuits 20 and 30 to the amplification circuit 40. The switch 4 is controlled by the CPU 80, and is turned on to the first current-voltage conversion circuit 20 side for distance measurement on the long distance side, and to the second current-voltage conversion circuit 30 side for distance measurement on the short distance side. I do.

【0008】第1の増幅回路40と第2の増幅回路50
は、ゲイン切換の可能な増幅回路である。これらの増幅
回路は同様な構成なので、第1の増幅回路40を例にと
って説明する。増幅回路40の前にはコンデンサ5が接
続され、入力信号の直流分はここでカットされる。増幅
回路40はアンプ41と、3つの帰還抵抗と、それらの
抵抗をオンまたはオフするスイッチ46とスイッチ47
で構成された、入力信号をある一定のゲインで増幅する
回路である。スイッチ46とスイッチ47はCPU80
によって制御される。スイッチ46は帰還抵抗45を、
スイッチ47は帰還抵抗44と帰還抵抗45とをそれぞ
れ短絡または解放するので、これらのスイッチの状態に
よりアンプ41のゲインが段階的に変化する。したがっ
て信号電流から電圧への変換も、この変化したゲインに
応じて行われ、後段の回路に出力される。第2の増幅回
路50もまったく同様な動作をし、CPU80はスイッ
チ56とスイッチ57を操作して適切なゲインを設定
し、それにしたがって増幅回路40の出力した信号の増
幅が行われる。増幅回路50の出力信号はスイッチ7を
経て積分回路60に出力される。
A first amplifier circuit 40 and a second amplifier circuit 50
Is an amplifier circuit capable of switching gain. Since these amplifier circuits have the same configuration, the first amplifier circuit 40 will be described as an example. The capacitor 5 is connected before the amplifier circuit 40, and the direct current component of the input signal is cut here. The amplifier circuit 40 includes an amplifier 41, three feedback resistors, and switches 46 and 47 for turning on or off the resistors.
And a circuit for amplifying the input signal with a certain gain. The switches 46 and 47 are connected to the CPU 80
Is controlled by The switch 46 includes a feedback resistor 45,
The switch 47 short-circuits or releases the feedback resistor 44 and the feedback resistor 45, respectively, so that the gain of the amplifier 41 changes stepwise according to the state of these switches. Therefore, the conversion from the signal current to the voltage is also performed according to the changed gain, and is output to the subsequent circuit. The second amplifier circuit 50 operates in exactly the same way, and the CPU 80 operates the switches 56 and 57 to set an appropriate gain, and the signal output from the amplifier circuit 40 is amplified accordingly. The output signal of the amplifier circuit 50 is output to the integration circuit 60 via the switch 7.

【0009】積分回路60はアンプ61、入力抵抗6
2、積分コンデンサ63、スイッチ64、電圧ホロワ6
5で構成され、入力信号を積分するための回路である。
スイッチ64がオンすると積分コンデンサ63の電荷は
放電される。積分コンデンサ63の端子間積分電圧Vi
は、電圧ホロワ65を経てADC70に出力される。A
DC70は積分電圧Viをデジタル値に変換してCPU
80に出力する。
The integrating circuit 60 includes an amplifier 61 and an input resistor 6
2, integrating capacitor 63, switch 64, voltage follower 6
5 is a circuit for integrating an input signal.
When the switch 64 is turned on, the charge of the integrating capacitor 63 is discharged. Integration voltage Vi between terminals of integration capacitor 63
Is output to the ADC 70 via the voltage follower 65. A
The DC 70 converts the integrated voltage Vi into a digital value and
Output to 80.

【0010】読み書き可能な揮発性のメモリ81(以下
RAMという)は、CPU80の演算およびカウント値
やフラグなどの一時的な記憶に使用され、読み出し可能
な不揮発性のメモリ82(以下ROMという)は、CP
U80のプログラムおよびデータの格納に使用される。
A readable and writable volatile memory 81 (hereinafter referred to as a RAM) is used for calculation of the CPU 80 and a temporary storage of count values and flags, and a readable non-volatile memory 82 (hereinafter referred to as a ROM). , CP
Used to store U80 programs and data.

