JP3174681B2 - 情報処理装置の試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の試験装
置に関し、特にランダム命令生成，試験項目毎のランダ
ム命令生成，入替被試験命令列の生成，被試験命令列の
実行結果と等価な展開被試験命令列の生成，データ収集
／比較，パイプライン制御における動作モードの変更な
どに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ランダム命令生成 従来の命令生成における出現頻度の生成制御は、被試験
命令に出現頻度の重付けを設定し、さらに重付けされた
値分の被試験命令を展開したテーブルを作成し、該被試
験命令テーブルから、乱数に基づきランダムな被試験命
令を選択し、生成している。

【０００３】試験システムは、出現頻度の重付けに従っ
て被試験命令をランダムに生成する手段と、被試験命令
の実行環境を変化させる手段とを有し、通常状態で被試
験命令を実行した結果と，実行環境を変化させた状態の
下で被試験命令を実行した結果とを比較していた。

【０００４】図２３は従来の技術を説明する図である。
同図において、１はランダム命令生成機構、２は生成命
令制御テーブル、３は被試験命令テーブル作成部、４は
被試験命令テーブル、５は命令生成処理部、６はランダ
ム選択部、７は実行環境設定制御部、８は制御ルーチン
起動制御部、９は結果比較制御部、１０は繰返し試験制
御部、１１は初期設定、１２は実行環境設定、１３は起
動処理、１４は被試験命令列、１５は実行結果格納処理
部をそれぞれ示している。

【０００５】ランダム命令生成機構１は、生成命令制御
テーフル２，被試験命令テーブル作成部３，被試験命令
テーブル４，命令生成処理部５，ランダム選択部６など
から構成されている。生成命令制御テーブル２は、複数
の行を有し、各行には命令ＩＤ（識別子）と重みとが記
入されている。被試験命令テーブル作成部３は、生成命
令制御テーブル２の内容を参照し、被試験命令テーブル
４を作成する。図示の例では、ａ命令の重みは３である
ので、被試験命令テーブル４に３個のａ命令ＩＤを設定
し、ｂ命令の重みは２であるので、ａ命令ＩＤの並びに
続いて２個のｂ命令ＩＤを設定する。以下、図示の通り
である。

【０００６】ランダム選択部６は、被試験命令テーブル
４からランダムに命令ＩＤを取り出し、取り出した命令
ＩＤを命令生成処理部５に送る。命令生成処理部５は、
受け取った命令ＩＤにもとづいて命令コードを生成し、
これにオペランドを付加し、完全な形の命令を生成す
る。生成された命令は、被試験命令列１４に書き込まれ
る。

【０００７】実行環境設定制御部７は、制御ルーチンの
実行環境設定１２を制御する。制御ルーチン起動制御部
８は、制御ルーチンを起動する。結果比較制御部９は、
通常状態での被試験命令列１４の実行結果と，実行環境
を変化させた状態の下における被試験命令の実行結果と
を比較する。繰返し試験制御部１０は、制御ルーチンが
指定された回数だけ実行されたか否かを調べ、否の場合
には再び実行環境設定制御部７を起動する。

【０００８】制御ルーチンは、初期設定１１，実行環境
設定１２，起動処理１３，被試験命令列１４，実行結果
格納処理部１５などから構成されている。起動される
と、制御ルーチンは、初期設定１１を行い、実行環境設
定１２を行い、起動処理１３を行って被試験命令列１４
を起動し、被試験命令列１４の実行結果を実行結果格納
処理部１５に格納する。

【０００９】試験項目ごとの命令生成 従来の試験項目ごとの命令生成は、試験項目ごとに独立
して構成または人手操作により、命令の出現頻度を設定
していた。そのため、試験項目毎に独立した構成では、
命令生成設定部と出現頻度設定部とを試験項目ごとに備
えている。試験方式は、独立した命令出現頻度設定また
は命令の出現頻度の操作に従い、被試験命令をランダム
に生成し、被試験命令の実行環境を変化させながら、実
行した結果を比較することにより実現していた。

【００１０】図２４は従来の試験項目毎の命令生成を説
明する図である。同図において、101 は初期制御部、10
2 は乱数発生器、103 は出現頻度操作部、104 はランダ
ム命令生成機構、105 は出現頻度設定部、106 は命令生
成設定部、107 は実行環境設定制御部、108 は制御ルー
チン起動制御部、109 は結果比較制御部、110 は繰返し
試験制御部、111 は初期設定、112 は実行環境設定、11
3 は起動処理、114 は被試験命令列、115 は実行結果格
納処理部をそれぞれ示している。

【００１１】初期制御部101 は、乱数発生器102 と，出
現頻度操作部103 とから構成されている。出現頻度操作
部103 は、出現頻度設定部105 に記述されている命令の
出現頻度を変更する。ランダム命令生成機構104 は、出
現頻度設定部105 と，命令生成設定部106 とから構成さ
れている。乱数発生器101 からの乱数値と出現頻度設定
部105 の内容とに基づいて命令ＩＤが生成され、生成さ
れた命令ＩＤは命令生成設定部106 に送られる。命令生
成設定部106 は、送られて来た命令ＩＤに対応した命令
コードを生成し、これにオペランドを付加して完全な形
の命令を生成し、命令を被試験命令列114 に設定する。

【００１２】次に、実行環境設定制御部107 で動作モー
ドを指定し、制御ルーチン起動制御部108 により制御ル
ーチンを起動する。制御ルーチンは、初期設定111 ，実
行環境設定112 ，起動処理113 ，被試験命令列114 ，実
行結果格納処理部115 などから構成されている。次に、
結果比較制御部109 では、通常状態の実行結果格納情報
と，実行環境設定制御部107 の指示状態での実行結果格
納情報とを比較し、繰返し試験制御部110 の指示に従っ
て試験を行っている。

【００１３】実行環境の変更 従来の方式は、被試験命令をランダムに生成する手段
と，被試験命令の実行環境を変化させる手段とを備え、
通常状態で被試験命令を実行した結果と，実行環境を変
化させた状態で被試験命令を実行した結果とを比較する
ことにより試験していた。実行環境の変化には、 パイプラインの先行制御機能のオン／オフ 命令キャッシュとオペランド・キャッシュのオン／
オフ 実行モードの機構の設定（ユーザ・モード，特権モ
ードなど） などがあり、，，を制御できるハードウェア機構
を持つ情報処理装置を対象としている。

【００１４】図２５は従来の実行環境の変更を説明する
図である。同図において、201 はランダム命令生成機
構、202 は実行環境設定制御部、203 は制御ルーチン起
動制御部、204 は結果比較制御部、205 は繰返し試験制
御部、206 は初期設定、207 は実行環境設定、208 は起
動処理、209 は被試験命令列、210 は実行結果格納処理
部をそれぞれ示している。

【００１５】ランダム命令生成機構201 は、命令をラン
ダムに生成し、生成した命令を被試験命令列209 に設定
する。実行環境設定制御部202 は、被試験命令の動作モ
ードを設定する。制御ルーチン起動制御部203 は、制御
ルーチンを起動する。制御ルーチンは、初期設定206 ，
実行環境設定207 ，起動処理208 ，被試験命令列209，
実行結果格納処理部210 から構成されている。

【００１６】結果比較制御部204 では、通常状態の実行
結果格納状態と実行環境設定制御部202 の指示状態での
実行結果格納情報とを比較する。繰返し試験制御部205
では、制御ルーチンが設定回数だけ起動したか否かを調
べ、否の場合には、再び実行環境設定制御部202 を起動
する。

【００１７】被試験命令列の実行結果とシミュレーショ
ン結果の比較 従来の方式は、被試験命令をランダムに生成する手段
と，被試験命令列を実行制御する手段と，被試験命令を
シミュレーションする手段を備え、被試験命令を実行し
た結果と，被試験命令列をシミュレーションした結果と
を比較することにより試験していた。

【００１８】図２６は従来の被試験命令列の実行結果と
シミュレーション結果の比較を説明する図である。同図
において、301 はランダム命令生成機構、302 は制御ル
ーチン起動制御部、303 はシミュレーション処理ルーチ
ン起動制御部、304 は結果比較制御部、305 は初期設
定、306 は起動処理、307 は被試験命令列、308 は実行
結果格納処理部、309 は命令解析処理部、310 は命令処
理ルーチン、311 は仮想レジスタ、312 はシミュレーシ
ョン結果格納処理部をそれぞれ示している。

【００１９】ランダム命令生成機構301 は、命令をラン
ダムに生成し、生成した命令を被試験命令列に割り当て
られているメモリ領域307 に順番に格納する。制御ルー
チン起動制御部302 は、制御ルーチンを起動する。シミ
ュレーション処理ルーチン起動制御部303 は、シミュレ
ーション処理ルーチンを起動する。結果比較制御部304
は、制御ルーチンによって得られた実行結果と，シミュ
レーション処理ルーチンで得られたシミュレーション結
果とを比較する。

【００２０】制御ルーチンは、初期設定305 ，起動処理
306 ，被試験命令列307 ，実行結果格納処理部308 を有
している。シミュレーション処理ルーチンは、命令解析
処理部309 ，複数個の命令処理ルーチン310 ，仮想レジ
スタ311 ，シミュレーション結果格納処理部312 などを
有している。なお、仮想レジスタとは、アドレス変換機
構をシミュレーションする際に使用されるレジスタ（メ
モリ域）である。

【００２１】シミュレーション処理ルーチンの命令解析
処理部309 では、被試験命令列307の命令を解析し、サ
ブ・ルーチン化された命令処理ルーチン310 を実行す
る。命令シミュレーションでは、仮想レジスタ311 を使
用して、レジスタの内容をシミュレーションする。

【００２２】例えば、メモリ上の領域Ａから領域Ｂに２
５６バイトのデータを移動する命令は、領域Ａから４バ
イトのデータをロードするロード命令と，ロードしたデ
ータを領域Ｂへストアするストア命令と，転送バイト数
が２５６になったか否を調べ否の場合には上述のロード
命令にブランチするブランチ命令とに展開される。シミ
ュレーション結果格納処理部312 は、シミュレーション
結果を所定のメモリ領域に格納する。

【００２３】データ収集／比較 従来の試験方式は、ランダムな被試験命令列を生成し、
被試験命令列の実行環境を変化させながら被試験命令列
を実行し、実行結果の比較制御では、収集モードか或い
は比較モードかを判定し、実行結果情報としてレジスタ
情報と各種割込み情報とを制限された固定の格納域に設
定し、実行環境ごとの実行結果を比較することにより、
試験している。メモリ構成は、試験処理部と，被試験命
令列域と，アクセス・データ域と，正解情報格納域から
構成されている。

