JP3141813B2 - Dielectric strength test method using resonance type dielectric strength test equipment - Google Patents

Dielectric strength test method using resonance type dielectric strength test equipment

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JP3141813B2
JP3141813B2 JP09047606A JP4760697A JP3141813B2 JP 3141813 B2 JP3141813 B2 JP 3141813B2 JP 09047606 A JP09047606 A JP 09047606A JP 4760697 A JP4760697 A JP 4760697A JP 3141813 B2 JP3141813 B2 JP 3141813B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、トランスやコモンコイ
ル、あるいはコンデンサ等、容量性ワークの絶縁耐電圧
試験方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for testing the withstand voltage of a capacitive work such as a transformer, a common coil or a capacitor.

【0002】[0002]

【従来の技術】図8は従来公知である共振型絶縁耐電圧
試験装置の概略回路構成図、図9はその等価回路であ
る。
2. Description of the Related Art FIG. 8 is a schematic circuit diagram of a conventionally known resonance type dielectric strength voltage testing apparatus, and FIG. 9 is an equivalent circuit thereof.

【0003】前記共振型絶縁耐電圧試験装置は、共振回
路の共振現象を利用して絶縁耐電圧試験のための高電圧
の交流電源を発生させるものであって、図示するように
所定の試験周波数を発振させる発振器1を交流信号源と
して、これに接続される電力増幅器2、昇圧トランス3
を経て電流・電圧増幅された発振電圧が、抵抗R、調整
用コイルのインダクタンスL、および被試験物である容
量性のワーク4の容量C(実際はワーク4をセットする
治具5の容量C' との合成容量となる)とで構成される
LCR直列共振回路に供給されて、予め設定された所定
の共振周波数にて共振し、この時に発生する高電圧交流
電源が規定の試験電圧として前記治具5にセットされた
ワーク4の両端に印加されるように構成されている。
The resonance type dielectric strength voltage test apparatus generates a high voltage AC power supply for a dielectric strength voltage test using a resonance phenomenon of a resonance circuit. An oscillator 1 for oscillating a clock signal is used as an AC signal source, and a power amplifier 2 and a step-up transformer
The oscillating voltage obtained by current / voltage amplification through the above-described process is converted into a resistance R, an inductance L of an adjusting coil, and a capacitance C of a capacitive work 4 (actually, a capacitance C ′ of a jig 5 for setting the work 4). And resonates at a predetermined resonance frequency set in advance, and a high-voltage AC power supply generated at this time is used as a prescribed test voltage as the test voltage. It is configured to be applied to both ends of the work 4 set on the tool 5.

【0004】尚、前記LCR直列共振回路の抵抗Rは、
共振の鋭さを抑制してワーク容量のばら付きによる試験
電圧の変動を小さくするためのものである。
The resistance R of the LCR series resonance circuit is
This is for suppressing the sharpness of the resonance and reducing the fluctuation of the test voltage due to the variation of the work capacity.

【0005】ところで、図9に示す前記共振型絶縁耐電
圧装置の等価回路において、治具5を含めたワーク4の
合成容量をC、発振器1の試験角周波数をω、試験装置
の共振角周波数をω0 とした時、
In the equivalent circuit of the resonance type dielectric strength device shown in FIG. 9, the combined capacitance of the work 4 including the jig 5 is C, the test angular frequency of the oscillator 1 is ω, and the resonance angular frequency of the test device is Is ω0,

【数1】 ω0 =(LC)−1/2 =ω となるように前記調整用コイルのインダクタンスLを設
定することにより、試験角周波数ωにて前記LCR直列
共振回路を共振させることができ、この時、ワーク4の
両端に印加される電圧、すなわち試験電圧Vc は最大と
なる。
By setting the inductance L of the adjusting coil so that ω0 = (LC) −1 / 2 = ω, the LCR series resonance circuit can resonate at the test angular frequency ω, At this time, the voltage applied to both ends of the work 4, that is, the test voltage Vc becomes the maximum.

【0006】したがって、ワーク4の容量に応じてイン
ダクタンスLを調整し、試験装置の共振周波数を設定す
ると共に、共振時に得られる試験電圧Vc が絶縁耐電圧
試験規格で定められた規定の電圧値となるように発振器
1の発振電圧e0を調整することで、低い発振電圧e0で所
定の絶縁耐電圧試験を実施することができる。
Accordingly, the inductance L is adjusted in accordance with the capacity of the work 4 to set the resonance frequency of the test apparatus, and the test voltage Vc obtained at the time of resonance is adjusted to the specified voltage value specified by the dielectric strength test standard. By adjusting the oscillating voltage e0 of the oscillator 1 as described above, a predetermined withstand voltage test can be performed at a low oscillating voltage e0.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うに、ワーク4の容量Cと調整用コイルのインダクタン
スLで決定される試験装置の共振角周波数ω0 が試験角
周波数ωと同じ値に設定されている場合、標準容量を同
一とするワーク4の耐電圧試験であっても、実質的なワ
ーク容量Cのばら付きにより、ワーク4毎に共振点が変
動して発生する試験電圧Vc は大きく変化してしまう。
However, as described above, the resonance angular frequency ω0 of the test apparatus determined by the capacitance C of the work 4 and the inductance L of the adjusting coil is set to the same value as the test angular frequency ω. In this case, even in the withstand voltage test of the work 4 having the same standard capacity, the test voltage Vc generated by the fluctuation of the resonance point for each work 4 greatly changes due to the substantial variation of the work capacity C. Resulting in.