【0011】次に本発明の実施例の回路の動作について
説明する。この測距ルーチンに入ると、まず図1内のす
べての回路の電源をオンする。次にRAM81の内容を
クリアし、増幅回路40と増幅回路50の最適なゲイン
を決定する。このゲイン決定の動作中に、被写体が非常
に近いかまたは被写体からの反射光が非常に大きいと判
断された場合には、RAM81中の至近フラグFnがセ
ットされるので、その場合は測距を行わずに最至近と判
定し、値Xを1とする。それから第1の電流電圧変換回
路20で測距し、次の式(1)で与えられる値XfをR
AM81の適切なアドレスに保存する。
Next, the operation of the circuit according to the embodiment of the present invention will be described. When entering this distance measurement routine, first, the power supplies of all the circuits in FIG. 1 are turned on. Next, the contents of the RAM 81 are cleared, and optimal gains of the amplifier circuits 40 and 50 are determined. If it is determined that the subject is very close or the reflected light from the subject is very large during the operation of determining the gain, the closest flag Fn in the RAM 81 is set. Without performing this, it is determined that the distance is closest, and the value X is set to 1. Then, the distance is measured by the first current-voltage conversion circuit 20, and the value Xf given by the following equation (1) is calculated by R
Store it in the appropriate address of AM81.

【0012】 Xf=Nf・V3/Vi (1) それから第2の電流電圧変換回路30で測距し、次の式
(2)で与えられる値XnをRAM81の適切なアドレ
スに保存する。
Xf = Nf · V3 / Vi (1) Then, the distance is measured by the second current-voltage conversion circuit 30 and the value Xn given by the following equation (2) is stored in an appropriate address of the RAM 81.

【0013】 Xn=Nn・V3/Vi (2) この第1および第2の測距の実行中に、被写体が非常に
遠いかまたは被写体からの反射光が非常に小さいと判断
された場合には、RAM81中の無限遠フラグFfがセ
ットされるので、その場合は無限遠と判定し、値Xを
0.5とする。以上で測距動作を終了すると、無限遠フ
ラグFfがセットされていれば無限遠、至近フラグFn
がセットされていれば至近、いずれでもなければRAM
81に保存されている回数NfおよびNnを用いて、次
のような式(3)で与えられる値Xを算出する。
Xn = Nn · V3 / Vi (2) When it is determined that the subject is very far or the reflected light from the subject is very small during the execution of the first and second distance measurement. Since the infinity flag Ff in the RAM 81 is set, in this case, it is determined to be infinity, and the value X is set to 0.5. When the distance measuring operation is completed, the infinity flag and the close distance flag Fn are set if the infinity flag Ff is set.
Is set, RAM is set if none is set
Using the number of times Nf and Nn stored in 81, a value X given by the following equation (3) is calculated.

【0014】 X=Xf/(Xf+Xn) (3) 値Xが定まると、それによって一義的に定まるROM8
2のアドレスを参照して(図6)、被写体までの距離を
得る。最後にモータ83を制御しレンズ鏡筒84を合焦
位置まで駆動した後、測距回路の電源をオフして、この
ルーチンを抜ける。
X = Xf / (Xf + Xn) (3) When the value X is determined, the ROM 8 uniquely determined by the value X is determined.
With reference to the address 2 (FIG. 6), the distance to the subject is obtained. Finally, after controlling the motor 83 to drive the lens barrel 84 to the in-focus position, the power supply of the distance measuring circuit is turned off, and the routine exits.

【0015】次に、第1の増幅回路40と第2の増幅回
路50のゲイン決定の動作を図2を使って詳細に説明す
る。最初にCPU80はスイッチ4を電流電圧変換回路
20側にオンする。それからスイッチ64をオンし、積
分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させる(図
2のa)。十分に電荷を放電した後、スイッチ64をオ
フし(図2のb)、クリア信号CRを発生して回数Nf
を0にクリアする(図2のc)。そしてCPU80は投
光回路10を動作させ、投光信号EMを発生してIRE
D14を駆動し投光を開始する(図2のd)。投光開始
に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影響
とを軽減するため、投光後時間T1を経過してからスイ
ッチ7をオンし、時間T2の間だけ積分する(図2の
e)。それが終わると投光を停止すると共にスイッチ7
をオフして(図2のf)、時間T3の間だけ待機し、カ
ウントアップ信号CUを発生して回数Nfに1を加える
(図2のg)。
Next, the operation of determining the gain of the first amplifier circuit 40 and the second amplifier circuit 50 will be described in detail with reference to FIG. First, the CPU 80 turns the switch 4 on to the current-voltage conversion circuit 20 side. Then, the switch 64 is turned on to discharge the electric charge accumulated in the integration capacitor 63 (FIG. 2A). After sufficiently discharging the electric charge, the switch 64 is turned off (FIG. 2B), and the clear signal CR is generated and the number Nf of times is increased.
Is cleared to 0 (c in FIG. 2). Then, the CPU 80 operates the light emitting circuit 10 to generate the light emitting signal EM and
D14 is driven to start light emission (d in FIG. 2). In order to secure the rise time of each amplifier at the start of light emission and reduce the influence of power supply fluctuation, the switch 7 is turned on after the time T1 has elapsed after light emission, and integration is performed only during the time T2 (FIG. 2). e). When it is over, stop the light emission and switch 7
Is turned off (f in FIG. 2), and waits for a time T3, generates a count-up signal CU and adds 1 to the number Nf (g in FIG. 2).