【００２４】図２７は従来のデータ収集／比較を説明す
る図である。同図において、401 は初期設定部、402 は
命令生成機構、403 は実行環境設定制御部、404 は試験
ルーチン起動制御部、405 は試験ルーチン、406 は初期
設定、407 は実行環境設定、408 は起動処理、409 は被
試験命令列、410 はアクセス・データ域、411 は比較制
御部、412 はモード判定部、413 は収集モード部、414
はレジスタ情報、415は割込み情報、416 は退避域、417
は比較モード部、418 はレジスタ情報、419は割込み情
報、420 は退避域、421 は比較処理、422 はエラー制
御、423 はモード変更制御部、424 は試験繰返し制御部
をそれぞれ示している。

【００２５】初期設定部401 は、試験条件の初期設定を
行っている。命令生成機構402 は、ランダムに命令を生
成し、試験ルーチン405 の被試験命令列409 に順番に設
定する。実行環境設定制御部403 では、試験ルーチン40
5 が動作する動作環境を設定する。試験ルーチン起動制
御部404 は、試験ルーチン405 の起動制御を行う。

【００２６】試験ルーチン405 は、初期設定406 と，実
行環境設定407 と，起動処理408 と，被試験命令列409
と，アクセス・データ域410 とから構成されている。試
験ルーチン405 は、モード変更制御部423 により数回実
行される。

【００２７】比較制御部411 では、モード判定部412 に
よって収集モードか或いは比較モードかを判定し、収集
モードであれば、収集モード部413 により、実行結果の
レジスタ情報414 を退避域416 のデータＡへ格納し、各
種割込み情報415 を退避域416 のデータＢへ格納し、正
解情報とする。比較モードであれば、比較モード部417
により、実行結果のレジスタ情報を退避域420 のデータ
Ｃに格納すると共に各種割込み情報419 を退避域420 の
データＤへ格納し、比較処理421 で、退避域416 のデー
タＡと退避域420 のデータＣとを比較し、退避域416 の
データＢと退避域420 のデータＤとを比較することによ
り試験を行う。

【００２８】パイプライン制御における動作モードの変
更 従来の方式では、ランダム試験プログラムの被試験命令
列を異なる制御モードの下で実行し、それらの結果を比
較することで試験を行っていた。すなわち、パイプライ
ンの先行制御を有効にして被試験命令列を非逐次的に実
行した結果と，パイプラインの先行制御を無効にして被
試験命令列を逐次的に実行した結果とを比較確認する試
験である。

【００２９】図２８は従来のパイプライン制御における
動作モードの変更を説明する図である。同図において、
501 はランダム命令生成機構、502 は制御ルーチンＡ起
動制御部（パイプラインの先行制御無効）、503 は制御
ルーチンＢ起動制御部（パイプラインの先行制御有
効）、504 は結果比較制御部、505 は初期設定、506 は
起動処理、507 は被試験命令列、508 は実行結果格納処
理部、509 は初期設定、510 は起動処理、511 は被試験
命令列、512 は実行結果格納処理部をそれぞれ示してい
る。

【００３０】図２８の従来例の動作について説明する。
ランダム命令生成機構501 により被試験命令列を生成
し、制御ルーチンＡ起動制御部502 によりパイプライン
の先行制御を無効にして被試験命令列を逐次実行し、結
果を保存する。制御ルーチンＡは、初期設定505 ，起動
処理506 ，被試験命令列507 ，実行結果格納処理部508
から構成されている。なお、パイプラインの先行制御の
有効とは、例えばストア命令の後に加算命令が配置され
ているような場合、命令実行ステージに存在するストア
命令の実行が終了していない場合でも、次の加算命令を
命令実行ステージに入れて実行させることを意味してい
る。

【００３１】次に、制御ルーチンＢ起動制御部503 によ
りパイプラインの先行制御を有効にして被試験命令列を
非逐次実行し、結果を保存する。更に、実行結果格納処
理部508 の結果格納情報と，実行結果格納処理部512 の
結果格納情報とを結果比較制御部504 で比較することに
より、試験を行っている。

【００３２】

【発明が解決しようとする課題】従来のランダム命令生
成においては、被試験命令の出現頻度が設定されている
生成命令制御テーブルから、重付け値にしたがって被試
験命令×重み値の命令コードを被試験命令テーブルに展
開しているので、展開するための被試験命令テーブルの
領域が必要であり、さらに被試験命令テーブルからラン
ダムに被試験命令を選択する制御処理が必要である。

【００３３】従来の試験項目毎のランダム命令生成で
は、共通的なテーブル・データが重複し、更に試験構成
が独立していると大規模になる。そして、命令生成テー
ブルに共通の追加・修正が発生すると、試験項目ごとの
生成値の追加・修正が必要である。更に、人手操作によ
る命令の出現頻度を操作する従来の方式では、被試験命
令に対応した命令数に対する膨大な操作が必要であり、
自動化が困難である。

【００３４】従来の被試験命令の実行環境の変更では、
実行環境を変化させる機構をハードウェア内に具備する
ことが必須条件であるため、この種の機構を備えていな
い被試験装置に対する命令組合せ試験では、上述の従来
方式を採用することが出来ない欠点がある。

【００３５】従来のシミュレーション方式では、 被試験命令の解析処理 各命令のサブルーチン化による使用レジスタのセー
ブ・リカバリー処理 仮想レジスタからのデータの読出しまたは仮想レジ
スタへのデータの書込み処理 と言ったシミュレーションの本来目的とする処理ルーチ
ン以外の実行ステップが膨大となり、試験時間を短く出
来なかった。

【００３６】従来のデータ収集／比較においては、固定
の退避域にレジスタ情報や割込み情報のみを格納してい
るので、複数個のチェック・ポイントが設定されている
大規模な試験命令列の試験の実行結果を収集することが
出来ない。また、膨大なアクセス・データ域やページ・
テーブル域を正解情報として収集することが出来ない。
そのため、チェック・ポイントが複数設定されている被
試験命令列の試験の場合には、収集できない情報がある
ため、チェック・ポイント毎の試験精度が低下すること
により、エラーが後方のチェック・ポイントに伝播し、
エラー箇所の探索に膨大な試験時間が必要となる。例え
ば、チェック・ポイントＡと，チェック・ポイントＢの
間より前の命令で、アクセス・データ域の一部を破壊
し、チェック・ポイントＡとチェック・ポイントＢの間
で、その破壊したアクセス・データを使用する命令があ
った場合のエラー発生時には、チェック・ポイントを逆
上って、エラー箇所の探索を行わなければならない。更
に構成条件として、試験処理部と正解情報格納域は、試
験対象外の領域であるため、制限された領域とし、被試
験命令列域とアクセス・データ域は大きく領域を確保す
る手法が取られているからである。

【００３７】従来のように、被試験命令列に対する実行
制御をパイプライン先行制御を有効または無効の状態の
下で行い、その実行結果を比較する試験方式では、被試
験命令列の実行に対して命令バッファ，オペランド・バ
ッファ，アドレス変換機構の状態を意図的に有効または
無効と変化させていないため、被試験命令列中の各命令
を実行するときに、命令バッファ，オペランド・バッフ
ァのヒットもしくはミス・ヒット，アドレス変換機構の
有効または無効などが固定化されることになる。すなわ
ち、先行制御の状態に関係なく、パイプライン制御に対
する周辺機構部からの干渉条件が同一となり、複雑な干
渉条件を網羅できない，と言った問題が生じていた。

【００３８】本発明の第１の目的は、出現頻度を制御す
る優先順位保持部を設けることにより、重付けにしたが
って被試験命令を展開した被試験命令テーブルを不要と
し、被試験命令列を効率的に生成できるようにすること
にある。本発明の第２の目的は、出現頻度制御手段を設
け、効果的に命令生成テーブルと接続し、１つの命令生
成テーブルで，試験項目ごとの命令生成を制御する機構
を具備することにより、試験機構の削減と、命令生成効
率の向上とを図ることにある。本発明の第３の目的は、
実行環境を変化させる機構を備えていない情報処理装置
に対する試験を効率的に行い得るようにすることにあ
る。

【００３９】本発明の第４の目的は、シミュレーション
の本来目的とするステップのみを生成して実行し、不要
なステップを削除することにより、試験効率の向上を図
ることにある。本発明の第５の目的は、複数個のチェッ
ク・ポイントが設定されていても、アクセス・データ
域，ページ・テーブル，全ハードウェア状態情報を圧縮
したデータとすることにより、チェック・ポイントにお
ける試験精度の向上を図り、試験対象外の領域である正
解情報域を大幅に削減することができ、効果的に試験効
率の向上を図ることにある。本発明の第６の目的は、ラ
ンダム試験プログラムの被試験命令列の実行制御に対
し、情報処理装置が具備するパイプライン制御を取り巻
く周辺機構の状態変化に基づいた実行結果を得ることが
可能な情報処理装置の試験方式を提供することにある。

【００４０】

【課題を解決するための手段】請求項１の情報処理装置
の試験装置は、命令ＩＤをランダムに生成する命令ＩＤ
生成手段と、ランダムに変化する順位データを保持する
優先順位保持部と、順位データが記入されている行の複
数個を有する優先順位テーブルを有する優先順位制御部
と、入力された命令ＩＤに基づいて命令を生成するラン
ダム命令生成制御部とを具備し、優先順位制御部は、命
令ＩＤに対応する優先順位テーブルの行の順位データと
優先順位保持部の順位データの間に所定の関係が成立し
ている場合には、命令ＩＤ生成手段からの命令ＩＤをラ
ンダム命令生成制御部に送り、所定の関係が成立してい
ない場合には、優先順位保持部の値を保持しながら、命
令ＩＤ生成手段に新たな命令ＩＤを生成させるよう構成
されていることを特徴とするものである。

【００４１】請求項２の情報処理装置の試験装置は、疑
似乱数発生器と、複数の試験項目の内の１つを選択する
試験項目設定制御部と、複数の命令のそれぞれに対する
出現頻度を記憶する出現頻度設定部を，試験項目ごとに
有する出現頻度制御部と、命令の生成のやり方を示す生
成データが記入された行の複数個を持つ共用命令生成テ
ーブルを有するランダム命令生成制御部とを具備し、出
現頻度制御部は、試験項目設定制御部によって選択され
た試験項目に対応する出現頻度設定部を有効とし、有効
とされた出現頻度設定部の内容および疑似乱数発生器か
らの乱数値に基づいて命令ＩＤを生成し、ランダム命令
生成制御部は、出現頻度制御部によって生成された命令
ＩＤに対応する共用命令生成テーブルの行を選択し、選
択した行の生成データと，疑似乱数発生器からの乱数値
とに基づいて、命令を生成することを特徴とするもので
ある。

