JP3140558B2 - Optical axis correction device for laser light - Google Patents
Optical axis correction device for laser lightInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えばレーザ光を用い
てパターン描画を行うレーザプロッタ等のレーザ光装置
に適用して好適なレーザ光の光軸補正装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser beam optical axis correction device suitable for use in a laser beam device such as a laser plotter for drawing a pattern using a laser beam.
【0002】[0002]
【従来の技術】レーザ光を用いて感光材料にパターン描
画を行うための装置としてレーザプロッタがあり、レー
ザ光源から射出されたレーザ光をポリゴンミラー,fθ
レンズ等からなる走査部によって感光材料の表面に走査
させ、所要のパターンの描画を行っている。このような
レーザ光装置では、設計通りのパターンを描画するには
走査部におけるレーザ光の光軸位置を高精度に制御する
必要があり、このため、従来からレーザ光の光路の一部
に光軸補正装置を設け、レーザ光の光軸が基準位置から
ずれたときに、これを補正する光軸補正装置が設けられ
ている。例えば、光路の一部にハーフミラーを設けてレ
ーザ光の一部を分岐させ、分岐させたレーザ光をポジシ
ョンセンサで受光し、その出力値に基づいて光軸のずれ
量を検出する。又、これよりも前段の光路には駆動ミラ
ーを設けておき、この駆動ミラーの角度を、検出した光
軸のずれ量に基づいて調整することで光軸を基準位置に
制御する。2. Description of the Related Art There is a laser plotter as an apparatus for drawing a pattern on a photosensitive material using a laser beam, and a laser beam emitted from a laser light source is converted into a polygon mirror, fθ
The surface of the photosensitive material is scanned by a scanning unit including a lens or the like, and a required pattern is drawn. In such a laser beam device, it is necessary to control the optical axis position of the laser beam in the scanning section with high precision in order to draw a pattern as designed, and therefore, the laser beam is conventionally provided in a part of the optical path of the laser beam. An axis correcting device is provided, which corrects the optical axis of the laser beam when the optical axis deviates from the reference position. For example, a half mirror is provided in a part of the optical path to split a part of the laser light, the split laser light is received by a position sensor, and the shift amount of the optical axis is detected based on the output value. Further, a drive mirror is provided in an optical path at a stage earlier than this, and the angle of the drive mirror is adjusted based on the detected shift amount of the optical axis to control the optical axis to the reference position.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】このように従来の光軸
補正装置は、光路の途中位置においてレーザ光の光軸位
置を制御するものとされている。即ち、光軸位置はレー
ザ光の終端位置で制御することが好ましいものである
が、レーザプロッタのようにレーザ光の終端位置である
走査部においてレーザ光を高速で走査する機構を有する
レーザ光装置では、光軸位置を検出するためのボジョン
センサを終端位置に配置することに制約があるため、終
端位置での光軸位置を検出することは困難となる。この
ため、従来では可及的に終端位置に近い光路位置で光軸
の検出及び補正を行っている。As described above, the conventional optical axis correcting device controls the optical axis position of the laser light at a position along the optical path. That is, although it is preferable that the optical axis position is controlled by the end position of the laser beam, a laser light device having a mechanism for scanning the laser beam at a high speed in a scanning section at the end position of the laser beam, such as a laser plotter. In such a case, since there is a restriction in arranging the position sensor for detecting the optical axis position at the terminal position, it is difficult to detect the optical axis position at the terminal position. For this reason, conventionally, the detection and correction of the optical axis are performed at an optical path position as close as possible to the end position.