【0016】以上の動作をあらかじめ決められた回数N
g(たとえば10回)だけ繰り返した後、積分コンデン
サ63の端子間電圧すなわち積分電圧ViをADC70
に出力し、ADC70は、その結果をデジタル信号に変
換してCPU80に出力する。CPU80は、ADC7
0の出力が電圧V1より大きければ(図2のh)、スイ
ッチ46をオンし(図2のi)、もし電圧V1以下であ
れば最適なゲインに達したものとみなす。以下同様に、
積分動作と比較演算とをくり返し、ADC70の出力が
電圧V1より大きいならスイッチ56、47、57の順
でオンする。もしもすべてのスイッチをオンしてもまだ
電圧V1より大きいならば至近フラグFnをセットす
る。これで増幅回路全体としてのゲインが定まったこと
になる。図3には4回目のゲイン決定動作で、つまりス
イッチ46、56、47がオンした状態で、最適なゲイ
ンが得られた場合を示した。
The above operation is performed a predetermined number of times N
g (for example, 10 times), the voltage between the terminals of the integration capacitor 63, that is, the integration voltage Vi is changed to the ADC 70.
The ADC 70 converts the result into a digital signal and outputs it to the CPU 80. The CPU 80 includes the ADC 7
If the output of 0 is higher than the voltage V1 (h in FIG. 2), the switch 46 is turned on (i in FIG. 2). If the output is equal to or lower than the voltage V1, it is considered that the optimum gain has been reached. Similarly,
The integration operation and the comparison operation are repeated. If the output of the ADC 70 is higher than the voltage V1, the switches 56, 47, and 57 are turned on in this order. If the voltage is still higher than the voltage V1 even if all the switches are turned on, the close flag Fn is set. Thus, the gain of the entire amplifier circuit is determined. FIG. 3 shows a case where an optimum gain is obtained in the fourth gain determination operation, that is, in a state where the switches 46, 56, and 47 are turned on.

【0017】次に、第1の電流電圧変換回路20による
測距を図4に基づいて詳細に説明する。最初にスイッチ
4を電流電圧変換回路20側にオンする(図4のa)。
次にスイッチ64をオンし、積分コンデンサ63にたま
っている電荷を放電させてからスイッチ64をオフする
(図4のb)。これで積分コンデンサ63の両端の電位
差は0になる。そしてクリア信号CRを発生して回数N
fを0にクリアする(図4のc)。そしてCPU80は
投光回路10を動作させ、投光信号EMを発生してIR
ED14を駆動し投光を開始する(図4のd)。投光開
始に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影
響とを軽減するため、投光後時間T1を経過してから積
分回路を時間T2の間だけ動作させる(図4のe)。そ
れが終わると投光・積分を停止して(図4のf)、時間
T3の間だけ待機し、カウントアップ信号CUを発生し
て回数Nfに1を加える(図4のg)。続いて回数Nf
が回数Nfm(たとえば300回)に達せずかつ積分電
圧Viが電圧V3に達しない場合には、CPU80は以
上の図4d〜gの動作を繰り返しながら回数Nfを加算
していき、もし回数Nfが回数Nfmに達してもなお積
分電圧Viが電圧V2に達しない場合には、RAM81
中の無限遠フラグFfをセットし、達していれば値Xf
を算出して終了する。また回数Nfが回数Nfmに達し
ていなくても、積分電圧Viが電圧V3に達している場
合(図4のh)には、やはり値Xfを算出して終了す
る。
Next, the distance measurement by the first current / voltage conversion circuit 20 will be described in detail with reference to FIG. First, the switch 4 is turned on to the current-voltage conversion circuit 20 side (a in FIG. 4).
Next, the switch 64 is turned on to discharge the electric charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (b in FIG. 4). Thus, the potential difference between both ends of the integration capacitor 63 becomes zero. Then, the clear signal CR is generated and the number of times N
Clear f to 0 (c in FIG. 4). Then, the CPU 80 operates the light emitting circuit 10 to generate a light emitting signal EM and
The ED 14 is driven to start light emission (d in FIG. 4). In order to secure the rise time of each amplifier at the start of light emission and reduce the influence of power supply fluctuation, the integration circuit is operated only for the time T2 after the time T1 has elapsed after the light emission (e in FIG. 4). After that, the light emission / integration is stopped (f in FIG. 4), and the apparatus stands by for a time T3, generates a count-up signal CU, and adds 1 to the number Nf (g in FIG. 4). Subsequently, the number of times Nf
Does not reach the number of times Nfm (for example, 300 times) and the integrated voltage Vi does not reach the voltage V3, the CPU 80 adds the number of times Nf while repeating the above operations of FIGS. If the integrated voltage Vi does not reach the voltage V2 even after the number of times Nfm has been reached, the RAM 81
Set the middle infinity flag Ff, and if it has reached the value Xf
Is calculated and the processing ends. Even if the number Nf has not reached the number Nfm, if the integrated voltage Vi has reached the voltage V3 (h in FIG. 4), the value Xf is calculated again and the processing is terminated.