【００４２】請求項３の情報処理装置の試験装置は、請
求項２の情報処理装置の試験装置において、試験項目設
定制御部は、試験項目の設定を行う設定操作部と、試験
項目に１対１に対応した試験項目制御部の複数個とを有
し、設定操作部によって設定された試験項目制御部は対
応する出現頻度設定部を有効とし、出現頻度制御部は、
有効とされた出現頻度設定部の内容および疑似乱数発生
器からの乱数値に基づいて命令ＩＤを生成することを特
徴とするものである。

【００４３】請求項４の情報処理装置の試験装置は、請
求項２の情報処理装置の試験装置において、試験項目設
定制御部は、タイマ監視部と、自動設定制御部と、試験
項目に１対１に対応した試験項目制御部の複数個とを有
し、自動設定制御部は、タイマ監視部がタイムアウトを
検出する度に、次の試験項目制御部を選択し、選択され
た試験項目制御部は、対応する出現頻度設定部を有効と
し、出現頻度制御部は、有効とされた出現頻度設定部の
内容および疑似乱数発生器からの乱数値に基づいて命令
ＩＤを生成することを特徴とするものである。

【００４４】請求項５の情報処理装置の試験装置は、ラ
ンダムに生成した命令より成る被試験命令列を生成する
ランダム命令生成機構と、被試験命令列の命令の形式情
報から前後する命令の干渉状態を解析し、試験命令列の
前後命令を不都合なく入れ換えた命令列を生成する被試
験命令列入替制御部と被試験命令列の実行結果と，入替
被試験命令列の実行結果とを比較する比較手段とを備え
ることを特徴とするものである。

【００４５】請求項６の情報処理装置の試験装置は、ラ
ンダムに生成された命令から成る被試験命令列を生成す
るランダム命令生成機構と、被試験命令列を構成する命
令のそれぞれを等価な展開命令列に変換し、変換して得
られた展開命令列の複数個から成る展開被試験命令列を
生成する被試験命令変換制御部と、被試験命令列の実行
結果と，展開被試験命令列の実行結果とを比較する比較
手段とを備えることを特徴とするものである。

【００４６】請求項７の情報処理装置の試験装置は、チ
ェック・ポイント命令が埋め込まれた被試験命令列を生
成するランダム命令生成機構と、被試験命令によってア
クセスされるアクセス・データ域と、チェック・ポイン
ト命令により起動されるチェック・ポイント制御手段と
を具備し、チェック・ポイント制御手段は、アクセス・
データ域を圧縮し、圧縮アクセス・データ域情報を所定
領域に格納する圧縮格納手段を有するとともに、圧縮ア
クセス・データ域情報を正解情報と比較する比較手段を
有することを特徴とするものである。

【００４７】請求項８の情報処理装置の試験装置は、請
求項７の情報処理装置の試験装置において、圧縮格納手
段が、アクセス・データ域を複数のサブ区画より成る区
画の複数個に分割し、各区画毎に、区画の先頭番地と，
サブ区画の大きさを示す単位データと，サブ区画毎の圧
縮データの複数個とから構成される圧縮情報を生成する
ことを特徴とするものである。

【００４８】請求項９の情報処理装置の試験装置は、チ
ェック・ポイント命令が埋め込まれた被試験命令列を生
成するランダム命令生成機構と、ページ・テーブル域
と、チェック・ポイント命令により起動されるチェック
・ポイント制御手段とを具備し、チェック・ポイント制
御手段は、ページ・テーブル域を圧縮し、圧縮ページ・
テーブル域情報を所定領域に格納する圧縮格納手段を有
すると共に、圧縮ページ・テーブル域情報を正解情報と
比較する比較手段を有することを特徴とするものであ
る。

【００４９】請求項１０の情報処理装置の試験装置は、
チェック・ポイント命令が埋め込まれた被試験命令列を
生成するランダム命令生成機構と、チェック・ポイント
命令により起動されるチェック・ポイント制御手段とを
具備し、チェック・ポイント制御手段は、全ハードウェ
ア状態情報を圧縮し、圧縮全ハードウェア状態情報を所
定領域に格納する圧縮格納手段を有すると共に圧縮全ハ
ードウェア状態情報を正解情報と比較する比較手段を有
することを特徴とするものである。

【００５０】請求項１１の情報処理装置の試験装置は、
命令をランダムに生成し被試験命令列を生成するランダ
ム命令生成機構と、ランダム命令生成機構による被試験
命令列を，命令バッファ, オペランド・バッファ，アド
レス変換機構を有効または無効に設定して実行する制御
手段と、制御手段による被試験命令列実行結果を正解情
報と比較する比較手段と、被試験命令列を実行し結果を
比較する一連の処理を，繰り返し行わせるための繰返し
試験制御手段とを備え、繰返し単位毎に、命令バッフ
ァ，オペランド・バッファ，アドレス変換機構を有効ま
たは無効にする設定を変更し、命令バッファ，オペラン
ド・バッファ，アドレス変換機構の有効または無効の全
組み合わせを試験することを特徴とするものである。

【００５１】請求項１２の情報処理装置の試験装置は、
請求項１１の情報処理装置の試験装置において、繰り返
し単位ごとに、命令バッファ，オペランド・バッファ，
アドレス変換機構を有効または無効にする設定を変更す
る制御を，特定の順序で設定することを特徴とするもの
である。

【００５２】

【作用】請求項１の情報処理装置の試験装置の作用を図
１を参照しつつ説明する。命令ＩＤ生成手段は、命令Ｉ
Ｄをランダムに生成する。優先順位保持部は、乱数発生
器（図示せず）からの乱数を保持する。

【００５３】優先順位制御部は優先順位テーブルを有し
ている。命令ＩＤ生成手段が例えばａ命令を示す命令Ｉ
Ｄを生成したと仮定すると、優先順位テーブルの第０行
（最初の行）の順位データが読み出される。

【００５４】図示の例では、第０行にはａ命令の順位デ
ータが記述されている。ａ命令の順位データの示す順位
が優先順位保持部の順位データの示す順位に等しいか又
は高い場合には、ａ命令を示す命令ＩＤがランダム命令
生成制御部に送られ、ランダム命令生成制御部によって
ａ命令が生成される。

【００５５】ａ命令の順位データの示す順位が優先順位
保持部の順位データの示す順位より低い場合には、命令
ＩＤ生成手段は、新たに命令ＩＤを生成し、優先順位制
御部に送る。例えば、順位１を示す順位データの値は１
とされ、順位２を示す順位データの値は２とされ，…，
順位Ｎ（最下位）を示す順位データの値はＮとされる。
勿論、順位１を示す順位データの値をＮとし、順位２を
示す順位データの値をＮ−２，…，順位Ｎ（最下位）を
示す順位データの値を１とすることも出来る。

【００５６】請求項２の情報処理装置の試験装置の作用
を図２を参照して説明する。例えば、試験１専用出現頻
度設定部にはレジスタ−レジスタの命令の出現頻度が多
く設定され、試験２専用出現頻度設定部にはメモリ・ア
クセスを伴う命令の出現頻度が多く設定され、試験ｎ専
用出現頻度設定部には例外を発生する命令の出現頻度が
多く設定されている。

【００５７】試験項目設定制御部が試験項目１を選択し
たと仮定すると、試験１専用出現頻度設定部が有効とさ
れ、有効とされた試験１専用出現頻度設定部の内容と疑
似乱数発生器からの乱数値に基づいて命令ＩＤがランダ
ムに生成される。生成された命令ＩＤの並びにおいて
は、レジスタ−レジスタ命令を示す命令ＩＤの割合が多
くなっている。

【００５８】生成された命令ＩＤは、ランダム命令発生
制御部に入力される。ランダム命令発生制御部は、入力
された命令ＩＤに対応して命令コードを生成し、入力さ
れた乱数に基づいてその命令コードに対するオペランド
を生成し、生成した命令コードとオペランドとより成る
命令を出力する。

【００５９】請求項３の情報処理装置の試験装置の作用
について説明する。請求項３の情報処理装置の試験装置
においては、試験項目設定制御部が試験項目の設定を行
う設定操作部（例えば操作パネル）と，試験項目に１対
１に対応した試験項目制御部の複数個とから構成されて
いる。設定操作部が試験項目１を指定すると、試験項目
１に対応した試験項目制御部が動作し、試験１専用出現
頻度設定部が有効とされる。有効とされた試験１専用出
現頻度設定部の内容と，疑似乱数発生器からの乱数値に
基づいて、命令ＩＤが生成される。

【００６０】請求項４の情報処理装置の試験装置の作用
について説明する。請求項４の情報処理装置の試験装置
においては、試験項目設定制御部がタイマ監視部と，自
動設定制御部と，試験項目に１対１に対応した試験項目
制御部の複数個とから構成されている。例えば、試験項
目１が選択されている状態の下で、タイマ監視部がタイ
ムアウトを検出すると、自動設定制御部は試験項目２を
選択する。その結果、試験２専用出現頻度設定部が有効
とされる。

【００６１】請求項５の情報処理装置の試験装置の作用
を図３を参照して説明する。ランダム命令生成機構は、
ランダムに命令を生成し、生成した命令を被試験命令列
に割り当てられたメモリ領域に順番に格納する。被試験
命令入替制御部は、被試験命令列の命令の形式情報から
前後する命令の干渉状態を解析し、被試験命令列の実行
結果と入替被試験命令列の実行結果が同じになるよう
に、被試験命令列における命令の入れ替えを行う。被試
験命令列の実行結果と入替被試験命令列の実行結果は、
比較手段により比較される。

【００６２】請求項６の情報処理装置の試験装置の作用
を図４を参照して説明する。ランダム命令生成機構は、
ランダムに命令を生成し、生成した命令を被試験命令列
に割り当てられたメモリ領域に順番に格納する。被試験
命令変換制御部は、ランダム命令生成機構によって生成
される命令と等価な命令列を生成し、生成した命令列を
展開被試験命令列に割り当てられているメモリ領域に順
番に格納する。被試験命令列の実行結果と展開被試験命
令列の実行結果は比較手段により比較される。

【００６３】請求項７の情報処理装置の試験装置の作用
を図５を参照して説明する。ランダム命令生成機構は、
命令（チェック・ポイント命令を含む）をランダムに生
成しし、被試験命令列の領域に順番に格納する。図示の
例では、ＳＶＣ命令がチェック・ポイント命令である。
被試験命令列の中には主メモリをアクセスする命令が存
在し、この種の命令はアクセス・データ域をアクセスす
る。

