JP3160927B2 - Loop test circuit - Google Patents
Loop test circuitInfo
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Description
【0001】[0001]
【技術分野】本発明はループ試験回路に関し、特に上位
装置からのデータ信号を折返すループ試験回路に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a loop test circuit, and more particularly, to a loop test circuit that loops back a data signal from a host device.
【0002】[0002]
【従来技術】従来、この種のループ試験回路において
は、図2に示すように、ループ制御ビット分離回路3が
上位装置(図示せず)からの制御信号にループ制御ビッ
トを検出すると、ループ制御ビット分離回路3からルー
プスイッチ回路1および状態ビット多重回路2に夫々ル
ープスイッチ回路制御信号101 および状態ビット多重回
路制御信号102 が出力される。ループスイッチ回路1は
ループ制御ビット分離回路3からのループスイッチ回路
制御信号101 を受取ると、上位装置からのデータ信号を
端末装置(図示せず)に送信し、端末装置からのデータ
信号を上位装置に送信する通常の通信状態から、上位装
置からのデータ信号を上位装置に折返す試験状態への切
換えを行う。また、状態ビット多重回路2はループ制御
ビット分離回路3からの状態ビット多重回路制御信号10
2 を受取ると、ループ制御に対する指示を受取ったこと
を上位装置に通知するための状態ビットを多重する。つ
まり、状態ビット多重回路2はループスイッチ回路1が
正常に動作したかどうかにかかわらず、上位装置に状態
ビットを送信していた。2. Description of the Related Art Conventionally, in this type of loop test circuit, as shown in FIG. 2, when a loop control bit separation circuit 3 detects a loop control bit in a control signal from a higher-level device (not shown), the loop control The bit separation circuit 3 outputs a loop switch circuit control signal 101 and a state bit multiplex circuit control signal 102 to the loop switch circuit 1 and the state bit multiplex circuit 2, respectively. Upon receiving the loop switch circuit control signal 101 from the loop control bit separation circuit 3, the loop switch circuit 1 transmits a data signal from a higher-level device to a terminal device (not shown), and transmits a data signal from the terminal device to the higher-level device. Is switched from a normal communication state transmitted to the host device to a test state in which a data signal from the host device is returned to the host device. The state bit multiplexing circuit 2 receives the state bit multiplexing circuit control signal 10 from the loop control bit separating circuit 3.
When 2 is received, the status bits for notifying the host device that the instruction for loop control has been received are multiplexed. That is, the status bit multiplexing circuit 2 has transmitted the status bits to the host device regardless of whether the loop switch circuit 1 operates normally.
【0003】このような従来のループ試験回路では、ル
ープスイッチ回路1が正常に動作したかどうかにかかわ
らず、状態ビット多重回路2から上位装置に状態ビット
が送信されていたので、上位装置側でデータ信号がルー
プスイッチ回路1から折返されないことを検出するま
で、ループスイッチ回路1の異常を検出することができ
ないという問題があった。また、上位装置側でデータ信
号がループスイッチ回路1から折返されないことを検出
しても、異常が発生した箇所を特定することができない
という問題があった。In such a conventional loop test circuit, the status bits are transmitted from the status bit multiplexing circuit 2 to the host device regardless of whether the loop switch circuit 1 operates normally. There is a problem that the abnormality of the loop switch circuit 1 cannot be detected until it is detected that the data signal is not looped back from the loop switch circuit 1. In addition, even if the host device detects that the data signal is not looped back from the loop switch circuit 1, there is a problem that the location where the abnormality has occurred cannot be specified.
【0004】[0004]
【発明の目的】本発明は上記のような従来のものの問題
点を除去すべくなされたもので、ループスイッチ回路の
異常を早期に検出することができ、異常が発生した箇所
の特定が可能になるループ試験回路の提供を目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to eliminate the above-mentioned problems of the prior art, and can detect an abnormality in a loop switch circuit at an early stage, and can specify a place where an abnormality has occurred. The purpose of the present invention is to provide a loop test circuit.
【0005】[0005]
【発明の構成】本発明によるループ試験回路は、上位装
置からのループ制御ビットを受信したとき、ループスイ
ッチ回路を制御するとともにループ制御に対する指示を
受取ったことを前記上位装置に通知するための状態ビッ
トを前記上位装置に送出するループ試験回路であって、
前記状態ビットを前記ループスイッチ回路を介して前記
上位装置に送出するようにしたことを特徴とする。A loop test circuit according to the present invention controls a loop switch circuit and receives an instruction for loop control when a loop control bit is received from a host device.
A status bit for notifying the host device of the
A loop test circuit for sending a signal to the host device ,
The status bit is transmitted to the host device via the loop switch circuit.
【0006】[0006]
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0007】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。図において、ループ制御ビット分離回路
3が上位装置(図示せず)からの制御信号にループ制御
ビットを検出すると、ループ制御ビット分離回路3から
ループスイッチ回路1および状態ビット多重回路2に夫
々ループスイッチ回路制御信号101 および状態ビット多
重回路制御信号102 が出力される。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention. In the figure, when a loop control bit separation circuit 3 detects a loop control bit in a control signal from a higher-level device (not shown), the loop control bit separation circuit 3 sends a loop switch to a loop switch circuit 1 and a state bit multiplexing circuit 2 respectively. A circuit control signal 101 and a state bit multiplex circuit control signal 102 are output.