【0018】同様に、第2の電流電圧変換回路30でも
測距を行う。最初にスイッチ4を電流電圧変換回路30
側にをオンする(図4のi)。次にスイッチ64をオン
し(図4のj)、積分コンデンサ63にたまっている電
荷を放電させてから、スイッチ64をオフする(図4の
k)。そしてクリア信号CRを発生して回数Nnを0に
クリアする(図4のl)。続いて投光を繰り返しながら
回数Nnを加算していき(図4のm)、回数Nnが回数
Nnm(たとえば700回)に達するか、積分電圧Vi
が電圧V3に達するまで続け、その結果によって値Xn
を算出するか、あるいは無限遠フラグFfをセットして
終了する。
Similarly, the second current-voltage conversion circuit 30 measures the distance. First, the switch 4 is connected to the current / voltage conversion circuit 30.
Is turned on (i in FIG. 4). Next, the switch 64 is turned on (j in FIG. 4) to discharge the electric charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (k in FIG. 4). Then, a clear signal CR is generated to clear the number Nn to 0 (l in FIG. 4). Subsequently, the number of times Nn is added while repeating the light projection (m in FIG. 4), and the number of times Nn reaches the number of times Nnm (for example, 700 times) or the integration voltage Vi.
Until the voltage reaches the voltage V3, and as a result, the value Xn
Or set the infinity flag Ff and terminate.

【0019】以上に説明した増幅回路40,50のゲイ
ン決定動作の開始から、第2の電流電圧変換回路による
測距の終了までの一連の動作の最中の要部の動きを図5
のタイミングチャートに示した。
FIG. 5 shows the movement of the main part during a series of operations from the start of the gain determination operation of the amplifier circuits 40 and 50 described above to the end of the distance measurement by the second current-voltage conversion circuit.
The timing chart is shown in FIG.

【0020】以上が本実施例における回路の動作であ
る。以上の動作をフローチャートで表わすと図7〜図1
0のようになる。まず、メインルーチンを図7に基づい
て説明する。この測距ルーチンに入ると、CPU80は
測距回路全体の電源をオンし(#001)、各スイッチ
を設定する(#002)。次にRAM81の内容をクリ
アする(#003)。そして増幅回路40と増幅回路5
0のゲインを決定し(#004)、至近フラグFnの状
態を確認し(#005)、もし至近フラグFnがセット
されていれば値Xを1(最至近に相当する)に設定し
(#006)#013にジャンプする。もし至近フラグ
Fnがセットされていなければ、第1の電流電圧変換回
路20で測距し(#00)、それから無限遠フラグF
fの状態を確認し(#008)、セットされていれば値
Xを0.5(無限遠に相当する)に設定し(#00
9)、#013にジャンプする。続いて第2の電流電圧
変換回路30で測距し(#010)、それから無限遠フ
ラグFfの状態を確認し(#011)、セットされてい
れば値Xを0.5(無限遠に相当する)に設定し(#0
09)、#013にジャンプする。
The above is the operation of the circuit in this embodiment. FIG. 7 to FIG.
It will be like 0. First, the main routine will be described with reference to FIG. When entering the distance measuring routine, the CPU 80 turns on the power of the entire distance measuring circuit (# 001) and sets each switch (# 002). Next, the contents of the RAM 81 are cleared (# 003). Then, the amplification circuit 40 and the amplification circuit 5
A gain of 0 is determined (# 004), the state of the close flag Fn is confirmed (# 005), and if the close flag Fn is set, the value X is set to 1 (corresponding to the closest).
(# 006) Jump to # 013. If one has yet to be set close flag Fn, and the distance measurement in the first current-voltage conversion circuit 20 (# 00 7), then infinity flag F
The state of f is confirmed (# 008), and if set, the value X is set to 0.5 (corresponding to infinity) (# 00).
9) Jump to # 013. Subsequently, the distance is measured by the second current-voltage conversion circuit 30 (# 010), the state of the infinity flag Ff is confirmed (# 011), and if it is set, the value X is set to 0.5 (corresponding to infinity). (# 0)
09), jump to # 013.