【００６４】チェック・ポイント命令の実行によってチ
ェック・ポイント制御手段が起動される。チェック・ポ
イント制御手段は圧縮格納手段を有している。圧縮格納
手段は、アクセス・データ域のデータを圧縮し、圧縮ア
クセス・データ域情報を所定領域に格納する。圧縮格納
手段の処理が終了した後、比較手段が動作する。比較手
段は、所定領域の圧縮アクセス・データ域情報と正解情
報とを比較する。

【００６５】請求項８は圧縮格納手段に関するものであ
る。圧縮格納手段は、アクセス・データ域を複数の区画
に分割し、各区画を更に複数のサブ区画に分割し、各区
画対応に圧縮情報を生成する。圧縮情報は、区画の先頭
番地と，サブ区画の大きさと，各サブ区画毎の圧縮デー
タの複数個とから構成されている。

【００６６】請求項９，請求項１０の情報処理装置の試
験装置の作用について説明する。請求項９はページ・テ
ーブル域を圧縮するものであり、請求項１０は全ハード
ウェア状態情報を圧縮するものである。

【００６７】請求項１１の情報処理装置の試験装置の作
用を図６を参照して説明する。ランダム命令生成機構
は、命令をランダムに生成し、生成した命令を被試験命
令列の領域に格納する。制御手段は、パイプライン先行
制御の有効／無効，命令バッファの有効／無効，オペラ
ンド・バッファの有効／無効，アドレス変換機構の有効
／無効を設定し、被試験命令列を起動する。比較手段
は、被試験命令列の実行結果と正解情報とを比較する。

【００６８】繰返し試験制御手段は、被試験命令列を実
行し結果を比較する一連の処理を繰り返して行わせる。
そして、繰返し単位毎に命令バッファ，オペランド・バ
ッファ，アドレス変換機構を有効または無効にする設定
を変更し、命令バッファ，オペランド・バッファ，アド
レス変換機構の有効または無効の全組み合わせを試験す
る。

【００６９】請求項１２の情報処理装置の試験装置は、
請求項１１の情報処理装置の試験装置において、繰返し
単位毎に、命令バッファ，オペランド・バッファ，アド
レス変換機構を有効または無効にする設定を変更する制
御を，特定の順序で設定するものである。

【００７０】

【実施例】ランダム命令の生成 図７は本発明のランダム命令生成機構の１実施例を示す
図である。同図において、２１は疑似乱数発生器、２２
は命令ＩＤ設定処理部、２３は優先順位保持部、２４は
デコーダ、２５は優先順位テーブル、２６は優先順位判
定部、２７は生成判定部、２８はデコーダ、２９は命令
生成テーブル、３０は生成命令設定処理部、３１は被試
験命令列をそれぞれ示している。

【００７１】ランダム命令生成機構は、初期制御と，優
先制御と，ランダム命令生成制御とから構成されてい
る。疑似乱数発生器２１，命令ＩＤ設定処理部２２，優
先順位保持部２３などは、初期制御を構成している。疑
似乱数発生器２１は、乱数を生成する。疑似乱数発生器
２１によって生成された乱数は、命令ＩＤ設定処理部２
２に送られる。命令ＩＤ設定処理部２２は、受け取った
乱数の値に対応する命令ＩＤを生成する。なお、受け取
った乱数値に対応する命令ＩＤが存在しない場合には、
命令ＩＤ設定処理部２２は、乱数発生器２１に対して次
の乱数発生を指示する。疑似乱数発生器２１によって生
成された乱数は優先順位保持部２３にも送られる。な
お、命令ＩＤ設定処理部２２に送られた乱数の値と，優
先順位保持部２３に送られた乱数の値との間には、関係
はない。

【００７２】デコーダ２４，優先順位テーブル２５，優
先順位判定部２６，生成判定部２７などは、優先順位制
御を構成している。優先順位テーブル２５は、複数の行
から構成され、各行には命令の順位データが記入されて
いる。図示の例では、優先順位テーブル２５の第０行
（先頭行）にはａ命令の順位２に対応する順位データが
記入され、第１行にはｂ命令の順位１に対応する順位デ
ータが記入されている。以下、図示の通りである。

【００７３】デコーダ２４は、命令ＩＤ設定処理部２２
からの命令ＩＤをデコードし、優先順位テーブル２５の
対応する行を選択する。選択した行の命令の順位データ
は優先順位判定部２６に送られる。図示の例で、例えば
第０行が選択されたと仮定すると、順位２に対応する順
位データが優先順位判定部２６に送られる。

【００７４】優先順位判定部２６は、優先順位テーブル
２５からの順位データと，優先順位保持部２３からの順
位データとを比較する。優先順位判定部２６は、優先順
位テーブル２５からの順位データの示す順位が優先順位
保持部２３からの順位データの示す順位よりも低い場合
には、ＮＧを出力する。ＮＧを出力した場合には、新た
な乱数値が命令ＩＤ設定処理部２２に入力され、命令Ｉ
Ｄ設定処理部２２は新たな命令ＩＤを生成する。この新
たな命令ＩＤは再びデコーダ２４によってデコードされ
る。ＮＧが出力された場合には、優先順位保持部２３の
順位データは変更されない。

【００７５】優先順位判定部２６は、優先順位テーブル
２５からの順位データの示す順位が優先順位保持部２３
からの順位データの示す順位に等しいか又は高い場合に
は、ＯＫ信号を出力する。ＯＫ信号は生成判定部２７に
送られる。生成判定部２７は、ＯＫ信号を受け取ると、
命令ＩＤ設定処理部２２からの命令ＩＤを出力する。Ｏ
Ｋが出力された場合には、命令ＩＤ設定処理部２２に新
たな乱数値が入力され、優先順位保持部２３にも新たな
乱数値が入力される。

【００７６】デコーダ２８，命令生成テーブル２９，生
成命令設定処理部３０などは、ランダム命令生成制御部
を構成している。命令生成テーブル２９は、複数の行を
有しており、各行には命令を如何にして生成すれば良い
かを示す生成データが記入されている。図示の例では、
命令生成テーブル２９の第０行（先頭行）にはａ命令を
如何にして作成すれば良いかを示す生成データが記入さ
れいる。

【００７７】デコーダ２８は、生成判定部２７からの命
令ＩＤをデコードし、命令生成テーブル２９の対応する
行を選択する。命令生成テーブル２９の選択された行の
生成データは、生成命令設定処理部３０に送られる。生
成命令設定処理部３０には、疑似乱数発生器２１からの
乱数値も送られる。この乱数値と，命令ＩＤ設定処理部
２２に入力される乱数値と，優先順位保持部２３に入力
される乱数値との間には、関係が存在しない。生成命令
設定処理部３０は、命令生成テーブル２９からの生成デ
ータと受け取った乱数値とに基づいて、命令を生成し、
生成した命令を被試験命令列３１に格納する。

【００７８】図８は本発明のランダム命令生成を用いた
試験を説明する図である。同図において、４１はランダ
ム命令生成機構、４２は優先順位テーブル、４３は優先
順位制御部、４４は優先順位保持部、４５は命令生成制
御部、４６は命令生成テーブル、４７は実行環境設定制
御部、４８は制御ルーチン起動制御部、４９は結果比較
制御部、５０は繰返し試験制御部、５１は初期設定、５
２は実行環境設定、５３は起動処理、５４は被試験命令
列、５５は実行結果格納処理部をそれぞれ示している。

【００７９】ランダム命令生成機構は、図７のランダム
命令生成機構と同じ構成を有している。すなわち、優先
順位テーブル４２，優先順位制御部４３，優先順位保持
部４４，命令生成制御部４５，命令生成テーブル４６な
どから構成されている。

【００８０】図８の試験の動作を説明する。ランダム命
令生成機構４１は、ランダムに被試験命令を生成し、被
試験命令列５４に格納する。被試験命令列５４を生成し
た後、実行環境設定制御部５７で動作モードを指定し、
制御ルーチン起動制御部４８により制御ルーチンを起動
する。被試験命令列５４を実行した後、結果比較制御部
４９で、通常状態の実行結果格納情報と，実行環境設定
制御部の指示状態の下における実行結果格納情報とを比
較し、繰返し試験制御部５０の指示に従って試験を繰り
返す。

【００８１】試験項目毎のランダム命令の生成 図９は本発明の試験項目毎のランダム命令の生成を説明
する図である。同図において、121 は試験項目設定操
作、122 は試験項目制御部、123 は疑似乱数発生器、12
5 は判定部、126 は試験ｉ専用出現頻度設定部（ｉは
１，２，…，ｎ）、127 はデコーダ、128 は共用命令生
成テーブル、129 は生成命令設定処理部、130 は被試験
命令列をそれぞれ示している。

【００８２】試験項目設定制御は、試験項目の設定操作
121 と，試験項目制御部122 の複数個とから構成されて
いる。試験項目の設定操作121 で１個の試験項目制御部
122を選択すると、選択された試験項目制御部122 に対
応する判定部125 が起動される。疑似乱数発生器123 は
乱数を出力する。疑似乱数発生器123 からの乱数は複数
の判定部125 のそれぞれに送られるとともに、ランダム
命令生成制御にも送られる。

【００８３】出現頻度制御は、予め設定された命令毎の
出現頻度に従って、命令ＩＤをランダムに生成する機構
である。出現頻度制御は、判定部125 と試験ｉ専用出現
頻度設定部126 との組の複数個から構成されている。判
定部125 が起動されると、対応する試験ｉ専用出現頻度
設定部126 が有効とされ、有効とされた試験ｉ専用出現
頻度設定部126 と疑似乱数発生器からの乱数値とに基づ
いて命令ＩＤが生成される。生成された命令ＩＤはラン
ダム命令生成制御に送られる。

【００８４】試験ｉ専用出現頻度設定部126 は、例えば
命令ＩＤが記述された行の複数個を持つテーブルを有し
ている（図２３の被試験命令テーブル４を参照）。例え
ば、試験１専用出現頻度設定部126 ではレジスタ−レジ
スタの演算を行う命令の出現頻度が多く、試験２専用出
現頻度設定部126 ではメモリ・アクセスを伴う命令のの
出現頻度が多く、試験ｎ専用出現頻度設定部126 では例
外を発生する命令の出現頻度が多い。試験専用出現頻度
設定部126 は、乱数値を受け取ると、乱数値に対応する
行を選択し、選択された行に記述されている命令ＩＤを
出力する。

【００８５】ランダム命令生成制御は、デコーダ127 ，
共用命令生成テーブル128 ，生成命令設定処理部129 な
どから構成されている。デコーダ127 は、出現頻度制御
からの命令ＩＤをデコードし、共用命令生成テーブル12
8 における対応する行を選択する。