【0004】しかしながら、光路の途中で光軸位置の制
御を行っても、それよりも後段における光軸の位置ずれ
を補正することができず、結果として終端位置である走
査部において光軸の位置ずれが発生し、これが原因とな
って設計通りのパターン描画ができなくなるという問題
が生じる。特に、レーザプロッタでは、走査部がポリゴ
ンミラー,fθレンズ、テレセントリック光学系等の多
数の部品で構成されており、これらの部品が温度,湿
度,気圧等の変動によって微小変形され、或いは装置基
台上で微細変動されるため、終端部における光軸の位置
変動を無視することができず、パターン描画の誤差が顕
著なものになり易い。本発明の目的は、レーザ光の終端
位置における光軸位置を高精度に制御することが可能な
レーザ光の光軸補正装置を提供することにある。However, even if the control of the position of the optical axis is performed in the middle of the optical path, the displacement of the optical axis at a later stage cannot be corrected. A shift occurs, which causes a problem that a pattern cannot be drawn as designed. In particular, in a laser plotter, a scanning unit is composed of a number of components such as a polygon mirror, an fθ lens, and a telecentric optical system, and these components are minutely deformed due to changes in temperature, humidity, air pressure, or the like, or a device base. Due to the above-mentioned minute fluctuation, the fluctuation of the position of the optical axis at the terminal end cannot be neglected, and the error in pattern drawing tends to be remarkable. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a laser beam optical axis correction device capable of controlling the optical axis position at the end position of the laser beam with high accuracy.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、レーザ光源か
ら射出されるレーザ光の光路に配置され、駆動されたと
きにレーザ光の光路を変化させる駆動ミラーと、この駆
動ミラーを制御するミラー駆動部と、レーザ光の光軸位
置をその光路途中で検出する手段と、レーザ光装置の環
境温度、湿度、気圧等の環境条件を検出する手段と、環
境条件の変化に対応する光軸補正量を記憶する手段と、
光軸位置検出手段の検出値と前記環境条件検出手段の検
出値に基づいて記憶手段から対応する光軸補正量を読み
出し、この補正量に基づいてミラー駆動部を制御する制
御部とを備える。又、記憶手段には、環境条件の変化に
応じて変化される光軸位置検出手段での光軸位置データ
と、この光軸位置の変化に伴って変化されるレーザ光の
光路終端位置における光軸位置データとが記憶される。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is directed to a driving mirror disposed on an optical path of a laser beam emitted from a laser light source and changing the optical path of the laser beam when driven, and a mirror for controlling the driving mirror. A drive unit, means for detecting the optical axis position of the laser light along the optical path, means for detecting environmental conditions such as the ambient temperature, humidity, and atmospheric pressure of the laser light device, and optical axis correction corresponding to changes in the environmental conditions Means for storing the quantity;
A control unit that reads a corresponding optical axis correction amount from the storage unit based on the detection value of the optical axis position detection unit and the detection value of the environmental condition detection unit, and controls the mirror driving unit based on the correction amount. Further, the storage means includes optical axis position data at the optical axis position detecting means which is changed in accordance with a change in environmental conditions, and light at the optical path end position of the laser light which is changed as the optical axis position is changed. The axis position data is stored.
【0006】[0006]
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明が適用されるレーザ光装置としてのレ
ーザプロッタの概略斜視図である。このレーザプロッタ
は、基台1の上面に一対のレール2を敷設し、走査テー
ブル3がドライブモータ4によって前記レール2上を図
示X方向に移動される。この走査テーブル3の上面には
パターン描画される感光材料を塗布したシート材、例え
ばプリント配線板のマスクフィルム5が載置される。Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic perspective view of a laser plotter as a laser light device to which the present invention is applied. In this laser plotter, a pair of rails 2 is laid on the upper surface of a base 1, and a scanning table 3 is moved on the rails 2 by a drive motor 4 in the X direction in the figure. On the upper surface of the scanning table 3, a sheet material coated with a photosensitive material for pattern drawing, for example, a mask film 5 of a printed wiring board is placed.
【0007】又、前記基台1上には前記走査テーブルを
跨ぐように固定テーブル6が固定され、この固定テーブ
ル6上にレーザ光学系が配設される。このレーザ光学系
は、レーザ光を射出するArレーザ光源7と、射出され
たレーザ光を反射させて最終的に走査部8にまで導く複
数枚(ここでは3枚)のミラー9,10,11と、レー
ザ光の大部分は透過させるがその一部を反射分岐させる
ハーフミラー12と、パターン描画に際してレーザ光を
オン・オフ変調するための光学変調器13と、光路途中
のレーザ光束を集束させるレンズ14と、レーザ光を前
記走査テーブル3上のマスクフィルム5面に走査する前
記した走査部8とを有している。この走査部8は高速で
回転してレーザ光を反射させるポリゴンミラー15と、
fθレンズ16と、曲げミラー17と、コンデンサレン
ズ18を備え、レーザ光を前記走査テーブル3上のマス
クフィルム5に対して図示のY方向に走査する。A fixed table 6 is fixed on the base 1 so as to straddle the scanning table, and a laser optical system is provided on the fixed table 6. This laser optical system includes an Ar laser light source 7 that emits laser light, and a plurality of (here, three) mirrors 9, 10, and 11 that reflect the emitted laser light and finally guide the laser light to the scanning unit 8. And a half mirror 12 that transmits most of the laser light but reflects and branches a part of the laser light, an optical modulator 13 for on / off modulation of the laser light at the time of pattern drawing, and converges a laser light flux in the optical path. The scanning unit 8 includes a lens 14 and a laser beam that scans the surface of the mask film 5 on the scanning table 3 with the laser beam. The scanning unit 8 rotates at a high speed and reflects a laser beam.