【0021】サブルーチン#007と#010の操作で
得られた値Xfと値Xnから、値Xを算出する(#01
2)。その結果値Xによって一義的に定まるROM82
のアドレスを参照して、被写体までの距離を求める(#
013)。モータ83を制御しレンズ鏡筒84を合焦位
置まで駆動した後(#014)、最後に測距回路の電源
をオフし(#015)、このルーチンを抜ける。
A value X is calculated from the values Xf and Xn obtained by the operations of the subroutines # 007 and # 010 (# 01
2). As a result, the ROM 82 uniquely determined by the value X
Find the distance to the subject by referring to the address of (#
013). After the motor 83 is controlled to drive the lens barrel 84 to the in-focus position (# 014), the power of the distance measuring circuit is finally turned off (# 015), and the process exits from this routine.

【0022】次に、各サブルーチン内での動作を説明す
る。まず、後段の増幅回路(増幅回路40、増幅回路5
0)のゲイン決定のサブルーチンを図8に基づいて説明
する。後段の増幅回路のゲイン決定のサブルーチンに入
ると、CPU80はスイッチ4を電流電圧変換回路20
側にオンし(#101)、回数Nsを0にクリアし(#
102)、スイッチ64をオンし積分コンデンサ63に
たまっている電荷を放電させてからスイッチ64をオフ
し(#103)、クリア信号CRを発生して回数Neを
0にクリアする(#104)。
Next, the operation in each subroutine will be described. First, the amplification circuit (amplification circuit 40, amplification circuit 5
The subroutine of 0) gain determination will be described with reference to FIG. When the CPU 80 enters the subroutine for determining the gain of the subsequent amplification circuit, the CPU 80 switches the switch 4 to the current-voltage conversion circuit 20.
Side (# 101), and clears the number Ns to 0 (# 101).
102), the switch 64 is turned on to discharge the electric charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (# 103). The clear signal CR is generated to clear the number Ne to 0 (# 104).

【0023】続いてCPU80は投光信号EMを発生
し、投光回路10を動作して投光を始め(#105)、
時間T1だけ待機する(#106)と、スイッチ7をオ
ンし、積分動作をしながら(#107)、時間T2だけ
待機する。この間積分コンデンサ63には電荷が貯えら
れる(#108)。それから投光回路10の動作を止め
て投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終
えて(#109)、カウントアップ信号CUを発生して
回数Neに1を加える(#110)。回数Neがあらか
じめ決められた回数Ng未満ならば#105にジャンプ
する(#111)。回数Nfが回数Ngに達したらCP
U80はスイッチ7をオフし、ADC70を通じて積分
電圧Viを読み込む(#112)。CPU80は積分電
圧Viを電圧V1とを比較し(#113)、電圧V1以
下であればメインルーチンに戻る。
Subsequently, the CPU 80 generates a light emitting signal EM, operates the light emitting circuit 10 and starts emitting light (# 105).
When the operation waits for the time T1 (# 106), the switch 7 is turned on, and the operation waits for the time T2 while performing the integration operation (# 107). During this time, charge is stored in the integration capacitor 63 (# 108). Then, the operation of the light emitting circuit 10 is stopped to end the light emitting operation, the switch 7 is turned off and the integrating operation is finished (# 109), a count-up signal CU is generated and 1 is added to the number Ne (# 110). . If the number Ne is less than the predetermined number Ng, the process jumps to # 105 (# 111). CP when the number Nf reaches the number Ng
U80 turns off the switch 7 and reads the integrated voltage Vi through the ADC 70 (# 112). The CPU 80 compares the integrated voltage Vi with the voltage V1 (# 113), and returns to the main routine if the voltage is equal to or lower than the voltage V1.

【0024】積分電圧Viが電圧V1より大きかった場
合、回数Nsが0ならば(#114)、スイッチ46を
(#115)、回数Nsが1ならば(#116)、スイ
ッチ56を(#117)、回数Nsが2ならば(#11
8)、スイッチ47を(#119)、回数Nsが3なら
ば(#120)、スイッチ57を(#121)、それぞ
れオンし、回数Nsに1を加えて(#122)、#10
に戻る。もし回数Nsが0から3のいずれでもなけれ
ば至近フラグFnをセットし(#12)、このサブル
ーチンを抜け、メインルーチンに戻る。
When the integral voltage Vi is higher than the voltage V1, if the number Ns is 0 (# 114), the switch 46 is turned on (# 115). If the number Ns is 1 (# 116), the switch 56 is turned on (# 117). ), If the number Ns is 2 (# 11
8), the switch 47 is turned on (# 119), and if the number Ns is 3 (# 120), the switch 57 is turned on (# 121), and 1 is added to the number Ns (# 122), and # 10
Return to 3 . If the number Ns is not any one of 0 to 3, the close flag Fn is set (# 12 3 ), the process exits this subroutine, and returns to the main routine.