【００８６】共用命令生成テーブル128 は、試験項目に
共通な生成データと、試験項目ごとの特殊な生成データ
から構成されている。共用命令生成テーブル128 は、複
数の行を有しており、各行には命令の作り方を示す生成
データが記述されている。図示の例では、共用命令生成
テーブル128 の第０行（先頭行）にはａ命令の生成デー
タが記述されているが、ａ命令の生成データは、ａ命令
の命令コードとか，ａ命令のオペランドを如何にして作
成すれば良いかを示す。

【００８７】共用命令生成テーブル128 の選択された行
の生成データは、生成命令設定処理部129 に送られる。
また、ランダム命令生成制御には疑似乱数発生器123 か
ら乱数が送られて来ているが、この乱数も生成命令設定
処理部129 に送られる。生成命令設定処理部129 は、共
用命令生成テーブル128 からの生成データと乱数値とに
基づいて、完全な形の命令を生成し、生成した命令を被
試験命令列130 に設定する。

【００８８】図１０は本発明の試験項目毎のランダム命
令生成を用いた試験の１例をを示す図である。同図にお
いて、141 は乱数発生器、142 は試験項目設定制御部、
143は試験項目の設定操作、144 は試験項目制御部、145
はランダム命令生成機構、146 は試験ｉ専用出現頻度
設定部、147 は共用命令生成テーブル、148 は実行環境
設定制御部、149 は制御ルーチン起動制御部、150 は実
行結果比較制御部、151 は繰返し試験制御部、152 は初
期設定、15３は実行環境設定、154 は起動処理、155 は
被試験命令列、156 は実行結果格納処理部をそれぞれ示
している。

【００８９】試験項目設定制御部142 は、試験項目を選
択するものであって、試験項目の設定操作143 と，複数
個の試験項目制御部144 とから構成されている。ランダ
ム命令生成機構145 は、試験ｉ専用出現頻度設定部146
の複数個と、共用命令生成テーブル147 とから構成され
ている。ランダム命令生成機構145 は、選択された試験
項目に対応する命令をランダムに生成する。生成された
命令は、被試験命令列155 に設定される。

【００９０】被試験命令列155 を作成した後、実行環境
設定制御部148 で動作モードを指定し、制御ルーチン起
動制御部149 により制御ルーチンを起動する。制御ルー
チンは、初期設定152 ，実行環境設定153 ，起動処理15
4 ，被試験命令列155 ，実行結果格納処理部156 から構
成されている。

【００９１】次に、結果比較制御部150 では、通常状態
の実行結果格納情報と実行環境設定制御部148 の指示状
態での実行結果格納情報とを比較し、繰返し試験制御部
151の指示に従って試験を行う。

【００９２】図１１は本発明の試験項目毎のランダム命
令生成を用いた試験の他例を示す図である。同図におい
て、161 は乱数発生器、162 は試験項目設定制御部、16
3 は自動設定制御部、164 は試験項目制御部、165 はラ
ンダム命令生成機構、166 は試験ｉ専用出現頻度設定
部、167 は共用命令生成テーブル、168 は実行環境設定
制御部、169 は制御ルーチン起動制御部、170 は結果比
較制御部、171 は繰返し試験制御部、172 は初期設定、
17３は実行環境設定、174 は起動処理、175 は被試験命
令列、176 は実行結果格納処理部、177 はタイマ監視を
示している。

【００９３】図１１の例では、試験項目設定制御部162
は、タイマ監視177 と，自動設定制御部163 と，複数の
試験項目制御部164 とから構成されている。タイマ監視
177は、所定時間が経過する毎に、タイムアウト信号を
出力する。自動設定制御部163 は、タイムアウト信号を
受け取ると、次の試験項目制御部164 を選択する。例え
ば、１番目（最左端）の試験項目制御部164 を選択して
いる状態の下でタイムアウト信号を受け取ると、２番目
の試験項目制御部164 を選択する。図１１の実施例は、
その他の点については図１０の実施例と同じである。

【００９４】入替被試験命令列の生成 図１２は本発明の入替被試験命令列の生成を説明する図
である。同図において、221 は疑似乱数発生器、222 は
命令ＩＤ設定処理部、223 はデコーダ、224 は命令生成
テーブル、225 は生成命令設定処理部、226 は被試験命
令列、227 は被試験命令入替制御部、228 は命令ＩＤ再
生処理部、229 はデコーダ、230 は命令形式テーブル、
231 は命令解析処理部、232 は命令入替処理部、233 は
入替被試験命令列をそれぞれ示している。

【００９５】被試験命令列および入替被試験命令列を生
成する命令生成部は、ランダム命令生成機構と、被試験
命令入替制御部との２つの制御部から構成されている。
ランダム命令生成機構は、疑似乱数発生器221 ，命令Ｉ
Ｄ設定処理部222 ，デコーダ223 ，命令生成テーブル22
4 ，生成命令設定処理部225 から構成されている。乱数
発生器221 からランダム・データを発生させ、命令ＩＤ
設定処理部222 からランダムな命令ＩＤを発生させる。

【００９６】命令ＩＤ設定処理部222 からの命令ＩＤを
デコーダ223 でデコードし、命令生成テーブル224 の命
令ＩＤに対応したテーブル（行）を選択し、更に乱数発
生器221 のランダム・データに基づいてランダム命令を
生成し、生成命令設定処理部225 により生成した被試験
命令を所定のメモリ域226 に順番に設定する。

【００９７】被試験命令入替制御部は、命令ＩＤ再生処
理部228 ，デコーダ229 ，命令形式テーブル230 ，命令
解析処理部231 ，命令入替え処理部232 などから構成さ
れている。命令ＩＤ再生処理部228 は、被試験命令列22
6 から被試験命令を取り出し、取り出した被試験命令の
命令ＩＤを再生する。再生した命令ＩＤをデコーダ229
でデコードし、再生した命令ＩＤに対応した命令形式テ
ーブル230 の行から命令の形式情報を選択する。命令解
析処理部231 は、選択した命令の形式情報から前後する
命令の干渉状態を解析して命令列の入替えを判定し、命
令入替処理部232 で被試験命令の入替えを行い、入替被
試験命令列を所定のメモリ域233 に設定する。

【００９８】例えば、汎用レジスタＧＲ５の値とＧＲ４
の値を加算して加算結果をＧＲ３にセットせよと言う命
令Ａと，汎用レジスタＧＲ２の値からＧＲ１の値を減算
して減算結果をＧＲ７にセットせよと言う命令Ｂとがあ
り、被試験命令列において命令Ａの後に命令Ｂが存在す
ると仮定する。この場合には、命令Ａと命令Ｂとの間に
干渉がないので、命令Ａと命令Ｂを入れ替えることが出
来る。

【００９９】図１３は本発明の入替被試験命令列の生成
を用いた試験を説明する図である。同図において、241
は命令生成部、242 はランダム命令生成制御部、243 は
被試験命令列入替制御部、244 は制御ルーチンＡ起動制
御部、245 は制御ルーチンＢ起動制御部、246 は結果比
較制御部、247 は初期設定、248 は起動処理、249 は被
試験命令列、250 は実行結果格納処理部、251 は初期設
定、252 は起動処理、253 は入替被試験命令列、254 は
入替命令実行結果格納処理部、255 は繰返し試験制御部
をそれぞれ示している。

【０１００】命令生成部241 は、ランダム命令生成機構
242 と，被試験命令列入替制御部243 とから構成されて
いる。ランダム命令生成機構242 は、命令をランダムに
生成し、生成した命令を順番に被試験命令列249 に書き
込む。被試験命令列入替制御部243 は、被試験命令列24
9 における命令の順序を入れ替えた入替被試験命令列を
生成し、生成した入替被試験命令列を所定のメモリ領域
253 に格納する。

【０１０１】制御ルーチンＡ起動制御部244 は、制御ル
ーチンＡを起動する。制御ルーチンＡは、初期設定247
，起動処理248 ，被試験命令列249 ，実行結果格納処
理部250 から構成されている。制御ルーチンＡは起動さ
れると、初期設定を行い、被試験命令列を実行し、被試
験命令列の実行結果を所定のメモリ領域に格納する。

【０１０２】制御ルーチンＢ起動制御部245 は、制御ル
ーチンＢを起動する。制御ルーチンＢは、初期設定251
，起動処理252 ，入替被試験命令列253 ，実行結果格
納処理部254 から構成されている。制御ルーチンＢは起
動されると、初期設定を行い、入替被試験命令列を実行
し、入替被試験命令列の実行結果を所定のメモリ領域に
格納する。

【０１０３】結果比較制御部246 は、被試験命令列の実
行結果と，入替被試験命令列の実行結果とを比較する。
繰返し試験制御部255 は、設定された回数だけ試験が行
われたか否かを調べ、行われた場合には終了とし、否の
場合には被試験命令列入替制御部243 を起動する。起動
されると、被試験命令列入替制御部243 は入替被試験命
令列における命令の入替えを行う。

【０１０４】展開被試験命令列の生成 図１４は本発明の展開被試験命令列の生成を説明する図
である。同図において、321 は疑似乱数発生器、322 は
命令ＩＤ設定処理部、323 はデコーダ、324 は命令生成
テーブル、325 は生成命令設定処理部、326 は被試験命
令列、327 はデコーダ、328 は命令情報テーブル、329
は命令展開テーブル、330 は生成命令設定処理部、331
は展開被試験命令列、332 はオペランド設定処理部をそ
れぞれ示している。

【０１０５】命令生成部は、ランダム命令生成機構と，
被試験命令変換制御との２つの処理機構から構成されて
いる。ランダム命令生成機構は、疑似乱数発生器321 ，
命令ＩＤ設定処理部322 ，デコーダ323 ，命令生成テー
ブル324 ，生成命令設定処理部325 などから構成されて
いる。

【０１０６】命令ＩＤ設定処理部322 は、疑似乱数発生
器321 からの乱数値を受け取り、その値に対応した命令
ＩＤを生成する。命令ＩＤ設定処理部322 からの命令Ｉ
Ｄはデコーダ323 によってデコードされ、命令生成テー
ブル324 の対応する行が選択される。命令生成テーブル
324 は複数の行を有しており、各行には命令の命令コー
ドやオペランドを如何にして生成するかを示す生成デー
タが記述されている。図示の例では、命令生成データの
第０行（最上段の行）にはａ命令の生成データが記述さ
れ、第１行にはｂ命令の生成データが記述されている。

【０１０７】命令生成テーブル324 の選択された行の生
成データと，疑似乱数発生器321 からの乱数値とが生成
命令設定処理部325 に送られる。生成命令設定処理部32
5 は、送られて来た生成データと乱数値とに基づいて、
被試験命令を生成し、被試験命令列に割り当てられてい
る所定のメモリ領域326 に格納する。