【0008】そのため、絶縁耐電圧試験の際は試験電圧
Vc を常に規定値に設定すべく、その都度、発振器1の
発振電圧e0を調整し直す必要が有り、そのため、絶縁耐
電圧試験は極めて繁雑なものとなっていた。
For this reason, it is necessary to adjust the oscillation voltage e0 of the oscillator 1 each time in order to always set the test voltage Vc to a specified value during the withstand voltage test. Had become something.

【0009】また、係る共振条件においては、ワーク容
量Cが標準容量に対して大小いずれにばら付いても、発
生する試験電圧Vc は全て規定値より低くなる方向に変
化してしまうため、試験電圧Vc の変化量からワーク容
量Cのばら付きを推定し、不良ワークを判別することは
困難であった。
Further, under such resonance conditions, the generated test voltage Vc changes in a direction lower than the specified value regardless of whether the work capacity C is larger or smaller than the standard capacity. It was difficult to estimate the variation of the work capacity C from the change amount of Vc and determine the defective work.

【0010】本発明の目的は、迅速で且つ信頼性の高い
絶縁耐電圧試験を実現可能とする共振型絶縁耐電圧試験
装置による絶縁耐電圧試験方法を提供することである。
An object of the present invention is to provide a dielectric strength voltage test method using a resonance type dielectric strength voltage test apparatus capable of realizing a quick and highly reliable dielectric strength voltage test.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】すなわち、請求項1に記
載の本発明では、抵抗(R)とインダクタンス(L)と
セットされたワーク(4)の容量(C)とで構成される
LCR直列共振回路を利用して所定周波数の交流試験電
圧(Vt )を発生させる共振型絶縁耐電圧試験装置によ
るワーク(4)の絶縁耐電圧試験方法において、前記L
CR直列共振回路の共振周波数を前記試験電圧(Vt )
の周波数よりも高く、且つワーク容量のばら付きを考慮
して設定された最大ワーク容量(C)以上にて共振する
ように設定し、絶縁耐電圧試験の際は、まず、前記LC
R直列共振回路の共振時に前記ワーク(4)への印加電
圧が規定値を越えない最大電圧となるような初期発振電
圧(e0)を発振させ、この初期発振電圧(e0)と初期発
振電圧(e0)により発生する初期印加電圧(V0 )に基
づいて試験用発振電圧(et)を算出し、次いで、算出さ
れた前記試験用発振電圧(et)を発振して規定の試験電
圧(Vt )を発生させることを特徴とする。
That is, according to the present invention, an LCR series comprising a resistance (R), an inductance (L) and a capacity (C) of a work (4) set therein. In the method for testing the dielectric strength voltage of a work (4) using a resonance type dielectric strength voltage test apparatus for generating an AC test voltage (Vt) having a predetermined frequency using a resonance circuit,
The resonance frequency of the CR series resonance circuit is set to the test voltage (Vt).
And higher than the maximum work capacity (C) that is set in consideration of the work capacity variation, and at the time of the insulation withstand voltage test, first, the LC
The voltage applied to the work (4) during resonance of the R series resonance circuit
The initial oscillation voltage at which the voltage reaches the maximum voltage that does not exceed the specified value
Voltage (e0) and oscillate the initial oscillation voltage (e0)
Based on the initial applied voltage (V0) generated by the vibration voltage (e0).
The test oscillation voltage (et) is calculated based on the
Oscillates the specified test oscillation voltage (et)
Pressure (Vt) is generated .

【0012】[0012]

【0013】また、請求項に記載の本発明では、前記
ワーク(4)が一次巻線および二次巻線を備えたトラン
スであることを特徴とする。
[0013] In the present invention according to claim 2, characterized in that the workpiece (4) is a transformer with a primary winding and a secondary winding.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】図9を等価回路とする共振型絶縁
耐電圧試験装置(以下耐電圧試験装置と呼ぶ)におい
て、交流電源の角周波数をωとすると、共振回路のイン
ピーダンスZは
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In a resonance-type insulation withstand voltage test device (hereinafter referred to as a withstand voltage test device) having an equivalent circuit shown in FIG. 9, if the angular frequency of an AC power supply is ω, the impedance Z of the resonance circuit becomes

【数2】 Z=R+j(ωL−1/ωC) となり、発振器1からの発振電圧をe0とした時、ワーク
4の両端に印加される試験電圧Vc は数2の式を用いて
## EQU2 ## When Z = R + j (ωL-1 / ωC), and the oscillation voltage from the oscillator 1 is e0, the test voltage Vc applied to both ends of the work 4 is expressed by the following equation (2).