【0025】次に、第1の電流電圧変換回路20による
値Xfの算出のサブルーチンを図9に基づいて説明す
る。電流電圧変換回路20による測距のサブルーチンに
入ると、スイッチ4を第1の電流電圧変換回路20側に
オンし(#201)、クリア信号CRを発生して回数N
fを0にクリアし(#202)、スイッチ64をオンし
積分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させてか
らスイッチ64をオフする(#203)。
Next, a subroutine for calculating the value Xf by the first current / voltage conversion circuit 20 will be described with reference to FIG. When the subroutine of the distance measurement by the current / voltage conversion circuit 20 is started, the switch 4 is turned on to the first current / voltage conversion circuit 20 side (# 201), the clear signal CR is generated and the number of times N is increased.
f is cleared to 0 (# 202), the switch 64 is turned on to discharge the electric charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (# 203).

【0026】続いてCPU80は投光信号EMを出力
し、投光回路10を動作して投光を始め(#204)、
時間T1だけ待機すると(#205)、スイッチ7をオ
ンし積分動作をしながら(#206)、時間T2だけ待
機する(#207)。この間積分コンデンサ63には電
荷が貯えられる。それから投光回路10の動作を止めて
投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終え
て(#208)、カウントアップ信号CUを発生して回
数Nfに1を加える(#209)。ここで回数NfをN
fmと比較し(#210)、回数NfがNfmより大き
ければ積分電圧ViをV2と比較し(#211)、積分
電圧ViがV2よりも小さければ無限遠フラグFfをセ
ットし(#212)、Viと等しいか大きければ値Xf
を算出し(#213)、メインルーチンに戻る。回数N
fがNfmより小さいとCPU80は積分電圧ViとV
3とを比較し(#214)、積分電圧ViがV3以下で
あれば#20にジャンプし、電圧Vよりも大きけれ
ば値Xfを算出し(#213)、メインルーチンに戻
る。
Subsequently, the CPU 80 outputs the light emitting signal EM, operates the light emitting circuit 10 and starts emitting light (# 204).
When waiting for the time T1 (# 205), the switch 7 is turned on to perform the integration operation (# 206), and then waits for the time T2 (# 207). During this time, charge is stored in the integration capacitor 63. Then, the operation of the light emitting circuit 10 is stopped to end the light emitting operation, the switch 7 is turned off and the integrating operation is ended (# 208), and a count-up signal CU is generated and 1 is added to the number of times Nf (# 209). . Here, the number of times Nf is N
fm (# 210). If the number Nf is greater than Nfm, the integrated voltage Vi is compared with V2 (# 211). If the integrated voltage Vi is smaller than V2, the infinity flag Ff is set (# 212). Value Xf if equal to or greater than Vi
Is calculated (# 213), and the process returns to the main routine. Number N
If f is smaller than Nfm, the CPU 80 sets the integrated voltages Vi and V
3 and compares the (# 214), the integration voltage Vi is jump to # 20 4 If V3 less, greater than the voltage V 3 calculates a value Xf (# 213), the flow returns to the main routine.

【0027】次に、第2の電流電圧変換回路30による
値Xnの算出のサブルーチンを、図10に基づいて説明
する。電流電圧変換回路30による測距のサブルーチン
に入ると、スイッチ4を第2の電流電圧変換回路30側
にオンし(#301)、クリア信号CRを発生して回数
Nnを0にクリアし(#302)、スイッチ64をオン
し積分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させて
からスイッチ64をオフする(#303)。
Next, a subroutine for calculating the value Xn by the second current / voltage conversion circuit 30 will be described with reference to FIG. When a subroutine for distance measurement by the current-voltage conversion circuit 30 is entered, the switch 4 is turned on to the second current-voltage conversion circuit 30 (# 301), a clear signal CR is generated, and the number Nn is cleared to 0 (##). 302), the switch 64 is turned on to discharge the electric charge accumulated in the integration capacitor 63, and then the switch 64 is turned off (# 303).