【０１０８】被試験命令変換制御は、デコーダ327 ，命
令情報テーブル328 ，命令展開テーブル329 ，生成命令
設定処理部330 ，オペランド設定処理部312 などから構
成されている。デコーダ327 には、デコーダ323 に入力
された乱数値と同じ値が入力される。デコーダ327 は、
乱数値をデコードし、命令情報テーブル328 の対応する
行を選択する。命令情報テーブル328 は複数の行を有し
ており、各行には命令の生成番地と展開命令列の長さが
記述されている。図示の例では、命令情報テーブルの第
０行にはａ命令の生成番地と展開ａ命令列の長さが記述
され、第１行にはｂ命令の生成番地と展開ｂ命令列の長
さが記述されている。なお、命令情報テーブル328 に記
述されている命令の生成番地とは、命令展開テーブル32
9 の番地を意味する。

【０１０９】命令情報テーブル328 の選択された行から
読み出された命令の生成番地と長さとから、命令展開テ
ーブル329 に記述されている対応する展開命令列を選択
する。オペランド設定処理部312 は、選択された展開命
令列を構成する命令のそれぞれに対するオペランドを設
定する。例えば、命令生成テーブル329 の展開ａ命令列
が選択されたと仮定すると、オペランド設定処理部332
は、ａ命令の生成データとその時点の乱数値とに基づい
て、展開ａ命令列を構成する命令のそれぞれに対するオ
ペランドを設定する。生成命令設定処理部330 は、生成
された展開命令列を，展開被試験命令列に割り当てられ
ているメモリ領域331 に格納する。

【０１１０】図１５は本発明の展開試験命令列の生成を
用いた試験を説明する図である。同図において、341 は
命令生成部、342 はランダム命令生成機構、343 は被試
験命令変換制御部、344 は制御ルーチンＡ起動制御部、
345 は制御ルーチンＢ起動制御部、346 は結果比較制御
部、347 は初期設定、348 は起動処理、349 は被試験命
令列、350 は実行結果格納処理部、351 は初期設定、35
2 は起動処理、353 は展開被試験命令列、354 は展開命
令実行結果格納処理部を示している。

【０１１１】命令生成部341 は、ランダム命令生成機構
342 と，被試験命令変換制御部343とを有している。ラ
ンダム命令生成機構342 は、被試験命令をランダムに生
成し、生成した被試験命令を被試験命令列349 に格納す
る。被試験命令変換制御部343 は、被試験命令をこれと
等価な命令列に展開し、展開命令列を展開被試験命令列
353 に格納する。

【０１１２】制御ルーチンＡ起動制御部344 は制御ルー
チンＡを起動し、制御ルーチンＢ起動制御部345 は制御
ルーチンＢを起動する。結果比較制御部346 は被試験命
令列の実行結果と展開被試験命令列の実行結果との比較
を行う。制御ルーチンＡは、初期設定347 ，起動処理34
8 ，被試験命令列349 ，実行結果格納処理部350 から構
成されている。制御ルーチンＢは、初期設定部351 ，起
動処理352 ，展開被試験命令列353 ，展開命令実行結果
格納処理部354 から構成されている。

【０１１３】チェック・ポイントにおけるデータ収集／
比較 図１６は本発明のチェック・ポイントにおけるデータ収
集／比較を説明する図である。同図において、431 は初
期設定部、432 はランダム命令生成機構、433は実行環
境設定制御部、434 は試験ルーチン起動制御部、435 は
モード変更制御部、436 は試験ルーチン、437 は初期設
定、438 は実行環境設定、439 は起動処理、440 は被試
験命令列、441 はアクセス・データ域、442 はチェック
・ポイント制御、443 はモード判定部、444 は収集モー
ド部、445 はレジスタ情報と割込み情報、446 はアクセ
ス・データ域圧縮・格納、447 はポインタ、448 はデー
タ域、449 は比較モード部、450 はレジスタ情報と割込
み情報、451 はアクセス・データ域圧縮・格納、452 は
退避域、453 は比較処理、454 はエラー制御、455は試
験繰返し制御部を示している。

【０１１４】初期設定部431 は、試験条件の初期設定を
行っている。ランダム命令生成機構432 は、ランダムな
命令を生成し、試験ルーチン436 の被試験命令列440 に
順番に設定する。実行環境設定制御部433 では、試験ル
ーチン436 が動作する動作環境を設定する。試験ルーチ
ン起動制御部434 は、試験ルーチン436 の起動制御を行
う。

【０１１５】試験ルーチン436 は、初期設定437 ，実行
環境設定438 ，起動処理439 ，被試験命令列440 ，アク
セス・データ域441 ，チェック・ポイント制御442 から
構成されている。被試験命令列440 に設定されているＳ
ＶＣ命令は、此処の例ではチェック・ポイント命令に使
用される。試験ルーチン436 は、モード変更制御部435
により複数回実行される。

【０１１６】ＳＶＣ命令の実行によってＳＶＣ割込みが
発生し、チェック・ポイント制御に制御が渡される。チ
ェック・ポイント制御442 では、ＳＶＣ命令ごとに、情
報を格納するポインタ447 をカウント・アップする。モ
ード判定部443 では、収集モードか或いは比較モードか
を判定する。

【０１１７】収集モードであれば、収集モード部444 が
動作し、データを格納するためのポインタ447 の値ｉ
（ｉ＝１，２，…，ｎ）に基づき、レジスタ情報と各種
割込み情報445 をデータ域448 の第ｉ番目の区画に書き
込み、アクセス・データ域の内容をアクセス・データ域
圧縮・格納446 で圧縮し、この結果得られる圧縮データ
をデータ域448 の第ｉ番目の区画に格納する。データ域
448 に格納された情報は、正解情報として利用される。

【０１１８】比較モードであれば、比較モード部449 に
より、実行結果のレジスタ情報と各種割込み情報450 を
退避域452 のデータＡに格納し、被試験命令がアクセス
した結果のデータ域をアクセス・データ域圧縮・格納45
1 により圧縮し、退避域452のデータＢに格納する。

【０１１９】比較処理453 では、ポインタ447 が示すデ
ータ域448 の区画と，退避域452 のデータＡ，Ｂとを比
較することにより、試験を行う。比較エラー時は、エラ
ー制御454 でエラー情報を出力する。試験繰返し制御部
455 は、初期設定部431 に従い、命令生成機構432 で新
しい被試験命令列を生成し、試験を繰り返し実行する。

【０１２０】図１７は本発明のアクセス・データ域の圧
縮とエラー番地の生成を説明する図である。同図におい
て、461 は圧縮部、462 は圧縮情報、463 は乗算部、46
4 は圧縮データ比較、465 は判定部、466 は特定された
エラー番地をそれぞれ示している。

【０１２１】図示の例では、アクセス・データ域は、大
きさが１０００の区画に分割され、各区画は更に大きさ
４００のサブ区画に分割されている。各区画毎に１個の
圧縮情報462 が生成され、各サブ区画ごとに圧縮データ
が生成される。各区画に対して、サブ区画のデータを圧
縮部461 により圧縮し、圧縮サブ区画データＡ１，Ａ
２，Ａ３，Ａ４を生成する。圧縮の方法は、どのような
方法であっても良い。区画毎の圧縮情報462 は、区画の
先頭番地と，サブ区画の単位と，圧縮サブ区画データＡ
１，Ａ２，Ａ３，Ａ４から構成されている。

【０１２２】この圧縮情報462 が、圧縮データ比較464
で比較された結果、エラーを検出した場合には、エラー
が発生した圧縮サブ区画データのデータＡ１，Ａ２，Ａ
３，Ａ４の格納位置データと、圧縮情報462 の単位デー
タとを乗算部463 により乗算する。この乗算データと圧
縮情報の先頭番地データとを論理和し、特定エラー番地
466 を算出する。例えば、１番目（最上段）の区画の２
番目のサブ区画（最左端の区画が１番目）にエラーが検
出された場合には、特定エラー番地466 として００００
＋４００×（２−１）＝０４００が算出される。判定部
465 では、アクセス・データ域ごとの圧縮情報462 から
算出したエラー・アドレスをエラー検出の指示にしたが
い制御する。

【０１２３】図１８は本発明のチェック・ポイント制御
におけるページ・テーブル域の圧縮を説明する図であ
る。同図において、471 はモード判定部、472 は収集モ
ード部、473 はレジスタ情報と割込み情報、474 はペー
ジ・テーブル域圧縮・格納、475 はポインタ、476 はデ
ータ域、477 は比較モード部、478 はレジスタ情報と割
込み情報、479 はページ・テーブル圧縮・格納、480 は
退避域、481 は比較処理、482 はエラー制御をそれぞれ
示している。

【０１２４】図１８の実施例は、チェック・ポイント制
御の結果情報の収集・比較制御においてページ・テーブ
ル域を対象に圧縮を行うものである。ページ・テーブル
は複数の行を有し、各行はページ・アドレスと，参照ビ
ットと，変更ビットとを有している。参照ビットや変更
ビットは、ハードウェアによって書き換えられる。

【０１２５】判定部471 で、収集モードか或いは比較モ
ードかを判定する。収集モードであれば、収集モード部
472 により、ポインタ475 で指定されるデータ域476 の
区画に、レジスタ情報と各種の割込み情報473 を書き込
むと共に、ページ・テーブル域をページ・テーブル域圧
縮格納474 で圧縮して得られた圧縮ページ・テーブルを
書き込む。データ域476 のデータは正解情報とされる。

【０１２６】比較モードであれば、比較モード部477 に
より、実行結果のレジスタ情報と各種の割込み情報478
を退避域480 のデータＡへ格納し、ページ・テーブル域
をページ・テーブル域圧縮・格納479 により圧縮して得
られた圧縮ページ・テーブルを退避域480 のデータＢへ
格納する。次いで、比較処理481 で、データ格納箇所を
示すポインタ475 で指定されたデータ域476 の区画と，
退避域480 のデータＡ，Ｂとを比較することにより、試
験を行う。比較エラー時は、エラー制御482 でエラー情
報を出力する。

【０１２７】図１９はチェック・ポイント制御において
全ハードウェア状態情報を圧縮する本発明の実施例を示
す図である。同図において、491 はモード判定部、492
は収集モード部、493 は全ハードウェア状態情報の圧縮
・格納、494 はポインタ、495 はデータ域、496 は比較
モード部、497 は全ハードウェア状態情報の圧縮格納、
498 は退避域、499 は比較処理、500 はエラー制御をそ
れぞれ示している。