【数3】 Vc =e0/((1−ω2 LC)+jωCR) で表すことができ、前記試験電圧Vc は共振角周波数ω
0 にて最大となる。
Vc = e0 / ((1−ω 2 LC) + jωCR) where the test voltage Vc is the resonance angular frequency ω
It becomes maximum at 0.

【0015】ところで、既述したように、従来方式の耐
電圧試験装置の場合、共振角周波数ω0 が試験角周波数
ωとほぼ同じ値に設定されているのに対し、本発明の第
一実施形態では、共振角周波数ω0 が試験角周波数ωよ
りも高くなるようにインダクタンスLが設定されてい
る。
By the way, as described above, in the case of the conventional withstand voltage test apparatus, the resonance angular frequency ω0 is set to substantially the same value as the test angular frequency ω, whereas the first embodiment of the present invention. In this example, the inductance L is set so that the resonance angular frequency ω0 is higher than the test angular frequency ω.

【0016】いま、図8において、標準容量100pF
のワーク4について、試験周波数70KHzで1500
Vの耐電圧試験を実施する場合を想定する。
Now, in FIG. 8, the standard capacitance is 100 pF.
The work 4 is 1500 at a test frequency of 70 KHz.
It is assumed that a withstand voltage test of V is performed.

【0017】従来方式では、試験周波数の70KHzで
共振するようにインダクタンスL(数1の式により、L
=51.7mHとなる)が設定されるが、本第一実施形
態の場合には、これより高い周波数で共振し、且つ、そ
の共振点がワーク容量のばら付きを考慮して定められた
最大ワーク容量C以上となるようにインダクタンスL
(L=46.3mHとなる)が設定される。この場合
振周波数は74KHzとしている。
In the conventional method, the inductance L (L is calculated by the equation (1) so as to resonate at the test frequency of 70 KHz.
= 51.7 mH), but in the case of the first embodiment, it resonates at a higher frequency, and its resonance point is the maximum determined in consideration of the variation in the work capacity. Inductance L so that it becomes more than work capacity C
(L = 46.3 mH) is set. In this case ,
Resonance frequency is set to 74 kHz.

【0018】図6に示す特性は、夫々設定されたインダ
クタンスLを基に、数3の式によりワークの容量の変化
に伴う試験電圧Vc の変化を算出し、ワーク容量に対す
る試験電圧値をプロットしたものである。図中、特性A
は試験装置の共振周波数が70KHzに設定された従来
方式、特性Bは共振周波数が74KHzに設定された第
一実施形態を示している。
The characteristic shown in FIG. 6 is obtained by calculating the change in the test voltage Vc with the change in the work capacity based on the set inductance L according to the equation (3), and plotting the test voltage value with respect to the work capacity. Things. In the figure, characteristic A
Represents a conventional method in which the resonance frequency of the test apparatus is set to 70 KHz, and characteristic B represents the first embodiment in which the resonance frequency is set to 74 KHz.

【0019】第一実施形態では、数3の式におけるe0は
昇圧トランス3の二次側電圧を示しており、ワーク4の
標準容量値である100pFの点で試験電圧が1500
Vとなるように発振器1の発振電圧が調整されている。
すなわち、特性Bの共振点はワーク容量110pFに設
定され、この時に発生する共振電圧は約2400Vであ
る。
In the first embodiment, e0 in the equation (3) represents the secondary voltage of the step-up transformer 3, and the test voltage is 1500 at the point of 100 pF which is the standard capacitance value of the work 4.
The oscillation voltage of the oscillator 1 is adjusted to be V.
That is, the resonance point of the characteristic B is set to the work capacity of 110 pF, and the resonance voltage generated at this time is about 2400V.

【0020】それゆえ、図6から明らかなように、試験
装置の共振周波数を試験周波数と同じ70KHzに設定
するようにした従来方式では、ワーク容量Cが標準容量
である100pFで試験電圧Vc が最大(1500V)
となり、ワーク容量Cがこれより大きくなっても小さく
なっても試験電圧Vc は低下していく。
Therefore, as is apparent from FIG. 6, in the conventional method in which the resonance frequency of the test apparatus is set to 70 KHz, which is the same as the test frequency, the test voltage Vc is the maximum when the work capacitance C is 100 pF, which is the standard capacitance. (1500V)
Thus, the test voltage Vc decreases regardless of whether the work capacity C becomes larger or smaller.

【0021】これに対し、第一実施形態では、上述のよ
うに、試験周波数70KHzでワーク容量110pFに
共振点を持つため、標準値(100pF)よりも容量の
小さいワーク4がセットされると1500Vより低い試
験電圧Vc が印加され、また、標準値よりも容量の大き
いワーク4がセットされると、これより高い試験電圧V
c が印加されるようになる。
On the other hand, in the first embodiment, as described above, the test frequency is 70 KHz, and the work capacity has a resonance point at 110 pF. Therefore, when the work 4 having a capacity smaller than the standard value (100 pF) is set. When a test voltage Vc lower than 1500 V is applied and a work 4 having a capacity larger than the standard value is set, a higher test voltage Vc is set.
c is applied.