lens, bending mirror 17, and condenser lens, and scans the mask film 5 on the scanning table 3 with the laser light in the Y direction as shown.
【0008】前記ハーフミラー12の反射面側にはポジ
ションセンサ19が対向するように配置されており、ハ
ーフミラー12で反射されたレーザ光を受光し、基準の
光軸位置に対する変位量に応じた光軸位置信号を出力す
るように構成される。又、このハーフミラー12よりも
前段の2枚のミラー、ここではミラー10及び11はそ
れぞれ駆動ミラーとして構成されており、図1には示さ
れていないミラー駆動機構によって、ミラー10は上下
方向に角度調整され、ミラー11は左右方向に角度調整
される。A position sensor 19 is disposed on the reflection surface side of the half mirror 12 so as to face the same, receives the laser beam reflected by the half mirror 12, and responds to a displacement amount with respect to a reference optical axis position. It is configured to output an optical axis position signal. The two mirrors preceding the half mirror 12, here mirrors 10 and 11, are each configured as a driving mirror, and the mirror 10 is vertically moved by a mirror driving mechanism (not shown in FIG. 1). The angle is adjusted, and the angle of the mirror 11 is adjusted in the left-right direction.
【0009】前記ポジションセンサ19,ハーフミラー
12及びミラー10,11は光軸補正装置の一部を構成
しており、その光軸補正装置の要部の構成図を図2に示
し、その系統図を図3に示す。前記ポジションセンサ1
9は例えば2次元CCD等で構成され、基準光軸位置に
対するレーザ光の光軸の上下方向、左右方向のずれ量に
対応する信号を出力する。このポジションセンサ19に
は信号処理回路20が接続され、検出したずれ量に基づ
いて上下光軸位置信号、左右光軸位置信号、及び光量信
号をCPUで構成される制御部21に出力する。The position sensor 19, the half mirror 12, and the mirrors 10 and 11 constitute a part of an optical axis correction device. FIG. 2 is a block diagram of a main part of the optical axis correction device, and FIG. Is shown in FIG. The position sensor 1
Reference numeral 9 denotes, for example, a two-dimensional CCD or the like, and outputs a signal corresponding to the amount of deviation of the optical axis of the laser beam from the reference optical axis position in the vertical and horizontal directions. A signal processing circuit 20 is connected to the position sensor 19, and outputs a vertical optical axis position signal, a left and right optical axis position signal, and a light amount signal to a control unit 21 composed of a CPU based on the detected shift amount.
【0010】一方、図1には示されていないが、前記レ
ーザプロッタの複数箇所には、レーザプロッタの環境条
件を検出するための温度センサ22,湿度センサ23,
気圧センサ24が配設される。これらのセンサからの検
出信号は環境信号処理回路25において処理され、温度
データ信号,湿度データ信号,気圧データ信号としてそ
れぞれ前記制御部21に入力される。On the other hand, although not shown in FIG. 1, a temperature sensor 22 for detecting environmental conditions of the laser plotter, a humidity sensor 23,
An air pressure sensor 24 is provided. The detection signals from these sensors are processed in an environment signal processing circuit 25 and input to the control unit 21 as a temperature data signal, a humidity data signal, and an atmospheric pressure data signal.