【０１２８】図１９の実施例は、チェック・ポイント制
御の収集・比較の制御において、全ハードウェア状態情
報を対象に圧縮を行う制御方式である。図１８の実施例
と異なる点は、チェック・ポイント制御において、全ハ
ードウェア状態情報を対象に圧縮する点だけである。こ
の場合の全ハードウェア状態情報とは、収集しているレ
ジスタ，割込みデータ，圧縮アクセス・データ等のハー
ドウェアの実行により変化した全ての状態情報を意味し
ている。

【０１２９】パイプライン制御における動作モードの変
更 図２０は本発明のパイプライン制御における動作モード
の変更の１例を示す図である。同図において、521 はラ
ンダム命令生成機構、522 は制御ルーチンＡ起動制御
部、523 は動作環境設定命令付与制御部、524 は制御ル
ーチンＢ起動制御部、525 は結果比較制御部、526 は初
期設定、527 は起動処理、528 は被試験命令列、529 は
実行結果格納処理部、530 は初期設定、531 は起動処
理、532 は動作環境設定命令を付与した被試験命令列、
533 は実行結果格納処理部をそれぞれ示している。

【０１３０】図２０の実施例の動作について説明する。
ランダム命令生成機構521 により被試験命令列を生成
し、制御ルーチンＡ起動制御部522 により、パイプライ
ンの先行制御を無効にして、例えば命令バッファを無
効，オペランド・バッファを無効，アドレス変換を無効
にして、被試験命令列を逐次実行し、結果を保存する。
制御ルーチンＡは、初期設定526 ，起動処理527 ，被試
験命令列528 ，実行結果格納処理部529 から構成されて
いる。なお、バッファとはキャッシュを意味している。

【０１３１】次に、動作環境設定命令付与制御部523 に
より被試験命令列を実行する動作環境設定命令を付与し
た被試験命令列532 を生成する。動作環境設定命令が付
与さても、被試験命令列の演算結果は変化しない。動作
環境設定命令に属するものとしては、例えば、キャッシ
ュをクリアする命令やキャッシュをオフ状態に設定する
命令，タイマ設定により非同期に割込みを発生させる命
令がある。

【０１３２】次に、制御ルーチンＢ起動制御部524 によ
り、パイプライン先行制御を有効にして、例えば命令バ
ッファを有効，オペランド・バッファを無効，アドレス
変換を無効にして、動作環境設定命令を付与した被試験
命令列532 を非逐次実行し、結果を保存する。更に、実
行結果格納処理部529 の結果格納情報と，実行結果格納
処理部533 の結果格納情報とを結果比較制御部525 で比
較する。

【０１３３】図２１は本発明のパイプライン制御におけ
る動作モードの変更の他例を示す図である。同図におい
て、541 はランダム命令生成機構、542 は制御ルーチン
Ａ起動制御部、543 は動作環境設定命令付与制御部、54
4 は制御ルーチンＢ起動制御部、545 は結果比較制御
部、546 は繰り返し試験制御部、547 は初期設定、548
は起動処理、549 は被試験命令列、550 は実行結果格納
処理部、551 は初期設定、552 は起動処理、553 は動作
環境設定命令を付与した被試験命令列、554 は実行結果
格納処理部をそれぞれ示している。

【０１３４】図２１の実施例の動作について説明する。
ランダム命令生成機構541 により被試験命令列を生成
し、制御ルーチンＡ起動制御部542 により、パイプライ
ンの先行制御を無効にして、例えば命令バッファを無
効，オペランド・バッファを無効，アドレス変換を無効
にして、被試験命令列を逐次実行し、結果を保存する。
制御ルーチンＡは、初期設定547 ，起動処理548 ，被試
験命令列549 ，実行結果格納処理部550 から構成されて
いる。

【０１３５】次に、動作環境設定命令付与制御部543 に
より、動作環境設定命令を付与した被試験命令列553 を
生成し、制御ルーチンＢ起動制御544 により、パイプラ
インの先行制御を有効にして、例えば、命令バッファを
有効，オペランド・バッファを無効，アドレス変換を無
効にして、動作環境設定命令を付与した被試験命令列55
3 を非逐次実行し、結果を保存する。

【０１３６】次に、実行結果格納処理部550 の結果格納
情報と、実行結果格納処理部554 の結果情報とを結果比
較制御部545 で比較することで試験を行っている。更
に、繰り返し試験制御部546 により、例えば命令バッフ
ァを有効，オペランド・バッファを有効，アドレス変換
を有効にして、動作環境設定命令を付与した被試験命令
列553 を非逐次実行し、比較試験を行う。すなわち、被
試験命令の動作環境を変更しながら、制御ルーチンＢの
実行と，実行結果の比較を繰り返すことにより、命令バ
ッファ，オペランド・バッファ，アドレス変換の有効ま
たは無効の全組合せを試験する。

【０１３７】更に、被試験命令の動作環境を変更する順
序を規定する。例えば、パイプラインの先行制御，命令
バッファ，オペランド・バッファ，アドレス変換の有効
または無効の設定を図２２の順序で変更していくことに
より、パイプライン制御を取り巻く周辺機構からの影響
を段階的に組み合わせて試験する。

【０１３８】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１の発明によれば、被試験命令の出現頻度を示す優先順
位テーブル，優先順位保持部，優先順位判定部などによ
り、ランダムな被試験命令列を容易に生成することが出
来る。そのため、命令ごとの重みが記入された生成命令
制御テーブルを参照して、重み分だけの数の命令が並べ
られた被試験命令テーブルを作成する処理が不要になる
と共に、被試験命令テーブルのためのメモリ領域が不要
になり、被試験命令テーブルから命令を選択する制御も
不要になる。このように、請求項１の発明によれば、制
御の簡素化と命令生成領域の削減が出来る。

【０１３９】請求項２，請求項３，請求項４の発明によ
れば、情報処理装置を試験する命令の生成方式におい
て、試験項目ごとに被試験命令の出現頻度設定部を設
け、１つの命令生成テーブルから試験項目ごとの命令生
成を容易に制御することが可能であるため、試験項目ご
とに独立した構成あるいは試験項目に対応した人手操作
による命令単位の出現頻度の設定が不要である。また、
命令生成テーブルが１箇所であるため、試験項目ごとの
重複したテーブル・データがなく、追加・修正が容易で
ある。さらに、情報処理装置の試験に対して、試験項目
を人手操作により指定し、試験項目ごとの被試験命令の
出現頻度に基づき、１つの命令生成テーブルから、命令
の生成を容易に制御できる命令生成方式を採用すること
により、操作性が向上し、試験効率を図った試験が可能
である。さらに、試験項目の操作を自動的に行うことに
より、長時間の試験を効率的に実行することが可能であ
る。

【０１４０】請求項５の発明によれば、情報処理装置を
試験する命令の生成方式において、被試験命令列の生成
と，被試験命令列内の前後命令を不都合なく入れ替えた
入替被試験命令列とを生成することができ、更には新し
い入替被試験命令列の生成が容易に可能である。この命
令生成方式を試験に利用することにより、実行環境を変
化させる機能を具備していない被試験装置に対しても、
効果的に試験精度の向上を図った試験が可能である。

【０１４１】請求項６の発明によれば、被試験命令列
と，生成した被試験命令列と同一の動作機能を持った展
開被試験命令列とを生成することができ、この命令生成
部を試験に利用することにより、実行時間の短縮を図っ
た効率的な試験が可能である。

【０１４２】請求項７，請求項８，請求項９，請求項１
０の発明によれば、 被試験命令がアクセスするアク
セス・データ域を圧縮することにより、アクセス・デー
タ域の正解情報を持つことができ、複数のチェック・ポ
イント制御における試験精度の向上を図ることができ、
大規模な試験領域を対象とする試験に対応することが可
能である。 アクセス・データ域の圧縮情報から、ア
クセス・データ域のエラー・アドレスを特定することが
でき、試験効率の向上を図ることが出来る。 ページ
・テーブルを圧縮することにより、ページ・テーブルの
正解情報を持つことができ、チェック・ポイント制御に
おける試験精度の向上を図ることが出来る。 全ハー
ドウェア状態情報データを圧縮することにより、正解情
報域を大幅に削減することができ、効果的に試験効率の
向上を図ることが出来る。などの顕著な効果を奏するこ
とが出来る。

【０１４３】請求項１１，請求項１２の発明によれば、
情報処理装置の試験装置において、被試験命令列の実行
に対して、パイプライン制御を取り巻く周辺機構部であ
るところの命令バッファ，オペランド・バッファ，アド
レス変換機構の状態を変化させた実行結果を収集するこ
とが可能となり、パイプラインの先行制御を有効または
無効に設定するのみの試験では実現されなかった，パイ
プライン制御に対する様々な干渉条件を網羅する総合的
な試験が達成され、試験精度の向上に寄与するところが
大きい。更に、状態の変化に一定の規則を設けることに
より、障害箇所の特定を容易にする効果があり、試験効
率の向上に寄与するところが大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のランダム命令生成の原理を説明する図
である。