【0022】以上のように、本発明の第一実施形態によ
れば、発振電圧e0が一定であれば、その時、ワーク4に
印加される試験電圧Vc の変化量から、耐電圧試験に供
されるワーク4の容量が許容できるばら付き範囲内(例
えば、標準容量100pFのワーク4であれば、ばら付
きの範囲は90〜110pF)にあるかどうかを推定す
ることが可能となる。
As described above, according to the first embodiment of the present invention, when the oscillation voltage e0 is constant, the withstand voltage test is performed based on the change in the test voltage Vc applied to the work 4 at that time. It is possible to estimate whether or not the capacity of the work 4 is within an allowable variation range (for example, if the work 4 has a standard capacity of 100 pF, the variation range is 90 to 110 pF).

【0023】したがって、耐電圧試験装置における試験
電圧Vc の特性を図6のBのように設定することによっ
て、例えば、トランスの絶縁耐電圧を試験する場合、そ
の時発生する試験電圧からトランス一次巻線と二次巻線
間の空間距離のばら付きを推定することで、不良品の選
別が可能である。
Therefore, by setting the characteristic of the test voltage Vc in the withstand voltage test apparatus as shown in FIG. 6B, for example, when testing the insulation withstand voltage of the transformer, the transformer primary winding is determined from the test voltage generated at that time. By estimating the variation in the spatial distance between the secondary winding and the secondary winding, defective products can be selected.

【0024】図1は本発明の第二実施形態を示す耐電圧
試験装置の概略ブロック構成図であって、従来方式の耐
電圧試験装置に、試験電圧監視部8、発振電圧制御部
6、および、これらを制御するコントローラ9を備えて
耐電圧試験を実施する際、ワーク4への印加電圧(試験
電圧Vc )を自動的に且つ瞬時に設定可能とした、自動
絶縁耐電圧試験装置である。
FIG. 1 is a schematic block diagram of a withstand voltage test apparatus according to a second embodiment of the present invention. In the conventional withstand voltage test apparatus, a test voltage monitoring unit 8, an oscillation voltage control unit 6, and This is an automatic insulation withstand voltage test apparatus that can automatically and instantaneously set the applied voltage (test voltage Vc) to the work 4 when the withstand voltage test is performed by including the controller 9 for controlling these.

【0025】図2にその具体的な構成を示せば、前記発
振電圧制御部6として前記コントローラ9により出力可
変の発振器1が、共振調整部7として抵抗Rとインダク
タLの組み合わせが、試験電圧監視部8として電圧計が
使用されている。
FIG. 2 shows the specific configuration. The oscillator 1 whose output is variable by the controller 9 is used as the oscillation voltage control unit 6, the combination of the resistor R and the inductor L is used as the resonance adjustment unit 7, and the test voltage monitor is used. A voltmeter is used as the unit 8.

【0026】次に、図3および図7に基づいて、本第二
実施形態における耐電圧試験方法について説明する。図
3は自動化された絶縁耐電圧試験方式を示すフローチャ
ートであり、図7は本試験方式を実施するために設定さ
れた試験電圧対ワーク容量特性である。
Next, a withstand voltage test method according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is a flowchart showing an automated withstand voltage test method, and FIG. 7 shows a test voltage vs. work capacity characteristic set for carrying out this test method.

【0027】先ず、耐電圧試験を開始する前に試験条
件、すなわち、試験電圧Vt 値(例えば1500V)、
および試験周波数f値(例えば70KHz)を夫々コン
トローラ9に入力する。
First, before starting a withstand voltage test, test conditions, that is, a test voltage Vt value (for example, 1500 V),
The test frequency f value (for example, 70 KHz) is input to the controller 9.

【0028】ところで、共振型の耐電圧試験装置では、
昇圧トランス3の二次側電圧が一定であれば、ワーク容
量Cがばら付いた時の最大試験電圧は共振時の電圧であ
り、逆に、ワーク容量Cが変化しても一定の試験電圧を
得るための必要最小限の昇圧トランス3の二次側電圧も
また共振時の電圧である。
By the way, in a resonance type withstand voltage test apparatus,
If the secondary voltage of the step-up transformer 3 is constant, the maximum test voltage when the work capacity C varies is the voltage at the time of resonance. The minimum necessary secondary voltage of the step-up transformer 3 for obtaining is also the voltage at the time of resonance.