【0011】更に、前記制御部21にはメモリ26が接
続されており、このメモリ26には環境条件に対する光
軸位置の補正データが予め記憶される。即ち、実際に同
型のレーザプロッタを用いてその温度変化,湿度変化,
気圧変化等の環境条件を変動させながら、ポジションセ
ンサ19の位置におけるレーザ光の光軸位置ずれと、終
端位置(レーザ光描画位置:マクスフィルム位置)にお
けるレーザ光の光軸位置がどの様に変化されるかを測定
し、この測定結果から得られた特性をメモリ26に記憶
させる。この終端位置の光軸位置ずれ量は、例えば終端
位置に別のポジションセンサを設置して光軸位置のずれ
量を測定することで可能とされる。又、環境温度,湿
度,気圧等は、例えばレーザプロッタを実験室内等に設
置して実験を行うことで変動させることができる。尚、
前記した光軸位置の変化特性には、光軸検出位置を基準
とした上下方向、及び左右方向の光軸位置ずれ量の特性
が必要とされ、更にこの特性は温度,湿度、気圧等の各
環境条件毎に必要とされる。Further, a memory 26 is connected to the control unit 21, and correction data of the optical axis position with respect to environmental conditions is stored in the memory 26 in advance. That is, the temperature change, humidity change,
How the optical axis position of the laser beam shifts at the position of the position sensor 19 and the optical axis position of the laser beam at the end position (laser beam drawing position: max film position) change while changing environmental conditions such as atmospheric pressure change. Is measured, and characteristics obtained from the measurement result are stored in the memory 26. The shift amount of the optical axis at the end position can be determined by, for example, installing another position sensor at the end position and measuring the shift amount of the optical axis position. Further, the environmental temperature, humidity, atmospheric pressure, and the like can be changed by, for example, installing a laser plotter in a laboratory or the like and conducting an experiment. still,
The above-mentioned change characteristics of the optical axis position require characteristics of the optical axis position shift amount in the vertical direction and the horizontal direction with reference to the optical axis detection position. Required for each environmental condition.
【0012】図4はその一例であり、レーザプロッタを
駆動させた際の経過時間に対する、温度変化と、その際
のポジションセンサにおける光軸位置変化と、その際の
終端位置における光軸位置変化の特性である。ここでは
上下方向の光軸位置ずれ量を示しているが、左右方向の
光軸位置ずれも同様である。又、湿度変化、気圧変化に
ついては図示を省略しているが、それぞれにおいても経
過時間に対する光軸位置変化がある。前記メモリ26に
は制御部21から環境条件の情報が入力され、この入力
された環境条件の情報に基づいて図4に示したような特
性に基づく光軸位置の上下方向のずれ量のデータがメモ
リ26から制御部21に読み出される。FIG. 4 shows an example of this, in which the temperature change with respect to the elapsed time when the laser plotter is driven, the change in the optical axis position in the position sensor at that time, and the change in the optical axis position at the end position at that time. It is a characteristic. Here, the optical axis position shift amount in the vertical direction is shown, but the same applies to the optical axis position shift in the horizontal direction. Although the change in humidity and the change in atmospheric pressure are not shown, there is also a change in the optical axis position with respect to the elapsed time in each case. The memory 26 receives information on environmental conditions from the control unit 21. Based on the information on the input environmental conditions, data on the amount of deviation of the optical axis position in the vertical direction based on the characteristics shown in FIG. The data is read from the memory 26 to the control unit 21.
【0013】一方、前記制御部21にはミラー駆動回路
27が接続されており、このミラー駆動回路27は、図
2に示されるように、前記駆動ミラー10をギヤ機構3
2によって上下方向に角度変化させる駆動モータ30を
駆動するモータドライバ28と、駆動ミラー11を同様
にギヤ機構33によって左右方向に角度変化させる駆動
モータ31を駆動するモータドライバ29を制御するこ
とができる。On the other hand, a mirror drive circuit 27 is connected to the control section 21. The mirror drive circuit 27 connects the drive mirror 10 to the gear mechanism 3 as shown in FIG.
2 can control a motor driver 28 that drives a drive motor 30 that changes the angle in the vertical direction, and a motor driver 29 that drives a drive motor 31 that changes the angle of the drive mirror 11 in the left and right direction by the gear mechanism 33. .