【0028】続いてCPU80は投光信号EMを出力
し、投光回路10を動作して投光を始め(#304)、
時間T1だけ待機すると(#305)、スイッチ7をオ
ンし積分動作をしながら(#306)、時間T2だけ待
機する(#307)。この間積分コンデンサ63には電
荷が貯えられる。それから投光回路10の動作を止めて
投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終え
て(#308)、カウントアップ信号CUを発生して回
数Nnに1を加える(#309)。ここで回数NnをN
nmと比較し(#310)、回数NnがNnmより大き
ければ積分電圧ViをV2と比較し(#311)、積分
電圧ViがV2よりも小さければ無限遠フラグFfをセ
ットし(#312)、V2と等しいか大きければ値Xn
を算出し(#313)、メインルーチンに戻る。回数N
nがNnmより大きくなければCPU80は積分電圧V
iとV3とを比較し(#314)、積分電圧ViがV3
以下であれば#30にジャンプし、V3よりも大きけ
れば値Xnを算出し(#313)、メインルーチンに戻
る。以上の動作により、被写体までの距離が測定され
る。
Subsequently, the CPU 80 outputs a light emitting signal EM, operates the light emitting circuit 10 and starts emitting light (# 304).
After waiting for the time T1 (# 305), the switch 7 is turned on to perform the integration operation (# 306), and then waits for the time T2 (# 307). During this time, charge is stored in the integration capacitor 63. Then, the operation of the light projecting circuit 10 is stopped to end the light projecting operation, the switch 7 is turned off, the integration operation is finished (# 308), the count-up signal CU is generated, and 1 is added to the number Nn (# 309). . Here, the number Nn is N
nm (# 310). If the number Nn is greater than Nnm, the integrated voltage Vi is compared with V2 (# 311). If the integrated voltage Vi is smaller than V2, the infinity flag Ff is set (# 312). Value Xn if equal to or greater than V2
Is calculated (# 313), and the process returns to the main routine. Number N
If n is not larger than Nnm, the CPU 80 sets the integrated voltage V
i is compared with V3 (# 314), and the integrated voltage Vi is V3
It jumps to # 30 4 equal to or less than, greater than V3 to calculate the value Xn (# 313), the flow returns to the main routine. With the above operation, the distance to the subject is measured.

【0029】以上の実施例では回数Nfm、Nnm、電
圧V3は固定となっているが、回数NfmおよびNnm
を小さめに設定するか、あるいは電圧V3を低めに設定
することでより高速な測距ができるので、レリーズスイ
ッチのオンから撮影までの時間が短くなり、連写撮影の
スピードを上げることができる。測距を終了する積分電
圧を変えることができるため、通常の撮影ならば高め
に、連写時には低めに設定するなどの処理によって、状
況に応じてより適切な撮影を行うことができる。
In the above embodiment, the number of times Nfm and Nnm and the voltage V3 are fixed.
By setting a small value or setting the voltage V3 to a low value, a faster distance measurement can be performed, so that the time from when the release switch is turned on to when the shooting is performed is shortened, and the speed of the continuous shooting can be increased. Integral power to end ranging
The pressure can be changed, so it is higher for normal shooting
In the case of continuous shooting, set the
More appropriate shooting can be performed according to the situation.

【0030】[0030]

【発明の効果】本発明のカメラ用測距装置では、積分回
路の出力電圧が第1の所定の電圧を超えた場合およびカ
ウント手段の出力値が所定の値を超えた場合に投光動作
を終了し、カウント手段の出力値が所定の値を超えるこ
とで投光動作を終了した場合、その時点での積分回路の
出力電圧が第2の所定の電圧に達している際にその時点
での所定電圧に対する積分回路の出力電圧の比とカウン
ト手段の出力値との演算値に応じて変動する距離信号を
得るので、測距時間が必要以上に長くなるのを防ぐこと
ができる。よって全体の測距時間を短縮することがで
き、シャッタチャンスに対しても有利になる。
According to the camera distance measuring apparatus of the present invention, the integration
If the output voltage of the circuit exceeds a first predetermined voltage and
Light emission operation when the output value of the counting means exceeds a predetermined value.
Is completed, and the output value of the counting means exceeds a predetermined value.
When the light emission operation is completed with
When the output voltage has reached the second predetermined voltage,
And the ratio of the output voltage of the integrating circuit to the predetermined voltage at
Distance signal that fluctuates according to the output value of the
Since obtaining, possible to prevent the distance measurement time is longer than necessary
Can be. Therefore, the entire distance measurement time can be shortened, which is advantageous for a photo opportunity.