【図２】本発明の試験項目毎のランダム命令生成の原理
を示す図である。

【図３】本発明の入替試験命令列の生成の原理を示す図
である。

【図４】本発明の展開試験命令列の生成の原理を示す図
である。

【図５】本発明のチェック・ポイントにおけるデータ比
較の原理を示す図である。

【図６】本発明のパイプライン制御における動作モード
変更の原理を示す図である。

【図７】本発明のランダム命令の生成を説明する図であ
る。

【図８】本発明のランダム命令生成を用いた試験を説明
する図である。

【図９】本発明の試験項目毎のランダム命令の生成を説
明する図である。

【図１０】本発明の試験項目毎のランダム命令生成を用
いた試験の１例を説明する図である。

【図１１】本発明の試験項目毎のランダム命令生成を用
いた試験の他例を説明する図である。

【図１２】本発明の入替被試験命令列の生成を示す図で
ある。

【図１３】本発明の入替被試験命令列の生成を用いた試
験を示す図である。

【図１４】本発明の展開被試験命令列の生成を示す図で
ある。

【図１５】本発明の展開被試験命令列の生成を用いた試
験を示す図である。

【図１６】本発明のチェック・ポイントにおけるデータ
収集／比較を示す図である。

【図１７】本発明のアクセス・データ域の圧縮とエラー
番地の生成を示す図である。

【図１８】本発明のチェック・ポイントにおけるページ
・テーブル域の圧縮を示す図である。

【図１９】本発明のチェック・ポイントにおける全ハー
ドウェア状態情報の圧縮を示す図である。

【図２０】本発明のパイプライン制御における動作モー
ド変更の１例を示す図である。

【図２１】本発明のパイプライン制御における動作モー
ド変更の他例を示す図である。

【図２２】動作環境設定の組合せの１例を示す図であ
る。

【図２３】従来のランダム命令の生成を示す図である。

【図２４】従来の試験項目ごとの命令の生成を示す図で
ある。

【図２５】従来の実行環境の変更を示す図である。

【図２６】従来の被試験命令列の実行結果とシミュレー
ション結果との比較を示す図である。

【図２７】従来のデータの収集／比較を示す図である。

【図２８】従来のパイプライン制御における動作モード
の変更を示す図である。

【符号の説明】

２１ 疑似乱数発生器 ２２ 命令ＩＤ設定処理部 ２３ 優先順位保持部 ２４ デコーダ ２５ 優先順位テーブル ２６ 優先順位判定部 ２７ 生成判定部 ２８ デコーダ ２９ 命令生成テーブル ３０ 生成命令設定処理部 ３１ 被試験命令列 121 試験項目設定操作 122 試験項目制御部 123 疑似乱数発生器 125 判定部 126 試験ｉ専用出現頻度設定部 127 デコーダ 128 共用命令生成テーブル 129 生成命令設定処理部 130 被試験命令列 221 疑似乱数発生器 222 命令ＩＤ設定処理部 223 デコーダ 224 命令生成テーブル 225 生成命令設定処理部 226 被試験命令列 227 被試験命令入替制御部 228 命令ＩＤ再生処理部 229 デコーダ 230 命令形式テーブル 231 命令解析処理部 232 命令入替処理部 233 入替被試験命令列 321 疑似乱数発生器 322 命令ＩＤ設定処理部 323 デコーダ 324 命令生成テーブル 325 生成命令設定処理部 326 被試験命令列 327 デコーダ 328 命令情報テーブル 329 命令展開テーブル 330 生成命令設定処理部 331 展開被試験命令列 332 オペランド設定処理部 431 初期設定部 432 ランダム命令生成機構 433 実行環境設定制御部 434 試験ルーチン起動制御部 435 モード変更制御部 436 試験ルーチン 437 初期設定 438 実行環境設定 439 起動処理 440 被試験命令列 441 アクセス・データ域 442 チェック・ポイント制御 443 モード判定部 444 収集モード部 445 レジスタ情報と割込み情報 446 アクセス・データ域圧縮・格納 447 ポインタ 448 データ域 449 比較モード部 450 レジスタ情報と割込み情報 451 アクセス・データ域圧縮・格納 452 退避域 453 比較処理 454 エラー制御 455 試験繰返し制御部 521 ランダム命令生成機構 522 制御ルーチンＡ起動制御部 523 動作環境設定命令付与制御部 524 制御ルーチンＢ起動制御部 525 結果比較制御部 526 初期設定 527 起動処理 528 被試験命令列 529 実行結果格納処理部 530 初期設定 531 起動処理 532 動作環境設定命令を付与した被試験命令列 533 実行結果格納処理部 541 ランダム命令生成機構 542 制御ルーチンＡ起動制御部 543 動作環境設定命令付与制御部 544 制御ルーチンＢ起動制御部 545 結果比較制御部 546 繰り返し試験制御部 547 初期設定 548 起動処理 549 被試験命令列 550 実行結果格納処理部 551 初期設定 552 起動処理 553 動作環境設定命令を付与した被試験命令列 554 実行結果格納処理部

フロントページの続き (72)発明者 林 亮太郎 神奈川県横浜市中区本町４丁目36番地 株式会社富士通コンピュータテクノロジ 内 (72)発明者 大浦 裕信 神奈川県横浜市中区本町４丁目36番地 株式会社富士通コンピュータテクノロジ 内 (56)参考文献 特開 昭62−203240（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−104332（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−101133（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−289897（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−81043（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−88750（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−282271（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−23344（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06F 11/22 - 11/277

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 命令ＩＤをランダムに生成する命令ＩＤ
   生成手段と、 ランダムに変化する順位データを保持する優先順位保持
   部と、 順位データが記入されている行の複数個を有する優先順
   位テーブルを有する優先順位制御部と、 入力された命令ＩＤに基づいて命令を生成するランダム
   命令生成制御部とを具備し、 優先順位制御部は、命令ＩＤに対応する優先順位テーブ
   ルの行の順位データと優先順位保持部の順位データの間
   に所定の関係が成立している場合には、命令ＩＤ生成手
   段からの命令ＩＤをランダム命令生成制御部に送り、 所定の関係が成立していない場合には、優先順位保持部
   の値を保持しながら、命令ＩＤ生成手段に新たな命令Ｉ
   Ｄを生成させるよう構成されていることを特徴とする情
   報処理装置の試験装置。
2. 【請求項２】 疑似乱数発生器と、 複数の試験項目の内の１つを選択する試験項目設定制御
   部と、 複数の命令のそれぞれに対する出現頻度を記憶する出現
   頻度設定部を、試験項目ごとに有する出現頻度制御部
   と、 命令の生成のやり方を示す生成データが記入された行の
   複数個を持つ共用命令生成テーブルを有するランダム命
   令生成制御部とを具備し、 出現頻度制御部は、試験項目設定制御部によって選択さ
   れた試験項目に対応する出現頻度設定部を有効とし、有
   効とされた出現頻度設定部の内容および疑似乱数発生器
   からの乱数値に基づいて命令ＩＤを生成し、 ランダム命令生成制御部は、出現頻度制御部によって生
   成された命令ＩＤに対応する共用命令生成テーブルの行
   を選択し、選択した行の生成データと、疑似乱数発生器
   からの乱数値とに基づいて、命令を生成することを特徴
   とする情報処理装置の試験装置。
3. 【請求項３】 試験項目設定制御部は、試験項目の設定
   を行う設定操作部と、試験項目に１対１に対応した試験
   項目制御部の複数個とを有し、 設定操作部によって設定された試験項目制御部は対応す
   る出現頻度設定部を有効とし、 出現頻度制御部は、有効とされた出現頻度設定部の内容
   および疑似乱数発生器からの乱数値に基づいて命令ＩＤ
   を生成することを特徴とする請求項２の情報処理装置の
   試験装置。
4. 【請求項４】 試験項目設定制御部は、タイマ監視部
   と、自動設定制御部と、試験項目に１対１に対応した試
   験項目制御部の複数個とを有し、 自動設定制御部は、タイマ監視部がタイムアウトを検出
   する度に、次の試験項目制御部を選択し、 選択された試験項目制御部は、対応する出現頻度設定部
   を有効とし、 出現頻度制御部は、有効とされた出現頻度設定部の内容
   および疑似乱数発生器からの乱数値に基づいて命令ＩＤ
   を生成することを特徴とする請求項２の情報処理装置の
   試験装置。
5. 【請求項５】 ランダムに生成した命令より成る被試験
   命令列を生成するランダム命令生成機構と、 被試験命令列の命令の形式情報から前後する命令の干渉
   状態を解析し、試験命令列の前後命令を不都合なく入れ
   換えた命令列を生成する被試験命令列入替制御部と被試
   験命令列の実行結果と、入替被試験命令列の実行結果と
   を比較する比較手段とを備えることを特徴とする情報処
   理装置の試験装置。
6. 【請求項６】 ランダムに生成された命令から成る被試
   験命令列を生成するランダム命令生成機構と、 被試験命令列を構成する命令のそれぞれを等価な展開命
   令列に変換し、変換して得られた展開命令列の複数個か
   ら成る展開被試験命令列を生成する被試験命令変換制御
   部と、 被試験命令列の実行結果と、展開被試験命令列の実行結
   果とを比較する比較手段とを備えることを特徴とする情
   報処理装置の試験装置。
7. 【請求項７】 チェック・ポイント命令が埋め込まれた
   被試験命令列を生成するランダム命令生成機構と、 被試験命令によってアクセスされるアクセス・データ域
   と、 チェック・ポイント命令により起動されるチェック・ポ
   イント制御手段とを具備し、 チェック・ポイント制御手段は、アクセス・データ域を
   圧縮し、圧縮アクセス・データ域情報を所定領域に格納
   する圧縮格納手段を有するとともに、圧縮アクセス・デ
   ータ域情報を正解情報と比較する比較手段を有すること
   を特徴とする情報処理装置の試験装置。
8. 【請求項８】 圧縮格納手段が、アクセス・データ域を
   複数のサブ区画より成る区画の複数個に分割し、各区画
   毎に、区画の先頭番地と、サブ区画の大きさを示す単位
   データと、サブ区画毎の圧縮データの複数個とから構成
   される圧縮情報を生成することを特徴とする請求項７の
   情報処理装置の試験装置。
9. 【請求項９】 チェック・ポイント命令が埋め込まれた
   被試験命令列を生成するランダム命令生成機構と、 ページ・テーブル域と、 チェック・ポイント命令により起動されるチェック・ポ
   イント制御手段とを具備し、 チェック・ポイント制御手段は、ページ・テーブル域を
   圧縮し、圧縮ページ・テーブル域情報を所定領域に格納
   する圧縮格納手段を有すると共に、圧縮ページ・テーブ
   ル域情報を正解情報と比較する比較手段を有することを
   特徴とする情報処理装置の試験装置。
10. 【請求項１０】 チェック・ポイント命令が埋め込まれ
    た被試験命令列を生成するランダム命令生成機構と、 チェック・ポイント命令により起動されるチェック・ポ
    イント制御手段とを具備し、 チェック・ポイント制御手段は、全ハードウェア状態情
    報を圧縮し、圧縮全ハードウェア状態情報を所定領域に
    格納する圧縮格納手段を有すると共に圧縮全ハードウェ
    ア状態情報を正解情報と比較する比較手段を有すること
    を特徴とする情報処理装置の試験装置。
11. 【請求項１１】 命令をランダムに生成し被試験命令列
    を生成するランダム命令生成機構と、 ランダム命令生成機構による被試験命令列を、命令バッ
    ファ, オペランド・バッファ，アドレス変換機構を有効
    または無効に設定して実行する制御手段と、 制御手段による被試験命令列実行結果を正解情報と比較
    する比較手段と、 被試験命令列を実行し結果を比較する一連の処理を、繰
    り返し行わせるための繰返し試験制御手段とを備え、 繰返し単位毎に、命令バッファ，オペランド・バッフ
    ァ，アドレス変換機構を有効または無効にする設定を変
    更し、命令バッファ，オペランド・バッファ，アドレス
    変換機構の有効または無効の全組み合わせを試験するこ
    とを特徴とする情報処理装置の試験装置。
12. 【請求項１２】 繰り返し単位ごとに、命令バッファ，
    オペランド・バッファ，アドレス変換機構を有効または
    無効にする設定を変更する制御を、特定の順序で設定す
    ることを特徴とする請求項１１の情報処理装置の試験装
    置。