【0014】このように構成されたレーザプロッタで
は、温度,湿度,気圧等の環境条件が変動されると、こ
れに伴って図4に例示したような特性でレーザ光の光路
途中及び終端位置における光軸位置が変化されることに
なる。そして、この光路途中における光軸の位置変化を
ポジションセンサ19で検出し、これを制御部21に入
力させる。一方、制御部21には温度センサ22、湿度
センサ23、気圧センサ24からのデータ信号が入力さ
れており、これらデータ信号に基づく環境条件の情報を
メモリ26に入力し、記憶されている図4のような光軸
位置ずれ量特性からその環境条件における光軸検出位置
の光軸位置データと、その際の終端位置における光軸位
置データをそれぞれ読み出す。In the laser plotter thus configured, when environmental conditions such as temperature, humidity, and atmospheric pressure change, the laser plotter has characteristics as shown in FIG. The optical axis position will be changed. Then, a change in the position of the optical axis in the middle of the optical path is detected by the position sensor 19, and this is input to the control unit 21. On the other hand, data signals from the temperature sensor 22, the humidity sensor 23, and the atmospheric pressure sensor 24 are input to the control unit 21, and information on environmental conditions based on these data signals is input to the memory 26 and stored in FIG. The optical axis position data at the optical axis detection position under the environmental condition and the optical axis position data at the end position at that time are read from the optical axis position shift amount characteristic as described above.
【0015】そして、先ず光軸検出位置における光軸位
置データと、実際にポジションセンサ19で検出された
光軸位置とを比較し、これから光軸検出位置における光
軸位置のずれ量を検出し、補正量δを求める。更に、こ
のときの環境条件における光軸検出位置の光軸位置デー
タと、終端位置の光軸位置データから、光軸検出位置に
対する終端位置の光軸ずれ量を求め、これから補正量
δ′を求める。しかる上で、前記補正量δと補正量δ′
を加えた値を最終補正量とし、この最終補正量に基づい
て光軸検出位置における光軸を補正する。この場合に
は、制御部21はモータドライバ28,29により駆動
モータ30,31を駆動させ、各モータによって駆動ミ
ラー10を上下方向に、或いは駆動ミラー11を左右方
向に角度調整することにより行われる。この場合、各駆
動ミラー10,11の角度位置を検出する検出器を設け
ておき、フィードバック制御により各ミラーの角度調整
を行うように構成することは勿論である。First, the optical axis position data at the optical axis detection position is compared with the optical axis position actually detected by the position sensor 19, and from this, the amount of deviation of the optical axis position at the optical axis detection position is detected. The correction amount δ is obtained. Further, from the optical axis position data of the optical axis detection position under the environmental conditions at this time and the optical axis position data of the terminal position, the optical axis shift amount of the terminal position with respect to the optical axis detection position is obtained, and the correction amount δ 'is obtained therefrom. . Then, the correction amount δ and the correction amount δ ′
Is added to the final correction amount, and the optical axis at the optical axis detection position is corrected based on the final correction amount. In this case, the control unit 21 drives the drive motors 30 and 31 by the motor drivers 28 and 29, and adjusts the angle of the drive mirror 10 in the vertical direction or the angle of the drive mirror 11 in the horizontal direction by each motor. . In this case, it is a matter of course that a detector for detecting the angular position of each of the drive mirrors 10 and 11 is provided, and the angle of each mirror is adjusted by feedback control.
【0016】これにより、終端位置では、光軸検出位置
での光軸位置ずれに走査部8での光軸位置ずれ量を加味
した光軸調整が行われることになり、環境条件の変動に
よって走査部において光軸位置ずれが生じる場合でも、
これを相殺する補正が行われることになり、マスクフィ
ルムに対して設計通りの高精度のパターン描画を行うこ
とが可能となる。尚、光軸検出位置は前記した実施例の
位置に限られるものではなく、レーザ光の光路の任意の
位置に設けることができる。Thus, at the end position, the optical axis adjustment is performed in consideration of the optical axis position deviation at the optical axis detection position and the optical axis position deviation amount at the scanning unit 8, and the scanning is performed due to a change in environmental conditions. Even if the optical axis misalignment occurs in the part,
Correction to offset this is performed, and it is possible to perform high-accuracy pattern drawing as designed on the mask film. The optical axis detection position is not limited to the position in the above-described embodiment, but may be provided at an arbitrary position in the optical path of the laser light.