【0029】そこで、本耐電圧試験の第一ステップとし
て、予め入力されている前記試験条件に基づき、耐電圧
試験に供するワーク4の容量のばら付きの範囲内で規定
の試験電圧(1500V)を超えない発振器1の最大の
発振電圧、すなわち、共振時に規定の試験電圧を得るた
めの初期発振電圧e0を算出し、コントローラ9の制御の
基、前記発振電圧制御部6を制御して算出した初期発振
電圧e0を発振させる(図7によれば、昇圧トランス3の
二次側電圧は約110Vに設定されている)。
Therefore, as a first step of the withstand voltage test, a prescribed test voltage (1500 V) is set based on the previously inputted test conditions within a range of variation in the capacity of the workpiece 4 to be subjected to the withstand voltage test. The maximum oscillating voltage of the oscillator 1 which does not exceed, that is, the initial oscillating voltage e0 for obtaining a specified test voltage at the time of resonance is calculated, and under the control of the controller 9, the initial oscillating voltage calculated by controlling the oscillating voltage control unit 6 is calculated. oscillating the oscillation voltage e0 (According to Figure 7, the step-up transformer 3
The secondary voltage is set at about 110V).

【0030】ここで、初期発振電圧e0は、例えば以下の
手順で算出することができる。
Here, the initial oscillation voltage e0 can be calculated by the following procedure, for example.

【0031】共振時のワーク4への印加電圧Vc は、昇
圧トランス3の二次側電圧をE2とすると
The voltage Vc applied to the work 4 at the time of resonance is given assuming that the secondary voltage of the step-up transformer 3 is E2.

【数4】 Vc =jω0 L・E2 /R と表すことができる。Equation 4] Vc = - can be represented as jω0 L · E2 / R.

【0032】また、電力増幅器2の増幅度と昇圧トラン
ス3の昇圧比は既知であるから、数4の式により共振時
の発振電圧と試験電圧の関係は容易に求めることができ
る。したがって、上記関係より初期発振電圧e0 は試験
周波数fと試験電圧Vt の関数g(f,Vt )より算出
できる。また、別の方法として、予め上記算出結果をテ
ーブルの形で設定しておいて、その都度参照するように
しても良い。
Further, since the amplification degree of the power amplifier 2 and the boost ratio of the boost transformer 3 are known, the relationship between the oscillation voltage at the time of resonance and the test voltage can be easily obtained from the equation (4). Therefore, from the above relationship, the initial oscillation voltage e0 can be calculated from the function g (f, Vt) of the test frequency f and the test voltage Vt. As another method, the above calculation result may be set in the form of a table in advance and referred to each time.

【0033】次に、耐電圧試験の第二ステップとして、
初期発振電圧e0 を発振させた時、ワーク4の両端に印
加される初期印加電圧V0 を試験電圧監視部10にて測
定し、予め設定されている前記初期発振電圧e0、および
試験電圧Vt と、測定された初期印加電圧V0 とをパラ
メータとした関数h(e0,V0 ,Vt )より、規定の試
験電圧Vt (1500V)を得るための発振電圧etを算
出する。
Next, as a second step of the withstand voltage test,
When the initial oscillation voltage e0 is oscillated, an initial applied voltage V0 applied to both ends of the work 4 is measured by the test voltage monitoring unit 10, and the preset initial oscillation voltage e0 and test voltage Vt are determined by: An oscillation voltage et for obtaining a prescribed test voltage Vt (1500 V) is calculated from a function h (e0, V0, Vt) using the measured initial applied voltage V0 as a parameter.

【0034】例えば、発振電圧etは数5の式により比例
計算で求めることができるが、前記同様、テーブル参照
形式としても良い。
For example, the oscillation voltage et can be obtained by a proportional calculation according to the equation (5).

【0035】[0035]

【数5】 et=Vt ・e0/V0 次に、発振電圧制御部6を制御して算出された発振電圧
etにて試験電圧を印加し、規定の耐電圧試験を実施す
る。
[Equation 5] et = Vt · e0 / V0 Next, the oscillation voltage calculated by controlling the oscillation voltage control unit 6
A test voltage is applied by et and the specified withstand voltage test is performed.

【0036】例えば、図7は共振点がワーク容量110
pFに設定された耐電圧試験装置により、標準容量10
0pFのワーク4を試験電圧1500Vにて耐電圧試験
する場合の試験電圧特性を示したものである。図中、特
性Aは前記した第一ステップで設定されるもので、共振
時に試験電圧が1500Vとなる初期発振電圧での試験
電圧特性、一方、特性Bは前記した第二ステップで設定
される、ワーク容量100pFで試験電圧が1500V
となるような発振電圧での試験電圧特性、特性Cは試験
電圧を1500Vにするための各ワーク容量に対応する
昇圧トランス3の二次側電圧である。
[0036] For example, FIG. 7 is resonance point work capacity 110
With a withstand voltage tester set to pF, a standard capacity of 10
This shows test voltage characteristics when a withstand voltage test is performed on a work 4 having a test voltage of 1500 V at 0 pF. In the figure, the characteristic A is set in the first step described above, and the test voltage characteristic at the initial oscillation voltage at which the test voltage becomes 1500 V at the time of resonance, while the characteristic B is set in the second step described above. Test voltage is 1500V with work capacity of 100pF
The test voltage characteristic at the oscillation voltage such that the characteristic C is the secondary voltage of the step-up transformer 3 corresponding to each work capacity for setting the test voltage to 1500 V.