【0031】また、積分回路の出力電圧が所定の電圧を
超えるかあるいはカウント手段の出力値が所定の値を超
えた場合に投光動作を終了し、その時点での所定の電圧
に対する積分回路の出力電圧の比とカウント手段の出力
値との演算値に応じて変動する距離信号を得る。
Further, the output voltage of the integrating circuit is a predetermined voltage.
Exceeding or the output value of the counting means exceeds a predetermined value
The light emission operation is terminated when the
Of the output voltage of the integrating circuit to the output of the counting means
Obtain a distance signal that fluctuates according to the calculated value.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例の積分動作を説明する動作図で
ある。
FIG. 2 is an operation diagram illustrating an integration operation according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例のゲイン決定時の一連の動作を
を説明する動作図である。
FIG. 3 is an operation diagram illustrating a series of operations when determining a gain according to the embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施例の回数NfとNnの算出方法を
説明する動作図である。
FIG. 4 is an operation diagram illustrating a method of calculating the number of times Nf and Nn according to the embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施例の測距時の一連の動作をを説明
する動作図である。
FIG. 5 is an operation diagram illustrating a series of operations at the time of distance measurement according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の実施例の値Xから距離を求めるROM
82上のテーブルである。
FIG. 6 is a ROM for calculating a distance from a value X according to the embodiment of the present invention;
82 is a table.

【図7】本発明の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。
FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the embodiment of the present invention.

【図8】図7のフローチャートの増幅回路40およひ増
幅回路50のゲイン決定の部分のサブルーチンを示すフ
ローチャートである。
8 is a flowchart showing a subroutine of a part for determining a gain of the amplifier circuit 40 and the amplifier circuit 50 in the flowchart of FIG. 7;

【図9】図7のフローチャートの第1の電流電圧変換回
路20による測距の部分のサブルーチンを示すフローチ
ャートである。
9 is a flowchart showing a subroutine of a distance measurement part by the first current / voltage conversion circuit 20 in the flowchart of FIG. 7;

【図10】図7のフローチャートの第2の電流電圧変換
回路30による測距の部分のサブルーチンを示すフロー
チャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing a subroutine of a distance measurement part by the second current / voltage conversion circuit 30 in the flowchart of FIG. 7;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3 PSD 10 投光回路 14 IRED 20、30 電流電圧変換回路 40、50 増幅回路 60 積分回路 80 演算回路(CPU) Reference Signs List 3 PSD 10 Floodlight circuit 14 IRED 20, 30 Current / voltage conversion circuit 40, 50 Amplification circuit 60 Integration circuit 80 Operation circuit (CPU)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−908(JP,A) 特開 平4−353713(JP,A) 特開 昭61−289313(JP,A) 特開 昭59−201007(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 7/28 - 7/40 G03B 3/00 - 3/12 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-62-908 (JP, A) JP-A-4-353713 (JP, A) JP-A-61-289313 (JP, A) JP-A-59-1985 201007 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G02B 7/ 28-7/40 G03B 3/00-3/12

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被写体へパルス光を照射する投光手段
と、 前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光する
半導体位置検出素子と、 前記半導体位置検出素子の出力電流を電圧に変換する電
流電圧変換回路と、 前記電流電圧変換回路の出力信号を増幅する増幅回路
と、 前記増幅回路の出力信号を積分する積分回路と、 前記受光手段の投光回数をカウントするカウント手段
と、 前記積分回路の出力電圧が第1の所定の電圧を超えるか
あるいは前記カウント手段の出力値が所定の値を超えた
場合に前記投光動作を終了し、前記カウント手段の出力
値が前記所定の値を超えることで前記投光動作を終了し
た場合、その時点での前記積分回路の出力電圧が第2の
所定の電圧に達している際にその時点での前記第1の
定電圧に対する前記積分回路の出力電圧の比と前記カウ
ント手段の出力値との演算値に応じて変動する距離信号
を得る演算手段とを有することを特徴とするカメラ用測
距装置。
1. A light projecting means for irradiating a subject with pulsed light, and a light emitted from the light projecting means reflected by the subject is received.
A semiconductor position detection element ; a current-voltage conversion circuit that converts an output current of the semiconductor position detection element into a voltage; an amplification circuit that amplifies an output signal of the current-voltage conversion circuit; and an integration that integrates an output signal of the amplification circuit. A circuit; a counting means for counting the number of light projections of the light receiving means; and if the output voltage of the integration circuit exceeds a first predetermined voltage or the output value of the counting means exceeds a predetermined value, Ends the light emission operation and outputs the output of the counting means.
When the value exceeds the predetermined value, the light emitting operation ends.
The output voltage of the integrating circuit at that time
A distance which varies according to a calculated value of a ratio of an output voltage of the integration circuit to the first predetermined voltage at the time when the voltage has reached a predetermined voltage and an output value of the counting means. A distance measuring device for a camera, comprising: arithmetic means for obtaining a signal.
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