【0008】ループスイッチ回路1はループ制御ビット
分離回路3からのループスイッチ回路制御信号101 を受
取ると、上位装置からのデータ信号を端末装置(図示せ
ず)に送信し、端末装置からのデータ信号を上位装置に
送信する通常の通信状態から、上位装置からのデータ信
号を上位装置に折返す試験状態への切換えを行う。When the loop switch circuit 1 receives the loop switch circuit control signal 101 from the loop control bit separation circuit 3, it transmits a data signal from a higher-level device to a terminal device (not shown), and a data signal from the terminal device. Is switched from a normal communication state in which is transmitted to the host device to a test state in which a data signal from the host device is returned to the host device.
【0009】また、状態ビット多重回路2はループスイ
ッチ回路1とループ制御ビット分離回路3との間に設け
られており、ループ制御ビット分離回路3からの状態ビ
ット多重回路制御信号102 を受取ると、ループ制御に対
する指示を受取ったことを上位装置に通知するための状
態ビットをループ制御ビット分離回路3からループスイ
ッチ回路1への信号に多重する。よって、ループ制御ビ
ット分離回路3が上位装置からの制御信号にループ制御
ビットを検出したとき、ループスイッチ回路1が正常に
動作した場合には、状態ビット多重回路2で状態ビット
が多重化された信号がループスイッチ回路1から上位装
置に折返される。一方、ループスイッチ回路1が正常に
動作しなければ、状態ビット多重回路2で状態ビットが
多重化された信号がループスイッチ回路1から上位装置
に折返されることはない。The state bit multiplexing circuit 2 is provided between the loop switch circuit 1 and the loop control bit separation circuit 3, and receives a state bit multiplexing circuit control signal 102 from the loop control bit separation circuit 3; A status bit for notifying the host device that the instruction for the loop control has been received is multiplexed into a signal from the loop control bit separation circuit 3 to the loop switch circuit 1. Therefore, when the loop control bit separation circuit 3 detects the loop control bit in the control signal from the host device and the loop switch circuit 1 operates normally, the status bits are multiplexed by the status bit multiplexing circuit 2. The signal is looped back from the loop switch circuit 1 to the host device. On the other hand, if the loop switch circuit 1 does not operate normally, the signal in which the status bits are multiplexed by the status bit multiplexing circuit 2 is not returned from the loop switch circuit 1 to the host device.
【0010】このように、状態ビット多重回路2をルー
プ制御ビット分離回路3とループスイッチ回路1との間
に設け、状態ビット多重回路2からの状態ビットをルー
プスイッチ回路1を介して上位装置に送出するようにす
ることによって、ループスイッチ回路1に異常が発生し
て上位装置からのデータ信号を折返せないとき、状態ビ
ット多重回路2からの状態ビットも上位装置に送信され
ない。よって、ループスイッチ回路1の異常を早期に検
出することができ、異常が発生した箇所の特定を可能と
することができる。すなわち、状態ビット多重回路2か
らの状態ビットが上位装置に送信されなければ、上位装
置はループスイッチ回路1の異常、または上位装置とル
ープスイッチ回路1との間の伝送路の異常と判断するこ
とができる。As described above, the status bit multiplexing circuit 2 is provided between the loop control bit separation circuit 3 and the loop switch circuit 1, and the status bits from the status bit multiplexing circuit 2 are transmitted to the host device via the loop switch circuit 1. By transmitting the data, when an error occurs in the loop switch circuit 1 and the data signal from the host device cannot be turned back, the status bit from the status bit multiplexing circuit 2 is not transmitted to the host device. Therefore, an abnormality of the loop switch circuit 1 can be detected at an early stage, and the location where the abnormality has occurred can be specified. That is, if the status bit from the status bit multiplexing circuit 2 is not transmitted to the higher-level device, the higher-level device determines that the loop switch circuit 1 is abnormal or the transmission path between the higher-level device and the loop switch circuit 1 is abnormal. Can be.
【0011】[0011]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、上
位装置からのループ制御ビットを受信したことを上位装
置に通知するための状態ビットをループスイッチ回路を
介して上位装置に送出するようにすることによって、ル
ープスイッチ回路の異常を早期に検出することができ、
異常が発生した箇所の特定が可能になるという効果があ
る。As described above, according to the present invention, a status bit for notifying a higher-level device that a loop control bit has been received from a higher-level device is transmitted to a higher-level device via a loop switch circuit. By doing so, the abnormality of the loop switch circuit can be detected early,
There is an effect that it is possible to specify the location where the abnormality has occurred.
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.
【図2】従来例の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional example.
1 ループスイッチ回路 2 状態ビット多重回路 3 ループ制御ビット分離回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Loop switch circuit 2 State bit multiplexing circuit 3 Loop control bit separation circuit
Claims (1)
したとき、ループスイッチ回路を制御するとともにルー
プ制御に対する指示を受取ったことを前記上位装置に通
知するための状態ビットを前記上位装置に送出するルー
プ試験回路であって、前記状態ビットを前記ループスイ
ッチ回路を介して前記上位装置に送出するようにしたこ
とを特徴とするループ試験回路。1. A upon receiving the loop control bit from the host device, Lou controls the loop switch circuit
Notification to the host device that the
What is claimed is: 1. A loop test circuit for transmitting a status bit to be notified to said host device , wherein said status bit is transmitted to said host device via said loop switch circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8158291A JP3160927B2 (en) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | Loop test circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8158291A JP3160927B2 (en) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | Loop test circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04292047A JPH04292047A (en) | 1992-10-16 |
JP3160927B2 true JP3160927B2 (en) | 2001-04-25 |
Family
ID=13750315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8158291A Expired - Fee Related JP3160927B2 (en) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | Loop test circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3160927B2 (en) |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP8158291A patent/JP3160927B2/en not_active Expired - Fee Related
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JPH04292047A (en) | 1992-10-16 |
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