【0037】ところで、前記第一実施形態では、試験装
置の共振周波数が試験周波数よりも高くなるように(例
えば74KHz)設定されており、印加電圧が最大とな
る共振時の電圧を試験電圧とする従来方式と異なり、共
振点を外れた標準容量100pFの点で規定の試験電圧
1500Vが得られるように発振電圧が設定されている
ため、ワーク容量Cのばら付き具合によっては、ワーク
4に規定以上の電圧が印加される場合が有り、これがワ
ーク4の破壊につながる危険性がある。そのため、耐電
圧試験に際しては、ワーク4に印加される電圧が規定の
試験電圧1500Vを越えないよう、発振電圧を徐々に
上昇させて行く必要があるが、これでは電圧設定に時間
が掛かりすぎて耐電圧試験が繁雑になると共に、試験電
圧の印加時間に誤差が生じることになる。
In the first embodiment, the resonance frequency of the test apparatus is set to be higher than the test frequency (for example, 74 KHz), and the voltage at the time of resonance at which the applied voltage becomes maximum is used as the test voltage. Unlike the conventional method, the oscillation voltage is set so that the specified test voltage 1500 V can be obtained at the point of the standard capacitance 100 pF outside the resonance point. May be applied, and this may lead to destruction of the work 4. Therefore, in the withstand voltage test, it is necessary to gradually increase the oscillation voltage so that the voltage applied to the work 4 does not exceed the prescribed test voltage of 1500 V. However, this takes too much time to set the voltage. The withstand voltage test becomes complicated, and an error occurs in the application time of the test voltage.

【0038】ところが、上述した第二実施形態によれ
ば、予め設定した試験条件に基づいて自動的に規定の試
験電圧が算出・設定されるため、電圧設定時にワーク4
に規定以上の電圧が印加される心配はない。したがっ
て、短時間で且つ安全に規定の試験電圧が設定可能とな
る。
However, according to the above-described second embodiment, the specified test voltage is automatically calculated and set based on the preset test conditions.
There is no need to worry that a voltage higher than the specified voltage is applied. Therefore, the prescribed test voltage can be set safely in a short time.

【0039】また、本第二実施形態では、図4のフロー
チャートに示すように、予めワーク容量のばら付きを考
慮して定めた許容最低電圧VL1を設定しておくことによ
り、前記した耐電圧試験の第一ステップにおいて、初期
発振電圧e0により発生した初期試験電圧V0 がこの許容
最低電圧VL1以下となった場合、ワーク4が治具5に正
しくセットされていないと判断して耐電圧試験を中止す
るように制御することができる。これは、印加電圧は容
量Cに依存することから、ワーク4のセット不良によっ
てワーク容量Cがばら付きの範囲を越えて小さくなり、
印加電圧が極端に低下してしまったものと判断できるた
めである。
Further, in the second embodiment, as shown in the flowchart of FIG. 4, by setting the allowable minimum voltage VL1 which is determined in advance in consideration of the variation of the work capacity, the above-described withstand voltage test is performed. In the first step, when the initial test voltage V0 generated by the initial oscillation voltage e0 becomes equal to or lower than the allowable minimum voltage VL1, it is determined that the work 4 is not correctly set on the jig 5 and the withstand voltage test is stopped. Can be controlled to This is because, since the applied voltage depends on the capacitance C, the work capacitance C becomes smaller than the variation range due to a defective setting of the work 4, and
This is because it can be determined that the applied voltage has dropped extremely.

【0040】いま、ワーク4のセット不良が発生したと
すると、図7に示す特性Aのように、治具5とワーク4
の合成容量Cが治具5の容量C' のみとなるため、ばら
付きを考慮した最小のワーク容量(例えば、90pF)
より減少し、初期印加電圧V0 がこの最小容量90pF
で発生する電圧、すなわち、許容最低電圧VL1(図7よ
り約550V)よりも低下してしまうことから、ワーク
4のセット不良と判定される。
Now, assuming that a setting failure of the work 4 occurs, as shown by a characteristic A in FIG.
Is the only capacity C ′ of the jig 5, so the minimum work capacity (for example, 90 pF) in consideration of the variation
And the initial applied voltage V0 is reduced to the minimum capacitance of 90 pF.
, That is, lower than the permissible minimum voltage VL1 (about 550 V in FIG. 7), it is determined that the work 4 is set improperly.

【0041】ところで、前記第二実施形態による自動絶
縁耐電圧試験では、ワーク容量の変化に応じて自動的に
発振電圧を変化させることで規定の試験電圧を印加させ
る制御形態であるので、上述のようにワーク4のセット
が適正に行われていない場合であっても、耐電圧試験を
実行しまう可能性があるが、上述のように許容最低電圧
VL1を設定し、これをチェックすることで、規定電圧に
よる耐電圧試験を実施する前にワーク4のセット不良が
検知できるため、係る不都合は防止されて全てのワーク
4に対して信頼性の高い絶縁耐電圧試験が実施できるよ
うになる。
The automatic withstand voltage test according to the second embodiment is a control mode in which a specified test voltage is applied by automatically changing an oscillation voltage according to a change in work capacity. Even if the work 4 is not properly set as described above, the withstand voltage test may be performed. However, by setting the allowable minimum voltage VL1 as described above and checking this, Since the setting failure of the work 4 can be detected before the withstand voltage test at the specified voltage is performed, such inconvenience is prevented, and the highly reliable withstand voltage test can be performed on all the works 4.