【0017】[0017]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、環境条件
の変化に伴う光軸位置のずれ量を予めメモリに記憶さ
せ、検出した環境条件に応じた光軸位置のずれ量を読み
出した上で、このずれ量に基づいてレーザ光の光路途中
における光軸位置のずれ量を補正するので、レーザ光の
終端位置での光軸位置を検出することができない場合で
も、環境条件の変化に伴う終端位置におけるレーザ光の
光軸位置を高精度に調整できる。本発明を例えばレーザ
プロッタに用いたときには、走査部でのレーザ光走査を
設計通りに行うことができ、所要のパターン描画を高精
度に行うことができる効果がある。As described above, according to the present invention, the shift amount of the optical axis position caused by the change of the environmental condition is stored in the memory in advance, and the shift amount of the optical axis position according to the detected environmental condition is read out. Therefore, since the shift amount of the optical axis position in the middle of the optical path of the laser light is corrected based on the shift amount, even if the optical axis position at the end position of the laser light cannot be detected, the change in the environmental condition is caused. The optical axis position of the laser beam at the end position can be adjusted with high accuracy. When the present invention is applied to, for example, a laser plotter, laser beam scanning by a scanning unit can be performed as designed, and there is an effect that required pattern drawing can be performed with high accuracy.
【図1】本発明の光軸補正装置が適用されたレーザプロ
ッタの概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a laser plotter to which an optical axis correction device according to the present invention is applied.
【図2】本発明の光軸補正装置の主要部の概略構成図で
ある。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a main part of the optical axis correction device of the present invention.
【図3】本発明の光軸補正装置の系統図である。FIG. 3 is a system diagram of the optical axis correction device of the present invention.
【図4】環境条件の変化に対応する光軸検出位置と終端
位置での光軸位置ずれ量の関係を示す特性図である。FIG. 4 is a characteristic diagram showing a relationship between an optical axis detection position corresponding to a change in environmental conditions and an optical axis position shift amount at a terminal position.
3 走査テーブル 5 マスクフィルム 7 レーザ光源 8 走査部 9,10,11 ミラー 12 ハーフミラー 19 ポジションセンサ 21 制御部 22 温度センサ 23 湿度センサ 24 気圧センサ 26 メモリ 27 ミラー駆動回路 30,31 モータ Reference Signs List 3 scanning table 5 mask film 7 laser light source 8 scanning unit 9, 10, 11 mirror 12 half mirror 19 position sensor 21 control unit 22 temperature sensor 23 humidity sensor 24 atmospheric pressure sensor 26 memory 27 mirror drive circuit 30, 31 motor
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−142307(JP,A) 特開 平1−167719(JP,A) 特開 平2−271315(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 26/10 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-55-142307 (JP, A) JP-A-1-167719 (JP, A) JP-A-2-271315 (JP, A) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) G02B 26/10
Claims (2)
路に配置され、駆動されたときに前記レーザ光の光路を
変化させる駆動ミラーと、この駆動ミラーを制御するミ
ラー駆動部と、レーザ光の光軸位置をその光路途中で検
出する手段と、レーザ光装置の環境温度、湿度、気圧等
の環境条件を検出する手段と、環境条件の変化に対応す
る光軸補正量を記憶する手段と、前記光軸位置検出手段
の検出値と前記環境条件検出手段の検出値に基づいて前
記記憶手段から対応する光軸補正量を読み出し、この補
正量に基づいて前記ミラー駆動部を制御する制御部とを
備えることを特徴とするレーザ光の光軸補正装置1. A drive mirror arranged in an optical path of laser light emitted from a laser light source and changing an optical path of the laser light when driven, a mirror drive unit for controlling the drive mirror, Means for detecting the optical axis position in the middle of the optical path, means for detecting environmental conditions such as ambient temperature, humidity, and atmospheric pressure of the laser light device, and means for storing an optical axis correction amount corresponding to a change in environmental conditions, A control unit that reads a corresponding optical axis correction amount from the storage unit based on the detection value of the optical axis position detection unit and the detection value of the environmental condition detection unit, and controls the mirror driving unit based on the correction amount; Optical axis correction device for laser light characterized by comprising:
変化される光軸位置検出手段での光軸位置データと、こ
の光軸位置の変化に伴って変化されるレーザ光の光路終
端位置における光軸位置データとが記憶されてなる請求
項1のレーザ光の光軸補正装置。2. The storage means stores optical axis position data at the optical axis position detecting means which is changed according to a change in environmental conditions, and an optical path end of the laser light which is changed according to the change of the optical axis position. 2. The optical axis correction device for laser light according to claim 1, wherein the optical axis position data at the position is stored.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04134518A JP3140558B2 (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Optical axis correction device for laser light |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04134518A JP3140558B2 (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Optical axis correction device for laser light |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH05307148A JPH05307148A (en) | 1993-11-19 |
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