【0042】さらに、本第二実施形態では、図5のフロ
ーチャートに示すように、予め、許容最低電圧VL2を設
定することにより、前記した耐電圧試験の第二ステップ
において、電圧耐電圧試験を実施中に試験用発振電圧et
により発生した試験電圧Vtがこの許容最低電圧VL2以
下となった場合、ワーク4が絶縁破壊を起こしてワーク
容量Cがばら付きの範囲を越えて増大したものと判断し
て耐電圧試験を中止するように制御することができる。
Further, in the second embodiment, as shown in the flowchart of FIG. 5, by setting the allowable minimum voltage VL2 in advance, the voltage withstand voltage test is performed in the second step of the withstand voltage test. Test oscillation voltage et during
When the test voltage Vt generated by the above becomes less than the allowable minimum voltage VL2, it is judged that the work 4 has caused dielectric breakdown and the work capacity C has increased beyond the range of variation, and the withstand voltage test is stopped. Can be controlled as follows.

【0043】例えば、図7に示す試験条件(特性B)で
は、許容最低電圧VL2は約850Vに設定している。こ
の電圧値は、ワーク容量に換算すると130pFに相当
し、標準容量100pFのワークの容量のばら付き範囲
(最大110pF)を大きく越えたものであるから、こ
れよりワーク4の絶縁破壊と判定できる。
For example, under the test conditions (characteristic B) shown in FIG. 7, the allowable minimum voltage VL2 is set to about 850V. This voltage value is equivalent to 130 pF when converted to the work capacity, and greatly exceeds the variation range of the capacity of the work having the standard capacity of 100 pF (maximum 110 pF).

【0044】前記したワーク4のセット不良や絶縁破壊
の発生は、いずれも試験電圧監視部8による測定データ
に基づき、コントローラ9によって判定されるものであ
って、異常が検出された場合、発振電圧制御部6が制御
されて発振電圧が自動的に停止される構成であるため、
異常発生時の耐電圧試験の停止は極めて的確に行われる
ものである。
The setting failure of the work 4 and the occurrence of the dielectric breakdown are all judged by the controller 9 based on the measurement data by the test voltage monitoring unit 8. When an abnormality is detected, the oscillation voltage Since the control unit 6 is controlled and the oscillation voltage is automatically stopped,
Stopping the withstand voltage test when an abnormality occurs is performed very accurately.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
本発明によれば、共振型絶縁耐電圧試験装置による絶縁
耐電圧試験において、試験装置の共振周波数を試験周波
数よりも高くなるように設定することにより、発振電圧
が一定であればワーク容量に応じて試験電圧が一方向に
変化することから、試験電圧によりワーク容量のばら付
きを推定することができる。そこで、絶縁耐電圧試験の
際に、印加される試験電圧を監視すれば、ワークの不良
を検知することが可能となる。特に係る絶縁耐電圧試験
の際、まず、第一ステップで、予め設定した試験条件よ
り初期発振電圧を設定し、次に、第二ステップで、この
初期発振電圧により発生する初期印加電圧より実際の試
験用発振電圧を算出し、この試験用発振電圧を発振させ
て規定の試験電圧を得るようにしたので、耐電圧試験
時、ワークに規定以上の試験電圧が印加されることは無
くなり、過電圧によるワークの破壊事故が防止されると
共に、係る方法であれば、短時間で規定の試験電圧が設
定できるため、信頼性の高い絶縁耐電圧試験が迅速、且
つ容易に実施できるようになる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, in the insulation withstand voltage test using the resonance type insulation withstand voltage test apparatus, the resonance frequency of the test apparatus is set higher than the test frequency. If the oscillation voltage is constant, the test voltage changes in one direction in accordance with the work capacity if the oscillation voltage is constant. Therefore, it is possible to estimate the variation in the work capacity based on the test voltage. Therefore, when the applied test voltage is monitored during the insulation withstand voltage test, it is possible to detect a work defect. Especially withstand voltage test
First, in the first step, set the test conditions set in advance.
Set the initial oscillation voltage, and then in the second step
From the initial applied voltage generated by the initial oscillation voltage,
Calculate the test oscillation voltage and oscillate this test oscillation voltage.
To obtain the specified test voltage.
Test voltage higher than the specified
And the work breakdown due to overvoltage is prevented.
In both cases, the specified test voltage can be set in a short time with this method.
Because of this, a reliable and reliable withstand voltage test can be performed quickly and
Can be easily implemented.

【0046】[0046]

【0047】また、請求項に記載の本発明によれば、
前記絶縁耐電圧試験方法によりトランスを試験すれば、
試験電圧のばら付きからトランス一次巻線と二次巻線間
の空間距離のばら付きを推定することができ、よって、
不良品の判別も可能となる。
According to the second aspect of the present invention,
If the transformer is tested according to the insulation withstand voltage test method,
From the variation in the test voltage, it is possible to estimate the variation in the spatial distance between the primary winding and the secondary winding of the transformer.
Defective products can also be determined.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る絶縁耐電圧試験装置の概略ブロッ
ク構成図である。
FIG. 1 is a schematic block diagram of an insulation withstand voltage test apparatus according to the present invention.

【図2】同、絶縁耐電圧試験装置の概略回路構成図であ
る。
FIG. 2 is a schematic circuit configuration diagram of the same device.

【図3】本発明に係る絶縁耐電圧試験の手順を示すフロ
ーチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing a procedure of an insulation withstand voltage test according to the present invention.

【図4】同、絶縁耐電圧試験におけるワークのセット不
良を判断する手順を示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing a procedure for determining a work setting failure in an insulation withstand voltage test.

【図5】同、自動絶縁耐電圧試験におけるワークの破壊
を判断する手順を示すフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing a procedure for judging the destruction of a work in the automatic withstand voltage test.

【図6】ワーク容量の変化に伴う試験電圧の変化を示す
図である。
FIG. 6 is a diagram showing a change in test voltage according to a change in work capacity.

【図7】図6とは別のワーク容量の変化に伴う試験電圧
の変化を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a change in test voltage according to a change in work capacity, which is different from that in FIG. 6;

【図8】従来の共振型絶縁耐電圧試験装置の概略回路構
成図である。
FIG. 8 is a schematic circuit configuration diagram of a conventional resonance-type insulation withstand voltage test apparatus.

【図9】図8の等価回路図である。9 is an equivalent circuit diagram of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 ワーク e0 初期発振電圧 V0 初期印加電圧 et 試験用発振電圧 Vt 試験電圧 4 Work e0 Initial oscillation voltage V0 Initial application voltage et Test oscillation voltage Vt Test voltage

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−209361(JP,A) 特開 平8−136609(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 27/00 - 27/32 G01R 31/12 - 31/20 Continuation of front page (56) References JP-A-61-209361 (JP, A) JP-A-8-136609 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 27 / 00-27/32 G01R 31/12-31/20

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 抵抗(R)とインダクタンス(L)とセ
ットされたワーク(4)の容量(C)とで構成されるL
CR直列共振回路を利用して所定周波数の交流試験電圧
(Vt )を発生させる共振型絶縁耐電圧試験装置による
ワーク(4)の絶縁耐電圧試験方法において、 前記LCR直列共振回路の共振周波数を前記試験電圧
(Vt )の周波数よりも高く、且つワーク容量のばら付
きを考慮して設定された最大ワーク容量(C)以上にて
共振するように設定し、 絶縁耐電圧試験の際は、 まず、前記LCR直列共振回路の共振時に前記ワーク
(4)への印加電圧が規定値を越えない最大電圧となる
ような初期発振電圧(e0)を発振させ、この初期発振電
圧(e0)と初期発振電圧(e0)により発生する初期印加
電圧(V0 )に基づいて試験用発振電圧(et)を算出
し、 次いで、算出された前記試験用発振電圧(et)を発振し
て規定の試験電圧(Vt )を発生させることを特徴とす
る共振型絶縁耐電圧試験装置による絶縁耐電圧試験方
法。
An L comprising a resistance (R), an inductance (L) and a capacity (C) of a set work (4).
In a method for testing a dielectric strength voltage of a work (4) using a resonance type dielectric strength voltage test apparatus for generating an AC test voltage (Vt) of a predetermined frequency using a CR series resonance circuit, the resonance frequency of the LCR series resonance circuit is It is set to resonate at a frequency higher than the test voltage (Vt) and at the maximum work capacity (C) which is set in consideration of the variation of the work capacity. At the time of resonance of the LCR series resonance circuit, an initial oscillation voltage (e0) is oscillated such that a voltage applied to the work (4) becomes a maximum voltage that does not exceed a specified value, and the initial oscillation voltage (e0) and the initial oscillation voltage A test oscillation voltage (et) is calculated based on the initial applied voltage (V0) generated by (e0), and then the calculated test oscillation voltage (et) is oscillated to determine a specified test voltage (Vt). Generate A dielectric strength test method using a resonance type dielectric strength test apparatus.
【請求項2】 前記ワーク(4)が一次巻線および二次
巻線を備えたトランスであることを特徴とする請求項1
に記載の共振型絶縁耐電圧試験装置による絶縁電圧試
験方法。
2. The method according to claim 1, wherein the workpiece is a transformer having a primary winding and a secondary winding.
3. A dielectric strength voltage test method using the resonance type dielectric strength voltage test apparatus according to 4.
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